JP2008010059A - 再生装置、信号品質評価方法 - Google Patents

Abstract

【課題】誤った品質測定値によって不適切な調整等が行われないようにする。
【解決手段】光ディスク等の記録媒体に対応する再生装置において、記録媒体から読み出された信号の品質を評価する品質測定値Ｅｑの信頼性を向上させるために、品質測定値Ｅｑに加えて、品質測定値の信頼性を示す信頼性評価値Ｅｒを算出する。信頼性評価値Ｅｒは、再生信号品質が悪く品質測定値Ｅｑを正しく取得できない状態を検知する指標、つまり品質測定値Ｅｑが調整等のための指標に適したものであるか否かを判断する指標とする。この信頼性評価値Ｅｒによって品質測定値Ｅｑの適否を判断し、信頼性が保たれている品質測定値Ｅｑを用いて各種の調整を行うことで、品質測定値Ｅｑを指標とする各種調整の信頼性を向上させる。
【選択図】図１

Description

本発明は、マーク及びスペースの列により情報が記録される記録媒体に対して再生（又は記録及び再生）を行う再生装置と、上記記録媒体から得られる信号の品質を評価する信号品質評価方法に関する。

特開２００４−１８５７９６号公報 特開２００３−１４１８２３号公報 特許第３６７４１６０号公報

デジタルデータを記録・再生するための技術として、例えば、ＣＤ（Compact Disc），ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）などの、光ディスクを記録メディアに用いたデータ記録技術がある。
光ディスクには、例えばＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどとして知られているようにエンボスピットにより情報が記録された再生専用タイプのものや、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどで知られているようにユーザーデータが記録可能なタイプがある。記録可能タイプのものは、光磁気記録方式、相変化記録方式、色素膜変化記録方式などが利用されることで、データが記録可能とされる。色素膜変化記録方式はライトワンス記録方式とも呼ばれ、一度だけデータ記録が可能で書換不能であるため、データ保存用途などに好適とされる。一方、光磁気記録方式や相変化記録方式は、データの書換が可能であり音楽、映像、ゲーム、アプリケーションプログラム等の各種コンテンツデータの記録を始めとして各種用途に利用される。
更に近年、ブルーレイディスク（Blu-ray Disc：登録商標）と呼ばれる高密度光ディスクが開発され、著しい大容量化が図られている。

これらの光ディスクでは、ディスク上にエンボスピットや色素変化マーク、相変化マークなどとして情報が記録される（以下、エンボスピットも含めてこれらを「マーク」と総称する）。そして多くの場合、ディスク上のマークは、記録する元のデータをランレングスリミテッドコードに変調した信号に基づいて形成される。

光ディスクに対して記録／再生を行うディスクドライブ装置（記録装置または再生装置）では、その装置自体や装置内に搭載されている光学ヘッド、さらには記録再生対象となる光ディスクなどの性能を知るために、再生信号のジッタを測定して再生信号品質を確認することが行われている。
ここでいうジッタとは、再生ＰＬＬクロックと再生信号の２値化後の波形のエッジとのタイミング誤差などを示し、例えばＴＩＡ（タイム・インターバル・アナライザ）を用いて測定できる。例えば上記特許文献１では、上記タイミング誤差の平均値を検出して記録パルスのパラメータ調整を行うことが示されている。
又、上記特許文献２，３のように、最尤復号方式によってディスクから読み出した情報を検出（２値化）する光ディスク再生装置においては、再生信号の品質確認により好適な指標も用いられている。
なお、以下では、これらディスクから読み出された信号（再生信号）の品質確認に用いられる評価値を「品質測定値」と呼ぶ。

上記の品質測定値は、ディスクドライブ装置の性能を向上させるための各種パラメータ調整に使用されている。例えば光ディスクに記録を行う際の記録条件（レーザ光の発光パルス幅やレベル等）を最適な状態に調整するために、この品質測定値が指標に用いられている。

しかしながら上記品質測定値は、想定していたよりも再生信号品質が悪く、設定ウィンドウ幅を超えるタイミング誤差が生じてしまった場合には、正しく再生信号品質を表せないという問題があった。
例えば、２Ｔマーク、３Ｔマーク（Ｔはチャネルクロック周期）のデータパターンが長めに記録され、誤って２Ｔマークが３Ｔマークに復号されてしまった場合にはジッタを正しく検出することができない。

図１２により、品質測定値が不適切となる場合の例を説明する。
図１２（ａ）（ｂ）（ｃ）は、横軸にディスク上に記録されるマークのマーク長、縦軸にサンプル数（マーク出現数）を示している。またＬ2T、Ｌ3T、Ｌ4Tは、それぞれ２Ｔマーク、３Ｔマーク、４Ｔマークとしての理想値である。
つまり図１２（ａ）（ｂ）（ｃ）は、ディスクに記録されたマークについて測定されるマーク長の分布を示すものである。
図１２（ａ）は適正な状態であり、各マークは、ほぼ理想値Ｌ2T、Ｌ3T、Ｌ4Tを中心に分布する。図示するウインドウ幅Ｗ3Tは、再生時に３Ｔマークとして検出するマーク長の幅であり、つまり再生時に、再生信号としてこのウインドウ幅Ｗ3T内となるデータパターンが得られたときは、３Ｔとして検出することになるが、この図１２（ａ）の場合は、３Ｔとして記録されたマークが、ただしく３Ｔとして再生されることになる。

図１２（ｂ）は、記録時の条件が最適ではなく、記録されたマークのマーク長の分布が理想的な状態から崩れた場合を示している。
３Ｔマークを例にして述べると、このようなディスクを再生したときには、再生信号上での３Ｔマークのマーク長の平均値ＡＶ3Tは、３Ｔマークの理想値Ｌ3Tよりずれたものとなる。この平均値ＡＶ3Tと理想値Ｌ3Tの誤差は、品質測定値の一例として上述したタイミング誤差に相当すると考えることができるが、この場合、品質測定値に基づいて誤差を解消するように記録条件（レーザ駆動パルス調整等）を調整することで、記録されるマークを図１２（ａ）の状態に近づけることができる。つまりこの場合は、品質測定値が正しく品質評価の指標となっている。

一方、図１２（ｃ）は、品質測定値が品質評価の指標としては正しくない状態となった例である。
例えば記録条件が不適切で、２Ｔマーク、３Ｔマークのデータパターンが長めに記録されてしまい、図１２（ｃ）のように各マーク長のマークが分布したとする。すると再生時には、２Ｔマークのうちの長めのマークが３Ｔに誤って復号されることが生ずる。これは２Ｔマークとして記録されたマークの中に、ウインドウ幅Ｗ3T内となって３Ｔと検出されるマークが存在するためである。
このとき、品質測定値として平均値ＡＶ3T(S)を考えると、この平均値ＡＶ3T(S)は、ほぼ理想値Ｌ3Tに近い値となってしまう。
つまり実際に３Ｔマークとして記録されたマークの平均値ＡＶ3T(C)は、理想値Ｌ3Tから大きくずれているが、再生時には２Ｔマークの一部が３Ｔと復調されてしまうことで、平均値ＡＶ3T(S)が算出される。そしてこの平均値ＡＶ3T(S)が、ほぼ理想値Ｌ3Tに近い値であるということは、実際には再生信号品質がかなり悪いにもかかわらず、品質測定値としては、かなり再生信号品質が良いことを示す値となってしまうことである。当然、このような品質測定値を用いては、例えば記録条件を適切に調整できない。

