JP2009042433A - Image forming apparatus, layer thickness detecting method, and layer thickness detecting program - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、画像形成装置、層厚検出方法及び層厚検出プログラムに関するものである。 The present invention relates to an image forming apparatus, a layer thickness detection method, and a layer thickness detection program.
特許文献1は、電極部材に異なる電圧を印加して得られたV−I特性に基づいて、被帯電体の厚みを検知する画像形成装置を開示する。 Patent Document 1 discloses an image forming apparatus that detects the thickness of an object to be charged based on VI characteristics obtained by applying different voltages to electrode members.
本発明は、誘電率が異なる複数の被覆層を具備する被帯電体の被覆層の層厚を容易に検出することができる画像形成装置、層厚検出方法及び層厚検出プログラムを提供することを目的とする。 The present invention provides an image forming apparatus, a layer thickness detection method, and a layer thickness detection program capable of easily detecting the layer thickness of a coating layer of an object to be charged having a plurality of coating layers having different dielectric constants. Objective.
上記目的を達成するため、請求項1に係る本発明は、誘電率が所定値である第1の被覆層と、この第1の被覆層よりも誘電率が大きく、前記第1の被覆層をさらに被覆する第2の被覆層とを具備する像保持体と、この像保持体に接触又は近接して該像保持体を帯電させる帯電部材と、この帯電部材により帯電させられる前記像保持体の飽和電荷量を検出する飽和電荷量検出手段と、この飽和電荷量検出手段が検出する飽和電荷量に基づいて、前記第2の被覆層の層厚初期値を変えることなく、前記第2の被覆層の誘電率が前記第1の被覆層の誘電率と等しいと仮定した場合の飽和電荷量の仮定初期値を算出する仮定初期値算出手段と、この仮定初期値算出手段が算出する飽和電荷量の仮定初期値と前記飽和電荷量検出手段が検出する飽和電荷量との相対関係に基づいて、前記第1の被覆層の層厚を算出する層厚算出手段とを有する画像形成装置である。 In order to achieve the above object, the present invention according to claim 1 includes a first coating layer having a predetermined dielectric constant, a dielectric constant larger than that of the first coating layer, and the first coating layer. Further, an image carrier comprising a second coating layer for coating, a charging member for charging the image carrier in contact with or in proximity to the image carrier, and the image carrier charged by the charging member. Based on the saturation charge amount detecting means for detecting the saturation charge amount and the saturation charge amount detected by the saturation charge amount detection means, without changing the initial layer thickness of the second coating layer, the second coating An assumed initial value calculating means for calculating an assumed initial value of a saturated charge amount when it is assumed that the dielectric constant of the layer is equal to the dielectric constant of the first covering layer; and the saturated charge amount calculated by the assumed initial value calculating means Assumed initial value and saturation charge detected by the saturation charge amount detection means Based on the relative relationship between an image forming apparatus having a layer thickness calculating means for calculating the thickness of the first coating layer.
請求項2に係る本発明は、前記仮定初期値算出手段が、前記第1の被覆層と前記第2の被覆層との層厚比及び誘電率比に基づいて、飽和電荷量の仮定初期値を算出する請求項1記載の画像形成装置である。 According to a second aspect of the present invention, the assumed initial value calculating means is configured to assume an assumed initial value of the saturation charge amount based on a layer thickness ratio and a dielectric constant ratio between the first coating layer and the second coating layer. The image forming apparatus according to claim 1, wherein
請求項3に係る本発明は、前記像保持体の動作量を検出する動作量検出手段と、前記飽和電荷量検出手段が飽和電荷量を検出する時機を制御する制御手段とをさらに有し、前記制御手段は、前記動作量検出手段が検出する動作量に基づいて、前記飽和電荷量検出手段が飽和電荷量の検出を再開するよう制御する請求項1又は2記載の画像形成装置である。 The present invention according to claim 3 further includes an operation amount detection means for detecting an operation amount of the image carrier, and a control means for controlling the timing when the saturation charge amount detection means detects the saturation charge amount, 3. The image forming apparatus according to claim 1, wherein the control unit controls the saturation charge amount detection unit to resume detection of the saturation charge amount based on the operation amount detected by the operation amount detection unit.
