JP2008261884A

JP2008261884A - フレッチング腐食試験装置

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Publication number: JP2008261884A
Application number: JP2008189077A
Authority: JP
Inventors: Tomohiro Shimada; 知弘島田; Shinya Matsuura; 伸也松浦; Hiroshi Kawasaki; 広志川崎
Original assignee: Yazaki Corp
Current assignee: Yazaki Corp
Priority date: 2002-02-21
Filing date: 2008-07-22
Publication date: 2008-10-30
Anticipated expiration: 2023-02-21
Also published as: JP4571995B2

Abstract

【課題】微摺動摩耗試験を正確に行うことができるフレッチング腐食試験装置を提供する。
【解決手段】フレッチング腐食試験装置１は雄端子２と雌端子３とを互いに接離させてフレッチング腐食させこれら端子２，３間の電気的な抵抗を測定する。フレッチング腐食試験装置１はベース１２と圧電振動子１５と第１の固定具１７を備えている。圧電振動子１５はベース１２と第１の固定具１７とを連結する。圧電振動子１５は本体部４８とこの本体部４８から突没自在でかつ円柱状の円柱部５１を備えている。第１の固定部１７は雄端子２を取り付ける。円柱部５１は中心軸Ｐ１と第１の固定部１７に取り付けられる雄端子２の中心線Ｐ２とは同軸である。
【選択図】図１

Description

本発明は、雄型の端子金具と雌型の端子金具を互いに接続した状態で接離させてフレッチング腐食させるフレッチング腐食試験装置に関する。

自動車などに配索されるワイヤハーネスは、電線とコネクタを備えている。コネクタは、絶縁性のコネクタハウジングと導電性の端子金具とを備えている。コネクタハウジングは、端子金具を収容する。端子金具は、電線の端部などに取り付けられる。端子金具には、所謂雄型の端子金具（以下単に雄端子と呼ぶ）と、所謂雌型の端子金具（以下単に雌端子と呼ぶ）とが用いられる。

雄端子は、帯状又は棒状の電気接触部を備えている。雌端子は、筒状の電気接触部と、電気接触部の内面に雄端子の電気接触部を押し付けるばね片と、を備えている。これらの雄端子と雌端子は、ワイヤハーネスを構成して、自動車に配索される際に、帯状又は棒状の電気接触部が筒状の電気接触部内に挿入されてばね片が帯状又は棒状の電気接触部を筒状の電気接触部の内面に押し付けて、互いに電気的に接続する。

このとき、ワイヤハーネスが自動車に配索されると、該自動車の走行中の振動などによって、例えば５０μｍなどの微少な距離内を帯状又は棒状の電気接触部の長手方向に沿って、雄端子と雌端子とが互いに近づいたり離れたりすることがある。このため、前述した雄端子と雌端子を設計・開発する段階では、微摺動摩耗（フレッチング腐食）試験装置（例えば、特許文献１参照。）が用いられる。

前述した微摺動摩耗（フレッチング腐食）試験装置は、前記端子金具を構成する金属からなる試験片を互いに接触した状態で微摺動させて、試験片の摩耗（所謂フレッチング腐食）状況を確認する。こうして、前述した端子金具を設計・開発する段階では、試験片の摩耗（所謂フレッチング腐食）状況を確認することが行われている。このとき、試験片間の電気的な抵抗を測定することにより、前記試験片の評価を行っている。

前述した微摺動摩耗（フレッチング腐食）試験を行う際には、前述した試験片よりも実際の雄端子と雌端子を用いることが望まれている。
特開平６−２１３７９２号公報

前述した雄端子と雌端子などの試験片を、例えば５０μｍなどの微少な距離内を接離する際に、従来から用いられてきた試験装置では、試験装置自体の変形によって、雄端子と雌端子などの試験片を所望の微少な距離近づけたり離したりすることが困難であった。この場合、勿論、雄端子と雌端子などの試験片の微摺動摩耗（フレッチング腐食）試験の評価を正確に行うことが困難となる。このように、従来から用いられてきた試験装置では、微摺動摩耗（フレッチング腐食）試験を正確に行うことが困難であった。

したがって、本発明の目的は、微摺動摩耗試験を正確に行うことができるフレッチング腐食試験装置を提供することにある。

前記課題を解決し目的を達成するために、請求項１に記載の本発明のフレッチング腐食試験装置は、雄型の端子金具の帯状の第１の電気接触部を前記雌型の端子金具の筒状の第２の電気接触部内に挿入して、これらの端子金具を互いに接続して、前記第１の電気接触部の長手方向に沿ってこれらの端子金具を互いに接離させるフレッチング腐食試験装置において、装置本体と、前記第１の電気接触部の厚み方向に前記雄型の端子金具を挟んで、当該雄型の端子金具を取り付ける第１の固定部と、前記雌型の端子金具の外形に沿った溝内に当該雌型の端子金具を収容して、前記溝の底面との間に前記第２の電気接触部のばね片の幅方向に前記雌型の端子金具を挟んで、当該雌型の端子金具を取り付けるとともに前記装置本体に取り付けられた第２の固定部と、前記第１の固定部を前記第２の固定部に接離させるとともに前記装置本体と前記第１の固定部とを連結する駆動手段と、を備え、前記駆動手段は、前記装置本体に取り付けられる本体部と、前記本体部から突没自在に設けられかつ前記第１の固定部に取り付けられる円柱状の出力部と、を備え、前記第１の固定部と第２の固定部は、前記雄型の端子金具の厚みと幅とを二分しかつ前記第１の固定部と第２の固定部とが接離する方向に沿った中心線が前記出力部の中心軸と同軸的となる位置に前記雄型の端子金具と前記雌型の端子金具を取り付けることを特徴としている。

請求項２に記載の本発明のフレッチング腐食試験装置は、請求項１に記載のフレッチング腐食試験装置において、前記中心線は、前記雄型の端子金具の厚みと幅との双方を二等分することを特徴としている。

請求項１に記載した本発明によれば、第１の固定部と第２の固定部によって、雄型の端子金具と雌型の端子金具のうち一方の端子金具の中心線と、駆動手段の本体部から突没自在の出力部の中心軸と、が互いに同軸的になる。このため、駆動手段の出力部が突没する際に、装置本体や第１の固定部などが弾性変形しにくくなる。

請求項２に記載した本発明によれば、中心線が、雄型の端子金具の厚みと幅との双方を二等分している。このため、第１の固定部が第２の固定部に接離する際に、装置本体や第１の固定部などがより弾性変形しにくくなっている。

