JP2009156718A - Optical pulse testing device - Google Patents

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical pulse testing device capable of suppressing waveform distortion or a noise, even when power of an optical pulse entering an optical fiber is fluctuated, and performing a test with high accuracy. <P>SOLUTION: This optical pulse testing device 1 includes a laser light source 12 for generating an optical pulse train wherein code modulation using a Golay code is performed, an EDFA 13 for amplifying the optical pulse train from the laser light source 12, a light receiving circuit 17 for receiving back scattered light acquired by allowing the optical pulse train amplified by the EDFA 13 to enter the optical fiber 40, a level correction part 32 for correcting the level of a light receiving signal acquired from the light receiving circuit 17 corresponding to power fluctuation of the optical pulse train outputted from the EDFA 13, and a correlation processing part 33 for performing demodulation by applying correlation processing to the light receiving signal having the corrected level. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、試験対象の光ファイバに光パルスを入射させて試験を行う光パルス試験装置に関する。   The present invention relates to an optical pulse test apparatus for performing a test by making an optical pulse incident on an optical fiber to be tested.

光パルス試験装置は、周知の通り、光パルスを試験対象である光ファイバに入射させ、光ファイバからの後方散乱光を受光して得られる受光信号に対して所定の演算処理を施すことにより光ファイバの特性（伝送損失や障害点までの距離等）を試験する装置である。尚、この光パルス試験装置は、光ファイバ試験装置又はＯＴＤＲ（Opticai Time Domain Reflectometer）と呼ばれることもある。   As is well known, an optical pulse test apparatus makes a light beam incident on an optical fiber to be tested, and performs predetermined arithmetic processing on a received light signal obtained by receiving backscattered light from the optical fiber. It is a device that tests the characteristics of the fiber (transmission loss, distance to the point of failure, etc.). This optical pulse test apparatus is sometimes called an optical fiber test apparatus or an OTDR (Opticai Time Domain Reflectometer).

光ファイバから得られる後方散乱光は極めて微弱であるため、光パルス試験装置では一般的に光ファイバに入射させる光パルスのパワーを極力大きくすることでダイナミックレンジを改善している。また、近年においては、ゴーレイ符号（Golay code）やバーカー符号（Barker code）を用いて符号変調した光パルス列を光ファイバに入射させ、光ファイバからの後方散乱光を受光して得られる受光信号に対して相関処理（復調）を行うことで、ダイナミックレンジを向上させる光パルス試験装置も実現されている。   Since the backscattered light obtained from the optical fiber is extremely weak, the optical pulse test apparatus generally improves the dynamic range by increasing the power of the optical pulse incident on the optical fiber as much as possible. In recent years, an optical pulse train that has been code-modulated using a Golay code or a Barker code is incident on an optical fiber, and the received light signal is obtained by receiving backscattered light from the optical fiber. On the other hand, an optical pulse test apparatus that improves the dynamic range by performing correlation processing (demodulation) is also realized.

尚、符号変調された光パルス列を用いて試験を行う従来の光パルス試験装置の詳細については、例えば以下の特許文献１及び非特許文献１を参照されたい。
米国特許第４９６８８８０号明細書 ナザラシー・モシェ（Nazarathy Moshe），ニュートン・スティーブン・エィ（Newton Steven A.），ジファード・アール・ピー（Giffard R. P.），モーバリー・ディー・エス（Moberly D. S.），シスチカ・エフ（Sischka F.），ツルトナ・ダブリュー・アール・ジュニア（Trutna W. R. Jr.），フォスター・エス（Foster S.），「リアルタイム・ロング・レンジ・コンプリメンタリー・コリレーション・オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメーター（Real-time long range complementary correlation optical time domain reflectometer）」，ジャーナル・オブ・ライトウェーヴ・テクノロジー（Journal of Lightwave Technology），１９８９年１月，Ｖｏｌ．７，ｐ．２４−３８ For details of a conventional optical pulse test apparatus that performs a test using a code-modulated optical pulse train, see, for example, Patent Document 1 and Non-Patent Document 1 below.
US Pat. No. 4,968,880 Nazarathy Moshe, Newton Steven A., Giffard RP, Moberly DS, Sischka F., Turtna・ Written Earl Junior (Trutna WR Jr.), Foster S (Foster S.), “Real-time long range complementary reflectometer (Real-time long range complementary meter) correlation optical time domain reflectometer), Journal of Lightwave Technology, January 1989, Vol. 7, p. 24-38

ところで、上述した通り、光パルス試験装置のダイナミックレンジは、光ファイバに入射させる光パルスのパワーを極力大きくすることで改善される。このため、光パルス試験装置には、光ファイバに入射させる光パルスを増幅するためにＥＤＦＡ（Erbium Doped Fiber Amplifier：エルビウム添加光ファイバ増幅器）等の光ファイバ増幅器を備えるものがある。   By the way, as described above, the dynamic range of the optical pulse test apparatus is improved by increasing the power of the optical pulse incident on the optical fiber as much as possible. For this reason, some optical pulse test apparatuses include an optical fiber amplifier such as an EDFA (Erbium Doped Fiber Amplifier) in order to amplify an optical pulse incident on an optical fiber.

しかしながら、光ファイバ増幅器を用いて光パルスを増幅すると、光パルスの先頭では大きく増幅されて高いパワー（波高値）を得ることができるものの、時間経過とともにパワーが徐々に減少するという現象が生ずる。この現象は、符号変調された光パルス列でも同様に発生し、パルス列の先頭の光パルスから後方の光パルスへ時間経過とともに徐々にパワーが減少する。また、符号変調された光パルス列では複数のビットパターンを使用するためビットパターン毎にビット「１」の数やビット間隔が異なり、光ファイバ増幅器で増幅された光パルス列は不均一なパワーの光パルスの集まりとなる。   However, when an optical pulse is amplified using an optical fiber amplifier, a high power (crest value) can be obtained at the head of the optical pulse, but the power gradually decreases with time. This phenomenon also occurs in the optical pulse train that is code-modulated, and the power gradually decreases with the passage of time from the first optical pulse in the pulse train to the rear optical pulse. In addition, since the code-modulated optical pulse train uses a plurality of bit patterns, the number of bits “1” and the bit interval are different for each bit pattern, and the optical pulse train amplified by the optical fiber amplifier is an optical pulse with non-uniform power. It becomes a gathering of.

符号変調した光パルス列を用いる光パルス試験装置において、構成する光パルスのパワーが不均一な光パルス列を光ファイバに入射させると、光ファイバから得られる後方散乱光のパワーも光パルス列のパワー変動に応じて変動してしまい、この後方散乱光を受光信号として相関処理を行った場合に、波形歪みや雑音が現れて試験結果の精度に悪影響を及ぼすという問題がある。   In an optical pulse test apparatus that uses a code-modulated optical pulse train, if an optical pulse train with non-uniform optical pulse power is made incident on the optical fiber, the power of the backscattered light obtained from the optical fiber also changes to the power fluctuation of the optical pulse train. Accordingly, there is a problem that when the backscattering light is used as a received light signal and correlation processing is performed, waveform distortion and noise appear and adversely affect the accuracy of the test result.