この例のように品質測定値として誤った判断を示す値が生じてしまうと、その品質測定値を元にして各種パラメータ調整を行ったときに誤った調整を実行することとなり、ディスクドライブ装置の性能を更に低下させてしまう恐れがあった。
そこで本発明では、品質測定値に加えて、品質測定値の信頼性が低下したことを検知できるようにし、不適切な調整等が行われないようにすることを目的とする。

本発明の再生装置は、マーク及びスペースの列により情報が記録された記録媒体から信号の読み出しを行うヘッド部と、上記ヘッド部で読み出された信号に対して再生処理を行い、再生データを得るデータ再生系回路部と、上記ヘッド部で読み出された信号の品質を示す品質測定値を算出する品質測定値算出部と、上記品質測定値の信頼性を示す信頼性評価値を算出する信頼性評価部と、上記信頼性評価値と上記品質測定値を用いて上記記録媒体から得られる信号の品質を判定し、判定結果に基づいて所定の調整制御を行う制御部とを備える。
また上記信頼性評価部は、上記データ再生系回路部での復号結果の信頼性を示す復号結果評価値を得る復号結果評価部と、上記復号結果評価値を用いて上記信頼性評価値を算出する評価値算出部とを備える。
この場合、上記復号結果評価部は、上記データ再生系回路部での復号時のエラー訂正処理結果から求められるシンボルエラーレートを上記復号結果評価値とする。
又は、上記復号結果評価部は、上記データ再生系回路部で得られたデータについてのビット単位の正誤判断により求められるビットエラーレートを上記復号結果評価値とする。
又は、上記復号結果評価部は、上記記録媒体において上記マーク及びスペースで表現された情報のパターンとして、特定パターンについての上記データ再生系回路部での誤認識率を求め、該誤認識率を上記復号結果評価値とする。

また上記ヘッド部は、上記記録媒体にマーク及びスペースの列による情報の記録を行うことができるとともに、記録するデータに基づく記録駆動信号を上記ヘッド部に与えて上記記録媒体へのマーク記録を実行させるデータ記録系回路部を更に備え、上記制御部は、上記信頼性評価値と上記品質測定値を用いて上記記録駆動信号の調整制御を行う。
またこの場合、上記制御部は、上記記録駆動信号の調整値を切り換えながら、上記データ記録系回路部及び上記ヘッド部により、上記記録媒体へのテスト記録データの記録を実行させた後、上記ヘッド部及び上記データ再生系回路部により、上記各調整値において記録したテスト記録データの再生を実行させ、上記各調整値に対応して得られる上記信頼性評価値と上記品質測定値を用いて、上記記録駆動信号の調整制御を行う。
また上記ヘッド部は、上記記録媒体にレーザ光を照射してマーク及びスペースの列による情報の記録及び読出を行う光学ヘッド部とされ、上記データ記録系回路部は、上記記録駆動信号としてレーザ駆動パルス信号を生成し、上記制御部は、上記調整制御として、上記レーザ駆動パルス信号のエッジタイミングの調整制御を行う。

本発明の信号品質評価方法は、マーク及びスペースの列により情報が記録される記録媒体に対して再生を行う再生装置の調整方法として、マーク及びスペースの列により情報が記録された記録媒体に対して読み出しを行うステップと、読み出された信号の品質を示す品質測定値を算出するステップと、上記品質測定値の信頼性を示す信頼性評価値を算出するステップと、上記信頼性評価値により信頼性が保たれていると判別される上記品質測定値を用いて上記記録媒体から読み出された信号の品質を評価するステップとを備える。

以上の本発明は、例えば光ディスク等の記録媒体に対応する再生装置において、記録媒体から読み出された信号の品質を評価する品質測定値の信頼性を向上させるものである。このために、再生信号品質を示す品質測定値に加えて、品質測定値の信頼性を示す信頼性評価値を算出する。この信頼性評価値は、再生信号品質が悪く品質測定値を正しく取得できない状態を検知する指標、つまり品質測定値が調整等のための指標に適したものであるか否かを判断する指標となる。従って、信頼性評価値によって品質測定値の適否を判断し、品質測定値の信頼性が保たれている場合は、その品質測定値を用いて各種の調整を行うようにすることが可能となり、結果として品質測定値を指標とする各種調整の信頼性を向上させることができる。

品質測定値を指標とする調整の一例にライトストラテジ調整が挙げられる。
一般に光ディスク記録装置では、レーザ駆動パルス信号の記録波形を構成する記録パラメータをライトストラテジと呼び、該ライトストラテジに基づいてレーザを発光させることにより情報が記録される。光ディスクに情報を記録するにあたり、良好な記録品質を実現するためにライトストラテジのパラメータを調整することをライトストラテジ調整と呼ぶ。
本発明の再生装置を、記録媒体への情報記録機能を備えた記録再生装置として考えた場合、データ記録系回路部で記録データに基づいてレーザ駆動パルス信号を生成し、ヘッド部でレーザ駆動パルス信号に基づいてレーザ照射を行って記録を行うが、レーザ駆動パルス信号の波形のパルス幅やエッジタイミングの調整（ライトストラテジ調整）が適切に行われることが必要である。ライトストラテジ調整では、例えばエッジタイミング等の調整値を変更しながらテスト記録を行う。そしてそれらを再生して、各調整値の場合の品質測定値を検出し、最適な品質測定値が得られる調整値を判定する。そして最適な調整値を設定する。ここで、テスト記録において或る調整値を設定したときに、それが最適値からかなり離れているように場合、テスト記録されるマークの品質も非常に悪くなるため、マーク長を誤って復号するなどの原因から品質測定値が正しく取得できないような場合が生ずる。例えば品質測定値が、誤って非常に良い品質を示すような値となってしまうことがある。その結果、誤ったライトストラテジ調整が行われてしまうが、本発明では、信頼性評価値によってそのような誤った品質測定値を排除できることになる。
なお、本明細書において「復号結果」とは、データ再生処理過程においてエラー訂正処理等が行われる前の２値化結果を意味している。

本発明によれば、記録媒体から再生された信号の品質を評価する際に、信号品質を示す品質測定値に加えて信頼性評価値を用いている。信頼性評価値により品質測定値の信頼性が低下したことを検知できることで、品質測定値を適切に使用して信号品質の評価ができるという効果がある。例えば品質測定値が誤った値となった場合など、その品質測定値を信号品質評価に用いないようにすることなどができる。
そして品質測定値を適切に使用して信号品質の評価ができるということは、品質測定値を用いて信号品質を評価しながらライトストラテジ調整などの各種パラメータ調整を行う際に、信頼性の高い調整を実現できることにつながる。このため再生装置（記録再生装置）の動作性能を向上させることができる。

以下、本発明の再生装置及び信号品質評価方法の実施の形態として、光ディスクに対して記録再生を行うディスクドライブ装置（記録再生装置）とその動作について説明していく。説明は次の順序で行う。
［１．実施の形態の構成概念］
［２．ディスクドライブ装置の構成］
［３．品質測定値及び信頼性評価値を用いたライトストラテジ調整］

［１．実施の形態の構成概念］

具体的なディスクドライブ装置の構成及び動作は後に図７〜図１１を参照して説明することとし、まず図１〜図６を用いて、本発明の実施の形態としての構成概念を述べていく。
図１に実施の形態の基本構成を示す。

