JP2007278740A - Terahertz electromagnetic wave generator - Google Patents

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Chiyoujitsuriyo Suzuki
朝実良 鈴木
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a terahertz electromagnetic wave generator having high output, a wide band and high efficiency. <P>SOLUTION: This terahertz wave generator, equipped with a light source for radiating ultrashort pulse light, and an antenna for electromagnetic wave radiation, is characterized with: the antenna for electromagnetic wave radiation has a semi-insulating substrate comprising gallium arsenide, a photoconductive thin film formed on the semi-insulating substrate, and a coplanar transmission line; the coplanar transmission line has a pair of transmission line electrode bodies, and each projecting electrode, projecting respectively from each transmission line electrode body; the pair of transmission line electrode bodies are arranged in parallel; the antenna for electromagnetic wave radiation is loaded on an Si hemispheric lens, in a state where an antenna fixing plate, having a grid-shaped opening structure by a metal material, is arranged on the electrode side; and the ultrashort pulsed light is irradiated from the light source to generate an electromagnetic waves. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

この発明は強度の大きいテラヘルツ電磁波を発生させることができ、高速大容量での無線通信へ応用することのできるテラヘルツ電磁波発生装置に関し、あるいは半導体、誘電体等の材料評価に利用し、特にテラヘルツ帯で使用する素子を構成する材料の複素屈折率などを測定する複素誘電率測定装置としても応用が可能である。   The present invention relates to a terahertz electromagnetic wave generator that can generate a terahertz electromagnetic wave having a high intensity and can be applied to high-speed and large-capacity wireless communication, or is used for evaluating a material such as a semiconductor or a dielectric, and particularly, a terahertz band. The present invention can also be applied as a complex dielectric constant measuring apparatus for measuring a complex refractive index of a material constituting an element used in the above.

従来、テラヘルツ帯のような産業応用が進んでおらず、未開拓ともいえる周波数領域に対する電磁波源としては、後進波管や分子レーザーなどが用いられてきた。(ここで言うテラヘルツ帯とは0.1THzから5THz迄の帯域のことであり、光波の直進性、粒子性を有している最長波長領域であり、同時に電波の透過性を有する最短波長域との重なる帯域を指している。)一方で、検出にはInSb等、固体中の電子ガスの電磁波吸収による抵抗変化を測定するホットエレクトロンボロメーターが多用される。   Conventionally, industrial applications such as the terahertz band have not progressed, and a backward wave tube, a molecular laser, or the like has been used as an electromagnetic wave source for a frequency region that can be said to be undeveloped. (The terahertz band referred to here is a band from 0.1 THz to 5 THz, which is the longest wavelength region having light wave straightness and particle property, and at the same time having the shortest wavelength region having radio wave transparency. On the other hand, a hot electron bolometer that measures resistance change due to electromagnetic wave absorption of an electron gas in a solid such as InSb is frequently used for detection.

しかし、これらの電磁波源は周波数が離散的、或いは可変であっても周波数範囲が狭く、得られる電磁波強度も1マイクロワット(μW)以下と弱いいため、テラヘルツ帯の電磁波を1mから10mの範囲で送受信することは難しかった。   However, these electromagnetic wave sources have a narrow frequency range even if the frequency is discrete or variable, and the obtained electromagnetic wave intensity is as weak as 1 microwatt (μW) or less, so terahertz band electromagnetic waves are in the range of 1 m to 10 m. It was difficult to send and receive.

これらの課題を解決するため、パルスレーザー励起の光伝導素子を用いた分光法が1985年頃開発された。   In order to solve these problems, a spectroscopic method using a photoconductive element excited by a pulse laser was developed around 1985.

この光伝導素子を用いた分光法では、光伝導素子をサブピコ秒の超短光パルスで照射すれば光キャリアの生成により瞬間的に導電性となって電流が過渡的に流れることを利用して電磁波放射を行っている。また、光パルスの照射により瞬間的に導電性となることを利用することにより放射電磁波の検出も行われている。   In this spectroscopic method using a photoconductive element, if a photoconductive element is irradiated with an ultrashort optical pulse of subpicosecond, it becomes conductive due to the generation of a photocarrier and the current flows transiently. Conducting electromagnetic radiation. In addition, detection of radiated electromagnetic waves has also been performed by utilizing the fact that it becomes instantaneously conductive when irradiated with light pulses.

光パルスを用いた例では、1THz近傍の高周波電磁波に対する試料の応答を測定するための装置として、TDS(TimeDomainSpectroscopy)と呼ばれる装置(特許文献1を参照)がある。   In an example using optical pulses, there is an apparatus called TDS (Time Domain Spectroscopy) (see Patent Document 1) as an apparatus for measuring the response of a sample to a high-frequency electromagnetic wave in the vicinity of 1 THz.

図7は従来のTDSの概略構成図である。この図に示すように、TDSでは、モードロックTi:Sappireレーザーなどからなるフェムト秒レーザー22からの超短パルス光23をビームスプリッタ24で分割し、一方の超短パルス光25(超短パルス光を厳密に区別するため、この超短パルス光25を「第1の超短パルス光」という場合がある)を平板状の光伝導素子からなる電磁波放射用アンテナ28に照射する。この電磁波放射用アンテナ28として用いられる平板状の光伝導素子の表面には、図8に示すようにAuGe/Ni/Auからなるコプラナー型の対電極105が設けられており、それらの間には電源30から電圧が印加される。第1の超短パルス光25が電磁波放射用アンテナ28の電極間に照射されると、電子正孔対が瞬時に形成されることによって電磁波放射用アンテナ28には瞬間的に電流が流れ、このときパルス電磁波32が放射される。このパルス電磁波32を第1放物面鏡31で平行化して試料34を透過させ、第2放物面鏡36により電磁波検出用の受信アンテナ29の裏面に集める。   FIG. 7 is a schematic configuration diagram of a conventional TDS. As shown in this figure, in TDS, an ultrashort pulse light 23 from a femtosecond laser 22 made of a mode-locked Ti: Sappire laser or the like is split by a beam splitter 24, and one ultrashort pulse light 25 (ultrashort pulse light) is split. In order to discriminate between them, the ultrashort pulse light 25 is sometimes referred to as “first ultrashort pulse light”), and is irradiated to the electromagnetic wave radiation antenna 28 formed of a plate-like photoconductive element. As shown in FIG. 8, a coplanar counter electrode 105 made of AuGe / Ni / Au is provided on the surface of a flat plate-like photoconductive element used as the electromagnetic wave radiation antenna 28. A voltage is applied from the power supply 30. When the first ultrashort pulse light 25 is irradiated between the electrodes of the electromagnetic wave radiation antenna 28, an electron-hole pair is instantaneously formed, whereby a current flows instantaneously in the electromagnetic wave radiation antenna 28. Sometimes a pulse electromagnetic wave 32 is emitted. The pulsed electromagnetic wave 32 is collimated by the first parabolic mirror 31 and transmitted through the sample 34, and collected by the second parabolic mirror 36 on the back surface of the receiving antenna 29 for electromagnetic wave detection.

