JP2008057983A - レンズ研磨精度評価装置及び評価方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】レーザー発振器と、第一球面レンズと、空間フィルターと、電荷結合素子とを備える。空間フィルターと被測定レンズとの間に第二球面レンズを設ける。第一球面レンズから出射されたレーザービームを空間フィルターのピンホールを通過せしめ、このレーザービームを被測定レンズに入射せしめ、被測定レンズを透過したレンズ面内情報の重畳されたレーザービームを電荷結合素子に受光せしめる工程を、被測定レンズを移動させながら繰り返し実施し、光電変換させた後、この電気信号を画像処理し、被測定レンズの研磨精度を評価する。
【選択図】図1
Description
3 空間フィルター 4 第二球面レンズ
5 CCDセンサ 6 コンピューター
L レーザービーム S 被測定レンズ
Claims (9)
- レーザー発振器と、生成されたレーザービームの光路内に配置された第一球面レンズと、この球面レンズから出射されるレーザービームを通過せしめるためのピンホールを有する空間フィルターと、この空間フィルターを通過したレーザービームを照射せしめる被測定レンズから出射されるビーム光を受光する表示装置又は電荷結合素子とを備えたことを特徴とするレンズ研磨精度評価装置。
- 前記レーザービームの光路内であって、前記空間フィルターとレンズ研磨精度評価の際に載置される被測定レンズの配置位置との間に、第二球面レンズを設けたことを特徴とする請求項1記載のレンズ研磨精度評価装置。
- 前記被測定レンズが大型光学シリンドリカルレンズであることを特徴とする請求項1又は2記載のレンズ研磨精度評価装置。
- レーザー発振器で生成せしめたレーザービームを第一球面レンズに入射させた後、この第一球面レンズから出射されるレーザービームをピンホールを有する空間フィルターのピンホールを通過せしめてスパイク形状の高調波成分を除去し、この高調波成分の除去されたレーザービームをレンズ研磨精度を評価するための被測定レンズに入射させ、次いでこの被測定レンズから出射される被測定レンズの面内情報が重畳されたレーザービームを電荷結合素子に受光させる工程からなり、この工程を、レーザービームの進行方向に対して垂直方向に被測定レンズを移動させながら被測定レンズの幅方向全長にわたって繰り返し実施し、被測定レンズを透過して被測定レンズの面内情報が重畳されたレーザービームを電荷結合素子で電気信号に変換させた後、この電気信号を画像処理して、被測定レンズの研磨精度を評価することを特徴とするレンズ研磨精度評価方法。
- 前記空間フィルターのピンホールを通過させたレーザービームを別の球面レンズを透過せしめた後、被測定レンズに入射させ、この被測定レンズから出射される被測定レンズの面内情報が重畳されたレーザービームを電荷結合素子に受光させることを特徴とする請求項4記載のレンズ研磨精度評価方法。
- 前記被測定レンズが大型光学シリンドリカルレンズであることを特徴とする請求項4又は5記載のレンズ研磨精度評価方法。
- レーザー発振器で生成せしめたレーザービームを第一球面レンズに入射させた後、この第一球面レンズから出射されるレーザービームをピンホールを有する空間フィルターのピンホールを通過せしめてスパイク形状の高調波成分を除去し、この高調波成分の除去されたレーザービームをレンズ研磨精度を評価するための被測定レンズに入射させ、次いでこの被測定レンズから出射される被測定レンズの面内情報が重畳されたレーザービーム透過光を表示装置に表示せしめる工程からなり、この工程を、レーザービームの進行方向に対して垂直方向に被測定レンズを移動させながら被測定レンズの幅方向全長にわたって繰り返し実施し、各工程毎に、表示された被測定レンズの透過光の表面粗さを目視により観察して、被測定レンズの研磨精度を評価することを特徴とするレンズ研磨精度評価方法。
- 前記空間フィルターのピンホールを通過させたレーザービームを別の球面レンズを透過せしめた後、被測定レンズに入射させ、この被測定レンズから出射される被測定レンズの面内情報が重畳されたレーザービーム透過光を表示装置に表示せしめることを特徴とする請求項7記載のレンズ研磨精度評価方法。
- 前記被測定レンズが大型光学シリンドリカルレンズであることを特徴とする請求項7又は8記載のレンズ研磨精度評価方法。
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