JP2009103641A

JP2009103641A - Inspection apparatus

Info

Publication number: JP2009103641A
Application number: JP2007277384A
Authority: JP
Inventors: Osami Suginaga; 修視杉永
Original assignee: Konica Minolta Medical and Graphic Inc
Current assignee: Konica Minolta Medical and Graphic Inc
Priority date: 2007-10-25
Filing date: 2007-10-25
Publication date: 2009-05-14

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a compact inspection apparatus for precisely inspecting a plurality of microchips. <P>SOLUTION: The inspection apparatus for setting a reagent and a specimen injected into the microchip at a predetermined temperature, making them react and measuring a reaction result from the microchip includes: a plurality of temperature setting units for individually setting a plurality of the microchips at the predetermined temperature; a detection unit for detecting the reaction result from the microchip; a detection unit driving means for sequentially moving the detection unit to a plurality of locations at which a plurality of the microchips detect the reaction results; and a detection unit drive controlling means for implementing a control for driving the detection unit driving means. After the detection unit detects the reaction result, the detection unit drive controlling means drives the detection unit driving means, and moves the detection unit to a location away from the temperature setting units. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection apparatus.

近年、マイクロマシン技術および超微細加工技術を駆使することにより、従来の試料調製、化学分析、化学合成などを行うための装置、手段（例えばポンプ、バルブ、流路、センサなど）を微細化して１チップ上に集積化したシステムが開発されている（例えば、特許文献１参照）。これは、μ−ＴＡＳ（ＭｉｃｒｏｔｏｔａｌＡｎａｌｙｓｉｓＳｙｓｔｅｍ：マイクロ総合分析システム）、バイオリアクタ、ラボ・オン・チップ（Ｌａｂ−ｏｎ−ｃｈｉｐｓ）、バイオチップとも呼ばれ、医療検査・診断分野、環境測定分野、農産製造分野でその応用が期待されている。特に遺伝子検査に見られるように、煩雑な工程、熟練した手技、機器類の操作が必要とされる場合には、μ−ＴＡＳを用いることによりコスト、必要試料量、所要時間を削減できる。 In recent years, by making full use of micromachine technology and ultrafine processing technology, devices and means (for example, pumps, valves, flow paths, sensors, etc.) for performing conventional sample preparation, chemical analysis, chemical synthesis, etc. have been miniaturized. A system integrated on a chip has been developed (see, for example, Patent Document 1). This is also called μ-TAS (Micro total Analysis System), bioreactor, lab-on-chip, biochip, medical test / diagnosis field, environmental measurement field, Its application is expected in the field of agricultural production. In particular, as seen in genetic testing, when complicated processes, skilled techniques, and operation of equipment are required, the cost, required sample amount, and required time can be reduced by using μ-TAS.

本出願人は、マイクロチップの微細流路内に試薬などを封入し、ポンプによって微細流路に液体を注入して試薬などを移動させ、反応部、次いで検出部へ流すことにより、血液など検体との反応結果を測定することができる検査装置を提案している（例えば、特許文献２参照）。反応結果を検出する検出ユニットでは、ダイクロイックミラー等の光学フィルタを用いて光源の光を分離し、検体が発光する蛍光を検出している。 The present applicant encloses a reagent or the like in a microchannel of a microchip, injects a liquid into the microchannel by a pump, moves the reagent, and flows it to a reaction unit and then a detection unit, thereby allowing a sample such as blood to flow. Has been proposed (see, for example, Patent Document 2). In the detection unit for detecting the reaction result, the light emitted from the light source is separated using an optical filter such as a dichroic mirror, and the fluorescence emitted from the specimen is detected.

一方、このような検査装置を用いても遺伝子診断等を行う際の検体と試薬の反応には時間がかかるため、複数のマイクロチップを並行して検査できる検査装置が望まれている。
特開２００４−２８５８９号公報特開２００６−１４９３７９号公報 On the other hand, since it takes time to react a specimen and a reagent when performing genetic diagnosis or the like even if such an inspection apparatus is used, an inspection apparatus that can inspect a plurality of microchips in parallel is desired.
JP 2004-28589 A JP 2006-149379 A

しかしながら、検体の反応を蛍光検出により測定し診断を行う検査装置では、蛍光を検出する光源や光学系を含む検出ユニットがマイクロチップより大きいので、マイクロチップ毎に検出ユニットを設けると検査装置が大型化してしまう。 However, in an inspection apparatus that measures and diagnoses a specimen reaction by fluorescence detection, a detection unit including a light source and an optical system for detecting fluorescence is larger than a microchip. Therefore, if a detection unit is provided for each microchip, the inspection apparatus becomes large. It will become.

また、ダイクロイックミラー等の多層薄膜を用いた光学フィルタは温度によってフィルタ特性が変化するので、マイクロチップを加熱または吸熱する温度調節ユニットの近くに検出ユニットを長時間近づけるとフィルタ特性が変化し蛍光が検出できなくなることがある。 In addition, optical filters using multilayer thin films, such as dichroic mirrors, change the filter characteristics depending on the temperature. If the detection unit is brought close to the temperature control unit that heats or absorbs the microchip for a long time, the filter characteristics change and fluorescence is emitted. It may become impossible to detect.

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、複数のマイクロチップを精度よく検査できる小型の検査装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a small inspection apparatus capable of inspecting a plurality of microchips with high accuracy.

本発明の目的は、下記構成により達成することができる。 The object of the present invention can be achieved by the following constitution.

１．
マイクロチップに注入された試薬と検体を所定の温度に調節して反応させ反応結果を測定する検査装置において、
複数の前記マイクロチップをそれぞれ所定の温度に調節する複数の温度調節ユニットと、
前記マイクロチップから前記反応結果を検出する検出ユニットと、
複数の前記マイクロチップから前記反応結果を検出する複数の位置に順次前記検出ユニットを移動させる検出ユニット駆動手段と、
前記検出ユニット駆動手段の駆動を制御する検出ユニット駆動制御手段と、
を有し、
前記検出ユニット駆動制御手段は、
前記検出ユニットが一つの前記マイクロチップから前記反応結果を検出した後、前記検出ユニット駆動手段を駆動して前記検出ユニットを前記温度調節ユニットから離れた位置に移動させることを特徴とする検査装置。 1.
In an inspection device that measures the reaction results by adjusting the reagent and the sample injected into the microchip to react at a predetermined temperature,
A plurality of temperature control units that adjust each of the plurality of microchips to a predetermined temperature;
A detection unit for detecting the reaction result from the microchip;
Detection unit driving means for sequentially moving the detection unit to a plurality of positions for detecting the reaction results from the plurality of microchips;
Detection unit drive control means for controlling the drive of the detection unit drive means;
Have
The detection unit drive control means includes
After the detection unit detects the reaction result from one microchip, the detection unit is driven to move the detection unit to a position away from the temperature control unit.

２．
前記検出ユニット駆動制御手段は、
前記検出ユニットが前記反応結果を検出した後、前記検出ユニット駆動手段を駆動して前記検出ユニットを隣り合う前記温度調節ユニットの略中間位置に移動させることを特徴とする１に記載の検査装置。 2.
The detection unit drive control means includes
2. The inspection apparatus according to 1, wherein after the detection unit detects the reaction result, the detection unit driving unit is driven to move the detection unit to a substantially intermediate position between adjacent temperature control units.