受信アンテナ29の表面にはビームスプリッタ24で分割されたもう一方の超短パルス光26(超短パルス光を厳密に区別するため、この超短パルス光26を「第2の超短パルス光」という場合がある)が照射され、その瞬間(すなわち、超短パルス光26が照射した瞬間)だけ導電性となる。この時点では受信アンテナ29の電極間に電界が印加されていないので電流は生じない。導電性を示している間に放射アンテナから放射された電磁波が入ってくると、受信アンテナ29の電極間には電磁波が有している電界が印加されたのと同様の状態となる。一方、光学遅延ステージ41・42によって時間遅延を受けた光はその遅延量によって試料34を透過して来た電磁波35との相関量が変化する。この相関量が電磁波が有している電界強度に対応した量の電流となって観測される。つまり、電磁波の電界強度が有しているバルス形状に応じた電流量が得られることになる。これが相互相関法による電磁波パルス検出の原理である。以上によって、試料34を透過して来た電磁波35と、光学遅延ステージ41・42を経由した超短パルス光26との相互相関信号を電流として検出することができ、テラヘルツ帯域のように通常の電子デバイスでは応答しきれないような高速の電磁波であっても検出が可能となる。   On the surface of the receiving antenna 29, another ultrashort pulse light 26 divided by the beam splitter 24 (in order to distinguish the ultrashort pulse light strictly, this ultrashort pulse light 26 is referred to as “second ultrashort pulse light”). ), And becomes conductive only at that moment (that is, the moment when the ultrashort pulse light 26 is irradiated). At this time, since no electric field is applied between the electrodes of the receiving antenna 29, no current is generated. When electromagnetic waves radiated from the radiation antenna enter while exhibiting electrical conductivity, the state is the same as when an electric field possessed by the electromagnetic waves is applied between the electrodes of the reception antenna 29. On the other hand, the amount of correlation between the light delayed by the optical delay stages 41 and 42 and the electromagnetic wave 35 transmitted through the sample 34 varies depending on the amount of delay. This correlation amount is observed as an amount of current corresponding to the electric field strength of the electromagnetic wave. That is, a current amount corresponding to the pulse shape possessed by the electric field strength of the electromagnetic wave is obtained. This is the principle of electromagnetic pulse detection by the cross correlation method. As described above, the cross-correlation signal between the electromagnetic wave 35 transmitted through the sample 34 and the ultrashort pulsed light 26 that has passed through the optical delay stages 41 and 42 can be detected as a current. Even high-speed electromagnetic waves that cannot be fully responded by electronic devices can be detected.

このとき電磁波放射アンテナ28と電磁波検出用アンテナ29には、半絶縁性GaAs基板101上に基板温度を300℃から450℃の低温で結晶成長させたGaAs(低温GaAs、LT−GaAsという場合がある)103を用い、フェムト秒レーザー波長としてはGaAsの吸収端(873nm)よりも短波長の800nmを使用している。   At this time, the electromagnetic wave radiation antenna 28 and the electromagnetic wave detection antenna 29 may be referred to as GaAs (low temperature GaAs, LT-GaAs) obtained by crystal growth on the semi-insulating GaAs substrate 101 at a low temperature of 300 ° C. to 450 ° C. 103), and a femtosecond laser wavelength of 800 nm shorter than the absorption edge of GaAs (873 nm) is used.

なお、図7中、13はレンズ、30は電源、34は試料、37はカレントアンプ、38はロックインアンプ、33はオプティカルチョッパ、40は平面鏡、41はリトロリフレクタ、42は移動式光学遅延ステージ、43はコンピュータを示す。   In FIG. 7, 13 is a lens, 30 is a power supply, 34 is a sample, 37 is a current amplifier, 38 is a lock-in amplifier, 33 is an optical chopper, 40 is a plane mirror, 41 is a retroreflector, and 42 is a movable optical delay stage. , 43 indicates a computer.

このテラヘルツTDS法では、用いられる電磁波が短パルスであるため、コヒーレント性に優れている。このため電磁波の強度と位相から重要な情報が得られ、物性測定用の装置としても応用が可能である。試料34を透過してきた電磁波波形と試料34を挿入しない場合の電磁波波形とを比較することにより、広い周波数にわたる電磁波の透過率・位相遅れを計算することができる。この手法によって得られる実データは図3(a)に示したような横軸に時間軸をとった時間分解スペクトルが得られるが、これをフーリエ変換することによって図3(b)に示したような横軸が周波数成分となる周波数スペクトルを得ることができる。   In this terahertz TDS method, since the electromagnetic wave used is a short pulse, it is excellent in coherency. Therefore, important information can be obtained from the intensity and phase of the electromagnetic wave, and it can be applied as a device for measuring physical properties. By comparing the electromagnetic wave waveform transmitted through the sample 34 with the electromagnetic wave waveform when the sample 34 is not inserted, the transmittance and phase delay of the electromagnetic wave over a wide frequency can be calculated. The actual data obtained by this method gives a time-resolved spectrum with the horizontal axis as shown in FIG. 3 (a), which is Fourier-transformed as shown in FIG. 3 (b). A frequency spectrum in which the horizontal axis is the frequency component can be obtained.

ところで、検出用光伝導素子は光パルス照射間に入射してくるパルス電磁場電場によって駆動される電流を検出するが、光パルスの時間幅はパルス電磁波の時間幅よりも数十分の一程度とかなり短い。例えば光パルスは時間幅が0.1ピコ秒程度であり、パルス電磁波の時間幅はアンテナ効率が入るため数ピコ秒程度である。   By the way, the photoconductive element for detection detects the current driven by the pulsed electromagnetic field that is incident during the light pulse irradiation, and the time width of the light pulse is about one tenth of the time width of the pulse electromagnetic wave. Pretty short. For example, the time width of an optical pulse is about 0.1 picoseconds, and the time width of a pulse electromagnetic wave is about several picoseconds due to antenna efficiency.

したがって、光パルスもパルス電磁波も光速で検出用光伝導素子に繰り返し入射するが、各回においてパルス電磁波の最初の部分から最後の部分までが到達する時間に比較して光パルスの照射時間は短い。そのため、光パルスが照射している間の検出用光伝導素子に流れる電流はパルス電磁波の電場のごく短い部分によるものであり、さらに光パルスとパルス電磁波とが検出用光伝導素子に到達するタイミングは時間遅延により固定されている。   Therefore, although both the light pulse and the pulse electromagnetic wave repeatedly enter the detection photoconductive element at the speed of light, the irradiation time of the light pulse is shorter than the time from the first part to the last part of the pulse electromagnetic wave at each time. Therefore, the current flowing through the detection photoconductive element during irradiation with the light pulse is due to a very short portion of the electric field of the pulse electromagnetic wave, and the timing at which the light pulse and the pulse electromagnetic wave reach the detection photoconductive element. Is fixed by time delay.

光パルスの繰り返し周波数が例えば約100MHzの場合、光パルスとパルス電磁波とが毎秒約108回検出用光伝導素子に入射してくるが、パルス電磁波の電場のごく短い部分は毎回パルス電磁波波形のうち時間遅延によって決められた部分であり、全く同じ電流が毎秒約108回流れることになる。実際の電流計はこのような速い電流の変化に追随できないため、毎秒約108回のパルス電流の平均値が測定される。したがって、パルス電磁波波形のうち時間遅延によって決められた部分が電流として測定され、さらに時間遅延をずらしていくことによりパルス電磁波波形の他の部分も測定できる。このようなテラヘルツ電磁波発生・検出装置は、今日ではその出力特性、広帯域特性ともに最も優れたテラヘルツ電磁波発生方法ならびに検出手法の一つとなっている。
特開2001−21503号公報 特開昭62−281477号公報 特開昭62−196876号公報 特開昭63−012120号公報 特開2003−83888号公報 Physical Review Letters vol.55(1985),pp.2152-2155 InfraredPhysics vol.26(1986),pp.23-27
When the repetition frequency of the light pulse is, for example, about 100 MHz, the light pulse and the pulse electromagnetic wave are incident on the detection photoconductive element about 108 times per second. The very short portion of the electric field of the pulse electromagnetic wave is This is a portion determined by the time delay, and the same current flows about 108 times per second. Since an actual ammeter cannot follow such a fast current change, an average value of about 108 pulse currents per second is measured. Therefore, the part determined by the time delay in the pulse electromagnetic wave waveform is measured as a current, and the other part of the pulse electromagnetic wave waveform can be measured by further shifting the time delay. Such a terahertz electromagnetic wave generation / detection device is today one of the most excellent terahertz electromagnetic wave generation methods and detection methods in terms of both output characteristics and broadband characteristics.
JP 2001-21503 A JP-A-62-281477 JP-A-62-196876 JP 63-012120 A JP 2003-83888 A Physical Review Letters vol.55 (1985), pp.2152-2155 InfraredPhysics vol.26 (1986), pp.23-27

前述のTDS法における光伝導アンテナは現状ではコヒーレントで広帯域な電磁波を発生させうるもっとも簡便な手法であるが、強度においては最大で10μW程度までの放射しか実現しえないという欠点がある。テラヘルツ波を通信応用など、空間の伝送に用いるためにはより強力な電磁波が放射される必要がある。また、測定器として用いる場合にも1〜3THzの領域で電磁波強度が十分でないとS/Nがとれず測定値の信頼性が危うくなる。   The photoconductive antenna in the TDS method described above is the simplest technique that can generate a coherent and broadband electromagnetic wave at present, but has a drawback that it can only achieve radiation up to about 10 μW in intensity. In order to use terahertz waves for space transmission such as communication applications, it is necessary to radiate stronger electromagnetic waves. Also, when used as a measuring instrument, if the electromagnetic wave intensity is not sufficient in the region of 1 to 3 THz, the S / N cannot be obtained and the reliability of the measured value is compromised.

そこで、より高出力かつ広帯域なテラヘルツ帯電磁波発生装置が必要となる。   Therefore, a terahertz band electromagnetic wave generator having a higher output and a wider band is required.

一方で、実際により強力な電磁波放射を行おうとしても印加電圧や入射光強度を現状で用いているような15V、15mW以上にして使用するとアンテナ材料の絶縁破壊が生じてアンテナが壊れてしまうため、従来技術を用いたテラヘルツ電磁波の発生方法では事実上この値がほぼ限界であった。   On the other hand, if the applied voltage or incident light intensity is set to 15 V or 15 mW or higher as used in the present situation even if more intense electromagnetic wave radiation is actually performed, the antenna material breaks down and the antenna is broken. In practice, this value is almost the limit in the generation method of the terahertz electromagnetic wave using the prior art.

従来までの光伝導アンテナによるテラヘルツ電磁波発生装置では、いくつかの漏れ電磁波と所望の放射方向とは反対の方向に放射されてくる反転電磁波とが存在している。また、従来までのテラヘルツ電磁波発生装置においてはこの漏れ電磁波を塞ぐような構成にはなっていない。   Conventional terahertz electromagnetic wave generators using photoconductive antennas have several leakage electromagnetic waves and inverted electromagnetic waves radiated in a direction opposite to the desired radiation direction. Further, conventional terahertz electromagnetic wave generators are not configured to block this leaked electromagnetic wave.

この様子を詳しく説明するために、装置に則した素子部品を用いて細部を示したものが図9、それらを断面方向から見た図を示し、どのような無駄な電磁波が放射されているかを示したものが図10である。言い換えると、図9は放射アンテナ100の全体構成を示したもの、図10は放射アンテナ100の断面構成とそれに則した電磁波の放射方向を示したものである。   In order to explain this situation in detail, FIG. 9 shows details using element parts in accordance with the apparatus, and shows a view of them from the cross-sectional direction, and shows what kind of useless electromagnetic waves are radiated. What is shown is FIG. In other words, FIG. 9 shows the overall configuration of the radiating antenna 100, and FIG. 10 shows the cross-sectional configuration of the radiating antenna 100 and the radiation direction of the electromagnetic wave in accordance therewith.

前述したようにTDS法におけるテラヘルツ電磁波発生においては放射アンテナと受信アンテナの双方が組み込まれているが、それらにはSi半球レンズが含まれており、放射電磁波もしくは入射電磁波を集光する働きをしている。このSi半球レンズまでを含めた放射ないし受信アンテナへの光伝導アンテナの固定には光伝導アンテナを囲むように取り付けられたアンテナ固定板101と光伝導アンテナを押さえ込むように取り付けられたアンテナ固定板102とを用いている。このアンテナ固定板102は入射光が光伝導アンテナ103に入射することを妨げないように直径2mmから5mm程度の穴が開けてある。図10に示したように、この穴を介して反転電磁波105が所望の方向であるSi半球レンズ104方向とは反対側に電磁波が放射してしまい、効率を半減させているという欠点があった。   As described above, in the generation of terahertz electromagnetic waves in the TDS method, both a radiating antenna and a receiving antenna are incorporated, but these include a Si hemispherical lens, which functions to collect radiated electromagnetic waves or incident electromagnetic waves. ing. For fixing the photoconductive antenna to the radiation or reception antenna including the Si hemisphere lens, an antenna fixing plate 101 attached so as to surround the photoconductive antenna and an antenna fixing plate 102 attached so as to hold down the photoconductive antenna. And are used. The antenna fixing plate 102 has a hole with a diameter of about 2 mm to 5 mm so as not to prevent incident light from entering the photoconductive antenna 103. As shown in FIG. 10, the inverted electromagnetic wave 105 radiates to the opposite side of the Si hemispherical lens 104 direction, which is the desired direction, through this hole, which has the disadvantage of reducing the efficiency by half. .

