JP2007189376A - Solid-state imaging device and camera module - Google Patents

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Masayuki Matsunaga
誠之 松長
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a solid-state imaging device capable of making an apparatus having an imaging function thin in thickness, and to provide a camera module. <P>SOLUTION: The solid-state imaging device has a semiconductor substrate 2 having a plurality of light receiving elements formed on its top surface, an infrared cutting filter layer 6 which is formed of an inorganic material to cover the light receiving elements and cuts infrared rays, and a color filter layer 7 which is formed to cover the top surface of the infrared cutting filter layer 6. A camera module or electronic apparatus in which the solid-state imaging element 1 is incorporated need not have an extra filter for current infrared rays. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、固体撮像装置及びカメラモジュールに関し、より特定的には、デジタルカメラや携帯電話に用いられる固体撮像装置及びカメラモジュールに関する。   The present invention relates to a solid-state imaging device and a camera module, and more specifically to a solid-state imaging device and a camera module used for a digital camera or a mobile phone.

一般に、固体撮像装置を用いたカメラまたはカメラモジュールによって、カラー画像を撮像するためには、光路の途中に赤外カットフィルタを挿入することが不可欠である。例えば、特許文献1には、固体撮像装置と赤外カットフィルタとを備えるカメラモジュールが記載されている。   Generally, in order to capture a color image with a camera or camera module using a solid-state imaging device, it is essential to insert an infrared cut filter in the middle of the optical path. For example, Patent Document 1 describes a camera module including a solid-state imaging device and an infrared cut filter.

図12は、従来のカメラモジュールを模式的に示す断面図である。   FIG. 12 is a cross-sectional view schematically showing a conventional camera module.

示されるカメラモジュール90は、基板92上に取り付けられた固体撮像装置91と、固体撮像装置91の受光面に光を集光するレンズ95と、固体撮像装置91とレンズ95との間に挿入された赤外カットフィルタ94とを有する。レンズ95及び赤外カットフィルタ94は、枠体93を介して固体撮像装置91から所定距離離れた位置に固定されている。一例として、赤外カットフィルタ94の厚みは、0.3〜0.5mmであり、赤外カットフィルタ94の下面と、固体撮像装置91の表面との距離は、0.3〜0.5mmである。   A camera module 90 shown is inserted between a solid-state imaging device 91 mounted on a substrate 92, a lens 95 that collects light on a light receiving surface of the solid-state imaging device 91, and the solid-state imaging device 91 and the lens 95. And an infrared cut filter 94. The lens 95 and the infrared cut filter 94 are fixed at a position away from the solid-state imaging device 91 by a frame 93. As an example, the thickness of the infrared cut filter 94 is 0.3 to 0.5 mm, and the distance between the lower surface of the infrared cut filter 94 and the surface of the solid-state imaging device 91 is 0.3 to 0.5 mm. is there.

図13は、図12に示されるA部分の拡大図である。   FIG. 13 is an enlarged view of a portion A shown in FIG.

半導体基板96上に、入射光を光電変換するフォトダイオード97と、フォトダイオード97から出力された信号を読み出す読み出し回路98とを含む画素が複数形成されている。読み出し回路98の表面には、フォトダイオード97以外の部分に光が入射することを避けるための遮光層99が形成されている。   A plurality of pixels including a photodiode 97 that photoelectrically converts incident light and a readout circuit 98 that reads a signal output from the photodiode 97 are formed on a semiconductor substrate 96. On the surface of the readout circuit 98, a light shielding layer 99 is formed to prevent light from entering the portion other than the photodiode 97.

遮光層99の表面にはカラーフィルタ層100が形成されている。一般に、カラーフィルタ層100は、入射光から赤(R)、緑(G)及び青(B)の3原色の光を取り出すために、分光特性の異なる3種類のカラーフィルタを含む。更に、多くの場合、カラーフィルタ層100の表面には、入射光をフォトダイオード97へと効率よく集光するために、マイクロレンズ101が形成される。   A color filter layer 100 is formed on the surface of the light shielding layer 99. In general, the color filter layer 100 includes three types of color filters having different spectral characteristics in order to extract light of three primary colors of red (R), green (G), and blue (B) from incident light. Further, in many cases, a microlens 101 is formed on the surface of the color filter layer 100 in order to efficiently collect incident light onto the photodiode 97.

上述したように、固体撮像装置91を用いて、カラー画像を撮像するためのカメラモジュールが構成される場合、固体撮像装置91の表面から所定距離離れた位置に赤外カットフィルタ94を固定することが必要である。
特開2002−182270号公報
As described above, when a camera module for capturing a color image is configured using the solid-state imaging device 91, the infrared cut filter 94 is fixed at a position away from the surface of the solid-state imaging device 91 by a predetermined distance. is required.
JP 2002-182270 A

近年、デジタルカメラや携帯電話等の機器が薄型化するにつれて、これらの機器に用いられるカメラモジュールの薄型化もまた要望されている。   In recent years, as devices such as digital cameras and mobile phones have become thinner, there has been a demand for thinner camera modules used in these devices.

しかしながら、カメラモジュールを薄く構成しようとすると、赤外カットフィルタの存在が問題になる場合が多い。すなわち、従来のカメラモジュールにおいて、赤外カットフィルタを配置するためには、赤外カットフィルタと固体撮像装置との間にいくらかの隙間が必要である。したがって、単に赤外カットフィルタの厚みを小さくするだけでは、カメラモジュールの薄型化には限界がある。   However, if the camera module is to be made thin, the presence of an infrared cut filter often becomes a problem. That is, in the conventional camera module, in order to arrange the infrared cut filter, some gap is required between the infrared cut filter and the solid-state imaging device. Therefore, there is a limit to reducing the thickness of the camera module simply by reducing the thickness of the infrared cut filter.

それ故に、本発明は、撮像機能を有する機器の薄型化を実現することができる固体撮像装置及びカメラモジュールを提供することを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to provide a solid-state imaging device and a camera module that can realize a reduction in thickness of a device having an imaging function.