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、光ファイバに入射させる光パルスのパワーが変動する場合であっても波形歪みや雑音を抑制することができ、高い精度で試験を行うことができる光パルス試験装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and even when the power of an optical pulse incident on an optical fiber fluctuates, waveform distortion and noise can be suppressed, and testing can be performed with high accuracy. An object of the present invention is to provide an optical pulse test apparatus capable of performing the above.

上記課題を解決するために、本発明の光パルス試験装置は、光ファイバ（４０）に入射させるべき光パルス列を増幅する光ファイバ増幅部（１３）と、当該光ファイバ増幅部から出力される光パルス列を前記光ファイバに入射させて得られる後方散乱光を受光する受光部（１７、１８、１９）とを備え、当該受光部から出力される受光信号に基づいて前記光ファイバの特性を試験する光パルス試験装置（１）において、前記受光部から出力される受光信号のレベルを、前記光ファイバ増幅部から出力される光パルス列のパワー変動に応じて補正する補正部（３２）を備えることを特徴としている。
この発明によると、光ファイバ増幅部から出力される光パルス列のパワー変動に応じて、受光部から出力される受光信号のレベルが補正される。
また、本発明の光パルス試験装置は、前記光ファイバに入射させるべき光パルス列として、所定の符号変調を行った光パルス列を生成する光パルス列生成部（１１、１２）と、前記補正部でレベルが補正された受光信号に対して相関処理を施すことにより復調を行う相関処理部（３３）とを備えることを特徴としている。
また、本発明の光パルス試験装置は、前記光ファイバ増幅部から出力される光パルス列及び前記光ファイバを透過した光パルス列の何れか一方のパワーを検出する検出部（１５）を備えており、前記補正部は当該検出部の検出結果に基づいて前記受光信号のレベルを補正することを特徴としている。
或いは、本発明の光パルス試験装置は、前記光ファイバ増幅部から出力される光パルス列のパワー変動を記憶する記憶部（３４）を備えており、前記補正部は前記記憶部の記憶内容に基づいて前記受光信号のレベルを補正することを特徴としている。
ここで、本発明の光パルス試験装置は、前記光ファイバ増幅部から出力される光パルス列及び前記光ファイバを透過した光パルス列の何れか一方のパワーを検出する検出部（１５）を備えており、前記記憶部の記憶内容は前記検出部の検出結果に更新されることを特徴としている。 In order to solve the above problems, an optical pulse test apparatus of the present invention includes an optical fiber amplifier (13) that amplifies an optical pulse train to be incident on an optical fiber (40), and light output from the optical fiber amplifier. A light receiving unit (17, 18, 19) for receiving backscattered light obtained by making a pulse train incident on the optical fiber, and testing the characteristics of the optical fiber based on a light receiving signal output from the light receiving unit. The optical pulse test apparatus (1) includes a correction unit (32) that corrects the level of the light reception signal output from the light reception unit according to the power fluctuation of the optical pulse train output from the optical fiber amplification unit. It is a feature.
According to the present invention, the level of the received light signal output from the light receiving unit is corrected according to the power fluctuation of the optical pulse train output from the optical fiber amplifier.
The optical pulse test apparatus according to the present invention includes an optical pulse train generation unit (11, 12) that generates an optical pulse train subjected to predetermined code modulation as an optical pulse train to be incident on the optical fiber, and a level at the correction unit. And a correlation processing unit (33) for performing demodulation by performing correlation processing on the received light signal.
The optical pulse test apparatus of the present invention includes a detection unit (15) for detecting the power of either the optical pulse train output from the optical fiber amplification unit or the optical pulse train transmitted through the optical fiber, The correction unit corrects the level of the light reception signal based on a detection result of the detection unit.
Alternatively, the optical pulse test apparatus of the present invention includes a storage unit (34) for storing the power fluctuation of the optical pulse train output from the optical fiber amplifier, and the correction unit is based on the storage contents of the storage unit. The level of the received light signal is corrected.
Here, the optical pulse test apparatus of the present invention includes a detection unit (15) for detecting the power of either the optical pulse train output from the optical fiber amplifier or the optical pulse train transmitted through the optical fiber. The storage content of the storage unit is updated to the detection result of the detection unit.

本発明によれば、光ファイバ増幅部から出力される光パルス列のパワー変動を検出し、この検出結果に応じて受光部から出力される受光信号のレベルを補正しているため、光ファイバに入射させる光パルスのパワーが変動する場合であっても波形歪みや雑音を抑制することができ、高い精度で試験を行うことができるという効果がある。   According to the present invention, the power fluctuation of the optical pulse train output from the optical fiber amplifier is detected, and the level of the light reception signal output from the light receiver is corrected according to the detection result. Even when the power of the optical pulse to be changed fluctuates, it is possible to suppress waveform distortion and noise and to perform an experiment with high accuracy.

以下、図面を参照して本発明の一実施形態による光パルス試験装置について詳細に説明する。図１は、本発明の一実施形態による光パルス試験装置の要部構成を示すブロック図である。図１に示す通り、本実施形態の光パルス試験装置１は、符号生成回路１１、レーザ光源１２、ＥＤＦＡ１３（光ファイバ増幅部）、光カプラ１４、フォトダイオード１５（検出部）、光サーキュレータ１６、受光回路１７（受光部）、増幅回路１８（受光部）、Ａ／Ｄ変換回路１９（受光部）、信号処理部２０、表示装置２１、及びタイミング発生回路２２を備えており、試験対象である光ファイバ４０の特性（伝送損失や障害点までの距離等）を試験する。尚、光ファイバ４０は、例えば石英系のシングルモードファイバである。   Hereinafter, an optical pulse test apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a main configuration of an optical pulse test apparatus according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the optical pulse test apparatus 1 of this embodiment includes a code generation circuit 11, a laser light source 12, an EDFA 13 (optical fiber amplification unit), an optical coupler 14, a photodiode 15 (detection unit), an optical circulator 16, A light receiving circuit 17 (light receiving unit), an amplifier circuit 18 (light receiving unit), an A / D conversion circuit 19 (light receiving unit), a signal processing unit 20, a display device 21, and a timing generation circuit 22 are provided and are test objects. The characteristics of the optical fiber 40 (transmission loss, distance to the fault point, etc.) are tested. The optical fiber 40 is, for example, a quartz-based single mode fiber.

符号生成回路１１は、タイミング発生回路２２から出力されるタイミング信号ＴＭ１に同期して、レーザ光源１２を駆動する駆動信号を出力する。具体的には、レーザ光源１２から射出される光パルス列がゴーレイ符号を用いて符号変調された光パルス列となるような駆動信号（符号）を生成してレーザ光源１２に出力する。ここで、ｎビットのゴーレイ符号は、以下の（１）式で表される２種類の符号列Ａ_ｋ０，Ｂ_ｋ０であり、それぞれ（−１）と（＋１）の要素からなる双極性相関符号である。

The code generation circuit 11 outputs a drive signal for driving the laser light source 12 in synchronization with the timing signal TM1 output from the timing generation circuit 22. Specifically, a drive signal (symbol) is generated so that the optical pulse train emitted from the laser light source 12 becomes an optical pulse train code-modulated using a Golay code, and is output to the laser light source 12. Here, the n-bit Golay code is two kinds of code sequences A _k0 and B _k0 expressed by the following equation (1), and each is a bipolar correlation code including elements (−1) and (+1). It is.

