JP2009166876A - Electronic component storage tape - Google Patents

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Fumio Kumada
文男 熊田
Yukio Ando
幸男 安藤
Keiichi Sasamura
計一 笹村
雄三 ▲浜▼中
Yuzo Hamanaka
Yuji Hasegawa
雄二 長谷川
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Fujitsu Semiconductor Ltd
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Fujitsu Semiconductor Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To protect the outer shape of an electronic component, to protect a lead terminal, and to safely take out the electronic component, in the stage of storing the electronic component having a gull wing-like lead terminal, taping, and mounting on a substrate. <P>SOLUTION: Forms of furrow projections disposed around the storage part of an electronic component body in contact with terminals of an electronic component are nonuniform to such a degree that in places except four corners of the electronic component body, at least the height or width effectively reduces the contact area with the terminals of the electronic component. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は電子部品収容テープに関し、特に、半導体装置等の電子部品の出荷の際に適用されるエンボステープと称される部品収容テープに関するものである。   The present invention relates to an electronic component housing tape, and more particularly to a component housing tape called an embossed tape applied when shipping electronic components such as semiconductor devices.

半導体装置を電子機器用回路基板等へ実装するための、半導体装置の供給形態として、エンボステーピング出荷がある。
エンボステープは、半導体集積回路装置等の半導体装置を大量に搬送でき、ユーザが半導体装置を電子機器用回路基板等へ高速実装できるなどのメリットがあることから、近年需要が拡大している。
As a supply form of a semiconductor device for mounting the semiconductor device on a circuit board for electronic equipment, there is embossed shipping.
In recent years, embossed tape has increased in demand because it has a merit that a semiconductor device such as a semiconductor integrated circuit device can be transported in large quantities and a user can mount the semiconductor device on a circuit board for electronic equipment at high speed.

この様なエンボステープは、熱可塑性樹脂シートよりプレス成形、真空成形、或いは圧空成形にて一体成形され、リブに囲まれたポケットが半導体装置本体部の収容部となり、半導体装置におけるガルウイング状のリード端子はリブを跨ぐように保持される。   Such an embossed tape is integrally molded from a thermoplastic resin sheet by press molding, vacuum molding or pressure molding, and a pocket surrounded by ribs serves as a housing portion of the semiconductor device main body, and a gull-wing-like lead in the semiconductor device. The terminal is held so as to straddle the rib.

この場合、リブ及びポケットと半導体装置との配置関係によって、カバーテープで覆ったエンボステーピング状態における半導体装置の収容部内部における移動・回転が防止され、それによって、半導体装置の外形保護がなされることになる。
そして、半導体装置の実装時においては、半導体装置をエンボステープから逐次取り出すことによって、実装スピードの向上と製品の品質の向上が図られている。
In this case, the arrangement relationship between the ribs and pockets and the semiconductor device prevents movement and rotation inside the housing portion of the semiconductor device in the embossed taping state covered with the cover tape, thereby protecting the outer shape of the semiconductor device. become.
When the semiconductor device is mounted, the semiconductor device is sequentially taken out from the embossed tape to improve the mounting speed and the quality of the product.

しかし、エンボステープの適用率が上がるにつれ、ガルウイング状のリード端子を有した半導体装置、特に、SSOP、TSOP、QFP或いはLQFPなどの2方向或いは4方向にリード端子が導出された半導体装置のテーピング出荷は、キャリアテープのリブ部の製造制限上の問題で、エンボステーピングのポケットへの嵌まり込みが懸念される。   However, as the application rate of embossed tape increases, taping shipments of semiconductor devices having gull-wing lead terminals, particularly semiconductor devices with lead terminals derived in two or four directions such as SSOP, TSOP, QFP, or LQFP, etc. Is a problem in the manufacturing restriction of the rib portion of the carrier tape, and there is a concern that the embossed tape will be fitted into the pocket.

これは、リブの成形型と熱可塑性樹脂シートの厚さとの関係によりリブ幅が太くなり、その幅が半導体装置本体部とリード端子部との間隙に近い寸法となるためである。
ここで、図17を参照して従来のエンボステーピングの問題点を説明する(例えば、特許文献1参照)。
This is because the rib width increases due to the relationship between the rib mold and the thickness of the thermoplastic resin sheet, and the width is close to the gap between the semiconductor device body and the lead terminal.
Here, the problem of conventional emboss taping will be described with reference to FIG. 17 (see, for example, Patent Document 1).

図17は、従来のエンボステーピングに適用されるエンボステープの構成説明図である。
図17において、上段の図(a)は、本発明による電子部品収容テープの概略的平面図であり、中段の図(b)は、平面図(a)のX−X′断面図であり、更に、下段の(c)は、電子部品収容時の隅部(角部)の拡大断面図である。
エンボステープ110には、プレス加工によって凹部111が形成されるが、この凹部111に収容する半導体装置100の本体部101の外形に沿ったリブ112が形成され、このリブ112で囲まれた領域が本体部101の収容部113となり、このリブ112が半導体装置100に設けられたガルウイング状のリード端子102の支えとなる。
FIG. 17 is an explanatory diagram of the structure of an embossed tape applied to conventional embossed taping.
In FIG. 17, the upper diagram (a) is a schematic plan view of the electronic component housing tape according to the present invention, and the middle diagram (b) is an XX ′ sectional view of the plan view (a). Furthermore, (c) in the lower stage is an enlarged cross-sectional view of a corner (corner) when the electronic component is accommodated.
A recess 111 is formed in the embossed tape 110 by press working. A rib 112 is formed along the outer shape of the main body 101 of the semiconductor device 100 accommodated in the recess 111, and a region surrounded by the rib 112 is formed. The ribs 112 serve as a support for the gull-wing-shaped lead terminals 102 provided in the semiconductor device 100.

上述のように、リブ幅が太くなり半導体装置本体部とリード端子部との間隙に近い寸法となるため、リブ112が半導体装置の本体部101とリード端子102とほぼ全面で接触することになる。   As described above, the rib width is increased and becomes a size close to the gap between the semiconductor device main body portion and the lead terminal portion, so that the rib 112 is in contact with the main body portion 101 and the lead terminal 102 of the semiconductor device almost on the entire surface. .

このような状態で、輸送落下等により衝撃が加わった場合にはリブ112が半導体装置の本体部101とリード端子102との間隙に過度に差し込まれ易くなり、その結果、半導体装置本体のリード端子102とエンボステーピングのリブ部に嵌まり込みを生じ、基板実装した時に半導体装置本体を取り出せない或いは取り出しにくい状況が発生する。   In such a state, when an impact is applied due to transportation drop or the like, the rib 112 is likely to be excessively inserted into the gap between the main body portion 101 and the lead terminal 102 of the semiconductor device, and as a result, the lead terminal of the semiconductor device main body. 102 and emboss taping ribs are fitted, and the semiconductor device main body cannot be taken out or difficult to take out when mounted on the board.

