JP2008034032A - 位置決め制御装置の整定判定方法及び位置決め制御装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】整定判定ブロック(24)の整定判定式として、位置誤差と、位置誤差の複数サンプル数の加算値とを併用する。特に、低周波数域での振動に対し、整定判定のマージンが大きくなる。このため、低周波数域での振動があっても、整定判定条件を外れていると判定することを、より少なくでき、動作(例えば、リード/ライト動作)を継続できる。
【選択図】図11
Description
図1は、本発明の一実施の形態の位置決め制御装置の構成図、図2は、図1の磁気ディスクの位置信号及びトラックの配置図、図3は、図1及び図2の磁気ディスクの位置信号の構成図、図4は、図1のヘッド位置制御系の構成図、図5は、図1及び図4のヘッド位置制御の説明図である。
図6は、本発明の整定判定機構の第1の実施の形態の機能ブロック図であり、図7は、本発明の整定判定式の評価のための測定処理フロー図、図8は、図7の測定処理のブロック図、図9は、図7及び図8の測定処理の説明図、図10は、図7乃至図9の測定処理結果のテーブルの説明図、図11は、図7の測定による各判定式における周波数対最大値比の特性図、図12は、整定判定の許容範囲の説明図である。
図13は、本発明の整定判定機構の第2の実施の形態の構成図であり、図6で示したものと同一のものは、同一の記号で示してある。図13に示すように、整定判定ブロック24は、2つの判定式(判定値計算)ブロック50,64と、判定サンプル数分の遅延ブロック52−1〜52−m,66−1〜66−mと、整定判定ブロック54−1,54−3と、論理積回路56とで構成される。
図15は、本発明の整定判定機構の第3の実施の形態の構成図であり、図6及び図13で示したものと同一のものは、同一の記号で示してある。図15に示すように、整定判定ブロック24は、3つの判定式(判定値計算)ブロック50,58(64)、68と、判定サンプル数分の遅延ブロック52−1〜52−4,60−1〜60−4、70と、整定判定ブロック54−1,54−2(54−3)、54−4と、論理積回路56とで構成される。
図16及び図17は、本発明の他の整定判定条件の説明図であり、図16は、3サンプルでの周波数対最大値比の関係図、図17は、5サンプルでの周波数対最大値比の関係図である。
前述の実施の形態では、位置決め制御装置を、磁気ディスク装置のヘッド位置決め装置の例で説明したが、光ディスク装置等の他のディスク装置にも適用でき、且つディスク装置以外の対象物の位置決め制御装置にも適用できる。更に、許容幅(位置決め精度)は、他の値を採用でき、且つ判定サンプル数も他の数を採用できる。望ましくは、判定速度を考慮して、判定サンプルは、5サンプル以内であり、且つ加算するサンプル数は、4以内である。
3 分離型ヘッド
4 ディスク
5 スピンドルモータ
14 MCU(制御ユニット)
20 演算ブロック
22 コントローラ
24 整定判定ブロック
30 正弦波発生ブロック
32 整定判定式ブロック
36 判定期間最大値取得ブロック
40 サンプル点間最大値取得ブロック
42 比計算ブロック
44 最大値比取得ブロック
50,58、64 判定式演算ブロック
52−1〜52−m 遅延ブロック
54−1〜54−4 判定ブロック
56 論理積ブロック
Claims (5)
- 対象物を、目標位置と現在位置との位置誤差に従い、位置制御する位置決め制御装置の目標位置への整定を判定する整定判定方法において、
サンプル毎に、前記位置誤差を演算するステップと、
前記サンプル毎に、前記位置誤差から第1の判定値を計算する第1の計算ステップと、
連続して前記第1の判定値が第1のスライス値未満となったサンプル数が第1の判定サンプル数に達したかを判定する第1の判定ステップと、
前記サンプル毎に、複数サンプルの位置誤差の加算から第2の判定値を計算する第2の計算ステップと、
連続して前記第2の判定値が第2のスライス値未満となったサンプル数が第2の判定サンプル数に達したかを判定する第2の判定ステップと、
前記第1の判定ステップと前記第2の判定ステップとの判定結果の論理積を整定判定結果として、出力するステップを有する
ことを特徴とする位置決め制御装置の整定判定方法。 - 前記第2の計算ステップは、前記複数サンプルの前記位置誤差の絶対値を加算して、前記第2の判定値を計算するステップからなる
ことを特徴とする請求項1の位置決め制御装置の整定判定方法。 - 対象物を、目標位置と現在位置との位置誤差に従い、位置制御する位置決め制御ブロックと、
サンプル毎に、前記位置誤差から第1の判定値を計算し、連続して前記第1の判定値が第1のスライス値未満となったサンプル数が第1の判定サンプル数に達したかを判定する整定判定ブロックとを有し、
前記整定判定ブロックは、前記サンプル毎に、複数サンプルの位置誤差の加算から第2の判定値を計算し、連続して前記第2の判定値が第2のスライス値未満となったサンプル数が第2の判定サンプル数に達したかを判定し、前記2つの判定結果の論理積を整定判定結果として、出力する
ことを特徴とする位置決め制御装置。 - 前記整定判定ブロックは、前記複数サンプルの前記位置誤差の絶対値を加算して、前記第2の判定値を計算する
ことを特徴とする請求項3の位置決め制御装置。 - 前記整定判定ブロックは、前記サンプル数が、5サンプル未満の前記第2の判定サンプル数に達したかを判定する
ことを特徴とする請求項3の位置決め制御装置。
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