但し、光は負のパワーを有さないため、光パルス試験装置１は、以下の（２）式に示す４種類の符号列Ａ_ｋ，Ｂ_ｋ，￣Ａ_ｋ，￣Ｂ_ｋを用いる。尚、本明細書の文中（数式を除く）においては、表記の都合上、記号「Ａ_ｋ」の上部にバー記号「￣」が付された記号を「￣Ａ_ｋ」と表し、記号「Ｂ_ｋ」の上部にバー記号「￣」が付された記号を「￣Ｂ_ｋ」と表す。

However, since light does not have negative power, the optical pulse test apparatus 1 uses four types of code strings A _k , B _k , ￣A _k , and ￣B _k shown in the following equation (2). In the context of this specification (excluding formula), for convenience of notation, symbols symbol in the upper bar symbol "¯" attached to "A _k" represents a "¯A _k", the symbol "B _A symbol with the bar symbol “￣” added to the upper part of “ _k ” is represented as “￣B _k ”.

レーザ光源１２は、例えばＤＦＢレーザ（Distributed feedback laser：分布帰還型レーザ）等の半導体レーザ素子を備えており、符号生成信号１１から出力される駆動信号に基づいてゴーレイ符号を用いて符号変調された光パルス（光パルス列）を射出する。ＥＤＦＡ１３は、レーザ光源１２から射出されたレーザ光を所定の増幅率をもって増幅する。ここで、ＥＤＦＡ１３の増幅特性について説明する。   The laser light source 12 includes a semiconductor laser element such as a DFB laser (Distributed feedback laser) and is code-modulated using a Golay code based on a drive signal output from the code generation signal 11. An optical pulse (optical pulse train) is emitted. The EDFA 13 amplifies the laser light emitted from the laser light source 12 with a predetermined amplification factor. Here, the amplification characteristic of the EDFA 13 will be described.

図２は、ＥＤＦＡ１３の増幅特性の一例を示す図である。いま、レーザ光源１２から一定のパワーを有する複数の光パルスからなる光パルス列が射出されたとすると、ＥＤＦＡ１３には、図２（ａ）に示す光パルスが入射されることになる。尚、図２においては、符号Ａ_ｋ，￣Ａ_ｋ，Ｂ_ｋ，￣Ｂ_ｋの各々に応じた光パルス列をそれぞれ模式的に図示しておりビットパターン等は実際のものと異なる。これらの光パルス列がＥＤＦＡ１３に入射すると、ＥＤＦＡ１３からは図２（ｂ）に示す通り、符号Ａ_ｋ，￣Ａ_ｋ，Ｂ_ｋ，￣Ｂ_ｋの種類に拘わらず、光パルス列の先頭では高いパワー（波高値）を有するものの、光パルスの後方になるにつれてパワーが徐々に減少するパルス列が出力される。更に、符号を構成するビットパターン毎にビット「１」の数やビット間隔が異なるため、光パルス列全体のパワーや構成する個々の光パルスのパワーも不均一となる。 FIG. 2 is a diagram illustrating an example of amplification characteristics of the EDFA 13. Now, assuming that an optical pulse train composed of a plurality of optical pulses having a constant power is emitted from the laser light source 12, the optical pulse shown in FIG. 2A is incident on the EDFA 13. In FIG. 2, optical pulse trains corresponding to each of the symbols A _k , ￣A _k , B _k , and ￣B _k are schematically shown, and the bit pattern is different from the actual one. When these optical pulse trains are incident on the EDFA 13, as shown in FIG. 2B, the EDFA 13 has a high power at the head of the optical pulse train regardless of the types of the symbols A _k , ￣A _k , B _k , ￣B _k ( A pulse train having a peak value) whose power gradually decreases as it comes behind the optical pulse is output. In addition, since the number of bits “1” and the bit interval are different for each bit pattern constituting the code, the power of the entire optical pulse train and the power of each individual optical pulse are also non-uniform.

光カプラ１４は、ＥＤＦＡ１３から出力されるレーザ光の一部を分岐する。光カプラ１４の分岐比は任意に設定することができるが、光ファイバ４０に入射させる光パルス列のパワー低下を防止する観点からは、分岐比を極力大きく設定して光パルス列の殆どを透過させるのが望ましい。フォトダイオード１５は、光カプラ１４で分岐された光パルス列を受光してＥＤＦＡ１３から出力される光パルス列のパワーを検出する。   The optical coupler 14 branches a part of the laser light output from the EDFA 13. Although the branching ratio of the optical coupler 14 can be set arbitrarily, from the viewpoint of preventing the power drop of the optical pulse train incident on the optical fiber 40, the branching ratio is set as large as possible to transmit most of the optical pulse train. Is desirable. The photodiode 15 receives the optical pulse train branched by the optical coupler 14 and detects the power of the optical pulse train output from the EDFA 13.

光サーキュレータ１６は、光カプラ１４を透過した光パルス列を光ファイバ４０に向けて透過させるとともに、光ファイバ４０からの戻り光を受光回路１７に向けて射出する。尚、光ファイバ４０からの戻り光には、後方レイリー散乱光やフレネル反射光が含まれる。受光回路１７は、光サーキュレータ１６を介した光ファイバ４０からの戻り光を電気信号（受光信号）に変換して増幅回路１８に出力する。ここで、光ファイバ４０からの戻り光、特に後方レイリー散乱光は極めて微弱なため、受光回路１７は高感度のアバランシェ・フォトダイオード（以下、ＡＰＤという）を用いることが多い。ＡＰＤに対する印加電圧（逆バイアス）を増加させることで増倍度を高くすることができ、これにより受光回路１７を高感度にすることができる。   The optical circulator 16 transmits the optical pulse train transmitted through the optical coupler 14 toward the optical fiber 40 and emits return light from the optical fiber 40 toward the light receiving circuit 17. Note that the return light from the optical fiber 40 includes backward Rayleigh scattered light and Fresnel reflected light. The light receiving circuit 17 converts the return light from the optical fiber 40 via the optical circulator 16 into an electric signal (light receiving signal) and outputs it to the amplifier circuit 18. Here, since the return light from the optical fiber 40, particularly the backward Rayleigh scattered light, is extremely weak, the light receiving circuit 17 often uses a high-sensitivity avalanche photodiode (hereinafter referred to as APD). By increasing the applied voltage (reverse bias) to the APD, the degree of multiplication can be increased, thereby making the light receiving circuit 17 highly sensitive.