また、エンボステープとしては、リブを4角で欠落させたタイプも知られている。
ここで、図18を参照して、従来の他のエンボステーピングを説明する(例えば、特許文献2参照)。
図18は、従来のエンボステーピングに適用されるエンボステープの他の構成説明図である。
図18において、上段の図(a)は、本発明による電子部品収容テープの概略的平面図であり、中段の図(b)は、平面図(a)のX−X′断面図であり、更に、下段の図(c)は、電子部品収容時の隅部(角部)の拡大断面図である。
エンボステープ120には、プレス加工によって凹部121が形成されるが、この凹部122に収容する半導体装置100の本体部101の外形に沿ったリブ122が形成され、このリブ122で囲まれた領域が本体部101の収容部123となるが、この場合のリブ122には4角に欠落部124を設ける。
As an embossed tape, a type in which ribs are missing at four corners is also known.
Here, another conventional emboss taping will be described with reference to FIG. 18 (see, for example, Patent Document 2).
FIG. 18 is another explanatory diagram of the structure of an embossed tape applied to conventional embossed taping.
In FIG. 18, the upper part (a) is a schematic plan view of the electronic component housing tape according to the present invention, and the middle part (b) is an XX ′ cross-sectional view of the plan view (a). Furthermore, the lower figure (c) is an enlarged sectional view of a corner (corner) when the electronic component is accommodated.
A recess 121 is formed in the embossed tape 120 by press working. A rib 122 is formed along the outer shape of the main body 101 of the semiconductor device 100 accommodated in the recess 122, and a region surrounded by the rib 122 is formed. The ribs 122 in this case are provided with missing portions 124 at four corners.

このエンボステープを利用したテーピング状態は、図17に示したエンボステーピングと同様であり、リブ122によって半導体装置100に設けられたガルウイング状のリード端子102が支えられて、輸送中における半導体装置100の移動及び/或いは回転が防止される。   The taping state using the embossed tape is the same as that of the embossed taping shown in FIG. 17, and the gull-wing-like lead terminals 102 provided on the semiconductor device 100 are supported by the ribs 122, so that the semiconductor device 100 during transportation is supported. Movement and / or rotation is prevented.

一方、リード端子のエンボステーピングのリブ部への嵌まり込みの発生を防止するために、エンボステープに凹部を設ける際に、中央部に半導体装置の本体部を載置する台状部を形成するとともに、台状部の4角に半導体装置の本体部の下側を支えるL字状の突縁を設けることが提案されている(例えば、同じく特許文献1参照)。
特開平09−092689号公報 特表平04−500058号公報
On the other hand, in order to prevent the embossed tape from fitting into the rib portion of the lead terminal, when the concave portion is provided in the embossed tape, a base-like portion for mounting the main body portion of the semiconductor device is formed in the central portion. At the same time, it has been proposed to provide L-shaped protrusions that support the lower side of the main body of the semiconductor device at the four corners of the platform (for example, see Patent Document 1).
JP 09-092689 A Japanese Translation of National Publication No. 04-500058

しかし、特許文献2に示されたエンボステープの場合にも、リード端子72のエンボステーピングのリブ部への嵌まり込みの発生状況は同様である。
これはリード端子もしくは半導体装置本体部がリブと接触する面積に差がないことに原因があることが推測され、嵌まり込みはエンボステーピング出荷の障害となるため、トレイ出荷/トレイ実装で対応するしかない状況にある。
However, even in the case of the embossed tape disclosed in Patent Document 2, the situation of occurrence of the embossed taping of the lead terminal 72 in the rib portion is the same.
This is presumed to be because there is no difference in the area where the lead terminal or the semiconductor device main body comes into contact with the rib. Since the fitting becomes an obstacle to embossed taping shipment, it can be handled by tray shipment / tray mounting. There is only the situation.

また、前記特許文献1に示されたL字状の突縁は切り起こしで形成されるため、幅が充分に薄く、リード端子とエンボステーピングの突縁への嵌まり込みが生ずることはないが、L字状の突縁の機械的強度が充分でない。
また、突縁はリード端子と接触する位置に設けられていないので、輸送落下等により衝撃が加わった場合に、半導体装置本大部がL字状の突縁による支持からはなれて移動し、半導体装置の外形保護機能が低下するという問題がある。
In addition, since the L-shaped protrusion shown in Patent Document 1 is formed by cutting and raising, the width is sufficiently thin, and the lead terminal and the embossed taping do not fit into the protrusion. The mechanical strength of the L-shaped protruding edge is not sufficient.
In addition, since the protruding edge is not provided at a position in contact with the lead terminal, the semiconductor device main part moves away from the support by the L-shaped protruding edge when an impact is applied due to transportation drop or the like. There exists a problem that the external shape protection function of an apparatus falls.

本発明は、ガルウイング状のリード端子を有する電子部品の収容/テーピング/輸送/基板への実装段階において、電子部品の外形保護、リード端子の保護を図り、且つ、安全に取り出すことを目的とする。   An object of the present invention is to protect the outer shape of an electronic component, protect the lead terminal, and safely remove the electronic component having a gull-wing-shaped lead terminal at the stage of housing / taping / transporting / mounting the substrate. .

本発明の一観点によれば、電子部品本体の収容部と、前記収容部の周囲に前記電子部品本体と端子との間であり、且つ、前記電子部品の端子と接する位置に位置する畝条突起部とを有するとともに、前記畝条突起部が、前記電子部品本体の4つの角部以外の位置において、高さ或いは幅の少なくとも一方が前記電子部品の端子との接触面積を有為に低減する程度に不均一になっている電子部品収容テープが提供される。   According to one aspect of the present invention, the housing part of the electronic component body, and the strip located between the electronic component body and the terminal around the housing part and in contact with the terminal of the electronic component. And at least one of height or width significantly reduces the contact area with the terminal of the electronic component at a position other than the four corners of the electronic component body. An electronic component housing tape that is non-uniform to such an extent is provided.

本発明によれば、リブと電子部品の端子との接触面積を有為に低減させているので、電子部品本体の外形保護を図り、従来懸念された電子部品の嵌まり込みを防止することができる。ひいては、テーピング出荷による実装スピード向上、品質向上が可能になる。   According to the present invention, since the contact area between the rib and the terminal of the electronic component is significantly reduced, it is possible to protect the outer shape of the electronic component body and prevent the fitting of the electronic component, which has been a concern in the past. it can. As a result, it is possible to improve mounting speed and quality by taping shipment.

本発明は、電子部品収容テープにおいて、電子部品本体の収容部の周囲に、電子部品の端子と接する位置に配置される畝条突起部の形態を、電子部品本体の4つの隅部(角部)以外の位置において、その高さ或いは幅の少なくとも一方を電子部品の端子との接触面積を有為に低減する程度、例えば、接触面積比率が従来の5%〜90%になるように、不均一にしてなるものである。   The present invention relates to an electronic component housing tape in which the shape of the ridge protrusions disposed around the housing portion of the electronic component main body at a position in contact with the terminal of the electronic component is changed to the four corner portions (corner portions) of the electronic component main body. ) At a position other than the height or width, the contact area with the terminal of the electronic component is significantly reduced, for example, the contact area ratio is not so high as 5% to 90%. It is made uniform.

その具体的形状として、一つに、畝条突起部を電子部品本体の2つの隅部(角部)に対してのみ設けることにより、2つの隅部(角部)における畝条突起部の高さを他の領域における畝条突起部の高さに対して不均一にする。この時、この2つの隅部(角部)における畝条突起部の高さ自体を不均一なものとしても良い。   As the specific shape, the height of the ridge protrusions at the two corners (corners) is provided by providing the ridge protrusions only on the two corners (corners) of the electronic component body. The height is made non-uniform with respect to the height of the ridge protrusion in the other region. At this time, the heights of the protrusions at the two corners (corners) may be non-uniform.