請求項4に係る本発明は、前記制御手段が、前記飽和電荷量検出手段が検出する飽和電荷量の検出結果及び検出精度に基づいて、前記飽和電荷量検出手段が飽和電荷量を検出する時機の間隔を制御する請求項3記載の画像形成装置である。 According to a fourth aspect of the present invention, when the control unit detects the saturation charge amount based on a detection result and detection accuracy of the saturation charge amount detected by the saturation charge amount detection unit. The image forming apparatus according to claim 3, wherein the interval is controlled.
請求項5に係る本発明は、前記層厚算出手段が算出する前記第1の被覆層の層厚に基づいて、前記像保持体の寿命を判定する寿命判定手段をさらに有する請求項1乃至4いずれか記載の画像形成装置である。 According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a life judging means for judging a life of the image carrier based on a layer thickness of the first covering layer calculated by the layer thickness calculating means. Any one of the image forming apparatuses.
請求項6に係る本発明は、誘電率が所定値である第1の被覆層と、この第1の被覆層よりも誘電率が大きく、第1の被覆層をさらに被覆する第2の被覆層とを具備する被帯電体の飽和電荷量を検出し、第2の被覆層の層厚初期値を変えることなく、第2の被覆層の誘電率が第1の被覆層の誘電率と等しいと仮定して、検出した飽和電荷量に基づく飽和電荷量の仮定初期値を算出し、算出した飽和電荷量の仮定初期値とその後の被帯電体の飽和電荷量との相対関係に基づいて、第1の被覆層の層厚を算出することにより検出する層厚検出方法である。 According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a first coating layer having a predetermined dielectric constant, and a second coating layer having a dielectric constant larger than that of the first coating layer and further covering the first coating layer. And the dielectric constant of the second coating layer is equal to the dielectric constant of the first coating layer without changing the initial value of the thickness of the second coating layer. Assuming that the assumed initial value of the saturated charge amount based on the detected saturated charge amount is calculated, and based on the relative relationship between the calculated assumed initial value of the saturated charge amount and the saturated charge amount of the subsequent charged object, This is a layer thickness detection method in which detection is performed by calculating the layer thickness of one coating layer.
請求項7に係る本発明は、誘電率が所定値である第1の被覆層と、この第1の被覆層よりも誘電率が大きく、第1の被覆層をさらに被覆する第2の被覆層とを具備する被帯電体の飽和電荷量を検出するステップと、第2の被覆層の層厚初期値を変えることなく、第2の被覆層の誘電率が第1の被覆層の誘電率と等しいと仮定して、検出した飽和電荷量に基づく飽和電荷量の仮定初期値を算出するステップと、算出した飽和電荷量の仮定初期値とその後の被帯電体の飽和電荷量との相対関係に基づいて、第1の被覆層の層厚を算出することにより検出するステップとをコンピュータに実行させる被帯電体の層厚検出プログラムである。 The present invention according to claim 7 includes a first coating layer having a predetermined dielectric constant, and a second coating layer having a dielectric constant larger than that of the first coating layer and further covering the first coating layer. And detecting the saturation charge amount of the member to be charged, and without changing the initial thickness of the second coating layer, the dielectric constant of the second coating layer is the dielectric constant of the first coating layer. Assuming that they are equal, a step of calculating an assumed initial value of the saturated charge amount based on the detected saturated charge amount, and a relative relationship between the assumed initial value of the calculated saturated charge amount and the subsequent saturated charge amount of the object to be charged And a step of detecting the layer thickness of the first coating layer based on the computer program.
請求項1に係る本発明によれば、本構成を有していない場合に比較して、誘電率が異なる複数の被覆層を具備する像保持体の被覆層の層厚を容易に検出することができる。 According to the first aspect of the present invention, the layer thickness of the coating layer of the image carrier having a plurality of coating layers having different dielectric constants can be easily detected as compared with the case where the present configuration is not provided. Can do.
請求項2に係る本発明によれば、請求項1に係る本発明の効果に加えて、像保持体の飽和電荷量の仮定初期値を容易に算出することができる。 According to the second aspect of the present invention, in addition to the effect of the first aspect of the present invention, the assumed initial value of the saturation charge amount of the image carrier can be easily calculated.
