JP2008241661A

JP2008241661A - Emi measuring system

Info

Publication number: JP2008241661A
Application number: JP2007086710A
Authority: JP
Inventors: Yoshiro Tanaka; 義朗田中; Keisuke Nakamura; 桂祐中村
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 2007-03-29
Filing date: 2007-03-29
Publication date: 2008-10-09

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an EMI measuring system capable of finding quickly a noise source or a radiation source of a device to be measured in an EMI countermeasures, and timely taking countermeasures having noise suppression effect. <P>SOLUTION: In this EMI measuring system, overall top plate of a nonconductive desk 2 is constituted of a translucent nonconductive material; a projection port 21 of a projector is opened to a part of a turntable 3; a lens of the projector is inserted into the projection port 21, and a projector 14 for the nonconductive desk is provided on a lower side position from the surface of the turntable 3, to thereby enable projection of measurement result information, transmitted from an EMI measuring device from the projector 14 for the nonconductive desk, to the translucent top plate of the nonconductive desk 2; and at the outside of an anechoic chamber, a switching means (monitor distributor 30) for performing switching of two projection surfaces by switching a projector 15 for a dedicated screen to/from the projector 14 for the nonconductive desk. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、デスクトップＰＣ（ＰＣ：パーソナルコンピュータ）、ノートＰＣ、プリンタなどに代表される情報技術装置（ＩＴＥ）等のＥＭＩ測定において、問題となるノイズ源や放射源がどの周波数帯域のノイズレベルに影響があるかを速やかに調査可能なノイズ表示方法を有するＥＭＩ測定システムに関する。 The present invention relates to a noise level and a noise level at which a noise source or a radiation source which is a problem in EMI measurement of an information technology apparatus (ITE) represented by a desktop PC (PC: personal computer), a notebook PC, a printer, or the like. The present invention relates to an EMI measurement system having a noise display method capable of quickly investigating whether there is an influence.

昨今の情報技術装置（ＩＴＥ）は、ＣＰＵクロック周波数の高速化、プリント基板の高密度実装化、装置の軽量化などによって、電波対策（ＥＭＩ対策）及び静電気対策（ＥＳＤ対策）がますます困難になってきている。 In recent information technology equipment (ITE), the countermeasures against radio waves (EMI countermeasures) and static electricity countermeasures (ESD countermeasures) have become increasingly difficult due to higher CPU clock frequency, higher density printed circuit boards, and lighter equipment. It has become to.

ノートＰＣ，プリンターなどに代表される情報技術装置（ＩＴＥ）は、内蔵基板に存在するＩＣとそのインタフェースによって、広範囲の周波数帯域でいろいろなノイズ（広帯域ノイズ、狭帯域ノイズ）が放射される。これらのノイズをＥＭＣ規制で規定されている許容値以内に抑えないと製品としての装置（ＩＴＥ）を出荷することができない。 Information technology equipment (ITE) typified by notebook PCs, printers, etc., emits various noises (wideband noise, narrowband noise) in a wide frequency band by an IC and its interface existing on a built-in substrate. A device (ITE) as a product cannot be shipped unless these noises are suppressed within an allowable value defined by the EMC regulations.

そのためには、装置出荷に影響を与えるノイズ源又は放射源に対し、ＥＭＩ対策（ＥＭＩフィルターの挿入等）や構造対策（ガスケットや導電布の貼付など）を行い、装置全体の許容値を規定値以内になるようにする。そこで、ＥＭＩ対策を実施する者は、それらのノイズ源や放射源を突き止め、ノイズ抑制効果のある対策を講じることが重要である。 To that end, EMI countermeasures (such as inserting an EMI filter) and structural countermeasures (such as attaching gaskets and conductive cloth) are taken against noise sources or radiation sources that affect the shipment of the device, and the allowable value for the entire device is specified. Be within. Therefore, it is important for those who implement EMI countermeasures to identify those noise sources and radiation sources and to take countermeasures that have a noise suppressing effect.

§１：従来例１の説明
図１３は従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その１）、図１４は従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その２）、図１５は従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その３）である。以下、図１３乃至１５に基づいて、従来例１を説明する。 §1: Description of Conventional Example 1 FIG. 13 is an explanatory diagram of a noise display method during EMI measurement in Conventional Example 1 (Part 1), and FIG. 14 is an explanatory diagram of a noise display method during EMI measurement of Conventional Example 1 (Part 2). FIG. 15 is an explanatory diagram (No. 3) of the noise display method at the time of the EMI measurement in the first conventional example. Hereinafter, the conventional example 1 will be described with reference to FIGS.

(1) ：ＥＭＩ測定時のノイズ表示方法
従来、デスクトップＰＣ、ノートＰＣ、プリンタなどに代表される情報技術装置（ＩＴＥ）のＥＭＩ測定において、図１３のような方法でＥＭＩ測定を行なっていた。この例では、電波暗室内に、ノートパソコン等の被試験装置（ＥＵＴ）１を載せてＥＭＩ測定を行うための非導電性机２と、非導電性机２を回転させるためのターンテーブル３と、被試験装置（ＥＵＴ）１から放射されるノイズを検出するためのアンテナ５と、アンテナ５の高さを変えるためのアンテナ昇降台６と、スペアナ画面等の測定結果情報を投影するための専用スクリーン８と、専用スクリーン８にスペアナ画面等の測定結果情報を投影するための専用スクリーン用プロジェクター１５と、専用スクリーン用プロジェクター１５をＥＭＩ測定器（スペアナまたはレシーバ等）へ接続するためのビデオケーブル１０等を備え、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４が、被試験装置（ＥＵＴ）１のＥＭＩ測定を行なっていた。 (1): Noise display method at the time of EMI measurement Conventionally, in the EMI measurement of an information technology apparatus (ITE) represented by a desktop PC, a notebook PC, a printer or the like, the EMI measurement is performed by a method as shown in FIG. In this example, a non-conductive desk 2 for performing EMI measurement by placing a device under test (EUT) 1 such as a notebook computer in an anechoic chamber, and a turntable 3 for rotating the non-conductive desk 2; The antenna 5 for detecting noise radiated from the device under test (EUT) 1, the antenna lift 6 for changing the height of the antenna 5, and the dedicated for projecting measurement result information such as a spectrum analyzer screen A screen 8, a dedicated screen projector 15 for projecting measurement result information such as a spectrum analyzer screen on the dedicated screen 8, and a video cable 10 for connecting the dedicated screen projector 15 to an EMI measuring instrument (such as a spectrum analyzer or a receiver). Etc., and a measurer (EMI countermeasure engineer) 4 was performing EMI measurement of the device under test (EUT) 1.

(2) ：測定者の視線等の説明（その１）
図１４に示したように、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４は、非導電性机２の上に被試験装置（ＥＵＴ）１を載せてＥＭＩ測定を行う。この場合、専用スクリーン用プロジェクター１５によりスペアナ画面等を専用スクリーン８に投影し、このプロジェクターが投影した像２３（スペアナ画面等）を見ながらＥＭＩ測定を行う。すなわち、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４は、被試験装置（ＥＵＴ）１を操作しながら専用スクリーン８に投影された像２３（スペアナ画面等）を見る必要があった。 (2): Explanation of the gaze of the measurer (Part 1)
As shown in FIG. 14, the measurer (EMI countermeasure engineer) 4 places the device under test (EUT) 1 on the non-conductive desk 2 and performs EMI measurement. In this case, a dedicated screen projector 15 projects a spectrum analyzer screen or the like onto the dedicated screen 8 and performs EMI measurement while viewing an image 23 (such as a spectrum analyzer screen) projected by the projector. That is, the measurer (EMI countermeasure engineer) 4 needs to view the image 23 (sparener screen or the like) projected on the dedicated screen 8 while operating the device under test (EUT) 1.

(3) ：測定者の視線等の説明（その２）
図１５に示したように、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４は、非導電性机２の上に被試験装置（ＥＵＴ）１を載せてＥＭＩ測定を行う。この場合、スペアナモニター１２に映し出されたスペアナ画面を見ながらＥＭＩ測定を行う。すなわち、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４は、被試験装置（ＥＵＴ）１を操作しながらスペアナモニター１２に表示されたスペアナ画面を見る必要がある。 (3): Explanation of the gaze of the measurer (Part 2)
As shown in FIG. 15, the measurer (EMI countermeasure engineer) 4 mounts the device under test (EUT) 1 on the non-conductive desk 2 and performs EMI measurement. In this case, the EMI measurement is performed while viewing the spectrum analyzer screen displayed on the spectrum analyzer monitor 12. That is, the measurer (EMI countermeasure engineer) 4 needs to look at the spectrum analyzer screen displayed on the spectrum analyzer monitor 12 while operating the device under test (EUT) 1.

