JP2008021657A - Micromanipulator - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To perform fine manipulations to a biological sample under electronic rays in vacuum of an electron microscope. <P>SOLUTION: The manipulator 10 capable of minute rotation, displacement, and opening action holding a minute sample is provided in a vacuum sample chamber 2 of an electron microscope. The manipulator 10 is a translation 3 degree-of freedom type. It is provided with a positioning adjustment mechanism 5 positioning the manipulator 10 to an optical axis, a needle point matching mechanism 12 operating a minute needle point of the manipulator in the sample chamber to be matched from outside monitoring with an electron microscope monitor, and a lead wire pulling hole 95 pulling out a lead wire for power supply and electric signal detection from the sample chamber outside with airtightness retained. The positioning adjustment mechanism, the operation part of the needle point matching mechanism and the lead wire pulling hole are intensively fitted on a flange 71, the flange is attached on an attaching hole 96 of a wall part of the sample chamber by airtight sealing. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、試料に対して微細な操作力を加えるマイクロマニピュレータを備えた電子顕微鏡に関する。   The present invention relates to an electron microscope including a micromanipulator that applies a fine operating force to a sample.

例えば、走査電子顕微鏡を用いて生物試料(微小試料)を観察する場合、針状の棒を微細操作してその操作力を加えることで、試料の表面を観察だけではなく、内部の組織を表面に引き出して観察をすることが行われている。電子顕微鏡における試料に対する今までの微細操作は、特公昭55−21981号公報に記載のように、試料を割ったり、切り裂くなどの操作であり、微小な試料(例えば細胞等)を掴んだり、移動させる機構を備えていなかった。一方、微小対象物を複数(例えば2本)の指の機能を有するいわゆる指片を微細操作してハンドリングする技術、いわゆるマイクロマニピュレーションは、マイクロエレクトロニクス、バイオテクノロジー、医療などの分野で、特に光学顕微鏡を使用して行われている。本発明者らは、先に特開平10−138177号において、微細作業では並進3自由度が主たる動作になるという特性を有効に利用して、簡単で高精度な位置決めを行い得る3自由度マイクロマニピュレータを提案している(但し、マイクロマニピュレータのリンク機構を構成する柔軟構造物をどのように製作して小型化するかと、その材質、および、駆動させる機構としてのアクチェータ配設の具体的提案はされていない)。さらに特開平8−132363号(特許番号第2560262号)等において、指の機能を果たす箸状(針状)の2本の指片(手先片)を備えたマイクロハンド機構(マニピュレータ)を提案している。そして、マニピュレータを駆動させる機構(アクチュエータ)は、12個配設することで提案されアクチュエータ自身が支柱としての役割をしている。この箸状の指片を備えたマイクロハンド機構は、光学顕微鏡下では数μm程度の微小物体を把持、持ち上げ、回転、移動、開放することを実現している。   For example, when observing a biological sample (micro sample) using a scanning electron microscope, by finely manipulating a needle-like bar and applying its manipulation force, not only the surface of the sample but also the internal tissue It is done to pull out and observe. As described in Japanese Examined Patent Publication No. Sho 55-21981, the conventional fine manipulation of a sample in an electron microscope is an operation such as splitting or tearing the sample, and grasping or moving a minute sample (such as a cell). It did not have a mechanism to make it. On the other hand, so-called micromanipulation, which is a micromanipulation technique for handling minute objects by micromanipulating so-called finger pieces having the function of a plurality of (for example, two) fingers, is especially used in the fields of microelectronics, biotechnology, medicine, etc. Has been done using. The inventors of the present invention previously disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-138177 effectively uses the characteristic that translational three degrees of freedom become the main operation in fine work, and can perform simple and highly accurate positioning. Manipulators have been proposed (however, how to make a flexible structure that constitutes the link mechanism of micromanipulators, miniaturization, the material, and the specific proposal of actuator arrangement as a driving mechanism It has not been). Furthermore, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-132363 (Patent No. 2560262), etc., a microhand mechanism (manipulator) having two chopstick-like (needle-like) finger pieces (hand pieces) that perform the finger function is proposed. ing. Then, twelve mechanisms (actuators) for driving the manipulator are proposed, and the actuator itself serves as a support. The microhand mechanism provided with the chopstick-shaped finger pieces realizes holding, lifting, rotating, moving, and releasing a minute object of about several μm under an optical microscope.

特公昭55−21981号公報Japanese Patent Publication No.55-21981 特開平10−138177号公報JP-A-10-138177 特開平8−132363号(特許番号第2560262号)JP-A-8-132363 (Patent No. 2560262)

従来行われていた光学顕微鏡に代わって、更に小さな微小試料(微小対象物)を電子顕微鏡で観察しながら、マイクロマニピュレータを操作できれば、試料をより緻細に観察したり、マイクロマシンの組立等の実現も可能になる。このような技術には、上記したような2本指機能を有するマニピュレータを用いることが望ましいが、電子線通路の限られたスペースである真空状態におかれた試料室内では、光学顕微鏡のように単純に大気圧環境の下で試料を観察しながら微細操作を行わせるだけの発想では、その実現を図ることができない。   If the micromanipulator can be operated while observing a smaller micro sample (micro object) with an electron microscope instead of the conventional optical microscope, the sample can be observed more precisely, and assembly of a micro machine can be realized. Is also possible. In such a technique, it is desirable to use a manipulator having a two-finger function as described above. However, in a sample chamber placed in a vacuum state, which is a limited space of an electron beam path, like an optical microscope. The idea of simply performing a fine manipulation while observing a sample under an atmospheric pressure environment cannot be realized.

例えば、2本指機能を有するマニピュレータを試料室内に導入する場合には、アクチュエータが電気駆動型である場合には、その電源や電気信号の引き出しリードをどのようにして試料外に引き出すかとか、その他にも、次のような、課題が残されている。
(1)一つは、電子線通路の限られたスペースである真空状態におかれた試料室内に導入するにはまず小型化しなければならない。
(2)二つめは、電気信号を引き出すリード線の数はできるだけ少なくしてワイヤハーネスの簡略化を図ると共に、リード線からのアウトガスによるコンタミネーションの要因、真空を低下させる要因を少なくしなければならない。
(3)三つめは、箸状の2本の指片の先端合わせが、長さ、間隔が合っていないと、大気中に取り出して再度、光学顕微鏡で位置合わせをやり直さなければならず面倒である。
(4)四つめは、電子顕微鏡は光学顕微鏡と違い高い倍率で観察するので指片先端に振動があるとそれが拡大され焦点が合わなくなる。
(5)五つめは、指片を駆動させる機構(例えばリンク)を電気的アクチュエータで作動させる場合、そのアクチュエータに電圧を掛けると電界が発生し、電界によって電子線に影響を与え正常な電子線像が得られない。
(6)六つめは、電子顕微鏡は光学顕微鏡と違い焦点深度が深く、箸状の2本の指片の先端を合わせようとしたとき数μmのZ軸(指片の先端合わせ方向)のずれがあっても、焦点が合ってしまうため、その位置ずれを認識できないことがある。このように指片同士の先端位置合わせが数μmずれていては、微小物体を掴むことができない。
本発明は以上の種々の課題を解決して、電子顕微鏡のような真空下、電子線照射の下でもマニピュレータを用いて支障なく、微小対象物を掴んだり、移動させたり、回転させたり、開放動作を行い、今まで以上の微小物の観察や組立等を可能にする電子顕微鏡を提供することにある。
For example, when a manipulator having a two-finger function is introduced into the sample chamber, if the actuator is electrically driven, how to draw out the power supply and electrical signal lead out of the sample, In addition, the following issues remain.
(1) First, in order to introduce into a sample chamber placed in a vacuum state, which is a limited space of an electron beam passage, it must first be miniaturized.
(2) The second is to simplify the wire harness by minimizing the number of lead wires from which electrical signals are drawn out, and to reduce the cause of contamination due to outgas from the lead wires and the factor of lowering the vacuum. Don't be.
(3) Third, if the tip and tip of the two chopstick-shaped finger pieces are not the same length and distance, they must be taken out into the atmosphere and re-aligned with an optical microscope. is there.
(4) Fourthly, since an electron microscope is observed at a high magnification unlike an optical microscope, if there is vibration at the tip of a finger, it will be magnified and become out of focus.
(5) Fifth, when a mechanism for driving a finger piece (for example, a link) is operated by an electric actuator, an electric field is generated when a voltage is applied to the actuator, and the electron beam is affected by the electric field. I can't get an image.
(6) Sixth, unlike an optical microscope, the electron microscope has a deep depth of focus. When trying to match the tips of two chopstick-shaped fingers, the Z axis (finger tip alignment direction) is several μm. Even if there is, there is a case that the position shift cannot be recognized because it is in focus. As described above, if the alignment of the tips of the finger pieces is shifted by several μm, the minute object cannot be grasped.
The present invention solves the various problems described above, and grips, moves, rotates, and opens a minute object without any trouble using a manipulator even under vacuum or electron beam irradiation like an electron microscope. An object of the present invention is to provide an electron microscope that operates and enables observation, assembly, and the like of minute objects than ever before.