請求項3に係る本発明によれば、請求項1又は2に係る本発明の効果に加えて、像保持体の交換が不要な時期に第1の被覆層の層厚を算出することを防止することができる。 According to the third aspect of the present invention, in addition to the effect of the present invention according to the first or second aspect, it is possible to prevent the thickness of the first covering layer from being calculated at a time when replacement of the image carrier is unnecessary. can do.
請求項4に係る本発明によれば、請求項3に係る本発明の効果に加えて、第1の被覆層の層厚を効率的に精度よく算出することができる。 According to the present invention of claim 4, in addition to the effect of the present invention of claim 3, the layer thickness of the first coating layer can be calculated efficiently and accurately.
請求項5に係る本発明によれば、請求項1乃至4いずれかに係る本発明の効果に加えて、像保持体の寿命を容易に判定することができる。 According to the fifth aspect of the present invention, in addition to the effect of the present invention according to any one of the first to fourth aspects, the lifetime of the image carrier can be easily determined.
請求項6に係る本発明によれば、本構成を有していない場合に比較して、誘電率が異なる複数の被覆層を具備する被帯電体の被覆層の層厚を容易に検出することができる。 According to the sixth aspect of the present invention, it is possible to easily detect the layer thickness of the coating layer of the member to be charged having a plurality of coating layers having different dielectric constants, compared to the case where the present configuration is not provided. Can do.
請求項7に係る本発明によれば、本構成を有していない場合に比較して、誘電率が異なる複数の被覆層を具備する被帯電体の被覆層の層厚を容易に検出することができる。 According to the present invention of claim 7, it is possible to easily detect the layer thickness of the coating layer of the object to be charged that includes a plurality of coating layers having different dielectric constants, compared to the case where the present configuration is not provided. Can do.
次に本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図1及び図2において、本発明の実施形態に係る画像形成装置10の概要が示されている。画像形成装置10は、画像形成部12と、原稿読取装置14とを有する。画像形成部12は、例えばゼログラフィ方式のもので、用紙などの記録媒体が積載された例えば4段の給紙トレイ16a,16b,16c,16d及び手差しトレイ18とを有し、これらトレイ16a〜16d、18から記録媒体搬送路20に供給された記録媒体に画像を形成するようになっている。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
1 and 2 show an outline of an
即ち、画像形成部12は、例えば円筒状の回転する像保持体22と、この像保持体22を一様に接触帯電する例えば帯電ロールからなる帯電部材24と、この帯電部材24により一様に帯電された像保持体22に静電潜像を形成する露光装置(光書込み装置)26と、この露光装置26により形成された像保持体22上の潜像を現像剤で可視化する現像装置28と、この現像装置28により形成された現像剤像を記録媒体に転写する転写装置30と、像保持体22に残った現像剤をクリーニングするクリーナ32とを有する。
