JP2009169420A - 偏光位相顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、観察しようとする標本に対する像を取得する光学イメージ発生部と;前記光学イメージ発生部で取得した像の光線が流入する物体平面、前記物体平面を通過した光線に対する1次フーリエ変換が発生する第1変換レンズ、前記第1変換レンズから前記第1変換レンズの焦点距離だけ離隔して位置したλ/4波長板、前記λ/4波長板を通過した光線に対する2次フーリエ変換が発生する第2変換レンズ、および前記2次フーリエ変換がなされた光線の像が結ばれる光検出器を含む位相イメージ発生部と;を備えることを特徴とする。
本発明によれば、生体細胞のような生物標本に対する定量的な(quantitative)位相情報を取得し、前記生体細胞の構造および動きを観察することが可能な効果を有する。
【選択図】図2
Description
また、前記光学イメージ発生部は、一定の強度の光を照射する光源、標本を載せる載物台、前記載物台を通過した光線を集光させる対物レンズ、前記対物レンズを通過した光線の経路を変換させる反射鏡、および前記反射鏡で反射した光線を集めて中間像を形成するチューブレンズを含むことができる。
また、前記偏光子は、1回あたりπ/4ずつ回転することができる。
10:光学イメージ発生部
20:光源
30:載物台
40:対物レンズ
50:反射鏡
60:チューブレンズ
70:投影レンズ
100:位相イメージ発生部
110:物体平面
115:偏光子
118:回転部材
120:第1変換レンズ
130:変換平面
135:波長板
138:微細ホール
140:第2変換レンズ
150:イメージ平面
155:光検出器
Claims (7)
- 偏光位相顕微鏡であって、
観察対象の標本の像を取得する光学イメージ発生部と、
位相イメージ発生部とを備え、その位相イメージ発生部は、
前記光学イメージ発生部で取得した像の光線が流入する物体平面と、この物体平面を通過した光線に対する1次フーリエ変換が発生する第1変換レンズと、第1変換レンズから第1変換レンズの焦点距離だけ離隔して位置したλ/4波長板と、このλ/4波長板を通過した光線に対する2次フーリエ変換が発生する第2変換レンズと、前記2次フーリエ変換がなされた光線の像が結ばれる光検出器とを含む偏光位相顕微鏡。 - 前記λ/4波長板は、中央部にホールが形成される請求項1の偏光位相顕微鏡。
- 前記光学イメージ発生部は、
一定の強度の光を照射する光源と、標本を載せる載物台と、この載物台を通過した光線を集光させる対物レンズと、この対物レンズを通過した光線の経路を変換させる反射鏡と、この反射鏡で反射した光線を集めて中間像を形成するチューブレンズとを含む請求項1の偏光位相顕微鏡。 - 前記位相イメージ発生部は、
前記物体平面を通過した光線を選択的に通過させるように第1変換レンズの前端に備えられた偏光子をさらに含む請求項1の偏光位相顕微鏡。 - 前記偏光子には、この偏光子を回転させるための回転部材が結合される請求項4の偏光位相顕微鏡。
- 前記偏光子は、1回あたりπ/4ずつ回転する請求項4の偏光位相顕微鏡。
- 前記光検出器は、電荷結合素子またはCMOSである請求項1の偏光位相顕微鏡。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080005810A KR100924574B1 (ko) | 2008-01-18 | 2008-01-18 | 편광 위상 현미경 |
KR10-2008-0005810 | 2008-01-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009169420A true JP2009169420A (ja) | 2009-07-30 |
JP5002604B2 JP5002604B2 (ja) | 2012-08-15 |
Family
ID=40471076
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009005442A Expired - Fee Related JP5002604B2 (ja) | 2008-01-18 | 2009-01-14 | 偏光位相顕微鏡 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7679038B2 (ja) |
EP (1) | EP2081070A3 (ja) |
JP (1) | JP5002604B2 (ja) |
KR (1) | KR100924574B1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5696396B2 (ja) | 2010-08-16 | 2015-04-08 | ソニー株式会社 | 顕微鏡及びゴースト除去方法 |
KR101593080B1 (ko) | 2014-01-22 | 2016-02-11 | 연세대학교 산학협력단 | 회절 위상 현미경 시스템 및 이를 이용한 측정방법 |
JP6131204B2 (ja) * | 2014-02-28 | 2017-05-17 | 富士フイルム株式会社 | 観察装置 |
IT201600132813A1 (it) * | 2016-12-30 | 2018-06-30 | Istituto Naz Fisica Nucleare | Metodo e apparato per rilevare particelle di dimensioni subdiffrattive |
KR101938849B1 (ko) | 2017-12-28 | 2019-04-10 | 울산과학기술원 | 회절 위상 현미경 시스템의 동작 방법 및 이를 이용한 회절 위상 현미경 시스템 |
TWI677705B (zh) * | 2018-04-09 | 2019-11-21 | 國立臺北科技大學 | 使用薩爾瓦稜鏡為剪切元件的剪切干涉顯微鏡 |
CN111505817B (zh) * | 2020-04-30 | 2022-05-20 | 河北大学 | 基于偏振编码的相衬显微***及其成像方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57178211A (en) * | 1981-04-27 | 1982-11-02 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Microscope optical system |
