JP2009182157A - Solid-state electrolytic capacitor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、固体電解コンデンサに関する。 The present invention relates to a solid electrolytic capacitor.
一般に固体電解コンデンサは、ニオブ(Nb)やタンタル(Ta)などの弁作用を有する金属粉末を陽極リード線とともに加圧成形し、焼結して焼結体を形成した後、これらを陽極酸化することによりその表面に主に酸化物からなる誘電体層を形成する。続いて、誘電体層の上に電解質層(たとえば、ポリピロールやポリチオフェンなどからなる導電性高分子層)を形成した後、その上に陰極層(たとえば、導電性カーボン層と銀ペースト層の積層膜)を形成し、コンデンサ素子とする。その後、陽極リード線と陽極端子を溶接により接続し、陰極層と陰極端子を導電性接着剤で接続する。そして、トランスファー法でモールドを行うことによりコンデンサ素子の周囲に外装体を成形して固体電解コンデンサを完成させる方法が知られている(たとえば、特許文献1参照)。
しかしながら、上記特許文献1に記載の固体電解コンデンサでは、高温試験や部品実装時のリフロー工程などで熱処理が施された場合に、等価直列抵抗(ESR:Equivalent Series Resistance)が増大し、固体電解コンデンサとしての性能が劣化するという問題が懸念される。こうしたESRの増大は、熱処理が施されることにより導電性高分子層からなる電解質層が収縮し、この収縮に伴って電解質層と陰極層との間で部分的な剥離を引き起こすことが一因とされている。
However, in the solid electrolytic capacitor described in
本発明はこうした課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、等価直列抵抗の増加を抑制することが可能な固体電解コンデンサを提供することにある。 The present invention has been made in view of these problems, and an object thereof is to provide a solid electrolytic capacitor capable of suppressing an increase in equivalent series resistance.
上記目的を達成するために、本発明に係る固体電解コンデンサは、陽極リード線を有する陽極体の表面に、誘電体層、電解質層、及び陰極層が順次形成されたコンデンサ素子と、コンデンサ素子の周囲にモールド成形された外装体と、を備える固体電解コンデンサであって、陰極層と外装体との間に第1の絶縁部材を備え、外装体は4.2×10−5/℃以上の線膨張係数を有していることを特徴とする。 In order to achieve the above object, a solid electrolytic capacitor according to the present invention includes a capacitor element in which a dielectric layer, an electrolyte layer, and a cathode layer are sequentially formed on the surface of an anode body having an anode lead wire, A solid electrolytic capacitor including an outer body molded around, the first insulating member is provided between the cathode layer and the outer body, and the outer body is 4.2 × 10 −5 / ° C. or more. It has a linear expansion coefficient.
本発明によれば、等価直列抵抗の増加を抑制することが可能な固体電解コンデンサが提供される。 According to the present invention, a solid electrolytic capacitor capable of suppressing an increase in equivalent series resistance is provided.
以下、本発明を具現化した実施形態について図面に基づいて説明する。なお、この実施の形態によって本発明が限定されるものではない。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the invention will be described with reference to the drawings. In addition, this invention is not limited by this embodiment.
(第1実施形態)
図1は第1実施形態に係る固体電解コンデンサの構成の一例を示す概略断面図である。
(First embodiment)
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of the configuration of the solid electrolytic capacitor according to the first embodiment.
第1実施形態の固体電解コンデンサは、図1に示すように、陽極リード線1aが導出された陽極体1と、この陽極体1の表面に形成された誘電体層2と、誘電体層2の上に形成された導電性高分子層3と、この導電性高分子層3の上に形成された陰極層4と、を有す
るコンデンサ素子10を備えている。そして、コンデンサ素子10の陰極層4の上に導電性接着材(図示せず)を介して平板状の陰極端子7が接合され、陽極リード線1aに平板状の陽極端子6が接合されている。そして、コンデンサ素子10から突出する陽極リード線1aの根元の周辺領域S1には絶縁性の保護層20が形成されているとともに、陰極端子7および保護層20を含むコンデンサ素子10の周囲には絶縁性の剥離層21が形成されている。そして、陽極端子6および陰極端子7の一部が外部に引き出される形で、エポキシ樹脂などからなるモールド外装体8が成形されている。ここで、こうしたモールド外装体8は4.2×10−5/℃以上の線膨張係数を有している。
As shown in FIG. 1, the solid electrolytic capacitor according to the first embodiment includes an
具体的な固体電解コンデンサの構成は以下の通りである。 The specific configuration of the solid electrolytic capacitor is as follows.
陽極体1は弁作用金属からなる金属粒子の多孔質焼結体で構成され、陽極リード線1aは弁作用金属からなる棒状のリード線からなる。そして、陽極リード線1aはその一部が陽極体1から突出する形で、陽極体1の内部に埋め込まれている。ここで、陽極リード線1aおよび陽極体1を構成する弁作用金属としては、絶縁性の酸化膜を形成できる金属材料であり、たとえば、ニオブ、タンタル、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)などが採用される。また、上述の弁作用金属同士の合金を採用してもよい。
The
誘電体層2は、弁作用金属の酸化物からなる誘電体で構成され、陽極体1の表面上に所定の厚さで設けられている。たとえば、弁作用金属がニオブ金属から構成される場合には、誘電体層2は酸化ニオブとなる。
The
導電性高分子層3は、電解質層として機能し、誘電体層2の表面上に設けられている。この導電性高分子層3は、化学重合法により形成された第1導電性高分子層と、電解重合法により形成された第2導電性高分子層との積層膜となっている。なお、導電性高分子層3(第1導電性高分子層および第2導電性高分子層)の材料としては、導電性を有する高分子材料であれば特に限定されないが、導電性に優れたポリピロール、ポリチオフェン、ポリアニリン、ポリフランやこれらの誘導体などの材料が採用される。
The
陰極層4は、カーボン粒子を含む層からなる導電性カーボン層4aと、銀粒子を含む層からなる銀ペースト層4bとの積層膜で構成され、導電性高分子層3の上に設けられている。
The
コンデンサ素子10は、上述の陽極リード線1aが導出された陽極体1、誘電体層2、導電性高分子層3、及び陰極層4により構成される。
The
陽極端子6および陰極端子7は、銅(Cu)やニッケル(Ni)などの導電性材料からなる平板状の端子が採用され、固体電解コンデンサの外部リード端子としてそれぞれ機能する。陽極端子6は陽極リード線1aとスポット溶接により接合され、陰極端子7は陰極層4と導電性接着剤(図示せず)で接合されている。
The
保護層20は、エポキシ樹脂などの絶縁性材料が採用され、コンデンサ素子10から突出する陽極リード線1aの根元の周辺領域S1において、陽極リード線1aを固着するように設けられている。これにより、陽極リード線1aの根元部分が補強される。
The
剥離層21は、エラストマや離型剤などの絶縁性材料が採用され、陰極端子7および保護層20を含むコンデンサ素子10の周囲を被覆するように設けられている。なお、この剥離層21は、コンデンサ素子10内の導電性高分子層3と陰極層4とを剥離させる応力よりも小さい応力の印加により変形(あるいは剥離)して、導電性高分子層3と陰極層4とを剥離させる応力を緩和する機能を有する。
The
上述のエラストマは、常温でゴム状弾性を有する固体であり、シリコーン系エラストマ
、フッ素系エラストマ、スチレン・ブタジエン系エラストマ、ポリオレフィン系エラストマ、ウレタン系エラストマ、ポリエステル系エラストマ、ポリアミド系エラストマ、ポリ塩化ビニル系エラストマ、1,2−ポリブタジエン、アイオノマー、及びウレタンゴムから選択される絶縁性材料、あるいはこれらの少なくとも1種を含む絶縁性材料が挙げられる。また、上述の離型剤としては、フッ素系離型剤、シリコーン系離型剤、ブタジエン系離型剤、ポリビニルアルコール系離型剤、鉱物油系離型剤、及び黒鉛/鉱物油系離型剤から選択される絶縁性材料、あるいはこれらの少なくとも1種を含む絶縁性材料が挙げられる。
The above-mentioned elastomer is a solid having rubber-like elasticity at room temperature. Silicone elastomer, fluorine-based elastomer, styrene / butadiene-based elastomer, polyolefin-based elastomer, urethane-based elastomer, polyester-based elastomer, polyamide-based elastomer, polyvinyl chloride-based Examples thereof include an insulating material selected from an elastomer, 1,2-polybutadiene, ionomer, and urethane rubber, or an insulating material containing at least one of these materials. In addition, as the above-mentioned release agent, fluorine release agent, silicone release agent, butadiene release agent, polyvinyl alcohol release agent, mineral oil release agent, and graphite / mineral oil release agent An insulating material selected from an agent, or an insulating material containing at least one of them can be used.