３．
前記検出ユニット駆動手段の駆動により前記検出ユニットを直線的に移動させる送りネジ手段と、
前記検出ユニット検知する前記送りネジ手段の一端に配置された第１位置検知手段と、
前記検出ユニット検知する前記送りネジ手段の他端に配置された第２位置検知手段と、
を有し、
前記第１位置検知手段と前記第２位置検知手段は前記温度調節ユニットの上下以外の位置に配置することを特徴とする１または２に記載の検査装置。 3.
Feed screw means for linearly moving the detection unit by driving the detection unit drive means;
First position detection means disposed at one end of the feed screw means for detecting the detection unit;
Second position detection means disposed at the other end of the feed screw means for detecting the detection unit;
Have
The inspection apparatus according to 1 or 2, wherein the first position detection unit and the second position detection unit are arranged at positions other than the upper and lower sides of the temperature adjustment unit.

本発明によれば、一つの検出ユニットを移動させて複数のマイクロチップを検査し、検査終了後は温度調節ユニットから離れた位置に検出ユニットを移動させるので、複数のマイクロチップを精度よく検査できる小型の検査装置を提供することができる。 According to the present invention, a single detection unit is moved to inspect a plurality of microchips, and after the inspection is completed, the detection unit is moved to a position away from the temperature adjustment unit, so that a plurality of microchips can be inspected with high accuracy. A small inspection apparatus can be provided.

図１は、本発明の実施形態における検査装置８０の外観図である。 FIG. 1 is an external view of an inspection apparatus 80 according to an embodiment of the present invention.

検査装置８０はマイクロチップ１に予め注入された検体と、試薬との反応を自動的に検出し、表示部８４に結果を表示する装置である。 The inspection device 80 is a device that automatically detects a reaction between a sample previously injected into the microchip 1 and a reagent and displays the result on the display unit 84.

検査装置８０の筐体８２には２つの挿入口８３ａ、８３ｂがあり、それぞれマイクロチップ１ａ、１ｂを挿入口８３ａ、８３ｂに差し込んで筐体８２の内部にセットするようになっている。本実施形態では２つの挿入口８３ａ、８３ｂに挿入するマイクロチップ１ａ、１ｂ、および挿入口８３ａ、８３ｂに挿入されたマイクロチップ１ａ、１ｂを検査する機構にそれぞれａ、ｂの符号を付けて区別する。マイクロチップ１ａ、１ｂで行う検査は同じ検査でも良いし、異なる検査でも良い。 The housing 82 of the inspection apparatus 80 has two insertion ports 83a and 83b, and the microchips 1a and 1b are inserted into the insertion ports 83a and 83b and set inside the housing 82, respectively. In the present embodiment, the microchips 1a and 1b inserted into the two insertion openings 83a and 83b and the mechanisms for inspecting the microchips 1a and 1b inserted into the insertion openings 83a and 83b are distinguished by attaching a and b, respectively. To do. The inspection performed on the microchips 1a and 1b may be the same inspection or different inspections.

なお、挿入口８３ａ、８３ｂはマイクロチップ１ａ、１ｂを挿入時に挿入口８３に接触しないように、マイクロチップ１ａ、１ｂの厚みより十分高さがある。８５はメモリカードスロット、８６はプリント出力口、８７は操作パネル、８８は入出力端子である。 The insertion ports 83a and 83b are sufficiently higher than the thickness of the microchips 1a and 1b so that the microchips 1a and 1b do not come into contact with the insertion port 83 when the microchips 1a and 1b are inserted. Reference numeral 85 denotes a memory card slot, 86 denotes a print output port, 87 denotes an operation panel, and 88 denotes an input / output terminal.

検査担当者は図１の矢印方向にマイクロチップ１ａ、１ｂのいずれか一方または両方を挿入し、操作パネル８７を操作して検査を開始させる。検査装置８０の内部では、マイクロチップ１ａ、１ｂ内の反応の検査が自動的に行われ、検査が終了すると液晶パネルなどで構成される表示部８４に結果が表示される。検査結果は操作パネル８７の操作により、プリント出力口８６よりプリントを出力したり、メモリカードスロット８５に挿入されたメモリカードに記憶することができる。また、外部入出力端子８８から例えばＬＡＮケーブルを使って、パソコンなどにデータを保存することができる。 The person inspecting inserts one or both of the microchips 1a and 1b in the direction of the arrow in FIG. 1, and operates the operation panel 87 to start the inspection. Inside the inspection device 80, the reaction in the microchips 1a and 1b is automatically inspected, and when the inspection is completed, the result is displayed on the display unit 84 including a liquid crystal panel. The inspection result can be output from the print output port 86 or stored in a memory card inserted into the memory card slot 85 by operating the operation panel 87. Further, data can be stored in the personal computer or the like from the external input / output terminal 88 using, for example, a LAN cable.

検査担当者は、検査終了後、マイクロチップ１ａ、１ｂを挿入口８３ａ、８３ｂから取り出す。 The inspection person takes out the microchips 1a and 1b from the insertion openings 83a and 83b after the inspection is completed.

次に、本発明の実施形態に係わるマイクロチップ１の一例について、図２を用いて説明する。 Next, an example of the microchip 1 according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

図２（ａ）、図２（ｂ）はマイクロチップ１の外観図である。図２（ａ）において矢印は、検査装置８０にマイクロチップ１を挿入する挿入方向であり、図２（ａ）は挿入時にマイクロチップ１の下面となる面を図示している。図２（ｂ）はマイクロチップ１の側面図である。 2A and 2B are external views of the microchip 1. FIG. In FIG. 2A, an arrow indicates an insertion direction in which the microchip 1 is inserted into the inspection apparatus 80, and FIG. 2A illustrates a surface that becomes the lower surface of the microchip 1 when inserted. FIG. 2B is a side view of the microchip 1.

図２（ａ）の窓１１１はマイクロチップ１内部の検出部１９で行われる検体と蛍光物質を含む試薬の反応を光学的に検出するために設けられており、ガラスや樹脂などの透明な部材で構成されている。１１０ａ、１１０ｂ、１１０ｃ、１１０ｄ、１１０ｅは内部の微細流路に連通する駆動液注入部であり、各駆動液注入部１１０から駆動液を注入し内部の試薬等を駆動する。１１３はマイクロチップ１に検体を注入するための検体注入部である。 The window 111 in FIG. 2A is provided for optically detecting the reaction between the specimen and the reagent containing the fluorescent substance performed by the detection unit 19 inside the microchip 1, and is a transparent member such as glass or resin. It consists of Reference numerals 110a, 110b, 110c, 110d, and 110e denote driving liquid injection units that communicate with the internal fine flow paths. The driving liquid injection units 110 inject driving liquids to drive internal reagents and the like. Reference numeral 113 denotes a sample injection unit for injecting a sample into the microchip 1.

図２（ｂ）に示すように、マイクロチップ１は溝形成基板１０８と、溝形成基板１０８を覆う被覆基板１０９から構成されている。 As shown in FIG. 2B, the microchip 1 includes a groove forming substrate 108 and a covering substrate 109 that covers the groove forming substrate 108.

マイクロチップ１を構成する溝形成基板１０８と被覆基板１０９に用いる材料について説明する。 The materials used for the groove forming substrate 108 and the covering substrate 109 constituting the microchip 1 will be described.

マイクロチップ１は、加工成形性、非吸水性、耐薬品性、耐候性、コストなどに優れていることが望まれており、マイクロチップ１の構造、用途、検出方法などを考慮して、マイクロチップ１の材料を選択する。その材料としては従来公知の様々なものが使用可能であり、個々の材料特性に応じて通常は１以上の材料を適宜組み合わせて、基板および流路エレメントが成形される。 The microchip 1 is desired to be excellent in processability, non-water absorption, chemical resistance, weather resistance, cost and the like. In consideration of the structure, application, detection method, etc. of the microchip 1, The material of chip 1 is selected. Various known materials can be used as the material, and usually the substrate and the flow path element are formed by appropriately combining one or more materials in accordance with individual material characteristics.

