JP2009162698A

JP2009162698A - Ct/pt common test plug

Info

Publication number: JP2009162698A
Application number: JP2008002632A
Authority: JP
Inventors: Tetsuo Miura; 哲郎三浦
Original assignee: Chugoku Electric Power Co Inc
Current assignee: Chugoku Electric Power Co Inc
Priority date: 2008-01-09
Filing date: 2008-01-09
Publication date: 2009-07-23

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a CT/PT common test plug that is shared for CT and PT, and prevents incorrect attachment of a short circuit piece even when it is shared. SOLUTION: This CT/PT common test plug comprises a projecting part 51 for CT formed projectably from the surface of an inter-phase insulating member 33 so as to interfere with a projecting part 7a of a test terminal 5 for PT to prevent insertion into the test terminal 5 for PT, a projecting part 52 for PT formed projectably from the surface of the inter-phase insulating member 33 so as to interfere with a projecting part 7b of a test terminal 5 for CT to prevent insertion into the test terminal 5 for CT, and a moving mechanism that projects only the projecting part 51 for CT from the surface of the inter-phase insulating member 33 with one operation of an operation rod 53 facing the front surface of an insulating support body 31 and projects only the projecting part 52 for PT from the surface of the inter-phase insulating member 33 with another operation. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明はＣＴ／ＰＴ共用テストプラグに関し、特に電力系統の保護システムに適用して有用なものである。 The present invention relates to a CT / PT common test plug, and is particularly useful when applied to a power system protection system.

電力系統の保護システムにおける各種のテスト乃至測定（以下、テスト等という）を行うための機器としてテストプラグが知られている。このテストプラグは、配電盤に多数配設されたテストターミナルに挿入した状態で所定のテスト等を行うものである。ここで、テストターミナルは、電源側の機器である変流器（ＣＴ）及び計器用変圧器（ＰＴ）と負荷側の機器である各種の継電器等との間を接続しており、通常時には前記変流器（ＣＴ）乃至計器用変圧器（ＰＴ）と前記継電器等との間を接続している。 A test plug is known as a device for performing various tests or measurements (hereinafter referred to as “test” or the like) in a power system protection system. The test plug performs a predetermined test or the like in a state where it is inserted into a plurality of test terminals arranged on the switchboard. Here, the test terminal is connected between the current transformer (CT) and the instrument transformer (PT) as the power supply side equipment and various relays as the load side equipment. A current transformer (CT) or an instrument transformer (PT) is connected to the relay or the like.

図５は従来技術に係るテストターミナルを示す縦断面図である。同図に示すように、当該テストターミナル５は、開口部であるプラグ挿入口７を形成した箱体６を有しており、この箱体６内には、接点装置１０がＲ，Ｗ，Ｂ相およびＮ相の各相に対応して並設されている。各接点装置１０は、各相に対応する上下一対の可動接触板である電源側導体１１及び負荷側導体２１で構成されている。 FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing a test terminal according to the prior art. As shown in the figure, the test terminal 5 has a box 6 in which a plug insertion port 7 which is an opening is formed. In the box 6, a contact device 10 has R, W, B It is arranged in parallel corresponding to each phase of the phase and the N phase. Each contact device 10 includes a power supply side conductor 11 and a load side conductor 21 which are a pair of upper and lower movable contact plates corresponding to each phase.

一方、テスト等を行う際においてテストターミナル５に挿入されるテストプラグ３０は、図６に示すように、絶縁支持体３１から突出した絶縁板３２に、各相に対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎが並設されており、それらの基端部は、同軸状に配設された４組の端子３７，４７にそれぞれ接続されている。これらの各端子３７，４７を介してテスト等の際における所定の試験装置乃至測定器を接続する。ここで、隣接する相の絶縁板３２間は相間絶縁部材３３で絶縁されている。 On the other hand, the test plug 30 inserted into the test terminal 5 when performing a test or the like corresponds to each phase on the insulating plate 32 protruding from the insulating support 31, as shown in FIG. A pair of insulated live wire side conductors 35R to 35N and non-live wire side conductors 45R to 45N are arranged side by side, and their base end portions are four sets of terminals 37 and 47 arranged coaxially. Are connected to each. Through these terminals 37 and 47, a predetermined test apparatus or measuring instrument in a test or the like is connected. Here, the insulating plates 32 of adjacent phases are insulated by an interphase insulating member 33.

テストターミナル５は、電源側導体１１に変流器（ＣＴ）が接続される場合と、計器用変圧器（ＰＴ）が接続される場合がある。ここで、電源側導体１１に変流器（ＣＴ）が接続される、いわゆるＣＴ用のテストターミナル５に挿入するテストプラグ３０は変流器の２次側が開放されるのを避けるため、複数の短絡片（図示せず）により４個の端子３７間を連結接続して各活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ間を短絡した状態で使用する必要がある。一方、電源側導体１１に計器用変圧器（ＰＴ）が接続される、いわゆるＰＴ用のテストターミナル５に挿入するテストプラグ３０では、前述の如く短絡片で４個の端子３７間を連結接続した状態で使用した場合には計器用変圧器の短絡事故を生起してしまう。そこで、テストプラグ３０はＣＴ用とＰＴ用との２種類が用意されており、ＣＴ用のテストプラグ３０はＣＴ用のテストターミナル５のみに、ＰＴ用のテストプラグ３０はＰＴ用のテストターミナル５のみに挿入し得るような構成となっている。 The test terminal 5 may be connected to the power supply side conductor 11 with a current transformer (CT) or may be connected to a meter transformer (PT). Here, a current plug (CT) is connected to the power supply side conductor 11, and a test plug 30 to be inserted into a so-called CT test terminal 5 has a plurality of current plugs in order to avoid opening the secondary side of the current transformer. It is necessary to connect the four terminals 37 with a short-circuit piece (not shown) and short-circuit between the live wire side conductors 35R to 35N. On the other hand, in the test plug 30 to be inserted into the so-called PT test terminal 5 in which the instrument transformer (PT) is connected to the power supply side conductor 11, the four terminals 37 are connected and connected by the short-circuit piece as described above. If used in a state, a short circuit accident of an instrument transformer occurs. Therefore, two types of test plugs 30 for CT and PT are prepared. The CT test plug 30 is provided only for the CT test terminal 5, and the PT test plug 30 is provided for the PT test terminal 5. It is the structure which can be inserted only in.