増幅回路１８は、受光回路１７から出力される受光信号を所定の増幅率で増幅してＡ／Ｄ変換回路１９に出力する。Ａ／Ｄ変換回路１９は、タイミング発生回路２２から出力されるタイミング信号ＴＭ２に同期して、増幅回路１８から出力される受光信号（アナログ信号）をサンプリングしてディジタル信号（受光データ）に変換して信号処理部２０に出力する。尚、Ａ／Ｄ変換回路１９から出力される受光データは、光ファイバ４０からの戻り光の強度変化を示す時系列データである。   The amplification circuit 18 amplifies the light reception signal output from the light reception circuit 17 with a predetermined amplification factor and outputs the amplified signal to the A / D conversion circuit 19. The A / D conversion circuit 19 samples the light reception signal (analog signal) output from the amplification circuit 18 in synchronization with the timing signal TM2 output from the timing generation circuit 22 and converts it into a digital signal (light reception data). To the signal processing unit 20. The light reception data output from the A / D conversion circuit 19 is time-series data indicating the intensity change of the return light from the optical fiber 40.

尚、以下の説明では説明を簡単にするために、Ａ／Ｄ変換回路１９のサンプリング間隔は、レーザ光源１２から射出される光パルス列のビット当たりの時間間隔に等しいとする。例えば、図２に示す符号Ａ_ｋの光パルス列のビット当たりの時間間隔が１００ｎｓｅｃである場合、この光パルス列を光ファイバ４０に入射させて得られる後方散乱光の受光信号を１００ｎｓｅｃ間隔でサンプリングするものとする。 In the following description, the sampling interval of the A / D conversion circuit 19 is assumed to be equal to the time interval per bit of the optical pulse train emitted from the laser light source 12 for the sake of simplicity. For example, when the time interval per bit of the optical pulse train _denoted by reference symbol Ak in FIG. 2 is 100 nsec, the received light signal of backscattered light obtained by making this optical pulse train incident on the optical fiber 40 is sampled at 100 nsec intervals. And

信号処理部２０は、平均化処理部３１、レベル補正部３２（補正部）、及び相関処理部３３を備えており、Ａ／Ｄ変換回路１９から出力される受光データに対して平均化処理、レベル補正処理、相関処理、その他の演算処理を施すことにより光ファイバ４０の特性（伝送損失や障害点までの距離等）を求める。平均化処理部３１は、光ファイバ４０に光パルス列を入射させる度にＡ／Ｄ変換回路１９から出力される受光データを平均化する処理を行う。ここで、光ファイバ４０の試験時に複数回に亘って繰り返し光パルス列を入射させるのは、前述した通り、光ファイバ４０からの戻り光が極めて微弱であるからである。   The signal processing unit 20 includes an averaging processing unit 31, a level correction unit 32 (correction unit), and a correlation processing unit 33, and performs an averaging process on the received light data output from the A / D conversion circuit 19. The characteristics of the optical fiber 40 (transmission loss, distance to the fault point, etc.) are obtained by performing level correction processing, correlation processing, and other arithmetic processing. The averaging processing unit 31 performs a process of averaging received light data output from the A / D conversion circuit 19 every time an optical pulse train is incident on the optical fiber 40. Here, the reason why the optical pulse train is repeatedly incident multiple times during the test of the optical fiber 40 is that the return light from the optical fiber 40 is extremely weak as described above.

尚、符号列Ａ_ｋ，￣Ａ_ｋ，Ｂ_ｋ，￣Ｂ_ｋの各々に応じた光パルス列を光ファイバ４０に入射させたときに得られる受光データ（平均化処理部３１によって平均化処理が行われた受光データ）をそれぞれＳ_Ａ，￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂとする。尚、記号「￣Ｓ_Ａ」は記号「Ｓ_Ａ」の上部にバー記号「￣」を付した記号であり、記号「￣Ｓ_Ｂ」は記号「Ｓ_Ｂ」の上部にバー記号「￣」を付した記号である。 The received light data obtained when the optical pulse train corresponding to each of the code strings A _k , ￣A _k , B _k , and ￣B _k is incident on the optical fiber 40 (the averaging process is performed by the averaging processor 31). The received light data) are S _A , ￣S _A , S _B , and ￣S _B , respectively. Incidentally, the symbol "¯ S _A" is the symbol symbol marked with bar symbol "¯" to the top of the "S _A", the symbol "¯ S _B" upper bar symbol "¯" symbol "S _B" It is a symbol attached.

レベル補正部３２は、平均化処理部３１によって平均化された受光データのレベルを補正する処理を行う。具体的には、フォトダイオード１５の検出結果に基づいて受光データのレベルを補正する。いま、フォトダイオード１５で検出された符号列Ａ_ｋ，￣Ａ_ｋ，Ｂ_ｋ，￣Ｂ_ｋの各々に応じた光パルス列に含まれる個々の光パルスのパワーを以下の（３）式で表す。

The level correction unit 32 performs a process of correcting the level of the light reception data averaged by the averaging processing unit 31. Specifically, the level of the received light data is corrected based on the detection result of the photodiode 15. Now, the power of each optical pulse included in the optical pulse train corresponding to each of the code sequences A _k , ￣A _k , B _k , and ￣B _k detected by the photodiode 15 is expressed by the following equation (3).

また、これらの光パルス列に対応して得られた受光データＳ_Ａ，￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂを以下の（４）式で表す。光ファイバの後方散乱光は光パルスが光ファイバを伝播している間は常に発生しているため、光パルス列の全ての光パルスが光ファイバ出射端まで到達して発生した後方散乱光を受光し、更に、ノイズ測定に入った後に符号変調のビット数以上の受光データを受得しなければ、光ファイバ全長の特性を試験することはできない。以下の（４）式に記載した記号のうち、ｎは符号変調のビット数であり、また、ｍ番目の受光データが光パルス列の先頭光パルスが光ファイバ端で発生させた後方散乱光のものである。

The received light data S _A , ￣S _A , S _B , and ￣S _B obtained corresponding to these optical pulse trains are expressed by the following equation (4). Since the backscattered light of the optical fiber is always generated while the optical pulse propagates through the optical fiber, all the optical pulses in the optical pulse train reach the output end of the optical fiber and receive the backscattered light. In addition, the characteristics of the total length of the optical fiber cannot be tested unless light reception data exceeding the number of bits of code modulation is received after entering the noise measurement. Among the symbols described in the following formula (4), n is the number of bits of code modulation, and the mth received light data is the back scattered light generated at the end of the optical fiber by the first optical pulse of the optical pulse train It is.

レベル補正部３２は、上記（４）式で表された受光データＳ_Ａ，￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂに含まれる第ｘ番目（ｘは１以上であってｎ＋ｍ−１以下の整数）のデータに対して以下の（５）式に示す演算（所定の係数の乗算）を施すことで、受光データのレベルを補正する処理を行う。尚、以下では、レベル補正が行われた受光データＳ_Ａ，￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂを、それぞれ受光データＴ_Ａ，￣Ｔ_Ａ，Ｔ_Ｂ，￣Ｔ_Ｂと表記する。尚、記号「￣Ｔ_Ａ」は記号「Ｔ_Ａ」の上部にバー記号「￣」を付した記号であり、記号「￣Ｔ_Ｂ」は記号「Ｔ_Ｂ」の上部にバー記号「￣」を付した記号である。

Level correction unit 32, the light receiving data expressed by equation (4) _{S A, ¯S A, S B} , the x-th (x is 1 or more n + m-1 or less of integers included in ¯ S _B ) Data is subjected to a calculation (multiplication by a predetermined coefficient) shown in the following equation (5) to correct the level of the received light data. In the following, the light receiving data _S A for level correction is _performed, ¯ S _A, S B, a ¯ S _B, respectively receiving data _{T A, ¯T A, T B} , denoted as ¯t _B. The symbol “￣T _A ” is a symbol in which the bar symbol “」 ”is added above the symbol“ T _A ”, and the symbol“ ＢT _B ”is a bar symbol“ ￣ ”above the symbol“ T _B ”. It is a symbol attached.