特に、多数の測定検体、とりわけ汚染、感染のリスクのある臨床検体を対象とするチップは、ディスポーザブルタイプであることが望ましい。そのため、量産可能であり、軽量で衝撃に強く、焼却廃棄が容易なプラステック樹脂、例えば、透明性、機械的特性および成型性に優れて微細加工がしやすいポリスチレンが好ましい。また、例えば分析においてチップを１００℃近くまで加熱する必要がある場合には、耐熱性に優れる樹脂（例えばポリカーボネートなど）を用いることが好ましい。また、タンパク質の吸着が問題となる場合にはポリプロピレンを用いることが好ましい。樹脂やガラスなどは熱伝導率が小さく、マイクロチップの局所的に加熱される領域に、これらの材料を用いることにより、面方向への熱伝導が抑制され、加熱領域のみ選択的に加熱することができる。 In particular, it is desirable that a chip intended for a large number of measurement specimens, particularly clinical specimens at risk of contamination and infection, be a disposable type. Therefore, a plastic resin that can be mass-produced, is lightweight, is strong against impact, and can be easily disposed of by incineration, for example, polystyrene that is excellent in transparency, mechanical properties, and moldability and is easy to be finely processed is preferable. For example, when it is necessary to heat the chip to near 100 ° C. in analysis, it is preferable to use a resin having excellent heat resistance (for example, polycarbonate). In addition, when protein adsorption becomes a problem, it is preferable to use polypropylene. Resin and glass have low thermal conductivity, and by using these materials in the locally heated region of the microchip, heat conduction in the surface direction is suppressed, and only the heated region is selectively heated. Can do.

本実施形態では、検出部１９において、蛍光物質の検出を光学的に行うので、検出部の窓１１１は光透過性の材料が用いられている。 In the present embodiment, since the detection unit 19 optically detects the fluorescent substance, the window 111 of the detection unit is made of a light transmissive material.

本発明の実施形態に係わるマイクロチップ１には、検査、試料の処理などを行うための、微小な溝状の流路（微細流路）および機能部品（流路エレメント）が、用途に応じた適当な態様で配設されている。本実施形態では、これらの微細流路および流路エレメントによってマイクロチップ１内で行われる特定の遺伝子の増幅およびその検出を行う処理の一例を図２（ｃ）を用いて説明する。なお、本発明の適用は図２（ｃ）で説明するマイクロチップ１の例に限定されるものでは無く、様々な用途のマイクロチップ１に適用できる。 In the microchip 1 according to the embodiment of the present invention, a minute groove-like flow path (fine flow path) and a functional component (flow path element) for performing inspection, sample processing, and the like correspond to applications. It is arranged in an appropriate manner. In the present embodiment, an example of a process for performing amplification and detection of a specific gene performed in the microchip 1 by using these microchannels and channel elements will be described with reference to FIG. The application of the present invention is not limited to the example of the microchip 1 described with reference to FIG. 2C, but can be applied to the microchip 1 for various uses.

図２（ｃ）はマイクロチップ１内部の微細流路および流路エレメントの機能を説明するための説明図である。 FIG. 2C is an explanatory diagram for explaining the functions of the fine flow path and flow path element inside the microchip 1.

微細流路には、例えば検体液を収容する検体収容部１２１、試薬類を収容する試薬収容部１２０などが設けられており、場所や時間を問わず迅速に検査ができるよう、試薬収容部１２０には必要とされる試薬類、洗浄液、変性処理液などがあらかじめ収容されている。図２（ｃ）において、試薬収容部１２０、検体収容部１２１および流路エレメントは四角形で表し、その間の微細流路は実線と矢印で表す。 The fine channel is provided with, for example, a sample storage unit 121 that stores a sample liquid, a reagent storage unit 120 that stores reagents, and the like, so that the reagent storage unit 120 can be quickly tested regardless of location and time. Necessary reagents, washing solution, denaturing treatment solution and the like are stored in advance. In FIG. 2C, the reagent storage unit 120, the sample storage unit 121, and the flow path element are represented by squares, and the fine flow path therebetween is represented by a solid line and an arrow.

マイクロチップ１は、微細流路を形成した溝形成基板１０８と溝状の流路を覆う被覆基板１０９から構成されている。微細流路はマイクロメーターオーダーで形成されており、例えば幅は数μｍ〜数百μｍ、好ましくは１０〜２００μｍで、深さは２５〜５００μｍ程度、好ましくは２５〜２５０μｍである。 The microchip 1 includes a groove forming substrate 108 in which a fine flow path is formed and a covering substrate 109 that covers the groove-shaped flow path. The fine channel is formed on the order of micrometers, for example, the width is several μm to several hundred μm, preferably 10 to 200 μm, and the depth is about 25 to 500 μm, preferably 25 to 250 μm.

少なくともマイクロチップ１の溝形成基板１０８には、上記の微細流路が形成されている。被覆基板１０９は、少なくとも溝形成基板の微細流路を密着して覆う必要があり、溝形成基板の全面を覆っていても良い。なお、マイクロチップ１の微細流路には、例えば、図示せぬ送液制御部、逆流防止部（逆止弁、能動弁など）などの送液を制御するための部位が設けられ、逆流を防止し、所定の手順で送液が行われるようになっている。 At least in the groove forming substrate 108 of the microchip 1, the fine flow path is formed. The coated substrate 109 needs to cover at least the fine flow path of the groove forming substrate in close contact, and may cover the entire surface of the groove forming substrate. Note that the microchannel 1 is provided with a part for controlling liquid feeding, such as a liquid feeding control unit (not shown), a backflow prevention unit (a check valve, an active valve, etc.), and the like. In this case, liquid feeding is performed according to a predetermined procedure.

検体注入部１１３はマイクロチップ１に検体を注入するための注入部、駆動液注入部１１０はマイクロチップ１に駆動液１１を注入するための注入部である。マイクロチップ１による検査を行うに先立って、検査担当者は検体を検体注入部１１３から注射器などを用いて注入する。図２（ｃ）に示すように、検体注入部１１３から注入された検体は、連通する微細流路を通って検体収容部１２１に収容される。 The sample injection unit 113 is an injection unit for injecting the sample into the microchip 1, and the driving liquid injection unit 110 is an injection unit for injecting the driving liquid 11 into the microchip 1. Prior to performing the test using the microchip 1, the tester injects the sample from the sample injection unit 113 using a syringe or the like. As shown in FIG. 2C, the sample injected from the sample injection unit 113 is stored in the sample storage unit 121 through the communicating fine channel.

次に、駆動液注入部１１０ａから駆動液１１を注入すると、駆動液１１は連通する微細流路を通って検体収容部１２１に収容されている検体を押し出し、増幅部１２２に検体を送り込む。 Next, when the driving liquid 11 is injected from the driving liquid injection unit 110 a, the driving liquid 11 pushes the sample stored in the sample storage unit 121 through the communicating fine flow path, and sends the sample to the amplification unit 122.

一方、駆動液注入部１１０ｂから注入された駆動液１１は、連通する微細流路を通って試薬収容部１２０ａに収容されている蛍光物質を含む試薬を押し出す。試薬収容部１２０ａから押し出された蛍光物質を含む試薬は増幅部１２２に駆動液１１によって送り込まれる。このときの反応条件によっては、増幅部１２２の部分を所定の温度にする必要があり、後で説明するように検査装置８０の内部で加熱または吸熱して所定の温度で反応させる。 On the other hand, the driving liquid 11 injected from the driving liquid injection unit 110b pushes out the reagent containing the fluorescent substance stored in the reagent storage unit 120a through the communicating fine channel. The reagent containing the fluorescent material pushed out from the reagent storage unit 120 a is sent to the amplification unit 122 by the driving liquid 11. Depending on the reaction conditions at this time, it is necessary to set the amplification unit 122 to a predetermined temperature, and as described later, the reaction is performed at a predetermined temperature by heating or absorbing heat inside the inspection device 80.