このための具体的な構成を、図７及び図８に基づき説明する。図７はＣＴ用の組み合わせを示すもので、（ａ）はＣＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はその背面図、（ｃ）はＣＴ用のテストターミナルの正面図である。また、図８はＰＴ用の組み合わせを示すもので、（ａ）はＰＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はその背面図、（ｃ）はＰＴ用のテストターミナルの正面図である。なお、両図中、図５及び図６と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。 A specific configuration for this will be described with reference to FIGS. 7A and 7B show a combination for CT. FIG. 7A is a plan view of a test plug for CT, FIG. 7B is a rear view thereof, and FIG. 7C is a front view of a CT test terminal. FIG. 8 shows a combination for PT. FIG. 8A is a plan view of a test plug for PT, FIG. 8B is a rear view thereof, and FIG. 8C is a front view of a test terminal for PT. In both figures, the same parts as those in FIGS. 5 and 6 are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

図７に示すように、ＣＴ用のテストプラグ３０は、その３個の相間絶縁部材３３のうち両端の２個の表面から突出する凸部３３ａ，３３ｃを有している。一方、ＣＴ用のテストターミナル５には、ＣＴ用のテストプラグ３０の挿入の際に凸部３３ａ，３３ｃと干渉しない位置にプラグ挿入口７に突出する凸部７ｂが形成してある。また、図８に示すように、ＰＴ用のテストプラグ３０は、その３個の相間絶縁部材３３のうち中央の１個の表面から突出する凸部３３ｂを有している。一方、ＰＴ用のテストターミナル５には、ＰＴ用のテストプラグ３０の挿入の際に凸部３３ｂと干渉しない位置にプラグ挿入口７に突出する凸部７ａ，７ｃが形成してある。 As shown in FIG. 7, the CT test plug 30 has convex portions 33 a and 33 c protruding from two surfaces at both ends of the three interphase insulating members 33. On the other hand, the CT test terminal 5 is formed with a convex portion 7b that protrudes from the plug insertion port 7 at a position that does not interfere with the convex portions 33a and 33c when the CT test plug 30 is inserted. As shown in FIG. 8, the PT test plug 30 has a convex portion 33 b that protrudes from one central surface of the three interphase insulating members 33. On the other hand, the PT test terminal 5 is formed with projections 7a and 7c that project into the plug insertion port 7 at positions that do not interfere with the projection 33b when the PT test plug 30 is inserted.

かくして、ＣＴ用のテストプラグ３０をＰＴ用のテストターミナル５に挿入しようとしても凸部３３ａ，３３ｃと凸部７ａ，７ｃとが干渉することでこの挿入を阻止するとともに、ＰＴ用のテストプラグ３０をＣＴ用のテストターミナル５に挿入しようとしても凸部３３ｂと凸部７ｂとが干渉することでこの挿入を阻止するようになっている。 Thus, even if an attempt is made to insert the CT test plug 30 into the PT test terminal 5, the protrusions 33a, 33c interfere with the protrusions 7a, 7c, thereby preventing this insertion, and the PT test plug 30. Is inserted into the CT test terminal 5 due to interference between the convex portion 33b and the convex portion 7b.

この結果、ＣＴ用のテストターミナル５にはＣＴ用のテストプラグ３０のみを、ＰＴ用のテストターミナル５にはＰＴ用のテストプラグ３０のみをそれぞれ挿入し得る構造とすることで間違った挿入を未然に防止している。 As a result, the CT test terminal 5 can be inserted with only the CT test plug 30 and the PT test terminal 5 can be inserted with only the PT test plug 30. To prevent.

なお、この種のテストプラグを開示する公知刊行物として次の特許文献１が存在する。 The following patent document 1 exists as a known publication disclosing this type of test plug.

特開２００７−１４７３７２号公報JP 2007-147372 A

しかしながら、上記従来技術に係るテストプラグ３０は、ＣＴ用とＰＴ用の２種類のものを用意しなければならず、多くの配電盤を設置している変電所等の電気設備等では保管すべきテストプラグ３０の数が多くなるので保管場所に困るという問題を生起している。 However, the test plug 30 according to the above-mentioned prior art must be prepared for two types, CT and PT, and should be stored in electrical equipment such as a substation where many switchboards are installed. Since the number of plugs 30 increases, the problem of being troubled by the storage location arises.

本発明は、上記従来技術に鑑み、一個でＣＴ用及びＰＴ用に共用し得、さらに共用した場合でも間違った短絡片の取り付けを未然に防止し得るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグを提供することを目的とする。 In view of the above-described prior art, the present invention provides a CT / PT common test plug that can be shared for both CT and PT, and that can prevent an incorrect short-circuiting piece from being attached even when shared. Objective.