以上説明したように請求項１に記載した本発明によれば、第１の固定部と第２の固定部によって、雄型の端子金具と雌型の端子金具のうち一方の端子金具の中心線と、駆動手段の本体部から突没自在の出力部の中心軸と、が互いに同軸的になる。このため、駆動手段の出力部が突没する際に、装置本体や第１の固定部などが弾性変形しにくくなる。このため、雄型の端子金具と雌型の端子金具とを確実に所望の距離接離できる。したがって、微摺動摩耗（フレッチング腐食）試験を正確に行うことができる。

請求項２に記載の本発明によれば、中心線が、雄型の端子金具の厚みと幅との双方を二等分している。このため、第１の固定部が第２の固定部に接離する際に、装置本体や第１の固定部などがより弾性変形しにくくなっている。このため、雄型の端子金具と雌型の端子金具とをより確実に所望の距離接離できる。したがって、微摺動摩耗（フレッチング腐食）試験をより正確に行うことができる。

本発明の第１の実施形態を図１ないし図１３を参照して説明する。

図１などに示す本発明の第１の実施形態にかかるフレッチング腐食試験装置１は、図１１に示す雄型の端子金具（以下雄端子と呼ぶ）２と、図１２に示す雌型の端子金具（以下雌端子と呼ぶ）３とを取り付ける。

これらの端子２，３を互いに接続して、フレッチング腐食試験装置１は、これらの端子２，３を微摺動摩耗（フレッチング腐食）させたときの端子２，３間の電気的な抵抗を測定して、端子２，３の良否を判定する装置である。

フレッチング腐食試験装置１は、端子２，３の設計・開発段階において、これらの端子２，３が予め定められた要求を満たしているか否かを判定するために用いられる。

前記フレッチング腐食試験装置１は、図１３に示すように、雄端子２と雌端子３とを接続させて、雄端子２の後述するタブ４と雌端子３の後述する筒部８の長手方向（端子２，３の長手方向）に沿って、これらの端子２，３を相対的に微少な距離内を移動させて、前述したフレッチング腐食試験を行う。

雄端子２は、導電性の板金を折り曲げられて得られる。雄端子２は、図１１に示すように、第１の電気接触部としてのタブ４と、電線接続部５と、連結部６と、を一体に備えている。タブ４は、帯状（平板状）に形成されている。タブ４は、帯状に形成されて、雌端子３の後述する筒部８内に挿入されて、該雌端子３と電気的に接続する。

電線接続部５は、電線を加締める加締め片７を複数備えている。電線接続部５は、加締め片７が電線を加締めることにより、該電線の芯線と電気的に接続する。連結部６は、筒状に形成されており、タブ４と電線接続部５とを電気的に接続している。雄端子２は、タブ４と連結部６と電線接続部５とがタブ４の長手方向に沿って順に連結している。

なお、雄端子２は、本明細書に記した一方の端子金具をなしている。さらに、図１１中の矢印Ｔ１に沿うタブ４の厚み方向を雄端子２の厚み方向と呼び、図１１中の矢印Ｈ１に沿うタブ４の幅方向を雄端子２の幅方向と呼ぶ。

雌端子３は、導電性の板金を折り曲げられて得られる。雌端子３は、図１２に示すように、第２の電気接触部としての筒部８と、ばね片９と、電線接続部１０と、を一体に備えている。筒部８は、筒状に形成されている。ばね片９は、帯状に形成されており、筒部８内に曲げられた格好で収容されている。ばね片９は、弾性変形可能である。ばね片９は、筒部８内に侵入した雄端子２のタブ４を筒部８の内面に向かって押す。ばね片９がタブ４を筒部８の内面に向かって押して、筒部８は、雄端子２と電気的に接続する。

電線接続部１０は、電線を加締める加締め片１１を複数備えている。電線接続部１０は、加締め片１１が電線を加締めることにより、該電線の芯線と電気的に接続する。雌端子３は、筒部８と電線接続部１０とがばね片９の長手方向に沿って互いに連結している。なお、雌端子３は、本明細書に記した他方の端子金具をなしている。さらに、図１２中の矢印Ｔ２に沿うばね片９の厚み方向を雌端子３の厚み方向と呼び、図１２中の矢印Ｈ２に沿うばね片９の幅方向を雌端子３の幅方向と呼ぶ。

図１３に示すように、タブ４が筒部８内に侵入しかつばね片９がタブ４を筒部８の内面に向かって押し付けて、雄端子２と雌端子３とが互いに接続する。このとき、タブ４の長手方向と筒部８の長手方向とが平行となり、タブ４と筒部８との間の接触圧力を正規圧力に保つ。なお、接触圧力とは、タブ４と筒部８との相互間の圧力である。正規圧力とは、雄端子２と、雌端子３との設計時に定められる正常な（正規の）タブ４と筒部８との間の接触圧力である。このため、タブ４と筒部８との間の接触圧力が正規圧力となる状態に雄端子２と雌端子３とが嵌合した状態を正規嵌合状態と呼ぶ。この正規嵌合状態では、雄端子２と雌端子３には、タブ４とばね片９以外からは外力が作用していない。フレッチング腐食試験装置１は、前記タブ４及び筒部８の長手方向に沿って雄端子２と雌端子３とを互いに近づけたり離して（即ち接離して）、端子２，３の特にタブ４と筒部８の内面などをフレッチング腐食させる。

そして、これらの端子２，３間の電気的な抵抗を測定することにより、前記端子２，３の設計の良否を判定する。即ち、フレッチング腐食試験装置１は、タブ４及び筒部８の長手方向に沿って、予め定められた距離内を予め定められた回数、端子２，３を接離（微摺動）させた際の端子２，３間の電気的な抵抗を測定することにより、前記端子２，３の設計の良否を判定する。

フレッチング腐食試験装置１は、図１に示すように、装置本体としてのベース１２と、駆動手段としての圧電振動子１５と、支持テーブル１６と、検出手段としての変位センサ１３と、支持テーブル１６に取り付けられた第１の固定部としての第１の固定具１７と、第２の固定部としての第２の固定具１８と、測定手段としての測定部１９と、制御手段としての制御装置２０と、を備えている。

ベース１２は、フロア上などに設置される。ベース１２は、ベース本体１４と、第１の固定片２１と、第２の固定片２２と、を備えている。ベース本体１４の上面は水平方向に沿って平坦である。第１の固定片２１と第２の固定片２２は、ベース本体１４の上面に取り付けられている。

圧電振動子１５は、第１の固定片２１と支持テーブル１６との間に設けられており、これらと連結している。即ち、圧電振動子１５は、支持テーブル１６を介してベース１２と第１の固定具１７とを互いに連結している。

