JP2007327828A - Measuring instrument and materials testing machine - Google Patents

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省吾郎 岩切
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To collect the measuring data of a material test at a proper sampling interval. <P>SOLUTION: A sampling cycle and the threshold of data change quantity are set by a data processor 200 and are transmitted to a testing machine body 100. The testing machine body 100 collects not only the data at the set sampling cycle, but also the data regardless of the set sampling cycle, when the data change quantity from the previously collected data exceeds the set threshold. The collected data is transmitted to the data processor 200 from the testing machine body 100. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、計測データを所定のサンプリング周期でサンプリングしてデータ解析する計測装置およびその計測装置を備えた材料試験機に関する。   The present invention relates to a measurement apparatus that samples measurement data at a predetermined sampling period and analyzes the data, and a material testing machine including the measurement apparatus.

試験片に加えられた荷重とその荷重に応じて生じる試験片の変位とをサンプリングして荷重変位曲線を描く材料試験機において、複数種類のサンプリング周期と変位のしきい値を予め設定し、試験片の変位が設定されたしきい値を超えたときにサンプリング周期を変更してサンプリング間隔を短くするものが知られている（特許文献１参照）。このようにすることで、試験片の破断時などのように急激にデータが変化する際にも、適切なサンプリング間隔でデータを採取するようにしている。   In a material testing machine that draws a load displacement curve by sampling the load applied to the test piece and the displacement of the test piece that occurs in response to the load, multiple types of sampling periods and displacement threshold values are set in advance and tested. It is known that the sampling interval is shortened by changing the sampling period when the displacement of the piece exceeds a set threshold (see Patent Document 1). By doing so, data is collected at an appropriate sampling interval even when the data changes suddenly, such as when the specimen is broken.

特開平６−３３１５２０号公報JP-A-6-331520

特許文献１に開示される材料試験機では、変位のしきい値と変更後のサンプリング周期を予め設定する必要がある。したがって、試験片の破断時などのように急激にデータが変化する際におけるデータ変化の様子が予め分かっていなければ、変位のしきい値や変更後のサンプリング周期を正しく設定することができないため、適切なサンプリング間隔でデータを採取することができない。   In the material testing machine disclosed in Patent Document 1, it is necessary to preset the displacement threshold and the changed sampling period. Therefore, unless the state of the data change when the data changes abruptly, such as when the specimen is broken, the displacement threshold and the changed sampling cycle cannot be set correctly. Data cannot be collected at appropriate sampling intervals.

請求項１の発明は、所定のサンプリング周期で各種データの採取を行う計測装置において、データを採取するサンプリング周期を設定するサンプリング周期設定手段と、データ変化量のしきい値を設定するしきい値設定手段と、サンプリング周期設定手段により設定されたサンプリング周期でデータを採取すると共に、前回採取されたデータからのデータ変化量がしきい値設定手段により設定されたしきい値を超えたときには、サンプリング周期設定手段により設定されたサンプリング周期に関わらずデータを採取するデータ採取手段とを備えるものである。
請求項２の発明は、請求項１の計測装置において、データ採取手段は、サンプリング周期設定手段により設定されたサンプリング周期から予め設定された上限サンプリング周期の間でデータの採取タイミングを変化させるものである。
請求項３の発明による材料試験機は、請求項１または２に記載の計測装置を備えるものである。 The invention according to claim 1 is a measuring apparatus for collecting various data at a predetermined sampling period. Sampling period setting means for setting a sampling period for collecting data, and a threshold value for setting a threshold value for data change. When the data is sampled at the sampling period set by the setting means and the sampling period setting means, and the amount of data change from the previously collected data exceeds the threshold set by the threshold setting means, sampling is performed. And data collection means for collecting data regardless of the sampling period set by the period setting means.
According to a second aspect of the present invention, in the measuring apparatus according to the first aspect, the data collection means changes the data collection timing between the sampling period set by the sampling period setting means and the preset upper limit sampling period. is there.
A material testing machine according to a third aspect of the invention comprises the measuring device according to the first or second aspect.

本発明によれば、試験片の破断時などのように急激にデータが変化する際におけるデータ変化の様子が予め分かっていなくても、適切なサンプリング間隔でデータを採取することができる。   According to the present invention, data can be collected at an appropriate sampling interval even if the state of data change when data changes suddenly, such as when a specimen is broken, is not known in advance.

以下、図１〜図７を参照して本発明による材料試験機の一実施の形態を説明する。本実施の形態の材料試験機では、次のようにしてデータをサンプリングしてデータ解析を行う。試験機本体は、予め設定された所定のサンプリング周期で計測データを採取すると共に、試験中にデータ変化量が設定されたしきい値を超えた場合は、設定されたサンプリング周期に関わらず計測データを採取する。採取されたデータは試験機本体とは別に設けたデータ処理装置に伝送され、データ解析が行われる。以下、図に基づいて一実施の形態の材料試験機について説明する。   Hereinafter, an embodiment of a material testing machine according to the present invention will be described with reference to FIGS. In the material testing machine of the present embodiment, data analysis is performed by sampling data as follows. The main body of the tester collects measurement data at a preset sampling cycle, and if the data change amount exceeds the set threshold during the test, the measurement data is measured regardless of the set sampling cycle. Collect. The collected data is transmitted to a data processing apparatus provided separately from the testing machine main body, and data analysis is performed. Hereinafter, a material testing machine according to an embodiment will be described with reference to the drawings.

図１は、本実施の形態の材料試験機の概略構成を示すブロック図である。同図に示す材料試験機は引張あるいは圧縮試験などを行なうものであり、試験機本体１００およびデータ処理装置２００で構成される。試験機本体１００およびデータ処理装置２００は、ともにＣＰＵ１０１，２０１と、ＲＯＭ１０２，２０２と、ＲＡＭ１０３，２０３とを備えている。試験機本体１００およびデータ処理装置２００は伝送インターフェース回路１０４，２０４をそれぞれ備えており、伝送路Ｌを介して相互にデータの授受を行う。   FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a material testing machine according to the present embodiment. The material testing machine shown in the figure performs a tensile or compression test and is composed of a testing machine main body 100 and a data processing device 200. Both the tester main body 100 and the data processing device 200 include CPUs 101 and 201, ROMs 102 and 202, and RAMs 103 and 203. The tester main body 100 and the data processing device 200 are provided with transmission interface circuits 104 and 204, respectively, and exchange data with each other via the transmission path L.

試験機本体１００は、試料に働く荷重（試験力）を測定するロードセル１０５と、荷重による試料の変形を測定する変位計１０６と、これら各計測器１０５，１０６のアナログ出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１０７とを備えている。   The test machine main body 100 converts a load cell 105 that measures a load (test force) acting on a sample, a displacement meter 106 that measures deformation of the sample due to the load, and analog outputs of these measuring instruments 105 and 106 into digital signals. And an A / D converter 107.

一方、データ処理装置２００は、キーボード２０５と、モニタ２０６と、プリンタ２０７と、これらキーボード２０５、モニタ２０６およびプリンタ２０７とＣＰＵ２０１の間の入出力データを制御するＩ／Ｏ回路２０８とを備えており、操作者は、このデータ処理装置２００から試験機本体１００に対して各種の指令を出すとともに、モニタ２０６により試験の途中結果と試験後の解析結果を確認する。このデータ処理装置２００は通常、パーソナルコンピュータおよびその周辺装置で構成される。   On the other hand, the data processing device 200 includes a keyboard 205, a monitor 206, a printer 207, and an I / O circuit 208 that controls input / output data between the keyboard 205, the monitor 206, the printer 207, and the CPU 201. The operator issues various commands from the data processing device 200 to the testing machine main body 100, and confirms the intermediate result of the test and the analysis result after the test using the monitor 206. The data processing device 200 is usually composed of a personal computer and its peripheral devices.