上記目的を達成する本発明の第１の態様は、
絶縁部材で形成した絶縁支持体と、この絶縁支持体の背面から突出させるとともに各相に対応させて配設した絶縁板と、電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触し得るよう前記絶縁板の一つの面に配設された活線側導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの複数の負荷側導体にそれぞれ接触し得るよう前記絶縁板の他の面に配設された非活線側導体と、前記各相の絶縁板間に配設されて前記各活線側導体及び各非活線側導体の隣接する相間の絶縁を行う相間絶縁部材と、前記各活線側導体及び各非活線側導体にそれぞれ接続されるとともに前記絶縁支持体の前面から突出させて配設されている端子とを有するテストプラグであって、
ＰＴ用のテストターミナルの凸部と干渉してＰＴ用のテストターミナルへの前記テストプラグの挿入を阻止し得るよう前記相間絶縁部材の表面から突出可能に形成したＣＴ用凸部と、
ＣＴ用のテストターミナルの凸部と干渉してＣＴ用のテストターミナルへの前記テストプラグの挿入を阻止し得るよう前記相間絶縁部材の表面から突出可能に形成したＰＴ用凸部と、
前記絶縁支持体の前面に臨む操作ロッドの一つの操作により前記ＣＴ用凸部のみを前記相間絶縁部材の表面から突出させるとともに、他の操作により逆に前記ＰＴ用凸部のみを前記相間絶縁部材の表面から突出させる移動機構とを有することを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにある。 The first aspect of the present invention for achieving the above object is as follows:
An insulating support formed of an insulating member, an insulating plate protruding from the back surface of the insulating support and arranged corresponding to each phase, and a plurality of power supply side conductors of a test terminal connected to each phase on the power supply side Insulation so as to be able to contact each of a plurality of load-side conductors of the test terminal connected to each of the phases on the load side, and a live-side conductor disposed on one surface of the insulating plate Insulated between adjacent non-live wire side conductors and non-live wire side conductors disposed between the non-live wire side conductors disposed on the other surface of the plate and the insulating plates of the respective phases. A test plug having an interphase insulating member, and a terminal connected to each of the live wire side conductors and the non-live wire side conductors and arranged to protrude from the front surface of the insulating support,
A CT convex portion formed so as to protrude from the surface of the interphase insulating member so as to interfere with the convex portion of the PT test terminal and prevent the test plug from being inserted into the PT test terminal;
A projecting portion for PT formed so as to protrude from the surface of the interphase insulating member so as to interfere with the projecting portion of the test terminal for CT and prevent the insertion of the test plug into the test terminal for CT;
Only one of the CT projections protrudes from the surface of the interphase insulating member by one operation of the operating rod facing the front surface of the insulating support, and only the PT convex portion is reversed by the other operation. The CT / PT common test plug has a moving mechanism protruding from the surface of the CT / PT.

本発明の第２の態様は、
第１の態様に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記移動機構は、前記操作ロッドの操作により回動する駆動歯車の一方向への回動により前記ＣＴ用凸部を突出させるとともに、前記駆動歯車の反対方向への回動により前記ＣＴ用凸部を退避させるように前記駆動歯車と噛み合う一方の従動歯車を備えたＣＴ用凸部の移動部と、
前記駆動歯車の前記反対方向への回動により前記ＰＴ用凸部を突出させるとともに、前記駆動歯車の前記一方向への回動により前記ＰＴ用凸部を退避させるように前記駆動歯車と噛み合う他方の従動歯車を備えたＰＴ用凸部の移動部とを有することを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにある。 The second aspect of the present invention is:
In the CT / PT common test plug described in the first aspect,
The moving mechanism causes the CT convex portion to protrude by rotating in one direction of the drive gear that rotates by operating the operation rod, and the CT convex portion by rotating in the opposite direction of the drive gear. A moving portion of the convex portion for CT comprising one driven gear meshing with the drive gear so as to retract
The other side meshing with the drive gear so that the PT convex portion protrudes by the rotation of the drive gear in the opposite direction and the PT convex portion is retracted by the rotation of the drive gear in the one direction. The CT / PT common test plug is characterized by having a moving portion of the convex portion for PT provided with the following driven gear.

本発明の第３の態様は、
第１の態様又は第２の態様に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドと連動する干渉ロッドを有するとともに、ＰＴ用凸部を突出させる際には、前記活線側導体の端子間を短絡する短絡片の前記端子間に対する取り付けが阻害されるよう前記干渉ロッドが前記絶縁支持体の前面から突出され、ＣＴ用凸部を突出させる際には、前記短絡片の前記端子間に対する取り付けが阻害されることのないよう前記干渉ロッドが前記絶縁支持体の前面から退避されるように構成したことを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにある。 The third aspect of the present invention is:
In the CT / PT common test plug described in the first aspect or the second aspect,
The interference rod has an interference rod that interlocks with the operation rod, and when projecting the PT convex portion, the interference rod is prevented from being attached to the terminals of the short-circuit piece that short-circuits between the terminals of the live wire side conductor. Is protruded from the front surface of the insulating support, and when the CT convex portion is protruded, the interference rod is not moved from the front surface of the insulating support so that attachment of the short-circuit piece between the terminals is not hindered. The CT / PT common test plug is configured to be evacuated.

本発明の第４の態様は、
第３の態様に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドは、その基端を軸回りに一方向に回動させることにより軸方向における一方向に移動されて前記端子に対する前記短絡片の取り付けが阻害されることがないように前記絶縁支持体の前面から退避される一方、反対方向に回動させることにより前記軸方向における反対方向に移動されて前記端子に対する前記短絡片の取り付けが阻害されるように前記絶縁支持体の前面から突出されるように構成した前記干渉ロッドの機能も有するものであることを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにある。 The fourth aspect of the present invention is:
In the CT / PT common test plug described in the third aspect,
The operation support rod is moved in one direction in the axial direction by rotating its base end in one direction around the axis so that the attachment of the short-circuit piece to the terminal is not hindered. While being retracted from the front surface of the insulating support, it is moved in the opposite direction in the axial direction by rotating in the opposite direction and protrudes from the front surface of the insulating support so that attachment of the short-circuit piece to the terminal is obstructed. The CT / PT common test plug is also characterized by having the function of the interference rod configured as described above.