本発明は、上記課題を解決するために、基本的には、次のように構成した。   In order to solve the above problems, the present invention is basically configured as follows.

一つは、電子顕微鏡において、真空の試料室内で複数の指片により微小試料を掴んで微小な回動、移動、開放動作が可能なマニピュレータと、前記指片に上記微小な動きをさせるための駆動機構と、前記駆動機構への電力供給用及び電気信号検出用のリード線を試料室の内から外へ気密性を保持して引き出す手段と、前記駆動機構を電気的に制御する制御手段と、試料室外からの操作により前記マニピュレータを光軸に対して位置合わせする位置調整機構と、試料台に載置された試料からの電子線情報による観察像を表示する表示手段を備え、前記複数の指片の一つ乃至複数を3自由度の動作が行えるようにしたことを特徴とする。   One is a manipulator capable of micro-rotation, movement, and release operations by gripping a micro-sample with a plurality of finger pieces in a vacuum sample chamber in an electron microscope, and for causing the finger pieces to perform the micro-movements. A drive mechanism; means for pulling out lead wires for supplying power to the drive mechanism and detecting electric signals from the inside of the sample chamber while maintaining airtightness; and control means for electrically controlling the drive mechanism A position adjusting mechanism for aligning the manipulator with respect to the optical axis by an operation from outside the sample chamber, and a display means for displaying an observation image based on electron beam information from the sample placed on the sample stage. One or more of the finger pieces can be operated with three degrees of freedom.

上記構成によれば、電子顕微鏡の真空下の試料室でのマイクロハンドリングを可能にするほかに、小型化、省配線化を実現して原価低減を図り得る。そのほかにも、上記課題解決のために、電子顕微鏡のマニピュレータにおける指片同士の先端合わせの作業効率の向上、対振動の改善、マニピュレータのアクチュエータから生じる電界をシールドするための手段を講じるものも、以下の発明の実施の形態で提案する。   According to the above configuration, in addition to enabling micro-handling in the sample chamber under vacuum of the electron microscope, it is possible to achieve cost reduction by realizing miniaturization and wiring saving. In addition to this, in order to solve the above problems, there are those that take measures to improve the work efficiency of fingertip alignment in the manipulator of the electron microscope, improve vibration resistance, and shield the electric field generated from the actuator of the manipulator, This is proposed in the following embodiments of the invention.

以上のように本発明によれば、電子顕微鏡のような真空下、電子線照射の下でもマニピュレータを用いて支障なく、微小対象物を掴んだり、移動させたり、回転させたり、開放動作を行い、今まで以上の微小物の観察や組立て等を可能にする。   As described above, according to the present invention, a manipulator can be used to hold, move, rotate, or open a micro object without any trouble even under vacuum or electron beam irradiation like an electron microscope. , Enables observation and assembly of minute objects more than ever.

以下、本発明の実施の形態を図面に示した実施例を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to examples shown in the drawings.

図1は、本発明の一実施例に係る電子顕微鏡透過電子顕微鏡であってもよい)の縦断面図で図2のC−C´矢視断面図である。図2は図1を矢印A方向からみた一部断面上面図、図3(a)はそれに用いる2本指マイクロハンド機構(マイクロマニピュレータ)10の構成を示す一部断面上面図、同(b)は図3(a)のB方向からみた図である。   FIG. 1 is a longitudinal sectional view of an electron microscope transmission electron microscope according to an embodiment of the present invention, and is a sectional view taken along the line CC ′ of FIG. 2 is a partial cross-sectional top view of FIG. 1 viewed from the direction of arrow A, FIG. 3A is a partial cross-sectional top view showing the configuration of a two-finger microhand mechanism (micromanipulator) 10 used therefor, and FIG. These are the figures seen from the B direction of Fig.3 (a).

図1において、対物レンズ1の下部にある試料室2は、その隔壁(壁体)2Aにより真空室になり得るように密室状に形成されている。隔壁2Aには、後述するマニピュレータ10を試料室外から光軸に対して位置合わせする位置調整機構5が気密性を保持するように取付けられている。   In FIG. 1, a sample chamber 2 below the objective lens 1 is formed in a closed chamber shape so that it can be a vacuum chamber by its partition wall (wall body) 2A. A position adjusting mechanism 5 for aligning a manipulator 10 (described later) with respect to the optical axis from the outside of the sample chamber is attached to the partition wall 2A so as to maintain airtightness.

位置調整機構5は、取付用フランジ71にシール部材42を介して取付けた外筒3と、その外筒3の内側に球面のすべり対偶70及びシール部材43を介して挿入された内筒6と、内筒6の内側にシール部材44を介して挿入した中空軸7と、中空軸7にシール部材45を介して挿入したマニピュレータ支持軸8を主な構成部材としている。   The position adjustment mechanism 5 includes an outer cylinder 3 attached to a mounting flange 71 via a seal member 42, and an inner cylinder 6 inserted inside the outer cylinder 3 via a spherical sliding pair 70 and a seal member 43. The hollow shaft 7 inserted into the inner cylinder 6 through the seal member 44 and the manipulator support shaft 8 inserted into the hollow shaft 7 through the seal member 45 are the main constituent members.

内筒6は、その一端に外筒3側の球形内面にすべり対偶70により係合する球形部4があり、このすべり対偶70は隔壁位置にあって、このすべり対偶位置を中心に内筒6がフリーな状態では自在な首振運動を行い得るようにしてある。   The inner cylinder 6 has, at one end thereof, a spherical portion 4 which is engaged with a spherical inner surface on the outer cylinder 3 side by a slip pair 70. The slip pair 70 is located at a partition wall position, and the inner cylinder 6 is centered on the slip pair position. In the free state, it is possible to perform free swinging motion.

外筒3の一端側(すべり対偶70と反対側の一端)には、マニピュレータ支持軸8をX軸とみた場合に、それと直交するZ軸及びY軸方向に前記内筒6の傾きを固定する傾き調整螺子46、及びその調整螺子を後退移動させたときに内筒6をその後退動作に追従移動させるための戻しばね47a付き押圧ピン47が設けられている。   The inclination of the inner cylinder 6 is fixed to one end side of the outer cylinder 3 (one end opposite to the sliding pair 70) in the Z-axis and Y-axis directions orthogonal to the manipulator support shaft 8 when viewed as the X-axis. An inclination adjusting screw 46 and a pressing pin 47 with a return spring 47a for moving the inner cylinder 6 following the retracting operation when the adjusting screw is moved backward are provided.

この調整螺子46及び押圧ピン47と上記すべり対偶機構により、内筒6ひいてはマニピュレータ10のチルト機構を構成する。   The adjusting screw 46 and the pressing pin 47 and the sliding pair mechanism constitute a tilt mechanism of the inner cylinder 6 and thus the manipulator 10.

中空軸7と支持軸8は、溝48及びピン49の係合により相対的に回り止めされている。   The hollow shaft 7 and the support shaft 8 are relatively prevented from rotating by the engagement of the groove 48 and the pin 49.