そして、陽極端子6および陰極端子7の一部が、相反する方向の外部に引き出される形で、モールド外装体8が成形されている。モールド外装体8には、外装体として水分が出入りするのを抑制するため、またリフロー時(加熱処理時)のクラックや剥離を防止するため、吸水率の小さなエポキシ樹脂などからなる絶縁性材料が採用される。そして、こうした絶縁性材料への充填材の添加量を制御するなどして、ガラス転移温度以下における線膨張係数が4.2×10−5/℃以上となるように調整している。
And the mold
上述のモールド外装体用のエポキシ樹脂は、熱硬化性を有する合成樹脂であり、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノール型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、及びナフタレン骨格を有するエポキシ樹脂から選択される絶縁性材料が挙げられる。 The above-mentioned epoxy resin for the mold exterior body is a synthetic resin having thermosetting properties, such as biphenyl type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, and Examples thereof include an insulating material selected from epoxy resins having a naphthalene skeleton.
さらに、モールド外装体8から露出した陽極端子6および陰極端子7の端部は、モールド外装体8の側面および下面に沿って折り曲げられ、実装基板に本固体電解コンデンサを搭載(はんだ付け)する際の端子として機能させる。
Further, the end portions of the
なお、陽極リード線1aは本発明の「陽極リード線」、陽極体1は本発明の「陽極体」、誘電体層2は本発明の「誘電体層」、導電性高分子層3は本発明の「電解質層」、陰極層4は本発明の「陰極層」、モールド外装体8は本発明の「外装体」、コンデンサ素子10は本発明の「コンデンサ素子」、保護層20は本発明の「第2の絶縁部材」、及び剥離層21は本発明の「第1の絶縁部材」の一例である。
The
(製造方法)
次に、第1実施形態の固体電解コンデンサの製造方法について説明する。
(Production method)
Next, the manufacturing method of the solid electrolytic capacitor of 1st Embodiment is demonstrated.
工程1:陽極リード線1aの周囲に、陽極リード線1aの一部を埋め込むように成形された弁作用を有する金属粒子からなる成形体を真空中で焼結することにより、多孔質焼結体からなる陽極体1を形成する。この際、金属粒子間は溶着される。
Step 1: A porous sintered body is obtained by sintering a molded body made of metal particles having a valve action formed so as to embed a part of the
工程2:陽極体1に対して陽極酸化を行うことにより、陽極体1の周囲を覆うように弁作用金属の酸化物からなる誘電体層2を所定の厚さで形成する。
Step 2: Anodizing the
工程3:誘電体層2の表面上に、化学重合法を用いてプレコート層として第1導電性高分子層を形成する。具体的には、化学重合法では、酸化剤を用いてモノマーを酸化重合することにより第1導電性高分子層を形成する。引き続き、第1導電性高分子層の表面上に、電解重合法を用いて第2導電性高分子層を形成する。具体的には、電解重合法では、第1導電性高分子層を陽極とし、モノマーおよび電解質を含む電解液中において外部陰極との間で電解重合することにより第2導電性高分子層を形成する。このようにして、誘電体層2上に第1導電性高分子層と第2導電性高分子層との積層膜からなる導電性高分子層3を形成する。
Step 3: On the surface of the
工程4:導電性高分子層3上にカーボンペーストを塗布、乾燥することにより導電性カーボン層4aを形成する。さらに、この導電性カーボン層4a上に銀ペーストを塗布、乾
燥することにより銀ペースト層4bを形成する。これにより、導電性高分子層3上に導電性カーボン層4aと銀ペースト層4bとの積層膜からなる陰極層4が形成される。
Step 4: A
以上の工程1〜工程4を経てコンデンサ素子10が製造される。
The
工程5:平板状の陰極端子7上に導電性接着剤を塗布した後、この導電性接着剤を介して陰極層4と陰極端子7とを接触させた状態で乾燥させることにより、陰極層4と陰極端子7とを接合する。さらに、陽極リード線1a上に平板状の陽極端子6をスポット溶接により接合する。
Process 5: After apply | coating a conductive adhesive on the
工程6:陽極リード線1aの根元の周辺領域S1に対して、液状エポキシ樹脂からなる絶縁性材料を塗布、乾燥することにより、絶縁性の保護層20を形成する。
Step 6: The insulating
工程7:陰極端子7および保護層20を含むコンデンサ素子10の周囲に、上述のエラストマあるいは離型剤からなる絶縁性材料を塗布、乾燥することにより、絶縁性の剥離層21を形成する。
Step 7: The insulating
工程8:4.2×10−5/℃以上の線膨張係数を有するモールド外装体用の絶縁性材料(たとえば、エポキシ樹脂)を用意する。そして、この絶縁性材料を用いてトランスファー法でモールドを行い、モールド外装体8を周囲に成形する。この際、コンデンサ素子10、保護層20、及び剥離層21を内部に収納するとともに、陽極端子6および陰極端子7の端部を外部(相反する方向)に引き出すように成形する。なお、モールド外装体8は射出成型法により形成してもよい。
Step 8: An insulating material (for example, epoxy resin) for a mold outer package having a linear expansion coefficient of 4.2 × 10 −5 / ° C. or higher is prepared. And it molds by the transfer method using this insulating material, and shape | molds the
工程9:モールド外装体8から露出した陽極端子6および陰極端子7を所定の長さに加工する。そして、陽極端子6および陰極端子7の先端部を下方に折り曲げ、モールド外装体8の側面および下面に沿って配置する。この両端子の先端部は、固体電解コンデンサの端子として機能し、実装基板にはんだ部材を介して固体電解コンデンサを電気的に接続するために使用される。
Step 9: The
工程10:最後に固体電解コンデンサの両端子を介して所定の電圧を印加するエージング処理を行う。これにより、固体電解コンデンサの特性を安定化させる。 Step 10: Finally, an aging process is performed in which a predetermined voltage is applied via both terminals of the solid electrolytic capacitor. This stabilizes the characteristics of the solid electrolytic capacitor.
以上の工程を経て、第1実施形態の固体電解コンデンサが製造される。 Through the above steps, the solid electrolytic capacitor of the first embodiment is manufactured.
次に、第1実施形態に係る固体電解コンデンサの特性評価を行うために作製した実施例1〜実施例4(固体電解コンデンサA1〜固体電解コンデンサA4)について説明する。 Next, Examples 1 to 4 (solid electrolytic capacitor A1 to solid electrolytic capacitor A4) manufactured for evaluating the characteristics of the solid electrolytic capacitor according to the first embodiment will be described.