本発明の第５の態様は、
第４の態様に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドが前記絶縁支持体の前面から突出されたとき同様に突出されるよう前記操作ロッドと連動して移動される他の干渉ロッドを設けるとともに、前記他の干渉ロッドが突出されている状態では前記短絡片とは別の短絡片の取り付けが阻害されるように構成したことを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにある。 According to a fifth aspect of the present invention,
In the CT / PT common test plug described in the fourth aspect,
A state in which another interference rod that is moved in conjunction with the operation rod is provided so that the operation rod is similarly projected when the operation rod is projected from the front surface of the insulating support, and the other interference rod is projected. Then, the CT / PT common test plug is constructed so that the attachment of the short-circuit piece different from the short-circuit piece is hindered.

本発明によれば、ＰＴ用のテストターミナルの凸部と干渉するＣＴ用凸部と、ＣＴ用のテストターミナルの凸部と干渉するＰＴ用凸部とを交互に相間絶縁部材の表面から突出させることができるので、一つのテストプラグでＣＴ用及びＰＴ用に共用することができる。したがって、電気設備に用意しておくテストプラグの数を半分に減らすことができ、その分保管スペースの低減に寄与することができる。また、ＰＴ用のテストプラグとして用いる場合には、短絡片の取り付けを阻止する構造となっているので、間違って短絡片を装着したままＰＴ用のテストターミナルに挿入するという事故を未然に防止し得る。 According to the present invention, the CT convex portion that interferes with the convex portion of the PT test terminal and the PT convex portion that interferes with the convex portion of the CT test terminal are alternately projected from the surface of the interphase insulating member. Therefore, a single test plug can be shared for CT and PT. Therefore, the number of test plugs prepared in the electrical equipment can be reduced to half, which can contribute to a reduction in storage space. In addition, when used as a test plug for PT, it has a structure that prevents the attachment of a short-circuit piece, so that it is possible to prevent an accident that the short-circuit piece is accidentally inserted into the PT test terminal. obtain.

以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。なお、従来技術と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, the same number is attached | subjected to the part same as a prior art, and the overlapping description is abbreviate | omitted.

図１は本発明の実施の形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグをテストターミナルとともに示しており、（ａ）は一部切り欠いて示す側面図、（ｂ）はその平面図、（ｃ）はＣＴ用のテストターミナルを示す正面図、（ｄ）はＰＴ用のテストターミナルを示す正面図である。 FIG. 1 shows a CT / PT common test plug according to an embodiment of the present invention together with a test terminal. (A) is a partially cutaway side view, (b) is a plan view, and (c) is a plan view. The front view which shows the test terminal for CT, (d) is a front view which shows the test terminal for PT.

同図に示すように、本形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０は、従来と同様に、絶縁支持体３１、絶縁板３２、相間絶縁部材３３、活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ、非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎ及び端子３７，４７を有するとともに、さらにＣＴ用凸部５１及びＰＴ用凸部５２を具備している。ここで、ＣＴ用凸部５１は、ＰＴ用のテストターミナル５（図１（ｄ）参照）の凸部７ａと干渉してＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０の挿入を阻止し得るように一つの相間絶縁部材３３の表面から突出可能に形成してある。また、ＰＴ用凸部５２は、ＣＴ用のテストターミナル５（図１（ｃ）参照）の凸部７ｂと干渉してＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０の挿入を阻止し得るように中央の相間絶縁部材３３の表面から突出可能に形成してある。かかるＣＴ用凸部５１及びＰＴ用凸部５２は、絶縁支持体３１の前面側からの操作ロッド５３の操作により交互に突出される。この場合の操作機構としては種々考えられるが、例えば操作ロッド５３の先端部に固着されて、この操作ロッド５３の操作により回動する駆動歯車（図１には図示せず）と、これにそれぞれ噛合する従動歯車（図１には図示せず）とでＣＴ用凸部５１の移動部５４及びＰＴ用凸部５２の移動部５５とを形成し、操作ロッド５３の一方向への回動によりＣＴ用凸部５１を突出させるとともに反対方向への回動によりＣＴ用凸部５１を退避させる一方、操作ロッド５３の反対方向への回動によりＰＴ用凸部５２を突出させるとともに前記一方向への回動によりＰＴ用凸部５２を退避させるように構成すれば良い。ここで、操作ロッド５３はその基端部を絶縁支持体３１の前面に臨ませてあり、絶縁支持体３１を貫通するとともにＷ相の絶縁板３２の内部をその軸方向に挿通されている。 As shown in the figure, the CT / PT common test plug 50 according to this embodiment includes an insulating support 31, an insulating plate 32, an interphase insulating member 33, live conductors 35 R to 35 N, non-hot wires, as in the prior art. It has side conductors 45R to 45N and terminals 37 and 47, and further includes a CT convex portion 51 and a PT convex portion 52. Here, the CT convex portion 51 interferes with the convex portion 7a of the PT test terminal 5 (see FIG. 1 (d)) so as to prevent insertion of the CT / PT common test plug 50. The insulating member 33 is formed so as to protrude from the surface. Further, the PT convex portion 52 interferes with the convex portion 7b of the CT test terminal 5 (see FIG. 1 (c)) to prevent the insertion of the CT / PT common test plug 50 so as to prevent interphase insulation. It is formed so as to protrude from the surface of the member 33. The CT convex portions 51 and the PT convex portions 52 are alternately projected by the operation of the operation rod 53 from the front surface side of the insulating support 31. Various operation mechanisms are conceivable in this case. For example, a drive gear (not shown in FIG. 1) fixed to the tip of the operation rod 53 and rotated by the operation of the operation rod 53, respectively. A meshing driven gear (not shown in FIG. 1) forms a moving part 54 of the CT convex part 51 and a moving part 55 of the PT convex part 52, and the operation rod 53 is rotated in one direction. The CT convex portion 51 is caused to protrude and the CT convex portion 51 is retracted by turning in the opposite direction. On the other hand, the PT convex portion 52 is caused to protrude by turning in the opposite direction of the operating rod 53 and the one direction. What is necessary is just to comprise so that the convex part 52 for PT may evacuate by rotation. Here, the operating rod 53 has its base end facing the front surface of the insulating support 31, penetrates the insulating support 31, and is inserted through the inside of the W-phase insulating plate 32 in the axial direction.

