JP2009117561A - 照明装置、該照明装置に用いられる空間光変調ユニット、露光装置、及びデバイスの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 照明瞳面に形成する瞳輝度分布の制御性を向上させる
【解決手段】 光源部(1)からの光に基づいて照明瞳面(5b)に所定の光強度分布を形成し、被照射面をケーラー照明する照明装置は、二次元的に配列された複数の反射面(SE1)を備え、複数の反射面の姿勢がそれぞれ独立に制御可能な空間光変調器と;この空間光変調器の前記複数の反射面を経由することによって角度分布が与えられた光を集光して、前記照明瞳面に所定の光強度分布を形成する集光光学系(4)とを備え、反射面の大きさをD、反射面の曲率半径をr、光源部(1)からの光の波長をλとするとき、
0.8 ≦ D2 /(r*λ) ≦ 5
を満足する。
【選択図】図5
【解決手段】 光源部(1)からの光に基づいて照明瞳面(5b)に所定の光強度分布を形成し、被照射面をケーラー照明する照明装置は、二次元的に配列された複数の反射面(SE1)を備え、複数の反射面の姿勢がそれぞれ独立に制御可能な空間光変調器と;この空間光変調器の前記複数の反射面を経由することによって角度分布が与えられた光を集光して、前記照明瞳面に所定の光強度分布を形成する集光光学系(4)とを備え、反射面の大きさをD、反射面の曲率半径をr、光源部(1)からの光の波長をλとするとき、
0.8 ≦ D2 /(r*λ) ≦ 5
を満足する。
【選択図】図5
Description
本発明は、照明装置、この照明装置に用いられる空間光変調ユニット、露光装置、及びデバイスの製造方法に関する。
従来、露光装置において変形照明用の瞳輝度分布(例えば二極、四極等)を形成する空間変調器として、反射型の空間光変調器が知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1では、複数の反射面の姿勢を個別に制御して反射する光に所望の角度分布を与え、集光光学系によりその角度分布を位置の分布に変更している。
特開2002−353105号公報
特許文献1に記載されるような空間光変調器において、複数の反射面の形状が理想的な平面から逸脱すると、照明瞳面に形成する瞳輝度分布を所望の分布に制御することが困難となる。
本発明の一実施形態は、照明瞳面に形成する瞳輝度分布の制御性を向上させることを目的とする。
上述の目的を達成するため、本発明の1つの実施態様にかかる照明装置は、光源部からの光に基づいて照明瞳面に所定の光強度分布を形成し、該所定の光強度分布を光源として被照射面をケーラー照明する照明装置であって、
二次元的に配列された複数の反射面を備え、該複数の反射面の姿勢がそれぞれ独立に制御可能な空間光変調器と、
該空間光変調器の前記複数の反射面を経由することによって角度分布が与えられた光を集光して、前記照明瞳面に所定の光強度分布を形成する集光光学系とを備え、
0.8 ≦ D2 /(r*λ) ≦ 5
を満足することを特徴とする。
但し、
D:前記空間光変調器の前記反射面の大きさ、
r:前記空間光変調器の前記反射面の曲率半径、
λ:前記空間光変調器に入射する光の波長、
である。
二次元的に配列された複数の反射面を備え、該複数の反射面の姿勢がそれぞれ独立に制御可能な空間光変調器と、
該空間光変調器の前記複数の反射面を経由することによって角度分布が与えられた光を集光して、前記照明瞳面に所定の光強度分布を形成する集光光学系とを備え、
0.8 ≦ D2 /(r*λ) ≦ 5
を満足することを特徴とする。
但し、
D:前記空間光変調器の前記反射面の大きさ、
r:前記空間光変調器の前記反射面の曲率半径、
λ:前記空間光変調器に入射する光の波長、
である。
また、本発明の1つの実施態様にかかる露光装置は、所定のパターンを照明するための上述の照明装置を備え、前記所定のパターンを感光性基板に露光することを特徴とする。
また、本発明の1つの実施態様にかかるデバイス製造方法は、上述の露光装置を用いて、前記所定のパターンを前記感光性基板に露光する露光工程と、
前記パターンが転写された前記感光性基板を現像し、前記パターンに対応する形状のマスク層を前記感光性基板の表面に形成する現像工程と、
前記マスク層を介して前記感光性基板の表面を加工する加工工程とを含むことを特徴とする。
前記パターンが転写された前記感光性基板を現像し、前記パターンに対応する形状のマスク層を前記感光性基板の表面に形成する現像工程と、
前記マスク層を介して前記感光性基板の表面を加工する加工工程とを含むことを特徴とする。