中空軸7は、内筒6の内側を通って試料室2の外部から内部へと貫通している。   The hollow shaft 7 passes through the inner cylinder 6 from the outside to the inside of the sample chamber 2.

支持軸8は、中空軸7の軸孔を貫通して、その先端部が試料室2内に導かれ、支持軸8先端にマニピュレータ(マイクロハンド機構)10が固着され、支持軸8後端に雌螺子付きのつまみ9が設けられ、このつまみ9の雌螺子に支持軸8後端に設けた雄螺子50が螺子嵌合して、つまみ9の操作により支持軸8の直線運動(進退動作)を可能にしている。   The support shaft 8 passes through the shaft hole of the hollow shaft 7, and its tip is guided into the sample chamber 2. A manipulator (microhand mechanism) 10 is fixed to the tip of the support shaft 8, and the support shaft 8 is attached to the rear end of the support shaft 8. A knob 9 with a female screw is provided, and a male screw 50 provided at the rear end of the support shaft 8 is screwed into the female screw of the knob 9, and the support shaft 8 is linearly moved (advanced and retracted) by operating the knob 9. Is possible.

ここで、2本指のマイクロハンド機構(マニピュレータ)を、図2〜図5及び図8,図9を用いて説明する。   Here, a two-finger microhand mechanism (manipulator) will be described with reference to FIGS. 2 to 5, 8, and 9.

図4(a)(b)は、第1の指片を動作させる3自由度モジュール11を見方を変えて示す立体図であり、そのリンク機構18は、回転対偶及び並進対偶を実現する柔軟構造物からなる。ここでは、リンク機構18,指片のホルダー16及びベース部材15を一体成形してなる。ホルダー16には、指先(ニードル)取付孔17が設けてある。図5(a)は、ベース部材15を断面してマニピュレータ11のベース部材15,リンク機構18,ピエゾ圧電素子34の関係、およびベース部材15と支持軸8の結合関係を示す図、図5(b)は、ベース部材15を反リンク機構側からみた概略説明図である。   4 (a) and 4 (b) are three-dimensional views showing the three-degree-of-freedom module 11 for operating the first finger piece in different ways, and the link mechanism 18 is a flexible structure that realizes a rotation pair and a translation pair. It consists of things. Here, the link mechanism 18, the finger piece holder 16, and the base member 15 are integrally formed. The holder 16 is provided with a fingertip (needle) mounting hole 17. 5A is a cross-sectional view of the base member 15 and shows the relationship between the base member 15, the link mechanism 18, and the piezoelectric element 34 of the manipulator 11, and the coupling relationship between the base member 15 and the support shaft 8. FIG. b) is a schematic explanatory view of the base member 15 as seen from the side opposite to the link mechanism.

本実施例におけるマニピュレータの基本原理は、先に提案した特開平10−138177号公報に記載されたものと同一であり、また、特開平8−132363号(特許番号第2560262号)と類似しているが、本実施例では、電子顕微鏡に搭載するために、種々の独自の構造的配慮がなされている。   The basic principle of the manipulator in this embodiment is the same as that described in the previously proposed Japanese Patent Laid-Open No. 10-138177, and is similar to Japanese Patent Laid-Open No. 8-132363 (Japanese Patent No. 2560262). However, in this embodiment, various unique structural considerations are made for mounting on an electron microscope.

本実施例におけるマニピュレータ10は、2本の針状指片13,14に箸の動きに似せた動作を与えるものであり、指片の駆動機構については、第1の指片13には、後述する3自由度モジュール11を用い、第2の指片14には、針先合わせ機構12を用いている。
第1の指片13は、3自由度モジュール11を介して支持軸8とほぼ一直線上になるように取り付けられ、さらに、第1の指片13と第2指片14とに微小な相対運動を生成せしめ、その開き角度がほぼ20°で最適な相対運動が得られるように配置されている。
The manipulator 10 in this embodiment gives the two needle-like finger pieces 13 and 14 an action resembling the movement of chopsticks, and the finger piece drive mechanism is described later in the first finger piece 13. The second finger piece 14 uses a needle tip alignment mechanism 12.
The first finger piece 13 is attached so as to be substantially in line with the support shaft 8 via the three-degree-of-freedom module 11, and further, a minute relative movement is caused between the first finger piece 13 and the second finger piece 14. Are arranged so that an optimal relative motion can be obtained with an opening angle of approximately 20 °.

3自由度モジュール11は、指片13を取り付けるホルダー(エンドエフェクタ)16と、このホルダー16を支持するベース部材15と、前記ホルダー16,ベース部材15の間を連結する回り対偶要素及び並進対偶要素を有する三つのリンク機構18と(図2,図3では、作図の視覚的角度よりリンク機構18が2本表わされているが、このリンク機構18は図4に示すように3本ある)、リンク機構18に駆動力を与えるピエゾ圧電素子34よりなる。   The three-degree-of-freedom module 11 includes a holder (end effector) 16 to which the finger piece 13 is attached, a base member 15 that supports the holder 16, and a rotary pair element and a translational pair element that connect between the holder 16 and the base member 15. (In FIG. 2 and FIG. 3, two link mechanisms 18 are represented by the visual angle of the drawing, but there are three link mechanisms 18 as shown in FIG. 4) The piezoelectric element 34 gives a driving force to the link mechanism 18.

リンク機構18は、120度間隔で配置される。   The link mechanisms 18 are arranged at intervals of 120 degrees.

ピエゾ素子34は、図4,図5に示すように筒形のベース部材15に保持されて一部がリンク機構18側に突出し、この突出先端部が並進対偶要素のうちベースに対向する面33(図5)に圧電力を加えるように接している。   The piezoelectric element 34 is held by a cylindrical base member 15 as shown in FIGS. 4 and 5, and a part of the piezoelectric element 34 protrudes toward the link mechanism 18, and the protruding tip portion of the translational pair element faces the base 33. (FIG. 5) is contacted so as to apply a piezoelectric power.

ここで、リンク機構18の、基本原理及び構成を図8,図9を参照して説明する。   Here, the basic principle and configuration of the link mechanism 18 will be described with reference to FIGS.

電子顕微鏡下の微細作業では、互いに直交する3軸方向の並進3自由度の動作が主要である。   In a fine work under an electron microscope, an operation with three degrees of translation in three axial directions orthogonal to each other is the main.

このような観点から考察すると、リンク要素として、図8に示すように、一対の対偶部材19の間を薄肉部(くびれ部)23で連結することにより回転対偶Rを実現する柔軟構造物や、同図(b)に示すように、一対の対偶部材20の両端部間を一対の連結杆部21によりそれぞれの薄肉部(くびれ部)22を介して連結して、並進対偶Pを実現する柔軟構造物(平行四辺形リンク)を利用するのが有利であり、それらを利用して3自由度の並進運動を実現する機構を構成するのが適切である。   Considering from this point of view, as a link element, as shown in FIG. 8, a flexible structure that realizes a rotational pair R by connecting a pair of pair members 19 with a thin portion (neck portion) 23, As shown in FIG. 2B, the flexible pair P is realized by connecting the opposite ends of the pair of pair members 20 via the thin-walled portions (constricted portions) 22 by the pair of connecting collars 21. It is advantageous to use structures (parallelogram links), and it is appropriate to construct a mechanism that realizes translational motion with three degrees of freedom using them.

本実施例では、上記の回転対偶R及び並進対偶Pを組み合わせてリンク機構18を構成するものであり、図9(a)はリンク機構18の上面図、同(b)はリンク機構18の正面図である。   In this embodiment, the link mechanism 18 is configured by combining the rotation pair R and the translation pair P, and FIG. 9A is a top view of the link mechanism 18 and FIG. 9B is a front view of the link mechanism 18. FIG.