(実施例1)
実施例1では、上述した第1実施形態の製造方法における各工程(工程1〜工程10)に対応した工程を経て固体電解コンデンサA1を作製した。
Example 1
In Example 1, the solid electrolytic capacitor A1 was manufactured through steps corresponding to the respective steps (
工程1A:電解酸化被膜(誘電体層)形成後のニオブ多孔質焼結体の容量と電解電圧の積であるCV値が150,000μF・V/gとなるニオブ金属粉末を用意する。このニオブ金属粉末を用いて陽極リード線1aの一部を埋め込むようにして成型し、真空中において1200℃程度で焼結する。これにより、陽極リード線1aの一部が導出されたニオブ多孔質焼結体からなる陽極体1を形成する。この際、ニオブ金属粒子間は溶着される。以下、特に断らない限り、各実施例および各比較例におけるCV値は150,000μF・V/gである。
Step 1A: Prepare a niobium metal powder having a CV value of 150,000 μF · V / g, which is the product of the capacity of the niobium porous sintered body after formation of the electrolytic oxide film (dielectric layer) and the electrolysis voltage. The niobium metal powder is used to embed a part of the
工程2A:焼結された陽極体1に対して、約60℃に保持した約0.1重量%のリン酸水溶液中において約10Vの定電圧で約10時間陽極酸化を行う。これにより、陽極体1の周囲を覆うように酸化ニオブからなる誘電体層2を形成する。
Step 2A: Anodization is performed on the
工程3A:表面に誘電体層2が形成された陽極体1を、酸化剤溶液に浸漬した後、ピロールモノマー液に浸漬し、誘電体層2上でピロールモノマーを重合させる。これにより、誘電体層2上にプレコート層としてポリピロールからなる第1導電性高分子層が形成される。引き続き、第1導電性高分子層を陽極とし、ピロールモノマーおよび電解質を含む電解液中で電解重合することにより、第1導電性高分子層上にさらに第2導電性高分子層を所定の厚さで形成する。これにより、第1導電性高分子層上にポリピロールからなる第2導電性高分子層が形成される。このようにして、誘電体層2の表面上に第1導電性高分子層と第2導電性高分子層との積層膜からなる導電性高分子層3を形成する。
Step 3A: The
工程4A:導電性高分子層3上にカーボンペーストを塗布、乾燥することによりカーボン粒子を含む層からなる導電性カーボン層4aを形成し、この導電性カーボン層4a上に銀ペーストを塗布、乾燥することにより銀粒子を含む層からなる銀ペースト層4bを形成する。これにより、導電性高分子層3上に導電性カーボン層4aと銀ペースト層4bとの積層膜からなる陰極層4を形成する。
Step 4A: A carbon paste is applied on the
以上の工程1A〜工程4Aを経てコンデンサ素子10が製造される。
The
工程5A:平板状の陰極端子7上に銀ペーストからなる導電性接着剤を塗布した後、この導電性接着剤を介して陰極層4と陰極端子7とを接触させた状態で乾燥する。これにより、陰極層4と陰極端子7とが導電性接着剤を介して接続される。
Step 5A: After applying a conductive adhesive made of a silver paste on the
さらに、陽極リード線1a上に陽極端子6をスポット溶接する。具体的には、陽極リード線1aの先端部において、陽極リード線1aと陽極端子6とを挟み込むように2つの溶接電極を圧着しつつ電流を流し、その抵抗熱で陽極リード線1aと陽極端子6とを溶かして接合する。これにより、陽極リード線1aと陽極端子6とが接続される。
Further, the
工程6A:コンデンサ素子10から突出する陽極リード線1a(陽極リード線1aの根元の周辺領域S1)に対して、液状エポキシ樹脂からなる絶縁性材料を塗布した後、100℃、30分間乾燥させることで、絶縁性の保護層20を形成する。
Step 6A: An insulating material made of a liquid epoxy resin is applied to the
工程7A:陰極端子7および保護層20を含むコンデンサ素子10の周囲に、シリコーン系エラストマを塗布した後、100℃、60分間乾燥させることにより、絶縁性の剥離層21を形成する。
Step 7A: After applying a silicone elastomer around the
工程8A:モールド外装体用のエポキシ樹脂として、ビフェニル型エポキシ樹脂、20体積%の充填材(溶融シリカ)、難燃剤(臭素化エポキシ樹脂/三酸化アンチモン)、硬化剤、イミダゾール系硬化促進剤、可撓化剤(シリコーン)、及び微量添加剤(離型剤、カップリング剤など)からなる樹脂組成物を用意する。そして、こうしたエポキシ樹脂を用いてトランスファー法でモールドを行う。具体的には、コンデンサ素子10を金型内(上下の金型の間)に配置し、内部にエポキシ樹脂を加熱し軟化させた状態で加圧して注入し、コンデンサ素子10と金型の隙間に完全に充填した後、金型温度で175℃の高温のまま一定時間保持しエポキシ樹脂を硬化させる。これにより、エポキシ樹脂からなる略直方体状のモールド外装体8を周囲に成形する。この際、コンデンサ素子10、保護層20、及び剥離層21を内部に収納するとともに、陽極端子6および陰極端子7の端部を外部(相反する方向)に引き出すように成形する。
Step 8A: As an epoxy resin for a mold exterior body, biphenyl type epoxy resin, 20% by volume filler (fused silica), flame retardant (brominated epoxy resin / antimony trioxide), curing agent, imidazole-based curing accelerator, A resin composition comprising a flexible agent (silicone) and a trace amount of additives (such as a release agent and a coupling agent) is prepared. Then, molding is performed by a transfer method using such an epoxy resin. Specifically, the
なお、上述のエポキシ樹脂においては、ガラス転移温度は177℃であり、詳細は後述するが、線膨張係数は5.1×10−5/℃であった。 In addition, in the above-mentioned epoxy resin, the glass transition temperature was 177 degreeC, and although mentioned later for details, the linear expansion coefficient was 5.1x10 < -5 > / degreeC .
工程9A:モールド外装体8から露出した陽極端子6および陰極端子7を所定の長さに切断する。そして、陽極端子6および陰極端子7の先端部を下方に折り曲げ、モールド外装体8の側面および下面に沿って配置する。
Step 9A: The
工程10A:最後にエージング処理として、固体電解コンデンサの両端子(陽極端子6、陰極端子7)に電圧4Vを印加した状態で2時間保持する。
Step 10A: Finally, as an aging treatment, a voltage of 4 V is applied to both terminals (
このようにして、実施例1における固体電解コンデンサA1が作製される。 Thus, solid electrolytic capacitor A1 in Example 1 is produced.
(実施例2)
実施例2では、工程8Aにおいて、充填材(溶融シリカ)を添加していないエポキシ樹脂を用意してモールド外装体8を成形すること以外は、実施例1と同様にして固体電解コンデンサA2を作製した。なお、こうしたエポキシ樹脂では、ガラス転移温度は177℃であり、線膨張係数は6.3×10−5/℃であった。
(Example 2)
In Example 2, a solid electrolytic capacitor A2 is produced in the same manner as in Example 1 except that in step 8A, an epoxy resin to which no filler (fused silica) is added is prepared and the mold
(実施例3)
実施例3では、工程8Aにおいて、エポキシ樹脂に添加する充填材(溶融シリカ)の添加量を20体積%から30体積%に代えてモールド外装体8を成形すること以外は、実施例1と同様にして固体電解コンデンサA3を作製した。なお、こうしたエポキシ樹脂では、ガラス転移温度は177℃であり、線膨張係数は4.2×10−5/℃であった。
(Example 3)
Example 3 is the same as Example 1 except that in step 8A, the amount of the filler (fused silica) added to the epoxy resin is changed from 20% by volume to 30% by volume to mold the mold
(実施例4)
実施例4では、工程7Aにおいて、シリコーン系エラストマからフッ素系離型剤に代えて剥離層21を形成すること以外は、実施例1と同様にして固体電解コンデンサA4を作製した。
Example 4
In Example 4, a solid electrolytic capacitor A4 was produced in the same manner as in Example 1 except that, in Step 7A, the
(第2実施形態)
図2は第2実施形態に係る固体電解コンデンサの構成の一例を示す概略断面図である。第1実施形態と異なる箇所は、図2に示す破線で囲まれる領域S2および領域S3において、剥離層21aがモールド外装体8の側面から露出する部分にまで外部リード端子(陽極端子6および陰極端子7)を被覆して形成されていることである。それ以外は第1実施形態の構成と同様である。
(Second Embodiment)
FIG. 2 is a schematic sectional view showing an example of the configuration of the solid electrolytic capacitor according to the second embodiment. The difference from the first embodiment is that the external lead terminals (the
なお、こうした固体電解コンデンサは、第1実施形態の工程7において、エラストマあるいは離型剤からなる絶縁性材料が形成される領域を、外部リード端子(陽極端子6および陰極端子7)上の所定の位置(工程8において、図2に示すように剥離層21がモールド外装体8から露出する位置)にまで延在させることで、容易に製造することができる。
In addition, in such a solid electrolytic capacitor, in
次に、第2実施形態に係る固体電解コンデンサの特性評価を行うために作製した実施例5(固体電解コンデンサB1)について説明する。 Next, Example 5 (solid electrolytic capacitor B1) produced in order to evaluate the characteristics of the solid electrolytic capacitor according to the second embodiment will be described.