また、本発明の1つの実施態様にかかる空間光変調器は、光源部からの光に基づいて照明瞳面に所定の光強度分布を形成し、該所定の光強度分布を光源として被照射面をケーラー照明する照明装置に用いられる空間光変調器であって、
二次元的に配列されて、それぞれの姿勢が独立に制御可能な複数の反射面を備え、
前記空間光変調器と前記照明瞳面との間の光路中に配置される集光光学系に向けて、前記複数の反射面を経由した角度分布を有する光を入力し、
0.8 ≦ D2 /(r*λ) ≦ 5
を満足することを特徴とする。
但し、
D:前記空間光変調器の前記反射面の大きさ、
r:前記空間光変調器の前記反射面の曲率半径、
λ:前記空間光変調器に入射する光の波長、
である。
二次元的に配列されて、それぞれの姿勢が独立に制御可能な複数の反射面を備え、
前記空間光変調器と前記照明瞳面との間の光路中に配置される集光光学系に向けて、前記複数の反射面を経由した角度分布を有する光を入力し、
0.8 ≦ D2 /(r*λ) ≦ 5
を満足することを特徴とする。
但し、
D:前記空間光変調器の前記反射面の大きさ、
r:前記空間光変調器の前記反射面の曲率半径、
λ:前記空間光変調器に入射する光の波長、
である。
本発明の一実施態様によれば、空間光変調器の反射面での回折による影響と、当該反射面の形状誤差に起因する影響との双方が小さくなるように、反射面の大きさや形状を設定できるため、照明瞳面に形成する瞳輝度分布の制御性が向上する。
本発明の実施形態を、添付図面に基づいて説明する。図1は、本発明の実施形態にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。図1において、感光性基板であるウェハWの法線方向に沿ってZ軸を、ウェハWの面内において図1の紙面に平行な方向にY軸を、ウェハWの面内において図1の紙面に垂直な方向にX軸をそれぞれ設定している。
図1を参照すると、本実施形態の露光装置EAは、装置の光軸Axに沿って、光源1と、空間光変調ユニット3を備える照明装置ILと、マスクMを支持するマスクステージMSと、投影光学系PLと、ウェハWを支持するウェハステージWSとを備える。露光装置EAは、光源1からの光に基づいて照明装置ILを用いてマスクMを照明し、投影光学系PLを用いてマスクMのパターンが形成された面(第1面)の像を、ウェハW上の面(第2面)に投影する。また、光源1から供給される光によってマスクMのパターンが形成された面(第1面)を照明する照明装置ILは、空間光変調ユニット3によって例えば二極、四極等の変形照明を行う。
照明装置ILは、光軸Axに沿って、偏光制御部2と、空間光変調ユニット3と、ズーム光学系4と、フライアイレンズ5と、コンデンサ光学系6と、照明視野絞り(マスクブラインド)7と、視野絞り結像光学系8とを備える。
空間光変調ユニット3は、偏光制御部2を介した光源1からの光に基づいて、その遠視野領域(フラウンホーファー回折領域)に所望の瞳輝度分布(瞳強度分布)を形成する。なお、偏光制御部2は例えば米国特許公開第2006/0055834A1号公報に開示されている。
フライアイレンズ5は、入射した光に対し波面分割を施し、その後側焦点面にレンズ素子と同数の光源像からなる二次光源を形成する。フライアイレンズ5としては、例えばシリンドリカルマイクロフライアイレンズとすることができる。このようなシリンドリカルマイクロフライアイレンズは例えば米国特許第6913373号公報に開示されている。
本例では、被照射面に配置されるマスクMをフライアイレンズ5が形成する二次光源を光源としてケーラー照明しているため、この二次光源が形成される面は、投影光学系PLの開口絞りと共役な面となり、照明装置ILの照明瞳面と呼ぶことができる。典型的には、照明瞳面に対して被照射面(マスクMが配置される面又はウェハWが配置される面)が光学的なフーリエ変換面となる。
なお、瞳輝度分布とは、照明装置ILの照明瞳面又は当該照明瞳面と共役な面における輝度分布であるが、フライアイレンズ5による波面分割数が大きな場合には、フライアイレンズ5の入射面に形成される大局的な輝度分布と、二次光源全体の大局的な輝度分布(瞳輝度分布)とが高い相関を示すため、フライアイレンズ5の入射面及び当該入射面と共役な面における輝度分布についても瞳輝度分布と称することができる。
コンデンサ光学系6は、フライアイレンズ5を射出した光を集光し、照明視野絞り7を重畳的に照明する。照明視野絞り7からの光は、視野絞り結像光学系8によって所定のパターンが形成されたマスクMに達し、マスクMのパターン形成領域の少なくとも一部に照明視野絞り7の開口部の像である照明領域を形成する。なお、図1では、光軸を折り曲げるための光路折曲げミラーを省略しているが、必要に応じて光路折曲げミラーを配置することが可能である。マスクステージMSには、マスクMが載置される。
