JP2008027513A - 光ディスク装置、トラッキングエラー信号生成回路、トラッキングエラー信号の補正方法、プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】ＤＰＰ方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）において、メインビーム照射部分とサイドビーム照射部分の反射率が異なるために発生したオフセットを、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号を個別に正規化することなく適切に補正する。
【解決手段】アナログ信号処理部４０は、光検出部１３０によって検出されたメインビームとサイドビームの反射光の受光量に基づいて、ＭＰＰ、ＭＰＩ、ＳＰＰ及びＳＰＩ信号を生成し、ＭＰＰ及び／又はＳＰＰ信号に基づいて、ＤＰＰ方式のＴＥ信号とＣＥ信号を生成し、ＴＥ、ＣＥ、ＭＰＩ及びＳＰＩ信号のアナログ信号を出力する。デジタル信号処理部５０は、Ａ／Ｄ変換部５２によりデジタル信号に変換されたＴＥ、ＣＥ、ＭＰＩ及びＳＰＩ信号を、所定の演算式に従って演算することで、光ディスクに対するメインビームの照射部分及び／又はサイドビームの照射部分の反射率変動により生じるオフセットを補正したＴＥ信号を生成する。
【選択図】図７

Description

本発明は、光ディスク装置、トラッキングエラー信号生成回路、トラッキングエラー信号の補正方法、及びプログラムに関し、特に、光ディスクに対するレーザスポットの照射位置を制御するためのトラッキングエラー信号を好適に補正しうる光ディスク装置、トラッキングエラー信号生成回路、及びトラッキングエラー信号の補正方法、及びプログラムに関する。

光ディスク装置は、レーザ光を利用して光ディスクに情報を記録／再生するための装置である。この光ディスク装置は、光源（例えばレーザダイオード：ＬＤ）から出射したレーザ光を、対物レンズで集光して光ディスクの記録面にスポット照射し、当該光ディスクで反射したレーザ光の反射光を光検出部（例えばフォトディテクタ：ＰＤ）で受光する光ピックアップを備えている。そして、かかる光ディスク装置では、上記光検出部における受光量の検出信号を演算して、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号等のサーボ信号を生成して、光ディスクに対するレーザスポットの照射位置をサーボ制御している。

トラッキングエラーの検出方式の１つとして、光検出部における受光素子の２分割受光領域の検出信号の差（プッシュプル信号）に基づき、トラッキングエラー信号を生成するプッシュプル法がある。しかし、１つのレーザ光のみを利用したプッシュプル法では、対物レンズと光検出部との位置ずれ（以下、「対物レンズシフト」）等が原因で、プッシュプル信号にオフセットが生じるという問題があった。そこで、かかる問題を解決するため、サイドビームを用いてプッシュプル信号（以下、「ＰＰ信号」）のオフセットを相殺するディファレンシャルプッシュプル（Differential Push Pull：以下、「ＤＰＰ」）法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。

このＤＰＰ法では、レーザ光を回折して分光させたメインビーム（主ビーム）とサイドビーム（副ビーム）を光ディスクに照射し、このメインビームとサイドビームの反射光についてそれぞれプッシュプル信号を求め、所定の比率で両者の差を演算する。かかるＤＰＰ法でオフセットをキャンセルするためには、ＭＰＰ信号（Main Push Pull：メインビーム反射光の２分割受光領域での受光量の差から生成したＰＰ信号）の信号レベルと、ＳＰＰ信号（Side Push Pull：サイドビーム反射光の２分割受光領域での受光量の差から生成したＰＰ信号）の信号レベルとが一致するように、レベル調整を行う必要がある。このレベル調整は、例えば、ドライブ調整ラインの工程や、光ディスク挿入時のスタートアップ処理において、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号との差を求めるマトリックス回路におけるアンプのゲイン調整で行われる。

特開２００４−２１３７６８号公報

しかしながら、光ディスクに対するメインビーム照射部分とサイドビーム照射部分は、異なる場所である（例えば、メインビームが光ディスクのグルーブに照射され、サイドビームが当該グルーブに隣接したランドに照射される。）ため、例えば以下の条件（ａ）、（ｂ）で、上記２つの照射部分の反射率が、当初のゲイン調整時の条件から変化してしまう。
（ａ）メインビーム照射部分が記録部分で、サイドビーム照射部分が未記録部分である場合、或いは、その逆の場合。
（ｂ）光ディスクに対してデータを記録中の場合。メインビーム照射部分では、相変化などの現象が発生するため反射率が低下するが、サイドビーム照射部分では、物性変化が起きないため反射率は低下しない。

これらの場合、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号にレベル差が生じ、ＤＰＰ信号のオフセット相殺に必要な条件が崩れてしまう。その結果、対物レンズシフトやラジアルスキュー等によりＰＰ信号に発生したオフセットは、ＤＰＰ信号のオフセットとして残存してしまうという問題があった。

また、ＤＰＰ信号をプルイン信号（以下、「ＰＩ信号」）で正規化する場合、メインビーム照射部分の反射率とサイドビーム照射部分の反射率とが異なると、正しく正規化されないという問題もあった。

なお、アナログ信号処理回路内の正規化回路により、ＭＰＰ信号をＭＰＩ信号（Main Pull In：メインビーム反射光の２分割受光面での受光量の和から生成したＰＩ信号）で正規化するとともに、ＳＰＰ信号をＳＰＩ信号（Side Pull In：サイドビーム反射光の２分割受光面での受光量の和から生成したＰＩ信号）で正規化した後に、ＤＰＰ演算を行うことで、上記問題は回避可能である（例えば、特許文献１参照）。実際に、この構成のシステムも実用化されており、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号の個別を正規化しないＤＰＰ信号に比べ、オフセット・振幅変動が抑制できることがわかっている。しかし、かかる構成ではアナログ正規化回路が複数必要になるため、回路規模、消費電力、コストが増大してしまうという問題があった。

そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、ＤＰＰ方式のトラッキングエラー信号において、メインビーム照射部分の反射率とサイドビーム照射部分の反射率が異なるために発生したオフセットを、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号を個別に正規化することなく、適切に補正すること可能な、新規かつ改良された光ディスク装置、トラッキングエラー信号生成回路、トラッキングエラー信号の補正方法、プログラムを提供することにある。

上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、光ディスクに対して照射されたメインビームとサイドビームの反射光を受光する光検出部と、光検出部によって検出されたメインビームの反射光の受光量に基づいて、メインビームに関するプッシュプル信号（ＭＰＰ信号）とプルイン信号（ＭＰＩ信号）を生成し、光検出部によって検出されたサイドビームの反射光の受光量に基づいて、サイドビームに関するプッシュプル信号（ＳＰＰ信号）とプルイン信号（ＳＰＩ信号）を生成し、ＭＰＰ信号及び／又はＳＰＰ信号に基づいて、ディファレンシャルプッシュプル（ＤＰＰ）方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）と、ＭＰＰ信号及び／又はＳＰＰ信号のオフセット成分を含むセンターエラー信号（ＣＥ信号）とを生成し、ＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号のアナログ信号を出力するアナログ信号処理部と、アナログ信号処理部から出力されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号のアナログ信号をそれぞれデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部と、Ａ／Ｄ変換部によりデジタル信号に変換されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号を、所定の演算式に従って演算することで、光ディスクに対するメインビームの照射部分及び／又はサイドビームの照射部分の反射率変動により生じるオフセットを補正したＴＥ信号を生成するデジタル信号処理部と、デジタル信号処理部による補正後のＴＥ信号に基づいて、光ディスクに対するメインビームの照射位置をトラッキング制御するトラッキング制御部と、を備えることを特徴とする、光ディスク装置が提供される。

かかる構成により、デジタル信号処理部において、光ディスクに対するメインビームの照射部分及び／又はサイドビームの照射部分の反射率変動により生じたＴＥ信号のオフセットを、アナログ信号処理部において、ＭＰＰ信号及びＳＰＰ信号の個別の正規化を行うことなく、デジタル信号処理部において、ＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号、ＳＰＩ信号を演算することで補正できる。従って、この補正後のＴＥ信号を用いて、光ディスクに対するメインビームの照射位置を好適にトラック制御できる。

また、アナログ信号処理部では、ＭＰＩ信号を用いてＭＰＰ信号を正規化せず、かつ、ＳＰＩ信号を用いてＳＰＰ信号を正規化しないようにしてもよい。これにより、アナログ信号処理部にアナログ正規化回路を複数搭載しなくて済む。

また、ＤＰＰ方式のＴＥ信号が、ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れるタイプのＤＰＰ信号である場合、アナログ信号処理部は、信号レベルを合わせたＭＰＰ信号とＳＰＰ信号との和に基づいて、ＣＥ信号を生成するようにしてもよい。これにより、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号と信号レベルを合わせた上で両者の和をとってＣＥ信号を求め、このＣＥ信号を利用して上記タイプのＤＰＰ信号であるＴＥ信号を好適に補正できる。

また、ＤＰＰ方式のＴＥ信号が、ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れないタイプのＤＰＰ信号である場合、アナログ信号処理部は、ＳＰＰ信号に基づいて、ＣＥ信号を生成するようにしてもよい。これにより、ＳＰＰ信号に基づきＣＥ信号を求め、このＣＥ信号を利用して上記タイプのＤＰＰ信号であるＴＥ信号を好適に補正できる。

また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、光ディスクに対して照射されたメインビームの反射光の受光量に基づいて、メインビームに関するプッシュプル信号（ＭＰＰ信号）とプルイン信号（ＭＰＩ信号）を生成し、光ディスクに対して照射されたサイドビームの反射光の受光量に基づいて、サイドビームに関するプッシュプル信号（ＳＰＰ信号）とプルイン信号（ＳＰＩ信号）を生成し、ＭＰＰ信号及び／又はＳＰＰ信号に基づいて、ディファレンシャルプッシュプル（ＤＰＰ）方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）と、ＭＰＰ信号及び／又はＳＰＰ信号のオフセット成分を含むセンターエラー信号（ＣＥ信号）とを生成し、ＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号のアナログ信号を出力するアナログ信号処理部と、アナログ信号処理部から出力されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号のアナログ信号をそれぞれデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部と、Ａ／Ｄ変換部によりデジタル信号に変換されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号を、所定の演算式に従って演算することで、光ディスクに対するメインビームの照射部分及び／又はサイドビームの照射部分の反射率変動により生じるオフセットを補正したＴＥ信号を生成するデジタル信号処理部と、を備えることを特徴とする、トラッキングエラー信号生成回路が提供される。かかる構成により、上記光ディスク装置と同様の作用効果を奏する。

また、アナログ信号処理部では、ＭＰＩ信号を用いてＭＰＰ信号を正規化せず、かつ、ＳＰＩ信号を用いてＳＰＰ信号を正規化しないようにしてもよい。

また、ＤＰＰ方式のＴＥ信号が、ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れるタイプのＤＰＰ信号である場合、アナログ信号処理部は、信号レベルを合わせたＭＰＰ信号とＳＰＰ信号との和に基づいて、ＣＥ信号を生成するようにしてもよい。

また、ＤＰＰ方式のＴＥ信号が、ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れないタイプのＤＰＰ信号である場合、アナログ信号処理部は、ＳＰＰ信号に基づいて、ＣＥ信号を生成するようにしてもよい。

また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、アナログ信号処理部において、光ディスクに対して照射されたメインビームの反射光の受光量に基づいて、メインビームに関するプッシュプル信号（ＭＰＰ信号）とプルイン信号（ＭＰＩ信号）を生成し、光ディスクに対して照射されたサイドビームの反射光の受光量に基づいて、サイドビームに関するプッシュプル信号（ＳＰＰ信号）とプルイン信号（ＳＰＩ信号）を生成し、ＭＰＰ信号及び／又はＳＰＰ信号に基づいて、ディファレンシャルプッシュプル（ＤＰＰ）方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）と、ＭＰＰ信号及び／又はＳＰＰ信号のオフセット成分を含むセンターエラー信号（ＣＥ信号）とを生成し、ＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号のアナログ信号を出力するステップと、アナログ信号処理部から出力されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号のアナログ信号をそれぞれデジタル信号に変換するステップと、デジタル信号処理部において、デジタル信号に変換されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号を、所定の演算式に従って演算することで、光ディスクに対するメインビームの照射部分及び／又はサイドビームの照射部分の反射率変動により生じるオフセットを補正したＴＥ信号を生成するステップと、を含むことを特徴とする、トラッキングエラー信号の補正方法が提供される。かかる構成により、上記光ディスク装置と同様の作用効果を奏する。

また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、アナログ信号処理部において、光ディスクに対して照射されたメインビームの反射光の受光量に基づいて、メインビームに関するプッシュプル信号（ＭＰＰ信号）とプルイン信号（ＭＰＩ信号）を生成し、光ディスクに対して照射されたサイドビームの反射光の受光量に基づいて、サイドビームに関するプッシュプル信号（ＳＰＰ信号）とプルイン信号（ＳＰＩ信号）を生成し、ＭＰＰ信号及び／又はＳＰＰ信号に基づいて、ディファレンシャルプッシュプル（ＤＰＰ）方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）と、ＭＰＰ信号及び／又はＳＰＰ信号のオフセット成分を含むセンターエラー信号（ＣＥ信号）とを生成し、ＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号のアナログ信号を出力するステップと、アナログ信号処理部から出力されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号のアナログ信号をそれぞれデジタル信号に変換するステップと、デジタル信号処理部において、デジタル信号に変換されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号を、所定の演算式に従って演算することで、光ディスクに対するメインビームの照射部分及び／又はサイドビームの照射部分の反射率変動により生じるオフセットを補正したＴＥ信号を生成するステップと、をコンピュータに実行させるためのプログラムが提供される。かかる構成により、上記光ディスク装置と同様の作用効果を奏する。

以上説明したように本発明によれば、ＤＰＰ方式のトラッキングエラー信号において、メインビーム照射部分の反射率とサイドビーム照射部分の反射率が異なるために発生したオフセットを、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号を個別に正規化することなく、適切に補正することができる。

以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。

（第１の実施形態）
まず、本発明の第１の実施形態にかかる光ディスク装置１、トラッキングエラー信号生成回路としてのサーボ制御回路３０、トラッキングエラー信号の補正方法、プログラムについて説明する。

最初に、図１を参照して、本実施形態にかかる光ディスク装置１の全体構成について説明する。図１は、本実施形態にかかる光ディスク装置１の構成を示す説明図である。

図１に示すように、本実施形態にかかる光ディスク装置１は、外部のホスト機器（パーソナルコンピュータ、デジタルビデオカメラ等、図示せず。）からの指示に基づいて、光ディスク３に対してデータを記録及び／又は再生可能な装置である。光ディスク３は、データの読み書きに光を利用する記憶媒体であれば、例えば、ＣＤ（Compact Disk）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ブルーレイディスク（Blu-ray Disc）等の次世代ＤＶＤ等の相変化光ディスクや、ＭＯ（Magneto-Opticaldisk）等の光磁気ディスクなど、任意の光ディスクを利用できる。なお、光ディスク３は、例えば、再生専用型光ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ（CD Read Only Memory）、ＤＶＤーＲＯＭ等）、追記型光ディスク（ＣＤ−Ｒ（CD Recordable）、ＤＶＤ−Ｒ等）、或いは、書き換え型光ディスク（ＣＤ−ＲＷ（CD ReWritable）、ＤＶＤ−ＲＷ、ＣＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＭＯ等）のいずれであってもよい。

本実施形態にかかる光ディスク装置１は、概略的には、光学系の部品等からなり光ディスク３にレーザ光を照射して反射光を受光する光ピックアップ１０と、各種アクチュエータやモータ等からなり光ディスク３を回転駆動するディスク駆動部２０と、光ピックアップ１０及びディスク駆動部２０を制御するために各種信号処理を行うサーボ制御回路３０と、を主に備える。

光ピックアップ１０は、レーザ光を発射する発光素子の一例であるレーザダイオード（ＬＤ）１１０と、光ディスク３の記録面に対向配置され、入射されたレーザ光を集光して光ディスク３にスポット光を照射する対物レンズ１２０と、光ディスク３で反射されたレーザ光の反射光を受光して受光量を検出する光受光部１３０と、対物レンズ１２０を移動させる対物レンズ移動手段の一例である２軸アクチュエータ１４０と、光ピックアップ１０を光ディスク３の径方向に摺動させるスライドモータ１４２と、レーザダイオード１１０を駆動させるＬＤドライバ１４４と、を備える。

このうち、２軸アクチュエータ１４０は、対物レンズ１２０をトラッキング方向（光ディスク３の径方向）及びフォーカス方向（光ディスク３の記録面に対して垂直方向）に高速かつ高精度で移動させることができる。この２軸アクチュエータ１４０により対物レンズ１２０の位置をフォーカス方向及びトラッキング方向に微調整することで、光ディスク３に対するレーザ光の照射位置（レーザスポット）の位置制御（フォーカス制御、トラッキング制御）を行うことができる。これにより、回転時における光ディスク３の面振れ（光ディスク３と対物レンズ１２０の高さ方向へのずれ）に応じて、対物レンズ１２０の焦点位置を光ディスク３の記録面に正確に位置合わせできる。また、光ディスク３のトラック振れ（光ディスク３と対物レンズ１２０の径方向へのずれ、即ち、トラック変調成分）に応じて、レーザスポットの照射位置を目標トラックに正確に追従させることができる。

また、光検出部１３０は、例えば、複数のフォトディテクタ及びアンプ等を有する光電子集積回路（ＯＥＩＣ：Opto-Electronic Integrated Circuit）等で構成される。この光検出部１３０は、複数の受光素子（フォトディテクタ）を有しており、各受光素子における受光量を光電変換して得られる信号をサーボ制御回路３０に出力する。また、光検出部１３０からＲＦアンプ６４には、光ディスク３に記録された情報の再生結果を表す高周波信号が出力されて、ＲＦアンプ６４で増幅された後に、ホスト機器に再生信号として出力される。

ディスク駆動部２０は、光ディスク３を回転駆動するスピンドルモータ２２と、スピンドルモータ２２に接続されて光ディスク３を回転可能に支持するスピンドル２４と、スピンドル２４に設けられたディスククランプ２６とを有する。このディスク駆動部２０のスピンドルモータ２２は、サーボ制御回路３０に設けられた制御用マイクロコントローラ６０及びスピンドルドライバ６２によって制御されて、光ディスク３を所定スピードで回転駆動させる。

サーボ制御回路３０は、光検出部１３０から出力された検出信号を処理してサーボエラー信号等を生成するアナログ信号処理部４０と、アナログ信号処理部４０から入力されたサーボエラー信号（トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号等）を補正処理等するデジタル信号処理部５０と、サーボ制御回路３０全体の動作を制御する制御用マイクロコントローラ６０と、制御用マイクロコントローラ６０からの指示に基づいて、スピンドルモータ２２を駆動させるスピンドルドライバ６２と、デジタル信号処理部５０から入力されたトラッキングエラー信号に基づいて、２軸アクチュエータ１４０のトラッキングコイル（図示せず。）を駆動させるトラッキングドライバ７０（トラッキング制御部）と、デジタル信号処理部５０から入力されたトラッキングエラー信号に基づいて、２軸アクチュエータ１４０のフォーカシングコイル（図示せず。）を駆動させるフォーカスドライバ７２（フォーカス制御部）と、デジタル信号処理部５０から入力された制御信号に基づいてスライドモータ１４２を駆動させるスライドモータドライバ７４とを有する。本実施形態にかかる光ディスク装置１では、このサーボ制御回路３０におけるトラッキングエラー信号の生成及び補正処理に特徴を有するが、その詳細は後述する。

次に、図２を参照して、本実施形態にかかる光ピックアップ１０の光学系の具体例について詳述する。図２は、本実施形態にかかる光ピックアップ１０の光学系の構成例を示す模式図である。

図２に示すように、光ピックアップ１０は、発光素子であるレーザダイオード１１０から発射されたレーザ光を、コリメータレンズ１１１、アナモルフィックプリズム１１２、グレーティング１１３、ビームスプリッタ１１４、ビームエキスパンダ１１５、１／４波長板１１６を順次介して、対物レンズ１２０に入射させ、光ディスク３に照射させる。さらに、光ピックアップ１０は、光ディスク３で反射されたレーザ光を、対物レンズ１２０、１／４波長板１１６、ビームエキスパンダ１１５、ビームスプリッタ１１４、コリメータレンズ１２１、ホログラム板１２２、シリンドリカルレンズ１２３を順次介して、光受光部１３０で受光する。

レーザダイオード１１０から出射されたレーザ光は、コリメータレンズ１１１によって発散光から平行光に変換された後に、アナモルフィックプリズム１１２で楕円形から円形の断面形状に整形される。さらに、このレーザ光は、回折格子であるグレーティング１１３により、１つのメインビーム（主光束；０次光）と、複数（例えば、ノーマル３ビームＤＰＰの場合には２つ）のサイドビーム（副光束；±１次光）とに分光される。メインビームは、光ディスク３の記録面にデータを記録／再生するためのメインスポットを形成するレーザビームである。また、例えば２つのサイドビームは、互いに逆方向の極性を有する一定の収差を有し、光ディスク３の記録面上においてメインスポットに対して離隔した位置に一対のサイドスポットを形成するレーザビームである。

このグレーティング１１３から出射されたレーザ光（メインビームとサイドビーム）は、ビームスプリッタ１１４を通過して、ビームエキスパンダ１１５に入射される。また、ビームスプリッタ１１４は、当該レーザ光の一部を反射させて、この反射光をコリメータレンズ１１７を介してフロントモニタフォトディテクタ１１８に照射させる。このフロントモニタフォトディテクタ１１８は、入射されたレーザ光を光電変換して受光量を検出し、この検出信号をサーボ制御回路３０の制御用マイクロコントローラ６０に出力する。これに応じて、制御用マイクロコントローラ６０及びＬＤドライバ１４４は、レーザダイオード１１０から発射されるレーザ光の発射強度が一定となるようにフィードバック制御する。

ビームエキスパンダ１１５は、例えば、可動式の凹レンズ１１５ａと固定式の凸レンズ１１５ｂとから構成され、このレンズ１１５ａ、１１５ｂ間の距離を調整することによって、高ＮＡ（開口数）の２群対物レンズ１２０を使用した場合に顕著に現れる球面収差を補正する機能を有する。このビームエキスパンダ１１５から出射されたレーザ光は、図示しない立ち上げミラーを介して、１／４波長板１１６に入射される。この１／４波長板１１６は、入射されるレーザ光に位相差９０°を与えて、直線偏光を円偏光に変換して対物レンズ１２０に入射させ、また、光ディスク３で反射した円偏光のレーザ光を直線偏光に変換する。対物レンズ１２０は、２群対物レンズで構成され、例えばＮＡ０．８５であり、ビームエキスパンダ１１５を通過したレーザ光を集光して、光ディスク３上の記録面にレーザスポット（上記メインスポットとサイドスポット）を照射する。このメインスポット照射により、光ディスク３の記録層を相変化させることで、光ディスク３の記録トラックに対して各種データが記録、書換、又は再生される。この照射時には、メインスポットがトラックの中央に適切なスポット径で照射されるように、２軸アクチュエータ１４０を用いた対物レンズ１２０の位置制御、即ち、トラッキング制御及びフォーカシング制御が行われる。

なお、実際のＤＶＤ等の光ディスク３においては、データを記録する記録トラックは、「グルーブ」と呼ばれ、所定の振幅及び所定の周波数でうねり（ウォブル）を有する溝状に形成され、各グルーブ間には「ランド」と呼ばれる突出部が形成されている。本実施形態では、光ディスク３のグルーブにメインスポットが照射され、ランドにサイドスポットが照射されるようになっているが、本発明はかかる例に限定されるものではない。

さらに、上記のようにして光ディスク３に照射されたーザ光は、光ディスク３の記録トラックの記録情報によって光強度変調されて反射し、この反射したレーザ光は、上記対物レンズ１２０、１／４波長板１１６、ビームエキスパンダ１１５を通過し、ビームスプリッタ１１４で反射する。このビームスプリッタ１１４で反射したレーザ光は、コリメータレンズ１２１で収束光に変換された後に、ホログラム板１２２及びシリンドリカルレンズ１２３によって、フォーカスエラー信号をＳＳＤ法（スポットサイズ検出法）によって得るための光学的処理が施されるとともに、例えば２つのサイドビームとメインビームとに分光されて、光検出部１３０に入射される。光検出部１３０は、上記光ディスク３に対して照射されたメインビームとサイドビームの反射光をそれぞれ受光する複数の受光素子（例えばフォトディテクタ）を有する。

ここで、図３を参照して、本実施形態にかかる光検出部１３０の受光素子の構成例について説明する。図３は、本実施形態にかかる光検出部１３０の受光面を示す平面図である。

図３に示すように、光検出部１３０の受光面側には、レーザ光の反射光を検出するための例えば６つの受光素子１３１、１３２、１３３、１３４、１３５が設けられている。受光素子１３１、１３２は、受光素子１３５を挟んで左右に対向する位置関係にあり、受光素子１３３、１３４は、受光素子１３５を挟んで上下に対向する位置関係にある。各受光素子１３１、１３２、１３３、１３４、１３５の略中央部には、光ディスク３で反射したレーザ光の戻り光が照射されて、ビームスポットが形成される。

受光素子１３１、１３２は、フォーカスエラー信号（ＦＥ）を生成するための受光素子であり、その受光面が、上下方向に３つの受光領域ＡとＷとＢ（若しくはＤとＺとＣ）に３分割されている。また、受光素子１３３、１３４、１３５は、トラッキングエラー信号（ＴＥ）を生成するための受光素子であり、その受光面が、左右方向に２つの受光領域ＥとＦ（若しくはＧとＨ、若しくは、ＩとＪ）に２分割されている。このうち、受光素子１３３、１３４は、上記ホログラム板１２２によって分光された２つのサイドビームをそれぞれ受光し、受光素子１３５は、メインビームを受光するようになっている。

各受光素子１３１、１３２、１３３、１３４、１３５は、上記のように分割された各受光領域Ａ、Ｗ、Ｂ、Ｃ、Ｚ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊにおけるビームスポットの受光量を検出し、当該受光量を電気信号に変換したアナログ信号（以下、「検出信号」）をそれぞれ出力する。以下では、これら各受光領域Ａ、Ｗ、Ｂ、Ｃ、Ｚ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊから出力される検出信号を、それぞれＡ、Ｗ、Ｂ、Ｃ、Ｚ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊとして表記する。

また、このように光検出部１３０の受光素子１３５から出力される検出信号Ｉ、Ｊを、例えば次の式のように加算して、再生信号としてのＲＦ信号が生成される。また、サーボ制御回路３０は、このように光検出部１３０の各受光素子１３１、１３２、１３３、１３４、１３５から出力される検出信号Ａ、Ｗ、Ｂ、Ｃ、Ｚ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊに基づいて、例えば次の式（１）〜（３）のような所定の演算を行い、ＤＰＰ（Differential Push Pull）方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）や、ＳＳＤ方式のフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）などといったサーボエラー信号を生成する。

ＲＦ＝Ｉ＋Ｊ ・・・（１）
ＦＥ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｚ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｗ） ・・・（２）
ＴＥ＝ＭＰＰ−Ｋｔ＊（ＳＰＰ１＋ＳＰＰ２）
＝（Ｉ−Ｊ）−Ｋｔ＊｛（Ｅ−Ｆ）＋（Ｇ−Ｈ）｝ ・・・（３）

ここで、図４〜図６を参照して、トラッキングエラーの検出方式の１つである、一般的な３ビームＤＰＰ法の原理と、その問題点について説明する。

ＤＰＰ法は、プッシュプル信号（ＰＰ信号）を利用してトラッキングエラーの検出する手法である。図４（ａ）に示すように、光ディスク３に対して照射されるレーザスポット５が、複数のトラック（グルーブＧとランドＬ）を横切るようにして光ディスク３の径方向に移動する場合には、正弦波状のプッシュプル信号が検出される。このプッシュプル信号は、レーザスポット５とトラックとの位置関係を検出する信号であり、プッシュプル信号がゼロであれば、レーザスポット５がトラックの中心（グルーブＧまたはランドＬの中心）にあることになる。

このプッシュプル信号は、図４（ｂ）に示すように、上記光検出部１３０の受光素子１３５等において、光ディスク３で反射されたレーザ光の戻り光を受光して、２分割された受光領域ＩとＪの受光量の差を演算することで検出される（ＰＰ＝Ｉ−Ｇ）。詳細には、光ディスク３のランドＬ又はグルーブＧで反射・回折されたレーザ光は、グルーブＧの深さによる光路差により干渉し、レーザスポット５とランドＬ又はグルーブＧとの位置関係で、強度分布が変化する。つまり、受光素子１３５には、光ディスク３のランドＬ又はグルーブＧにおいて反射光した０次回折光６ａと１次回折光６ｂとが受光されるが、この０次回折光６ａと１次回折光６ｂとは、重なり合う部分で相互干渉するため、受光素子１３５での受光量が増減する。この結果、図４（ａ）に示したように、ＰＰ信号は、光ディスク３に対するレーザスポット５の照射位置に応じて増減する。

ところが、図５（ａ）、（ｂ）に示すように、対物レンズ１２０と光検出部１３０との位置ずれ（以下、「対物レンズシフト」）が生じると、受光素子１３５におけるレーザ光（０次回折光６ａと１次回折光６ｂ）の受光位置も上記対物レンズのシフト方向にずれるため、この結果、ＩとＪの差であるＰＰ信号にオフセットが生じてしまうという問題があった。このオフセットが生じると、レーザスポット５がトラックの中心に合っているときでも、ＰＰ信号の信号レベルがゼロにないため、このオフセットが生じたＰＰ信号をトラッキングエラー信号としても、トラッキング制御を正確に行うことができない。

そこで、ＤＰＰ法では、図６（ａ）に示すように、レーザ光を回折して、メインビームと例えば２つのサイドビームとに分光し、このメインビームのビームスポット５（以下、「メインスポット５」）と、例えば２つのサイドビームのビームスポット（以下、「サイドスポット７ａ、７ｂ」）とを、光ディスク３に対して照射する。このとき、メインスポット５は中央に位置し、両サイドスポット７ａ、７ｂは、メインスポット５を挟んで両側に位置するように照射される。そして、図６（ｂ）に示すように、メインビーム用の受光素子１３５でメインビームの反射光のビームスポット６を受光して、この受光素子１３５の検出信号Ｉ、Ｊから次の式に従い、メインプッシュプル信号（ＭＰＰ信号）と、メインプルイン信号（ＭＰＩ信号）を演算する。また、サイドビーム用の２つの受光素子１３３、１３４で、各サイドビームの反射光のビームスポット８ａ、８ｂをそれぞれ受光して、この受光素子１３３、１３４の検出信号Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈから次の式に従い、２つのサイドプッシュプル信号（ＳＰＰ１、ＳＰＰ２信号）と、２つのサイドプルイン信号（ＳＰＩ１、ＳＰＩ２信号）をそれぞれ演算する。

ＭＰＰ＝Ｉ−Ｊ
ＳＰＰ１＝Ｅ−Ｆ
ＳＰＰ２＝Ｇ−Ｈ
ＭＰＩ＝Ｉ＋Ｊ
ＳＰＩ１＝Ｅ＋Ｆ
ＳＰＩ２＝Ｇ＋Ｈ

ここで、ＭＰＰ信号は、メインビームの反射光を受光する受光素子１３５の２分割受光領域Ｉ、Ｊにおける受光量の差（Ｉ−Ｊ）を表す差信号である。また、ＭＰＩ信号は、メインビームの反射光を受光する受光素子１３５の２分割受光領域Ｉ、Ｊにおける受光量の和（Ｉ＋Ｊ）を表す和信号である。また、ＳＰＰ信号は、サイドビームの反射光を受光する受光素子１３３（若しくは１３４）の２分割受光領域Ｅ、Ｆ（若しくはＧ、Ｈ）における受光量の差（Ｅ−Ｆ（若しくはＧ−Ｈ））を表す差信号である。また、ＳＰＩ信号は、サイドビームの反射光を受光する受光素子１３３（若しくは１３４）の２分割受光領域Ｅ、Ｆ（若しくはＧ、Ｈ）における受光量の和（Ｅ＋Ｆ（若しくはＧ＋Ｈ））を表す差信号である。

そして、上記のように演算したＭＰＰ信号と、ＳＰＰ１信号及びＳＰＰ２信号とに基づいて、次の式（３）に従い、ＭＰＰ信号と、ＳＰＰ信号をＫｔ倍した値との差を演算することで、トラッキングエラー信号（ＴＥ信号）を生成する。
ＴＥ＝ＭＰＰ−Ｋｔ＊（ＳＰＰ１＋ＳＰＰ２） ・・・（３）

ここで、Ｋｔは、ＭＰＰ信号の信号レベルと、ＳＰＰ信号の信号レベルとが一致するように、レベル調整を行うための係数（バランスゲイン）である。上述したように、グレーティング１１３で分光されるメインビームとサイドビームは、強度が異なるので、光検出部１３０で検出されるメインビームとサイドビームの検出信号の信号レベルに差が生じる。そこで、オフセット補正を行うために、アナログ信号処理部４０のアンプ回路のゲイン（即ち、Ｋｔ値）を調整することで、両者の信号レベルが一致される。この係数Ｋｔは、例えば、光ディスク装置１のドライブ調整ラインの工程や、光ディスク３挿入時のスタートアップ処理において、初期設定される。

このようにして、ＤＰＰ方式のＴＥ信号を求めることにより、上述したオフセット（図５参照）を解消することができる。つまり、図６（ｃ）に示すように、対物レンズシフトが変化する場合において、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号とは、オフセットの極性は同極性であるのに対して、プッシュプルの極性は逆極性となっている。例えば、対物レンズシフトが大きくなると、ＭＰＰ信号及びＳＰＰ信号の双方ともオフセットが増加するが、ＭＰＰ信号及とＳＰＰ信号とのプッシュプル極性は反転している。

従って、かかる特性を有するＭＰＰ信号とＳＰＰ信号のＫｔ倍との差を求めることで、図６（ｄ）に示すように、両者のオフセットを相殺することができ、さらに、プッシュプル信号の信号レベルを２倍にしたてＴＥ信号を求めることができる。このようにしてＤＰＰ方式では、上記対物レンズシフトに伴うオフセットが除去されたＴＥ信号を生成できる。

ところが、上述したように、光ディスク３に対するメインビーム照射部分の反射率、及び／又は、光ディスク３に対するサイドビーム照射部分の反射率が変化してしまうと、ＭＰＰ信号と、Ｋｔ倍したＳＰＰ信号との間で相対的にレベル差が生じ、初期設定したＫｔの値が不適切なものとなる。例えば、初期設定時に「ＭＰＰ信号の信号レベル（メインビームの強度）：ＳＰＰ信号の信号レベル（サイドビームの強度）＝４：１」であったため、「Ｋｔ＝４」と設定したケースを想定すると、その後のデータ記録時にメインビーム照射部分の反射率が低下し、「ＭＰＰ信号の信号レベル：ＳＰＰ信号の信号レベル＝３：１」となると、実際には「Ｋｔ＝３」に変更する必要が生じる。しかし、それにもかかわらず、初期設定値である「Ｋｔ＝４」を使用し続けると、対物レンズシフトやラジアルスキューにより、ＤＰＰ方式のＴＥ信号に生じたオフセットが残存してしまい、好適にトラッキング制御できなくなってしまうという問題がある。

この問題に対処するため、従来では、上記式（３）に従いＴＥ信号を演算するアナログ演算処理部４０において、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号とを個別に正規してからＴＥ信号を演算する、即ち、ＴＥ信号のＡＧＣ（automatic gain control：自動化されたゲイン制御）を行っていた。具体的には、上記２つのＰＰ信号の個別の正規化は、例えば、次の式（４）のように、ＭＰＰをＭＰＩで、ＳＰＰをＳＰＩで除算することによって実現可能である。
ＴＥ＝（ＭＰＰ／ＭＰＩ）−Ｋｔ＊｛（ＳＰＰ１／ＳＰＩ１）＋（ＳＰＰ２／ＳＰＩ２）｝
＝（Ｉ−Ｊ）／（Ｉ＋Ｊ）−Ｋｔ＊｛（Ｅ−Ｆ）／（Ｅ＋Ｆ）＋（Ｇ−Ｈ）／（Ｇ＋Ｈ）｝
・・・（４）

しかし、このように式（４）を用いてＭＰＰ、ＳＰＰ信号を個別に正規化するという従来の構成では、アナログ正規化回路が複数必要になるため、回路規模、消費電力、コストが増大してしまうという問題があった。そこで、かかる問題を解決すべく、本実施形態では、ＳＰＰ信号にトラック変調成分（光ディスク３の目標トラックと対物レンズとのトラッキング位置ずれ）が現れる一般的なＤＰＰ方式のＴＥ信号に関し、アナログ信号処理部４０において上記式（４）のようにＭＰＰ信号及びＳＰＰ信号を個別に正規化することなく、デジタル信号処理部５０においてＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号、ＳＰＩ信号の４つの信号を用いて、メインビーム照射部分及びサイドビーム照射部分の反射率変動により生じるＴＥ信号の振幅変動・オフセット変動を補正するものである。以下に、この本実施形態にかかる特徴的構成について詳述する。

まず、図７〜図９を参照して、本実施形態にかかる光ディスク装置１におけるサーボ制御回路３０の構成について説明する。図７は、本実施形態にかかる光ディスク装置１におけるサーボ制御回路３０の全体構成を示すブロック図である。図８は、本実施形態にかかるアナログ信号処理部４０の構成を示す回路図である。図９は、本実施形態にかかるデジタル信号処理部５０の構成を示すブロック図である。なお、図７〜図９では、サーボ制御回路３０、アナログ信号処理部４０及びデジタル信号処理部５０において、主にトラッキングエラー信号の生成に関連する構成要素を抽出して示し、その他の部分は図示を省略してある。

図７に示すように、サーボ制御回路３０は、トラッキングエラー信号生成回路の一例であり、光ディスク３に対するレーザビームの照射位置をトラッキング制御するためのトラッキングエラー信号を生成するものである。このサーボ制御回路３０は、アナログ信号処理部４０と、ＴＥ信号のデジタル信号デジタル信号処理部５０と、Ｄ／Ａ変換部５８と、トラッキング制御部の一例であるトラッキングドライバ７０とを備えている。

アナログ信号処理部４０は、アナログフロント−エンドＩＣなどのアナログ回路で構成される。このアナログ信号処理部４０は、上記ＭＰＩ信号、ＭＰＰ信号、ＳＰＩ信号、ＳＰＰ信号、ＴＥ信号、ＣＥ信号等を演算するためのマトリックス回路やアンプ回路を備えている。

デジタル信号処理部５０は、例えばサーボＤＳＰ（Digital Signal Processor）で構成される。このデジタル信号処理部５０は、アナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部５２と、所定の演算式に従いオフセットキャンセル及び正規化演算を行うオフセットキャンセル・正規化演算部５４と、ＴＥ信号の位相補償を行う位相補償フィルタ５６と、を備える。

このような構成のサーボ制御回路３０の動作について説明する。上記光ピックアップ１０の光検出部１３０から出力された検出信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｗ、Ｚは、アナログ信号処理部４０に入力される。アナログ信号処理部４０は、この検出信号Ａ〜Ｉ、Ｗ、Ｚをマトリクス演算して、上記ＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号、ＳＰＩ信号のアナログ信号を生成する。

このＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号、ＳＰＩ信号のアナログ信号は、デジタル信号処理部５０のＡ／Ｄ変換部５２に入力されてデジタル信号に変換される。さらに、オフセットキャンセル・正規化演算部５４は、Ａ／Ｄ変換部５２によりデジタル信号に変換されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号及びＳＰＩ信号を、所定の演算式に従って、オフセットキャンセル・正規化演算する。これによって、ＴＥ信号は、上述した光ディスク３に対するメインビーム照射部分及び／又はサイドビーム照射部分の反射率変動により生じたオフセット成分が除去されるとともに、正規化される。このオフセットキャンセル及び正規化された補正後のＴＥ信号は、オフセットキャンセル・正規化演算部５４から位相補償フィルタ５６に出力される。

この補正及び正規化後のＴＥ信号は、位相補償フィルタ５６により位相補償された後に、Ｄ／Ａ変換部５８によりアナログ信号に変換されて、トラッキングドライバ７０に入力される。トラッキングドライバ７０は、上記補正後のＴＥ信号に基づいて、トラッキングアクチュエータ、例えば２軸アクチュエータ１４０の駆動を制御するための制御信号を生成して、２軸アクチュエータ１４０に出力する。これにより、２軸アクチュエータ１４０がトラッキング方向に駆動されて、レーザスポット５を光ディスク３のトラック中心に保持するトラッキングサーボが実現される。

ここで、図８を参照して本実施形態にかかるアナログ信号処理部４０のマトリックス構成例について詳述する。

図８に示すように、アナログ信号処理部４０には、上記光検出部１３０から検出信号Ｅ〜Ｊが入力される。そして、減算器４０２で検出信号ＩとＪとの差（Ｉ−Ｊ）を演算することで、ＭＰＰ信号が生成され、加算器４０４で検出信号ＩとＪとの和（Ｉ＋Ｊ）を演算することで、ＭＰＩ信号が生成される。

また、減算器４０６で検出信号ＥとＦとの差（Ｅ−Ｆ）を演算することで、ＳＰＰ１信号が生成され、加算器４０８で検出信号ＥとＦとの和（Ｅ＋Ｆ）を演算することで、ＳＰＩ１信号が生成される。また、減算器４１０で検出信号ＧとＨとの差（Ｇ−Ｈ）を演算することで、ＳＰＰ２信号が生成され、加算器４１２で検出信号ＧとＨとの和（Ｇ＋Ｈ）を演算することで、ＳＰＩ２信号が生成される。さらに、加算器４１４でＳＰＰ１信号とＳＰＰ２信号との和（Ｅ−Ｆ＋Ｇ−Ｈ）を演算することで、ＳＰＰ信号が生成され、加算器４１６でＳＰＩ１信号とＳＰＩ２信号との和（Ｅ＋Ｆ＋Ｇ＋Ｈ）を演算することで、ＳＰＩ信号が生成される。さらに、ＳＰＰ信号は、アンプ４１８で所定のゲイン（Ｋｔ）が乗算される。このＫｔ値は、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号との信号レベル（振幅）を合わせるためのバランスゲインである。このＫｔ値は、上述したように、光ディスク装置１のドライブライン調整、或いは、ディスク３挿入時のスタートアップ調整において、レーザダイオード１１０の発光量や、光ディスク３の反射率等に応じた適切な所定値に決定されるものである。

さらに、減算器４２０で、ＭＰＰ信号と上記Ｋｔ倍されたＳＰＰ信号との差を求めることで、ＤＰＰ方式のＴＥ信号（ＴＥ＝ＭＰＰ−Ｋｔ＊ＳＰＰ）が生成される。また、加算器４２２で、ＭＰＰ信号と上記Ｋｔ倍されたＳＰＰ信号との和を求めることで、センターエラー信号（ＣＥ信号、ＣＥ＝ＭＰＰ＋Ｋｔ＊ＳＰＰ）が生成される。このセンターエラー信号は、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号の信号レベルを合わせて和をとった信号であり、トラック変調成分（ＰＰ成分）が除去されて、オフセット成分を主に含むものである。

以上のようにして、アナログ信号処理部４０で、ＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号、ＳＰＩ信号のアナログ信号が生成され、デジタル信号処理部５０に出力される。このとき、ＭＰＰ信号をＭＰＩ信号で、ＳＰＰ信号をＳＰＩ信号で個別に正規化しないので、アナログ信号処理部４０にアナログ正規化回路を搭載する必要がない。これにより、アナログ信号処理部４０の回路規模、消費電力及びコストを低減することができる。

次に、図９を参照して、本実施形態にかかるデジタル信号処理部５０のオフセットキャンセル・正規化演算部５４の演算式について詳述する。

図９に示すように、オフセットキャンセル・正規化演算部５４は、一般的な３ビームＤＰＰ方式のＴＥ信号を、オフセットキャンセル及び正規化するものである。このオフセットキャンセル・正規化演算部５４は、上記Ａ／Ｄ変換部５２によりデジタル信号に変換されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号、ＳＰＩ信号を、次の演算式（５）に従って演算して、上記オフセットキャンセル及び正規化された補正後のＴＥ信号を求める。
補正後のＴＥ＝｛（ＭＰＩ＋Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ＴＥ−（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ＣＥ｝／（４＊ＭＰＩ＊Ｋｔ＊ＳＰＩ) ・・・（５）

なお、アナログ信号処理部４０から、ＳＰＩ信号の代わりに、Ｋｔ倍されたＳＰＩ信号を出力することにより、デジタル信号処理部５０における上記演算式（５）の演算処理を、次の演算式（６）のように簡略化できる。これによって、デジタル信号処理部５０は、Ｋｔの値を保有していなくても、上記補正後のＴＥを求める演算を実行可能となる。
補正後のＴＥ＝｛（ＭＰＩ＋ＳＰＩ）＊ＴＥ−（ＭＰＩ−ＳＰＩ）＊ＣＥ｝／（４＊ＭＰＩ＊ＳＰＩ) ・・・（６）

ここで、上記デジタル信号処理部５０のオフセットキャンセル・正規化演算部５４が用いる上記演算式（５）の導出方法について説明する。

基本的には、ＰＰ信号は、トラック変調成分とオフセット成分との和と考えることができる。トラック変調成分は、対物レンズ１２０から照射されたビームスポット５と、光ディスク３のトラックの中心との位置ずれの度合いを表す成分である。また、オフセット成分は、対物レンズシフトに伴う対物レンズ１２０と光検出部１３０の受光素子との位置ずれの度合いを表す成分である。そして、ＰＰ信号とＰＩ信号の振幅（信号レベル）は、それぞれ、光ディスク３に照射されるレーザ光の強度（レーザパワー）とレーザ照射部分の反射率の乗算で決定され、ＰＰ信号とＰＩ信号の振幅は比例すると考えられる。かかる基本的な考えを基に、以下に説明するように、ＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号、ＳＰＩ信号から、ＰＰ信号に含まれるトラック変調成分を求めるよう式変形を行う。

まず、以下のように変数を定義する。
ｆ ：正規化ＰＰ信号トラック変調成分（ＰＰ信号からオフセットを除去した成分）
ｇ ：正規化ＰＰ信号オフセット成分
ＭＰＩ ：メインビーム用の受光素子１３５（メインフォトディテクタ）の光量
ＳＰＩ ：サイドビーム用の受光素子１３３、１３４（サイドフォトディテクタ）の光量
Ｋｔ ：キャンセルゲイン
ＴＥ＿０：アナログ信号処理部４０が出力するＴＥ信号（ＡＧＣなし）
ＣＥ＿０：アナログ信号処理部４０が出力するＣＥ信号（ＡＧＣなし）

以上の定義を使うと、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号は、次式（７）、（８）で表される。
ＭＰＰ＝ＭＰＩ＊（ ｆ＋ｇ） ・・・（７）
ＳＰＰ＝ＳＰＩ＊（−ｆ＋ｇ） ・・・（８）

また、ＴＥ信号ＴＥ＿０、ＣＥ信号ＣＥ＿０は次式（９）、（１０）で表される。
ＴＥ＿０＝ＭＰＰ−Ｋｔ＊ＳＰＰ
＝ＭＰＩ＊（ｆ＋ｇ）−Ｋｔ＊ＳＰＩ＊（−ｆ＋ｇ）
＝（ＭＰＩ＋Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ｆ＋（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ｇ
・・・（９）
ＣＥ＿０＝ＭＰＰ＋Ｋｔ＊ＳＰＰ
＝ＭＰＩ＊（ｆ＋ｇ）＋Ｋｔ＊ＳＰＩ＊（−ｆ＋ｇ）
＝（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ｆ＋（ＭＰＩ＋Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ｇ
・・・（１０）

Ｋｔ＝ＭＰＩ／ＳＰＩの場合、（９）式の右辺第二項が０になり、オフセット成分のないＴＥ信号が得られることがわかる。ここでは、Ｋｔを任意の値とする。次いで、上記（９）及び（１０）式からオフセット成分ｇを消去するよう式変形を行う。

まず、（９）式の両辺に（ＭＰＩ＋Ｋｔ＊ＳＰＩ）を、（１０）式の両辺に（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）を乗ずる。これにより、次の式（１１）、（１２）が得られる。
（ＭＰＩ＋Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ＴＥ＿０＝（ＭＰＩ＋Ｋｔ＊ＳＰＩ）^２＊ｆ＋（ＭＰＩ^２−Ｋｔ^２＊ＳＰＩ^２）＊ｇ ・・・（１１）
（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ＣＥ＿０＝（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）^２＊ｆ＋（ＭＰＩ^２−Ｋｔ^２＊ＳＰＩ^２）＊ｇ ・・・（１２）

次いで、（１１）式から（１２）式を減じて、次の式（１３）を得る。
（ＭＰＩ＋Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ＴＥ＿０−（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ＣＥ＿０
＝｛（ＭＰＩ＋Ｋｔ＊ＳＰＩ）^２−（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）^２｝＊ｆ
＝４＊ＭＰＩ＊Ｋｔ＊ＳＰＩ＊ｆ ・・・（１３）

そして、この式（１３）から、正規化ＰＰ信号トラック変調成分ｆを求め、次の式（１４）が得られる。
ｆ＝｛（ＭＰＩ＋Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ＴＥ＿０−（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ＣＥ＿０｝／（４＊ＭＰＩ＊Ｋｔ＊ＳＰＩ） ・・・（１４）

このｆは、オフセットを補正し、正規化を行ったＴＥ信号（補正後のＴＥ信号）である。この式（１４）は、上記演算式（５）に相当する。

デジタル信号処理部５０のオフセットキャンセル・正規化演算部５４は、以上のように求められた演算式（５）に従って、オフセットキャンセル及び正規化演算を行い、アナログ信号処理部４０から入力されたＴＥ信号から、メインビーム照射部分とサイドビーム照射部分の反射率の変動に伴うオフセット成分を除去し、トラック変調成分のみを含むように補正して、正規化されたＴＥ信号を生成ことができる。トラッキングドライバ７０は、この補正後のＴＥ信号により、トラッキング制御を正確に実行して、ビームスポット５を光ディスク３のトラックに追従させることができる。

（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態にかかる光ディスク装置１、トラッキングエラー信号生成回路としてのサーボ制御回路３０、トラッキングエラー信号の補正方法、プログラムについて説明する。第２の実施形態は、上述した第１の実施形態にかかる一般的な３ビームＤＰＰ方式のＴＥ信号を用いる光ディスク装置１と比べて、サードビームを検出し得られる信号にトラック変調成分（プッシュプル成分）が現れないタイプのＤＰＰ方式のＴＥ信号を用いる点と、このＴＥ信号を生成するサーボ制御回路３０のアナログ信号処理部４０及びデジタル信号処理部５０の構成が相違するものであるが、その他の機能構成は、上記第１の実施形態の場合と実質的に同一であるので、その詳細説明は省略する（図１〜図７参照）。

第２の実施形態では、ＳＰＰ信号にトラック変調成分（プッシュプル成分）が現れないタイプのＤＰＰ方式により、トラッキングエラー信号を求めるものである。このＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れないタイプのＤＰＰ方式としては、例えば、光ディスク３に１つのメインスポットと４つのサイドスポットを照射する５ビームＤＰＰ方式や、光ディスク３に２つのサイドスポットの焦点をぼかして照射する３ビームＤＰＰ方式などがある。これらのＤＰＰ方式では、ＳＰＰ信号は、トラック変調成分が現れず、ＭＰＰ信号のオフセットに相当する成分のみを含む信号となる。この場合は、ＭＰＰ信号のオフセット成分の振幅と、ＳＰＰ信号の振幅とを一致させて、両者の差を求めることで、オフセットキャンセルを実現できる。

ここで、図１０を参照して、本発明の第２の実施形態にかかるアナログ信号処理部４０のマトリックス構成例について詳述する。図１０は、本実施形態にかかるアナログ信号処理部４０の構成を示す回路図である。

図１０に示すように、第２の実施形態にかかるアナログ信号処理部４０は、上述した第１の実施形態にかかるアナログ信号処理部４０と比べて、加算器４２２が設けられておらず、ＳＰＰ信号にＫｔ値を乗じたものをそのままＣＥ信号として出力する点以外は、第１の実施形態の場合と略同一である。この第２の実施形態では、ＳＰＰ信号には、トラック変調成分が含まれず、ＰＰ信号のオフセット成分のみが含まれているので、ＣＥ信号として、ＳＰＰ信号をそののまま用いることができる。

このようなアナログ信号処理部４０は、ＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号、ＳＰＩ信号のアナログ信号が生成して、デジタル信号処理部５０に出力する。このとき、第１の実施形態と同様に、ＭＰＰ信号をＭＰＩ信号で、ＳＰＰ信号をＳＰＩ信号で個別に正規化しないので、アナログ信号処理部４０にアナログ正規化回路を搭載する必要がない。これにより、アナログ信号処理部４０の回路規模、消費電力及びコストを低減することができる。

次に、図１１を参照して、本発明の第２の実施形態にかかるデジタル信号処理部５０のオフセットキャンセル・正規化演算部２５４の演算式について詳述する。図１１は、本実施形態にかかるデジタル信号処理部５０の構成を示すブロック図である。

第２の実施形態にかかるオフセットキャンセル・正規化演算部２５４は、ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れないタイプのＤＰＰ方式（５ビームＤＰＰ、サイドビームをぼかして照射する３ビームＤＰＰ）のＴＥ信号を、オフセットキャンセル及び正規化するものである。このオフセットキャンセル・正規化演算部２５４は、上記アナログ信号処理部４０から出力されＡ／Ｄ変換部５２でデジタル信号に変換されたＴＥ信号、ＣＥ信号、ＭＰＩ信号、ＳＰＩ信号を、次の演算式（１５）に従って演算して、上記オフセットキャンセル及び正規化された補正後のＴＥ信号を求める。
補正後のＴＥ＝｛（Ｋｔ＊ＳＰＩ＊ＴＥ）−（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ＣＥ｝／（Ｋｔ＊ＳＰＩ＊ＭＰＩ） ・・・（１５）

なお、第１の実施形態と同様に、アナログ信号処理部４０から、ＳＰＩ信号の代わりに、Ｋｔ倍されたＳＰＩ信号を出力することにより、デジタル信号処理部５０における上記演算式（１５）の演算処理を、次の演算式（１６）のように簡略化できる。これにより、デジタル信号処理部５０がＫｔの値を保有していなくても、上記補正後のＴＥを求める演算を実行可能となる。
補正後のＴＥ＝｛（ＳＰＩ＊ＴＥ）−（ＭＰＩ−ＳＰＩ）＊ＣＥ｝／（ＳＰＩ＊ＭＰＩ）
・・・（１６）

ここで、上記デジタル信号処理部５０のオフセットキャンセル・正規化演算部２５４が用いる上記演算式（１５）の導出方法について説明する。この式（１５）を導出するための基本的な考えと、各変数の定義は、上記第１の実施形態の場合と同様である。

まず、上述した変数の定義を使うと、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号は、次式（１７）、（１８）で表される。
ＭＰＰ＝ＭＰＩ＊（ｆ＋ｇ） ・・・（１７）
ＳＰＰ＝ＳＰＩ＊ｇ ・・・（１８）

また、ＴＥ信号ＴＥ＿０、ＣＥ信号ＣＥ＿０は次式（１９）、（２０）で表される。
ＴＥ＿０＝ＭＰＰ−Ｋｔ＊ＳＰＰ
＝ＭＰＩ＊（ｆ＋ｇ）−Ｋｔ＊ＳＰＩ＊ｇ
＝ＭＰＩ＊ｆ＋（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ｇ ・・・（１９）
ＣＥ＿０＝Ｋｔ＊ＳＰＰ
＝Ｋｔ＊ＳＰＩ＊ｇ ・・・（２０）

この式（１９）（２０）から、オフセット成分ｇを除去するように式変形して、トラック変調成分ｆを求める式（２１）が得られる。
ｆ＝（ＴＥ＿０／ＭＰＩ）−（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ｇ／ＭＰＩ
＝（ＴＥ＿０／ＭＰＩ）−（ＭＰＩ−Ｋｔ＊ＳＰＩ）＊ＣＥ＿０／（Ｋｔ＊ＳＰＩ＊ＭＰＩ)
・・・（２１）

このｆは、オフセットを補正し、正規化を行ったＴＥ信号（補正後のＴＥ信号）である。この式（２１）は、上記演算式（１５）に相当する。

このように、第２の実施形態に係るデジタル信号処理部５０のオフセットキャンセル・正規化演算部２５４は、以上のよう求められた演算式（１５）に従って、オフセットキャンセル及び正規化演算を行い、アナログ信号処理部４０から入力されたＴＥ信号から、メインビーム照射部分とサイドビーム照射部分の反射率の変動に伴うオフセット成分を除去し、トラック変調成分のみを含むように補正して、正規化されたＴＥ信号を生成ことができる。トラッキングドライバ７０は、この補正後のＴＥ信号により、トラッキング制御を正確に実行して、ビームスポット５を光ディスク３のトラックに追従させることができる。

（実施例）
次に、図１２〜図１５を参照して、対物レンズシフトによりＭＰＰ信号及びＳＰＰ信号にオフセットが発生した時のＭＰＰ信号、ＳＰＰ信号、ＴＥ信号、ＣＥ信号と、上記本発明の第１又は第２の実施形態にかかるオフセットキャンセル・正規化演算を行ったトラッキングエラー信号（補正後のＴＥ信号）を算出した具体例について説明する。なお、同図には、比較対象として、ＭＰＩ信号で正規化した従来のＴＥ信号（ＴＥ＿０／ＭＰＩ）についても示してある。なお、いずれの場合も、対物レンズシフト量（オフセット量）は１５０μｍであり、ＳＰＰとＭＰＰのバランスゲインであるＫｔ値は１．０とした。

まず、図１２及び図１３を参照して、本発明の第１の実施形態にかかる演算式（５）に従って、オフセットキャンセル及び正規化演算したＴＥ信号と、従来のＴＥ信号とを比較する。

図１２は、一般的な３ビームＤＰＰ方式（ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れる場合）において、メインビーム及びサイドビームの照射部分の反射率が変動せず、初期設定されたＫｔ値が適切な場合を示す。この場合、図１２に示すように、対物レンズシフト等によりＭＰＰ信号やＳＰＰ信号にオフセットが生じたとしても、Ｋｔ値が適切であるため、アナログ信号処理部４０から出力されるＴＥ＿０信号は、オフセットが適切にキャンセルされている。この場合には、ＭＰＩで正規化した従来のＴＥ信号と、第１の実施形態にかかるオフセットキャンセル・正規化演算を行ったＴＥ信号は、それぞれ適切にオフセットキャンセル及び正規化されている。

一方、図１３は、一般的な３ビームＤＰＰ方式において、サイドビームの照射部分の反射率が相対的に高くなったため（例えば２倍）、初期設定されたＫｔ値が適正値からずれた場合を示す。この場合には、図１３に示すように、対物レンズシフト等によりＭＰＰ信号やＳＰＰ信号にオフセットが生じると、Ｋｔ値が不適切であるため、アナログ信号処理部４０から出力されるＴＥ＿０信号のオフセットが好適にキャンセルされない。従って、ＭＰＩで正規化した従来のＴＥ信号には、オフセットが発生してしまい、また、正規化にも誤差が生じて望ましくない振幅変動が発生する（破線がＴＥ適正値、実線がＴＥ実際値を示す）。これに対し、第１の実施形態にかかるオフセットキャンセル・正規化演算を行ったＴＥ信号は、この場合にも、適切にオフセットキャンセル及び正規化されている。

次に、図１４及び図１５を参照して、本発明の第２の実施形態にかかる演算式（１５）に従って、オフセットキャンセル及び正規化演算したＴＥ信号と、従来のＴＥ信号とを比較する。

図１４は、ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れないＤＰＰ方式において、メインビーム及びサイドビームの照射部分の反射率が変動せず、初期設定されたＫｔ値が適切な場合を示す。この場合、図１４に示すように、対物レンズシフト等によりＭＰＰ信号やＳＰＰ信号にオフセットが生じたとしても、Ｋｔ値が適切であるため、アナログ信号処理部４０から出力されるＴＥ＿０信号は、オフセットが適切にキャンセルされている。この場合には、ＭＰＩで正規化した従来のＴＥ信号と、第２の実施形態にかかるオフセットキャンセル・正規化演算を行ったＴＥ信号は、それぞれ適切にオフセットキャンセル及び正規化されている。

一方、図１５は、ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れないＤＰＰ方式において、サイドビームの照射部分の反射率が相対的に高くなったため（例えば２倍）、初期設定されたＫｔ値が適正値からずれた場合を示す。この場合には、図１５に示すように、対物レンズシフト等によりＭＰＰ信号やＳＰＰ信号にオフセットが生じると、Ｋｔ値が不適切であるため、アナログ信号処理部４０から出力されるＴＥ＿０信号のオフセットが好適にキャンセルされない。従って、ＭＰＩで正規化した従来のＴＥ信号には、オフセットが発生してしまい、このオフセットは、上記図１３の一般的な３ビームＤＰＰ方式に比べて大きい。また、従来のＴＥ信号では、正規化にも誤差が生じ、望ましくない振幅変動が発生する（破線がＴＥ適正値、実線がＴＥ実際値を示す）。これに対し、第２の実施形態にかかるオフセットキャンセル・正規化演算を行ったＴＥ信号は、この場合にも、適切にオフセットキャンセル及び正規化されている。

以上、本発明の第１及び第２の実施形態にかかるオフセットキャンセル・正規化演算を行うＴＥ信号の補正方法、およびこれを行う光ディスク装置１のサーボ制御回路３０（トラッキングエラー信号生成回路）について詳述した。本実施形態によれば、ＤＰＰ信号において、光ディスク３の記録面に対するメインビーム照射部分の反射率と、サイドビーム照射部分の反射率とが異なるために発生したＴＥ信号のオフセットおよび振幅変動を、デジタル信号処理部５０により適切に補正して、オフセットキャンセル及び正規化された好適なＴＥ信号を生成できる。従って、当該補正されたＴＥ信号を用いて、トラッキング制御を適切に実行できるので、メインスポットを光ディスク３のトラックに正確に追従させることができる。

さらに、上記のＴＥ信号を補正するための演算処理は、アナログ信号処理部４０ではなく、デジタル信号処理部５０で実行されるので、従来のように、アナログ信号処理部４０で、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号をＭＰＩ信号とＳＰＩ信号を用いて個別に正規化する必要がない。よって、アナログ信号処理部４０のマトリックス回路に、アナログ正規化回路を複数設置しなくて済むので、アナログ信号処理部４０の回路規模、消費電力及びコストを低減できる。

また、アナログ信号処理部４０で、ＭＰＰ信号、ＭＰＩ信号、ＳＰＰ信号、ＳＰＩ信号に基づいて、ＴＥ信号とＣＥ信号を演算して、デジタル信号処理部５０に出力している。このように、本実施形態では、アナログ信号処理部４０からデジタル信号処理部５０に対して、トラック変調成分とオフセット成分の双方を含みうるＭＰＰ信号及びＳＰＰ信号（振幅が比較的大）を出力するのではなく、トラック変調成分を主に含むＴＥ信号（振幅が比較的小）と、オフセット成分を主に含むとＣＥ信号（振幅が比較的小）とを出力している。これにより、信号受け側のＡ／Ｄ変換部５２のレンジ幅が小さくて済むので、Ａ／Ｄ変換部５２の設計自由度を高めることができる。

以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例又は修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。

例えば、上記実施形態では、対物レンズ１２０をトラッキング方向及びフォーカス方向に移動させる駆動装置として、２軸アクチュエータ１４０を用いたが、本発明は、かかる例に限定されず、対物レンズ１２０をトラッキング方向に移動させるトラッキングアクチュエータと、対物レンズ１２０をフォーカス方向に移動させるフォーカシングアクチュエータとをそれぞれ設けてもよい。

また、上記実施形態では、デジタル信号処理部５０が、Ａ／Ｄ変換部５２を具備していたが、本発明は、かかる例に限定されず、例えば、Ａ／Ｄ変換部５２をデジタル信号処理部５０外に設けてもよく、また、Ｄ／Ａ変換部５８をデジタル信号処理部５０内に設けてもよい。

また、トラッキング制御回路の一例として構成されたサーボ制御回路３０に、上述したような各種処理を実行させるためのプログラムも、本発明の技術的範囲に含まれる。

本発明の第１の実施形態にかかる光ディスク装置の構成を示す説明図である。 同実施形態にかかる光ピックアップの光学系の構成例を示す模式図である。 同実施形態にかかる光検出部の受光面を示す平面図である。 同実施形態にかかるプッシュプル信号の生成原理を示す説明図である。 同実施形態にかかるプッシュプル信号のオフセット発生原理を示す説明図である。 同実施形態にかかるＤＰＰ信号の生成原理を示す説明図である。 同実施形態にかかる光ディスク装置におけるサーボ制御回路の全体構成を示すブロック図である。 同実施形態にかかるアナログ信号処理部の構成を示す回路図である。 同実施形態にかかるデジタル信号処理部の構成を示すブロック図である。 本発明の第２の実施形態にかかるアナログ信号処理部の構成を示す回路図である。 同実施形態にかかるデジタル信号処理部の構成を示すブロック図である。 本発明の第１の実施形態にかかる補正後のＴＥ信号と、従来の正規化されたＴＥ信号とを比較して示す説明図である。 同実施形態にかかる補正後のＴＥ信号と、従来の正規化されたＴＥ信号とを比較して示す説明図である。 本発明の第２の実施形態にかかる補正後のＴＥ信号と、従来の正規化されたＴＥ信号とを比較して示す説明図である。 同実施形態にかかる補正後のＴＥ信号と、従来の正規化されたＴＥ信号とを比較して示す説明図である。

符号の説明

１ 光ディスク装置
３ 光ディスク
５ メインスポット
７ａ、７ｂ サイドスポット
１０ 光ピックアップ
２０ ディスク駆動部
２２ スピンドルモータ
３０ サーボ制御回路
４０ アナログ信号処理部
５０ デジタル信号処理部
５２ Ａ／Ｄ変換部
５４、２５４ オフセットキャンセル・正規化演算部
５６ 位相補償フィルタ
５８ Ｄ／Ａ変換部
６０ 制御用マイクロコントローラ
６２ スピンドルドライバ
６４ ＲＦアンプ
７０ トラッキングドライバ
７２ フォーカスドライバ
７４ スライドモータドライバ
１１０ レーザダイオード
１２０ 対物レンズ
１３０ 光検出部
１３１、１３２、１３３、１３４、１３５ 受光素子
１４０ ２軸アクチュエータ
１４２ スライドモータ

Claims (10)

1. 光ディスクに対して照射されたメインビームとサイドビームの反射光を受光する光検出部と；
   前記光検出部によって検出された前記メインビームの反射光の受光量に基づいて、前記メインビームに関するプッシュプル信号（ＭＰＰ信号）とプルイン信号（ＭＰＩ信号）を生成し、前記光検出部によって検出された前記サイドビームの反射光の受光量に基づいて、前記サイドビームに関するプッシュプル信号（ＳＰＰ信号）とプルイン信号（ＳＰＩ信号）を生成し、前記ＭＰＰ信号及び／又は前記ＳＰＰ信号に基づいて、ディファレンシャルプッシュプル（ＤＰＰ）方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）と、前記ＭＰＰ信号及び／又は前記ＳＰＰ信号のオフセット成分を含むセンターエラー信号（ＣＥ信号）とを生成し、前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号のアナログ信号を出力するアナログ信号処理部と；
   前記アナログ信号処理部から出力された前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号のアナログ信号をそれぞれデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部と；
   前記Ａ／Ｄ変換部によりデジタル信号に変換された前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号を、所定の演算式に従って演算することで、前記光ディスクに対する前記メインビームの照射部分及び／又は前記サイドビームの照射部分の反射率変動により生じるオフセットを補正したＴＥ信号を生成するデジタル信号処理部と；
   前記デジタル信号処理部による補正後のＴＥ信号に基づいて、前記光ディスクに対する前記メインビームの照射位置をトラッキング制御するトラッキング制御部と；
   を備えることを特徴とする、光ディスク装置。
2. 前記アナログ信号処理部では、前記ＭＰＩ信号を用いて前記ＭＰＰ信号を正規化せず、かつ、前記ＳＰＩ信号を用いて前記ＳＰＰ信号を正規化しないことを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 前記ＤＰＰ方式のＴＥ信号が、前記ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れるタイプのＤＰＰ信号である場合、前記アナログ信号処理部は、信号レベルを合わせた前記ＭＰＰ信号と前記ＳＰＰ信号との和に基づいて、前記ＣＥ信号を生成することを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
4. 前記ＤＰＰ方式のＴＥ信号が、前記ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れないタイプのＤＰＰ信号である場合、前記アナログ信号処理部は、前記ＳＰＰ信号に基づいて、前記ＣＥ信号を生成することを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
5. 光ディスクに対して照射されたメインビームの反射光の受光量に基づいて、前記メインビームに関するプッシュプル信号（ＭＰＰ信号）とプルイン信号（ＭＰＩ信号）を生成し、前記光ディスクに対して照射されたサイドビームの反射光の受光量に基づいて、前記サイドビームに関するプッシュプル信号（ＳＰＰ信号）とプルイン信号（ＳＰＩ信号）を生成し、前記ＭＰＰ信号及び／又は前記ＳＰＰ信号に基づいて、ディファレンシャルプッシュプル（ＤＰＰ）方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）と、前記ＭＰＰ信号及び／又は前記ＳＰＰ信号のオフセット成分を含むセンターエラー信号（ＣＥ信号）とを生成し、前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号のアナログ信号を出力するアナログ信号処理部と；
   前記アナログ信号処理部から出力された前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号のアナログ信号をそれぞれデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部と；
   前記Ａ／Ｄ変換部によりデジタル信号に変換された前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号を、所定の演算式に従って演算することで、前記光ディスクに対する前記メインビームの照射部分及び／又は前記サイドビームの照射部分の反射率変動により生じるオフセットを補正したＴＥ信号を生成するデジタル信号処理部と；
   を備えることを特徴とする、トラッキングエラー信号生成回路。
6. 前記アナログ信号処理部では、前記ＭＰＩ信号を用いて前記ＭＰＰ信号を正規化せず、かつ、前記ＳＰＩ信号を用いて前記ＳＰＰ信号を正規化しないことを特徴とする、請求項５に記載のトラッキングエラー信号生成回路。
7. 前記ＤＰＰ方式のＴＥ信号が、前記ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れるタイプのＤＰＰ信号である場合、前記アナログ信号処理部は、信号レベルを合わせた前記ＭＰＰ信号と前記ＳＰＰ信号との和に基づいて、前記ＣＥ信号を生成することを特徴とする、請求項５に記載のトラッキングエラー信号生成回路。
8. 前記ＤＰＰ方式のＴＥ信号が、前記ＳＰＰ信号にトラック変調成分が現れないタイプのＤＰＰ信号である場合、前記アナログ信号処理部は、前記ＳＰＰ信号に基づいて、前記ＣＥ信号を生成することを特徴とする、請求項５に記載のトラッキングエラー信号生成回路。
9. アナログ信号処理部において、光ディスクに対して照射されたメインビームの反射光の受光量に基づいて、前記メインビームに関するプッシュプル信号（ＭＰＰ信号）とプルイン信号（ＭＰＩ信号）を生成し、前記光ディスクに対して照射されたサイドビームの反射光の受光量に基づいて、前記サイドビームに関するプッシュプル信号（ＳＰＰ信号）とプルイン信号（ＳＰＩ信号）を生成し、前記ＭＰＰ信号及び／又は前記ＳＰＰ信号に基づいて、ディファレンシャルプッシュプル（ＤＰＰ）方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）と、前記ＭＰＰ信号及び／又は前記ＳＰＰ信号のオフセット成分を含むセンターエラー信号（ＣＥ信号）とを生成し、前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号のアナログ信号を出力するステップと；
   前記アナログ信号処理部から出力された前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号のアナログ信号をそれぞれデジタル信号に変換するステップと；
   デジタル信号処理部において、前記デジタル信号に変換された前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号を、所定の演算式に従って演算することで、前記光ディスクに対する前記メインビームの照射部分及び／又は前記サイドビームの照射部分の反射率変動により生じるオフセットを補正したＴＥ信号を生成するステップと；
   を含むことを特徴とする、トラッキングエラー信号の補正方法。
10. アナログ信号処理部において、光ディスクに対して照射されたメインビームの反射光の受光量に基づいて、前記メインビームに関するプッシュプル信号（ＭＰＰ信号）とプルイン信号（ＭＰＩ信号）を生成し、前記光ディスクに対して照射されたサイドビームの反射光の受光量に基づいて、前記サイドビームに関するプッシュプル信号（ＳＰＰ信号）とプルイン信号（ＳＰＩ信号）を生成し、前記ＭＰＰ信号及び／又は前記ＳＰＰ信号に基づいて、ディファレンシャルプッシュプル（ＤＰＰ）方式のトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）と、前記ＭＰＰ信号及び／又は前記ＳＰＰ信号のオフセット成分を含むセンターエラー信号（ＣＥ信号）とを生成し、前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号のアナログ信号を出力するステップと；
    前記アナログ信号処理部から出力された前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号のアナログ信号をそれぞれデジタル信号に変換するステップと；
    デジタル信号処理部において、前記デジタル信号に変換された前記ＴＥ信号、前記ＣＥ信号、前記ＭＰＩ信号及び前記ＳＰＩ信号を、所定の演算式に従って演算することで、前記光ディスクに対する前記メインビームの照射部分及び／又は前記サイドビームの照射部分の反射率変動により生じるオフセットを補正したＴＥ信号を生成するステップと；
    をコンピュータに実行させるためのプログラム。
    

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