かかる操作機構の詳細を図２に基づき説明する。図２はＣＴ用凸部の移動部及びＰＴ用凸部の移動部の一例を模式的に示した説明図で、（ａ）がＣＴ用凸部を突出させた状態、（ｂ）がＰＴ用凸部を突出させた状態である。両図に示すように、駆動歯車５６は操作ロッド５３（図１参照）の先端部に固着してあり、操作ロッド５３の回動に伴い時計方向乃至反時計方向に回動する。駆動歯車５６にはその両側で従動歯車５７，５８が噛合している。さらに、従動歯車５７，５８には、ＣＴ用凸部５１及びＰＴ用凸部５２にそれぞれ一体的に設けられたラック５９，６０が噛合するように構成してある。すなわち、従動歯車５７，５８とラック５９，６０とで２組のラック・ピニオン機構が形成されており、従動歯車５７の時計方向への回動によりラック５９を介してＣＴ用凸部５１を相間絶縁部材３３の表面から突出させるとともに、従動歯車５８の時計方向への回動によりラック６０を介してＰＴ用凸部５２を相間絶縁部材３３を退避させるように構成してある。この結果、ＣＴ用凸部５１とＰＴ用凸部５２とは一方を突出させる場合には他方を退避させる関係となる。ちなみに、駆動歯車５６を反時計方向に回動させることによりＣＴ用凸部５１を突出させ、時計方向に回動させることによりＰＴ用凸部５２を突出させる。 Details of the operation mechanism will be described with reference to FIG. 2A and 2B are explanatory views schematically showing an example of the moving part of the CT convex part and the moving part of the PT convex part. FIG. 2A shows a state in which the CT convex part protrudes, and FIG. It is the state which made the convex part protrude. As shown in both figures, the drive gear 56 is fixed to the tip of the operating rod 53 (see FIG. 1), and rotates clockwise or counterclockwise as the operating rod 53 rotates. The drive gear 56 is meshed with driven gears 57 and 58 on both sides thereof. Further, the driven gears 57 and 58 are configured to mesh with racks 59 and 60 integrally provided on the CT convex portion 51 and the PT convex portion 52, respectively. That is, two sets of rack and pinion mechanisms are formed by the driven gears 57 and 58 and the racks 59 and 60, and the CT convex portion 51 is interphased via the rack 59 by the clockwise rotation of the driven gear 57. While projecting from the surface of the insulating member 33, the interphase insulating member 33 is configured to retract the PT convex portion 52 through the rack 60 by the clockwise rotation of the driven gear 58. As a result, when one of the CT convex portion 51 and the PT convex portion 52 protrudes, the other is retracted. Incidentally, the CT convex portion 51 is projected by rotating the drive gear 56 counterclockwise, and the PT convex portion 52 is protruded by rotating clockwise.

図３（ａ）は本形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグの絶縁支持体の端子の部分を正面から見た図である。前述の如くＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０をＣＴ用として用いる場合には変流器（ＣＴ）の２次側が開放されるのを防止するため、活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎに接続されている４個の端子３７間を短絡しておく必要がある。したがって、この場合には図３（ｂ）乃至図３（ｅ）に示すように、短絡片６１ａ，６１ｂ，６１ｃで４個の端子３７間を接続するようになっている。一方、ＰＴ用として用いる場合には４個の端子３７間は開放しておく必要がある。そこで、本形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０においては、ＰＴ用として用いる場合には短絡片６１ａ乃至６１ｃの取り付けが阻害されるような構成となっている。すなわち、図３（ｂ）乃至図３（ｅ）は、可能性がある短絡片６１ａ乃至６１ｃの全ての取り付け態様を示しているが、ＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０をＰＴ用として用いる場合には、図３（ｂ）乃至図３（ｅ）に示す何れの場合にも、短絡片６１ａ乃至６１ｃの少なくとも１個の取り付けが阻害されるように構成してある。さらに詳言すると、本形態では干渉ロッドを兼用する操作ロッド５３及び干渉ロッド６２を絶縁支持体３１の前面から突出させてこれらと短絡片６１ａ乃至６１ｃが干渉するように構成している。ここで、操作ロッド５３及び干渉ロッド６２は一体的な動作で絶縁支持体３１の前面から突出され、また退避される。 FIG. 3A is a front view of the terminal portion of the insulating support of the CT / PT common test plug according to this embodiment. As described above, when the CT / PT common test plug 50 is used for CT, in order to prevent the secondary side of the current transformer (CT) from being opened, it is connected to the live conductors 35R to 35N 4. It is necessary to short-circuit between the terminals 37. Therefore, in this case, as shown in FIGS. 3B to 3E, the four terminals 37 are connected by the short-circuit pieces 61a, 61b, 61c. On the other hand, when used for PT, the four terminals 37 need to be opened. Therefore, the CT / PT common test plug 50 according to the present embodiment is configured such that the attachment of the short-circuit pieces 61a to 61c is hindered when used for PT. That is, FIGS. 3B to 3E show all possible attachment modes of the short-circuiting pieces 61a to 61c, but when the CT / PT common test plug 50 is used for PT. In any of the cases shown in FIGS. 3B to 3E, the attachment of at least one of the short-circuit pieces 61a to 61c is hindered. More specifically, in this embodiment, the operation rod 53 and the interference rod 62, which also serve as an interference rod, are projected from the front surface of the insulating support 31 so that the short-circuit pieces 61a to 61c interfere with each other. Here, the operating rod 53 and the interference rod 62 are protruded from the front surface of the insulating support 31 and retracted by an integral operation.