第1の局面は、固体撮像装置であって、複数の受光素子を有する基板と、無機材料によって、少なくとも一部の受光素子を覆うように形成される赤外カットフィルタ層と、赤外カットフィルタ層の表面を覆うように形成されるカラーフィルタ層とを備える。   1st aspect is a solid-state imaging device, Comprising: The infrared cut filter layer formed so that at least one light receiving element may be covered with an inorganic material, the board | substrate which has a some light receiving element, and an infrared cut filter And a color filter layer formed so as to cover the surface of the layer.

この場合、赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、全ての受光素子を覆うように形成されても良い。   In this case, the infrared cut filter layer and the color filter layer may be formed so as to cover all the light receiving elements.

また、第1の局面において、赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、規則的な平面パターンに従って、一部の受光素子を覆うように形成されても良い。   In the first aspect, the infrared cut filter layer and the color filter layer may be formed so as to cover a part of the light receiving elements according to a regular plane pattern.

この場合、受光素子は、行列状に配列され、赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、2×2の行列に配列される4つの受光素子のうち3つの受光素子を覆う単位パターンを、繰り返し配列することによって構成される繰り返しパターンを有していても良い。   In this case, the light receiving elements are arranged in a matrix, and the infrared cut filter layer and the color filter layer repeat a unit pattern covering three light receiving elements among the four light receiving elements arranged in a 2 × 2 matrix. You may have the repeating pattern comprised by arranging.

あるいは、受光素子は、行列状に配列され、赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、連続する3行のうち2行に配列される受光素子を覆う単位パターンを、繰り返し配列することによって構成される繰り返しパターンを有していても良い。   Alternatively, the light receiving elements are arranged in a matrix, and the infrared cut filter layer and the color filter layer are configured by repeatedly arranging unit patterns covering the light receiving elements arranged in two of three consecutive rows. It may have a repeating pattern.

あるいは、受光素子は、行列状に配列され、赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、連続する3列のうち2列に配列される受光素子を覆う単位パターンを、繰り返し配列することによって構成される繰り返しパターンを有していても良い。   Alternatively, the light receiving elements are arranged in a matrix, and the infrared cut filter layer and the color filter layer are configured by repeatedly arranging unit patterns covering the light receiving elements arranged in two out of three consecutive rows. It may have a repeating pattern.

また、赤外カットフィルタ層は、SiOからなる層と、SiNからなる層とが積層された多層膜であっても良い。   The infrared cut filter layer may be a multilayer film in which a layer made of SiO and a layer made of SiN are laminated.

この場合、赤外カットフィルタ層は、SiONからなる層を更に含んでも良い。   In this case, the infrared cut filter layer may further include a layer made of SiON.

また、赤外カットフィルタ層は、SiOからなる層と、TiOからなる層とが積層された多層膜であっても良い。   The infrared cut filter layer may be a multilayer film in which a layer made of SiO and a layer made of TiO are stacked.

また、第1の局面において、基板は、受光素子から信号を読み出す読み出し部を更に含み、当該固体撮像装置は、基板とカラーフィルタ層との間に、入射光の一部を遮蔽する遮光層を更に備えていても良い。   In the first aspect, the substrate further includes a readout unit that reads a signal from the light receiving element, and the solid-state imaging device includes a light shielding layer that shields part of incident light between the substrate and the color filter layer. Furthermore, you may provide.

第2の局面は、第1の局面に係る固体撮像装置を備えるカメラモジュールに向けられている。   The second aspect is directed to a camera module including the solid-state imaging device according to the first aspect.

本発明によれば、固体撮像装置内に赤外カットフィルタが形成されるため、固体撮像装置と赤外カットフィルタとをそれぞれ別個に備えるカメラモジュールと比べて、厚みの薄いカメラモジュールを構成することが可能となる。   According to the present invention, since the infrared cut filter is formed in the solid-state imaging device, a camera module having a smaller thickness than that of the camera module that includes the solid-state imaging device and the infrared cut filter separately. Is possible.

以下、図面を参照しながら、各実施形態について説明する。尚、各図中において、同一符号は、同一または相当部分を示す。   Hereinafter, each embodiment will be described with reference to the drawings. In each figure, the same numerals indicate the same or corresponding parts.

(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の概略構成を示す断面図である。
(First embodiment)
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a solid-state imaging apparatus according to the first embodiment of the present invention.

固体撮像装置1は、表面に複数の画素が形成された半導体基板2と、遮光層5と、赤外カットフィルタ層6と、カラーフィルタ層7と、複数のマイクロレンズ8とを備える。   The solid-state imaging device 1 includes a semiconductor substrate 2 having a plurality of pixels formed on the surface, a light shielding layer 5, an infrared cut filter layer 6, a color filter layer 7, and a plurality of microlenses 8.

半導体基板2に形成された画素の各々は、例えばフォトダイオードのように、入射光を光電変換する受光素子3と、受光素子3から出力される信号を読み出すための読み出し回路4とを含む。画素の各々は、半導体基板2上において行列状に整列するように形成されている。   Each of the pixels formed on the semiconductor substrate 2 includes a light receiving element 3 that photoelectrically converts incident light, such as a photodiode, and a read circuit 4 that reads a signal output from the light receiving element 3. Each of the pixels is formed on the semiconductor substrate 2 so as to be arranged in a matrix.

遮光層5は、入射光の一部を遮蔽するために、すなわち、入射光が受光素子3の受光面以外の部分に入射することを避けるために設けられている。   The light shielding layer 5 is provided to shield a part of the incident light, that is, to prevent the incident light from entering the part other than the light receiving surface of the light receiving element 3.

赤外カットフィルタ層6は、全ての受光素子3の受光面を覆うように、遮光層5の表面に形成されている。尚、赤外カットフィルタ層6の構成の詳細については後述する。   The infrared cut filter layer 6 is formed on the surface of the light shielding layer 5 so as to cover the light receiving surfaces of all the light receiving elements 3. Details of the configuration of the infrared cut filter layer 6 will be described later.