圧電振動子１５は、図１０に示すように、本体部４８と、一対の押圧板４６と、を備えている。本体部４８は、円筒状のケース４１と、該ケース４１内に収容されるサブアッセンブリ４２と、を備えている。サブアッセンブリ４２は、圧電素子４３と、一対の電極４４と、一対の絶縁板４５と、を備えている。圧電素子４３は、円板状に形成されている。圧電素子４３は、例えば、チタン酸鉛（ＰＴ）、チタン酸ジルコン酸鉛（ＰＺＴ）や水晶などの高剛性でかつ圧電性を有する材料からなる。

一対の電極４４は、それぞれ円板状に形成されている。一対の電極４４は、それぞれ、圧電素子４３の両表面に重ねられている。一対の電極４４は、圧電素子４３と接触しかつこの圧電素子４３を互いの間に挟み込んでいる。電極４４には、それぞれ、リード線４７などが接続している。リード線４７は、電源４９に接続している。一対の絶縁板４５は、それぞれ円板状に形成されている。一対の絶縁板４５は、電極４４に重ねられている。絶縁板４５は、互いの間に電極４４を挟み込んでいる。

押圧板４６は、円板部５０と、出力部としての円柱部５１とを一体に備えている。円板部５０と円柱部５１とは互いに同軸的に配されている。円板部５０は絶縁板４５に重ねられかつケース４１内に収容されている。円柱部５１は、ケース４１外に突出している。一対の押圧板４６は、互いの間に絶縁板４５を挟み込んでいる。一方の押圧板４６の円柱部５１は、ベース１２の第１の固定片２１に連結している。このため、本体部４８は、一方の押圧板４６の円柱部５１を介してベース１２の第１の固定片２１に取り付けられている。他方の押圧板４６の円柱部５１は、支持テーブル１６に連結している。このため、他方の押圧板４６の円柱部５１は、支持テーブル１６を介して第１の固定具１７に取り付けられている（連結している）。また、一対の押圧板４６の円板部５０と円柱部５１とは、互いに同軸となっている。

圧電振動子１５の圧電素子４３は、電源４９などによって一対の電極４４間に印加されて歪むとともに、絶縁板４５などを介して押圧板４６を振動させる。圧電素子４３は、電源４９などによって一対の電極４４間に印加されると、押圧板４６の円柱部５１の中心軸Ｐ１（図１０中などに一点鎖線で示す）に沿って、所定の周波数で振動する。そして、圧電素子４３は、押圧板４６の特に円柱部５１を本体部４８から前記中心軸Ｐ１に沿って突没させる。

そして、圧電素子４３が押圧板４６の特に円柱部５１を本体部４８から前記中心軸Ｐ１に沿って突没させることで、圧電振動子１５は、支持テーブル１６を中心軸Ｐ１に沿って（図１０中の矢印Ｋに沿って）振動させる。こうして、圧電振動子１５は、支持テーブル１６を介して第１の固定具１７を第２の固定具１８に近づけたり離したり（接離）するとともに、雄端子２を雌端子３に近づけたり離したり（接離）する。

前記電源４９には、リード線４７が接続している。電源４９は、インターフェース（図１中にＩ／Ｆと示し、以下Ｉ／Ｆと呼ぶ）２４を介して、制御装置２０に接続している。電源４９は、制御装置２０からの命令に基づいて、リード線４７を介して一対の電極４４間に印加する。

支持テーブル１６には、変位センサ１３と第１の固定具１７とが取り付けられている。変位センサ１３には、アンプ２３が接続している。変位センサ１３は、圧電振動子１５の圧電素子４３が支持テーブル１６を振動させる際に、該振動に基づく支持テーブル１６の変位に関する情報をアンプ２３に向かって出力する。アンプ２３は、Ｉ／Ｆ２４を介して、制御装置２０に接続している。変位センサ１３から出力された支持テーブル１６の変位に関する情報は、アンプ２３で増幅されて制御装置２０に入力する。

第１の固定具１７は、支持テーブル１６に取り付けられている。第１の固定具１７は、図２に示すように、雄端子２を支持テーブル１６に取り付ける。第１の固定具１７は、図５に示すように、一対の挟み片２８と、一つの取付用ボルト２９と、変更手段としての一対の長孔３０と、固定手段としての固定部３１とを備えている。

一対の挟み片２８は、支持テーブル１６上に重ねられている。一対の挟み片２８は、前記圧電振動子１５の円柱部５１の中心軸Ｐ１に直交しかつ水平方向に沿って互いに並べられており、互いに接離自在に設けられている。一対の挟み片２８には、それぞれ、取付用ボルト２９が螺合するねじ孔３２が設けられている。それぞれの挟み片２８に設けられたねじ孔３２は、互いに同一線上に配されている。これらのねじ孔３２には、取付用ボルト２９が螺合する。取付用ボルト２９がねじ孔３２にねじ込まれる量に応じて、一対の挟み片２８が前記ねじ軸５５の軸芯に直交しかつ水平方向に沿って互いに接離する。

一対の挟み片２８は、互いの間に、タブ４の厚み方向Ｔ１と一対の挟み片２８が互いに接離する方向とが平行になる状態で雄端子２の連結部６を挟む。即ち、一対の挟み片２８は、タブ４の長手方向に交差する断面形の長手方向が、鉛直方向に沿う状態で、雄端子２の連結部６を互いの間に挟む。

取付用ボルト２９は、ねじ孔３２に螺合する。取付用ボルト２９が、ねじ孔３２の奥にねじ込まれるのにしたがって、一つの挟み片２８が徐々に互いに近づく。取付用ボルト２９が、ねじ孔３２からゆるめられるのにしたがって、一対の挟み片２８が徐々に互いに離れる。

一対の長孔３０は、それぞれ、支持テーブル１６に挟み片２８が重ねられる方向に沿って、挟み片２８を貫通している。長孔３０の長手方向は、一対の挟み片２８が互いに接離する方向に沿っている。長孔３０の内側には、固定部３１の後述するボルト３４が通される。長孔３０は、内側にボルト３４が通されることによって、一対の挟み片２８間に挟まれる雄端子２のタブ４の厚み方向に沿って、これらの挟み片２８を支持テーブル１６に対して移動自在とする。即ち、長孔３０は、タブ４の厚み方向に沿った挟み片２８の支持テーブル１６に対する相対的な位置を変更可能としている。

固定部３１は、一対のねじ孔３３と、一対のボルト３４とを備えている。ねじ孔３３は、支持テーブル１６の表面に開口している。ねじ孔３３は、支持テーブル１６に挟み片２８が重ねられると、長孔３０と連通する。

