JP2008069056A - 誘電体磁器組成物 - Google Patents

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Abstract

【課題】 誘電体フィルタや共振器に用いられる誘電体磁器組成物は、誘電率が高く、Q値が高いことが望まれる。
【解決手段】 一般式xMgTiO・yMgTiO・zCaTiOと表され、x、y、zがモル%でそれぞれ、69.3≦x≦84.0、14.1≦y≦30.0、0.8≦z≦6.1の範囲にある組成物100重量部に対して、Li系ガラスが25重量部〜35重量部添加される。
【効果】 xMgTiO・yMgTiO・zCaTiOと表され、x、y、zがモル%でそれぞれ、69.3≦x≦84.0、14.1≦y≦30.0、0.8≦z≦6.1の範囲にある組成物100重量部に対して、Li系ガラスを25重量部〜35重量部添加するので、誘電率とQ値を向上できると共に、焼結温度を導体パターンを構成する金属の融点よりも低くできる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、マイクロ波やミリ波等の高周波領域で使用される誘電体フィルタや共振器等の材料に適した誘電体磁器組成物に関するものである。
近年、携帯電話を中心とする移動体通信分野が急速な発展を遂げている一方、それらの端末機器で使用される電子部品には小型化、薄型化、高機能化という要求が益々強くなっている。誘電体フィルタや共振器の分野でも例外ではなく、この様な要求を実現するために構造の改良のみならず、材料の改良も必要になってきている。
誘電体フィルタや共振器に用いられる誘電体磁器組成物は、誘電率が高く、誘電損失が小さい、すなわち、Q値が高いことが望まれている。また、誘電体フィルタや共振器が積層型電子部品の場合、誘電体磁器組成物と銀や銅等の導体パターンを積層し、これらの積層体を焼成する必要があるため、銀や銅等の融点よりも低い温度で焼結することが可能な誘電体磁器組成物が望まれている。
特開平9−181549号公報 特願2005−206542号
従来の誘電体磁器組成物において、誘電率が比較的高く、Q値が高いものとしてMgTiO−CaTiO等が知られている。しかしながら、これらの従来の誘電体磁器組成物は、焼結温度が高いという問題があり、小型化、薄型化が可能な積層型電子部品に用いることができず、電子部品の小型化、薄型化に貢献できなかった。
本発明は、誘電率とQ値を高くして誘電体フィルタや共振器等の小型化、低損失化を可能にすると共に、銀や銅等の融点よりも低い温度で焼結することが可能な誘電体磁器組成物を提供することを目的とする。
本発明の誘電体磁器組成物は、一般式xMgTiO・yMgTiO・zCaTiOと表され、x、y、zがモル%でそれぞれ、69.3≦x≦84.0、14.1≦y≦30.0、0.8≦z≦6.1の範囲にある組成物100重量部に対して、Li系ガラスを25重量部〜35重量部添加する。
本発明の誘電体磁器組成物は、一般式xMgTiO・yMgTiO・zCaTiOと表され、x、y、zがモル%でそれぞれ、69.3≦x≦84.0、14.1≦y≦30.0、0.8≦z≦6.1の範囲にある組成物100重量部に対して、Li系ガラスを25重量部〜35重量部添加するので、誘電率とQ値を向上できると共に、焼結温度を銀や銅等の融点よりも低くできる。
本発明の誘電体磁器組成物は、一般式xMgTiO・yMgTiO・zCaTiOと表され、x、y、zがモル%でそれぞれ、69.3≦x≦84.0、14.1≦y≦30.0、0.8≦z≦6.1の範囲にあるセラミックス主成分にLiを含有するガラス(いわゆる、Li系ガラス)が添加される。この時、Liを含有するガラスは、セラミックス主成分100重量部に対して、25重量部〜35重量部の範囲で調節することにより、積層型電子部品の誘電体層間の導体パターンを構成する銀や銅等の融点よりも低い950℃以下の温度で焼結が可能になる。また、x、y、zを前述の範囲で調節することにより、誘電率とQ値を向上させることができる。
以下、本発明の誘電体磁器組成物の実施例について説明する。
まず、本発明による誘電体磁器組成物の製造方法について説明する。MgTiO、MgTiO、CaTiO及び、Li系ガラスの原料粉末を所定の組成となるように秤量して、これをボールミル等を用いて16時間湿混合し、これを乾燥させた。これらの混合粉末を750〜800℃で仮焼し、この仮焼粉末をボールミル等を用いて20時間湿式粉砕した。この粉砕物を乾燥した後、これにバインダーを加えて混合し、ふるいを用いて造粒した。この造粒粉末に3t/cmの圧力を加えて円柱状に成形し、大気中において850〜1050℃で焼成することにより本発明による材料を得た。
本発明の誘電体磁器組成物の特性の測定は、前述の誘電体磁器組成物を成形、焼成して評価サンプルを得て行った。この特性の測定は、Hakki&Coleman法により、7〜8GHzにおける比誘電率(εr)とQ値(Qf)を測定した。
図1は、xMgTiO・yMgTiO・zCaTiOにおいて、それぞれの組成のモル比x、y、zを変え、かつ、Li系ガラスの添加量を変えたときの焼結温度、比誘電率(εr)及び、Q値(Qf)を表にまとめたものである。なお、Li系ガラスはSiOが17重量部、CaOが19.7重量部、LiOが12.6重量部、BaOが21.5重量部、Bが29.2重量部のものを用い、試料Noの*印は本発明の範囲外のものであることを示している。
本発明の誘電体磁器組成物は、MgTiOの比率xが69.3≦x≦84.0、MgTiOの比率yが14.1≦y≦30.0、CaTiOの比率zが0.8≦z≦6.1、Li系ガラスの添加量が25重量部〜35重量部の範囲内で、焼結温度が950℃以下、比誘電率が20程度、Q値が10000以上にすることができた。
この様に本発明の誘電体磁器組成物は、xの値が69.3≦x≦84.0、yの値が14.1≦y≦30.0、zの値が0.8≦z≦6.1、Li系ガラスの添加量が25重量部〜35重量部の範囲内で、積層タイプの誘電体フィルタ等において望まれる比誘電率17.5〜20.5、Q値が10000以上の特性を得ることができると共に、焼結温度を銀や銅等の融点よりも低い950℃以下とすることができる。
本発明の誘電体磁器組成物の特性を説明するための表である。

Claims (2)

  1. 一般式xMgTiO・yMgTiO・zCaTiO
    と表され、
    x、y、zがモル%でそれぞれ、69.3≦x≦84.0、14.1≦y≦30.0、0.8≦z≦6.1の範囲にある組成物100重量部に対して、Li系ガラスを25重量部〜35重量部添加したことを特徴とする誘電体磁器組成物。
  2. 前記Li系ガラスの成分は、SiOが17重量部、CaOが19.7重量部、LiOが12.6重量部、BaOが21.5重量部、Bが29.2重量部である請求項1に記載の誘電体磁器組成物。
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