カラーフィルタ層7は、有機材料よりなり、赤外カットフィルタ層6の表面を覆うように、赤外カットフィルタ層6上に形成されている。カラーフィルタ層7は、赤(R)、緑(G)及び青(B)の3原色の光を取り出すために、分光特性の異なる3種類のカラーフィルタを含む。尚、3種類のカラーフィルタの各々は、平面視において、予め定められたパターンに従って、画素を1つずつ覆うように配列されている。   The color filter layer 7 is made of an organic material, and is formed on the infrared cut filter layer 6 so as to cover the surface of the infrared cut filter layer 6. The color filter layer 7 includes three kinds of color filters having different spectral characteristics in order to extract light of three primary colors of red (R), green (G), and blue (B). Each of the three types of color filters is arranged so as to cover the pixels one by one according to a predetermined pattern in plan view.

マイクロレンズ8の各々は、受光素子3の各々と対応するように、カラーフィルタ層7の表面に形成されている。マイクロレンズの各々は、入射光を効率よく受光素子3の受光面へと集光するために設けられている。   Each of the microlenses 8 is formed on the surface of the color filter layer 7 so as to correspond to each of the light receiving elements 3. Each of the microlenses is provided to efficiently collect incident light onto the light receiving surface of the light receiving element 3.

図2は、図1に示される赤外カットフィルタ層の拡大図である。   FIG. 2 is an enlarged view of the infrared cut filter layer shown in FIG.

赤外カットフィルタ層6は、無機材料からなる層9及び層10が交互に積層された多層膜構造を有する。例えば、層9は、TiOによって形成され、層10は、SiOによって形成される。また、層9は、TiOの代わりに、SiNによって形成されていても良い。更に、赤外カットフィルタ層6は、層9及び層10に加えて、SiONによって形成される層が更に積層されていても良い。   The infrared cut filter layer 6 has a multilayer structure in which layers 9 and 10 made of an inorganic material are alternately stacked. For example, the layer 9 is made of TiO and the layer 10 is made of SiO. The layer 9 may be formed of SiN instead of TiO. Furthermore, in addition to the layer 9 and the layer 10, the infrared cut filter layer 6 may further include a layer formed of SiON.

層9及び層10の各々の厚みは、一例として、0.1〜0.3μmの範囲に設定されていれば良い。また、本実施形態においては、赤外カットフィルタ層6は、層9と層10とを交互に4層ずつ積層することによって形成されている。ただし、積層される層の数は、要求される赤外線のカット特性や、材料等によって適宜設定されれば良く、一例として、2種類の層を順に積層する場合、6〜12層の範囲であれば良い。   The thickness of each of the layer 9 and the layer 10 should just be set to the range of 0.1-0.3 micrometer as an example. Moreover, in this embodiment, the infrared cut filter layer 6 is formed by laminating | stacking the layer 9 and the layer 10 4 layers alternately. However, the number of layers to be stacked may be set as appropriate according to required infrared cut characteristics, materials, etc. As an example, when two types of layers are sequentially stacked, the number of layers may be in the range of 6 to 12 layers. It ’s fine.

本実施形態に係る固体撮像装置1は、無機材料の多層膜として形成された赤外カットフィルタ層6を備える点に特徴を有する。それ故、半導体製造プロセスにおいて、赤外カットフィルタをマイクロレンズ8と半導体基板2との間に形成することが可能となる。一般に、カラーフィルタ層7は、有機材料によって形成されるが、有機材料の表面に無機材料を積層することは容易ではない。したがって、赤外カットフィルタ層6を、遮光層5と、カラーフィルタ層7との間に形成することがより好ましい。特に、製造工程において、遮光層5の表面は、平坦化されるため、製造を容易にする観点では、遮光層5の表面に赤外カットフィルタ層6を形成することがより好ましい。   The solid-state imaging device 1 according to this embodiment is characterized in that it includes an infrared cut filter layer 6 formed as a multilayer film of an inorganic material. Therefore, an infrared cut filter can be formed between the microlens 8 and the semiconductor substrate 2 in the semiconductor manufacturing process. In general, the color filter layer 7 is formed of an organic material, but it is not easy to stack an inorganic material on the surface of the organic material. Therefore, it is more preferable to form the infrared cut filter layer 6 between the light shielding layer 5 and the color filter layer 7. In particular, in the manufacturing process, since the surface of the light shielding layer 5 is flattened, it is more preferable to form the infrared cut filter layer 6 on the surface of the light shielding layer 5 from the viewpoint of facilitating the production.

また、赤外カットフィルタ層6を形成する材料には、半導体製造プロセスにおいて一般に用いられるSiO、SiN、TiO、SiON等が好適である。また、赤外線を分光するために、赤外カットフィルタ層6が多層膜構造を有していることが好ましい。   Moreover, as a material for forming the infrared cut filter layer 6, SiO, SiN, TiO, SiON or the like generally used in a semiconductor manufacturing process is suitable. In order to separate infrared rays, the infrared cut filter layer 6 preferably has a multilayer structure.

以上説明したように、本実施形態においては、赤外フィルタ層6は、無機材料が積層された多層膜として、半導体基板2とカラーフィルタ層7との間に形成される。したがって、赤外カットフィルタ層6自体の厚みを格段に薄くすることができる。一例として、図13に示される赤外カットフィルタの厚みが0.3〜0.5mm(300〜500μm)程度であるのに対し、本実施形態に示される赤外カットフィルタ層6の厚みは、1〜2μm程度まで薄く形成される。また、本実施形態に係る固体撮像装置1がカメラモジュールに用いられる場合、従来のように、別途赤外カットフィルタを必要としないことは言うまでもない。   As described above, in the present embodiment, the infrared filter layer 6 is formed between the semiconductor substrate 2 and the color filter layer 7 as a multilayer film in which inorganic materials are laminated. Therefore, the thickness of the infrared cut filter layer 6 itself can be remarkably reduced. As an example, while the thickness of the infrared cut filter shown in FIG. 13 is about 0.3 to 0.5 mm (300 to 500 μm), the thickness of the infrared cut filter layer 6 shown in the present embodiment is: It is thinly formed to about 1 to 2 μm. Needless to say, when the solid-state imaging device 1 according to the present embodiment is used in a camera module, a separate infrared cut filter is not required as in the related art.

したがって、本実施形態に係る固体撮像装置1によれば、カメラモジュール及び撮像機能を有する電子機器の大幅な薄型化を実現することが可能となる。   Therefore, according to the solid-state imaging device 1 according to the present embodiment, it is possible to realize a significant reduction in the thickness of an electronic device having a camera module and an imaging function.

尚、赤外カット特性を向上させるために、赤外カットフィルタ層6を構成する層の数や、赤外カットフィルタ層6の厚みを更に増加しても良い。この場合であっても、従来のように、別途赤外カットフィルタを必要としないので、本実施形態に係る固体撮像装置と同様の効果を奏することができる。   In order to improve the infrared cut characteristics, the number of layers constituting the infrared cut filter layer 6 and the thickness of the infrared cut filter layer 6 may be further increased. Even in this case, since an infrared cut filter is not required separately as in the conventional case, the same effect as the solid-state imaging device according to the present embodiment can be obtained.

(第2の実施形態)
図3は、本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置の概略構成を示す断面図である。第2の実施形態に係る固体撮像装置11の基本的な構造は、第1の実施形態に係るものと同様であるので、以下においては、相違点を中心に説明する。
(Second Embodiment)
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a solid-state imaging apparatus according to the second embodiment of the present invention. Since the basic structure of the solid-state imaging device 11 according to the second embodiment is the same as that according to the first embodiment, the following description focuses on the differences.

固体撮像装置11は、赤外カットフィルタ層6及びカラーフィルタ層7が半導体基板2の表面に対して部分的に形成されている点と、有機層12を有している点とにおいて、第1の実施形態に係るものとは異なっている。   The solid-state imaging device 11 is first in that the infrared cut filter layer 6 and the color filter layer 7 are partially formed with respect to the surface of the semiconductor substrate 2 and the organic layer 12 is included. This is different from that according to the embodiment.

より詳細には、赤外カットフィルタ層6及びカラーフィルタ層7は、平面視において、所定の繰り返しパターンに従って、複数の受光素子3のうち一部のみを規則的に覆うように、遮光層5上に形成されている。尚、赤外カットフィルタ層6及びカラーフィルタ層7の繰り返しパターンの詳細については後述する。   More specifically, the infrared cut filter layer 6 and the color filter layer 7 are arranged on the light shielding layer 5 so as to regularly cover only a part of the plurality of light receiving elements 3 according to a predetermined repeating pattern in plan view. Is formed. The details of the repeated pattern of the infrared cut filter layer 6 and the color filter layer 7 will be described later.

有機層12は、光学的に透明な有機材料によって、遮光層5の表面のうち、赤外カットフィルタ層6及びカラーフィルタ層7が形成されていない部分を埋め込むように形成されている。有機層12は、マイクロレンズ8の形成を容易にするために設けられている。   The organic layer 12 is formed of an optically transparent organic material so as to embed a portion of the surface of the light shielding layer 5 where the infrared cut filter layer 6 and the color filter layer 7 are not formed. The organic layer 12 is provided to facilitate the formation of the microlens 8.

そして、マイクロレンズ8の各々は、受光素子3の各々と対応するように、カラーフィルタ層7及び有機層12の表面に形成されている。   Each of the microlenses 8 is formed on the surface of the color filter layer 7 and the organic layer 12 so as to correspond to each of the light receiving elements 3.

図4は、図3に示される固体撮像装置の製造方法を説明するための概略図である。   FIG. 4 is a schematic diagram for explaining a method of manufacturing the solid-state imaging device shown in FIG.

本実施形態に係る固体撮像装置11は、半導体製造プロセスに従って製造される。より具体的には、まず、図4に示されるように、遮光層5の表面に、赤外カットフィルタ層6及びカラーフィルタ層7を、所定のパターンに従って受光素子3の一部を規則的に覆うように形成する。次に、光学的に透明な材料を、赤外カットフィルタ層6及びカラーフィルタ層7の隙間17に埋め込むことによって、有機層12を形成する。その後、カラーフィルタ層7及び有機層12の表面に複数のマイクロレンズ8を形成すると、図3に示される固体撮像装置11が形成される。   The solid-state imaging device 11 according to the present embodiment is manufactured according to a semiconductor manufacturing process. More specifically, first, as shown in FIG. 4, the infrared cut filter layer 6 and the color filter layer 7 are regularly formed on the surface of the light shielding layer 5, and a part of the light receiving element 3 is regularly arranged according to a predetermined pattern. Form to cover. Next, the organic layer 12 is formed by embedding an optically transparent material in the gap 17 between the infrared cut filter layer 6 and the color filter layer 7. Thereafter, when a plurality of microlenses 8 are formed on the surfaces of the color filter layer 7 and the organic layer 12, the solid-state imaging device 11 shown in FIG. 3 is formed.

ここで、本実施形態に係る固体撮像装置11の利点について説明する。   Here, advantages of the solid-state imaging device 11 according to the present embodiment will be described.

再度図3を参照して、赤外カットフィルタ層6及びカラーフィルタ層7によって覆われる画素は、カラーフィルタ層7の特性に応じて可視光(例えば、RGB)を検出することができる。一方、赤外カットフィルタ層6及びカラーフィルタ層7によって覆われていない画素は、赤外線を検出することが可能である。   Referring to FIG. 3 again, the pixels covered by the infrared cut filter layer 6 and the color filter layer 7 can detect visible light (for example, RGB) according to the characteristics of the color filter layer 7. On the other hand, pixels that are not covered by the infrared cut filter layer 6 and the color filter layer 7 can detect infrared rays.

赤外カットフィルタ層6は、半導体製造プロセスに従って形成されるため、赤外カットフィルタ層6の平面パターンを微細化することができる。よって、図3に示されるように、複数の画素の一部を選択的に覆うように赤外カットフィルタ層6を形成すれば、可視光を検出する画素と、赤外線を検出する画素とを併せ持つ固体撮像装置11を構成することが可能となる。   Since the infrared cut filter layer 6 is formed according to a semiconductor manufacturing process, the planar pattern of the infrared cut filter layer 6 can be miniaturized. Therefore, as shown in FIG. 3, if the infrared cut filter layer 6 is formed so as to selectively cover a part of a plurality of pixels, it has both a pixel for detecting visible light and a pixel for detecting infrared light. The solid-state imaging device 11 can be configured.

従来技術において説明したように(図12及び図13)、一般的なカメラモジュールにおいては、赤外カットフィルタは、固体撮像装置の光路上に固定されている。そのため、1つの固体撮像装置を用いて可視光及び赤外線の両方を検出するためには、赤外カットフィルタを固体撮像装置に着脱自在に取り付ける必要がある。仮に、赤外カットフィルタが着脱自在となるように機構的に固体撮像装置に取り付けられた場合、固体撮像装置が組み込まれる機器の構成が複雑になるという問題がある。また、当該機器のサイズが増加することも予想される。   As described in the prior art (FIGS. 12 and 13), in a general camera module, the infrared cut filter is fixed on the optical path of the solid-state imaging device. Therefore, in order to detect both visible light and infrared rays using a single solid-state imaging device, it is necessary to attach an infrared cut filter to the solid-state imaging device in a detachable manner. If the infrared cut filter is mechanically attached to the solid-state imaging device so as to be detachable, there is a problem that the configuration of the device in which the solid-state imaging device is incorporated becomes complicated. It is also expected that the size of the device will increase.

これに対して、本実施形態に係る固体撮像装置11によれば、別途赤外カットフィルタを用いることなく、電気的に画素を選択することによって、可視光の検出と、赤外線の検出とを切り換えることができる。特に、本実施形態に係る固体撮像装置11は、高照度下におけるカラー画像の撮像と、低照度下における高感度撮像との両方を実現することができ、かつ、小型化が望まれる機器等に有用である。例えば、固体撮像装置11は、カメラ付き携帯電話や、暗視カメラ等に利用され得る。   On the other hand, according to the solid-state imaging device 11 according to the present embodiment, visible light detection and infrared light detection are switched by electrically selecting a pixel without using an infrared cut filter separately. be able to. In particular, the solid-state imaging device 11 according to the present embodiment is capable of realizing both color image capturing under high illuminance and high-sensitivity imaging under low illuminance, and for devices that are desired to be downsized. Useful. For example, the solid-state imaging device 11 can be used for a mobile phone with a camera, a night vision camera, or the like.

尚、図3に示される固体撮像装置11は、カラーフィルタ層7の表面と、有機層12の表面とは、同一平面に含まれるように形成されているが、有機層12の厚みは特に限定されない。また、有機層12は、必ずしも形成されていなくても良い。以下、本実施形態の変形例を例示する。   In the solid-state imaging device 11 shown in FIG. 3, the surface of the color filter layer 7 and the surface of the organic layer 12 are formed so as to be included in the same plane, but the thickness of the organic layer 12 is particularly limited. Not. Moreover, the organic layer 12 does not necessarily need to be formed. Hereinafter, the modification of this embodiment is illustrated.

図5は、本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置の変形例を示す断面図であり、図6本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置の他の変形例を示す断面図である。   FIG. 5 is a cross-sectional view showing a modification of the solid-state imaging device according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a cross-sectional view showing another modification of the solid-state imaging device according to the second embodiment of the present invention. FIG.

図5に示される固体撮像装置14は、有機層12を備えていない点と、マイクロレンズ13が遮光層5の表面に直接形成されている点とにおいて、図3に示されるものとは異なる。また、図6に示される固体撮像装置16は、有機層15の厚みが図3に示される有機層12より薄い点で、図3に示されるものとは異なる。   The solid-state imaging device 14 shown in FIG. 5 differs from that shown in FIG. 3 in that it does not include the organic layer 12 and in that the microlens 13 is formed directly on the surface of the light shielding layer 5. Moreover, the solid-state imaging device 16 shown in FIG. 6 is different from that shown in FIG. 3 in that the thickness of the organic layer 15 is thinner than that of the organic layer 12 shown in FIG.

しかしながら、固体撮像装置14及び16のいずれも、図3に示される固体撮像装置11と同様に形成された赤外カットフィルタ層6とカラーフィルタ層7とを備える。それ故に、固体撮像装置14及び16は、図3に示される固体撮像装置11と同様の効果を奏することができる。   However, each of the solid-state imaging devices 14 and 16 includes an infrared cut filter layer 6 and a color filter layer 7 formed in the same manner as the solid-state imaging device 11 shown in FIG. Therefore, the solid-state imaging devices 14 and 16 can achieve the same effects as the solid-state imaging device 11 shown in FIG.

ここで、図7〜図10を参照しながら、カラーフィルタ層及び赤外カットフィルタ層の配列パターンについて説明する。尚、図7〜図10に示される矩形の各々は、画素の各々に対応する領域を表す。また、図7〜図10に示される「R」、「G」、「B」の表記の各々は、赤、緑、青の光を検出する画素の各々を表し、「IR」の表記は、赤外線を検出する画素を表す。以下においては、説明を簡略化するために、赤、緑、青の光を検出する画素の各々を、R画素、G画素、B画素といい、赤外線を検出する画素をIR画素という。   Here, the arrangement pattern of the color filter layer and the infrared cut filter layer will be described with reference to FIGS. Each of the rectangles shown in FIGS. 7 to 10 represents a region corresponding to each pixel. Each of the notations “R”, “G”, and “B” shown in FIGS. 7 to 10 represents each pixel that detects red, green, and blue light, and the notation “IR” Represents a pixel that detects infrared rays. In the following, in order to simplify the description, each of the pixels that detect red, green, and blue light is referred to as an R pixel, a G pixel, and a B pixel, and a pixel that detects infrared light is referred to as an IR pixel.

図7は、カラーフィルタのベイヤ配列を示す図である。   FIG. 7 is a diagram illustrating a Bayer array of color filters.

一般に、カラー画像を撮像するための固体撮像装置は、図7に示されるベイヤ配列を有するカラーフィルタ層を備える。より詳細には、2×2の行列状に配列される4つの画素は、互いに隣接しないように配置される2つのG画素と、1つのR画素と、1つのB画素とを含む。   In general, a solid-state imaging device for capturing a color image includes a color filter layer having a Bayer arrangement shown in FIG. More specifically, the four pixels arranged in a 2 × 2 matrix include two G pixels, one R pixel, and one B pixel that are not adjacent to each other.

尚、上記の第1の実施形態に係る固体撮像装置11は、図7に示される配列を有するカラーフィルタ層を備えていても良い。   Note that the solid-state imaging device 11 according to the first embodiment may include a color filter layer having the arrangement shown in FIG.

図8は、本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置におけるフィルタ配列の一例を示す図である。   FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a filter array in the solid-state imaging device according to the second embodiment of the present invention.

図8に示されるフィルタ配列は、図7に示されるベイヤ配列において、2×2の行列に含まれる1つのG画素を、IR画素に置き換えるように構成されている。より詳細には、図8に示される例において、赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、2×2の行列状に配列される4つの受光素子のうち3つの受光素子(図8に示されるR画素、G画素及びB画素の各々に含まれる受光素子)を覆う単位パターンが、繰り返し配列された繰り返しパターンを有する。このようなフィルタ配列によれば、G画素を規則的にIR画素に置き換えることによって、IR画素をバランス良く配置することができる。   The filter array shown in FIG. 8 is configured to replace one G pixel included in a 2 × 2 matrix with an IR pixel in the Bayer array shown in FIG. 7. More specifically, in the example shown in FIG. 8, the infrared cut filter layer and the color filter layer are three light receiving elements (shown in FIG. 8) out of four light receiving elements arranged in a 2 × 2 matrix. A unit pattern covering a light receiving element included in each of the R pixel, the G pixel, and the B pixel has a repeated pattern in which the unit patterns are repeatedly arranged. According to such a filter arrangement, the IR pixels can be arranged in a balanced manner by regularly replacing the G pixels with the IR pixels.

図9は、本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置におけるフィルタ配列の他の一例を示す図である。   FIG. 9 is a diagram illustrating another example of the filter array in the solid-state imaging device according to the second embodiment of the present invention.

図9に示されるフィルタ配列は、連続する2行のRGBの各画素毎に、1行のIR画素を設けるように構成されている。より詳細には、図9に示される例において、赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、連続する3行のうち2行に配列される受光素子の各々を覆う単位パターンが、列方向(図9における上下方向)に繰り返し配列された繰り返しパターンを有する。   The filter array shown in FIG. 9 is configured to provide one row of IR pixels for each of two consecutive rows of RGB pixels. More specifically, in the example shown in FIG. 9, the infrared cut filter layer and the color filter layer have unit patterns covering each of the light receiving elements arranged in two of three consecutive rows in the column direction (FIG. 9 in the vertical direction).

図10は、本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置におけるフィルタ配列の他の一例を示す図である。   FIG. 10 is a diagram illustrating another example of the filter array in the solid-state imaging device according to the second embodiment of the present invention.

図10に示されるフィルタ配列は、連続する2列のRGBの各画素毎に、一列のIR画素が設けられて構成されている。より詳細には、図10に示される例において、赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、連続する3列のうち2列に配列される受光素子の各々を覆う単位パターンが、行方向(図10における左右方向)に繰り返し配列された繰り返しパターンを有する。   The filter array shown in FIG. 10 is configured such that one row of IR pixels is provided for each of two consecutive RGB pixels. More specifically, in the example shown in FIG. 10, the infrared cut filter layer and the color filter layer have unit patterns covering each of the light receiving elements arranged in two out of three consecutive columns in the row direction (FIG. 10 in the horizontal direction).

図9及び図10に示されるフィルタ配列によれば、RGBの各画素は、ベイヤ配列に従って配列されている。すなわち、IR画素の行または列を考慮しなければ、RGBの各画素の配置は、図7に示されるベイヤ配列におけるものと同様である。したがって、図9または図10に示されるフィルタ配列を有する固体撮像装置は、RGBの各画素から出力される信号を、図7のフィルタ配列を有する固体撮像装置と同様に処理することができる点で利点を有する。   According to the filter arrangement shown in FIGS. 9 and 10, the RGB pixels are arranged according to the Bayer arrangement. That is, if the rows or columns of IR pixels are not taken into consideration, the arrangement of the RGB pixels is the same as that in the Bayer array shown in FIG. Therefore, the solid-state imaging device having the filter array shown in FIG. 9 or FIG. 10 can process signals output from the RGB pixels in the same manner as the solid-state imaging device having the filter array of FIG. Have advantages.

尚、本実施形態においては、フィルタ配列が特定されているが、フィルタ配列はこれらの例に限定されるものではない。可視光の画像と赤外の画像とを撮像する観点では、赤外カットフィルタ層は、上記に示される例以外の規則的なパターンに従って、一部の受光素子を選択的に覆うように形成されていても良い。   In the present embodiment, the filter array is specified, but the filter array is not limited to these examples. From the viewpoint of capturing a visible light image and an infrared image, the infrared cut filter layer is formed so as to selectively cover some of the light receiving elements according to a regular pattern other than the example shown above. May be.

(第3の実施形態)
図11は、本発明の第3の実施形態に係るカメラモジュールを模式的に示す断面図である。
(Third embodiment)
FIG. 11 is a cross-sectional view schematically showing a camera module according to the third embodiment of the present invention.

カメラモジュール20は、基板22上に取り付けられた固体撮像装置21と、固体撮像装置21の受光面に光を集光するレンズ24と、レンズ24を固体撮像装置21に対して配置するための枠体23とを備える。尚、固体撮像装置21は、上記の第1及び第2の実施形態に係る固体撮像装置のいずれかと同一、または、いずれかに相当するものである。   The camera module 20 includes a solid-state imaging device 21 mounted on a substrate 22, a lens 24 that focuses light on a light receiving surface of the solid-state imaging device 21, and a frame for arranging the lens 24 with respect to the solid-state imaging device 21 And a body 23. The solid-state imaging device 21 is the same as or corresponds to any one of the solid-state imaging devices according to the first and second embodiments.

したがって、本実施形態に係るカメラモジュール20によれば、赤外カットフィルタを別途設ける必要がないので、赤外カットフィルタの厚みと、赤外カットフィルタを配置するために要する隙間の間隔との合計分だけ、カメラモジュール20の厚みを低減することができる。   Therefore, according to the camera module 20 according to the present embodiment, since it is not necessary to separately provide an infrared cut filter, the sum of the thickness of the infrared cut filter and the gap interval required for arranging the infrared cut filter Accordingly, the thickness of the camera module 20 can be reduced.

本発明は、例えば、デジタルカメラや携帯電話等に用いられる固体撮像装置及びカメラモジュールとして利用できる。   The present invention can be used as, for example, a solid-state imaging device and a camera module used for a digital camera, a mobile phone, and the like.

本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の概略構成を示す断面図Sectional drawing which shows schematic structure of the solid-state imaging device concerning the 1st Embodiment of this invention 図1に示される赤外カットフィルタ層の拡大図Enlarged view of the infrared cut filter layer shown in FIG. 本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置の概略構成を示す断面図Sectional drawing which shows schematic structure of the solid-state imaging device which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 図3に示される固体撮像装置の製造方法を説明するための概略図Schematic for demonstrating the manufacturing method of the solid-state imaging device shown by FIG. 本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置の変形例を示す断面図Sectional drawing which shows the modification of the solid-state imaging device which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置の他の変形例を示す断面図Sectional drawing which shows the other modification of the solid-state imaging device which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. カラーフィルタのベイヤ配列を示す図Diagram showing color filter Bayer array 本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置におけるフィルタ配列の一例を示す図The figure which shows an example of the filter arrangement | sequence in the solid-state imaging device which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置におけるフィルタ配列の他の一例を示す図The figure which shows another example of the filter arrangement | sequence in the solid-state imaging device which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置におけるフィルタ配列の他の一例を示す図The figure which shows another example of the filter arrangement | sequence in the solid-state imaging device which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態に係るカメラモジュールを模式的に示す断面図Sectional drawing which shows typically the camera module which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 従来のカメラモジュールを模式的に示す断面図Sectional drawing which shows the conventional camera module typically 図12に示されるA部分の拡大図Enlarged view of portion A shown in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1、11、14、16、21 固体撮像装置
2 半導体基板
3 受光素子
4 読み出し回路
5 遮光層
6 赤外カットフィルタ層
7 カラーフィルタ層
9、10 層
20 カメラモジュール
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 11, 14, 16, 21 Solid-state imaging device 2 Semiconductor substrate 3 Light receiving element 4 Reading circuit 5 Light shielding layer 6 Infrared cut filter layer 7 Color filter layer 9, 10 layer 20 Camera module

Claims (11)

固体撮像装置であって、
複数の受光素子を有する基板と、
無機材料によって、少なくとも一部の前記受光素子を覆うように形成される赤外カットフィルタ層と、
前記赤外カットフィルタ層の表面を覆うように形成されるカラーフィルタ層とを備える、固体撮像装置。
A solid-state imaging device,
A substrate having a plurality of light receiving elements;
An infrared cut filter layer formed by an inorganic material so as to cover at least a part of the light receiving element;
A solid-state imaging device comprising: a color filter layer formed so as to cover a surface of the infrared cut filter layer.
前記赤外カットフィルタ層及び前記カラーフィルタ層は、全ての前記受光素子を覆うように形成されることを特徴とする、請求項1に記載の固体撮像装置。   The solid-state imaging device according to claim 1, wherein the infrared cut filter layer and the color filter layer are formed so as to cover all the light receiving elements. 前記赤外カットフィルタ層及び前記カラーフィルタ層は、規則的な平面パターンに従って、一部の前記受光素子を覆うように形成されることを特徴とする、請求項1に記載の固体撮像装置。   The solid-state imaging device according to claim 1, wherein the infrared cut filter layer and the color filter layer are formed so as to cover a part of the light receiving elements according to a regular plane pattern. 前記受光素子は、行列状に配列され、
前記赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、2×2の行列に配列される4つの受光素子のうち3つの受光素子を覆う単位パターンを、繰り返し配列することによって構成される繰り返しパターンを有することを特徴とする、請求項3に記載の固体撮像装置。
The light receiving elements are arranged in a matrix,
The infrared cut filter layer and the color filter layer have a repetitive pattern configured by repetitively arranging unit patterns covering three light receiving elements among four light receiving elements arranged in a 2 × 2 matrix. The solid-state imaging device according to claim 3, wherein:
前記受光素子は、行列状に配列され、
前記赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、連続する3行のうち2行に配列される受光素子を覆う単位パターンを、繰り返し配列することによって構成される繰り返しパターンを有することを特徴とする、請求項3に記載の固体撮像装置。
The light receiving elements are arranged in a matrix,
The infrared cut filter layer and the color filter layer have a repetitive pattern configured by repetitively arranging unit patterns covering light receiving elements arranged in two of three consecutive rows. The solid-state imaging device according to claim 3.
前記受光素子は、行列状に配列され、
前記赤外カットフィルタ層及びカラーフィルタ層は、連続する3列のうち2列に配列される受光素子を覆う単位パターンを、繰り返し配列することによって構成される繰り返しパターンを有することを特徴とする、請求項3に記載の固体撮像装置。
The light receiving elements are arranged in a matrix,
The infrared cut filter layer and the color filter layer have a repetitive pattern configured by repetitively arranging unit patterns covering light receiving elements arranged in two of three consecutive rows. The solid-state imaging device according to claim 3.
前記赤外カットフィルタ層は、SiOからなる層と、SiNからなる層とが積層された多層膜であることを特徴とする、請求項1から請求項6のいずれかに記載の固体撮像装置。   The solid-state imaging device according to any one of claims 1 to 6, wherein the infrared cut filter layer is a multilayer film in which a layer made of SiO and a layer made of SiN are laminated. 前記赤外カットフィルタ層は、SiONからなる層を更に含むことを特徴とする、請求項7に記載の固体撮像装置。   The solid-state imaging device according to claim 7, wherein the infrared cut filter layer further includes a layer made of SiON. 前記赤外カットフィルタ層は、SiOからなる層と、TiOからなる層とが積層された多層膜であることを特徴とする、請求項1から請求項6のいずれかに記載の固体撮像装置。   The solid-state imaging device according to any one of claims 1 to 6, wherein the infrared cut filter layer is a multilayer film in which a layer made of SiO and a layer made of TiO are stacked. 前記基板は、前記受光素子から信号を読み出す読み出し部を更に含み、
前記基板と前記カラーフィルタ層との間に、入射光の一部を遮蔽する遮光層を更に備える、請求項1から請求項9のいずれかに記載の固体撮像装置。
The substrate further includes a reading unit that reads a signal from the light receiving element,
10. The solid-state imaging device according to claim 1, further comprising a light shielding layer that shields part of incident light between the substrate and the color filter layer. 11.
請求項1から請求項10のいずれかに記載の固体撮像装置を備える、カメラモジュール。   A camera module comprising the solid-state imaging device according to claim 1.
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007329380A (en) * 2006-06-09 2007-12-20 Sony Corp Method and apparatus for acquiring physical information, semiconductor device, signal processor
JP2009223251A (en) * 2008-03-19 2009-10-01 Olympus Corp Image pickup apparatus
JP2010062604A (en) * 2008-09-01 2010-03-18 Rohm Co Ltd Imaging sensor
JP2012080553A (en) * 2011-11-07 2012-04-19 Sony Corp Semiconductor device and imaging apparatus
US8629916B2 (en) 2008-08-19 2014-01-14 Rohm Co., Ltd. Camera with imaging unit and imaging unit for camera
WO2014041866A1 (en) * 2012-09-14 2014-03-20 シャープ株式会社 Sensor, display device, control program, and recording medium
JP2016076682A (en) * 2014-10-06 2016-05-12 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司VisEra Technologies Company Limited Image sensor and formation method thereof
JP2016162946A (en) * 2015-03-04 2016-09-05 Jsr株式会社 Solid state image sensor
JP2016533695A (en) * 2013-10-04 2016-10-27 アイシークラリティー,インク. Method of using an array sensor to measure multiple types of data at the full resolution of the sensor
US9679933B2 (en) 2014-10-06 2017-06-13 Visera Technologies Company Limited Image sensors and methods of forming the same
WO2018025545A1 (en) * 2016-08-05 2018-02-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 Imaging device
US10014335B2 (en) 2012-09-14 2018-07-03 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Solid-state imaging device and camera module
WO2019188123A1 (en) * 2018-03-27 2019-10-03 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 Imaging device and image processing system
US10506216B2 (en) 2016-05-27 2019-12-10 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Imaging system including light source, image sensor, and double-band pass filter
WO2022131268A1 (en) * 2020-12-16 2022-06-23 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 Photoelectric conversion element, light detection apparatus, light detection system, electronic device, and moving body

Cited By (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007329380A (en) * 2006-06-09 2007-12-20 Sony Corp Method and apparatus for acquiring physical information, semiconductor device, signal processor
JP2009223251A (en) * 2008-03-19 2009-10-01 Olympus Corp Image pickup apparatus
US8629916B2 (en) 2008-08-19 2014-01-14 Rohm Co., Ltd. Camera with imaging unit and imaging unit for camera
JP2010062604A (en) * 2008-09-01 2010-03-18 Rohm Co Ltd Imaging sensor
JP2012080553A (en) * 2011-11-07 2012-04-19 Sony Corp Semiconductor device and imaging apparatus
WO2014041866A1 (en) * 2012-09-14 2014-03-20 シャープ株式会社 Sensor, display device, control program, and recording medium
CN104395716A (en) * 2012-09-14 2015-03-04 夏普株式会社 Sensor, display device, control program, and recording medium
US10014335B2 (en) 2012-09-14 2018-07-03 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Solid-state imaging device and camera module
CN104395716B (en) * 2012-09-14 2016-12-14 夏普株式会社 Sensor, display device
JPWO2014041866A1 (en) * 2012-09-14 2016-08-18 シャープ株式会社 Sensor, display device, control program, and recording medium
JP2016533695A (en) * 2013-10-04 2016-10-27 アイシークラリティー,インク. Method of using an array sensor to measure multiple types of data at the full resolution of the sensor
JP2019110564A (en) * 2013-10-04 2019-07-04 アイシークラリティー,インク. Method of using array sensor to measure multiple types of data at full resolution of sensor
US9679933B2 (en) 2014-10-06 2017-06-13 Visera Technologies Company Limited Image sensors and methods of forming the same
US9666620B2 (en) 2014-10-06 2017-05-30 Visera Technologies Company Limited Stacked filter and image sensor containing the same
CN105990378A (en) * 2014-10-06 2016-10-05 采钰科技股份有限公司 Image sensors and methods of forming the same
JP2016076682A (en) * 2014-10-06 2016-05-12 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司VisEra Technologies Company Limited Image sensor and formation method thereof
CN105789227A (en) * 2014-10-06 2016-07-20 采钰科技股份有限公司 Stacked filter and image sensor containing the same
JP2016162946A (en) * 2015-03-04 2016-09-05 Jsr株式会社 Solid state image sensor
US10506216B2 (en) 2016-05-27 2019-12-10 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Imaging system including light source, image sensor, and double-band pass filter
US11196983B2 (en) 2016-05-27 2021-12-07 Panasonic Iniellectual Property Management Co., Ltd. Imaging system including light source, image sensor, and double-band pass filter
US10559629B2 (en) 2016-08-05 2020-02-11 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Imaging device including at least one unit pixel cell
JPWO2018025545A1 (en) * 2016-08-05 2019-05-30 パナソニックIpマネジメント株式会社 Imaging device
US10861904B2 (en) 2016-08-05 2020-12-08 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Imaging device including a photoelectric converter and a voltage application circuit
WO2018025545A1 (en) * 2016-08-05 2018-02-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 Imaging device
WO2019188123A1 (en) * 2018-03-27 2019-10-03 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 Imaging device and image processing system
US11743604B2 (en) 2018-03-27 2023-08-29 Sony Semiconductor Solutions Corporation Imaging device and image processing system
WO2022131268A1 (en) * 2020-12-16 2022-06-23 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 Photoelectric conversion element, light detection apparatus, light detection system, electronic device, and moving body

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