図２はデータ処理装置２００のＣＰＵ２０１が行う試験条件作成モード処理、図３，４はデータ処理装置２００のＣＰＵ２０１が行う試験モード処理、図５，６は試験機本体１００のＣＰＵ１０１が行う試験制御処理を示すフローチャートであり、いずれもＲＯＭ１０２またはＲＯＭ２０２に記憶されたプログラムによって実現される。以下、これらのフローチャートに基づいて材料試験によるデータ処理を説明する。   2 is a test condition creation mode process performed by the CPU 201 of the data processing apparatus 200, FIGS. 3 and 4 are test mode processes performed by the CPU 201 of the data processing apparatus 200, and FIGS. 5 and 6 are test control processes performed by the CPU 101 of the tester main body 100. Each of these is realized by a program stored in the ROM 102 or the ROM 202. Hereinafter, data processing by material testing will be described based on these flowcharts.

操作者がデータ処理装置２００のキーボード２０５を操作して試験条件作成モードを選択すると、ＣＰＵ２０１は図２の処理を開始する。図２のステップＳ１では、操作者のキーボード操作に基づいて通常の試験条件、例えば試験内容や試料の種類等を設定する。ステップＳ２では、操作者によるキーボード操作に基づいて、試験データを採取する際のサンプリング周期と、強制サンプリング用のデータ変化量のしきい値とを設定する。   When the operator operates the keyboard 205 of the data processing apparatus 200 to select the test condition creation mode, the CPU 201 starts the process of FIG. In step S1 of FIG. 2, normal test conditions, such as test contents and sample types, are set based on an operator's keyboard operation. In step S2, based on the keyboard operation by the operator, a sampling period for collecting test data and a threshold value for the data change amount for forced sampling are set.

上記のデータ変化量のしきい値は、サンプリング周期に関わらず試験データを強制的に採取するために設定される。すなわち、試験データの変化量が設定されたしきい値を超えた場合は、サンプリング周期に関わらず強制的に試験データが採取される。ステップＳ３では、ステップＳ１，Ｓ２で設定した各種試験条件を、試験条件ファイルとしてＲＡＭ２０３に格納してリターンする。   The data change amount threshold is set to forcibly collect test data regardless of the sampling period. That is, when the change amount of the test data exceeds the set threshold value, the test data is forcibly collected regardless of the sampling period. In step S3, the various test conditions set in steps S1 and S2 are stored in the RAM 203 as a test condition file, and the process returns.

一方、操作者がキーボード２０５により試験モードを選択すると、ＣＰＵ２０１は図３の処理を開始する。図３のステップＳ１１では、ＲＡＭ２０３に格納されている試験条件ファイルを読み込む。ステップＳ１２では、試験機本体１００での試料取付けを制御する。ステップＳ１３では、操作者がキーボード２０５により入力した試験に関する一般情報やバッチ情報を取り込む。   On the other hand, when the operator selects the test mode using the keyboard 205, the CPU 201 starts the process of FIG. In step S11 of FIG. 3, the test condition file stored in the RAM 203 is read. In step S12, sample mounting in the tester main body 100 is controlled. In step S13, general information and batch information related to the test input by the operator using the keyboard 205 are captured.

ステップＳ１４では、図２のステップＳ２で設定した試験条件などをモニタ２０６に表示し、これら試験条件を変更するか否かを確認する処理を行う。例えば、操作者がキーボード２０５を介して新たな試験条件を入力した場合には、試験条件を変更すべくＲＡＭ２０３の内容を書き換える。   In step S14, the test conditions set in step S2 of FIG. 2 are displayed on the monitor 206, and processing for confirming whether or not to change these test conditions is performed. For example, when the operator inputs a new test condition via the keyboard 205, the contents of the RAM 203 are rewritten to change the test condition.

ステップＳ１５では、試験条件データ、サンプリング周期、あるいは強制サンプリング用のデータ変化量のしきい値などの情報を伝送インターフェース回路１０４，２０４を介して試験機本体１００に伝送する。ステップＳ１６では、試験開始を指示する信号を伝送インターフェース回路１０４，２０４を介して試験機本体１００に伝送する。この信号に応じて、試験機本体１００は不図示のアクチュエータを駆動して試料に荷重を加え、試験を開始する。ステップＳ１６を実行したら、図４のステップＳ１７へ進む。   In step S15, information such as test condition data, a sampling period, or a threshold value of the data change amount for forced sampling is transmitted to the tester main body 100 via the transmission interface circuits 104 and 204. In step S <b> 16, a signal instructing the start of the test is transmitted to the tester main body 100 via the transmission interface circuits 104 and 204. In response to this signal, the tester main body 100 drives an actuator (not shown) to apply a load to the sample and starts the test. If step S16 is performed, it will progress to step S17 of FIG.

図４のステップＳ１７では、試験機本体１００から伝送されたサンプリングデータを受信する。ステップＳ１８では、受信したサンプリングデータをＲＡＭ２０３に格納する。ステップＳ１９では、受信したサンプリングデータに基づき、試験途中のグラフをモニタ２０６に表示する。ステップＳ２０では、試験機本体１００のアクチュエータを制御して試料に加える荷重を変更する。   In step S17 of FIG. 4, the sampling data transmitted from the tester main body 100 is received. In step S18, the received sampling data is stored in the RAM 203. In step S19, a graph during the test is displayed on the monitor 206 based on the received sampling data. In step S20, the load applied to the sample is changed by controlling the actuator of the tester main body 100.

ステップＳ２１では、試験が終了したか否かを判定する。例えば、引張試験の場合、試料が破断したことを示す情報が試験機本体１００から伝送されてくれば、試験終了と判断する。判定が否定されるとステップＳ１７に戻り、判定が肯定されるとステップＳ２２に進む。   In step S21, it is determined whether or not the test is completed. For example, in the case of a tensile test, if information indicating that the sample is broken is transmitted from the tester main body 100, it is determined that the test is completed. If the determination is negative, the process returns to step S17, and if the determination is positive, the process proceeds to step S22.

ステップＳ２２では、試験終了を指示する信号を試験機本体１００に伝送する。ステップＳ２３では、各種データ解析やデータ処理、例えば試験データをモニタ２０６に表示したり、プリンタ２７に試験データを示すグラフを表示したりした後、リターンする。   In step S22, a signal for instructing the end of the test is transmitted to the tester main body 100. In step S23, various data analysis and data processing, for example, test data is displayed on the monitor 206 or a graph indicating the test data is displayed on the printer 27, and then the process returns.

一方、操作者が試験機本体１００の電源を投入すると、試験機本体１００内部のＣＰＵ１０１は図５，６の試験制御処理を行う。図５のステップＳ５１では、データ処理装置２００から伝送された試験条件が受信されたか否かを判定する。判定が否定されるとステップＳ５１に留まり、判定が肯定されるとステップＳ５２に進む。ステップＳ５２では、データ処理装置２００から伝送された試験開始を指示する信号が受信されたか否かを判定する。判定が否定されるとステップＳ５２に留まり、判定が肯定されるとステップＳ５３に進む。   On the other hand, when the operator turns on the power to the tester main body 100, the CPU 101 inside the tester main body 100 performs the test control processing of FIGS. In step S51 of FIG. 5, it is determined whether or not the test condition transmitted from the data processing device 200 has been received. If the determination is negative, the process stays at step S51, and if the determination is affirmative, the process proceeds to step S52. In step S52, it is determined whether or not a signal instructing the start of the test transmitted from the data processing device 200 has been received. If the determination is negative, the process stays at step S52, and if the determination is affirmative, the process proceeds to step S53.

ステップＳ５３では、不図示のアクチュエータを駆動して試料に荷重（試験力）を加え、試験を開始する。ステップＳ５４では、試験開始から、あるいは直前のサンプリング時点から時間Ｔｓが経過したか否かを判定する。時間Ｔｓは、図２のステップＳ２において設定されたサンプリング周期に対応するものである。ステップＳ５４が肯定された場合は図６のステップＳ５６に進み、否定された場合はステップＳ５５に進む。   In step S53, an actuator (not shown) is driven to apply a load (test force) to the sample, and the test is started. In step S54, it is determined whether or not the time Ts has elapsed from the start of the test or from the immediately preceding sampling point. The time Ts corresponds to the sampling period set in step S2 of FIG. When step S54 is affirmed, the process proceeds to step S56 of FIG. 6, and when negative, the process proceeds to step S55.

ステップＳ５５では、試験データの値のデータ変化量が図２のステップＳ２において設定された強制サンプリング用のデータ変化量のしきい値を超えたか否かを判定する。このときＣＰＵ１０１では、試験データを採取して記録するサンプリング周期よりも高速な所定のサンプリングレートでＡ／Ｄ変換器１０７から出力される試験データを取り込み、モニタリングしている。ステップＳ５５が肯定された場合は図６のステップＳ５６へ進み、否定された場合は図６のステップＳ５８へ進む。   In step S55, it is determined whether the data change amount of the test data value exceeds the threshold value of the data change amount for forced sampling set in step S2 of FIG. At this time, the CPU 101 captures and monitors the test data output from the A / D converter 107 at a predetermined sampling rate that is faster than the sampling period for collecting and recording the test data. When step S55 is affirmed, it progresses to step S56 of FIG. 6, and when negative, it progresses to step S58 of FIG.

ステップＳ５６では、データをサンプリングして伝送用バッファへ格納する。これにより、設定されたサンプリング周期が経過してステップＳ５４が肯定された場合、または、前回採取された試験データからのデータ変化量がしきい値を超えてステップＳ５５が肯定された場合に、試験データがサンプリングされる。なお、データ変化量がしきい値を超えてステップＳ５６が実行された場合、前回の試験データ採取から今回の試験データ採取までの時間間隔は、ＣＰＵ１０１において試験データをモニタリングしているサンプリングレートを上限として変化する。すなわち、設定されたサンプリング周期から予め設定された上限サンプリング周期の間でデータの採取タイミングが変化される。   In step S56, the data is sampled and stored in the transmission buffer. Thereby, when the set sampling period has elapsed and step S54 is affirmed, or when the data change amount from the previously collected test data exceeds the threshold value and step S55 is affirmed, the test is performed. Data is sampled. When the data change amount exceeds the threshold value and step S56 is executed, the time interval from the previous test data collection to the current test data collection is limited to the sampling rate at which the CPU 101 monitors the test data. As it changes. That is, the data collection timing is changed between the set sampling period and the preset upper limit sampling period.

ステップＳ５７では、伝送インターフェース１０４を介してデータ処理装置２００にサンプリングデータを伝送する。このように、ステップＳ５４〜Ｓ５７を実行することにより、サンプリング時間Ｔｓごとに、またはデータ変化量が設定されたしきい値を超えるごとに、サンプリングデータを採取して処理装置２００に伝送する。   In step S57, the sampling data is transmitted to the data processing device 200 via the transmission interface 104. In this manner, by executing steps S54 to S57, sampling data is collected and transmitted to the processing device 200 every sampling time Ts or every time the data change amount exceeds a set threshold value.