In other words, the
帯電部材24は、例えばゴムなどの弾性を有する部材を表面に有し、像保持体22に接触して回転する。露光装置26は、レーザ走査方式のもので、例えば原稿読取装置14で読み取った原稿の画像をレーザのオンオフ信号に変えて出力する。転写装置30は例えば転写ロールから構成され、この転写装置30により現像剤像が転写された記録媒体が定着装置34に送られ、この定着装置34により現像剤像が記録媒体に定着される。現像剤像が定着された記録媒体は、排出トレイ36に排出される。
The
記録媒体搬送路20には、複数の記録媒体搬送ロール38が設けられている。この記録媒体搬送ロール38の一つとして、転写装置30上流側近傍には、レジストロール40が配置されている。このレジストロール40は、供給された記録媒体を一時停止させ、像保持体22に潜像が形成されるタイミングと同期して記録媒体を転写装置30に供給するように制御される。
A plurality of recording
原稿読取装置14は、原稿を光学的に読み取る光学系42と、自動原稿送り装置44とを有する。
光学系42は、自動原稿送り装置44により送られた原稿を流し読みする機能と、反射ミラー等を走査して原稿台ガラス54上に載置された原稿を読み取る機能とを備えている。
The
The
自動原稿送り装置44は、多数の原稿が載置される原稿載置台56と、原稿を搬送する原稿搬送路58と、画像を読み取った後の原稿が排出される排出台60とを有する。
The
また、画像形成装置10は、制御ユット62、表示装置及びキーボードなどを含むユーザインタフェース装置(UI装置)64、HDD・CD装置などの記憶装置66及び通信装置68などを有する。制御ユニット62は、CPU70及びメモリ72などを含み、画像形成装置10を構成する各部を制御するようにされている。
このように、画像形成装置10は、コンピュータとしての機能を含み、記憶媒体74又は通信装置68を介して受け入れたプログラムを実行することにより、印刷などの処理を行う。
The
As described above, the
次に、像保持体22、帯電部材24及びその周辺について詳述する。
図3は、像保持体22、帯電部材24及びその周辺の構成の詳細を示す模式図である。帯電部材24には、電源部82が接続されている。電源部82は、交流電源84及び直流電源86を有し、制御ユニット62の制御に応じて、所定の直流電圧Vdcに交流電圧Vacを重畳した電圧を帯電部材24に印加する。例えば、電源部82は、交流電源84が1000Hzの周波数でピーク間電圧Vppが800〜2500V程度の交流電圧を帯電部材24に対して印加し、直流電源86が−750V程度の直流電圧Vdcを帯電部材24に対して印加して、所定の電流を帯電部材24に供給するようにされている。電流検出部88は、電源部82が帯電部材24に対して流す電流を検出し、制御ユニット62に対して出力する。
Next, the
FIG. 3 is a schematic diagram showing details of the configuration of the
像保持体22は、例えば接地されたアルミニウムなどからなる円筒状の導電性支持体90と、この導電性支持体90の外面を覆う感光層92とを有し、例えば帯電部材24が接触する軸方向の長さが300mmにされている。感光層92は、図4に示すように、例えば電荷発生層94、電荷輸送層(CT層)96及び保護層(OC層)98から構成される。電荷発生層94は、電荷キャリア生成材料を含んで導電性支持体90を被覆している。電荷輸送層96は、電荷キャリア輸送材料を含む所定の誘電率の部材からなり、層厚が所定値に設定され、電荷発生層94の外側に積層されている。保護層98は、誘電率が電荷輸送層96よりも大きい部材からなり、層厚が所定値に設定され、電荷輸送層96の外側に積層されている。また、保護層98は、電荷輸送層96よりも硬度が高くされている。
The
図5は、電流検出部88が検出する直流電流値と像保持体22の電位との関係を示すグラフである。ここで、電源部82は像保持体22を帯電させるために帯電部材24に対して交流電圧と直流電圧とを印加しており、直流電源86が帯電部材24に対して印加する直流電圧が−750Vとなっている。帯電部材24に−750Vの直流電圧が印加され、像保持体22が1回転すると、像保持体22は約−720Vに帯電し、制御ユニット62は電流検出部88が検出する帯電電流とリーク電流とを含む直流電流値に応じて電荷量Q1を算出する。像保持体22は1回転しても帯電電荷量が飽和していない。
FIG. 5 is a graph showing the relationship between the DC current value detected by the