(4) ：ＥＭＩ測定時の説明
従来の技術では、デスクトップＰＣ、ノートＰＣ、プリンタなどに代表される情報技術装置（ＩＴＥ）のＥＭＩ測定において、問題となるノイズ源や放射源は、そのプリント基板のビアやコネクタに適当なストラップ線（金属ワイヤ等）を電気的に接続し、ストラップ線をアンテナにすることで、そのビアやコネクタなどがどの周波数でノイズをどの程度出しているかスペアナの画面を電波暗室内の専用スクリーンに専用スクリーン用プロジェクター１５で投影又はスペアナの画面をスペアナモニター１２に表示して調査していた。 (4): Explanation at the time of EMI measurement In the conventional technology, in the EMI measurement of information technology equipment (ITE) typified by a desktop PC, a notebook PC, a printer, etc., a noise source or a radiation source which is a problem is a printed circuit board. By connecting an appropriate strap line (metal wire, etc.) to the via and connector of the cable and using the strap line as an antenna, the screen of the spectrum analyzer shows how much noise the via and connector generate at what frequency. The projection or spectrum analyzer screen is displayed on the spectrum analyzer monitor 12 on the spectrum analyzer 12 for investigation.

同様にして、放射源となっているケーブルを挿抜し、それによってどの周波数帯域でそのＩ／Ｆケーブルがどのくらいノイズに影響しているかを、スペアナの画面を電波暗室内の専用スクリーン８に専用スクリーン用プロジェクター１５で投影またはスペアナの画面をスペアナモニター１２に表示して調査していた。 In the same way, the cable of the radiation source is inserted and removed, and the frequency of the I / F cable affecting the noise in what frequency band is thereby displayed on the screen of the spectrum analyzer on the dedicated screen 8 in the anechoic chamber. The projection of the projector 15 or the screen of the spectrum analyzer was displayed on the spectrum analyzer monitor 12 for investigation.

この場合、そのストラップ線を接続する、しないのノイズレベルの差を電波暗室内のスペアナモニター１２や専用スクリーン用プロジェクター１５で投影された像２３で確認する場合、ストラップ線を接続する、しないのノイズレベルの差を一人でチェックしようとすると、作業者の視線が位置の大きく異なるストラップ線の先端と、スペアナモニター１２や専用スクリーン用プロジェクター１５で投影された像２３の間を移動するため、手元が狂ってプリント基板をショートさせ、プリント基板を破損させる恐れがあった。 In this case, when the difference in noise level between connecting and not connecting the strap line is confirmed by the image 23 projected by the spectrum monitor 12 or the dedicated screen projector 15 in the anechoic chamber, the noise of connecting or not connecting the strap line. If one person tries to check the difference in level, the operator's line of sight moves between the tip of the strap line, which is greatly different in position, and the image 23 projected by the spectrum monitor 12 or the dedicated screen projector 15, so There is a risk that the printed circuit board may be short-circuited and damaged.

特に、最近のプリント基板は高密度実装化され、その危険が大きい。また、最近の情報技術装置は、コストダウンのため、装置のプリント基板の作成枚数やプリント基板の改版回数を減らす傾向が顕著である。プリント基板を破損させることは、装置のＥＭＣ規格取得の工程に大きな影響を与え、衝撃試験、熱評価等の様々な評価に必要な貴重なプリント基板を失う意味も大きい。 In particular, recent printed circuit boards are mounted with high density, and the danger is high. Also, recent information technology apparatuses tend to reduce the number of printed circuit boards produced and the number of revisions of the printed circuit boards due to cost reduction. Damage to the printed circuit board has a great influence on the process of obtaining the EMC standard of the apparatus, and it is also significant to lose valuable printed circuit boards necessary for various evaluations such as impact testing and thermal evaluation.

これを回避するため、作業者を２人以上準備し、ストラップ線を接続する、しないの作業をする者を別々にすればよいが、作業者が増えて人件費が多くかかる上に、お互いに声を掛けて確認しなければならない。 To avoid this, prepare two or more workers, connect the strap wires, and separate the workers who do the work, but the number of workers increases and labor costs increase, and each other You have to check it out.

§２：従来例２（特許文献１参照）の説明
図１６は従来例２の説明図である。以下、図１６に基づいて従来例２（特許文献１参照）を説明する。 §2: Description of Conventional Example 2 (see Patent Document 1) FIG. 16 is an explanatory diagram of Conventional Example 2. Hereinafter, Conventional Example 2 (see Patent Document 1) will be described with reference to FIG.

従来例２は、観察者に強い印象を与えることが可能なスクリーンシステムを提供するというものであり、次のような内容である。すなわち、表示面における透明度を調節することが可能なスクリーン１０と、スクリーン１０に画像を表示するために光を投射するプロジェクタ３０と、スクリーン１０の観察側の反対側に、スクリーン１０と空間を隔てて設けられ、スクリーン１０側に対して情報を表示する表示部２０と、スクリーン１０の観察側の近傍領域内に在るＩＣタグを検出するリーダ５０と、リーダ５０の検出結果に応じて、スクリーン１０の表示面の透明度を調整し、プロジェクター３０によるスクリーン１０への光の投射を制御するＰＣ７０とを備えるスクリーンシステム。
特開２００６−２４３０６８号公報 Conventional Example 2 is to provide a screen system capable of giving a strong impression to an observer, and has the following contents. That is, the screen 10 capable of adjusting the transparency on the display surface, the projector 30 that projects light to display an image on the screen 10, and the screen 10 on the opposite side of the viewing side with a space separated from the screen 10. And a display unit 20 for displaying information on the screen 10 side, a reader 50 for detecting an IC tag in a region near the observation side of the screen 10, and a screen according to the detection result of the reader 50. And a PC 70 that adjusts the transparency of the display surface 10 and controls the projection of light onto the screen 10 by the projector 30.
JP 2006-243068 A

(1) ：ＥＭＩ対策を実施する者は、被測定装置（ＥＵＴ）のノイズ源や放射源を突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をタイムリーに講じることが重要である。そのためには、どこがノイズ源でどこが放射源かをいち早くつきとめることが重要である。 (1): It is important for those who implement EMI countermeasures to identify the noise source and radiation source of the device under test (EUT) and to take countermeasures with a noise suppression effect in a timely manner. To that end, it is important to quickly find out where the noise source is and where it is the radiation source.

現在、国際規格ＣＩＳＰＲ２２（３版、１９９７年度版）のＥＭＩ規制の対象となっている周波数帯域は、３０ＭＨ_Zから１ＧＨ_Zであり、この帯域でどこがノイズ源かを速やかに調査できるようにしたいが、その調査は効率良く、かつ前述のようなプリント基板の破損の問題を回避しながら行わなければならなかった。 Currently, international standard CISPR22 (3 edition, 1997 edition) the frequency band that is the target of EMI regulations is a 1GH _Z from 30MH _Z, where this band is, but want to be able to promptly investigate whether the noise source The investigation had to be performed efficiently and while avoiding the problem of damage to the printed circuit board as described above.

(2) ：従来例２は、観察者に強い印象を与えることが可能なスクリーンシステムに関するものであり、本発明の主要な構成を含んでいない。従って、従来例２は本発明の参考程度の内容である。 (2): Conventional Example 2 relates to a screen system capable of giving a strong impression to an observer, and does not include the main configuration of the present invention. Therefore, Conventional Example 2 is a content for reference of the present invention.

本発明は前記従来の課題を解決し、装置出荷に影響を与えるノイズ源や放射源をノイズ源となるプリント基板やユニットそのものを破損させる危険を未然に低減又は回避しながら、広範囲の周波数帯域で速やかに突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をより効率的に講じることができるようにすることを目的とする。 The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and reduces or avoids the risk of damaging the printed circuit board and the unit itself that causes noise sources and radiation sources that affect device shipment in a wide frequency band. The purpose is to quickly find out and take more effective measures to suppress noise.

本発明は前記の目的を達成するため、次のように構成した。 In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows.

(1) ：外界からの電波を遮断した電波暗室内に、被試験装置を載せる非導電性机と、前記非導電性机を載せて回転可能なターンテーブルと、被試験装置から放射されるノイズを検出するアンテナと、専用スクリーンと、前記専用スクリーンに測定結果情報を投影する専用スクリーン用投影機を備え、前記電波暗室の外側には、前記アンテナからの信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器を備え、前記電波暗室の内外の機器の必要とする部分を電気的に接続してＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定システムにおいて、前記非導電性机は、天板全体を半透明の非導電性材料で構成し、前記ターンテーブルの一部に、投影機の投影口を開け、該投影口に投影機のレンズを挿入して前記ターンテーブルの表面から下側の位置に非導電性机用投影機を設け、該非導電性机用投影機から前記半透明の天板に対しＥＭＩ測定器から送られた測定結果情報を投影可能に設けると共に、前記電波暗室の外側には、前記専用スクリーン用投影機と非導電性机用投影機を切り替えて２つの投影面の切り替えを行う切替手段を設けたことを特徴とする。 (1): A non-conductive desk on which the device under test is placed in an anechoic chamber that blocks radio waves from the outside, a turntable that can be rotated by placing the non-conductive desk, and noise radiated from the device under test EMI measurement is performed on the outside of the anechoic chamber based on a signal from the antenna, and an antenna for detecting EMI, a dedicated screen, and a dedicated screen projector for projecting measurement result information onto the dedicated screen. In the EMI measurement system for measuring EMI by electrically connecting necessary parts of the inside and outside devices of the anechoic chamber, the non-conductive desk is a semi-transparent non-conductive material for the entire top plate A projection port of a projector is opened in a part of the turntable, and a lens of the projector is inserted into the projection port, and a non-conductive desk projector at a position below the surface of the turntable. And the The measurement result information sent from the EMI measuring device to the semi-transparent top plate from the non-conductive desk projector is provided so as to be projected, and the dedicated screen projector and the non-conductive are provided outside the anechoic chamber. Switching means for switching between two projection planes by switching the sex projector is provided.