ボルト３４は、長孔３０を通してねじ孔３３に螺合する。ボルト３４は、長孔３０の長手方向に沿って、長孔３０に対して相対的に移動可能である。ボルト３４は、ねじ孔３３の奥までねじ込まれると、該ボルト３４の頭３４ａと支持テーブル１６との間に挟み片２８を挟んで固定する。ボルト３４は、ねじ孔３３からゆるめられると、頭３４ａと支持テーブル１６との間に隙間が生じて、挟み片２８を互いに接離する方向即ちタブ４の厚み方向に沿って支持テーブル１６に対して移動自在とする。こうして、固定部３１は、ボルト３４の頭３４ａと支持テーブル１６との間に挟み片２８を挟んで、該挟み片２８を支持テーブル１６に固定する。

前述した構成によって第１の固定具１７は、取付用ボルト２９をねじ孔３２にねじ込むことによって、一対の挟み片２８間に雄端子２を挟む。そして、長孔３０内をボルト３４が通る位置が調整されて、即ち、タブ４の厚み方向に沿った挟み片２８の支持テーブル１６に対する相対的な位置が調整されて、ボルト３４がねじ孔３３の奥にねじ込まれる。そして、挟み片２８が支持テーブル１６に固定される。こうして、第１の固定具１７は、雄端子２を支持テーブル１６に固定する。

また、第１の固定具１７は、挟み片２８間に挟む雄端子２の中心線Ｐ２（図２中などに一点鎖線で示す）が、前記支持テーブル１６に連結した圧電振動子１５の押圧板４６の円柱部５１の中心軸Ｐ１と同軸となる位置に配されている。すなわち、中心線Ｐ２と中心軸Ｐ１とは同一線上に位置している。なお、雄端子２の中心線Ｐ２は、タブ４即ち雄端子２の幅と厚みを二分するとともに雄端子２のタブ４の長手方向に沿っている。即ち、中心線Ｐ２は、雄端子２の幅と厚みを二分しているとともに、後述の矢印Ｓに沿っている。望ましくは、雄端子２の中心線Ｐ２は、タブ４の幅と厚みを二等分する。

第２の固定具１８は、ベース１２の第２の固定片２２に取り付けられている。第２の固定具１８は、雌端子３を取り付ける。第２の固定具１８は、第１の固定具１７の挟み片２８間に挟まれる雄端子２のタブ４の長手方向に沿って、第１の固定具１７と相対している。第２の固定具１８は、図２ないし図４に示すように、ベース１２の第２の固定片２２に取り付けられており、溝３５と、一対の押さえ板３６と、一対の板ばね３７とを備えている。

溝３５は、ベース１２の第２の固定片２２の表面から凹に形成されている。溝３５は、第１の固定具１７の一対の挟み片２８間に挟まれる雄端子２のタブ４と相対する位置に配されている。溝３５は、第１の固定具１７に取り付けられる雄端子２のタブ４の長手方向に沿って直線状に延びている。溝３５は、雌端子３の外形に沿って形成されている。溝３５は、ばね片９の厚み方向Ｔ２が、第１の固定具１７の一対の挟み片２８が互いに接離する方向と平行な状態で、内側に雌端子３を収容する。

また、ベース１２の第２の固定片２２の表面には、一対のねじ孔３８が設けられている。これらのねじ孔３８は、互いの間に、第１の固定具１７の挟み片２８が互いに接離する方向に沿って溝３５を位置させている。

一対の押さえ板３６は、板状に形成されている。押さえ板３６は、ベース１２の第２の固定片２２に重ねられる。押さえ板３６には、長孔３９が貫通している。長孔３９の長手方向は、第１の固定具１７の挟み片２８が互いに接離する方向と平行である。長孔３９は、押さえ板３６がベース１２に重ねられると、ねじ孔３８と連通する。長孔３９内には、ボルト４０が通される。ボルト４０は、長孔３９内を通って、ねじ孔３８に螺合する。ボルト４０が、長孔３９内を通り、かつこれらのボルト４０と長孔３９とが相対的に移動することにより、押さえ板３６は、長孔３９の長手方向に沿って移動自在となる。

押さえ板３６は、長孔３９の長手方向に沿って移動して、図３に示す一端部３６ａが溝３５に重なる第１の位置と、図４に示す一端部３６ａが溝３５に重ならなくなる第２の位置とに亘って移動する。

ボルト４０がねじ孔３８の奥までねじ込まれると、該ボルト４０の頭４０ａが押さえ板３６と接触して押さえ板３６をベース１２に向かって押す。そして、ボルト４０が押さえ板３６を固定する。ボルト４０がねじ孔３８からゆるめられると、該ボルト４０の頭４０ａと押さえ板３６との間に隙間が生じて、押さえ板３６を長孔３９の長手方向に沿って移動自在とする。

また、前記溝３５内に雌端子３を収容しかつ第１の位置に位置づけた状態でボルト４０などで固定すると、押さえ板３６は、雌端子３を溝３５の底面３５ａに向かって押す。また、前述した第２の位置に押さえ板３６を位置づけると、押さえ板３６の一端部３６ａ間を通して、溝３５に雌端子３を出し入れ自在となる。

それぞれの板ばね３７は、一端部がベース１２に取付られかつ他端部が押さえ板３６に重ねられている。板ばね３７は、押さえ板３６をベース１２に向かって押している。板ばね３７は、押さえ板３６がベース１２から不意に脱落することを防止している。

前述した構成によって、第２の固定具１８は、第２の位置に押さえ板３６を位置づけて、溝３５内に雌端子３を収容する。第１の位置に押さえ板３６を位置づけて、ボルト４０をねじ孔３８の奥にねじ込んで、雌端子３を溝３５の底面３５ａに向かって押した状態で、押さえ板３６をベース１２に固定する。こうして、第２の固定具１８は、雌端子３のばね片９の幅方向に沿って、雌端子３を押さえ板３６と溝３５の底面３５ａとの間に挟んで固定する。第２の固定具１８は、筒部８即ち雌端子３の幅と厚みを二分するとともに矢印Ｓに沿った中心線Ｐ４が、前述した中心軸Ｐ１と同軸となる位置に雌端子３を取り付ける。こうして、第１の固定具１７と第２の固定具１８は、中心線Ｐ２，Ｐ４が、前述した中心軸Ｐ１と同軸となる位置に端子２，３を取り付ける。

測定部１９は、電源ユニット２５と、電圧計２６とを備えている。電源ユニット２５は、プラスの端子とマイナスの端子とを備えている。電源ユニット２５のプラスの端子は、第２の固定具１８を介して雌端子３と電気的に接続する。電源ユニット２５のマイナスの端子は、第１の固定具１７を介して雄端子２と電気的に接続する。電源ユニット２５は、制御装置２０からの命令に基づいて、前記第１の固定具１７と第２の固定具１８とを介して、端子２，３間に所定の電流値で印加する。

