JP2008205645A - アンテナ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】素子選択部153は、各サブアレーアンテナ110から1つずつの素子アンテナ111を選択する。移相量変更部154は、素子選択部153が選択した各素子アンテナ111に接続した移相器112(選択移相器)について、設定した移相量を変更する。各測定回路140は、移相量変更部154が移相量を変更したとき各校正回路130が出力した校正済信号の振幅及び位相をそれぞれ測定する。最適移相量算出部155は、各測定回路140が測定した校正済信号の振幅及び位相に基づいて、最適移相量を算出する。
【選択図】図1
Description
階層型アレーアンテナは、各サブアレーアンテナが各素子アンテナが受信した信号の振幅や位相を調整したうえで合成し、更に、各サブアレーアンテナが出力した信号の振幅や位相を調整したうえで合成することにより、任意のビーム走査やパターン形成を可能にする。
デジタルビームフォーミング(DBF)アンテナは、この合成をデジタルウェイトの乗算により電子的に実現する。階層型のDBFアンテナを、サブアレーDBFアンテナという。
任意のビーム形成を行うためには、移相器の移相量やデジタルウェイトを校正する必要がある。
移相器の移相量の校正は、移相器を1つずつ選択し、選択した移相器の移相量を変更して、出力の変化を測定することにより行われる。
各素子アンテナに接続される移相器の設定位相を1つずつ変化させていくと、素子アンテナや移相器のビット数の増大に比例して測定回数が増加するため、計測に時間がかかり、送信機や受信機などが発熱したり、測定周囲の温度が変化したり、作動電源の時間揺らぎの問題により測定誤差が増大するという課題がある。
複数のサブアレーアンテナと、複数の受信機と、複数の校正回路と、複数の測定回路と、演算回路とを有し、
上記複数のサブアレーアンテナの各サブアレーアンテナは、複数の素子アンテナと、複数の移相器と、信号合成回路とを備え、
上記複数の素子アンテナの各素子アンテナは、送信装置が送信した基準送信信号を受信して、受信信号とし、
上記複数の移相器の各移相器は、上記複数の素子アンテナの一つに接続し、接続した素子アンテナが受信した受信信号を、設定された移相量にしたがって移相して、移相済信号とし、
上記信号合成回路は、上記複数の移相器に接続し、上記複数の移相器の各移相器がそれぞれ移相した複数の移相済信号を合成して、合成信号とし、
上記複数の受信機の各受信機は、上記複数のサブアレーアンテナの一つに接続し、接続したサブアレーアンテナが合成した合成信号を変換して、出力信号とし、
上記複数の校正回路の各校正回路は、上記複数の受信機の一つに接続し、接続した受信機が変換した出力信号を、設定された校正量にしたがって校正して、校正済信号とし、
上記複数の測定回路の各測定回路は、上記複数の校正回路の一つに接続し、接続した校正回路が校正した校正済信号の振幅を測定し、
上記演算回路は、上記複数のサブアレーアンテナがそれぞれ備える複数の移相器と、上記複数の校正回路と、上記複数の測定回路とに接続し、素子選択部と、移相量変更部と、最適移相量算出部と、最適移相量設定部と、最適校正量算出部とを有し、
上記素子選択部は、上記複数のサブアレーアンテナがそれぞれ備える複数の素子アンテナのうちから、各サブアレーアンテナについて一つずつの素子アンテナを選択し、選択した素子アンテナに接続した移相器を複数の選択移相器とし、
上記移相量変更部は、上記素子選択部が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について設定した移相量を変更し、
上記最適移相量算出部は、上記移相量変更部が移相量を変更したとき上記複数の測定回路の各測定回路がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅の変化に基づいて、上記素子選択部が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について最適移相量を算出し、
上記最適移相量設定部は、上記素子選択部が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について上記最適移相量算出部が算出した最適移相量を設定し、
上記最適校正量算出部は、上記最適移相量設定部が最適移相量を設定したとき上記複数の測定回路の各測定回路がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅に基づいて、上記複数の校正回路の各校正回路について最適校正量を算出することを特徴とする。
実施の形態1を、図1〜図3を用いて説明する。
例えば、サブアレーアンテナ110がn個あり、各サブアレーアンテナ110が備える素子アンテナ111がm個ずつあるとすれば、アンテナ装置100は、全部でm×n個の素子アンテナ111を備える。
移相器112は、接続した素子アンテナ111が受信した受信信号を入力する。移相器112は、設定された移相量にしたがって、入力した受信信号を移相する。
移相器112の移相量は可変であり、後述する演算回路150が設定する。設定された移相量は、ラッチ回路などの記憶装置が記憶する。移相量は、例えば、kビットのデジタル値であり、その場合、移相量を2のk乗段階に変更することができる。
また、移相器112の移相量は、移相器112ごとに異なる値を設定することができる。
移相器112は、受信信号を移相して生成した信号を移相済信号として出力する。
受信機120は、接続したサブアレーアンテナ110(の信号合成回路113)が出力した合成信号を入力する。受信機120は、入力した合成信号を変換する。受信機120は、例えば、合成信号の周波数を中間周波数に変換し、同相成分と直交成分とに分解する。受信機120は、、合成信号を変換して生成した信号を、出力信号として出力する。
校正回路130は、接続した受信機120が出力した出力信号を入力する。校正回路130は、設定された校正量にしたがって、入力した出力信号を校正する。校正回路130は、例えば、ウェイト乗算回路であり、出力信号の複素ベクトルに複素数で表わされた校正量(校正ウェイト)を乗算することにより、出力信号を校正する。校正回路130は、出力信号を校正して生成した信号を、校正済信号として出力する。
測定回路140は、接続した校正回路130が出力した校正済信号を入力する。測定回路140は、入力した校正済信号の振幅及び位相を測定する。測定回路140は、例えば、アナログデジタル変換回路である。測定回路140は、測定した校正済信号の振幅及び位相を表わす信号を出力する。
演算回路150は、測定回路140が測定した校正済信号の振幅及び位相に基づいて、移相器112に設定すべき最適な移相量や、校正回路130に設定すべき最適な校正量を算出し、設定する。
演算回路150の詳細については、後述する。
なお、ビーム形成回路180は、校正回路130が出力した校正済信号の代わりに、測定回路140が測定した校正済信号の振幅及び位相を表わす情報を入力し、校正済信号の振幅及び位相に基づいて、所望の指向性を有する信号を生成してもよい。
演算回路150は、例えば、CPU(Central Processing Unit:中央処理装置)などの処理装置であって、以下に説明する演算回路150の詳細ブロックは、演算回路150がプログラムなどのソフトウェアを実行することにより実現する。
あるいは、演算回路150は、論理回路などのハードウェアによって実現してもよいし、一部をソフトウェアによって実現し、一部をハードウェアによって実現してもよい。
校正量の初期値は、例えば、複素数「1+j0」(振幅・位相ともに校正せず、そのまま出力することを表わす)である。
移相量の初期値は、例えば、「0度」である。
例えば、移相器112が移相量を2のk乗段階で設定できる移相器であれば、設定できる移相量の最小刻み幅Δφは、Δφ=360°/2kである。移相量変更部154は、まず、すべての選択移相器の移相量をΔφに設定する。次に、移相量変更部154は、すべての選択移相器の移相量を2Δφに設定する。移相量変更部154は、このようにすべての選択移相器の移相量をΔφ刻みで(2k−1)Δφまで変更していく。
選択移相器に設定すべき最適移相量は、校正の方法・目的などによっても異なるが、例えば、合成信号の振幅を最大にすることを目的とする場合、合成信号の振幅を最大にする移相量が最適移相量である。
この図は、移相器112が出力する移相済信号と、信号合成回路113が出力する合成信号とを、複素ベクトルで表わしたものである。
例えば、移相器112が出力する移相済信号の複素ベクトル(電界ベクトル)が、太実線矢印で表わしたものである場合、これらを合成して信号合成回路113が出力する合成信号の複素ベクトル(合成電界ベクトル)は、太破線矢印で表わしたように、移相済信号の複素ベクトルの和となる。
最適移相量算出部155は、これに基づいて、各移相器112の最適移相量を算出する。
校正回路130に設定すべき最適校正量も、校正の方法・目的などにより異なるが、例えば、校正済信号の振幅・位相を揃えることを目的とする場合、最適校正量算出部157は、測定回路140が測定した校正済信号の振幅・位相から、校正済信号の複素ベクトルを算出し、算出した複素ベクトルの共役複素数を求めて、最適校正量とする。
あるいは、テイラー分布などの低サイドローブのビームを形成することを目的とする場合であれば、最適校正量算出部157は、所望の振幅レベルとなるよう、最適校正量を算出する。
これにより、受信機120に誤差がある場合でも、受信機120の誤差を校正することができる。
図3は、この実施の形態におけるアンテナ装置100が校正をする校正処理の流れの一例を示すフローチャート図である。
演算回路150は、各測定回路140が出力した信号を入力し、各測定回路140が測定した各校正済信号の振幅・位相を、メモリなどに記憶する。
したがって、測定回数は、{(2k−1)×m+2}/{(2k−1)×m×n+1}≒1/nに減ることになる。
また、この例において、測定回路140は、校正済信号の振幅及び位相の両方を測定しているが、測定回路140は、校正済信号(あるいは出力信号)の振幅のみを測定してもよい。
複数のサブアレーアンテナ110と、複数の受信機120と、複数の校正回路130と、複数の測定回路140と、演算回路150とを有することを特徴とする。
複数のサブアレーアンテナ110の各サブアレーアンテナ110は、複数の素子アンテナ111と、複数の移相器112と、信号合成回路113とを備えることを特徴とする。
複数の素子アンテナ111の各素子アンテナ111は、送信装置200が送信した基準送信信号を受信して、受信信号とすることを特徴とする。
複数の移相器112の各移相器112は、複数の素子アンテナ111の一つに接続し、接続した素子アンテナ111が受信した受信信号を、設定された移相量にしたがって移相して、移相済信号とすることを特徴とする。
信号合成回路113は、複数の移相器112に接続し、複数の移相器112の各移相器112がそれぞれ移相した複数の移相済信号を合成して、合成信号とすることを特徴とする。
複数の受信機120の各受信機120は、複数のサブアレーアンテナ110の一つに接続し、接続したサブアレーアンテナ110が合成した合成信号を変換して、出力信号とすることを特徴とする。
複数の校正回路130の各校正回路130は、複数の受信機120の一つに接続し、接続した受信機120が変換した出力信号を、設定された校正量にしたがって校正して、校正済信号とすることを特徴とする。
複数の測定回路140の各測定回路140は、複数の校正回路130の一つに接続し、接続した校正回路130が校正した校正済信号の振幅を測定することを特徴とする。
演算回路150は、上記複数のサブアレーアンテナ110がそれぞれ備える複数の移相器112と、上記複数の校正回路130と、上記複数の測定回路140とに接続し、素子選択部153と、移相量変更部154と、最適移相量算出部155と、最適移相量設定部156と、最適校正量算出部157とを有することを特徴とする。
素子選択部153は、複数のサブアレーアンテナ110がそれぞれ備える複数の素子アンテナ111のうちから、各サブアレーアンテナ110について一つずつの素子アンテナ111を選択し、選択した素子アンテナ111に接続した移相器112を複数の選択移相器とすることを特徴とする。
移相量変更部154は、素子選択部153が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について設定した移相量を変更することを特徴とする。
最適移相量算出部155は、移相量変更部154が移相量を変更したとき複数の測定回路140の各測定回路140がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅の変化に基づいて、素子選択部153が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について最適移相量を算出することを特徴とする。
最適移相量設定部156は、素子選択部153が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について最適移相量算出部155が算出した最適移相量を設定することを特徴とする。
最適校正量算出部157は、最適移相量設定部156が最適移相量を設定したとき複数の測定回路140の各測定回路140がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅に基づいて、複数の校正回路130の各校正回路130について最適校正量を算出することを特徴とする。
移相量変更部154は、素子選択部153が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について設定した移相量を同時に変更することを特徴とする。
最適移相量算出部155は、移相量変更部154が移相量を変更したとき複数の測定回路140の各測定回路140がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅及び位相の変化に基づいて、素子選択部153が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について最適移相量を算出することを特徴とする。
最適校正量算出部157は、最適移相量設定部156が最適移相量を設定したとき複数の測定回路140の各測定回路140がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅及び位相に基づいて、複数の校正回路130の各校正回路130について最適校正量を算出することを特徴とする。
実施の形態2について、図4〜図7を用いて説明する。
なお、実施の形態1で説明したアンテナ装置100のブロックと共通するブロックについては、同一の符号を付し、ここでは説明を省略する。
暫定校正量は、実施の形態1で説明した最適校正量と同様にして算出する。暫定校正量算出部162は、例えば、測定した各校正済信号の振幅及び位相に基づいて、各校正済信号の複素ベクトルを求め、その逆数を算出して、暫定校正量とする。
発振器191は、基準校正信号のもととなる所定周波数、所定振幅の信号を生成する。
分配器192は、発振器191が生成した信号を入力し、同振幅・同位相の信号に分配して、基準校正信号とする。分配器192が分配した基準校正信号は、各受信機120に対して出力される。
切り替えスイッチ121は、演算回路150からの信号にしたがって、入力を切り替えるスイッチである。切り替えスイッチ121は、サブアレーアンテナ110が出力した合成信号と、校正信号生成回路190が出力した基準校正信号とを入力し、いずれか一方を選択して出力する。
受信回路122は、実施の形態1で説明した受信機120と同様の回路であり、入力した信号を変換し、出力信号として出力する。
なお、図5で説明した内部ブロックと共通するブロックについては、同一の符号を付し、ここでは説明を省略する。
発振器191は、演算回路150からの指示にしたがって、発振したり、発振を停止したりする。校正信号生成回路190は、演算回路150からの指示があった場合に、基準校正信号を生成する。
結合器123(入力カプラ)は、サブアレーアンテナ110が出力した合成信号と、校正信号生成回路190が出力した基準校正信号とを入力し、入力した合成信号と基準校正信号とを結合して、結合した信号を出力する。
逆に、暫定校正の指示を解除(合成信号の入力を指示)する場合には、演算回路150は、校正信号生成回路190に対して基準校正信号の生成停止を指示し、送信装置200に対して基準送信信号の送信開始を指示する。これにより、結合器123は、合成信号を入力するが、基準校正信号の振幅が0になるので、受信回路122は合成信号を入力することになる。
図7は、この実施の形態におけるアンテナ装置100が校正をする校正処理の流れの一例を示すフローチャート図である。
なお、この実施の形態におけるアンテナ装置100の校正処理は、実施の形態1で説明した校正処理の初期校正量設定工程S11と初期移相量設定工程S12との間に、暫定校正指示工程S31〜暫定校正指示解除工程S35の処理を加えたものなので、以降の処理については、記載を省略している。
これにより、各受信機120の誤差を考慮した校正量が各校正回路130に設定される。
そのため、最適校正量算出工程S22において、最適校正量算出部157が最適校正量を算出するにあたり、暫定校正量の分を修正する必要がある。
例えば、最適校正量算出部157は、実施の形態1で説明した方法と同様にして最適校正量を算出したのち、最適校正量を暫定校正量で割って(最適校正量)/(暫定校正量)を求め、これをこの実施の形態における最適校正量とする。
校正信号生成回路190は、校正の基準となる基準校正信号を生成することを特徴とする。
複数の受信機120の各受信機120は、更に、校正信号生成回路190に接続し、暫定校正を指示された場合に、合成信号に代えて校正信号生成回路190が生成した基準校正信号を変換して、出力信号とすることを特徴とする。
演算回路150は、更に、校正指示部161と、暫定校正量算出部162と、暫定校正量設定部163とを有することを特徴とする。
校正指示部161は、複数の受信機120の各受信機120に対して、暫定校正を指示することを特徴とする。
暫定校正量算出部162は、校正指示部161が暫定校正を指示したとき複数の測定回路140の各測定回路140がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅に基づいて、複数の校正回路130の各校正回路130について暫定校正量を算出することを特徴とする。
暫定校正量設定部163は、複数の校正回路130の各校正回路130について上記暫定校正量算出部162が算出した暫定校正量を設定することを特徴とする。
Claims (4)
- 複数のサブアレーアンテナと、複数の受信機と、複数の校正回路と、複数の測定回路と、演算回路とを有し、
上記複数のサブアレーアンテナの各サブアレーアンテナは、複数の素子アンテナと、複数の移相器と、信号合成回路とを備え、
上記複数の素子アンテナの各素子アンテナは、送信装置が送信した基準送信信号を受信して、受信信号とし、
上記複数の移相器の各移相器は、上記複数の素子アンテナの一つに接続し、接続した素子アンテナが受信した受信信号を、設定された移相量にしたがって移相して、移相済信号とし、
上記信号合成回路は、上記複数の移相器に接続し、上記複数の移相器の各移相器がそれぞれ移相した複数の移相済信号を合成して、合成信号とし、
上記複数の受信機の各受信機は、上記複数のサブアレーアンテナの一つに接続し、接続したサブアレーアンテナが合成した合成信号を変換して、出力信号とし、
上記複数の校正回路の各校正回路は、上記複数の受信機の一つに接続し、接続した受信機が変換した出力信号を、設定された校正量にしたがって校正して、校正済信号とし、
上記複数の測定回路の各測定回路は、上記複数の校正回路の一つに接続し、接続した校正回路が校正した校正済信号の振幅を測定し、
上記演算回路は、上記複数のサブアレーアンテナがそれぞれ備える複数の移相器と、上記複数の校正回路と、上記複数の測定回路とに接続し、素子選択部と、移相量変更部と、最適移相量算出部と、最適移相量設定部と、最適校正量算出部とを有し、
上記素子選択部は、上記複数のサブアレーアンテナがそれぞれ備える複数の素子アンテナのうちから、各サブアレーアンテナについて一つずつの素子アンテナを選択し、選択した素子アンテナに接続した移相器を複数の選択移相器とし、
上記移相量変更部は、上記素子選択部が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について設定した移相量を変更し、
上記最適移相量算出部は、上記移相量変更部が移相量を変更したとき上記複数の測定回路の各測定回路がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅の変化に基づいて、上記素子選択部が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について最適移相量を算出し、
上記最適移相量設定部は、上記素子選択部が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について上記最適移相量算出部が算出した最適移相量を設定し、
上記最適校正量算出部は、上記最適移相量設定部が最適移相量を設定したとき上記複数の測定回路の各測定回路がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅に基づいて、上記複数の校正回路の各校正回路について最適校正量を算出する
ことを特徴とするアンテナ装置。 - 上記移相量変更部は、上記素子選択部が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について設定した移相量を同時に変更する
ことを特徴とする請求項1に記載のアンテナ装置。 - 上記アンテナ装置は、更に、校正信号生成回路を有し、
上記校正信号生成回路は、校正の基準となる基準校正信号を生成し、
上記複数の受信機の各受信機は、更に、上記校正信号生成回路に接続し、暫定校正を指示された場合に、上記合成信号に代えて上記校正信号生成回路が生成した基準校正信号を変換して、出力信号とし、
上記演算回路は、更に、校正指示部と、暫定校正量算出部と、暫定校正量設定部とを有し、
上記校正指示部は、上記複数の受信機の各受信機に対して、暫定校正を指示し、
上記暫定校正量算出部は、上記校正指示部が暫定校正を指示したとき上記複数の測定回路の各測定回路がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅に基づいて、上記複数の校正回路の各校正回路について暫定校正量を算出し、
上記暫定校正量設定部は、上記複数の校正回路の各校正回路について上記暫定校正量算出部が算出した暫定校正量を設定する
ことを特徴とする請求項1に記載のアンテナ装置。 - 上記複数の測定回路の各測定回路は、更に、接続した校正回路が校正した校正済信号の位相を測定し、
上記最適移相量算出部は、上記移相量変更部が移相量を変更したとき上記複数の測定回路の各測定回路がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅及び位相の変化に基づいて、上記素子選択部が選択した複数の選択移相器の各選択移相器について最適移相量を算出し、
上記最適校正量算出部は、上記最適移相量設定部が最適移相量を設定したとき上記複数の測定回路の各測定回路がそれぞれ測定した複数の校正済信号の振幅及び位相に基づいて、上記複数の校正回路の各校正回路について最適校正量を算出する
ことを特徴とする請求項1に記載のアンテナ装置。
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