所定の反応時間の後、さらに駆動液１１により増幅部１２２から送り出された反応後の検体を含む溶液は、検出部１９に注入される。窓１１１から検出部１９に励起光を照射すると、検体と反応した試薬が蛍光を発光するので蛍光の光量を測定することにより反応結果を計測することができる。 After a predetermined reaction time, a solution containing the sample after reaction sent out from the amplification unit 122 by the driving liquid 11 is injected into the detection unit 19. When the detection unit 19 is irradiated with excitation light from the window 111, the reagent that has reacted with the specimen emits fluorescence, so that the reaction result can be measured by measuring the amount of fluorescence.

図３は、検査装置８０の内部構成を説明するための斜視図、図４は、検査装置８０の内部構成の一例を示す断面図、である。なお、図３では説明を簡単にするためマイクロチップが１つの場合の内部構成を例示している。 FIG. 3 is a perspective view for explaining the internal configuration of the inspection device 80, and FIG. 4 is a cross-sectional view showing an example of the internal configuration of the inspection device 80. Note that FIG. 3 illustrates an internal configuration in the case of one microchip for the sake of simplicity.

検査装置８０は、温度調節ユニット１５２、温度調節ユニット１５３、検出ユニット１５、駆動液ポンプ９２、パッキン９０、駆動液タンク９１、送りネジ３０１、ジョイント３０２、モータ３００などから構成される。図３、図４のようにマイクロチップ１の両面を温度調節ユニット１５２と温度調節ユニット１５３が密着している。また、図３、図４はマイクロチップ１をパッキン９０ｂに密着させている状態を示している。 The inspection device 80 includes a temperature adjustment unit 152, a temperature adjustment unit 153, a detection unit 15, a drive fluid pump 92, a packing 90, a drive fluid tank 91, a feed screw 301, a joint 302, a motor 300, and the like. As shown in FIGS. 3 and 4, the temperature control unit 152 and the temperature control unit 153 are in close contact with each other on both sides of the microchip 1. 3 and 4 show a state in which the microchip 1 is in close contact with the packing 90b.

以下、図３、図４を用いて検査装置８０の内部構成の例を説明する。 Hereinafter, an example of the internal configuration of the inspection apparatus 80 will be described with reference to FIGS. 3 and 4.

温度調節ユニット１５２、温度調節ユニット１５３とマイクロチップ１は、図示せぬ駆動部材により駆動され、紙面上下方向に移動可能である。初期状態において、駆動部材により温度調節ユニット１５２を、図３の状態からマイクロチップ１の厚み以上上昇させる。すると、マイクロチップ１は図３の矢印Ａ方向に挿抜可能であり、検査担当者は挿入口８３から図示せぬ規制部材に当接するまでマイクロチップ１を挿入する。所定の位置までマイクロチップ１を挿入するとフォトインタラプタなどを用いたチップ検知部９５がマイクロチップ１を検知し、オンになる。 The temperature adjustment unit 152, the temperature adjustment unit 153, and the microchip 1 are driven by a driving member (not shown) and are movable in the vertical direction on the paper surface. In the initial state, the temperature adjustment unit 152 is raised from the state of FIG. 3 by the thickness of the microchip 1 by the driving member. Then, the microchip 1 can be inserted / removed in the direction of the arrow A in FIG. 3, and the person inspecting inserts the microchip 1 from the insertion port 83 until it comes into contact with a regulating member (not shown). When the microchip 1 is inserted to a predetermined position, the chip detection unit 95 using a photo interrupter or the like detects the microchip 1 and is turned on.

温度調節ユニット１５２、温度調節ユニット１５３は、ペルチェ素子、電源装置、温度制御装置などを内蔵し、発熱または吸熱を行ってマイクロチップ１の面を所定の温度に調整するユニットである。 The temperature adjustment unit 152 and the temperature adjustment unit 153 are units that incorporate a Peltier element, a power supply device, a temperature control device, and the like and adjust the surface of the microchip 1 to a predetermined temperature by generating heat or absorbing heat.

次に、駆動部材により温度調節ユニット１５２とマイクロチップ１を下降させて、マイクロチップ１を温度調節ユニット１５２とパッキン９０ｂに密着させる。 Next, the temperature adjustment unit 152 and the microchip 1 are lowered by the driving member, and the microchip 1 is brought into close contact with the temperature adjustment unit 152 and the packing 90b.

マイクロチップ１の検出部１９では、検体と前記マイクロチップ１内に貯蔵された蛍光物質を含む試薬が反応し、励起光を照射すると蛍光をおこす。本実施形態では検出部１９でおこる試薬の反応結果を、窓１１１から光学的に検出する。 In the detection unit 19 of the microchip 1, the sample and the reagent containing the fluorescent substance stored in the microchip 1 react and emit fluorescence when irradiated with excitation light. In this embodiment, the reaction result of the reagent that occurs in the detection unit 19 is optically detected from the window 111.

図３に示すマイクロチップ１は、試薬の反応結果を測光する検出部１９がマイクロチップ１の内部に４つ設けられている例である。 The microchip 1 shown in FIG. 3 is an example in which four detection units 19 that measure the reaction result of the reagent are provided inside the microchip 1.

４つの検出部１９ａ、１９ｂ、１９ｃ、１９ｄは、図３に示す直線Ｆに沿って配設されている。検出部１９ａ、１９ｂ、１９ｃ、１９ｄの図示せぬ窓１１１ａ、１１１ｂ、１１１ｃ、１１１ｄは被覆基板１０９の面にそれぞれ設けられており、窓１１１ａ、１１１ｂ、１１１ｃ、１１１ｄを介して反応結果を光学的に検出できる。 The four detection units 19a, 19b, 19c, and 19d are arranged along a straight line F shown in FIG. Windows 111a, 111b, 111c, 111d (not shown) of the detectors 19a, 19b, 19c, 19d are provided on the surface of the coated substrate 109, respectively, and the reaction results are optically transmitted through the windows 111a, 111b, 111c, 111d. Can be detected.

検出ユニット１５は送りネジ３０１と螺合するネジ部を有し、送りネジ３０１が回転することにより図３の矢印Ｂ方向または逆方向に移動する。送りネジ３０１は直線Ｆと平行に配設されており、検出ユニット１５が送りネジ３０１によって移動すると、検出部１９ａ、１９ｂ、１９ｃ、１９ｄのそれぞれの中心部に、検出ユニット１５の図示せぬ受光部１６１の光軸が一致するように配置されている。検出ユニット１５は、所定の位置に移動した後、検出部１９ａ、１９ｂ、１９ｃ、１９ｄに順次励起光を照射し、蛍光物質が発光する蛍光を受光して電気信号を出力する。 The detection unit 15 has a threaded portion that is screwed with the feed screw 301, and moves in the direction of arrow B in FIG. The feed screw 301 is arranged in parallel with the straight line F. When the detection unit 15 is moved by the feed screw 301, a light reception (not shown) of the detection unit 15 is provided at the center of each of the detection units 19a, 19b, 19c, and 19d. It arrange | positions so that the optical axis of the part 161 may correspond. After moving to a predetermined position, the detection unit 15 sequentially irradiates the detection units 19a, 19b, 19c, and 19d with excitation light, receives the fluorescence emitted from the fluorescent material, and outputs an electrical signal.