図9に示すように、リンク機構18は、一対の対偶部材30の間を薄肉部32で連結することにより実現される二つの回転対偶Rと、一対の対偶部材30の両端部間を一対の連結杆部31でそれぞれ薄肉部32を介して連結することにより実現される二つの並進対偶Pとを備えた柔軟構造物により構成されている。   As shown in FIG. 9, the link mechanism 18 includes a pair of rotating pair R realized by connecting a pair of pair members 30 with a thin portion 32 and a pair of pair members 30 between both ends. It is comprised by the flexible structure provided with the two translational pairs P implement | achieved by connecting with the connection collar part 31 via the thin part 32, respectively.

マニピュレータの駆動源となるアクチュエータ34は、例えばピエゾ圧電素子が用いられる。圧電素子34は、リンク機構18の数に合わせて3個容易される。   For example, a piezoelectric element is used as the actuator 34 serving as a drive source for the manipulator. Three piezoelectric elements 34 are facilitated according to the number of link mechanisms 18.

筒形ベース部材15には、軸方向に向けてピエゾ圧電素子34を内挿するための孔84が図4及び図5(b)に示すように120度間隔で配置されている。また、孔84と合わせて圧電素子34のリード線引出し溝85が形成されている。圧電素子34は、上記孔84に内挿され、その一部が既述したようにベース部材15からリンク機構18側に突出して、前記1対の並進対偶Pの間に形成した受け面33により受け止められている。   Holes 84 for inserting the piezoelectric elements 34 in the axial direction are arranged at intervals of 120 degrees in the cylindrical base member 15 as shown in FIGS. 4 and 5B. Further, a lead wire drawing groove 85 of the piezoelectric element 34 is formed together with the hole 84. The piezoelectric element 34 is inserted into the hole 84, and a part of the piezoelectric element 34 protrudes from the base member 15 toward the link mechanism 18 as described above, and is formed by the receiving surface 33 formed between the pair of translational pairs P. It is accepted.

リンク機構18は、一対の並進対偶Pのうちベース寄り側のものを図4に示すようにその連結杆部31を平行配置してその間にピエゾ圧電素子34の一部が入るようにしてある。   The link mechanism 18 has a pair of translational pairs P closer to the base, as shown in FIG. 4, with the connecting collar 31 arranged in parallel so that a part of the piezoelectric element 34 is inserted therebetween.

3本の圧電素子34を伸縮させたり、その伸縮度合いを制御信号に応じて個別に変化させることにより、リンク機構18の接触部33を押して各対偶を駆動させることができるようになっている。   Each pair can be driven by pressing the contact portion 33 of the link mechanism 18 by extending or contracting the three piezoelectric elements 34 or individually changing the degree of expansion or contraction according to a control signal.

本実施例の3自由度モジュール11は、図9のRPRP機構を構成するリンク機構18の三つを、ベース部材15とホルダー16との間において、中心軸線の周りに120°の間隔で対称型に配置する。   In the three-degree-of-freedom module 11 of this embodiment, three link mechanisms 18 constituting the RPRP mechanism of FIG. 9 are symmetrically arranged between the base member 15 and the holder 16 at intervals of 120 ° around the central axis. To place.

3自由度モジュール11は光造形で製作(樹脂製)するか、ワイヤーカットで製作(金属製)するか、どちらかの方法で製作すると、従来に比べ大幅に小型化された柔軟構造物の製作が実現できる。   The three-degree-of-freedom module 11 can be manufactured by stereolithography (made of resin) or wire-cut (made of metal). Can be realized.

既述したように、3つのリンク機構18は、ベース部材15に一体化されており、このベース部材15は可撓性の板25と板形状のベースプレート24を挟んで、支持軸8先端にジョイント87を介して固着されている。ジョイント87は、タップ状のものであり、図5に示すようにベース部材15の一端面中央の螺子孔86に取り付けられ、支持軸8は、一端8´がジョイント87の取り付け孔87´に挿入されて止め螺子88の締付け力により固着されている。   As described above, the three link mechanisms 18 are integrated with the base member 15, and the base member 15 is joined to the tip of the support shaft 8 with the flexible plate 25 and the plate-shaped base plate 24 interposed therebetween. 87 is fixed. The joint 87 has a tap shape, and is attached to a screw hole 86 at the center of one end surface of the base member 15 as shown in FIG. 5, and one end 8 ′ of the support shaft 8 is inserted into the attachment hole 87 ′ of the joint 87. Then, it is fixed by the tightening force of the set screw 88.

可撓性の板25のうちベース15から出た部分は、図2,図3に示すように傾斜状に折り曲げられて斜板をなすものであり、この斜板によりばね板25´が形成されている。   The portion of the flexible plate 25 that protrudes from the base 15 is bent into an inclined shape as shown in FIGS. 2 and 3 to form a swash plate, and a spring plate 25 ′ is formed by this swash plate. ing.

この斜板25´には、雌螺子付きのスクリューガイド36が固定され、このガイド36の雌螺子に支持軸35に設けた雄螺子35Aが螺子嵌合して支持軸35の直線運動(進退動作)を可能にしている。支持軸35には、第2の針状指片14が図2,図3に示すように第1の針状指片13に対して斜めの角度(ほぼ0度)で取付けられている。
板ばね25´は、その背面に板ばねの傾き及び傾き方向を微調整する複数の調整螺子(実施例では2本)37,37´が押し当てられている。調整螺子37,37´は、図1,図3に示すように、ベースプレート24に上下2列の平行配置になるように取付られる。この調整螺子37,37´を、図2に示すように螺子回し部材72により進退調整可能にしてある。螺旋回し部材72は、フランジ71を介して気密を保ちながら試料室壁体2Aに通されている。この板ばね25´,調整螺子37,37´,螺子回し部材72が針先合わせ機構の構成要素をなしている。
A screw guide 36 with a female screw is fixed to the swash plate 25 ′, and a male screw 35 A provided on the support shaft 35 is screwed to the female screw of the guide 36 to linearly move the support shaft 35 (advance and retreat operation). ) Is possible. As shown in FIGS. 2 and 3, the second acicular finger piece 14 is attached to the support shaft 35 at an oblique angle (approximately 0 degree) with respect to the first acicular finger piece 13.
A plurality of adjustment screws (two in the embodiment) 37 and 37 ′ for finely adjusting the inclination and inclination direction of the leaf spring are pressed against the back surface of the leaf spring 25 ′. As shown in FIGS. 1 and 3, the adjusting screws 37 and 37 ′ are attached to the base plate 24 so as to be arranged in two rows in parallel. The adjusting screws 37 and 37 'can be advanced and retracted by a screw turning member 72 as shown in FIG. The spiral turning member 72 is passed through the sample chamber wall 2 </ b> A through the flange 71 while maintaining airtightness. The leaf spring 25 ', the adjusting screws 37, 37', and the screw turning member 72 constitute components of the needle tip alignment mechanism.

すなわち、調整螺子37,37´を進退調整することで、第2の指片14の先端に全方向の微細な動きが与えられるようになっている。   That is, fine adjustments in all directions are given to the tip of the second finger piece 14 by adjusting the advancement and retraction of the adjusting screws 37 and 37 ′.

上記した並進3自由度モジュール11と上記した針先合わせ機構12により、第1の指片13と第2の指片14のそれぞれの先端間に箸の動きに似せた微小な相対運動を生じさせるものである。   The translational three-degree-of-freedom module 11 described above and the needle tip alignment mechanism 12 cause a minute relative movement that resembles the movement of chopsticks between the tips of the first finger piece 13 and the second finger piece 14. Is.

針先合わせ機構12のうち、上記したスクリューガイド36及び支持軸35の螺子部35Aが、マニピュレータ10を試料室外に出した状態でその指片13,14同士を粗動の針先き合わせ操作する機構(第1の針先合わせ機構)をなし、板ばね25´、調整ねじ37,37´,螺子回し部材72が、マニピュレータ10を試料室2内に入れた状態の時にその指片13,14同士を試料室外から微細に針先合わせ操作する機構(第2の針先合わせ機構)をなしている。   Of the needle tip alignment mechanism 12, the screw guide 36 and the screw portion 35A of the support shaft 35 perform a coarse needle point alignment operation between the finger pieces 13 and 14 in a state where the manipulator 10 is brought out of the sample chamber. When the plate spring 25 ′, the adjusting screws 37, 37 ′, and the screw turning member 72 are in a state where the manipulator 10 is placed in the sample chamber 2, the finger pieces 13, 14 are formed. A mechanism (second needle point alignment mechanism) for finely aligning the needle points from outside the sample chamber is formed.

