JP2007502545A - Nanotube-based exchange element with a plurality of control devices and circuit produced from said element - Google Patents

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Abstract

複数の制御装置を有するナノチューブを基礎とする交換エレメントとこのようなエレメントから製造される回路。交換エレメントは、入力ノードと、出力ノードと、少なくとも1つの導電性ナノチューブを有するナノチューブ・チャネル・エレメントとを含む。ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して、上記入力ノードと上記出力ノードとの間には、導電性のチャネルを制御可能式に形成しかつ形成しない制御構造体が配置される。出力ノードは、チャネルの形成が実質的に出力ノードの電気的状態によって影響されないように構成されかつ配置される。制御構造体は、ナノチューブ・チャネル・エレメントの反対の両側に配置される制御電極とリリース電極とを含む。制御及びリリースは差動入力を形成するために使用される、またはデバイスが適切に構成されていれば回路を不揮発的に動作させるために使用されることが可能である。交換エレメントは、構成に依存して差動入力及び/または不揮発性行動を有する論理回路及びラッチへと配置されることが可能である。
【選択図】 図1A
Nanotube-based exchange elements with a plurality of control devices and circuits produced from such elements. The switching element includes an input node, an output node, and a nanotube channel element having at least one conductive nanotube. In connection with the nanotube channel element, a control structure is disposed between the input node and the output node that controllably forms and does not form a conductive channel. The output node is constructed and arranged such that the formation of the channel is not substantially affected by the electrical state of the output node. The control structure includes a control electrode and a release electrode disposed on opposite sides of the nanotube channel element. Control and release can be used to form a differential input, or can be used to operate the circuit in a non-volatile manner if the device is properly configured. Switching elements can be arranged into logic circuits and latches with differential inputs and / or non-volatile behavior, depending on the configuration.
[Selection] Figure 1A

Description

本発明は概してナノチューブ交換回路に関し、特にはナノチューブを使用してスイッチの導電チャネルを形成しかつブール論理回路等の大型回路へ相互接続されることが可能なナノチューブ交換回路に関する。   The present invention relates generally to nanotube exchange circuits, and more particularly to nanotube exchange circuits that use nanotubes to form the conductive channel of a switch and to be interconnected to large circuits such as Boolean logic circuits.

<関連出願の相互参照>
本件出願は、特許法第119条(e)に基づいて、本参照によりその全体が開示に含まれる2003年8月13日に提出された「ナノ電気機械的ナノチューブを基礎とする論理」と題する米国暫定特許出願第60/494,889号に対する優先権を主張する。本件出願はまた、特許法第119条(e)に基づいて、本参照によりその全体が開示に含まれる2004年4月12日に提出された「不揮発性CNTデュアル・レール差動論理」と題する米国暫定特許出願第60/561,330号に対する優先権を主張する。
<Cross-reference of related applications>
This application is entitled “Logic Based on Nanoelectromechanical Nanotubes” filed on August 13, 2003, which is hereby incorporated by reference in its entirety, under 35 USC 119 (e) Claims priority to US Provisional Patent Application No. 60 / 494,889. This application is also entitled “Nonvolatile CNT Dual Rail Differential Logic” filed on April 12, 2004, which is hereby incorporated by reference in its entirety, under 35 USC 119 (e) Claims priority to US Provisional Patent Application No. 60 / 561,330.

デジタル論理回路は、パーソナル・コンピュータ、個人用システム手帳及び計算機等の携帯用電子デバイス、娯楽用電子デバイス及び電気製品、電話交換システム、自動車、航空機及び他の製造品目のための制御回路に使用される。初期のデジタル論理は、個々のバイポーラ・トランジスタから成る離散型の交換エレメントから構成された。バイポーラ集積回路の発明により、多数の個々の交換エレメントを単一のシリコン基板上で組み合わせてインバータ、NANDゲート、NORゲート、フリップ・フロップ、加算器、他等の完全なデジタル論理回路を生成することができるようになった。しかしながら、バイポーラ・デジタル集積回路の密度は、その高い電力消費及び回路動作中に生成される熱を消散させるパッケージング技術の能力によって限定される。電界効果トランジスタ(「FET」)交換エレメントを使用する金属酸化物半導体(「MOS」)集積回路の利用可能性は、デジタル論理の電力消費量を大幅に減らし、かつ現行技術に使用される高密度の複雑なデジタル回路の構成を可能にする。しかしながらMOSデジタル回路の密度及び動作速度もやはりこのデバイスの動作中に生成される熱を消散させる必要性によって制限される。   Digital logic circuits are used in control circuits for portable electronic devices such as personal computers, personal system notebooks and computers, entertainment electronic devices and electrical products, telephone switching systems, automobiles, aircraft and other manufactured items. The Early digital logic consisted of discrete switching elements consisting of individual bipolar transistors. With the invention of the bipolar integrated circuit, a large number of individual switching elements can be combined on a single silicon substrate to produce a complete digital logic circuit such as an inverter, NAND gate, NOR gate, flip-flop, adder, etc. Can now. However, the density of bipolar digital integrated circuits is limited by their high power consumption and the ability of packaging technology to dissipate the heat generated during circuit operation. The availability of metal oxide semiconductor (“MOS”) integrated circuits using field effect transistor (“FET”) switching elements greatly reduces the power consumption of digital logic and the high density used in current technology Enables the construction of complex digital circuits. However, the density and operating speed of MOS digital circuits are also limited by the need to dissipate the heat generated during operation of the device.

バイポーラまたはMOSデバイスから構成されるデジタル論理集積回路は、高熱または極端な環境の条件下では正しく機能しない。現在のデジタル集積回路は一般に、摂氏100度未満の温度で動作するように設計されていて、摂氏200度を超える温度で動作するものはほとんどない。従来の集積回路では、個々の交換エレメントの「オフ」状態における漏れ電流は温度と共に急速に増加する。漏れ電流が増加するにつれて、デバイスの動作温度は上昇し、回路の消費電力は増大しかつオフ状態のオン状態からの区別化の困難さが回路の信頼性を下げる。また従来のデジタル論理回路は、ある種の極端な環境に曝されると半導体材料内に電流が発生することから内部的に短絡する。このような環境に曝されても動作を続けることができるように特殊なデバイス及び分離技術を伴う集積回路を製造することは可能であるが、このようなデバイスはコストが高く、その入手可能性及び実用性が制限される。さらに、このようなデジタル回路はその正常な対応物からのタイミング差を示し、既存設計に保護を加える追加的な設計検証を必要とする。   Digital logic integrated circuits composed of bipolar or MOS devices do not function correctly under conditions of high heat or extreme environments. Current digital integrated circuits are generally designed to operate at temperatures below 100 degrees Celsius, and few operate at temperatures above 200 degrees Celsius. In conventional integrated circuits, the leakage current in the “off” state of individual switching elements increases rapidly with temperature. As the leakage current increases, the operating temperature of the device increases, the power consumption of the circuit increases, and the difficulty of distinguishing the off state from the on state reduces the reliability of the circuit. Also, conventional digital logic circuits are internally short-circuited when exposed to certain extreme environments because current is generated in the semiconductor material. Although it is possible to fabricate integrated circuits with specialized devices and isolation techniques so that they can continue to operate in such an environment, such devices are costly and their availability And practicality is limited. In addition, such digital circuits show timing differences from their normal counterparts and require additional design verification that adds protection to existing designs.

バイポーラまたはFET交換エレメントの何れかから構成される集積回路は、揮発性である。これらは、デバイスに電力が印加される間しかその内部論理状態を保持しない。論理状態を保持するEEPROM(電気的に消去可能なプログラム可能読取り専用メモリ)等の何らかのタイプの不揮発性メモリ回路がデバイスの内側または外側に追加されない限り、電力が除去されると内部状態は失われる。論理状態を保持する不揮発性メモリが使用されるとしても、電力が失われる前にデジタル論理状態をメモリへ転送しかつデバイスへ電力が復帰すると個々の論理回路の状態を回復させる追加の回路が必要である。また揮発性デジタル回路内の情報逸失を回避するためのバッテリ・バックアップのような他のソリューションも、デジタル設計のコスト及び複雑さを増大させる。   Integrated circuits composed of either bipolar or FET exchange elements are volatile. They retain their internal logic state only while power is applied to the device. Unless some type of non-volatile memory circuit is added inside or outside the device, such as an EEPROM (electrically erasable programmable read-only memory) that retains the logic state, the internal state is lost when power is removed . Even if a non-volatile memory that retains the logic state is used, additional circuitry is required to transfer the digital logic state to the memory before power is lost and restore the state of the individual logic circuits when power is restored to the device It is. Other solutions such as battery backup to avoid information loss in volatile digital circuits also increase the cost and complexity of digital design.

電子デバイスにおける論理回路の重要な特徴は、低コスト、高密度、低電力及び高速性である。従来の論理ソリューションはシリコン基板に限定されるが、他の基板上に構築される論理回路は、論理デバイスが多くの製造品へ単一のステップで直接組み込まれることを許容し、さらにコストを削減すると思われる。   Important features of logic circuits in electronic devices are low cost, high density, low power and high speed. Traditional logic solutions are limited to silicon substrates, but logic circuits built on other substrates allow logic devices to be integrated directly into many manufactured products in a single step, further reducing costs It seems to be.

単層カーボン・ナノチューブ等のナノスケール・ワイヤを使用してメモリ・セルとして機能するクロスバー接合部を形成するデバイスは、提案されている。(WO 01/03208「ナノスケール・ワイヤを基礎とするデバイス、アレイ及びその製造方法」、及びThomas Rueckes外著「分子計算のためのカーボン・ナノチューブを基礎とする不揮発性ランダム・アクセス・メモリ」サイエンス、第289巻、94−97ページ、2000年7月7日、を参照されたい。)以後、これらのデバイスをナノチューブ・ワイヤ・クロスバー・メモリ(NTWCM)と呼ぶ。これらの提案では、他のワイヤ上に吊される個々の単層ナノチューブ・ワイヤがメモリ・セルを画定する。電気信号は、一方または両方のワイヤへ、これらを互いに物理的に引きつける、または反発させるために書き込まれる。各物理的状態(即ち、引きつけられる、または反発されるワイヤ)は、電気的状態に対応する。反発されるワイヤは、開回路の接合部である。引きつけられるワイヤは、整流接合部を形成する閉路状態である。接合部から電力が除去されると、ワイヤはその物理的(よって電気的)状態を保持し、これにより不揮発性メモリ・セルが形成される。   Devices have been proposed that use nanoscale wires such as single-walled carbon nanotubes to form crossbar junctions that function as memory cells. (WO 01/03208 “Devices, Arrays and Manufacturing Methods Based on Nanoscale Wires”, and Thomas Rueckes et al., “Nonvolatile Random Access Memory Based on Carbon Nanotubes for Molecular Computation” Science 289, pp. 94-97, July 7, 2000.) These devices are hereinafter referred to as Nanotube Wire Crossbar Memory (NTWCM). In these proposals, individual single-walled nanotube wires suspended on other wires define a memory cell. Electrical signals are written to one or both wires to physically attract or repel them together. Each physical state (ie, a wire that is attracted or repelled) corresponds to an electrical state. The repelled wire is an open circuit junction. The attracted wire is in a closed state that forms a rectifying junction. When power is removed from the junction, the wire retains its physical (and hence electrical) state, thereby forming a non-volatile memory cell.

米国特許公報第2003−0021966号は、とりわけメモリ・セル等の電気機械回路を開示していて、上記回路は、導電トレースと基板表面から伸長するサポートとを有する構造体を含む。電気機械的に変形可能なナノチューブ・リボンまたはスイッチは、導電トレースと交差するサポートによって吊り下げられる。各リボンは、1つまたは複数のナノチューブを備える。リボンは、典型的にはナノチューブの層またはマット状ファブリックから選択的に材料を除去することから形成される。   U.S. Patent Publication No. 2003-0021966 discloses an electromechanical circuit, such as a memory cell, among others, which includes a structure having conductive traces and a support extending from the substrate surface. The electromechanically deformable nanotube ribbon or switch is suspended by a support that intersects the conductive trace. Each ribbon comprises one or more nanotubes. Ribbons are typically formed from selectively removing material from a nanotube layer or matte fabric.

例えば、米国特許公報第2003−0021966号に開示されているように、ナノファブリックをパターン化してリボンにしてもよく、このリボンは不揮発性電気機械メモリ・セルを生成するコンポーネントとして使用可能である。リボンは、制御トレース及び/またはリボンの電気的刺激に応答して電気機械的に偏向可能である。リボンの偏向された物理的状態は、対応する情報状態を表示するように製造されることが可能である。偏向された物理的状態は不揮発特性を有するが、これは、メモリ・セルへの電力が除去されてもリボンはその物理的(よって情報の)状態を保持することを意味する。米国特許公報第2003−0124325号で説明されているように、電気機械メモリ・セルには3トレース・アーキテクチャを使用してもよく、この場合、2つのトレースはリボンの偏向を制御するための電極である。   For example, as disclosed in US Patent Publication No. 2003-0021966, nanofabrics may be patterned into ribbons, which can be used as components to create non-volatile electromechanical memory cells. The ribbon can be deflected electromechanically in response to control traces and / or electrical stimulation of the ribbon. The deflected physical state of the ribbon can be manufactured to display the corresponding information state. A deflected physical state has a non-volatile characteristic, which means that the ribbon retains its physical (and therefore informational) state even when power to the memory cell is removed. As described in US Patent Publication No. 2003-0124325, a three-trace architecture may be used for electromechanical memory cells, where the two traces are electrodes for controlling ribbon deflection. It is.

また、デジタル情報の格納に電気機械的双安定デバイスを使用することも提案されている(US4979149:ミクロ機械的格納エレメントを含む不揮発性メモリ・デバイス参照)。   It has also been proposed to use electromechanical bistable devices for the storage of digital information (see US 4979149: non-volatile memory devices containing micromechanical storage elements).

カーボン・ナノチューブ(それ自体で構築される単層を含む)及び金属電極を基礎とする双安定ナノ電気機械的スイッチの生成及び動作は、Nantero社の先の特許出願に詳述されている(米国特許第6574130号、第6643165号、第6706402号、米国特許出願第09/915093号、第10/033323号、第10/033032号、第10/128117号、第10/341005号、第10/341055号、第10/341054号、第10/341130号、第10/776059号及び第10/776572号。これらの内容は全て本参照により開示に含まれる)。   The generation and operation of bistable nanoelectromechanical switches based on carbon nanotubes (including single-layers built on their own) and metal electrodes are described in detail in a previous patent application of Nantero (US Patent Nos. 6574130, 6643165, 6706402, U.S. Patent Application Nos. 09/91593, 10/033323, 10/033032, 10/128117, 10/341005, 10/341505 No. 10/341044, No. 10/341130, No. 10/776059, and No. 10/775722, all of which are incorporated herein by reference.

本発明は、複数の制御装置を有するナノチューブを基礎とする交換エレメント及びこのようなエレメントから製造される回路を提供する。   The present invention provides nanotube-based exchange elements having a plurality of control devices and circuits made from such elements.

本発明のある態様の下では、交換エレメントは入力ノードと、出力ノードと、少なくとも1つの導電ナノチューブを有するナノチューブ・チャネル・エレメントとを含む。ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して、上記入力ノードと上記出力ノードとの間には導電性のチャネルを制御可能式に形成しかつ形成しない制御構造体が配置される。出力ノードは、チャネルの形成が実質的に出力ノードの電気的状態によって影響されないように構成されかつ配置される。   Under certain aspects of the present invention, the switching element includes an input node, an output node, and a nanotube channel element having at least one conductive nanotube. In connection with the nanotube channel element, a control structure is disposed between the input node and the output node that controllably forms and does not form a conductive channel. The output node is constructed and arranged such that the formation of the channel is not substantially affected by the electrical state of the output node.

本発明の別の態様の下では、上記制御構造体は、ナノチューブ・チャネル・エレメントの反対の両側に配置される制御電極とリリース電極とを含む。   Under another aspect of the present invention, the control structure includes a control electrode and a release electrode disposed on opposite sides of the nanotube channel element.

本発明の別の態様の下では、チャネル形成は不揮発状態である。   Under another aspect of the invention, the channel formation is in a non-volatile state.

本発明の別の態様の下では、上記制御電極及び上記リリース電極は、ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの電気機械的偏向を引き起こすことによって上記導電チャネルを形成しかつ形成しないように配置される。   Under another aspect of the invention, the control electrode and the release electrode form the conductive channel by causing electromechanical deflection of the nanotube channel element in relation to the nanotube channel element. And it arrange | positions so that it may not form.

本発明の別の態様の下では、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントは上記制御構造体の反対の両側に配置される2つの電極セットを有する分離構造体を含み、各電極セットは上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの反対側に配置される電極を含む。   Under another aspect of the invention, the nanotube channel element includes a separation structure having two electrode sets disposed on opposite sides of the control structure, each electrode set comprising the nanotube channel element. Including an electrode disposed on the opposite side of the element.

本発明の別の態様の下では、上記2つの電極セットは制御構造体に対して対称配置される。   Under another aspect of the invention, the two electrode sets are arranged symmetrically with respect to the control structure.

本発明の別の態様の下では、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントは上記入力ノードと電気的に連絡している状態にありかつ上記制御電極及びリリース・ノードに対して間隔を置いて交差する関係で位置決めされ、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの偏向は上記入力ノード、上記制御電極及び上記リリース・ノード上の信号から結果的に生じる静電力に応答する。   Under another aspect of the invention, the nanotube channel element is in electrical communication with the input node and in a relationship intersecting the control electrode and the release node at a distance. Positioned, the deflection of the nanotube channel element is responsive to the electrostatic force resulting from the signals on the input node, the control electrode and the release node.

本発明の別の態様の下では、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの偏向は上記制御電極に適用される差分信号関係に応答する。   Under another aspect of the invention, the deflection of the nanotube channel element is responsive to a differential signal relationship applied to the control electrode.

本発明の別の態様の下では、ブール論理回路は少なくとも1つの差動入力端子セット及び出力端子と、上記少なくとも1つの差動入力端子セットと上記出力端子との間に電気的に配置されるナノチューブ交換エレメントのネットワークとを含む。上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは、上記少なくとも1つの差動入力端子セットに対してブール信号のブール関数変換を達成する。   Under another aspect of the present invention, a Boolean logic circuit is electrically disposed between at least one differential input terminal set and output terminal and between the at least one differential input terminal set and the output terminal. A network of nanotube exchange elements. The network of nanotube exchange elements achieves a Boolean function transformation of a Boolean signal for the at least one differential input terminal set.

本発明の別の態様の下では、上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは上記少なくとも1つの差動入力端子セットに対して信号のブールNOT関数を達成する。   Under another aspect of the present invention, the network of nanotube exchange elements achieves a Boolean NOT function of signals for the at least one differential input terminal set.

本発明の別の態様の下では、上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは少なくとも第1及び第2の差動入力端子セットに対して信号のブールNOR関数を達成する。   Under another aspect of the invention, the network of nanotube exchange elements achieves a Boolean NOR function of the signal for at least the first and second differential input terminal sets.

本発明の別の態様の下では、ブール論理回路は少なくとも1つの入力端子及び出力端子と、上記少なくとも1つの入力端子と上記出力端子との間に電気的に配置されるナノチューブ交換エレメントのネットワークとを含む。上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは、上記少なくとも1つの入力端子に対してブール信号のブール関数変換を達成し、上記ナノチューブ交換エレメントの少なくとも1つは情報状態を不揮発式に保持する能力がある。   Under another aspect of the present invention, a Boolean logic circuit includes at least one input terminal and an output terminal, and a network of nanotube exchange elements electrically disposed between the at least one input terminal and the output terminal. including. The network of nanotube exchange elements achieves a Boolean function transformation of a Boolean signal to the at least one input terminal, and at least one of the nanotube exchange elements is capable of holding an information state in a nonvolatile manner.

本発明の別の態様の下では、上記少なくとも1つのナノチューブ交換エレメントは情報状態を不揮発式に保持する能力があり、少なくとも1つの導電ナノチューブを有するナノチューブ・チャネル・エレメントと、上記少なくとも1つの交換エレメントの入力ノードと上記少なくとも1つの交換エレメントの出力ノードとの間で導電チャネルを制御可能式に形成しかつ形成しないように上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して配置される制御構造体とを含む。   Under another aspect of the present invention, the at least one nanotube exchange element is capable of retaining information state in a nonvolatile manner, a nanotube channel element having at least one conductive nanotube, and the at least one exchange element. A control structure disposed in relation to the nanotube channel element so as to controllably form and not form a conductive channel between the input node and the output node of the at least one switching element .

本発明の別の態様の下では、ラッチ回路は少なくとも1つの入力端子及び出力端子と、第1及び第2のインバータ回路とを含む。各インバータ回路は、入力ノードと、出力ノードと、少なくとも1つの導電ナノチューブを有するナノチューブ・チャネル・エレメントと、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントと相対配置される、上記出力ノードへの導電チャネルを制御可能式に形成するための制御電極と、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントと相対配置される、上記出力ノードへの導電チャネルを制御可能式に形成しないためのリリース電極とを有するナノチューブ交換エレメントを含む。上記第1のインバータ回路の出力ノードは上記第2のインバータ回路の制御電極へ結合され、上記第2のインバータ回路の出力ノードは上記第1のインバータ回路の制御電極へ結合される。   Under another aspect of the present invention, the latch circuit includes at least one input terminal and an output terminal, and first and second inverter circuits. Each inverter circuit can control an input node, an output node, a nanotube channel element having at least one conductive nanotube, and a conductive channel to the output node disposed relative to the nanotube channel element A nanotube exchange element having a control electrode for forming and a release electrode for controllably forming a conductive channel to the output node disposed relative to the nanotube channel element. The output node of the first inverter circuit is coupled to the control electrode of the second inverter circuit, and the output node of the second inverter circuit is coupled to the control electrode of the first inverter circuit.

本発明の別の態様の下では、各ナノチューブ・チャネル・エレメントは上記ナノチューブ・エレメント、上記制御電極及び上記リリース電極上に信号が存在しない場合に状態を保持する。   Under another aspect of the invention, each nanotube channel element retains its state when no signal is present on the nanotube element, the control electrode, and the release electrode.

本発明の好適な実施形態は、ナノチューブを基礎とするチャネルが制御可能式に形成されかつ形成されないことが可能であって、信号は信号ノードから出力ノードへ転送され得る交換エレメントを提供する。交換エレメントは、チャネルの形成及び不形成を制御し、デュアル・レール・ケイパビリティを供給しかつ新規方法に使用される複数の制御電極を含む。転送される信号は、交換エレメントが使用されかつ配置される方法に依存して変動信号である場合も基準信号である場合もある。好適な実施形態は、このような信号転送及び交換エレメントの動作が出力状態に対して実質的に不変であるように絶縁構造体を提供する。例えば、出力ノードは浮動式及び/または他の電気コンポーネントに結ばれていてもよく、回路は予測可能なスイッチ状に動作する。従って、交換エレメントはブール論理回路等の大型回路に形成されてもよい。幾つかの実施形態の下では、交換エレメントは相補回路として使用される。幾つかの実施形態の下では、スイッチは不揮発性論理を供給する電力なしでその状態を保持する。幾つかの実施形態の下では、交換エレメントは差動(デュアル・レール)論理の形成に使用される。   Preferred embodiments of the present invention provide switching elements in which nanotube-based channels can be controllably formed and not formed, and signals can be transferred from signal nodes to output nodes. The exchange element includes a plurality of control electrodes that control channel formation and non-formation, provide dual rail capability, and are used in the novel method. The transferred signal may be a variable signal or a reference signal depending on the way the switching elements are used and arranged. The preferred embodiment provides an isolation structure such that the operation of such signal transfer and switching elements is substantially invariant to output conditions. For example, the output node may be connected to floating and / or other electrical components, and the circuit operates in a predictable switch. Therefore, the exchange element may be formed in a large circuit such as a Boolean logic circuit. Under some embodiments, the exchange element is used as a complementary circuit. Under some embodiments, the switch maintains its state without power to provide non-volatile logic. Under some embodiments, switching elements are used to form differential (dual rail) logic.

図1Aは、ある好適なナノチューブ交換エレメント100の断面図である。ナノチューブ交換エレメントは、絶縁層117と、制御電極111と、出力電極113c、dとを有する下部を含む。ナノチューブ交換エレメントはさらに、リリース電極112と、出力電極113a、bと、信号電極114a、bとを有する上部を含む。上記上部及び下部の間には、ナノチューブ・チャネル・エレメント115がこれらに保持されて位置決めされている。   FIG. 1A is a cross-sectional view of one preferred nanotube exchange element 100. The nanotube exchange element includes a lower portion having an insulating layer 117, a control electrode 111, and output electrodes 113c, d. The nanotube exchange element further includes an upper portion having a release electrode 112, output electrodes 113a, b, and signal electrodes 114a, b. A nanotube channel element 115 is held and positioned between the upper and lower portions.

リリース電極112は導電材料で製造され、絶縁材料119によってナノチューブ・チャネル・エレメント115から分離される。チャネル・エレメント115は、間隙の高さG102によって絶縁体119の接面から分離される。   Release electrode 112 is made of a conductive material and is separated from nanotube channel element 115 by insulating material 119. The channel element 115 is separated from the contact surface of the insulator 119 by the gap height G102.

出力電極113a、bは導電材料で製造され、絶縁材料119によってナノチューブ・チャネル・エレメント115から分離される。   The output electrodes 113a, b are made of a conductive material and separated from the nanotube channel element 115 by an insulating material 119.

出力電極113c、dも同様に導電材料で製造され、間隙の高さG103によってナノチューブ・チャネル・エレメント115から分離される。出力電極113c、dは絶縁体で被覆されないことに注意されたい。   The output electrodes 113c, d are similarly made of a conductive material and separated from the nanotube channel element 115 by the gap height G103. Note that the output electrodes 113c, d are not covered with an insulator.

制御電極111は導電材料で製造され、絶縁層(またはフィルム)118によってナノチューブ・チャネル・エレメント115から分離される。チャネル・エレメント115は、間隙の高さG104によって絶縁体118の接面から分離される。   The control electrode 111 is made of a conductive material and is separated from the nanotube channel element 115 by an insulating layer (or film) 118. The channel element 115 is separated from the contact surface of the insulator 118 by the gap height G104.

信号電極114a、bは各々ナノチューブ・チャネル・エレメント115に接触し、よって信号電極上の如何なる信号をもチャネル・エレメント115へ供給することができる。この信号は、一定の基準信号(例えばVddまたは接地)である場合も、変動信号(例えば変わる可能性のあるブール離散値信号)である場合もある。接続される必要がある電極は114a、bの一方のみであるが、実効抵抗を下げるために双方を使用してもよい。   The signal electrodes 114a, b each contact the nanotube channel element 115 so that any signal on the signal electrode can be supplied to the channel element 115. This signal may be a constant reference signal (eg, Vdd or ground) or it may be a varying signal (eg, a Boolean discrete value signal that may change). Only one of the electrodes 114a, b needs to be connected, but both may be used to reduce the effective resistance.

ナノチューブ・チャネル・エレメント115は、ナノチューブの多孔質ファブリックから製造されるリソグラフィ式に画定された物品である(詳細は後述する)。これは、信号電極114a、bへ電気的に接続される。信号電極114a、b及びサポート116はチャネル・エレメント115を両端で挟み、または保持し、チャネル・エレメント115は出力電極113a乃至d、制御電極111及びリリース電極112の真ん中にこれらから離隔された関係で吊される。離隔された関係性は、先に同定された間隙の高さG102乃至G104によって画定される。所与の実施形態の場合、チャネル・エレメント115の懸垂部分の長さは約300乃至350nmである。   The nanotube channel element 115 is a lithographically defined article made from a porous fabric of nanotubes (details are described below). This is electrically connected to the signal electrodes 114a, b. The signal electrodes 114a, b and the support 116 sandwich or hold the channel element 115 at both ends, and the channel element 115 is spaced apart from the output electrodes 113a to 113d, the control electrode 111 and the release electrode 112 in the middle. It is hung. The spaced relationship is defined by the gap heights G102 through G104 previously identified. For a given embodiment, the length of the suspended portion of channel element 115 is about 300 to 350 nm.

所与の実施形態の下では、間隙G103、G104、G102は5乃至30nmの範囲内である。端子112、111及び113a及び113b上の誘電は、例えば5乃至30nmの範囲内である。カーボン・ナノチューブ・ファブリックの密度は、例えば面積0.2×0.2um当たり約10ナノチューブである。ナノチューブ・チャネル・エレメントの懸垂長さは、例えば300乃至350nmの範囲内である。懸垂長さ対間隙比は、例えば不揮発性デバイスでは約5乃至15対1であり、揮発性オペレーションでは5未満である。   Under a given embodiment, the gaps G103, G104, G102 are in the range of 5 to 30 nm. The dielectric on the terminals 112, 111 and 113a and 113b is in the range of 5 to 30 nm, for example. The density of the carbon nanotube fabric is, for example, about 10 nanotubes per area of 0.2 × 0.2 um. The suspended length of the nanotube channel element is, for example, in the range of 300 to 350 nm. The suspension length to gap ratio is, for example, about 5 to 15 to 1 for non-volatile devices and less than 5 for volatile operations.

図1Bは、ナノチューブ交換エレメント100の平面図または配置図である。この図が示すように、電極113b、dは記号「X」及びアイテム102によって描かれる通り電気的に接続される。同様に電極113a、cも、「X」で描かれる通り接続される。好適な実施形態では、これらの電極はさらに接続120によって接続される。これら全ての出力電極は、集合的に交換エレメント100の出力ノード113を形成する。   FIG. 1B is a plan view or layout of the nanotube exchange element 100. As this figure shows, the electrodes 113 b, d are electrically connected as depicted by the symbol “X” and item 102. Similarly, the electrodes 113a and 113c are connected as depicted by “X”. In a preferred embodiment, these electrodes are further connected by connection 120. All these output electrodes collectively form the output node 113 of the exchange element 100.

好適な実施形態の下では、図1A及び1Bのナノチューブ交換エレメント100は図1C及びDに示す通りに動作する。特に、ナノチューブ・チャネル・エレメントが図1Cの位置122にあるとき、ナノチューブ交換エレメント100は開(オフ)状態にある。このような状態においては、チャネル・エレメント115は、電極112とチャネル・エレメント115との間の電位差により生成される静電力を介して誘電層119との機械的接触へと引き込まれる。出力電極113a、bは、チャネル・エレメント115と機械的接触状態になる(但し電気的接触状態にはならない)。チャネル・エレメント115が図1Dに示すように位置124まで延びるとき、ナノチューブ交換エレメント100は閉(オン)状態にある。このような状態においては、チャネル・エレメント115は、電極111とチャネル・エレメント115との間の電位差により生成される静電力を介して誘電層118との機械的接触へと引き込まれる。出力電極113c、dは、領域126においてチャネル・エレメント115と機械的接触及び電気的接触状態になる。従って、チャネル・エレメント115が位置124にあるとき、信号電極114a及び114bはチャネル・エレメント115を介して出力端子113c、dと電気的に接続され、電極114a、b上の信号はチャネル(チャネル・エレメント115を含む)を介して出力電極113c、dへ転送されることが可能である。   Under the preferred embodiment, the nanotube exchange element 100 of FIGS. 1A and 1B operates as shown in FIGS. 1C and D. In particular, when the nanotube channel element is at position 122 in FIG. 1C, the nanotube exchange element 100 is in the open (off) state. In such a state, the channel element 115 is drawn into mechanical contact with the dielectric layer 119 via an electrostatic force generated by the potential difference between the electrode 112 and the channel element 115. The output electrodes 113a, b are in mechanical contact with the channel element 115 (but not in electrical contact). When the channel element 115 extends to position 124 as shown in FIG. 1D, the nanotube exchange element 100 is in the closed (on) state. In such a state, the channel element 115 is drawn into mechanical contact with the dielectric layer 118 via an electrostatic force generated by the potential difference between the electrode 111 and the channel element 115. The output electrodes 113c, d are in mechanical and electrical contact with the channel element 115 in region 126. Thus, when the channel element 115 is at position 124, the signal electrodes 114a and 114b are electrically connected to the output terminals 113c, d via the channel element 115, and the signal on the electrodes 114a, b is channel (channel. (Including the element 115) to the output electrodes 113c, d.

ナノチューブ交換エレメント100のジオメトリを適切に調整すれば、ナノチューブ交換エレメント100は不揮発性または揮発***換エレメントとして行動するように製造されることが可能である。例として、図1Dのデバイス状態は、間隙G104に対するチャネル・エレメントの長さを適切に選択することにより不揮発性に製造されることが可能である。(長さ及び間隙は、延長され偏向されたチャネル・エレメント115の力を復元する際の2つのパラメータである。)5より大きく15より小さい長さ対間隙比は不揮発性デバイスに好適であり、5未満の長さ対間隙比は揮発性デバイスに好適である。   With appropriate adjustment of the geometry of the nanotube exchange element 100, the nanotube exchange element 100 can be manufactured to act as a non-volatile or volatile exchange element. As an example, the device state of FIG. 1D can be made non-volatile by appropriately selecting the length of the channel element for the gap G104. (Length and gap are two parameters in restoring the force of extended and deflected channel element 115.) A length to gap ratio greater than 5 and less than 15 is suitable for non-volatile devices, A length to gap ratio of less than 5 is suitable for volatile devices.

ナノチューブ交換エレメントぬ101は、次のように動作する。信号電極114及び制御電極111(または112)が(上記電極上の個々の信号を介して)十分な大きさの電位差を有していれば、この信号の関係性は、懸垂されたナノチューブ・チャネル・エレメント115を偏向させて電極111(または112)と機械的に接触させるに足る大きさの静電力を生成する。(この態様のオペレーションは、本開示に含まれる引用特許に説明されている。)この偏向は、図1D(及び1C)に描かれている。この引力は、チャネル・エレメント115のナノチューブ・ファブリックをそれが電極111の絶縁領域118へ接触するまで引き伸して偏向させる。これによりナノチューブ・チャネル・エレメントは歪み、とりわけ、回路の幾何学的関係性に依存して復元性の引張り力が存在する。   The nanotube exchange element 101 operates as follows. If the signal electrode 114 and the control electrode 111 (or 112) have a sufficiently large potential difference (via individual signals on the electrodes), the relationship of this signal is the suspended nanotube channel. • Generate an electrostatic force large enough to deflect the element 115 into mechanical contact with the electrode 111 (or 112). (Operation of this aspect is described in the cited patents included in this disclosure.) This deflection is depicted in FIGS. 1D (and 1C). This attractive force stretches and deflects the nanotube fabric of channel element 115 until it contacts the insulating region 118 of electrode 111. This causes the nanotube channel element to be distorted and, in particular, there is a restoring tensile force depending on the geometrical relationship of the circuit.

コンポーネントの適切なジオメトリの使用により、交換エレメント100は次に、ナノチューブ・チャネル115が制御電極111及び出力電極113c、dにも機械的に接触する図1Dの閉止された導電状態に達する。制御電極111は絶縁体118で被覆されることから、電極114上の信号は何れも電極114からナノチューブ・チャネル・エレメント115を介して出力電極113へ転送される。電極114上の信号は、変動信号、固定信号、基準信号、電力供給回線または接地回線であってもよい。チャネルの形成は、電極111(または112)へ印加される信号を介して制御される。特に、制御電極111へ印加される信号は、交換エレメント100が閉(オン)状態になるように、チャネル・エレメント115に電極114と出力電極113との間のチャネルを偏向させかつ形成させるべくナノチューブ・チャネル・エレメントを偏向させる静電力を生成するに足るほど電極114上の信号とは異なるものである必要がある。   By using the appropriate geometry of the components, the exchange element 100 then reaches the closed conductive state of FIG. 1D where the nanotube channel 115 is also in mechanical contact with the control electrode 111 and the output electrodes 113c, d. Since the control electrode 111 is covered with the insulator 118, any signal on the electrode 114 is transferred from the electrode 114 to the output electrode 113 via the nanotube channel element 115. The signal on the electrode 114 may be a fluctuation signal, a fixed signal, a reference signal, a power supply line or a ground line. The formation of the channel is controlled via a signal applied to the electrode 111 (or 112). In particular, the signal applied to the control electrode 111 is a nanotube to cause the channel element 115 to deflect and form a channel between the electrode 114 and the output electrode 113 so that the exchange element 100 is closed (on). The signal on the electrode 114 needs to be different enough to generate an electrostatic force that deflects the channel element.

これに対して、電極114上の信号と制御電極111との関係性の相違が不十分であれば、ナノチューブ・チャネル・エレメント115は偏向されず、出力電極113への導電チャネルは形成されない。代わりに、チャネル・エレメント115はリリース電極112上の絶縁層へ引き寄せられ、これと物理的に接触する。この開(オフ)状態は、図1Cに示されている。ナノチューブ・チャネル・エレメント115は電極114からの信号を有するが、この信号は出力ノード113へ転送されない。代わりに、出力ノード113の状態は、何であれそれが接続される回路及びこのような回路の状態に依存する。この点で、交換エレメント100が開(オフ)状態にあるとき、出力ノード113の状態は信号電極114からのチャネル・エレメント電圧及びナノチューブ・チャネル・エレメント115とは独立している。   On the other hand, if the difference in the relationship between the signal on the electrode 114 and the control electrode 111 is insufficient, the nanotube channel element 115 is not deflected and a conductive channel to the output electrode 113 is not formed. Instead, the channel element 115 is attracted to and in physical contact with the insulating layer on the release electrode 112. This open (off) state is shown in FIG. 1C. Nanotube channel element 115 has a signal from electrode 114, but this signal is not transferred to output node 113. Instead, the state of the output node 113 depends on whatever circuit it is connected to and the state of such a circuit. In this regard, when the switching element 100 is in the open (off) state, the state of the output node 113 is independent of the channel element voltage from the signal electrode 114 and the nanotube channel element 115.

交換エレメント100が揮発モードで動作するように設計され、かつ電極115と出力ノード113との間の電気接続または経路が開放されていれば、制御電極111(または112)とチャネル・エレメント115との間の電圧差が除去されると、チャネル・エレメント115は非延長状態(図1A参照)へ戻る。   If the replacement element 100 is designed to operate in a volatile mode and the electrical connection or path between the electrode 115 and the output node 113 is open, the control electrode 111 (or 112) and the channel element 115 When the voltage difference between them is removed, the channel element 115 returns to the non-extended state (see FIG. 1A).

好適には、交換エレメント100が不揮発モードで動作するように設計されていれば、チャネル・エレメントは図1Aの状態を達成するようには動作されない。代わりに、電極111及び112は、チャネル・エレメント115が図1Cまたは1Dの何れかの状態になるように動作されることが予想される。   Preferably, if the switching element 100 is designed to operate in a non-volatile mode, the channel element is not operated to achieve the state of FIG. 1A. Instead, the electrodes 111 and 112 are expected to be operated such that the channel element 115 is in either the state of FIG. 1C or 1D.

出力ノード113は、チャネル・エレメント115の動作及びこれによるチャネルの形成が出力ノード113の状態に対して不変である絶縁構造体を包含するように構成される。上記好適な実施形態では、チャネル・エレメントは静電的な引力に応じて電気機械的に偏向可能であることから、浮動出力ノード113は原則として任意の電位を有することが可能である。従って、出力ノード上の電位は、チャネル・エレメント115の偏向を引き起こして交換エレメント100の動作及びそのチャネル形成を妨害するに足るほどチャネル・エレメント115の状態とは異なる可能性がある。即ち、チャネル形成は未知の浮動ノードの状態に依存する。上記好適な実施形態では、この問題は、このような妨害が引き起こされることを防止する絶縁構造体を含む出力ノードによって対処される。   The output node 113 is configured to include an insulating structure in which the operation of the channel element 115 and thereby the formation of the channel is invariant to the state of the output node 113. In the preferred embodiment, the floating output node 113 can in principle have any potential since the channel element can be electromechanically deflected in response to electrostatic attraction. Thus, the potential on the output node may differ from the state of the channel element 115 enough to cause deflection of the channel element 115 and interfere with the operation of the switching element 100 and its channel formation. That is, channel formation depends on the state of the unknown floating node. In the preferred embodiment, this problem is addressed by an output node that includes an isolation structure that prevents such disturbances from being caused.

特には、ナノチューブ・チャネル・エレメント115は、反対側に配置される等しい電位の2電極113b、d(及び同じく113a、c)間に配置される。従って、出力ノード上の電圧から結果的に生じる等しいが反対向きの静電力が存在する。この等しい反対向きの静電力に起因して、出力ノード113及びナノチューブ・チャネル・エレメント115上の電圧に関わらず出力ノード113の状態がナノチューブ・チャネル・エレメント115を偏向させることはできない。従って、チャネルの動作及び形成は、出力ノードの状態に対して不変にされる。   In particular, the nanotube channel element 115 is disposed between two electrodes 113b, d (and 113a, c) of equal potential disposed on the opposite side. Thus, there is an equal but oppositely directed electrostatic force that results from the voltage on the output node. Due to this equal opposite electrostatic force, the state of output node 113 cannot deflect nanotube channel element 115 regardless of the voltage on output node 113 and nanotube channel element 115. Thus, the operation and formation of the channel is made invariant to the state of the output node.

本発明の所与の実施形態の下では、図1Aのナノチューブ交換エレメント100は、電力効率の良い回路を形成するプルアップ及びプルダウン・デバイスとして使用されてもよい。MOS及び他の回路形式とは異なり、プルアップ・デバイスとプルダウン・デバイスとは同一のデバイスであってもよく、異なるサイズまたは材質を有する必要はない。このような回路の説明を容易にしかつ図1A乃至Dの配置及び物理的図表の複雑さを回避するために、略示を展開させて交換エレメントを描いた。   Under a given embodiment of the invention, the nanotube exchange element 100 of FIG. 1A may be used as a pull-up and pull-down device to form a power efficient circuit. Unlike MOS and other circuit types, the pull-up device and the pull-down device may be the same device and need not have different sizes or materials. In order to facilitate the description of such circuits and to avoid the complexity of the arrangements and physical diagrams of FIGS. 1A-D, the schematics have been expanded to depict replacement elements.