電圧計２６は、プラスの端子とマイナスの端子とを備えている。電圧計２６のプラスの端子は、第２の固定具１８を介して雌端子３と電気的に接続する。電圧計２６のマイナスの端子は、第１の固定具１７を介して雄端子２と電気的に接続する。電圧計２６は、制御装置２０からの命令に基づいて、前記第１の固定具１７と第２の固定具１８とを介して、端子２，３間の電圧を測定する。前述した構成の測定部１９は、制御装置２０からの命令に基づいて、前記電源ユニット２５が端子２，３間に印加するとともに、電圧計２６が端子２，３間の電圧を測定する。

制御装置２０は、周知のＲＡＭ、ＲＯＭ、ＣＰＵなどを備えたコンピュータであって、前記電源４９とアンプ２３と測定部１９などと接続して、フレッチング腐食試験装置１全体の制御をつかさどる。制御装置２０は、双方向バス２７などを介して前記電源ユニット２５と電圧計２６とに接続している。制御装置２０は、双方向バス２７などを介してＩ／Ｆ２４と接続している。Ｉ／Ｆ２４には、前記電源４９と、アンプ２３とが接続している。

制御装置２０は、予め記憶されたプログラムに基づいて、Ｉ／Ｆ２４を介して電源４９を圧電振動子１５の電極４４間に印加させて、支持テーブル１６即ち第１の固定具１７を第２の固定具１８に接離させる。即ち、第１の固定具１７と第２の固定具１８は、図１中の矢印Ｓに沿って、互いに接離する。矢印Ｓは、第１の固定部１７と第２の固定具１８とが互いに接離する方向をなしており、雄端子２のタブ４の長手方向即ちタブ４が雌端子３の筒部８内に侵入する方向に沿っている。このため、端子２，３は、タブ４の長手方向に沿って、互いに接離される。なお、このときの振幅は、例えば５０μｍなどの微少な距離となっている。

そして、制御装置２０は、アンプ２３などを介して変位センサ１３から入力する支持テーブル１６の変位に関する情報に基づいて、前記電源４９の電極４４間の印加状況を制御して、圧電振動子１５の圧電素子４３を予め定められる周波数、振幅などで振動させる。圧電振動子１５の振動によって、１回、第１の固定具１７が第２の固定具１８に接離すると、制御装置２０は、前記測定部１９の電源ユニット２５に端子２，３間に印加させるとともに、電圧計２６に端子２，３間の電圧を測定させる。

電圧計２６から双方向バス２７を介して、制御装置２０に前記端子２，３間の電圧に応じた信号が伝えられる。制御装置２０は、電圧計２６からの電圧と、電源ユニット２５が印加した電流値とから前記端子２，３間の抵抗値を求める。そして、制御装置２０は、再度、圧電振動子１５の電極４４間に印加して、圧電素子４３を振動させるとともに、端子２，３を互いに接離させて、端子２，３間の抵抗値を求める。

こうして、制御装置２０即ちフレッチング腐食試験装置１は、端子２，３を互いに接離させて、これらの端子２，３間の抵抗を測定する。また、制御装置２０は、圧電振動子１５の圧電素子４３を一回振動させる毎即ち端子２，３を互いに接離させる毎に、測定部１９に端子２，３間の抵抗を測定させても良く、複数回端子２，３を互いに接離させる毎に、測定部１９に端子２，３間の抵抗を測定させても良い。制御装置２０は、フレッチング腐食試験の開始直後には、端子２，３を互いに接離させる毎に測定部１９に端子２，３間の抵抗を測定させるのが望ましく、試験の経過時間とともに端子２，３間の抵抗を測定する間隔（抵抗を測定する間に端子２，３を互いに接離させる回数）を徐々に大きくするのが望ましい。

例えば、端子２，３を接離させるのが１回目から１０回目では、毎回端子２，３間の抵抗を測定するのが望ましい。端子２，３を接離させるのが１０回目から１００回目では、数回毎に端子２，３間の抵抗を測定するのが望ましい。端子２，３を接離させるのが１００回目から１０００回目では、数十回毎に端子２，３間の抵抗を測定するのが望ましい。端子２，３を接離させるのが１０００回目を越えると、１００回毎に端子２，３間の抵抗を測定するのが望ましい。

また、前記制御装置２０は、前記双方向バス２７などを介して周知のプリンタ装置やモニタなどと接続しても良い。この場合、前述した測定結果（端子２，３間の抵抗値）などを、前記プリンタ装置やモニタなどから出力させる。

前述した構成のフレッチング腐食試験装置１を用いて、端子２，３の微摺動試験（フレッチング腐食試験）を実施する際には、まず、試験対象物としての端子２，３それぞれを固定具１７，１８に以下のように取り付ける。まず、端子２，３の取付前では、図６に示すように、第１の固定具１７のボルト２９，３４がゆるめられて、挟み片２８が互いに離れているとともに、これらの挟み片２８が互いに接離する方向に沿って支持テーブル１６に対して移動自在となっている。また、図４に示すように、第２の固定具１８のボルト４０がゆるめられて、押さえ板３６が第２の位置に位置づけられている。

そして、雌端子３の筒部８内に雄端子２のタブ４を挿入して、これらの端子２，３を互いに接続する。図７に示すように、第１の固定具１７の一対の挟み片２８間に雄端子２を挿入する。さらに、第２の固定具１８の溝３５内に雌端子３を挿入する。このとき、雄端子２のタブ４の厚み方向Ｔ１が一対の挟み片２８が互いに接離する方向に沿いかつ雌端子３のばね片９の厚み方向Ｔ２が一対の押さえ板３６が互いに接離する方向に沿っている。

その後、押さえ板３６を第２の位置に位置づけて、ボルト４０を若干ねじ孔３８の奥に向かってねじ込んで、第２の固定具１８の押さえ板３６で雌端子３を仮止めする。図８に示すように、取付用ボルト２９をねじ孔３２の奥に向かってねじ込んで、挟み片２８間に雄端子２を挟む。こうして、挟み片２８と雄端子２とを互いに固定する。

すると、前記雄端子２のタブ４と雌端子３のばね片９の弾性復元力によって、前述した正規嵌合状態を保つように、挟み片２８が支持テーブル１６に対して移動する。または、前述した正規嵌合状態となるように、挟み片２８を図８中の矢印Ｙに沿って移動する。このため、タブ４と筒部８との間の接触圧力は正規圧力に保たれる。したがって、第１及び第２の固定具１７，１８は、タブ４と筒部８との接触圧力を正規圧力に保った状態で端子２，３をベース１２などに固定する。その後、図９に示すように、ボルト３４をねじ孔３３の奥に向かってねじ込んで、挟み片２８を支持テーブル１６に固定する。さらに、図３に示すように、ボルト４０をねじ孔３８の奥に向かってねじ込んで、雌端子３を溝３５の底面３５ａに向かって押した状態で、押さえ板３６をベース１２に固定する。このように、第１及び第２の固定具１７，１８は、タブ４と筒部８との間の接触圧力が正規圧力となる位置に、挟み片２８の支持テーブル１６に対する相対的な位置を調整した後（位置づけた後）、固定部３１により挟み片２８を支持テーブル１６に固定して、端子２，３をベース１２などに固定する。