(2) ：前記(1) のＥＭＩ測定システムにおいて、前記非導電性机は、天板の一部のみを半透明の非導電性材料で構成した天板投影部とし、該天板投影部を前記非導電性机用投影機の投影面として前記非導電性机の天板の一部に埋め込んだことを特徴とする。 (2): In the EMI measurement system according to (1), the non-conductive desk is a top-plate projection unit in which only a part of the top plate is made of a translucent non-conductive material, and the top-plate projection unit is The projection surface of the non-conductive desk projector is embedded in a part of the top plate of the non-conductive desk.

(3) ：前記(1) 又は(2) のＥＭＩ測定システムにおいて、前記専用スクリーン及び非導電性机の天板には、前記ＥＭＩ測定器から送られた測定結果のノイズレベルが分かる情報を投影し表示することを特徴とする。 (3): In the EMI measurement system according to (1) or (2), information indicating the noise level of the measurement result sent from the EMI measuring device is projected onto the dedicated screen and the top plate of the non-conductive desk. It is characterized by being displayed.

（作用）
図１は本発明の原理説明図である。以下、図１を参照しながら本発明の作用を説明する。 (Function)
FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention. The operation of the present invention will be described below with reference to FIG.

(a) ：前記(1) 乃至(3) の作用
測定者は、非導電性机２の上に被試験装置（ＥＵＴ：例えば、ノートパソコン）を載せて動作状態とし、該ノートパソコンから放射するノイズの測定を行う。この場合、予め、アンテナ昇降台６を制御してアンテナ５の高さを調節し、ノートパソコンから放射されるノイズをアンテナ５により検出し易いように設定してからＥＭＩ測定を行い、アンテナ５から検出した信号を電波暗室外のＥＭＩ測定器３１へ送る。 (a): Actions of (1) to (3) The measurer places the device under test (EUT: for example, a notebook computer) on the non-conductive desk 2 and puts it into operation, and radiates from the notebook computer. Measure noise. In this case, the antenna lift 6 is controlled in advance to adjust the height of the antenna 5, and the EMI measurement is performed after setting the noise radiated from the notebook computer to be easily detected by the antenna 5. The detected signal is sent to the EMI measuring device 31 outside the anechoic chamber.

そして、ＥＭＩ測定器３１で測定し分析した結果の情報（例えば、スペアナ画面等のノイズレベルが分かる情報）を非導電性机用プロジェクター１４へ送り、非導電性机２の一部に投影する。そして、測定者４は、非導電性机２に投影された机上投影像２０（プロジェクターが投影した像）を見ながら、被試験装置（ＥＵＴ）を操作することを繰り返して行うことで被試験装置（ＥＵＴ）のＥＭＩ測定を行う。 Then, information (for example, information indicating noise level such as spectrum analyzer screen) measured and analyzed by the EMI measuring device 31 is sent to the non-conductive desk projector 14 and projected onto a part of the non-conductive desk 2. Then, the measurer 4 repeatedly operates the device under test (EUT) while observing the desktop projection image 20 (image projected by the projector) projected onto the non-conductive desk 2. Measure EMI of (EUT).

このようにすれば、測定者４は、同一非導電性机２上の被試験装置（ＥＵＴ）１と非導電性机用プロジェクター１４から投影された机上投影像２０を見るだけでＥＭＩ測定の作業ができるので、視線の移動が僅かで済む。 In this way, the measurer 4 can perform the EMI measurement work simply by looking at the on-desk projected image 20 projected from the device under test (EUT) 1 and the non-conductive desk projector 14 on the same non-conductive desk 2. Can move the line of sight.

その結果、装置出荷に影響を与えるノイズ源や放射源をノイズ源となるプリント基板やユニットそのものを破損させる危険を未然に低減又は回避しながら、広範囲の周波数帯域で速やかに突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をより効率的に講じることができるようにすることができる。 As a result, noise sources and radiation sources that affect device shipment can be quickly identified in a wide range of frequency bands while reducing or avoiding the risk of damaging the printed circuit board and unit itself that are noise sources, and the noise suppression effect A certain measure can be taken more efficiently.

請求項１乃至３によれば次のような効果がある。 According to claims 1 to 3, the following effects are obtained.

(1) ：装置出荷（パソコン等の製品出荷）に影響を与えるノイズ源や放射源となるプリント基板やユニットそのものを破損させる危険を未然に回避しながら広範囲の周波数帯域で速やかに突き止め、ノイズ抑制効果のある対策を効率的に講じることが可能になる。 (1): Suppressing noise in a wide range of frequencies quickly while avoiding the risk of damage to the printed circuit board and unit itself, which are noise sources and radiation sources that affect device shipments (product shipments such as personal computers) Effective measures can be taken efficiently.

(2) ：ＥＭＩ測定者は、同一非導電性机上の被試験装置（ＥＵＴ）と非導電性机用プロジェクターから投影された机上投影像を見るだけでＥＭＩ測定の作業ができるので、視線の移動が僅かで済む。 (2): The EMI measurer can perform the EMI measurement simply by looking at the desktop projection image projected from the device under test (EUT) on the same non-conductive desk and the non-conductive desk projector. Is a little.

その結果、装置出荷に影響を与えるノイズ源や放射源をノイズ源となるプリント基板やユニットそのものを破損させる危険を未然に低減又は回避しながら、広範囲の周波数帯域で速やかに突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をより効率的に講じることができる。 As a result, noise sources and radiation sources that affect device shipment can be quickly identified in a wide range of frequency bands while reducing or avoiding the risk of damaging the printed circuit board and unit itself that are noise sources, and the noise suppression effect A measure can be taken more efficiently.

§１：装置の概要説明
図１は本発明の原理説明図である。以下、図１を参照しながら本発明を実施するためのＥＭＩ測定システムの概要を説明する。 §1: Outline of apparatus FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of the present invention. Hereinafter, an outline of an EMI measurement system for carrying out the present invention will be described with reference to FIG.

(1) ：ＥＭＩ測定システムは、外界からの電波を遮断した電波暗室内に、被試験装置（ＥＵＴ：例えば、ノートパソコン）を載せる非導電性机２と、非導電性机２を載せて回転可能なターンテーブル３と、被試験装置から放射されるノイズを検出するためのアンテナ（ＥＭＩ測定アンテナ）５と、専用スクリーン８と、専用スクリーン８に測定に必要な情報を投影するための専用スクリーン用プロジェクター１５を備え、電波暗室の外側には、アンテナ５からの信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器３１を備え、電波暗室の内外の機器の必要とする部分を電気的に接続してＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定システムである。 (1): The EMI measurement system rotates a non-conductive desk 2 on which a device under test (EUT: for example, a notebook computer) is placed and a non-conductive desk 2 in an anechoic chamber that blocks radio waves from the outside. A possible turntable 3, an antenna (EMI measurement antenna) 5 for detecting noise radiated from the device under test, a dedicated screen 8, and a dedicated screen for projecting information necessary for measurement onto the dedicated screen 8 Projector 15 and an EMI measuring device 31 for performing EMI measurement based on a signal from the antenna 5 outside the anechoic chamber, and electrically connecting necessary parts of the equipment inside and outside the anechoic chamber. This is an EMI measurement system that performs EMI measurement.

前記ＥＭＩ測定システムにおいて、非導電性机２は、天板全体を半透明の非導電性材料（例えば、無反射ガラス）で構成し、ターンテーブル３の一部に、投影機（プロジェクター）の投影口２１を開け、該投影口２１に投影機のレンズ２２を挿入して、ターンテーブル３の表面から下側の位置に非導電性机用プロジェクター１４を設け、該非導電性机用プロジェクター１４から半透明の天板に対しＥＭＩ測定器３１から送られた測定結果情報を投影可能に設けると共に、電波暗室の外側には、専用スクリーン用投影機１５と非導電性机用プロジェクター１４を切り替えて２つの投影面の切り替えを行う切替手段（モニタ分配器３０）を設けた。 In the EMI measuring system, the non-conductive desk 2 is configured by a translucent non-conductive material (for example, non-reflective glass) on the entire top plate, and a projection of a projector (projector) is formed on a part of the turntable 3. The opening 21 is opened, the projector lens 22 is inserted into the projection opening 21, and the non-conductive desk projector 14 is provided at a position below the surface of the turntable 3. The measurement result information sent from the EMI measuring device 31 can be projected onto a transparent top plate, and the dedicated screen projector 15 and the non-conductive desk projector 14 are switched outside the anechoic chamber to switch between the two. Switching means (monitor distributor 30) for switching the projection plane is provided.

(2) ：前記ＥＭＩ測定システムにおいて、非導電性机２は、天板の一部のみを半透明の非導電性材料で構成した天板投影部２０とし、該天板投影部を非導電性机用投影機１４の投影面として非導電性机２の天板の一部に埋め込んだ。 (2): In the EMI measurement system, the non-conductive desk 2 has a top plate projection unit 20 in which only a part of the top plate is made of a semi-transparent non-conductive material, and the top plate projection unit is non-conductive. The projection surface of the desk projector 14 was embedded in a part of the top plate of the non-conductive desk 2.