或いは、畝条突起部を、電子部品本体の2つの辺に対してのみ設けることにより、2つの辺における畝条突起部の高さを、他の2つの辺における畝条突起部の高さに対して異なるものとする。
この時、この2つの辺における畝条突起部の高さ自体を不均一なものとしても良い。
Alternatively, by providing the ridge protrusion only on the two sides of the electronic component body, the height of the ridge protrusion on the two sides is set to the height of the ridge protrusion on the other two sides. It shall be different.
At this time, the heights of the ridge protrusions on these two sides may be non-uniform.

或いは、畝条突起部を、電子部品本体の4つの辺に対して設けるとともに、各畝条突起部の高さ或いは幅の少なくとも一方を不均一にする。
より具体的には、畝条突起部の高さ或いは幅の少なくとも一方を、弧状に連続的に変化
させる、または波状に周期的に変化させる(例えば三角波状に周期的に変化させる)、或いは間欠的に設ける、または、畝条突起部にくり貫き部を設けることによって不均一にするなどの構成を用いる。
Alternatively, the ridge protrusions are provided on the four sides of the electronic component body, and at least one of the height or width of each ridge protrusion is made non-uniform.
More specifically, at least one of the heights or widths of the ridge protrusions is continuously changed in an arc shape, periodically changed in a wave shape (for example, changed periodically in a triangular wave shape), or intermittently. For example, a non-uniform structure may be used, for example, or by providing a cut-out portion in the ridge protrusion.

更には、畝条突起部の高さは一定として、畝条突起部の幅をテーパ状に変化させる、或いは畝条突起部の幅を階段状に変化させることにより不均一にするなどの構成を用いる。   Furthermore, the height of the ridge protrusion is constant, and the width of the ridge protrusion is changed to a taper shape, or the width of the ridge protrusion is changed stepwise to make it non-uniform. Use.

次に、図1を参照して本発明の実施例1のエンボステープを説明する。
図1は、本発明の実施例1のエンボステープの構成説明図であり、ここでは、半導体装置を収容した状態で説明する。
上段の図(a)は概略的平面図であり、中段の図(b)は隅部(角部)の拡大図であり、更に、下段の図(c)は隅部(角部)の拡大断面図である。
本実施例におけるエンボステープ20は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば20mm×20mmの矩形状凹部21を形成するとともに、当該凹部21の底部において、対角線上に位置する2つの隅部(角部)にL字状リブ22を配設したものである。
Next, an embossed tape according to Example 1 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 1 is a configuration explanatory view of an embossed tape according to a first embodiment of the present invention. Here, the embossed tape is described in a state in which a semiconductor device is accommodated.
The upper diagram (a) is a schematic plan view, the middle diagram (b) is an enlarged view of a corner (corner), and the lower diagram (c) is an enlarged view of a corner (corner). It is sectional drawing.
The embossed tape 20 in this embodiment forms, for example, a rectangular recess 21 of 20 mm × 20 mm, for example, by pressing a plastic resin tape, and two corners positioned diagonally at the bottom of the recess 21. An L-shaped rib 22 is disposed at a portion (corner portion).

かかる形態において、L字状リブ22は、一辺の長さが5.0mm、幅は0.50mmであり、また、高さは隅部(角部)の頂点から2.00mmまでの間は、1.00mmであり、2.00mmの位置から端部までは連続的に低くなる形状とされている。
この2つのL字状リブ22で規定される4角形の空間が、半導体装置10の本体部11の収容部23となる。
In such a form, the L-shaped rib 22 has a side length of 5.0 mm, a width of 0.50 mm, and a height between the top of the corner (corner) and 2.00 mm. The shape is 1.00 mm, and is continuously lowered from the position of 2.00 mm to the end.
A quadrangular space defined by the two L-shaped ribs 22 becomes the accommodating portion 23 of the main body portion 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ20に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部23に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はL字状リブ22を跨いで接した状態となる。   When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 20, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 23, and the gull-wing shaped terminals 12 are in contact with each other across the L-shaped ribs 22.

この時、ガルウイング状の端子12は、L字状リブ22に対し、当該L字状リブ22の高さが一定の部分及びその近傍において接するに止まる。
この為、ガルウイング状の端子12とL字状リブ22との接触面積比率は5%程度となる。
従って、エンボステープ20の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にL字状リブ22の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、エンボステープ20からの半導体装置10の取り出しの際、当該半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
At this time, the gull-wing-shaped terminal 12 stops contacting the L-shaped rib 22 at a portion where the height of the L-shaped rib 22 is constant and in the vicinity thereof.
For this reason, the contact area ratio between the gull-wing-shaped terminal 12 and the L-shaped rib 22 is about 5%.
Therefore, even when the embossed tape 20 is wound or dropped, even if the L-shaped rib 22 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12, the ratio is small.
Therefore, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 20, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図2を参照して本発明の実施例2のエンボステープを説明する。
図2は、本発明の実施例2のエンボステープの構成説明図であり、ここでは、半導体装置を収容した状態で説明する。
上段の図(a)は概略的平面図であり、中段の図(b)は隅部(角部)の拡大図であり、また、下段の図(c)は隅部(角部)の拡大断面図である。
本実施例におけるエンボステープ25は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば20mm×20mmの矩形状凹部26を形成するとともに、当該凹部26の底部において、対角線上に位置する2つの隅部(角部)にL字状リブ27を配設したものである。
Next, an embossed tape according to Example 2 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 2 is a diagram illustrating the configuration of an embossed tape according to the second embodiment of the present invention. Here, the embossed tape is described in a state in which a semiconductor device is accommodated.
The upper figure (a) is a schematic plan view, the middle figure (b) is an enlarged view of a corner (corner), and the lower figure (c) is an enlarged view of a corner (corner). It is sectional drawing.
The embossed tape 25 in the present embodiment forms, for example, a rectangular recess 26 of 20 mm × 20 mm, for example, by pressing a plastic resin tape, and two corners positioned diagonally at the bottom of the recess 26. An L-shaped rib 27 is disposed at the portion (corner portion).

かかる形態において、L字状リブ27は、一辺の長さが5.0mm、幅は0.5mmであり、また、高さは角の頂点から2.00mmまでの間は、0乃至1.00mmまで連続的変化し、2.00mmの位置からは0.50mmで一定の高さになる。
この2つのL字状リブ27で規定される4角形の空間が半導体装置10の本体部11の収容部28となる。
In such a form, the L-shaped rib 27 has a side length of 5.0 mm and a width of 0.5 mm, and the height is 0 to 1.00 mm between the top of the corner and 2.00 mm. It changes continuously until it reaches a constant height of 0.50 mm from the position of 2.00 mm.
A rectangular space defined by the two L-shaped ribs 27 serves as the accommodating portion 28 of the main body 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ25に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部27に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はL字状リブ27を跨いで接した状態となる。   When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 25, the main body 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 27, and the gull-wing-shaped terminals 12 are in contact with each other across the L-shaped rib 27.

