JP2007242830A - Display, and method of manufacturing display - Google Patents
Display, and method of manufacturing display Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007242830A JP2007242830A JP2006062126A JP2006062126A JP2007242830A JP 2007242830 A JP2007242830 A JP 2007242830A JP 2006062126 A JP2006062126 A JP 2006062126A JP 2006062126 A JP2006062126 A JP 2006062126A JP 2007242830 A JP2007242830 A JP 2007242830A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- deterioration
- dummy pixel
- light
- pixel
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title abstract description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 48
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 35
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 12
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 174
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 28
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 abstract description 15
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 abstract description 15
- 230000009467 reduction Effects 0.000 abstract description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 39
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 37
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 24
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 24
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 23
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 23
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 19
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 11
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 230000002730 additional effect Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- YACLQRRMGMJLJV-UHFFFAOYSA-N chloroprene Chemical compound ClC(=C)C=C YACLQRRMGMJLJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 1
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
Abstract
Description
この明細書で説明する発明は、有効表示領域を構成する各画素の劣化状態を正確に観察するために搭載するダミー画素の配置技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、ダミー画素を搭載する表示装置及びその製造方法としての側面を有する。
The invention described in this specification relates to a technique for arranging dummy pixels to be mounted in order to accurately observe the deterioration state of each pixel constituting an effective display area.
The invention proposed by the inventors has a display device on which dummy pixels are mounted and a side surface as a manufacturing method thereof.
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビジョン受像機その他の電子機器に広く用いられている。現在のところ、フラットパネルディスプレイには、主に液晶ディスプレイパネルが用いられている。しかし、液晶ディスプレイパネルは、依然として、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘されている。 Flat panel displays are widely used in computer displays, portable terminals, television receivers and other electronic devices. At present, liquid crystal display panels are mainly used for flat panel displays. However, it has been pointed out that the liquid crystal display panel still has a narrow viewing angle and a slow response speed.
このため、液晶ディスプレイパネルに代わるフラットパネルディスプレイの登場が期待されている。
その最有力候補が、有機EL素子をマトリクス状に配列した有機ELディスプレイパネルである。有機ELディスプレイパネルは、視野角や応答性が良好であるだけでなく、バックライトが不要、高輝度、高コントラストといった優れた特性を備えている。
For this reason, the appearance of a flat panel display replacing the liquid crystal display panel is expected.
The most promising candidate is an organic EL display panel in which organic EL elements are arranged in a matrix. The organic EL display panel not only has a good viewing angle and responsiveness, but also has excellent characteristics such as no backlight, high brightness, and high contrast.
ところで、有機ELディスプレイパネルを構成する自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることが一般的にも知られている。
一方で、フラットパネルディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、発光体(有機EL素子)の劣化が部分的に進行しやすい。例えば、時刻表示領域に位置する発光体は、他の表示領域の発光体に比べて劣化の進行が速い。
By the way, it is generally known that the self-luminous elements constituting the organic EL display panel have a characteristic of deteriorating in proportion to the light emission amount and time.
On the other hand, the content of the image displayed on the flat panel display is not uniform. For this reason, deterioration of the light emitter (organic EL element) is likely to partially proceed. For example, the light emitter located in the time display area is more rapidly deteriorated than the light emitters in the other display areas.
劣化の進行した発光体の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は「焼きつき」と呼ばれる。以下、部分的な発光体の劣化を「焼きつき」と表記する。
「焼きつき」の改善策には、従来から様々な手法が提案されている。焼きつきを精度良く、性能良く補正するには、発光体の実際の劣化状態を正しく検出する必要がある。
The luminance of the light-emitting body that has deteriorated is relatively lowered as compared with the luminance of other display areas. In general, this phenomenon is called “burn-in”. Hereinafter, partial deterioration of the light emitter is referred to as “burn-in”.
Various methods have been proposed for improving “burn-in”. In order to correct burn-in with high accuracy and high performance, it is necessary to correctly detect the actual deterioration state of the light emitter.
従って、劣化状態を検出せずに行う焼きつきの改善策は全て、焼きつきの発生を単に抑制しているのにすぎない。
このうち特許文献1と特許文献2は、発光体の劣化状態を入力表示データ(階調値)の積算値によって予測し、その予測結果に基づいて入力表示データを補正する技術を開示する。すなわち、これらの特許文献は、劣化特性の予測値に基づいて焼きつきを補正する手法を開示する。このため、予測結果に基づく補正後も、焼きつきが解消されない可能性がある。
Among these,
その大きな要因は、発光体の劣化特性は、入力階調値だけでは一様に決定できないためである。例えば、周囲の環境、駆動方法、輝度条件、発熱条件、劣化の程度など様々な条件が複雑に影響する。しかも、有機ELディスプレイパネル間の個体誤差をも考慮する必要がある。このように、全ての条件を正確に関連付けて発光体の劣化状態を予測することは、事実上ほぼ不可能に近い。 The main factor is that the deterioration characteristics of the light emitter cannot be uniformly determined only by the input gradation value. For example, various conditions such as the surrounding environment, the driving method, the luminance condition, the heat generation condition, and the degree of deterioration have a complicated influence. Moreover, it is necessary to consider individual errors between organic EL display panels. Thus, it is virtually impossible to predict the deterioration state of the light emitter by accurately associating all the conditions.
一方、特許文献3に示す手法では、画素回路内に配置した光検出素子により発光体の劣化特性を精度良く検出することができる。しかし、画素毎に光検出素子を利用した補正回路を配置することにより1画素当たりのトランジスタ数が増加し、生産歩留まりの低下や高解像化に不利になる問題がある。
また、特許文献3に開示された方法は、劣化した輝度を補償するしか補正方法がなく、結果的に劣化を促進させてしまい、補正性能の限界や輝度半減期が比較的早く到来する問題がある。
On the other hand, in the technique disclosed in
In addition, the method disclosed in
そこで、発明者らは、有効表示領域の外側にダミー画素を配置し、有効表示領域内の劣化状態を実時間で検証可能とする手法を提案する。
この際、発明者らは、表示装置として、(a)表示素子がマトリクス状に配置された有効表示領域と、(b)有効表示領域の外側に配置されたダミー画素と、(c)ダミー画素と対面するように位置決めされた光検出素子と、(d)ダミー画素及び前記光検出素子の周囲全体を覆うように配置された硬化性濃色接着層とを有するものを提案する。
In view of this, the inventors propose a technique in which dummy pixels are arranged outside the effective display area so that the deterioration state in the effective display area can be verified in real time.
At this time, the inventors have, as a display device, (a) an effective display area in which display elements are arranged in a matrix, (b) a dummy pixel arranged outside the effective display area, and (c) a dummy pixel. And (d) a dummy pixel and a curable dark color adhesive layer arranged so as to cover the entire periphery of the light detection element.
なお、このような構造を有する表示装置の製造方法として、(a)有効表示領域の外側に配置されるダミー画素の対面位置に光検出素子を位置決めする処理と、(b)ダミー画素及び光検出素子の周囲全体を覆うように硬化性濃色接着層を形成する処理とを有するものを提案する。 As a method of manufacturing a display device having such a structure, (a) a process of positioning a photodetecting element at a facing position of a dummy pixel arranged outside an effective display area, and (b) a dummy pixel and photodetection And a process of forming a curable dark adhesion layer so as to cover the entire periphery of the element.
発明者らの提案する発明によれば、ダミー画素と光検出素子とを硬化製濃色接着層で接着することで、特別な筐体構造等を採用しなくても、受光対象とするダミー画素の光だけを確実に受光できる環境を実現することができる。この信頼性の高い検出結果を焼き付き補正に使用することにより、焼き付き現象を確実に抑制又は改善することができる。 According to the invention proposed by the inventors, the dummy pixel and the photodetecting element are bonded by a hardened dark color adhesive layer, so that the dummy pixel to be received can be received without using a special housing structure or the like. It is possible to realize an environment that can reliably receive only the light. By using this highly reliable detection result for burn-in correction, the burn-in phenomenon can be reliably suppressed or improved.
以下、発明に係る自発光表示装置の形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
Hereinafter, embodiments of the self-luminous display device according to the invention will be described.
In addition, the well-known or well-known technique of the said technical field is applied to the part which is not specifically illustrated or described in this specification.