送りネジ３０１はモータ３００によりジョイント３０２を介して駆動される。モータ３００は例えばパルスモータであり、パルスにより所定量回転する。モータ３００は本発明の検出ユニット駆動手段、送りネジ３０１は本発明の送りネジ手段である。 The feed screw 301 is driven by a motor 300 via a joint 302. The motor 300 is a pulse motor, for example, and rotates by a predetermined amount by a pulse. The motor 300 is the detection unit driving means of the present invention, and the feed screw 301 is the feed screw means of the present invention.

なお、検出ユニット１５には回転防止用に図３には図示せぬガイド穴が設けられており、ガイド穴を貫通するガイド棒に沿って移動する。ガイド棒は送りネジ３０１と平行に配設されている。 The detection unit 15 is provided with a guide hole (not shown in FIG. 3) for preventing rotation, and moves along a guide rod that passes through the guide hole. The guide bar is disposed in parallel with the feed screw 301.

なお、本実施形態ではマイクロチップ１に検出部１９が４つ設けられている場合について説明したが、検出部１９の数は１つ以上であればいくつでも良い。 In the present embodiment, the case where four detection units 19 are provided in the microchip 1 has been described. However, the number of detection units 19 may be any number as long as it is one or more.

図４に示すように、駆動液ポンプ９２の吸込側には、パッキン９０ｃが接続され、駆動液タンク９１に充填された駆動液を吸い込むようになっている。一方、駆動液ポンプ９２の吐出側にはパッキン９０ｂが接続されていて、パッキン９０ｃから吸い込んだ駆動液を、パッキン９０ｂを介してマイクロチップ１の駆動液注入部１１０からマイクロチップ１内に形成された微細流路６に注入する。パッキン９０ｂは駆動液ポンプ９２とマイクロチップ１の間に挟まれ、駆動液ポンプ９２の駆動液出口とパッキン９０ｂの開口部と駆動液注入部１１０とは連通している。このように、駆動液ポンプ９２から、連通しているパッキン９０ｂを介して駆動液注入部１１０より駆動液を注入する。 As shown in FIG. 4, a packing 90 c is connected to the suction side of the driving fluid pump 92 so that the driving fluid filled in the driving fluid tank 91 is sucked. On the other hand, a packing 90b is connected to the discharge side of the driving liquid pump 92, and the driving liquid sucked from the packing 90c is formed in the microchip 1 from the driving liquid injection part 110 of the microchip 1 through the packing 90b. Into the fine flow path 6. The packing 90b is sandwiched between the driving liquid pump 92 and the microchip 1, and the driving liquid outlet of the driving liquid pump 92, the opening of the packing 90b, and the driving liquid injection section 110 communicate with each other. In this manner, the driving liquid is injected from the driving liquid injection section 110 from the driving liquid pump 92 through the packing 90b that is in communication.

次に図５、図６を用いて本発明の実施形態について説明する。図５、図６は、本発明の実施形態の検査装置８０の内部構成の一例を示す断面図、である。 Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 5 and 6 are sectional views showing an example of the internal configuration of the inspection apparatus 80 according to the embodiment of the present invention.

図３で説明した検査装置８０の内部構成との違いは、検出ユニット１５が送りネジ３０１によって移動して２つのマイクロチップ１から順次反応結果を検出するように構成されている点である。今までに説明した構成要素には同番号を付し、２つのマイクロチップ１のそれぞれに対応する構成要素にはａ、ｂ符号を付けて区別する。 The difference from the internal configuration of the inspection apparatus 80 described with reference to FIG. 3 is that the detection unit 15 is configured to detect reaction results sequentially from the two microchips 1 by being moved by the feed screw 301. The constituent elements described so far are assigned the same numbers, and the constituent elements corresponding to the two microchips 1 are distinguished by attaching a and b symbols.

図５、図６は、図３で説明したようにマイクロチップ１ａ、１ｂが所定の位置に配置され、温度調節ユニット１５２、温度調節ユニット１５３と密着している状態を示している。図５（ａ）は初期状態、図５（ｂ）はマイクロチップ１ａを検査中の状態、図６（ａ）は待機中の状態、図６（ｂ）はマイクロチップ１ｂを検査中の状態である。 5 and 6 show a state in which the microchips 1a and 1b are arranged at predetermined positions and are in close contact with the temperature adjustment unit 152 and the temperature adjustment unit 153 as described with reference to FIG. 5A is an initial state, FIG. 5B is a state in which the microchip 1a is being inspected, FIG. 6A is in a standby state, and FIG. 6B is a state in which the microchip 1b is being inspected. is there.

図５、図６に示すマイクロチップ１ａ、１ｂは、図３で説明したマイクロチップ１と同じ構成であり、検出部１９がマイクロチップ１ａ、１ｂの内部に４つ設けられている。 The microchips 1a and 1b shown in FIGS. 5 and 6 have the same configuration as the microchip 1 described in FIG. 3, and four detection units 19 are provided inside the microchips 1a and 1b.

マイクロチップ１ａの４つの検出部１９ａａ、１９ａｂ、１９ａｃ、１９ａｄは、図３と同様に直線Ｆに沿って配設され、マイクロチップ１ｂの４つの検出部１９ｂａ、１９ｂｂ、１９ｂｃ、１９ｂｄも直線Ｆの延長線上に並ぶように配設されている。 The four detection units 19aa, 19ab, 19ac, 19ad of the microchip 1a are arranged along the straight line F as in FIG. 3, and the four detection units 19ba, 19bb, 19bc, 19bd of the microchip 1b are also straight lines F. It arrange | positions so that it may line up on an extension line.

図３と同様に、検出ユニット１５は送りネジ３０１と螺合するネジ部を有し、送りネジ３０１が回転することにより図５，図６の矢印Ｂ方向または逆方向に移動する。送りネジ３０１は直線Ｆと平行に配設されており、検出ユニット１５が送りネジ３０１によって移動すると、検出部１９ａａ、１９ａｂ、１９ａｃ、１９ａｄ、検出部１９ｂａ、１９ｂｂ、１９ｂｃ、１９ｂｄのそれぞれの中心部に、検出ユニット１５の受光部１６１の光軸が一致するように構成されている。 Similar to FIG. 3, the detection unit 15 has a threaded portion that is screwed with the feed screw 301, and moves in the direction of arrow B in FIG. The feed screw 301 is arranged in parallel with the straight line F, and when the detection unit 15 is moved by the feed screw 301, the respective center portions of the detection units 19aa, 19ab, 19ac, 19ad and the detection units 19ba, 19bb, 19bc, 19bd In addition, the optical axis of the light receiving portion 161 of the detection unit 15 is configured to match.

検出ユニット１５は、例えばレンズ１５５、プリズム１５９、発光部１６０、励起光カットフィルタ１５６、受光部１６１、基板１６３、１６４などから構成される。 The detection unit 15 includes, for example, a lens 155, a prism 159, a light emitting unit 160, an excitation light cut filter 156, a light receiving unit 161, substrates 163 and 164, and the like.

発光部１６０から照射される励起光は、プリズム１５９で反射し、検出部１９を照射する。検出部１９で発生する蛍光は、プリズム１５９を透過して励起光カットフィルタ１５６を介して受光部１６１に入射する。プリズム１５９を透過した光には励起光が多く含まれているので、励起光カットフィルタ１５６により励起光をカットし、蛍光のみを受光部１６１に入射するようにしている。 The excitation light emitted from the light emitting unit 160 is reflected by the prism 159 and irradiates the detection unit 19. The fluorescence generated by the detection unit 19 passes through the prism 159 and enters the light receiving unit 161 via the excitation light cut filter 156. Since the light transmitted through the prism 159 includes a lot of excitation light, the excitation light is cut by the excitation light cut filter 156 so that only the fluorescence is incident on the light receiving unit 161.

