JP2008122101A - 画像測定方法及び画像測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】広範囲な医療用途などに対して適用することが可能な、高出力かつ高輝度で平行性に優れたＸ線を利用して、高解像度かつ短時間で目的とする被写体のＸ線画像を得ることが可能な画像測定方法及び画像測定装置を提供する。
【解決手段】ターゲットの表面に所定のエネルギー線源からエネルギー線を照射し、被写体の最大長に相当するような大きさを有するように前記ターゲットからＸ線を発生させる。次いで、前記Ｘ線を分光器に入射させ、前記Ｘ線から波長及び波長幅を選択するとともに、平行光となった平行Ｘ線を生成する。次いで、前記平行Ｘ線を前記被写体の周りに相対的に回転させながら照射し、前記被写体より得たＸ線画像を検知する。
【選択図】図６

Description

本発明は、画像測定方法及び画像測定装置に関し、特に医療用として好適に用いることが可能な画像測定方法及び画像測定装置に関する。

従来、医療用のＸ線撮影においては、所定のＸ線管球が用いられ、このＸ線管球から発せられるＸ線を被写体に照射するとともに、前記被写体を透過したＸ線をフィルムなどの所定の検出部において撮像あるいは検出し、その撮像あるいは検出した映像を解析することにより医療用に供していた。

例えば、従来のＸ線管においては、実効焦点１ｍｍ×１ｍｍから出たＸ線が広がって４０ｃｍ×４０ｃｍまで拡大して被写体に照射されるとすると、そのＸ線の輝度は（１ｍｍ×１ｍｍ）／（４００ｍｍ×４００ｍｍ）の割合だけ弱くなる。すなわち、被写体に照射されるＸ線の輝度は、出射直後の輝度に比較して少なくとも６．２５×１０⁻⁶まで減衰してしまう。

また、従来のＸ線管を医療用などに用いる場合においては、不要な成分をフィルターによりカットして使用する場合が大部分であった。しかし、この方法では目的とする波長成分を有効に取り出すには不十分であった。

一方、医療現場では、被写体の高速かつ高分解能３次元CTの開発が望まれている。すなわち、分解能が上がれば初期癌などの初期症状の発見が進み、治癒率が格段に上がるためである。被写体を高分解能で撮像するためには、波長幅が小さく平行性の良い高出力かつ高輝度Ｘ線を短時間露光する必要がある。しかしながら、従来のＸ線管球においては、被写体に照射される段階でのＸ線輝度は格段に減少してしまうとともに、平行性の高いＸ線を得ることができなかった。

また、従来のＸ線管球を用いたＣＴ装置では、被写体の画像を得ようとすると、前記Ｘ線管球を前記被写体の周りに数十回回転させなければならず、測定が長時間化してしまうという問題があった。

このように、従来のＸ線管球を特に医療用として使用するには、目的とする被写体の画像を高分解能かつ短時間で得ることができないという問題があった。

本発明は、上述の背景のもとでなされたものであり、広範囲な医療用途などに対して適用することが可能な、高出力かつ高輝度で平行性に優れたＸ線を利用して、高解像度かつ短時間で目的とする被写体のＸ線画像を得ることが可能な画像測定方法及び画像測定装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成すべく、本発明は、
ターゲットの表面に所定のエネルギー線源からエネルギー線を照射し、被写体の最大長に相当するような大きさを有するように前記ターゲットからＸ線を発生させる工程と、
前記Ｘ線を分光器に入射させ、前記Ｘ線から波長及び波長幅を選択するとともに、平行光となった平行Ｘ線を生成する工程と、
前記平行Ｘ線を前記被写体の周りに相対的に回転させながら照射し、前記被写体より得たＸ線画像を検知する工程と、
を具えることを特徴とする、画像測定方法に関する。

また、本発明は、
エネルギー線照射によりＸ線を発生させるためのターゲットと、
前記Ｘ線が、被写体の最大長に相当するような大きさを有するように前記ターゲットからＸ線を発生させるためのエネルギー線を生成するエネルギー線源と、
前記Ｘ線を入射させ、前記Ｘ線から波長及び波長幅を選択するとともに、平行光となった平行Ｘ線を生成するための分光器と、
前記平行Ｘ線を前記被写体の周りに相対的な回転運動を生ぜしめるための回転駆動系と、
前記平行Ｘ線を前記被写体に照射して得たＸ線画像を検知するための検知器と、
を具えることを特徴とする、画像測定装置に関する。

本発明においては、従来のようなＸ線管球に代えてＸ線発生のための特殊なターゲットを用い、このターゲットに対してエネルギー線を照射するようにしている。したがって、前記ターゲットに対する前記エネルギー線の照射強度及び照射面積を適宜制御することにより、従来のＸ線管球では実現できなかったような高出力かつ高輝度であって、被写体の大きさ（Ｘ線入射側の長さ）とほぼ同等、あるいはそれ以上の大きさを有するようなＸ線を生成することができる。

また、本発明においては、前記ターゲットから発生したＸ線を分光器に入射させ、前記Ｘ線から平行であって所定の波長範囲にあるＸ線成分のみを取り出すようにしている。したがって、このように被写体よりも大きくかつ高出力、高輝度の平行Ｘ線を使用していることに起因して、前記平行Ｘ線を前記被写体の周りに相対的に、半回転以下で回転させれば、前記被写体の全体画像を得ることができる。したがって、前記被写体のＸ線画像、具体的には３次元のＸ線CT画像用データを高精度かつ短時間に得ることができる。なお、前記相対的な回転は、等速で実施しても良いし、必要に応じて任意に速度を変化させるようにすることもできる。

実際、従来の３次元ＣＴ装置では測定データをもとに計算機で３次元画像を得る。この時、画像データが全て同じ倍率（実際には倍率１）になるようにするため、３次元ＣＴ装置などに用いられているＸ線管などでは、正方形に近いスリットを通過させることによって平行Ｘ線を得るものであるので、前記平行Ｘ線においては、本来的にコンマ数ミリメータの大きさを有する断面積まで絞り込んだＸ線ビームとして使用する。したがって、本来的に小さいＸ線輝度がさらにその効率を下げてしまう結果となる。

なお、ここで、前記Ｘ線ビームの大きさとは、前記Ｘ線の大きさを特徴づけるようなものを言い、例えば前記Ｘ線の断面積が矩形状の場合は、その一辺の長さを言う。

例えば上述したように、前記平行Ｘ線の効率は1mm×1mmのコリメーターを通さないで40cm×40cmの透過写真を撮る場合に比較して1/(400×400)=6.25×10^-6にまで減少してしまう。また、前記平行Ｘ線の断面積が極めて限定されてしまうため及びデジタルデータから３次元画像を計算により求めるため、前記平行Ｘ線を前記被写体に対して数十回スキャンさせる必要が生じる。この結果、前記被写体全体のＸ線画像を得ようとすると、１回の測定に数十秒オーダの時間を要することになる。

一方、スキャンの高速化に伴い現状では１秒間に３回転する装置も出来ており、回転中心から200mmの位地で1mm×1mmの面積をＸ線ビームが走査する時間は僅か0.26ミリ秒にすぎない。即ち画素当たりミリ秒以下の露光のため、露光不足になりやすく、良質な画像、即ち低ノイズで解像度が良い３次元ＣＴ画像が得にくい。結果として、従来の方法では、分解能を上げるためにはＸ線ビームを細くする必要があり、その結果更に測定時間が長時間化する。そのため、高解像度の３次元Ｘ線ＣＴ画像が事実上得られないなどの問題が生じる。

これに対して本発明では、被写体の最大長に相当するような大きさであって、高輝度の平行Ｘ線を用いているので、前記被写体のＸ線画像を得るに際して、前記平行Ｘ線を前記被写体に対して、相対的に半回転以下で回転させて照射するようにすれば、目的とするＸ線画像を得ることができる。したがって、前記被写体の高分解能Ｘ線画像を、上記高速スキャンの方法を用いた場合には、極短時間、コンマ秒のオーダで得ることができる。結果として、本発明の方法及び装置では、被写体の大きさや形状に依存することなく、前記被写体に対し、短時間の測定で、高解像度のＸ線画像を得ることができる。

なお、本発明の一態様においては、前記ターゲットに照射すべき前記エネルギー線の幅に略等しい間隔を持つ、１つのスリットを通過させることによって、前記Ｘ線を簡易に平行Ｘ線とすることができる。この場合、前記Ｘ線が、目的とする幅方向の分解能に合致した大きさの実効焦点を有するように前記エネルギー線の幅及びスリット間隔を選ぶことが好ましい。

また、前記分光器は結晶板を含むようにすることができる。この場合、前記結晶板を２以上組み合わせて用い、前記結晶板の内少なくとも一つは、Ｘ線表面反射型結晶板として機能するようにすることができる。また、前記結晶板の内少なくとも一つは、Ｘ線透過型結晶板として機能するようにすることができる。これによって、目的とする平行Ｘ線を簡易に得ることができる。さらに、これら結晶板の組み合わせ方法を適宜に設定することにより、平行のみならず単色のＸ線を得ることができる。

また、上述した複数の結晶板の総てをＸ線表面反射型結晶板とすることもできるし、その総てをＸ線透過型結晶板とすることもできる。さらに、これらの結晶板を組み合わせて用いることができる。

前記結晶板は、例えば本発明のように細長いＸ線を用いる場合は、上述したシリコン、ゲルマニウム、リチウムフルオライド（LiF）に加えて、グラファイト、水晶などから構成することもできる。これによって、ターゲットから発生したＸ線を入射させることによって、上述したような平行Ｘ線を簡易に形成することができる。

さらに、上記結晶板はＸ線用多層膜反射板を含むようにすることができる。このような多層膜反射板は、２種以上の物質を周期的に層状に重ねた膜として構成することができ、Ｘ線の回折現象を利用して単色或いは一定幅のＸ線を取り出しうる多層膜を意味する。この場合、前記多層膜反射板の周期により取り出される波長と反射角の関係が決まる。また、層の数や周期を微少量変化させることによって反射Ｘ線幅を変えることが出来る。本態様によれば、ターゲットから発生したＸ線を入射させることによって、上述したような平行Ｘ線を簡易に形成することができる。

また、以下に詳述するように、ターゲットは固定型とすることもできるし、回転式対陰極とすることもできる。後者の場合、エネルギー線を前記ターゲットに対し、ターゲット照射部の少なくとも一部を融解させるような強度で照射することができる。したがって、より高強度のＸ線を得ることができるようになる。

また、本発明の一態様においては、前記ターゲットは複数のターゲットであり、これら複数のターゲットに対してエネルギー線を照射し、前記被写体の前記入射側全体の長さに相当するような大きさを有するような複数のＸ線を発生させ、これら複数のＸ線を前記被写体の周りに相対的に回転させながら、前記被写体よりＸ線画像を生成し、検知するようにすることができる。この場合、前記平行Ｘ線の、前記被写体の周りに対する相対的な回転角度をさらに低減させることができ、より短時間で前記被写体のＸ線画像を得ることができる。

以上説明したように、本発明によれば、広範囲な医療用途などに対して適用することが可能な、高出力かつ高輝度で平行性に優れたＸ線を利用して、高解像度かつ短時間で目的とする被写体のＸ線画像を得ることが可能な画像測定方法及び画像測定装置を提供することができる。

以下、本発明のその他の特徴及び利点について、発明を実施するための最良の形態に基づいて説明する。

図１は、本発明の画像測定装置における平行Ｘ線発生装置の一例を示す構成図である。図１から明らかなように、本例においては、前記平行Ｘ線発生装置は、Ｘ線発生装置本体１０と、分光器３０とから構成されている。なお、Ｘ線発生装置本体１０は、実行焦点が長い直線状のターゲットから白色Ｘ線が生成されるように構成された、平板状の固定式ターゲットを用いた場合のＸ線発生装置である。

図１に示すＸ線発生装置本体１０においては、真空容器１１内に、対陰極１２が配置されているとともに、これと対向するようにして陰極１３が設けられている。陰極１３はウエーネルト１４の内側にセラミックなどの絶縁体で固定され、通常陰極とウエーネルトには電位差が与えられ、ウエーネルトが電子線用のレンズとして機能している。

対陰極１２と陰極１３との間にはアパチャーグリッド１５及び陽極１６が設けられている。アパチャーグリッド１５は陰極に対し条件により異なるが概ね±7kV変化でき、負電位の時は電子を遮断し、正電位の時は陰極の空間電荷を中和し、多量の電子を効果的に引き出すのに用いられる。陽極１６は陰極１３から発せられた電子線２０を加速するため及びその後の電位差をなくし高温になったターゲット(対陰極１２)の影響を減らすために設けられているものであって、本例においては必要に応じて省略することができる。また、真空容器１１にはＸ線取り出し窓１７が設けられており、対陰極１２から発生したＸ線２１を外部に取り出させるように構成されている。