(3) ：前記ＥＭＩ測定システムにおいて、専用スクリーン８及び非導電性机２の天板には、ＥＭＩ測定器３１から送られた測定結果のノイズレベルが分かる情報を投影し表示する。 (3): In the EMI measurement system, information indicating the noise level of the measurement result sent from the EMI measuring device 31 is projected and displayed on the dedicated screen 8 and the top plate of the non-conductive desk 2.

§２：非導電性机とターンテーブルの説明
(1) ：ＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の説明
図２はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の俯瞰図、図３はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の断面図である。 §2: Explanation of non-conductive desk and turntable
(1): Explanation of EMI Measurement Noise Display Device FIG. 2 is an overhead view of the EMI measurement noise display device, and FIG. 3 is a cross-sectional view of the EMI measurement noise display device.

図２、図３に示すように、ターンテーブル３は有限回転するものであり、その上に非導電性机２を載せてある。このターンテーブル３は、電波暗室の外に設置されたターンテーブルコントローラ（後述する）の制御により駆動手段（例えば、駆動用モータ、回転ローラ等）を用いて有限の角度（３６０°以内の角度）で回転駆動されるように構成されている（なお、ターンテーブル３は、３６０°以上回転するとケーブル等が絡まるため有限回転にする）。 As shown in FIGS. 2 and 3, the turntable 3 rotates finitely, and the nonconductive desk 2 is placed thereon. This turntable 3 has a finite angle (an angle within 360 °) using a driving means (for example, a driving motor, a rotating roller, etc.) under the control of a turntable controller (described later) installed outside the anechoic chamber. (The turntable 3 is finitely rotated because the cable or the like becomes entangled when it is rotated 360 ° or more).

また、ターンテーブル３の一部には、プロジェクター投影口２１を開け、該プロジェクター投影口２１に非導電性机用プロジェクター１４（図３参照）のレンズ２２を挿入して、ターンテーブル３の表面から下側の位置に非導電性机用プロジェクター１４を備える。また、ターンテーブル３の上側には非導電性机２を載せる。この場合、非導電性机２には４本の脚が設けてあり、これら４本の脚をターンテーブル３上に載せる。 Further, a projector projection port 21 is opened in a part of the turntable 3, and a lens 22 of a non-conductive desk projector 14 (see FIG. 3) is inserted into the projector projection port 21 so that the surface of the turntable 3 is removed. A non-conductive desk projector 14 is provided at the lower position. A non-conductive desk 2 is placed on the upper side of the turntable 3. In this case, the non-conductive desk 2 is provided with four legs, and these four legs are placed on the turntable 3.

非導電性机２は天板全体を半透明の非導電性材料（低誘電率材料、例えば、無反射ガラス）で構成してあるので、非導電性机用プロジェクター１４からの投影光は、レンズ２２から非導電性机２の天板の下側に向けて投影され、非導電性机２の天板の上側からプロジェクター１４が投影した机上投影像２０（スペアナ画面等）を見ることができるようになっている。また、ターンテーブル３の表面はグランド面（ＧＮＤ面）として使用できるように金属製の板（ＧＮＤ用金属板）等が設けてある。 Since the non-conductive desk 2 is composed of a translucent non-conductive material (low dielectric constant material such as non-reflective glass), the projection light from the non-conductive desk projector 14 is a lens. It is possible to see a projected image 20 (such as a spectrum analyzer screen) projected from the top 22 of the non-conductive desk 2 and projected by the projector 14 from above the top of the non-conductive desk 2. It has become. The surface of the turntable 3 is provided with a metal plate (GND metal plate) or the like so that it can be used as a ground surface (GND surface).

(2) ：ターンテーブルの詳細構成の説明
図４はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図である。 (2): Description of Detailed Configuration of Turntable FIG. 4 is a partially enlarged view of the noise display device for EMI measurement.

図４に示すように、ターンテーブル３は上下２枚の円盤から構成されていて、上側の円盤と下側の円盤の間には、支持車輪２６が複数個設けてある。そして、これらの支持車輪２６は駆動手段（図示省略）により回転可能に構成されていて、この支持車輪２６の回転により、支持車輪２６の上に載っている上側のターンテーブル３が回転できるようになっている（３６０度以内で回転可能）。 As shown in FIG. 4, the turntable 3 is composed of two upper and lower disks, and a plurality of support wheels 26 are provided between the upper disk and the lower disk. These support wheels 26 are configured to be rotatable by drive means (not shown), and the rotation of the support wheels 26 allows the upper turntable 3 mounted on the support wheels 26 to rotate. (It can be rotated within 360 degrees).

また、上側のターンテーブル３には、シールドボックス２４内に収納された非導電性机用プロジェクター１４が設置されている。このシールドボックス２４は、上側の４隅でシールドボックス２４とのＦＧ（ＦＧ：ｆｒａｍｅＧＮＤ）接続箇所２７により接続されている。また、非導電性机用プロジェクター１４には、ビデオケーブル１０と、プロジェクターの電源ケーブル２５により外部の機器に接続されている。 The upper turntable 3 is provided with a non-conductive desk projector 14 housed in a shield box 24. The shield box 24 is connected to the shield box 24 by FG (FG: frame GND) connection points 27 at the upper four corners. The non-conductive desk projector 14 is connected to an external device by a video cable 10 and a projector power cable 25.

(3) ：ＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の測定方法の説明
(a) ：測定例１
図５はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の測定方法説明図（その１）である。図５に示した例は、プロジェクターを非導電性机用プロジェクター１４側に切り替え、非導電性机用プロジェクター１４を動作させて非導電性机２に投影することで、非導電性机２にプロジェクターが投影した机上投影像（スペアナ画面等）２０を表示させながらノイズ測定を行う例である。 (3): Explanation of measurement method of noise display device for EMI measurement
(a): Measurement example 1
FIG. 5 is an explanatory diagram (part 1) of a measurement method of the noise display device for EMI measurement. In the example shown in FIG. 5, the projector is switched to the non-conductive desk projector 14 side, and the non-conductive desk projector 14 is operated and projected onto the non-conductive desk 2. This is an example in which noise measurement is performed while displaying a desktop projection image (sparener screen or the like) 20 projected by.

この場合、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４は、非導電性机２の上に被試験装置（ＥＵＴ）１として例えば、ノートパソコンを載せて動作状態とし、該ノートパソコンから放射するノイズの測定を行う。この場合、予めアンテナ昇降台６を制御してアンテナ（ＥＭＩ測定アンテナ）５の高さを調節しておく。そして、ノートパソコンから放射されるノイズをアンテナ５により検出し、電波暗室外のＥＭＩ測定器３１へ送る。 In this case, the measurer (EMI countermeasure engineer) 4 measures the noise radiated from the notebook computer by placing, for example, a notebook computer as the device under test (EUT) 1 on the non-conductive desk 2 and putting it in an operating state. I do. In this case, the height of the antenna (EMI measurement antenna) 5 is adjusted in advance by controlling the antenna lift 6. And the noise radiated | emitted from a notebook personal computer is detected with the antenna 5, and it sends to the EMI measuring device 31 outside an anechoic chamber.

そして、ＥＭＩ測定器３１で測定し分析した結果の情報（例えば、スペアナ画面）を非導電性机用プロジェクター１４へ送り、非導電性机２の天板の一部に投影し机上投影像２０とする。そして、測定者４は、非導電性机２の天板に投影された机上投影像２０（プロジェクターが投影して表示した像）を見ながら、被試験装置（ＥＵＴ）１を操作することを繰り返して行うことで被試験装置（ＥＵＴ）１のＥＭＩ測定を行う。 Then, information (for example, spectrum analyzer screen) as a result of measurement and analysis by the EMI measuring instrument 31 is sent to the non-conductive desk projector 14 and projected onto a part of the top plate of the non-conductive desk 2. To do. Then, the measurer 4 repeatedly operates the device under test (EUT) 1 while viewing the desktop projection image 20 (image projected and displayed by the projector) projected on the top plate of the non-conductive desk 2. EMI measurement of the device under test (EUT) 1 is performed.

このようにすれば、測定者４は、非導電性机２の天板に投影された机上投影像２０を見ながら、被試験装置（ＥＵＴ）１を操作するだけで済む。すなわち、ＥＭＩ測定者は、同一非導電性机２上の被試験装置（ＥＵＴ）１と非導電性机用プロジェクター１４から投影された机上投影像２０を見るだけでＥＭＩ測定の作業ができるので、視線の移動が僅かで済む。 In this way, the measurer 4 only needs to operate the device under test (EUT) 1 while viewing the desktop projection image 20 projected on the top plate of the non-conductive desk 2. That is, the EMI measurer can perform the EMI measurement work only by looking at the desktop projection image 20 projected from the device under test (EUT) 1 and the non-conductive desk projector 14 on the same non-conductive desk 2. Little movement of line of sight is required.

(b) ：測定例２
図６はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の測定方法説明図（その２）である。図６に示した例は、前記例１と同じようにして測定を行うだけでなく、更に、非導電性机用プロジェクター１４から専用スクリーン用プロジェクター１５への切り替えを行うことで、専用スクリーン用プロジェクター１５から専用スクリーン８（壁でも良い）にも投影しながら測定を行う例である。 (b): Measurement example 2
FIG. 6 is an explanatory diagram (part 2) of the measurement method of the noise display device for EMI measurement. The example shown in FIG. 6 not only performs the measurement in the same manner as in Example 1, but also switches from the non-conductive desk projector 14 to the dedicated screen projector 15, so that the dedicated screen projector is used. 15 is an example in which measurement is performed while projecting from 15 to a dedicated screen 8 (which may be a wall).

