JP2009135297A - アライメントマークの検出装置及び方法 - Google Patents
アライメントマークの検出装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009135297A JP2009135297A JP2007310729A JP2007310729A JP2009135297A JP 2009135297 A JP2009135297 A JP 2009135297A JP 2007310729 A JP2007310729 A JP 2007310729A JP 2007310729 A JP2007310729 A JP 2007310729A JP 2009135297 A JP2009135297 A JP 2009135297A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- imaging
- alignment mark
- substrate
- area
- mark
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Image Input (AREA)
Abstract
【解決手段】 アライメントマークの検出方法において、今回の基板8のアライメントマークM1を検出するときに、CCDカメラ37の撮像領域を、前回の基板8のマーク存在領域Rに最初に位置付けるように移動装置41を制御し、前回の基板8のマーク存在領域RでアライメントマークM1を検出できなかったときに、CCDカメラ37の撮像領域を、このマーク存在領域Rを出発点とし、かつ、検出範囲B内におけるサーチテーブルCに従う撮像順序で各撮像領域に順に位置付けるように移動装置41を制御するもの。
【選択図】 図5
Description
液晶表示パネルの製造装置1は、図8に示す如く、以下の装置からなり、液晶表示パネル6は、概略、以下の工程を経て製造される。
(1)CCDカメラ37により今回の基板8の第1のアライメントマークM1を検出するときに、CCDカメラ37の撮像領域を、前回の基板8の第1のアライメントマークM1のマーク存在領域Rに最初に位置付けるように、移動装置41を制御する。
(1)CCDカメラ37により今回の基板8の第2のアライメントマークM2を検出するときに、第1のアライメントマークM1の検出結果から第1のアライメントマークM1の傾き(十字状アライメントマークM1の例えば横線の傾き)を算出し、基板8の設計段階で予め定めてある第1と第2のアライメントマークM1、M2の相対位置関係と、第1のアライメントマークM1の上述の傾きから、第2のアライメントマークM2が位置するはずのマーク予想領域Eを算出し、このマーク予想領域EにCCDカメラ37の撮像領域を最初に位置付けるように移動装置41を制御する。
15 基板ステージ
36 制御装置
37 CCDカメラ(撮像装置)
40 アライメントマーク検出装置
41 移動装置
42 検出手段
43 記憶手段
A 基準撮像領域
B 検出範囲
C サーチテーブル
R マーク存在領域
E マーク予想領域
M1、M2 アライメントマーク
Claims (4)
- 基板を載置する基板ステージと、
基板におけるアライメントマークが付された表面を撮像する撮像装置と、
基板ステージと撮像装置とを基板の表面に沿う方向にて相対移動させ、撮像装置による撮像領域を基板の表面上で移動させる移動装置と、
撮像装置による撮像画像からアライメントマークを検出する検出手段とを有するアライメントマークの検出装置において、
記憶手段と制御装置を有し、
記憶手段は、
基板が理想的な状態で基板ステージ上に載置されたときにアライメントマークが位置するはずの位置に撮像領域の中心が一致する基準撮像領域と、
基準撮像領域を含むように設定された複数の撮像領域分の大きさを有する範囲で、移動装置が移動させる撮像装置による撮像領域の移動範囲を定める検出範囲と、
検出範囲における複数の撮像領域を渦巻状に移動する順に各撮像領域の撮像順序を定めるサーチテーブルと、
検出範囲においてアライメントマークが検出された撮像領域であるマーク存在領域とを、それぞれ記憶可能とし、
制御装置は、
今回の基板のアライメントマークを検出するときに、撮像装置の撮像領域を、前回の基板のマーク存在領域に最初に位置付けるように移動装置を制御し、
前回の基板のマーク存在領域でアライメントマークを検出できなかったときに、撮像装置の撮像領域を、このマーク存在領域を出発点とし、かつ、検出範囲内におけるサーチテーブルに従う撮像順序で各撮像領域に順に位置付けるように移動装置を制御することを特徴とするアライメントマークの検出装置。 - 基板における第1と第2のアライメントマークを検出する請求項1に記載のアライメントマークの検出装置であって、
制御装置は、
今回の基板の第1のアライメントマークを検出するときに、撮像装置の撮像領域を、前回の基板の第1のアライメントマークのマーク存在領域に最初に位置付けるように移動装置を制御し、
前回の基板の第1のアライメントマークのマーク存在領域で第1のアライメントマークを検出できなかったときに、撮像装置の撮像領域を、このマーク存在領域を出発点とし、かつ、検出範囲内におけるサーチテーブルに従う撮像順序で各撮像領域に順に位置付けるように移動装置を制御し、
今回の基板の第2のアライメントマークを検出するときに、第1のアライメントマークの検出結果から第1のアライメントマークの傾きを算出し、第1と第2のアライメントマークの予め定めてある相対位置関係と第1のアライメントマークの上述の傾きから、第2のアライメントマークが位置するはずの領域を算出し、この領域に撮像装置の撮像領域を最初に位置付けるように移動装置を制御し、
