JP2007243775A - 電子的ぶれ補正装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】撮像素子1から連続して時分割撮像を行って得られた複数の時分割画像の、相互のぶれが補正された合成画像を生成する電子的ぶれ補正装置であって、所定の時分割露光時間ΔTexpが画像読み出し周期Tfの整数倍(k)となるようにし(S206)、この時分割露光時間で撮像された複数画像の相互のぶれを補正し、補正された複数画像を合成する。
【選択図】 図5
Description
さらに、第3の発明は、上記第2の発明において、上記電子的ぶれ補正装置は、さらに一定の露光量を得るに必要な露光時間(Texp)を演算する露光時間演算部と、上記画像読み出し部により読み出された上記画像を増幅する画像増幅部を備え、上記画像増幅部の増幅率をA、上記時分割露光時間をΔTexpとするとき、
A=Texp/ΔTexp
とすることを特徴とする。
また、第7の発明は、上記第6の発明において、実数Texp /ΔTexp の小数点以下を切り上げた値又は小数点以下を切り捨てた値のいずれかをmとするとき、時分割撮像をm回行うことを特徴とする。
第2の発明によれば、第1の発明の効果に加えて、時分割露光時間が限界露光秒時よりも短いことからぶれを効果的に減少させることができる。
第3の発明によれば、時分割露光された画像に対して、それぞれ増幅するようにしたので、適正レベルの画像を得ることができ、高い精度でぶれ補正ができる。
第4の発明によれば、露光時間が連続的につながった時分割画像の、相互のぶれが補正された適正レベルのS/Nが良好な合成画像を生成することが可能になる。したがって、ぶれが補正される他は通常撮影と同様の画像を撮影できる。
第6の発明によれば、適正レベルの時分割画像を得ることができる。
第7の発明によれば、S/Nの良好なぶれの補正された合成画像を得ることができる。
図1は本実施形態に係わるデジタルカメラの電気的構成を主に示すブロック図である。このデジタルカメラは、二次元固体撮像素子(以下、適宜、撮像素子と略称する)1と、相関二重サンプリング回路(CDS:Correlated Double Sampling)2と、ゲインコントロールアンプ(AMP)3と、A/D変換器4と、タイミングジェネレータ(TG)5と、シグナルジェネレータ(SG)6と、CPU(Central Processing Unit)7と、情報処理部8と、DRAM(Dynamic Random Access Memory)9と、圧縮伸張部10と、記録媒体11と、表示部12と、バリエータレンズ13と、エンコーダ14と、フォーカスレンズ15と、フォーカスレンズ駆動系16と、絞り17と、絞り駆動系18と、第1レリーズスイッチ19aおよび第2レリーズスイッチ19bと、距離検出部20と、操作部21を含んでいる。なお、バリエータレンズ13、エンコーダ14、フォーカスレンズ15、フォーカスレンズ駆動系16、絞り17、絞り駆動系18は、撮影レンズ22を構成する。
本デジタルカメラが動作をスタートすると、まず、ステップS101において第1レリーズスイッチ19aがオンとなったか否かについて判定する。判定の結果、第1レリーズスイッチ19aがオフの場合には、そのまま待機状態となり、第1レリーズスイッチ19aがオンとなると、ステップS102に進み、ぶれ限界露光時間TLimitを演算する。このぶれ限界露光時間TLimitは、露光開始からのぶれ量が許容限界のぶれ量に達すると想定される時間である。
TLimit≒1/f(秒) ・・・(1)
になることが知られている。本実施形態では、この経験則をデジタルカメラの撮像素子1の有効撮像エリア内に設定した撮影画枠の大きさを考慮のうえ、応用することにする。即ち、一般的にデジタルカメラにおいては、35ミリフィルムカメラにおける焦点距離に相当する値を表示しているので、この35ミリカメラ相当の焦点距離を用い、ステップS102において、エンコーダ14によって検出された焦点距離fの逆数を演算する。なお、ぶれ限界露光時間TLimitは、必ずしも、1/fで与えられる値を用いる必要はなく、要するに、ぶれが実質的に発生することのないような時分割露光時間を用いれば良い。したがって、ぶれ限界露光時間TLimitは、概略、上記(1)式により与えられる露光時間よりも短い時間であれば構わない。
まず、適正露光時間(Texp)を演算する(S201)。これは、ステップS103における測光で得られた明るさBvをもとに、アペックス演算により適正露光を得るに必要な露光時間を求めるものである。なお、アペックス演算は良く知られているように、
Tv+Av=Bv+Sv ・・・(2)
の関係から、露光制御のパラメータを演算するものである(ここで、Tv:Time Value Av:Aperture Value Bv:Brightness Value Sv:Sensitive Value)。適正露光時間Texpは、露光時間のアペックス値Tvを露光時間に変換したものである。次に、アペックス演算により絞り値Avを演算する(S202)。なお、シャッタ速度Texpは測光に基づいて適正露光を得られる値を求めていたが、これに限らず、撮影者が手動で設定するシャッタ速度としても良いことは勿論である。したがって、Texpは撮影者が望む一定のシャッタ速度であればよい。絞り値も同様である。なお、(2)式の右辺の被写体輝度値はステップS103の測光にて求めた値であり、またISO感度値はデフォルト値または撮影者が操作部21によって入力した値である。したがって、(2)式の左辺のTvとAvは所定のプログラムラインに沿うように、適宜、演算される。
がぶれ限界露光時間以上であると判断したときは、露光時間は読み出し周期Tf 以上の露光時間ΔTexpで時分割撮像を行うと、時分割画像のぶれが許容以上になってしまうので、読み出し周期Tf よりも短い露光時間で時分割撮像を行う必要がある。したがって、まず時分割撮像回数mを〔Texp/TLimit〕とする。そしてこのmをメモリ〔m〕に記憶する(ステップS209)。つぎに<Texp/m>を時分割露光時間ΔTexpとしてメモリ<ΔTexp>に記憶する(ステップS210)。前述したようにこの時分割露光時間ΔTexpは画像の読み出し周期Tf 以下となる。つぎに、時分割露光回数mと等しい値をAMP3の増幅率Aとし、メモリ〔A〕に記憶する(ステップS211)。そしてサブルーチンから図4のメインルーチンにリターンする。これらステップS209からS211での処理では、読み出し周期Tfよりも短い時間での時分割撮像時間となり、撮像素子1の撮像が連続的にならないために、高速で移動する動体に対して途切れ点々の映像となってしまう。しかし、ぶれを許容以下にする時分割露光を繰り返すので、ぶれ補正処理することによりぶれを除去した画像を得ることができる。
最初に、第2レリーズスイッチ19bのオンに応答して発生する撮影トリガ信号のパルスが立ち下がると、撮像素子1にタイミングジェネレータ(TG)5からクロック信号CLKが供給される。クロック信号CLKを受けて、撮像素子1の画素を構成するフォトダイオード33に蓄積された電荷を半導体基板(サブストレート=縦型オーバーフロードレインVOFD)に強制排出するための基板印加高電圧パルスVSUBが繰り返し印加される。この高電圧パルスVSUBの印加が終了すると露光が開始する。即ち、高電圧パルスVSUBの立ち下がりに同期して撮像素子1による露光が開始することになる。
高電圧パルスVSUBの立下ると、露光動作が開始する。ステップS210で演算された時分割撮像の露光時間ΔTexpが経過すると、撮像素子1のフォトダイオード33に蓄積された電荷を垂直転送CCD(VCCD)31にシフトするために、シフトパルスTPが出力される。そして垂直同期信号VDに同期して、蓄積された電荷が画像信号として読み出される。この画像信号の読み出し開始に同期して、撮像素子1に再び高電圧パルスVSUBが立ち上がり、所定期間印加される。高電圧パルスVSUBの印加が終了すると、再び露光が開始し、次の垂直同期信号VDに同期して2回目の時分割撮像による画像の読み出しが行われる。以上の動作をm回(図10では8回)行う。以上の説明から分かるように、読み出し開始から次の読み出し開始までの間の時間、即ち読み出し時間Treadから、高電圧印加パルスVSUBの印加時間Tsubを減算した時間が、時分割撮像の露光時間ΔTexpとなる。
A1=Texp/(Texp/m)=m ・・・(3)
となる。
まず、初期設定として、分割画像を識別するためのIDに相当する変数iを記憶するメモリ〔i〕に0を記憶する(S401)。続いて、画像I(i)と画像I(i+1)とのぶれΔ(i,i+1)を演算する(S402)。ぶれΔは、画像I(i)の特徴を数点定めて、この特徴点と一致する画像I(i+1)の特徴点の位置を公知の動きベクトル演算により求め、対応する位置の相対的なずれを求めればよい。なお、上記ぶれΔはベクトルである。
Vout=Vin・(Rn+R(n−1)+R(n−2)+・・・R2+R1)/R1
となる。一例として、m=3、n=8、R1=100Ω、R3=200Ω、R4=400Ω、R5=800Ω、R6=1.6KΩ、R7=3.2KΩ、R8=6.4KΩとすると、入力信号D1、D2、D3に対して図12のような利得が得られる。
また、適正な露光量を得るに必要な露光時間をTexpとするとき、Texp/ΔTexpの増幅率で時分割画像を増幅するので、適正レベルの時分割画像を得ることができる。増幅してからA/D変換を行っているので、A/D変換の際の量子化ノイズを最小限にすることができる。
また上述したように、本実施形態に係わる発明によれば露光時間が連続的につながった時分割画像の、相互のぶれが補正された適正レベルのS/Nが良好な合成画像を生成することが可能となる。したがって、ぶれが補正され他は通常撮影と同様の画像を撮影できる。
Claims (7)
- 撮像素子から連続して時分割撮像を行って得られた複数の時分割画像の、相互のぶれが補正された合成画像を生成する電子的ぶれ補正装置であって、
被写体光を画像信号に変換する撮像部と、
所定の時分割露光時間で撮像された上記時分割画像を上記撮像部から読み出す画像読み出し部と、
上記画像読み出し部による上記画像の読み出し周期の整数倍になるように、上記時分割露光時間を制御する時分割露光時間制御部と、
上記撮像部により撮像された上記複数画像の相互のぶれを補正するぶれ補正部と、
上記ぶれ補正部により補正された複数画像を合成する画像合成部と、
を備えたことを特徴とする電子的ぶれ補正装置。 - 上記時分割露光時間は、ぶれを許容可能な限界露光時間よりも短いことを特徴とする請求項1に記載の電子的ぶれ補正装置。
- 上記電子的ぶれ補正装置は、さらに一定の露光量を得るに必要な露光時間(Texp)を演算する露光時間演算部と、上記画像読み出し部により読み出された上記画像を増幅する画像増幅部を備え、上記画像増幅部の増幅率をA、上記時分割露光時間をΔTexpとするとき、
A=Texp/ΔTexp
とすることを特徴とする請求項1に記載の電子的ぶれ補正装置。 - 上記電子的ぶれ補正装置は、さらに上記撮像素子から上記時分割画像を読み出す周期とぶれを許容可能な露光時間とを比較する比較部を備え、
上記時分割露光時間制御部は、上記比較部による比較結果、上記時分割画像を読み出す周期が上記ぶれを許容可能な露光時間よりも短いときは、上記時分割露光時間を上記読み出し周期の整数倍にすることを特徴とする請求項1に記載の電子的ぶれ補正装置。 - 上記時分割画像を読み出す周期をTf 、上記ぶれを許容可能な露光時間をTLimit 、実数TLimit /Tf の小数点以下を切り捨てた値又は小数点以下を切り上げた値のいずれかをkとするとき、k ×Tf を上記時分割撮像の露光時間ΔTexpとすることを特徴とする請求項4に記載の電子的ぶれ補正装置。
- 上記電子的ぶれ補正装置は、さらに適正な露光量を得るに必要な露光時間(Texp)を演算する露光時間演算部と、上記時分割画像を増幅するための増幅部を備え、上記増幅部の増幅率Aを、Texp/ΔTexpとすることを特徴とする請求項5に記載の電子的ぶれ補正装置。
- 実数Texp /ΔTexp の小数点以下を切り上げた値又は小数点以下を切り捨てた値のいずれかをmとするとき、時分割撮像をm回行うことを特徴とする請求項6に記載の電子的ぶれ補正装置。
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