このようにするのは、非導電性机用プロジェクター１４から非導電性机２へ投影する場合の像は、比較的小さな投影像であり、投影像の細部が見にくい場合に、専用スクリーン用プロジェクター１５から専用スクリーン８（壁でも良い）にも投影することで投影像を大きくして細部を良く観察するためである。なお、前記プロジェクターの切り替えは、ＥＭＩ測定を行う前に、予め設定しておく。 This is because the image when projecting from the non-conductive desk projector 14 to the non-conductive desk 2 is a relatively small projected image, and when the details of the projected image are difficult to see, the dedicated screen projector 15 is used. This is because the projection image is enlarged by projecting onto the dedicated screen 8 (which may be a wall) to observe the details well. The projector switching is set in advance before performing EMI measurement.

このようにすれば、測定例１と同じように、測定者４は、非導電性机２の天板に投影された机上投影像２０を見ながら、被試験装置（ＥＵＴ）１を操作するだけで済む。すなわち、ＥＭＩ測定者は、同一非導電性机２上の被試験装置（ＥＵＴ）１と非導電性机用プロジェクター１４から投影された机上投影像２０を見るだけでＥＭＩ測定の作業ができるので、視線の移動が僅かで済む。 In this way, as in Measurement Example 1, the measurer 4 only operates the device under test (EUT) 1 while viewing the desktop projection image 20 projected on the top plate of the non-conductive desk 2. Just do it. That is, the EMI measurer can perform the EMI measurement work only by looking at the desktop projection image 20 projected from the device under test (EUT) 1 and the non-conductive desk projector 14 on the same non-conductive desk 2. Little movement of line of sight is required.

また、投影像の細部が見にくい場合でも、専用スクリーン用プロジェクター１５から専用スクリーン８にも投影することで投影像を大きくして細部を良く観察することができる。 Further, even when it is difficult to see details of the projected image, it is possible to enlarge the projected image and to observe the details well by projecting from the dedicated screen projector 15 to the dedicated screen 8.

§３：ＥＭＩ測定用ノイズ表示手段の説明
図７はＥＭＩ測定用ノイズ表示手段の構成図である。以下、図７に基づいてＥＭＩ測定用ノイズ表示手段を説明する。 §3: Explanation of EMI measurement noise display means FIG. 7 is a block diagram of the EMI measurement noise display means. Hereinafter, the noise display means for EMI measurement will be described with reference to FIG.

図７に示したように、ＥＭＩ測定用ノイズ表示手段としては、専用スクリーン用プロジェクター１５と、非導電性机用プロジェクター１４と、モニタ分配器３０と、ＥＭＩ測定器３１をそれぞれビデオケーブル１０により接続したものからなる。この場合、専用スクリーン用プロジェクター１５と、非導電性机用プロジェクター１４と、モニタ分配器３０は、電波暗室内に設置し、モニタ分配器３０と、ＥＭＩ測定器３１を前記電波暗室に隣接して設けたＥＭＩ測定室に設置する。 As shown in FIG. 7, as the EMI measurement noise display means, the dedicated screen projector 15, the non-conductive desk projector 14, the monitor distributor 30, and the EMI measuring instrument 31 are respectively connected by the video cable 10. Made up of. In this case, the dedicated screen projector 15, the non-conductive desk projector 14, and the monitor distributor 30 are installed in an anechoic chamber, and the monitor distributor 30 and the EMI measuring instrument 31 are adjacent to the anechoic chamber. Install in the EMI measurement room.

また、モニタ分配器３０には、２台のプロジェクター１４、１５を切り替えるために、切替スイッチ３２と切替スイッチ３３を設ける。そして、切替スイッチ３２を操作してオン状態にすれば、専用スクリーン用プロジェクター１５に投影する状態になり、切替スイッチ３３を操作してオン状態にすれば、非導電性机用プロジェクター１４に投影する状態になる。 The monitor distributor 30 is provided with a changeover switch 32 and a changeover switch 33 in order to switch between the two projectors 14 and 15. If the changeover switch 32 is operated to be turned on, the projection is performed on the dedicated screen projector 15, and if the changeover switch 33 is operated to be turned on, the projection is performed on the non-conductive desk projector 14. It becomes a state.

§４：非導電性机の詳細な構成の説明
(1) ：例１
図８はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その１）である。例１は、図８に示したように、非導電性机２の天板２−１を半透明の非導電性材料（低誘電率の誘電体材料で、例えば、ガラス）により構成する。また、非導電性机２の四隅の脚２−２（４本）のみ木材（従来例と同じ材料）により構成する。 §4: Detailed configuration of non-conductive desk
(1): Example 1
FIG. 8 is a partially enlarged view (No. 1) of the noise display device for EMI measurement. In Example 1, as shown in FIG. 8, the top plate 2-1 of the non-conductive desk 2 is made of a translucent non-conductive material (a dielectric material having a low dielectric constant, such as glass). Further, only the legs 2-2 (four) at the four corners of the non-conductive desk 2 are made of wood (the same material as the conventional example).

(2) ：例２
図９はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その２）、図１０はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その３）である。 (2): Example 2
FIG. 9 is a partially enlarged view (No. 2) of the noise display device for EMI measurement, and FIG. 10 is a partially enlarged view (No. 3) of the noise display device for EMI measurement.

例２は、図９、図１０に示したように、非導電性机２の天板２−１を木材（従来例と同じ材料）により構成し、天板２−１の一部分のみ（プロジェクター投影部分）、半透明の非導電性材料（低誘電率の誘電体材料で、例えば、ガラス）により構成し、木材の天板２−１に天板投影部２９として埋め込む。また、非導電性机２の四隅の脚２−２（４本）のみ木材（従来例と同じ材料）により構成する。 In Example 2, as shown in FIGS. 9 and 10, the top plate 2-1 of the non-conductive desk 2 is made of wood (the same material as the conventional example), and only a part of the top plate 2-1 (projection projection). Part), a translucent non-conductive material (a dielectric material having a low dielectric constant, for example, glass), and is embedded as a top plate projection unit 29 in a wooden top plate 2-1. Further, only the legs 2-2 (four) at the four corners of the non-conductive desk 2 are made of wood (the same material as the conventional example).

§５：ＥＭＩ測定用ノイズ探索治具による探査の説明
図１１はＥＭＩ測定用ノイズ探索治具による探査の説明図である。以下、図１１に基づいてＥＭＩ測定用ノイズ探索治具による探査を説明する。 §5: Explanation of exploration with EMI measurement noise search jig FIG. 11 is an explanatory diagram of exploration with an EMI measurement noise search jig. Hereinafter, the search using the noise search jig for EMI measurement will be described with reference to FIG.

図１１に示したように、ＥＭＩ測定を行う場合、例えば、被試験装置（ＥＵＴ）１のプリント基板３４がＥＭＩ測定の対象であった場合、細い金属ワイヤー等からなるストラップ線３５（導体）を利用する。この場合、ＥＭＩ測定用ノイズ探索治具として、前記ストラップ線３５を利用する。 As shown in FIG. 11, when the EMI measurement is performed, for example, when the printed circuit board 34 of the device under test (EUT) 1 is the object of the EMI measurement, the strap wire 35 (conductor) made of a thin metal wire or the like is used. Use. In this case, the strap line 35 is used as a noise search jig for EMI measurement.

このストラップ線３５（ＥＭＩ測定用ノイズ探索治具）を測定者４（図５参照）が手に持ち、プリント基板３４上のＬＳＩ等の端子に当て、その位置を変化させる。このように、放射される電磁波の周波数は、ストラップ線３５の長さで変化し、ストラップ線３５により電波放射が大になる。このような操作を用いてＥＭＩ測定を行う。 The strap 4 35 (EMI measurement noise search jig) is held by the measurer 4 (see FIG. 5) and touches a terminal such as an LSI on the printed circuit board 34 to change its position. As described above, the frequency of the radiated electromagnetic wave changes depending on the length of the strap line 35, and the radio wave radiation is increased by the strap line 35. EMI measurement is performed using such an operation.

§６：ＥＭＩ測定用電波暗室例の説明
図１２はＥＭＩ測定用電波暗室例の説明図である。以下、図１２に基づいて、ＥＭＩ測定用電波暗室例を説明する。 §6: Description of EMI measurement anechoic chamber example FIG. 12 is an explanatory diagram of an EMI measurement anechoic chamber example. Hereinafter, an EMI measurement anechoic chamber example will be described with reference to FIG.

図１２に示したように、外界からの電波を遮断した電波暗室と、前記電波暗室の外に設けたＥＭＩ測定室からなり、電波暗室には、被試験装置を載せる非導電性机２と、非導電性机２を載せて回転可能なターンテーブル３と、被試験装置（ＥＵＴ）から放射されるノイズを検出するためのアンテナ（ＥＭＩ測定アンテナ）５と、アンテナ昇降台６と、専用スクリーン（図示省略）と、専用スクリーンに測定に必要な情報を投影するための専用スクリーン用プロジェクター１５と、非導電性机用プロジェクター１４等を設置する。 As shown in FIG. 12, the anechoic chamber is configured to block an electromagnetic wave from the outside, and an EMI measurement chamber provided outside the anechoic chamber. In the anechoic chamber, a non-conductive desk 2 on which a device under test is placed; A turntable 3 that can be rotated with a non-conductive desk 2 mounted thereon, an antenna (EMI measurement antenna) 5 for detecting noise radiated from a device under test (EUT), an antenna lift 6, a dedicated screen ( (Not shown), a dedicated screen projector 15 for projecting information necessary for measurement on a dedicated screen, a non-conductive desk projector 14 and the like are installed.

また、ＥＭＩ測定室には、ターンテーブル３の回転制御を行うテーブルコントローラ１７と、昇降台コントローラ１８と、測定用ＰＣ（パーソナルコンピュータ）１９と、ＥＭＩ測定器３１（例えば、スペクトルアナライザ）を設置する。 In the EMI measurement room, a table controller 17, which controls the rotation of the turntable 3, a lift controller 18, a measurement PC (personal computer) 19, and an EMI measuring instrument 31 (for example, a spectrum analyzer) are installed. .

また、前記電波暗室は、周囲をシールド壁３８により構成し、その内側には電波吸収体４０を設置する。更に電波暗室とＥＭＩ測定室とを人が出入りするための開閉扉３７が設けてある。そして、アンテナ５とＥＭＩ測定器３１との間、及び昇降台コントローラ１８とアンテナ昇降台６との間を同軸ケーブル１１により接続する。また、ターンテーブル３とテーブルコントローラ１７との間をケーブルで接続する。また、電波暗室内の２台のプロジェクターである非導電性机用プロジェクター１４と専用スクリーン用プロジェクター１５の間をビデオケーブル１０により接続する。 Further, the anechoic chamber is configured by a shield wall 38 around it, and a radio wave absorber 40 is installed inside thereof. Further, an open / close door 37 is provided for a person to enter and exit the anechoic chamber and the EMI measurement chamber. Then, the coaxial cable 11 connects the antenna 5 and the EMI measuring instrument 31 and the elevator controller 18 and the antenna elevator 6. Further, the turntable 3 and the table controller 17 are connected by a cable. Further, the non-conductive desk projector 14 and the dedicated screen projector 15 which are two projectors in the anechoic chamber are connected by the video cable 10.

§７：ＥＭＩ測定時の詳細な説明
(1) ：ＥＭＩ測定を行う場合、作業者の視線が大きく変わらないよう、ターンテーブル３上に、スペアナ画面等のノイズレベルが分かる表示（プロジェクターによる投影）ができるようにすることがポイントである。これによって、作業者の手元が狂ってプリント基板を破損させる恐れを回避でき、また作業者の視線が大きく変わらないようにして、作業者自身の負担（疲れなど）を軽減できるようにする。 §7: Detailed explanation at the time of EMI measurement
(1): When performing EMI measurement, it is important to enable display (projection by a projector) on the turntable 3 to show the noise level such as a spectrum analyzer screen so that the operator's line of sight does not change significantly. . As a result, it is possible to avoid the possibility of the operator's hand being out of order and damaging the printed circuit board, and to prevent the operator's line of sight from changing significantly, thereby reducing the burden on the operator (such as fatigue).

(2) ：ターンテーブル３上の非導電性机２の天板もしくはその一部分をプロジェクターの投影が可能な半透明の非導電性材料（例えば、誘電率＝５以下の低誘電率を有する誘電体材料）で作製する。この非導電性机２に、グランド下からプロジェクターの反転画像を照射（投影）し、ノイズレベルを非導電性机２上で確認できるようにする。材料としては、無反射ガラスがある。このガラステーブル上にスペアナ画像などを投影する。（なお、一般に、机は木製で、木材（水分による）の誘電率は、２．０〜６．０、ガラスは３．７〜１００である。 (2): a translucent non-conductive material on which the top plate of the non-conductive desk 2 on the turntable 3 or a part thereof can be projected by a projector (for example, a dielectric having a low dielectric constant of 5 or less) Material). The non-conductive desk 2 is irradiated (projected) with a reverse image of the projector from below the ground so that the noise level can be confirmed on the non-conductive desk 2. As a material, there is non-reflective glass. A spectrum analyzer image is projected onto the glass table. (In general, the desk is made of wood, and the dielectric constant of wood (due to moisture) is 2.0 to 6.0, and the glass is 3.7 to 100.

(3) ：プロジェクターを２個用意し、ターンテーブル３上の非導電性机２と、電波暗室内の専用スクリーンのいずれにも投影できるようにし、ＥＭＩ測定器３１で測定した結果のノイズレベルの変化をどちらの投影図でも確認できるようにする。 (3): Two projectors are prepared and can be projected on both the non-conductive desk 2 on the turntable 3 and the dedicated screen in the anechoic chamber, and the noise level of the result measured by the EMI measuring device 31 Make changes visible in both projections.

このとき、プロジェクターが電波暗室内の専用スクリーン８（又は壁面）へ投影し表示する場合は、正面からの投影通りに表示し、ターンテーブル３上の非導電性机２へ投影し表示する場合は、プロジェクターの画像反転機能を用いて画像を反転して表示する（半透明スクリーン背面から投影する場合と同じ）。 At this time, when the projector projects and displays the image on the dedicated screen 8 (or wall surface) in the anechoic chamber, displays the image as projected from the front, and projects and displays it on the non-conductive desk 2 on the turntable 3. The image is reversed using the projector's image reversal function and displayed (same as when projected from the back of the translucent screen).

また、ターンテーブル３上の非導電性机２へスクリーン表示する非導電性机用プロジェクター１４は、そのプロジェクター自身が放射しているノイズを電波暗室内へ極力放射しないように、プロジェクターのレンズ２２（図２参照）の端面を、ターンテーブル３のグランド面と同一平面上になるように設置する。 Further, the non-conductive desk projector 14 that displays a screen on the non-conductive desk 2 on the turntable 3 prevents the noise radiated by the projector itself from radiating into the anechoic chamber as much as possible. 2) is placed so that it is flush with the ground surface of the turntable 3.

そして、このようにグランド直下に設置された非導電性机用プロジェクター１４自身を、非導電性机用プロジェクター１４自身が放射しているノイズを電波暗室内へ入らないように、銅網のようなシールド材でシールドするか、そのプロジェクターをシールドするための専用シールドボックス２４（図４参照）に格納する。 Then, the non-conductive desk projector 14 itself installed just below the ground is made of a copper mesh so that the noise emitted by the non-conductive desk projector 14 itself does not enter the anechoic chamber. It shields with a shielding material, or it stores in the exclusive shield box 24 (refer FIG. 4) for shielding the projector.

シールドするときは、プロジェクターの筐体のＦＧ（frame Grouns :筐体のＧＮＤ）と専用シールドボックス２４のＦＧを適当な間隔で接続する。また、ビデオケーブル１０は、通常コア付きケーブルを使用するが、ない場合は、ビデオケーブル１０からの放射ノイズを抑制するため、コアを追加しても良い。追加したコアによる影響は、ノイズを表示させる目的のためだから問題はない。プロジェクターの電源ケーブルについても同様で、電源ケーブルからの放射ノイズを抑制するため、コアを追加しても良い。 When shielding, the FG (frame Grouns: housing GND) of the projector and the FG of the dedicated shield box 24 are connected at an appropriate interval. Moreover, although the cable with a core normally uses the cable with the video cable 10, in order to suppress the radiation noise from the video cable 10, you may add a core. The effect of the added core is not a problem because it is for the purpose of displaying noise. The same applies to the power cable of the projector, and a core may be added to suppress radiation noise from the power cable.

このように、シールドされた非導電性机用プロジェクター１４を有限回転モードを持つターンテーブル３と一体化させて作製する。ここで、プロジェクター投影口２１は、ターンテーブル３の中央でも良いし、中心からずれても構わない。見易い位置に設置すれば良い。どちらか一方又は両方にプロジェクターを使用するかどうかは、ＥＭＩ測定者が判断して好きな方のプロジェクターの電源を投入すれば見ることができる。 In this way, the shielded non-conductive desk projector 14 is integrated with the turntable 3 having the finite rotation mode. Here, the projector projection port 21 may be at the center of the turntable 3 or may be offset from the center. It may be installed at a position that is easy to see. Whether or not to use a projector for either one or both can be determined by turning on the power of the projector of choice by the EMI measurer.

(4) ：以上の手法により、電波暗室内に投影したプロジェクターが不要と判断できるとき（例えば、被測定装置が小型のものばかりでターンテーブル３上のプロジェクター投影のみで充分の場合）は、これを削除しても良い。この場合、電波暗室内に投影するプロジェクター用の専用スクリーン、その投影壁面に対する配慮（スクリーン設置用に場所をとる等）などが不要になる。場合によっては、スペアナモニターも不要になり、設備としてコストダウンが図れる。 (4): When it can be determined that the projector projected in the anechoic chamber is unnecessary by the above method (for example, when the device under test is only small and only the projector projection on the turntable 3 is sufficient) May be deleted. In this case, a dedicated screen for the projector that projects into the anechoic chamber, consideration for the projection wall surface (such as taking a place for installing the screen), and the like become unnecessary. In some cases, a spectrum monitor is not required, and the cost can be reduced as equipment.

(5) ：また、前記の表示方法を使用すれば、従来の表示方法と比較して、スペアナなどの測定設備（ＥＭＩ測定器３１）からの距離が短くて済むため、ケーブルが外部のノイズを拾う可能性が低くなり、より正当なノイズレベルを表示できるというメリットがある。更に、電波暗室内にスペアナモニター１２（図１５参照）やプロジェクターを設置しないため、それらが反射物となって、ノイズレベルに影響を与える可能性も低くて済む。 (5): If the above display method is used, the distance from the measuring equipment (EMI measuring device 31) such as a spectrum analyzer can be shortened compared to the conventional display method. There is an advantage that the possibility of picking up is reduced and a more proper noise level can be displayed. Furthermore, since the spectrum monitor 12 (see FIG. 15) and the projector are not installed in the anechoic chamber, the possibility that they become a reflector and affect the noise level is low.

更に、プロジェクターの切り替えスイッチは、ＥＭＩ測定室（電波暗室の横に設置）にあるモニタ分配器３０で行うが、ＥＭＩ測定者が電波暗室内に入室する前に写したい方のプロジェクターの電源を投入し、モニタ分配器３０の切替スイッチ１４、１５（図７参照）を切り替えておけば、電波暗室内で特別な作業は一切不要である。 In addition, the projector selector switch is operated by the monitor distributor 30 in the EMI measurement room (installed next to the anechoic chamber), but the EMI measurer turns on the projector he wants to capture before entering the anechoic chamber. If the selector switches 14 and 15 (see FIG. 7) of the monitor distributor 30 are switched, no special work is required in the anechoic chamber.

更に、このときのターンテーブル３は有限回転モードを有するターンテーブル３を使用する。無限回転モードでターンテーブル３を使用すると、プロジェクターをターンテーブル３に取り付けているため、プロジェクターに接続しているビデオケーブル１０やプロジェクター本体のＡＣケーブルの処理に困るからである。すなわち、ケーブルが巻き付く、外れるなどが発生する。 Furthermore, the turntable 3 at this time uses a turntable 3 having a finite rotation mode. This is because when the turntable 3 is used in the infinite rotation mode, the projector is attached to the turntable 3, which makes it difficult to process the video cable 10 connected to the projector and the AC cable of the projector main body. That is, the cable is wound or detached.

§８：ＥＭＩ測定用ノイズ探査治具の具体的例と、その他の説明
(1) ：ＥＭＩ測定用ノイズ探査治具は、図１１に示したストラップ線３５を用いるが、それ以外に、例えば、本出願人の出願に係る特願２００６−２７３９９２（ＥＭＩ測定方法及びＥＭＩ測定用治具）に示された「ノイズ探索治具」を用いると、更に効率良くノイズ源や放射源を突き止めることが可能になる。 §8: Specific example of EMI measurement noise probe and other explanation
(1): The noise search jig for EMI measurement uses the strap wire 35 shown in FIG. 11, but other than that, for example, Japanese Patent Application No. 2006-273392 (EMI measurement method and EMI measurement) according to the application of the present applicant. If the “noise search jig” shown in FIG. 2 is used, it becomes possible to locate the noise source and the radiation source more efficiently.

(2) ：前記ＥＭＩ測定用治具例としては次の通りである。 (2): Examples of the EMI measurement jig are as follows.

長さの異なる複数の導体と、前記複数の導体のうちの１つの線状の導体を電気回路に接触可能な使用状態とする選択手段を有し、前記選択手段は、前記複数の導体を収容し、一方の端部が開放面となった筒状の筐体と、該筐体に設けられ、前記導体を軸方向に移動可能に案内するガイド部材と、前記各導体に取り付けられ、第１係合部、第２係合部が形成されたスライダと、前記筐体の周囲に形成され、前記スライダが移動可能に嵌合し、前記スライダを前記筐体の軸方向に案内するガイド穴と、前記筐体に設けられ、前記スライダの第１係合部が接触可能なストッパと、前記各スライダの第１係合部が前記ストッパに当接する方向に付勢する付勢手段とを有し、前記スライダの第１係合部が前記ストッパに当接すると前記導体は前記筐体に収納され、前記スライダの第１係合部が他のスライダの第２係合部に係合すると、前記導体が筐体から突出するように、前記第１係合部、第２係合部は形成されていることを特徴とする。 A plurality of conductors having different lengths, and a selection means for bringing one linear conductor of the plurality of conductors into a useable state in contact with an electric circuit, wherein the selection means accommodates the plurality of conductors. A cylindrical housing having an open end at one end thereof, a guide member provided in the housing for guiding the conductor so as to be movable in the axial direction, and attached to each of the conductors. A slider formed with an engagement portion and a second engagement portion; a guide hole formed around the housing; the slider is movably fitted and guides the slider in the axial direction of the housing; A stopper provided on the housing and capable of contacting the first engaging portion of the slider, and an urging means for urging the first engaging portion of each slider in a direction to contact the stopper. When the first engaging portion of the slider comes into contact with the stopper, the conductor is attached to the housing. When the first engaging portion of the slider is engaged with the second engaging portion of the other slider, the first engaging portion and the second engaging portion are arranged so that the conductor protrudes from the housing. It is formed.

(3) ：本発明で使用する電波暗室は図１２に示したが、この電波暗室において、１０ｍ電波暗室だけでなく、３ｍ電波暗室や簡易小型電波暗室など、いずれも使用可能である。大型の電波暗室ほど、ノイズレベルの差を一人でチェックする場合、作業者の視線の位置が異なることや、視力が要求されるため、その効果は大きい。 (3) The anechoic chamber used in the present invention is shown in FIG. 12, but in this anechoic chamber, not only a 10 m anechoic chamber but also a 3 m anechoic chamber or a simple small anechoic chamber can be used. The larger the anechoic chamber, the greater the effect when checking the difference in noise level alone because the position of the operator's line of sight is different and visual acuity is required.

§９：付記
前記の説明に対し、次の構成を付記する。 §9: Additional notes The following configuration is added to the above description.

（付記１）
外界からの電波を遮断した電波暗室内に、被試験装置を載せる非導電性机と、前記非導電性机を載せて回転可能なターンテーブルと、被試験装置から放射されるノイズを検出するアンテナと、専用スクリーンと、前記専用スクリーンに測定結果情報を投影する専用スクリーン用投影機を備え、
前記電波暗室の外側には、前記アンテナからの信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器を備え、
前記電波暗室の内外の機器の必要とする部分を電気的に接続してＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定システムにおいて、
前記非導電性机は、天板全体を半透明の非導電性材料で構成し、前記ターンテーブルの一部に、投影機の投影口を開け、該投影口に投影機のレンズを挿入して前記ターンテーブルの表面から下側の位置に非導電性机用投影機を設け、該非導電性机用投影機から前記半透明の天板に対しＥＭＩ測定器から送られた測定結果情報を投影可能に設けると共に、
前記電波暗室の外側には、前記専用スクリーン用投影機と非導電性机用投影機を切り替えて２つの投影面の切り替えを行う切替手段を設けたことを特徴とするＥＭＩ測定システム。 (Appendix 1)
A nonconductive desk on which the device under test is placed in an anechoic chamber that blocks radio waves from the outside, a turntable that can be rotated by placing the nonconductive desk, and an antenna that detects noise radiated from the device under test And a dedicated screen and a dedicated screen projector for projecting measurement result information onto the dedicated screen,
Provided outside the anechoic chamber is an EMI measuring device that performs EMI measurement based on a signal from the antenna,
In the EMI measurement system for performing EMI measurement by electrically connecting the necessary parts of the equipment inside and outside the anechoic chamber,
The non-conductive desk is composed of a semi-transparent non-conductive material for the entire top plate, and a projection port of a projector is opened in a part of the turntable, and a lens of the projector is inserted into the projection port. A non-conductive desk projector is provided at a position below the surface of the turntable, and measurement result information sent from the EMI measuring instrument can be projected from the non-conductive desk projector onto the translucent top plate. And provided in
An EMI measurement system, characterized in that switching means for switching between two projection planes by switching between the dedicated screen projector and the non-conductive desk projector is provided outside the anechoic chamber.

（付記２）
前記非導電性机は、天板の一部のみを半透明の非導電性材料で構成した天板投影部とし、該天板投影部を前記非導電性机用投影機の投影面として前記非導電性机の天板の一部に埋め込んだことを特徴とする付記１記載のＥＭＩ測定システム。 (Appendix 2)
The non-conductive desk is a top-plate projection unit in which only a part of the top plate is made of a semi-transparent non-conductive material, and the top-plate projection unit is used as the projection surface of the non-conductive desk projector. The EMI measurement system according to appendix 1, wherein the EMI measurement system is embedded in a part of a top plate of a conductive desk.

（付記３）
前記専用スクリーン及び非導電性机の天板には、前記ＥＭＩ測定器から送られた測定結果のノイズレベルが分かる情報を投影し表示することを特徴とする付記１又は２記載のＥＭＩ測定システム。 (Appendix 3)
The EMI measurement system according to appendix 1 or 2, wherein information indicating a noise level of a measurement result sent from the EMI measuring device is projected and displayed on the dedicated screen and the top plate of the non-conductive desk.

