JP2007256132A - Inspection device and ptp-sheet manufacturing apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、ＰＴＰシートの製造に際し、検査対象の画像データに基づき外観検査を行う検査装置及び、当該検査装置を具備してなるＰＴＰシートの製造装置に関する。 The present invention relates to an inspection apparatus that performs an appearance inspection based on image data to be inspected when manufacturing a PTP sheet, and a PTP sheet manufacturing apparatus that includes the inspection apparatus.
一般に、ＰＴＰシートの製造過程にあっては、ポケット部に錠剤等が充填された後、ポケット部を密封するためのカバーフィルムの取着前や取着後に、カメラなどによって充填された錠剤等が撮像され、異物の混入等の異常が検査される。そして、異常判定されたＰＴＰシートは不良品として排出される。 In general, in the process of manufacturing a PTP sheet, after a tablet or the like is filled in a pocket portion, a tablet or the like filled with a camera or the like is attached before or after attachment of a cover film for sealing the pocket portion. An image is taken and inspected for abnormalities such as contamination. Then, the PTP sheet determined to be abnormal is discharged as a defective product.
このような外観検査において、錠剤表面の各部分を別の閾値で２値化することによって、より高精度な検査を可能とする技術も知られている（例えば、特許文献１参照）。
ところが、従来技術は、毛髪などの線状異物を検出するという点において、十分であるとは言えなかった。 However, the prior art has not been sufficient in terms of detecting linear foreign matters such as hair.
すなわち、細い線状異物を検出する場合、従来の撮影分解能では不十分であり、撮影分解能を高くすれば、検査装置のコストを増大させることになり、また、画像処理に要する時間が長くなってしまう。一方、上記２値化のための閾値によって調整する手法もあるが、細い線状異物を検出可能な閾値を設定すると、異物以外のノイズ成分などによっても不良品判定してしまうおそれがあり、良品錯誤率（良品を誤って不良品と判定してしまう確率）を増大させてしまうことが懸念される。 That is, when detecting a thin linear foreign object, the conventional imaging resolution is not sufficient, and increasing the imaging resolution increases the cost of the inspection apparatus, and also increases the time required for image processing. End up. On the other hand, there is a method of adjusting by the threshold value for binarization, but if a threshold value that can detect a thin linear foreign object is set, a defective product may be determined by noise components other than the foreign object. There is a concern that the error rate (probability that a non-defective product is erroneously determined as a defective product) is increased.
本発明は、上述した問題を解決するためになされたものであり、その目的は、線状異物の付着部位等、検査対象の不良箇所を適切に判定して検査対象を検査可能な検査装置、及び、当該検査装置を具備するＰＴＰシートの製造装置を提供することにある。 The present invention has been made in order to solve the above-described problem, and the purpose thereof is an inspection apparatus capable of appropriately inspecting a defective portion of an inspection target such as an attachment site of a linear foreign object and inspecting the inspection target, And it is providing the manufacturing apparatus of the PTP sheet | seat which comprises the said test | inspection apparatus.
以下、上記目的等を解決するのに適した各手段につき項分けして説明する。なお、必要に応じて対応する手段に特有の作用効果等を付記する。 In the following, each means suitable for solving the above-mentioned purpose will be described in terms of items. In addition, the effect etc. peculiar to the means to respond | correspond as needed are added.
手段１．検査対象を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段による撮像結果に基づく画像データを用い、前記検査対象の検査を行う検査装置において、
前記検査対象の不良箇所となり得る判定領域を前記画像データから相対的に高感度で特定するための第１閾値に基づき、前記判定領域としての第１領域を特定する第１領域特定手段と、
前記検査対象の不良箇所となり得る判定領域を前記画像データから相対的に低感度で特定するための第２閾値に基づき、前記判定領域としての第２領域を特定する第２領域特定手段と、
前記第１領域特定手段にて特定される前記第１領域の良／不良を、当該第１領域と前記第２領域特定手段にて特定される前記第２領域との包含関係に基づいて判定することにより、前記検査対象の検査を行う検査手段とを備えていることを特徴とする検査装置。
In the inspection apparatus for inspecting the inspection object using image data based on the imaging result by the imaging means,
A first area specifying means for specifying a first area as the determination area based on a first threshold for specifying a determination area that can be a defective portion of the inspection object with relatively high sensitivity from the image data;
A second area specifying means for specifying a second area as the determination area based on a second threshold value for specifying a determination area that can be a defective portion of the inspection object with relatively low sensitivity from the image data;
The quality of the first area specified by the first area specifying means is determined based on the inclusion relationship between the first area and the second area specified by the second area specifying means. By this, the inspection apparatus characterized by including the test | inspection means which test | inspects the said test object.
手段１では、検査対象を撮像し、その画像データから、第１閾値に基づいて判定領域としての第１領域を特定する。また、その画像データから、第２閾値に基づいて判定領域としての第２領域を特定する。具体的には、第１及び第２閾値でそれぞれ、画像データを二値化処理し、連結領域を抽出してラベリングするという具合である。もっとも、二値化を行うことは必須ではなく、例えば閾値を下回る（あるいは上回る）領域の画素のみを「０」とし、閾値を上回る（あるいは下回る）領域の画素については当初の画像データのまま（多値データのまま）として、連結領域を抽出するようにしてもよい。
In the
ここで、判定領域は、検査対象の不良箇所となり得る領域であり、例えば異物と予想される領域である。判定領域としての第１領域は、上記第１閾値によって画像データから相対的に高感度で特定される。また、判定領域としての第２領域は、上記第２閾値によって画像データから相対的に低感度で特定される。 Here, the determination area is an area that can be a defective part to be inspected, for example, an area that is expected to be a foreign object. The first region as the determination region is specified with relatively high sensitivity from the image data by the first threshold value. The second area as the determination area is specified with relatively low sensitivity from the image data by the second threshold value.
手段１によれば、相対的に高感度で特定される第１領域の良／不良が、第１領域と第２領域との包含関係に基づいて判定される。高感度で特定される第１領域の良／不良を判定すれば、例えば毛髪等の線状異物も異物として判定することができる。一方で、第１領域と第２領域との包含関係に基づけば、不良箇所である可能性の高い第１領域のみを判定の対象とすることができる。すなわち、低感度で特定される第２領域が第１領域に包含される場合は、当該第１領域が異物等の付着した不良箇所である可能性が高くなる。これにより、良品錯誤率の増大を抑制することができる。その結果、線状異物の付着部位等、検査対象の不良箇所を適切に判定して検査対象を検査することができる。
According to the
なお、第１領域と第２領域との包含関係の判断手法は特に限定されるものではない。通常は、第１領域の内部に第２領域が存在するか否かで判断することができる。もっとも、後述するように微分データを画像データとする場合、異物等の輪郭部分が強調されることにより、第１領域や第２領域が、ある領域の輪郭（の一部）として特定されることもあり得る。その場合には、輪郭の内部まで含めて包含関係を判断するようにしてもよいし、輪郭に外接あるいは内接する矩形領域等によって包含関係を判断するようにしてもよい。 Note that the method for determining the inclusion relationship between the first region and the second region is not particularly limited. Usually, it can be determined by whether or not the second area exists inside the first area. However, when differential data is used as image data, as will be described later, the first region and the second region are specified as (part of) the contour of a certain region by emphasizing the contour portion of a foreign substance or the like. There is also a possibility. In that case, the inclusion relationship may be determined including the inside of the contour, or the inclusion relationship may be determined by a circumscribed or inscribed rectangular region or the like.
手段２．検査対象を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段による撮像結果に基づく画像データを用い、前記検査対象の検査を行う検査装置において、
前記検査対象の不良箇所となり得る判定領域を前記画像データから相対的に高感度で特定するための第１閾値に基づき、前記判定領域としての第１領域を特定する第１領域特定手段と、
前記検査対象の不良箇所となり得る判定領域を前記画像データから相対的に低感度で特定するための第２閾値に基づき、前記判定領域としての第２領域を特定する第２領域特定手段と、
該第２領域特定手段にて特定される前記第２領域を包含する領域であって、前記第１領域特定手段にて特定される第１領域を、包含領域として特定する包含領域特定手段と、
該包含領域特定手段にて特定される前記包含領域の良／不良を判定することにより、前記検査対象の検査を行う検査手段とを備えていることを特徴とする検査装置。
Mean 2. An imaging means for imaging the inspection object;
In the inspection apparatus for inspecting the inspection object using image data based on the imaging result by the imaging means,
A first area specifying means for specifying a first area as the determination area based on a first threshold for specifying a determination area that can be a defective portion of the inspection object with relatively high sensitivity from the image data;
A second area specifying means for specifying a second area as the determination area based on a second threshold value for specifying a determination area that can be a defective portion of the inspection object with relatively low sensitivity from the image data;
An inclusion area specifying means for specifying the first area specified by the first area specifying means as an inclusion area, the area including the second area specified by the second area specifying means;
An inspection apparatus comprising: inspection means for inspecting the inspection object by determining whether the inclusion area specified by the inclusion area specifying means is good or defective.
上記手段１の構成には、例えば、全ての第１領域に基づく検査を行い、その後、当該検査結果の有効性を、上記包含関係があるか否かによって判断する構成も含まれる。
The configuration of the
これに対して、手段２によれば、第２領域を包含する第１領域（包含領域）が特定され、当該包含領域の良／不良を判定することにより検査が行われる。このようにすれば、第２領域と包含関係にない第１領域に対する判定処理が行われないため、検査後に包含関係を判断する上記構成と比べ、検査に要する時間を短縮することが可能となる。
On the other hand, according to the
もちろん、手段２の構成によっても、上記手段１と同様の効果が奏される。
Of course, the same effects as the above-described means 1 can be obtained by the configuration of the
手段３．手段２に記載の検査装置において、
前記第２領域特定手段にて特定される前記第２領域が前記判定領域として妥当か否かを判定する妥当性判定手段を備え、
前記包含領域特定手段は、前記妥当性判定手段にて妥当であると判定された第２領域に対し、前記包含領域を特定することを特徴とする検査装置。
Means 3. In the inspection apparatus according to
A validity determination means for determining whether the second area specified by the second area specifying means is appropriate as the determination area;
The inspection apparatus characterized in that the inclusion area specifying means specifies the inclusion area with respect to a second area determined to be appropriate by the validity determination means.
低感度で特定される第２領域にも、不良箇所ではない領域、例えば画像データのノイズによる領域等が含まれるおそれがある。この点、手段３によれば、第２領域が上記判定領域として妥当か否かが判定される。例えば、所定の判定値よりも小さな面積値の第２領域を判定領域から除外するという具合である。そして、判定領域として妥当であると判定された第２領域に対して、包含領域が特定される。これにより、包含領域の特定処理及び包含領域に対する判定処理が削減されるため、検査に要する時間を短縮することができる。
The second area specified with low sensitivity may include an area that is not a defective part, for example, an area caused by noise in image data. In this regard, according to the
手段４．手段３に記載の検査装置において、
前記妥当性判定手段は、前記妥当性の判定を、前記第２領域の面積値の判定値との比較及び前記第２領域の周囲長の判定値との比較のうち少なくとも一方に基づいて行うことを特徴とする検査装置。
Means 4. In the inspection apparatus according to
The validity determination means performs the validity determination based on at least one of a comparison with a determination value of an area value of the second region and a determination value of a peripheral length of the second region. Inspection device characterized by
手段４によれば、上記妥当性の判定が第２領域の面積値や周囲長の判定値との比較に基づいて行われるため、比較的簡単な判定処理によって妥当性を判定することができる。
According to the
手段５．手段２乃至４のいずれかに記載の検査装置において、
前記検査手段は、最初に前記第２領域の良／不良を判定し、当該第２領域の良／不良が判定できない場合に、前記包含領域の良／不良を判定することにより、前記検査対象の検査を行うことを特徴とする検査装置。
The inspection means first determines the quality of the second area, and when the quality of the second area cannot be determined, the quality of the inclusion area is determined to determine the quality of the inspection target. An inspection apparatus characterized by performing an inspection.
第２領域は画像データから相対的に低感度で特定されるのであるが、この第２領域が例えば十分な面積値や周囲長を有している場合には、第１領域（包含領域）に対する判定処理を行うまでもなく、第２領域が不良（例えば異物）であるとの判定が可能となる。そこで、手段５では、最初に第２領域の良／不良を判定し、当該第２領域の良／不良が判定できない場合に、包含領域の良／不良を判定するようにした。このようにすれば、包含領域に対する判定処理を削減することができ、検査に要する時間を短縮することができる。
The second area is specified with relatively low sensitivity from the image data. If this second area has a sufficient area value or perimeter, for example, the second area is included in the first area (inclusion area). It is possible to determine that the second area is defective (for example, a foreign object) without performing the determination process. Therefore, the
手段６．手段５に記載の検査装置において、
前記包含領域特定手段は、前記検査手段にて前記第２領域の良／不良が判定できない場合に、当該第２領域を包含する前記包含領域を特定することを特徴とする検査装置。
The inclusive area specifying means specifies the inclusive area including the second area when the inspection means cannot determine whether the second area is good or bad.
手段６によれば、第２領域の良／不良が判定できない場合にだけ包含領域を特定するため、包含領域の特定処理を削減することができる。これにより、検査に要する時間を短縮することができる。
According to the
手段７．手段１乃至６のいずれかに記載の検査装置において、
前記検査手段は、前記良／不良の判定を、対象となる領域の面積値の判定値との比較及び対象となる領域の周囲長の判定値との比較のうち少なくとも一方に基づいて行うことを特徴とする検査装置。
Mean 7 In the inspection apparatus according to any one of
The inspection means performs the determination of good / bad based on at least one of a comparison with a determination value of an area value of a target region and a determination value of a peripheral length of the target region. Characteristic inspection device.
手段７によれば、上記良／不良の判定が領域の面積値や周囲長の判定値との比較に基づいて行われるため、比較的簡単な判定処理によって検査を行うことができる。
According to the
手段８．手段１乃至６のいずれかに記載の検査装置において、
前記検査手段は、前記良／不良の判定を、対象となる領域の周囲長の判定値との比較に基づいて行うことを特徴とする検査装置。
Means 8. In the inspection apparatus according to any one of
The inspection apparatus according to
手段８によれば、上記良／不良の判定が領域の周囲長の判定値との比較に基づいて行われるため、面積値が相対的に小さくなる傾向にある例えば毛髪等の線状異物の場合に有効である。 According to the means 8, since the determination of good / bad is made based on the comparison with the determination value of the peripheral length of the region, the area value tends to be relatively small, for example, in the case of a linear foreign object such as hair It is effective for.
手段９．手段１乃至８のいずれかに記載の検査装置において、
前記画像データは、前記撮像結果として前記検査対象の濃淡を示す輝度データ、又は、前記輝度データを微分処理して得られる微分データであることを特徴とする検査装置。
Means 9. In the inspection apparatus according to any one of
2. The inspection apparatus according to
手段９に示すように、上記画像データの一例に、撮像結果として検査対象の濃淡を示す輝度データ、又は、撮像結果を微分処理して得られる微分データが挙げられる。ここで特に微分データは、輝度データの局所的な輝度変化を示すものとなるため、例えば輝度データに基づく画像に撮像条件による明暗（影等）が生じている場合にも、当該明暗に左右されにくい。したがって、微分データを用いると、画像の補正処理等を省略できるという点で、有利である。 As shown in the means 9, examples of the image data include luminance data indicating the density of the inspection target as the imaging result, or differential data obtained by differentiating the imaging result. Here, the differential data particularly indicates a local luminance change of the luminance data. Therefore, for example, even when light and darkness (such as a shadow) due to the imaging condition is generated in the image based on the luminance data, it depends on the light and darkness. Hateful. Therefore, using differential data is advantageous in that image correction processing and the like can be omitted.
以上は、検査装置の発明として説明してきたが、次に示すように、ＰＴＰシートの製造装置の発明として実現することもできる。 Although the above has been described as an invention of an inspection apparatus, as described below, it can also be realized as an invention of a PTP sheet manufacturing apparatus.
手段１０．手段１乃至９のいずれかに記載の検査装置を具備してなるＰＴＰシートの製造装置。
このようなＰＴＰシートの製造装置においても、上述した検査装置と同様の効果が奏される。 In such a PTP sheet manufacturing apparatus, the same effect as the above-described inspection apparatus can be obtained.
以下、一実施形態について、図面を参照しつつ説明する。 Hereinafter, an embodiment will be described with reference to the drawings.
まず、図１に基づいて、検査対象としてのＰＴＰシート１について説明する。ＰＴＰシート１は、複数のポケット部２の形成された包装用フィルム３と、ポケット部２を塞ぐようにして包装用フィルム３に取着されたアルミニウム製のカバーフィルム４とを有している。そして、各ポケット部２には、錠剤５が１つずつ収容されている。本実施形態では、ＰＴＰシート１は、帯状の包装用フィルム３及びカバーフィルム４から形成された帯状のＰＴＰフィルム６が打ち抜かれることで、シート状に製造される。
First, a
上記のように構成されてなるＰＴＰシート１は、図２に示すようなＰＴＰ包装機１１で製造され、該ＰＴＰ包装機１１内に設けられた検査装置１２によって外観検査が実施されるようになっている。
The
図２に示すＰＴＰ包装機１１には、最上流側に、ロール状に巻回された包装用フィルム３が配置されている。包装用フィルム３には、ＰＰ（ポリプロピレン）、ＰＶＣ（ポリ塩化ビニル）等の光透過性を有する（ここでは透明性を有する）熱可塑性樹脂材料が採用されている。包装用フィルム３は、間欠的に搬送されるようになっており、包装用フィルム３の搬送経路に沿って、加熱手段１４とポケット成形手段１５とが順に配設されている。これら加熱手段１４及びポケット成形手段１５によって、ポケット部２が成形される。そして、ポケット部２が形成された包装用フィルム３の移送経路に沿って、錠剤投入装置１６、フィルム受けロール１７が配設されている。錠剤投入装置１６へと到達した包装用フィルム３の各ポケット部２には、該錠剤投入装置１６によって、錠剤５が充填される。
In the
一方、ロール状に巻回されたカバーフィルム４の引出し端は、前記フィルム受けロール１７の方へと案内されている。フィルム受けロール１７には、加熱ロール１８が圧接可能となっており、両ロール１７，１８間を加熱圧接状態で通過することで、包装用フィルム３にカバーフィルム４が貼着されるようになっている。これにより、錠剤５が各ポケット部２に充填されたＰＴＰフィルム６が製造される。かかるＰＴＰフィルム６はその後図示しない打抜装置によってＰＴＰシート１単位に裁断される。
On the other hand, the drawing end of the
このようなＰＴＰシート１の製造過程において、錠剤５が各ポケット部２に充填されたＰＴＰフィルム６を検査するための構成が、検査装置１２である。
In the manufacturing process of the
次に、検査装置１２について説明する。図２に示すように、検査装置１２は、照明装置２１、「撮像手段」としてのカメラ２２、処理実行装置２３などで構成される。
Next, the
照明装置２１は、撮像のための撮像光を照射するものである。カメラ２２は、照明装置２１から照射される撮像光の反射光に基づいて撮像を行うものである。カメラ２２は、ＰＴＰ包装機１１に設けられた図示しないエンコーダからの信号に基づいてＰＴＰフィルム６が所定量送られるごとに撮像を行うようになっている。ここで、カメラ２２と照明装置２１との関係について説明する。図３に示すように、カメラ２２と照明装置２１とは、ＰＴＰフィルム６のポケット部２側に配置されている。そして、照明装置２１から照射される撮像光が、包装用フィルム３越しに錠剤５及びカバーフィルム４を照らし、錠剤５及びカバーフィルム４からの反射光により、カメラ２２は二次元でＰＴＰフィルム６を撮像する。処理実行装置２３は、いわゆるコンピュータシステムとして構成されており、画像処理等の各種処理を実行可能となっている。
The
次に、処理実行装置２３の構成について説明する。図４に示すように、処理実行装置２３は、撮像記憶部３１、二値化処理部３２、二値化画像記憶部３３、判定値記憶部３４、検査結果記憶部３５、入出力ポート３６、及び、中央処理装置（以下、ＣＰＵという）３７を備えている。前記記憶部及び処理部３１〜３５は、入出力ポート３６を介して、ＣＰＵ３７に接続されている。
Next, the configuration of the
撮像記憶部３１は、カメラ２２から出力される撮像結果としての輝度データを記憶するためのものである。本実施形態において、この輝度データが「画像データ」に相当する。二値化処理部３２は、前記輝度データに基づき、後述する第１及び第２の閾値Ｌ１，Ｌ２によって、２つの二値化画像を生成する機能を有する。
The imaging storage unit 31 is for storing luminance data as an imaging result output from the
二値化画像記憶部３３は、二値化処理部３２にて生成された二値化画像を記憶するためのものである。また、判定値記憶部３４は、検査に用いられる判定値を記憶するためのものである。検査結果記憶部３５は、検査結果等を記憶するためのものである。
The binarized
ＣＰＵ３７は、処理実行装置２３の全体の制御を司り、各種処理プログラムを実行することにより、入出力ポート３６を介して、記憶部及び処理部３１〜３５を制御する。またこのＣＰＵ３７には、入出力ポート３６を介して、ＰＴＰ包装機１１が接続されている。かかる構成により、例えば、ＰＴＰ包装機１１の不良シート排出機構などを制御することができるようになっている。
The CPU 37 controls the entire
次に、ＣＰＵ３７によって実行される検査処理を、図５及び図６のフローチャートに基づき説明する。 Next, the inspection process executed by the CPU 37 will be described based on the flowcharts of FIGS.
最初のステップ（以下、ステップを単に記号Ｓで示す）１０において、二値化処理を行う。この処理は、図４中の撮像記憶部３１に記憶された輝度データを、２つの閾値Ｌ１，Ｌ２で二値化し、各閾値Ｌ１，Ｌ２に対応する２つの二値化画像（以下、「Ｌ１画像」、「Ｌ２画像」とも記述する）を生成するものである。本実施形態における閾値Ｌ１は、異物の可能性が高い領域を相対的に高感度で特定するための閾値である。一方、閾値Ｌ２は、異物の可能性が高い領域を相対的に低感度で特定するための閾値である。なお、生成された二値化画像は、図４中の二値化画像記憶部３３に記憶される。
In the first step (hereinafter, the step is simply indicated by symbol S) 10, binarization processing is performed. This process binarizes the luminance data stored in the imaging storage unit 31 in FIG. 4 with two threshold values L1 and L2, and two binarized images corresponding to the threshold values L1 and L2 (hereinafter referred to as “L1”). Image "and" L2 image "). The threshold value L1 in the present embodiment is a threshold value for specifying a region having a high possibility of a foreign substance with relatively high sensitivity. On the other hand, the threshold value L2 is a threshold value for specifying a region having a high possibility of a foreign substance with relatively low sensitivity. The generated binarized image is stored in the binarized
続くＳ２０では、二値化画像記憶部３３に記憶された二値化画像に対する塊処理を行う。塊処理は、二値化画像から連結領域を抽出する処理と、当該抽出された連結領域に対するラベリングを行う処理とからなる。この塊処理によって、上記各二値化画像ごとに、連結領域が特定される。なお、Ｌ１画像からＭ個（Ｍは自然数）の連結領域が特定されたものとし、これらＭ個の連結領域をＬ１（０），Ｌ１（１），Ｌ１（２），・・・，Ｌ１（Ｍ−１）と記述する。また、Ｌ２画像からＮ個（Ｎは自然数）の連結領域が特定されたものとし、これらＮ個の連結領域をＬ２（０），Ｌ２（１），Ｌ２（２），・・・，Ｌ２（Ｎ−１）と記述する。本実施形態におけるＬ１（０）〜Ｌ１（Ｍ−１）の各連結領域が「第１領域」に相当し、Ｌ２（０）〜Ｌ２（Ｎ−１）の各連結領域が「第２領域」に相当する。
In subsequent S20, a block process is performed on the binarized image stored in the binarized
次のＳ３０では、異物判定処理を行う。この異物判定処理は、上記連結領域を用いて異物判定を行うものである。異物判定の結果は判定フラグＦに反映されるようになっており、当初は「０」とされる判定フラグＦが、異物であるとの判定により「１」にセットされる。なお、この異物判定処理については、後に詳述する。 In the next S30, foreign matter determination processing is performed. In this foreign matter determination process, foreign matter determination is performed using the connected region. The result of the foreign object determination is reflected in the determination flag F, and the determination flag F initially set to “0” is set to “1” by determining that it is a foreign object. This foreign matter determination process will be described in detail later.
続くＳ４０では、判定フラグＦが「１」であるか否かが判断される。ここでＦ＝１と判断された場合（Ｓ４０：ＹＥＳ）、Ｓ５０にて不良品との判定を行い、本検査処理を終了する。一方、Ｆ≠１（Ｆ＝０）である場合（Ｓ４０：ＮＯ）、Ｓ６０にて良品との判定を行い、本検査処理を終了する。 In subsequent S40, it is determined whether or not the determination flag F is “1”. If it is determined that F = 1 (S40: YES), it is determined as a defective product in S50, and this inspection process is terminated. On the other hand, if F ≠ 1 (F = 0) (S40: NO), it is determined as a non-defective product in S60, and the present inspection process is terminated.
ここで図５中のＳ３０にて実行される異物判定処理について詳述する。図６は、異物判定処理を示すフローチャートである。 Here, the foreign object determination process executed in S30 of FIG. 5 will be described in detail. FIG. 6 is a flowchart showing the foreign matter determination process.
最初のＳ３００において、変数ｘに「０」を代入する。また、判定フラグＦを「０」としてリセットする。 In the first S300, “0” is substituted into the variable x. Further, the determination flag F is reset to “0”.
続くＳ３１０では、連結領域Ｌ２（ｘ）の面積値が判定値Ｐ以上であるか否かを判定する。この判定処理は、判定値Ｐを下回る面積値の連結領域Ｌ２（ｘ）を検査から除外するためのものである。つまり、低感度のＬ２画像に含まれるノイズ成分を検査から除外するのである。ここで、連結領域Ｌ２（ｘ）の面積値≧Ｐである場合（Ｓ３１０：ＹＥＳ）、Ｓ３２０へ移行する。一方、連結領域Ｌ２（ｘ）の面積値＜Ｐである場合（Ｓ３１０：ＮＯ）、Ｓ３７０へ移行する。 In continuing S310, it is determined whether the area value of the connection area | region L2 (x) is more than the determination value P. FIG. This determination process is for excluding the connected region L2 (x) having an area value lower than the determination value P from the inspection. That is, the noise component included in the low-sensitivity L2 image is excluded from the inspection. Here, when the area value of the connection region L2 (x) ≧ P (S310: YES), the process proceeds to S320. On the other hand, when the area value of the connection region L2 (x) <P (S310: NO), the process proceeds to S370.
Ｓ３２０では、連結領域Ｌ２（ｘ）の周囲長が判定値Ｓ２以上であるか否かを判定する。この判定処理は、判定値Ｓ２以上の周囲長を有する連結領域Ｌ２（ｘ）を異物と判定するためのものである。つまり、低感度で特定される連結領域Ｌ２（ｘ）が判定値Ｓ２以上の周囲長を有する場合、高感度のＬ１画像を考慮せず、即時に異物と判定するのである。ここで、連結領域Ｌ２（ｘ）の周囲長≧Ｓ２である場合（Ｓ３２０：ＹＥＳ）、Ｓ３３０にてＬ２（ｘ）を異物と判定し、判定フラグＦを「１」にセットして、Ｓ３７０へ移行する。一方、連結領域Ｌ２（ｘ）の周囲長＜Ｓ２である場合（Ｓ３２０：ＮＯ）、Ｓ３４０へ移行する。 In S320, it is determined whether or not the peripheral length of the connected region L2 (x) is equal to or greater than the determination value S2. This determination process is for determining the connected region L2 (x) having a perimeter greater than or equal to the determination value S2 as a foreign object. That is, when the connected region L2 (x) specified with low sensitivity has a perimeter greater than or equal to the determination value S2, it is immediately determined as a foreign object without considering the high-sensitivity L1 image. Here, if the perimeter of the connected region L2 (x) ≧ S2 (S320: YES), L2 (x) is determined to be a foreign object in S330, the determination flag F is set to “1”, and the process proceeds to S370. Transition. On the other hand, when the perimeter of the connected region L2 (x) <S2 (S320: NO), the process proceeds to S340.
Ｓ３４０では、連結領域Ｌ２（ｘ）を包含する連結領域Ｌ１（ｙ）を抽出する。そして、Ｓ３５０にて、連結領域Ｌ１（ｙ）の周囲長が、判定値Ｓ１以上であるか否かを判断する。つまり、低感度で特定された連結領域Ｌ２（ｘ）の周囲長だけでは異物とまでは判断できない場合に、連結領域Ｌ２（ｘ）を包含する連結領域Ｌ１（ｙ）を抽出し、高感度で特定された連結領域Ｌ１（ｙ）の周囲長を用いて異物判定を行うのである。 In S340, the connected area L1 (y) including the connected area L2 (x) is extracted. In S350, it is determined whether or not the peripheral length of the connected region L1 (y) is equal to or greater than the determination value S1. That is, when it is impossible to determine even a foreign object only by the perimeter of the connection area L2 (x) specified with low sensitivity, the connection area L1 (y) including the connection area L2 (x) is extracted, and high sensitivity is obtained. Foreign matter determination is performed using the perimeter of the identified connected region L1 (y).
連結領域Ｌ１（ｙ）の周囲長≧Ｓ１である場合（Ｓ３５０：ＹＥＳ）、Ｓ３６０にてＬ１（ｙ）を異物と判定し、判定フラグＦを「１」にセットして、Ｓ３７０へ移行する。一方、連結領域Ｌ１（ｙ）の周囲長＜Ｓ１である場合（Ｓ３５０：ＮＯ）、Ｓ３６０の処理を実行せず、Ｓ３７０へ移行する。 When the perimeter of the connected region L1 (y) ≧ S1 (S350: YES), L1 (y) is determined as a foreign object in S360, the determination flag F is set to “1”, and the process proceeds to S370. On the other hand, if the perimeter of the connected region L1 (y) <S1 (S350: NO), the process of S360 is not executed and the process proceeds to S370.
Ｓ３７０では、変数ｘをインクリメントし、続くＳ３８０にて、変数ｘが定数Ｎに等しいか否か、すなわち、Ｌ２（０）〜Ｌ２（Ｎ−１）まで全ての連結領域について処理したか否かを判断する。ここでｘ＝Ｎである場合（Ｓ３８０：ＹＥＳ）、すなわち全ての連結領域について処理したと判断された場合は、本異物判定処理を終了する。一方、ｘ≠Ｎである場合（Ｓ３８０：ＮＯ）、すなわち処理していない連結領域があるうちは、Ｓ３１０からの処理を繰り返す。 In S370, the variable x is incremented, and in subsequent S380, whether or not the variable x is equal to the constant N, that is, whether or not all connected regions from L2 (0) to L2 (N-1) have been processed. to decide. If x = N (S380: YES), that is, if it is determined that all connected regions have been processed, the foreign matter determination process is terminated. On the other hand, when x ≠ N (S380: NO), that is, as long as there is an unprocessed connected region, the processing from S310 is repeated.
以上が検査処理の流れであるが、ここで上記検査処理に対する理解を容易にするため、図７及び図８に基づき、具体的な説明を加える。図７（ａ）は、錠剤５の撮像画像５１を示す模式図であり、図７（ｂ）は、図７（ａ）中に記号Ｘで示す部分における輝度分布を示す模式図である。なお、図７（ａ）には、線状異物を記号Ｉで示している。
The above is the flow of the inspection process. Here, in order to facilitate understanding of the inspection process, a specific description will be added based on FIGS. Fig.7 (a) is a schematic diagram which shows the captured image 51 of the
本実施形態では、上述したように、異物の可能性が高い領域を相対的に高感度で特定するための閾値Ｌ１、及び、異物の可能性が高い領域を相対的に低感度で特定するための閾値Ｌ２が設定される。すなわち、錠剤５の表面輝度に近い基準の値（基準値）に対し、閾値Ｌ１が近い側に、閾値Ｌ２が遠い側に設定される（図７（ｂ）参照）。 In the present embodiment, as described above, the threshold L1 for specifying a region having a high possibility of foreign matter with relatively high sensitivity and a region having a high possibility of foreign matter are specified with relatively low sensitivity. The threshold value L2 is set. That is, the threshold value L1 is set to the near side and the threshold value L2 is set to the far side with respect to the reference value (reference value) close to the surface luminance of the tablet 5 (see FIG. 7B).
上記検査処理では、これらの閾値Ｌ１，Ｌ２による二値化処理が行われる（図５中のＳ１０）。図８（ａ）は、閾値Ｌ２による二値化処理で生成されたＬ２画像を示す模式図であり、図８（ｂ）は、閾値Ｌ１による二値化処理で生成されたＬ１画像を示す模式図である。また、図８（ｃ）は、領域の包含関係を示すために便宜的に両画像を重ねて示したものである。 In the inspection process, a binarization process using these threshold values L1 and L2 is performed (S10 in FIG. 5). FIG. 8A is a schematic diagram showing an L2 image generated by binarization processing using the threshold L2, and FIG. 8B is a schematic diagram showing an L1 image generated by binarization processing using the threshold L1. FIG. Further, FIG. 8C shows both images superimposed for convenience in order to show the inclusion relation of the regions.
これらの二値化画像に対して塊処理を行うことで（図５中のＳ２０）、Ｌ２画像における連結領域Ｌ２（０）〜Ｌ２（３）が特定される（図８（ａ）参照）。また、Ｌ１画像における連結領域Ｌ１（０）〜Ｌ１（２）が特定される（図８（ｂ）参照）。 By performing the lump processing on these binarized images (S20 in FIG. 5), the connected regions L2 (0) to L2 (3) in the L2 image are specified (see FIG. 8A). In addition, connected regions L1 (0) to L1 (2) in the L1 image are specified (see FIG. 8B).
異物判定処理では、最初に、Ｌ２画像における連結領域Ｌ２（ｘ）に基づく判定が行われる。ここで最初に判定対象となる連結領域Ｌ２（０）の面積値が判定値Ｐを下回っていると仮定すれば、連結領域Ｌ２（０）は、Ｌ２画像におけるノイズ成分として、判定対象から除外される（図６中のＳ３１０：ＮＯ）。 In the foreign matter determination process, first, determination based on the connected region L2 (x) in the L2 image is performed. Assuming that the area value of the connected region L2 (0) to be determined first is below the determination value P, the connected region L2 (0) is excluded from the determination target as a noise component in the L2 image. (S310 in FIG. 6: NO).
次に、変数ｘがインクリメントされて（図６中のＳ３７０，Ｓ３８０：ＮＯ）、連結領域Ｌ２（１）が判定対象とされる。連結領域Ｌ２（１）の面積値が判定値Ｐ以上であり、かつ、周囲長が判定値Ｓ２を下回っていると仮定すれば、連結領域Ｌ２（１）を包含する連結領域Ｌ１（ｙ）が抽出される（Ｓ３１０：ＹＥＳ，Ｓ３２０：ＮＯ，Ｓ３４０）。つまり、Ｌ２画像における連結領域Ｌ２（ｘ）が異物であると判定できない場合に、Ｌ１画像における連結領域Ｌ１（ｙ）を利用するのである。この例でいえば、図８（ｃ）から分かるように、連結領域Ｌ２（１）を包含する連結領域Ｌ１（２）が抽出される。そして、連結領域Ｌ１（２）の周囲長が判定値Ｓ１以上であると仮定すれば、連結領域Ｌ１（２）が異物と判定され（Ｓ３５０：ＹＥＳ）、判定フラグＦがセットされて「１」となる（Ｓ３６０）。 Next, the variable x is incremented (S370, S380: NO in FIG. 6), and the connected region L2 (1) is determined as a determination target. Assuming that the area value of the connection region L2 (1) is equal to or greater than the determination value P and the perimeter is less than the determination value S2, the connection region L1 (y) including the connection region L2 (1) is obtained. Extracted (S310: YES, S320: NO, S340). That is, when it is not possible to determine that the connection area L2 (x) in the L2 image is a foreign object, the connection area L1 (y) in the L1 image is used. In this example, as can be seen from FIG. 8C, the connected region L1 (2) including the connected region L2 (1) is extracted. If it is assumed that the perimeter of the connection area L1 (2) is equal to or greater than the determination value S1, the connection area L1 (2) is determined to be a foreign object (S350: YES), and the determination flag F is set to “1”. (S360).
同様に、変数ｘがインクリメントされて（図６中のＳ３７０，Ｓ３８０：ＮＯ）、連結領域Ｌ２（２），Ｌ２（３）が順に判定対象とされる。連結領域Ｌ２（２），Ｌ２（３）においても、面積値が判定値Ｐ以上であり、かつ、周囲長が判定値Ｓ２を下回っていると仮定すれば、連結領域Ｌ２（１）を包含する連結領域Ｌ１（２）が抽出され（Ｓ３４０）、Ｌ１（２）が異物と判定されて判定フラグＦが「１」にセットされる（Ｓ３５０：ＹＥＳ，Ｓ３６０）。 Similarly, the variable x is incremented (S370 and S380 in FIG. 6: NO), and the connected regions L2 (2) and L2 (3) are sequentially determined. Even in the connected regions L2 (2) and L2 (3), assuming that the area value is equal to or greater than the determination value P and the perimeter is less than the determination value S2, the connection region L2 (1) is included. The connected area L1 (2) is extracted (S340), L1 (2) is determined to be a foreign object, and the determination flag F is set to “1” (S350: YES, S360).
ここで、図８（ｂ）のＬ１画像における連結領域Ｌ１（０），Ｌ１（１）は、Ｌ２画像における連結領域を包含する関係にないため、当初から異物判定の対象となることはない。すなわち、連結領域Ｌ１（０），Ｌ１（１）は、Ｌ１画像におけるノイズ成分として判定対象から除外されることになる。 Here, since the connected areas L1 (0) and L1 (1) in the L1 image in FIG. 8B do not include the connected areas in the L2 image, they are not subject to foreign object determination from the beginning. That is, the connected regions L1 (0) and L1 (1) are excluded from the determination targets as noise components in the L1 image.
なお、本実施形態において、図４中の二値化処理部３２及びＣＰＵ３７が「第１領域特定手段」及び「第２領域特定手段」を構成し、図５中のＳ１０及びＳ２０の処理が第１領域特定手段及び第２領域特定手段としての処理に相当する。また、ＣＰＵ３７は「妥当性判定手段」、「包含領域特定手段」及び「検査手段」をも構成し、図６中のＳ３１０の処理が妥当性判定手段としての処理に相当し、Ｓ３４０の処理が包含領域特定手段としての処理に相当し、Ｓ３２０及びＳ３５０の処理が検査手段としての処理に相当する。
In the present embodiment, the
以上詳述したように、本実施形態では、異物の可能性が高い領域を相対的に高感度で特定するための閾値Ｌ１、及び、異物の可能性が高い領域を相対的に低感度で特定するための閾値Ｌ２のそれぞれで輝度データが二値化され、２つの二値化画像が生成される（図５中のＳ１０）。次に、一方の二値化画像（Ｌ１画像）から、Ｍ個の連結領域Ｌ１（０）〜Ｌ１（Ｍ−１）が特定される。また、他方の二値化画像（Ｌ２画像）から、Ｎ個の連結領域Ｌ２（０）〜Ｌ２（Ｎ−１）が特定される（Ｓ２０）。そして、連結領域Ｌ２（ｘ）を包含する連結領域Ｌ１（ｙ）が抽出され、連結領域Ｌ１（ｙ）の周囲長に基づいて、連結領域Ｌ１（ｙ）の異物判定が行われる（図６中のＳ３４０〜Ｓ３６０）。このように、高感度で特定される連結領域Ｌ１（ｙ）に基づく異物判定が行われるため、例えば毛髪等の線状異物等の異物も判定することができる。一方で、異物判定が行われる連結領域Ｌ１（ｙ）は低感度で特定される連結領域Ｌ２を包含するものとなっており、連結領域Ｌ２（ｘ）と包含関係にない連結領域Ｌ１（ｙ）は異物判定の対象とならない。したがって、Ｌ１画像におけるノイズ成分を検査から除外することができ、良品錯誤率の増大を抑制することができる。その結果、線状異物の付着部位等、錠剤５の不良箇所を適切に判定して検査対象を検査することができる。
As described above in detail, in the present embodiment, the threshold L1 for specifying a region having a high possibility of foreign matter with relatively high sensitivity and a region having a high possibility of foreign matter are specified with relatively low sensitivity. The luminance data is binarized at each of the threshold values L2 to generate two binarized images (S10 in FIG. 5). Next, M connected regions L1 (0) to L1 (M-1) are specified from one binarized image (L1 image). Further, N connected regions L2 (0) to L2 (N-1) are specified from the other binarized image (L2 image) (S20). Then, a connected region L1 (y) including the connected region L2 (x) is extracted, and foreign matter determination of the connected region L1 (y) is performed based on the perimeter of the connected region L1 (y) (in FIG. 6). S340 to S360). In this way, since foreign matter determination based on the connection region L1 (y) specified with high sensitivity is performed, foreign matter such as linear foreign matter such as hair can also be determined. On the other hand, the connected region L1 (y) in which the foreign object determination is performed includes the connected region L2 specified with low sensitivity, and the connected region L1 (y) that is not included in the connected region L2 (x). Is not subject to foreign object determination. Therefore, noise components in the L1 image can be excluded from the inspection, and an increase in the non-defective product error rate can be suppressed. As a result, the inspection target can be inspected by appropriately determining the defective part of the
また、本実施形態では、上述したように異物判定が行われる連結領域Ｌ１（ｙ）は低感度で特定される連結領域Ｌ２を包含するものだけであり、連結領域Ｌ２（ｘ）と包含関係にない連結領域Ｌ１（ｙ）についての判定は行われない。これにより、連結領域Ｌ１（ｙ）の全てについて判定を行い、その後、当該判定の有効性を連結領域Ｌ２（ｘ）との包含関係で判断する構成と比べ、検査に要する時間を短縮することが可能となる。 Further, in the present embodiment, as described above, the connected region L1 (y) where the foreign object determination is performed includes only the connected region L2 specified with low sensitivity, and the connected region L2 (x) is in an inclusive relationship. The determination is not performed for the unconnected region L1 (y). Thereby, it is possible to reduce the time required for the inspection as compared with the configuration in which determination is performed for all of the connected regions L1 (y), and then the effectiveness of the determination is determined based on the inclusion relationship with the connected regions L2 (x). It becomes possible.
さらにまた、本実施形態では、低感度で特定される連結領域Ｌ２（ｘ）の妥当性が判定されている。すなわち、連結領域Ｌ２（ｘ）の面積値が判定値Ｐ以上であるか否かを判断することにより、判定値Ｐを下回る面積値の連結領域Ｌ２（ｘ）を異物判定から除外している（図６中のＳ３１０：ＮＯ）。また、連結領域Ｌ２（ｘ）の周囲長が判定値Ｓ２以上であるか否かを判断することにより、低感度で特定される連結領域Ｌ２（ｘ）が判定値Ｓ２以上の周囲長を有する場合、高感度のＬ１画像を考慮せず、連結領域Ｌ２（ｘ）を即時に異物と判定している（Ｓ３２０，Ｓ３３０）。そして、これらの場合には、連結領域Ｌ１（ｙ）の特定処理及び連結領域Ｌ１（ｙ）に対する判定処理が行われない。この点においても、検査時間の短縮に寄与する。 Furthermore, in this embodiment, the validity of the connection region L2 (x) specified with low sensitivity is determined. That is, by determining whether or not the area value of the connection region L2 (x) is equal to or greater than the determination value P, the connection region L2 (x) having an area value lower than the determination value P is excluded from the foreign object determination ( S310 in FIG. 6: NO). In addition, when it is determined whether or not the perimeter of the connected region L2 (x) is greater than or equal to the determination value S2, the connected region L2 (x) that is identified with low sensitivity has a perimeter greater than or equal to the determination value S2. The connected region L2 (x) is immediately determined as a foreign object without considering the high-sensitivity L1 image (S320, S330). In these cases, the specifying process for the connection area L1 (y) and the determination process for the connection area L1 (y) are not performed. This also contributes to shortening the inspection time.
また、本実施形態では、異物であるか否かの判定処理が各連結領域Ｌ２（ｘ），Ｌ１（ｙ）の周囲長に基づいて行われる（図６中のＳ３２０，Ｓ３５０）。これにより、面積値が比較的小さくなる傾向の線状異物を適切に判定することができる。しかも、連結領域Ｌ２（ｘ）の妥当性判定を含め、判定処理（Ｓ３１０，Ｓ３２０，Ｓ３５０）は面積値や周囲長と各判定値との比較に基づいて行っているため、処理を比較的簡単なものとすることができる。 In the present embodiment, the process for determining whether or not the object is a foreign object is performed based on the perimeter of each of the connected regions L2 (x) and L1 (y) (S320 and S350 in FIG. 6). Thereby, it is possible to appropriately determine a linear foreign object whose area value tends to be relatively small. In addition, since the determination process (S310, S320, S350) including the validity determination of the connected region L2 (x) is performed based on a comparison between the area value and the perimeter and each determination value, the process is relatively simple. Can be.
以上、一実施形態について説明してきたが、本発明の趣旨を逸脱しない限りにおいて種々の形態で実施可能である。すなわち、以下に例示するような態様で実施することも可能であるし、また、以下に例示しない態様で実施することももちろん可能である。 Although one embodiment has been described above, various embodiments can be implemented without departing from the spirit of the present invention. That is, it is possible to implement in the modes exemplified below, and of course, it is possible to implement in modes not exemplified below.
（ａ）上記実施形態では、撮像記憶部３１に記憶された輝度データそのものを、２つの閾値Ｌ１，Ｌ２で二値化し、各閾値Ｌ１，Ｌ２に対応する２つの二値化画像を生成していた。 (A) In the above embodiment, the luminance data itself stored in the imaging storage unit 31 is binarized with two threshold values L1 and L2, and two binarized images corresponding to the threshold values L1 and L2 are generated. It was.
これに対し、輝度データに対して微分処理を施した微分データを画像データとして、２つの閾値で二値化するようにしてもよい。具体的には、図５中のＳ１０において、注目画素に対し、３×３画素や、５×５画素の微分処理を行い、閾値との比較によって、二値化画像を生成する構成とすることが考えられる。 On the other hand, differential data obtained by performing differential processing on luminance data may be binarized with two threshold values as image data. Specifically, in S10 in FIG. 5, a configuration in which a 3 × 3 pixel or 5 × 5 pixel differentiation process is performed on the target pixel and a binarized image is generated by comparison with a threshold value. Can be considered.
微分データは、輝度データの局所的な輝度変化を示すものとなるため、例えば輝度データに基づく画像に撮像条件による明暗（影等）が生じている場合に、当該明暗に左右されにくい。その結果、特別な補正処理を必要としないという点で有利である。 Since the differential data indicates a local luminance change of the luminance data, for example, when the image based on the luminance data is light and dark (such as a shadow) due to the imaging condition, it is not easily affected by the light and dark. As a result, it is advantageous in that no special correction process is required.
（ｂ）上記実施形態では、低感度で特定される連結領域Ｌ２（ｘ）の妥当性判定を面積値で行い（図６中のＳ３１０）、連結領域Ｌ２（ｘ），Ｌ１（ｙ）の異物判定を周囲長で行っていた（Ｓ３２０，Ｓ３５０）。これに対し、妥当性判定を周囲長で行い、異物判定を面積値で行う構成としてもよい。また、これら判定処理を、面積値及び周囲長の両方で行うこととしてもよい。 (B) In the embodiment described above, the validity of the connection region L2 (x) specified with low sensitivity is determined based on the area value (S310 in FIG. 6), and the foreign matters in the connection regions L2 (x) and L1 (y) The determination was made based on the perimeter (S320, S350). On the other hand, it is good also as a structure which performs validity determination by circumference length and performs foreign material determination by an area value. These determination processes may be performed on both the area value and the perimeter.
（ｃ）上記実施形態は、包装用フィルム３にカバーフィルム４が貼着された後に、検査を行う構成であった。これに対し、包装用フィルム３にカバーフィルム４が貼着される前に、検査を行う構成としてもよい。すなわち、フィルム受けロール１７及び加熱ロール１８の上流側において、錠剤５を撮像するようにしてもよい。また、その場合、本実施形態と同様の反射光を用いるようにしてもよいし、カメラと照明装置とを包装用フィルム３を介して対向する位置に配置し、透過光を用いて検査するようにしてもよい。
(C) The embodiment described above was configured to inspect after the
１…ＰＴＰシート、２…ポケット部、３…包装用フィルム、４…カバーフィルム、５…錠剤、６…ＰＴＰフィルム、１１…ＰＴＰ包装機、１２…検査装置、２１…照明装置、２２…カメラ、２３…処理実行装置、３１…撮像記憶部、３２…二値化処理部、３３…二値化画像記憶部、３４…判定値記憶部、３５…検査結果記憶部、３６…入出力ポート、３７…中央処理装置（ＣＰＵ）。
DESCRIPTION OF
Claims (10)
前記撮像手段による撮像結果に基づく画像データを用い、前記検査対象の検査を行う検査装置において、
前記検査対象の不良箇所となり得る判定領域を前記画像データから相対的に高感度で特定するための第１閾値に基づき、前記判定領域としての第１領域を特定する第１領域特定手段と、
前記検査対象の不良箇所となり得る判定領域を前記画像データから相対的に低感度で特定するための第２閾値に基づき、前記判定領域としての第２領域を特定する第２領域特定手段と、
前記第１領域特定手段にて特定される前記第１領域の良／不良を、当該第１領域と前記第２領域特定手段にて特定される前記第２領域との包含関係に基づいて判定することにより、前記検査対象の検査を行う検査手段とを備えていることを特徴とする検査装置。 An imaging means for imaging the inspection object;
In the inspection apparatus for inspecting the inspection object using image data based on the imaging result by the imaging means,
A first area specifying means for specifying a first area as the determination area based on a first threshold for specifying a determination area that can be a defective portion of the inspection object with relatively high sensitivity from the image data;
A second area specifying means for specifying a second area as the determination area based on a second threshold value for specifying a determination area that can be a defective portion of the inspection object with relatively low sensitivity from the image data;
The quality of the first area specified by the first area specifying means is determined based on the inclusion relationship between the first area and the second area specified by the second area specifying means. By this, the inspection apparatus characterized by including the test | inspection means which test | inspects the said test object.
前記撮像手段による撮像結果に基づく画像データを用い、前記検査対象の検査を行う検査装置において、
前記検査対象の不良箇所となり得る判定領域を前記画像データから相対的に高感度で特定するための第１閾値に基づき、前記判定領域としての第１領域を特定する第１領域特定手段と、
前記検査対象の不良箇所となり得る判定領域を前記画像データから相対的に低感度で特定するための第２閾値に基づき、前記判定領域としての第２領域を特定する第２領域特定手段と、
該第２領域特定手段にて特定される前記第２領域を包含する領域であって、前記第１領域特定手段にて特定される第１領域を、包含領域として特定する包含領域特定手段と、
該包含領域特定手段にて特定される前記包含領域の良／不良を判定することにより、前記検査対象の検査を行う検査手段とを備えていることを特徴とする検査装置。 An imaging means for imaging the inspection object;
In the inspection apparatus for inspecting the inspection object using image data based on the imaging result by the imaging means,
A first area specifying means for specifying a first area as the determination area based on a first threshold for specifying a determination area that can be a defective portion of the inspection object with relatively high sensitivity from the image data;
A second area specifying means for specifying a second area as the determination area based on a second threshold value for specifying a determination area that can be a defective portion of the inspection object with relatively low sensitivity from the image data;
An inclusion area specifying means for specifying the first area specified by the first area specifying means as an inclusion area, the area including the second area specified by the second area specifying means;
An inspection apparatus comprising: inspection means for inspecting the inspection object by determining whether the inclusion area specified by the inclusion area specifying means is good or defective.
前記第２領域特定手段にて特定される前記第２領域が前記判定領域として妥当か否かを判定する妥当性判定手段を備え、
前記包含領域特定手段は、前記妥当性判定手段にて妥当であると判定された第２領域に対し、前記包含領域を特定することを特徴とする検査装置。 The inspection apparatus according to claim 2,
A validity determination means for determining whether the second area specified by the second area specifying means is appropriate as the determination area;
The inspection apparatus characterized in that the inclusion area specifying means specifies the inclusion area with respect to a second area determined to be appropriate by the validity determination means.
前記妥当性判定手段は、前記妥当性の判定を、前記第２領域の面積値の判定値との比較及び前記第２領域の周囲長の判定値との比較のうち少なくとも一方に基づいて行うことを特徴とする検査装置。 The inspection apparatus according to claim 3, wherein
The validity determination means performs the validity determination based on at least one of a comparison with a determination value of an area value of the second region and a determination value of a peripheral length of the second region. Inspection device characterized by
前記検査手段は、最初に前記第２領域の良／不良を判定し、当該第２領域の良／不良が判定できない場合に、前記包含領域の良／不良を判定することにより、前記検査対象の検査を行うことを特徴とする検査装置。 The inspection apparatus according to any one of claims 2 to 4,
The inspection means first determines the quality of the second area, and when the quality of the second area cannot be determined, the quality of the inclusion area is determined to determine the quality of the inspection target. An inspection apparatus characterized by performing an inspection.
前記包含領域特定手段は、前記検査手段にて前記第２領域の良／不良が判定できない場合に、当該第２領域を包含する前記包含領域を特定することを特徴とする検査装置。 The inspection apparatus according to claim 5, wherein
The inclusive area specifying means specifies the inclusive area including the second area when the inspection means cannot determine whether the second area is good or bad.
前記検査手段は、前記良／不良の判定を、対象となる領域の面積値の判定値との比較及び対象となる領域の周囲長の判定値との比較のうち少なくとも一方に基づいて行うことを特徴とする検査装置。 The inspection apparatus according to any one of claims 1 to 6,
The inspection means performs the determination of good / bad based on at least one of a comparison with a determination value of an area value of a target region and a determination value of a peripheral length of the target region. Characteristic inspection device.
前記検査手段は、前記良／不良の判定を、対象となる領域の周囲長の判定値との比較に基づいて行うことを特徴とする検査装置。 The inspection apparatus according to any one of claims 1 to 6,
The inspection apparatus according to claim 1, wherein the inspection unit performs the good / bad determination based on a comparison with a determination value of a perimeter of a target region.
前記画像データは、前記撮像結果として前記検査対象の濃淡を示す輝度データ、又は、前記撮像結果を微分処理して得られる微分データであることを特徴とする検査装置。 The inspection apparatus according to any one of claims 1 to 8,
The inspection apparatus according to claim 1, wherein the image data is luminance data indicating the density of the inspection target as the imaging result or differential data obtained by differentiating the imaging result.
A PTP sheet manufacturing apparatus comprising the inspection apparatus according to claim 1.
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