(実施例5)
実施例5では、実施例1の工程7Aにおいて、シリコーン系エラストマを塗布する領域を、外部リード端子(陽極端子6および陰極端子7)上の所定の位置(工程8Aにおいて、図2に示すように剥離層21aがモールド外装体8から露出する位置)にまで延在して、剥離層21aを形成すること以外は、実施例1と同様にして固体電解コンデンサB1を作製した。
(Example 5)
In Example 5, the region to which the silicone elastomer is applied in Step 7A of Example 1 is set at a predetermined position on the external lead terminals (
(第3実施形態)
図3は第3実施形態に係る固体電解コンデンサの構成の一例を示す概略断面図である。第1実施形態と異なる箇所は、第1実施形態における保護層20と剥離層21とが共通化して構成され、陰極端子7および陽極リード線1aの根元の周辺領域S1を含むコンデンサ素子10の周囲には剥離層21bが形成されていることである。それ以外は第1実施形態の構成と同様である。
(Third embodiment)
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing an example of the configuration of the solid electrolytic capacitor according to the third embodiment. The difference from the first embodiment is that the
第3実施形態の固体電解コンデンサは、第1実施形態と同様、陽極リード線1aが突出する陽極体1の表面に、誘電体層2、導電性高分子層3、及び陰極層4が順次形成されたコンデンサ素子10を備え、コンデンサ素子10の陰極層4の上に導電性接着材(図示せず)を介して平板状の陰極端子7が接合され、陽極リード線1aに平板状の陽極端子6が接合されている。そして、図3に示すように、陰極端子7および陽極リード線1aの根元の周辺領域S1を含むコンデンサ素子10の周囲には絶縁性の剥離層21bが形成されている。そして、陽極端子6および陰極端子7の一部が外部に引き出される形で、エポキシ樹脂などからなるモールド外装体8が成形されている。ここで、こうしたモールド外装体8は4.2×10−5/℃以上の線膨張係数を有している。
In the solid electrolytic capacitor according to the third embodiment, as in the first embodiment, the
なお、こうした固体電解コンデンサは、第1実施形態の工程6(保護層を形成する工程)を行わずに、工程7(剥離層を形成する工程)を行うことで、容易に製造することができる。 Such a solid electrolytic capacitor can be easily manufactured by carrying out step 7 (step of forming a release layer) without carrying out step 6 (step of forming a protective layer) of the first embodiment. .
次に、第3実施形態に係る固体電解コンデンサの特性評価を行うために作製した実施例6(固体電解コンデンサC1)および実施例7(固体電解コンデンサC2)について説明する。 Next, Example 6 (solid electrolytic capacitor C1) and Example 7 (solid electrolytic capacitor C2) produced for evaluating the characteristics of the solid electrolytic capacitor according to the third embodiment will be described.
(実施例6)
実施例6では、実施例1の工程5Aに続いて工程7Aを行い、陰極端子7および陽極リード線1aの根元の周辺領域S1を含むコンデンサ素子10の周囲に剥離層21bを形成すること以外は、実施例1と同様にして固体電解コンデンサC1を作製した。
(Example 6)
In Example 6, Step 7A is carried out following Step 5A of Example 1, except that a release layer 21b is formed around the
(実施例7)
実施例7では、実施例1の工程5Aに続いて工程7Aを行い、陰極端子7および陽極リード線1aの根元の周辺領域S1を含むコンデンサ素子10の周囲に剥離層21bを形成すること以外は、実施例4と同様にして固体電解コンデンサC2を作製した。
(Example 7)
In Example 7, following Step 5A of Example 1, Step 7A is performed, except that the release layer 21b is formed around the
次に、各実施例の固体電解コンデンサと特性を比較するために作製した比較例1(固体電解コンデンサX)、比較例2(固体電解コンデンサY1)、比較例3(固体電解コンデンサY2)、及び比較例4(固体電解コンデンサZ)について説明する。 Next, Comparative Example 1 (Solid Electrolytic Capacitor X), Comparative Example 2 (Solid Electrolytic Capacitor Y1), Comparative Example 3 (Solid Electrolytic Capacitor Y2), which were prepared in order to compare the characteristics with the solid electrolytic capacitors of each Example, Comparative Example 4 (solid electrolytic capacitor Z) will be described.