蛍光物質を励起する励起光と、蛍光の波長の差は数ｎｍ〜数１０ｎｍと非常に少ないため、励起光カットフィルタ１５６は、励起光と蛍光を分離するために急峻な遮断特性を持つ必要がある。励起光カットフィルタ１５６は１０層以上の薄膜を蒸着したフィルタであり、周囲温度により遮断特性が変化しやすい。そのため、できるだけ一定の温度で使用する必要がある。 Since the difference in wavelength between the excitation light for exciting the fluorescent substance and the fluorescence is very small, from several nanometers to several tens of nanometers, the excitation light cut filter 156 needs to have a steep cutoff characteristic in order to separate the excitation light and the fluorescence. is there. The excitation light cut filter 156 is a filter formed by depositing 10 or more thin films, and the cutoff characteristic is likely to change depending on the ambient temperature. Therefore, it is necessary to use at a constant temperature as much as possible.

第１位置検知部４０、第２位置検知部４１は検出ユニット１５を検出するためのセンサであり、フォトインタラプタ、フォトリフレクタ、磁気センサなどを用いることができる。第１位置検知部４０と第２位置検知部４１は、送りネジ３０１の両端に検出ユニット１５の初期位置を検出するために設けられている。第１位置検知部４０と第２位置検知部４１に用いるセンサは、周囲温度により誤検出するおそれがあるので、温度調節ユニット１５２、温度調節ユニット１５３による発熱、吸熱の影響を受けないよう温度調節ユニット１５２、温度調節ユニット１５３の上下以外の位置に配置する。 The first position detection unit 40 and the second position detection unit 41 are sensors for detecting the detection unit 15, and a photo interrupter, a photo reflector, a magnetic sensor, or the like can be used. The first position detector 40 and the second position detector 41 are provided at both ends of the feed screw 301 to detect the initial position of the detection unit 15. The sensors used for the first position detection unit 40 and the second position detection unit 41 may be erroneously detected depending on the ambient temperature. Therefore, the temperature adjustment is performed so that the temperature adjustment unit 152 and the temperature adjustment unit 153 are not affected by heat generation and heat absorption. The unit 152 and the temperature adjustment unit 153 are arranged at positions other than the upper and lower sides.

検出ユニット１５が反応結果を検出した後に移動する位置は、温度調節ユニット１５２、温度調節ユニット１５３による加熱または吸熱の影響を受けにくい位置である。図６（ａ）のように、隣り合う温度調節ユニット１５２ａ、温度調節ユニット１５３ａと温度調節ユニット１５２ｂ、温度調節ユニット１５３ｂの略中間位置であれば、温度調節ユニット１５２、温度調節ユニット１５３による加熱または吸熱の影響を受けにくい。 The position where the detection unit 15 moves after detecting the reaction result is a position that is not easily affected by heating or heat absorption by the temperature adjustment unit 152 and the temperature adjustment unit 153. As shown in FIG. 6A, if the temperature adjustment unit 152a, the temperature adjustment unit 153a, the temperature adjustment unit 152b, and the temperature adjustment unit 153b are approximately in the middle position, heating by the temperature adjustment unit 152 and the temperature adjustment unit 153 or Less susceptible to endotherm.

次に、検査の手順について説明する。 Next, an inspection procedure will be described.

図５（ａ）は、電源投入時など初期化時に、検出ユニット１５が移動する位置である。図５（ａ）では、第１位置検知部４０は検出ユニット１５に当接しＯＮ状態になっている。 FIG. 5A shows a position where the detection unit 15 moves during initialization such as when the power is turned on. In FIG. 5A, the first position detector 40 is in contact with the detection unit 15 and is in the ON state.

図５（ｂ）は検出部１９ａｄに励起光を照射し、反応結果を検出している状態を示している。マイクロチップ１ａの検査時は、検出部１９ａａ、１９ａｂ、１９ａｃ、１９ａｄの中心と光軸Ｌが一致する位置に順次検出ユニット１５を移動させて励起光を照射し、検出ユニット１５は蛍光物質が発光する蛍光を受光して電気信号を出力する。 FIG. 5B shows a state in which the detection unit 19ad is irradiated with excitation light and a reaction result is detected. At the time of inspection of the microchip 1a, the detection unit 15 is sequentially moved to a position where the optical axis L coincides with the center of the detection units 19aa, 19ab, 19ac, 19ad, and the detection unit 15 emits the fluorescent material. Receives fluorescence and outputs an electrical signal.

図６（ａ）は、検出ユニット１５がマイクロチップ１ａの反応結果を検出した後、次の検査のために待機中の状態である。図６（ａ）では、検出ユニット１５は、隣り合う温度調節ユニット１５２ａ、温度調節ユニット１５３ａと温度調節ユニット１５２ｂ、温度調節ユニット１５３ｂの略中間位置に位置している。 FIG. 6A shows a state in which the detection unit 15 is on standby for the next inspection after detecting the reaction result of the microchip 1a. In FIG. 6A, the detection unit 15 is located at a substantially intermediate position between the adjacent temperature adjustment unit 152a, temperature adjustment unit 153a, temperature adjustment unit 152b, and temperature adjustment unit 153b.

このようにすると、検出ユニット１５は温度調節ユニット１５２、１５３の影響を受けにくく温度変化を少なくできるので、検出ユニット１５の励起光カットフィルタ１５６の特性が変化して検出結果に影響を及ぼすことが無い。 In this way, the detection unit 15 is less affected by the temperature adjustment units 152 and 153, and the temperature change can be reduced. Therefore, the characteristics of the excitation light cut filter 156 of the detection unit 15 can change and affect the detection result. No.

図６（ｂ）は検出部１９ｂａに励起光を照射し、反応結果を検出している状態を示している。マイクロチップ１ｂの検査時も同様に、検出部１９ｂａ、１９ｂｂ、１９ｂｃ、１９ｂｄの中心と光軸Ｌが一致する位置に順次検出ユニット１５を移動させて励起光を照射し、蛍光物質が発光する蛍光を受光して電気信号を出力する。 FIG. 6B shows a state in which the detection unit 19ba is irradiated with excitation light and the reaction result is detected. Similarly, when inspecting the microchip 1b, the fluorescent light is emitted from the fluorescent material by moving the detection unit 15 sequentially to the position where the optical axis L coincides with the center of the detection units 19ba, 19bb, 19bc, 19bd. Is received and an electrical signal is output.

マイクロチップ１ｂを検査する前に、検出ユニット１５を第２位置検知部４１が検出ユニット１５を検知するまで移動させ、その位置を基準に所定のパルスをモータ３００に送って各検出部１９ｂａ、１９ｂｂ、１９ｂｃ、１９ｂｄの位置に移動させる。このようにすると検出ユニット１５の送り精度を高めることができる。 Before inspecting the microchip 1b, the detection unit 15 is moved until the second position detection unit 41 detects the detection unit 15, and a predetermined pulse is sent to the motor 300 based on the position to detect each detection unit 19ba, 19bb. , 19bc, 19bd. In this way, the feeding accuracy of the detection unit 15 can be increased.

図７は、本発明の実施形態における検査装置８０の回路ブロック図である。 FIG. 7 is a circuit block diagram of the inspection apparatus 80 in the embodiment of the present invention.

制御部９９は、ＣＰＵ９８（中央処理装置）とＲＡＭ９７（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ９６（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）等から構成され、不揮発性の記憶部であるＲＯＭ９６に記憶されているプログラムをＲＡＭ９７に読み出し、当該プログラムに従って検査装置８０の各部を集中制御する。 The control unit 99 includes a CPU 98 (central processing unit), a RAM 97 (Random Access Memory), a ROM 96 (Read Only Memory), and the like, and reads a program stored in the ROM 96 which is a nonvolatile storage unit to the RAM 97. Each part of the inspection apparatus 80 is centrally controlled according to the program.

以下、いままでに説明した機能と同一機能を有する機能ブロックには同番号を付し、説明を省略する。 Hereinafter, functional blocks having the same functions as those described so far are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

チップ検知部９５はマイクロチップ１が規制部材に当接すると検知信号をＣＰＵ９８に送信する。ＣＰＵ９８は検知信号を受信すると、機構駆動部３２に指令し所定の手順でマイクロチップ１を下降または上昇させる。 The chip detector 95 transmits a detection signal to the CPU 98 when the microchip 1 comes into contact with the regulating member. When the CPU 98 receives the detection signal, it instructs the mechanism driving unit 32 to lower or raise the microchip 1 according to a predetermined procedure.

ポンプ駆動部５００は各マイクロポンプの圧電素子を駆動する駆動部である。ポンプ駆動制御部４１２はプログラムに基づいて、所定量の駆動液を注入または吸入するようにポンプ駆動部５００を制御する。ポンプ駆動部５００はポンプ駆動制御部４１２の指令を受けて、圧電素子を駆動する。 The pump drive unit 500 is a drive unit that drives the piezoelectric element of each micropump. Based on the program, the pump drive control unit 412 controls the pump drive unit 500 to inject or suck a predetermined amount of drive fluid. The pump drive unit 500 receives the command from the pump drive control unit 412 and drives the piezoelectric element.

ＣＰＵ９８は所定のシーケンスで検査を行い、検査結果をＲＡＭ９７に記憶する。検出ユニット駆動制御部４１１はモータ３００を所定量回転させて、所定の検出部１９を検査する位置まで検出ユニット１５を移動させる。光量算出部４１０は受光部１６１の出力する電気信号から蛍光の光量を算出し検査結果とする。検出ユニット駆動制御部４１１は本発明の検出ユニット駆動制御手段である。 The CPU 98 performs inspections in a predetermined sequence and stores the inspection results in the RAM 97. The detection unit drive control unit 411 rotates the motor 300 by a predetermined amount and moves the detection unit 15 to a position where the predetermined detection unit 19 is inspected. The light amount calculation unit 410 calculates the light amount of the fluorescence from the electrical signal output from the light receiving unit 161 and uses it as the inspection result. The detection unit drive control unit 411 is detection unit drive control means of the present invention.

検査結果は、操作部８７の操作によりメモリカード５０１に記憶したり、プリンタ５０３によってプリントすることができる。 The inspection result can be stored in the memory card 501 by the operation of the operation unit 87 or printed by the printer 503.

図８は本発明の実施形態において、検査装置８０による検査の手順を説明するフローチャートである。 FIG. 8 is a flowchart for explaining an inspection procedure by the inspection device 80 in the embodiment of the present invention.

なお、温度調節ユニット１５２ａ、１５２ｂ、温度調節ユニット１５３ａ、１５３ｂは検査装置８０の電源投入時に通電され、所定の温度になっているものとする。また、検査に先立って、パッキン９０ｂ上端まで駆動液１１が充填されているものとする。 It is assumed that the temperature adjustment units 152a and 152b and the temperature adjustment units 153a and 153b are energized when the inspection apparatus 80 is turned on and have a predetermined temperature. Further, it is assumed that the driving liquid 11 is filled up to the upper end of the packing 90b prior to the inspection.

検査担当者は、最初に挿入口８３からマイクロチップ１ａを図示せぬ規制部材（図示せず）に当接するまで挿入する。すると、ＣＰＵ９８がチップ検知部９５から検知信号を検知して、機構駆動部３２を制御し、図４のようにパッキン９０ｂと温度調節ユニット１５２ａ、１５３ａがマイクロチップ１ａに密着する。 The person in charge of the inspection first inserts the microchip 1a from the insertion port 83 until it abuts against a regulating member (not shown). Then, the CPU 98 detects a detection signal from the chip detection unit 95 and controls the mechanism driving unit 32, and the packing 90b and the temperature adjustment units 152a and 153a are in close contact with the microchip 1a as shown in FIG.

本実施形態では、この状態からポンプ駆動制御部４１２が駆動液を各駆動液注入部１１０から所定の手順で注入し、マイクロチップ１ａ内部の流路で所定の反応を行った後、試薬等と反応させた検体が検出部１９ａａ、１９ａｂ、１９ａｃ、１９ａｄに注入され反応結果を検出可能な状態になっているものとする。 In this embodiment, from this state, the pump drive control unit 412 injects the driving liquid from each driving liquid injection unit 110 in a predetermined procedure, performs a predetermined reaction in the flow path inside the microchip 1a, It is assumed that the reacted specimen is injected into the detection units 19aa, 19ab, 19ac, and 19ad so that the reaction result can be detected.

この状態からＣＰＵ９８が検査のために行う手順について説明する。本実施形態では図３に示すマイクロチップ１のように複数の検出部１９が一列に並んでいるものとする。 A procedure performed by the CPU 98 for inspection from this state will be described. In the present embodiment, it is assumed that a plurality of detectors 19 are arranged in a line as in the microchip 1 shown in FIG.

Ｓ１０１：測定回数をｎ＝０とする。 S101: The number of measurements is set to n = 0.

ＣＰＵ９８は、測定回数をｎ＝０とする。 The CPU 98 sets the number of measurements to n = 0.

Ｓ１０２：検出ユニット１５の位置を初期化するステップである。 S102: This is a step of initializing the position of the detection unit 15.

検出ユニット駆動制御部４１１は、検出ユニット１５が図５の矢印Ｂと反対方向に移動するようモータ３００を回転させるとともに、第１位置検知部４０の状態を検知する。検出ユニット１５が第１位置検知部４０に当接し、第１位置検知部４０の備えるスイッチがオンになると検出ユニット駆動制御部４１１はモータ３００の回転を停止する（図５（ａ）参照）。 The detection unit drive control unit 411 rotates the motor 300 so that the detection unit 15 moves in the direction opposite to the arrow B in FIG. 5 and detects the state of the first position detection unit 40. When the detection unit 15 comes into contact with the first position detection unit 40 and the switch included in the first position detection unit 40 is turned on, the detection unit drive control unit 411 stops the rotation of the motor 300 (see FIG. 5A).

Ｓ１０３：検出ユニット１５を所定量移動させる。 S103: The detection unit 15 is moved by a predetermined amount.

検出ユニット駆動制御部４１１は、第１鏡胴１７０の光軸Ｌが、これから測定する検出部１９の中心に略一致する位置に移動するまで所定のパルスをモータ３００に与えて移動させる。例えば、検出部１９ａｄを測定する場合は、初期位置から図５（ｂ）の矢印Ｂ方向に移動するよう所定の数のパルスを与えてモータ３００を回転させ、図５（ｂ）に示す位置に停止させる。 The detection unit drive control unit 411 applies a predetermined pulse to the motor 300 to move it until the optical axis L of the first lens barrel 170 moves to a position substantially coincident with the center of the detection unit 19 to be measured. For example, when measuring the detector 19ad, a predetermined number of pulses are applied so as to move from the initial position in the direction of arrow B in FIG. 5 (b), and the motor 300 is rotated to the position shown in FIG. 5 (b). Stop.

Ｓ１０４：光量を測定するステップである。 S104: This is a step of measuring the amount of light.

光量算出部４１０は、発光部１６０に発光を指令し、受光部１６１から出力される光量に比例した電気信号のデータをＲＡＭ９７に一時記憶する。 The light amount calculation unit 410 instructs the light emitting unit 160 to emit light, and temporarily stores in the RAM 97 electrical signal data proportional to the light amount output from the light receiving unit 161.