なお、通常グリッドは効率を良くするため網目状のものが多いが、それでは電子線束に編み目状の濃淡が出来、更にグリッドに過剰な電流が流れるため、敢えて円筒形のグリッドを用いる、即ち電子線２０は円筒の中を通るため陰が出来ない。このようなグリッドをアパチュアーグリッドという。

なお、本例においては、対陰極１２及び真空容器１１即ちＸ線取り出し窓１７以外を全て絶縁性オイルで冷却するようにしている。しかしながら、対陰極が図１のように直接外部に出ていると大気圧のため、ターゲットに歪みが生じる場合があるその様な場合、対陰極１２を真空内に固定して大気圧が掛からないようにして対陰極１２にパイプを取り付け、所定の冷媒を循環させて冷却するようにすることもできる。

また、真空容器１１の外方の、Ｘ線取り出し窓１７の近傍には、分光器３０が設けられている。分光器３０は、第1の結晶板３１及び第２の結晶板３２が所定の角度２αをなすようにして配置されている。さらに、分光器３０内の、第１の結晶板３１及び第２の結晶板３２の間には、第１のスリット４１が設けられ、第２の結晶板３２の外方には第２のスリット４２が設けられている。

図１に示す装置においては、陰極１３から発生した電子線２０をグリッド１５で電流を制御し、陽極１６で加速して対陰極１２の表面に所定の形状（長方形）に照射し、白色かつ非平行Ｘ線２１を生成させる。次いで、Ｘ線２１をＸ線取り出し窓１７から外部に取り出し、第１の結晶板３１で反射させ、続いて第１のスリット４１を通ることによって紙面に平行なＸ線２２とする。第１のスリット４１は、対陰極１２に照射すべき電子線２０の幅に略等しい間隔を持つように構成する。この場合、Ｘ線２２が、目的とする幅方向の分解能に合致した大きさの実効焦点を有するように電子線２０の幅及びスリット４１の間隔を選ぶことが好ましい。

具体的には、Ｘ線２１が第１の結晶板３１に入射することによって、Ｘ線２１はブラッグ回折（2dsinα= nλ）を受け、続いて第１のスリット４１を通過し、平行Ｘ線２２及び２３となって反射される。第１結晶板と第２結晶板とが同じ素材で且つ同じ反射面を使用し、かつ図１に示されているように、両結晶板が２αの角度に設定されている場合、第一結晶で反射された平行Ｘ線２２は、第１の結晶板３１の入射角度及び反射角度αと等しい角度で第２の結晶板３２に入射するので、第２の結晶板３２でも同様に反射し、その後は直進して被写体に届くようになる。一方、平行Ｘ線２２と波長の異なる平行Ｘ線２３は、第１の結晶板３１において入射角度及び反射角度がβとなるのに対し、第２の結晶板３２における入射角度は異なる角度γとなる。したがって、第２の結晶板３２で平行Ｘ線２３は反射しなくなる。

なお、第１のスリット４１のエッジに当たったＸ線は散乱され迷光となるがこの迷光は第２の結晶板３２及び第２のスリット４２によってカットされる。

結果として、図１に示す分光器３０では平行Ｘ線２２のみが生成されるようになる。このことは、その波長に於けるその他の平行Ｘ線は生成されないことを意味し、したがって、図１に示す分光器３０では単色の平行Ｘ線２２のみが生成され、被写体に照射される直前の断面形状はほぼ直線状になる。

また、図１に関する例では、第１の結晶板３１及び第２の結晶板３２の２つの結晶板を用い、いずれの結晶板においてもＸ線の反射を行わせ、Ｘ線表面反射型結晶板として機能させている。これらの結晶板は、シリコン、リチウムフルオライド（LiF）、グラファイト、ゲルマニウム及び水晶からなる群より選ばれる材料から構成することができる。

図２は、本発明の画像測定装置における平行Ｘ線発生装置の他の例を示す構成図である。図２に示す平行Ｘ線発生装置においては、図１と同様のＸ線発生装置本体１０を用い、分光器の構成のみを替えている。

図２に示すＸ線発生装置においても、分光器５０は２枚の結晶板５１及び５２によって構成しているが、本例では、結晶板５１及び５２はＸ線反射型ではなく、Ｘ線透過型（ラウエ型）として構成している。そして、第１の結晶板５１と第２の結晶板５２との間に、第１のスリット４１を設け、第２の結晶板５２の後方に第２のスリット４２を設けている。なお、本例においても、同種の結晶板を用いている場合には第１の結晶板５１の反射面と第２の結晶板５２の反射面とは角度２αをなすようにして配置している。異種の結晶板を用いている場合は各々の反射角度の和に等しい角度に配置する。

図２に示す例では、図１に示す例と同様にして、対陰極１２に所定の形状（長方形）の電子線を照射して発生した白色かつ非平行Ｘ線２１を、Ｘ線取り出し窓１７を介して外部に取り出した後、第１の結晶板５１の反射面に対して角度αで入射させる。この際、Ｘ線２１はブラックの回折式2dsinα= nλに従って回折し、第１の結晶板５１内を透過する。この際、特に明示していないが、異なる波長λ’のＸ線が角度βで入射した際に上記ブラックの回折式を満足すれば、同じく第１の結晶板５１を透過することができる。したがって、第１の結晶板５１を透過したのみでは、Ｘ線２１は未だ白色かつ非平行なＸ線のままである。

なお、実効焦点が極めて細長い長方形からＸ線２１が生成されているので、第１のスリット４１通過後は波長λのＸ線は紙面に平行な面に沿った平行成分を有するようになるが、その他第１のスリット４１で散乱された非平行成分も残存する。また、波長λ’のＸ線は波長λのＸ線とは異なる方向に回折するので、これらは互いに平行とはならない。なお、第１のスリット４１に対して要求される特性は、図１に関する場合と同じである。

次いで、第１の結晶板５１を透過したＸ線２２は第２の結晶板５２に角度αで入射し、同じくブラックの回折式2dsinα= nλに従って回折し、第２の結晶板５２内を透過する。一方、波長λ’のＸ線は第２の結晶板５２に対するブラッグの回折式を満足しないので、第２の結晶板５２内を通過することがない。したがって、Ｘ線発生装置本体１０から生成したＸ線２１は、第２の結晶板５２を通過した後に、単色かつ平行なＸ線２２となる。

第１のスリット４１で散乱された非平行成分は第２の結晶板５２と第２のスリット４２で除かれる。

また、本例においては、第１の結晶板５１及び第２の結晶板５２は、シリコン、ゲルマニウム及びリチウムフルオライド(LiF)などの等軸晶系の結晶板から構成することができるが、その他の材料からなる結晶板を用いることもできる。

図３は、本発明の画像測定装置における平行Ｘ線発生装置のその他の例を示す構成図である。図３に示す平行Ｘ線発生装置においては、図１と同様のＸ線発生装置本体１０を用い、分光器の構成のみを代えている。なお、本例では、特徴を明確化するために、分光器の構成のみを示すようにしている。

図１に示すＸ線発生装置では、分光器３０は２枚の反射型結晶板３１及び３２によって構成されていたが、本例のＸ線発生装置では、分光器７０は２枚のＸ線非対称カット結晶板７１及び７２から構成されている。非対称カット結晶板とは、結晶の外形面としての反射表面とＸ線を反射する反射面が平行ではなく、傾斜した結晶表面を有するものである。これによって、生成するＸ線の断面積（傾斜方向の長さ）を変更でき、前記Ｘ線の断面積を拡大したり、縮小したりすることができる。
この場合の拡大率Ｍは、Ｍ =｛sin（α＋ε）/sin（α−ε）｝である。ここでαは反射角、εは非対称カット角である。

なお、本例では、第１の結晶板７１及び第２の結晶板７２は、結晶の外形面としての反射表面とＸ線を反射する反射面を数度、例えば約ε＝６度（非対称角６度）の角度で傾斜させている。また、第１の結晶板７１の反射面及び第２の結晶板７２の反射面は紙面に垂直であるとともに、互いに２αの角度をなすようにして配置されている。

本例に示す分光器７０では、Ｘ線発生装置本体１０から生成したＸ線２１は第１の結晶板７１において、断面積（長軸方向のみ）が拡大された状態で反射される。その後、反射Ｘ線は第２の結晶板７２において、断面積（長軸方向のみ）が更に拡大された状態で反射される。このとき、第１の結晶板７１の反射面と第２の結晶板７２の反射面とは、上記図１に関する例と同様に、所定の角度で入射したＸ線のみがブラッグ回折条件を満足し、単色の平行Ｘ線２２が得られるようになる。したがって、本例においては、Ｘ線発生装置本体１０から生成したＸ線に比し、断面積が拡大された単色の平行Ｘ線を得ることができる。

具体例を示すと、反射型結晶板としてSiを用い、反射面に（４４０）を選ぶと面間隔は０．６４Åである。波長として沃素（造影剤）の吸収端であるλ＝０．３７３８Åを選ぶと反射角はブラッグの式によりα＝１１．２２６Åである。従って拡大率Ｍは３．２５となる。即ち、第１の結晶板７１により長軸方向に３．２５倍拡大され、次いで第２の結晶板７２により更に３．２５倍拡大される。結果として１０．５６倍に拡大される。従って、ターゲットから出射されるＸ線の実効焦点の長軸方向の長さが４ｃｍの場合、約４０ｃｍの被写体に照射可能なＸ線を得る。

なお、本例においても、第１のスリット４１で散乱された非平行成分は第２の結晶板５２及び第２のスリット４２で除かれることになる。

図４は、本発明の画像測定装置における平行Ｘ線発生装置の他の例を示す構成図であり、図５は図４の一部拡大図である。なお、本例において、分光器は上述した図１〜３と同じ構成のものを用いることができるので、図４及び５においては、平行Ｘ線発生装置の内、Ｘ線発生装置の構造のみを示している。

図４及び５に示すＸ線発生装置においては、回転式対陰極８１が収納される対陰極室８２と、電子線源８３が収納される電子線源室８４と、回転式対陰極８１を回転駆動する駆動モータ８５が設けられた回転駆動部８６とが、互いに隣接するとともに気密構造部材８２ａ、８４ａ及び８６ａによって隔離されて形成されている。また、対陰極室８２と電子線源室８４とを仕切る隔壁部８２ｂには、電子線源８３から出射される電子線１００を通過させるに必要な大きさの貫通孔８２ｃが設けられている。さらに、対陰極室８２及び電子線源室８４の各々には図示しない真空排気装置が接続される真空排気口８２ｄ及び８４ｄが設けられている。

なお、貫通穴８２ｃが加速電極（陽極）としての作用を担うため、それ以降の電子線は電場勾配の無い空間を通る。従って、ターゲット９１aが融点以上に加熱されても放電の起こる危険性は激減する。

なお、図においては、電子線１００は線状に描かれているが、電子線源８３としては、広照射面積の２極管式又は３極管式などを用いることができ、これらから発せられる電子線１００は比較的広い照射面積を有する。したがって、電子線１００は実際には所定の幅を有するものであるが、ここでは簡略化して線状に記載しているものである。したがって、貫通孔８２ｃもこのような電子線１００を通過させるように、所定の大きさを有していることが必要となる。

回転式対陰極８１は、従来式医療用バルブの様に放射熱伝達により放熱する簡易型ではこの部分が高熱となるためMo（モリブデン）やＷ（タングステン）等が用いられるが、図４では放熱効率の良い冷媒による方式を例に取っている。この場合はこの部分が高温になることはないのでステンレスなどからなる筒状部９１と、この筒状部９１の筒の一方の開口部を塞ぐように形成された円板状部９２と、筒状部９１及び円板状部９２の共通の中心軸をその中心軸とする回転軸部９３とが連続して一体に形成され、かつ内部は冷却水を流すことができるように空洞に形成されており、筒状部９１の筒の内壁表面９１ａを電子線照射部とするものである。

電子線照射部の金属は目的により選ばれる、例えば理化学実験用にはCr（クローム）、Fe（鉄）、Co（コバルト）、Ｎｉ（ニッケル）、Cu（銅）、Ag（銀）、Mo（モリブデン）が用いられ、医療用として多く用いられる金属はMo（モリブデン）やＷ（タングステン）である。

回転対陰極８１の回転軸部９３は、回転駆動部８６内に設けられた１対の軸受け部材９３ａ、９３ｂによって回転自在に支持されている。また、回転軸部９３の外周部には上記駆動モータ８５の回転子８５aが取付けられ、この回転子８５aを回転駆動する固定子８５bが上記回転駆動部８６内において気密構造部材８６ａに取付けられている。

回転軸部９３の円板状部９２寄りの根元部には、回転軸部９３と気密構造部材８６ａとの間を気密に保持して対陰極室８２の真空を維持する回転軸シール部材９３ｃが設けられている。

さらに、回転式対陰極８１の内部には、電子線照射部９１ａの内壁面に冷却水を流通させるための固定隔壁部材９４が挿入設定されている。この固定隔壁部材９４は、回転軸部９３の内部においては筒状をなしており、円板状部９２に至ってその筒の端部を円板状に拡げ、筒状部９１の内部の右端部内壁の手前で延長されている。

すなわち、この固定隔壁９４は、回転式対陰極８１の内部の空洞部分をいわば二重管構造に仕切っている。この二重管の外側管部９４ａは冷却水の導入口９６に連通されている。なお、冷却水の導入口９６から導入された冷却水は軸受け部材９３ｂや駆動モータ８５が設けられた収納スペース内に洩れ出ないようにしつつ二重管の外側管部９４ａ内に導入されるようになっている。

したがって、冷却水導入口９６から導入された冷却水は、二重管の外側管部９４ａを進行し、上記筒状部９１の内部の右端部内壁で折り返して二重管の内側管部９４ｂに進行して電子線照射部９１ａの内壁面を冷却した後、内側管部９４ｂ内をさらに進行して冷却水の排出口９７を通じて外部に排出される。

回転式対陰極８１の電子線照射部９１ａの近傍の気密構造部材８２ａには、電子線照射部９１ａに電子線１００が照射されたときに発生するＸ線１１０を外部に取り出すためのＸ線窓１０１が形成されている。このＸ線窓１０１にはべリリウム膜、アルミニウム膜、等のＸ線透過性の材料からなるＸ線透過膜１０２が形成されており、対陰極室８２の真空を維持しながらＸ線を取り出せるようになっている。

取り出されたＸ線１１０は、上述したような分光器３０，５０又は７０などを経て平行化され、単色化される。

次に、図４及び５に示すＸ線発生装置を用いたＸ線発生方法について説明する。上述の構成において、冷却水導入口９６から冷却水を導入し、騒動モータ８５によって回転式対陰極８１を高速回転させ、電子線源８３から回転式対陰極８１の電子線照射部９１ａに電子線１００を照射し、Ｘ線１１０を発生させる。この際、電子線１００の強度は電子線照射部９１ａの少なくとも一部（表面から数μｍ）あるいは可成りの部分（表面から数百μｍ）が融解するような強度とする。但し、回転式対陰極８１が貫通しない程度とする必要がある。

電子線照射部９１ａの少なくとも一部が融解するような強度の電子線１００を照射することにより、回転式対陰極８１の電子線照射部９１ａから高輝度のＸ線を発生させることができるようになる。

また、従来の方式では熱応力により電子線照射部に凹凸が出来、これにＸ線が吸収されＸ線の取り出し効率が下がるため、電子照射部の温度をあまり上げることは出来なかったが、電子線照射部９１ａの表面から数十〜数百μｍ融解するような強度の電子線１００を照射することにより、電子線照射部９１ａが回転式対陰極８１の回転に伴って逐次融解し、是に強力な遠心力（５，０００Ｇ〜１０，０００Ｇ）が作用して逐次平坦化処理がなされることになり、電子線照射部位９１ａの表面は電子線１００照射中において常に平坦な状態を保持するようになる。したがって、Ｘ線発生部位である９１ａの荒れに起因したＸ線の吸収などが生じることがない。この結果、高輝度のＸ線１１０を長時間安定的に生成することができるようになる。

なお、本例においては、電子線照射部９１ａの融解に伴って、その表面荒れを表面平均粗さで１μｍ以下、さらには１００ｎｍ以下にまですることができる。すなわち、電子線照射部９１ａの表面を長時間に亘って極めて平坦に維持することができる。一方、従来の方法では、例えば回転式対陰極の表面荒れは表面平均粗さで２〜１０μｍ程度である。したがって、本発明では、このようにＸ線発生部位９１ａの表面荒れの相違に基づいて、高輝度のＸ線を安定的に生成することができることが分かる。

また、本例では、電子線照射部９１ａは回転式対陰極８１の筒状部９１の内壁面に設定しているので、この場合、筒状部９１の前記内壁面において融解が生じることになる。したがって、電子線照射部９１ａは回転式対陰極８１の回転に伴う遠心力に抗して存在するようになり、外方への飛散を効果的に抑制することができる。

なお、本例においては、回転式対陰極８１の筒状部９１に対して特に変形加工を加えることなく、すなわち、筒状部９１の側壁が回転軸線（中心軸）に平行となる状態のままで、前記内壁面を電子線照射部９１ａとしている。しかしながら、電子線照射部９１ａの表面をその断面の表面輪郭線が回転軸線に対して、コンマ数度ないし十数度傾斜するようにすることもできる。

具体的には、筒状部９１の前記側壁を前記回転軸線に向けて内側にコンマ数度ないし数十度の角度で傾斜するようにすることができる。この場合、電子線照射部９１ａは筒状部９１の内壁面上において遠心力に抗してより安定的に存在することができるようになる。したがって、電子線照射部９１ａの融解による外方への飛散をさらに効果的に抑制することができるようになる。

一方、筒状部９１の前記側壁を前記中心軸から外方へ向けて傾斜させるようにすることもできる。この場合、電子線照射部９１ａの外方への飛散を抑制した状態で、回転式対陰極８１から発生したＸ線の取り出しを容易にすることができる。

さらに、電子線照射部９１ａの部分を断面がＶ字溝状又はＵ字構状に形成すれば、電子照射部９１ａの融解による外方への飛散を効果的に防止できる。この場合には、Ｖ字状又はＵ字状の溝巾やその傾斜角度もしくは溝深さ等は、Ｘ線取り出しが可能な寸法にすることは勿論である。さらには、上記溝形状を、前記表面部分が融解して液状になった場合に遠心力の作用によって形成される液状部の表面形状と同一の表面形状に予め形成しておけば、電子線照射部９１ａの電子線照射による表面変形を軽減することが可能になる。

また、電子線照射部９１ａの部分だけを、発生させるＸ線の種類で決まるターゲット物質で構成し、その周囲をより高融点の物質及び／又は熱伝導度のより高い物質で構成すれば、回転式対陰極８１全体の冷却効率の向上が図れるとともに、回転式対陰極８１全体の変形を防止することができるようになり、高輝度のＸ線を長時間安定的に発生させるようにすることができる。

さらに、回転対陰極８１、特に電子線が照射される筒状部９１ａをターゲット材と、このターゲット材の裏面に設けた高融点及び／又は高熱伝導度の物質との２重構造とし、電子線１００を前記ターゲット材に照射してＸ線１１０を発生させるとともに、前記物質の裏面側に前記ターゲット材に対する冷媒を流すように構成することによって、前記物質の高融点の効果による高耐熱性の効果及び／又は高熱伝導性の効果による高冷却性の効果とによって、回転対陰極８１の筒状部９１が前記電子線照射によって貫通するのを抑制し、前記冷媒の漏洩を効果的に抑制することができるようになる。

なお、前記冷媒としては、冷却水、不凍液や冷却オイルなどの液体状のものを用いることができる。

また、本発明においては、電子線照射部９１ａの表面から例えば数ミクロン〜数百μmの深さを融解させるようにしているので、対陰極室８２内において、電子線照射部９１ａを構成する金属の蒸気圧が上昇し、Ｘ線透過膜１０２が汚染される場合がある。これを防止するために、対陰極室８２内のＸ線透過膜１０２の前面（真空内）に交換可能なＸ線透過性の保護膜を設けることが望ましい。この保護膜としては、例えば、反跳電子に耐えられるＮｉ膜、ＢＮ膜、Ａｌ膜、マイラー膜等の長尺状の保護膜をロールに巻いた供給ロールと、この供給ロールの保護膜を巻き取る巻取ロールとをＸ線窓１０１の内側に設け、供給ロールと巻取ロールとの間に張られた保護膜がＸ線透過膜１０２の前面に配置されるようにすればよい。なお、前記保護膜の厚さは、前記反跳電子のエネルギーやＸ線の吸収などを考慮して適宜に設定する。

なお、上述したいずれの具体例においても、エネルギー線として電子線を用いているが、その他のエネルギー線、例えばレーザ光線やイオンなどのエネルギー線を適宜に用いるようにすることができる。

また、ターゲットの表面からの蒸発速度を低減するために、例えば前記ターゲット表面に被膜を設けるようにすることもできる。このような被膜としては、電子線の吸収が少ない、即ち原子番号の小さな物質で、高温でも蒸気圧が低く且つターゲット金属に溶解しない物質から構成することが好ましい。

具体的には、前記被膜は前記ターゲット表面に例えば蒸着などの方法で形成する。なお、前記被膜は、ＢＮ、カーボン膜、グラファイト、ダイヤモンド、ＤＬＣ、Ｂｅ、アルミナ等からなる群から選ばれる材料から構成することができる。この皮膜は強力な電子線及びターゲット金属との膨張率の差等により容易にひびが入るが、強力な遠心力によりターゲット金属に押しつけられるため、容易には系外に飛び散ることはなく、皮膜としての効果を長時間持続させることが出来る。

従来、医療用Ｘ線発生装置には封入管が多く使われ、この場合の冷却は放射熱伝達によっているので、水冷式に比べてその冷却効率は格段に劣る。一方、図４及び５に示すような方式では、ターゲットを直接水冷しているとともに、電子線照射部９１ａを溶解するようにしているので、従来の封入管の方式に比べて放熱面の温度を少なくとも５００Ｋ高温にすることができる。一方、放射熱は絶対温度の４乗に比例するので、例えば従来では電子線照射によって例えばその照射部の温度を１０００Ｋまでしか上がられなかったものが、本方式では１５００Ｋ程度まで上げることができるようになる。これによって、放熱効果は約５倍、即ち（１５００／１０００）^４＝５．０６向上し、本方式のＸ線発生装置は封入管を作製する際にも極めて有効な手段となる。

次に、本発明の画像測定装置について説明する。図６は、本発明の画像測定装置を、被写体に対して配置した場合の概略構成を示す平面図である。本例では、被写体Ｓの周囲において、１組の画像測定装置を配置した場合について示している。

図６において、参照数字２００は画像測定装置を示しており、参照数字２１１及び２１２は、それぞれ分光器を含む平行Ｘ線発生装置及び被写体ＳからのＸ線画像を検知するための検知器である。

本発明においては、図示しない回転手段を用いて画像測定装置２００を被写体Ｓの周りに回転できるように構成している。そして、半回転の間に、被写体Ｓに対して、上述したような断面が直線状の単色の平行Ｘ線を照射し、それによって得た画像を検知することにより、上記半回転の間に、被写体Ｓの種々の方位からの画像を得ることができる。勿論１回転することもできる。その結果、３次元Ｘ線ＣＴ画像を得ることができるようになる。

換言すれば、被写体Ｓの周りに画像測定装置２００を半転させるのみで、被写体ＳのＸ線画像を得ることができる。なお、この際、単色の高輝度平行Ｘ線を用いているので、本装置のＸ線に見合う高分解能の検出器を用いれば、得られるＸ線画像の分解能も高くなる。

なお、このような半回転の回転で被写体Ｓの画像が得られる理由は、本願では使用するＸ線の平行性が高いので、画像測定装置２００を被写体Ｓの周りに０から１８０度まで回転させた場合（半回転）のデータと、１８０度から３６０度まで回転させた場合（半回転）のデータは同じになる。したがって、０から１８０度までの半回転を実施するのみで被写体ＳのＸ線画像を得ることができる

なお、上記例では、被写体Ｓに対して画像測定装置２００を回転するようにしているが、本発明においては、被写体Ｓと画像測定装置２００とが相対的に回転しさえすれば良く、したがって、画像測定装置２００の代わりに被写体Ｓを回転するようにすることができる。但し、被写体Ｓが人体や動物などの場合、それらを高速で回転させると被写体Ｓに対して多大な負担を強いることになるので、このような場合は、上述したように画像測定装置２００を回転させる方が好ましい。また、上記相対的な回転は、等速で実施しても良いし、必要に応じて速度を変化させるようにすることもできる。

また、本発明では、画像測定装置２００を複数個取り付けることにより測定速度を上げることが出来る。図７は、本発明の画像測定装置を、被写体に対して配置した場合の概略構成を示す平面図である。本例では、被写体Ｓの周囲において、４組の画像測定装置を等角度間隔（４５度間隔）に配置した場合について示している。

図７において、参照数字２００Ａ、２００Ｂ、２００Ｃ及び２００Ｄは画像測定装置を示しており、参照数字２１１、２２１、２３１及び２４１は分光器を含む平行Ｘ線発生装置であり、２１２、２２２、２３２、及び２４２は被写体ＳからのＸ線画像を検知するための検知器である。

図７は撮影開始時の配置である。４組の画像測定装置が同時に測定を開始し、２００Ａが２００Ｂの位置に達したときは、２００Ｂは２００Ｃの位置に、２００Ｃは２００Ｄの位置に、更に２００Ｄは２００Ａの位置に達し、それぞれ４５度分の画像を撮影する。従って全体として半周の画像がえられる。即ちこの場合各々の画像測定装置は４５度分を測定すれば良いので、測定時間は図６の場合に比べて１／４になる。

図示はしていないが、１周（３６０度）測定する場合は画像測定装置の数は奇数台でなければならない。例えば３組の画像測定装置を置く場合は１２０度間隔で配置する。偶数台、例えば２台配置した場合を図６で説明すると、２台は互いに１８０度回転した位置に配置することになり、その結果分光器を含むＸ線発生装置２１１と検出器である２１２が同じ場所を閉めることになり、配置することが物理的に不可能になるため偶数台を配置することは出来ない。

図８は図７の１次元検出器をイメージングプレート（ＩＰ）を代表とする大型２次元検出器を用いた例である。撮影後ＩＰ読み取り装置に運ばれてデジタル化される。図７は半回転用の撮影装置で、２１１，２２１，２３１及び２４１は分光器を含む平行Ｘ線発生装置である。相対する位置に配置されたスリット２５１〜２５４は目的とするＸ線のみを通すためのスリットであり、このスリット以外は全てＸ線遮蔽材によりＩＰに不要なＸ線の照射を防止する。また、撮影時回転運動に伴う遠心力のバランスを取るための重り２６１〜２６４などを必要とすることは従来のＣＴ装置と同じく必要である。

また、IPは撮影時には固定された円筒形ドラム２５０に固定されている必要がある。しかるに撮影終了間際には２４１が２５１に接近し、撮影終了時点には２４１が２５１の場所に来る。なお、IPを固定するドラム２５０の半径は２４１に接触しないよう充分大きな半径を持たせる必要がある。

本発明の画像測定方法及び画像測定装置は、特に限定されるものではないが、人体を含む種々の生物のＣＴ撮影に対して用いることができる。このような場合、本発明によれば、極めて短時間の平行Ｘ線照射で目的とする高分解能のＸ線画像を得ることができる。

また、本発明の画像測定方法及び画像測定装置では単色の平行Ｘ線を発生させることができるため、その平行Ｘ線の波長を造影剤の吸収端の高エネルギー側に合わせることにより、大きな吸収を得ることができ、前記造影剤の量を大幅に削減すること或いは／更に被曝量を少なくすることができる。したがって、人体を含む種々の生物に対してＣＴ撮影を行う場合に、生物への負担を軽減することができる。さらに、短時間撮影が可能であるため、生物の呼吸停止時間を大幅に削減したり、前記呼吸に伴うノイズの発生を大幅に低減したりすることができる。

なお、当然のことながら、本発明の画像測定方法及び画像測定装置は、医療や生命科学の分野のみならず、非破壊検査などの種々の分野において用いることができる。

また、本発明の画像測定装置における検知器は、汎用のものから構成することができる。

以上、本発明について具体例を挙げながら詳細に説明してきたが、本発明は上記内容に限定されるものではなく、本発明の範疇を逸脱しない限りにおいてあらゆる変形や変更が可能である。

本発明の画像測定装置における平行Ｘ線発生装置の一例、を示す構成図である。 本発明の画像測定装置における平行Ｘ線発生装置の他の例を示す構成図である。 本発明の画像測定装置における平行Ｘ線発生装置のその他の例を示す構成図である。 本発明の画像測定装置における平行Ｘ線発生装置の他の例を示す構成図であり、 図４の一部拡大図である。 本発明の画像測定装置を、被写体に対して配置した場合の一例における概略構成を示す平面図である。 本発明の画像測定装置を、被写体に対して配置した場合の他の例における概略構成を示す平面図である。 図７に示す画像測定装置の変形例における概略構成を示す平面図である。

符号の説明

１０ Ｘ線発生装置本体
１１ 真空容器
１２ 対陰極
１３ 陰極
１４ ウエーネルト
１５ グリッド
１６ 陽極
１７ Ｘ線取り出し窓
２０ 電子線
２１ （白色かつ非平行）Ｘ線
２２ 平行Ｘ線
３０ 分光器
３１ 第１の（Ｘ線表面反射型）結晶板
３２ 第２の（Ｘ線表面反射型）結晶板
４１ 第１のスリット
４２ 第２のスリット
５０ 分光器
５１ 第１の（Ｘ線透過型）結晶板
５２ 第２の（Ｘ線透過型）結晶板
６１ 単色の平行Ｘ線
７０ 分光器
７１ 第１の（Ｘ線表面反射型）非対称カット結晶板
７２ 第２の（Ｘ線表面反射型）非対称カット結晶板
８１ 回転式対陰極
８２ 対陰極室
８３ 電子線源
８４ 電子線源室
８５ 駆動モータ
８６ 回転駆動部
９１ 筒状部
９１ａ 電子線照射部
１００ 電子線
１１０ Ｘ線
２００ 画像測定装置
２１１ 平行Ｘ線発生装置
２１２ 検知器
２００Ａ、２００Ｂ、２００Ｃ、２００Ｄ 画像測定装置
２１１、２２１、２３１、２４１ 分光器を含むＸ線発生装置
２１２、２２２、２３２、２４２ 検知器
２５０ イメージングプレート（ＩＰ）
２５１、２５２、２５３、２５４ スリット
２６１、２６２、２６３、２６４ おもり

Claims (35)

1. ターゲットの表面に所定のエネルギー線源からエネルギー線を照射し、被写体の最大長に相当するような大きさを有するように前記ターゲットからＸ線を発生させる工程と、
   前記Ｘ線を分光器に入射させ、前記Ｘ線から波長及び波長幅を選択するとともに、平行光となった平行Ｘ線を生成する工程と、
   前記平行Ｘ線を前記被写体の周りに相対的に回転させながら照射し、前記被写体より得たＸ線画像を検知する工程と、
   を具えることを特徴とする、画像測定方法。
2. 前記Ｘ線画像は、前記平行Ｘ線を前記被写体の周りに相対的に半回転以下で回転させることによって得ることを特徴とする、請求項１に記載の画像測定方法。
3. 前記Ｘ線は、前記ターゲットに対して照射すべき前記エネルギー線の幅方向の大きさと略同一の幅を有する１つのスリットを通過させることによって、前記平行Ｘ線とすることを特徴とする、請求項１又は２に記載の画像測定方法。
4. 前記分光器は結晶板を含むことを特徴とする、請求項１〜３のいずれか一に記載の画像測定方法。
5. 前記結晶板は、シリコン、リチウムフルオライド（LiF）、グラファイト、ゲルマニウム及び水晶からなる群より選ばれる少なくとも一つの材料からなる結晶板であることを特徴とする、請求項４に記載の画像測定方法。
6. 前記結晶板を２以上組み合わせて用いることを特徴とする、請求項４又は５に記載の画像測定方法。
7. 前記結晶板の少なくとも一つは、Ｘ線表面反射型結晶板として機能することを特徴とする、請求項６に記載の画像測定方法。
8. 前記結晶板の少なくとも一つは、Ｘ線透過型（ラウエ型）結晶板として機能することを特徴とする、請求項６又は７に記載の画像測定方法。
9. 前記結晶板はＸ線用多層膜反射板を含むことを特徴とする、請求項４〜８のいずれか一に記載の画像測定方法。
10. 前記結晶板は非対称カット結晶板を含むことを特徴とする、請求項４〜９のいずれか一に記載の画像測定方法。
11. 前記Ｘ線を前記分光器に入射させる以前に、不要な長波長成分を除去するための吸収板を透過させることを特徴とする、請求項１〜１０のいずれか一に記載の画像測定方法。
12. 前記ターゲットの表面に被膜を形成し、前記ターゲット表面からの蒸発速度を低減する工程を具えることを特徴とする、請求項１〜１１のいずれか一に記載の画像測定方法。
13. 前記被膜は、ＢＮ、カーボン膜、グラファイト、ダイヤモンド、ＤＬＣ、Ｂｅ、アルミナからなる群から選ばれる材料から構成することを特徴とする、請求項１２に記載の画像測定方法。
14. 前記ターゲットは固定式であることを特徴とする、請求項１〜１３のいずれか一に記載の画像測定方法。
15. 前記ターゲットは回転式対陰極を構成し、前記エネルギー線は前記回転式対陰極の回転による遠心力に抗して存在する部分に照射することを特徴とする、請求項１〜１３のいずれか一に記載の画像測定方法。
16. 前記エネルギー線は、ターゲット照射部の少なくとも一部を融解させるような強度で前記ターゲットに照射することを特徴とする、請求項１５に記載の画像測定方法。
17. 前記ターゲットは複数のターゲットであり、これら複数のターゲットに対してエネルギー線を照射し、前記被写体の前記入射側全体の長さに相当するような大きさを有するような複数のＸ線を発生させ、これら複数のＸ線を前記被写体の周りに相対的に回転させながら、前記被写体よりＸ線画像を生成し、検知することを特徴とする、請求項１〜１６のいずれか一に記載の画像測定方法。
18. エネルギー線照射によりＸ線を発生させるためのターゲットと、
    前記Ｘ線が、被写体の最大長に相当するような大きさを有するように前記ターゲットからＸ線を発生させるためのエネルギー線を生成するエネルギー線源と、
    前記Ｘ線を入射させ、前記Ｘ線から波長及び波長幅を選択するとともに、平行光となった平行Ｘ線を生成するための分光器と、
    前記平行Ｘ線を前記被写体の周りに相対的な回転運動を生ぜしめるための回転駆動系と、
    前記平行Ｘ線を前記被写体に照射して得たＸ線画像を検知するための検知器と、
    を具えることを特徴とする、画像測定装置。
19. 前記回転駆動系は、前記平行Ｘ線を少なくとも前記被写体の周りに相対的に半回転以下で回転させるように構成したことを特徴とする、請求項１８に記載の画像測定装置。
20. 前記Ｘ線の断面を直線状とするための、少なくとも１つのスリットを具えることを特徴とする、請求項１８又は１９に記載の画像測定装置。
21. 前記分光器は結晶板を含むことを特徴とする、請求項１８〜２０のいずれか一に記載の画像測定装置。
22. 前記結晶板は、シリコン、リチウムフルオライド（LiF）、グラファイト、ゲルマニウム及び水晶からなる群より選ばれる少なくとも一つの材料からなる結晶板であることを特徴とする、請求項２１に記載の画像測定装置。
23. 前記結晶板を２以上組み合わせて用いることを特徴とする、請求項２１又は２２に記載の画像測定装置。
24. 前記結晶板の少なくとも一つは、Ｘ線表面反射型結晶板として機能することを特徴とする、請求項２３に記載の画像測定装置。
25. 前記結晶板の少なくとも一つは、Ｘ線透過型（ラウエ型）結晶板として機能することを特徴とする、請求項２３又は２４に記載の画像測定装置。
26. 前記結晶板はＸ線用多層膜反射板を含むことを特徴とする、請求項２１〜２５のいずれ
    か一に記載の画像測定装置。
27. 前記結晶板は非対称カット結晶板を含むことを特徴とする、請求項２１〜２６のいずれか一に記載の画像測定装置。
28. 前記Ｘ線を前記分光器に入射させる以前に、不要な長波長成分を除去するための吸収板を具えることを特徴とする、請求項１８〜２７のいずれか一に記載の画像測定装置。
29. 前記ターゲットの表面からの蒸発速度を低減するために形成された被膜を具えることを特徴とする、請求項１８〜２８のいずれか一に記載の画像測定装置。
30. 前記被膜は、ＢＮ、カーボン膜、グラファイト、ダイヤモンド、ＤＬＣ、Ｂｅ、アルミナからなる群から選ばれる材料から構成することを特徴とする、請求項３０に記載の画像測定装置
31. 前記ターゲットは固定式であることを特徴とする、請求項１８〜３０のいずれか一に記載の画像測定装置。
32. 前記ターゲットは回転式対陰極を構成し、前記エネルギー線は前記回転式対陰極の回転による遠心力に抗して存在する部分に照射するように構成したことを特徴とする、請求項１８〜３０のいずれか一に記載の画像測定装置。
33. 前記エネルギー線は、ターゲット照射部の少なくとも一部を融解させるような強度で前記ターゲットに照射するように構成したことを特徴とする、請求項３２に記載の画像測定装置。
34. 前記ターゲットは複数のターゲットであり、これら複数のターゲットに対して前記エネルギー線源からエネルギー線を照射し、前記被写体の前記入射側全体の長さに相当するような大きさを有するような複数のＸ線を発生させ、これら複数のＸ線を前記回転駆動系で前記被写体の周りに相対的に回転させながら、前記被写体よりＸ線画像を生成し、前記検知器で検知することを特徴とする、請求項１８〜３３のいずれか一に記載の画像測定装置。
35. 前記平行Ｘ線は医療用として使用することを特徴とする、請求項１８〜３４のいずれか一に記載の画像測定装置。

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