第2のアライメントマークが位置するはずの領域で第2のアライメントマークを検出できなかったときに、撮像装置の撮像領域を、この第2のアライメントマークが位置するはずの領域を出発点とし、かつ、検出範囲内におけるサーチテーブルに従う撮像順序で各撮像領域に順に位置付けるように移動装置を制御するアライメントマークの検出装置。 - 基板ステージと撮像装置とを基板の表面に沿う方向にて相対移動させ、撮像装置による撮像領域を基板の表面上で移動させ、
撮像装置による撮像画像からアライメントマークを検出するアライメントマークの検出方法において、
記憶手段により、
基板が理想的な状態で基板ステージ上に載置されたときにアライメントマークが位置するはずの位置に撮像領域の中心が一致する基準撮像領域と、
基準撮像領域を含むように設定された複数の撮像領域分の大きさを有する範囲で、移動装置が移動させる撮像装置による撮像領域の移動範囲を定める検出範囲と、
検出範囲における複数の撮像領域を渦巻状に移動する順に各撮像領域の撮像順序を定めるサーチテーブルと、
検出範囲においてアライメントマークが検出された撮像領域であるマーク存在領域とを、それぞれ記憶し、
制御装置により、
今回の基板のアライメントマークを検出するときに、撮像装置の撮像領域を、前回の基板のマーク存在領域に最初に位置付けるように移動装置を制御し、
前回の基板のマーク存在領域でアライメントマークを検出できなかったときに、撮像装置の撮像領域を、このマーク存在領域を出発点とし、かつ、検出範囲内におけるサーチテーブルに従う撮像順序で各撮像領域に順に位置付けるように移動装置を制御することを特徴とするアライメントマークの検出方法。 - 基板における第1と第2のアライメントマークを検出する請求項3に記載のアライメントマークの検出方法であって、
制御装置により、
今回の基板の第1のアライメントマークを検出するときに、撮像装置の撮像領域を、前回の基板の第1のアライメントマークのマーク存在領域に最初に位置付けるように移動装置を制御し、
前回の基板の第1のアライメントマークのマーク存在領域で第1のアライメントマークを検出できなかったときに、撮像装置の撮像領域を、このマーク存在領域を出発点とし、かつ、検出範囲内におけるサーチテーブルに従う撮像順序で各撮像領域に順に位置付けるように移動装置を制御し、
今回の基板の第2のアライメントマークを検出するときに、第1のアライメントマークの検出結果から第1のアライメントマークの傾きを算出し、第1と第2のアライメントマークの予め定めてある相対位置関係と第1のアライメントマークの上述の傾きから、第2のアライメントマークが位置するはずの領域を算出し、この領域に撮像装置の撮像領域を最初に位置付けるように移動装置を制御し、
第2のアライメントマークが位置するはずの領域で第2のアライメントマークを検出できなかったときに、撮像装置の撮像領域を、この第2のアライメントマークが位置するはずの領域を出発点とし、かつ、検出範囲内におけるサーチテーブルに従う撮像順序で各撮像領域に順に位置付けるように移動装置を制御するアライメントマークの検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007310729A JP5171230B2 (ja) | 2007-11-30 | 2007-11-30 | アライメントマークの検出装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007310729A JP5171230B2 (ja) | 2007-11-30 | 2007-11-30 | アライメントマークの検出装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009135297A true JP2009135297A (ja) | 2009-06-18 |
JP5171230B2 JP5171230B2 (ja) | 2013-03-27 |
Family
ID=40866909
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007310729A Active JP5171230B2 (ja) | 2007-11-30 | 2007-11-30 | アライメントマークの検出装置及び方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5171230B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101618792B1 (ko) | 2014-11-11 | 2016-05-09 | 주식회사 트윔 | 패널 얼라인 장치 |
KR101806114B1 (ko) | 2016-08-01 | 2017-12-07 | 주식회사 트윔 | 초고속 패널 얼라인 시스템 |
CN109407480A (zh) * | 2018-11-26 | 2019-03-01 | 合肥芯碁微电子装备有限公司 | 一种光刻机搜索对位mark的方法及*** |
CN113690162A (zh) * | 2021-08-09 | 2021-11-23 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种对位标记的抓取方法及基板的对位方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1022201A (ja) * | 1996-07-04 | 1998-01-23 | Nikon Corp | アライメントマーク検出装置 |
JPH11251232A (ja) * | 1998-03-02 | 1999-09-17 | Nikon Corp | 基板および露光装置および素子製造方法 |