この時、ガルウイング状の端子12は、L字状リブ27に対し、当該L字状リブ27の高さが一定の部分及びその近傍において接するに止まる。
この為、ガルウイング状の端子12とL字状リブ27との接触面積比率は5%程度となる。
従って、エンボステープ20の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にL字状リブ27の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ25からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
At this time, the gull-wing-shaped terminal 12 stops contacting the L-shaped rib 27 at a portion where the height of the L-shaped rib 27 is constant and in the vicinity thereof.
For this reason, the contact area ratio between the gull-wing-shaped terminal 12 and the L-shaped rib 27 is about 5%.
Therefore, even when the L-shaped rib 27 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12 when the embossed tape 20 is wound or dropped, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 25, the situation where the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図3を参照して本発明の実施例3のエンボステープを説明する。
図3は、本発明の実施例3のエンボステープの構成説明図である。上の図(a)は概略的平面図であり、下の図(b)は(a)のX−X′断面を示す。
本実施例におけるエンボステープ30は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば20mm×20mmの矩形状凹部31を形成するとともに、当該凹部31の底部において、周囲の4辺のそれぞれに沿ってリブ32を配設したものである。
Next, an embossed tape according to Example 3 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 3 is an explanatory diagram of the structure of the embossed tape according to the third embodiment of the present invention. The upper figure (a) is a schematic plan view, and the lower figure (b) shows an XX 'cross section of (a).
The embossed tape 30 in this embodiment forms, for example, a rectangular recess 31 of 20 mm × 20 mm, for example, by pressing a plastic resin tape, and along each of the four surrounding sides at the bottom of the recess 31. The rib 32 is provided.

かかる形態において、それぞれのリブ32は、長さが20mm、幅は0.50mmであり、また、その高さは両端部が1.00mmとされ、中央部が0.50mmとされて、円弧状に連続的に変化している。
尚、4つの隅部(角部)には、リブは配置されず、欠落部となっている。
この4つのリブ32により規定される4角形の空間が、半導体装置10の本体部11の収容部33となる。
In such a form, each rib 32 has a length of 20 mm and a width of 0.50 mm, and its height is 1.00 mm at both ends and 0.50 mm at the center, and has an arc shape. It is changing continuously.
In addition, a rib is not arrange | positioned in four corner parts (corner part), but it is a missing part.
A quadrangular space defined by the four ribs 32 becomes the accommodating portion 33 of the main body portion 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ30に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部33に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ32を跨いで接した状態となる。
この時、ガルウイング状の端子12は、リブ32に対し、当該リブ32の中央部においては接触しておらず、接触面積比率は45%程度となる。
従って、エンボステープ30の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にリブ32の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、前記実施例1と同様に、エンボステープ30からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 30, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 33, and the gull-wing shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 32.
At this time, the gull-wing-shaped terminal 12 is not in contact with the rib 32 at the center of the rib 32, and the contact area ratio is about 45%.
Therefore, even if the rib 32 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12 when the embossed tape 30 is wound or dropped, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 30, there is no situation where the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out.

次に、図4を参照して本発明の実施例4のエンボステープを説明する。
図4は、本発明の実施例4のエンボステープの構成説明図である。平面形状は前記実施例3におけるエンボステープと同様であるので、概略的断面図のみを示す。
本実施例におけるエンボステープ35は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば20mm×20mmの矩形状凹部36を形成するとともに、当該凹部36の底部において、周囲の4辺のそれぞれに沿ってリブ37を設けたものである。
Next, an embossed tape according to Example 4 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 4 is a configuration explanatory view of an embossed tape according to Example 4 of the present invention. Since the planar shape is the same as the embossed tape in Example 3, only a schematic cross-sectional view is shown.
The embossed tape 35 in this embodiment forms, for example, a rectangular recess 36 of 20 mm × 20 mm, for example, by pressing a plastic resin tape, and along the four surrounding sides at the bottom of the recess 36. And ribs 37 are provided.

かかる形態において、それぞれのリブ37は、長さが20mm、幅は0.50mmであり、また、頂点の高さが1.00mmの三角波状の突起38を周期的に形成したものである。尚、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。
この4つのリブ37で規定される4角形の空間が、半導体装置10の本体部11の収容部39となる。
In such a form, each rib 37 has a length of 20 mm, a width of 0.50 mm, and periodically formed triangular wave-like protrusions 38 having a vertex height of 1.00 mm. In addition, it is not arrange | positioned at four corners (corner part), but is a missing part.
A quadrangular space defined by the four ribs 37 becomes the accommodating portion 39 of the main body portion 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ35に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部39に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ37を跨いで接した状態となる。
この時、ガルウイング状の端子12は、リブ32に対し、当該リブ32の隣接する三角波状の突起38の中間部においては接触しておらず、接触面積比率は50%程度となる。
従って、エンボステープ35の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にリブ37の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ35からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 35, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 39, and the gull-wing shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 37.
At this time, the gull-wing shaped terminal 12 is not in contact with the rib 32 at the intermediate portion of the triangular wave-shaped protrusion 38 adjacent to the rib 32, and the contact area ratio is about 50%.
Therefore, even if the rib 37 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12 when the embossed tape 35 is wound or dropped, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 35, the situation where the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図5を参照して本発明の実施例5のエンボステープを説明する。
図5は、本発明の実施例5のエンボステープの構成説明図である。平面形状は上記の実施例3と同様であるので、概略的断面図のみを示す。
本実施例におけるエンボステープ40は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば20mm×20mmの矩形状凹部41を形成するとともに、当該凹部41の底部において、4辺のそれぞれに沿ってリブ42を設けたものである。
Next, an embossed tape according to Example 5 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 5 is an explanatory diagram of the structure of an embossed tape according to Example 5 of the present invention. Since the planar shape is the same as that of the third embodiment, only a schematic sectional view is shown.
The embossed tape 40 in this embodiment forms, for example, a 20 mm × 20 mm rectangular recess 41 by pressing a plastic resin tape, and ribs along each of the four sides at the bottom of the recess 41. 42 is provided.

かかる形態において、それぞれのリブ42は、長さが20mm、幅は0.50mmであり、また、頂点の高さが1.00mmの波状の突起43を周期的に形成したものである。
尚、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。
この4つのリブ42で規定される4角形の空間が、半導体装置10の本体部11の収容部43となる。
In such a form, each rib 42 has a length of 20 mm, a width of 0.50 mm, and a wave-like protrusion 43 having a vertex height of 1.00 mm formed periodically.
In addition, it is not arrange | positioned at four corners (corner part), but is a missing part.
A quadrangular space defined by the four ribs 42 becomes the accommodating portion 43 of the main body portion 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ40に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部43に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ42を跨いで接した状態となる。
この時、ガルウイング状の端子12は、リブ42に対し、当該リブ42における波状の突起43の底部においては接触しておらず、接触面積比率は50%程度となる。
従って、エンボステープ40の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にリブ42の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ40からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 40, the main body 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 43, and the gull-wing-shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 42.
At this time, the gull-wing shaped terminal 12 is not in contact with the rib 42 at the bottom of the wave-like protrusion 43 in the rib 42, and the contact area ratio is about 50%.
Therefore, even when the embossed tape 40 is wound or dropped, even if the rib 42 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 40, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図6を参照して本発明の実施例6のエンボステープを説明する。
図6は、本発明の実施例6のエンボステープの構成説明図である。平面形状は上記の実施例3と同様であるので、概略的断面図のみを示す。
本実施例におけるエンボステープ45は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば、20mm×20mmの矩形状凹部46を形成するとともに、当該凹部46の底部において、4辺のそれぞれに沿ってリブ47を設けたものである。
Next, an embossed tape according to Example 6 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 6 is an explanatory diagram showing the structure of an embossed tape according to Example 6 of the present invention. Since the planar shape is the same as that of the third embodiment, only a schematic sectional view is shown.
The embossed tape 45 in this embodiment forms, for example, a rectangular recess 46 of 20 mm × 20 mm, for example, by pressing a plastic resin tape, and along each of the four sides at the bottom of the recess 46. A rib 47 is provided.

かかる形態において、それぞれのリブ47は、長さが1.0mm、幅は0.50mmであり、また高さが1.00mmを有する板状の突起48が、例えば、1.0mmのピッチで、島状に並ぶことにより形成されたものである。
また、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。
これら複数個のリブ47により規定される4角形の空間が、半導体装置10の本体部11の収容部49となる。
In such a form, each rib 47 has a length of 1.0 mm, a width of 0.50 mm, and plate-like protrusions 48 having a height of 1.00 mm, for example, at a pitch of 1.0 mm. It is formed by arranging in an island shape.
Moreover, it is not arrange | positioned at four corner parts (corner part), but is a missing part.
A rectangular space defined by the plurality of ribs 47 serves as the accommodating portion 49 of the main body 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ45に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部49に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ47を跨いで接した状態となる。
この時、ガルウイング状の端子12は、全てのリブ47に接触する状態とはならず、接触面積比率は50%程度となる。
従って、エンボステープ45の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にリブ47の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ45からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 45, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 49, and the gull-wing shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 47.
At this time, the gull-wing shaped terminal 12 is not in contact with all the ribs 47, and the contact area ratio is about 50%.
Therefore, even if the rib 47 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12 when the embossed tape 45 is wound or dropped, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 45, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図7を参照して本発明の実施例7のエンボステープを説明する。
図7は、本発明の実施例7のエンボステープの構成説明図である。平面形状は上記の実施例3と同様であるので、概略的断面図のみを示す。
本実施例におけるエンボステープ50は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば20mm×20mmの矩形状凹部51を形成するとともに、当該凹部51の底部において、4辺のそれぞれに沿ってリブ52を設けたものである。
Next, an embossed tape according to Example 7 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 7 is an explanatory diagram of the structure of an embossed tape according to Example 7 of the present invention. Since the planar shape is the same as that of the third embodiment, only a schematic sectional view is shown.
The embossed tape 50 in this embodiment forms, for example, a 20 mm × 20 mm rectangular recess 51 by pressing a plastic resin tape, and ribs along each of the four sides at the bottom of the recess 51. 52 is provided.

かかる形態において、リブ52は、それぞれが、長さ20mm、幅は0.50mmであり、また高さは、両端部が0.50mmで、中央部が1.00mmのアーチ状を有している。 また、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。
この4つのリブ52で規定される4角形の空間が、半導体装置10の本体部11の収容部53となる。
In such a form, each of the ribs 52 has an arch shape having a length of 20 mm, a width of 0.50 mm, and a height of 0.50 mm at both ends and a center of 1.00 mm. . Moreover, it is not arrange | positioned at four corner parts (corner part), but is a missing part.
A quadrangular space defined by the four ribs 52 becomes the accommodating portion 53 of the main body portion 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ50に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部53に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ52を跨いで接した状態となる。
この時、ガルウイング状の端子12は、リブ52の両端近傍においてその高さが低くなっている部位に対しては接触しておらず、接触面積比率は55%程度となる。
従って、エンボステープ50の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にリブ52の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ50からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 50, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 53, and the gull-wing shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 52.
At this time, the gull-wing-shaped terminal 12 is not in contact with the portion where the height is low in the vicinity of both ends of the rib 52, and the contact area ratio is about 55%.
Therefore, even if the rib 52 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12 when the embossed tape 50 is wound or dropped, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 50, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図8を参照して本発明の実施例8のエンボステープを説明する。
図8は、本発明の実施例8のエンボステープの構成説明図である。平面形状は上記の実施例3と同様であるので、概略的断面図のみを示す。
本実施例におけるエンボステープ55は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば20mm×20mmの矩形状凹部56を形成するとともに、当該凹部56の底部において、4辺のそれぞれに沿ってリブ57を設けたものである。
Next, an embossed tape according to Example 8 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 8 is an explanatory diagram of the structure of an embossed tape according to Example 8 of the present invention. Since the planar shape is the same as that of the third embodiment, only a schematic sectional view is shown.
The embossed tape 55 in the present embodiment forms, for example, a 20 mm × 20 mm rectangular recess 56 by pressing a plastic resin tape, and ribs along each of the four sides at the bottom of the recess 56. 57 is provided.

かかる形態において、それぞれのリブ57は、長さが20mmで、幅は0.50mmであり、また高さは1.00mmを有するが、それぞれに、長さ15mm、高さ0.50mmのくり貫き部(貫通孔)58を配設している。
また、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。
この4つのリブ57で規定される4角形の空間が、半導体装置10の本体部11の収容部59となる。
In such a configuration, each rib 57 has a length of 20 mm, a width of 0.50 mm, and a height of 1.00 mm, each having a length of 15 mm and a height of 0.50 mm. A portion (through hole) 58 is provided.
Moreover, it is not arrange | positioned at four corner parts (corner part), but is a missing part.
A quadrangular space defined by the four ribs 57 becomes the accommodating portion 59 of the main body portion 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ55に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部59に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ57を跨いで接した状態となる。
この時、ガルウイング状の端子12は、リブ57のくり貫き部58を設けた部分においては、その上端部が撓むとともに、実質的にくり抜き部58の外側に位置し、当該くり抜き部58と対向する為、接触面積比率は55%程度となる。
従って、エンボステープ55の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にリブ57の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ50からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 55, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 59, and the gull-wing shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 57.
At this time, the gull-wing-shaped terminal 12 is bent at the upper end of the portion where the cut-out portion 58 of the rib 57 is provided, and is positioned substantially outside the cut-out portion 58 and faces the cut-out portion 58. Therefore, the contact area ratio is about 55%.
Accordingly, even when the embossed tape 55 is wound or dropped, even if the rib 57 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 50, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図9を参照して本発明の実施例9のエンボステープを説明する。
図9は、本発明の実施例9のエンボステープの構成説明図である。平面形状は上記の実施例3と同様であるので、概略的断面図のみを示す。
本実施例におけるエンボステープ60は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば20mm×20mmの矩形状凹部61を形成するとともに、当該凹部61の底部において、4辺のそれぞれに沿って4つの辺にリブ62を設けたものである。
Next, an embossed tape according to Example 9 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 9 is an explanatory diagram showing the structure of an embossed tape according to Example 9 of the present invention. Since the planar shape is the same as that of the third embodiment, only a schematic sectional view is shown.
The embossed tape 60 in the present embodiment forms, for example, a rectangular recess 61 of 20 mm × 20 mm, for example, by pressing a plastic resin tape, and 4 along each of the four sides at the bottom of the recess 61. Ribs 62 are provided on one side.