こうして、固定具１７，１８に端子２，３を固定した後、制御装置２０に予め記憶されているパターンにしたがって、圧電振動子１５の電極４４に印加して、前記端子２，３を例えば５０μｍの距離接離させる。このときの振動に関する情報に基づいて、電極４４に印加する。また、端子２，３が接離した後、これらの端子２，３間の電気的な抵抗を、測定部１９などを用いて測定する。こうして、所定回数、端子２，３を互いに接離させて、端子２，３間の電気的な抵抗を測定する。

本実施形態によれば、第１の固定具１７と第２の固定具１８によって、雄端子２の中心線Ｐ２と、雌端子３の中心線Ｐ４と、圧電振動子１５の押圧板４６の円柱部５１の中心軸Ｐ１と、が互いに同軸的に配されている。このため、電極４４間に印加されて押圧板４６の円柱部５１が本体部４８から突没する際に、端子２，３間の摩擦力によって、支持テーブル１６、ベース１２や第１の固定具１７が弾性変形しにくくなる。このため、雄端子２と雌端子３とを確実に所望の距離接離できる。したがって、微摺動試験を正確に行うことができる。

固定具１７，１８即ち端子２，３を互いに接離させるために、圧電振動子１５を用いている。このため、１秒間に数回以上、固定具１７，１８即ち端子２，３を互いに接離できる。したがって、微摺動試験を正確に行うことができることにくわえ、比較的高速で雄端子２と雌端子３とを接離でき、該微摺動試験にかかる試験時間を短縮できる。

また、雄端子２の中心線Ｐ２は、タブ４即ち雄端子２の幅と厚みを二等分するのが望ましい。さらに、雌端子３の中心線Ｐ４は、筒部８即ち雌端子３の幅と厚みを二等分するのが望ましい。この場合、固定具１７，１８即ち端子２，３を互いに接離させる際に、端子２，３間の摩擦力によって、支持テーブル１６、ベース１２や第１の固定具１７がより弾性変形しにくくなっている。このため、雄端子２と雌端子３とをより確実に所望の距離接離できる。したがって、微摺動試験をより正確に行うことができる。

さらに、タブ４と筒部８との接触圧力を正規圧力に保った状態で、第１の固定具１７が雄端子２を支持テーブル１６に固定する。そして、微摺動試験を行う。このため、試験開始前に、タブ４と筒部８との接触荷重が低下することを防止できる。

雌端子３のばね片９の幅方向に沿って、雌端子３を押さえ板３６と溝３５の底面３５ａとの間に挟んで固定する。このため、雌端子３を固定する際の挟む力によって、ばね片９が変形することを防止できる。このため、試験開始前及び試験中のタブ４と筒部８との接触荷重が低下することを防止できる。このため、実際にコネクタハウジング内に収容された状態で雄端子２と雌端子３の微摺動試験を行うことができる。したがって、微摺動試験を正確に行うことができる。

また、第１の固定具１７の長孔３０が挟み片２８の支持テーブル１６に対する相対的な位置を変更可能としている。また、長孔３０内をボルト３４が通る位置を調整するなどして、タブ４と筒部８との接触圧力が正規圧力となる位置に挟み片２８を位置づけて、ボルト３４をねじ孔３３にねじ込んで、挟み片２８を支持テーブル１６に固定する。このため、タブ４と筒部８との接触圧力が正規圧力となる位置に端子２，３を確実に固定できる。

このため、試験開始前に、タブ４と筒部８との接触荷重が低下することを防止でき、実際にコネクタハウジング内に収容された状態で雄端子２と雌端子３の微摺動試験を行うことができる。したがって、微摺動試験をより正確に行うことができる。

次に、本発明の第２の実施形態のフレッチング腐食試験装置を図１４を参照して説明する。なお、前述した第１の実施形態と同一部分には、同一符号を付して説明を省略する。

本実施形態のフレッチング腐食試験装置１は、図１４に示すように、第１の駆動手段としての前述した圧電振動子１５と、第２の駆動手段としてのステッピングモータ５３と、これらを連結する連結手段としての連結片５４を備えている。圧電振動子１５は、電極４４間に印加されることにより円柱部５１が中心軸Ｐ１に沿って本体部４８から突没して、第１の周波数で第１の固定具１７即ち雄端子２を第２の固定具１８即ち雌端子３に接離させる。圧電振動子１５の一方の押圧板４６の円柱部５１は、連結片５４を介してステッピングモータ５３に取り付けられている。

ステッピングモータ５３は、第２の本体部５７と、出力軸としてのねじ軸５５とを備えている。ステッピングモータ５３は、Ｉ／Ｆ２４などを介して、制御装置２０に接続している。第２の本体部５７は、ベース１２に固定されている。ねじ軸５５は、その軸芯Ｐ３（図１４中に一点鎖線で示す）を中心として、回転自在に第２の本体部５７に支持されている。ステッピングモータ５３は、連結片５４を介して圧電振動子１５と、ベース１２と、を互いに連結している。ステッピングモータ５３は、軸芯Ｐ３を中心としてねじ軸５５を回転することで、第１の周波数と異なりかつ該第１の周波数より低い第２の周波数で、軸芯Ｐ３に沿って、連結片５４と支持テーブル１６を介して第１の固定具１７即ち雄端子２を第２の固定具１８即ち雌端子３に接離させる。

連結片５４は、第１の固定具１７が第２の固定具１８に接離する方向に沿ってベース１２にスライド自在に支持されている。連結片５４には、ねじ孔５６が設けられている。ねじ孔５６には、ねじ軸５５がねじ込まれている。また、連結片５４には、一方の押圧板４６の円柱部５１が連結している。連結片５４は、押圧板４６の円柱部５１の中心軸Ｐ１と、ステッピングモータ５３のねじ軸５５の軸芯Ｐ３とが互いに同軸となる状態で、圧電振動子１５とステッピングモータ５３とを連結する。即ち、中心軸Ｐ１と軸芯Ｐ３とは、同一線上に位置している。又、連結片５４は、ステッピングモータ５３が駆動すると、中心軸Ｐ１と軸芯Ｐ３に沿ってスライドする。