図４は操作ロッド及び干渉ロッドの部分の構成を概念的に示す説明図である。同図に示すように、本形態に係る操作ロッド５３は、その途中に形成した雄ねじ部６３を介してＷ相の絶縁板３２の内部に形成した雌ねじ部６４に螺合させてある。かくして、操作ロッド５３は、その反時計方向への回動により駆動歯車５６とともに軸方向に沿い前進するとともに、時計方向への回動により同方向に沿い後退する。 FIG. 4 is an explanatory diagram conceptually showing the configuration of the operation rod and the interference rod. As shown in the figure, the operating rod 53 according to this embodiment is screwed into a female screw portion 64 formed inside a W-phase insulating plate 32 via a male screw portion 63 formed in the middle thereof. Thus, the operation rod 53 advances along the axial direction together with the drive gear 56 by the rotation in the counterclockwise direction, and retreats along the same direction by the rotation in the clockwise direction.

干渉ロッド６２は連結部材６７及び係止部材６８を介して操作ロッド５３に係止することにより、操作ロッド５３と一体的に前後方向に移動し得るように構成してある。 The interference rod 62 is configured to be able to move in the front-rear direction integrally with the operation rod 53 by being locked to the operation rod 53 via the connecting member 67 and the locking member 68.

かかる本形態において、ＣＴ用凸部を突出させる場合には、操作ロッド５３を反時計方向に回動させれば良い。かかる回動により、操作ロッド５３が駆動歯車５６とともにその軸方向に沿い前進しつつ軸６５，６６に支承された従動歯車５７，５８を時計方向に回動させてＣＴ用凸部５１を突出させるからである。なお、このときＰＴ用凸部５２は退避される。同時に、操作ロッド５３及び干渉ロッド６２も絶縁支持体３１の表面から退避される。 In this embodiment, when the CT convex portion is projected, the operation rod 53 may be rotated counterclockwise. As a result of this rotation, the operating rod 53 moves forward along the axial direction together with the drive gear 56 and the driven gears 57 and 58 supported by the shafts 65 and 66 are rotated clockwise to project the CT convex portion 51. Because. At this time, the PT convex portion 52 is retracted. At the same time, the operation rod 53 and the interference rod 62 are also retracted from the surface of the insulating support 31.

この結果、端子３７には、図３（ｂ）乃至図３（ｄ）に示す何れかの態様で、短絡片６１ａ乃至６１ｃを、操作ロッド５３乃至干渉ロッド６２に干渉されることなく端子３７に取り付けて各端子３７間を短絡することができる。同時に、この場合にはＣＴ用凸部５１が突出され、ＰＴ用凸部５２は退避されているので、短絡片６１ａ乃至６１ｃで各端子３７間を短絡した状態のＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０をＣＴ用のテストターミナル５（図１（ｃ）参照）のみに挿入することができる。 As a result, in the terminal 37, the short-circuit pieces 61a to 61c are connected to the terminal 37 without being interfered with the operation rod 53 to the interference rod 62 in any one of the modes shown in FIGS. 3B to 3D. It can attach and can short-circuit between each terminal 37. FIG. At the same time, since the CT convex portion 51 is protruded and the PT convex portion 52 is retracted in this case, the CT / PT common test plug 50 in a state in which the terminals 37 are short-circuited by the short-circuiting pieces 61a to 61c. It can be inserted only into the test terminal 5 for CT (see FIG. 1C).

逆に、操作ロッド５３を時計方向に回動させれば操作ロッド５３が駆動歯車５６とともにその軸方向に沿い後退しつつ従動歯車５７，５８を反時計方向に回動させてＰＴ用凸部５２を突出させ、ＣＴ用凸部５１を退避させる。同時に、操作ロッド５３及び干渉ロッド６２は絶縁支持体３１の表面から突出される。 Conversely, if the operating rod 53 is rotated in the clockwise direction, the operating rod 53 is retracted along with the drive gear 56 along the axial direction, and the driven gears 57 and 58 are rotated in the counterclockwise direction, thereby the PT convex portion 52. And the CT convex portion 51 is retracted. At the same time, the operation rod 53 and the interference rod 62 are projected from the surface of the insulating support 31.

この結果、端子３７には、短絡片６１ａ乃至６１ｃを取り付けることはできない。操作ロッド５３乃至干渉ロッド６２の少なくとも一方が短絡片６１ａ乃至６１ｃと干渉するからである。一方、この場合にはＰＴ用凸部５２が突出され、ＣＴ用凸部５１は退避されているので、各端子３７間の短絡状態を阻止された状態のＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０をＰＴ用のテストターミナル５（図１（ｄ）参照）のみに挿入することができる。 As a result, the short-circuit pieces 61 a to 61 c cannot be attached to the terminal 37. This is because at least one of the operation rod 53 to the interference rod 62 interferes with the short-circuit pieces 61a to 61c. On the other hand, in this case, since the PT convex portion 52 is protruded and the CT convex portion 51 is retracted, the CT / PT common test plug 50 in a state in which the short circuit state between the terminals 37 is prevented is used for the PT. Can be inserted only into the test terminal 5 (see FIG. 1D).