Moreover, the form example demonstrated below is one form example of invention, Comprising: It is not limited to these.
(A)発光特性の変動を劣化量の見積もり時に正確に反映する技術
階調値と劣化量は必ずしも比例関係にない。これは、パネル間の特性誤差、環境温度、パネル面の発光温度その他の影響で発光特性が変化するという特性が有機EL素子にあるためである。
このため、階調値を画素毎に累積加算しても、対応画素の劣化量を正確に見積もることはできない。
(A) Technology for accurately reflecting fluctuations in light emission characteristics when estimating the deterioration amount The gradation value and the deterioration amount are not necessarily in a proportional relationship. This is because the organic EL element has a characteristic that the light emission characteristic changes due to the characteristic error between panels, the environmental temperature, the light emission temperature of the panel surface, and the like.
For this reason, even if the gradation value is cumulatively added for each pixel, the deterioration amount of the corresponding pixel cannot be accurately estimated.
そこで、発明者らは、有機EL素子の発光特性の経時的な変動を実測し、実測結果を劣化量の見積もりに反映する仕組みを提案する。
図1に、発光時点の違いによる劣化速度(率)の変動を示す。図1は、ある画素を構成する発光体を、一定の階調値で点灯制御する場合の発光輝度の時間変化を示す。曲線DAPL は、ある画素(例えば、劣化特性測定用のダミー画素)を画面全体の平均階調値で点灯制御する場合の劣化曲線を示す。
In view of this, the inventors propose a mechanism for measuring the temporal variation of the light emission characteristics of the organic EL element and reflecting the measurement result in the estimation of the deterioration amount.
FIG. 1 shows the variation of the deterioration rate (rate) due to the difference in the light emission point. FIG. 1 shows temporal changes in light emission luminance in the case where lighting of a light emitter constituting a certain pixel is controlled with a constant gradation value. A curve D APL represents a deterioration curve when lighting control is performed on a certain pixel (for example, a dummy pixel for measuring deterioration characteristics) with an average gradation value of the entire screen.
図1に示す矢印D100 は、画素に100%信号レベルの階調値を与えた場合の輝度劣化の進行速度(劣化率)を示す。時点t1を基点とする矢印D100の傾きと時点t2を基点とする矢印D100の傾きとを比べて分かるように、同じ階調値によりある画素の発光を制御する場合でも、発光開始時の輝度劣化が異なると劣化速度は同じにならない。 An arrow D 100 shown in FIG. 1 indicates a progress rate (deterioration rate) of luminance degradation when a gradation value of 100% signal level is given to a pixel. As can be seen by comparing the slope of the arrow D 100 with the time point t1 as the base point and the slope of the arrow D 100 with the time point t2 as the base point, even when the light emission of a certain pixel is controlled by the same gradation value, If the brightness deterioration is different, the deterioration speed is not the same.
劣化速度が異なれば、発光時間長は同じでも該当期間内に発生する劣化量は異なる値になる。すなわち、階調値と劣化量との対応関係は時間の経過と共に変化する。
そこで、発明者らは、ダミー画素を有効表示領域の外側に配置して劣化状態を実測し、有効表示領域を構成する各画素の累積劣化量差の見積もり値やその算出時に参照する階調値/劣化量変換テーブル値を逐次修正する手法を提案する。
If the deterioration rate is different, the amount of deterioration occurring in the corresponding period is different even if the light emission time length is the same. That is, the correspondence between the gradation value and the deterioration amount changes with the passage of time.
Therefore, the inventors have measured the deterioration state by arranging dummy pixels outside the effective display area, and estimated values of the accumulated deterioration amount differences of the respective pixels constituting the effective display area and the gradation values to be referred to in the calculation. A method for sequentially correcting the deterioration amount conversion table value is proposed.
ただし、ダミー画素を配置する場合には、新たな問題の可能性を考慮する必要がある。光検出素子の誤検出の問題である。
通常、光検出素子は発光面の対向位置に配置され、当該発光面を有する画素の光のみを受光する。しかし、受光面に検出対象とするダミー画素以外の光が混入する可能性がある。
例えば、図2に示すように、ガラス基板1と筐体3の隙間から入射する外光、表示画素から伝搬する光、隣接する他のダミー画素から伝搬する光が混入する可能性がある。
However, when arranging dummy pixels, it is necessary to consider the possibility of a new problem. This is a problem of erroneous detection of the light detection element.
Usually, the light detection element is disposed at a position opposite to the light emitting surface, and receives only light of a pixel having the light emitting surface. However, there is a possibility that light other than the dummy pixel to be detected enters the light receiving surface.
For example, as shown in FIG. 2, there is a possibility that external light entering from the gap between the
これらの事象は、有効表示領域の外側を覆う筐体3が、該当領域を外部から保護することを目的とし、ダミー画素の配置や誤検出を想定していないことに起因する。
もっとも、この場合でも検出目的がダミー画素の光量をおおまかに検出することであれば、他の光源光が混入しても大きな問題にならない。
しかし、発明者らの提案するシステムでは、ダミー画素の輝度劣化量を正確に検出する必要がある。すなわち、誤検出が焼き付き補正処理に悪影響を与える可能性を否定できない。
These events are caused by the fact that the
However, even in this case, if the detection purpose is to roughly detect the light amount of the dummy pixel, it does not cause a big problem even if other light source light is mixed.
However, in the system proposed by the inventors, it is necessary to accurately detect the luminance deterioration amount of the dummy pixel. In other words, it cannot be denied that the erroneous detection may adversely affect the burn-in correction process.
この誤検出に対する対策案の一つに、筐体3の構造自体を工夫する方法が考えられる。すなわち、光検出素子に検出対象以外の光源光が影響を与えないように筐体構造を変更する方法が考えられる。
しかし、この手法は筐体構造に細心の注意が必要となる。加えて、筐体構造の変更に伴うコストアップの問題が発生する。
そこで、発明者らは、光検出素子の周囲全体を硬化性濃色接着剤で覆う手法を採用する。遮光効果が期待できる濃色の接着剤を用いることにより、誤検出の原因となる漏れ光や伝搬光を簡単にかつ効果的に遮光することができる。
As one of countermeasures against this erroneous detection, a method of contriving the structure of the
However, this method requires careful attention to the housing structure. In addition, there is a problem of cost increase due to the change in the housing structure.
Therefore, the inventors adopt a method of covering the entire periphery of the light detection element with a curable dark color adhesive. By using a dark-colored adhesive that can be expected to have a light shielding effect, it is possible to easily and effectively shield leakage light and propagation light that cause erroneous detection.
(B)好適な形態例
以下、前述した遮光技術と累積劣化情報の修正技術を採用する有機ELディスプレイ装置の形態例を説明する。
(a)有機ELディスプレイ装置の機能構成
図3に、累積劣化情報の修正機能を搭載する有機ELディスプレイ装置の機能構成例を示す。
図3に示す有機ELディスプレイ装置11は、映像信号変換部111、劣化量算出部113、階調値/劣化量変換テーブル115、累積劣化量差算出部117、累積劣化量差蓄積部119、補正量決定部121、自発光パネル123、ダミー画素発光検出部125、劣化特性実測部127、ダミー画素累積劣化量算出部129、平均階調値(APL:average picture level)算出部131、見積もり精度改善部133、ダミー画素データ決定部135で構成する。
(B) Preferred Embodiment Hereinafter, an embodiment of an organic EL display device that employs the above-described shading technique and cumulative deterioration information correction technique will be described.
(A) Functional Configuration of Organic EL Display Device FIG. 3 shows a functional configuration example of an organic EL display device equipped with a function for correcting accumulated deterioration information.
3 includes a video signal conversion unit 111, a deterioration amount calculation unit 113, a gradation value / deterioration amount conversion table 115, a cumulative deterioration amount difference calculation unit 117, a cumulative deterioration amount difference accumulation unit 119, and a correction.
映像信号変換部111は、入力表示データ信号を補正表示データ信号に変換する処理デバイスである。この形態例の場合、映像信号変換部111は、入力表示データ信号に補正値を加減算する処理を実行する。なお、補正値は、補正量決定部121より与えられる。また、補正表示データ信号には、ダミー画素データ決定部135から与えられるダミー画素用の表示データ信号が多重される。補正表示データ信号は、劣化量算出部113と、自発光パネル123と、APL算出部131に与えられる。
The video signal converter 111 is a processing device that converts an input display data signal into a corrected display data signal. In the case of this embodiment, the video signal conversion unit 111 executes processing for adding / subtracting a correction value to / from the input display data signal. The correction value is given from the correction
劣化量算出部113は、各画素に対応する階調値に基づいて画像の表示に伴う各画素の劣化量を算出する処理デバイスである。この形態例では、階調値/劣化量変換テーブル115を使用する。ここでの画素は、有効表示領域内の画素とダミー画素の両方を含む。従って、劣化量算出部113は、有効表示領域内の各画素についての見積もり劣化量とダミー画素についての見積もり劣化量を計算する。 The deterioration amount calculation unit 113 is a processing device that calculates the deterioration amount of each pixel associated with image display based on the gradation value corresponding to each pixel. In this embodiment, the gradation value / degradation amount conversion table 115 is used. Here, the pixel includes both a pixel in the effective display area and a dummy pixel. Therefore, the deterioration amount calculation unit 113 calculates the estimated deterioration amount for each pixel in the effective display area and the estimated deterioration amount for the dummy pixel.
図4に、階調値/劣化量変換テーブル115の一例を示す。階調/劣化量変換テーブル115には、入力表示データ信号が採り得る全ての階調値と、これらに対応する劣化量とが対応付けられて記憶されている。なお、劣化量Rは、各階調値に対応する劣化速度(劣化率)と発光期間tとの積として与えられる。発光期間tは、固定でも可変でも良い。 FIG. 4 shows an example of the gradation value / degradation amount conversion table 115. The gradation / degradation amount conversion table 115 stores all gradation values that can be taken by the input display data signal and the corresponding degradation amounts in association with each other. The deterioration amount R is given as a product of the deterioration rate (deterioration rate) corresponding to each gradation value and the light emission period t. The light emission period t may be fixed or variable.
累積劣化量差算出部117は、ある基準画素と有効表示領域内の各画素との間に新たに発生する劣化量差の累積値を算出する処理デバイスである。基準画素は、実在する画素でも良いし、仮想的に設定した画素でも良い。前者には、例えば画素単位の累積劣化量が最も小さい画素、画素単位の累積劣化量が最も大きい画素がある。後者には、1フレーム内の平均階調値で発光する仮想の画素がある。この形態例の場合、基準画素は、画面全体の平均階調値で発光制御される画素を想定する。
有効表示領域内の各画素に対応する見積もり劣化量は、劣化量算出部113より与えられる。
The cumulative deterioration amount difference calculation unit 117 is a processing device that calculates a cumulative value of the deterioration amount difference newly generated between a certain reference pixel and each pixel in the effective display area. The reference pixel may be a real pixel or a virtually set pixel. The former includes, for example, a pixel having the smallest cumulative deterioration amount in pixel units and a pixel having the largest cumulative deterioration amount in pixel units. The latter includes a virtual pixel that emits light at an average gradation value within one frame. In the case of this embodiment, the reference pixel is assumed to be a pixel whose light emission is controlled with the average gradation value of the entire screen.
An estimated deterioration amount corresponding to each pixel in the effective display area is given from the deterioration amount calculation unit 113.
累積劣化量差蓄積部119は、基準画素に対する各画素の累積劣化量差を保存する記憶領域又は記憶装置である。累積劣化量差は、ある画素の劣化の基準画素に対する進行度(進んでいるか遅れているか)及び進行度の度合いを表す。
補正量決定部121は、各画素に対応する補正値を累積劣化量差に基づいて決定する処理デバイスである。
図5に、補正量決定部121の内部構成例を示す。補正量決定部121は、見積もり誤差量補正部1211と補正量算出部1213とで構成される。
The cumulative deterioration amount difference accumulation unit 119 is a storage area or storage device that stores a cumulative deterioration amount difference of each pixel with respect to a reference pixel. The cumulative deterioration amount difference represents the degree of progress (whether advanced or delayed) and the degree of progress of a certain pixel with respect to a reference pixel.
The correction
FIG. 5 shows an internal configuration example of the correction
見積もり誤差量補正部1211は、見積もり精度改善部133から与えられる見積もり誤差率αに基づいて、階調値/劣化量変換テーブル115を参照して算出された各画素の累積劣化量差が実際の累積劣化量差に一致するように一律に修正する処理デバイスである。
この形態例の場合、見積もり誤差量αは、見積もり精度改善部133より、100分率値として与えられる。従って、累積誤差量は、累積劣化量に見積もり誤差量αを乗算することで算出できる。補正原理は後述する。
Based on the estimated error rate α given from the estimated accuracy improving unit 133, the estimated error amount correcting unit 1211 calculates the actual accumulated difference amount of each pixel calculated by referring to the gradation value / degradation amount conversion table 115. This is a processing device that uniformly corrects the accumulated deterioration amount difference.
In the case of this embodiment, the estimated error amount α is given as a 100-percentage value by the estimation accuracy improvement unit 133. Therefore, the accumulated error amount can be calculated by multiplying the accumulated deterioration amount by the estimated error amount α. The correction principle will be described later.
補正量算出部1213は、補正後の累積劣化量差に基づいて各画素に対応する補正量を算出する処理デバイスである。なお、補正量算出部1213による補正量の決定方法には、累積劣化量差を無くすように補正値を決定する方法、視覚上の輝度差が揃うように補正値を決定する方法がある。
以上の通り、補正量決定部121は、累積劣化量差から累積誤差量を取り除いた値に基づいて補正値を決定する。
The correction amount calculation unit 1213 is a processing device that calculates a correction amount corresponding to each pixel based on the corrected accumulated deterioration amount difference. The correction amount determination method by the correction amount calculation unit 1213 includes a method of determining a correction value so as to eliminate the accumulated deterioration amount difference, and a method of determining the correction value so that the visual luminance difference is uniform.
As described above, the correction
自発光パネル123は、発光体(自発光素子)を基体上にマトリクス状に配列した表示デバイスである。この形態例の場合は、発光体には、有機EL素子を使用する。
図6に、自発光パネル123の平面構成例を示す。なお、図6は、主に画素配置の観点から表しており、駆動回路その他の周辺回路は省略して表している。
図6に示す自発光パネル123の場合、有効表示領域1231の外方下部に1つのダミー画素1233を配置する。
The self light emitting panel 123 is a display device in which light emitters (self light emitting elements) are arranged in a matrix on a base. In the case of this embodiment, an organic EL element is used as the light emitter.
FIG. 6 shows a planar configuration example of the self-luminous panel 123. Note that FIG. 6 is mainly shown from the viewpoint of pixel arrangement, and the drive circuit and other peripheral circuits are omitted.
In the case of the self-luminous panel 123 shown in FIG. 6, one dummy pixel 1233 is arranged at the lower outer portion of the effective display area 1231.
有効表示領域1231は、外部から観察できる領域であり、入力画像データ信号に対応する画像が表示される。
一方、ダミー画素1233は、劣化状態の測定に用いられる領域であり、その発光が外部から観察されないように遮光される。
なお、図6では、赤(R)、緑(G)、青(B)の基本発光色に対応する基本画素を集積した表示上の1画素を1つの四角で表している。このように、この形態例では、赤(R)、緑(G)、青(B)の3色を基本発光色とする。
The effective display area 1231 is an area that can be observed from the outside, and displays an image corresponding to the input image data signal.
On the other hand, the dummy pixel 1233 is an area used for measurement of the deterioration state, and is shielded from light so that the emitted light is not observed from the outside.
In FIG. 6, one pixel on the display in which basic pixels corresponding to the basic emission colors of red (R), green (G), and blue (B) are integrated is represented by one square. As described above, in this embodiment, three colors of red (R), green (G), and blue (B) are set as basic emission colors.