US4765714A (en) * | 1984-04-03 | 1988-08-23 | Horner Joseph L | Binary phase-only optical correlation system |
JPH09281400A (ja) * | 1996-04-13 | 1997-10-31 | Nikon Corp | 物体観察装置 |
JPH10206744A (ja) * | 1997-01-13 | 1998-08-07 | Korea Electron Telecommun | 平板型光学的位相−光強度変換用顕微鏡 |
JP2004101403A (ja) * | 2002-09-11 | 2004-04-02 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 外観検査装置 |
JP2007219319A (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Nikon Corp | 位相差顕微鏡 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3052152A (en) * | 1959-03-27 | 1962-09-04 | American Optical Corp | Optical compensating system |
JP3253791B2 (ja) * | 1994-02-25 | 2002-02-04 | 三菱電機株式会社 | フーリエ変換光学系装置 |
US5969855A (en) * | 1995-10-13 | 1999-10-19 | Olympus Optical Co., Ltd. | Microscope apparatus |
JP2000269285A (ja) | 1999-03-15 | 2000-09-29 | Toshiba Corp | 半導体基板の欠陥検査装置 |
JP2001194625A (ja) | 1999-10-27 | 2001-07-19 | Olympus Optical Co Ltd | 光画像処理装置 |
US6924898B2 (en) | 2000-08-08 | 2005-08-02 | Zygo Corporation | Phase-shifting interferometry method and system |
JP4645113B2 (ja) | 2004-09-21 | 2011-03-09 | 日本電気株式会社 | 光検査方法及び光検査装置並びに光検査システム |
-
2008
- 2008-01-18 KR KR1020080005810A patent/KR100924574B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2009
- 2009-01-08 US US12/350,809 patent/US7679038B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-01-12 EP EP09150365A patent/EP2081070A3/en not_active Withdrawn
- 2009-01-14 JP JP2009005442A patent/JP5002604B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57178211A (en) * | 1981-04-27 | 1982-11-02 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Microscope optical system |
US4765714A (en) * | 1984-04-03 | 1988-08-23 | Horner Joseph L | Binary phase-only optical correlation system |
JPH09281400A (ja) * | 1996-04-13 | 1997-10-31 | Nikon Corp | 物体観察装置 |
JPH10206744A (ja) * | 1997-01-13 | 1998-08-07 | Korea Electron Telecommun | 平板型光学的位相−光強度変換用顕微鏡 |
JP2004101403A (ja) * | 2002-09-11 | 2004-04-02 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 外観検査装置 |
JP2007219319A (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Nikon Corp | 位相差顕微鏡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100924574B1 (ko) | 2009-10-30 |
KR20090079670A (ko) | 2009-07-22 |
US7679038B2 (en) | 2010-03-16 |
EP2081070A2 (en) | 2009-07-22 |
EP2081070A3 (en) | 2009-07-29 |
US20090184240A1 (en) | 2009-07-23 |
JP5002604B2 (ja) | 2012-08-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110830 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111130 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120424 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120521 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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