図2Aは、図1Aのナノチューブ交換エレメント100の略示である。ノードは、同じ参照番号を使用している。図2Aは、ナノチューブの伸長によって発生される機械力の復元がファンデルワールス力を克服するには足らず、よって電圧が除去されてもナノチューブ・エレメント115は第1または第2の不揮発状態のままである不揮発性デバイスを示す。第1の不揮発状態では、ナノチューブ・スイッチ100は、出力電極113が信号電極114と接触状態にあるナノチューブ・エレメント115と接触状態にあるように、制御電極111(図1Dに示されている)及び出力電極113c及び113d(図1Dに示されている)と接触している閉(オン)状態のままである。第2の不揮発状態では、ナノチューブ・エレメント115は、電圧が除去されても図1Cに示すようにナノチューブ・エレメント115が出力電極113と接触していないように、リリース電極112と接触する開(オフ)状態のままである。図2Bは、図1Aのナノチューブ交換エレメント100の略示である。ノードは同じ参照番号に、図2Bを図2Aと区別するためのプライム(‘)を加えて使用している。図2Bは、ナノチューブの伸長によって引き起こされる機械力の復元が、ナノチューブ・エレメント115’を制御電極111’との物理的接触から、及び出力電極113’との物理的及び電気的接触から引き離して信号電極114’と出力電極113’との接触を断たせるに足るものである揮発性デバイスを示す。矢印202は、ナノチューブ・チャネル・エレメント115’の機械的復元力の方向を示すために使用されている。例えば、図が示すように、チャネル・エレメントは制御電極111’から離れる力を有する、即ちチャネル・エレメント115’が電極111’へ接触するまで偏向されれれば、機械的復元力は矢印202の方向へ働く。機械的復元力の方向を示す矢印は、揮発モードで動作するように設計されたデバイスの場合にのみ使用される。   FIG. 2A is a schematic representation of the nanotube exchange element 100 of FIG. 1A. Nodes use the same reference numbers. FIG. 2A shows that the restoration of the mechanical force generated by the nanotube elongation is not sufficient to overcome the van der Waals force, so that the nanotube element 115 remains in the first or second non-volatile state when the voltage is removed. 1 illustrates a non-volatile device. In the first non-volatile state, the nanotube switch 100 includes a control electrode 111 (shown in FIG. 1D) and a control electrode 111 such that the output electrode 113 is in contact with the nanotube element 115 in contact with the signal electrode 114. It remains in the closed (on) state in contact with the output electrodes 113c and 113d (shown in FIG. 1D). In the second non-volatile state, the nanotube element 115 is open (off) in contact with the release electrode 112 so that the nanotube element 115 is not in contact with the output electrode 113 as shown in FIG. ) State. FIG. 2B is a schematic representation of the nanotube exchange element 100 of FIG. 1A. The node uses the same reference number plus a prime (') to distinguish FIG. 2B from FIG. 2A. FIG. 2B shows that the restoration of mechanical force caused by the elongation of the nanotube signals the nanotube element 115 ′ away from physical contact with the control electrode 111 ′ and away from physical and electrical contact with the output electrode 113 ′. A volatile device is shown which is sufficient to break the contact between the electrode 114 ′ and the output electrode 113 ′. Arrow 202 is used to indicate the direction of the mechanical restoring force of nanotube channel element 115 '. For example, as shown, the channel element has a force away from the control electrode 111 ′, ie, if the channel element 115 ′ is deflected until it contacts the electrode 111 ′, the mechanical restoring force is in the direction of arrow 202. To work. The arrow indicating the direction of the mechanical restoring force is used only for devices designed to operate in volatile mode.

図2C乃至Dは、プルアップ配置で使用されるときのナノチューブ・チャネル・エレメント100とその動作状態を描いている。例えば、図2Cは図1Cに示す開(オフ)状態におけるナノチューブ交換エレメントの略示であり、ノード114及びナノチューブ・チャネル・エレメント115はVDDにあり、制御電極111は典型的にはVDDである正の電圧にあり、リリース電極112は0ボルトにある。ナノチューブ・チャネル・エレメントは、出力ノード113とは電気接触状態にない。図2Dは、図1Dに示す閉(オン)状態にあるナノチューブ交換エレメントの略示である。この場合、信号ノード114及びナノチューブ・チャネル・エレメント115はVDDにあり、制御電極111は0ボルトにあり、リリース電極112は典型的にはVDDである正の電圧にある。ナノチューブ・チャネル・エレメントは、偏向されて出力ノード113と機械的及び電気的に接触している。さらに、先に述べたようにジオメトリが適切に選択されれば、上記接触はチャネル・エレメントと制御電極との間のファンデルワールス力の結果として不揮発性になる。電気的接触の状態は、出力端子113と接触するナノチューブ・チャネル・エレメントを表す黒い短線204によって描かれている。結果的にこれは出力ノード113になり、ナノチューブ・チャネル・エレメント115及び信号ノード114として同じ信号(即ちVdd)が想定される。 2C-D depict the nanotube channel element 100 and its operating state when used in a pull-up configuration. For example, FIG. 2C is a schematic representation of the nanotube exchange element in the open (off) state shown in FIG. 1C, where node 114 and nanotube channel element 115 are at V DD and control electrode 111 is typically at V DD . At some positive voltage, the release electrode 112 is at 0 volts. The nanotube channel element is not in electrical contact with the output node 113. FIG. 2D is a schematic representation of the nanotube exchange element in the closed (on) state shown in FIG. 1D. In this case, signal node 114 and nanotube channel element 115 are at V DD , control electrode 111 is at 0 volts, and release electrode 112 is at a positive voltage, typically V DD . The nanotube channel element is deflected and is in mechanical and electrical contact with the output node 113. Furthermore, if the geometry is properly selected as described above, the contact becomes non-volatile as a result of van der Waals forces between the channel element and the control electrode. The state of electrical contact is depicted by a black short line 204 representing a nanotube channel element in contact with the output terminal 113. As a result, this becomes the output node 113 and the same signal (ie Vdd) is assumed as the nanotube channel element 115 and the signal node 114.

図3A乃至Cは図2A乃至Dに類似するものであるが、プルダウン・デバイスとして使用される場合のナノチューブ交換エレメント100とその状態を描くために使用されている。   3A-C are similar to FIGS. 2A-D, but are used to depict the nanotube exchange element 100 and its state when used as a pull-down device.

図2及び3においては、ナノチューブ交換エレメントは常に、制御電極111とリリース電極112とが必ず反対の電圧値であるように(少なくとも電力が加えられる時は)動作される。例えば制御電極111が0ボルトにあれば、リリース電極112は典型的にはVDDである正の電圧にある。しかしながら制御電極111が典型的にはVDDである正の電圧にあれば、リリース電極112は0ボルトにある。正の電圧が論理「1」状態に関連づけられかつ0電圧が論理「0」状態に関連づけられれば、入力及びリリースに適用される論理状態は各々真数及び補数(または各々補数及び真数)である。 2 and 3, the nanotube exchange element is always operated (at least when power is applied) to ensure that the control electrode 111 and the release electrode 112 are at opposite voltage values. For example, if the control electrode 111 is at 0 volts, the release electrode 112 is at a positive voltage, typically V DD . However, if the control electrode 111 is at a positive voltage, typically V DD , the release electrode 112 is at 0 volts. If a positive voltage is associated with a logic “1” state and a zero voltage is associated with a logic “0” state, the logic states applied to input and release are respectively true and complement (or complement and true respectively). is there.

この点において、ナノチューブ交換エレメント100はデュアル・レール差動論理エレメントとして動作される。図1の不揮発性4端子ナノチューブ交換デバイス100に適用されるデュアル・レール差動論理設計(または単に差動論理設計)技術は、このようなデバイス100を使用して例えばNOT及びNOR回路である論理ファミリの基本的なビルディング・ブロックを形成することにより、不揮発性デュアル・レール差動論理ファミリをもたらすために使用されることが可能である。この不揮発性論理ファミリは起動されると論理演算を実行し、電力が除去(または中断)されると不揮発モードで論理状態を保存する。この論理ファミリは、電力が回復されると、各論理回路が電力除去(または中断)以前と同じ状態で論理演算を再開することが可能である。次に、回路の例を示す。   In this regard, the nanotube exchange element 100 is operated as a dual rail differential logic element. The dual rail differential logic design (or simply differential logic design) technique applied to the non-volatile four-terminal nanotube switching device 100 of FIG. 1 uses such a device 100 for example NOT and NOR circuits. By forming the basic building blocks of the family, it can be used to provide a non-volatile dual rail differential logic family. This non-volatile logic family performs logic operations when activated and stores logic states in non-volatile mode when power is removed (or interrupted). This logic family allows each logic circuit to resume logic operations in the same state as before power removal (or interruption) when power is restored. Next, an example of a circuit is shown.

図4は、本発明の所与の実施形態によるデュアル・レール・インバータ420を示す。インバータ回路420は、上部410Tと下部410Cとを含む。   FIG. 4 illustrates a dual rail inverter 420 according to a given embodiment of the present invention. Inverter circuit 420 includes an upper portion 410T and a lower portion 410C.

上部410Tは、Vddに接続される信号ノードを有するプルアップ・デバイスとして配置されるナノチューブ交換エレメント412と、接地に接続される信号ノードを有するプルダウン・デバイスとして配置されるナノチューブ交換エレメント414とを含む。両交換エレメントはその個々の制御ノード(図1Aの111)上で入力リンク411Tを介して論理信号Aの真数バージョンAを受信し、双方共に、論理信号Aの補数バージョンAを供給する出力ノード413Tへ共に接続されるその出力ノード(図1Aの113)を有する。 Upper portion 410T includes a nanotube exchange element 412 arranged as a pull-up device having a signal node connected to Vdd and a nanotube exchange element 414 arranged as a pull-down device having a signal node connected to ground. . Both exchange element via the input link 411T on their respective control node (111 in FIG. 1A) receives the antilog version A T of the logic signal A, the both supplies complement version A C of the logic signal A It has its output node (113 in FIG. 1A) connected together to output node 413T.

下部410Cは、Vddに接続される信号ノードを有するプルアップ・デバイスとして配置されるナノチューブ交換エレメント416と、接地に接続される信号ノードを有するプルダウン・デバイスとして配置されるナノチューブ交換エレメント418とを含む。両交換エレメントはその個々の制御ノード(図1Aの111)上で入力リンク411Cを介して論理信号Aの補数バージョンAを受信し、双方共に、論理信号Aの真数バージョンAを供給する出力ノード413Cへ共に接続されるその出力ノード(図1Aの113)を有する。 The lower portion 410C includes a nanotube exchange element 416 arranged as a pull-up device having a signal node connected to Vdd and a nanotube exchange element 418 arranged as a pull-down device having a signal node connected to ground. . Both exchange element receives the complement version A C of the logic signal A through the input link 411C on its individual control node (111 in FIG. 1A), the both supplies antilog version A T of the logic signal A It has its output node (113 in FIG. 1A) connected together to output node 413C.

上部410Tの入力411Tは、下部410Cの両交換エレメントのリリース・ノードへ結合される。同様に、下部410Cの入力411Cは、上部410Tの両交換エレメントのリリース・ノードへ結合される。   The input 411T of the upper 410T is coupled to the release node of both switching elements of the lower 410C. Similarly, input 411C of lower 410C is coupled to the release node of both replacement elements of upper 410T.

従って、インバータ回路420は論理信号Aのデュアル・レール差動入力A及びAを受信し、上述のように動作されると、各々リンク411及び413上へ対応する入力の反転を供給する。さらに、論理は不揮発性であり、回路から電力が中断されてもゲートはその状態を保持することを意味する。さらに、回路はプルアップ・デバイス及びプルダウン・デバイスを有する相補論理回路として配置されることから、電流は切換中にのみ流れ(かつ電力は切換中にのみ消費され)、よってVDDと接地との間にDC電流は存在しない。 Therefore, the inverter circuit 420 receives dual rail differential input A T and A C of the logic signal A, when it is operated as described above, supplies a corresponding input inverted to each link 411 and the upper 413. Furthermore, logic is non-volatile, meaning that the gate retains its state even when power is interrupted from the circuit. In addition, since the circuit is arranged as a complementary logic circuit with pull-up and pull-down devices, current flows only during switching (and power is consumed only during switching), so that V DD and ground There is no DC current in between.

図5は、上述のものと同じ略示表記を使用して所与の実施形態の不揮発性状態デバイス520を描いている。ラッチ520は、交差接続するインバータ510及び511によって形成される。インバータ510の出力ノード512は、インバータ511の制御電極入力と、インバータ510のリリース電極入力とに接続される。出力ノード513は、インバータ510の制御電極入力と、インバータ511のリリース電極入力とに接続される。状態デバイス520は不揮発性の記憶エレメントであり、即ち状態デバイス520は、電力が除去されてもその論理状態を保持し、電力が復元されると同じ状態を継ぐ。状態デバイス520は、論理ゲート(図示されていない)と組み合わされて図6Aに示すような不揮発性NRAM記憶セル及びS−R、J−K及び他のフリップ・フロップ構造体等の論理設計に使用される様々なタイプのフリップ・フロップ及びラッチを生成する。図6Bは、ラッチ構成に使用される状態デバイス520を示す。電流は切換中にのみ流れ、よってVDDと接地との間にDC電流は存在しない。 FIG. 5 depicts the nonvolatile state device 520 of a given embodiment using the same simplified notation as described above. Latch 520 is formed by inverters 510 and 511 that are cross-connected. Output node 512 of inverter 510 is connected to the control electrode input of inverter 511 and the release electrode input of inverter 510. Output node 513 is connected to the control electrode input of inverter 510 and the release electrode input of inverter 511. The state device 520 is a non-volatile storage element, i.e., the state device 520 retains its logical state when power is removed and takes over the same state when power is restored. State device 520 is used in conjunction with logic gates (not shown) for logic designs such as non-volatile NRAM storage cells and SR, JK, and other flip-flop structures as shown in FIG. 6A. Generate various types of flip-flops and latches. FIG. 6B shows a state device 520 used in the latch configuration. Current flows only during switching, so there is no DC current between V DD and ground.