投影光学系PLは、照明装置ILによってマスクMのパターン面(第1面)上に形成される照明領域からの光に基づいて、ウェハステージWS上に載置されたウェハWの投影面(第2面)Wa上に第1面の像を形成する。
こうして、投影光学系PLの光軸AXと直交する平面(XY平面)内においてウェハステージWSを二次元的に駆動制御しながら、ひいてはウェハWを二次元的に駆動制御しながら一括露光またはスキャン露光を行うことにより、ウェハWの各露光領域にはマスクMのパターンが順次露光される。
次に、図2及び図3を参照して空間光変調ユニットSM1の構成を説明する。図2は、図1に示された空間光変調ユニット3及びズームレンズ4を示す図である。図3(a)は、空間光変調ユニット3が備える空間光変調器3aの部分斜視図であり、図3(b)は空間光変調器3aが備える複数の要素ミラーのうちの1つを示す部分斜視図であり、図3(c)は図3(b)に示した要素ミラーのAA’断面図である。なお、図2及び図3では見易さのため、その断面へのハッチングの付与は省略している。
図2に示されるように、空間光変調ユニット3は、プリズム3bと、プリズム3bに一体的に取り付けられた反射型の空間光変調器3aとを備える。プリズム3bは、例えば蛍石をその硝材とする。プリズム3bは、直方体のうち1つの側面がV字状の楔形に凹んだ形状を呈し、Kプリズムとも呼ばれる。プリズム3bでは直方体のうちの1つの側面が、接線(直線)P1aが内側に窪むようにして鈍角をなして交差する2つの平面PS1、PS2(第1及び第2の平面PS1、PS2)によって構成されている。空間光変調器3aは、接線P1aで接するこの2つの側面の双方に対向する側面上に取り付けられる。なお、プリズム3aを形成する光学材料としては、蛍石に限定されず、石英ガラスであっても良く、他の光学ガラスであっても良い。
接線P1aで接するこの2つの側面の内面は第1及び第2の反射面R11、R12として機能する。従って、第1の反射面R11は、第1の平面PS1上に位置する。第2の反射面R12は第1の平面PS1と交差する第2の平面PS2上に位置する。第1及び第2の反射面R11、R12同士のなす角は鈍角である。
ここで、例えば、第1及び第2の反射面R11、R12同士のなす角を120度とし、光軸Axに垂直なプリズムP1の側面と第1の反射面R11とのなす角を60度とし、光軸Axに垂直なプリズムP1の側面と第2の反射面R12とのなす角を60度としてもよい。
プリズム3bは、空間光変調器3aが取り付けられる側面と光軸Axとが平行となり、且つ第1の反射面R11が光源1側(露光装置EAの上流側)に、第2の反射面R12がフライアイレンズ5側(露光装置EAの下流側)に位置するように配置される。したがって、プリズム3bの第1の反射面R11は、図3に示されるように、露光装置EAの光軸Axに対して斜設される。プリズム3bの第2の反射面R12は、図3に示されるように、露光装置EAの光軸Axに対して第1の反射面R11とは反対方向の傾斜をもって斜設される。
プリズム3bの第1の反射面R11は、露光装置EAの光軸Axと平行に入射した光を反射する。空間光変調器3aは、第1の反射面R11と第2の反射面R12との間の光路中に配置され、第1の反射面R11で反射した光を反射する。プリズム3bの第2の反射面R12は、空間光変調器3aで反射した光を反射して露光装置EAの照明装置IL中、具体的にはズーム光学系4に射出する。
従って、第1及び第2の平面PS1、PS2によって形成される稜線である接線Paは第1及び第2の反射面R11、R12に対して空間光変調器S1側に向けられている。
なお、本例では、プリズム3bを1つの光学ブロックで一体的に形成したが、複数の光学ブロックを用いてプリズム3bを構成しても良い。
空間光変調器3aは、第1の反射面R11で反射した光の空間光変調器S1に入射する位置に応じて、その光に空間的な変調を与える。空間光変調器3aは後述するように、二次元的に配列された多数の微小な要素ミラーSE1を含む。
そのため、例えば、空間光変調器3aに入射する光束のうち光線L1は空間光変調器3aの複数の要素ミラーSE1のうち要素ミラーSE1aに、光線L2は空間光変調器3aの複数の要素ミラーSE1のうち要素ミラーSE1aとは異なる要素ミラーSE1bに、光線L3は空間光変調器3aの複数の要素ミラーSE1のうち要素ミラーSE1a,SE1bとは異なる要素ミラーSE1cに、光線L4は空間光変調器3aの複数の要素ミラーSE1のうち要素ミラーSE1a〜SE1cとは異なる要素ミラーSE1dにそれぞれ入射する。要素ミラーSE1a〜SE1dはそれぞれ、その位置に応じて設定された空間的な変調を光L1〜L4に与える。