ここで、上記（５）式中の変数α，β，ｙ，ｚは、変数ｘの値に応じて以下の値をとる。
１≦ｘ≦ｎ の場合、α＝１，β＝０，ｙ＝ｘ，ｚ＝１
ｎ＋１≦ｘ≦ｍ の場合、α＝１，β＝０，ｙ＝ｎ，ｚ＝１
ｍ＋１≦ｘ≦ｎ＋ｍ−１の場合、α＝１，β＝１，ｙ＝ｎ，ｚ＝ｘ−ｍ Here, the variables α, β, y, z in the above equation (5) take the following values according to the value of the variable x.
When 1 ≦ x ≦ n, α = 1, β = 0, y = x, z = 1
When n + 1 ≦ x ≦ m, α = 1, β = 0, y = n, z = 1
When m + 1 ≦ x ≦ n + m−1, α = 1, β = 1, y = n, z = x−m

つまり、１≦ｘ≦ｎの場合には、上記（５）式に示される受光データＴ_Ａ，￣Ｔ_Ａ，Ｔ_Ｂ，￣Ｔ_Ｂは、分子び分母の第２項目が変数ｚの値に拘わらずそれぞれ０になり、変数ｙ（＝変数ｘ）の値に応じて分子び分母の第１項目の値が変化する式になる。また、ｎ＋１≦ｘ≦ｍの場合には、上記と同様に分子び分母の第２項目が変数ｚの値に拘わらずそれぞれ０になるが、分子び分母の第１項目が定数になって変数ｘの値に応じた値の変動は生じない。 That is, in the case of 1 ≦ x ≦ n, the received light data T _A , ￣T _A , T _B , and ￣T _B shown in the above equation (5) indicates that the second item of the numerator and denominator is the value of the variable z. Regardless, the value becomes 0, and the value of the first item of the numerator and denominator changes according to the value of the variable y (= variable x). In the case of n + 1 ≦ x ≦ m, the second item of the numerator and denominator becomes 0 regardless of the value of the variable z as described above, but the first item of the numerator and denominator becomes a constant and the variable The value does not vary according to the value of x.

また、ｍ＋１≦ｘ≦ｎ＋ｍ−１の場合には、上記（５）式に示される受光データＴ_Ａ，￣Ｔ_Ａ，Ｔ_Ｂ，￣Ｔ_Ｂは、分子び分母の第２項目の値が変数ｚ（＝変数ｘ−ｍ）の値に応じて変化し、分子及び分母の第１項目（定数）からこの第２項目を減算する式になる。尚、レベル補正部３２は、第ｎ＋ｍ番目以降のデータについては補正を行わず、前述した（４）式に示した受光データＳ_Ａ，￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂをそのまま出力する。 In the case of m + 1 ≦ x ≦ n + m-1 , the above (5) receiving data _T A shown in _{formula, ¯T A, T B, ¯T} B , the value of the second item of the molecule beauty denominator variable It changes according to the value of z (= variable x−m), and becomes an expression for subtracting the second item from the first item (constant) of the numerator and denominator. The level correction unit 32 does not correct the n + mth and subsequent data, and outputs the received light data S _A , ￣S _A , S _B , and ￣S _B shown in the above equation (4) as they are.

尚、上記（５）式は、受光データのレベルを受光データＳ_Ａの先頭のデータＳａ_１１のレベルを基準として補正する場合の演算式である。ここで、補正の基準とするデータは必ずしもデータＳａ_１１に限られることはなく、他のデータを基準とすることもできる。他のデータを基準とする場合には、そのデータに応じた演算式を用いて上記（４）式に示す受光データＳ_Ａ，￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂに含まれるデータの各々の補正を行えばよい。 The above equation (5) is an arithmetic expression when correcting the level of the received light data as reference the beginning of the level of data Sa ₁₁ for receiving data S _A. Here, the data used as a reference for correction is not necessarily limited to the data Sa ₁₁ , and other data may be used as a reference. When other data is used as a reference, each of the data included in the received light data S _A , ￣S _A , S _B , ￣S _B shown in the above equation (4) is calculated using an arithmetic expression corresponding to the data. Correction may be performed.

また、ＥＤＦＡ１３から出力される光パルス列のパワー変動は、ＤＥＦＡ１３の特性に依存しており、光パルス列毎に大きく異なるという訳ではない。このため、フォトダイオード１５の検出結果を記憶する記憶部３４を設けておき、この記憶部３４の記憶内容に基づいて受光データのレベルを補正しても良い。ここで、ＥＤＦＡ１３から出力される光パルス列のパワー変動を、定期的に、又はユーザの指示等に応じて不定期にフォトダイオード１５を用いて検出し、記憶部３４の記憶内容を新たに得られたフォトダイオード１５の検出結果に更新するのが望ましい。また、記憶部３４に記憶させる内容は、フォトダイオード１５の検出結果（光パルス列のパワー変動の実測値）ではなく、ＤＥＦＡ１３の特性から求められる変動の傾向を示す情報であっても良い。   In addition, the power fluctuation of the optical pulse train output from the EDFA 13 depends on the characteristics of the DEFA 13 and does not vary greatly for each optical pulse train. For this reason, a storage unit 34 for storing the detection result of the photodiode 15 may be provided, and the level of the received light data may be corrected based on the stored contents of the storage unit 34. Here, the power fluctuation of the optical pulse train output from the EDFA 13 is detected by using the photodiode 15 periodically or irregularly in response to a user instruction or the like, and the contents stored in the storage unit 34 can be newly obtained. It is desirable to update the detection result of the photodiode 15. Further, the content stored in the storage unit 34 may be information indicating the tendency of fluctuation obtained from the characteristics of the DEFA 13, not the detection result of the photodiode 15 (actual measurement value of power fluctuation of the optical pulse train).

相関処理部３３は、レベル補正部３２によってレベル補正処理が行われた受光データＴ_Ａ，￣Ｔ_Ａ，Ｔ_Ｂ，￣Ｔ_Ｂを用いて（Ｔ_Ａ−￣Ｔ_Ａ），（Ｔ_Ｂ−￣Ｔ_Ｂ）なる演算を行った後に相関処理を施すことによって復調する。いま、上記の演算（Ｔ_Ａ−￣Ｔ_Ａ），（Ｔ_Ｂ−￣Ｔ_Ｂ）により得られる演算結果を以下の（６）式で表す。

Correlation processing unit 33, receiving data _T A level correction processing is performed by the level correcting unit _32, ¯T _A, T _B, using _{¯T B (T A -¯T A)} , (T B -¯ Demodulation is performed by performing correlation processing after performing the operation of T _B ). Now, the calculation result obtained by the above calculation (T _A −￣T _A ) and (T _B −￣T _B ) is expressed by the following equation (6).

ここで、相関処理（復調）により得られる値Ｄを以下の（７）式で表すと、（７）式中の値ｄ_ｉは以下の（８）式で表される。尚、変数ｉは１以上の整数である。

即ち、相関処理部３３が、上記（６）式に示される値と前述した（１）式に示した符号列Ａ_ｋ０，Ｂ_ｋ０とを用いて上記（８）式に示す演算（相関処理）を施すことによって復調される。 Here, when the value D obtained by correlation processing (demodulation) is expressed by the following equation (7), the value d _i in the equation (7) is expressed by the following equation (8). The variable i is an integer of 1 or more.

That is, the correlation processing unit 33 uses the value shown in the above equation (6) and the code strings A _k0 and B _k0 shown in the above equation (1) to perform the calculation (correlation processing) shown in the above equation (8). Is demodulated.

表示装置２１は、ＣＲＴ（Cathod Ray Tube）又は液晶表示装置等の表示装置を備えており、信号処理部２０で求められた光ファイバ４０の特性や、信号処理部２０から出力される受光データに所定の信号処理を施して得られた表示データを表示する。この表示データは、戻り光の強度変化（時間変化）を、光パルス試験装置１を基点とした光ファイバ４０の距離に換算したデータである。タイミング発生回路２２は、レーザ光源１２から光パルス列を射出するタイミングを規定するタイミング信号ＴＭ１及びＡ／Ｄ変換回路１９のサンプリングタイミングを規定するタイミング信号ＴＭ２を出力する。   The display device 21 includes a display device such as a CRT (Cathod Ray Tube) or a liquid crystal display device. The display device 21 displays characteristics of the optical fiber 40 obtained by the signal processing unit 20 and received light data output from the signal processing unit 20. Display data obtained by performing predetermined signal processing is displayed. This display data is data obtained by converting the intensity change (time change) of the return light into the distance of the optical fiber 40 with the optical pulse test apparatus 1 as a base point. The timing generation circuit 22 outputs a timing signal TM1 that defines the timing at which an optical pulse train is emitted from the laser light source 12 and a timing signal TM2 that defines the sampling timing of the A / D conversion circuit 19.

次に、上記構成におけるパルス試験装置１を用いた光ファイバ４０の試験時の動作について説明する。タイミング発生回路２２からタイミング信号ＴＭ１が出力されると、符号生成回路１１においてタイミング信号ＴＭ１に同期して駆動信号が生成されてレーザ光源１２に印加される。これにより、レーザ光源１２からは、図２（ａ）に示す符号列Ａ_ｋに応じた光パルス列が射出される。レーザ光源１２から射出された光パルス列はＥＤＦＡ１３に入射して所定の増幅率をもって増幅され、図２（ｂ）に示す通り、光パルス列の先頭では高いパワー（波高値）を有するが、光パルス列の後方になるにつれてパワーが徐々に減少する不均一な光パルス列が出力される。 Next, the operation at the time of testing the optical fiber 40 using the pulse test apparatus 1 having the above configuration will be described. When the timing signal TM 1 is output from the timing generation circuit 22, a drive signal is generated in synchronization with the timing signal TM 1 in the code generation circuit 11 and applied to the laser light source 12. As a result, an optical pulse train corresponding to the code train _Ak shown in FIG. 2A is emitted from the laser light source 12. The optical pulse train emitted from the laser light source 12 enters the EDFA 13 and is amplified with a predetermined amplification factor. As shown in FIG. 2B, the optical pulse train has high power (peak value) at the head of the optical pulse train. A non-uniform optical pulse train whose power gradually decreases as it goes backward is output.

ＥＤＦＡ１３から射出された光パルス列は、殆どが光カプラ１４を透過して光サーキュレータ１６を介して光ファイバ４０に入射して光ファイバ４０中を伝播する。尚、ＥＤＦＡ１３から射出された光パルス列のうち光カプラ１４で分岐されたものはフォトダイオード１５に入射する。これにより、ＥＤＦＡ１３から射出される光パルス列のパワー検出が行われる。この検出結果は信号処理部２０のレベル補正部３２に出力される。   Most of the optical pulse train emitted from the EDFA 13 passes through the optical coupler 14, enters the optical fiber 40 through the optical circulator 16, and propagates through the optical fiber 40. Of the optical pulse train emitted from the EDFA 13, the one branched by the optical coupler 14 enters the photodiode 15. Thereby, the power detection of the optical pulse train emitted from the EDFA 13 is performed. The detection result is output to the level correction unit 32 of the signal processing unit 20.

光パルス列が光ファイバ４０中を伝播することによって後方レイリー散乱光が発生し、光パルス列が光ファイバ４０の他端に至るとフレネル反射光が発生する。これら後方レイリー散乱光及びフレネル反射光を含む戻り光は、光サーキュレータ１６を介して受光回路１７に入射し、受光回路１７に設けられたＡＰＤによって受光信号に変換される。受光回路１７から出力された受光信号は増幅回路１８で増幅された後に、Ａ／Ｄ変換回路１９に入力されて、タイミング発生回路２２から出力されるタイミング信号ＴＭ２に同期してサンプリングされることによりディジタル信号の受光データに変換される。Ａ／Ｄ変換回路１９で変換された受光データは、信号処理部２０の平均化処理部３１に入力されて一時的に記憶される。平均化処理は、後方散乱光が極めて微弱なために行われるもので、タイミング信号ＴＭ１の送出、符号列Ａ_ｋの光パルス列の射出、タイミング信号ＴＭ２の送出、受光データの取得を数万回繰り返して行い受光データＳ_Ａを求める。 As the optical pulse train propagates through the optical fiber 40, backward Rayleigh scattered light is generated. When the optical pulse train reaches the other end of the optical fiber 40, Fresnel reflected light is generated. The return light including the backward Rayleigh scattered light and the Fresnel reflected light is incident on the light receiving circuit 17 via the optical circulator 16 and converted into a light receiving signal by the APD provided in the light receiving circuit 17. The light reception signal output from the light reception circuit 17 is amplified by the amplification circuit 18 and then input to the A / D conversion circuit 19 and is sampled in synchronization with the timing signal TM2 output from the timing generation circuit 22. It is converted into light reception data of a digital signal. The light reception data converted by the A / D conversion circuit 19 is input to the averaging processing unit 31 of the signal processing unit 20 and temporarily stored. Averaging process, in which backscattered light is performed to a very weak, delivery of the timing signal TM1, injection of the optical pulse string of the code sequence A _k, delivery of the timing signal TM2, repeated several thousand times to acquire the received light data seek done receiving data _{S a} Te.

以上の処理が終了すると、符号列￣Ａ_ｋ，Ｂ_ｋ，￣Ｂ_ｋについても上述した処理と同様の手順で受光データを取得して平均化処理を行い、￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂを求める。 When the above process is completed, the code string _{¯A k,} B k, performs averaging processing be acquired received light data in the procedure similar to the processing explained with reference _{¯B k, ¯S A, S B} , ¯S _{Find B.}

平均化処理部３１で求められた受光データＳ_Ａ，￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂは、レベル補正部３２に入力され、フォトダイオード１５の検出結果を用いて、前述した（５）式に示す演算（所定の係数の乗算）が行われる。図３は、レベル補正部３２で行われる処理を定性的に示す図である。図３において、光パルス列ＰＴは光ファイバ４０に入射させる光パルス列である。また、図３中の曲線Ｌ１は図中の光パルス列ＰＴを光ファイバ４０に入射させたときに平均化処理部３１から出力される受光データのレベルを示しており、図３中の曲線Ｌ２はパワーが一定の光パルス列を光ファイバ４０に入射させたときに平均化処理部３１から出力される受光データのレベルを示している。 The received light data S _A , ￣S _A , S _B , and ￣S _B obtained by the averaging processing unit 31 are input to the level correction unit 32, and using the detection result of the photodiode 15, the above-described equation (5) (Calculation of a predetermined coefficient) is performed. FIG. 3 is a diagram qualitatively showing the processing performed by the level correction unit 32. In FIG. 3, an optical pulse train PT is an optical pulse train that enters the optical fiber 40. A curve L1 in FIG. 3 indicates the level of received light data output from the averaging processing unit 31 when the optical pulse train PT in FIG. 3 is incident on the optical fiber 40, and the curve L2 in FIG. The level of received light data output from the averaging processor 31 when an optical pulse train having a constant power is incident on the optical fiber 40 is shown.

光ファイバ４０で生ずる後方散乱光のパワーはパルス列ＰＴのパワーに比例するため、図３に示す通り、パワーが徐々に減少する不均一な光パルス列ＰＴを光ファイバ４０に入射させた場合には、パルス列ＰＴのパワーが減少した分だけ後方散乱光のパワーも減少する。この結果として、図３に示す通り、受光レベル（平均化処理部３１から出力される受光データのレベル）Ｌ１は、パワーが一定の光パルス列を光ファイバ４０に入射させたときに平均化処理部３１から出力される受光データのレベルＬ２よりも低下する。レベル補正部３２は、フォトダイオード１５の検出結果を用いて、前述した（５）式に示す演算を行うことで、図３に示す受光データのレベルＬ１と受光データのレベルＬ２との差Δ１，Δ２，Δ３，Δ４，Δ５，Δ６を補正する処理を行っている。   Since the power of the backscattered light generated in the optical fiber 40 is proportional to the power of the pulse train PT, as shown in FIG. 3, when a non-uniform optical pulse train PT whose power gradually decreases is incident on the optical fiber 40, As the power of the pulse train PT is reduced, the power of the backscattered light is also reduced. As a result, as shown in FIG. 3, the received light level (the level of received light data output from the averaging processing unit 31) L1 is equalized when an optical pulse train having a constant power is incident on the optical fiber 40. The level is lower than the level L2 of the received light data output from 31. The level correction unit 32 uses the detection result of the photodiode 15 to perform the calculation shown in the above-described equation (5), thereby making the difference Δ1, between the light reception data level L1 and the light reception data level L2 shown in FIG. Processing for correcting Δ2, Δ3, Δ4, Δ5, and Δ6 is performed.

以上の補正処理が行われると、レベル補正部３２からはレベル補正処理が行われた受光データＴ_Ａ，￣Ｔ_Ａ，Ｔ_Ｂ，￣Ｔ_Ｂが出力される。相関処理部３３は、レベル補正部３２からの受光データを用いて（Ｔ_Ａ−￣Ｔ_Ａ），（Ｔ_Ｂ−￣Ｔ_Ｂ）なる演算を行った後に、前述した（７）式及び（８）式に示す相関処理を施すことにより復調する。復調されたデータは、例えば表示装置２１に表示され、或いは光ファイバ４０の特性（伝送損失や障害点までの距離等）を求めるために用いられる。 When the above correction processing is performed, received data _T A level correction processing is performed from the level correcting unit _32, ¯T _A, T _B, is ¯t _B is output. The correlation processing unit 33 uses the light reception data from the level correction unit 32 to perform the calculation of (T _A −￣T _A ), (T _B −￣T _B ), and then performs the above-described equations (7) and (8 The signal is demodulated by performing the correlation processing shown in equation (4). The demodulated data is displayed on the display device 21, for example, or used to determine the characteristics of the optical fiber 40 (transmission loss, distance to the fault point, etc.).

図４は、復調されたデータの一例を示す図である。尚、図４においては、横軸は光ファイバ４０の位置をとり、縦軸は復調されたデータの値（データ値）をとっている。図３に示す波形Ｗ１はレベル補正を行わない場合に測定される復調データの波形であり、波形Ｗ２はレベル補正を行った場合に測定される復調データの波形である。レベル補正を行わない場合に観測される波形Ｗ１を参照すると、データ値が大きく変化しており波形歪みや雑音が発生しているのが分かる。これに対し、レベル補正を行った場合に観測される波形Ｗ２を参照すると、データ値の波形歪みや雑音が大幅に低減されているのが分かる。   FIG. 4 is a diagram illustrating an example of demodulated data. In FIG. 4, the horizontal axis represents the position of the optical fiber 40, and the vertical axis represents the demodulated data value (data value). A waveform W1 shown in FIG. 3 is a waveform of demodulated data measured when level correction is not performed, and a waveform W2 is a waveform of demodulated data measured when level correction is performed. Referring to the waveform W1 observed when the level correction is not performed, it can be seen that the data value has changed greatly and waveform distortion and noise have occurred. On the other hand, referring to the waveform W2 observed when level correction is performed, it can be seen that the waveform distortion and noise of the data value are greatly reduced.

以上説明した通り、本実施形態では、ＥＤＦＡ１３から出力される光パルス列のパワー変動をフォトダイオード１５で検出し、平均化処理部３１から得られる受光データＳ_Ａ，￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂをフォトダイオード１５の検出結果に応じて補正している。このため、光ファイバ４０に入射させる光パルス列を構成するそれぞれの光パルスのパワーが不均一であっても波形歪みや雑音を抑制することができ、高い精度で測定することができる。 As described above, in the present embodiment, the light fluctuation of the optical pulse train output from the EDFA 13 is detected by the photodiode 15 and the received light data S _A , ￣S _A , S _B , ￣S obtained from the averaging processing unit 31. _B is corrected according to the detection result of the photodiode 15. For this reason, even if the power of each optical pulse constituting the optical pulse train incident on the optical fiber 40 is not uniform, waveform distortion and noise can be suppressed, and measurement can be performed with high accuracy.

以上、本発明の実施形態による光パルス試験装置について説明したが、本発明は上記実施形態に制限されることなく、本発明の範囲内で自由に変更が可能である。例えば、上記実施形態では、ＥＤＦＡ１３から出力される光パルス列のパワー変動をフォトダイオード１５で動的に検出し、平均化処理部３１から得られる受光データＳ_Ａ，￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂをフォトダイオード１５の検出結果に応じて動的に補正する場合を例に挙げたが、記憶部３４に記憶されている内容に基づいて受光データＳ_Ａ，￣Ｓ_Ａ，Ｓ_Ｂ，￣Ｓ_Ｂの補正を行っても良い。 As mentioned above, although the optical pulse test apparatus by embodiment of this invention was demonstrated, this invention is not restrict | limited to the said embodiment, It can change freely within the scope of the present invention. For example, in the above embodiment, the power fluctuation of the optical pulse train output from the EDFA 13 is dynamically detected by the photodiode 15 and the received light data S _A , ￣S _A , S _B , ￣S obtained from the averaging processing unit 31. _{Although the case where B} is dynamically corrected according to the detection result of the photodiode 15 is taken as an example, the received light data S _A , ￣S _A , S _B , ￣S is based on the contents stored in the storage unit 34. _B may be corrected.

また、上記実施形態では、ＥＤＦＡ１３と光サーキュレータ１６との間に光カプラ１４を設け、光カプラ１４で分岐した光パルス列をフォトダイオード１５で受光することにより、ＥＤＦＡ１３から射出される光パルス列のパワーを検出する場合について説明した。しかしながら、光カプラ１４を省略するとともに光ファイバ４０の他端部から射出される光パルス列をフォトダイオード１５で受光することにより、ＥＤＦＡ１３から射出される光パルス列のパワーを検出しても良い。また、本発明の光パルス試験装置は、上述したゴーレイ符号以外に、バーカー符号等を用いることもできる。   In the above embodiment, the optical coupler 14 is provided between the EDFA 13 and the optical circulator 16, and the optical pulse train branched by the optical coupler 14 is received by the photodiode 15, whereby the power of the optical pulse train emitted from the EDFA 13 is increased. The case of detection has been described. However, the power of the optical pulse train emitted from the EDFA 13 may be detected by omitting the optical coupler 14 and receiving the optical pulse train emitted from the other end of the optical fiber 40 by the photodiode 15. In addition, the optical pulse test apparatus of the present invention can use a Barker code or the like in addition to the Golay code described above.

更に、上記実施形態では、光ファイバ４０中で生ずる後方レイリー散乱光やフレネル反射光を用いて光ファイバ４０の試験を行う光パルス試験装置について説明した。しかしながら、本発明は、光ファイバ４０中で生ずるブリルアン散乱光やラマン散乱光を用いて光ファイバ４０の試験を行う光パルス試験装置にも適用することが可能である。   Furthermore, in the above-described embodiment, the optical pulse test apparatus that tests the optical fiber 40 using the backward Rayleigh scattered light or Fresnel reflected light generated in the optical fiber 40 has been described. However, the present invention can also be applied to an optical pulse test apparatus that tests an optical fiber 40 using Brillouin scattered light or Raman scattered light generated in the optical fiber 40.

本発明の一実施形態による光パルス試験装置の要部構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the principal part structure of the optical pulse test apparatus by one Embodiment of this invention. ＥＤＦＡ１３の増幅特性の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the amplification characteristic of EDFA13. レベル補正部３２で行われる処理を定性的に示す図である。It is a figure which shows qualitatively the process performed in the level correction | amendment part 32. FIG. 復調されたデータの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the demodulated data.

符号の説明Explanation of symbols

１ 光パルス試験装置
１１ 符号生成回路
１２ レーザ光源
１３ ＥＤＦＡ
１５ フォトダイオード
１７ 受光回路
１８ 増幅回路
１９ Ａ／Ｄ変換回路
３２ レベル補正部
３３ 相関処理部
３４ 記憶部
４０ 光ファイバ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical pulse test apparatus 11 Code generation circuit 12 Laser light source 13 EDFA
DESCRIPTION OF SYMBOLS 15 Photodiode 17 Light reception circuit 18 Amplification circuit 19 A / D conversion circuit 32 Level correction part 33 Correlation processing part 34 Memory | storage part 40 Optical fiber

Claims (5)

光ファイバに入射させるべき光パルス列を増幅する光ファイバ増幅部と、当該光ファイバ増幅部から出力される光パルス列を前記光ファイバに入射させて得られる後方散乱光を受光する受光部とを備え、当該受光部から出力される受光信号に基づいて前記光ファイバの特性を試験する光パルス試験装置において、
前記受光部から出力される受光信号のレベルを、前記光ファイバ増幅部から出力される光パルス列のパワー変動に応じて補正する補正部を備えることを特徴とする光パルス試験装置。 An optical fiber amplification unit that amplifies an optical pulse train to be incident on the optical fiber, and a light receiving unit that receives backscattered light obtained by making the optical pulse train output from the optical fiber amplification unit incident on the optical fiber, In the optical pulse test apparatus for testing the characteristics of the optical fiber based on the received light signal output from the light receiving unit,
An optical pulse test apparatus comprising: a correction unit that corrects a level of a light reception signal output from the light receiving unit according to a power fluctuation of an optical pulse train output from the optical fiber amplification unit. 前記光ファイバに入射させるべき光パルス列として、所定の符号変調を行った光パルス列を生成する光パルス列生成部と、
前記補正部でレベルが補正された受光信号に対して相関処理を施すことにより復調を行う相関処理部と
を備えることを特徴とする請求項１記載の光パルス試験装置。 As an optical pulse train to be incident on the optical fiber, an optical pulse train generator that generates an optical pulse train that has been subjected to predetermined code modulation;
The optical pulse test apparatus according to claim 1, further comprising: a correlation processing unit that performs demodulation by performing correlation processing on the received light signal whose level is corrected by the correction unit. 前記光ファイバ増幅部から出力される光パルス列及び前記光ファイバを透過した光パルス列の何れか一方のパワーを検出する検出部を備えており、前記補正部は当該検出部の検出結果に基づいて前記受光信号のレベルを補正することを特徴とする請求項１又は請求項２記載の光パルス試験装置。   A detector that detects the power of either the optical pulse train output from the optical fiber amplifier or the optical pulse train transmitted through the optical fiber, and the correction unit is configured based on the detection result of the detector. 3. The optical pulse test apparatus according to claim 1, wherein the level of the received light signal is corrected. 前記光ファイバ増幅部から出力される光パルス列のパワー変動を記憶する記憶部を備えており、前記補正部は前記記憶部の記憶内容に基づいて前記受光信号のレベルを補正することを特徴とする請求項１又は請求項２記載の光パルス試験装置。   A storage unit for storing power fluctuations of the optical pulse train output from the optical fiber amplification unit is provided, and the correction unit corrects the level of the received light signal based on the storage content of the storage unit. The optical pulse test apparatus according to claim 1 or 2. 前記光ファイバ増幅部から出力される光パルス列及び前記光ファイバを透過した光パルス列の何れか一方のパワーを検出する検出部を備えており、前記記憶部の記憶内容は前記検出部の検出結果に更新されることを特徴とする請求項４記載の光パルス試験装置。   A detector that detects the power of one of the optical pulse train output from the optical fiber amplifier and the optical pulse train transmitted through the optical fiber, and the storage content of the storage unit is the detection result of the detector; 5. The optical pulse testing device according to claim 4, wherein the optical pulse testing device is updated.

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