図１は実施の形態のディスクドライブ装置の構成概念を概略的に示すブロック図であり、ヘッド部３０、データ再生系回路部３１、データ記録系回路部３２、制御部３３、品質評価部２０を有する構成を示している。
ヘッド部３０は、マーク及びスペースの列により情報が記録されたディスク９０に対してレーザ光を照射し、情報の読出や記録を行う。
データ再生系回路部３１は、ヘッド部３０で読み出された信号に対して再生処理を行い、再生データＤPを得る。例えばヘッド部３０で読み出されたＲＦ信号（再生データ信号）について、Ａ／Ｄ変換にしてデジタルデータ化する。またＰＬＬ回路によりＡ／Ｄ変換や復号のための再生クロックを生成する。そしてデジタルデータ化された信号を２値化データに復号する。さらに２値化されたデータのデコード処理、エラー訂正処理、デインターリーブ等を行って再生データＤｐを得るものである。
データ記録系回路部３２は、記録するデータに基づく記録駆動信号としてレーザ駆動パルス信号をヘッド部に与えてレーザ光照射を実行させ、ディスク９０へのマーク記録を実行させる。例えばデータ記録系回路部３２は、記録するデータについてインターリーブ、エラー訂正符号の付加、記録のためのエンコード処理等を行う。そして記録用にエンコードしたデータに応じてレーザ駆動パルス信号を生成し、ヘッド部３０に供給してレーザ出力を実行させる。

品質評価部２０は、品質測定値算出部２１と信頼性評価部２２を有する。
品質測定値算出部２１は、ヘッド部３０で読み出されてデータ再生系回路部３１で処理される信号の品質を示す品質測定値Ｅｑを算出する。
信頼性評価部２２は、品質測定値Ｅｑの信頼性を示す信頼性評価値Ｅｒを算出する。
この品質測定値Ｅｑ及び信頼性評価値Ｅｒは、制御部３３に供給される。
制御部３３は、品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒとを用いて、ディスク９０から得られる信号の品質を判定し、判定結果に基づいて所定の調整制御を行う。

品質測定値Ｅｑは、それ自体が信号の品質を示す値（例えばジッタ値）であり、制御部３３は、品質測定値Ｅｑによって信号品質を評価できる。従って、各種パラメータ調整を行う場合は、品質測定値Ｅｑが最も良い値となる信号が得られるように調整すればよい。但し本例では制御部３３は、供給された品質測定値Ｅｑについて、信頼性評価値Ｅｒで評価する。例えば信頼性評価値Ｅｒにより「信頼できない」と判断できる品質測定値Ｅｑについては、それをパラメータ調整の指標として使用しないようにする。
このような処理を行うことで、正しい品質測定値Ｅｑのみを使用して信号品質を判断し、その判断に基づいて正しくパラメータ調整を実行できる。

信頼性評価部２２の構成例を図２〜図５に示す。なお、図２〜図５において図１と同一部分は同一符号を付し、説明を省略する。
図２は信頼性評価部２２を、復号結果評価部２４と評価値算出部２３で構成した例を示している。
復号結果評価部２４は、データ再生系回路部３１での復号結果（２値化結果）の信頼性を示す復号結果評価値を得る。
評価値算出部２３は、復号結果評価部２４で得られた復号結果評価値を用いて、信頼性評価値Ｅｒを算出する。

復号結果評価部２４としてのより具体的な例を図３，図４，図５に示す。
図３は、復号結果評価部２４をＳＥＲ（シンボルエラーレート）算出部２４ａにより構成した例である。
データ再生系回路部３１では復号処理過程でＥＣＣブロック単位でエラー訂正処理を行うが、その場合、ＥＣＣブロック単位でバイトレベルのエラー数を知ることができる。ＳＥＲ算出部２４ａは、このようなシンボルエラーレートを取得する。そしてこのシンボルエラーレートは、復号結果の間違い率と言え、復号結果の評価指標である。これは信号品質の１つの指標ともなるが、品質測定値Ｅｑの信頼性の指標ともすることができる。
従って、シンボルエラーレートに基づいて評価値算出部２３で信頼性評価値Ｅｒを生成することができる。

図４は、復号結果評価部２４をｂＥＲ（ビットエラーレート）算出部２４ｂにより構成した例である。
ビットエラーレートは、ビット単位で再生データと、その再生データの元の記録データを比較して得られる復号結果の間違え率である。
この場合、図のようにテスト記録データ発生部３４からテスト記録データを発生させ、これをデータ記録系回路部３２の処理を介してヘッド部３０によりディスク９０に記録させる。その後、当該記録したデータを再生させたときに、ｂＥＲ算出部は、データ再生系回路部３１で得られる再生データを取り込み、これを、テスト記録データと１ビットづつ比較して正誤を判別する。そしてその各ビットの正誤判定結果からビットエラーレートを求める。
このビットエラーレートも復号結果の評価指標となり、特に復号結果の間違い率を確実に反映するものである。これも品質測定値Ｅｑの信頼性の指標とすることができる。従って、ビットエラーレートに基づいて評価値算出部２３で信頼性評価値Ｅｒを生成することができる。

図５は、復号結果評価部２４を、パターン別サンプル数積算器２４ｃと誤認識率算出部２４ｄにより構成した例である。
パターン別サンプル数積算器２４ｃは、ディスク９０においてマーク及びスペースで表現された情報のパターンとして、特定パターン、例えば２Ｔパターン、３Ｔパターンなどについて、そのサンプル数を積算する。即ち２値化された再生信号において２Ｔパターン、３Ｔパターン等が検出される毎に、サンプル数をカウントしていく。
誤認識率算出部２４ｄは、サンプル数を積算した各パターンについて、再生時に本来得られるはずのサンプル数と実際にカウントされたサンプル数との比により誤認識率を算出する。
本来得られるはずのサンプル数は、例えばテスト記録を行った際の記録データがわかっていれば、各パターンについて正確な発生数がわかるし、ランダムデータを記録したような場合は、各パターンについての一般的な発生頻度から発生数を推定すればよい。
そしてこの誤認識率は、復号結果の間違い率をほぼ反映しており、従って品質測定値Ｅｑの信頼性の指標とすることができる。従って、誤認識率に基づいて評価値算出部２３で信頼性評価値Ｅｒを生成することができる。
この図５の構成は復号結果評価部２４は、例えば図４の構成に比べて回路を比較的容易に作れるという利点がある。

なお、パターン別サンプル数のパターン別とは、マーク長ごと（２Ｔマーク、３Ｔマーク、４Ｔマークなど）の分類であってもよいし、直前スペース長・マーク長・直後スペース長を含めた分類、例えば「２Ｔスペース・２Ｔマーク・ｘＴスペース」「３Ｔスペース・２Ｔマーク・ｘＴスペース」・・・「ｘＴスペース・４Ｔマーク・５Ｔスペース」などの分類でもよい。なおｘＴスペースとは任意の長さのスペースを示す。

例えば品質評価部２０の構成例は以上のように考えられるが、制御部３３が品質評価部２０で生成される品質測定値Ｅｑ及び信頼性評価値Ｅｒを用いて調整を行う構成例を図６に示す。これは例えばライトストラテジ調整を行うものとした構成例である。
制御部３３は、ライトストラテジ調整として、レーザ駆動パルス信号のパラメータとしてエッジタイミングやパルス幅を可変させる記録パルスシフト設定部３３ａとしての処理機能と、最適なライトストラテジとしての調整値を判定し、最終的にその調整値に設定するライトストラテジ算出部としての処理機能を有する。
ライトストラテジ調整の詳細な動作については後述するが、例えば図６の構成において、制御部はテスト記録データ発生部３４からテスト記録データを発生させ、記録パルスシフト設定部３３ａの機能により調整値を変化させて、テスト記録データの記録を複数回実行させる。つまり、テスト記録データが、異なるライトストラテジ（異なる調整値）の状態で複数回ディスク９０に記録されるようにする。
そしてこのように記録したデータを再生し、各ライトストラテジについての品質測定値Ｅｑ及び信頼性評価値Ｅｒを得ることで、制御部３３のライトストラテジ算出部３３ｂは、最適なライトストラテジ（調整値）を判定する。例えば各調整値に対応して得られた品質測定値Ｅｑ及び信頼性評価値Ｅｒのうちで、信頼性評価値Ｅｒによって信頼性が低いとされた品質測定値Ｅｑを排除する。そして残りの品質測定値Ｅｑ、つまり信頼性が保たれていると判断できる品質測定値Ｅｑのうちで最適な品質とされるものを選び、その最適な品質測定値Ｅｑに対応する調整値を、最適な調整値（最適なライトストラテジ）とし、その最適な調整値に調整制御する。

なお、以上の図１〜図６においては、品質評価部２０を制御部３３とは別のブロックで示しているが、実際には、品質評価部２０と制御部３３は１つのマイクロコンピュータで実現することもできる。

［２．ディスクドライブ装置の構成］

以下では、より具体的な実施の形態として、ブルーレイディスクに該当する再生専用ディスクや記録可能型ディスク（ライトワンスディスクやリライタブルディスク）に対応して再生や記録を行うことができるディスクドライブ装置を例に挙げて説明する。

ブルーレイディスク方式の記録可能型ディスクの場合、波長４０５ｎｍのレーザ（いわゆる青色レーザ）とＮＡが０．８５の対物レンズの組み合わせという条件下でフェーズチェンジマーク（相変化マーク）や色素変化マークの記録再生を行うものとされ、トラックピッチ０．３２μｍ、線密度０．１２μｍ／bitで、６４ＫＢ（キロバイト）のデータブロックを１つの記録再生単位（ＲＵＢ：Recording Unit Block）として記録再生を行う。
ＲＯＭディスクについては、λ／４程度の深さのエンボスピットにより再生専用のデータが記録される。同様にトラックピッチは０．３２μｍ、線密度は０．１２μｍ／bitである。そして６４ＫＢのデータブロックを１つの再生単位（ＲＵＢ）として扱う。

記録再生単位であるＲＵＢは、１５６シンボル×４９６フレームのＥＣＣブロック（クラスタ）に対して、例えばその前後に１フレームのリンクエリアを付加して生成された合計４９８フレームとなる。
なお、記録可能型ディスクの場合、ディスク上にはグルーブ（溝）が蛇行（ウォブリング）されて形成され、このウォブリンググルーブが記録再生トラックとされる。そしてグルーブのウォブリングは、いわゆるＡＤＩＰ（Address in Pregroove）データを含むものとされる。つまりグルーブのウォブリング情報を検出することで、ディスク上のアドレスを得ることができるようにされている。

記録可能型ディスクの場合、ウォブリンググルーブによって形成されるトラック上にはフェイズチェンジマークによるレコーディングマークが記録されるが、フェーズチェンジマークはＲＬＬ（１，７）ＰＰ変調方式（ＲＬＬ；Run Length Limited、ＰＰ：Parity preserve/Prohibit rmtr(repeated minimum transition runlength)）等により、線密度0.12μｍ/bit、0.08μｍ/ch bitで記録される。
チャネルクロック周期を「Ｔ」とすると、マーク長は２Ｔから８Ｔとなる。つまり最短符号は２Ｔ、最長符号は８Ｔである。
再生専用ディスクの場合、グルーブは形成されないが、同様にＲＬＬ（１，７）ＰＰ変調方式で変調されたデータがエンボスピット列として記録されているものとなる。

このようなディスクに対応して記録／再生を行うことのできるディスクドライブ装置を図７に示す。
ディスク９０は、例えば上記したブルーレイディスク方式の再生専用ディスク或いは記録可能型ディスクである。
このディスク９０は、ディスクドライブ装置に装填されると図示しないターンテーブルに積載され、記録／再生動作時においてスピンドルモータ２によって一定線速度（ＣＬＶ）で回転駆動される。
そして再生時には光学ピックアップ（光学ヘッド）１によってディスク９０上のトラックに記録されたマーク（ピット）の情報の読出が行われる。
またディスク９０が記録可能型のディスクの場合、データ記録時には光学ピックアップ１によってディスク９０上のトラックにユーザーデータがフェイズチェンジマークもしくは色素変化マークとして記録される。
なお、ディスク９０上には、再生専用の管理情報として例えばディスクの物理情報等がエンボスピット又はウォブリンググルーブによって記録されるが、これらの情報の読出もピックアップ１により行われる。さらに記録可能型のディスク９０に対しては、光学ピックアップ１によってディスク９０上のグルーブトラックのウォブリングとして埋め込まれたＡＤＩＰ情報の読み出しもおこなわれる。

ピックアップ１内には、レーザ光源となるレーザダイオードや、反射光を検出するためのフォトディテクタ、レーザ光の出力端となる対物レンズ、レーザ光を対物レンズを介してディスク記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタに導く光学系等が形成される。レーザダイオードは、例えば波長４０５ｎｍのいわゆる青色レーザを出力する。また光学系によるＮＡは０．８５である。
ピックアップ１内において対物レンズは二軸機構によってトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持されている。
またピックアップ１全体はスレッド機構３によりディスク半径方向に移動可能とされている。
またピックアップ１におけるレーザダイオードはレーザドライバ１３からのドライブ信号（ドライブ電流）によってレーザ発光駆動される。

ディスク９０からの反射光情報はフォトディテクタによって検出され、受光光量に応じた電気信号とされてマトリクス回路４に供給される。
マトリクス回路４には、フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データに相当する再生ＲＦ信号、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などを生成する。
さらに、グルーブのウォブリングに係る信号、即ちウォブリングを検出する信号としてプッシュプル信号を生成する。
マトリクス回路４から出力される再生ＲＦ信号はＡ／Ｄ・ＰＬＬ部５へ、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号は光学ブロックサーボ回路１１へ、プッシュプル信号はウォブルデコーダ１５へ、それぞれ供給される。

Ａ／Ｄ・ＰＬＬ部５は、Ａ／Ｄ変換回路とＰＬＬ回路を備え、アナログ信号である再生ＲＦ信号をデジタルデータに変換する。Ａ／Ｄ変換回路の出力Ｄrdは、後段の再生処理部６に供給されるとともに、上記ＰＬＬ回路に供給され、位相同期ループにより再生処理に用いるクロックＣＫを再生する。生成されるクロックＣＫは、Ａ／Ｄ変換回路のサンプリングクロックとされるとともに、再生処理部６での復号処理に用いられる。

再生処理部は、ディスク９０から読み出されてデジタル化された再生ＲＦ信号について２値化復号処理を行い、得られた２値データ列に対してデコード処理、エラー訂正処理等を行って再生データＤｐを得る。
まず２値化処理としては、例えばＰＲ（Partial Response）等化処理及びビタビ復号（最尤復号）処理を行う。即ちパーシャルレスポンス最尤復号処理（ＰＲＭＬ検出方式：Partial Response Maximum Likelihood検出方式）により、２値データ列を得る。
そしてパーシャルレスポンス最尤検出方式を用いて得られた２値データ列に対して、ＲＬＬ（１，７）ＰＰ変調が施されてディスク９０に記録されたデータに対しての復調処理、デインターリーブ、エラー訂正を行うＥＣＣデコード処理等を行って、ディスク９０からの再生データＤｐが復調されることになる。

再生処理部６で再生データＤｐとして復調されたデータは、ホストインターフェース８に転送され、システムコントローラ１０の指示に基づいてホスト機器１００に転送される。ホスト機器１００とは、例えばコンピュータ装置やＡＶ（Audio-Visual）システム機器などである。

ディスク９０が記録可能型ディスクである場合は、その記録／再生時にＡＤＩＰ情報の処理が行われる。
即ちグルーブのウォブリングに係る信号としてマトリクス回路４から出力されるプッシュプル信号は、ウォブルデコーダ１５に供給され、ＡＤＩＰ情報のデコードが行われる。この場合、プッシュプル信号に同期したクロックが生成され、またプッシュプル信号がデジタルデータ化される。そしてＭＳＫ復調、ＳＴＷ復調が行われてＡＤＩＰアドレスを構成するデータ列が復調される。このデータ列に対してデコードが行われ、アドレス値等のＡＤＩＰ情報が復調される。復調されたＡＤＩＰ情報はシステムコントローラ１０に供給される。

記録時には、ホスト機器１００から記録データが転送されてくるが、その記録データはホストインターフェース８を介して記録処理部７に供給される。
記録処理部７は、記録データのエンコード処理として、エラー訂正コード付加（ＥＣＣエンコード）やインターリーブ、サブコードの付加等を行う。またこれらの処理を施したデータに対して、ＲＬＬ（１−７）ＰＰ方式の変調を施す。

記録処理部７で処理された記録データは、ライトストラテジ部１４において、記録補償処理として、記録層の特性、レーザー光のスポット形状、記録線速度等に対する最適記録パワーの微調整やレーザドライブパルス波形の調整などが行われた状態のレーザ駆動パルス信号とされ、レーザドライバ１３に供給される。レーザ駆動パルス信号波形はシステムコントローラ１０の指示に基づいて調整される。
そしてレーザドライバ１３は、記録補償処理したレーザ駆動パルス信号をピックアップ１内のレーザダイオードに与えてレーザ発光駆動を実行させる。これによりディスク９０に記録データに応じたマークが形成されることになる。
なお、レーザドライバ１３は、いわゆるＡＰＣ回路（Auto Power Control）を備え、ピックアップ１内に設けられたレーザパワーのモニタ用ディテクタの出力によりレーザ出力パワーをモニターしながらレーザーの出力が温度などによらず一定になるように制御する。記録時及び再生時のレーザー出力の目標値はシステムコントローラ１０から与えられ、記録時及び再生時にはそれぞれレーザ出力レベルが、その目標値になるように制御する。

光学ブロックサーボ回路１１は、マトリクス回路４からのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号から、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。
即ちフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号を生成し、二軸ドライバ１８によりピックアップ１内の二軸機構のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによってピックアップ１、マトリクス回路４、光学ブロックサーボ回路１１、二軸ドライバ１８、二軸機構によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。
また光学ブロックサーボ回路１１は、システムコントローラ１０からのトラックジャンプ指令に応じて、トラッキングサーボループをオフとし、ジャンプドライブ信号を出力することで、トラックジャンプ動作を実行させる。
また光学ブロックサーボ回路１１は、トラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号や、システムコントローラ１０からのアクセス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成し、スレッドドライバ１９によりスレッド機構３を駆動する。スレッド機構３には、図示しないが、ピックアップ１を保持するメインシャフト、スレッドモータ、伝達ギア等による機構を有し、スレッドドライブ信号に応じてスレッドモータを駆動することで、ピックアップ１の所要のスライド移動が行なわれる。

スピンドルサーボ回路１２はスピンドルモータ２をＣＬＶ回転させる制御を行う。
スピンドルサーボ回路１２は、ウォブル信号に対するＰＬＬ処理で生成されるクロックを、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報として得、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することで、スピンドルエラー信号を生成する。
またデータ再生時においては、データ信号処理回路５内のＰＬＬによって生成される再生クロックが、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成することもできる。
そしてスピンドルサーボ回路１２は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルドライバ１７によりスピンドルモータ２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路１２は、システムコントローラ１０からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。

以上のようなサーボ系及び記録再生系の各種動作はマイクロコンピュータによって形成されたシステムコントローラ１０により制御される。
システムコントローラ１０は、ホストインターフェース８を介して与えられるホスト機器１００からのコマンドに応じて各種処理を実行する。
例えばホスト機器１００から書込命令（ライトコマンド）が出されると、システムコントローラ１０は、まず書き込むべきアドレスにピックアップ１を移動させる。そして記録処理部７により、ホスト機器１００から転送されてきたデータ（例えばビデオデータやオーディオデータ等）について上述したようにエンコード処理を実行させる。そして上記のようにエンコードされたデータに応じてレーザドライバ１３がレーザ発光駆動することで記録が実行される。

また例えばホスト機器１００から、ディスク９０に記録されている或るデータの転送を求めるリードコマンドが供給された場合は、システムコントローラ１０はまず指示されたアドレスを目的としてシーク動作制御を行う。即ち光学ブロックサーボ回路１１に指令を出し、シークコマンドにより指定されたアドレスをターゲットとするピックアップ１のアクセス動作を実行させる。
その後、その指示されたデータ区間のデータをホスト機器１００に転送するために必要な動作制御を行う。即ちディスク９０からのデータ読出を行い、再生処理部６における再生処理を実行させ、要求されたデータを転送する。

メモリ部９は、システムコントローラ１０（マイクロコンピュータ）において実行されるプログラムコードを格納したり、実行中の作業データを一時保管するために使用されたり、ディスク９０から読み出した各種管理情報、物理情報等を格納する記憶領域であり、この図の場合、メモリ部９は、揮発メモリ、不揮発性メモリの双方を含むものとして示している。例えばプログラムを格納するＲＯＭ（Read Only Memory）、演算ワーク領域や各種情報の一時記憶のためのＲＡＭ（Random Access Memory）、ＥＥＰ−ＲＯＭ（Electrically Erasable and Programmable Read Only Memory）等の不揮発性メモリを含む。

また後に、ライトストラテジ調整においてテスト記録を行う例を述べるが、その際に記録するテスト記録データとして、固定のデータパターンを使用する場合、該テスト記録データとしてのデータをメモリ部９に記憶させるようにしてもよい。またテスト記録データとしてランダムパターンを用いる場合は、システムコントローラ１０がランダムデータ発生機能を備えるようにすればよい。

品質評価部２０は、品質測定値算出部２１と信頼性評価部２２を有する。
品質測定値算出部２１は、再生処理部６で処理される信号の品質を示す品質測定値Ｅｑを算出する。
信頼性評価部２２は、品質測定値Ｅｑの信頼性を示す信頼性評価値Ｅｒを算出する。
この品質測定値Ｅｑ及び信頼性評価値Ｅｒは、制御部３３に供給される。
この品質評価部２０の構成例として、図１〜図５において述べたような例が想定されるものである。
なお、図では品質評価部２０をシステムコントローラ１０とは別のブロックで示しているが、品質評価部２０は、システムコントローラ１０におけるソフトウエア演算機能により実現することもできる。
システムコントローラ１０は、品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒとを用いて、ディスク９０から得られる信号の品質を判定し、判定結果に基づいて所定の調整制御を行うことができる。

なお、上記図１〜図６で述べた構成概念における構成要素と、この図７の構成例は、例えば以下のように対応すると考えることができる。
ヘッド部３０：ピックアップ１及びマトリクス回路４
データ再生系回路部３１：Ａ／Ｄ・ＰＬＬ部５及び再生処理部６
データ記録系回路部３２：記録処理部７，ライトストラテジ１４、及びレーザドライバ１３
制御部３３：システムコントローラ１０及びメモリ部９
テスト記録データ発生部３４：システムコントローラ１０及びメモリ部９

なお図７の例は、ホスト機器１００に接続されるディスクドライブ装置として説明したが、本発明のディスクドライブ装置としては他の機器に接続されない形態もあり得る。その場合は、操作部や表示部が設けられたり、データ入出力のインターフェース部位の構成が、図７とは異なるものとなる。つまり、ユーザーの操作に応じて記録や再生が行われるとともに、各種データの入出力のための端子部が形成されればよい。
もちろんディスクドライブ装置の構成例としては他にも多様に考えられ、例えば再生専用装置としての例も考えられる。

［３．品質測定値及び信頼性評価値を用いたライトストラテジ調整］

このようなディスクドライブ装置において、品質測定値Ｅｑ及び信頼性評価値Ｅｒを用いて再生信号品質を判定し、所定の調整を行う処理として、ライトストラテジ調整を行う場合を例に挙げて説明する。即ち図６で述べた構成で実現される動作例であり、システムコントローラ１０において、図６の記録パルスシフト設定部３３ａ、ライトストラテジ算出部３３ｂの機能を備えられるものとされる。これらの機能に基づいて、システムコントローラ１０は後述する図８の処理の制御を行う。
品質評価部２０については、図５、図６に示したように信頼性評価部２２においてパターン別サンプル数積算器２４ｃと、誤認識率算出部２４ｄと、評価値算出部２３を有する構成であるとして説明する。

なお、先にも述べたが、光ディスクドライブ装置では、レーザの記録波形を構成する記録パラメータをライトストラテジと呼び、このライトストラテジに基づいてレーザを発光させることによりディスク９０に情報（マーク）が記録される。ディスク９０に情報を記録するにあたり、良好な記録品質を実現するためにライトストラテジのパラメータを調整することをライトストラテジ調整と呼ぶ。
このようなライトストラテジ調整を行うときの基準として用いる基本のストラテジ設定を「基準ストラテジ」と呼ぶ。
本例では、基準ストラテジに補正を加えることでライトストラテジ調整を行う。具体的な設定値としては、ディスクメーカーが定めた設定値（ディスク９０に記録されている設定値）や、ディスクドライブ装置が予め記憶しているストラテジ設定値などを基準ストラテジとして用いる。
またライトストラテジ調整としては、一例として、レーザ駆動パルス信号のフロントエッジ・リアエッジをシフトさせる調整を行う。
例えば図１１のようなレーザ駆動パルス信号においては、フロントエッジＥF、リアエッジＥRは図のようなパルスエッジとなる。但しこれはあくまで例であり、実際には生成マークのフロントエッジ（マーク先端位置）とリアエッジ（マーク後端位置）を効果的に調整できるレーザ駆動パルス信号上でのパルスエッジを、メディア種類に合わせて選択することが好適である。
本例のライトストラテジ調整の際には、所定のマーク長を形成するためのレーザ駆動パルス信号におけるフロントエッジＥF、リアエッジＥRの一方又は両方を矢印Ｚ方向にシフトさせ、当該マーク長についてのレーザ駆動パルス信号の信号幅ＷＳ（以下、記録パルス幅）を変化させながらテスト記録をおこなうものとする。

ライトストラテジ調整の処理を図８で説明する。
まず、図８のステップＦ１０１〜Ｆ１０５としてのループ処理で、各調整値（ライトストラテジ）でのテスト記録と、テスト記録されたデータを再生させて信号品質評価のための品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒを取得する処理を行う。当該ループは、ループ制御変数ｉとしてｉ＝０〜８０まで８１回行われる例としている。

ステップＦ１０１では、システムコントローラ１０はライトストラテジ調整値として、２Ｔマーク、３Ｔマークについてのレーザ駆動パルス信号の記録パルス幅ＷＳのシフト設定を行う。
上記のようにテスト記録ループを８１回行うということは、８１とおりの調整値（ライトストラテジ）でそれぞれテスト記録データの記録を行うということである。８１とおりの調整値は、例えば図９のＰ０〜Ｐ８０とする。
図９では、調整値Ｐ０を原点とし、２Ｔマークのためのレーザ駆動パルス信号のパルス幅と、３Ｔマークのためのレーザ駆動パルス信号のパルス幅とを、フロントエッジＥF及びリアエッジＥRのシフトにより、それぞれ±４［ｎｓｅｃ］の範囲で１［ｎｓｅｃ］刻みで可変設定するものとしての各調整値Ｐ０〜Ｐ８０を示している。
調整値Ｐ０は、上記の基準ストラテジとしての記録パルス幅の設定値である。そして例えば調整値Ｐ１は、基準ストラテジよりも、２Ｔマークの記録パルス幅を＋４［ｎｓｅｃ］、３Ｔマークの記録パルス幅を＋４［ｎｓｅｃ］とする調整値を示す。また調整値Ｐ２は、基準ストラテジよりも、２Ｔマークの記録パルス幅を＋４［ｎｓｅｃ］、３Ｔマークの記録パルス幅を＋３［ｎｓｅｃ］とする調整値を示す。同様に、調整値Ｐ３〜Ｐ８０として、基準ストラテジから２Ｔマーク、３Ｔマークのそれぞれの記録パルス幅を可変設定する調整値が決められる。
なお、記録パルス幅をＸ[ｎｓｅｃ]シフトさせる調整値とは、レーザ駆動パルス信号のフロントエッジＥF及びリアエッジＥRを、それぞれ−Ｘ／２［ｎｓｅｃ］，＋Ｘ／２［ｎｓｅｃ］だけシフトすることを指示する調整値と考えればよい。

このような８１とおりの調整値について、例えばループ処理の１回目（ｉ＝０）のときは、ステップＦ１０１でシステムコントローラ１０は基準ストラテジとしての調整値Ｐ０を選択し、この調整値Ｐ０をライトストラテジ部１４に指示する。
そしてステップＦ１０２で、テスト記録を実行させる。即ちシステムコントローラ１０はテスト記録データを記録処理部７に供給し、記録処理部７で記録時のエンコード処理を実行させる。エンコード処理されたテスト記録データは、ライトストラテジ部１４で調整値Ｐ０による波形調整されたレーザ駆動パルス信号とされ、該レーザ駆動パルス信号によってレーザドライバ１３がピックアップ１のレーザ発光駆動を行うことで、ディスク９０にテスト記録データによるマーク／スペース列が記録される。

なお、テスト記録データは例えば２Ｔ〜８Ｔのパターンがランダムに含まれる固定データパターンでもよいし、テスト記録の際に発生させるランダムデータパターンでもよい。
固定データパターンとする場合は、計８１回のテスト記録は、全て同じパターンのデータが記録されることになる。一方、ランダムデータパターンの場合は、計８１回のテスト記録は、それぞれ異なるパターンのデータが記録されることになるが、そのようなテスト記録を行ってもかまわない。
但し、図５で説明したようにパターン別サンプル数の誤認識率により信頼性評価値Ｅｒを生成する場合は、固定データパターンを用いた方が、信頼性評価値Ｅｒの精度は高くなる。

このように１回目のテスト記録を行ったら、続いてステップＦ１０３で品質測定値Ｅｑの計測を実行させる。さらにステップＦ１０４で復号結果信頼性評価値を求め、ステップＦ１０５で信頼性評価値Ｅｒを算出させる。
即ちこのステップＦ１０３，Ｆ１０４，Ｆ１０５では、システムコントローラ１０は、ピックアップ１によりディスク９０からのテスト記録データの読出を実行させ、再生処理部６で再生データＤPのデコード処理を実行させるとともに、品質評価部２０の品質測定値算出部２１に品質測定値Ｅｑを算出させて、その品質測定値Ｅｑを取り込む。
また品質評価部２０の信頼性評価部２２における、復号結果評価部２４（図５のパターン別サンプル数積算器２４ｃと誤認識率算出部２４ｄ）に誤認識率としての復号結果信頼性評価値を求めさせ、さらに評価値算出部２３に誤認識率に基づいて信頼性評価値Ｅｒを算出させ、その信頼性評価値Ｅｒを取り込む。
品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒの算出手法例については後述する。
システムコントローラ１０は、このようにして取り込んだ品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒを、調整値Ｐ０に対応させてメモリ部９に記憶する。