(比較例1)
図4は比較例1に係る固体電解コンデンサの構成の一例を示す概略断面図である。第1実施形態と異なる箇所は、第1実施形態における保護層20および剥離層21が形成されていないことである。それ以外は第1実施形態の構成と同様である。
(Comparative Example 1)
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing an example of the configuration of the solid electrolytic capacitor according to Comparative Example 1. The difference from the first embodiment is that the
具体的には、比較例1の固体電解コンデンサXは、上述の実施例1と同一のコンデンサ素子10を有し、このコンデンサ素子10の陽極リード線1a上に陽極端子6が接合され、陰極層4上に陰極端子7が導電性接着剤(図示せず)で接合されている。そして、これらをすべて内部に収納するようにモールド外装体8が設けられている。
Specifically, the solid electrolytic capacitor X of Comparative Example 1 has the
比較例1では、実施例1の工程6A(保護層を形成する工程)および工程7A(剥離層を形成する工程)を行わず、工程5Aに続いて工程8Aを行い、コンデンサ素子10の周囲にモールド外装体8を形成すること、且つ、工程8Aにおいて、エポキシ樹脂に添加する充填材(溶融シリカ)の添加量を20体積%から70体積%に代えてモールド外装体8を成形すること以外は、実施例1と同様にして固体電解コンデンサXを作製した。なお、こうしたエポキシ樹脂では、ガラス転移温度は177℃であり、線膨張係数は1.1×10−5/℃であった。
In Comparative Example 1, Step 6A (Step of forming a protective layer) and Step 7A (Step of forming a release layer) of Example 1 are not performed, Step 8A is performed following Step 5A, and the periphery of the
(比較例2)
比較例2では、実施例1の工程8Aにおいて、エポキシ樹脂に添加する充填材(溶融シリカ)の添加量を20体積%から40体積%に代えてモールド外装体8を成形すること以外は、実施例1と同様にして固体電解コンデンサY1を作製した。なお、こうしたエポキシ樹脂では、ガラス転移温度は177℃であり、線膨張係数は3.4×10−5/℃であった。
(Comparative Example 2)
In Comparative Example 2, the process was carried out except that the amount of the filler (fused silica) added to the epoxy resin in Step 8A of Example 1 was changed from 20% by volume to 40% by volume to mold the mold
(比較例3)
比較例3では、実施例1の工程8Aにおいて、エポキシ樹脂に添加する充填材(溶融シリカ)の添加量を20体積%から70体積%に代えてモールド外装体8を成形すること以外は、実施例5と同様にして固体電解コンデンサY2を作製した。なお、こうしたエポキシ樹脂では、ガラス転移温度は177℃であり、線膨張係数は1.1×10−5/℃であった。
(Comparative Example 3)
In Comparative Example 3, in the step 8A of Example 1, except that the amount of the filler (fused silica) added to the epoxy resin was changed from 20% by volume to 70% by volume, and the mold
(比較例4)
図5は比較例4に係る固体電解コンデンサの構成の一例を示す概略断面図である。第1実施形態と異なる箇所は、第1実施形態における剥離層21が形成されていないことである。それ以外は第1実施形態の構成と同様である。
(Comparative Example 4)
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing an example of the configuration of the solid electrolytic capacitor according to Comparative Example 4. The difference from the first embodiment is that the
具体的には、比較例4の固体電解コンデンサZは、上述の実施例1と同一のコンデンサ素子10を有し、このコンデンサ素子10の陽極リード線1a上に陽極端子6が接合され、陰極層4上に陰極端子7が導電性接着剤(図示せず)で接合されている。そして、陽極リード線1aの根元の周辺領域S1には絶縁性の保護層20が形成されている。そして、保護層20を含むコンデンサ素子10を内部に収納しつつ、陽極端子6および陰極端子7の一部が外部に引き出される形で、エポキシ樹脂などからなるモールド外装体8が成形されている。
Specifically, the solid electrolytic capacitor Z of Comparative Example 4 has the
比較例4では、実施例1の工程7A(剥離層を形成する工程)を行わず、工程6Aに続いて工程8Aを行い、保護層20を含むコンデンサ素子10の周囲にモールド外装体8を形成すること以外は、実施例1と同様にして固体電解コンデンサZを作製した。
In Comparative Example 4, Step 7A (Step of forming a release layer) of Example 1 is not performed, Step 8A is performed following Step 6A, and the mold
(評価)
まず、実施例および比較例の各固体電解コンデンサにおけるモールド外装体の線膨張係数の評価を行った。
(Evaluation)
First, the linear expansion coefficient of the mold outer package in each solid electrolytic capacitor of the example and the comparative example was evaluated.
線膨張係数の評価では、略直方体状に成形された固体電解コンデンサのモールド外装体から最短辺を含む小片試料を切り出し、熱機械分析法(TMA:Thermomechanical Analysis)により、小片試料に対して測定過重2g重を加えた状態で、空気中において室温(25℃)から175℃まで昇温速度5℃/分で昇温し、その際の小片試料の最短辺の長さの変化を測定した。そして、各測定値から以下の式(1)により線膨張係数(ガラス転移温度以下での線膨張係数)を算出した。そして、小片試料5個の平均値をモールド外装体の線膨張係数とした。なお、昇温する温度175℃は、モールド外装体のガラス転移温度177℃以下に設定されたモールド成形温度に相当する。 In the evaluation of the coefficient of linear expansion, a small piece sample including the shortest side is cut out from the outer package of the solid electrolytic capacitor formed in a substantially rectangular parallelepiped shape, and the measurement weight is measured on the small piece sample by thermomechanical analysis (TMA). With 2 g weight added, the temperature was raised from room temperature (25 ° C.) to 175 ° C. at a heating rate of 5 ° C./min in air, and the change in the length of the shortest side of the small piece sample was measured. And the linear expansion coefficient (linear expansion coefficient below a glass transition temperature) was computed from each measured value by the following formula | equation (1). And the average value of five small piece samples was made into the linear expansion coefficient of a mold exterior body. In addition, temperature 175 degreeC which temperature-rises is corresponded to the molding temperature set to the glass transition temperature 177 degrees C or less of a mold exterior body.
線膨張係数=ΔL/(L×ΔT)・・・(1)
ここで、Lは室温(25℃)における小片試料の最短辺の長さ、ΔLは室温(25℃)と175℃における小片試料の最短辺の長さの差、ΔTは室温(25℃)と175℃の温度差(150℃)である。なお、本評価では、室温(25℃)における小片試料の最短辺の長さLは880μm〜910μmの範囲であった。
Linear expansion coefficient = ΔL / (L × ΔT) (1)
Here, L is the length of the shortest side of the small sample at room temperature (25 ° C.), ΔL is the difference between the room temperature (25 ° C.) and the shortest side of the small sample at 175 ° C., and ΔT is room temperature (25 ° C.). The temperature difference is 175 ° C. (150 ° C.). In this evaluation, the length L of the shortest side of the small sample at room temperature (25 ° C.) was in the range of 880 μm to 910 μm.
上述の評価により算出された各固体電解コンデンサにおけるモールド外装体の線膨張係数は、実施例および比較例の説明の際に記載した通りである。なお、こうしたモールド外装体の線膨張係数は、モールド外装体を構成するエポキシ樹脂に添加する充填材(溶融シリカ)の添加量を増加することにより低下する傾向を有していた。 The linear expansion coefficient of the mold outer package in each solid electrolytic capacitor calculated by the above evaluation is as described in the description of the examples and comparative examples. In addition, the linear expansion coefficient of such a mold exterior body had the tendency to fall by increasing the addition amount of the filler (fused silica) added to the epoxy resin which comprises a mold exterior body.
次に、各実施例および各比較例で作製した固体電解コンデンサのESRおよび漏れ電流の評価を行った。 Next, the ESR and leakage current of the solid electrolytic capacitors produced in each example and each comparative example were evaluated.
ESRの評価では、LCRメータを用いて、モールド前、モールド後(リフロー処理前)、リフロー処理後、及び高温負荷試験後におけるESR(固体電解コンデンサの周波数100kHzでのESR)を測定した。そして、試料100個の平均値を固体電解コンデンサのESRとした。なお、リフロー処理では、固体電解コンデンサに対して温度260℃で10秒間の加熱処理を行い、高温負荷試験では、リフロー処理後にさらに温度105℃で2.5Vの電圧印加を500時間行った。 In the evaluation of ESR, an ESR (an ESR of a solid electrolytic capacitor at a frequency of 100 kHz) before molding, after molding (before reflow treatment), after reflow treatment, and after a high temperature load test was measured using an LCR meter. And the average value of 100 samples was made into ESR of a solid electrolytic capacitor. In the reflow treatment, the solid electrolytic capacitor was subjected to a heat treatment at a temperature of 260 ° C. for 10 seconds. In the high temperature load test, a voltage of 2.5 V was further applied at a temperature of 105 ° C. for 500 hours after the reflow treatment.
漏れ電流の評価では、直流電流源および電流モニタを用いて、ESRの評価と同様、モールド前、モールド後(リフロー処理前)、リフロー処理後、及び高温負荷試験後における漏れ電流(固体電解コンデンサに対して2.5Vの電圧を印加して20秒後の電流)を測定した。そして、試料100個の平均値を固体電解コンデンサの漏れ電流とした。 In the evaluation of leakage current, a DC current source and a current monitor are used, as in the case of ESR evaluation. Leakage current before molding, after molding (before reflow processing), after reflow processing, and after high-temperature load test (for solid electrolytic capacitors) On the other hand, a current of 20 seconds after applying a voltage of 2.5 V was measured. And the average value of 100 samples was made into the leakage current of a solid electrolytic capacitor.
<評価結果1>
第1実施形態における固体電解コンデンサのESRおよび漏れ電流に関して、モールド外装体における線膨張係数の影響を評価した。
<
Regarding the ESR and leakage current of the solid electrolytic capacitor in the first embodiment, the influence of the linear expansion coefficient in the mold outer package was evaluated.