指片13,14の材質は、金属(タングステン)で、その先端はエッチング加工により極細形状になっている。第1の指片13と第2の指片14の材質は表面を導電処理して先端を極細形状としたガラス針でもよい。導電処理することにより、指片13,14をアース処理することが可能になり、それにより指片13,14に電子線が帯電するのを防止できる。   The material of the finger pieces 13 and 14 is metal (tungsten), and the tips thereof are formed into an ultrafine shape by etching. The material of the first finger piece 13 and the second finger piece 14 may be a glass needle whose surface is subjected to a conductive treatment and whose tip is extremely fine. By conducting the conductive treatment, the finger pieces 13 and 14 can be grounded, thereby preventing the finger pieces 13 and 14 from being charged with an electron beam.

ベース部材15に設ける3個のアクチュエータ34としては、例えば、積層型のピエゾ圧電素子などを用いることができる。この場合ピエゾ圧電素子に電圧を掛けると電界が発生し電子線に悪い影響を与えるが、ピエゾ圧電素子34をベース部材15でカバーされ、ベース部材15をアースすることで電磁シールドが施されている。   As the three actuators 34 provided on the base member 15, for example, stacked piezoelectric elements can be used. In this case, when a voltage is applied to the piezoelectric element, an electric field is generated and the electron beam is adversely affected. However, the piezoelectric element 34 is covered with the base member 15 and the base member 15 is grounded to provide an electromagnetic shield. .

符号の26は、アクチュエータ34に電圧を供給するリード線や試料の検出信号を導くリード線などを示すものであり、ハーメチック端子27を介して試料壁2Aを通して外部に導き出される。リード線引出し孔95は、フランジ71に設けられ、ガラスなどのシール部材94によりリード線引出し孔95が塞がれている。   Reference numeral 26 denotes a lead wire for supplying a voltage to the actuator 34, a lead wire for guiding a detection signal of the sample, and the like, and is led out through the sample wall 2A via the hermetic terminal 27. The lead wire drawing hole 95 is provided in the flange 71, and the lead wire drawing hole 95 is closed by a sealing member 94 such as glass.

マニピュレータの位置調整機構5と、針先合わせ機構の操作部72と、気密封止されたリード線引出し孔95とが、一つのフランジ71に集約的に配設され、このフランジ71が試料室の壁体2Aの取付孔96に気密封止により取り付けられている。   The manipulator position adjustment mechanism 5, the needle tip alignment mechanism operation section 72, and the airtightly sealed lead wire lead-out hole 95 are collectively arranged in one flange 71, and this flange 71 is provided in the sample chamber. It is attached to the attachment hole 96 of the wall body 2A by hermetic sealing.

アクチュエータ34として用いるピエゾ圧電素子は、応答が速く、微小変位と高出力が得られるものの、ヒステリシスが非常に大きく、駆動電圧のみによるオープンループ制御では、正確な位置決めを行うことが困難であるため、変位量を測定してフィードバック制御することが望ましく、この場合には、特に、コンパクトな変位測定手段とサーボ駆動系が要求される。   The piezoelectric element used as the actuator 34 has a quick response and a small displacement and a high output. However, the hysteresis is very large, and it is difficult to perform accurate positioning by open loop control using only the driving voltage. It is desirable to measure the amount of displacement and perform feedback control. In this case, in particular, a compact displacement measuring means and a servo drive system are required.

このような変位測定手段としては、アクチュエータ34の伸縮方向に歪みゲージを直接貼り付けて(図示は省略してある)、それら圧電素子のサーボ系としては、符号60に示すように計算機を用いたソフトウエアサーボや演算増幅器を用いたアナログサーボ等を採用することができる。サーボ系制御回路60の指令信号は、図示されないリード線及び既述したハーメチックシール端子27を介してアクチュエータ(圧電素子)34に送られる。   As such a displacement measuring means, a strain gauge was directly attached in the direction of expansion and contraction of the actuator 34 (not shown), and a servo system for these piezoelectric elements was used as indicated by reference numeral 60. A software servo, an analog servo using an operational amplifier, or the like can be employed. The command signal of the servo system control circuit 60 is sent to the actuator (piezoelectric element) 34 via a lead wire (not shown) and the hermetic seal terminal 27 described above.

試料室の光軸の位置には試料台29が設置されており、試料台29には試料28が載置されている。本実施例ではマニピュレータ10が水平に試料台29が斜めに配置されているが、これとは逆に試料台が水平状態でマニピュレータ10が斜めになるように配置してもよい。   A sample stage 29 is installed at the position of the optical axis of the sample chamber, and a sample 28 is placed on the sample stage 29. In the present embodiment, the manipulator 10 is horizontally arranged and the sample stage 29 is arranged obliquely, but conversely, the manipulator 10 may be arranged obliquely while the sample stage is horizontal.

次に、このマニピュレータ(2本指マイクロハンド機構)10における制御動作を説明する。   Next, the control operation in the manipulator (two-finger microhand mechanism) 10 will be described.

まず、試料室外にてマニピュレータ10の2本指である第1の指片13と第2の指片14との先端針先を目視で合わせた後、光学顕微鏡で確認して先端の長さをほぼ一致させ、間隔が50μm程度になるように合わせる。   First, after the tip tips of the first finger piece 13 and the second finger piece 14 which are the two fingers of the manipulator 10 are visually matched outside the sample chamber, the length of the tip is confirmed by checking with an optical microscope. Match them so that the distance is approximately 50 μm.

その後、マニピュレータ10を走査電子顕微鏡の試料室2に挿入し所定の手順を経て電子顕微鏡のモニタ像をモニタ手段(表示手段)を介して映し出し、そのあと、ねじ回し機構72により、調整ねじ37,37´により第1の指片13と第2の指片14との先端同士の針先を合わせる。像を観察しながら、針先合わせを試料室外(真空外)から調整して先端同士の長さを完全に一致させ、さらに、先端を接触させZ軸方向のずれをなくしてから間隔を5μm程度(試料の大きさにあわせ所望の間隔にする)にする。   Thereafter, the manipulator 10 is inserted into the sample chamber 2 of the scanning electron microscope, and a monitor image of the electron microscope is projected through a monitor means (display means) through a predetermined procedure. Thereafter, the adjustment screw 37, The needle tips at the tips of the first finger piece 13 and the second finger piece 14 are aligned by 37 ′. While observing the image, adjust the tip alignment from the outside of the sample chamber (outside of the vacuum) to make the lengths of the tips perfectly match. (Set to a desired interval according to the size of the sample).

走査電子顕微鏡の試料微動装置によって所望の視野を選び、生物試料の場合次のような微細操作を行う。   A desired field of view is selected by a sample fine movement device of a scanning electron microscope, and the following fine operation is performed for a biological sample.

支持軸8のつまみ9とチルト機構5により試料28のどの部分に微細操作を行うか、おおよその位置を決める。   The approximate position of which part of the sample 28 is to be finely operated is determined by the knob 9 and the tilt mechanism 5 of the support shaft 8.

所定の対象物23をハンドリングする場合は、上述したように第1の指片13と第2の指片14との先端針先を合わせを行い、指片13,14を上記対象物に対して位置決めした後、アクチュエータ34による三つのリンク機構18を制御し、指片13と指片14とに微小な相対運動を生成させる。   When the predetermined object 23 is handled, the tip needle tips of the first finger piece 13 and the second finger piece 14 are aligned as described above, and the finger pieces 13 and 14 are moved with respect to the object. After the positioning, the three link mechanisms 18 by the actuator 34 are controlled to cause the finger piece 13 and the finger piece 14 to generate a minute relative motion.