像保持体22が2回転すると、像保持体22は約−740Vに帯電し、制御ユニット62は電流検出部88が検出する帯電電流とリーク電流とを含む直流電流値に応じて電荷量Q2を算出する。像保持体22は2回転しても帯電電荷量が飽和していない。像保持体22が3回転すると、像保持体22は約−750Vに帯電し、制御ユニット62は電流検出部88が検出する帯電電流とリーク電流とを含む直流電流値に応じて電荷量Q3を算出する。像保持体22は3回転すると帯電電荷量が飽和している。像保持体22が4回転すると、像保持体22の帯電電荷量が飽和しているので、制御ユニット62は電流検出部88が検出するリーク電流のみからなる直流電流値に応じて電荷量Q4を算出する。なお、電流検出部88が検出するリーク電流には、電源部82が印加する電圧値に応じて変化するリーク電流と、電源部82が印加する電圧値によらず流れるリーク電流とが含まれている。
When the
像保持体22が3回転するまでに制御ユニット62が算出した電荷量Q1,Q2,Q3には、それぞれリーク電流に対応する電荷量Q4が含まれている。そこで、制御ユニット62は、像保持体22の飽和電荷量Qを下式1により算出することにより、検出するようにされている。
The charge amounts Q1, Q2, and Q3 calculated by the
飽和電荷量Q=Q1+Q2+Q3−Q4×3 ・・・(1) Saturation charge Q = Q1 + Q2 + Q3-Q4 × 3 (1)
像保持体22は、上述したように円筒状の部材であり、帯電部材24が接触することによって外面側から摩耗し、感光層92の総層厚が摩耗によって減少すると、飽和電荷量Qが増大する。
そこで、制御ユニット62は、像保持体22の飽和電荷量Qを検出し、感光層92の総層厚を算出することにより検出して、像保持体22の寿命を判定するようにされている。
As described above, the
Therefore, the
図6は、像保持体22の動作量に応じて摩耗する感光層92の総層厚の変化と、像保持体22の飽和電荷量の変化との関係を示すグラフである。なお、像保持体22の飽和電荷量の変化は、図6において、縦軸に像保持体22の飽和電荷量の逆数をとることによって示されている。
FIG. 6 is a graph showing the relationship between the change in the total layer thickness of the
図6に示すように、感光層92の総層厚の初期値をa(仕様値:定数)とすると、像保持体22の動作量に応じて感光層92が摩耗し、感光層92の総層厚がb0(仕様値:定数)になるまで、略保護層(OC層)98のみが摩耗する。保護層98が摩耗する間は、感光層92の総層厚と像保持体22の飽和電荷量の逆数とが比例関係にある。感光層92の層層厚がb0に達すると、保護層98は略消失しており、さらに感光層92が動作を続けると、電荷輸送層(CT層)96のみが摩耗する。また、電荷輸送層96が摩耗する間も、感光層92の総層厚と像保持体22の飽和電荷量の逆数とが比例関係にある。ただし、上述したように、保護層98は、誘電率が電荷輸送層96よりも大きいので、感光層92の総層厚に対する像保持体22の飽和電荷量の逆数の傾きは、保護層98が摩耗している期間よりも、電荷輸送層96が摩耗している期間の方が大きくなっている。
As shown in FIG. 6, when the initial value of the total thickness of the
制御ユニット62は、電流検出部88介して像保持体22の飽和電荷量Qの初期値を検出し、保護層98の層厚初期値を変えることなく、保護層98の誘電率が電荷輸送層96の誘電率と等しいと仮定して、像保持体22の飽和電荷量の仮定初期値を算出し、その後に検出する像保持体22の飽和電荷量Qが像保持体22の寿命を示す所定値(像保持体22が寿命に達したと判定されるべき電荷輸送層96の層厚cに対応する値)に略一致した場合に、像保持体22が寿命に達したと判定するようにされている。
The
制御ユニット62は、図6に示したように、飽和電荷量Qを示す値に代えて、飽和電荷量の逆数を用いて飽和電荷量の変化を示すようにされてもよい。
例えば、制御ユニット62は、電流検出部88介して像保持体22の飽和電荷量Qの初期値を検出し、検出した飽和電荷量の初期値の逆数A0を算出した後に、保護層98の層厚初期値を変えることなく、保護層98の誘電率が電荷輸送層96の誘電率と等しいと仮定して、像保持体22の飽和電荷量の仮定初期値の逆数A1を算出し、その後に検出する像保持体22の飽和電荷量の逆数が像保持体22の寿命を示す所定値C(像保持体22が寿命に達したと判定されるべき電荷輸送層96の層厚cに対応する値)に略一致した場合に、像保持体22が寿命に達したと判定するようにされてもよい。
As shown in FIG. 6, the
For example, the
像保持体22の寿命を示す所定値Cは、飽和電荷量の仮定初期値の逆数A1に対する相対値であり、感光層92の総層厚が初期値aから例えば40%消失した場合の飽和電荷量の逆数に対応している。
また、制御ユニット62は、像保持体22の動作量を検出し、飽和電荷量が誤差を含んで検出されても、検出精度に応じて、飽和電荷量の逆数が所定値Cよりも大きい値(例えば所定値B1:電荷輸送層96の層厚cよりも大きい値の層厚b1に対応)になるように、像保持体22の動作量に応じて感光層92の摩耗量(又は総層厚)を予測し、予測結果に応じたタイミング(時機)に飽和電荷量Qの検出を再開するようにされてもよい。