続いて、２回目のテスト記録及び再生を行う。
例えばループ処理の２回目（ｉ＝１）のときは、システムコントローラ１０はストラテジとして調整値Ｐ１を選択し、この調整値Ｐ１をライトストラテジ部１４に指示する。
そして上記同様にステップＦ１０２のテスト記録を行い、当該記録したデータを再生させてステップＦ１０３、Ｆ１０４、Ｆ１０５で品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒを算出させ、取り込んだ品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒを調整値Ｐ１に対応させてメモリ部９に記憶する。

このようなテスト記録及び品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒの取り込みを、さらに調整値Ｐ２〜Ｐ８０について同様に行う。すると、合計８１回のループ処理を完了した時点で、各調整値Ｐ０〜Ｐ８０のそれぞれに対応して、品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒとが取り込めたことになる。

以上のループ処理を終えたら、システムコントローラ１０はステップＦ１０６において、テスト記録結果から最適なライトストラテジ（調整値）を決定する。
この時点では、調整値Ｐ０〜Ｐ８０のそれぞれについて、品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒが記憶されている。最適な調整値の決定の処理としては、例えばまず信頼性評価値Ｅｒを参照して品質測定値Ｅｑを選別する。具体的には、信頼性評価値Ｅｒの値として、「信頼性が保証できない」と判断できる値となっている品質測定値Ｅｑを除外する。即ち信頼性評価値Ｅｒとして所定の閾値を設定して、閾値を基準にして信頼性評価値Ｅｒを選別し、信頼性が低いとされるものを除外する。
そして、信頼性評価値Ｅｒが良好な値であって除外されなかった品質測定値Ｅｑの中で、その品質測定値Ｅｑの値が最もよいものを選択し、その選択した品質測定値Ｅｑに対応する調整値Ｐ（ｘ）を、最適なライトストラテジと決定する。

なお実際の最適な調整値の決定手法は各種考えられる。例えば信頼性評価値Ｅｒが適切な値であって除外されなかった調整値のうちから最適な調整値を選択するときにも、品質測定値Ｅｑだけではなく、信頼性評価値Ｅｒも勘案して選択するような処理も考えられる。
例えば品質測定値Ｅｑとして最もよい値のものが複数あった場合は、その中で信頼性評価値Ｅｒが最もよい値である調整値を選択することや、或いは品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒのそれぞれに所定の係数を掛けて加算するなどの演算を行い、演算結果が最もよい値となる調整値を選択することなどである。

ステップＦ１０７では、ステップＦ１０６で決定した最適な調整値Ｐ（ｘ）を、ライトストラテジ部１４に指示し、以降、ライトストラテジ部１４で、その調整値Ｐ（ｘ）でレーザ駆動パルス信号波形が成形されるようにする。
以上でライトストラテジ調整を完了する。

上記ステップＦ１０３として、品質測定値算出部２１で行われる品質測定値Ｅｑの算出手法と、ステップＦ１０４，Ｆ１０５として、信頼性評価部２２で行われる信頼性評価値Ｅｒの算出手法の例を説明する。

品質測定値算出部２１では、品質測定値Ｅｑを、再生信号の２値化後のマーク長幅平均値の、理想値からの誤差より算出する。
まず図１０に示すように、２Ｔマーク、３Ｔマークそれぞれの２値化後マーク長幅をｗ2Tm、ｗ3Tm［nsec］とする。図１０（ａ）はディスク９０に記録されているマークとして３Ｔマーク、２Ｔマークを示しており、図１０（ｂ）は、そのマーク列から読み出された再生ＲＦ信号波形である。そして図１０（ｃ）は再生処理部６で二値化された２値化信号である。この２値化信号における２Ｔマーク、３Ｔマークについてのマーク長幅をｗ2Tm、ｗ3Tm［nsec］とする。

このマーク長幅ｗ2Tm、ｗ3Tmを、測定区間内で繰り返し計測して算出される平均値をＷ2Tm、Ｗ3Tmとする。
ここで、測定区間内での２Ｔマーク、３Ｔマークのサンプル数（出現回数）をＮ2Tm、Ｎ3Tmとすれば、平均値Ｗ2Tm、Ｗ3Tmは、

である。なお、Σは測定区間内での総和を示す。

次に、平均値Ｗ2Tm、Ｗ3Tmとマーク長幅の理想値との差をそれぞれΔＷ2Tm、ΔＷ3Tmとすると、

となる。Ｔはチャネルクロック周期[nsec]である。

この理想値との差の値ΔＷ2Tm、ΔＷ3Tmを使い、品質測定値Ｅｑを、

とする。
この品質測定値Ｅｑが小さい値であるほど、２Ｔマーク幅・３Ｔマーク幅が理想値に近いと言える。

次に、信頼性評価値Ｅｒの算出例を述べる。
図５、図６に示したように、信頼性評価部２２が、パターン別サンプル数積算器２４ｃ、誤認識率算出部２４ｄ、評価値算出部２３を有する構成とされる場合の例とする。

この場合、正しく復号が行われているかどうかを知るための復号結果の信頼性評価値として、パターン別サンプル数を計測して、パターンの誤認識率を算出し、この誤認識率により信頼性評価値Ｅｒを得る。
測定区間内での２Ｔマーク、３Ｔマークの誤認識率ＲN2Tm、ＲN3Tmは、

となる。但し、Ｎ2Tm、Ｎ3Tmは測定区間内での２Ｔマーク、３Ｔマークのサンプル数（出現回数）であり、Ｎ2Tm_ i、Ｎ3Tm_ iは、テスト記録に用いたテスト記録データパターン中に存在する２Ｔマーク、３Ｔマークの数である。
テスト記録データが固定データパターンである場合は、２Ｔマーク、３Ｔマークの存在数Ｎ2Tm_ i、Ｎ3Tm_ iは、予めわかっている。
テスト記録データがランダムデータパターンである場合は、２Ｔマーク、３Ｔマークとしての存在数Ｎ2Tm_ i、Ｎ3Tm_ iは、一般的な存在頻度から推定される値とすればよい。

つまり、パターン別サンプル数積算器２４ｃは、テスト記録データを再生したときに、２Ｔマーク、３Ｔマークが出現したら、それぞれカウントしていくことで、測定区間内での２Ｔマーク、３Ｔマークのサンプル数（出現回数）Ｎ2Tm、Ｎ3Tmを求める。
そして誤認識率算出部２４ｄは、カウントされた２Ｔマーク、３Ｔマークのサンプル数Ｎ2Tm、Ｎ3Tmと、元々の２Ｔマーク、３Ｔマークの存在数Ｎ2Tm_ i、Ｎ3Tm_ iを用いて上記（数４）の演算を行い、誤認識率ＲN2Tm、ＲN3Tmを求める。

そして評価値算出部２３は、この誤認識率ＲN2Tm、ＲN3Tmにより信頼性評価値Ｅｒを算出する。例えば信頼性評価値Ｅｒを、次の（数５）で算出する。

この（数５）は、誤認識率ＲN2Tm、ＲN3Tmのうちの値の大きい方を信頼性評価値Ｅｒとするという意味である。
そしてこのように求められた信頼性評価値Ｅｒは、その値が小さい値であるほど、品質測定値の信頼性が高いと言えるものとなる。