かかる形態において、それぞれのリブ62は、長さが20mm、幅は0.50mmであり、また、高さは1.00mmであって、その上面に、幅が1.00mmで深さが0.50mmのV字状の切り欠き部63を複数個、互いに離間して配設したものである。
また、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。
この4つのリブ62で規定される4角形の空間が、半導体装置10の本体部11の収容部64となる。
In such a configuration, each rib 62 has a length of 20 mm, a width of 0.50 mm, and a height of 1.00 mm, and a width of 1.00 mm and a depth of 0.00 mm on the upper surface thereof. A plurality of 50 mm V-shaped cutouts 63 are arranged apart from each other.
Moreover, it is not arrange | positioned at four corner parts (corner part), but is a missing part.
A quadrangular space defined by the four ribs 62 becomes the accommodating portion 64 of the main body portion 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ60に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部64に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ62を跨いで接した状態となる。
この時、ガルウイング状の端子12は、リブ57の切り欠き部63においては当該リブ57に接触しないので、接触面積比率は90%程度となる。
従って、エンボステープ60の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にリブ62の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ60からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10を取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 60, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 64, and the gull-wing-shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 62.
At this time, the gull-wing shaped terminal 12 does not contact the rib 57 at the notch 63 of the rib 57, so the contact area ratio is about 90%.
Therefore, even if the rib 62 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12 when the embossed tape 60 is wound or dropped, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 60, the situation where the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図10を参照して本発明の実施例10のエンボステープを説明する。
図10は、本発明の実施例10のエンボステープの構成説明図である。平面形状は上記の実施例3と同様であるので、概略的断面図のみを示す。
本実施例におけるエンボステープ65は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば20mm×20mmの矩形状凹部66を形成するとともに、当該凹部66の底部において、4辺のそれぞれに沿ってリブ67を設けたものである。
Next, an embossed tape according to Example 10 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 10 is an explanatory diagram of the structure of an embossed tape according to Example 10 of the present invention. Since the planar shape is the same as that of the third embodiment, only a schematic sectional view is shown.
The embossed tape 65 in the present embodiment forms, for example, a 20 mm × 20 mm rectangular recess 66 by pressing a plastic resin tape, and ribs along each of the four sides at the bottom of the recess 66. 67 is provided.

かかる形態において、それぞれのリブ67は、長さが20mmで、幅は0.50mmであり、また、高さは1.00mmであるが、例えば、半径が0.10mmの円弧状の切り欠き部68を設けたものである。
また、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。
この4つのリブ67で規定される4角形の空間が、半導体装置10の本体部11の収容部69となる。
In such a form, each rib 67 has a length of 20 mm, a width of 0.50 mm, and a height of 1.00 mm, for example, an arc-shaped notch with a radius of 0.10 mm. 68 is provided.
Moreover, it is not arrange | positioned at four corner parts (corner part), but is a missing part.
A quadrangular space defined by the four ribs 67 becomes the accommodating portion 69 of the main body portion 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ65に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部69に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ67を跨いで接した状態となる。
この時、ガルウイング状の端子12は、切り欠き部68を設けた部分においては当該リブ67に接触しないので、接触面積比率は90%程度となる。
従って、エンボステープ65の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にリブ67の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ60からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 65, the main body 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 69, and the gull-wing-shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 67.
At this time, the gull-wing-shaped terminal 12 does not contact the rib 67 in the portion where the notch portion 68 is provided, so that the contact area ratio is about 90%.
Therefore, even if the rib 67 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12 when the embossed tape 65 is wound or dropped, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 60, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図11を参照して本発明の実施例11のエンボステープを説明する。
図11は、本発明の実施例11のエンボステープの構成説明図である。上の図(a)は概略的平面図であり、下の図(b)はリブの要部拡大図である。
本実施例におけるエンボステープ70は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、例えば20mm×20mmの矩形状凹部71を形成するとともに、当該凹部71の底部において、4辺のそれぞれに沿ってリブ72を配設したものである。
Next, an embossed tape according to Example 11 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 11 is an explanatory diagram showing the structure of an embossed tape according to Example 11 of the present invention. The upper figure (a) is a schematic plan view, and the lower figure (b) is an enlarged view of the main part of the rib.
The embossed tape 70 in the present embodiment forms, for example, a 20 mm × 20 mm rectangular recess 71 by pressing a plastic resin tape, and ribs along each of the four sides at the bottom of the recess 71. 72 is provided.

かかる形態において、それぞれのリブ72は、長さが20mmで、高さは1.00mmであり、また、幅は例えば、0.50mmの幅太部73と0.30mmの幅細部74とが交互に1.00mmのピッチで繰り返した波状になっている。
また、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。
この4つのリブ72で規定される4角形の空間が半導体装置10の本体部11の収容部75となる。
In such a form, each rib 72 has a length of 20 mm, a height of 1.00 mm, and a width of, for example, 0.50 mm wide portions 73 and 0.30 mm width details 74 alternately. In addition, the wave shape is repeated at a pitch of 1.00 mm.
Moreover, it is not arrange | positioned at four corner parts (corner part), but is a missing part.
A quadrangular space defined by the four ribs 72 becomes the accommodating portion 75 of the main body portion 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ70に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部75に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ72を跨いで接した状態となる。
この時、幅細部74においては、ガルウイング状の端子12はリブ72の側面に接触しておらず、接触面積比率は5%程度となる。
従って、エンボステープ70の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子の一部にリブ72の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ70からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 70, the main body 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion 75, and the gull-wing-shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 72.
At this time, in the width detail 74, the gull-wing shaped terminal 12 is not in contact with the side surface of the rib 72, and the contact area ratio is about 5%.
Therefore, even when the embossed tape 70 is wound or dropped, even if the rib 72 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal, the ratio is small.
Therefore, similarly to the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 70, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図12を参照して本発明の実施例12のエンボステープを説明する。
図12は、本発明の実施例12のエンボステープの構成説明図である。平面形状は上記の実施例11と同様であるので、リブの要部を拡大して示す。
即ち、本実施例におけるエンボステープ76は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、矩形状凹部を形成するとともに、当該凹部の底部において、4辺のそれぞれに沿ってリブ77を配設したものである。
Next, an embossed tape according to Example 12 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 12 is an explanatory diagram of the structure of an embossed tape according to Example 12 of the present invention. Since the planar shape is the same as that of Example 11, the main part of the rib is shown enlarged.
That is, the embossed tape 76 in this embodiment forms, for example, a rectangular recess by pressing a plastic resin tape, and ribs 77 are arranged along each of the four sides at the bottom of the recess. Is.

かかる形態において、それぞれのリブ77は、長さが20mm、高さは1.00mmであり、また、幅は、例えば、0.50mmの幅太部78と0.30mmの幅細部79とが交互に1.00mmのピッチで三角波状に繰り返した形状とされている。
また、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。(図示せず)
この4つのリブ77で規定される4角形の空間が半導体装置10の本体部11の収容部となる。
In such a form, each rib 77 has a length of 20 mm and a height of 1.00 mm, and the width is, for example, 0.50 mm wide portions 78 and 0.30 mm width details 79 alternately. The shape is repeated in a triangular wave shape at a pitch of 1.00 mm.
Moreover, it is not arrange | positioned at four corner parts (corner part), but is a missing part. (Not shown)
A quadrangular space defined by the four ribs 77 becomes a housing portion of the main body 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ76に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ77を跨いで接した状態となる。
この時、幅細部79においては、端子はリブ77の側面に接触しておらず、接触面積比率は5%程度となる。
従って、エンボステープ76の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にリブ77の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ70からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 76, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion, and the gull-wing shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 77.
At this time, in the width detail 79, the terminal is not in contact with the side surface of the rib 77, and the contact area ratio is about 5%.
Therefore, even when the rib 77 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12 when the embossed tape 76 is wound or dropped, the ratio is small.
Therefore, similarly to the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 70, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or difficult to take out does not occur.