即ち、まず、三つのアクチュエータ34を駆動してリンク機構18の接触部33を押し、ホルダ16を所定量可動させ、指片13と指片14とを対象物に対して把持操作等の微細操作をするが、この微細操作は、歪みゲージから各アクチュエータ34の変位量を検出し、この変位量からサーボ制御回路60が指片13の現位置を算出し、これをフィードバックして所定の位置決め指令値と比較し、その偏差量がなくなるまでアクチュエータ34をサーボ駆動することにより行う。そして、位置決めされた第1の指片13に対し、三つのアクチュエータ34を駆動してリンク機構18を所定量だけ伸縮させ、指片13および指片14とに微小な相対運動を生成させる。   That is, first, the three actuators 34 are driven to push the contact portion 33 of the link mechanism 18 to move the holder 16 by a predetermined amount, and fine operations such as a gripping operation of the finger pieces 13 and 14 with respect to the object. However, in this fine operation, the displacement amount of each actuator 34 is detected from the strain gauge, and the servo control circuit 60 calculates the current position of the finger 13 from this displacement amount, and feeds back this to the predetermined positioning command. Compared with the value, the actuator 34 is servo-driven until the deviation amount disappears. Then, the three actuators 34 are driven with respect to the positioned first finger piece 13 to expand and contract the link mechanism 18 by a predetermined amount, thereby causing the finger piece 13 and the finger piece 14 to generate minute relative motion.

このようにリンク機構18は広い動作領域内で微小な相対運動を生成して、容易に対象物をハンドリングすることができる。なお、上述した2本指マイクロハンド機構は、真空中、電子線下で数μm程度の微小物体(例えば細胞等)を対象とし2本指でそれぞれ掴んで、並進、回転移動による位置決め、把持、押付け、切断、引き伸ばし、圧搾、穴明け、かき混ぜ、はね飛ばし等を行うために有効なものである。   In this way, the link mechanism 18 can generate a minute relative motion within a wide operation region and can easily handle an object. The above-mentioned two-finger microhand mechanism is intended to hold a minute object (for example, a cell, etc.) of about several μm in a vacuum and under an electron beam with two fingers, respectively, and position, grasp, It is effective for pressing, cutting, stretching, squeezing, drilling, stirring, splashing and the like.

なお、ピエゾ圧電素子34から発生する電界の影響を取り除く方法として、3自由度モジュールを光造形で製作(樹脂製)した場合は、ホルダ16とベース部材24に導電処理して接地するとよく、ワイヤーカットで製作(金属製)した場合は3自由度モジュール11を接地するとよい。   As a method for removing the influence of the electric field generated from the piezoelectric element 34, when the three-degree-of-freedom module is manufactured by optical modeling (made of resin), the holder 16 and the base member 24 may be subjected to conductive treatment and grounded. When manufactured by cutting (made of metal), the three-degree-of-freedom module 11 may be grounded.

本実施例によれば、次のような効果を奏する。
(1)電子顕微鏡のマニピュレータに、3自由度モジュールを使用し、また、各リンク機構18を駆動するピエゾ素子34は、リンク18一つ当たり一つで済むので、リード線(ワイヤハーネス)27の本数を大幅に削減することができる。
According to the present embodiment, the following effects can be obtained.
(1) Since a three-degree-of-freedom module is used for the manipulator of the electron microscope, and only one piezo element 34 is required to drive each link mechanism 18, one lead 18 (wire harness) 27 can be used. The number can be greatly reduced.

すなわち、電子顕微鏡用のマニピュレータとして6自由度のものを使用した場合には、アクチュエータ用のピエゾ圧電素子が12個用いるが、本実施形態の3自由度では、ピエゾ抵抗素子34は3個と大幅に削減される。また、図示していないが、マニピュレータのリンク位置変位を検出する歪ゲージは、6自由度の場合には、24個、本実施形態の場合は、6個、また、リード線は、ピエゾ素子1つ当たりにつき2本であり、歪ゲージ1つ当たりにつき3本である。リード線26の数は、6自由度の場合には、電子顕微鏡検出信号線も含めれば100本以上となり、膨大な数となり、これだけの本数のリード線引出し孔を、フランジ71に確保することはスペースの制約から困難である。これに対して、本実施形態の場合には、リード線は、1/4と大幅に減少することができ、それによりフランジ71に、リード線引出し部95を、マニピュレータの位置調整機構5及び針先合わせ操作部72共々に集約的に配置することができ、それにより電子顕微鏡へのマニピュレータの実装を可能にする。特に、フランジ71を利用すれば、試料室のアクセサリ取付用のポートをフランジ取り付け孔96として利用できるので、実装性に優れている。   That is, when a 6-degree-of-freedom manipulator for an electron microscope is used, twelve piezo-electric elements for actuators are used, but with the three-degree-of-freedom of the present embodiment, the number of piezoresistive elements 34 is greatly increased to three. Reduced to Although not shown, the number of strain gauges for detecting the link position displacement of the manipulator is 24 in the case of 6 degrees of freedom, 6 in the present embodiment, and the lead wire is the piezo element 1. Two per piece and three per strain gauge. In the case of 6 degrees of freedom, the number of the lead wires 26 is 100 or more including the electron microscope detection signal wires, which is enormous, and it is not possible to secure such a number of lead wire lead holes in the flange 71. Difficult due to space constraints. On the other hand, in the case of the present embodiment, the lead wire can be greatly reduced to ¼, whereby the lead wire lead-out portion 95 is connected to the flange 71, the manipulator position adjusting mechanism 5 and the needle. The alignment operation units 72 can be collectively arranged, thereby enabling the manipulator to be mounted on the electron microscope. In particular, if the flange 71 is used, the accessory mounting port of the sample chamber can be used as the flange mounting hole 96, which is excellent in mountability.

また、リード線を大幅に減少させることにより、真空中でリード線の被覆材から出るアウトガスによるコンタミネーションの影響を防ぐことができる。
(2)上記したように3自由度モジュールによれば、マニピュレータを構成を簡略化し、また、歪ゲージやピエゾ圧電素子も大幅に減少できるので、電子顕微鏡の小型化に貢献することができる。
(3)箸状の2本の指片の先端合わせとして、長さ、間隔の合わせが、粗動操作は光学顕微鏡像で行ない、微細操作は電子顕微鏡像で行なうことができ、その位置調整も容易に行える。
(4)2本の指片の強度はアクチュエータを支柱とせず、ピエゾ素子の強度に頼らない構造で取り付けられ、剛性が強く振動が伝わりにくいので、高い倍率の観察に適している。
(5)2本の指片13,14の先端合わせのうち、微細位置合わせについては、マニピュレータが試料室2内にあっても、試料室外の操作により可能にするので、大気中に取り出して再度、光学顕微鏡で位置合わせをやり直す必要がなく、マニピュレータを導入しても操作性に優れた電子顕微鏡を実現することができる。
(6)本実施例によれば、光学顕微鏡で行えたことと同じことが、真空中、電子線下でも、電界による影響を受けずに電子線情報を得て微細操作を行うことができる。
(7)更に、電子顕微鏡の持つ高い倍率と高い分解能の特性を生かすことにより、マイクロマニピュレーションの技術がレベルアップされ、マイクロエレクトロニクス、バイオテクノロジー、医療の分野により貢献することが可能となる。
In addition, by significantly reducing the number of lead wires, it is possible to prevent the influence of contamination caused by outgas emitted from the coating material of the lead wires in a vacuum.
(2) As described above, according to the three-degree-of-freedom module, the configuration of the manipulator can be simplified, and strain gauges and piezoelectric elements can be greatly reduced, which can contribute to downsizing of the electron microscope.
(3) As the tip alignment of two chopstick-shaped finger pieces, the length and interval can be adjusted by performing coarse operation with an optical microscope image, fine operation with an electron microscope image, and adjusting the position. Easy to do.
(4) The strength of the two finger pieces is suitable for observation at high magnification because the actuator is not used as a support and is attached with a structure that does not depend on the strength of the piezo element, and the rigidity is strong and vibration is not easily transmitted.
(5) Of the tip alignments of the two finger pieces 13 and 14, fine positioning is possible even if the manipulator is inside the sample chamber 2 by an operation outside the sample chamber. Therefore, it is not necessary to perform alignment again with an optical microscope, and an electron microscope with excellent operability can be realized even if a manipulator is introduced.
(6) According to the present embodiment, the same operation that can be performed with an optical microscope can perform fine manipulation by obtaining electron beam information without being affected by an electric field even in vacuum and under an electron beam.
(7) Furthermore, by taking advantage of the high magnification and high resolution characteristics of the electron microscope, the micromanipulation technology can be upgraded and contribute to the fields of microelectronics, biotechnology, and medicine.