Ｓ１０５：ｎ＝ｎ＋１とする。 S105: n = n + 1.

ＣＰＵ９８は、測定回数をｎ＝ｎ＋１とする。 The CPU 98 sets the number of measurements to n = n + 1.

Ｓ１０６：ｎ＝Ｎか、否か、を判定するステップである。 S106: This is a step of determining whether or not n = N.

ＣＰＵ９８は、測定回数が所定の回数Ｎか、否かを判定する。例えば、検出部１９の数が４つの場合はＮ＝４である。 The CPU 98 determines whether or not the number of measurements is a predetermined number N. For example, when the number of detection units 19 is four, N = 4.

ｎ＝Ｎではない場合、（ステップＳ１０６；Ｎｏ）、ステップＳ１０３に戻る。 If n = N is not satisfied (step S106; No), the process returns to step S103.

ｎ＝Ｎの場合、（ステップＳ１０６；Ｙｅｓ）、ステップＳ１０７に進む。 When n = N (step S106; Yes), the process proceeds to step S107.

Ｓ１０７：待機位置に検出ユニット１５を移動させるステップである。 S107: This is a step of moving the detection unit 15 to the standby position.

検出ユニット駆動制御部４１１は、図５（ｂ）の矢印Ｂ方向に移動するよう所定の数のパルスを与えてモータ３００を回転させ、図６（ａ）に示す位置に停止させる。 The detection unit drive control unit 411 gives a predetermined number of pulses to move in the direction of arrow B in FIG. 5B, rotates the motor 300, and stops at the position shown in FIG.

このように検出ユニット１５は図６（ａ）の位置で停止し、マイクロチップ１ｂが反応結果を検出可能な状態になるまで待機する。 In this way, the detection unit 15 stops at the position shown in FIG. 6A, and waits until the microchip 1b can detect the reaction result.

以上で、マイクロチップ１ａの光量測定の手順は終了である。 This is the end of the procedure for measuring the light quantity of the microchip 1a.

次に検査するマイクロチップ１ｂが反応結果を検出可能な状態になると、同様の手順で検出ユニット１５を移動させて反応結果を検出する。本実施形態では２つのマイクロチップを同時に検査できる検査装置８０を例に説明したが、３つ以上のマイクロチップ１を同時に検査できる検査装置の場合も同様の手順で反応結果を測定することができる。 Next, when the microchip 1b to be inspected is in a state where the reaction result can be detected, the detection unit 15 is moved in the same procedure to detect the reaction result. In the present embodiment, the inspection apparatus 80 that can inspect two microchips at the same time has been described as an example. However, in the case of an inspection apparatus that can inspect three or more microchips 1 at the same time, the reaction result can be measured by the same procedure. .

以上このように、本発明によれば、複数のマイクロチップを精度よく検査できる小型の検査装置を提供することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to provide a small inspection apparatus capable of inspecting a plurality of microchips with high accuracy.

本発明の実施形態における検査装置８０の外観図である。It is an external view of the test | inspection apparatus 80 in embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係わるマイクロチップ１の説明図である。It is explanatory drawing of the microchip 1 concerning embodiment of this invention. 検査装置８０の内部構成を説明するための斜視図である。4 is a perspective view for explaining an internal configuration of an inspection apparatus 80. FIG. 検査装置８０の内部構成の一例を示す断面図である。3 is a cross-sectional view showing an example of an internal configuration of an inspection apparatus 80. FIG. 本発明の実施形態の検査装置８０の内部構成の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the internal structure of the test | inspection apparatus 80 of embodiment of this invention. 本発明の実施形態の検査装置８０の内部構成の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the internal structure of the test | inspection apparatus 80 of embodiment of this invention. 本発明の実施形態における検査装置８０の回路ブロック図である。It is a circuit block diagram of the test | inspection apparatus 80 in embodiment of this invention. 本発明の実施形態における検査装置８０による検査の手順を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the procedure of the test | inspection by the test | inspection apparatus 80 in embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

１マイクロチップ
１５検出ユニット
１９検出部
４０第１位置検知部
４１第２位置検知部
８０検査装置
８２筐体
８３挿入口
８４表示部
９０パッキン
９１駆動液タンク
９２ポンプユニット
１１０流体注入部
１５２、１５３温度調節ユニット
１６０発光部
１６１受光部
３０１送りネジ
３０２モータ
４１１検出ユニット駆動制御部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Microchip 15 Detection unit 19 Detection part 40 1st position detection part 41 2nd position detection part 80 Inspection apparatus 82 Housing | casing 83 Insertion port 84 Display part 90 Packing 91 Drive liquid tank 92 Pump unit 110 Fluid injection | pouring part 152,153 Temperature Adjustment unit 160 Light-emitting unit 161 Light-receiving unit 301 Feed screw 302 Motor 411 Detection unit drive control unit

Claims

マイクロチップに注入された試薬と検体を所定の温度に調節して反応させ反応結果を測定する検査装置において、
複数の前記マイクロチップをそれぞれ所定の温度に調節する複数の温度調節ユニットと、
前記マイクロチップから前記反応結果を検出する検出ユニットと、
複数の前記マイクロチップから前記反応結果を検出する複数の位置に順次前記検出ユニットを移動させる検出ユニット駆動手段と、
前記検出ユニット駆動手段の駆動を制御する検出ユニット駆動制御手段と、
を有し、
前記検出ユニット駆動制御手段は、
前記検出ユニットが一つの前記マイクロチップから前記反応結果を検出した後、前記検出ユニット駆動手段を駆動して前記検出ユニットを前記温度調節ユニットから離れた位置に移動させることを特徴とする検査装置。 In an inspection device that measures the reaction results by adjusting the reagent and the sample injected into the microchip to react at a predetermined temperature,
A plurality of temperature control units that adjust each of the plurality of microchips to a predetermined temperature;
A detection unit for detecting the reaction result from the microchip;
Detection unit driving means for sequentially moving the detection unit to a plurality of positions for detecting the reaction results from the plurality of microchips;
Detection unit drive control means for controlling the drive of the detection unit drive means;
Have
The detection unit drive control means includes
After the detection unit detects the reaction result from one microchip, the detection unit is driven to move the detection unit to a position away from the temperature control unit.

前記検出ユニット駆動制御手段は、
前記検出ユニットが前記反応結果を検出した後、前記検出ユニット駆動手段を駆動して前記検出ユニットを隣り合う前記温度調節ユニットの略中間位置に移動させることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。 The detection unit drive control means includes
2. The inspection according to claim 1, wherein after the detection unit detects the reaction result, the detection unit driving unit is driven to move the detection unit to a substantially intermediate position between the adjacent temperature control units. apparatus.

前記検出ユニット駆動手段の駆動により前記検出ユニットを直線的に移動させる送りネジ手段と、
前記検出ユニット検知する前記送りネジ手段の一端に配置された第１位置検知手段と、
前記検出ユニット検知する前記送りネジ手段の他端に配置された第２位置検知手段と、
を有し、
前記第１位置検知手段と前記第２位置検知手段は前記温度調節ユニットの上下以外の位置に配置することを特徴とする請求項１または２に記載の検査装置。 Feed screw means for linearly moving the detection unit by driving the detection unit drive means;
First position detection means disposed at one end of the feed screw means for detecting the detection unit;
Second position detection means disposed at the other end of the feed screw means for detecting the detection unit;
Have
The inspection apparatus according to claim 1, wherein the first position detection unit and the second position detection unit are arranged at positions other than the upper and lower sides of the temperature adjustment unit.