表1および図6は第1実施形態における各固体電解コンデンサのESRの評価結果(線膨張係数依存)を示し、表2は第1実施形態における各固体電解コンデンサの漏れ電流の評価結果(線膨張係数依存)を示す。 Table 1 and FIG. 6 show the evaluation results (linear expansion coefficient dependence) of each solid electrolytic capacitor in the first embodiment, and Table 2 shows the evaluation results (linear expansion) of the leakage current of each solid electrolytic capacitor in the first embodiment. Coefficient dependent).
表1および図6に示すように、実施例1(固体電解コンデンサA1)〜実施例3(固体電解コンデンサA3)では、従来の比較例1(固体電解コンデンサX)と比較して、熱負荷が加えられた状態であるリフロー処理後および高温負荷試験後におけるESRの増加が大幅に抑制されていることが分かる。さらに、比較例2(固体電解コンデンサY1)と比較しても、リフロー処理後および高温負荷試験後におけるESRの増加が抑制されていることが分かる。比較例2(固体電解コンデンサY1)では、モールド後(リフロー前)のESRに対して、リフロー処理後および高温負荷試験後におけるESRが2倍以上に増加しており、熱負荷によるESRの変動が大きく、固体電解コンデンサの実用レベルの耐熱性能が得られていない。こうしたESRの増加が抑制されるのは、熱負荷によるモールド外装体8の膨張に起因して生じる導電性高分子層3と陰極層4との界面での剥離が、剥離層21の変形(あるいは剥離)により抑制されたことに加え、熱負荷による導電性高分子層3の乾燥・収縮に起因して生じる導電性高分子層3と陰極層4との界面で生じる剥離が、一定以上の高い線膨張係数を有するモールド外装体8の圧縮力(モールド外装体8が成形時の175℃から室温まで低下する過程で収縮し、こうした収縮により生じる圧縮力)による締め付け効果によって低減されたことによると推察される。なお、比較例2(固体電解コンデンサY1)では、こうしたモールド外装体8の圧縮力が小さいため十分な締め付け効果が得られず、熱負荷によりESRが2倍以上に増加していると推察される。
As shown in Table 1 and FIG. 6, in Example 1 (solid electrolytic capacitor A1) to Example 3 (solid electrolytic capacitor A3), the thermal load is smaller than that in the conventional comparative example 1 (solid electrolytic capacitor X). It can be seen that the increase in ESR after the reflow treatment and the high temperature load test, which are in an added state, is greatly suppressed. Further, even when compared with Comparative Example 2 (solid electrolytic capacitor Y1), it can be seen that the increase in ESR after the reflow treatment and after the high temperature load test is suppressed. In Comparative Example 2 (solid electrolytic capacitor Y1), the ESR after the reflow treatment and after the high temperature load test is more than doubled with respect to the ESR after molding (before reflow). The heat resistance performance of a practical level of a solid electrolytic capacitor is not obtained. The increase in ESR is suppressed because the peeling at the interface between the
一方、表2に示すように、実施例1(固体電解コンデンサA1)〜実施例3(固体電解コンデンサA3)では、従来の比較例1(固体電解コンデンサX)と比較して、モールド後(リフロー処理前)、リフロー処理後、及び高温負荷試験後における漏れ電流の増加が大幅に抑制されていることが分かる。これは、保護層20(および保護層20を被覆する剥離層21)により陽極リード線1aの周囲が補強され、モールド成形時に注入樹脂の圧力による陽極リード線1aの変形が抑制され、陽極リード線1aの根元付近への応力集中が抑制されたためと推察される。
On the other hand, as shown in Table 2, in Example 1 (solid electrolytic capacitor A1) to Example 3 (solid electrolytic capacitor A3), compared with the conventional comparative example 1 (solid electrolytic capacitor X), after molding (reflow) It can be seen that the increase in leakage current is significantly suppressed before the treatment), after the reflow treatment, and after the high temperature load test. This is because the periphery of the
また、実施例1(固体電解コンデンサA1)〜実施例3(固体電解コンデンサA3)では、比較例2(固体電解コンデンサY1)と比較して、各状態において同程度の漏れ電流となっており、一定以上の高い線膨張係数を有するモールド外装体8の圧縮力に起因した漏れ電流の増加はないことが分かる。
Moreover, in Example 1 (solid electrolytic capacitor A1)-Example 3 (solid electrolytic capacitor A3), compared with the comparative example 2 (solid electrolytic capacitor Y1), it has the same level of leakage current in each state. It can be seen that there is no increase in leakage current due to the compressive force of the mold
以上のことから、固体電解コンデンサの、熱負荷によるESRの増加を抑制するには、コンデンサ素子10とモールド外装体8との間に剥離層21を設けるとともに、モールド外装体8の線膨張係数を4.2×10−5/℃以上とすることが有効であることが分かる
。
From the above, in order to suppress the increase in ESR due to the thermal load of the solid electrolytic capacitor, the
<評価結果2>
第2実施形態における固体電解コンデンサのESRおよび漏れ電流に関して、モールド外装体における線膨張係数の影響を評価した。
<
Regarding the ESR and leakage current of the solid electrolytic capacitor in the second embodiment, the influence of the linear expansion coefficient in the mold outer package was evaluated.
表3は第2実施形態における各固体電解コンデンサのESRの評価結果を示し、表4は第2実施形態における各固体電解コンデンサの漏れ電流の評価結果を示す。 Table 3 shows the evaluation results of the ESR of each solid electrolytic capacitor in the second embodiment, and Table 4 shows the evaluation results of the leakage current of each solid electrolytic capacitor in the second embodiment.
表3に示すように、実施例5(固体電解コンデンサB1)では、比較例3(固体電解コンデンサY2)と比較して、リフロー処理後および高温負荷試験後におけるESRの増加が大幅に抑制されていることが分かる。また、比較例3(固体電解コンデンサY2)では、従来の比較例1(固体電解コンデンサX)と比較して、リフロー処理後および高温負荷試験後におけるESRの増加がわずかしか抑制されていないことが分かる。 As shown in Table 3, in Example 5 (solid electrolytic capacitor B1), the increase in ESR after the reflow treatment and after the high temperature load test was significantly suppressed as compared with Comparative Example 3 (solid electrolytic capacitor Y2). I understand that. Further, in Comparative Example 3 (solid electrolytic capacitor Y2), the increase in ESR after the reflow treatment and after the high-temperature load test is only slightly suppressed as compared with the conventional Comparative Example 1 (solid electrolytic capacitor X). I understand.
一方、表4に示すように、実施例5(固体電解コンデンサB1)および比較例3(固体電解コンデンサY2)では、従来の比較例1(固体電解コンデンサX)と比較して、モールド後(リフロー処理前)、リフロー処理後、及び高温負荷試験後における漏れ電流の増加が大幅に抑制されていることが分かる。また、実施例5(固体電解コンデンサB1)では、比較例3(固体電解コンデンサY2)と比較して、各状態において同程度の漏れ電流となっていることが分かる。 On the other hand, as shown in Table 4, in Example 5 (solid electrolytic capacitor B1) and Comparative example 3 (solid electrolytic capacitor Y2), compared to the conventional comparative example 1 (solid electrolytic capacitor X), after molding (reflow) It can be seen that the increase in leakage current is significantly suppressed before the treatment), after the reflow treatment, and after the high temperature load test. In addition, it can be seen that in Example 5 (solid electrolytic capacitor B1), the leakage current is approximately the same in each state as compared with Comparative Example 3 (solid electrolytic capacitor Y2).