ステップＳ５８では、試験が終了したか否かを判定する。例えば、引張あるいは圧縮試験の場合、試料が破断すると試験終了と判断する。判定が否定されるとステップＳ５４に戻り、判定が肯定されるとステップＳ５９に進む。ステップＳ５９では、試験終了を知らせる信号をデータ処理装置２００に伝送してリターンする。   In step S58, it is determined whether or not the test is completed. For example, in the case of a tensile or compression test, when the sample breaks, it is determined that the test is finished. If the determination is negative, the process returns to step S54, and if the determination is positive, the process proceeds to step S59. In step S59, a signal notifying the end of the test is transmitted to the data processing device 200 and the process returns.

以上のとおり、試験機本体１００は、サンプリング周期とデータ変化量のしきい値を設定する。そして、設定されたサンプリング周期で計測データを採取すると共に、前回採取された計測データからのデータ変化量が設定されたしきい値を超えたときには、設定されたサンプリング周期に関わらず計測データを採取する。こうして採取した計測データをデータ処理装置２００に伝送してＲＡＭ２０３に格納し、試料が破断した時点で試験を終了する。試験が終了されると、データ処理装置２００は、ＲＡＭ２０３に格納されている計測データを用いてデータ解析を行い、モニタ２０６に表示する。   As described above, the tester main body 100 sets the sampling period and the data change amount threshold. Measurement data is collected at the set sampling cycle, and when the amount of data change from the previously collected measurement data exceeds the set threshold, the measurement data is collected regardless of the set sampling cycle. To do. The measurement data collected in this way is transmitted to the data processor 200 and stored in the RAM 203, and the test is terminated when the sample breaks. When the test is completed, the data processing device 200 performs data analysis using the measurement data stored in the RAM 203 and displays the data on the monitor 206.

サンプリング周期を５秒、データ変化量のしきい値を３ｋＮに設定したときに、試験時間と試験片に加えられる荷重を試験データとして得られる試験結果の例を図７に示す。試験が開始されると、黒丸で示すように荷重データが５秒おきに採取される。その後、試験時間が２０秒に近づいて荷重が急激に変化すると、荷重が３ｋＮ変化するごとに荷重データが採取される。このときのサンプリング周期は約０．１秒である。試験時間が２０秒を過ぎて荷重が変化しなくなると、再び荷重データが５秒おきに採取される。同様に、試験時間が８０秒に近づいて荷重が急激に変化すると、荷重が３ｋＮ変化するごとに荷重データが採取され、試験時間が８０秒を過ぎて荷重が変化しなくなると、再び荷重データが５秒おきに採取される。   FIG. 7 shows an example of a test result in which the test time and the load applied to the test piece are obtained as test data when the sampling period is set to 5 seconds and the data change amount threshold is set to 3 kN. When the test is started, load data is collected every 5 seconds, as indicated by the black circles. Thereafter, when the test time approaches 20 seconds and the load changes rapidly, load data is collected every time the load changes by 3 kN. The sampling period at this time is about 0.1 seconds. When the test time exceeds 20 seconds and the load does not change, load data is collected again every 5 seconds. Similarly, when the test time approaches 80 seconds and the load changes abruptly, load data is collected every time the load changes by 3 kN, and when the test time exceeds 80 seconds and the load does not change, the load data is obtained again. Collected every 5 seconds.

上記のようにして得られる試験データのデータ量は、たとえば時間データおよび荷重データの１データあたりのデータ量をそれぞれ４バイトとすると、合計で３１２バイト（４バイト×２データ×測定回数３９回）となる。一方、最初から最後までサンプリング周期を０．１秒として試験を行ったとすると、データ量は約８０００バイトとなる。このようにサンプリング周期を一定とした場合に比べてデータ量を大幅に削減できるため、データ転送負荷を改善することができる。   The data amount of the test data obtained as described above is 312 bytes in total (4 bytes × 2 data × 39 times of measurement) when the data amount per one time data and load data is 4 bytes, respectively. It becomes. On the other hand, if the test is performed from the beginning to the end with a sampling period of 0.1 seconds, the data amount is about 8000 bytes. Since the data amount can be greatly reduced as compared with the case where the sampling period is fixed as described above, the data transfer load can be improved.