本実施例ではマニピュレータ10に3自由度モジュール11を1個使用する構造としたが、第2の指片14側も含め2個使用する構造としても同様の微細操作が行える。また、マニピュレータ10と支持軸8の間にもう1個追加して、すなわち直列に2個接続する構造としてもよく、この場合は動作領域が大きくとることができ、より広い作業空間にある対象物に対して位置決めが可能となる。   In the present embodiment, the manipulator 10 has a structure using one three-degree-of-freedom module 11, but the same fine operation can be performed by using a structure including two modules including the second finger piece 14 side. Further, another structure may be added between the manipulator 10 and the support shaft 8, that is, a structure in which two are connected in series. In this case, the operation area can be increased, and an object in a wider work space can be obtained. Positioning becomes possible.

図6,図7には、針先合わせを試料室外から可能にする操作部(螺子回し部材)72の他の態様を示し、図6は、自在継ぎ手90を介して螺子回し部材72を調整ねじ37,37´の結合可能にしたものであり、図7は、フレキシブル部材91を介して螺子回し部材72を調整ねじ37,37´に結合可能にしたものである。このように構成するば、螺子回し部材72と調整螺子37,37´間に芯ずれが生じても、容易に両者を結合することができる。   6 and 7 show another embodiment of an operation portion (screw turning member) 72 that enables needle tip alignment from outside the sample chamber. FIG. 6 shows an adjustment screw for adjusting the screw turning member 72 via a universal joint 90. FIG. 7 shows the screw turning member 72 that can be connected to the adjusting screws 37 and 37 ′ via the flexible member 91. If comprised in this way, even if a core shift | offset | difference arises between the screw rotation member 72 and adjustment screw 37, 37 ', both can be couple | bonded easily.

本発明の一実施例に係る電子顕微鏡の縦断面図で図2のC−C´矢視断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the electron microscope which concerns on one Example of this invention, and is CC 'arrow sectional drawing of FIG. 図1を矢印A方向からみた一部断面上面図。The partial cross-sectional top view which looked at FIG. 1 from the arrow A direction. (a)は、上記実施例に用いる2本指マイクロハンド機構(マイクロマニピュレータ)10の構成を示す一部断面上面図、(b)は図3(a)のB方向からみた図。(A) is a partial cross-sectional top view which shows the structure of the two-finger microhand mechanism (micromanipulator) 10 used for the said Example, (b) is the figure seen from the B direction of Fig.3 (a). 本実施例における3自由度モジュール11を見方を変えて示す立体図。3 is a three-dimensional view showing the three-degree-of-freedom module 11 in a different way of viewing. (a)は、ベース部材15を断面してマニピュレータ11のベース部材15,リンク機構18,ピエゾ圧電素子34の関係、およびベース部材15と支持軸8の結合関係を示す図、(b)は、ベース部材15を反リンク機構側からみた概略説明図。FIG. 6A is a cross-sectional view of the base member 15 and shows the relationship between the base member 15 of the manipulator 11, the link mechanism 18, and the piezoelectric element 34, and the coupling relationship between the base member 15 and the support shaft 8, and FIG. The schematic explanatory drawing which looked at the base member 15 from the anti-link mechanism side. 針先合わせを試料室外から可能にする操作部(螺子回し部材)72の他の態様を示す説明図。Explanatory drawing which shows the other aspect of the operation part (screw turning member) 72 which enables needle tip alignment from the sample chamber outside. 針先合わせを試料室外から可能にする操作部(螺子回し部材)72の他の態様を示す説明図。Explanatory drawing which shows the other aspect of the operation part (screw turning member) 72 which enables needle tip alignment from the sample chamber outside. 3自由度マニピュレータの基本原理を示す説明図。Explanatory drawing which shows the basic principle of a 3 degree-of-freedom manipulator. 3自由度マニピュレータのリンク機構を示す平面図及び正面図。The top view and front view which show the link mechanism of a 3 degree-of-freedom manipulator.

符号の説明Explanation of symbols

1…対物レンズ、2…試料室、3…外筒、4…球形部、5…位置調整機構、7…中空軸、8…支持軸、10…マニピュレータ、11…3自由度モジュール、12…針先合わせ機構、13…第1の指片、14…第2の指片、15…ベース部材、17…ホルダ(エンドエフェクタ)、18…リンク機構、27…リード線、34…アクチュエータ(ピエゾ圧電素子)、35…支持軸、37,37´…調整ねじ(押棒)、72…針先合わせ操作部(螺子回し部材)、95…リード線引出し孔。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Objective lens, 2 ... Sample chamber, 3 ... Outer cylinder, 4 ... Spherical part, 5 ... Position adjustment mechanism, 7 ... Hollow shaft, 8 ... Support shaft, 10 ... Manipulator, 11 ... Three-degree-of-freedom module, 12 ... Needle Pointing mechanism, 13 ... first finger piece, 14 ... second finger piece, 15 ... base member, 17 ... holder (end effector), 18 ... link mechanism, 27 ... lead wire, 34 ... actuator (piezoelectric element) ), 35... Support shaft, 37 and 37 ′. Adjustment screw (push bar), 72. Needle tip adjusting operation portion (screw turning member), and 95.

Claims (12)