次に、図13を参照して本発明の実施例13のエンボステープを説明する。
図13は、本発明の実施例13のエンボステープの構成説明図である。平面形状は上記の実施例11と同様であるので、一辺のリブの平面形状のみを示す。
即ち、本実施例におけるエンボステープ80は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、矩形状凹部を形成するとともに、当該凹部の底部において、4辺のそれぞれに沿ってリブ81を配設したものである。
Next, an embossed tape according to Example 13 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 13 is an explanatory diagram showing the structure of an embossed tape according to Example 13 of the present invention. Since the planar shape is the same as that of Example 11, only the planar shape of one side rib is shown.
That is, the embossed tape 80 in this embodiment forms a rectangular recess by, for example, pressing a plastic resin tape, and ribs 81 are disposed along each of the four sides at the bottom of the recess. Is.

かかる形態において、それぞれのリブ81は、長さが20mm、高さは1.00mmであり、その幅は、両端部から3.00mmの間は0.50mmで一定であるが、当該3.00mmを越える領域からは、半導体装置10の本体部11の収容部とは反対の側面が、中央部において幅が0.30mmになるように、テーパ状に減少されている。
また、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。(図示せず)
この4つのリブ81で規定される4角形の空間が半導体装置10の本体部11の収容部となる。
In such a form, each rib 81 has a length of 20 mm and a height of 1.00 mm, and its width is constant at 0.50 mm between 3.00 mm from both ends, but the 3.00 mm. From the region exceeding this point, the side surface opposite to the housing portion of the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is tapered so that the width is 0.30 mm at the central portion.
Moreover, it is not arrange | positioned at four corner parts (corner part), but is a missing part. (Not shown)
A quadrangular space defined by the four ribs 81 serves as a housing portion for the main body 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ80に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ81を跨いで接した状態となる。
この時、テーパ状に幅が減じられているテーパ領域82においては、ガルウイング状の端子12はリブ81の側面に接触しておらず、接触面積比率は10%程度となる。
従って、エンボステープ80の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子の一部にリブ81の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ80からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 80, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion, and the gull-wing-shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 81.
At this time, in the tapered region 82 whose width is reduced in a tapered shape, the gull-wing shaped terminal 12 is not in contact with the side surface of the rib 81, and the contact area ratio is about 10%.
Accordingly, even when the embossed tape 80 is wound or dropped, even if the rib 81 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 80, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or is difficult to take out does not occur.

次に、図14を参照して本発明の実施例14のエンボステープを説明する。
図14は、本発明の実施例14のエンボステープの構成説明図である。平面形状は上記の実施例11と同様であるので、一辺のリブの平面形状のみを示す。
即ち、本実施例におけるエンボステープ85は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、矩形状凹部を形成するとともに、当該凹部の底部において、4辺のそれぞれに沿ってリブ86を配設したものである。
Next, an embossed tape according to Example 14 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 14 is a diagram for explaining the structure of an embossed tape according to Example 14 of the present invention. Since the planar shape is the same as that of Example 11, only the planar shape of one side rib is shown.
That is, the embossed tape 85 in this embodiment forms a rectangular recess by, for example, pressing a plastic resin tape, and ribs 86 are arranged along each of the four sides at the bottom of the recess. Is.

かかる形態において、それぞれのリブ86は、長さが20mm、高さは1.00mmであり、その幅は、両端部から3.00mmの間は0.50mmで一定であるが、3.00mmを越える領域からは半導体装置10の本体部11の収容部とは反対の側面が幅0.30mmとされた幅細部87とされている。
また、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。(図示せず)
この4つのリブ86で規定される4角形の空間が半導体装置10の本体部11の収容部となる。
In such a configuration, each rib 86 has a length of 20 mm and a height of 1.00 mm, and its width is constant at 0.50 mm between 3.00 mm from both ends, but 3.00 mm. From the region beyond, the side surface opposite to the housing portion of the main body 11 of the semiconductor device 10 is a width detail 87 having a width of 0.30 mm.
Moreover, it is not arrange | positioned at four corner parts (corner part), but is a missing part. (Not shown)
A quadrangular space defined by the four ribs 86 becomes a housing portion of the main body 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ85に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ86を跨いで接した状態となる。
この時、幅細部87においては、ガルウイング状の端子12はリブ86の側面に接触しておらず、接触面積比率は20%程度となる。
従って、エンボステープ85の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子の一部にリブ86の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ80からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 85, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion, and the gull-wing shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 86.
At this time, in the width detail 87, the gull-wing shaped terminal 12 is not in contact with the side surface of the rib 86, and the contact area ratio is about 20%.
Therefore, even if the rib 86 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal when the embossed tape 85 is wound or dropped, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 80, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or is difficult to take out does not occur.

次に、図15を参照して本発明の実施例15のエンボステープを説明する。
図15は、本発明の実施例15のエンボステープの構成説明図である。平面形状は上記の実施例11と同様であるので、一辺のリブの平面形状のみを示す。
即ち、本実施例におけるエンボステープ90は、例えば、プラスチック樹脂テープをプレス加工することによって、矩形状凹部を形成するとともに、当該凹部の底部において、4辺のそれぞれに沿ってリブ91を配設したものである。
Next, an embossed tape according to Example 15 of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 15 is an explanatory diagram of the structure of an embossed tape according to Example 15 of the present invention. Since the planar shape is the same as that of Example 11, only the planar shape of one side rib is shown.
That is, the embossed tape 90 in this embodiment forms a rectangular recess by, for example, pressing a plastic resin tape, and ribs 91 are arranged along each of the four sides at the bottom of the recess. Is.

かかる形態において、それぞれのリブ91は、長さが20mm、高さは1.00mmであり、その幅は、両端部から9.50mmの間は0.50mmで一定であるが、半導体装置10の本体部11の収容部とは反対の側面の中央部に、幅が1.00mmで深さが0.30mmのV字状の切り欠き部92が設けられている。
また、4つの隅部(角部)には配置されず、欠落部となっている。(図示せず)
この4つのリブ91で規定される4角形の空間が半導体装置10の本体部11の収容部となる。
In such a form, each rib 91 has a length of 20 mm and a height of 1.00 mm, and its width is constant at 0.50 mm between 9.50 mm from both ends. A V-shaped notch 92 having a width of 1.00 mm and a depth of 0.30 mm is provided at the center of the side surface opposite to the housing portion of the main body 11.
Moreover, it is not arrange | positioned at four corner parts (corner part), but is a missing part. (Not shown)
A quadrangular space defined by the four ribs 91 becomes a housing portion of the main body 11 of the semiconductor device 10.

このエンボステープ90に半導体装置10を挿入した場合、半導体装置10の本体部11が収容部に収容されるとともに、ガルウイング状の端子12はリブ91を跨いで接した状態となる。
この時、切り欠き部92においては、ガルウイング状の端子12はリブ91の側面に接触しておらず、接触面積比率は90%程度となる。
従って、エンボステープ90の巻取り時或いは落下時に、ガルウイング状の端子12の一部にリブ91の嵌め込みが生じてもその割合は小さい。
よって、上記実施例1と同様に、エンボステープ80からの半導体装置10の取り出しの際、半導体装置10が取り出せない或いは取り出し難い状況が発生することがない。
尚、前記V字状の切欠き92を、連続して或いは所定の間隔をもって複数個配設することとしてもよい。かかる構成とすれば、接触面積比率をより低下させることができる。
When the semiconductor device 10 is inserted into the embossed tape 90, the main body portion 11 of the semiconductor device 10 is accommodated in the accommodating portion, and the gull-wing-shaped terminals 12 are in contact with each other across the rib 91.
At this time, in the notch 92, the gull-wing-shaped terminal 12 is not in contact with the side surface of the rib 91, and the contact area ratio is about 90%.
Therefore, even when the embossed tape 90 is wound or dropped, even if the rib 91 is fitted into a part of the gull-wing-shaped terminal 12, the ratio is small.
Therefore, as in the first embodiment, when the semiconductor device 10 is taken out from the embossed tape 80, a situation in which the semiconductor device 10 cannot be taken out or is difficult to take out does not occur.
A plurality of the V-shaped notches 92 may be disposed continuously or at a predetermined interval. With this configuration, the contact area ratio can be further reduced.

以上、本発明の各実施例を説明してきたが、本発明は各実施例に記載された構成・条件等に限られるものではなく各種の変更が可能である。
例えば、前記実施例1,2においては、L字状リブを、対角線上の2か所の隅部(角部
)に配置しているが、3箇所或いは4か所の隅部(角部)に配置しても良い。
The embodiments of the present invention have been described above, but the present invention is not limited to the configurations and conditions described in the embodiments, and various modifications can be made.
For example, in the first and second embodiments, the L-shaped ribs are arranged at two corners (corners) on the diagonal line, but three or four corners (corners). You may arrange in.

また、前記実施例3乃至15においては、リブを4つの辺に設けるとともに、4つの隅部(角部)をリブの欠落部としているが、4つの隅部(角部)においてリブが互いに接続するように形成しても良い。   In Examples 3 to 15, the ribs are provided on the four sides, and the four corners (corner portions) are the missing portions of the ribs, but the ribs are connected to each other at the four corners (corner portions). You may form so that it may do.

また、前記実施例3乃至15においては、リブを4つの辺に設けているが、3辺、或いは、互いに対向する2辺に設けても良い。
また、上記の各実施例においては、リブの高さ又は幅の一方のみ変化させているが、当該リブの高さと幅の両者をともに変化させても良い。
In the third to fifteenth embodiments, the ribs are provided on four sides. However, the ribs may be provided on three sides or two sides facing each other.
In each of the above embodiments, only one of the height and width of the rib is changed, but both the height and width of the rib may be changed together.

尚、前記実施例において記述した各部位の寸法は、収容される半導体装置の外形寸法等に対応して適宜選択・変更されるものであり、上記実施例に示した寸法値に特定されるものではない。
一方、前記実施例において示した接触面積比率も、半導体装置の外形寸法、端子数等に
より変わるものであり、これも上記実施例に示した値に特定されるものではない。
The dimensions of each part described in the above embodiment are appropriately selected and changed corresponding to the external dimensions of the semiconductor device to be accommodated, and are specified by the dimension values shown in the above embodiment. is not.
On the other hand, the contact area ratio shown in the above embodiment also varies depending on the outer dimensions of the semiconductor device, the number of terminals, etc., and is not limited to the values shown in the above embodiment.

本発明の活用例としては、半導体装置用の出荷/搬送時の収容テープが典型的なものであるが、収容対象物は半導体装置に限られるものではなく、チップ抵抗、チップコンデンサ等のガルウイング状の端子を有する各種の電子部品の収容.搬送に適用されるものである。   As an application example of the present invention, a storage tape for shipping / conveying a semiconductor device is typical, but the object to be stored is not limited to the semiconductor device, but a gull wing shape such as a chip resistor or a chip capacitor. Accommodates various electronic components with multiple terminals. It is applied to conveyance.

本発明の実施例1のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 1 of this invention. 本発明の実施例2のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 2 of this invention. 本発明の実施例3のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 3 of this invention. 本発明の実施例4のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 4 of this invention. 本発明の実施例5のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 5 of this invention. 本発明の実施例6のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 6 of this invention. 本発明の実施例7のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 7 of this invention. 本発明の実施例8のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 8 of this invention. 本発明の実施例9のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 9 of this invention. 本発明の実施例10のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 10 of this invention. 本発明の実施例11のエンボステープの構成説明図である。It is a structure explanatory drawing of the embossed tape of Example 11 of this invention. 本発明の実施例12のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 12 of this invention. 本発明の実施例13のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 13 of this invention. 本発明の実施例14のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 14 of this invention. 本発明の実施例15のエンボステープの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the embossing tape of Example 15 of this invention. 従来のエンボステーピングの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the conventional emboss taping. 従来の他のエンボステーピングの構成説明図である。It is composition explanatory drawing of the other conventional emboss taping.

符号の説明Explanation of symbols

10 半導体装置
11 本体部
12 端子
20,25,30,35,40,45,50,55,60,65 エンボステープ
21,26,31,36,41,46,51,56,61,66 凹部
22,27 L字状リブ
23,28,33,39,44,49,53,59,64,69 収容部
32,37,42,47,52,57,62,67 リブ
43,48 突起
58 くり貫き部
63,68 切り欠き部
70,76,80,85,90 エンボステープ
71 凹部
72,77,81,86,91 リブ
73,78 幅太部
74,79,87 幅細部
75 収容部
82 テーパ領域
92 切り欠き部
100 半導体装置
101 本体部
102 リード端子
110,120 エンボステープ
111,121 凹部
112,122 リブ
113,123 収容部
124 欠落部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Semiconductor device 11 Main-body part 12 Terminal 20,25,30,35,40,45,50,55,60,65 Embossed tape 21,26,31,36,41,46,51,56,61,66 Recessed part 22 , 27 L-shaped ribs 23, 28, 33, 39, 44, 49, 53, 59, 64, 69 receiving portions 32, 37, 42, 47, 52, 57, 62, 67 ribs 43, 48 protrusion 58 Portions 63, 68 Notched portions 70, 76, 80, 85, 90 Embossed tape 71 Recesses 72, 77, 81, 86, 91 Ribs 73, 78 Wide portions 74, 79, 87 Wide details 75 Housing portion 82 Tapered region 92 Cutout portion 100 Semiconductor device 101 Main body portion 102 Lead terminals 110, 120 Embossed tape 111, 121 Recessed portion 112, 122 Rib 113, 123 Housing portion 124 Missing portion

Claims (3)

電子部品の本体を収容する収容部と、
前記収容部の周囲に配置され、前記電子部品の4つの側面に対向し、且つ、前記電子部品の本体と端子との隙間に挿入される畝条突起部であって、その長手方向に対して高さ或いは幅の少なくとも一方が変化する畝条突起部と、
を有することを特徴とする電子部品収容テープ。
An accommodating portion for accommodating the main body of the electronic component;
A ridge protrusion that is disposed around the housing portion, faces the four side surfaces of the electronic component, and is inserted into the gap between the main body of the electronic component and the terminal, with respect to the longitudinal direction thereof Ridge protrusions that vary in at least one of height or width;
An electronic component housing tape comprising:
前記畝条突起部の高さ或いは幅の少なくとも一方は、該畝条突起部の長手方向に対して弧状に変化している請求項1記載の電子部品収容テープ。   The electronic component housing tape according to claim 1, wherein at least one of a height or a width of the ridge protrusion changes in an arc shape with respect to a longitudinal direction of the ridge protrusion. 前記畝条突起部の高さ或いは幅の少なくとも一方は、該畝条突起部の長手方向に対して波状に変化している請求項1記載の電子部品収容テープ。   2. The electronic component housing tape according to claim 1, wherein at least one of a height or a width of the ridge protrusion changes in a wave shape with respect to a longitudinal direction of the ridge protrusion.
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