JP2008186845A - 論理素子 - Google Patents

論理素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2008186845A
JP2008186845A JP2007016640A JP2007016640A JP2008186845A JP 2008186845 A JP2008186845 A JP 2008186845A JP 2007016640 A JP2007016640 A JP 2007016640A JP 2007016640 A JP2007016640 A JP 2007016640A JP 2008186845 A JP2008186845 A JP 2008186845A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor layer
gate electrode
logic element
electrode
source region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007016640A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Endo
浩幸 遠藤
Atsushi Oda
小田  敦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2007016640A priority Critical patent/JP2008186845A/ja
Publication of JP2008186845A publication Critical patent/JP2008186845A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)

Abstract

【課題】有機物を利用した論理素子を製造しようとする場合、従来はシリコンデバイスと類似のMOS型構造を複数組み合わせた構造で検討されてきたが、有機半導体薄膜のキャリア移動度が小さく駆動に高い電圧を必要とするためで実用的な電圧範囲の動作ができなかった。
【解決手段】縦型の構造を有する有機静電誘導型トランジスタを複数組み合わせることによって、低電圧で動作可能なまた実装面積の小さな論理素子を得る。
【選択図】図1

Description

本発明は、有機材料又は無機材料を、キャリヤを輸送可能な半導体層として有する論理素子に関するものである。特に、縦型構造を有することにより駆動電圧を低くし、かつ簡便な構造を有する薄膜トランジスタを組み合わせた論理素子に関する。
従来から、薄膜トランジスタは液晶表示装置等の表示用のスイッチング素子として広く用いられている。従来、薄膜トランジスタ(以下、「TFT」とも記載する)は、アモルファスや多結晶のシリコンを用いて作製されていた。
しかし、このようなシリコンを用いたTFTの作製に用いるCVD装置は非常に高額であり、TFTを用いた表示装置等の大型化は製造コストの大幅な増加を伴うという問題点があった。また、アモルファスや多結晶シリコンを成膜するプロセスは非常に高い温度下で行われるので、基板として使用可能な材料の種類が限られていた。従って、軽量な樹脂基板等は使用できないという問題があった。
そこで、上記問題を解決するため、アモルファスや多結晶シリコンに代えて有機物を用いたTFTが提案されている。ここで、有機物でTFTを形成する際に用いる成膜方法としては真空蒸着法や塗布法等が知られている。これらの成膜方法を用いるとコストアップを抑えつつ素子の大型化が実現可能となり、成膜時に必要となるプロセス温度を比較的、低温にすることができる。このため、有機物を用いたTFTでは、基板に用いる材料の選択時の制限が少ないといった利点が得られ、その実用化が期待されている。
実際、近年、有機物を用いたTFTは盛んに報告されるようになった。非特許文献1〜12には、このような有機物を用いたTFTが開示されている。
また、特許文献1〜5には、TFTの有機化合物層に用いる有機物として、共役系ポリマーやチオフェンなどの多量体が開示されている。更に、特許文献6には有機物として金属フタロシアニン化合物、特許文献7及び8には有機物としてペンタセンなどの縮合芳香族炭化水素を用い、これらの有機物を単体で、又は他の化合物と混合して有機化合物層を形成したTFTが開示されている。
このように半導体層の材料として有機材料を使用することにより、素子基板としてガラス等の硬い材料はもちろんのこと、樹脂やプラスチックを適用することができ、素子全体にフレキシブル性を持たせることが可能となる。このため、現在ではフレキシブル有機TFTに関する研究が盛んに行われている。また、有機TFTでは、製造プロセスとして溶液を用いた塗布プロセスを採用することができるため、現在では低コスト化等を目標とした塗布プロセス、印刷プロセスを適用した製造方法の研究も盛んに行われている。
ここで、実際に有機トランジスタを種々の電子機器の制御等に用いる場合、一般的には単独のトランジスタとして用いるのではなく、複数個のトランジスタを組み合わせた様々な演算回路として使用されている。この場合、必要な演算機能に応じてNOT回路、NOR回路、NAND回路等の基本回路が必要となり、これらを種々組み合わせてIC(集積回路)やLSI(大規模集積回路)が設計・製造されている。
エフ・エビサワら(F. Ebisawaら)、ジャーナル・オブ・アプライド・フィジクス(Journal of Applied Physics)、54巻,3255頁,1983年 エー・アッサディら(A. Assadiら),アプライド・フィジクス・レター(Applied Physics Letter),53巻,195頁,1988年 ジー・ギラウドら(G. Guillaudら),ケミカル・フィジクス・レター(Chemical Physics Letter),167巻,503頁,1990年 エックス・ペングら(X. Pengら),アプライド・フィジクス・レター(Applied Physics Letter),57巻,2013頁,1990年 ジー・ホロヴィッツら(G. Horowitzら),シンシェティック・メタルズ(Synthetic Metals),41−43巻,1127頁,1991年 エス・ミヤウチら(S. Miyauchiら),シンシェティック・メタルズ(Synthetic Metals),41−43巻,1991年 エイチ・フチガミら(H. Fuchigamiら),アプライド・フィジクス・レター(Applied Physics Letter),63巻,1372頁,1993年 エイチ・コエズカら(H. Koezukaら),アプライド・フィジクス・レター(Applied Physics Letter),62巻,1794頁,1993年 エフ・ガーニアーら(F. Garnierら),サイエンス(Science),265巻,1684頁,1994年 エー・アール・ブラウンら(A. R. Brownら)、シンシェティック・メタルズ(Synthetic Metals),68巻,65頁,1994年 エー・ドダバラパーら(A. Dodabalapurら),サイエンス(Science),268巻,270頁,1995年 ティー・スミモトら(T. Sumimotoら),シンシェティック・メタルズ(Synthetic Metals),86巻,2259頁,1997年 特開平8−228034号公報 特開平8−228035号公報 特開平9−232589号公報 特開平10−125924号公報 特開平10−190001号公報 特開2000−174277号公報 特開平5−55568号公報 特開2001−94107号公報
しかしながら、従来のMOS型TFTを論理回路として構築しようとすると、論理回路を構成する際に実装面積が大きくなってしまう欠点があった。そこで、本発明者は、上述の課題を解決するために鋭意検討した結果、MOS型TFTではなく、縦型の静電誘導型トランジスタを複数個、組み合わせることにより論理素子として駆動電圧が小さく、構造が簡便で実装面積を小さく出来ることを見いだし本発明をするに到った。
すなわち、本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、移動度の小さな半導体材料を用いても低電圧で駆動させることができ、かつ縦型の静電誘導型トランジスタを複数個、組み合わせることにより構造が簡便で実装面積の小さな複合型論理素子を提供することを目的とするものである。
上記課題を解決するため、本発明は以下の構成を有することを特徴とする。
1.半導体層Aと、前記半導体層Aを挟むように設けられた第1ソース領域及び第1ドレイン領域と、前記半導体層A内に埋め込まれると共に複数の貫通孔を有する第1ゲート電極と、を有する1以上のp型の静電誘導型トランジスタと、
半導体層Bと、前記半導体層Bを挟むように設けられた第2ソース領域及び第2ドレイン領域と、前記半導体層B内に埋め込まれると共に複数の貫通孔を有する第2ゲート電極と、を有する1以上のn型の静電誘導型トランジスタと、
を備えたことを特徴とする論理素子。
2.前記半導体層A及びBは、有機材料から構成されることを特徴とする上記1に記載の論理素子。
3.前記半導体層Aは、銅フタロシアニン、ペンタセン、N,N’−ジナフチル−N,N’−ジフェニルベンジジン及びポリ−3−ヘキシルチオフェンからなる群から選択された少なくとも1種の有機材料を含み、
前記半導体層Bは、パーフルオロ銅フタロシアニン、パーフルオロペンタセン、2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリン、パーフルオロテトラシアノキノン、ペリレンテトラカルボン酸無水物、ペリレンテトラカルボン酸イミド及びフラーレンC60からなる群から選択された少なくとも1種の有機材料を含むことを特徴とする上記1又は2に記載の論理素子。
4.前記第1ドレイン領域と第2ドレイン領域が電気接続されていることを特徴とする上記1〜3の何れか1項に記載の論理素子。
5.前記第1ドレイン領域と第2ドレイン領域が同一の共通電極Aを構成し、
前記共通電極Aの一方の面上に前記半導体層A、第1ゲート電極、第1ソース領域が設けられて前記p型の静電誘導型トランジスタを構成し、
前記共通電極Aの一方の面とは反対側の他方の面上に、前記半導体層B、第2ゲート電極、第2ソース領域が設けられて前記n型の静電誘導型トランジスタを構成することを特徴とする上記1〜4の何れか1項に記載の論理素子。
6.前記第1ソース領域と第2ソース領域の間に第1の電気信号を入力し、
前記第1ゲート電極と第2ゲート電極の間に第2の電気信号を入力し、
前記共通電極Aから電気信号が出力されるように構成されていることを特徴とする上記5に記載の論理素子。
7.前記第1ドレイン領域と第2ドレイン領域が同一の共通電極Bを構成し、
前記共通電極Bの一方の面上に前記半導体層A、第1ゲート電極、第1ソース領域が設けられて前記p型の静電誘導型トランジスタを構成し、
前記共通電極Bの前記一方の面上の前記p型の静電誘導型トランジスタが形成された部分とは異なる部分に、前記半導体層B、第2ゲート電極、第2ソース領域が設けられて前記n型の静電誘導型トランジスタを構成することを特徴とする上記1〜4の何れか1項に記載の論理素子。
8.前記第1ソース領域と第2ソース領域の間に第1の電気信号を入力し、
前記第1ゲート電極と第2ゲート電極の間に第2の電気信号を入力し、
前記共通電極Bから電気信号が出力されるように構成されていることを特徴とする上記7に記載の論理素子。
9.前記第2ソース領域が、金、銀、カルシウム及びこれらの合金、インジウムすず酸化物並びに導電性亜鉛酸化物からなる群から選択された少なくとも1種の材料から構成されることを特徴とする上記1〜8の何れか1項に記載の論理素子。
10.前記第1ソース領域が、金、白金、パラジウム及びインジウムすず酸化物からなる群から選択される少なくとも1種の材料から構成されることを特徴とする上記1〜9の何れか1項に記載の論理素子。
11.第1ゲート電極がアルミニウムを含有し、
第2ゲート電極がパラジウム又は金を含有することを特徴とする上記1〜10の何れか1項に記載の論理素子。
本発明の静電誘導型トランジスタを複数、組み合わせた論理素子は、低電圧で動作可能であり、実装面積を小さくすることができる。
本発明の論理素子は、少なくとも1以上のp型の静電誘導型トランジスタと、少なくとも1以上のn型の静電誘導型トランジスタとを有する。なお、本発明の論理素子では、n型とp型の静電誘導型トランジスタの数はそれぞれ1つ以上であれば良く、n型とp型の静電誘導型トランジスタの数は複数であっても良い。これらn型とp型の静電誘導型トランジスタを組み合わせることによって、本発明では例えば、AND、OR、NOTの論理素子、AND、OR及びNOTからなる群から選択された少なくとも一種の論理素子を含む論理素子とすることができる。
本発明のp型の静電誘導型トランジスタは、半導体層Aと、半導体層Aを挟むように設けられた第1ソース領域及び第1ドレイン領域と、半導体層A内に埋め込まれてなると共に複数の貫通孔を有する第1ゲート電極と、を有する。n型の静電誘導型トランジスタは、半導体層Bと、半導体層Bを挟むように設けられた第2ソース領域及び第2ドレイン領域と、半導体層B内に埋め込まれてなると共に複数の貫通孔を有する第2ゲート電極と、を有する。
このp型の静電誘導型トランジスタにおいては、第1ゲート電極に電圧を印加することによって半導体層A内に反転層が形成される。そして、第1ソース領域から正孔(ホール)が注入され、これが半導体層Aの反転層内を通って第1ドレイン領域まで流れるように構成されている。また、第1ゲート電極の上下や貫通孔内には、半導体層Aが存在している。
同様にして、n型の静電誘導型トランジスタにおいては、第2ゲート電極に電圧を印加することによって半導体層B内に反転層が形成される。そして、第2ソース領域から電子が注入され、これが半導体層Bの反転層内を通って第2ドレイン領域まで流れるように構成されている。また、第2ゲート電極の上下や貫通孔内には、半導体層Bが存在している。
半導体層A、Bとしては典型的には、p型又はn型にドーピングされた半導体が用いられる。ここで、半導体層A及びBの構成材料としては無機材料でも有機材料でも使用することが可能であるが、有機材料を使用することが好ましい。半導体層A及びBを有機材料から構成することによって、ゲート電極を半導体層中に製造しなければならない、本発明の静電誘導型トランジスタを作製することが容易となる。
半導体層Aを有機材料から構成する場合、半導体層Aは銅フタロシアニン、ペンタセン、N,N’−ジナフチル−N,N’−ジフェニルベンジジン及びポリ−3−ヘキシルチオフェンからなる群から選択された少なくとも1種の有機材料を含むことが好ましい。このような有機材料を用いることによって、本発明の論理素子を低電圧でより効果的に作動させることができる。
半導体層Bを有機材料から構成する場合、半導体層Bは、パーフルオロ銅フタロシアニン、パーフルオロペンタセン、2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリン、パーフルオロテトラシアノキノン、ペリレンテトラカルボン酸無水物、ペリレンテトラカルボン酸イミド及びフラーレンC60からなる群から選択された少なくとも1種の有機材料を含むことが好ましい。このような有機材料を用いることによって、本発明の論理素子を低電圧でより効果的に作動させることができる。
第1及び第2ソース領域、並びに第1及び第2ドレイン領域の形状はシート状、メッシュ状、多孔質状、線状、ドット状、櫛状など特に限定されないが、それぞれシート状の平行平板電極であることが好ましい。
また、第1ドレイン領域と第2ドレイン領域が電気接続されていることが好ましい。このように電気接続されていることによって、電気的に結線した出力電極から第3の電気信号を取り出すことができ、最も基本的となるNOT回路として活用することが出来る。
第2ソース領域の構成材料としては、半導体材料の電子親和力よりも大きな仕事関数を有し、半導体層へ電子を注入する機能を備えた材料であれば特に限定されない。第2ソース領域は金、銀、カルシウム及びこれらの合金(金、銀及びカルシウムからなる群から選択された少なくとも一種の金属を含有する合金)、インジウムすず酸化物並びに導電性亜鉛酸化物からなる群から選択された少なくとも1種の材料から構成されることが好ましい。第2ソース領域をこれらの材料から構成することによって、より多くの電子を半導体層B内に注入することができる。
第1ソース領域の構成材料としては、半導体材料のイオン化ポテンシャルと小さな差の仕事関数を有し、半導体層へ正孔を注入する機能を備えた材料であれば特に限定されない。第1ソース領域は金、白金、パラジウム及びインジウムすず酸化物からなる群から選択される少なくとも1種の材料から構成されることが好ましい。第1ソース領域をこれらの材料から構成することによって、より多くの正孔(ホール)を半導体層A内に注入することができる。また、真空蒸着法や塗布法等を用いて、容易に形成することができる。
本発明の第1及び第2ゲート電極は、複数の貫通孔を有する。なお、第1及び第2ゲート電極中の貫通孔の開口率である(貫通孔が形成されている領域の総面積)/(第1及び第2ゲート電極の厚み方向に垂直な断面積)×100は、10〜95%であることが好ましく、20〜80%であることが更に好ましい。あまり開口率が小さいと素子の内部抵抗の増大を招く場合があるのに対して、逆に開口率が大きすぎると、ゲート電極のシート抵抗が増大してしまう場合がある。なお、この第1及び第2ゲート電極の貫通孔内にはそれぞれ、半導体層A及びBの構成材料が充填されている。
また、第1ゲート電極がアルミニウムを含有し、第2ゲート電極がパラジウム又は金を含有することが好ましい。第1及び第2ゲート電極がこのような材料を含有することによって、低電圧でも優れた移動度を有する静電誘導型トランジスタを得ることができる。
基板11として用いることが可能な材料としては、ガラス、シリコン等の無機材料やアクリル系樹脂のようなプラスチックなど、その上に形成される複合型論理素子を保持できる材料であれば特に限定はされない。また、基板以外の構成要素により複合型論理素子の構造を十分に支持し得る場合には、使用しない事も可能である。
電極(第1ドレイン領域、第1ソース領域、第2ドレイン領域、第2ソース領域、第1及び第2ゲート電極)12〜16の作製方法としては、真空蒸着法、スパッタ法、エッチング法、リフトオフ等、通常の電極形成プロセスを利用できるが、特にこれらの方法には限定されない。また、導電性ポリマーのような有機材料を電極として使用する場合には、スピンコート法、ディップ法等の溶液プロセスも利用することができ、この場合にも特に限定されない。
半導体層A及びB17〜20の形成方法としては、真空蒸着法等のドライプロセスの他、スピンコート法、ディップ法等の溶液プロセスも利用することができ、特にこれらの方法には限定されない。また、半導体層17と18、及び半導体層19と20は、それぞれ主とするキャリアが同一であれば異なる材料でも同一の材料でも良く、また、それぞれの形成方法も同一でも異なる形成方法でも良い。すなわち、半導体層Aは構成材料の異なる複数の層から構成されていても、同じ構成材料の単一の層であっても良い。また、半導体層Bについても同様である。
本発明の論理素子の電極12〜16、半導体層17〜20の膜厚は、特に限定されないが、一般的に膜厚が薄すぎるとピンホール等の欠陥が生じやすく、逆に厚すぎるとチャネル長が長くなり、或いは高い印加電圧が必要となって素子の性能劣化の要因になる。このため、数nmから1μmの範囲が好ましい。
以下、図面等を参照して、本発明の論理素子の各実施形態を更に詳細に説明する。図1〜3は、本発明の論理素子の各実施形態を示す断面図である。図4は、従来のMOS型構造を有する複合型論理素子の構成を示す断面図である。
(第1実施形態)
図1に示すように、第1実施形態の複合型論理素子は、n型とp型の静電誘導型トランジスタを縦に配置した構造を有している。すなわち、この複合型論理素子は、基板11上に電子注入電極(第2ソース領域)12、第1の半導体層17、複数の貫通孔を有する第2ゲート電極14、第2の半導体層18、出力電極(共通電極A)16、第3の半導体層19、複数の貫通孔を有する第1ゲート電極15、第4の半導体層20、正孔注入電極(第1ソース領域)13がこの順に積層されている。
この論理素子では、電子注入電極12、第1の半導体層17、第2ゲート電極14、第2の半導体層18、出力電極(共通電極A)16とからn型の静電誘導型トランジスタが構成される。また、出力電極(共通電極A)16、第3の半導体層19、複数の貫通孔を有する第1ゲート電極15、第4の半導体層20、正孔注入電極(第1ソース領域)13とからp型の静電誘導型トランジスタが構成される。すなわち、本実施形態では、出力電極(共通電極A)16の一方の面上にp型の静電誘導型トランジスタが形成され、出力電極(共通電極A)16の一方の面とは反対側の他方の面上にn型の静電誘導型トランジスタが形成されている。
この論理素子においては、第2ドレイン領域と第1ドレイン領域が共通の出力電極(共通電極A)16を構成し、第1の半導体層17と第2の半導体層18が半導体層B、第3の半導体層19と第4の半導体層20が半導体層Aを構成している。この論理素子においては、1つ分のトランジスタ面積で1つの演算素子とすることができ、実装面積を小さくすることが出来る。また、各々の静電誘導型トランジスタの出力電極を共通とすることにより、そのための配線も不要であり非常に簡便な構造を有している。
この複合型論理素子においては、電子注入電極12と正孔注入電極13間に第1の電気信号を入力し、ゲート電極14及び15に第2の電気信号を入力することにより出力電極16から第3の信号を出力するように構成されていることが好ましい。
(第2実施形態)
図2に示すように、第2実施形態の複合型論理素子は、静電誘導型トランジスタを縦に配置した構造を有している。すなわち、本実施形態の論理素子は、基板11上に縦に設けた、n型とp型の静電誘導型トランジスタの配置が、第1実施形態とは電極16に対して逆の構成となっている点が異なる。このため、本実施形態の論理素子は、基板11上に正孔注入電極(第1ソース領域)13、第4の半導体層20、複数の貫通孔を有する第1ゲート電極15、第3の半導体層19、出力電極(共通電極A)16、第2の半導体層18、複数の貫通孔を有する第2ゲート電極14、第1の半導体層17、電子注入電極(第2ソース領域)12がこの順に積層されている。
この論理素子では、電子注入電極12、第1の半導体層17、第2ゲート電極14、第2の半導体層18、出力電極(共通電極A)16とからn型の静電誘導型トランジスタが構成される。また、出力電極(共通電極A)16、第3の半導体層19、複数の貫通孔を有する第1ゲート電極15、第4の半導体層20、正孔注入電極(第1ドレイン領域)13とからp型の静電誘導型トランジスタが構成される。そして、本実施形態では、出力電極(共通電極A)16の一方の面上にp型の静電誘導型トランジスタが形成され、出力電極(共通電極A)16の一方の面上のp型の静電誘導型トランジスタが形成された部分とは異なる部分にn型の静電誘導型トランジスタが形成されている。
また、この論理素子においては、第2ドレイン領域と第1ドレイン領域が共通の出力電極(共通電極A)16を構成し、第1の半導体層17と第2の半導体層18が半導体層B、第3の半導体層19と第4の半導体層20が半導体層Aを構成している。この論理素子においては、1つ分のトランジスタ面積で1つの演算素子とすることができ、実装面積を小さくすることが出来る。また、各々の静電誘導型トランジスタの出力電極を共通とすることにより、そのための配線も不要であり非常に簡便な構造を有している。
本実施形態の論理素子では、第1実施形態と同様に、電子注入電極12と正孔注入電極13間に第1の電気信号を入力し、ゲート電極14及び15に第2の電気信号を入力することにより出力電極16から第3の信号を出力するように構成されていることが好ましい。
(第3実施形態)
図3に示すように、第3実施形態の複合型論理素子は、静電誘導型トランジスタを横に配置した構造を有している。すなわち、本実施形態では、共通の基板11上に、第2ドレイン領域と第1ドレイン領域が同一の共通電極B 16を構成する形で、n型とp型の静電誘導型トランジスタが配置されている。
この複合型論理素子では、基板11上に出力電極(共通電極B)16を有し、更にこの出力電極16上に、第3の半導体層19、複数の貫通孔を有する第1ゲート電極15、第4の半導体層20、正孔注入電極(第1ソース領域)13がこの順に積層されている。また、同様にして、出力電極(共通電極B)16上に、第2の半導体層18、複数の貫通孔を有する第2ゲート電極14、第1の半導体層17、電子注入電極(第2ソース領域)12がこの順に積層されている。
この論理素子では、電子注入電極12、第1の半導体層17、第2ゲート電極14、第2の半導体層18、出力電極(共通電極A)16とからn型の静電誘導型トランジスタが構成される。また、出力電極(共通電極A)16、第3の半導体層19、複数の貫通孔を有する第1ゲート電極15、第4の半導体層20、正孔注入電極(第1ソース領域)13とからp型の静電誘導型トランジスタが構成される。
また、この論理素子においては、第2ドレイン領域と第1ドレイン領域が共通の出力電極(共通電極A)16を構成し、第1の半導体層17と第2の半導体層18が半導体層B、第3の半導体層19と第4の半導体層20が半導体層Aを構成している。この論理素子においては、共通の電極の上の異なる部分に、電子を主キャリアとする静電誘導型トランジスタと正孔を主キャリアとする静電誘導型トランジスタを形成する。このため、例えば、インクジェット法による製造方法を適用した場合、プロセス行程を少なくすることが可能となり、製造プロセスを簡便にすることが出来る。
本実施形態の論理素子では、第1実施形態と同様に、電子注入電極12と正孔注入電極13間に第1の電気信号を入力し、ゲート電極14及び15に第2の電気信号を入力することにより出力電極16から第3の信号を出力するように構成されていることが好ましい。
(従来例)
図4に示すように、従来の複合型論理素子は、MOS型トランジスタを横に配置した構造を有している。この複合型論理素子は、基板11上にゲート電極14及びゲート絶縁膜21を有し、ゲート絶縁膜21上に一定の間隔を空けて、電子注入電極12、出力電極16、正孔注入電極13を形成し、電子注入電極12及び出力電極16の一部の上に第1の半導体層17を、正孔注入電極13及び出力電極16の一部の上に第2の半導体層19を有する。
この論理素子では、電子注入電極12、第1の半導体層17、ゲート電極14、ゲート絶縁膜21、出力電極16とからn型の静電誘導型トランジスタが構成される。また、正孔注入電極13、第2の半導体層19、ゲート電極14、ゲート絶縁膜21、出力電極16とからp型の静電誘導型トランジスタが構成される。
この複合型論理素子においては、電子注入電極12と正孔注入電極13間に第1の電気信号を入力し、ゲート電極14に第2の電気信号を入力することによって、出力電極16から第3の信号を出力する。
以下、実施例をもとに本発明を詳細に説明するが、本発明はその要旨を越えない限り、以下の実施例に限定されない。
(実施例1)
第1実施形態で説明した図1の複合型論理素子を以下の手順で作製した。まず、無アルカリガラス基板上に、シャドウマスクを用いたスパッタリング法により、電子注入電極(第2ソース領域)として銀−パラジウム−銅合金を100nm、形成した。次に、シャドウマスクを用いた蒸着法により、電子輸送層(半導体層B;第1の半導体層)として2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリンを100nm、形成した。この後、シャドウマスクを用いた真空蒸着法により、第2ゲート電極として金を製膜した。この時の膜厚は30nmとした。また、この際、使用したシャドウマスクは、ゲート電極が電極幅20μm、電極間隔20μmの長辺状となり、電極間に貫通孔を有するように設計した。
次いで、シャドウマスクを用いた蒸着法により、電子輸送層(半導体層B;第2の半導体層)として2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリンを100nm、形成した。次に、真空蒸着法を用いて、出力電極(第2ドレイン領域と第1ドレイン領域)として金を80nm、製膜した。
次に、シャドウマスクを用いた真空蒸着法により、正孔輸送層(半導体層A;第3の半導体層)としてペンタセンを100nm、製膜した。この後、第2ゲート電極と同様のシャドウマスクを用いた真空蒸着法により、20nmの金ゲート電極を作製した。この際、使用したシャドウマスクは、ゲート電極が電極幅20μm、電極間隔20μmの長辺状となり、電極間に貫通孔を有するように設計した。更にこの上に、シャドウマスクを用いた真空蒸着法により、正孔輸送層(半導体層A;第4の半導体層)としてペンタセンを100nm、製膜した。最後に真空蒸着法により、正孔注入電極(第1ソース領域)として金を100nm、製膜して論理素子を得た。
上記のようにして作製した論理素子の正孔注入電極と電子注入電極間に5Vの電圧を印加し、第1及び第2ゲート電極にオフ電圧−5V、オン電圧5Vのパルス信号を入力した。この結果、ゲート電極にオフ電圧を印可した場合の出力電極における出力電圧は5Vであり、オン電圧を印加した場合の出力電圧は0Vに変化し、ゲート電極への入力信号に応答した出力が得られた。
(実施例2〜5)
半導体層A及びB(第1〜第4の半導体層)として、表1に示した化合物を用いた以外は実施例1と全く同様にして論理素子を作製して複合型論理素子102〜105を得た。
このようにして作製した論理素子102〜105について、実施例1と同様にしてゲート電極への入力信号による出力電極での応答出力を測定した。なお、ここで、入力信号が−5V〜5Vの時に応答した素子は◎、入力信号が−10V〜10Vの時に応答した素子は○で評価した。表1の結果から分かるように、上記のようにして製造した何れの複合型論理素子においても、応答特性が「◎」又は「○」となっており、入力信号に応答する出力が得られた。
Figure 2008186845
(実施例6)
第2実施形態で説明した図2の複合型論理素子を以下の手順で作製した。まず、無アルカリガラス基板上に、シャドウマスクを用いたスパッタリング法により、正孔注入電極(第1ソース領域)としてITO(Indium Tin Oxide;インジウムスズ酸化物電極)を100nm、形成した。次に、シャドウマスクを用いた蒸着法により、正孔輸送層(半導体層A;第4の半導体層)としてペンタセンを100nm形成した。次に、シャドウマスクを用いた真空蒸着法により、第1ゲート電極としてアルミニウムを製膜した。この時の膜厚は30nmとした。この際、使用したシャドウマスクは、ゲート電極が電極幅20μm、電極間隔20μmの長辺状となり、電極間に貫通孔を有するように設計した。
次いで、シャドウマスクを用いた蒸着法により、正孔輸送層(半導体層A;第3の半導体層)としてペンタセンを100nm、形成した。次に、真空蒸着法により出力電極(第2ドレイン領域と第1ドレイン領域)として金を80nm、製膜した。
次に、シャドウマスクを用いた真空蒸着法により、電子輸送層(半導体層B;第2の半導体層)として2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリンを100nm、製膜した。この後、第1ゲート電極と同様のシャドウマスクを用いた真空蒸着法により、電子輸送層中の第2ゲート電極として金を30nm、製膜した。更にシャドウマスクを用いた真空蒸着法により、電子輸送層(半導体層B;第1の半導体層)として、2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリンを100nm、製膜した。最後に真空蒸着法により、電子注入電極(第2ソース領域)として銀/マグネシウム合金を100nm、製膜して複合型論理素子を得た。
上記のようにして作製した論理素子の正孔注入電極と電子注入電極間に5Vの電圧を印加し、第1及び第2ゲート電極にオフ電圧−10V、オン電圧10Vのパルス信号を入力したところ、ゲート電極にオフ電圧を印可した場合の出力電極における出力電圧は10Vであり、オン電圧を印加した場合に0Vに変化し、ゲート電極への入力信号に応答した出力が得られた。
(実施例7〜10)
半導体層A及びB(第1〜第4の半導体層)として、表2に示した化合物を用いた以外は実施例6と全く同様にして複合型論理素子202〜205を得た。このようにして作製した論理素子202〜205について、実施例6と同様にしてゲート電極への入力信号による出力電極での応答出力を測定した。なお、この際、入力信号が−5V〜5Vの時に応答した素子は◎、入力信号が−10V〜10Vの時に応答した素子は○で評価した。表2の結果から分かるように、上記のようにして製造した何れの複合型論理素子においても応答特性が「◎」又は「○」となっており、入力信号に応答する出力が得られた。
Figure 2008186845
(実施例11)
第3実施形態で説明した図3の複合型論理素子を以下の手順で作製した。まず、無アルカリガラス基板上に、シャドウマスクを用いたスパッタリング法により、出力電極(第2ドレイン領域と第1ドレイン領域)としてITO(Indium Tin Oxide;インジウムスズ酸化物電極)を100nm、形成した。
このITO上の一部上に、シャドウマスクを用いた蒸着法により、正孔輸送層(半導体層A;第3の半導体層)としてペンタセンを100nm、形成した。次に、シャドウマスクを用いた真空蒸着法により、第1ゲート電極としてアルミニウムを製膜した。この時の膜厚は30nmとした。この際、使用したシャドウマスクは、ゲート電極が電極幅20μm、電極間隔20μmの長辺状となり、電極間に貫通孔を有するように設計した。
次いで、シャドウマスクを用いた蒸着法により、正孔輸送層(半導体層A;第4の半導体層)としてペンタセンを100nm、形成した。次に、シャドウマスクを用いた蒸着法により、ペンタセン上に正孔注入電極(第1ソース領域)として金を100nmm、形成した。
次に、ペンタセンを製膜した場所と重ならないようにシャドウマスクを用いた真空蒸着法により、ITO上の他の一部上に電子輸送層(半導体層B;第2の半導体層)として2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリンを100nm、製膜した。次に、第1ゲート電極を作製したシャドウマスクと同じマスクを用いて真空蒸着法により、電子輸送層中の第2ゲート電極として金を30nm、製膜した。
さらに、シャドウマスクを用いた真空蒸着法により、正孔輸送層(半導体層A;第1の半導体層)として2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリンを100nm、製膜した。最後に真空蒸着法により、電子注入電極(第2ソース領域)として銀/マグネシウム合金を100nm、製膜して複合型論理素子を得た。
上記のようにして作製した論理素子の正孔注入電極と電子注入電極間に5Vの電圧を印加し、第1及び第2ゲート電極にオフ電圧−5V、オン電圧5Vのパルス信号を入力したところ、出力電極における出力電圧はゲート電極にオフ電圧を印可した場合、5Vであり、オン電圧を印加した場合、0Vに変化し、ゲート電極への入力信号に応答した出力が得られた。
(実施例12〜15)
半導体層A及びB(第1〜第4の半導体層)として、表3に示した化合物を用いた以外は実施例11と全く同様にして複合型論理素子302〜305を得た。このようにして作製した論理素子302〜305について、実施例11と同様にゲート電極への入力信号による出力電極での応答出力を測定した。入力信号が−5V〜5Vの時に応答した素子は◎、入力信号が−10V〜10Vの時に応答した素子は○で評価した。表3の結果から分かるように、上記のようにして製造した何れの複合型論理素子においても応答特性が「◎」又は「○」となっており、入力信号に応答する出力が得られた。
Figure 2008186845
(比較例)
従来例として説明した図4の複合型論理素子を以下の手順で作製した。まず、基板として300オングストロームの酸化膜のついたシリコン基板を用い、このシリコン基板上にゲート電極、シリコン酸化膜のゲート絶縁膜を形成した。
次に、シャドウマスクを用いたスパッタリング法により、シリコン酸化膜上に正孔注入電極及び出力電極としてクロム、10nmを形成し、この上に更に結着層として金90nmを形成した。次いで、シャドウマスクを用いたスパッタリング法により、正孔注入電極及び出力電極とは異なる部位に電子注入電極として銀−パラジウム−銅合金を100nm、形成した。
次いで、シャドウマスクを用いた蒸着法により、正孔注入電極及び出力電極の一部を覆うように、正孔輸送半導体層としてペンタセンを200nm、形成した。最後にシャドウマスクを用いた蒸着法により、電子注入電極及び出力電極の一部にペンタセンとは重ならないように、2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリンを200nm、形成し、複合型論理素子401を得た。
上記のようにして作製した論理素子401の正孔注入電極と電子注入電極間に5Vの電圧を印加し、第1及び第2ゲート電極にオフ電圧−5V、オン電圧5Vのパルス信号を入力したが、出力電極における出力電圧の変化は見られなかった。オフ電圧−10V、オン電圧10Vのパルス信号を入力しても出力電圧の変化は見られなかった。
以上、本発明をその好適な実施形態例に基づいて説明したが、本発明の複合型論理素子は上記実施形態例の構成にのみ限定されるものではなく、上記実施形態例の構成から種々の修正及び変更を施した複合型論理素子も本発明の範囲に含まれる。
本発明の第1実施形態の複合型論理素子の構造を示す断面図である。 本発明の第2実施形態の複合型論理素子の構造を示す断面図である。 本発明の第3実施形態の複合型論理素子の構造を示す断面図である。 従来例の複合型論理素子の構造を示す断面図である。
符号の説明
10A:複合型論理素子(静電誘導型構造)
10B:複合型論理素子(静電誘導型構造)
10C:複合型論理素子(静電誘導型構造)
30:複合型論理素子(MOS型構造)
11:基板
12:電子注入電極
13:正孔注入電極
14:ゲート電極1
15:ゲート電極2
16:出力電極
17:半導体層1
18:半導体層2
19:半導体層3
20:半導体層4
21:ゲート絶縁膜

Claims (11)

  1. 半導体層Aと、前記半導体層Aを挟むように設けられた第1ソース領域及び第1ドレイン領域と、前記半導体層A内に埋め込まれると共に複数の貫通孔を有する第1ゲート電極と、を有する1以上のp型の静電誘導型トランジスタと、
    半導体層Bと、前記半導体層Bを挟むように設けられた第2ソース領域及び第2ドレイン領域と、前記半導体層B内に埋め込まれると共に複数の貫通孔を有する第2ゲート電極と、を有する1以上のn型の静電誘導型トランジスタと、
    を備えたことを特徴とする論理素子。
  2. 前記半導体層A及びBは、有機材料から構成されることを特徴とする請求項1に記載の論理素子。
  3. 前記半導体層Aは、銅フタロシアニン、ペンタセン、N,N’−ジナフチル−N,N’−ジフェニルベンジジン及びポリ−3−ヘキシルチオフェンからなる群から選択された少なくとも1種の有機材料を含み、
    前記半導体層Bは、パーフルオロ銅フタロシアニン、パーフルオロペンタセン、2,9−ジメチル−4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリン、パーフルオロテトラシアノキノン、ペリレンテトラカルボン酸無水物、ペリレンテトラカルボン酸イミド及びフラーレンC60からなる群から選択された少なくとも1種の有機材料を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の論理素子。
  4. 前記第1ドレイン領域と第2ドレイン領域が電気接続されていることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の論理素子。
  5. 前記第1ドレイン領域と第2ドレイン領域が同一の共通電極Aを構成し、
    前記共通電極Aの一方の面上に前記半導体層A、第1ゲート電極、第1ソース領域が設けられて前記p型の静電誘導型トランジスタを構成し、
    前記共通電極Aの一方の面とは反対側の他方の面上に、前記半導体層B、第2ゲート電極、第2ソース領域が設けられて前記n型の静電誘導型トランジスタを構成することを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の論理素子。
  6. 前記第1ソース領域と第2ソース領域の間に第1の電気信号を入力し、
    前記第1ゲート電極と第2ゲート電極の間に第2の電気信号を入力し、
    前記共通電極Aから電気信号が出力されるように構成されていることを特徴とする請求項5に記載の論理素子。
  7. 前記第1ドレイン領域と第2ドレイン領域が同一の共通電極Bを構成し、
    前記共通電極Bの一方の面上に前記半導体層A、第1ゲート電極、第1ソース領域が設けられて前記p型の静電誘導型トランジスタを構成し、
    前記共通電極Bの前記一方の面上の前記p型の静電誘導型トランジスタが形成された部分とは異なる部分に、前記半導体層B、第2ゲート電極、第2ソース領域が設けられて前記n型の静電誘導型トランジスタを構成することを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の論理素子。
  8. 前記第1ソース領域と第2ソース領域の間に第1の電気信号を入力し、
    前記第1ゲート電極と第2ゲート電極の間に第2の電気信号を入力し、
    前記共通電極Bから電気信号が出力されるように構成されていることを特徴とする請求項7に記載の論理素子。
  9. 前記第2ソース領域が、金、銀、カルシウム及びこれらの合金、インジウムすず酸化物並びに導電性亜鉛酸化物からなる群から選択された少なくとも1種の材料から構成されることを特徴とする請求項1〜8の何れか1項に記載の論理素子。
  10. 前記第1ソース領域が、金、白金、パラジウム及びインジウムすず酸化物からなる群から選択される少なくとも1種の材料から構成されることを特徴とする請求項1〜9の何れか1項に記載の論理素子。
  11. 第1ゲート電極がアルミニウムを含有し、
    第2ゲート電極がパラジウム又は金を含有することを特徴とする請求項1〜10の何れか1項に記載の論理素子。
JP2007016640A 2007-01-26 2007-01-26 論理素子 Pending JP2008186845A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007016640A JP2008186845A (ja) 2007-01-26 2007-01-26 論理素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007016640A JP2008186845A (ja) 2007-01-26 2007-01-26 論理素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008186845A true JP2008186845A (ja) 2008-08-14

Family

ID=39729710

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007016640A Pending JP2008186845A (ja) 2007-01-26 2007-01-26 論理素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008186845A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101240656B1 (ko) 평판표시장치와 평판표시장치의 제조방법
Zhang et al. Air-stable conversion of separated carbon nanotube thin-film transistors from p-type to n-type using atomic layer deposition of high-κ oxide and its application in CMOS logic circuits
TWI381568B (zh) Method for forming semiconductor thin film and method for manufacturing thin film semiconductor device
US7138682B2 (en) Organic thin-film transistor and method of manufacturing the same
KR100647660B1 (ko) 박막 트랜지스터 및 이를 채용한 평판표시장치
US7781760B2 (en) Thin film transistor, electro-optical device, and electronic apparatus
JP2010251574A (ja) 薄膜トランジスタの製造方法および薄膜トランジスタ
TW200843118A (en) Ambipolar transistor design
JP4723675B2 (ja) 半導体装置とその製造方法および画像表示装置
EP1665355A2 (en) Electronic devices
US8076733B2 (en) Flat panel display device having an organic thin film transistor and method of manufacturing the same
US20060255336A1 (en) Thin film transistor and method of manufacturing the same
JP2004235624A (ja) ヘテロ接合型半導体電界効果トランジスタ及びその製造方法
JP2011023376A (ja) フレキシブル半導体装置およびその製造方法
Lee et al. Polymer thin film transistor with electroplated source and drain electrodes on a flexible substrate
JP2008186845A (ja) 論理素子
JP5685932B2 (ja) 薄膜トランジスタ
US20120132991A1 (en) Organic thin-film transistor, and process for production thereof
Itoh et al. Fabrication of organic FETs based on printing techniques and the improvement of FET properties by the insertion of solution-processable buffer layers
KR102282556B1 (ko) 산화물 반도체 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법
JP2008300419A (ja) 有機薄膜トランジスタ
KR102260050B1 (ko) 유기전계효과트랜지스터
JP5310567B2 (ja) 薄膜トランジスタ及びその製造方法
JP2008300546A (ja) 有機薄膜トランジスタ
JP2004327553A (ja) 有機電界効果トランジスタ