なお、上記実施の形態においては操作ロッド５３で駆動歯車５６を回動することでＣＴ用凸部５１及びＰＴ用凸部５２を突出乃至退避させるようにしたが、勿論かかる構成に限定するものではない。要は、ＣＴ用凸部５１，ＰＴ用凸部５２を交互に突出させるような構成となっていれば特別な制限はない。例えば、カム機構を用いても操作機構を形成することができる。 In the above-described embodiment, the drive gear 56 is rotated by the operating rod 53 so that the CT convex portion 51 and the PT convex portion 52 protrude or retract. However, the present invention is not limited to this configuration. Absent. In short, there is no particular limitation as long as the CT convex portions 51 and the PT convex portions 52 are alternately projected. For example, the operation mechanism can be formed using a cam mechanism.

また、干渉ロッドは１個だけでも構わない。１個だけでも、ＰＴ用として利用する多くの場合、短絡片６１ａ乃至６１ｃの取り付けが阻害されることでＣＴ用として利用しようとしているか、またはＰＴ用として利用しようとしているかの注意を喚起することができるからである。 Further, only one interference rod may be used. Even if only one is used for PT, in many cases, the attachment of the short-circuiting pieces 61a to 61c is hindered, so that attention is drawn to whether it is intended for use for CT or for PT. Because it can.

さらに、操作ロッドと干渉ロッドとを兼用することも必須ではない。干渉ロッドは、場合によって短絡片の取り付けに対する障害になり得るものであれば良いからである。ただ、兼用すればその分構造の簡素化を図ることができる。 Furthermore, it is not essential to use both the operation rod and the interference rod. This is because the interference rod only needs to be capable of obstructing the mounting of the short-circuit piece in some cases. However, if it is also used, the structure can be simplified accordingly.

本発明は電力機器を製造・販売する産業分野で利用することができる。 The present invention can be used in the industrial field of manufacturing and selling electric power equipment.

本発明の実施の形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグをテストターミナルとともに示しており、（ａ）は一部切り欠いて示す側面図、（ｂ）はその平面図、（ｃ）はＣＴ用のテストターミナルを示す正面図、（ｄ）はＰＴ用のテストターミナルを示す正面図である。1 shows a CT / PT common test plug according to an embodiment of the present invention together with a test terminal, wherein (a) is a partially cutaway side view, (b) is a plan view thereof, and (c) is for CT. The front view which shows a test terminal, (d) is a front view which shows the test terminal for PT. ＣＴ用凸部及びＰＴ用凸部の移動部の一例を模式的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows typically an example of the moving part of the convex part for CT, and the convex part for PT. 本形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグの端子部分を抽出して示す図で、（ａ）は正面図、（ｂ）乃至（ｅ）は短絡片による端子間の短絡態様を示す説明図である。It is the figure which extracts and shows the terminal part of the CT / PT shared test plug which concerns on this form, (a) is a front view, (b) thru | or (e) are explanatory drawings which show the short circuit aspect between terminals by a short piece. . 操作ロッド及び干渉ロッドの部分の構成を概念的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows notionally the structure of the part of an operation rod and an interference rod. 従来技術に係るテストターミナルを示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the test terminal which concerns on a prior art. 従来技術に係るテストプラグを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the test plug which concerns on a prior art. 従来技術に係るＣＴ用のテストプラグとテストターミナルとの組み合わせを示す図で、（ａ）はＣＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はその背面図、（ｃ）はＣＴ用のテストターミナルの正面図である。It is a figure which shows the combination of the test plug and test terminal for CT which concern on a prior art, (a) is a top view of the test plug for CT, (b) is the back view, (c) is the test terminal for CT FIG. 従来技術に係るＰＴ用のテストプラグとテストターミナルとの組み合わせを示す図で、（ａ）はＰＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はその背面図、（ｃ）はＰＴ用のテストターミナルの正面図である。It is a figure which shows the combination of the test plug for PT concerning a prior art, and a test terminal, (a) is a top view of the test plug for PT, (b) is the rear view, (c) is a test terminal for PT FIG.

符号の説明Explanation of symbols

５テストターミナル
７ａ，７ｂ，７ｃ凸部
１１電源側導体
２１負荷側導体
３０テストプラグ
３１絶縁支持体
３２絶縁板
３３相間絶縁部材
３３ａ，３３ｂ，３３ｃ凸部
３７，４７端子
３５Ｒ乃至３５Ｎ活線側導体
４５Ｒ乃至４５Ｎ非活線側導体
５０ＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ
５１ＣＴ用凸部
５２ＰＴ用凸部
５３操作ロッド
５４、５５移動部
５６駆動歯車
５７，５８従動歯車
５９，６０ラック
６１ａ，６１ｂ，６１ｃ短絡片
６２干渉ロッド 5 Test terminals 7a, 7b, 7c Convex part 11 Power supply side conductor 21 Load side conductor 30 Test plug 31 Insulating support 32 Insulating plate 33 Interphase insulating members 33a, 33b, 33c Convex parts 37, 47 Terminals 35R to 35N Live line side conductors 45R to 45N Non-live wire side conductor 50 CT / PT common test plug 51 CT convex portion 52 PT convex portion 53 Operation rod 54, 55 Moving portion 56 Drive gear 57, 58 Drive gear 59, 60 Rack 61a, 61b, 61c Shorting piece 62 Interference rod