図6Aは、本発明の別の実施形態による、不揮発性ナノチューブ・スタティックRAMセル(NRAMセル)630として使用される状態デバイス620を示す。この実施形態では、上部インバータ510Aの制御電極及び下部インバータ511Aのリリース電極は、信号WLを介してゲートされかつノード621で状態デバイス620へ接続される選択トランジスタ632を介して論理ビットライン(BL)入力信号へ接続される。下部インバータの制御電極及び上部インバータのリリース電極は、信号WLを介してゲートされかつノード622で状態デバイス620へ接続される選択トランジスタ634を介して論理ビットライン(BL)入力信号の補数バージョン(BL)へ接続される。このようにして、状態デバイスは不揮発性NRAM記憶セル630へと形成されることが可能である。インバータ510A及び511Aは、NRAMセルが平衡される(一方の状態を他方より優遇しない)ように同一の電気特性で設計される。選択デバイス632及び634は、スタティックRAMのセル設計の分野で技術上周知である状態デバイス620の格納状態を克服するに足る駆動電流を供給できるように、十分な規模で設計される。 FIG. 6A shows a state device 620 used as a non-volatile nanotube static RAM cell (NRAM cell) 630 according to another embodiment of the invention. In this embodiment, the control electrode of upper inverter 510A and the release electrode of lower inverter 511A are logical bit lines (BL T) via select transistor 632 that is gated via signal WL and connected to state device 620 at node 621. ) Connected to the input signal. The control electrode of the lower inverter and the release electrode of the upper inverter are complemented versions (BL) of the logical bitline (BL) input signal via a select transistor 634 that is gated via signal WL and connected to state device 620 at node 622. C ). In this way, the state device can be formed into a non-volatile NRAM storage cell 630. Inverters 510A and 511A are designed with the same electrical characteristics so that the NRAM cell is balanced (one state is not favored over the other). The selection devices 632 and 634 are designed on a sufficient scale to provide enough drive current to overcome the stored state of the state device 620, which is well known in the art of static RAM cell design.

NRAMセル630は、不揮発性記憶装置の優位点を有する。また、ナノチューブ・ラッチ部分620は別々の層を使用して形成されてもよい。選択トランジスタ632及び634は、セル領域で必要とされる唯一の半導体である。NRAMセルは、トランジスタ・ラッチが不要であることからSRAMセルより小さくてもよい。トランジスタ・フリップ・フロップの除去も、セル内のPMOS及びNMOSトランジスタ双方の必要性をなくし、かつ個々のNMOS及びPMOSトランジスタのソース/ドレイン拡散を収容するためのp−ウェル及びN−ウェル領域双方の必要性をなくす。不揮発性NRAMセル630は、NMOS選択トランジスタ32及び34及びナノチューブ・ベースのラッチ620層への接点しか必要でないことから揮発性(トランジスタ・ベースの)SRAMセルより小さくてもよい。電流は切換(セルの書き込み)またはセルの読み取り中にのみ流れ、よってVDDと接地との間にDC電流は存在しない。NRAMセル630は不揮発性であり、即ち、メモリ状態は電力が切られても(または妨害されても)保存され、電力が切られる(または中断される)直前のメモリ状態と同じメモリ状態でオペレーションを再開する。 The NRAM cell 630 has the advantage of a nonvolatile memory device. The nanotube latch portion 620 may also be formed using separate layers. Select transistors 632 and 634 are the only semiconductors required in the cell region. NRAM cells may be smaller than SRAM cells because transistor latches are not required. The removal of the transistor flip-flop also eliminates the need for both PMOS and NMOS transistors in the cell and removes both the p-well and N-well regions to accommodate the source / drain diffusions of the individual NMOS and PMOS transistors. Eliminate the need. The non-volatile NRAM cell 630 may be smaller than the volatile (transistor based) SRAM cell because only the contacts to the NMOS select transistors 32 and 34 and the nanotube based latch 620 layer are required. Current flows only during switching (cell write) or cell read, so there is no DC current between V DD and ground. NRAM cell 630 is non-volatile, i.e., the memory state is preserved even if it is powered off (or disturbed) and operates in the same memory state as immediately prior to being powered off (or interrupted). To resume.

図6Bは、本発明の別の実施形態による不揮発性ナノチューブ・ラッチ650として使用される状態デバイス660を描いている。この実施形態では、上部インバータ510Bの制御電極及び下部インバータ511Bのリリース電極は、クロック信号CLKを介してゲートされかつノード671で状態デバイス660へ接続される選択トランジスタ662を介して論理入力信号A(IN1へ印加される)へ接続される。下部インバータの制御電極及び上部インバータのリリース電極は、クロック信号CLKを介してゲートされかつノード672で状態デバイス660へ接続される選択トランジスタ664を介して補数バージョンの入力信号A(IN2へ印加される)へ接続される。このようにして、状態デバイスはナノチューブ・ラッチ650へと形成されることが可能である。インバータ511Bは主インバータ(より多くのナノチューブを含むナノチューブ・デバイスで構成される)であるように設計され、510Bは、例えば参考図書、H.B.Bakoglu著「VLSIの回路、配線及びパッケージング」Addison−Wesley出版社、349−351ページ、に記述されているような、雑音の場合に状態デバイス・ノードの放電を補償するために必要な電荷を供給するフィードバック・インバータ(より少ないナノチューブを含むナノチューブ・デバイスで構成される)であるように設計される。インバータ511B、510B及びパストランジスタ662及び664の割合は、それにデータが書き込まれているとラッチ660が所望される状態へ切り換わることを確実にするように決定される。フィードバック・インバータ510Bは、クロックされるデバイス662及び664を介する状態デバイス660を駆動する回路(図示されていない)がフィードバック・インバータ510Bを圧倒しかつBakoglu引例における状態デバイス660に格納されるラッチ650の状態を克服できるように十分に弱いものでなければならない。相補論理ラッチ出力は、OUT1及びOUT2とラベリングされる。ラッチ650は不揮発性であり、即ち、電力が切られても(または妨害されても)論理状態は保存され、電力が切られる(または中断される)直前の論理状態と同じ論理状態でオペレーションが再開される。 FIG. 6B depicts a state device 660 used as a non-volatile nanotube latch 650 according to another embodiment of the invention. In this embodiment, the control electrode of the upper inverter 510B and the release electrode of the lower inverter 511B are gated via the clock signal CLK and connected to the logic input signal AT via the select transistor 662 connected to the state device 660 at node 671. Connected to (applied to IN1). The control electrode of the lower inverter and the release electrode of the upper inverter are applied to the complement version of the input signal A C (IN2) via a select transistor 664 that is gated via the clock signal CLK and connected to the state device 660 at node 672. Connected). In this way, a state device can be formed into the nanotube latch 650. Inverter 511B is designed to be the main inverter (consisting of a nanotube device with more nanotubes), 510B is for example the reference book H.264. B. Charges necessary to compensate for state device node discharge in the case of noise, as described in Bakoglu, “VLSI Circuits, Wiring and Packaging,” Addison-Wesley Publishers, pages 349-351. Designed to be a feed back inverter (consisting of nanotube devices containing fewer nanotubes). The ratio of inverters 511B, 510B and pass transistors 662 and 664 are determined to ensure that latch 660 switches to the desired state when data is written to it. Feedback inverter 510B includes a circuit (not shown) that drives state device 660 via clocked devices 662 and 664 overwhelm feedback inverter 510B and is stored in state device 660 in the Bakoglu reference. It must be weak enough to overcome the situation. The complementary logic latch output is labeled OUT1 and OUT2. The latch 650 is non-volatile, that is, even if power is turned off (or disturbed), the logic state is preserved and operation is performed with the same logic state as immediately before the power is turned off (or interrupted). Resumed.

図7は、所与の実施形態による不揮発性ナノチューブ・ベースのカスコード電圧スイッチ論理(CVSL)回路700を描いている。回路700は、2つの相補論理部分740及び742で構成される。論理回路700の出力は、真の720T論理出力及び補体720C論理出力の双方を発生させるために必要とされる。論理回路700は不揮発性であり、即ち、電力が切られても(または妨害されても)論理状態は保存され、電力が切られる(または中断される)直前の論理状態と同じ論理状態でオペレーションが再開される。論理回路740は不揮発性のナノチューブを基礎とするNOR回路であり、その入力は真数及び補数の形式のA及びBによって起動され、その対応する出力は図7に示すように(A+Bである。論理回路742は不揮発性NAND回路であり、図7に示すように入力A及びB及びリリースA及びBで起動される場合のその出力はA+Bである。電流は切換中にのみ流れ、VDDとGNDとの間にDC電流は存在しない。 FIG. 7 depicts a non-volatile nanotube-based cascode voltage switch logic (CVSL) circuit 700 according to a given embodiment. Circuit 700 is comprised of two complementary logic portions 740 and 742. The output of logic circuit 700 is required to generate both a true 720T logic output and a complement 720C logic output. The logic circuit 700 is non-volatile, i.e., even if power is turned off (or disturbed), the logic state is preserved and operates in the same logic state as immediately before the power is turned off (or interrupted). Is resumed. The logic circuit 740 is a non-volatile nanotube-based NOR circuit whose inputs are activated by A and B in the form of true and complement and its corresponding output is (A T + B T T as shown in FIG. ) C. The logic circuit 742 is a non-volatile NAND circuit, and its output when activated with inputs AC and BC and releases A and B as shown in FIG. 7 is A T + B T. Current flows only during switching and there is no DC current between V DD and GND.

先に論じたように、図1の4端子デバイスは、揮発性デバイスを生成するために5未満のナノチューブ長さ対間隙サイズ比で構成されてもよい。この4端子揮発性デバイスもデュアル・レールの差動論理として動作されることが可能であるが、回路への電力が中断されると論理状態を保存しない。揮発性4端子デバイスの略示は、図2Bに示されている。4端子揮発性デバイスは、リリース電極がメタライゼーション層等の低抵抗電気経路を介してナノチューブ・チャネル・エレメントへ接続されれば3端子揮発性デバイスとして動作される場合もある。例えば図2Bを参照すると、リリース端子112’はナノチューブ信号電極114’へ電気的に接続される。これは、単レール揮発性論理、デュアル・レール揮発性論理及びデュアル・レール不揮発性論理が不揮発性オペレーション用に設計されたナノチューブ交換デバイス及び揮発性オペレーション用に設計されたナノチューブ交換デバイスを使用して単一基板上で混合されることを許容する。図8A乃至8Bは、4素子揮発性状態デバイス構成において3端子デバイスとして使用される4端子デバイスの例を示す。   As discussed above, the four terminal device of FIG. 1 may be configured with a nanotube length to gap size ratio of less than 5 to create a volatile device. This 4-terminal volatile device can also be operated as dual rail differential logic, but does not preserve the logic state when power to the circuit is interrupted. A schematic representation of a volatile 4-terminal device is shown in FIG. 2B. A four terminal volatile device may be operated as a three terminal volatile device if the release electrode is connected to the nanotube channel element via a low resistance electrical path such as a metallization layer. For example, referring to FIG. 2B, the release terminal 112 'is electrically connected to the nanotube signal electrode 114'. It uses single-rail volatile logic, dual-rail volatile logic and dual-rail non-volatile logic designed for non-volatile operation and nanotube exchange devices designed for volatile operation. Allows mixing on a single substrate. 8A-8B show an example of a four terminal device used as a three terminal device in a four element volatile state device configuration.

ナノチューブを基礎とする論理は、ダイオード、抵抗器及びトランジスタと共に、かつこれらなしで使用される場合もあれば、CMOS、biCMOS、バイポーラ及び他のトランジスタ・レベル技術の一部として、またはこれらの代わりに使用される場合もある。また、SRAMフリップ・フロップの代わりに不揮発性フリップ・フロップを使用してNRAMセルを生成してもよい。ナノチューブ・デバイス端末を相互接続するために使用される配線は、SiO2、ポリイミド他等の適切な絶縁層を有するAlCu、WまたはCu配線等の従来の配線である場合も、配線に使用される単層または多層ナノチューブである場合もある。   Nanotube-based logic may be used with and without diodes, resistors and transistors, as part of CMOS, biCMOS, bipolar and other transistor level technologies, or instead Sometimes used. Also, NRAM cells may be generated using non-volatile flip-flops instead of SRAM flip-flops. The wiring used to interconnect the nanotube device terminals may be a single wiring used for wiring, even if it is a conventional wiring such as AlCu, W or Cu wiring with a suitable insulating layer such as SiO2, polyimide etc. It can be a single-walled or multi-walled nanotube.

発明者は、特殊なアプリケーション、速度、電力要件及び所望される密度に依存して、揮発性及び不揮発性または混合型のナノ電気機械的設計の追加構成を想定している。さらに発明者は、多層カーボン・ナノチューブまたはナノワイヤによるスイッチ内の接点の交換エレメントとしての使用も予見している。技術ノードのサイズが90nmから65nmへ、及び個々のナノチューブまたはナノワイヤのサイズにまで下がるにつれて、発明者は基本的な電気機械的交換エレメント及びそのオペレーションをこのようなサイズの低減に付随するスケーラブルのパフォーマンス特性を有するナノスケール・デバイスの生成へ適合させることを予見している。   The inventor contemplates additional configurations of volatile and non-volatile or mixed nanoelectromechanical designs depending on the particular application, speed, power requirements and desired density. The inventor also foresees the use of multi-walled carbon nanotubes or nanowires as contact replacement elements in switches. As the technology node size is reduced from 90 nm to 65 nm and down to the size of individual nanotubes or nanowires, the inventors have scaled the basic electromechanical exchange element and its operation to the scalable performance associated with such size reduction. It is foreseen to adapt to the generation of nanoscale devices with properties.

好適な実施形態のナノチューブ交換エレメントは、チャネルの形成及び不形成のために複数の制御装置を使用する。実施形態によっては、デバイスは不揮発性デバイスを生成するサイズで製造され、電極のうちの1つをチャネルの形成に使用し、他の電極をチャネルの不形成に使用してもよい。電極は、差動デュアル・レール入力として使用される場合もある。或いは、これらを異なる時間に設定して使用してもよい。例えば、制御電極はクロック信号の形式で使用される場合もあれば、リリース電極がクロック信号の形式として使用される場合もある。また、例えば制御電極及びリリース電極を、ナノチューブの状態が隣接する配線ノード上の電圧スパイク等の雑音ソースによって妨害され得ないように同じ電圧に配置してもよい。   The nanotube exchange element of the preferred embodiment uses multiple controllers for channel formation and non-formation. In some embodiments, the device may be manufactured in a size that creates a non-volatile device, with one of the electrodes used to form a channel and the other electrode used to form a channel. The electrode may be used as a differential dual rail input. Alternatively, these may be used at different times. For example, the control electrode may be used in the form of a clock signal, or the release electrode may be used in the form of a clock signal. Also, for example, the control electrode and the release electrode may be placed at the same voltage so that the nanotube state cannot be disturbed by noise sources such as voltage spikes on adjacent wiring nodes.