以上説明した実施の形態によれば、次の作用効果を奏することができる。
（１）データを採取するサンプリング周期を設定すると共にデータ変化量のしきい値を設定し（ステップＳ２）、サンプリング時間Ｔｓが経過すると（ステップＳ５４）、設定されたサンプリング周期でデータを採取する（ステップＳ５６）。また、前回採取されたデータからのデータ変化量が設定されたしきい値を超えたときには（ステップＳ５５）、設定されたサンプリング周期に関わらずデータを採取する（ステップＳ５６）こととした。このようにしたので、データの変化が急激になるほど、それに応じてデータ採取のサンプリング周期が短くなり、その結果、試験片の破断時などのように急激にデータが変化する際におけるデータ変化の様子が予め分かっていなくても、適切なサンプリング間隔でデータを採取することができる。 According to the embodiment described above, the following operational effects can be achieved.
(1) A sampling cycle for collecting data is set and a threshold value for data change is set (step S2). When the sampling time Ts has elapsed (step S54), data is collected at the set sampling cycle ( Step S56). Further, when the data change amount from the previously collected data exceeds the set threshold value (step S55), the data is collected regardless of the set sampling period (step S56). As a result, the more rapid the data changes, the shorter the sampling period for data collection.As a result, the data changes when the data changes abruptly, such as when the specimen is broken. Even if it is not known in advance, data can be collected at an appropriate sampling interval.

（２）ステップＳ５６においてデータを採取する際に、ステップＳ２で設定されたサンプリング周期から、ＣＰＵ１０１において試験データをモニタリングする際のサンプリングレートとして予め設定された上限サンプリング周期の間でデータの採取タイミングを変化させることとした。このようにしたので、適切なサンプリング周期を設定してデータを採取することができる。 (2) When data is collected in step S56, the data collection timing is set between the sampling period set in step S2 and the upper limit sampling period set in advance as the sampling rate for monitoring the test data in the CPU 101. It was decided to change. Since it did in this way, data can be extract | collected by setting an appropriate sampling period.

なお、上記の実施の形態では、試験時間と試験片に加えられる荷重を試験データとして採取する例を説明したが、他の試験データを採取する場合、たとえば荷重ではなく変位を試験データとする場合にも、同様に本発明を適用することができる。３種類以上の試験データを採取する場合にも同様である。また、上記の実施の形態では引張／圧縮試験を行う材料試験機について説明したが、本発明は、剥離試験、実大試験などの各種材料試験機に適用できる他、その他の各種計測装置にも適用できる。すなわち本発明は、所定のサンプリング周期で各種データの採取を行う様々な計測装置およびその計測装置を備えたさまざまな材料試験機において適用可能である。   In the above embodiment, the example in which the test time and the load applied to the test piece are collected as test data has been described. However, when other test data is collected, for example, when the displacement is not the load but the test data is used. Similarly, the present invention can be applied. The same applies to collecting three or more types of test data. In the above embodiment, the material testing machine that performs the tensile / compression test has been described. However, the present invention can be applied to various material testing machines such as a peel test and a full-scale test, and also to other various measuring devices. Applicable. That is, the present invention can be applied to various measuring apparatuses that collect various data at a predetermined sampling period and various material testing machines equipped with the measuring apparatuses.

以上説明した実施の形態や各種の変形例はあくまで一例であり、発明の特徴が損なわれない限り、本発明はこれらの内容に限定されない。   The embodiment and various modifications described above are merely examples, and the present invention is not limited to these contents as long as the features of the invention are not impaired.