これらのことは、コンデンサ素子10とモールド外装体8との間に設ける剥離層21aがモールド外装体8の側面から露出する構造であっても、モールド外装体8の線膨張係数を4.2×10−5/℃以上とすることが、固体電解コンデンサの、熱負荷によるESR
の増加を抑制するのに有効であることを示していると推察される。
Even if the
This is presumed to be effective in suppressing the increase in
なお、実施例5(固体電解コンデンサB1)では、上述の実施例1(固体電解コンデンサA1)と比較して、リフロー処理後および高温負荷試験後におけるESR増加の抑制効果がわずかに劣化していることが分かる。これは、実施例1(固体電解コンデンサX)では、モールド外装体8がその内部に剥離層21を包含した状態(モールド外装体8がその内部で外部リード端子と接する状態)で成形され、コンデンサ素子10内部(特に導電性高分子層3)の水分が外部に放出されにくい構造であるのに対して、実施例5(固体電解コンデンサB1)では、剥離層21aの内部あるいは界面を介してコンデンサ素子10内部(特に導電性高分子層3)の水分が外部に放出されやすい構造であるので、熱負荷が加えられた際に導電性高分子層3が乾燥・収縮して導電性高分子層3と陰極層4との界面でより剥離が生じやすくなっているためと推察される。
In Example 5 (solid electrolytic capacitor B1), the effect of suppressing the increase in ESR after the reflow treatment and after the high-temperature load test is slightly degraded as compared with Example 1 (solid electrolytic capacitor A1) described above. I understand that. In Example 1 (solid electrolytic capacitor X), the molded
<評価結果3>
第1実施形態における固体電解コンデンサのESRおよび漏れ電流に関して、剥離層の有無および剥離層における絶縁性材料の影響を評価した。
<
Regarding the ESR and leakage current of the solid electrolytic capacitor in the first embodiment, the presence or absence of the release layer and the influence of the insulating material in the release layer were evaluated.
表5は第1実施形態における各固体電解コンデンサのESRの評価結果(剥離層の有無および材料依存)を示し、表6は第1実施形態における各固体電解コンデンサの漏れ電流の評価結果(剥離層の有無および材料依存)を示す。 Table 5 shows the ESR evaluation results of each solid electrolytic capacitor in the first embodiment (the presence / absence of the release layer and material dependence), and Table 6 shows the evaluation results of the leakage current of each solid electrolytic capacitor in the first embodiment (release layer). Presence or absence and material dependence).
表5に示すように、剥離層21を設けていない比較例4(固体電解コンデンサZ)では、リフロー処理後および高温負荷試験後においてESRが2倍以上に増加していることが分かる。このことは、4.2×10−5/℃以上の線膨張係数を有するモールド外装体8を採用するだけでは、固体電解コンデンサにおけるESRの増加を十分に抑制できないこ
とを示していると推察される。
As shown in Table 5, it can be seen that in Comparative Example 4 (solid electrolytic capacitor Z) in which the
これに対し、剥離層21としてシリコーン系エラストマを採用した実施例1(固体電解コンデンサA1)およびフッ素系離型剤を採用した実施例4(固体電解コンデンサA4)では、比較例4(固体電解コンデンサZ)と比較して、リフロー処理後および高温負荷試験後におけるESRの増加が大幅に抑制されていることが分かる。このことは、固体電解コンデンサの、熱負荷によるESRの増加を抑制するには、モールド外装体8の線膨張係数を4.2×10−5/℃以上とするとともに、コンデンサ素子10とモールド外装体8との間に剥離層21を設けることが有効であることを示していると推察される。
On the other hand, in Example 1 (solid electrolytic capacitor A1) employing a silicone elastomer as the
また、実施例1(固体電解コンデンサA1)および実施例4(固体電解コンデンサA4)は、各状態において同程度のESRであることが分かる。このことは、シリコーン系エラストマだけでなくフッ素系離型剤も剥離層として機能し、熱負荷によるESR増加の抑制効果を得ることができることを示していると推察される。 Moreover, it turns out that Example 1 (solid electrolytic capacitor A1) and Example 4 (solid electrolytic capacitor A4) are comparable ESR in each state. This is presumed to indicate that not only the silicone elastomer but also the fluorine release agent functions as a release layer, and an effect of suppressing an increase in ESR due to heat load can be obtained.
一方、表6に示すように、実施例1(固体電解コンデンサA1)、実施例4(固体電解コンデンサA4)、及び比較例4(固体電解コンデンサZ)では、各状態において同程度の漏れ電流であり、いずれも熱負荷による漏れ電流の顕著な増加がないことが分かる。このことは、熱負荷による漏れ電流の増加を抑制するには、コンデンサ素子10から突出する陽極リード線1a(陽極リード線1aの根元の周辺領域S1)に対して、保護層20を設けることが有効であることを示していると推察される。
On the other hand, as shown in Table 6, in Example 1 (solid electrolytic capacitor A1), Example 4 (solid electrolytic capacitor A4), and Comparative Example 4 (solid electrolytic capacitor Z), leakage currents of the same level in each state. It can be seen that there is no significant increase in leakage current due to thermal load. This means that in order to suppress an increase in leakage current due to a thermal load, the
<評価結果4>
第3実施形態における固体電解コンデンサのESRおよび漏れ電流に関して、剥離層と保護層の共通化の影響を評価した。
<
Regarding the ESR and leakage current of the solid electrolytic capacitor in the third embodiment, the influence of the common use of the release layer and the protective layer was evaluated.
表7は第3実施形態における各固体電解コンデンサのESRの評価結果を示し、表8は第3実施形態における各固体電解コンデンサの漏れ電流の評価結果を示す。 Table 7 shows the evaluation results of the ESR of each solid electrolytic capacitor in the third embodiment, and Table 8 shows the evaluation results of the leakage current of each solid electrolytic capacitor in the third embodiment.
表7に示すように、保護層を剥離層21bと同じ絶縁性材料で構成した実施例6(固体電解コンデンサC1)および実施例7(固体電解コンデンサC2)では、それぞれ対応する実施例1(固体電解コンデンサA1)および実施例4(固体電解コンデンサA4)と比較して、各状態において同程度のESRとなっていることが分かる。このことは、剥離層と保護層とを共通化して構成しても、上述した熱負荷によるESR増加の抑制効果を得ることができることを示していると推察される。 As shown in Table 7, in Example 6 (solid electrolytic capacitor C1) and Example 7 (solid electrolytic capacitor C2) in which the protective layer is made of the same insulating material as that of the release layer 21b, the corresponding Example 1 (solid state) Compared with electrolytic capacitor A1) and Example 4 (solid electrolytic capacitor A4), it can be seen that the ESR is comparable in each state. It is speculated that this indicates that even if the release layer and the protective layer are configured in common, the above-described effect of suppressing the increase in ESR due to the thermal load can be obtained.
一方、表8に示すように、保護層を剥離層21bと同じシリコーン系エラストマで構成した実施例6(固体電解コンデンサC1)では、実施例1(固体電解コンデンサA1)と比較して、各状態において同程度の漏れ電流となっているのに対し、フッ素型離型剤で構成した実施例7(固体電解コンデンサC2)では、実施例4(固体電解コンデンサA4)と比較して、モールド後(リフロー処理前)、リフロー処理後、及び高温負荷試験後における漏れ電流がわずかに増加していることが分かる。これは、フッ素型離型剤で構成した場合には、シリコーン系エラストマで構成した場合に比べ、剥離層21bによる陽極リード線1aの周囲の補強効果が弱く、陽極リード線1aの根元付近への応力集中が十分に抑制できていないためと推察される。
On the other hand, as shown in Table 8, in Example 6 (solid electrolytic capacitor C1) in which the protective layer was formed of the same silicone elastomer as the release layer 21b, each state was compared with Example 1 (solid electrolytic capacitor A1). In Example 7 (solid electrolytic capacitor C2) composed of a fluorine-type mold release agent, compared with Example 4 (solid electrolytic capacitor A4), It can be seen that the leakage current slightly increased after the reflow treatment), after the reflow treatment, and after the high temperature load test. This is because the reinforcing effect around the
以上のことから、剥離層と保護層とを共通化して構成する場合には、フッ素系離型剤を採用するよりもシリコーン系エラストマを採用する方が好ましいことが分かる。 From the above, it can be seen that when a release layer and a protective layer are configured in common, it is preferable to employ a silicone elastomer rather than a fluorine-based release agent.