図1のデバイスは、揮発性デバイスまたは不揮発性デバイスとして設計されることが可能である。揮発性デバイスの場合、ナノチューブの伸長に起因する機械的復元力はファンデルワールス保持力より強く、制御電極またはリリース電極絶縁体とのナノチューブの機械的接触は電界が除去されると破壊される。典型的には、揮発性デバイスの場合、5対1より小さい懸垂長さ対間隙比等のナノチューブ幾何学的係数が使用される。不揮発性デバイスの場合、ナノチューブの伸長に起因する機械的復元力はファンデルワールス保持力より弱く、制御電極またはリリース電極絶縁体とのナノチューブの機械的接触は電界が除去されても破壊されないままである。典型的には、不揮発性デバイスの場合、5対1より大きく15対1より小さい懸垂長さ対間隙比等のナノチューブ幾何学的係数が使用される。電気機械的力を発生させる印加される電界は、ナノチューブ・デバイスの状態を変えるために必要とされる。ナノチューブ及び金属と絶縁体との間のファンデルワールス力は、ナノチューブ・スイッチの製造に使用される材料の関数である。例示として、これらは、二酸化珪素及び窒化珪素等の絶縁体と、タングステン、アルミニウム、銅、ニッケル、パラジウム等の金属と、シリコン等の半導体とを含む。同じ表面積では、力は材料の幾つかの組合わせで5%未満変化し、材料の他の組合わせでは2Xを超える場合もあり、よって揮発性及び不揮発性オペレーションは懸垂長さ及び間隙の大きさ等の幾何学的な力及び選択される材料によって決定される。しかしながら、幾何学的サイズ及びより強い、またはより弱いファンデルワールス力を示す材料の双方を選ぶことによってデバイスを設計することは可能である。例示として、ナノチューブの懸垂長さ及び間隙高度及びファブリック層密度、制御電極の長さ、幅及び誘電層の厚さを変えてもよい。また、出力電極のサイズ及びナノチューブとの間隔を変えてもよい。また、図1に示すナノチューブ交換エレメント100の製造中に、ファンデルワールス力を増すために特別に設計された層(図示されていない)を追加してもよい。例えば、より優れた不揮発性オペレーションのために、制御電極111またはリリース電極112に関連づけられる絶縁層上へファンデルワールス保持力を増大させる金属(電気接続されていない)、半導体(電気接続されていない)または絶縁材料の薄い(例えば5乃至10nm)層をデバイス構成を実質的に変えることなく追加してもよい(図示されていない)。このようにして、デバイスのオペレーションを最適化するために、本例では不揮発性オペレーションを最適化すべく幾何学的寸法決め及び材料選択の双方が使用される。   The device of FIG. 1 can be designed as a volatile device or a non-volatile device. For volatile devices, the mechanical restoring force due to nanotube elongation is stronger than the van der Waals holding force, and the mechanical contact of the nanotube with the control or release electrode insulator is destroyed when the electric field is removed. Typically, for volatile devices, nanotube geometric factors such as a suspension length to gap ratio of less than 5 to 1 are used. For non-volatile devices, the mechanical restoring force due to nanotube elongation is weaker than the van der Waals holding force, and the mechanical contact of the nanotube with the control or release electrode insulator remains intact when the electric field is removed. is there. Typically, for non-volatile devices, nanotube geometric factors such as suspension length to gap ratio greater than 5: 1 and less than 15: 1 are used. An applied electric field that generates an electromechanical force is required to change the state of the nanotube device. The van der Waals forces between nanotubes and metals and insulators are a function of the materials used in the manufacture of nanotube switches. By way of example, these include insulators such as silicon dioxide and silicon nitride, metals such as tungsten, aluminum, copper, nickel, palladium, and semiconductors such as silicon. At the same surface area, the force varies by less than 5% for some combinations of materials and may exceed 2X for other combinations of materials, so volatile and non-volatile operations can be suspended length and gap size. Is determined by the geometric force and the material selected. However, it is possible to design a device by choosing both a geometric size and a material that exhibits stronger or weaker Van der Waals forces. Illustratively, the nanotube suspension length and gap height and fabric layer density, control electrode length, width and dielectric layer thickness may be varied. Further, the size of the output electrode and the interval with the nanotube may be changed. Also, during the manufacture of the nanotube exchange element 100 shown in FIG. 1, a layer (not shown) specifically designed to increase van der Waals forces may be added. For example, for better non-volatile operation, metal (not electrically connected), semiconductor (not electrically connected) that increases van der Waals retention on the insulating layer associated with control electrode 111 or release electrode 112 ) Or a thin (eg, 5-10 nm) layer of insulating material may be added (not shown) without substantially changing the device configuration. Thus, to optimize device operation, both geometric sizing and material selection are used in this example to optimize non-volatile operation.

接続された出力端子を有する2つのナノチューブ交換エレメント100を使用するインバータ等の相補回路では、インバータが1つの論理状態から別の論理状態へ変わる際にインバータ回路内の電源と接地との間に瞬間的な電流の流れが存在する可能性がある。CMOSでは、これは、共に論理状態遷移中に実行しているPFET及びNFETの双方が瞬間的にオンになると発生し、「シュートスルー」電流と呼ばれる場合がある。電気機械的インバータの場合、瞬間電流は、第2のナノチューブ・スイッチのナノチューブ・ファブリックが第2の出力構造体との導電接触を解除する前に第1のナノチューブ・スイッチのナノチューブ・ファブリックが第1の出力構造体と導電接触を行えば、論理状態の変更中に発生する可能性がある。但し、第2のナノチューブ・スイッチが第2のナノチューブ・ファブリックと第2の出力電極とを接触させる前に第1のナノチューブ・スイッチが第1のナノチューブ・ファブリックと第1の出力電極との接触を断てば、ブレークビフォアメーク型のインバータ・オペレーションが発生し、「シュートスルー」電流は最小限に抑えられるか除去される。ブレークビフォアメーク型のオペレーションを好む電気機械的デバイスは、例えば制御電極及びリリース電極によってナノチューブ交換エレメント上へ加わる力が異なるように、ナノチューブ交換エレメントを超える、または下回る異なる間隙高度で設計される場合もあり、及び/またはナノチューブ交換エレメントの行程距離は方向毎に異なり、及び/または材料は、一方の交換方向ではファンデルワールス力を増大させかつ反対方向ではファンデルワールス力を弱めるように選択(及び/または追加)される。   In a complementary circuit, such as an inverter, that uses two nanotube switching elements 100 with connected output terminals, the moment between the power supply and ground in the inverter circuit when the inverter changes from one logic state to another. Current flow may exist. In CMOS, this occurs when both the PFET and NFET, both executing during a logic state transition, are momentarily turned on and may be referred to as a “shoot-through” current. In the case of an electromechanical inverter, the instantaneous current is applied to the first nanotube switch nanotube fabric before the nanotube fabric of the second nanotube switch releases conductive contact with the second output structure. Can occur during the change of logic state if conductive contact is made with the output structure. However, the first nanotube switch makes contact with the first nanotube fabric and the first output electrode before the second nanotube switch makes contact with the second nanotube fabric and the second output electrode. Otherwise, break-before-make inverter operation occurs and “shoot-through” current is minimized or eliminated. Electromechanical devices that prefer break-before-make operation may be designed with different gap heights above or below the nanotube exchange element, for example, the forces applied on the nanotube exchange element by the control and release electrodes differ. Yes, and / or the travel distance of the nanotube exchange element varies from direction to direction, and / or the material is selected to increase the van der Waals force in one exchange direction and weaken the van der Waals force in the opposite direction (and / Or added).

例示として、図1に示すナノチューブ交換エレメント100は、間隙G102が間隙G104より実質的に小さく(例えば50%小さく)なるように設計してもよい。また、間隙G103は、ナノチューブ・エレメント115の接触が交換時に遅延されるようにより大きく製造される。また、例えば出力端子113c及び113dからナノチューブ・エレメント115をより早く離すために、誘電厚さ及び誘電定数は、同じ印加電圧差ではリリース電極112とナノチューブ・エレメント115との間の電界が制御電極111とナノチューブ・エレメント115との間の電界より強くなるように相違させてもよい。ナノチューブ・エレメント115と出力電極113c及び113dとの接触の解除を容易にするために、出力電極113c及び113dは、小さい半径を有するように、従ってナノチューブ・エレメント115との接触領域における接触面積が、ナノチューブ・エレメント115と制御端子111上の絶縁体との接触サイズ(面積)より小さくなるように設計してもよい。例えば、電極113c及び113dに使用される材料は、ナノチューブ・エレメント115に対するファンデルワールス力が、ナノチューブ・エレメント115とリリース電極112上の絶縁体との間のファンデルワールス力より弱くなるように選択してもよい。これらの手法及び他の手法を使用して、メークビフォアブレーク・オペレーションを優先し、よってインバータ等の回路による1つの論理状態から別の論理状態への切換に伴う「シュートスルー」電流を最小限に抑える、または除去するナノチューブ交換エレメントを設計してもよい。   By way of example, the nanotube exchange element 100 shown in FIG. 1 may be designed such that the gap G102 is substantially smaller (eg, 50% smaller) than the gap G104. Also, the gap G103 is made larger so that contact of the nanotube element 115 is delayed during replacement. Also, for example, in order to move the nanotube element 115 away from the output terminals 113c and 113d faster, the dielectric thickness and the dielectric constant have the same applied voltage difference so that the electric field between the release electrode 112 and the nanotube element 115 can be And the nanotube element 115 may be different so as to be stronger than the electric field. In order to facilitate the release of the contact between the nanotube element 115 and the output electrodes 113c and 113d, the output electrodes 113c and 113d have a small radius so that the contact area in the contact area with the nanotube element 115 is You may design so that it may become smaller than the contact size (area) of the nanotube element 115 and the insulator on the control terminal 111. For example, the materials used for electrodes 113c and 113d are selected such that the van der Waals force on nanotube element 115 is less than the van der Waals force between nanotube element 115 and the insulator on release electrode 112. May be. These and other techniques are used to prioritize make-before-break operations, thus minimizing the “shoot-through” current associated with switching from one logic state to another by a circuit such as an inverter. Nanotube exchange elements that are suppressed or eliminated may be designed.

ナノチューブ・スイッチに使用される電極及び接点の製造に使用される材料は特定のアプリケーションに依存し、即ち、本発明のオペレーションに必要な特定の金属は存在しない。   The materials used to make the electrodes and contacts used in the nanotube switch depend on the specific application, i.e. there is no specific metal required for the operation of the present invention.

ナノチューブは、それを使用すればリボン内のナノチューブ間の内部接着強化に役立つ可能性のあるピレン等の平坦な共役炭化水素によって機能的にされることが可能である。ナノチューブの表面は、より疎水性またはより親水性の環境を作ってナノチューブ・ファブリックの基底電極面へのより優れた接着を促進するように誘導体化されることが可能である。特に、ウェーハ/基板表面の機能化は基板表面の「誘導体化」を含む。例えば、親水状態を疎水状態へ化学的に変換して、またはアミン、カルボン酸、チオールまたはスルホン酸塩等の機能グループを供給して基板の表面特性を変えることも可能である。機能化は、酸素プラズマ内で基板を酸化または灰化して基板表面から炭素及び他の不純物を取り除き、後にシランと反応される均一な反応性の酸化表面を供給する任意選択の一次ステップを包含してもよい。使用してもよいこのようなポリマの1つは、3−アミノプロピルトリエトキシシラン(APTS)である。基板表面は、ナノチューブ・ファブリックを添加する前に誘導体化してもよい。   Nanotubes can be functionalized by flat conjugated hydrocarbons such as pyrene, which can help to enhance internal adhesion between the nanotubes in the ribbon. The surface of the nanotubes can be derivatized to create a more hydrophobic or more hydrophilic environment to promote better adhesion to the base electrode surface of the nanotube fabric. In particular, functionalization of the wafer / substrate surface includes “derivatization” of the substrate surface. For example, it is possible to change the surface properties of the substrate by chemically converting the hydrophilic state to a hydrophobic state or by supplying functional groups such as amines, carboxylic acids, thiols or sulfonates. Functionalization includes an optional primary step that oxidizes or ashes the substrate in an oxygen plasma to remove carbon and other impurities from the substrate surface and provides a uniform reactive oxidized surface that is subsequently reacted with silane. May be. One such polymer that may be used is 3-aminopropyltriethoxysilane (APTS). The substrate surface may be derivatized prior to adding the nanotube fabric.

単層のカーボン・ナノチューブは好適であるが、多層のカーボン・ナノチューブを使用してもよい。また、ナノチューブをナノワイヤと共に使用してもよい。本明細書で言及するナノワイヤは、単一のナノワイヤ、不織ナノワイヤの集合体、ナノクラスタ、ナノファブリック、ナノワイヤのマット他を備えるナノチューブに絡まるナノワイヤを意味するように意図されている。本発明は、任意の電子アプリケーションに使用されるナノスケールな導電エレメントの生成に関連している。   Single-walled carbon nanotubes are preferred, but multi-walled carbon nanotubes may be used. Nanotubes may also be used with nanowires. The nanowires referred to herein are intended to mean nanowires entangled with nanotubes comprising single nanowires, aggregates of non-woven nanowires, nanoclusters, nanofabrics, nanowire mats, etc. The present invention relates to the generation of nanoscale conductive elements for use in any electronic application.

下記の特許引例は、ナノチューブ・ファブリック製品及びスイッチを製造するために様々な技術に言及するものであり、本出願の譲受人に譲渡されている。これらは各々、本参照によりその全体が開示に含まれる。   The following patent references refer to various techniques for making nanotube fabric products and switches and are assigned to the assignee of the present application. Each of these is hereby incorporated by reference in its entirety.

2003年1月13日に出願された「カーボン・ナノチューブのフィルム、レイヤ、ファブリック、リボン、エレメント及び製品の製造方法」と題する米国特許出願第10/341,005号、
2001年7月25日に出願された「ナノチューブ・リボンを使用する電気機械的メモリ・アレイとその製造方法」と題する米国特許出願第09/915,093号、
2001年12月28日に出願された「電気機械的3トレース接合デバイスの製造方法」と題する米国特許出願第10/033,032号、
2001年12月28日に出願された「電気機械的3トレース接合デバイス」と題する米国特許出願第10/033,323号、
2002年4月23日に出願された「NTフィルム及び製品の方法」と題する米国特許出願第10/128,117号、
2003年1月13日に出願された「金属薄層を使用してカーボン・ナノチューブのフィルム、レイヤ、ファブリック、リボン、エレメント及び製品を製造する方法」と題する米国特許出願第10/341,055号、
2003年1月13日に出願された「予め製造されたナノチューブを使用してカーボン・ナノチューブのフィルム、レイヤ、ファブリック、リボン、エレメント及び製品を製造する方法」と題する米国特許出願第10/341,054号、
2003年1月13日に出願された「カーボン・ナノチューブのフィルム、レイヤ、ファブリック、リボン、エレメント及び製品」と題する米国特許出願第10/341,130号、
2004年2月11日に出願された「水平に位置決めされるナノファブリック製品を有するデバイスとその製造方法」と題する米国特許出願第10/776,059号、
2004年2月11日に出願された「垂直に位置決めされるナノファブリック製品を有するデバイスとその製造方法」と題する米国特許出願第10/776,572号。
US patent application Ser. No. 10 / 341,005, filed Jan. 13, 2003, entitled “Method of Manufacturing Carbon Nanotube Films, Layers, Fabrics, Ribbons, Elements, and Products”;
US patent application Ser. No. 09 / 915,093 entitled “Electromechanical Memory Array Using Nanotube Ribbon and Method of Manufacturing the Same” filed on July 25, 2001;
US patent application Ser. No. 10 / 033,032, entitled “Method of Manufacturing Electromechanical 3 Trace Junction Device” filed on Dec. 28, 2001;
US patent application Ser. No. 10 / 033,323, filed Dec. 28, 2001, entitled “electromechanical three-trace bonding device”;
US patent application Ser. No. 10 / 128,117, filed Apr. 23, 2002, entitled “NT Film and Product Method”;
US patent application Ser. No. 10 / 341,055, filed Jan. 13, 2003, entitled “Method of Manufacturing Carbon Nanotube Films, Layers, Fabrics, Ribbons, Elements, and Products Using Thin Metallic Layers” ,
US patent application Ser. No. 10/341, filed Jan. 13, 2003 entitled “Method of Manufacturing Carbon Nanotube Films, Layers, Fabrics, Ribbons, Elements, and Products Using Prefabricated Nanotubes” 054,
US patent application Ser. No. 10 / 341,130 entitled “Carbon Nanotube Films, Layers, Fabrics, Ribbons, Elements and Products,” filed on January 13, 2003,
US patent application Ser. No. 10 / 776,059 entitled “Devices with Horizontally Positioned Nanofabric Products and Method of Manufacturing the Same” filed on Feb. 11, 2004;
US patent application Ser. No. 10 / 776,572, filed Feb. 11, 2004, entitled “Devices with vertically positioned nanofabric products and methods for their manufacture”.

本発明は、その精神または本質的特徴を逸脱することなく、例えば特定形式で具現化されることが可能である。従って、上述の実施形態は限定的でなく例示的であるとされるべきものであり、本発明の範囲は上述の明細書本文ではなく添付の請求の範囲によって指示されるものである。従って、請求の範囲と等価の意味及び範囲内にある全ての変更は本発明に包含されるものとする。   The present invention can be embodied, for example, in a specific form without departing from the spirit or essential characteristics thereof. Accordingly, the above embodiments are to be regarded as illustrative rather than limiting, and the scope of the present invention is indicated by the appended claims rather than by the foregoing specification text. Accordingly, all modifications that come within the meaning and range of equivalency of the claims are intended to be embraced by the present invention.

所定の実施形態のナノチューブ交換エレメントの異なる2状態における断面図であり、このようなエレメントの平面図を含む。Figure 2 is a cross-sectional view of two different states of a nanotube exchange element of certain embodiments, including a plan view of such an element. 所定の実施形態のナノチューブ交換エレメントの異なる2状態における断面図であり、このようなエレメントの平面図を含む。Figure 2 is a cross-sectional view of two different states of a nanotube exchange element of certain embodiments, including a plan view of such an element. 所定の実施形態のナノチューブ交換エレメントの異なる2状態における断面図であり、このようなエレメントの平面図を含む。Figure 2 is a cross-sectional view of two different states of a nanotube exchange element of certain embodiments, including a plan view of such an element. 所定の実施形態のナノチューブ交換エレメントの異なる2状態における断面図であり、このようなエレメントの平面図を含む。Figure 2 is a cross-sectional view of two different states of a nanotube exchange element of certain embodiments, including a plan view of such an element. ナノチューブ交換エレメントの略示である。1 is a schematic representation of a nanotube exchange element. ナノチューブ交換エレメントの略示である。1 is a schematic representation of a nanotube exchange element. ナノチューブ交換エレメントの略示である。1 is a schematic representation of a nanotube exchange element. ナノチューブ交換エレメントの略示である。1 is a schematic representation of a nanotube exchange element. ナノチューブ交換エレメントの略示である。1 is a schematic representation of a nanotube exchange element. ナノチューブ交換エレメントの略示である。1 is a schematic representation of a nanotube exchange element. ナノチューブ交換エレメントの略示である。1 is a schematic representation of a nanotube exchange element. ナノチューブ交換エレメントから構築される例示的なデュアル・レール入力、デュアル・レール出力インバータ回路の略示である。1 is a schematic representation of an exemplary dual rail input, dual rail output inverter circuit constructed from nanotube exchange elements. ナノチューブ交換エレメントから構築される例示的なデュアル・レール・フリップ・フロップ回路の略示である。1 is a schematic representation of an exemplary dual rail flip-flop circuit constructed from nanotube exchange elements. 不揮発性ramセルを構築する例示的なナノチューブ・スタティックramセル及びデュアル・レール・フリップ・フロップ回路の使用の略示である。1 is a schematic illustration of the use of an exemplary nanotube static ram cell and dual rail flip-flop circuit to construct a non-volatile ram cell. 不揮発性ramセルを構築する例示的なナノチューブ・スタティックramセル及びデュアル・レール・フリップ・フロップ回路の使用の略示である。1 is a schematic illustration of the use of an exemplary nanotube static ram cell and dual rail flip-flop circuit to construct a non-volatile ram cell. デュアル・レール式ナノチューブ・ベースNOR回路の略示である。1 is a schematic representation of a dual rail nanotube-based NOR circuit. ラッチ回路における3端子デバイスとして動作する揮発性4端子ナノチューブ交換デバイスの例示的な略示である。2 is an exemplary schematic of a volatile 4-terminal nanotube exchange device operating as a 3-terminal device in a latch circuit. ラッチ回路における3端子デバイスとして動作する揮発性4端子ナノチューブ交換デバイスの例示的な略示である。2 is an exemplary schematic of a volatile 4-terminal nanotube exchange device operating as a 3-terminal device in a latch circuit.

Claims (40)

交換エレメントであって、
入力ノードと、
出力ノードと、
少なくとも1つの導電ナノチューブを有するナノチューブ・チャネル・エレメントと、
上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して、上記入力ノードと上記出力ノードとの間に導電性のチャネルを制御可能式に形成しかつ形成しないように配置される制御構造体とを備え、上記チャネルは少なくとも上記ナノチューブ・チャネル・エレメントを含み、
上記出力ノードは、チャネルの形成が実質的に上記出力ノードの電気的状態によって影響されないように構成されかつ配置される交換エレメント。
An exchange element,
An input node;
An output node;
A nanotube channel element having at least one conductive nanotube;
In connection with the nanotube channel element, a control structure disposed controllably between and without forming a conductive channel between the input node and the output node; and Includes at least the nanotube channel element,
The output node is configured and arranged such that channel formation is substantially unaffected by the electrical state of the output node.
上記制御構造体は、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの反対の両側に配置される制御電極とリリース電極とを含む請求項1記載の交換エレメント。   The exchange element of claim 1, wherein the control structure includes a control electrode and a release electrode disposed on opposite sides of the nanotube channel element. チャネルの形成は不揮発状態である請求項1記載の交換エレメント。   2. An exchange element according to claim 1, wherein the formation of the channel is non-volatile. 上記制御電極及び上記リリース電極は、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの電気機械的偏向を引き起こすことによって上記導電チャネルを形成しかつ形成しないように配置される請求項2記載の交換エレメント。   The control electrode and the release electrode are arranged in association with the nanotube channel element to form and not form the conductive channel by causing an electromechanical deflection of the nanotube channel element. Item 5. The replacement element according to Item 2. 上記電気機械的偏向は、ナノチューブ・チャネル・エレメントを出力端子と物理的に接触させる請求項4記載の交換エレメント。   5. An exchange element according to claim 4, wherein the electromechanical deflection brings the nanotube channel element into physical contact with the output terminal. 上記出力ノードは、チャネル形成が実質的に上記出力ノードの状態から不変であるように上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して配置される絶縁構造体を含む請求項1記載の交換エレメント。   The exchange element of claim 1, wherein the output node includes an insulating structure disposed in relation to the nanotube channel element such that channel formation is substantially unchanged from the state of the output node. 上記ナノチューブ・チャネル・エレメントは静電力に応答して偏向可能であり、上記絶縁構造体は、静電界に上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの物理的位置を上記出力ノードの状態による妨害から絶縁させる請求項6記載の交換エレメント。   The nanotube channel element is deflectable in response to an electrostatic force, and the insulating structure insulates the physical position of the nanotube channel element from interference due to the state of the output node in an electrostatic field. 6. The exchange element according to 6. 上記絶縁構造体は上記制御構造体の反対の両側に配置される2つの電極セットを含み、各電極セットは上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの反対側に配置される電極を含む請求項7記載の交換エレメント。   8. The replacement of claim 7, wherein the insulating structure includes two electrode sets disposed on opposite sides of the control structure, each electrode set including an electrode disposed on the opposite side of the nanotube channel element. element. 上記2つの電極セットは制御構造体に対して対称配置される請求項8記載の交換エレメント。   The exchange element according to claim 8, wherein the two electrode sets are arranged symmetrically with respect to the control structure. 上記電極の少なくとも1つは絶縁体で被覆される請求項8記載の交換エレメント。   9. An exchange element according to claim 8, wherein at least one of the electrodes is coated with an insulator. 上記ナノチューブ・チャネル・エレメントは上記入力ノード電気的に連絡している状態にありかつ上記制御電極及びリリース・ノードに対して間隔を置いて交差する関係で位置決めされ、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの偏向は上記入力ノード、上記制御電極及び上記リリース・ノード上の信号から結果的に生じる静電力に応答する請求項2記載の交換エレメント。   The nanotube channel element is positioned in electrical communication with the input node and in spaced relation to the control electrode and the release node to deflect the nanotube channel element. The switching element of claim 2 responsive to electrostatic force resulting from signals on the input node, the control electrode, and the release node. 上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの偏向は上記制御電極及び上記リリース電極に適用される差分信号関係に応答する請求項2記載の交換エレメント。   3. The exchange element of claim 2, wherein the deflection of the nanotube channel element is responsive to a differential signal relationship applied to the control electrode and the release electrode. 上記制御電極は上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに対して第1の離隔関係を有し、上記リリース電極は上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに対して第2の離隔関係を有し、上記出力ノードは上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに対して第3の離隔関係を有する出力電極を含み、一部は上記制御電極によって誘発される上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの静電引力は上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに上記出力電極と接触させ、一部は上記リリース電極によって誘発される上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの静電引力は上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに上記出力電極との接触を停止させる請求項2記載の交換エレメント。   The control electrode has a first spaced relationship to the nanotube channel element, the release electrode has a second spaced relationship to the nanotube channel element, and the output node is the nanotube. An output electrode having a third spacing relationship with respect to the channel element, a portion of which the electrostatic attraction of the nanotube channel element induced by the control electrode is applied to the output electrode on the nanotube channel element; 3. The exchange element of claim 2, wherein the electrostatic attraction of the nanotube channel element induced in part by the release electrode causes the nanotube channel element to stop contacting the output electrode. 上記第1、第2及び第3の離隔関係は異なる大きさを有する請求項13記載の交換エレメント。   14. The exchange element according to claim 13, wherein the first, second and third separation relationships have different sizes. 上記ナノチューブ・チャネル・エレメントはリソグラフィ式に画定される形状を有する請求項1記載の交換エレメント。   The exchange element of claim 1, wherein the nanotube channel element has a lithographically defined shape. 上記ナノチューブ・チャネル・エレメントはナノファブリックから構築される請求項1記載の交換エレメント。   The exchange element of claim 1, wherein the nanotube channel element is constructed from a nanofabric. 上記ナノチューブ・チャネル・エレメントは高有孔性のナノファブリックから構築される請求項16記載の交換エレメント。   The exchange element of claim 16, wherein the nanotube channel element is constructed from a highly porous nanofabric. 上記制御電極は絶縁体で被覆される請求項2記載の交換エレメント。   The exchange element according to claim 2, wherein the control electrode is coated with an insulator. 上記リリース電極は絶縁体で被覆される請求項2記載の交換エレメント。   The exchange element according to claim 2, wherein the release electrode is coated with an insulator. 上記ナノチューブ・チャネル・エレメントは、上記ナノチューブ・チャネル・エレメント、上記制御電極及び上記リリース電極上の信号の関係性に応じて少なくとも2つの位置状態のうちの1つへ配置可能であり、少なくとも2つの位置状態のうちの1つは上記出力ノードと電気的に連絡している状態ではなく浮動状態にあるナノチューブ・チャネル・エレメントによって画定される請求項2記載の交換エレメント。   The nanotube channel element can be placed in one of at least two position states depending on the relationship of signals on the nanotube channel element, the control electrode and the release electrode, and at least two The exchange element of claim 2, wherein one of the position states is defined by a nanotube channel element in a floating state rather than in electrical communication with the output node. ブール論理回路であって、
少なくとも1つの差動入力端子セット及び出力端子と、
上記少なくとも1つの差動入力端子セットと上記出力端子との間に電気的に配置されるナノチューブ交換エレメントのネットワークとを備え、
上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは、上記少なくとも1つの差動入力端子セットに対してブール信号のブール関数変換を達成するブール論理回路。
A Boolean logic circuit,
At least one differential input terminal set and an output terminal;
A nanotube exchange element network electrically disposed between the at least one differential input terminal set and the output terminal;
The network of nanotube exchange elements is a Boolean logic circuit that achieves a Boolean function transformation of a Boolean signal for the at least one differential input terminal set.
上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは、上記少なくとも1つの差動入力端子セットに対して信号のブールNOT関数を達成する請求項21記載のブール論理回路。   The Boolean logic circuit of claim 21, wherein the network of nanotube exchange elements achieves a Boolean NOT function of signals for the at least one differential input terminal set. 上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは、少なくとも第1及び第2の差動入力端子セットに対して信号のブールNOR関数を達成する請求項21記載のブール論理回路。   The Boolean logic circuit of claim 21, wherein the network of nanotube exchange elements achieves a Boolean NOR function of a signal for at least a first and second differential input terminal set. 上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは、少なくとも第1及び第2の差動入力端子セットに対して信号のブールNAND関数を達成する請求項21記載のブール論理回路。   The Boolean logic circuit of claim 21, wherein the network of nanotube exchange elements achieves a Boolean NAND function of signals for at least a first and second differential input terminal set. 上記回路はカスコード電圧スイッチ論理回路であり、上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークはさらに、少なくとも第1及び第2の差動入力端子セットに対して信号のブールNAND関数を達成する請求項23記載のブール論理回路。   24. The Boolean logic of claim 23, wherein the circuit is a cascode voltage switch logic circuit and the network of nanotube switching elements further achieves a Boolean NAND function of signals for at least the first and second differential input terminal sets. circuit. ブール論理回路であって、
少なくとも1つの入力端子及び出力端子と、
上記少なくとも1つの入力端子と上記出力端子との間に電気的に配置されるナノチューブ交換エレメントのネットワークとを備え、
上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは、上記少なくとも1つの入力端子に対してブール信号のブール関数変換を達成し、上記ナノチューブ交換エレメントの少なくとも1つは情報状態を不揮発式に保持する能力があるブール論理回路。
A Boolean logic circuit,
At least one input terminal and output terminal;
A network of nanotube exchange elements electrically disposed between the at least one input terminal and the output terminal;
The network of nanotube exchange elements achieves a Boolean function transformation of a Boolean signal to the at least one input terminal, and at least one of the nanotube exchange elements is capable of holding an information state in a nonvolatile manner .
上記情報状態を不揮発式に保持する能力がある少なくとも1つのナノチューブ交換エレメントは、少なくとも1つの導電ナノチューブを有するナノチューブ・チャネル・エレメントと、上記少なくとも1つの交換エレメントの入力ノードと上記少なくとも1つの交換エレメントの出力ノードとの間で導電チャネルを制御可能式に形成しかつ形成しないように上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して配置される制御構造体とを含む請求項26記載のブール論理回路。   The at least one nanotube exchange element capable of holding the information state in a nonvolatile manner includes a nanotube channel element having at least one conductive nanotube, an input node of the at least one exchange element, and the at least one exchange element 27. A Boolean logic circuit according to claim 26 including a control structure disposed in association with said nanotube channel element so as to controllably form and not form a conductive channel with a plurality of output nodes. 上記制御構造体は、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの反対の両側に配置される制御電極とリリース電極とを含む請求項27記載の交換エレメント。   28. The exchange element of claim 27, wherein the control structure includes a control electrode and a release electrode disposed on opposite sides of the nanotube channel element. 上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは第1及び第2のナノチューブ交換エレメントを含み、各ナノチューブ交換エレメントは、
出力ノードと、
少なくとも1つの導電ナノチューブを有するナノチューブ・チャネル・エレメントと、
上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して、上記出力への導電チャネルを制御可能式に形成するように配置される制御電極と、
上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して、上記出力への導電チャネルを制御可能式に形成しないように配置されるリリース電極と、を備え、
上記ブール論理回路の差動入力端子のうちの第1のものは上記第1及び第2のナノチューブ交換エレメントの制御電極と電気的に連絡している状態にあり、
上記ブール論理回路の差動入力端子のうちの第2のものは上記第1及び第2のナノチューブ交換エレメントのリリース電極と電気的に連絡している状態にあり、
上記第1及び第2のナノチューブ交換エレメントの出力ノードは互いに、及び上記ブール論理回路の出力端子へ電気的に結合され、
上記第1のナノチューブ交換エレメントのナノチューブ・チャネル・エレメントは論理真の値と電気的に連絡している状態にあり、上記第2のナノチューブ交換エレメントのナノチューブ・チャネル・エレメントは論理偽の値と電気的に連絡している状態にある請求項21記載のブール論理回路。
The network of nanotube exchange elements includes first and second nanotube exchange elements, each nanotube exchange element comprising:
An output node;
A nanotube channel element having at least one conductive nanotube;
A control electrode arranged to controllably form a conductive channel to the output in relation to the nanotube channel element;
In conjunction with the nanotube channel element, a release electrode arranged to controllably form a conductive channel to the output; and
A first one of the differential input terminals of the Boolean logic circuit is in electrical communication with the control electrodes of the first and second nanotube exchange elements;
A second one of the differential input terminals of the Boolean logic circuit is in electrical communication with the release electrodes of the first and second nanotube exchange elements;
The output nodes of the first and second nanotube exchange elements are electrically coupled to each other and to the output terminals of the Boolean logic circuit;
The nanotube channel element of the first nanotube exchange element is in electrical communication with a logical true value, and the nanotube channel element of the second nanotube exchange element is in electrical communication with a logical false value. The Boolean logic circuit of claim 21 in a state of being in communication.
上記第1及び第2のナノチューブ交換エレメントの何れかのチャネル形成は、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントと上記出力ノードとを接触させる上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの電気機械的偏向によって引き起こされる請求項29記載のブール論理回路。   30. The channel formation of any of the first and second nanotube exchange elements is caused by an electromechanical deflection of the nanotube channel element that brings the nanotube channel element into contact with the output node. Boolean logic circuit. 上記ナノチューブ・チャネル・エレメントは上記ナノチューブ・チャネル・エレメント上、上記制御電極上及び上記リリース電極上の信号の関係性によって引き起こされる静電力に応じて偏向可能であり、上記第1及び第2のナノチューブ交換エレメントの各々はチャネル形成が実質的に上記出力ノードの状態から不変であるように上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して配置される絶縁構造体を含む請求項30記載のブール論理回路。   The nanotube channel element is deflectable in response to electrostatic forces caused by signal relationships on the nanotube channel element, on the control electrode and on the release electrode, and the first and second nanotubes 31. The Boolean logic circuit of claim 30, wherein each switching element includes an insulating structure disposed in association with the nanotube channel element such that channel formation is substantially unchanged from the state of the output node. 各ナノチューブ・チャネル・エレメントは、上記ナノチューブ・チャネル・エレメント、上記制御電極及び上記リリース電極上の信号の関係性に応じて少なくとも2つの位置状態のうちの1つへ配置可能であり、少なくとも2つの位置状態のうちの1つは上記出力ノードと電気的に連絡している状態ではなく浮動状態にあるナノチューブ・チャネル・エレメントによって画定される請求項31記載のブール論理回路。   Each nanotube channel element can be placed in one of at least two position states depending on the relationship of signals on the nanotube channel element, the control electrode and the release electrode, and at least two 32. The Boolean logic circuit of claim 31, wherein one of the position states is defined by a nanotube channel element in a floating state rather than in electrical communication with the output node. 上記各ナノチューブ・チャネル・エレメントの位置状態は上記ナノチューブ・エレメント、上記制御電極及び上記リリース電極上の信号がない場合に保持される請求項32記載のブール論理回路。   The Boolean logic circuit of claim 32, wherein the position of each nanotube channel element is maintained in the absence of signals on the nanotube element, the control electrode, and the release electrode. 上記ナノチューブ交換エレメントのネットワークは第1及び第2のナノチューブ交換エレメントを含み、各ナノチューブ交換エレメントは、
出力ノードと、
少なくとも1つの導電ナノチューブを有するナノチューブ・チャネル・エレメントと、
上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して、上記出力ノードへの導電チャネルを制御可能式に形成するように配置される制御電極と、
上記ナノチューブ・チャネル・エレメントに関連して、上記出力ノードへの導電チャネルを制御可能式に形成しないように配置されるリリース電極と、を備え、
上記ブール論理回路の入力端子は上記第1及び第2のナノチューブ交換エレメントの制御電極と電気的に連絡している状態にあり、
リリース信号は上記第1及び第2のナノチューブ交換エレメントのリリース電極と電気的に連絡している状態にあり、
上記第1及び第2のナノチューブ交換エレメントの出力ノードは互いに、及び上記ブール論理回路の出力端子へ電気的に結合され、
上記第1のナノチューブ交換エレメントのナノチューブ・チャネル・エレメントは論理真の値と電気的に連絡している状態にあり、上記第2のナノチューブ交換エレメントのナノチューブ・チャネル・エレメントは論理偽の値と電気的に連絡している状態にある請求項26記載のブール論理回路。
The network of nanotube exchange elements includes first and second nanotube exchange elements, each nanotube exchange element comprising:
An output node;
A nanotube channel element having at least one conductive nanotube;
A control electrode arranged to controllably form a conductive channel to the output node in relation to the nanotube channel element;
A release electrode arranged to controllably form a conductive channel to the output node in connection with the nanotube channel element;
The input terminal of the Boolean logic circuit is in electrical communication with the control electrodes of the first and second nanotube exchange elements;
A release signal is in electrical communication with the release electrodes of the first and second nanotube exchange elements;
The output nodes of the first and second nanotube exchange elements are electrically coupled to each other and to the output terminals of the Boolean logic circuit;
The nanotube channel element of the first nanotube exchange element is in electrical communication with a logical true value, and the nanotube channel element of the second nanotube exchange element is in electrical communication with a logical false value. 27. The Boolean logic circuit of claim 26 in a state of being in communication.
ラッチ回路であって、
少なくとも1つの入力端子及び出力端子と、
第1及び第2のインバータ回路とを備え、各インバータ回路は、入力ノードと、出力ノードと、少なくとも1つの導電ナノチューブを有するナノチューブ・チャネル・エレメントと、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントと相対配置される、上記出力ノードへの導電チャネルを制御可能式に形成するための制御電極と、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントと相対配置される、上記出力ノードへの導電チャネルを制御可能式に形成しないためのリリース電極とを有するナノチューブ交換エレメントを含み、
上記第1のインバータ回路の出力ノードは上記第2のインバータ回路の制御電極へ結合され、上記第2のインバータ回路の出力ノードは上記第1のインバータ回路の制御電極へ結合されるラッチ回路。
A latch circuit,
At least one input terminal and output terminal;
First and second inverter circuits, each inverter circuit being positioned relative to an input node, an output node, a nanotube channel element having at least one conductive nanotube, and the nanotube channel element A control electrode for controllably forming a conductive channel to the output node and a release for not controllably forming a conductive channel to the output node positioned relative to the nanotube channel element A nanotube exchange element having an electrode,
An output node of the first inverter circuit is coupled to a control electrode of the second inverter circuit, and an output node of the second inverter circuit is coupled to a control electrode of the first inverter circuit.
各インバータ回路は別のナノチューブ交換エレメントを含み、上記ナノチューブ交換エレメントと上記他のナノチューブ交換エレメントは相補的なプルアップ及びプルダウン式交換エレメントとして配置され、一方の交換エレメントのナノチューブ・チャネル・エレメントは論理真の値へ結合され、もう一方の交換エレメントのナノチューブ・チャネル・エレメントは論理偽へ結合される請求項35記載のラッチ。   Each inverter circuit includes a separate nanotube exchange element, where the nanotube exchange element and the other nanotube exchange element are arranged as complementary pull-up and pull-down exchange elements, the nanotube channel element of one exchange element being a logic 36. The latch of claim 35, coupled to a true value and the nanotube channel element of the other exchange element is coupled to a logic false. 上記第1のインバータの出力ノードは上記第2のインバータ回路の制御電極及び上記第1のインバータのリリース電極へ結合され、上記第2のインバータの出力ノードは上記第1のインバータの制御電極及び上記第2のインバータのリリース電極へ結合される請求項36記載のラッチ。   The output node of the first inverter is coupled to the control electrode of the second inverter circuit and the release electrode of the first inverter, and the output node of the second inverter is connected to the control electrode of the first inverter and the output electrode of the first inverter. 37. The latch of claim 36, coupled to a release electrode of the second inverter. 上記ナノチューブ交換エレメントのチャネル形成は、上記ナノチューブ・チャネル・エレメントと上記出力ノードとを接触させる上記ナノチューブ・チャネル・エレメントの電気機械的偏向によって引き起こされる請求項36記載のラッチ回路。   37. The latch circuit of claim 36, wherein channel formation of the nanotube exchange element is caused by an electromechanical deflection of the nanotube channel element that brings the nanotube channel element into contact with the output node. 各ナノチューブ・チャネル・エレメントは、上記ナノチューブ・チャネル・エレメント及び上記制御電極上の信号の関係性に応じて少なくとも2つの位置状態のうちの1つへ配置可能であり、少なくとも2つの位置状態のうちの1つは上記出力ノードと電気的に連絡している状態ではなく浮動状態にあるナノチューブ・チャネル・エレメントによって画定される請求項36記載のラッチ回路。   Each nanotube channel element can be placed in one of at least two position states depending on the relationship of the signals on the nanotube channel element and the control electrode, and of the at least two position states 37. The latch circuit of claim 36, wherein one is defined by a nanotube channel element that is floating rather than in electrical communication with the output node. 上記各ナノチューブ・チャネル・エレメントの位置状態は上記ナノチューブ・エレメント、上記制御電極及び上記リリース電極上の信号がない場合に保持される請求項39記載のラッチ回路。   40. The latch circuit of claim 39, wherein the position of each nanotube channel element is maintained when there is no signal on the nanotube element, the control electrode, and the release electrode.
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