電子顕微鏡において、真空の試料室内で複数の指片により微小試料を掴んで微小な回動、移動、開放動作が可能なマニピュレータと、前記指片に上記微小な動きをさせるための駆動機構と、前記駆動機構への電力供給用及び電気信号検出用のリード線を試料室の内から外へ気密性を保持して引き出す手段と、前記駆動機構を電気的に制御する制御する制御手段と、試料室外からの操作により前記マニピュレータを光軸に対して位置合わせする位置調整機構と、試料台に載置された試料からの電子線情報による観察像を表示する表示手段とを備え、前記複数の指片のうちの一つ乃至複数を3自由度の動作が行えるようにしたことを特徴とする電子顕微鏡。   In an electron microscope, a manipulator capable of holding a minute sample by a plurality of finger pieces in a vacuum sample chamber and performing minute rotation, movement, and opening operations, and a driving mechanism for causing the finger pieces to perform the minute movements; Means for pulling out lead wires for supplying electric power to the drive mechanism and detecting electric signals from the inside to the outside of the sample chamber while maintaining hermeticity, control means for controlling to electrically control the drive mechanism, and sample A position adjusting mechanism for aligning the manipulator with respect to the optical axis by an operation from the outside; and a display means for displaying an observation image based on electron beam information from the sample placed on the sample stage. An electron microscope characterized in that one or more of the pieces can be operated with three degrees of freedom. 前記マニピュレータは、該マニピュレータを試料室外に出してその指片同士を粗動の針先き合わせ操作する第1の針先合わせ機構と、該マニピュレータを試料室内に入れた状態でその指片同士を試料室外から微小の針先合わせ操作する第2の針先合わせ機構とを備えている請求項1記載の電子顕微鏡。   The manipulator includes a first needle tip alignment mechanism that moves the manipulator out of the sample chamber and performs a coarse needle tip alignment operation between the finger pieces, and the finger pieces while the manipulator is placed in the sample chamber. The electron microscope according to claim 1, further comprising a second needle tip alignment mechanism that performs a fine needle tip alignment operation from outside the sample chamber. 真空の試料室内で複数の針状指片により微小試料を掴んで微小な回動、移動、開放動作が可能なマニピュレータを備えた電子顕微鏡であり、前記マニピュレータは並進3自由度型であり、前記マニピュレータを光軸に対して位置合わせする位置調整機構と、試料室内にあるマニピュレータの微小な針先合わせを電子顕微鏡モニタを観察しながら外部から操作する針先合わせ機構と、前記マニピュレータを駆動するための電力供給用及び電気信号検出用のリード線を試料室の内から外へ気密性を保持して引き出すリード線引出し孔とを備え、前記位置調整機構,針先合わせ機構の操作部及び前記リード線引出し孔とが一つのフランジに集約的に配設され、このフランジが試料室の壁部の取付孔に気密封止により取り付けられていることを特徴とする電子顕微鏡。   An electron microscope provided with a manipulator capable of fine rotation, movement, and opening by grasping a micro sample with a plurality of needle-like finger pieces in a vacuum sample chamber, the manipulator being a translational three-degree-of-freedom type, A position adjusting mechanism for aligning the manipulator with respect to the optical axis, a needle point adjusting mechanism for operating the minute needle point of the manipulator in the sample chamber from the outside while observing an electron microscope monitor, and for driving the manipulator A lead wire lead-out hole for pulling out a lead wire for power supply and electric signal detection from the inside of the sample chamber to the outside while maintaining airtightness, and an operation portion of the position adjusting mechanism, a needle tip alignment mechanism, and the lead The wire drawing hole is centrally arranged on one flange, and this flange is attached to the mounting hole on the wall portion of the sample chamber by airtight sealing. That an electron microscope. 電子顕微鏡において、真空の試料室内で複数の針状指片により微小試料を掴んで微小な回動、移動、開放動作が可能なマニピュレータと、前記マニピュレータを光軸に対して位置合わせする位置調整機構と、前記マニピュレータの微小な針先合わせを行なう針先合わせ機構と、前記位置調整機構及び前記針先合わせ機構を試料室外部から操作する操作部とを備えてなることを特徴とする電子顕微鏡。   In an electron microscope, a manipulator capable of fine rotation, movement, and opening by grasping a minute sample with a plurality of needle-like fingers in a vacuum sample chamber, and a position adjusting mechanism for aligning the manipulator with respect to the optical axis And an operation unit for operating the position adjustment mechanism and the needle tip alignment mechanism from the outside of a sample chamber. 前記マニピュレータは、2本の針状指片よりなり、一方の針状指片が並進3自由度モジュールに支持され、他方の針状指片が傾きを有する板ばねに支持され、この板ばねは、その背面に板ばねの傾き及び傾き方向を微調整する複数の調整螺子が押し当てられ、この調整螺子を試料室壁体を通した螺子回し部材により進退調整可能にし、この板ばね,調整螺子,螺子回し部材が前記針先合わせ機構の構成要素をなしている請求項2から4のいずれか1項記載の電子顕微鏡。   The manipulator includes two needle-like finger pieces, one needle-like finger piece is supported by a translational three-degree-of-freedom module, and the other needle-like finger piece is supported by a leaf spring having an inclination. A plurality of adjusting screws for finely adjusting the inclination and inclination direction of the leaf spring are pressed against the back surface, and the adjusting screw can be advanced and retracted by a screw turning member passing through the sample chamber wall, and the leaf spring and the adjusting screw. The electron microscope according to any one of claims 2 to 4, wherein a screw turning member constitutes a component of the needle tip alignment mechanism. 前記2本の針状指片は、開き角度がほぼ20°になるように設定してある請求項2から5のいずれか1項記載の電子顕微鏡。   The electron microscope according to any one of claims 2 to 5, wherein the two needle-like finger pieces are set so that an opening angle is approximately 20 °. 電子顕微鏡において、真空の試料室内で複数の針状指片により微小試料を掴んで微小な回動、移動、開放動作が可能なマニピュレータを備え、前記マニピュレータは、複数の指片のうちの一つ乃至複数を3自由度の動作が行える並進3自由度モジュールにより駆動されるようにし、前記並進3自由度モジュールは、指片を取り付けるホルダーと、このホルダーを支持するベース部材と、前記ホルダー,ベース部材の間を連結する回り対偶要素及び並進対偶要素を有する三つのリンク機構と、前記リンク機構に駆動力を与えるピエゾ圧電素子とよりなり、このピエゾ素子は、前記ベース部材に保持されて一部が前記リンク機構側に突出し、この突出先端部が前記並進対偶要素のうち前記ベースに対向する面に駆動力を加えるように接していることを特徴とする電子顕微鏡。    An electron microscope includes a manipulator capable of performing minute rotation, movement, and opening operations by grasping a minute sample with a plurality of needle-like finger pieces in a vacuum sample chamber, and the manipulator is one of the plurality of finger pieces. Or a plurality of three-degree-of-freedom modules driven by a translational three-degree-of-freedom module, wherein the translational three-degree-of-freedom module includes a holder to which a finger piece is attached, a base member that supports the holder, and the holder and base It comprises three link mechanisms having a rotating pair element and a translational pair element that connect between the members, and a piezoelectric element that gives a driving force to the link mechanism, and this piezoelectric element is held in part by the base member. Projecting toward the link mechanism, and the projecting tip is in contact with the surface of the translational pair element facing the base so as to apply a driving force. Electron microscope according to claim. 前記ベース部材は、筒形をなし、この筒形ベース部材に軸方向に向けて前記ピエゾ圧電素子を内挿するための孔が形成され、前記リンク機構は、一対の対偶部材の間を薄肉部で連結することにより構成される二つの回転対偶と、一対の対偶部材の両端部間を一対の連結杆部によりそれぞれ薄肉部を介して連結して構成される二つの並進対偶を備え、各対偶を一つの平面上に配列させて3自由度の動作行わせる柔軟構造物として構成され、前記一対の並進対偶の間に前記ピエゾ圧電素子の受け面が形成されている請求項7記載の電子顕微鏡。   The base member has a cylindrical shape, and a hole for inserting the piezoelectric element in the axial direction is formed in the cylindrical base member. The link mechanism has a thin portion between a pair of pair members. Each pair of rotating pairs and two translational pairs formed by connecting the opposite ends of a pair of paired members via a thin wall portion with a pair of connecting hooks, respectively. The electron microscope according to claim 7, wherein the electron microscope is configured as a flexible structure that is arranged on a single plane to perform an operation with three degrees of freedom, and a receiving surface of the piezoelectric element is formed between the pair of translational pairs. . 前記ベース部材は、前記ピエゾ圧電素子から生じる電界をシールドするように構成されている請求項7又は8記載の電子顕微鏡。   The electron microscope according to claim 7 or 8, wherein the base member is configured to shield an electric field generated from the piezoelectric element. 前記ピエゾ素子は、試料室の壁体を介してアースされたベース部材に内挿されることで電磁シールドされている請求項9記載の電子顕微鏡。   The electron microscope according to claim 9, wherein the piezo element is electromagnetically shielded by being inserted into a grounded base member through a wall of a sample chamber. 電子顕微鏡において、真空の試料室内で複数の針状指片により微小試料を掴んで微小な回動、移動、開放動作が可能なマニピュレータを備え、前記マニピュレータは、少なくとも3自由度を有するモジュールにより駆動されるようにし、このモジュールのベースが試料室の壁体にアースされて取り付けられ、該モジュールを駆動するアクチュエータの少なくとも一部を前記ベースに内挿することで、前記アクチュエータから生じる電界をシールドしていることを特徴とする電子顕微鏡。   An electron microscope includes a manipulator capable of fine rotation, movement, and opening by grasping a micro sample with a plurality of needle-like fingers in a vacuum sample chamber, and the manipulator is driven by a module having at least three degrees of freedom. The base of this module is grounded and attached to the wall of the sample chamber, and at least a part of the actuator that drives the module is inserted into the base to shield the electric field generated from the actuator. An electron microscope characterized by that. 前記三つのリンク機構は光造形で加工するか、或いは、ワイヤーカットで加工してなる請求項7または8記載の電子顕微鏡。   The electron microscope according to claim 7 or 8, wherein the three link mechanisms are processed by stereolithography or processed by wire cutting.
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