JPH11329950A (ja) * | 1998-05-13 | 1999-11-30 | Nikon Corp | 位置検出方法、露光方法及び露光装置 |
JP2000305274A (ja) * | 1999-04-20 | 2000-11-02 | Ushio Inc | 露光装置 |
-
2007
- 2007-11-30 JP JP2007310729A patent/JP5171230B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1022201A (ja) * | 1996-07-04 | 1998-01-23 | Nikon Corp | アライメントマーク検出装置 |
JPH11251232A (ja) * | 1998-03-02 | 1999-09-17 | Nikon Corp | 基板および露光装置および素子製造方法 |
JPH11329950A (ja) * | 1998-05-13 | 1999-11-30 | Nikon Corp | 位置検出方法、露光方法及び露光装置 |
JP2000305274A (ja) * | 1999-04-20 | 2000-11-02 | Ushio Inc | 露光装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101618792B1 (ko) | 2014-11-11 | 2016-05-09 | 주식회사 트윔 | 패널 얼라인 장치 |
KR101806114B1 (ko) | 2016-08-01 | 2017-12-07 | 주식회사 트윔 | 초고속 패널 얼라인 시스템 |
CN109407480A (zh) * | 2018-11-26 | 2019-03-01 | 合肥芯碁微电子装备有限公司 | 一种光刻机搜索对位mark的方法及*** |
CN109407480B (zh) * | 2018-11-26 | 2021-06-04 | 合肥芯碁微电子装备股份有限公司 | 一种光刻机搜索对位mark的方法及*** |
CN113690162A (zh) * | 2021-08-09 | 2021-11-23 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种对位标记的抓取方法及基板的对位方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5171230B2 (ja) | 2013-03-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11395410B2 (en) | Method and apparatus for automatically adjusting dispensing units of a dispenser | |
US7833572B2 (en) | Method and apparatus for dispensing a viscous material on a substrate | |
JP6078298B2 (ja) | 位置補正機能を有する作業装置および作業方法 | |
KR20160125971A (ko) | 마킹 장치 및 패턴 생성 장치 | |
TWI527142B (zh) | Electrolytic coating apparatus and electric paste coating method and grain bonding device | |
JP2010262271A (ja) | 基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法 | |
CN101859036B (zh) | 基板贴合装置和基板贴合方法 | |
JP5171230B2 (ja) | アライメントマークの検出装置及び方法 | |
JP2007233384A (ja) | ペーストパターン検査方法 | |
JP2008015314A (ja) | 露光装置 | |
JP2007189073A (ja) | 露光装置 | |
JP2010036070A (ja) | ノズル位置補正機構およびそれを備える塗布装置 | |
JP4829006B2 (ja) | 露光装置 | |
KR102119515B1 (ko) | 펠리클 오염물질 제거 장치 | |
JP4901451B2 (ja) | 部品実装装置 | |
JP2007136332A (ja) | ペースト塗布装置及びペーストの塗布方法。 | |
JP2009066576A (ja) | 塗布装置及び表示装置の製造方法 | |
JP2007189074A (ja) | 露光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101126 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120518 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120523 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120721 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121218 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121225 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5171230 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |