JP2008053613A - インダクタ素子および集積型電子部品 - Google Patents

インダクタ素子および集積型電子部品 Download PDF

Info

Publication number
JP2008053613A
JP2008053613A JP2006230539A JP2006230539A JP2008053613A JP 2008053613 A JP2008053613 A JP 2008053613A JP 2006230539 A JP2006230539 A JP 2006230539A JP 2006230539 A JP2006230539 A JP 2006230539A JP 2008053613 A JP2008053613 A JP 2008053613A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coil
spiral
coils
substrate
spiral coils
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006230539A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4842052B2 (ja
Inventor
Takeshi Matsumoto
松本  剛
Mi Xiaoyu
シヤオユウ ミイ
Yoshihiro Mizuno
義博 水野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2006230539A priority Critical patent/JP4842052B2/ja
Priority to KR1020070083582A priority patent/KR100972736B1/ko
Priority to US11/892,451 priority patent/US7508291B2/en
Priority to CN2007101427822A priority patent/CN101145426B/zh
Publication of JP2008053613A publication Critical patent/JP2008053613A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4842052B2 publication Critical patent/JP4842052B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F19/00Fixed transformers or mutual inductances of the signal type
    • H01F19/04Transformers or mutual inductances suitable for handling frequencies considerably beyond the audio range
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F17/00Fixed inductances of the signal type 
    • H01F17/0006Printed inductances
    • H01F2017/0086Printed inductances on semiconductor substrate
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H1/00Constructional details of impedance networks whose electrical mode of operation is not specified or applicable to more than one type of network
    • H03H2001/0092Inductor filters, i.e. inductors whose parasitic capacitance is of relevance to consider it as filter

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Coils Or Transformers For Communication (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

【課題】高いQ値を達成するのに適したインダクタ素子および集積型電子部品を提供する。
【解決手段】本発明のインダクタ素子X1は、基板Sと、基板Sから離隔して配置されたコイルユニットU1と、複数の導電支柱13A〜13Dとを備える。コイルユニットU1は、各々が渦巻状のコイル導線からなる複数のスパイラルコイル11,12からなる。複数のスパイラルコイル11,12は、当該複数のスパイラルコイル11,12の巻方向が同じとなり且つ各スパイラルコイルのコイル導線が他のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配されている。各スパイラルコイルの両端は、各々、導電支柱を介して基板に固定されている。本発明の集積型電子部品は、このようなインダクタ素子X1を含む。
【選択図】図1

Description

本発明は、インダクタ素子、および、インダクタ素子を構成要素に含む集積型電子部品に関する。
携帯端末などが具備するRF(radio frequency)システムないしRF回路においては、一般に、高性能化、小型化、軽量化等を図るべく、高周波モジュール用デバイスとしてIPD(integrated passive device)が採用される。IPDは、必要な所定の受動部品(インダクタ、キャパシタ、抵抗、フィルタなど)が集積化されたものであり、受動部品としてインダクタを含む場合が多い。インダクタは、例えばキャパシタと比較してQ値が低い傾向にあり、IPDがインダクタを含む場合、当該IPD全体のQ値も低くなりやすい。そのため、インダクタを含むIPDについては、高Q値化への要望がある。このようなIPDに関する技術については、例えば下記の特許文献1,2および非特許文献1,2に記載されている。
特開平4−61264号公報 米国特許第5,370,766号明細書 Albert Sutono et al., "IEEE TRANSACTION ON ADVANCED PACKAGING", VOL.22, NO.3, AUGUST 1999, p.326-331 Guo Lihui et al., "IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS" VOL.23, NO.8, AUGUST 2002, p.470-472
例えば非特許文献1に記載されているように、LTCC(low-temperature co-fired ceramic)技術を利用して製造されるIPDが知られている。LTCC技術を利用して製造されるIPDでは、多層セラミック基板内に複数の受動部品が内蔵されて集積化される。インダクタについては、そのインダクタンスの増大を目的として、多層セラミック基板内に複数のスパイラルコイルが多段配置された形態で形成される場合がある。インダクタのインダクタンスが高いほど、当該インダクタのQ値は高い傾向にあり、従って、当該インダクタを含むIPD全体のQ値の増大の観点から好ましい。
しかしながら、LTCC技術を利用して製造されるIPDにおけるインダクタを構成するスパイラルコイルの隣り合うコイル導線間には、セラミック材料(誘電体材料)が介在しているので、当該インダクタにおいては有意な寄生容量が生ずる(スパイラルコイルは、隣り合うコイル導線からなるキャパシタ電極対様構造を伴う)。加えて、LTCC技術を利用して製造されるIPDにおいて、多層セラミック基板内にて多段配置された複数のスパイラルコイルによりインダクタ(多段インダクタ)が構成されている場合には、隣り合うスパイラルコイル間にセラミック材料(誘電体材料)が介在することに起因して、当該インダクタにおいて有意な寄生容量が生ずる。インダクタの寄生容量が大きいほど、当該インダクタのQ値の増大の観点からは好ましくないことが知られている。
LTCC技術を利用して製造されるIPDでは、その構成要素たるインダクタにおいてこのように有意な寄生容量が生ずるため、当該インダクタのQ値を充分に増大することができない場合があり、従って、IPD全体のQ値を充分に増大することができない場合がある。
本発明は、以上のような事情の下で考え出されたものであり、高いQ値を達成するのに適したインダクタ素子および集積型電子部品を提供することを、目的とする。
本発明の第1の側面によるとインダクタ素子が提供される。このインダクタ素子は、基板と、基板から離隔して配置されたコイルユニットと、複数の導電支柱とを備える。コイルユニットは、各々が渦巻状のコイル導線からなる複数のスパイラルコイルを有する。複数のスパイラルコイルは、当該複数のスパイラルコイルの巻方向が同じとなり且つ各スパイラルコイルのコイル導線が他の一または二以上のスパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配されている。各スパイラルコイルないし各コイル導線の両端は、各々、導電支柱を介して基板に固定されている。コイルユニットに含まれる複数のスパイラルコイルは、一または二以上のインダクタを構成する。また、基板における少なくとも表層部は誘電体材料よりなる。
本インダクタ素子においては、複数のスパイラルコイルのコイル導線間には誘電体材料は介在しない。加えて、当該複数のスパイラルコイルは、少なくとも表層部が誘電体材料よりなる基板から離隔している(即ち、当該複数のスパイラルコイルにおいて隣り合うコイル導線は、誘電体材料から離隔している)。したがって、本インダクタ素子は、寄生容量を抑制するのに適する。インダクタ素子における寄生容量の抑制は、当該インダクタ素子のQ値の増大に資する。
インダクタを構成するスパイラルコイルが基板表面にパターン形成されている場合、当該スパイラルコイルにおいて隣り合うコイル導線の近傍には、当該隣り合うコイル導線が接する基板表層部(誘電体材料からなる)が存在する。隣り合うコイル導線からなるキャパシタ電極対様構造を伴うスパイラルコイル(インダクタ)では、当該コイル導線間に基板表層部(誘電体材料)が近接することに起因して、有意な寄生容量が生ずる場合がある。これに対し、本発明の第1の側面に係るインダクタ素子では、複数のスパイラルコイルが基板から離隔しているため(即ち、当該複数のスパイラルコイルにおいて隣り合うコイル導線が誘電体材料から離隔しているため)、寄生容量が抑制されるのである。
本インダクタ素子においては、上述のように、コイルユニットに含まれる複数のスパイラルコイルは、巻方向が同じとなり且つ各スパイラルコイルのコイル導線が他の一または二以上のスパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配されており、このように配された複数のスパイラルコイルにより一または二以上のインダクタが構成され、各スパイラルコイルの両端は、各々、導電支柱を介して基板に固定されている。このような構成は、基板から離隔して設けられているスパイラルコイルについて高強度を実現するうえで好適である。
一つのスパイラルコイルを基板に固定する一対の支柱間の距離が短いほど、当該支柱間にわたるコイル導線の強度は高い傾向にあるところ、本発明におけるコイルユニットによると、全長Lで巻数の多い単一のスパイラルコイルを、例えば全長L/2の二つのスパイラルコイルや、例えば全長L/3の三つのスパイラルコイルにより、実質的に実現することができる。すなわち、本インダクタ素子では、強度を確保しやすい相対的に短い複数のスパイラルコイルの組合せにより、相対的に長いスパイラルコイルないしインダクタを構成することができるのである。このように、スパイラルコイルについて高強度を得るのに適した本インダクタ素子では、当該スパイラルコイルについて、径を増大させやすく、また、巻数を増大させやすい。スパイラルコイルの径の増大や巻数の増大は、Q値の増大に資する。
以上から理解できるように、本発明の第1の側面に係るインダクタ素子は、高いQ値を達成するのに適するのである。
また、本インダクタ素子は、小型化を図るのにも適する。本インダクタ素子では、コイルユニットの各スパイラルコイルが基板上において占める形成領域は、互いに大きく重複する。コイルユニットに含まれる複数のスパイラルコイルが二以上のインダクタを構成する場合には、基板上においてコイルユニットが設けられている領域内に複数のインダクタが存在することになる。このように、基板上における実質的に同一の箇所に複数のインダクタを効率よく配置することができるため、本インダクタ素子は、小型化を図るのに適するのである。
好ましくは、複数のスパイラルコイルから選択される少なくとも二つのスパイラルコイルは、同方向に電流が流れるように電気的に接続されている。電流の流れる方向について同方向とは、各コイル導線を流れる電流が左回り又は右回りで共通の旋回方向を有することを意味するものとする。
本発明の第2の側面によるとインダクタ素子が提供される。このインダクタ素子は、基板と、基板から離隔して配置された第1のコイルユニットと、基板および第1のコイルユニットの間において当該第1のコイルユニットから離隔して配置された第2のコイルユニットと、複数の導電支柱とを備える。第1のコイルユニットは、各々が渦巻状のコイル導線からなる複数の第1スパイラルコイルを有する。当該複数の第1スパイラルコイルは、巻方向が同じとなり且つ各第1スパイラルコイルのコイル導線が他の一または二以上の第1スパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配されている。各第1スパイラルコイルの両端は、各々、導電支柱を介して基板に固定されている。第2のコイルユニットは、各々が渦巻状のコイル導線からなる複数の第2スパイラルコイルを有する。当該複数の第2スパイラルコイルは、巻方向が同じとなり且つ各第2スパイラルコイルのコイル導線が他の一または二以上の第2スパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配されている。第2スパイラルコイルの巻方向は、第1スパイラルコイルの巻方向とは反対である。少なくとも一つの第1スパイラルコイルと、少なくとも一つの第2スパイラルコイルとは、同方向に電流が流れるように電気的に接続されている。また、少なくとも一つの第1スパイラルコイルと、少なくとも一つの第2スパイラルコイルとは、いわゆる多段インダクタを構成する。
本インダクタ素子の第1のコイルユニットは、第1の側面に係るインダクタ素子のコイルユニットに相当する。したがって、本インダクタ素子においても、第1の側面に係るインダクタ素子に関して上述した技術的効果を享受することができる。
加えて、本インダクタ素子においては、第1のコイルユニットの第1スパイラルコイルと第2のコイルユニットの第2スパイラルコイルとの間には、誘電体材料は介在せず、従って、本インダクタ素子は寄生容量を抑制するのに適する。インダクタ素子における寄生容量の抑制は、当該インダクタ素子のQ値の増大に資する。
本発明の第2の側面における一の好ましい実施の形態では、第2のコイルユニットは、基板に接して設けられている。
本発明の第2の側面における他の好ましい実施の形態では、第2のコイルユニットは、基板から離隔して設けられており、当該第2のコイルユニットの各第2スパイラルコイルの両端は、各々、導電支柱を介して基板に固定されている。
好ましくは、第1スパイラルコイルおよび第2スパイラルコイルは、同方向に電流が流れるように全て直列に接続されている。このような構成は、第1および第2のコイルユニットのスパイラルコイルにより構成されるインダクタのインダクタンスを増大させるうえで好ましい。
好ましくは、スパイラルコイルの巻数はN+n(Nは整数、nは0.3〜0.5)である。スパイラルコイルのバランス確保の観点からは、このような構成が好ましい。
本発明の第1および第2の側面において、好ましくは、コイルイユニットを基板に固定する補助支柱を更に備える。スパイラルコイルの強度確保の観点からは、このような構成が好ましい。
本発明の第3の側面によると集積型電子部品が提供される。この集積型電子部品は、本発明の第1または第2の側面に係る上述のインダクタ素子を含む。本集積型電子部品は、高いQ値を達成するうえで好適である。
本発明の第3の側面に係る集積型電子部品が第2の側面に係るインダクタ素子を含む場合、第1のコイルユニットの少なくとも一つの第1スパイラルコイルと、第2のコイルユニットの少なくとも一つの第2スパイラルコイルとは、キャパシタ素子を介して電気的に接続されていてもよい。
図1から図3は、本発明の第1の実施形態に係るインダクタ素子X1を表す。図1は、インダクタ素子X1の平面図である。図2は、インダクタ素子X1の一部省略平面図である。図3は、図1の線III−IIIに沿った断面図である。
インダクタ素子X1は、基板Sと、コイルユニットU1(図2では省略)と、導電支柱13A,13B,13C,13Dと、配線14A,14B,14Cとを備える。
基板Sは、例えば、半導体基板(例えば、単結晶シリコンなどのシリコン材料よりなる)、石英基板、ガラス基板、セラミック基板、SOI(silicon on insulator)基板、SOQ(silicon on quartz)基板、またはSOG(silicon on glass)基板であり、必要に応じてその表面は誘電体材料により被覆されている。基板Sの少なくとも表層部は誘電体材料よりなる。
コイルユニットU1は、基板Sから離隔して配置された二つのスパイラルコイル11,12からなる。図1に示すように、スパイラルコイル11は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部11aおよび内端部11bを有する。スパイラルコイル12は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部12aおよび内端部12bを有する。これらスパイラルコイル11,12は、スパイラルコイル11,12の巻方向が同じとなり且つ一方のスパイラルコイルのコイル導線が他方のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配されている。スパイラルコイル11,12および基板Sの離隔距離は、例えば1〜100μmである。このようなスパイラルコイル11,12は、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。
スパイラルコイル11,12の外端部11a,12aおよび内端部11b,12bは、各々、導電支柱13A〜13Dを介して基板Sに固定されている。導電支柱13A〜13Dは、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。
スパイラルコイル11の外端部11aは、導電支柱13Aおよび配線14Aを介して図外の電極パッドと電気的に接続されている。スパイラルコイル11の内端部11bは、導電支柱13C、配線14B、および導電支柱13Dを介してスパイラルコイル12の外端部12aと電気的に接続されている。スパイラルコイル12の内端部12bは、導電支柱13Bおよび配線14Cを介して図外の他の電極パッドと電気的に接続されている。
このようなインダクタ素子X1では、2.5巻のスパイラルコイル11,12が直列に接続されており、従って、コイルユニットU1が合計5巻のコイルインダクタを構成することとなる。また、スパイラルコイル11,12には、通電時において同方向に電流が流れる。
インダクタ素子X1においては、コイルユニットU1(スパイラルコイル11,12)のコイル導線間には誘電体材料は介在しない。加えて、スパイラルコイル11,12は、少なくとも表層部が誘電体材料により構成される基板Sから離隔している(即ち、スパイラルコイル11,12において隣り合うコイル導線は、誘電体材料から離隔している)。したがって、インダクタ素子X1は、寄生容量を抑制するのに適する。このようなインダクタ素子X1は、高いQ値を達成するのに適する。
インダクタ素子X1においては、上述のように、コイルユニットU1に含まれるスパイラルコイル11,12は、巻方向が同じとなり且つ各スパイラルコイルのコイル導線が他方のスパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配されており、このように配されたスパイラルコイル11,12により単一のインダクタが構成され、各スパイラルコイル11,12の外端部11a,12aおよび内端部11b,12bは、各々、導電支柱13A〜13Dを介して基板Sに固定されている。このような構成は、基板から離隔して設けられているスパイラルコイルについて高強度を実現するうえで好適である。一つのスパイラルコイルを基板に固定する一対の支柱間の距離が短いほど、当該支柱間にわたるコイル導線の強度は高い傾向にあるところ、コイルユニットU1は、全長L/2で巻数N/2(本実施形態ではNは5)の二つのスパイラルコイル11,12により、全長Lで巻数Nの単一のスパイラルコイルを、実質的に実現している。すなわち、インダクタ素子X1では、強度を確保しやすい相対的に短い二つのスパイラルコイル11,12の組合せにより、相対的に長いスパイラルコイルないしインダクタが構成されているのである。このように、スパイラルコイル11,12について高強度を得るのに適したインダクタ素子X1では、スパイラルコイル11,12について、径や巻数を増大させやすく、Q値を増大させやすい。
以上のように、インダクタ素子X1は、高いQ値を達成するのに適する。
図4から図7は、本発明の第2の実施形態に係る集積型電子部品Y1を表す。図4は、集積型電子部品Y1の平面図である。図5は、集積型電子部品Y1の一部省略平面図である。図6および図7は、各々、図4の線VI−VIおよび線VII−VIIに沿った断面図である。
集積型電子部品Y1は、基板Sと、コイルユニットU2(図5では省略)と、コイルユニットU3と、導電支柱25A,25B,25C,25Dと、キャパシタ26と、パッド部27A,27B,27C,27Dと、配線28A,28B,28C,28Dとを備え、図8に示す回路構成を有する。
コイルユニットU2は、基板Sから離隔して配置された二つのスパイラルコイル21,22からなる。図4に示すように、スパイラルコイル21は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部21aおよび内端部21bを有する。スパイラルコイル22は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部22aおよび内端部22bを有する。これらスパイラルコイル21,22は、スパイラルコイル21,22の巻方向が同じとなり且つ一方のスパイラルコイルのコイル導線が他方のスパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配されている。スパイラルコイル21,22の外端部21a,22aおよび内端部21b,22bは、各々、導電支柱25A〜25Dを介して基板Sに固定されている。このようなスパイラルコイル21,22および導電支柱25A〜25Dは、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。また、スパイラルコイル21,22および基板Sの離隔距離は、例えば1〜100μmである。図4では、図の簡潔化の観点から、基板S上においてコイルユニットU2の直下に位置する構造の殆ど全てが表されていない。
コイルユニットU3は、図5に示すように、基板S上にパターン形成された二つのスパイラルコイル23,24からなる。スパイラルコイル23は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部23aおよび内端部23bを有する。スパイラルコイル24は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部24aおよび内端部24bを有する。これらスパイラルコイル23,24は、スパイラルコイル23,24の巻方向が同じとなり且つ一方のスパイラルコイルのコイル導線が他方のスパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配されている。コイルユニットU3のスパイラルコイル23,24の巻方向は、コイルユニットU2のスパイラルコイル21,22の巻方向とは反対である。スパイラルコイル23の内端部23bは、導電支柱25Cに接続している。スパイラルコイル24の外端部24aは配線28Bに接続しており、内端部24bは導電支柱25Bに接続している。このようなスパイラルコイル23,24は、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。
キャパシタ26は、図6および図7によく表れているように、基板S上の第1電極26aと、第2電極26bと、これらの間の誘電体層26cとからなる積層構造を有する。第1電極26aは、例えば、所定の多層構造を有し、当該多層構造の各層には、Cu、Au、Ag、およびAlから選択される金属が含まれる。第2電極26bは、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。誘電体層26cは、例えば酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニウム、酸化タンタル、または酸化チタンよりなる。
パッド部27A〜27Dは、外部接続用の電気パッドである。本実施形態では、パッド部27Aは電気信号入力用の端子であり、パッド部27Bは電気信号出力用の端子であり、パッド部27C,27Dはグラウンド接続されている。パッド部27A〜27Dは、例えば、Ni母体およびその上位表面を被覆するAu膜からなる。
パッド部27Aおよびキャパシタ26の第1電極26aは、図5に示すように、配線28Aを介して、コイルユニットU3のスパイラルコイル23の外端部23aと電気的に接続されている。コイルユニットU2,U3の分解平面図である図9に表れているように、スパイラルコイル23の内端部23bは、導電支柱25Cを介して、コイルユニットU2のスパイラルコイル21の内端部21bと電気的に接続されている。スパイラルコイル21の外端部21aは、導電支柱25Aおよび配線28Bを介してコイルユニットU3のスパイラルコイル24の外端部24aと電気的に接続されており、且つ、当該導電支柱25Aおよび配線28Bを介してパッド部27C,27Dと電気的に接続されている。スパイラルコイル24の内端部24bは、導電支柱25Bを介して、コイルユニットU2のスパイラルコイル22の内端部22bと電気的に接続されている。スパイラルコイル22の外端部22aは、導電支柱25Dおよび配線28Cを介して電極パッド27Bと電気的に接続され、且つ、導電支柱25Dおよび配線28C,28Dを介してキャパシタ26の第2電極26bと電気的に接続されている。
このような集積型電子部品Y1のコイルユニットU2,U3においては、2.5巻のスパイラルコイル21と2巻のスパイラルコイル23が、直列に接続され、合計4.5巻の図8に示すコイルインダクタL1を構成する。また、2.5巻のスパイラルコイル22と2巻のスパイラルコイル24が、直列に接続され、合計4.5巻の図8に示すコイルインダクタL2を構成する。これらコイルインダクタL1,L2は、図8に示すように、直列に配されている。このようなスパイラルコイル21〜24には、通電時において同方向に電流が流れる。
集積型電子部品Y1においては、コイルユニットU2(スパイラルコイル21,22)のコイル導線間には誘電体材料は介在せず、且つ、コイルユニットU3(スパイラルコイル23,24)のコイル導線間には誘電体材料は介在しない。加えて、スパイラルコイル21,22は、少なくとも表層部が誘電体材料により構成される基板Sから離隔している。すなわち、スパイラルコイル21,22において隣り合うコイル導線は、誘電体材料から離隔している。更に加えて、コイルユニットU2のスパイラルコイル21,22とコイルユニットU3のスパイラルコイル23,24との間には、誘電体材料は介在しない。したがって、集積型電子部品Y1は、寄生容量を抑制するのに適する。このような集積型電子部品Y1は、高いQ値を達成するのに適する。
集積型電子部品Y1におけるスパイラルコイル21〜24には、上述のように、通電時において同方向に電流が流れる。このような構成は、図8に示すコイルインダクタL1,L2の各々について、全体のインダクタンスの増大に資する相互インダクタンスを得るうえで好ましい。
集積型電子部品Y1においては、基板S上における実質的に同一の箇所に2つのコイルインダクタL1,L2が効率よく配置されている。このような構成は、集積型電子部品の小型化を図るのに適する。
図10から図13は、本発明の第3の実施形態に係る集積型電子部品Y2を表す。図10は、集積型電子部品Y2の平面図である。図11は、集積型電子部品Y2の一部省略平面図である。図12および図13は、各々、図10の線XII−XIIおよび線XIII−XIIIに沿った断面図である。
集積型電子部品Y2は、基板Sと、コイルユニットU4(図11では省略)と、コイルユニットU5と、導電支柱35A,35B,35C,35Dと、キャパシタ36と、パッド部37A,37B,37C,37Dと、配線38A,38B,38Cとを備え、図14に示す回路構成を有する。
コイルユニットU4は、基板Sから離隔して配置された二つのスパイラルコイル31,32からなる。図10に示すように、スパイラルコイル31は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部31aおよび内端部31bを有する。スパイラルコイル32は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部32aおよび内端部32bを有する。これらスパイラルコイル31,32は、スパイラルコイル31,32の巻方向が同じとなり且つ一方のスパイラルコイルのコイル導線が他方のスパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配されている。スパイラルコイル31,32の外端部31a,32aおよび内端部31b,32bは、各々、導電支柱35A〜35Dを介して基板Sに固定されている。このようなスパイラルコイル31,32および導電支柱35A〜35Dは、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。また、スパイラルコイル31,32および基板Sの離隔距離は、例えば1〜100μmである。図10では、図の簡潔化の観点から、基板S上においてコイルユニットU4の直下に位置する構造の殆ど全てが表されていない。
コイルユニットU5は、図11に示すように、基板S上にパターン形成された二つのスパイラルコイル33,34からなる。スパイラルコイル33は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部33aおよび内端部33bを有する。スパイラルコイル34は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部34aおよび内端部34bを有する。これらスパイラルコイル33,34は、スパイラルコイル33,34の巻方向が同じとなり且つ一方のスパイラルコイルのコイル導線が他方のスパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配されている。コイルユニットU5のスパイラルコイル33,34の巻方向は、コイルユニットU4のスパイラルコイル31,33の巻方向とは反対である。スパイラルコイル33の外端部33aは配線38Bに接続し、且つ、内端部33bは導電支柱35Cに接続している。スパイラルコイル34の外端部34aは配線38Cに接続し、且つ、内端部34bは導電支柱35Bに接続している。このようなスパイラルコイル33,34は、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。
キャパシタ36は、図12および図13によく表れているように、基板S上の第1電極36aと、第2電極36bと、これらの間の誘電体層36cとからなる積層構造を有する。第1電極36a、第2電極36b、および誘電体層36cの構成材料については、各々、第2の実施形態における第1電極26a、第2電極26b、および誘電体層26cに関して上述したのと同様である。
パッド部37A〜37Dは、外部接続用の電気パッドである。本実施形態では、パッド部37Aは電気信号入力用の端子であり、パッド部37Bは電気信号出力用の端子であり、パッド部37C,37Dはグラウンド接続されている。パッド部37A〜37Dは、例えば、Ni母体およびその上位表面を被覆するAu膜からなる。
パッド部37Aは、図10に示すように、配線38Aおよび導電支柱35Aを介して、コイルユニットU4のスパイラルコイル31の外端部31aと電気的に接続されている。スパイラルコイル31の内端部31bは、導電支柱35Cを介して、コイルユニットU5のスパイラルコイル33の内端部33bと電気的に接続されている。スパイラルコイル33の外端部33aは、配線38Bおよび導電支柱35Dを介して、コイルユニットU4のスパイラルコイル32の外端部32aと電気的に接続されており、且つ、配線38Bを介して、キャパシタ36の第2電極36bと電気的に接続されている。キャパシタ36は、配線38Bおよび導電支柱35Dを介して、コイルユニットU4のスパイラルコイル32の外端部32aとも電気的に接続されている。スパイラルコイル32の内端部32bは、導電支柱35Bを介して、コイルユニットU5のスパイラルコイル34の内端部34bと電気的に接続されている。スパイラルコイル34の外端部34aは、配線38Cを介して電極パッド37Bと電気的に接続されている。
このような集積型電子部品Y2のコイルユニットU4,U5においては、2.5巻のスパイラルコイル31と2巻のスパイラルコイル33が、直列に接続され、合計4.5巻の図14に示すコイルインダクタL1を構成する。また、2.5巻のスパイラルコイル32と2巻のスパイラルコイル34が、直列に接続され、合計4.5巻の図14に示すコイルインダクタL2を構成する。これらコイルインダクタL1,L2は、図14に示すように、直列に配されている。このようなスパイラルコイル31〜34には、通電時において同方向に電流が流れる。
集積型電子部品Y2においては、コイルユニットU4(スパイラルコイル31,32)のコイル導線間には誘電体材料は介在せず、且つ、コイルユニットU5(スパイラルコイル33,34)のコイル導線間には誘電体材料は介在しない。加えて、スパイラルコイル31,32は、少なくとも表層部が誘電体材料により構成される基板Sから離隔している。すなわち、スパイラルコイル31,32において隣り合うコイル導線は、誘電体材料から離隔している。更に加えて、コイルユニットU4のスパイラルコイル31,32とコイルユニットU5のスパイラルコイル33,34との間には、誘電体材料は介在しない。したがって、集積型電子部品Y2は、寄生容量を抑制するのに適する。このような集積型電子部品Y2は、高いQ値を達成するのに適する。
集積型電子部品Y2におけるスパイラルコイル31〜34には、上述のように、通電時において同方向に電流が流れる。このような構成は、図14に示すコイルインダクタL1,L2について、全体のインダクタンスの増大に資する相互インダクタンスを得るうえで好ましい。
集積型電子部品Y2においては、基板S上における実質的に同一の箇所に2つのコイルインダクタL1,L2が効率よく配置されている。このような構成は、集積型電子部品の小型化を図るのに適する。
図15から図19は、本発明の第4の実施形態に係る集積型電子部品Y3を表す。図15は、集積型電子部品Y3の平面図である。図16は、集積型電子部品Y3の一部省略平面図である。図17から図19は、各々、図15の線XVII−XVII、線XVIII−XVIII、および線XIX−XIXに沿った断面図である。
集積型電子部品Y3は、基板Sと、コイルユニットU6(図16では省略)と、コイルユニットU7と、導電支柱45A,45B,45C,45Dと、キャパシタ46A,46Bと、パッド部47A,47B,47C,47Dと、配線48A,48B,48C,48D,48E,48Fとを備え、図20に示す回路構成を有する。
コイルユニットU6は、基板Sから離隔して配置された二つのスパイラルコイル41,42からなる。図15に示すように、スパイラルコイル41は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部41aおよび内端部41bを有する。スパイラルコイル42は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部42aおよび内端部42bを有する。これらスパイラルコイル41,42は、スパイラルコイル41,42の巻方向が同じとなり且つ一方のスパイラルコイルのコイル導線が他方のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配されている。スパイラルコイル41,42の外端部41a,42aおよび内端部41b,42bは、各々、導電支柱45A〜45Dを介して基板Sに固定されている。このようなスパイラルコイル41,42および導電支柱45A〜45Dは、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。また、スパイラルコイル41,42および基板Sの離隔距離は、例えば1〜100μmである。図15では、図の簡潔化の観点から、基板S上においてコイルユニットU6の直下に位置する構造の殆ど全てが表されていない。
コイルユニットU7は、図16に示すように、基板S上にパターン形成された二つのスパイラルコイル43,44からなる。スパイラルコイル43は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部43aおよび内端部43bを有する。スパイラルコイル44は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部44aおよび内端部44bを有する。これらスパイラルコイル43,44は、スパイラルコイル43,44の巻方向が同じとなり且つ一方のスパイラルコイルのコイル導線が他方のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配されている。コイルユニットU7のスパイラルコイル43,44の巻方向は、コイルユニットU6のスパイラルコイル41,42の巻方向とは反対である。スパイラルコイル43の内端部43bは、導電支柱45Cに接続している。スパイラルコイル44の内端部44bは導電支柱45Bに接続している。このようなスパイラルコイル43,44は、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。
キャパシタ46A,46Bは、図17から図19によく表れているように、基板S上の第1電極46aと、第2電極46bと、これらの間の誘電体層46cとからなる積層構造を有する。第1電極46a、第2電極46b、および誘電体層46cの構成材料については、各々、第2の実施形態における第1電極26a、第2電極26b、および誘電体層26cに関して上述したのと同様である。
パッド部47A〜47Dは、外部接続用の電気パッドである。本実施形態では、パッド部47Aは電気信号入力用の端子であり、パッド部47B,47Cは電気信号出力用の端子であり、パッド部47Dはグラウンド接続されている。パッド部47A〜47Dは、例えば、Ni母体およびその上位表面を被覆するAu膜からなる。
パッド部47Aおよびキャパシタ46Aの第1電極46aは、図16に示すように、配線48Aを介して、コイルユニットU7のスパイラルコイル43の外端部43aと電気的に接続されている。スパイラルコイル43の内端部43bは、導電支柱45Cを介して、コイルユニットU6のスパイラルコイル41の内端部41bと電気的に接続されている。スパイラルコイル41の外端部41aは、導電支柱45Aおよび配線48Bを介してパッド部47Cと電気的に接続されており、且つ、導電支柱45Aおよび配線48B,48Fを介して、キャパシタ46Bの第2電極46bと電気的に接続されている。パッド部47Bは配線48C,48Dを介して、キャパシタ46Aの第2電極46bに電気的に接続されており、且つ、配線48Cおよび導電支柱45Dを介して、コイルユニットU6のスパイラルコイル42の外端部42aと電気的に接続されている。スパイラルコイル42の内端部42bは、導電支柱45Bを介して、コイルユニットU7のスパイラルコイル44の内端部44bと電気的に接続されている。スパイラルコイル44の外端部44aは、配線48Eを介してパッド部47Dと電気的に接続されており、且つ、当該配線48Eを介してキャパシタ46Bの第1電極46aとも電気的に接続されている。
このような集積型電子部品Y3のコイルユニットU6,U7においては、2.5巻のスパイラルコイル41と2巻のスパイラルコイル43が、直列に接続され、合計4.5巻の図20に示すコイルインダクタL1を構成する。また、2.5巻のスパイラルコイル42と2巻のスパイラルコイル44が、直列に接続され、合計4.5巻の図20に示すコイルインダクタL2を構成する。これらコイルインダクタL1,L2は、図20に示すように、並列に配されている。このようなスパイラルコイル41〜44には、通電時において同方向に電流が流れる。
集積型電子部品Y3においては、コイルユニットU6(スパイラルコイル41,42)のコイル導線間には誘電体材料は介在せず、且つ、コイルユニットU7(スパイラルコイル43,44)のコイル導線間には誘電体材料は介在しない。加えて、スパイラルコイル41,42は、少なくとも表層部が誘電体材料により構成される基板Sから離隔している。すなわち、スパイラルコイル41,42において隣り合うコイル導線は、誘電体材料から離隔している。更に加えて、コイルユニットU6のスパイラルコイル41,42とコイルユニットU7のスパイラルコイル43,44との間には、誘電体材料は介在しない。したがって、集積型電子部品Y3は、寄生容量を抑制するのに適する。このような集積型電子部品Y3は、高いQ値を達成するのに適する。
集積型電子部品Y3におけるスパイラルコイル41〜44には、上述のように、通電時において同方向に電流が流れる。このような構成は、図20に示すコイルインダクタL1,L2について、全体のインダクタンスの増大に資する相互インダクタンスを得るうえで好ましい。
集積型電子部品Y3においては、基板S上における実質的に同一の箇所に2つのコイルインダクタL1,L2が効率よく配置されている。このような構成は、集積型電子部品の小型化を図るのに適する。
図21から図23は、本発明の第5の実施形態に係るインダクタ素子X2を表す。図21は、インダクタ素子X2の平面図である。図22は、インダクタ素子X2の一部省略平面図である。図23は、図21の線XXIII−XXIIIに沿った断面図である。
インダクタ素子X2は、基板Sと、コイルユニットU8(図22では省略)と、導電支柱54A,54B,54C,54D,54E,54Fと、配線55A,55B,55C,55Dとを備える。
コイルユニットU8は、基板Sから離隔して配置された三つのスパイラルコイル51,52,53からなる。スパイラルコイル51は、渦巻状のコイル導線を含み、外端部51aおよび内端部51bを有する。スパイラルコイル52は、渦巻状のコイル導線を含み、外端部52aおよび内端部52bを有する。スパイラルコイル53は、渦巻状のコイル導線を含み、外端部53aおよび内端部53bを有する。これらスパイラルコイル51〜53は、スパイラルコイル51〜53の巻方向が同じとなり且つ各スパイラルコイルのコイル導線が他のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配されている。スパイラルコイル51〜53および基板Sの離隔距離は、例えば1〜100μmである。このようなスパイラルコイル51〜53は、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。
スパイラルコイル51〜53の外端部51a,52a,53aおよび内端部51b,52b,53bは、各々、導電支柱54A〜54Fを介して基板Sに固定されている。導電支柱54A〜54Fは、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。
スパイラルコイル51の外端部51aは、導電支柱54Aおよび配線55Aを介して図外の電極パッドと電気的に接続されている。スパイラルコイル51の内端部51bは、導電支柱54B、配線55B、および導電支柱54Cを介して、スパイラルコイル52の外端部52aと電気的に接続されている。スパイラルコイル52の内端部52bは、導電支柱54D、配線55C、および導電支柱54Eを介して、スパイラルコイル53の外端部53aと電気的に接続されている。スパイラルコイル53の内端部53bは、導電支柱54Fおよび配線55Dを介して、図外の他の電極パッドと電気的に接続されている。
このようなインダクタ素子X2では、1.5巻のスパイラルコイル51〜53が直列に接続されており、従って、コイルユニットU8が合計4.5巻のコイルインダクタを構成することとなる。また、スパイラルコイル51〜53には、通電時において同方向に電流が流れる。
インダクタ素子X2においては、コイルユニットU8(スパイラルコイル51〜53)のコイル導線間には誘電体材料は介在しない。加えて、スパイラルコイル51〜53は、少なくとも表層部が誘電体材料により構成される基板Sから離隔している(即ち、スパイラルコイル51〜53において隣り合うコイル導線は、誘電体材料から離隔している)。したがって、インダクタ素子X2は、寄生容量を抑制するのに適する。このようなインダクタ素子X2は、高いQ値を達成するのに適する。
インダクタ素子X2においては、上述のように、コイルユニットU8に含まれるスパイラルコイル51〜53は、巻方向が同じとなり且つ各スパイラルコイルのコイル導線が他のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配されており、このように配されたスパイラルコイル51〜53により単一のインダクタが構成され、各スパイラルコイル51〜53の外端部51a,52a,53aおよび内端部51b,52b,53bは、各々、導電支柱54A〜54Fを介して基板Sに固定されている。このような構成は、基板から離隔して設けられているスパイラルコイルについて高強度を実現するうえで好適である。一つのスパイラルコイルを基板に固定する一対の支柱間の距離が短いほど、当該支柱間にわたるコイル導線の強度は高い傾向にあるところ、本発明におけるコイルユニットU8は、全長L/3で巻数N/3(本実施形態ではNは4.5)の三つのスパイラルコイル51〜53により、全長Lで巻数Nの一つのスパイラルコイルを、実質的に実現している。すなわち、インダクタ素子X2では、強度を確保しやすい相対的に短い三つのスパイラルコイル51〜53の組合せにより、相対的に長いスパイラルコイルないしインダクタが構成されているのである。このように、スパイラルコイル51〜53について高強度を得るのに適したインダクタ素子X2では、スパイラルコイル51〜53について、径や巻数を増大させやすく、Q値を増大させやすい。
以上のように、インダクタ素子X2は、高いQ値を達成するのに適する。
図24から図26は、本発明の第6の実施形態に係る集積型電子部品Y4を表す。図24は、集積型電子部品Y4の平面図である。図25は、集積型電子部品Y4の一部省略平面図である。図26は、図24の線XXVI−XXVIに沿った断面図である。
集積型電子部品Y4は、基板Sと、コイルユニットU9(図25では省略)と、コイルユニットU10と、導電支柱67A,67B,67C,67D,67E,67Fと、パッド部68A,68B,68C,68Dと、配線69A,69B,69C,69Dとを備え、図27に示す回路構成を有する。
コイルユニットU9は、基板Sから離隔して配置された三つのスパイラルコイル61,62,63からなる。図24に示すように、スパイラルコイル61は、渦巻状のコイル導線を含み、外端部61aおよび内端部61bを有する。スパイラルコイル62は、渦巻状のコイル導線を含み、外端部62aおよび内端部62bを有する。スパイラルコイル63は、渦巻状のコイル導線を含み、外端部63aおよび内端部63bを有する。これらスパイラルコイル61〜63は、スパイラルコイル61〜63の巻方向が同じとなり且つ各スパイラルコイルのコイル導線が他のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配されている。スパイラルコイル61〜63の外端部61a,62a,63aおよび内端部61b,62b,63bは、各々、導電支柱67A〜67Fを介して基板Sに固定されている。このようなスパイラルコイル61〜63および導電支柱67A〜67Fは、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。また、スパイラルコイル61〜63および基板Sの離隔距離は、例えば1〜100μmである。図24では、図の簡潔化の観点から、基板S上においてコイルユニットU9の直下に位置する構造の殆ど全てが表されていない。
コイルユニットU10は、図25に示すように、基板S上にパターン形成された三つのスパイラルコイル64,65,66からなる。スパイラルコイル64は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部64aおよび内端部64bを有する。スパイラルコイル65は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部65aおよび内端部65bを有する。スパイラルコイル66は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部66aおよび内端部66bを有する。これらスパイラルコイル64〜66は、スパイラルコイル64〜66の巻方向が同じとなり且つ一方のスパイラルコイルのコイル導線が他のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配されている。コイルユニットU10のスパイラルコイル64〜66の巻方向は、コイルユニットU9のスパイラルコイル61〜63の巻方向とは反対である。スパイラルコイル64の内端部64bは導電支柱67Dに接続している。スパイラルコイル65の内端部65bは導電支柱67Fに接続している。スパイラルコイル66の外端部66aは導電支柱67Cに接続しており、内端部66bは導電支柱67Eに接続している。このようなスパイラルコイル64〜66は、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。
パッド部68A〜68Dは、外部接続用の電気パッドである。本実施形態では、パッド部68Aは電気信号入力用の端子であり、パッド部68B,68Cは電気信号出力用の端子であり、パッド部68Dはグラウンド接続されている。パッド部68A〜68Dは、例えば、Ni母体およびその上位表面を被覆するAu膜からなる。
パッド部68Aは、図24に示すように、配線69Aおよび導電支柱67Aを介して、コイルユニットU9のスパイラルコイル61の外端部61aと電気的に接続されている。コイルユニットU9,U10の分解平面図である図28に表れているように、スパイラルコイル61の内端部61bは、導電支柱67Dを介して、コイルユニットU10のスパイラルコイル64の内端部64bと電気的に接続されている。スパイラルコイル64の外端部64aは、配線69Bを介してパッド部68Dに電気的に接続されている。一方、パッド部68Bは、配線69Cを介して、コイルユニットU10のスパイラルコイル65の外端部65aと電気的に接続されている。スパイラルコイル65の内端部65bは、導電支柱67Fを介して、コイルユニットU9のスパイラルコイル62の内端部62bと電気的に接続されている。スパイラルコイル62の外端部62aは、導電支柱67Cを介して、コイルユニットU10のスパイラルコイル66の外端部66aと電気的に接続されている。スパイラルコイル66の内端部66bは、導電支柱67Eを介して、コイルユニットU9のスパイラルコイル63の内端部63bと電気的に接続されている。スパイラルコイル63の外端部63aは、導電支柱67Bおよび配線69Dを介してパッド部68Cと電気的に接続されている。
このような集積型電子部品Y4のコイルユニットU9,U10においては、1.5巻のスパイラルコイル61と1.83巻のスパイラルコイル64が、直列に接続され、合計3.33巻の図27に示すコイルインダクタL1を構成する。また、1.5巻のスパイラルコイル62,63と1.83巻のスパイラルコイル65,66が、直列に接続され、合計6.66巻の図27に示すコイルインダクタL2を構成する。これらコイルインダクタL1,L2は、図27に示すように、分離して配されている。このようなスパイラルコイル61〜66には、通電時において同方向に電流が流れる。
集積型電子部品Y4においては、コイルユニットU9(スパイラルコイル61〜63)のコイル導線間には誘電体材料は介在せず、且つ、コイルユニットU10(スパイラルコイル64〜66)のコイル導線間には誘電体材料は介在しない。加えて、スパイラルコイル61〜63は、少なくとも表層部が誘電体材料により構成される基板Sから離隔している。すなわち、スパイラルコイル61〜63において隣り合うコイル導線は、誘電体材料から離隔している。更に加えて、コイルユニットU9のスパイラルコイル61〜63とコイルユニットU10のスパイラルコイル64〜66との間には、誘電体材料は介在しない。したがって、集積型電子部品Y4は、寄生容量を抑制するのに適する。このような集積型電子部品Y4は、高いQ値を達成するのに適する。
集積型電子部品Y4におけるスパイラルコイル61〜66には、上述のように、通電時において同方向に電流が流れる。このような構成は、図27に示すコイルインダクタL1,L2について、全体のインダクタンスの増大に資する相互インダクタンスを得るうえで好ましい。
集積型電子部品Y4においては、基板S上における実質的に同一の箇所に2つのコイルインダクタL1,L2が効率よく配置されている。このような構成は、集積型電子部品の小型化を図るのに適する。
図29から図32は、本発明の第7の実施形態に係る集積型電子部品Y5を表す。図29は、集積型電子部品Y5の平面図である。図30は、集積型電子部品Y5の一部省略平面図である。図31および図32は、各々、図29の線XXXI−XXXIおよび線XXXII−XXXIIに沿った断面図である。
集積型電子部品Y5は、基板Sと、コイルユニットU11(図30では省略)と、コイルユニットU12と、導電支柱77A,77B,77C,77D,77E,77Fと、キャパシタ78A,78Bと、パッド部79A,79B,79C,79Dと、配線80A,80B,80C,80D,80E,80Fとを備え、図33に示す回路構成を有する。
コイルユニットU11は、基板Sから離隔して配置された三つのスパイラルコイル71,72,73からなる。図29に示すように、スパイラルコイル71は、渦巻状のコイル導線を含み、外端部71aおよび内端部71bを有する。スパイラルコイル72は、渦巻状のコイル導線を含み、外端部72aおよび内端部72bを有する。スパイラルコイル73は、渦巻状のコイル導線を含み、外端部73aおよび内端部73bを有する。これらスパイラルコイル71〜73は、スパイラルコイル71〜73の巻方向が同じとなり且つ各スパイラルコイルのコイル導線が他のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配されている。スパイラルコイル71〜73の外端部71a,72a,73aおよび内端部71b,72b,73bは、各々、導電支柱77A〜77Fを介して基板Sに固定されている。このようなスパイラルコイル71〜73および導電支柱77A〜77Fは、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。また、スパイラルコイル71〜73および基板Sの離隔距離は、例えば1〜100μmである。図29では、図の簡潔化の観点から、基板S上においてコイルユニットU11の直下に位置する構造の殆ど全てが表されていない。
コイルユニットU12は、図30に示すように、基板S上にパターン形成された三つのスパイラルコイル74,75,76からなる。スパイラルコイル74は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部74aおよび内端部74bを有する。スパイラルコイル75は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部75aおよび内端部75bを有する。スパイラルコイル76は、渦巻状のコイル導線からなり、外端部76aおよび内端部76bを有する。これらスパイラルコイル74〜76は、スパイラルコイル74〜76の巻方向が同じとなり且つ一方のスパイラルコイルのコイル導線が他のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配されている。コイルユニットU12のスパイラルコイル74〜76の巻方向は、コイルユニットU11のスパイラルコイル71〜73の巻方向とは反対である。スパイラルコイル74の外端部74aは導電支柱77Cに接続しており、内端部74bは導電支柱77Bに接続している。スパイラルコイル75の外端部75aは導電支柱77Eに接続しており、内端部75bは導電支柱77Dに接続している。スパイラルコイル76の内端部76bは導電支柱77Fに接続している。このようなスパイラルコイル74〜76は、例えばCu、Au、Ag、またはAlよりなる。
キャパシタ78A,78Bは、図31によく表れているように、基板S上の第1電極78aと、第2電極78bと、これらの間の誘電体層78cとからなる積層構造を有する。第1電極78a、第2電極78b、および誘電体層78cの構成材料については、各々、第2の実施形態における第1電極26a、第2電極26b、および誘電体層26cに関して上述したのと同様である。
パッド部79A〜79Dは、外部接続用の電気パッドである。本実施形態では、パッド部79Aは電気信号入力用の端子であり、パッド部79Bは電気信号出力用の端子であり、パッド部79C,79Dはグラウンド接続されている。パッド部79A〜79Dは、例えば、Ni母体およびその上位表面を被覆するAu膜からなる。
パッド部79Aは、図29に示すように、配線80Aおよび導電支柱77Aを介して、コイルユニットU11のスパイラルコイル71の外端部71aと電気的に接続されている。コイルユニットU11,U12の分解平面図である図34に表れているように、スパイラルコイル71の内端部71bは、導電支柱77Bを介して、コイルユニットU12のスパイラルコイル74の内端部74bと電気的に接続されている。スパイラルコイル74の外端部74aは、導電支柱77Cを介して、コイルユニットU11のスパイラルコイル72の外端部72aと電気的に接続されている。スパイラルコイル72の内端部72bは、導電支柱77Dを介して、コイルユニットU12のスパイラルコイル75の内端部75bと電気的に接続されている。スパイラルコイル75の外端部75aは、導電支柱77Eを介して、コイルユニットU11のスパイラルコイル73の外端部73aと電気的に接続されている。スパイラルコイル73の内端部73bは、導電支柱77Fを介して、コイルユニットU12のスパイラルコイル76の内端部76bと電気的に接続されている。スパイラルコイル76の外端部76aは、配線80Bを介してパッド部79Bと電気的に接続されている。一方、パッド部79Cは、配線80C,80Dを介して、キャパシタ78Aの第2電極78bと電気的に接続されている。パッド部79Dは、配線80E,80Fを介して、キャパシタ78Bの第2電極78bと電気的に接続されている。
このような集積型電子部品Y5のコイルユニットU11,U12においては、1.5巻のスパイラルコイル71〜73と1.83巻のスパイラルコイル74〜76が、全て直列に接続され、合計10巻の図27に示すコイルインダクタLを構成する。このようなスパイラルコイル71〜76には、通電時において同方向に電流が流れる。
集積型電子部品Y5においては、コイルユニットU11(スパイラルコイル71〜73)のコイル導線間には誘電体材料は介在せず、且つ、コイルユニットU12(スパイラルコイル74〜76)のコイル導線間には誘電体材料は介在しない。加えて、スパイラルコイル71〜73は、少なくとも表層部が誘電体材料により構成される基板Sから離隔している。すなわち、スパイラルコイル71〜73において隣り合うコイル導線は、誘電体材料から離隔している。更に加えて、コイルユニットU11のスパイラルコイル71〜73とコイルユニットU12のスパイラルコイル74〜76との間には、誘電体材料は介在しない。したがって、集積型電子部品Y5は、寄生容量を抑制するのに適する。このような集積型電子部品Y5は、高いQ値を達成するのに適する。
集積型電子部品Y5におけるスパイラルコイル71〜76には、上述のように、通電時において同方向に電流が流れる。このような構成は、図33に示すコイルインダクタLについて、大きなインダクタンスを得るうえで好ましい。
以上に述べたインダクタ素子X1,X2および集積型電子部品Y1〜Y5は、いずれも、いわゆるMEMS(micro-electromechanical systems)技術を利用して、製造することができる。
第1から第7の実施形態においては、基板Sから離隔して設けられるコイルユニット(コイルユニットU1,U2,U4,U6,U8,U9,U11)を構成する各スパイラルコイルの巻数は2.5または1.5であるが、本発明においては、当該各スパイラルコイルについて他の巻数を設定してもよい。その巻数は、当該各スパイラルコイルのバランス確保の観点から、N+n(Nは整数、nは0.3〜0.5)であるのが好ましい。
第1から第7の実施形態においては、基板Sから離隔して設けられるコイルユニット(コイルユニットU1,U2,U4,U6,U8,U9,U11)を基板Sに対して固定支持するための補助支柱を設けてもよい。図35は、第1の実施形態に係る上述のインダクタ素子X1に合計4本の補助支柱15を設けた場合の平面図である。図35のインダクタ素子X1では、コイルユニットU1は二つのスパイラルコイル11,12により構成されるところ、スパイラルコイル11は、二つの導電支柱13A,13Cに加えて二つの補助支柱15により基板Sに対して固定支持され、スパイラルコイル12は、二つの導電支柱13B,13Dに加えて二つの補助支柱15により基板Sに対して固定支持されている。このような補助支柱の利用は、コイルユニットないしスパイラルコイルの強度確保の観点から好ましい。
また、上述のコイルユニットU3,U5,U7,U10,U12は基板S上にパターン形成されたものであるが、本発明では、これらコイルユニットないしこれを構成する各スパイラルコイルを、他のコイルユニット(U2,U4,U6,U9,U11)と基板Sの間において、基板Sから離隔して設けてもよい。
以上のまとめとして、本発明の構成およびそのバリエーションを以下に付記として列挙する。
(付記1)基板と、
前記基板から離隔して配置されたコイルユニットと、
複数の導電支柱と、を備え、
前記コイルユニットは、各々が渦巻状のコイル導線からなる複数のスパイラルコイルを有し、
前記複数のスパイラルコイルは、当該複数のスパイラルコイルの巻方向が同じとなり且つ各スパイラルコイルのコイル導線が他の一または二以上のスパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配され、
各スパイラルコイルの両端は、各々、前記導電支柱を介して前記基板に固定されている、インダクタ素子。
(付記2)前記複数のスパイラルコイルから選択される少なくとも二つのスパイラルコイルは、同方向に電流が流れるように電気的に接続されている、付記1に記載のインダクタ素子。
(付記3)基板と、
前記基板から離隔して配置された第1のコイルユニットと、
前記基板および前記第1のコイルユニットの間において当該第1のコイルユニットから離隔して配置された第2のコイルユニットと、
複数の導電支柱と、を備え、
前記第1のコイルユニットは、各々が渦巻状のコイル導線からなる複数の第1スパイラルコイルを有し、当該複数の第1スパイラルコイルは、巻方向が同じとなり且つ各第1スパイラルコイルのコイル導線が他の一または二以上の第1スパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配され、各第1スパイラルコイルの両端は、各々、導電支柱を介して前記基板に固定されており、
前記第2のコイルユニットは、各々が渦巻状のコイル導線からなる複数の第2スパイラルコイルを有し、当該複数の第2スパイラルコイルは、巻方向が同じとなり且つ各第2スパイラルコイルのコイル導線が他の一または二以上の第2スパイラルコイルのコイル導線間を当該コイル導線に沿って延びる部位を有するように、配され、当該第2スパイラルコイルの巻方向は、前記第1スパイラルコイルの巻方向とは反対であり、
少なくとも一つの第1スパイラルコイルと、少なくとも一つの第2スパイラルコイルとは、同方向に電流が流れるように電気的に接続されている、インダクタ素子。
(付記4)前記第2のコイルユニットは、前記基板に接して設けられている、付記3に記載のインダクタ素子。
(付記5)前記第2のコイルユニットは、前記基板から離隔して設けられており、当該第2のコイルユニットの各第2スパイラルコイルの両端は、各々、導電支柱を介して前記基板に固定されている、付記3に記載のインダクタ素子。
(付記6)前記第1スパイラルコイルおよび前記第2スパイラルコイルは、同方向に電流が流れるように全て直列に接続されている、付記3から5のいずれか一つに記載のインダクタ素子。
(付記7)前記スパイラルコイルの巻数はN+n(Nは整数、nは0.3〜0.5)である、付記1から6のいずれか一つに記載のインダクタ素子。
(付記8)前記コイルユニットを前記基板に固定する補助支柱を更に備える、付記1から7のいずれか一つに記載のインダクタ素子。
(付記9)付記1から8のいずれか一つに記載のインダクタ素子を含む、集積型電子部品。
(付記10)少なくとも一つの第1スパイラルコイルと、少なくとも一つの第2スパイラルコイルとは、キャパシタ素子を介して電気的に接続されている、付記9に記載の集積型電子部品。
本発明の第1の実施形態に係るインダクタ素子の平面図である。 図1に示すインダクタ素子の一部省略平面図である。 図1の線III−IIIに沿った断面図である。 本発明の第2の実施形態に係る集積型電子部品の平面図である。 図4に示す集積型電子部品の一部省略平面図である。 図4の線VI−VIに沿った断面図である。 図4の線VII−VIIに沿った断面図である。 図4に示す集積型電子部品の回路構成を表す。 第2の実施形態における一組のコイルユニットの分解平面図である。 本発明の第3の実施形態に係る集積型電子部品の平面図である。 図10に示す集積型電子部品の一部省略平面図である。 図10の線XII−XIIに沿った断面図である。 図10の線XIII−XIIIに沿った断面図である。 図10に示す集積型電子部品の回路構成を表す。 本発明の第4の実施形態に係る集積型電子部品の平面図である。 図15に示す集積型電子部品の一部省略平面図である。 図15の線XVII−XVIIに沿った断面図である。 図15の線XVIII−XVIIIに沿った断面図である。 図15の線XIX−XIXに沿った断面図である。 図15に示す集積型電子部品の回路構成を表す。 本発明の第5の実施形態に係るインダクタ素子の平面図である。 図21に示すインダクタ素子の一部省略平面図である。 図21の線XXIII−XXIIIに沿った断面図である。 本発明の第6の実施形態に係る集積型電子部品の平面図である。 図24に示す集積型電子部品の一部省略平面図である。 図24の線XXVI−XXVIに沿った断面図である。 図24に示す集積型電子部品の回路構成を表す。 第6の実施形態における一組のコイルユニットの分解平面図である。 本発明の第7の実施形態に係る集積型電子部品の平面図である。 図29に示す集積型電子部品の一部省略平面図である。 図29の線XXXI−XXXIに沿った断面図である。 図29の線XXXII−XXXIIに沿った断面図である。 図29に示す集積型電子部品の回路構成を表す。 第7の実施形態における一組のコイルユニットの分解平面図である。 基板から離隔して設けられるコイルユニットが補助支柱を伴う場合を表す。
符号の説明
X1,X2 インダクタ素子
Y1,Y2,Y3,Y4,Y5 集積型電子部品
S 基板
U1〜U12 コイルユニット
11,12,21,22,31,32,41,42 スパイラルコイル
13A〜13D,25A〜25D,35A〜35D,45A〜45D 導電支柱
14A〜14C,28A〜28D,38A〜38C,48A〜48F 配線
26,36,46A,46B キャパシタ
27A〜27D,37A〜37D,47A〜47D パッド部
51〜53,61〜66,71〜76 スパイラルコイル
54A〜54F,67A〜67F,77A〜77F 導電支柱
55A〜55D,69A〜69D,80A〜80D 配線
68A〜68D,79A〜79D パッド部
78A,78B キャパシタ

Claims (5)

  1. 基板と、
    前記基板から離隔して配置されたコイルユニットと、
    複数の導電支柱と、を備え、
    前記コイルユニットは、各々が渦巻状のコイル導線からなる複数のスパイラルコイルを有し、
    前記複数のスパイラルコイルは、当該複数のスパイラルコイルの巻方向が同じであり且つ各スパイラルコイルのコイル導線が他の一または二以上のスパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配され、
    各スパイラルコイルの両端は、各々、前記導電支柱を介して前記基板に固定されている、インダクタ素子。
  2. 前記複数のスパイラルコイルから選択される少なくとも二つのスパイラルコイルは、同方向に電流が流れるように電気的に接続されている、請求項1に記載のインダクタ素子。
  3. 基板と、
    前記基板から離隔して配置された第1のコイルユニットと、
    前記基板および前記第1のコイルユニットの間において当該第1のコイルユニットから離隔して配置された第2のコイルユニットと、
    複数の導電支柱と、を備え、
    前記第1のコイルユニットは、各々が渦巻状のコイル導線からなる複数の第1スパイラルコイルを有し、当該複数の第1スパイラルコイルは、巻方向が同じであり且つ各第1スパイラルコイルのコイル導線が他の一または二以上の第1スパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配され、各第1スパイラルコイルの両端は、各々、導電支柱を介して前記基板に固定されており、
    前記第2のコイルユニットは、各々が渦巻状のコイル導線からなる複数の第2スパイラルコイルを有し、当該複数の第2スパイラルコイルは、巻方向が同じであり且つ各第2スパイラルコイルのコイル導線が他の一または二以上の第2スパイラルコイルのコイル導線間を延びる部位を有するように、配され、当該第2スパイラルコイルの巻方向は、前記第1スパイラルコイルの巻方向とは反対であり、
    少なくとも一つの第1スパイラルコイルと、少なくとも一つの第2スパイラルコイルとは、同方向に電流が流れるように電気的に接続されている、インダクタ素子。
  4. 前記第1スパイラルコイルおよび前記第2スパイラルコイルは、同方向に電流が流れるように全て直列に接続されている、請求項3に記載のインダクタ素子。
  5. 請求項1から4のいずれか一つに記載のインダクタ素子を含む、集積型電子部品。
JP2006230539A 2006-08-28 2006-08-28 インダクタ素子および集積型電子部品 Expired - Fee Related JP4842052B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006230539A JP4842052B2 (ja) 2006-08-28 2006-08-28 インダクタ素子および集積型電子部品
KR1020070083582A KR100972736B1 (ko) 2006-08-28 2007-08-20 인덕터 소자 및 집적형 전자 부품
US11/892,451 US7508291B2 (en) 2006-08-28 2007-08-23 Inductor element and integrated electronic component
CN2007101427822A CN101145426B (zh) 2006-08-28 2007-08-23 电感元件和集成电子组件

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006230539A JP4842052B2 (ja) 2006-08-28 2006-08-28 インダクタ素子および集積型電子部品

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008053613A true JP2008053613A (ja) 2008-03-06
JP4842052B2 JP4842052B2 (ja) 2011-12-21

Family

ID=39112835

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006230539A Expired - Fee Related JP4842052B2 (ja) 2006-08-28 2006-08-28 インダクタ素子および集積型電子部品

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7508291B2 (ja)
JP (1) JP4842052B2 (ja)
KR (1) KR100972736B1 (ja)
CN (1) CN101145426B (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010045127A (ja) * 2008-08-11 2010-02-25 Tdk Corp コイル、変圧素子、スイッチング電源装置
WO2011114859A1 (ja) * 2010-03-18 2011-09-22 エルメック株式会社 コモンモードフィルタ用インダクタおよびコモンモードフィルタ
JP2014096588A (ja) * 2012-11-07 2014-05-22 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd コモンモードフィルタ及びその製造方法
JP2016539516A (ja) * 2013-11-25 2016-12-15 エイ・ケイ・スタンピング・カンパニー・インコーポレイテッドA.K. Stamping Company, Inc. ワイヤレス充電コイル
JP2017005898A (ja) * 2015-06-11 2017-01-05 昭和飛行機工業株式会社 送受電用インダクタ
US9576711B2 (en) 2014-09-16 2017-02-21 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Coil component and board having the same
US11069615B2 (en) 2018-11-20 2021-07-20 Taiyo Yuden Co., Ltd. Inductor, filter, and multiplexer
JP7066417B2 (ja) 2018-01-15 2022-05-13 東芝産業機器システム株式会社 零相電流抑制リアクトル、巻線

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8385043B2 (en) * 2006-08-28 2013-02-26 Avago Technologies ECBU IP (Singapoare) Pte. Ltd. Galvanic isolator
TWI397930B (zh) * 2007-11-06 2013-06-01 Via Tech Inc 螺旋電感元件
SE534510C2 (sv) * 2008-11-19 2011-09-13 Silex Microsystems Ab Funktionell inkapsling
JP4893773B2 (ja) 2009-04-02 2012-03-07 株式会社村田製作所 電子部品及びその製造方法
JP6215518B2 (ja) * 2011-08-26 2017-10-18 ローム株式会社 磁性金属基板およびインダクタンス素子
RU2659859C2 (ru) * 2012-05-15 2018-07-04 Смитс Детекшн - Уотфорд Лимитед Компактный высоковольтный радиочастотный генератор с использованием авторезонансной катушки индуктивности
JP5958377B2 (ja) * 2013-02-14 2016-07-27 株式会社村田製作所 トランス
KR101495995B1 (ko) * 2013-04-17 2015-02-25 삼성전기주식회사 공통모드필터
CN103278148B (zh) * 2013-05-07 2015-05-27 上海交通大学 磁致伸缩固体振子双轴微陀螺
US9859052B2 (en) 2013-11-25 2018-01-02 A.K. Stamping Co., Inc. Wireless charging coil
US9490656B2 (en) 2013-11-25 2016-11-08 A.K. Stamping Company, Inc. Method of making a wireless charging coil
CN103922268B (zh) * 2014-04-11 2016-04-20 北京理工大学 阶梯梁式高q值抗过载mems悬浮电感
TWI726873B (zh) * 2016-03-18 2021-05-11 瑞昱半導體股份有限公司 單端電感器
CN107507695A (zh) * 2016-06-14 2017-12-22 三星电机株式会社 线圈装置及其制造方法
TWI598897B (zh) * 2016-09-12 2017-09-11 合利億股份有限公司 具有散熱功能的無線充電線圈結構
JP7111086B2 (ja) * 2019-11-01 2022-08-02 株式会社村田製作所 インダクタ
TWI830566B (zh) * 2022-12-30 2024-01-21 恆勁科技股份有限公司 整合有電感線路結構之封裝載板及其製造方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05190333A (ja) * 1992-01-13 1993-07-30 Sharp Corp 重層型スパイラルインダクタ
JPH07230913A (ja) * 1994-02-17 1995-08-29 N S Seiko Kk 小型変成器
JPH09330816A (ja) * 1996-06-11 1997-12-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd インダクタ素子、トランス素子およびバラン素子
JPH11204730A (ja) * 1997-10-23 1999-07-30 St Microelectron Srl 集積化インダクタおよびその製造方法
JP2000252125A (ja) * 1999-02-26 2000-09-14 Memscap 特に高周波回路への組み込みを意図したインダクタ要素、集積変圧器、及びそのようなインダクタ要素又は集積変圧器を組み込まれた集積回路
JP2000306732A (ja) * 1999-04-22 2000-11-02 Ricoh Co Ltd インダクタおよびその製造方法
JP2002343639A (ja) * 2001-05-21 2002-11-29 Sony Corp 薄膜コイルおよび磁気ヘッドならびに薄膜コイルの製造方法および磁気ヘッドの製造方法
JP2004355742A (ja) * 2003-05-29 2004-12-16 Shinka Jitsugyo Kk 薄膜コイルおよびその形成方法ならびに薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2004538631A (ja) * 2001-08-09 2004-12-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 平面誘導性部品および平面変成器
JP2006086460A (ja) * 2004-09-17 2006-03-30 Alps Electric Co Ltd 結合コイル

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0461264A (ja) * 1990-06-29 1992-02-27 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Lc複合素子
JP3141562B2 (ja) 1992-05-27 2001-03-05 富士電機株式会社 薄膜トランス装置
US5370766A (en) 1993-08-16 1994-12-06 California Micro Devices Methods for fabrication of thin film inductors, inductor networks and integration with other passive and active devices
US6303423B1 (en) * 1998-12-21 2001-10-16 Megic Corporation Method for forming high performance system-on-chip using post passivation process
US6489663B2 (en) * 2001-01-02 2002-12-03 International Business Machines Corporation Spiral inductor semiconducting device with grounding strips and conducting vias
JP3579000B2 (ja) * 2001-04-05 2004-10-20 シャープ株式会社 半導体装置
TWI245592B (en) * 2004-01-12 2005-12-11 Advanced Semiconductor Eng Circuit substrate
JP4707056B2 (ja) 2005-08-31 2011-06-22 富士通株式会社 集積型電子部品および集積型電子部品製造方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05190333A (ja) * 1992-01-13 1993-07-30 Sharp Corp 重層型スパイラルインダクタ
JPH07230913A (ja) * 1994-02-17 1995-08-29 N S Seiko Kk 小型変成器
JPH09330816A (ja) * 1996-06-11 1997-12-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd インダクタ素子、トランス素子およびバラン素子
JPH11204730A (ja) * 1997-10-23 1999-07-30 St Microelectron Srl 集積化インダクタおよびその製造方法
JP2000252125A (ja) * 1999-02-26 2000-09-14 Memscap 特に高周波回路への組み込みを意図したインダクタ要素、集積変圧器、及びそのようなインダクタ要素又は集積変圧器を組み込まれた集積回路
JP2000306732A (ja) * 1999-04-22 2000-11-02 Ricoh Co Ltd インダクタおよびその製造方法
JP2002343639A (ja) * 2001-05-21 2002-11-29 Sony Corp 薄膜コイルおよび磁気ヘッドならびに薄膜コイルの製造方法および磁気ヘッドの製造方法
JP2004538631A (ja) * 2001-08-09 2004-12-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 平面誘導性部品および平面変成器
JP2004355742A (ja) * 2003-05-29 2004-12-16 Shinka Jitsugyo Kk 薄膜コイルおよびその形成方法ならびに薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2006086460A (ja) * 2004-09-17 2006-03-30 Alps Electric Co Ltd 結合コイル

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010045127A (ja) * 2008-08-11 2010-02-25 Tdk Corp コイル、変圧素子、スイッチング電源装置
WO2011114859A1 (ja) * 2010-03-18 2011-09-22 エルメック株式会社 コモンモードフィルタ用インダクタおよびコモンモードフィルタ
JP2014096588A (ja) * 2012-11-07 2014-05-22 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd コモンモードフィルタ及びその製造方法
JP2017050556A (ja) * 2012-11-07 2017-03-09 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. コモンモードフィルタ及びその製造方法
JP2016539516A (ja) * 2013-11-25 2016-12-15 エイ・ケイ・スタンピング・カンパニー・インコーポレイテッドA.K. Stamping Company, Inc. ワイヤレス充電コイル
US9576711B2 (en) 2014-09-16 2017-02-21 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Coil component and board having the same
JP2017005898A (ja) * 2015-06-11 2017-01-05 昭和飛行機工業株式会社 送受電用インダクタ
JP7066417B2 (ja) 2018-01-15 2022-05-13 東芝産業機器システム株式会社 零相電流抑制リアクトル、巻線
US11069615B2 (en) 2018-11-20 2021-07-20 Taiyo Yuden Co., Ltd. Inductor, filter, and multiplexer

Also Published As

Publication number Publication date
CN101145426B (zh) 2012-04-04
KR20080019545A (ko) 2008-03-04
US7508291B2 (en) 2009-03-24
KR100972736B1 (ko) 2010-07-27
US20080048816A1 (en) 2008-02-28
JP4842052B2 (ja) 2011-12-21
CN101145426A (zh) 2008-03-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4842052B2 (ja) インダクタ素子および集積型電子部品
JP2007067236A (ja) 集積型電子部品および集積型電子部品製造方法
JP4762531B2 (ja) 電子部品及びその製造方法
US7312685B1 (en) Symmetrical inductor
US7724116B2 (en) Symmetrical inductor
US8259459B2 (en) Electronic device
US7746210B2 (en) Electronic device
SE0004794D0 (sv) A multilayer balun transformer structure
JP2009088161A (ja) 電子部品
JP2007243208A (ja) バラン変成器
WO2007069794A1 (en) Semiconductor device
JP4684856B2 (ja) 電子部品
JP2011082212A (ja) マイクロトランス素子、信号伝達回路、及び半導体装置
US7312683B1 (en) Symmetrical inductor
WO2011004803A1 (ja) コイル部品
US8022805B2 (en) Spiral inductor device
JP4795385B2 (ja) 集積型電子部品
JP2010109075A (ja) 半導体パッケージ
JP2007173759A (ja) 高周波モジュール及びその製造方法
JP2009146996A (ja) 電子部品
JPH11307723A (ja) 平面トランス
CN111199820B (zh) 电感器、滤波器和多路复用器
JP5377568B2 (ja) 半導体装置
JP2006108323A (ja) インダクタンス素子及びその製造方法
JP2008140835A (ja) 電子部品

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090518

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110322

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110329

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110527

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111004

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111005

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141014

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees