JP2008027296A - メモリ装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 データを格納するメモリの他にシンドロームコードを格納するメモリが必要であるため、コストが上昇し、かつ実装面積が増加してしまうという課題を解決する。
【解決手段】 SDRAMのように内部で複数のバンクに分割されているメモリを用い、このバンクの1つにシンドロームコードを格納し、他のバンクにデータを格納するようにした。メモリ素子の数を少なくすることができるので、コストダウンおよび実装面積の縮小を図ることができる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、ECC(Error Correcting Code)等のシンドロームコードを有するメモリ装置に関し、特に複数バンクに分割されたSDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory)に用いて好適なメモリ装置に関するものである。
データを記憶するメモリ装置では、データの信頼性を向上させるために、データとは別にECCなどのシンドロームコードを格納し、このシンドロームコードを用いてエラー検出および訂正を行っている。
このようなメモリ装置の構成を図5に示す。図5において、11はデータを格納するSDRAM、12はシンドロームコードを格納するSDRAMである。10はこのSDRAM11、12の読み出し、書き込みを制御するメモリコントローラ、13はエラー検出とエラー訂正を行うエラーチェック部である。メモリコントローラ10は同じタイミングでSDRAM11からデータを、SDRAM12からシンドロームコードを読み出し、エラーチェック部13はこの読み出したデータとシンドロームコードからエラーチェックと訂正を行う。
SDRAMは内部に有限ステートマシン(FSM)を有し、コマンドを書き込むことによりアクセス制御を行うメモリである。図6に、SDRAM11と12の読み出し、書き込みサイクルを示す。なお、CL(CASレーテンシ)を2、BL(バースト長)を4に設定してあるものとする。
図6(A)は読み出しサイクルであり、上からクロック波形、データを格納するSDRAM11に与えるコマンド、SDRAM11の出力データ、シンドロームコードを格納するSDRAM12に与えるコマンド、SDRAM12の出力データを表す。
ステートT0でSDRAM11と12にACTコマンドが書き込まれ、ステートT2でREADコマンドが書き込まれると、T2から2クロック後のT4から4ワードのデータQ1、Q2、Q3、Q4が連続して出力される。
図6(B)は書き込みサイクルであり、(A)と同様に上からクロック波形、データを格納するSDRAM11に与えるコマンド、SDRAM11の出力データ、シンドロームコードを格納するSDRAM12に与えるコマンド、SDRAM12の出力データを表す。
ステートT0でACTコマンドが入力され、T2でWRITEコマンドが入力されると共に、連続して書き込みデータD1、D2、D3、D4が入力される。SDRAM11、12は、この入力されたデータD1〜D4を所定の連続したアドレスに書き込む。このようなメモリ装置は、構成が簡単であり、かつSDRAM11の全域をデータ格納領域として使用することができるという利点がある。
回路規模を大きくすることなく大量のエラー情報を保持できるようにしたメモリ制御回路の構成を示したものとして、例えば特許文献1に記載されたものがあった。
実開平6−11043号公報
しかしながら、このようなメモリ装置はシンドロームコード格納用としてデータ格納用とは別のメモリが必要であるためにコストが上昇し、かつ実装面積も増加するという課題があった。また、メモリ素子の数が増加するので、メモリコントローラ10のピン数も増加してしまうという課題もあった。
従って本発明の目的は、データを格納するメモリとシンドロームコードを格納するメモリを共用することにより、低コストでかつ実装面積を少なくすることができ、メモリコントローラのピン数を削減することができるメモリ装置を提供することにある。
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
複数のバンクに分割され、これらのバンクの1つにシンドロームコードが格納され、他のバンクにデータが格納されるメモリと、
前記メモリの読み出し、書き込みを制御するメモリコントローラと、
入力されたデータからそのシンドロームコードを演算し、前記メモリから読み出されたデータとシンドロームコードからエラー訂正およびエラーチェックを行うエラーチェック部と、
を具備したものである。メモリ素子の数を少なくすることができる。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、
前記メモリとして、SDRAMを用いるようにしたものである。メモリ素子の数を少なくすることができる。
請求項3記載の発明は、請求項1記載の発明において、
前記メモリを、内部がバンクに分割されていない複数のメモリ素子で構成するようにしたものである。汎用のメモリ素子を用いることができる。
請求項4記載の発明は、請求項3記載の発明において、
前記メモリ素子として、DRAMまたはSRAMを用いるようにしたものである。汎用のメモリ素子を用いることができる。
請求項5記載の発明は、請求項1乃至請求項4いずれかに記載の発明において、
前記シンドロームコードとして、ECCを用いるようにしたものである。よく知られたエラーチェック、訂正方式を用いることができる。
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
請求項1,2、3、4および5の発明によれば、複数のバンクに分割されたメモリの1つのバンクにシンドロームコードを格納し、他のバンクにデータを格納するようにした。
1個のメモリにデータとこのデータに対応するシンドロームコードを格納することができるので、メモリ素子の数を少なくすることができる。そのため、コストダウンを図ることができ、また実装面積を縮小することができるという効果がある。さらに、メモリコントローラに接続されるメモリ素子の数が少なくなるので、メモリコントローラの制御信号用ピン数を少なくすることができるという効果もある。
さらに、複数のメモリ素子を用いて、各メモリ素子をバンクに見立てることにより、DRAMやSRAMのように、内部でバンク分割されていない汎用のメモリ素子を用いることができるという効果もある。
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図1は本発明に係るメモリ装置の一実施例を示す構成図である。図1において、20はSDRAMである。このSDRAM20はバンク20A、20B、20C、20Dの4つのバンクに分割されている。バンク20A〜20Cにはデータが、バンク20Dにはシンドロームコードが格納される。
21はメモリコントローラであり、所定のコマンドをSDRAM20に書き込むことにより、SDRAM20に格納されているデータを読み出し、またSDRAM20の指定されたバンクおよびアドレスにデータを書き込む。このメモリコントローラ21には、SDRAM20のアドレスが入力される。メモリコントローラ11は、マルチバスオペレーション機能を使用して、バンク20A〜20Dを独立に制御する。
22はエラーチェック部であり、ECC等を用いてSDRAMに格納されているデータのエラーチェックおよびエラー訂正を行い、またエラーチェックおよび訂正のためのシンドロームコードを演算する。エラーチェック部22には、SDRAM20に書き込むデータが入力され、エラー訂正した読み出しデータが出力される。
SDRAM20、メモリコントローラ21、エラーチェック部22はデータバス23で接続されている。また、メモリコントローラ21からSDRAM20にバンク選択信号24が出力される。
次に、図2を用いてこの実施例の動作を説明する。なお、図1と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。また、この実施例では4バイトのデータに対して7ビットのシンドロームコードを用いる。これにより、1ビットのデータ訂正と、2ビット以上のエラー検出を行うことができる。バンク20A、20B、20Cにはデータが、バンク20Dにはシンドロームコードが格納される。
バンク20A〜20Dは1ロングワード(4バイト)のデータ幅を有している。図2に示すように、バンク20A〜20Cに格納されるデータは、4ロングワード単位でバンク20Dに格納される1ロングワードのシンドロームコードに対応している。
すなわち、バンク20Aの最初の4ロングワードデータのシンドロームコードをバンク20Dの最初の1ロングワードに格納し、バンク20Bの最初の4ロングワードデータのシンドロームコードをバンク20Dの2番目の1ロングワードに格納する。また、バンク20Cの最初の4ロングワードデータのシンドロームコードを、バンク20Dの3番目の1ロングワードに格納する。バンク20Dの4番目の1ロングワード長の格納領域は使用しない。以下同様に、バンク20A〜20Cの4ロングワード毎に、そのシンドロームコードをバンク20Dの1ロングワードに格納する。
バンク20A〜20Cの4ロングワードのデータと、バンク20Dの1ロングワードシンドロームコードとは、下記のように対応させる。最初の1ロングワードのデータのシンドロームコードは最下位の1バイトに格納し、次の1ロングワードデータのシンドロームコードは次の1バイトに格納する。同様に、次の1ロングワードデータのシンドロームコードは次の1バイトに、最後の1ロングワードデータのシンドロームコードは最上位バイトに格納する。このようにすることによりデータとシンドロームコードとの対応関係を簡単にすることができる。
次に、図3を用いてSDRAM20のアクセス手順を説明する。なお、バンク20Aとバンク20Dがアクティブにされており、CASレイテンシCL=2、バースト長BL=4に設定されているものとする。図3(A)はSDRAM20に格納されたデータを読み出すときのシーケンス、(B)は書き込むときのシーケンスであり、それぞれ上からクロック、コマンド、入出力データを示す。
読み出すときは、バンク20Dの読み出しコマンドであるReadDと、バンク20Aの読み出しコマンドであるReadAをクロックに同期して連続して書き込む。コマンドReadA書き込みの次のクロックに同期してバンク20Dに格納されている1ロングワードデータQD1が出力され、次にバンク20Aに格納されている4ロングワードのデータQA1、QA2、QA3、QA4が連続して出力される。コマンドReadD、ReadAが連続して書き込まれるので、“コマンドによるデータ割り込み機能”が働いて、バンク20Dのデータは1ロングワードのみ出力される。
SDRAM20に書き込むときは、バンク20Dにデータを書き込むコマンドWriteDと、バンク20Aにデータを書き込むコマンドWriteAを連続して書き込み、コマンドWriteDの書き込み時から、バンク20Dに書き込むデータD1とバンク20Aに書き込むデータA1〜A4をクロックに同期して連続して、データバス23に出力する。データD1はバンク20Dに書き込まれ、データA1〜A4はこの順にバンク20Aに書き込まれる。
なお、このときもコマンドWriteDとWriteAが連続して書き込まれているので、“コマンドによるデータ割り込み機能”が働いて、バンク20DにはD1(1ロングワード長)のみ書き込まれる。
図4に本発明の他の実施例を示す。図4において、30A、30B、30C、30Dはそれぞれメモリ素子であるDRAM(Dynamic Random Access Memory)である。この4つのDRAMで4バンクのメモリを構成している。
31はメモリコントローラであり、アドレスが入力される。メモリコントローラ31はRASA、RASB、RASC、RASDを出力してDRAM30A〜30Dを選択し、選択したDRAMにデータを書き込み、また格納されているデータを読み出す。
32はエラーチェック部であり、書き込むデータが入力され、またエラー訂正したデータを出力する。すなわち、エラーチェック部32は、入力されたデータからシンドロームコードを計算し、このシンドロームコードと入力されたデータをデータバス33に出力する。また、データバス33上のシンドロームコードからエラー訂正を行い、訂正したデータを出力する。30A〜30DのDRAM、メモリコントローラ31、エラーチェック部32はデータバス33で接続される。
この実施例は4つのバンクを有するSDRAMの代わりに4個のDRAMを用いた実施例である。動作は図1実施例と同じなので、説明を省略する。
なお、図1実施例ではSDRAMを用いたが、複数バンクを有するメモリであれば、DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM)等、他のメモリを用いることもできる。また、図4実施例では、DDR DRAM(Double Data Rate DRAM)や、バーストSRAM(Static Random Access Memory)を用いることもできる。また、アクセス時間は長くなるが、通常のSRAMを用いることもできる。
また、データとシンドロームコードの格納場所あるいはデータとシンドロームコードの対応関係は、これらの実施例に限定されることはなく、任意に設定することができる。
本発明の一実施例を示す構成図である。 本発明の一実施例の動作を説明するための図である。 SDRAMのアクセス手順を示す特性図である。 本発明の他の実施例を示す構成図である。 従来のメモリ装置の構成図である。 SDRAMのアクセス手順を示す特性図である。
符号の説明
20 SDRAM
20A〜20D バンク
21、31 メモリコントローラ
22、32 エラーチェック部
23、33 データバス
24 バンク選択信号
30A〜30D DRAM

Claims (5)

  1. 複数のバンクに分割され、これらのバンクの1つにシンドロームコードが格納され、他のバンクにデータが格納されるメモリと、
    前記メモリの読み出し、書き込みを制御するメモリコントローラと、
    入力されたデータからそのシンドロームコードを演算し、前記メモリから読み出されたデータとシンドロームコードからエラー訂正およびエラーチェックを行うエラーチェック部と、
    を具備したことを特徴とするメモリ装置。
  2. 前記メモリはSDRAMであることを特徴とする請求項1記載のメモリ装置。
  3. 前記メモリは、内部がバンクに分割されていない複数のメモリ素子で構成されていることを特徴とする請求項1記載のメモリ装置。
  4. 前記メモリ素子は、DRAMまたはSRAMであることを特徴とする請求項3記載のメモリ装置。
  5. 前記シンドロームコードは、ECCであることを特徴とする請求項1乃至請求項4いずれかに記載のメモリ装置。
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