また、空間光変調器3bは、第2の反射面R12で反射してズーム光学系4に射出する光が第1の反射面R11への入射光と平行になるように光を変調する。
プリズム3bに光L1〜L4が入射する入射面IP1から、要素ミラーSE1a〜SE1dを経て光がプリズム3bから射出する射出面OPまでの空気換算長と、プリズム3bが露光装置EA中に配置されていない場合における入射面IPに相当する位置から射出面OPに相当する位置までの空気換算長が同じであるように、プリズム3bは配置される。ここで、空気換算長とは、光学系中の光路長を屈折率lの空気に換算したときの光路長として表したものであり、屈折率nの媒質中の空気換算長は、その光路長にl/nを乗じたものである。
また、空間光変調器3aは、集光光学系とみなすことのできるズーム光学系4の前側焦点位置の近傍に配置されている。空間光変調器3aの複数の要素ミラーSE1a〜SE1dによって反射されて所定の角度分布が与えられた光は、ズーム光学系4の後側焦点面5aに所定の光強度分布SP1〜SP4を形成する。すなわち、ズーム光学系4は、空間光変調器3aの複数の要素ミラーSE1a〜SE1dが射出光に与える角度を、空間光変調器3aの遠視野領域(フラウンホーファー回折領域)である面5a上での位置に変換している。
図1に戻って、この面5aの近傍には、フライアイレンズ5の入射面が位置決めされており、フライアレンズ5が形成する二次光源の強度分布(輝度分布)は、空間光変調器3a及びズーム光学系4が形成する光強度分布SP1〜SP4に応じた分布となる。
さて、空間光変調器3aは、図5(a)に示されるように、平面形状の反射面を上面にして敷き詰められた多数の微小な反射素子である要素ミラーSE1を含む可動マルチミラーである。各要素ミラーSE1は可動であり,その反射面の傾き、すなわち反射面の傾斜角および傾斜方向は制御系により独立に駆動制御される。各要素ミラーSE1は、その反射面に平行な二方向であって、互いに直交する二方向を回転軸として所望の回転角度だけ連続的或いは離散的に回転することができる。すなわち、各要素ミラーSE1は、反射面に沿った二次元で傾斜を制御することが可能である。なお、離散的に回転する場合には、回転角を複数の状態(例えば、・・・、−2.5度、−2.0度、・・・0度、+0.5度・・・+2.5度、・・・)で制御することが良い。
ここでは,要素ミラーSE1の外形は正方形としているが,これに限定するものではない。ただし,光利用効率の観点から,隙間無く配列可能な形状(最密充填可能な形状)が好ましい。また,隣接する要素ミラーSE1間の間隔は必要最小限とすることが好ましい。
図5(b)は、空間光変調器3aの複数の要素ミラーSE1のうちの1つの要素ミラーの構成を概略的に示す図である。また、図5(c)は、図5(b)のAA’断面図である。図5(b)及び(c)において、要素ミラーSE1は、ベース30と、このベース30上に設けられた支柱31と、ベース30と反対側で支柱31と接続される板状部材32と、この板状部材32上に形成された反射膜からなる反射面33と、ベース30上で支柱31を取り囲むように配置された4つの電極34a〜34dとを備える。
ここで、板状部材32は、支柱31との接続部位が支点となるようにベース30と平行な面上の互いに直交する2軸回りに傾斜可能である。そして、板状部材32の4つの頂点のベース側の位置のそれぞれに配置された電極34a〜34dに電位を付与することにより、各電極34a〜34dと板状部材32との間に静電力を発生させ、各電極34a〜34dと板状部材32との間隔を変化させる。これにより、板状部材32が支柱31を支点にして傾斜し、ひいては板状部材32上に形成される反射面33が傾斜する。
さて、空間光変調器3aの複数の要素ミラーSE1a〜SE1dによって反射されてズーム光学系4の後側焦点面5aに形成される所定の光強度分布SP1〜SP4は、各要素ミラーSE1a〜SE1dのフラウンホーファー回折像である。ここで、1つの光強度分布SP1の一断面(x方向断面)での分布を図4に示す。
この光強度分布SP1の強度Iは、
@0001
で表される。
で表される。
ここで、
I0 :光強度分布SP1の中心での強度(定数項)
D:要素ミラーの大きさ、
λ:要素ミラーに入射(から射出)する光の波長、
f:ズーム光学系4の焦点距離、
である。
I0 :光強度分布SP1の中心での強度(定数項)
D:要素ミラーの大きさ、
λ:要素ミラーに入射(から射出)する光の波長、
f:ズーム光学系4の焦点距離、
である。
この光強度分布SP1の幅B(要素ミラーの回折ボケ幅B)は、
@0002
となる。
となる。
(2)式より、空間光変調器3aの要素ミラーの遠視野領域(面5a)に形成される光強度分布SP1の幅Bは、要素ミラーの大きさDに反比例し、要素ミラーの大きさDを大きくすればするほど回折ボケ幅Bは小さくなる。
一方、要素ミラーの大きさDを大きくした場合には、図5(a),(b)に示すように、反射面33を形成する反射膜の応力により、板状部材32及び反射面33が湾曲したり(図5(a))、板状部材32の自重により板状部材32及び反射面33が湾曲したり(図5(b))する。
このような反射面33の湾曲に起因する空間光変調器3aの要素ミラーの遠視野領域(面5a)に形成される光強度分布SP1の幅B’は、
@0003
となる。
但し、
D:要素ミラーの大きさ、
f:ズーム光学系4の焦点距離、
r:湾曲した要素ミラーの反射面の曲率半径、
である。
となる。
但し、
D:要素ミラーの大きさ、
f:ズーム光学系4の焦点距離、
r:湾曲した要素ミラーの反射面の曲率半径、
である。
なお、上述の(3)式では、要素ミラーの湾曲が球状、あるいは円筒状である場合で説明している。要素ミラーの湾曲は、厳密には球状、あるいは円筒状ではないが(一例として支点が両側にある場合は懸垂線)、球又は円筒で近似しても実質的には問題はない。
(3)式から、要素ミラーの大きさDを大きくすると、幾何光学的なボケ幅である幅B’が大きくなることが分かる。
図6は、要素ミラーの回折ボケ幅Bと幾何光学的なボケ幅B’との関係を示したグラフであり、縦軸にボケ幅B(ボケ幅B’)をとり、横軸にD2 /rλをとっている。図6から明らかな通り、要素ミラーの回折ボケ幅Bと幾何光学的なボケ幅B’とが等しい場合、すなわち、r=D2 /λである場合、要素ミラーの回折による影響と幾何光学的な影響との双方が最小となる。
実用的には、要素ミラーは、
0.8 ≦ D2 /(r*λ) ≦ 5 ‥(4)
を満足することができる。
0.8 ≦ D2 /(r*λ) ≦ 5 ‥(4)
を満足することができる。
上記式(4)の下限を下回る場合には、要素ミラーの大きさが小さくなり過ぎるため、要素ミラーの反射面の面の平坦性は向上するが、遠視野領域における光強度分布の回折ボケの影響が大きくなり所望の光強度分布を得ることができない。また、上記式(4)の上限を超える場合には、要素ミラーの大きさが大きくなり過ぎるため、遠視野領域における光強度分布の回折ボケの影響は小さくなるが、この回折ボケよりも大きな幾何光学的なボケが発生し、所望の光強度分布を得ることができない。なお、さらに制御性を向上させるために上記式(4)の上限を3としてもよい。
このように式(4)を満足しない場合、空間光変調器の個々の要素ミラーによって遠視野領域に形成される光強度分布が広がり過ぎるため、この遠視野領域における巨視的な光強度分布を所望の分布にするための制御が極めて困難となる。
また、要素ミラーの反射面の基準平面からの最大偏差量をΔとするとき、
Δ≦ D2 / 8r2 ‥(5)
を満足することができる。
Δ≦ D2 / 8r2 ‥(5)
を満足することができる。
なお、図5(a),(b)に示すように、基準平面は、要素ミラーの反射面の両端部同士を結んだ平面とすることができ、最大偏差量Δは、基準平面の法線方向における要素ミラーの反射面の基準平面からの最大偏差量とである。
式(5)は、要素ミラーの平面度を規定する式であって、この式(5)を満足しない場合には、要素ミラーの大きさに起因する回折ボケよりも大きな幾何光学的なボケが発生してしまい、所望の光強度分布を得ることができず、ひいては巨視的な光強度分布を所望の分布にするための制御が極めて困難となる。
一例として数値をあげると、要素ミラーの大きさDが40μm角、使用光の波長λが193nmのとき、Δは2.9nm以下となる。
上述の実施形態では、空間光変調器3aの複数の要素ミラーの板状部材32は、その中心部で1本の支柱31を支持点として傾斜可能に支持されていたが、板状部材の周辺部で支持される構造であっても良い。
図7は、複数の要素ミラーの変形例を概略的に示す図であって、図7(a)は、複数の要素ミラーの配列を示す平面図、図7(b)は複数の要素ミラーのうちの1つの要素ミラーを示す平面図、図7(c)は図7(b)のAA’断面図、図7(d)は図7(b)のBB’断面図である。
図7(a)に示すように、この変形例における要素ミラーSE2は、多角形状(図7では六角形状)であり、それらが最密充填構造で配列されている。
各要素ミラーSE2の構成を示す図7(b)〜(d)において、六角形状の板状部材36の3つの頂点で板状部材36の辺と平行に延びるヒンジ部36a〜36cと接続されている。この板状部材36と各ヒンジ部36a〜36cとは一体的に形成されていても良い。そして、各ヒンジ部36a〜36cの板状部材36とは反対側は、ベース30上に立設された3本の支柱35によって支持されている。
また、各板状部材36のヒンジ部36a〜36cの接続部位の近傍には、それぞれ電極38a〜38cが配置されており、各電極38a〜38cに電位を付与することにより、各電極38a〜38cと板状部材36との間に静電力を発生させ、各電極38a〜38dと板状部材36との間隔を変化させる。
ここで、電極38aに電位を付与した場合には、板状部材36のヒンジ部36aが撓み、板状部材36とヒンジ部36aとの接続部位と電極38aとの間隔が変化する。同様に、電極38bに電位を付与した場合には、板状部材36のヒンジ部36bが撓み、板状部材36とヒンジ部36bとの接続部位と電極38bとの間隔が変化し、電極38cに電位を付与した場合には、板状部材36のヒンジ部36cが撓み、板状部材36とヒンジ部36cとの接続部位と電極38cとの間隔が変化する。
このように電極38a〜38cへの電位付与を制御することによって、板状部材36のベース30に対する傾斜が制御でき、ひいては板状部材36上に設けられる反射面37の傾きを制御できる。
この図7に示した要素ミラーSE2においては、要素ミラーSE2の反射面の大きさを大きくすると、反射面が凹状の撓む傾向にあるが、この撓みを上記の式(4)、式(5)を満足するようにすれば、要素ミラーSE2の遠視野領域において所望の光強度分布を得ることができる。
また、上述の説明では、二次元的に配列されて個別に制御される複数の光学要素を有する空間光変調器として、二次元的に配列された複数の反射面の向き(傾き)を個別に制御可能な空間光変調器を用いている。しかしながら、これに限定されることなく、たとえば二次元的に配列された複数の反射面の高さ(位置)を個別に制御可能な空間光変調器を用いることもできる。このような空間光変調器としては、たとえば特開平6−281869号公報及びこれに対応する米国特許第5,312,513号公報、並びに特表2004−520618号公報およびこれに対応する米国特許第6,885,493号公報の図1dに開示される空間光変調器を用いることができる。これらの空間光変調器では、二次元的な高さ分布を形成することで回折面と同様の作用を入射光に与えることができる。
なお、上述した二次元的に配列された複数の反射面を持つ空間光変調器を、たとえば特表2006−513442号公報およびこれに対応する米国特許第6,891,655号公報や、特表2005−524112号公報およびこれに対応する米国特許公開第2005/0095749号公報の開示に従って変形しても良い。
なお、上述の実施形態並びに変形例において、空間光変調器3を用いて照明瞳輝度分布を形成する際に、瞳輝度分布計測装置で照明瞳輝度分布を計測しつつこの計測結果に応じて空間光変調器3を制御してもよい。このような技術は、たとえば特開2006−54328号公報や特開2003−22967号公報およびこれに対応する米国特許公開第2003/0038225号公報に開示されている。
なお、上述の実施形態では、マスクの代わりに、所定の電子データに基づいて所定パターンを形成する可変パターン形成装置を用いることができる。このような可変パターン形成装置を用いれば、パターン面が縦置きでも同期精度に及ぼす影響を最低限にできる。なお、可変パターン形成装置としては、たとえば所定の電子データに基づいて駆動される複数の反射素子を含む空間光変調器を用いることができる。このような空間光変調器を用いた露光装置は、例えば特開2004−304135号公報、国際特許公開第2006/080285号パンフレットに開示されている。また、非発光型の反射型空間光変調器以外に、透過型空間光変調器を用いても良く、自発光型の画像表示素子を用いても良い。なお、パターン面が横置きの場合であっても可変パターン形成装置を用いても良い。
上述の実施形態の露光装置は、本願特許請求の範囲に挙げられた各構成要素を含む各種サブシステムを、所定の機械的精度、電気的精度、光学的精度を保つように、組み立てることで製造される。これら各種精度を確保するために、この組み立ての前後には、各種光学系については光学的精度を達成するための調整、各種機械系については機械的精度を達成するための調整、各種電気系については電気的精度を達成するための調整が行われる。各種サブシステムから露光装置への組み立て工程は、各種サブシステム相互の、機械的接続、電気回路の配線接続、気圧回路の配管接続等が含まれる。この各種サブシステムから露光装置への組み立て工程の前に、各サブシステム個々の組み立て工程があることはいうまでもない。各種サブシステムの露光装置への組み立て工程が終了したら、総合調整が行われ、露光装置全体としての各種精度が確保される。なお、露光装置の製造は温度およびクリーン度等が管理されたクリーンルームで行うことが望ましい。
次に、上述の実施形態にかかる露光装置を用いたデバイス製造方法について説明する。図8は、半導体デバイスの製造工程を示すフローチャートである。図8に示すように、半導体デバイスの製造工程では、半導体デバイスの基板となるウェハWに金属膜を蒸着し(ステップS40)、この蒸着した金属膜上に感光性材料であるフォトレジストを塗布する(ステップS42)。つづいて、上述の実施形態の投影露光装置を用い、マスク(レチクル)Mに形成されたパターンをウェハW上の各ショット領域に転写し(ステップS44:露光工程)、この転写が終了したウェハWの現像、つまりパターンが転写されたフォトレジストの現像を行う(ステップS46:現像工程)。その後、ステップS46によってウェハWの表面に生成されたレジストパターンをマスクとし、ウェハWの表面に対してエッチング等の加工を行う(ステップS48:加工工程)。
ここで、レジストパターンとは、上述の実施形態の投影露光装置によって転写されたパターンに対応する形状の凹凸が生成されたフォトレジスト層であって、その凹部がフォトレジスト層を貫通しているものである。ステップS48では、このレジストパターンを介してウェハWの表面の加工を行う。ステップS48で行われる加工には、例えばウェハWの表面のエッチングまたは金属膜等の成膜の少なくとも一方が含まれる。なお、ステップS44では、上述の実施形態の投影露光装置は、フォトレジストが塗布されたウェハWを、感光性基板つまりプレートPとしてパターンの転写を行う。
図9は、液晶表示素子等の液晶デバイスの製造工程を示すフローチャートである。図9に示すように、液晶デバイスの製造工程では、パターン形成工程(ステップS50)、カラーフィルタ形成工程(ステップS52)、セル組立工程(ステップS54)およびモジュール組立工程(ステップS56)を順次行う。
ステップS50のパターン形成工程では、プレートPとしてフォトレジストが塗布されたガラス基板上に、上述の実施形態の投影露光装置を用いて回路パターンおよび電極パターン等の所定のパターンを形成する。このパターン形成工程には、上述の実施形態の投影露光装置を用いてフォトレジスト層にパターンを転写する露光工程と、パターンが転写されたプレートPの現像、つまりガラス基板上のフォトレジスト層の現像を行い、パターンに対応する形状のフォトレジスト層を生成する現像工程と、この現像されたフォトレジスト層を介してガラス基板の表面を加工する加工工程とが含まれている。
ステップS52のカラーフィルタ形成工程では、R(Red)、G(Green)、B(Blue)に対応する3つのドットの組をマトリックス状に多数配列するか、またはR、G、Bの3本のストライプのフィルタの組を水平走査方向に複数配列したカラーフィルタを形成する。
ステップS54のセル組立工程では、ステップS50によって所定パターンが形成されたガラス基板と、ステップS52によって形成されたカラーフィルタとを用いて液晶パネル(液晶セル)を組み立てる。具体的には、例えばガラス基板とカラーフィルタとの間に液晶を注入することで液晶パネルを形成する。ステップS56のモジュール組立工程では、ステップS54によって組み立てられた液晶パネルに対し、この液晶パネルの表示動作を行わせる電気回路およびバックライト等の各種部品を取り付ける。
また、本発明は、半導体デバイス製造用の露光装置への適用に限定されることなく、例えば、角型のガラスプレートに形成される液晶表示素子、若しくはプラズマディスプレイ等のディスプレイ装置用の露光装置や、撮像素子(CCD等)、マイクロマシーン、薄膜磁気ヘッド、及びDNAチップ等の各種デバイスを製造するための露光装置にも広く適用できる。更に、本発明は、各種デバイスのマスクパターンが形成されたマスク(フォトマスク、レチクル等)をフォトリソグラフィ工程を用いて製造する際の、露光工程(露光装置)にも適用することができる。
なお、上述の実施形態において、光源1が供給する光(露光光)として、ArFエキシマレーザ光(波長:193nm)やKrFエキシマレーザ光(波長:248nm)を用いることができる。但し、これに限定されることなく、他の適当なレーザ光源、たとえば波長157nmのレーザ光を供給するF2レーザ光源などを用いることもできる。
また、上述の実施形態では、露光装置においてマスクを照明する照明光学系に対して本発明を適用しているが、これに限定されることなく、マスク以外の被照射面を照明する一般的な照明光学系に対して本発明を適用することもできる。
このように本発明は上述の実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の構成を取り得る。
1 光源
3 空間光変調ユニット
3a 空間光変調器
SE1,SE2 空間光変調器が備える複数の要素ミラー
4 ズームレンズ系(集光光学系)
5a 空間光変調器の遠視野領域
7 マスクブラインド
M マスク
PL 投影光学系
W ウェハ
3 空間光変調ユニット
3a 空間光変調器
SE1,SE2 空間光変調器が備える複数の要素ミラー
4 ズームレンズ系(集光光学系)
5a 空間光変調器の遠視野領域
7 マスクブラインド
M マスク
PL 投影光学系
W ウェハ
Claims (7)
- 光源部からの光に基づいて照明瞳面に所定の光強度分布を形成し、該所定の光強度分布を光源として被照射面をケーラー照明する照明装置において、
二次元的に配列された複数の反射面を備え、該複数の反射面の姿勢がそれぞれ独立に制御可能な空間光変調器と、
該空間光変調器の前記複数の反射面を経由することによって角度分布が与えられた光を集光して、前記照明瞳面に所定の光強度分布を形成する集光光学系とを備え、
0.8 ≦ D2 /(r*λ) ≦ 5
を満足することを特徴とする照明装置。
但し、
D:前記空間光変調器の前記反射面の大きさ、
r:前記空間光変調器の前記反射面の曲率半径、
λ:前記空間光変調器に入射する光の波長、
である。 - 前記空間光変調器の前記反射面の基準平面から最大偏差量をΔとするとき、
Δ≦ D2 / 8r2
を満足することを特徴とする請求項1に記載の照明装置。 - 前記空間光変調器は、前記複数の反射面の姿勢を個別に駆動する駆動部を有することを特徴とする請求項1または2に記載の照明装置。
- 前記駆動部は、前記複数の反射面の向きを連続的または離散的に変化させることを特徴とする請求項3に記載の照明装置。
- 所定のパターンを照明するための請求項1乃至4の何れか一項に記載の照明装置を備え、前記所定のパターンを感光性基板に露光することを特徴とする露光装置。
- 請求項5に記載の露光装置を用いて、前記所定のパターンを前記感光性基板に露光する露光工程と、
前記パターンが転写された前記感光性基板を現像し、前記パターンに対応する形状のマスク層を前記感光性基板の表面に形成する現像工程と、
前記マスク層を介して前記感光性基板の表面を加工する加工工程とを含むことを特徴とするデバイス製造方法。 - 光源部からの光に基づいて照明瞳面に所定の光強度分布を形成し、該所定の光強度分布を光源として被照射面をケーラー照明する照明装置に用いられる空間光変調器において、
二次元的に配列されて、それぞれの姿勢が独立に制御可能な複数の反射面を備え、
前記空間光変調器と前記照明瞳面との間の光路中に配置される集光光学系に向けて、前記複数の反射面を経由した角度分布を有する光を入力し、
0.8 ≦ D2 /(r*λ) ≦ 5
を満足することを特徴とする空間光変調器。
但し、
D:前記空間光変調器の前記反射面の大きさ、
r:前記空間光変調器の前記反射面の曲率半径、
λ:前記空間光変調器に入射する光の波長、
である。
Priority Applications (1)
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JP2007287988A JP2009117561A (ja) | 2007-11-06 | 2007-11-06 | 照明装置、該照明装置に用いられる空間光変調ユニット、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
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JP2012530367A (ja) * | 2009-06-17 | 2012-11-29 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ装置および方法 |
-
2007
- 2007-11-06 JP JP2007287988A patent/JP2009117561A/ja active Pending
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