例えば以上のようにして品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒが求められる。
上記図８のステップＦ１０６では、各調整値Ｐ０〜Ｐ８０のそれぞれについて求められた品質測定値Ｅｑと信頼性評価値Ｅｒから、最適の調整値を決定する。
例えばこの場合、８１種類の調整値（ライトストラテジ）でのテスト記録の再生結果から、品質測定値Ｅｑが最も小さい調整値を最善のライトストラテジとして選出する。但し、このとき信頼性評価値Ｅｒが閾値Ｅｒth以上であるものは選出対象から除くことで、図１２（ｃ）で説明したような状況で不適切な値となっている品質測定値Ｅｑを除外する。これによって、品質測定値Ｅｑに基づいて選定される調整値は、正しく最適なライトストラテジとなる。つまりライトストラテジ調整が適切に実行できることになる。

本実施の形態において以上のようなライトストラテジ調整を行うことで、ディスクドライブ装置におけるライトストラテジ調整の信頼性を向上させることが可能となる。
例えばライトストラテジ調整の起点とする初期ストラテジ（上記調整値Ｐ０）の品質が非常に悪い場合、調整のために行うテスト記録の品質も非常に悪くなるため、例えばマーク長を誤って復号するなどの原因からライトストラテジ調整の評価指標として用いる品質測定値を正しく取得できないことがあった。この結果、従来は誤ったストラテジ調整を実施してしまうことがあったが、本例によれば、品質測定値Ｅｑの信頼性を示す信頼性評価値Ｅｒを算出することで、このような不都合は解消され、結果としてライトストラテジ調整の信頼性を向上させることができる。

以上、実施の形態ではライトストラテジ調整を例に具体例を説明したが、本発明はライトストラテジ調整以外の用途にも適用可能である。
例えば、フォーカスサーボ、トラッキングサーボ、チルト調整、光学系の球面収差補正などの各種自動調整において、品質測定値Ｅｑに再生データとクロックのタイミング誤差によるジッタ値や再生信号振幅値などを使うことが考えられ、この場合にも、信頼性評価値Ｅｒを使って品質測定値Ｅｑの信頼性を検知することは有効である。
また本発明はブルーレイディスクに対応する再生装置又は記録再生装置以外にも、各種のメディアに関する再生装置、調整方法として適用できる。例えばブルーレイディスク以外の各種光ディスクや、磁気ディスク、光磁気ディスク、カードメディアなどの再生装置、記録再生装置において本発明は適用できる。、

本発明の実施の形態の構成概念の説明図である。 実施の形態の信頼性評価部の構成概念の説明図である。 実施の形態の復号結果評価部の構成例の説明図である。 実施の形態の復号結果評価部の構成例の説明図である。 実施の形態の復号結果評価部の構成例の説明図である。 実施の形態のライトストラテジ調整を行う場合の構成概念の説明図である。 実施の形態のディスクドライブ装置のブロック図である。 実施の形態のライトストラテジ調整のフローチャートである。 実施の形態のライトストラテジ調整値の説明図である。 実施の形態の品質測定値の算出に用いるマーク長幅の説明図である。 実施の形態のライトストラテジ調整パラメータの説明図である。 品質測定値が誤った値となる例の説明図である。

符号の説明

１ 光ピックアップ、４ マトリクス回路、５ Ａ／Ｄ・ＰＬＬ部、６ 再生処理部、７ 記録処理部、９ メモリ部、１０ システムコントローラ、１３ レーザドライバ、１４ ライトストラテジ部、２０ 品質評価部、２１ 品質測定値算出部、２２ 信頼性評価部、２３ 評価値算出部、２４ 復号結果評価部、２４ａ ＳＥＲ算出部２１、２４ｂ ｂＥＲ算出部、２４ｃ パターン別サンプル数積算器、２４ｄ 誤認識率算出部、３０ ヘッド部、３１ データ再生系回路部、３２ データ記録系回路部、３３ 制御部、３４ テスト記録データ発生部

Claims (9)

1. マーク及びスペースの列により情報が記録された記録媒体から信号の読み出しを行うヘッド部と、
   上記ヘッド部で読み出された信号に対して再生処理を行い、再生データを得るデータ再生系回路部と、
   上記ヘッド部で読み出された信号の品質を示す品質測定値を算出する品質測定値算出部と、
   上記品質測定値の信頼性を示す信頼性評価値を算出する信頼性評価部と、
   上記信頼性評価値と上記品質測定値を用いて、上記記録媒体から得られる信号の品質を判定し、判定結果に基づいて所定の調整制御を行う制御部と、
   を備えることを特徴とする再生装置。
2. 上記信頼性評価部は、
   上記データ再生系回路部での復号結果の信頼性を示す復号結果評価値を得る復号結果評価部と、
   上記復号結果評価値を用いて、上記信頼性評価値を算出する評価値算出部と、
   を備えることを特徴とする請求項１に記載の再生装置。
3. 上記復号結果評価部は、
   上記データ再生系回路部での復号時のエラー訂正処理結果から求められるシンボルエラーレートを、上記復号結果評価値とすることを特徴とする請求項２に記載の再生装置。
4. 上記復号結果評価部は、
   上記データ再生系回路部で得られたデータについてのビット単位の正誤判断により求められるビットエラーレートを、上記復号結果評価値とすることを特徴とする請求項２に記載の再生装置。
5. 上記復号結果評価部は、
   上記記録媒体において上記マーク及びスペースで表現された情報のパターンとして、特定パターンについての上記データ再生系回路部での誤認識率を求め、該誤認識率を上記復号結果評価値とすることを特徴とする請求項２に記載の再生装置。
6. 上記ヘッド部は、上記記録媒体にマーク及びスペースの列による情報の記録を行うことができるとともに、
   記録するデータに基づく記録駆動信号を上記ヘッド部に与えて上記記録媒体へのマーク記録を実行させるデータ記録系回路部を更に備え、
   上記制御部は、上記信頼性評価値と上記品質測定値を用いて、上記記録駆動信号の調整制御を行うことを特徴とする請求項１に記載の再生装置。
7. 上記制御部は、
   上記記録駆動信号の調整値を切り換えながら、上記データ記録系回路部及び上記ヘッド部により、上記記録媒体へのテスト記録データの記録を実行させた後、
   上記ヘッド部及び上記データ再生系回路部により、上記各調整値において記録したテスト記録データの再生を実行させ、上記各調整値に対応して得られる上記信頼性評価値と上記品質測定値を用いて、上記記録駆動信号の調整制御を行うことを特徴とする請求項６に記載の再生装置。
8. 上記ヘッド部は、上記記録媒体にレーザ光を照射してマーク及びスペースの列による情報の記録及び読出を行う光学ヘッド部とされ、
   上記データ記録系回路部は、上記記録駆動信号としてレーザ駆動パルス信号を生成し、
   上記制御部は、上記調整制御として、上記レーザ駆動パルス信号のエッジタイミングの調整制御を行うことを特徴とする請求項６に記載の再生装置。
9. マーク及びスペースの列により情報が記録される記録媒体に対して再生を行う再生装置の信号品質評価方法として、
   マーク及びスペースの列により情報が記録された記録媒体から信号の読み出しを行うステップと、
   読み出された信号の品質を示す品質測定値を算出するステップと、
   上記品質測定値の信頼性を示す信頼性評価値を算出するステップと、
   上記信頼性評価値により信頼性が保たれていると判別される上記品質測定値を用いて、上記記録媒体から読み出された信号の品質を評価するステップと、
   を備えることを特徴とする信号品質評価方法。

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