JP2007271529A - Microscopic fluorescence observation device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、顕微蛍光観測装置に関し、より詳細には、励起光ならびに観測光の光量損失が低減された同軸落射型顕微蛍光観測装置に関する。 The present invention relates to a microscopic fluorescence observation apparatus, and more particularly, to a coaxial epi-illumination type microscopic fluorescence observation apparatus in which loss of light amount of excitation light and observation light is reduced.
近年、癌などの遺伝子に起因する病気の検査等においてDNAチップが用いられており、DNAチップとは、数mm〜数十mm四方のガラス等の基板の上に、既知の塩基配列を有するポリヌクレオチドを各スポットごとに固定して形成されるものをいう。DNAチップを用いた検査においては、まず、検査対象のポリヌクレオチドを蛍光色素でラベルしたのちに、DNAチップ上に固定されたポリヌクレオチドとハイブリダイゼーションさせる。その後、ラベルした蛍光色素の吸収バンドに合致する波長の励起光をDNAチップに対して照射し、その結果発せられる蛍光を観測することによって、所望の遺伝子の発現状態を解析することが可能となる。 In recent years, DNA chips have been used in the inspection of diseases caused by genes such as cancer, and the DNA chip is a polycrystal having a known base sequence on a substrate of several mm to several tens of mm square glass. It is formed by fixing nucleotides for each spot. In an inspection using a DNA chip, first, a polynucleotide to be inspected is labeled with a fluorescent dye, and then hybridized with a polynucleotide immobilized on the DNA chip. Then, it is possible to analyze the expression state of a desired gene by irradiating the DNA chip with excitation light having a wavelength matching the absorption band of the labeled fluorescent dye and observing the fluorescence emitted as a result. .
従来、このようなDNAチップの全体の蛍光画像を撮像するために、いわゆる同軸落射顕微鏡が用いられてきた。図6は、一般的な同軸落射顕微鏡50の光学系を概略的に示す図である。同軸落射顕微鏡50は、励起光照射光学系と観測光学系とから構成されており、両光学系は光軸Kを共有する。励起光照射光学系は、光源52、照明レンズ54、ハーフミラー56、および対物レンズ58とを含んで構成されており、光源52から照射された励起光は、照明レンズ54を透過した後、ハーフミラー56によって約半分の光が光軸Kに沿って光路を変更されて対物レンズ58を透過し、サンプル60を照射する。しかし、この際、光源52から照射された励起光の残りの半分はハーフミラー56を透過してしまうため、この励起光照射光学系においては、励起光がサンプル60に到達するまでに光量の約50%が損失することになる。
Conventionally, so-called coaxial episcopic microscopes have been used to capture the entire fluorescent image of such a DNA chip. FIG. 6 is a diagram schematically showing an optical system of a general
一方、観測光学系は、対物レンズ58、ハーフミラー56、結像レンズ62、およびCCD素子などを備える撮像系64を含んで構成されており、上述した励起光によって照射されたサンプル60が発光する蛍光が対物レンズ58を透過した後、約半分の光がハーフミラー56を透過して直進し、結像レンズ62によって集光され撮像系64にサンプル60の蛍光像を結像する。しかし、この観測光学系においても、サンプル60が発光する蛍光の約半分がハーフミラー56によって反射されてしまい結像レンズ62に入射することができないため、観測光の光量の約50%が損失することになる。したがって、同軸落射顕微鏡50の光学系全体について総合的にみると、光源52から励起光をサンプル60を直接照射して観測する場合に比較して、結果的に観測光の光量の約75%を損失することになる。DNAチップ上のサンプルが発する蛍光は一般に微弱であり、図6に示した光学系による同軸落射顕微鏡50では、遺伝子の発現状態を解析するために充分な鮮明度をもってサンプルを撮像することが困難であった。
On the other hand, the observation optical system is configured to include an
この点につき、特開2005−62023号公報(特許文献1)は、励起光および蛍光の損失を抑えて検出精度を向上させることのできる落射型蛍光測定装置を開示する。特許文献1が開示する落射型蛍光測定装置は、サンプルを斜め下方から照射する励起光照射光学系と、該励起光照射光学系とその光軸を異にする観測光学系とを含んで構成されており、上述した励起光ならびに観測光の光量損失の問題は解決するものの、各光学系の光軸が同軸でないため装置構成が複雑であり、また、そのサンプルの形態が下方から照射することができるものに限定され、なにより、サンプルの全面を蛍光像として同時に結像させることができない。
本発明は、上記従来技術における課題に鑑みてなされたものであり、本発明は、励起光照射光学系と観測光学系がその光軸を共有しながら、励起光ならびに観測光の光量損失が低減された同軸落射型顕微蛍光観測装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems in the prior art, and the present invention reduces the light loss of excitation light and observation light while sharing the optical axis between the excitation light irradiation optical system and the observation optical system. It is an object of the present invention to provide a coaxial epi-illumination microscopic fluorescence observation apparatus.
本発明者らは、上述した技術課題に鑑み、同軸落射型顕微蛍光観測装置の光学系の構成につき鋭意検討した結果、従来、励起光として用いられてきたレーザー光の指向性に着目し、所定のビーム径に調整されたレーザー光を、一旦、レンズ系によって極小領域に集光させた後反射させ、その反射光を再び別のレンズ系を通してサンプルの全面を照射可能な所定のビーム径を有するレーザー光とする構成を採用することにより、励起光ならびに観測光の光量損失の低減を同時に実現しうることを見出し、本発明に至ったのである。 In view of the technical problems described above, the present inventors have intensively studied the configuration of the optical system of the coaxial epi-illumination microscopic fluorescence observation apparatus. As a result, the inventors focused on the directivity of laser light that has been conventionally used as excitation light. The laser beam adjusted to the beam diameter is once condensed by a lens system onto a minimal region and then reflected, and the reflected light has a predetermined beam diameter that can irradiate the entire surface of the sample again through another lens system. It has been found that by adopting a configuration that uses laser light, it is possible to simultaneously reduce the light loss of excitation light and observation light, and the present invention has been achieved.
すなわち、本発明によれば、レーザー光を発生する励起光源と、開口部が形成されたピンホール形成部と、第1の光軸を有するレーザー集光レンズと、反射面を有する折り返し反射部と、第2の光軸を有する対物レンズとを含む同軸落射型顕微蛍光観測装置であって、前記開口部が前記第1の光軸上であって前記励起光源と前記レーザー集光レンズとの間に配置され、前記反射面が前記第1の光軸と前記第2の光軸の交点を含み、前記レーザー集光レンズの物体側主点と前記交点の離間距離が、前記レーザー集光レンズの物体側焦点距離に等しく、前記対物レンズの光源側主点と前記交点の離間距離が前記対物レンズの光源側焦点距離に等しい同軸落射型顕微蛍光観測装置が提供される。 That is, according to the present invention, an excitation light source that generates laser light, a pinhole forming portion in which an opening is formed, a laser condensing lens having a first optical axis, and a folded reflecting portion having a reflecting surface, A coaxial epi-illumination microscopic fluorescence observation apparatus including an objective lens having a second optical axis, wherein the opening is on the first optical axis and between the excitation light source and the laser condenser lens. The reflecting surface includes an intersection of the first optical axis and the second optical axis, and a distance between the object-side principal point of the laser condenser lens and the intersection is a distance of the laser condenser lens A coaxial epi-illumination type microscopic fluorescence observation device is provided which is equal to the object-side focal length and whose distance between the light source side principal point of the objective lens and the intersection is equal to the light source side focal length of the objective lens.
本発明においては、前記開口部と前記第1の光軸の交点と前記レーザー集光レンズの光源側主点の離間距離を前記レーザー集光レンズの光源側焦点距離に等しくすることができ、さらに、前記対物レンズの物体側主点と前記レーザー光の照射表面の離間距離を前記対物レンズの物体側焦点距離に等しくすることができる。 In the present invention, the separation distance between the intersection of the opening and the first optical axis and the light source side principal point of the laser condenser lens can be made equal to the light source side focal length of the laser condenser lens, The distance between the object side principal point of the objective lens and the surface irradiated with the laser light can be made equal to the object side focal length of the objective lens.
また、本発明においては、前記励起光源と前記ピンホール形成部と間にさらにビームエクスパンダを備えることができ、さらに2以上の前記励起光源と前記ピンホール形成部と間にさらにレーザー切替光学系を備えることができる。 In the present invention, a beam expander can be further provided between the excitation light source and the pinhole forming unit, and a laser switching optical system is further provided between the two or more excitation light sources and the pinhole forming unit. Can be provided.
上述したように、本発明によれば、励起光照射光学系と観測光学系がその光軸を共有しながら、励起光ならびに観測光の光量損失が低減された同軸落射型顕微蛍光観測装置が提供される。 As described above, according to the present invention, there is provided a coaxial epi-illumination type microscopic fluorescence observation apparatus in which the excitation light irradiation optical system and the observation optical system share the optical axis, and the light loss of the excitation light and the observation light is reduced. Is done.
以下、本発明を図面に示した実施の形態をもって説明するが、本発明は、図面に示した実施の形態に限定されるものではない。図1は、本発明の顕微蛍光観測光学系を含む顕微蛍光観測装置10を示す図である。本発明の顕微蛍光観測装置10は、同軸落射照明を採用するものであり、励起光照射光学系と観測光学系とを含んで構成される。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to embodiments shown in the drawings, but the present invention is not limited to the embodiments shown in the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a microscopic
本発明の顕微蛍光観測装置10における励起光照射光学系は、光源としてのレーザー装置12、ピンホール形成部14、レーザー集光レンズ16、折り返し反射部18、対物レンズ20を含んで構成されている。光源としてのレーザー装置は、検査対象が含有する蛍光物質の吸収バンドに合致した波長のレーザー光を発生させるものであれば、固体レーザー、気体レーザー、半導体レーザーなど公知のレーザー装置を用いることができる。また、図1に示すように、たとえば、He−Neレーザー12aとYAGレーザー12bとを同光軸上に配置し、両レーザー装置の間にレーザー切替光学系22を配置することによって、検査対象によって2種類以上のレーザー光を切替え可能に構成することもできる。なお、レーザー装置12から発生したレーザー光は、ビームエクスパンダ24によってそのビーム径を増大させることができ、照射したいサンプルの面積に関連して適宜その倍率を選択することができる。
The excitation light irradiation optical system in the microscopic
レーザー装置12から発生し、ビームエクスパンダ24によってそのビーム径が増大されたレーザー光は、ピンホール形成部14に形成された開口部Pを通過する際、開口部Pの形状と同じ形状の断面を有する光束に調整される。励起光照射光学系におけるピンホール形成部14のさらに物体側には、K1を光軸とするレーザー集光レンズ16が配設され、またそのさらに物体側には光軸K1と直交する軸を光軸K2として対物レンズ20が配設されている。なお、本発明の励起光照射光学系においては、レーザー集光レンズ16と対物レンズ20との間に折り返し反射部18が配設されており、折り返し反射部18の後述する反射面が光軸K1と光軸K2の交点Xを含むように構成されている。
The laser beam generated from the
本発明の励起光照射光学系におけるレーザー集光レンズ16および対物レンズ20は、充分に離れた波長、たとえば青と赤の波長領域における色収差が最小限に抑制されたレンズを用いることが好ましい。すなわち、使用する励起光の波長領域にわたって焦点距離の変化を最小限に抑えるように設計されたレンズを用いることが好ましく、さらに、球面収差を最小限に抑えるように設計されたレンズを用いることが好ましい。本発明におけるレンズ系としては、アクロマティックレンズを用いることができる。
As the
本発明の顕微蛍光観測装置10における観測光学系は、対物レンズ20、干渉フィルター26、結像レンズ28、およびCCD素子などを備える撮像系30を含んで構成されている。対物レンズ20と結像レンズ28は、光軸K2を共通の光軸としており、対物レンズ20と結像レンズ28との間には、干渉フィルター26が配設されている。本発明においては、干渉フィルター26を2以上含んで構成することができ、検査対象によって手動または自動にて差替え可能に構成することができる。サンプル32から発光した蛍光を含む光は、対物レンズ20を透過し、干渉フィルター26によって所望の波長成分のみが選択的に透過された後、結像レンズ28によって集光され撮像系30において蛍光像が結像するように構成されている。なお、本発明の顕微蛍光観測装置10は、さらに、LEDなどによって形成された補助照明34を設けることができ、また、サンプル32が固定される手動あるいは電動のXYZ移動ステージを設けることもできる。本発明の顕微蛍光観測装置10は、上述した光学系の構成を採用することによって、同軸落射照明方式を採用しながらも光量損失を最大限に防止する。以下、その機構を詳細に説明する。
The observation optical system in the microscopic
図2は、本発明の顕微蛍光観測装置10の励起光照射光学系の一部を拡大して示す図である。上述したように、ピンホール形成部14に形成された開口部Pによって、開口部Pの形状と同じ形状の断面を有する光束幅に調整されたレーザー光Lは、レーザー集光レンズ16に入射する。レーザー集光レンズ16は、上述したようにレーザー光Lと光軸K1を共有するものであり、光軸K1は、対物レンズ20の光軸K2と交点Xにおいて直交する。
FIG. 2 is an enlarged view showing a part of the excitation light irradiation optical system of the microscopic
本発明の励起光照射光学系において、レーザー集光レンズ16の図示しない物体側主点から交点Xまでの離間距離が、レーザー集光レンズ16の物体側焦点距離f2と等しくなるように配置されており、さらに、対物レンズ20は、対物レンズ20の図示しない光源側主点から交点Xまでの離間距離が、対物レンズ20の光源側焦点距離f3と等しくなるように配置されている。なお、レーザー光Lは、ほとんど平行光線であるが、厳密にはわずかに発散光になっているため、本発明においては、レーザー集光レンズ16は、ピンホール形成部14の開口部Pと光軸K1との交点Yからレーザー集光レンズ16の図示しない光源側主点までの離間距離が、レーザー集光レンズ16の光源側焦点距離f1と等しくなるように配置することが好ましい。このように配置することによって、ピンホール形成部14に形成された開口部Pの像を、サンプル32の被照射表面において鮮明に結像させることが可能になり、サンプル32の被照射表面に均一な密度のレーザー光Lを照射することが可能になる。
In the excitation light irradiation optical system of the present invention, the
さらに、本発明においては、サンプル32を、対物レンズ20の図示しない物体側主点からサンプル32の被照射表面までの離間距離が、対物レンズ20の物体側焦点距離f4と等しくなるように配置することが好ましい。このように配置することによって、対物レンズ20と図示しない結像レンズとの間を平行光線とすることが可能になり、観測光学系の構成の単純化を図ることができる。
Furthermore, in the present invention, the
加えて、本発明の励起光照射光学系は、レーザー集光レンズ16と対物レンズ20との間に折り返し反射部18を含んで構成される。折り返し反射部18は、支持体18aに固着された反射ロッド18bから構成されており、反射ロッド18bの端面は、反射率の高いミラーなどによって反射面Tとして形成され、反射面Tが光軸K1に対して45°の角度をもって傾斜している。本発明においては、折り返し反射部18は、光軸K2が、反射ロッド18bの反射面と光軸K1との交点Xを通って、光軸K1と直交するように位置決めされ固定される。
In addition, the excitation light irradiation optical system of the present invention is configured to include a folded
なお、本発明においては、光軸K1、光軸K2、および反射面Tの位置構成は、上述した構成に限定されるものではなく、反射面Tが光軸K1と光軸K2の交点Xを含み、かつ、交点Xを通る反射面Tの垂線が光軸K1と光軸K2によって形成される角の二等分線となるように構成されるものであればよい。すなわち、本発明においては、光軸K1に沿って反射面Tに入射した光線が光軸K2に沿って反射される光学構成を適宜設計することができる。 In the present invention, the positional configuration of the optical axis K1, the optical axis K2, and the reflecting surface T is not limited to the above-described configuration, and the reflecting surface T defines the intersection point X between the optical axis K1 and the optical axis K2. It is only necessary that the perpendicular line of the reflection surface T including the intersection point X is a bisector of an angle formed by the optical axis K1 and the optical axis K2. That is, in the present invention, it is possible to appropriately design an optical configuration in which light rays incident on the reflecting surface T along the optical axis K1 are reflected along the optical axis K2.
本発明の顕微蛍光観測装置10においては、図示しないレーザー装置から図示しないビームエクスパンダを経てビーム径が拡大されたレーザー光Lは、光軸K1に対し垂直に設置されたピンホール形成部14に向けて照射される。レーザー光Lの一部は、ピンホール形成部14に形成された開口部Pを通過し、開口部Pの形状と同じ形状の断面を有する光束となってレーザー集光レンズ16に入射する。その後、平行光線であるレーザー光Lは、レーザー集光レンズ16によってレーザー集光レンズ16の物体側焦点、すなわち交点Xに集光される。上述したように、交点Xは、反射ロッド18bの端面に形成されたミラーである反射面Tに位置するため、交点Xに集光されたレーザー光Lは、反射ロッド18bの反射面Tにおいて全反射して光路を90°変更して対物レンズ20に入射する。レーザー光Lは、対物レンズ20によって再び集光されK2を光軸とする平行光線の光束となってサンプル32に照射される。上述した機構においては、光源から発せられた励起光がサンプル32に到達するまでの過程において、反射ロッド18bの反射面Tにおける乱反射等に起因する損失以外に励起光の光量を損失することがなく、所定のスポット範囲SAは、高密度のレーザー光Lによって均一に照射されることが可能となる。
In the microscopic
本発明の顕微蛍光観測装置10において、励起光は照射されるスポット範囲SAの面積と開口領域PAの面積との関係は、下記式に示す関係にあり、スポット範囲SAの面積は、開口部Pの開口領域PAの面積を調整することによって適宜設定することができる。下記式中、f1は、レーザー集光レンズ16の光源側焦点距離を示し、f4は、対物レンズ20の物体側焦点距離を示す。本発明の顕微蛍光観測装置10における像倍率は、f4/f1であり、スポット範囲SAと開口領域PAの面積比は、像倍率の二乗となる。
In the microscopic
図3は、本発明の顕微蛍光観測装置10の観測光学系の一部を拡大して示す図である。上述した励起光照射光学系によってレーザー光Lを均一に照射されたサンプル32は、励起した後、蛍光FLを発光する。蛍光FLは、対物レンズ20を透過した後、図示しない結像レンズによって集光され、図示しない撮像系にサンプル32の蛍光像を結像する。本発明においては、対物レンズ20と結像レンズとの間の光軸K2上に、折り返し反射部18が設置されている。折り返し反射部18の支持体18aは、フリントガラスなどに代表される透過性が高く、屈折率の低い材質によって形成されており、蛍光FLの大部分は、支持体18aを透過して結像レンズ28に入射することができる。一方、支持体18aには反射面Tが形成された反射ロッド18bが固着されており、その反射面Tが光軸K2に対し45°の角度をもって傾斜するように配置されているため、蛍光FLの一部は、矢印flが示すように反射ロッド18bによって光路を変更される結果、観測光学系は、観測光の光量の一部を損失する。すなわち、本発明の観測光学系においては、蛍光FLの光路上に存在する反射ロッド18bに起因する光量損失が発生する。
FIG. 3 is an enlarged view showing a part of the observation optical system of the microscopic
しかしながら、本発明の顕微蛍光観測装置10においては、その励起光に指向性が高く波長の揃った単色性のレーザー光Lを採用しており、さらにそのレンズ系は、球面収差が最小限に抑制されているため、上述した交点Xにおいて、レーザー光Lを非常に小さい回析限界となるサイズまでに集光することができる。したがって、反射面Tについても非常に小さく設計することが可能となり、反射面Tの表面積について最適化を図ることにより反射ロッド18bに起因する観測光の光量損失を低減することができる。本発明においては、観測光の光量損失を10%以下に低減することが可能となる。
However, in the microscopic
上述したように、本発明の顕微蛍光観測装置10の光学系全体における光量損失は、反射ロッド18bに起因する光量損失に限定されるため、従来のハーフミラーを用いた同軸落射顕微鏡に比較すると、光量損失が好適に低減される。
As described above, the light quantity loss in the entire optical system of the microscopic
図4は、本発明の顕微蛍光観測装置10の光学系における光路図を示す。なお、説明の便宜のため、図4(a)は、励起光照射光学系におけるレーザー光Lの光路のみを示し、図4(b)は、観測光学系における蛍光FLの光路のみを示す。図4(a)に示されるように、ピンホール形成部14の開口部Pを通過したレーザー光Lは、K1を光軸とする所定の断面積を有する光束となってレーザー集光レンズ16に入射した後、交点Xに集光する。交点Xに集光したレーザー光Lは、折り返し反射部18の反射ロッド18bの端面に形成された図示しない反射ミラーによって光路を90°変更されて拡散し、対物レンズ20に入射する。レーザー光Lは、対物レンズ20によって集光されて再びK2を光軸とする平行光線となり、サンプル32を照射する。
FIG. 4 shows an optical path diagram in the optical system of the microscopic
図4(b)に示されるように、サンプル32から発光された蛍光FLは、対物レンズ20を透過したのち、折り返し反射部18の透過性の支持体18aを透過し、干渉フィルター26によって所望の波長成分のみが選択的に透過された後、結像レンズ28によって集光され、撮像系30の撮像素子31に蛍光像を結像する。
As shown in FIG. 4B, the fluorescent light FL emitted from the
以下、本発明の顕微蛍光観測装置10について、実施例を用いてより具体的に説明を行なうが、本発明は、後述する実施例に限定されるものではない。図5は、3mm×3mmのサンプル32を、8mm×8mmの受光面を備える撮像素子31によって撮像する場合、すなわち、本発明の顕微蛍光観測装置10において、観測系像倍率が2.5倍の光学設計を示す図である。図5に示す顕微蛍光観測装置10においては、上述したのと共通する構成については同じ符合を付す。顕微蛍光観測装置10を構成する各部材のスペックについては下記表に示す。
Hereinafter, the microscopic
以上、説明したように、本発明によれば、励起光照射光学系と観測光学系がその光軸を共有しながら、励起光ならびに観測光の光量損失が低減された同軸落射型顕微蛍光観測装置が提供される。本発明の顕微蛍光観測装置10においては、従来型に比べて観測光の光量の増加が見込まれるため、DNAチップなどに代表される蛍光発光性のサンプルを充分な鮮明度をもって撮像することが可能になり、種々の解析精度の向上に資することが期待される。
As described above, according to the present invention, the coaxial epi-illumination micro-fluorescence observation apparatus in which the excitation light irradiation optical system and the observation optical system share the optical axis, and the light loss of the excitation light and the observation light is reduced. Is provided. In the microscopic
10…顕微蛍光観測装置、12…レーザー装置、14…ピンホール形成部、16…集光レンズ、18…折り返し反射部、18a…支持体、18b…反射ロッド、20…対物レンズ、22…レーザー切替光学系、24…ビームエクスパンダ、26…干渉フィルター、28…結像レンズ、30…撮像系、31…撮像素子、32…サンプル、34…補助照明、50…同軸落射顕微鏡、52…光源、54…照明レンズ、56…ハーフミラー、58…対物レンズ、60…サンプル、62…結像レンズ、64…撮像系
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記開口部が前記第1の光軸上であって前記励起光源と前記レーザー集光レンズとの間に配置され、
前記反射面が前記第1の光軸と前記第2の光軸の交点を含み、
前記レーザー集光レンズの物体側主点と前記交点の離間距離が、前記レーザー集光レンズの物体側焦点距離に等しく、
前記対物レンズの光源側主点と前記交点の離間距離が前記対物レンズの光源側焦点距離に等しい
同軸落射型顕微蛍光観測装置。 An excitation light source that generates laser light, a pinhole forming part in which an opening is formed, a laser condensing lens having a first optical axis, a folded reflection part having a reflecting surface, and a second optical axis A coaxial epi-fluorescence observation apparatus including an objective lens,
The opening is disposed on the first optical axis and between the excitation light source and the laser condenser lens;
The reflecting surface includes an intersection of the first optical axis and the second optical axis;
The distance between the object-side principal point of the laser condenser lens and the intersection is equal to the object-side focal length of the laser condenser lens,
A coaxial epi-illumination type microscopic fluorescence observation apparatus in which the distance between the principal point on the light source side of the objective lens and the intersection is equal to the focal length on the light source side of the objective lens.
請求項1に記載の同軸落射型顕微蛍光観測装置。 The distance between the intersection of the opening and the first optical axis and the light source side principal point of the laser condenser lens is equal to the light source side focal length of the laser condenser lens,
The coaxial epifluorescence observation apparatus according to claim 1.
請求項1または2のいずれか1項に記載の同軸落射型顕微蛍光観測装置。 The distance between the object side principal point of the objective lens and the irradiation surface of the laser light is equal to the object side focal length of the objective lens,
The coaxial epi-illumination microscopic fluorescence observation apparatus according to any one of claims 1 and 2.
請求項1〜3のいずれか1項に記載の同軸落射型顕微蛍光観測装置。 A beam expander is further provided between the excitation light source and the pinhole forming unit.
The coaxial epi-illumination microscopic fluorescence observation apparatus according to any one of claims 1 to 3.
請求項1〜4のいずれか1項に記載の同軸落射型顕微蛍光観測装置。
A laser switching optical system is further provided between the two or more excitation light sources and the pinhole forming unit;
The coaxial epi-illumination microscopic fluorescence observation apparatus according to any one of claims 1 to 4.
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JP (1) | JP2007271529A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016170860A1 (en) * | 2015-04-22 | 2016-10-27 | 株式会社ブイ・テクノロジー | Appearance inspection device |
JPWO2015005073A1 (en) * | 2013-07-11 | 2017-03-02 | 株式会社島津製作所 | Raman spectrometer |
CN106842529A (en) * | 2017-01-23 | 2017-06-13 | 清华大学 | Quick three-dimensional micro imaging system |
KR20220063767A (en) * | 2020-11-08 | 2022-05-18 | 단국대학교 산학협력단 | Light sheet fluorescence microscopy with multiple light sheets and its operating method |
JP7487298B2 (en) | 2019-10-24 | 2024-05-20 | サントル ナシオナル ドゥ ラ ルシェルシェ シアンティフィク | Apparatus for performing optical chemical measurements on liquid or liquid-containing samples - Patent Application 20070229633 |
-
2006
- 2006-03-31 JP JP2006099535A patent/JP2007271529A/en active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2015005073A1 (en) * | 2013-07-11 | 2017-03-02 | 株式会社島津製作所 | Raman spectrometer |
WO2016170860A1 (en) * | 2015-04-22 | 2016-10-27 | 株式会社ブイ・テクノロジー | Appearance inspection device |
JP2016206000A (en) * | 2015-04-22 | 2016-12-08 | 株式会社ブイ・テクノロジー | Appearance inspection device |
KR20170137723A (en) * | 2015-04-22 | 2017-12-13 | 가부시키가이샤 브이 테크놀로지 | Appearance inspection device |
CN107533015A (en) * | 2015-04-22 | 2018-01-02 | V科技股份有限公司 | Appearance inspection device |
CN107533015B (en) * | 2015-04-22 | 2020-10-30 | 株式会社V 技术 | Appearance inspection device |
KR102496099B1 (en) | 2015-04-22 | 2023-02-03 | 가부시키가이샤 브이 테크놀로지 | Appearance inspection device |
CN106842529A (en) * | 2017-01-23 | 2017-06-13 | 清华大学 | Quick three-dimensional micro imaging system |
CN106842529B (en) * | 2017-01-23 | 2019-03-01 | 清华大学 | Quick three-dimensional micro imaging system |
JP7487298B2 (en) | 2019-10-24 | 2024-05-20 | サントル ナシオナル ドゥ ラ ルシェルシェ シアンティフィク | Apparatus for performing optical chemical measurements on liquid or liquid-containing samples - Patent Application 20070229633 |
KR20220063767A (en) * | 2020-11-08 | 2022-05-18 | 단국대학교 산학협력단 | Light sheet fluorescence microscopy with multiple light sheets and its operating method |
KR102436051B1 (en) | 2020-11-08 | 2022-08-24 | 단국대학교 산학협력단 | Light sheet fluorescence microscopy with multiple light sheets and its operating method |
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