さらに、制御ユニット62は、電流検出部88を介して検出した飽和電荷量Qの値に応じて、次に飽和電荷量Qを検出する時機を設定するようにされてもよい。例えば、制御ユニット62は、検出した飽和電荷量Qの値が層厚cの値に近づくにつれて、飽和電荷量Qを検出する間隔を短くするようにされてもよい。
The predetermined value C indicating the lifetime of the
Further, the
Further, the
次に、制御ユニット62が電荷輸送層96の層厚を算出し、像保持体22の寿命を判定するために行う処理の具体例について説明する。
図7は、制御ユニット62が電荷輸送層96の層厚を算出し、像保持体22の寿命を判定するために実行する寿命判定プログラム100の構成を示すプログラム構成図である。
図7に示すように、寿命判定プログラム100は、サイクル数(動作量)検出部102、時機(タイミング)制御部104、飽和電荷量検出部106、仮定初期値算出部108、層厚算出部110及び寿命判定部112から構成される。
Next, a specific example of processing performed for the
FIG. 7 is a program configuration diagram showing a configuration of a
As shown in FIG. 7, the
サイクル数検出部102は、例えば像保持体22に対する静電潜像形成回数情報(像保持体22の回転数)を取得して、像保持体22のサイクル数(動作量)を検出し、時機制御部104に対して出力する。
The cycle
時機制御部104は、サイクル数検出部102が出力する像保持体22のサイクル数に応じて、飽和電荷量検出部106が飽和電荷量Qの初期値を検出する時機(タイミング)を制御するとともに、飽和電荷量検出部106が検出する飽和電荷量Qの検出結果、及びサイクル数検出部102が出力する像保持体22のサイクル数に応じて、飽和電荷量検出部106が次に飽和電荷量Qを検出する時機(タイミング)を制御する。
The
飽和電荷量検出部106は、時機制御部104の制御(設定)に応じて、電流検出部88が検出する帯電電流とリーク電流とを含む直流電流値を受け入れ、上式1を用いて像保持体22の飽和電荷量Qを算出することにより検出し、飽和電荷量Qの初期値を仮定初期値算出部108に対して出力し、その他の飽和電荷量Qの値を時機制御部104及び層厚算出部110に対して出力する。
The saturation charge
仮定初期値算出部108は、飽和電荷量検出部106が出力する飽和電荷量Qの初期値を受け入れ、例えば上述した像保持体22の飽和電荷量の仮定初期値を算出し、層厚算出部110に対して出力する。
なお、仮定初期値算出部108は、飽和電荷量検出部106が出力する飽和電荷量Qの初期値を受け入れ、例えば上述した像保持体22の飽和電荷量Qの初期値の逆数A0、及び像保持体22の飽和電荷量の仮定初期値の逆数A1を算出し、層厚算出部110に対して出力するようにされてもよい。
The assumed initial
The assumed initial
層厚算出部110は、仮定初期値算出部108が出力する飽和電荷量の仮定初期値(又は仮定初期値の逆数A1)と、飽和電荷量検出部106が出力する飽和電荷量Qとを受け入れ、飽和電荷量の仮定初期値(又は仮定初期値の逆数A1)と飽和電荷量Q(又は1/Q)との相対関係に応じて感光層92の総層厚を算出し、寿命判定部112に対して出力する。
例えば、層厚算出部110は、仮定初期値の逆数A1と飽和電荷量Qの逆数1/Qとの相対関係に応じて感光層92の総層厚を算出する場合、下式2による演算を行って、感光層92の総層厚の値を算出する。
The layer
For example, when calculating the total layer thickness of the
A1=A0×(a0×R+b0)÷(a0+b0) ・・・(2)
ただし、
A1:仮定初期値の逆数
A0:飽和電荷量Qの初期値の逆数
a0:保護層98の層厚(仕様値:定数)
b0:電荷輸送層96の層厚(仕様値:定数)
R:誘電率比=ε1/ε2
ε1:保護層98の誘電率
ε2:電荷輸送層96の誘電率
A1 = A0 × (a0 × R + b0) ÷ (a0 + b0) (2)
However,
A1: Reciprocal of assumed initial value
A0: Reciprocal of initial value of saturation charge amount Q
a0: Layer thickness of the protective layer 98 (specification value: constant)
b0: Layer thickness of the charge transport layer 96 (specification value: constant)
R: dielectric constant ratio = ε1 / ε2
ε1: dielectric constant of
ε2: dielectric constant of the
