JP2008107201A - 電解質分析方法および電解質分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電解質分析装置100は、試料と希釈液とを混合し、試料溶液を生成するための希釈用容器131と、希釈用容器131に試料を供給する試料供給手段110と、希釈用容器131に希釈液を供給する希釈液供給手段120と、希釈用容器131の試料溶液を取り出して当該試料溶液に含まれる被測定成分の電解質濃度を測定する測定手段140と、測定手段140による測定により希釈用容器131から試料溶液が取り出された後の待機時に、希釈用容器131に所定の液体を貯留させる貯留手段160と、を備える。
【選択図】図1
Description
110 試料供給手段
112 試料分注ノズル
120 希釈液供給手段
126 希釈液注出ノズル
130 試料希釈手段
131 希釈用容器
140 測定手段
142 電極部
143 起電力計測部
150 廃液手段
160 貯留手段
161 供給配管
162 液体容器
200 制御部
201 駆動制御部
202 測定処理部
203 タイマー
Claims (4)
- 希釈用容器に試料を供給する試料供給工程と、
前記希釈用容器に希釈液を供給する希釈液供給工程と、
前記希釈用容器に供給された前記試料と前記希釈液とを混合して試料溶液を生成する希釈工程と、
前記希釈用容器の前記試料溶液を取り出しながら当該試料溶液に含まれる被測定成分の電解質濃度を測定する測定工程と、
前記測定により前記希釈用容器から前記試料溶液が取り出された後の待機時に、前記希釈用容器に所定の液体を貯留させる貯留工程と、
を含むことを特徴とする電解質分析方法。 - 試料と希釈液とを混合し、試料溶液を生成するための希釈用容器と、
前記希釈用容器に前記試料を供給する試料供給手段と、
前記希釈用容器に前記希釈液を供給する希釈液供給手段と、
前記希釈用容器の前記試料溶液を取り出しながら当該試料溶液に含まれる被測定成分の電解質濃度を測定する測定手段と、
前記測定手段による測定により前記希釈用容器から前記試料溶液が取り出された後の待機時に、前記希釈用容器に所定の液体を貯留させる貯留手段と、
を備えたことを特徴とする電解質分析装置。 - 前記試料供給手段は、前記試料を送出する試料送出口を備え、
前記貯留手段は、前記待機時に前記希釈用容器に前記試料送出口を介して純水を供給し、前記希釈用容器に前記純水を貯留させることを特徴とする請求項2に記載の電解質分析装置。 - 前記試料溶液が前記希釈用容器から取り出された後の時間を計測する計測手段を備え、
前記貯留手段は、前記計測手段によって計測された時間が所定時間経過したとき、前記希釈用容器に所定の液体を貯留することを特徴とする請求項2または3に記載の電解質分析装置。
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