Claims

絶縁部材で形成した絶縁支持体と、この絶縁支持体の背面から突出させるとともに各相に対応させて配設した絶縁板と、電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触し得るよう前記絶縁板の一つの面に配設された活線側導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの複数の負荷側導体にそれぞれ接触し得るよう前記絶縁板の他の面に配設された非活線側導体と、前記各相の絶縁板間に配設されて前記各活線側導体及び各非活線側導体の隣接する相間の絶縁を行う相間絶縁部材と、前記各活線側導体及び各非活線側導体にそれぞれ接続されるとともに前記絶縁支持体の前面から突出させて配設されている端子とを有するテストプラグであって、
ＰＴ用のテストターミナルの凸部と干渉してＰＴ用のテストターミナルへの前記テストプラグの挿入を阻止し得るよう前記相間絶縁部材の表面から突出可能に形成したＣＴ用凸部と、
ＣＴ用のテストターミナルの凸部と干渉してＣＴ用のテストターミナルへの前記テストプラグの挿入を阻止し得るよう前記相間絶縁部材の表面から突出可能に形成したＰＴ用凸部と、
前記絶縁支持体の前面に臨む操作ロッドの一つの操作により前記ＣＴ用凸部のみを前記相間絶縁部材の表面から突出させるとともに、他の操作により逆に前記ＰＴ用凸部のみを前記相間絶縁部材の表面から突出させる移動機構とを有することを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ。 An insulating support formed of an insulating member, an insulating plate protruding from the back surface of the insulating support and arranged corresponding to each phase, and a plurality of power supply side conductors of a test terminal connected to each phase on the power supply side Insulation so as to be able to contact each of a plurality of load-side conductors of the test terminal connected to each of the phases on the load side, and a live-side conductor disposed on one surface of the insulating plate Insulated between adjacent non-live wire side conductors and non-live wire side conductors disposed between the non-live wire side conductors disposed on the other surface of the plate and the insulating plates of the respective phases. A test plug having an interphase insulating member, and a terminal connected to each of the live wire side conductors and the non-live wire side conductors and arranged to protrude from the front surface of the insulating support,
A CT convex portion formed so as to protrude from the surface of the interphase insulating member so as to interfere with the convex portion of the PT test terminal and prevent the test plug from being inserted into the PT test terminal;
A projecting portion for PT formed so as to protrude from the surface of the interphase insulating member so as to interfere with the projecting portion of the test terminal for CT and prevent insertion of the test plug into the test terminal for CT;
Only one of the CT projections protrudes from the surface of the interphase insulating member by one operation of the operating rod facing the front surface of the insulating support, and only the PT convex portion is reversed by the other operation. CT / PT common test plug characterized by having a moving mechanism that projects from the surface of the CT / PT.

請求項１に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記移動機構は、前記操作ロッドの操作により回動する駆動歯車の一方向への回動により前記ＣＴ用凸部を突出させるとともに、前記駆動歯車の反対方向への回動により前記ＣＴ用凸部を退避させるように前記駆動歯車と噛み合う一方の従動歯車を備えたＣＴ用凸部の移動部と、
前記駆動歯車の前記反対方向への回動により前記ＰＴ用凸部を突出させるとともに、前記駆動歯車の前記一方向への回動により前記ＰＴ用凸部を退避させるように前記駆動歯車と噛み合う他方の従動歯車を備えたＰＴ用凸部の移動部とを有することを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ。 In the CT / PT common test plug according to claim 1,
The moving mechanism causes the CT convex portion to protrude by rotating in one direction of the drive gear that rotates by operating the operation rod, and the CT convex portion by rotating in the opposite direction of the drive gear. A moving portion of the convex portion for CT comprising one driven gear meshing with the drive gear so as to retract
The other side meshing with the drive gear so that the PT convex portion protrudes by the rotation of the drive gear in the opposite direction and the PT convex portion is retracted by the rotation of the drive gear in the one direction. CT / PT common test plug characterized by having a projecting portion for PT provided with the following driven gear.

請求項１又は請求項２に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドと連動する干渉ロッドを有するとともに、ＰＴ用凸部を突出させる際には、前記活線側導体の端子間を短絡する短絡片の前記端子間に対する取り付けが阻害されるよう前記干渉ロッドが前記絶縁支持体の前面から突出され、ＣＴ用凸部を突出させる際には、前記短絡片の前記端子間に対する取り付けが阻害されることのないよう前記干渉ロッドが前記絶縁支持体の前面から退避されるように構成したことを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ。 In the CT / PT common test plug according to claim 1 or 2,
The interference rod has an interference rod that interlocks with the operation rod, and when projecting the PT convex portion, the interference rod is prevented from being attached to the terminals of the short-circuit piece that short-circuits between the terminals of the live wire side conductor. Is protruded from the front surface of the insulating support, and when the CT convex portion is protruded, the interference rod is not moved from the front surface of the insulating support so that attachment of the short-circuit piece between the terminals is not hindered. A CT / PT common test plug characterized by being configured to be evacuated.

請求項３に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドは、その基端を軸回りに一方向に回動させることにより軸方向における一方向に移動されて前記端子に対する前記短絡片の取り付けが阻害されることがないように前記絶縁支持体の前面から退避される一方、反対方向に回動させることにより前記軸方向における反対方向に移動されて前記端子に対する前記短絡片の取り付けが阻害されるように前記絶縁支持体の前面から突出されるように構成した前記干渉ロッドの機能も有するものであることを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ。 In the CT / PT common test plug according to claim 3,
The operation support rod is moved in one direction in the axial direction by rotating its base end in one direction around the axis so that the attachment of the short-circuit piece to the terminal is not hindered. While being retracted from the front surface of the insulating support, it is moved in the opposite direction in the axial direction by rotating in the opposite direction and protrudes from the front surface of the insulating support so that attachment of the short-circuit piece to the terminal is obstructed. A CT / PT common test plug characterized by having the function of the interference rod configured as described above.

請求項４に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドが前記絶縁支持体の前面から突出されたとき同様に突出されるよう前記操作ロッドと連動して移動される他の干渉ロッドを設けるとともに、前記他の干渉ロッドが突出されている状態では前記短絡片とは別の短絡片の取り付けが阻害されるように構成したことを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ。 In the CT / PT common test plug according to claim 4,
A state in which another interference rod that is moved in conjunction with the operation rod is provided so that the operation rod is similarly projected when the operation rod is projected from the front surface of the insulating support, and the other interference rod is projected. Then, a CT / PT common test plug, characterized in that the mounting of a shorting piece other than the shorting piece is obstructed.