寿命判定部112は、層厚算出部110が出力した感光層92の総層厚の値を受け入れ、感光層92の総層厚が電荷輸送層96の層厚b0(仕様値:定数)以下であり、像保持体22の寿命と判定されるべき電荷輸送層96の層厚c(判定基準値)に略一致した場合に、像保持体22が寿命に達したと判定し、例えばUI装置64などに対して出力する。
The
図8は、制御ユニット62が寿命判定プログラム100を実行して像保持体22の寿命を判定するために行う処理例(S10)を示すフローチャートである。
図8に示すように、ステップ100(S100)において、飽和電荷量検出部106は、時機制御部104の制御に応じて、飽和電荷量Qの初期値を検出する。
FIG. 8 is a flowchart showing a processing example (S10) performed for the
As shown in FIG. 8, in step 100 (S <b> 100), the saturation charge
ステップ102(S102)において、仮定初期値算出部108は、像保持体22の飽和電荷量の仮定初期値(又は仮定初期値の逆数A1)を算出する。
In step 102 (S102), the assumed initial
ステップ104(S104)において、サイクル数検出部102は、像保持体22のサイクル数(動作量)を検出する。
In step 104 (S104), the cycle
ステップ106(S106)において、時機制御部104は、S104の処理で検出したサイクル数が例えば所定値に達したか否かを判定し、所定値に達した(サイクル数=所定値)場合にはS108の処理に進み、その他の場合にはS104の処理に進む。ここで、制御ユニット62がサイクル数と比較する所定値は、例えば電荷輸送層96の層厚が層厚cよりも大きい値の層厚b1であることを予測可能なサイクル数(像保持体22の動作量)である。
In step 106 (S106), the
ステップ108(S108)において、時機制御部104は、飽和電荷量Qの検出時機を飽和電荷量検出部106に対して設定する。
In step 108 (S108), the
ステップ110(S110)において、飽和電荷量検出部106は、時機制御部104による設定に応じて飽和電荷量Qを検出する。
In step 110 (S110), the saturation charge
ステップ112(S112)において、層厚算出部110は、S102の処理において算出された像保持体22の飽和電荷量の仮定初期値(又は仮定初期値の逆数A1)と、S110の処理において検出された飽和電荷量Q(又は1/Q)との相対関係に応じて感光層92の総層厚を算出する。
In step 112 (S112), the
ステップ114(S114)において、寿命判定部112は、S112の処理において算出された感光層92の総層厚が像保持体22の寿命と判定されるべき電荷輸送層96の層厚c(判定基準値)に略一致するか否かを判定し、感光層92の総層厚が層厚cに略一致する場合にはS116の処理に進み、その他の場合はS108の処理に進む。
In step 114 (S114), the
ステップ116(S116)において、寿命判定部112は、像保持体22が寿命であると判定する。
In step 116 (S116), the
10 画像形成装置
12 画像形成部
22 像保持体
24 帯電部材
62 制御ユニット
64 UI装置
70 CPU
72 メモリ
82 電源部
84 交流電源
86 直流電源
88 電流検出部
90 導電性支持体
92 感光層
94 電荷発生層
96 電荷輸送層
98 保護層
100 寿命判定プログラム
102 サイクル数検出部
104 時機制御部
106 飽和電荷量検出部
108 仮定初期値算出部
110 層厚算出部
112 寿命判定部
DESCRIPTION OF
72
Claims (7)
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007206274A JP2009042433A (en) | 2007-08-08 | 2007-08-08 | Image forming apparatus, layer thickness detecting method, and layer thickness detecting program |
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JP (1) | JP2009042433A (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018097268A (en) * | 2016-12-15 | 2018-06-21 | コニカミノルタ株式会社 | Image formation apparatus |
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2007
- 2007-08-08 JP JP2007206274A patent/JP2009042433A/en active Pending
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