上記の実施の形態では、特許請求の範囲に記載された各手段をＣＰＵ１０１またはＣＰＵ２０１の処理によってそれぞれ実現することとした。すなわち、サンプリング周期設定手段およびしきい値設定手段をステップＳ２、データ採取手段をステップＳ５６によってそれぞれ実現している。しかし、これはあくまで一例であるため、発明を解釈する際、上記の実施の形態の記載事項と請求の範囲の記載事項の対応関係には何ら限定も拘束もされない。   In the above embodiment, each means described in the claims is realized by the processing of the CPU 101 or the CPU 201, respectively. That is, the sampling period setting means and the threshold value setting means are realized by step S2, and the data collection means is realized by step S56. However, this is merely an example, and when interpreting the invention, there is no limitation or restriction on the correspondence between the items described in the above embodiment and the items described in the claims.

本実施の形態の材料試験機の概略構成を示すブロック図。The block diagram which shows schematic structure of the material testing machine of this Embodiment. データ処理装置のＣＰＵが行う試験条件作成モード処理を示すフローチャート。The flowchart which shows the test condition creation mode process which CPU of a data processor performs. データ処理装置のＣＰＵが行う試験モード処理を示すフローチャート。The flowchart which shows the test mode process which CPU of a data processor performs. 図３に続くフローチャート。The flowchart following FIG. 試験機本体のＣＰＵが行う試験制御処理を示すフローチャート。The flowchart which shows the test control process which CPU of a testing machine main body performs. 図５に続くフローチャート。The flowchart following FIG. 材料試験機において得られる試験結果の例。The example of the test result obtained in a material testing machine.

符号の説明Explanation of symbols

１００：試験機本体 １０１：ＣＰＵ
１０２：ＲＯＭ １０３：ＲＡＭ
１０４：伝送インターフェース回路 １０５：ロードセル
１０６：変位計 １０７：Ａ／Ｄ変換器
２００：データ処理装置 ２０１：ＣＰＵ
２０２：ＲＯＭ ２０３：ＲＡＭ
２０４：伝送インターフェース回路 ２０５：キーボード
２０６：モニタ ２０７：プリンタ
２０８：Ｉ／Ｏ回路 100: Test machine body 101: CPU
102: ROM 103: RAM
104: Transmission interface circuit 105: Load cell 106: Displacement meter 107: A / D converter 200: Data processing device 201: CPU
202: ROM 203: RAM
204: Transmission interface circuit 205: Keyboard 206: Monitor 207: Printer 208: I / O circuit

Claims (3)

所定のサンプリング周期で各種データの採取を行う計測装置において、
データを採取するサンプリング周期を設定するサンプリング周期設定手段と、
データ変化量のしきい値を設定するしきい値設定手段と、
前記サンプリング周期設定手段により設定されたサンプリング周期でデータを採取すると共に、前回採取されたデータからのデータ変化量が前記しきい値設定手段により設定されたしきい値を超えたときには、前記サンプリング周期設定手段により設定されたサンプリング周期に関わらずデータを採取するデータ採取手段とを備えることを特徴とする計測装置。 In a measuring device that collects various data at a predetermined sampling cycle,
Sampling period setting means for setting a sampling period for collecting data;
A threshold value setting means for setting a threshold value of the data change amount;
When the data is sampled at the sampling period set by the sampling period setting means, and the data change amount from the previously collected data exceeds the threshold value set by the threshold setting means, the sampling period A measurement apparatus comprising: data collection means for collecting data regardless of the sampling period set by the setting means. 請求項１の計測装置において、
前記データ採取手段は、前記サンプリング周期設定手段により設定されたサンプリング周期から予め設定された上限サンプリング周期の間でデータの採取タイミングを変化させることを特徴とする計測装置。 The measuring device according to claim 1,
The data collection unit changes the data collection timing between a sampling period set by the sampling period setting unit and an upper limit sampling period set in advance. 請求項１または２に記載の計測装置を備えることを特徴とする材料試験機。   A material testing machine comprising the measuring device according to claim 1.
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