（付記４）
外界からの電波を遮断した電波暗室内に、被試験装置を載せる非導電性机と、前記非導電性机を載せて回転可能なターンテーブルと、被試験装置から放射されるノイズを検出するアンテナと、専用スクリーンと、前記専用スクリーンに測定結果情報を投影する専用スクリーン用投影機を備え、
前記電波暗室の外側には、前記アンテナからの信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器を備え、
前記電波暗室の内外の機器の必要とする部分を電気的に接続してＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定システムの前記電波暗室において、
前記非導電性机は、天板全体を半透明の非導電性材料で構成し、前記ターンテーブルの一部に、投影機の投影口を開け、該投影口に投影機のレンズを挿入して前記ターンテーブルの表面から下側の位置に非導電性机用投影機を設け、
該非導電性机用投影機から前記半透明の天板に対し、前記ＥＭＩ測定器からの測定結果情報を投影可能に設けたことを特徴とする電波暗室。 (Appendix 4)
A nonconductive desk on which the device under test is placed in an anechoic chamber that blocks radio waves from the outside, a turntable that can be rotated by placing the nonconductive desk, and an antenna that detects noise radiated from the device under test And a dedicated screen and a dedicated screen projector for projecting measurement result information onto the dedicated screen,
Provided outside the anechoic chamber is an EMI measuring device that performs EMI measurement based on a signal from the antenna,
In the anechoic chamber of the EMI measurement system for performing EMI measurement by electrically connecting necessary parts of equipment inside and outside the anechoic chamber,
The non-conductive desk is composed of a semi-transparent non-conductive material for the entire top plate, and a projection port of a projector is opened in a part of the turntable, and a lens of the projector is inserted into the projection port. Provide a non-conductive desk projector at a position below the surface of the turntable,
An anechoic chamber characterized in that the measurement result information from the EMI measuring device can be projected from the non-conductive desk projector onto the translucent top plate.

（付記５）
前記非導電性机は、天板の一部のみを半透明の非導電性材料で構成した天板投影部とし、該天板投影部を前記非導電性机用投影機の投影面として前記非導電性机の天板の一部に埋め込んだことを特徴とする付記４記載の電波暗室。 (Appendix 5)
The non-conductive desk is a top-plate projection unit in which only a part of the top plate is made of a semi-transparent non-conductive material, and the top-plate projection unit is used as the projection surface of the non-conductive desk projector. The anechoic chamber according to appendix 4, wherein the anechoic chamber is embedded in a part of a top plate of a conductive desk.

（付記６）
前記専用スクリーン及び非導電性机の天板には、前記ＥＭＩ測定器から送られた測定結果のノイズレベルが分かる情報を投影し表示することを特徴とする付記４又は５記載の電波暗室。 (Appendix 6)
6. The anechoic chamber according to appendix 4 or 5, wherein information indicating a noise level of a measurement result sent from the EMI measuring device is projected and displayed on the dedicated screen and the top plate of the non-conductive desk.

本発明の原理説明図である。It is a principle explanatory view of the present invention. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の俯瞰図である。It is an overhead view of the noise display device for EMI measurement in an embodiment. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の断面図である。It is sectional drawing of the noise display apparatus for EMI measurement in embodiment. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図である。It is a partial enlarged view of the noise display device for EMI measurement in an embodiment. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の測定方法説明図（その１）である。FIG. 5 is a first diagram illustrating a measurement method of the noise display device for EMI measurement according to the embodiment. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の測定方法説明図（その２）である。It is measurement method explanatory drawing (the 2) of the noise display apparatus for EMI measurement in embodiment. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示手段の構成図である。It is a block diagram of the noise display means for EMI measurement in embodiment. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その１）である。It is a partial enlarged view (the 1) of the noise display device for EMI measurement in an embodiment. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その２）である。It is the elements on larger scale (the 2) of the noise display apparatus for EMI measurement in embodiment. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その３）である。It is a partial enlarged view (the 3) of the noise display apparatus for EMI measurement in embodiment. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ探索治具による探査の説明図である。It is explanatory drawing of the search by the noise search jig for EMI measurement in embodiment. 実施の形態におけるＥＭＩ測定用電波暗室例である。It is an example of the anechoic chamber for EMI measurement in an embodiment. 従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その１）である。It is a noise display method explanatory drawing (the 1) at the time of EMI measurement of the prior art example 1. 従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その２）である。It is a noise display method explanatory drawing (the 2) at the time of EMI measurement of the prior art example 1. 従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その３）である。FIG. 11 is a third diagram for explaining a noise display method during EMI measurement in Conventional Example 1; 従来例２の説明図である。It is explanatory drawing of the prior art example 2. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

１被試験装置（ＥＵＴ）
２非導電性机
３ターンテーブル
４測定者（ＥＭＩ対策技術者）
５アンテナ（ＥＭＩ測定アンテナ）
６アンテナ昇降台
８専用スクリーン
１０ビデオケーブル
１１同軸ケーブル
１２スペアナモニター
１４非導電性机用プロジェクター
１５専用スクリーン用プロジェクター
１７テーブルコントローラ
１８昇降台コントローラ
１９測定用ＰＣ（測定用パーソナルコンピュータ）
２０机上投影像
２１プロジェクター投影口
２２プロジェクターレンズ
２３プロジェクターが投影した像
２４シールドボックス
２５プロジェクターの電源ケーブル
２６支持車輪
２７シールドボックスとのＦＧ接続箇所
２９天板投影部
３０モニタ分配器
３１ＥＭＩ測定器
３７開閉扉
３８シールド壁
３９ＧＰＩＢケーブル
４０電波吸収体 1 Device under test (EUT)
2 Non-conductive desk 3 Turntable 4 Measurer (EMI countermeasure engineer)
5 Antenna (EMI measurement antenna)
6 antenna lift 8 dedicated screen 10 video cable 11 coaxial cable 12 spectrum monitor 14 non-conductive desk projector 15 dedicated screen projector 17 table controller 18 lift controller 19 PC for measurement (personal computer for measurement)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 20 Projection image 21 Projector projection port 22 Projector lens 23 Projected image 24 Shield box 25 Projector power cable 26 Support wheel 27 FG connection point with shield box 29 Top plate projection unit 30 Monitor distributor 31 EMI measuring device 37 Opening / closing door 38 Shield wall 39 GPIB cable 40 Wave absorber

Claims

外界からの電波を遮断した電波暗室内に、被試験装置を載せる非導電性机と、前記非導電性机を載せて回転可能なターンテーブルと、被試験装置から放射されるノイズを検出するアンテナと、専用スクリーンと、前記専用スクリーンに測定結果情報を投影する専用スクリーン用投影機を備え、
前記電波暗室の外側には、前記アンテナからの信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器を備え、
前記電波暗室の内外の機器の必要とする部分を電気的に接続してＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定システムにおいて、
前記非導電性机は、天板全体を半透明の非導電性材料で構成し、前記ターンテーブルの一部に、投影機の投影口を開け、該投影口に投影機のレンズを挿入して前記ターンテーブルの表面から下側の位置に非導電性机用投影機を設け、該非導電性机用投影機から前記半透明の天板に対しＥＭＩ測定器から送られた測定結果情報を投影可能に設けると共に、
前記電波暗室の外側には、前記専用スクリーン用投影機と非導電性机用投影機を切り替えて２つの投影面の切り替えを行う切替手段を設けたことを特徴とするＥＭＩ測定システム。 A nonconductive desk on which the device under test is placed in an anechoic chamber that blocks radio waves from the outside, a turntable that can be rotated by placing the nonconductive desk, and an antenna that detects noise radiated from the device under test And a dedicated screen and a dedicated screen projector for projecting measurement result information onto the dedicated screen,
Provided outside the anechoic chamber is an EMI measuring device that performs EMI measurement based on a signal from the antenna,
In the EMI measurement system for performing EMI measurement by electrically connecting the necessary parts of the equipment inside and outside the anechoic chamber,
The non-conductive desk is composed of a semi-transparent non-conductive material for the entire top plate, and a projection port of a projector is opened in a part of the turntable, and a lens of the projector is inserted into the projection port. A non-conductive desk projector is provided at a position below the surface of the turntable, and measurement result information sent from the EMI measuring instrument can be projected from the non-conductive desk projector onto the translucent top plate. And provided in
An EMI measurement system, characterized in that switching means for switching between two projection planes by switching between the dedicated screen projector and the non-conductive desk projector is provided outside the anechoic chamber.

前記非導電性机は、天板の一部のみを半透明の非導電性材料で構成した天板投影部とし、該天板投影部を前記非導電性机用投影機の投影面として前記非導電性机の天板の一部に埋め込んだことを特徴とする請求項１記載のＥＭＩ測定システム。 The non-conductive desk is a top-plate projection unit in which only a part of the top plate is made of a semi-transparent non-conductive material, and the top-plate projection unit is used as the projection surface of the non-conductive desk projector. The EMI measuring system according to claim 1, wherein the EMI measuring system is embedded in a part of a top plate of a conductive desk.

前記専用スクリーン及び非導電性机の天板には、前記ＥＭＩ測定器から送られた測定結果のノイズレベルが分かる情報を投影し表示することを特徴とする請求項１又は２記載のＥＭＩ測定システム。 The EMI measurement system according to claim 1 or 2, wherein information indicating a noise level of a measurement result sent from the EMI measuring device is projected and displayed on the dedicated screen and the top plate of the non-conductive desk. .