図7に、ダミー画素1233の構造例を示す。なお、図7には、ダミー画素1233の発光輝度を検出する光検出素子12331とこれらの全体を封止する硬化性濃色接着剤12333の外縁を破線で示している。
図8に、ダミー画素部分の断面層構造を示す。図8に示すように、光検出素子12331は、ダミー画素1233の真上に受光面が配置されており、さらにその表面が硬化性濃色接着剤12で覆われている。硬化性の接着剤を使用するのは、出荷後等に遮光状況が変化しないようにするためである。
FIG. 7 shows a structural example of the dummy pixel 1233. In FIG. 7, the outer edges of the light detection element 12331 that detects the light emission luminance of the dummy pixel 1233 and the curable dark adhesive 12333 that seals the whole are indicated by broken lines.
FIG. 8 shows a cross-sectional layer structure of the dummy pixel portion. As shown in FIG. 8, the light detection element 12331 has a light receiving surface disposed immediately above the dummy pixel 1233, and the surface thereof is covered with the curable
なお、硬化性濃色接着剤12には、電気電子部品の固定に使用される一般的な接着剤を使用することが可能である。ただし、条件は透明でないこと(光を通さないこと)である。例えばシリコーンゴム系、ポリエステル樹脂系、クロロプレンコム系等の接着剤をそのまま使用する。具体的には、ソニーケミカル製のSC901/SC905(シリコーン系)、SC608Z2(ポリエステル系)、SC12N(クロロプレン系)を使用する。
図9に、製造プロセス例を示す。まず、図9(A)に示すように、有効表示領域1231の外側にダミー画素1233が形成された表示パネルを用意する。
The curable dark color adhesive 12 can be a general adhesive used for fixing electric and electronic parts. However, the condition is that it is not transparent (not pass light). For example, an adhesive such as silicone rubber, polyester resin, or chloroprenecom is used as it is. Specifically, SC901 / SC905 (silicone type), SC608Z2 (polyester type), and SC12N (chloroprene type) manufactured by Sony Chemical are used.
FIG. 9 shows an example of a manufacturing process. First, as shown in FIG. 9A, a display panel in which dummy pixels 1233 are formed outside the effective display region 1231 is prepared.
次に、図9(B)に示すように、ダミー画素1233の真上に光検出素子12331を配置し、その受光面がダミー画素1233の発光面を覆うように配置する。この状態で、図9(C)に示すように、光検出素子12331をダミー画素1233の表面に固定する。この後、図9(D)に示すように、ダミー画素1233と光検出素子12331の周囲全体を覆うように硬化性濃色接着剤12333を塗布する。以後、これらの構造を有する表示パネルのうち有効表示領域の外側表面を筐体で隠すことにより表示装置が完成される。 Next, as illustrated in FIG. 9B, the light detection element 12331 is disposed directly above the dummy pixel 1233, and the light receiving surface thereof is disposed so as to cover the light emitting surface of the dummy pixel 1233. In this state, the light detection element 12331 is fixed to the surface of the dummy pixel 1233 as shown in FIG. Thereafter, as shown in FIG. 9D, a curable dark adhesive 12333 is applied so as to cover the entire periphery of the dummy pixel 1233 and the light detection element 12331. Thereafter, the display device is completed by hiding the outer surface of the effective display area of the display panel having these structures with a casing.
なお、使用時には、ダミー画素1233を構成する各基本画素は、入力表示データ信号のブランキング期間を利用して個別に発光制御される。
また、前述した図6に示すように、ダミー画素1233の駆動用にデータ駆動線とゲート駆動線をそれぞれ1本配置するだけで実現できる。
以上のように、ダミー画素1233は有効表示領域1231内の各画素と同じ構造で実現でき、専用の又は大規模な駆動回路を必要としない。
In use, each basic pixel constituting the dummy pixel 1233 is individually controlled to emit light using the blanking period of the input display data signal.
Further, as shown in FIG. 6 described above, this can be realized by arranging only one data drive line and one gate drive line for driving the dummy pixel 1233.
As described above, the dummy pixel 1233 can be realized with the same structure as each pixel in the effective display area 1231 and does not require a dedicated or large-scale driving circuit.
また、ダミー画素1233の構造は、有効表示領域1231の各画素に対応する画素回路と同構造で良い。すなわち、選択トランジスタと駆動トランジスタとで構成する。従って、表示パネル自体の生産上の難易度が上がることやコストの増加はほとんど発生しない。 Further, the structure of the dummy pixel 1233 may be the same as that of the pixel circuit corresponding to each pixel of the effective display area 1231. That is, it is composed of a selection transistor and a drive transistor. Therefore, the difficulty in production of the display panel itself and an increase in cost hardly occur.
ダミー画素発光検出部125は、ダミー画素1233から出力される可視光を検出して電気信号に変換する光検出素子12331に対応する。光検出素子12331には、任意の検出センサーを適用する。一般に、光検出素子12331は、アモルファスシリコン半導体を用いた可視光センサーのようなものが望ましく、電流値として検出される光量情報は増幅されて電圧値に変換され、検出信号として出力される。 The dummy pixel light emission detection unit 125 corresponds to a light detection element 12331 that detects visible light output from the dummy pixel 1233 and converts it into an electrical signal. An arbitrary detection sensor is applied to the light detection element 12331. In general, the light detection element 12331 is preferably a visible light sensor using an amorphous silicon semiconductor. Light amount information detected as a current value is amplified, converted into a voltage value, and output as a detection signal.
劣化特性実測部127は、ダミー画素1233の劣化状態を検出するタイミング(実測タイミング)と、検出タイミング時にダミー画素1233に印加する表示データ信号(階調値)とをダミー画素データ決定部135に与える処理デバイスである。この形態例の場合は、劣化状態の検出は、一定周期(一定のフレーム数毎)で実行する。また、劣化状態の検出は、常に同じ階調値を使用して実行する。同じ階調値でダミー画素1233を光らせることで、発光体の劣化を発光輝度の推移として検出することが可能になる。 The degradation characteristic measurement unit 127 provides the dummy pixel data determination unit 135 with a timing (measurement timing) for detecting the degradation state of the dummy pixel 1233 and a display data signal (gradation value) applied to the dummy pixel 1233 at the detection timing. It is a processing device. In the case of this embodiment, the detection of the deterioration state is executed at a constant cycle (every fixed number of frames). Further, the detection of the deterioration state is always performed using the same gradation value. By illuminating the dummy pixel 1233 with the same gradation value, it is possible to detect the deterioration of the light emitter as the transition of the light emission luminance.
なお、劣化特性実測部127がダミー画素データ決定部135に与える階調値は、RGB別に設定しても良いし、RGBのいずれにも同じ値を用いても良い。例えば、100%階調値(階調が8ビットの場合は「255」)を使用する。因みに、同じ発光色に対応するダミー画素には同じ階調値を与える。
また、劣化特性実測部127は、初期状態に検出された発光輝度と今回検出された発光輝度との差分ΔRを、実測期間内(実測期間の初回検出タイミングから今回の検出タイミングの間)に生じた累積劣化情報として見積もり精度改善部133に与える処理デバイスとしても機能する。
Note that the gradation value given to the dummy pixel data determination unit 135 by the deterioration characteristic measurement unit 127 may be set for each RGB, or the same value may be used for any of RGB. For example, a 100% gradation value (“255” when the gradation is 8 bits) is used. Incidentally, the same gradation value is given to the dummy pixels corresponding to the same emission color.
In addition, the deterioration characteristic actual measurement unit 127 generates a difference ΔR between the light emission luminance detected in the initial state and the light emission luminance detected this time within the actual measurement period (between the initial detection timing of the actual measurement period and the current detection timing). It also functions as a processing device that is given to the estimation accuracy improvement unit 133 as accumulated deterioration information.
なお、劣化特性実測部127は、ダミー画素1233の劣化に要した時間(この例の場合は固定値)と平均階調値も見積もり精度改善部133に与える。
もっとも、劣化特性実測部127において、実測タイミング間の劣化率を算出する場合には、算出結果のみが見積もり精度改善部133に与えられる。劣化率は、単位時間当たりの劣化量で与えられる。従って、ΔRを実測期間のフレーム数で割ることで求めることができる。
It should be noted that the degradation characteristic measurement unit 127 also gives the estimation accuracy improvement unit 133 the time required for degradation of the dummy pixel 1233 (in this example, a fixed value) and the average gradation value.
However, when the deterioration characteristic measurement unit 127 calculates the deterioration rate between the actual measurement timings, only the calculation result is given to the estimation accuracy improvement unit 133. The deterioration rate is given as a deterioration amount per unit time. Therefore, ΔR can be obtained by dividing by the number of frames in the actual measurement period.
ダミー画素累積劣化量算出部129は、ダミー画素について算出された見積もり劣化量の累積値を基本発光色別(RGB別)に算出する処理デバイスである。各ダミー画素に対応するフレーム単位の見積もり劣化量は、劣化量算出部113で算出される。
APL算出部131は、補正表示データ信号についてフレーム単位の平均階調値をRGB画素別に算出する処理と、過去に算出されたRGB画素別の平均階調値の平均値(以下「平均APL値」という。)を算出する処理とを実行する処理デバイスである。
The dummy pixel cumulative deterioration
The APL calculation unit 131 calculates a frame-unit average gradation value for the corrected display data signal for each RGB pixel, and calculates an average value of the average gradation value for each RGB pixel calculated in the past (hereinafter, “average APL value”). And a processing device that executes a process of calculating.
なお、フレーム単位で算出されるRGB画素別の平均階調値は、ダミー画素データ決定部135に与えられる。また、平均APL値は、見積もり精度改善部133に与えられる。
見積もり精度改善部133は、劣化量の算出に使用する階調値/劣化量変換テーブル115の精度を改善する処理機能と、補正量の算出に使用する累積劣化量差の精度を改善する処理機能とを提供する処理デバイスである。
The average gradation value for each RGB pixel calculated for each frame is given to the dummy pixel data determination unit 135. The average APL value is given to the estimation accuracy improvement unit 133.
The estimation accuracy improving unit 133 improves the accuracy of the gradation value / deterioration amount conversion table 115 used for calculating the deterioration amount, and the processing function for improving the accuracy of the accumulated deterioration amount difference used for calculating the correction amount. And a processing device.
図10に、見積もり精度改善部133の内部構成例を示す。見積もり精度改善部133は、実測劣化率算出部1331と、テーブル更新部1333と、見積もり誤差率算出部1335とで構成される。
実測劣化率算出部1331は、ダミー画素1233についてRGB別に実測された劣化率とその実測期間内の平均APL値とに基づいて、全ての階調値に対応する劣化率の現在値を再計算する処理と、全階調値について計算された劣化率に基づいて各階調値に対応する劣化量を計算する処理とを実行する。
FIG. 10 shows an example of the internal configuration of the estimation accuracy improvement unit 133. The estimation accuracy improvement unit 133 includes an actually measured deterioration rate calculation unit 1331, a table update unit 1333, and an estimation error rate calculation unit 1335.
The actually measured deterioration rate calculation unit 1331 recalculates the current values of the deterioration rates corresponding to all the gradation values based on the deterioration rate actually measured for each of the RGB values of the dummy pixel 1233 and the average APL value within the actually measured period. A process and a process of calculating a deterioration amount corresponding to each gradation value based on the deterioration rate calculated for all gradation values are executed.
テーブル更新部1333は、計算結果に基づいて階調値と劣化量とを関連付けた階調値/劣化量変換テーブル115を更新する処理を実行する。
見積もり誤差率算出部1335は、ダミー画素1233についてRGB別に実測された劣化量ΔRと、ダミー画素累積劣化量算出部129で算出された累積劣化量とを比較し、実測劣化量ΔRに対する見積もり誤差量αを100分率で算出する。算出された見積もり誤差量αは、補正量決定部121に与えられる。
The table updating unit 1333 executes processing for updating the gradation value / degradation amount conversion table 115 in which the gradation value and the deterioration amount are associated based on the calculation result.
The estimated error rate calculation unit 1335 compares the degradation amount ΔR actually measured for each of the RGB values of the dummy pixel 1233 with the cumulative degradation amount calculated by the dummy pixel cumulative degradation
ダミー画素データ決定部135は、ダミー画素1233に与えるダミー画素データ(階調値)を決定する処理デバイスである。例えば、ダミー画素1233の劣化状態を実測しない期間、ダミー画素データ決定部135は、有効表示領域全体の平均階調値をダミー画素データに決定する。この平均階調値は、APL算出部131より与えられる。また例えば、ダミー画素1233の劣化状態を実測するタイミングには、ダミー画素データ決定部135は、劣化特性実測部127から与えられる劣化状態検出用の固定階調値をダミー画素データに決定する。 The dummy pixel data determination unit 135 is a processing device that determines dummy pixel data (gradation value) to be given to the dummy pixel 1233. For example, during a period when the deterioration state of the dummy pixel 1233 is not actually measured, the dummy pixel data determination unit 135 determines the average gradation value of the entire effective display area as dummy pixel data. The average gradation value is given from the APL calculation unit 131. Further, for example, at the timing of actually measuring the deterioration state of the dummy pixel 1233, the dummy pixel data determining unit 135 determines the fixed gradation value for detecting the deterioration state given from the deterioration characteristic measuring unit 127 as dummy pixel data.
(b)処理動作
続いて、有機ELディスプレイ装置11で実行される処理動作を説明する。
入力画像の表示時、有機表示領域1231に対応する入力表示データ信号は、映像信号変換部111で補正処理を実行された後、補正表示データ信号として自発光パネル123に与えられる。
(B) Processing Operation Next, the processing operation executed by the organic
When an input image is displayed, an input display data signal corresponding to the organic display region 1231 is subjected to correction processing by the video signal conversion unit 111 and then provided to the self-luminous panel 123 as a corrected display data signal.
ダミー画素データ決定部135は、ダミー画素1233の劣化状態の検出期間でない限り、各フレームについて算出される平均階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部111に与える。すなわち、2つのダミー画素1233には、同じ表示データ信号が与えられる。
この結果、R画素用のダミー画素1233は、直前フレームを構成する全R画素の平均階調値で発光制御される。また、G画素用のダミー画素1233は、直前フレームを構成する全G画素の平均階調値で発光制御される。同様に、B画素用のダミー画素1233は、直前フレームを構成する全B画素の平均階調値で発光制御される。
The dummy pixel data determination unit 135 supplies the average gradation value calculated for each frame to the video signal conversion unit 111 as a display data signal for the dummy pixel, unless the detection period of the deterioration state of the dummy pixel 1233 is detected. That is, the same display data signal is given to the two dummy pixels 1233.
As a result, the R pixel dummy pixel 1233 is controlled to emit light with the average gradation value of all the R pixels constituting the immediately preceding frame. Further, the light emission of the dummy pixel 1233 for the G pixel is controlled by the average gradation value of all the G pixels constituting the immediately preceding frame. Similarly, the light emission of the dummy pixel 1233 for the B pixel is controlled by the average gradation value of all the B pixels constituting the immediately preceding frame.
図11に、ダミー画素データ決定部135が映像信号変換部111に出力するダミー画素1233用の表示データ信号例を示す。この結果、有効表示領域の外側に配置されたダミー画素1233は、有効表示領域1231内の平均的なRGB画素と全く同じ状態で発光することになる。すなわち、画素間の個体誤差を無視すれば、有効表示領域と全く同様に劣化が進行する。 FIG. 11 shows an example of a display data signal for the dummy pixel 1233 output from the dummy pixel data determination unit 135 to the video signal conversion unit 111. As a result, the dummy pixels 1233 arranged outside the effective display area emit light in exactly the same state as the average RGB pixels in the effective display area 1231. That is, if an individual error between pixels is ignored, the deterioration proceeds in the same manner as in the effective display area.
やがて、ダミー画素1233の劣化状態を検出するタイミングになると、ダミー画素データ決定部135は、劣化特性実測部127から与えられた検査用の階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部111に与える。図11は、検出タイミングに100%の階調値が与えられる様子を表している。 Eventually, when it is time to detect the deterioration state of the dummy pixel 1233, the dummy pixel data determination unit 135 converts the gradation value for inspection given from the deterioration characteristic measurement unit 127 as a display data signal for the dummy pixel to convert the video signal. To part 111. FIG. 11 shows a state in which a gradation value of 100% is given to the detection timing.
劣化特性実測部127は、この検出タイミングにダミー画素発光検出部125で検出された発光輝度値を入力する。
図12に、検出結果の推移例を示す。図中、黒丸で示す輝度が検出値である。黒丸を実線で結んで示すように、同じ100%階調値で発光しているにも関わらず、検出された発光輝度が低下していく様子が分かる。もっとも、図12は輝度低下を誇張して表現しており、実際には緩やかに低減する。
The deterioration characteristic actual measurement unit 127 inputs the light emission luminance value detected by the dummy pixel light emission detection unit 125 at this detection timing.
FIG. 12 shows an example of transition of detection results. In the figure, the luminance indicated by a black circle is the detected value. As shown by connecting the black circles with a solid line, it can be seen that the detected light emission luminance decreases despite the fact that light is emitted at the same 100% gradation value. However, FIG. 12 exaggerates the decrease in luminance, and it is gradually reduced.
劣化特性実測部127は、ダミー画素の発光輝度が新たに検出される度に、実測期間の初回の検出値との差分ΔRを算出する。
図12は、発光時間t0とt6の間について差分ΔRを求める様子を表している。
差分ΔRが求まると、見積もり精度改善部133は、実測期間内に生じた劣化量の変化速度、すなわち劣化率を算出することができる。
図13に、劣化率の算出原理を示す。図13は、実測期間の初回の検出タイミングt(n)での検出輝度が100%であり、今回の検出タイミングt(m)での検出輝度が85%の場合を示す。
The degradation characteristic actual measurement unit 127 calculates a difference ΔR from the first detection value in the actual measurement period every time the emission luminance of the dummy pixel is newly detected.
FIG. 12 shows how the difference ΔR is obtained between the light emission times t0 and t6.
When the difference ΔR is obtained, the estimation accuracy improving unit 133 can calculate the change rate of the deterioration amount generated within the actual measurement period, that is, the deterioration rate.
FIG. 13 shows the calculation principle of the deterioration rate. FIG. 13 shows a case where the detection luminance at the first detection timing t (n) in the actual measurement period is 100% and the detection luminance at the current detection timing t (m) is 85%.
従って、差分ΔRは15%である。また、検出タイミングt(n)とt(m)との間のフレーム数がFであるとすると、見積もり精度改善部133は、RGB画素に対応する劣化率をそれぞれΔR/Fとして算出する。
この後、見積もり精度改善部133は、実測期間に対応するRGB画素別の平均APL値をAPL算出部131から取得する。図13の場合、平均階調値は、階調値換算で100(階調値が8ビットの場合)である。
Therefore, the difference ΔR is 15%. Further, assuming that the number of frames between the detection timings t (n) and t (m) is F, the estimation accuracy improving unit 133 calculates the deterioration rate corresponding to the RGB pixels as ΔR / F, respectively.
Thereafter, the estimation accuracy improvement unit 133 acquires the average APL value for each RGB pixel corresponding to the actual measurement period from the APL calculation unit 131. In the case of FIG. 13, the average gradation value is 100 in terms of gradation value (when the gradation value is 8 bits).
このように、実測期間内の実測劣化率と実測期間の平均APL値との関係が確定する。この対応関係は実測値であるので、表示画像の内容や使用環境等の全てを反映する。すなわち、平均APL値と劣化率(劣化量)との対応関係を正確に反映する。
ただし、実測された対応関係は、256通り(階調が8ビットで与えられる場合)の対応関係の1つでしかない。
従って、全ての入力階調値に対応する劣化率(劣化量)を正確に予測可能にするには、他の全ての階調値について現在の劣化率(実測劣化率)を算出する必要がある。
Thus, the relationship between the actually measured deterioration rate within the actual measurement period and the average APL value during the actual measurement period is determined. Since this correspondence is an actual measurement value, it reflects all the contents of the display image, the usage environment, and the like. That is, the correspondence between the average APL value and the deterioration rate (deterioration amount) is accurately reflected.
However, the actually measured correspondence is only one of 256 correspondences (when gradation is given by 8 bits).
Therefore, in order to accurately predict the deterioration rate (deterioration amount) corresponding to all input gradation values, it is necessary to calculate the current deterioration rate (actual deterioration rate) for all other gradation values. .
そこで、見積もり精度改善部133(実測劣化率算出部1331)は、この対応関係を図14に示す階調値と劣化率との基本対応関係を用いて算出する。基本対応関係を参照するのは、階調値に対応する劣化率の実測値が変化しても、実測された対応関係と他の対応関係とは基本的に図14に示す関係を維持すると考えられるからである。図14に示す基本対応関係は、基本テーブル情報として実測劣化率算出部1331に格納される。
図15に、実測劣化率算出部1331による全階調値に対応する劣化率の算出原理を示す。
Therefore, the estimation accuracy improving unit 133 (actually measured deterioration rate calculating unit 1331) calculates this correspondence using the basic correspondence between the gradation value and the deterioration rate shown in FIG. The basic correspondence relationship is referred to because the measured correspondence relationship and other correspondence relationships basically maintain the relationship shown in FIG. 14 even if the actual measurement value of the deterioration rate corresponding to the gradation value changes. Because it is. The basic correspondence shown in FIG. 14 is stored in the measured deterioration rate calculation unit 1331 as basic table information.
FIG. 15 shows the principle of calculation of the deterioration rate corresponding to all gradation values by the actually measured deterioration rate calculation unit 1331.
図15は、実測された対応関係が階調値の100(階調が8ビットで表される場合)であり、その際の実測劣化率をX100 として表している。このとき、任意の階調値aに対応する実測劣化率Xa は、図16に示す基本テーブル曲線を通じて特定される劣化率間の比率αa /α100 を実測劣化率X100 に乗算することにより算出できる。
これにより、階調値間の基本的な対応関係は維持したままで劣化率(劣化速度)だけ増幅された新たな対応関係が算出される。
Figure 15 is actually measured relationship is 100 gradation values (when the gradation is expressed by 8 bits) represents the actual deterioration rate at that time as X 100. At this time, the actually measured deterioration rate X a corresponding to an arbitrary gradation value a is obtained by multiplying the actually measured deterioration rate X 100 by the ratio α a / α 100 between the deterioration rates specified through the basic table curve shown in FIG. Can be calculated.
As a result, a new correspondence relationship amplified by the deterioration rate (degradation speed) is calculated while maintaining the basic correspondence relationship between the gradation values.
見積もり精度改善部133は、全ての階調値に対応する実測劣化率Xa が算出されると、これらの値で階調値/劣化量変換テーブル115を更新する。なお、劣化量は、実測劣化率Xa と発光期間tとの積として算出する。図17に、階調値/劣化量変換テーブル115を構成する全ての階調値について劣化率が更新される様子を示す。
因みに、検出期間(周期)は、一般に短ければ短いほど急激な表示画像の傾向の変化にも対応することができる。従って、その分、予測される劣化量の誤差を少なくすることができる。
When the estimated deterioration rate X a corresponding to all the gradation values is calculated, the estimation accuracy improving unit 133 updates the gradation value / deterioration amount conversion table 115 with these values. The deterioration amount is calculated as a product of the actually measured deterioration rate Xa and the light emission period t. FIG. 17 shows a state where the deterioration rate is updated for all the gradation values constituting the gradation value / degradation amount conversion table 115.
Incidentally, the shorter the detection period (cycle) is, the more generally it can cope with a sudden change in the tendency of the display image. Therefore, the error of the predicted deterioration amount can be reduced accordingly.
また、この階調値/劣化量変換テーブル115の更新処理と並行して、見積もり誤差率算出部1335は、見積もり誤差率αを算出する。見積もり誤差とは、劣化量の予測時に発生した誤差が累積することにより生じる劣化量差をいう。また、見積もり誤差率とは、実輝度劣化率に対する見積もり劣化率との間の誤差の100分率をいう。
図18に対応関係を示す。図中、太線は実輝度劣化率bの変移に対応し、細線は見積もり輝度劣化率aの変移に対応する。見積もり輝度劣化率は、劣化量算出部113で算出される劣化量である。
In parallel with the update process of the gradation value / degradation amount conversion table 115, the estimated error rate calculation unit 1335 calculates the estimated error rate α. The estimation error is a deterioration amount difference caused by accumulation of errors generated when the deterioration amount is predicted. Further, the estimated error rate is a 100% error ratio between the estimated deterioration rate and the actual luminance deterioration rate.
FIG. 18 shows the correspondence. In the figure, the thick line corresponds to the change in the actual luminance deterioration rate b, and the thin line corresponds to the change in the estimated luminance deterioration rate a. The estimated luminance deterioration rate is a deterioration amount calculated by the deterioration amount calculation unit 113.
図18は、輝度劣化率を初期値に対する100分率で表している。この場合、見積もり誤差率αは、b/a%で表される。従って、実輝度劣化率(量)の方が見積もり輝度率(量)よりも進んでいれば、見積もり誤差率αは100%超の値になる。一方、実輝度劣化率(量)の方が見積もり輝度率(量)よりも遅れていれば、見積もり誤差率αは100%未満の値になる。なお、実輝度劣化率(量)と見積もり輝度率(量)が一致していれば、見積もり誤差率αは100%の値になる。 FIG. 18 shows the luminance deterioration rate as a percentage of 100 with respect to the initial value. In this case, the estimated error rate α is represented by b / a%. Accordingly, if the actual luminance deterioration rate (amount) is ahead of the estimated luminance rate (amount), the estimated error rate α is a value exceeding 100%. On the other hand, if the actual luminance deterioration rate (amount) is later than the estimated luminance rate (amount), the estimated error rate α is less than 100%. If the actual luminance deterioration rate (amount) matches the estimated luminance rate (amount), the estimated error rate α is a value of 100%.
そこで、見積もり誤差率算出部1335は、実測劣化率に対するダミー画素について算出された累積劣化量を実測劣化量ΔRで除算し、見積もり誤差率α(=b/a)を算出する。
見積もり誤差率αは補正量決定部121に出力され、補正量決定の前提となる累積劣化量差に乗算される。
Therefore, the estimated error rate calculation unit 1335 divides the accumulated deterioration amount calculated for the dummy pixel with respect to the actually measured deterioration rate by the actually measured deterioration amount ΔR to calculate the estimated error rate α (= b / a).
The estimated error rate α is output to the correction
図19に、見積もり誤差率αの乗算により累積劣化量差に含まれる誤差の補正原理を説明する。見積もり誤差率αは、全ての劣化率X0 〜X255 に対して同じ関係が認められるものとする。
この場合、実際の累積劣化量差(率)β2は、見積もり演算された累積劣化量差(率)β1に見積もり誤差率α(=b/a)として算出される。すなわち、β2=(b/a)×β1として算出れる。
このように、誤差分の影響を除去した状態で補正量が決定されるため、補正精度が格段に改善されることになる。
FIG. 19 illustrates the principle of correcting an error included in the accumulated deterioration amount difference by multiplication of the estimated error rate α. Assume that the estimated error rate α has the same relationship with all the deterioration rates X 0 to X 255 .
In this case, the actual accumulated deterioration amount difference (rate) β2 is calculated as an estimated error rate α (= b / a) to the estimated and calculated accumulated deterioration amount difference (rate) β1. That is, β2 = (b / a) × β1 is calculated.
As described above, since the correction amount is determined in a state where the influence of the error is removed, the correction accuracy is remarkably improved.
(c)効果
以上説明したように、この形態例に係る有機ELディスプレイ装置では、有効表示領域1231の外側にダミー画素1233を1つ配置し、各基本発光色に対応する入力表示データ信号の平均階調値で発光制御する。
これにより、ダミー画素1233の劣化特性を有効表示領域内の劣化特性と一致させることができる。
(C) Effect As described above, in the organic EL display device according to this embodiment, one dummy pixel 1233 is arranged outside the effective display region 1231, and the average of the input display data signals corresponding to the respective basic emission colors. The light emission is controlled by the gradation value.
Thereby, the deterioration characteristic of the dummy pixel 1233 can be matched with the deterioration characteristic in the effective display area.
ところで、ダミー画素1233と光検出素子1231の周囲は、硬化性濃色接着剤12333で完全に被覆される。従って、光検出素子1231には、検出対象とするダミー画素の光だけが確実に入射される。
このように測定値の信頼性の高められた累積劣化量の実測値に基づいて、現在時点での階調値と劣化率(劣化量)との関係を更新することにより、パネル構造上も信号処理的にも実用的な範囲内で劣化情報の予測精度を向上することができる。
By the way, the periphery of the dummy pixel 1233 and the light detection element 1231 is completely covered with the curable dark color adhesive 12333. Therefore, only the light of the dummy pixel to be detected is reliably incident on the light detection element 1231.
In this way, by updating the relationship between the gradation value and the deterioration rate (deterioration amount) at the current time point based on the actual measurement value of the accumulated deterioration amount with increased reliability of the measurement value, the signal is also displayed on the panel structure. The prediction accuracy of deterioration information can be improved within a practical range in terms of processing.
この際、全ての階調値に対応する劣化率(劣化速度)は、1つの対応関係を実測するだけで更新できる。
このため、事前の実験で把握すべき情報量も大幅に削減することが可能になり、この点でも製造コストの大幅な低減を実現できる。
また、この形態例に係る有機ELディスプレイ装置では、画面サイズが大型化しても全画素について光量を検出する構造が不要であるのに加え、配置する1個のダミー画素1233も通常パネルプロセスの延長線上で(パネルプロセスをほとんど変更することなく)作成することができる。
At this time, the deterioration rate (deterioration speed) corresponding to all the gradation values can be updated only by actually measuring one correspondence.
For this reason, it is possible to significantly reduce the amount of information to be grasped in advance experiments, and in this respect also, it is possible to realize a significant reduction in manufacturing costs.
Further, in the organic EL display device according to this embodiment, a structure for detecting the light quantity for all the pixels is not required even when the screen size is increased, and one dummy pixel 1233 to be arranged is also an extension of the normal panel process. Can be created on line (with very little change to the panel process).
すなわち、表示パネル自体の生産難易度が上がることやコストの増加はほとんど発生しない。このように、製造技術上も効果的である。
また、検出対象とするダミー画素以外の光の影響を除去する目的で塗布する硬化性濃色接着剤は、硬化するまでは形状を自在に可変できる。このため、発光素子部分の遮光構造構築に細心の注意を必要とせず、筐体についても従来の仕様のものをそのまま用いることができる。この点でも、表示パネルの製造コストの低減に効果的である。
That is, the production difficulty of the display panel itself is not increased and the cost is hardly increased. Thus, it is also effective in terms of manufacturing technology.
Further, the shape of the curable dark color adhesive applied for the purpose of removing the influence of light other than the dummy pixels to be detected can be freely changed until it is cured. For this reason, it is not necessary to pay close attention to the construction of the light-shielding structure of the light-emitting element portion, and the housing having the conventional specifications can be used as it is. This is also effective in reducing the manufacturing cost of the display panel.
(C)他の形態例
(a)前述の形態例では、ダミー画素1233を有効表示領域の外側に1つだけ配置する場合について説明した。この場合、硬化性濃色接着剤は、主にガラス基板と筐体との隙間から入り込む外光の影響を除去する目的で使用される。
しかし、2つ以上のダミー画素を並べて配置する場合にも適用できる。図20に、2つのダミー画素1233を並べて配置する場合について示す。この場合、硬化性濃色接着剤は、隣接するダミー画素からの伝搬光を遮光する追加の効果を発揮する。
(C) Other Embodiments (a) In the embodiment described above, the case where only one dummy pixel 1233 is arranged outside the effective display area has been described. In this case, the curable dark color adhesive is used mainly for the purpose of removing the influence of external light entering from the gap between the glass substrate and the housing.
However, the present invention can also be applied to a case where two or more dummy pixels are arranged side by side. FIG. 20 shows a case where two dummy pixels 1233 are arranged side by side. In this case, the curable dark color adhesive exhibits an additional effect of blocking the propagation light from the adjacent dummy pixels.
なお、複数個のダミー画素を配置する場合には、これら複数個のダミー画素で検出された輝度値の平均値を求め、この値で累積劣化量差の見積もり精度や変換テーブルの更新処理を実行すれば、ダミー画素の個体誤差の影響を無くして修正精度をより高めることができる。
また言うまでもなく、ダミー画素の配置位置は任意である。
When a plurality of dummy pixels are arranged, the average value of the luminance values detected by the plurality of dummy pixels is obtained, and the estimated accuracy of the accumulated deterioration amount difference and the conversion table update processing are executed with this value. By doing so, the correction accuracy can be further improved by eliminating the influence of the individual error of the dummy pixel.
Needless to say, the arrangement position of the dummy pixels is arbitrary.
(b)前述の形態例では、基本発光色がRGBの3色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて4色以上の場合にも適用できる。
(c)前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機EL素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。
(B) In the above-described embodiment, the case where the basic light emission colors are three colors of RGB has been described. However, the basic light emission colors can be applied to a case where there are four or more colors including complementary colors.
(C) In the above-described embodiment, the color generation form of the basic light emission color has not been described. However, an organic EL element having a different light emitting element material for each basic light emission color may be prepared, and a color filter method or a color conversion method may be used. It may be used to generate a basic emission color.
(d)前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ELディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、FED(field emission display) 、無機ELディスプレイパネル、LEDパネルその他にも適用できる。 (D) In the above-described embodiment, the organic EL display panel is illustrated as an example of the self-luminous display device, but the present invention can also be applied to other self-luminous display devices. For example, the present invention can be applied to FED (field emission display), inorganic EL display panel, LED panel, and the like.
(e)前述の形態例では、階調値/劣化率変換テーブル115の更新機能や累積劣化量差の見積もり誤差を修正する機能を実装する有機ELディスプレイ装置11について説明した。
しかし、これらの機能は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、階調値/劣化率変換テーブル115の更新機能は、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置(カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。)、情報処理端末(携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等)、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。
(E) In the above-described embodiment, the organic
However, these functions may be implemented as a part of an image processing apparatus equipped with a self-luminous display device. For example, the update function of the gradation value / deterioration rate conversion table 115 includes a video camera, a digital camera, and other imaging devices (including not only a camera unit but also a configuration integrated with a recording device), an information processing terminal. (A portable computer, a mobile phone, a portable game machine, an electronic notebook, etc.), a game machine, a printer device, etc. may be mounted.
(f)前述の形態例では、階調値/劣化率変換テーブル115の更新機能や累積劣化量差の見積もり誤差を修正する機能を実装する有機ELディスプレイ装置11について説明した。
しかし、これらの機能は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。
(F) In the above-described embodiment, the organic
However, these functions may be installed in an image processing device that supplies an input display data signal to a self-luminous display device or an image processing device equipped with the self-luminous display device. In other words, a method may be employed in which the light emission luminance and deterioration information of the dummy pixels are taken into the self device from the self light emitting display device.
(g)前述の形態例では、階調値/劣化率変換テーブル115の更新機能や累積劣化量差の見積もり誤差を修正する機能を機能構成の観点から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
(h)前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
(G) In the above-described embodiment, the function of updating the gradation value / deterioration rate conversion table 115 and the function of correcting the estimation error of the accumulated deterioration amount difference have been described from the viewpoint of the functional configuration. It can be realized as hardware or software.
Further, not only all of these processing functions are realized by hardware or software, but some of them may be realized by using hardware or software. That is, a combination of hardware and software may be used.
(H) Various modifications can be considered for the above-described embodiments within the scope of the gist of the invention. Various modifications and applications created or combined based on the description of the present specification are also conceivable.
121 補正量決定部
125 ダミー画素発光検出部
127 劣化特性実測部
129 ダミー画素累積劣化量算出部
133 見積もり精度改善部
1211 見積もり誤差量補正部
1213 補正量算出部
12333 硬化性濃色接着剤
1331 実測劣化率算出部
1333 テーブル更新部
1335 見積もり誤差率算出部
135 ダミー画素データ決定部
121 correction amount determination unit 125 dummy pixel light emission detection unit 127 deterioration
Claims (2)
前記有効表示領域の外側に配置されたダミー画素と、
前記ダミー画素と対面するように位置決めされた光検出素子と、
前記ダミー画素及び前記光検出素子の周囲全体を覆うように配置された硬化性濃色接着層と
を有することを特徴とする表示装置。 An effective display area in which display elements are arranged in a matrix; and
Dummy pixels disposed outside the effective display area;
A photodetecting element positioned to face the dummy pixel;
A curable dark color adhesive layer disposed so as to cover the entire periphery of the dummy pixel and the light detection element.
前記ダミー画素及び前記光検出素子の周囲全体を覆うように硬化性濃色接着層を形成する処理と
を有することを特徴とする表示装置の製造方法。
A process of positioning the light detection element at the facing position of the dummy pixel disposed outside the effective display area;
And a process of forming a curable dark adhesive layer so as to cover the entire periphery of the dummy pixel and the light detection element.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006062126A JP2007242830A (en) | 2006-03-08 | 2006-03-08 | Display, and method of manufacturing display |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006062126A JP2007242830A (en) | 2006-03-08 | 2006-03-08 | Display, and method of manufacturing display |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007242830A true JP2007242830A (en) | 2007-09-20 |
Family
ID=38588090
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006062126A Pending JP2007242830A (en) | 2006-03-08 | 2006-03-08 | Display, and method of manufacturing display |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007242830A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010139837A (en) * | 2008-12-12 | 2010-06-24 | Sony Corp | Image display device and driving method of the same |
JP2010145573A (en) * | 2008-12-17 | 2010-07-01 | Sony Corp | Display device |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11109918A (en) * | 1997-10-03 | 1999-04-23 | Futaba Corp | Organic el display device |
JP2003167550A (en) * | 2001-11-29 | 2003-06-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Display device |
JP2003173869A (en) * | 2001-12-05 | 2003-06-20 | Sony Corp | Display device |
-
2006
- 2006-03-08 JP JP2006062126A patent/JP2007242830A/en active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11109918A (en) * | 1997-10-03 | 1999-04-23 | Futaba Corp | Organic el display device |
JP2003167550A (en) * | 2001-11-29 | 2003-06-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Display device |
JP2003173869A (en) * | 2001-12-05 | 2003-06-20 | Sony Corp | Display device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010139837A (en) * | 2008-12-12 | 2010-06-24 | Sony Corp | Image display device and driving method of the same |
JP2010145573A (en) * | 2008-12-17 | 2010-07-01 | Sony Corp | Display device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8054252B2 (en) | Light-emitting display device, electronic apparatus, burn-in correction device, and program | |
CN102024420B (en) | Display device | |
TWI409766B (en) | Electrooptical apparatus, electronic device, and apparatus and method for detecting outside light | |
US8830144B2 (en) | Display panel and display device | |
JP2007156044A (en) | Spontaneous light emission display device, gray scale value/deterioration rate conversion table update device, and program | |
JP2008176115A (en) | Display apparatus, control computation unit, and display driving method | |
JP4946062B2 (en) | Self-luminous display device, estimated deterioration information correction device, input display data correction device, and program | |
JP2011090046A (en) | Display apparatus, computer program, recording medium, and image display method | |
CN110503011B (en) | Data calibration method, electronic device and non-volatile computer-readable storage medium | |
JP2009031666A (en) | Display device with integrated touch panel | |
JP2007164003A (en) | Self-luminous display device, image processing device, lighting time length control device, and program | |
JP5800946B2 (en) | Image display apparatus and control method thereof | |
JP2007171507A (en) | Spontaneous light emission display device, conversion table updating device, and program | |
JP5743048B2 (en) | Image display device, electronic device, image display system, image display method, and program | |
JP2011082213A (en) | Display panel, module, and electronic apparatus | |
JP2006201627A (en) | Image persistence phenomenon correcting method, luminous device, image persistence phenomenon correcting device and program | |
JP4830495B2 (en) | Self-luminous display device, conversion table update device, and program | |
JP2007206464A (en) | Spontaneous display device, estimation degradation information correction device, input display data compensation device, and program | |
JP2007242830A (en) | Display, and method of manufacturing display | |
JP2007240798A (en) | Spontaneous light emission display device, gray scale value/deterioration quantity conversion table updating device, and input display data correcting device and program | |
JP2007206463A (en) | Self-luminous display device, input display data correction device, and program | |
US11837161B2 (en) | Display device and control method therefor | |
JP4882379B2 (en) | Self-luminous display device, conversion table update device, correction amount determination device, and program | |
JP5002986B2 (en) | Self-luminous display device, electronic device, burn-in correction device, and program | |
JP2006058760A (en) | Display panel device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20081222 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20081225 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090116 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20091009 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20091009 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20091105 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101213 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110216 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110405 |