本発明の第1実施形態および第2実施形態に係る固体電解コンデンサによれば、以下の効果を得ることができる。 According to the solid electrolytic capacitor according to the first embodiment and the second embodiment of the present invention, the following effects can be obtained.
(1)コンデンサ素子10とモールド外装体8との間に剥離層21(剥離層21a)を設けるとともに、モールド外装体8の線膨張係数を4.2×10−5/℃以上とすることにより、固体電解コンデンサの、熱負荷による等価直列抵抗(ESR)の増加を抑制することができる。この結果、耐熱信頼性の向上した固体電解コンデンサとすることができる。
(1) By providing the peeling layer 21 (
(2)コンデンサ素子10とモールド外装体8との間に剥離層21を設けるとともに、エポキシ樹脂からなるモールド外装体8に対する充填材(溶融シリカ)の添加量を30体積%以下とすることにより、固体電解コンデンサの、熱負荷による等価直列抵抗(ESR)の増加を抑制することができる。この結果、耐熱信頼性の向上した固体電解コンデンサとすることができる。
(2) By providing the
(3)コンデンサ素子10から突出する陽極リード線1aの周囲を保護層20により固着した状態でモールド成形したことで、陽極リード線1aと陽極体1との間にかかる応力
(特に陽極リード線1aの根元付近に集中してかかる応力)が緩和され、漏れ電流の増加を抑制することができる。
(3) Stress applied between the
(4)陽極リード線1aの根元の周辺領域S1における保護層20を被覆するように剥離層21を設けたことで、陽極リード線1aの周辺がさらに補強され、上記(3)の効果をより安定して享受することができる。
(4) By providing the
(5)モールド外装体8を、その内部に剥離層21を包含した状態(モールド外装体8がその内部で外部リード端子と接する状態)で成形したことで、上記(1)および(2)の効果をより効果的に享受することができる。
(5) By molding the
本発明の第3実施形態に係る固体電解コンデンサによれば、上記(1)、(2)、及び(5)の効果に加え、以下の効果を得ることができる。 According to the solid electrolytic capacitor according to the third embodiment of the present invention, in addition to the effects (1), (2), and (5), the following effects can be obtained.
(6)コンデンサ素子10から突出する陽極リード線1aの周囲を剥離層21bにより固着した状態でモールド成形したことで、陽極リード線1aと陽極体1との間にかかる応力(特に陽極リード線1aの根元付近に集中してかかる応力)が緩和され、漏れ電流の増加を抑制することができる。
(6) The stress (in particular, the
(7)剥離層21bとしてシリコーン系エラストマを採用したことで、フッ素系離型剤を採用した場合に比べて、上記(6)の効果をより顕著に享受することができる。 (7) By adopting the silicone elastomer as the release layer 21b, the effect of the above (6) can be enjoyed more remarkably than when a fluorine release agent is employed.
(8)剥離層21bを保護層として機能するように構成したことで、保護層を形成する工程を削減することができるので、第1実施形態と比べて、ESRの増加を抑制することが可能な固体電解コンデンサの低コスト化を図ることができる。 (8) Since the separation layer 21b is configured to function as a protective layer, the number of steps for forming the protective layer can be reduced, so that an increase in ESR can be suppressed compared to the first embodiment. The cost of a solid electrolytic capacitor can be reduced.
なお、本発明は、上記した実施例に限定されるものではなく、当業者の知識に基づいて各種の設計変更等の変形を加えることも可能であり、そのような変形が加えられた実施例も本発明の範囲に含まれうるものである。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications such as design changes can be added based on the knowledge of those skilled in the art. Embodiments to which such modifications are added Can also be included in the scope of the present invention.
上記実施例では、陽極体としてニオブ金属を採用したコンデンサ素子の例を示したが、本発明はこれに限らない。たとえば、タンタル、アルミニウム、チタンなどの弁作用金属あるいはその合金を採用したコンデンサ素子であってもよい。この場合にも上記効果を享受することができる。 In the above embodiment, an example of a capacitor element using niobium metal as an anode body has been shown, but the present invention is not limited to this. For example, a capacitor element employing a valve metal such as tantalum, aluminum, titanium, or an alloy thereof may be used. Also in this case, the above effect can be enjoyed.
上記実施例では、電解質層としてポリピロールからなる導電性高分子層を採用したコンデンサ素子の例を示したが、本発明はこれに限らない。たとえば、二酸化マンガンなどの導電性無機材料やTCNQ錯塩などの導電性有機材料を採用したコンデンサ素子であってもよい。この場合にも同様の効果を享受することができる。 In the above embodiment, an example of a capacitor element that employs a conductive polymer layer made of polypyrrole as the electrolyte layer has been shown, but the present invention is not limited to this. For example, a capacitor element employing a conductive inorganic material such as manganese dioxide or a conductive organic material such as TCNQ complex salt may be used. In this case, the same effect can be enjoyed.
上記実施例では、陰極端子および保護層を含むコンデンサ素子の周囲全体を被覆するように剥離層を設けた例を示したが、本発明はこれに限らない。たとえば、コンデンサ素子の周囲の一部に剥離層を設けるようにしてもよい。この場合にも上記効果を享受することができる。 In the above-described embodiment, the example in which the release layer is provided so as to cover the entire periphery of the capacitor element including the cathode terminal and the protective layer is shown, but the present invention is not limited to this. For example, you may make it provide a peeling layer in a part of circumference | surroundings of a capacitor | condenser element. Also in this case, the above effect can be enjoyed.
上記実施例では、モールド外装体を単層で構成した例を示したが、本発明はこれに限らない。たとえば、モールド外装体を複数層で構成し、層全体における線膨張係数が4.2×10−5/℃以上となるようにしてもよい。この場合にも上記効果を享受することができる。 In the said Example, although the example which comprised the mold exterior body by the single layer was shown, this invention is not restricted to this. For example, the mold outer package may be composed of a plurality of layers, and the linear expansion coefficient in the entire layer may be 4.2 × 10 −5 / ° C. or more. Also in this case, the above effect can be enjoyed.
1 陽極体、1a 陽極リード、2 誘電体層、3 導電性高分子層、4 陰極層、4a 導電性カーボン層、4b 銀ペースト層、6 陽極端子、7 陰極端子、8 モールド外装体、10 コンデンサ素子、20 保護層、21 剥離層。
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記陰極層と前記外装体との間に第1の絶縁部材を備え、
前記外装体は4.2×10−5/℃以上の線膨張係数を有していることを特徴とした固体電解コンデンサ。 A solid electrolytic capacitor comprising: a capacitor element in which a dielectric layer, an electrolyte layer, and a cathode layer are sequentially formed on a surface of an anode body having an anode lead wire; and an exterior body molded around the capacitor element. There,
A first insulating member is provided between the cathode layer and the exterior body,
The outer packaging body has a linear expansion coefficient of 4.2 × 10 −5 / ° C. or more.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008020010A JP2009182157A (en) | 2008-01-31 | 2008-01-31 | Solid-state electrolytic capacitor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009182157A true JP2009182157A (en) | 2009-08-13 |
Family
ID=41035892
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008020010A Pending JP2009182157A (en) | 2008-01-31 | 2008-01-31 | Solid-state electrolytic capacitor |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2009182157A (en) |
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