また、本実施形態においても、第１の固定具１７と第２の固定具１８は、挟み片２８間に挟む雄端子２の中心線Ｐ２と雌端子３の中心線Ｐ４が、圧電振動子１５の押圧板４６の円柱部５１の中心軸Ｐ１とねじ軸５５の軸芯Ｐ３との双方と同軸となる位置に配されている。即ち、中心線Ｐ２，Ｐ４と中心軸Ｐ１と軸芯Ｐ３とは、同一線上に位置している。なお、雄端子２の中心線Ｐ２は、タブ４の幅と厚みを二分するとともに雄端子２のタブ４の長手方向即ち矢印Ｓに沿っている。雌端子３の中心線Ｐ４は、筒部８の幅と厚みを二分するとともに雄端子２のタブ４の長手方向即ち矢印Ｓに沿っている。望ましくは、雄端子２の中心線Ｐ２は、タブ４の幅と厚みを二等分する。雌端子３の中心線Ｐ４は、筒部８の幅と厚みを二等分する。

前述した構成によれば、フレッチング腐食試験装置１は，圧電振動子１５とステッピングモータ５３とのうち一方を選択して駆動して、第１の固定具１７即ち雄端子２を第２の固定具１８即ち雌端子３に接離させる。即ち、第１の固定部１７と第２の固定具１８とを互いに接離して、端子２，３を互いに接離させる。圧電振動子１５を用いると、第１の周波数で第１の固定具１７即ち雄端子２を第２の固定具１８即ち雌端子３に接離させる。ステッピングモータ５３を用いると、第２の周波数で第１の固定具１７即ち雄端子２を第２の固定具１８即ち雌端子３に接離させる。そして、端子２，３が接離した後、これらの端子２，３間の電気的な抵抗を、測定部１９などを用いて測定する。

本実施形態によれば、圧電振動子１５の円柱部５１の中心軸Ｐ１と、ステッピングモータ５３のねじ軸５５の軸芯Ｐ３とが互いに同軸である。雄端子２の中心線Ｐ２と、雌端子３の中心線Ｐ３と、圧電振動子１５の円柱部５１の中心軸Ｐ１と、が互いに同軸となる。

このため、第１の固定具１７が第２の固定具１８に接離する際に、端子２，３間の摩擦力によって、ベース１２、支持テーブル１６、第１の固定具１７などが弾性変形しにくくなる。このため、雄端子２と雌端子３とを確実に所望の距離接離できる。したがって、微摺動試験を正確に行うことができる。

第１の駆動手段として圧電振動子１５を用いているので、１秒間に数回以上、第１の固定具１７を第２の固定具１８に接離できる。したがって、比較的高速で雄端子２と雌端子３とを接離でき、該微摺動試験にかかる試験時間を短縮できる。

また、第１の固定具１７を第２の固定具１８に接離させる周波数が互いに異なる圧電振動子１５とステッピングモータ５３を備えている。圧電振動子１５を用いて第１の固定具１７を第２の固定具１８に比較的高速で接離できる。また、ステッピングモータ５３を用いて第１の固定具１７を第２の固定具１８に比較的低速で接離できる。このように、圧電振動子１５とステッピングモータ５３とを選択して用いることで、任意の周波数で第１の固定具１７を第２の固定具１８に接離できる。

また、雄端子２の中心線Ｐ２は、タブ４即ち雄端子２の幅と厚みを二等分するのが望ましい。雌端子３の中心線Ｐ４は、筒部８即ち雌端子３の幅と厚みを二等分するのが望ましい。この場合、固定具１７，１８即ち端子２，３を互いに接離させる際に、端子２，３間の摩擦力によって、支持テーブル１６、ベース１２や第１の固定具１７がより弾性変形しにくくなっている。このため、雄端子２と雌端子３とをより確実に所望の距離接離できる。したがって、微摺動試験をより正確に行うことができる。

次に、本発明の第３の実施形態のフレッチング腐食試験装置を図１５を参照して説明する。なお、前述した第２の実施形態と同一部分には、同一符号を付して説明を省略する。

本実施形態のフレッチング腐食試験装置１は、図１５に示すように、変位センサ１３の代わりに検出手段としてのレーザ変位計５８を備えているとともに、測定手段としての荷重センサ５９を備えている。

レーザ変位計５８は、反射部材６０と、発光受光部６１とを備えている。反射部材６０は、支持テーブル１６に取り付けられており、この支持テーブル１６から上方に向かって立設している。

発光受光部６１は、装置本体としてのベース１２にステッピングモータ５３の第２の本体部５７を介して取り付けられている。発光受光部６１は、反射部材６０に向かってレーザを照射するとともに、この反射部材６０が反射したレーザを受光する。発光受光部６１は、レーザを照射及び受光して、第１の固定具１７の変位量（移動量）即ち雄端子２の変位量（移動量）を測定する。発光受光部６１は、アンプ２３とＩ／Ｆ２４を介して制御装置２０に接続している。発光受光部６１即ちレーザ変位計５８は、前述した第１の固定具１７の変位量（移動量）即ち雄端子２の変位量（移動量）を制御装置２０に向かって出力する。

本実施形態では、第２の固定片２２即ち第２の固定具１８は、矢印Ｓに沿って移動自在にベース本体１４に支持されている。本実施形態では、第２の固定片２２即ち第２の固定具１８は、荷重センサ５９を介してベース１２に取り付けられている。

荷重センサ５９は、第２の固定片２２とベース１２との間に設けられており、これらと連結している。荷重センサ５９は、例えば、水晶などの圧電素子を備えている。荷重センサ５９の圧電素子は、第２の固定片２２が矢印Ｓに沿って移動した際に、第２の固定片２２即ち第２の固定具１８と雌端子３に作用する荷重（即ちタブ４と筒部８の内面との間に生じる摩擦力、端子２，３間の摩擦力）に応じた信号をアンプ２３とＩ／Ｆ２４とを介して制御装置２０に向かって出力する。

本実施形態の制御装置２０には、ステッピングモータ５３または圧電振動子１５が駆動している間の前記荷重センサ５９が測定した荷重値（摩擦力）が、アンプ２３とＩ／Ｆ２４とを介して入力する。また、ステッピングモータ５３または圧電振動子１５が駆動している間のレーザ変位計５８が測定した支持テーブル１６即ち第１の固定具１７の変位量（移動量）が、アンプ２３とＩ／Ｆ２４とを介して入力する。

前述した構成によれば、フレッチング腐食試験装置１は，圧電振動子１５とステッピングモータ５３とのうち一方を選択して駆動して、第１の固定具１７即ち雄端子２を第２の固定具１８即ち雌端子３に接離させる。即ち、第１の固定部１７と第２の固定具１８とを互いに接離して、端子２，３を互いに接離させる。圧電振動子１５を用いると、第１の周波数で第１の固定具１７即ち雄端子２を第２の固定具１８即ち雌端子３に接離させる。

ステッピングモータ５３を用いると、第２の周波数で第１の固定具１７即ち雄端子２を第２の固定具１８即ち雌端子３に接離させる。端子２，３同士を接離させている間の雄端子２の変位量（移動量）をレーザ変位計５８で測定するとともに、前述した端子２，３間の摩擦力を荷重センサ５８で測定する。そして、端子２，３が接離した後、これらの端子２，３間の電気的な抵抗を、測定部１９などを用いて測定する。

本実施形態によれば、前述した第２の実施形態と同様に、圧電振動子１５の円柱部５１の中心軸Ｐ１と、ステッピングモータ５３のねじ軸５５の軸芯Ｐ３とが互いに同軸である。雄端子２の中心線Ｐ２と、雌端子３の中心線Ｐ３と、圧電振動子１５の円柱部５１の中心軸Ｐ１と、が互いに同軸となる。

また、前述した第１及び第２の実施形態では、固定部１７，１８の位置を調整する機能をベース１２及び支持テーブル１６に設けていない。このため、微摺動試験中にベース１２及び支持テーブル１６などが変形することを防止できる。したがって、より一層正確に微摺動試験を行うことができる。

さらに、前述した第１及び第２の実施形態では、第１の固定具１７に雄端子２を取り付けて、該雄端子２を雌端子３に対して相対的に移動させている。しかしながら、本発明では、第２の固定具１８に雄端子２を取り付け第１の固定具１７に雌端子３を取り付けても良いことは勿論である。

このとき、第１の固定具１７は、雌端子３の中心線Ｐ４（図１２中などに一点鎖線で示す）を、圧電振動子１５の円柱部５１の中心軸Ｐ１と同軸とする。なお、雌端子３の中心線Ｐ４とは、ばね片９の幅方向Ｈ２と厚み方向Ｔ２とに沿って筒部８を二分するとともに雌端子３の筒部８の長手方向に沿っている。雌端子３の中心線Ｐ４は、ばね片９の幅方向Ｈ２と厚み方向Ｔ２とに沿って筒部８を二等分するのが望ましい。更に、前述した実施形態では、雄端子２のタブ４が帯状に形成されている。しかしながら本発明では、タブ４を棒状に形成しても良いことは勿論である。

また、本発明では、中心線Ｐ２がタブ４即ち雄端子２の厚みと幅とを二等分し、中心線Ｐ４が筒部８即ち雌端子３の厚みと幅とを二等分するのが望ましい。この場合、第１の固定具１７が第２の固定具１８に接離する際に、ベース１２や第１の固定具１７などがより弾性変形しにくくなる。このため、端子２，３をより確実に所望の距離接離できる。したがって、微摺動摩耗（フレッチング腐食）試験をより正確に行うことができる。

なお、前述した実施形態は本発明の代表的な形態を示したに過ぎず、本発明は、実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。

本発明の第１の実施形態にかかるフレッチング腐食試験装置の概略の構成を示す説明図である。図１に示されたフレッチング腐食試験装置の第１の固定具と第２の固定具とを示す斜視図である。図２中のＩＩＩ−ＩＩＩ線に沿う第２の固定具の断面図である。図３に示された第２の固定具の押さえ板を第２の位置に位置づけた状態を示す断面図である。図２中のａ−ｂ―ｃ−ｄ線に沿う第１の固定具の断面図である。図５に示された第１の固定具の取付用ボルトとボルトをゆるめた状態を示す断面図である。図６に示す状態から挟み片間に雄端子を挿入した状態を示す断面図である。図７に示す状態から取付用ボルトをねじ込んで挟み片間に雄端子を挟んだ状態を示す断面図である。図８に示す状態からボルトをねじ込んで挟み片を支持テーブルに固定した状態を示す断面図である。図１に示されたフレッチング腐食試験装置の圧電振動子の断面図である。図１に示されたフレッチング腐食試験装置で微摺動摩耗試験が行われる雄端子を示す斜視図である。図１に示されたフレッチング腐食試験装置で微摺動摩耗試験が行われる雌端子を示す斜視図である。図１１に示された雄端子と図１２に示された雌端子とを接続した状態を示す断面図である。本発明の第２の実施形態にかかるフレッチング腐食試験装置の概略の構成を示す説明図である。本発明の第３の実施形態にかかるフレッチング腐食試験装置の概略の構成を示す説明図である。

符号の説明

１フレッチング腐食試験装置
２雄端子（雄型の端子金具）
３雌端子（雌型の端子金具）
４タブ（第１の電気接触部）
８筒部（第２の電気接触部）
１２ベース（装置本体）
１５圧電振動子（駆動手段、第１の駆動手段）
１７第１の固定具（第１の固定部）
１８第２の固定具（第２の固定部）
４８本体部
５１円柱部（出力部）
Ｐ１円柱部の中心軸
Ｐ２雄端子の中心線
Ｓ第１の固定具と第２の固定具とが接離する方向（第１の固定部と第２の固定部とが接離する方向）

Claims

雄型の端子金具の帯状の第１の電気接触部を前記雌型の端子金具の筒状の第２の電気接触部内に挿入して、これらの端子金具を互いに接続して、前記第１の電気接触部の長手方向に沿ってこれらの端子金具を互いに接離させるフレッチング腐食試験装置において、
装置本体と、
前記第１の電気接触部の厚み方向に前記雄型の端子金具を挟んで、当該雄型の端子金具を取り付ける第１の固定部と、
前記雌型の端子金具の外形に沿った溝内に当該雌型の端子金具を収容して、前記溝の底面との間に前記第２の電気接触部のばね片の幅方向に前記雌型の端子金具を挟んで、当該雌型の端子金具を取り付けるとともに前記装置本体に取り付けられた第２の固定部と、
前記第１の固定部を前記第２の固定部に接離させるとともに前記装置本体と前記第１の固定部とを連結する駆動手段と、を備え、
前記駆動手段は、前記装置本体に取り付けられる本体部と、前記本体部から突没自在に設けられかつ前記第１の固定部に取り付けられる円柱状の出力部と、を備え、
前記第１の固定部と第２の固定部は、前記雄型の端子金具の厚みと幅とを二分しかつ前記第１の固定部と第２の固定部とが接離する方向に沿った中心線が前記出力部の中心軸と同軸的となる位置に前記雄型の端子金具と前記雌型の端子金具を取り付けることを特徴とするフレッチング腐食試験装置。
前記中心線は、前記雄型の端子金具の厚みと幅との双方を二等分することを特徴とする請求項１に記載のフレッチング腐食試験装置。