本発明は上記の課題にかんがみて、高出力であるとともに広帯域な、さらには効率の高いテラヘルツ帯電磁波発生装置を提供することを目的とする。   In view of the above-described problems, an object of the present invention is to provide a terahertz electromagnetic wave generator having a high output, a broadband, and a high efficiency.

前記目的を達成するために、本発明では放射アンテナにおいて発生している漏れ電磁波に着目し、これを防止するだけでなく有効に利用することで発生電磁波強度の増強を図っている。   In order to achieve the above object, the present invention focuses on leakage electromagnetic waves generated in a radiating antenna, and not only prevents this but also effectively uses it to enhance the generated electromagnetic wave intensity.

より詳しくは、光伝導アンテナにおいて電磁波発生のために用いている入射光の強度に影響を与えることなく、所望の発生方向とは異なる入射光側に放射されてしまう反転電磁波を所望の放射方向へ反射して送り出すことによって総電磁波強度を高めている。   More specifically, an inverted electromagnetic wave that is radiated to the incident light side different from the desired generation direction without affecting the intensity of the incident light used for generating the electromagnetic wave in the photoconductive antenna in the desired radiation direction. The total electromagnetic wave intensity is increased by reflecting and sending out.

このように反転電磁波を所望の放射方向へ反射して送り出すために、金属板へ波長レベルの貫通開口を設けた位相板を用いる。このような貫通開口位相差板はその開口を波長レベルとすることができるので、波長レベルまで小型化することが可能となり、前述したような光伝導アンテナに容易に組み込むことができる。   Thus, in order to reflect and send the inverted electromagnetic wave in a desired radiation direction, a phase plate provided with a through-opening at a wavelength level on a metal plate is used. Since such a through-opening phase difference plate can have the opening at the wavelength level, it can be downsized to the wavelength level and can be easily incorporated into the photoconductive antenna as described above.

本発明のテラヘルツ帯電磁波放射用アンテナによれば、最大ピーク強度が10μW以上となるテラヘルツ帯電磁波が発生でき、1.5THzを超える領域においてであっても1μW以上の出力が得られる。このような電磁波放射用アンテナを用いることにより、高出力であるとともに高効率なテラヘルツ帯電磁波発生装置が提供され、5THzの帯域まで感度よく電磁波強度を検知でき、物質の誘電率を観測できる測定器としての利用が可能となる。   According to the terahertz band electromagnetic wave radiation antenna of the present invention, a terahertz band electromagnetic wave having a maximum peak intensity of 10 μW or more can be generated, and an output of 1 μW or more can be obtained even in a region exceeding 1.5 THz. By using such an electromagnetic wave radiation antenna, a high-power and high-efficiency terahertz-band electromagnetic wave generator is provided, which can detect the electromagnetic wave intensity with sensitivity up to the 5 THz band and can observe the dielectric constant of the substance. Can be used.

(実施の形態)
本発明のテラヘルツ電磁波発生装置について以下で説明する。
(Embodiment)
The terahertz electromagnetic wave generator of the present invention will be described below.

図1に本発明のテラヘルツ電磁波発生装置にかかる放射アンテナ28の詳細構造を示す。この放射アンテナ28はSi半球レンズ202上に光伝導型アンテナ100を囲むように取り付けられた第1アンテナ固定板201と光伝導型アンテナ100を押さえ込むように取り付けられた新規アンテナ固定板300によって構成されている。この新規アンテナ固定板300には特殊な構造が盛り込まれており、それを示したものが図2である。   FIG. 1 shows a detailed structure of a radiation antenna 28 according to the terahertz electromagnetic wave generator of the present invention. The radiating antenna 28 includes a first antenna fixing plate 201 attached to the Si hemisphere lens 202 so as to surround the photoconductive antenna 100 and a new antenna fixing plate 300 attached to hold down the photoconductive antenna 100. ing. This new antenna fixing plate 300 includes a special structure, which is shown in FIG.

まず、素材であるが、この新規アンテナ固定版300は金属で構成され、その材質を特に限定しないが、例示すれば銅、金、銀、鉄、アルミニウム、ニッケル、クロム、SUS316などがある。このような金属板は単体でも良く、また、電磁波に対して透明な基板上に固定されていてもよい。   First, although it is a raw material, the new antenna fixing plate 300 is made of metal and the material thereof is not particularly limited, but examples thereof include copper, gold, silver, iron, aluminum, nickel, chromium, and SUS316. Such a metal plate may be a single body or may be fixed on a substrate transparent to electromagnetic waves.

次にその構造であるが、厚みが0.1mm以上2mm以下の金属板であって、そこに円形であり、金属板を貫通している開口4を設ける。この開口4は開口寸法1と垂直間隔2と第2の間隔3とによって決まる配置によって定義付けられる。   Next, the structure is a metal plate having a thickness of 0.1 mm or more and 2 mm or less, and an opening 4 which is circular and penetrates the metal plate is provided there. This opening 4 is defined by an arrangement determined by the opening dimension 1, the vertical spacing 2 and the second spacing 3.

一例として、図7に示したTDS法の構成図内において、試料34の位置に本発明で用いている新規アンテナ固定板300を配置した場合と何も配置していない場合とでスペクトルの形状変化を見たときの結果を図3に示す。実データは図3(a)に示したような横軸に時間軸をとった時間分解スペクトルが得られるが、これをフーリエ変換することによって図3(b)に示したような横軸が周波数成分となる周波数スペクトルが得られることは背景技術の説明でも述べたとおりである。このときに用いた垂直間隔2は1.12mm、開口寸法1は0.6mmである。本発明に用いようとしている新規アンテナ固定版300は言い方を変えるとバンドパスフィルタの機能を有していると表現することができることがわかる。なお、このとき、新規アンテナ固定版300の構成体は金属であることが前提であり、図3(b)に示したスペクトルは透過スペクトルであることから残りの成分は全て反射しており、また、図3(a)に示したような横軸に時間軸をとった時間分解スペクトルでは等間隔に周期構造が現れており、位相の揃った電磁波が反射されていることがわかる。   As an example, in the configuration diagram of the TDS method shown in FIG. 7, the shape of the spectrum changes between when the new antenna fixing plate 300 used in the present invention is placed at the position of the sample 34 and when nothing is placed. FIG. 3 shows the result of looking at. As for the actual data, a time-resolved spectrum having a time axis on the horizontal axis as shown in FIG. 3A is obtained, and the horizontal axis as shown in FIG. The fact that a frequency spectrum as a component can be obtained is as described in the background art. The vertical interval 2 used at this time is 1.12 mm, and the opening dimension 1 is 0.6 mm. It can be seen that the new antenna fixed plate 300 to be used in the present invention can be expressed as having a band-pass filter function in other words. At this time, it is assumed that the structure of the new antenna fixing plate 300 is a metal, and since the spectrum shown in FIG. 3B is a transmission spectrum, all the remaining components are reflected. In the time-resolved spectrum having the time axis on the horizontal axis as shown in FIG. 3A, periodic structures appear at regular intervals, and it can be seen that electromagnetic waves having the same phase are reflected.

本発明における根本の目的は従来までのテラヘルツ電磁波発生装置において生じていた反転電磁波203の有効利用である。本発明においてはこの反転電磁波203を位相状態などを変化させることなく所望の方向へ送り出すことを主目的としている。反転電磁波の放射方向203と放射電磁波204の方向とはちょうど180°反転した向きになっているので、とにかく反転電磁波203を反射などによって折り返し、放射電磁波204の放射方向に揃えればよい。そこで、以下のような開口寸法1ならびに第1の間隔2と第2の間隔3とによって決まる配置に開口を設けた金属板によって新規アンテナ固定板300を構成する。   The basic object of the present invention is to effectively use the inverted electromagnetic wave 203 generated in the conventional terahertz electromagnetic wave generator. The main object of the present invention is to send the inverted electromagnetic wave 203 in a desired direction without changing the phase state or the like. Since the radiation direction 203 of the reversed electromagnetic wave and the direction of the radiation electromagnetic wave 204 are just 180 ° reversed, the reversed electromagnetic wave 203 may be folded by reflection anyway and aligned with the radiation direction of the radiation electromagnetic wave 204. Therefore, the new antenna fixing plate 300 is composed of a metal plate having openings in an arrangement determined by the following opening dimension 1 and the first interval 2 and the second interval 3.

すなわち、1.9mm以上2√3mm以下である垂直間隔2と前記垂直間隔2の√3倍の水平間隔3とを有した開口群a5と、垂直間隔2と水平間隔3が全く同等であり、その位置が開口群a5の任意の1つから見て垂直方向、水平方向ともに垂直間隔2、水平間隔3の半分だけずらした位置に設けられた開口群b6との集合体となるような開口を設けた金属板とすればよい。このとき、開口寸法1は垂直間隔2の0.4倍以下であって、光伝導型アンテナの放射電磁波波長の上限である3mm以上の大きさを有していればよい。   That is, the aperture group a5 having a vertical interval 2 that is not less than 1.9 mm and not more than 2√3 mm and a horizontal interval 3 that is √3 times the vertical interval 2, and the vertical interval 2 and the horizontal interval 3 are completely equivalent. An opening whose position is an aggregate with the opening group b6 provided at a position shifted by half of the vertical interval 2 and the horizontal interval 3 in both the vertical direction and the horizontal direction when viewed from any one of the opening group a5. What is necessary is just to use the provided metal plate. At this time, the opening dimension 1 may be 0.4 times or less of the vertical interval 2 and may have a size of 3 mm or more which is the upper limit of the radiated electromagnetic wave wavelength of the photoconductive antenna.

なお、このときの垂直方向とは光伝導型アンテナ100におけるコプレーナ伝送線路105における最近接電極間隔の方向を意味し、これは超短パルス23のもつ偏光方向にも一致した方向である。TDS法においては通常、この方向を鉛直方向にしてあり、工学定盤の水平方向に対して垂直であることからこのように定義づけている。   Note that the vertical direction at this time means the direction of the closest electrode spacing in the coplanar transmission line 105 in the photoconductive antenna 100, which is the direction that coincides with the polarization direction of the ultrashort pulse 23. In the TDS method, this direction is usually the vertical direction and is defined in this way because it is perpendicular to the horizontal direction of the engineering surface plate.

前記垂直間隔2と水平間隔3の関係は開口4の配置を正三角形の配置とすることから決めてあり、この配置が最も効率よく電磁波の反射を実現できることは公知のことである。   The relationship between the vertical interval 2 and the horizontal interval 3 is determined by making the arrangement of the openings 4 into an equilateral triangle arrangement, and it is known that this arrangement can realize electromagnetic wave reflection most efficiently.

垂直間隔2はTDS法にによって得られるスペクトルと使用したい領域との兼ね合いで決められる。   The vertical interval 2 is determined in consideration of the spectrum obtained by the TDS method and the region to be used.

背景技術の説明で述べたように、TDS法では0.1THzから1.5THzまでのテラヘルツ電磁波を発生・受信することが可能である。 このことは、図3(a)ならびに図3(b)で示した実験結果からも明らかである。すなわち、TDS法による発生、受信可能な最低周波数は0.1THzである。また、TDS法によって得られる電磁波の最大強度を有する帯域は0.17THzより高い領域に存在している。つまり、この0.1THz以上0.17THz以下の領域は多少犠牲にすることができ、0.17THzよりも高い周波数領域に影響が出ないように開口を設計する必要がある。   As described in the background art, the TDS method can generate and receive terahertz electromagnetic waves from 0.1 THz to 1.5 THz. This is also clear from the experimental results shown in FIG. 3 (a) and FIG. 3 (b). That is, the lowest frequency that can be generated and received by the TDS method is 0.1 THz. Further, the band having the maximum intensity of the electromagnetic wave obtained by the TDS method exists in a region higher than 0.17 THz. That is, this region of 0.1 THz or more and 0.17 THz or less can be sacrificed to some extent, and the opening needs to be designed so as not to affect the frequency region higher than 0.17 THz.

本発明で用いている新規アンテナ固定板300は、言い方を変えれば一種のバンドパスフィルタの働きを有している。本発明において限定される性能はそのバンドパスフィルタ機能のうちの高周波側の上限値であって、この値は前述のように開口4の配置を正三角形配置としたときに垂直間隔2の√3/2倍の波長に相当する。   In other words, the new antenna fixing plate 300 used in the present invention functions as a kind of band-pass filter. The performance limited in the present invention is the upper limit value on the high frequency side of the bandpass filter function, and this value is √3 of the vertical interval 2 when the arrangement of the openings 4 is an equilateral triangle arrangement as described above. / Corresponds to twice the wavelength.

このことからバンドパスフィルタ機能のうちの高周波側の上限値を0.1THz(=3mm)以上0.17(=1.6mm)THz以下の領域にもっていくためには1.9mm以上2√3mm以下である垂直間隔2が必要ということになる。   Therefore, in order to bring the upper limit value on the high frequency side of the band-pass filter function to the region of 0.1 THz (= 3 mm) or more and 0.17 (= 1.6 mm) THz or less, it is 1.9 mm or more and 2√3 mm. This means that the following vertical interval 2 is necessary.

続いて垂直間隔2を一定値の1.12mmとしておき、開口寸法1を変化させた場合の実験結果を横軸が周波数成分となる周波数スペクトルとして図4に示す。比較のため、図7に示したTDS法の構成図内において、試料34の位置に何も配置していない場合に得られるスペクトルもあわせて表示してある。開口寸法2としては0.6mm、0.5mm、0.4mmを用意した。このうち、開口寸法2が0.4mmすなわち、垂直間隔2の0.4倍よりも小さくなったときに急激にバンドパスフィルタのピーク値が落ち込むことが解った。前述したように発生している電磁波のうち、バンドパス特性による透過成分以外のものは全て反射していることになるので、この現象は反射成分の増加を意味する。このことから本発明で用いている新規アンテナ固定板300においては開口寸法1は垂直間隔2の0.4倍以下とすることが望ましいことが解った。   Next, FIG. 4 shows the experimental results when the vertical interval 2 is set to a constant value of 1.12 mm and the aperture size 1 is changed, as a frequency spectrum whose horizontal axis is a frequency component. For comparison, the spectrum obtained when nothing is arranged at the position of the sample 34 in the configuration diagram of the TDS method shown in FIG. 7 is also displayed. As opening dimension 2, 0.6 mm, 0.5 mm, and 0.4 mm were prepared. Of these, it was found that the peak value of the bandpass filter suddenly dropped when the opening size 2 was 0.4 mm, that is, smaller than 0.4 times the vertical interval 2. Since all the electromagnetic waves generated as described above other than the transmission component due to the bandpass characteristic are reflected, this phenomenon means an increase in the reflection component. From this, it was found that in the new antenna fixing plate 300 used in the present invention, the opening dimension 1 is preferably 0.4 times or less of the vertical interval 2.

(実施例1)
実施の形態に従って、実際に垂直間隔2を1.9mm、開口寸法1を0.76mmとした開口を有する金属板を試料とし、その透過特性を測定した。
Example 1
According to the embodiment, a metal plate having an opening in which the vertical interval 2 was actually 1.9 mm and the opening dimension 1 was 0.76 mm was used as a sample, and its transmission characteristics were measured.

テラヘルツTDS法は前述したように、超短パルスレーザーを用いたテラヘルツ波の発生と検知を同時に扱うことができ、特に検知においては簡便かつ高感度な検出方法である。本実験で用いた放射アンテナ28の内部構成は図7に示したものと同様である。   As described above, the terahertz TDS method can simultaneously handle generation and detection of terahertz waves using an ultrashort pulse laser, and is a simple and highly sensitive detection method particularly in detection. The internal configuration of the radiating antenna 28 used in this experiment is the same as that shown in FIG.

図7に示すように、TDSではフェムト秒レーザー22からの超短パルス光23をビームスプリッタ24で分割し、第1の超短パルス光25を平板状の光伝導素子からなる電磁波放射用アンテナ28に照射する。この電磁波放射用アンテナ28として用いられる平板状の光伝導素子の表面には、図8に示すようにAuGe/Ni/Auからなるコプラナー型の対電極が設けられており、それらの間には電源30から電圧が印加される。超短パルス光12が電磁波放射用アンテナ28の電極間に照射されると、電子正孔対が瞬時に形成されることによって電磁波放射用アンテナ28には瞬間的に電流が流れ、同時に増倍制御電源303によって裏面電極208に印加された電圧によって電子正孔対が生成される。このとき電子正孔対生成に応じたパルス電磁波32が放射される。このパルス電磁波32を第1放物面鏡31で平行化し、第2放物面鏡36により電磁波検出用アンテナ29の裏面に集める。   As shown in FIG. 7, in TDS, an ultrashort pulsed light 23 from a femtosecond laser 22 is split by a beam splitter 24, and the first ultrashort pulsed light 25 is an electromagnetic wave radiation antenna 28 made up of a plate-like photoconductive element. Irradiate. As shown in FIG. 8, a coplanar counter electrode made of AuGe / Ni / Au is provided on the surface of the flat plate photoconductive element used as the electromagnetic wave radiation antenna 28, and a power source is provided between them. A voltage is applied from 30. When the ultra-short pulse light 12 is irradiated between the electrodes of the electromagnetic wave radiation antenna 28, an electron-hole pair is instantaneously formed, whereby a current flows instantaneously in the electromagnetic wave radiation antenna 28, and at the same time, multiplication control is performed. Electron hole pairs are generated by the voltage applied to the back electrode 208 by the power source 303. At this time, a pulse electromagnetic wave 32 corresponding to the generation of electron-hole pairs is emitted. The pulse electromagnetic wave 32 is collimated by the first parabolic mirror 31 and collected on the back surface of the electromagnetic wave detection antenna 29 by the second parabolic mirror 36.

電磁波検出用アンテナ29の表面にはビームスプリッタ24で分割された第2の超短パルス光が照射され、その瞬間(すなわち、超短パルス光26が照射した瞬間)だけ導電性となる。この時点では受信アンテナ29の電極間に電界が印加されていないので電流は生じない。導電性を示している間に放射アンテナから放射された電磁波が入ってくると、受信アンテナ29の電極間には電磁波が有している電界が印加されたのと同様の状態となる。一方、光学遅延ステージ41・42によって時間遅延を受けた光はその遅延量によって第2放物面鏡36により集められた電磁波32との相関量が変化する。この相関量が電磁波が有している電界強度に対応した量の電流となって観測される。   The surface of the electromagnetic wave detection antenna 29 is irradiated with the second ultrashort pulse light divided by the beam splitter 24 and becomes conductive only at that moment (that is, the moment when the ultrashort pulse light 26 is irradiated). At this time, since no electric field is applied between the electrodes of the receiving antenna 29, no current is generated. When electromagnetic waves radiated from the radiation antenna enter while exhibiting electrical conductivity, the state is the same as when an electric field possessed by the electromagnetic waves is applied between the electrodes of the reception antenna 29. On the other hand, the amount of correlation between the light delayed by the optical delay stages 41 and 42 and the electromagnetic wave 32 collected by the second parabolic mirror 36 varies depending on the amount of delay. This correlation amount is observed as an amount of current corresponding to the electric field strength of the electromagnetic wave.

フェムト秒レーザー22の波長としては800nmを使用した。   The wavelength of the femtosecond laser 22 was 800 nm.

本実験では広帯域性を重視しているので受信側アンテナの電極構造としてはボウタイ型に比べて広帯域特性の良いダイポール型を用いている。受信側では出力を高める必要が特にないので、材料としては従来から用いられているLT−GaAsを光伝導素子として使用した。   In this experiment, since wide band characteristics are important, the electrode structure of the receiving antenna is a dipole type that has better broadband characteristics than the bow tie type. Since there is no particular need to increase the output on the receiving side, LT-GaAs, which has been conventionally used, is used as a photoconductive element as a material.

このとき、上部コプレーナ線路201と変形下部コプレナー線路301への印加電圧を15V、平均入射光強度を15mWとして実験を行う。   At this time, the experiment is performed with the applied voltage to the upper coplanar line 201 and the modified lower coplanar line 301 being 15 V and the average incident light intensity being 15 mW.

図5に横軸が周波数成分となる周波数スペクトルとして実験結果を示す。図5において黒丸の点で示したものが試料34の位置に何も配置していない場合に得られるスペクトル、実線で示したものが実施の形態に従って、実際に垂直間隔2を1.9mm、開口寸法1を0.76mmとした開口を有する金属板を試料とし、その透過特性を測定したものである。実施の形態で述べたように0.17THz以下の領域で帯域透過特性を実現することができている。   FIG. 5 shows the experimental results as a frequency spectrum having frequency components on the horizontal axis. In FIG. 5, what is indicated by a black dot is a spectrum obtained when nothing is arranged at the position of the sample 34, and what is indicated by a solid line is an actual vertical interval 2 of 1.9 mm and an opening according to the embodiment. A metal plate having an opening with a dimension 1 of 0.76 mm was used as a sample, and its transmission characteristics were measured. As described in the embodiment, the band transmission characteristic can be realized in the region of 0.17 THz or less.

このことからアンテナ構成を垂直間隔2を1.9mm、開口寸法1を0.76mmとした開口を有する金属板を伴ったものとすることにより1THz近傍の周波数領域においてスペクトル強度が増え、高出力かつ高効率なテラヘルツ帯電磁波の発生および検出が期待できる。   For this reason, the antenna configuration is accompanied by a metal plate having an opening with a vertical interval 2 of 1.9 mm and an opening size 1 of 0.76 mm, so that the spectral intensity increases in the frequency region near 1 THz, and the high output and Generation and detection of highly efficient terahertz electromagnetic waves can be expected.

(実施例2)
新規アンテナ固定板300を伴って構成される光伝導素子を用いた場合の実験結果を示す。
(Example 2)
The experimental result at the time of using the photoconductive element comprised with the novel antenna fixing plate 300 is shown.

この新規アンテナ固定板300には、光伝導アンテナと金属板が直接接しないよう、光伝導アンテナと金属板との間に絶縁層としての厚さ0.5mmのSiOを挿入した上で押さえ込んである。 In order to prevent the photoconductive antenna and the metal plate from coming into direct contact with each other, the new antenna fixing plate 300 is pressed after inserting SiO 2 having a thickness of 0.5 mm as an insulating layer between the photoconductive antenna and the metal plate. is there.

この光伝導素子表面にはAuGe/Ni/Auによる上部コプレーナ線路と下部コプレナー線路との再近接距離が5μmとなるように構成されている。なお、この電極構造としてはダイポール型を採用した。   On the surface of this photoconductive element, the close proximity distance between the upper coplanar line and the lower coplanar line made of AuGe / Ni / Au is set to 5 μm. A dipole type was adopted as the electrode structure.

得られる電磁波は1.5THz以上の超広帯域波を含んでおり、検知時の帯域を広くとることを考慮しないのであればホーンアンテナなどの帯域遮断型アンテナで導波管へ導き、フォトニックミキサーおよびハーモニックシンセサイザーによるダウンコンバート式の検出や2THz程度までであればカロリーメーターを利用したパワーメーターでの検知も考えられるが、本実験では感度、分解能、広帯域性を加味して前述のテラヘルツTDS法を採用した。その光学系は従来例の説明でも使用した図7と同様である。なお、このとき試料34の位置には何も配置していない。   The obtained electromagnetic wave includes an ultra-wideband wave of 1.5 THz or more, and if it is not considered to take a wide band at the time of detection, it is guided to a waveguide by a band cut-off antenna such as a horn antenna, a photonic mixer, Detection of down-conversion with a harmonic synthesizer and detection with a power meter using a calorimeter is possible up to about 2 THz, but in this experiment, the above-mentioned terahertz TDS method is adopted in consideration of sensitivity, resolution, and broadband characteristics. did. The optical system is the same as that used in the description of the conventional example shown in FIG. At this time, nothing is arranged at the position of the sample 34.

このとき、上部コプレーナ線路201と変形下部コプレナー線路301への印加電圧を15V、平均入射光強度を15mWとして実験を行う。   At this time, the experiment is performed with the applied voltage to the upper coplanar line 201 and the modified lower coplanar line 301 being 15 V and the average incident light intensity being 15 mW.

図6に横軸が周波数成分となる周波数スペクトルとして実験結果を示す。図6において黒丸の点で示したものが従来構造のアンテナを用いた場合のスペクトルである。実線で示したものが実施の形態に従って、実際に垂直間隔2を1.9mm、開口寸法1を0.76mmとした開口を有する金属板、すなわち新規アンテナ固定板300を組み込んだアンテナから放出されるテラヘルツ電磁波を測定したものである。0.15THzを超えた領域でのテラヘルツ電磁波の強度増大を得ることができた。   FIG. 6 shows the experimental results as a frequency spectrum having frequency components on the horizontal axis. In FIG. 6, the spectrum indicated by the black dots is the spectrum when an antenna having a conventional structure is used. What is indicated by a solid line is emitted from an antenna incorporating a new antenna fixing plate 300, which is actually a metal plate having an opening with a vertical interval 2 of 1.9 mm and an opening size 1 of 0.76 mm, according to the embodiment. Terahertz electromagnetic waves are measured. An increase in the intensity of the terahertz electromagnetic wave in a region exceeding 0.15 THz could be obtained.

本発明のテラヘルツ帯電磁波発生装置に係る実施の形態の概略構成図Schematic configuration diagram of an embodiment according to a terahertz band electromagnetic wave generator of the present invention 本発明のテラヘルツ帯電磁波発生装置に係る新規アンテナ固定板の構成図Configuration diagram of new antenna fixing plate according to terahertz band electromagnetic wave generator of the present invention 従来のテラヘルツ帯電磁波発生装置において得られる実験結果を示すグラフであって、(a)遅延時間に対する電流信号を示すグラフ(b)(a)のデータからフリーエ変換されたスペクトル分布を示すグラフIt is a graph which shows the experimental result obtained in the conventional terahertz band electromagnetic wave generator, Comprising: (a) The graph which shows the electric current signal with respect to delay time (b) The graph which shows the spectrum distribution which carried out the free transform from the data of (a) 本発明のテラヘルツ帯電磁波発生装置において、開口寸法1を決定するために行った実験結果を示すグラフThe graph which shows the experimental result performed in order to determine the opening dimension 1 in the terahertz band electromagnetic wave generator of this invention 本発明のテラヘルツ帯電磁波発生装置に係る実施例1において得られる実験結果と従来の実験結果とを比較したグラフThe graph which compared the experimental result obtained in Example 1 which concerns on the terahertz band electromagnetic wave generator of this invention, and the conventional experimental result 本発明のテラヘルツ帯電磁波発生装置に係る実施例2において得られる実験結果と従来の実験結果とを比較したグラフThe graph which compared the experimental result obtained in Example 2 which concerns on the terahertz band electromagnetic wave generator of this invention, and the conventional experimental result 従来のテラヘルツTDSの概略構成図Schematic configuration diagram of a conventional terahertz TDS 従来のテラヘルツ帯電磁波発生装置に係るダイポール型光伝導素子と光の入射、電磁波の放射の関係を示した図A diagram showing the relationship between the dipole photoconductive element and the incidence of light and radiation of electromagnetic waves in a conventional terahertz band electromagnetic wave generator 従来のテラヘルツ帯電磁波発生装置に係る放射アンテナの構成図Configuration diagram of a radiating antenna according to a conventional terahertz band electromagnetic wave generator 従来のテラヘルツ帯電磁波発生装置に係る放射アンテナの断面図と放射電磁波の関係図Cross-sectional view of a radiating antenna according to a conventional terahertz band electromagnetic wave generator and the relationship diagram of the radiated electromagnetic wave

符号の説明Explanation of symbols

1 開口寸法
2 垂直間隔
3 水平間隔
4 開口
5 開口群a
6 開口群b
11 超短パルス光源
23 超短パルス光
24 ビームスプリッタ
25 第1の超短パルス光
26 第2の超短パルス光
28 電磁波放射用光伝導素子、放射アンテナ
29 電磁波検出用光伝導素子、受信アンテナ
30 電源
31,36 放物面鏡
32 放射電磁波
34 試料
35 試料透過後のテラヘルツ電磁波
38 ロックイン増幅器
40 平面鏡
41 リトロリフレクタ
42 移動ステージ
43 コンピュータ
100 光伝導型アンテナ
101 半絶縁性GaAs基板
103 光伝導薄膜
105 コプレナー伝送線路
200 第2アンテナ固定板
201 第1アンテナ固定板
202 Si半球レンズ
203 反転電磁波
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Opening dimension 2 Vertical space | interval 3 Horizontal space | interval 4 Opening 5 Opening group a
6 aperture group b
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Ultra-short pulse light source 23 Ultra-short pulse light 24 Beam splitter 25 1st ultra-short pulse light 26 2nd ultra-short pulse light 28 Electromagnetic radiation photoconductive element, radiation antenna 29 Electromagnetic wave detection photoconductive element, receiving antenna 30 Power source 31, 36 Parabolic mirror 32 Radiated electromagnetic wave 34 Sample 35 Terahertz electromagnetic wave after sample transmission 38 Lock-in amplifier 40 Plane mirror 41 Retroreflector 42 Moving stage 43 Computer 100 Photoconductive antenna 101 Semi-insulating GaAs substrate 103 Photoconductive thin film 105 Coplanar transmission line 200 Second antenna fixing plate 201 First antenna fixing plate 202 Si hemispherical lens 203 Inverted electromagnetic wave

Claims (2)

超短パルス光を放射する光源と、電磁波放射用アンテナとを備えたテラヘルツ波発生装置であって、
前記電磁波放射用アンテナは、ガリウムヒ素からなる半絶縁性基板と、前記半絶縁性基板上に形成され、光伝導薄膜と、コプラナー伝送線路とを有し、
前記コプラナー伝送線路は、一対の伝送線路電極本体と、前記各伝送線路電極本体からそれぞれ突出する突起電極とを有し、前記一対の伝送線路本体は平行に配置されており、
前記電磁波放射用アンテナは電極側に金属材料による格子状開口構造のアンテナ固定板を配置している状態でSi半球レンズに載せられており、超短パルス光を光源より照射することによって電磁波を発生させることを特徴とするテラヘルツ電磁波発生装置。
A terahertz wave generator including a light source that emits ultrashort pulse light and an antenna for electromagnetic wave radiation,
The electromagnetic wave radiation antenna is formed on a semi-insulating substrate made of gallium arsenide, the semi-insulating substrate, a photoconductive thin film, and a coplanar transmission line,
The coplanar transmission line has a pair of transmission line electrode bodies and protruding electrodes respectively protruding from the transmission line electrode bodies, and the pair of transmission line bodies are arranged in parallel,
The antenna for electromagnetic wave radiation is mounted on a Si hemisphere lens with an antenna fixing plate having a grid-like opening structure made of a metal material on the electrode side, and generates electromagnetic waves by irradiating ultrashort pulse light from a light source. A terahertz electromagnetic wave generator characterized in that
前記請求項1記載の金属材料による格子構造の押さえ板は
円形の貫通穴からなる複数の開口部を有しており、
厚みが0.1mm以上2mm以下の金属板であって、
1.9mm以上2√3mm以下である垂直間隔と前記垂直間隔の√3倍の水平間隔とを有した開口群aと、
垂直間隔と水平間隔が全く同等であり、その位置が開口群aの任意の1つから見て垂直方向、水平方向ともに垂直間隔、水平間隔の半分だけずらした位置に設けられた開口群b
との集合体となるような開口を設けた金属板であって、
開口寸法は垂直間隔の0.4倍以下であって、
開口の形状は円形となるような開口を設けた金属板によって構成されていることを特徴とするテラヘルツ電磁波発生装置。
The holding plate having a lattice structure made of a metal material according to claim 1 has a plurality of openings made of circular through holes,
A metal plate having a thickness of 0.1 mm to 2 mm,
An aperture group a having a vertical interval of 1.9 mm or more and 2√3 mm or less and a horizontal interval of √3 times the vertical interval;
The vertical interval and the horizontal interval are exactly the same, and the position of the aperture group b provided at a position shifted from the vertical interval and half of the horizontal interval in both the vertical and horizontal directions when viewed from any one of the aperture groups a.
A metal plate provided with an opening to be an aggregate with
The opening size is 0.4 times or less of the vertical interval,
A terahertz electromagnetic wave generator characterized by comprising a metal plate provided with an opening having a circular shape.
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