JP2007179761A - Tape stripping device, application system, and tape stripping method - Google Patents

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Michifumi Kawagoe
理史 川越
Mikio Masuichi
幹雄 増市
Yukihiro Takamura
幸宏 高村
Takeshi Matsuka
毅 松家
Junichi Yoshida
順一 吉田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To surely remove residues of a masking tape adhered to a substrate. <P>SOLUTION: In the tape stripping device 4 of the application system 4, a masking tape is stripped off the substrate by a tape-stripping head of the tape-stripping unit 41 and a substrate movement mechanism, and, based on images of a stripped area obtained by a second imaging part, residues of the masking tape adhered to the stripped area is detected by a residue detection part. Then, as a light irradiation part of a residue removal unit 42 and the substrate movement mechanism are controlled by a removal control part, a light spot of laser beams is formed on the substrate, and a position of the light spot is changed to that of the residues on the substrate according to a detection result by the residue detection part. With this, the laser beams are irradiated on the residues one by one to have them decomposed. As a result, the residues of the masking tape can be completely removed from the surface of the substrate. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、基板からマスキングテープを剥離するテープ剥離装置およびテープ剥離方法、並びに、当該テープ剥離装置を備えるとともに基板に流動性材料を塗布する塗布システムに関する。   The present invention relates to a tape peeling device and a tape peeling method for peeling a masking tape from a substrate, and an application system that includes the tape peeling device and applies a flowable material to a substrate.

従来より、有機EL(Electro Luminescence)材料を利用した有機EL表示装置の開発が行われており、例えば、高分子有機EL材料を用いたアクティブマトリックス駆動方式の有機EL表示装置の製造では、ガラス基板(以下、単に「基板」という。)に対して、TFT(Thin Film Transistor)回路の形成、陽極となるITO(Indium Tin Oxide)電極の形成、隔壁の形成、正孔輸送材料を含む流動性材料(以下、「正孔輸送液」という。)の塗布、加熱処理による正孔輸送層の形成、有機EL材料を含む流動性材料(以下、「有機EL液」という。)の塗布、加熱処理による有機EL層の形成、陰極の形成、および、絶縁膜の形成による封止が順次行われる。   2. Description of the Related Art Conventionally, an organic EL display device using an organic EL (Electro Luminescence) material has been developed. For example, in the production of an active matrix drive type organic EL display device using a polymer organic EL material, a glass substrate is used. (Hereinafter simply referred to as “substrate”), formation of TFT (Thin Film Transistor) circuits, formation of ITO (Indium Tin Oxide) electrodes as anodes, formation of barrier ribs, fluid materials including hole transport materials (Hereinafter referred to as “hole transport liquid”), formation of a hole transport layer by heat treatment, flowable material containing an organic EL material (hereinafter referred to as “organic EL liquid”), heat treatment The organic EL layer, the cathode, and the insulating film are sequentially sealed.

有機EL表示装置の製造において、正孔輸送液または有機EL液を基板に塗布する装置の1つとして、特許文献1に示すように、流動性材料を連続的に吐出する複数のノズルを、基板に対して主走査方向および副走査方向に相対移動することにより、基板上に流動性材料をストライプ状に塗布する装置が知られている。   In manufacturing an organic EL display device, as one of devices for applying a hole transport liquid or an organic EL liquid to a substrate, as shown in Patent Document 1, a plurality of nozzles that continuously discharge a fluid material are provided on a substrate. On the other hand, there is known an apparatus for applying a flowable material in a stripe shape on a substrate by relatively moving in the main scanning direction and the sub-scanning direction.

有機EL表示装置用の基板の表面には、正孔輸送液や有機EL液等の流動性材料が塗布されるべき塗布領域(すなわち、発光領域)の周囲に、ドライバ回路が組み込まれた領域や絶縁膜による封止のために必要な領域が設けられている。有機EL表示装置の製造では、正孔輸送層や有機EL層の形成工程においてこれらの塗布領域の周囲の領域(以下、「非塗布領域」という。)に流動性材料が付着する可能性があり、流動性材料が付着した状態で後工程が行われると電極の特性劣化や封止不良等が発生する可能性がある。したがって、基板の非塗布領域に流動性材料が付着することを防止する必要がある。   On the surface of the substrate for the organic EL display device, there is a region where a driver circuit is incorporated around a coating region (that is, a light emitting region) where a fluid material such as a hole transport liquid or an organic EL liquid is to be applied. A region necessary for sealing with an insulating film is provided. In the production of an organic EL display device, there is a possibility that a fluid material may adhere to a region around these application regions (hereinafter referred to as “non-application region”) in the process of forming a hole transport layer or an organic EL layer. When the post-process is performed in a state where the fluid material is attached, there is a possibility that the electrode characteristic deterioration or sealing failure may occur. Therefore, it is necessary to prevent the flowable material from adhering to the non-application area of the substrate.

特許文献2には、プリント基板に対するハンダの塗布作業において非塗布領域に貼付されて当該領域をハンダから保護するハンダマスキング用粘着テープが記載されている。特許文献2では、当該粘着テープの粘着剤層を形成する材料として、剥離時に糊残りが少なく、粘着剤残渣の水洗浄性が良好な水溶性粘着剤組成物の組成が開示されている。   Patent Document 2 describes a solder masking adhesive tape that is applied to a non-application area in a solder application operation on a printed circuit board and protects the area from the solder. Patent Document 2 discloses a composition of a water-soluble pressure-sensitive adhesive composition as a material for forming the pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive tape, which has little adhesive residue at the time of peeling and has a good water washability of the pressure-sensitive adhesive residue.

特許文献3では、基材面にシリコンポリマーを含むコーティング剤を塗布することにより、当該基材面に貼付された貼り紙の剥離の際に、貼り紙の残渣が基材面に残ることを防止する技術が開示されている。一方、特許文献4では、半導体基板に接着テープを貼付して剥離することにより、半導体基板上の付着微粒子や汚染金属を除去する技術が開示されている。
特開2004−111073号公報 特開平8−253757号公報 特開2004−143205号公報 特開平9−266188号公報
In Patent Document 3, by applying a coating agent containing a silicon polymer to the base material surface, a technique for preventing the adhesive paper residue from remaining on the base material surface when the adhesive paper attached to the base material surface is peeled off. Is disclosed. On the other hand, Patent Document 4 discloses a technique for removing attached fine particles and contaminated metals on a semiconductor substrate by attaching and peeling an adhesive tape to the semiconductor substrate.
JP 2004-111073 A JP-A-8-253757 JP 2004-143205 A JP-A-9-266188

ところで、有機EL表示装置用の基板に対する流動性材料の塗布において、非塗布領域にマスキングテープを貼付することにより流動性材料の非塗布領域への付着を防止する場合、マスキングテープを剥離する際にマスキングテープの粘着剤等が非塗布領域上に残渣として転写してしまう恐れがある。特に、マスキングテープの長手方向において粘着力にばらつきがある場合等、粘着力の強い箇所等でマスキングテープの剥離動作が一瞬停滞することがあり、この停滞した箇所に粘着剤の残渣(いわゆる、ストップマーク)が生じる可能性が高い。このように、非塗布領域に残渣が付着した状態で後工程が行われると電極の特性劣化や封止不良等が発生する恐れがある。   By the way, when applying the flowable material to the substrate for the organic EL display device, when the masking tape is applied to the non-application area to prevent the flowable material from adhering to the non-application area, the masking tape is peeled off. There is a risk that the adhesive or the like of the masking tape may be transferred as a residue onto the non-application area. In particular, when there is a variation in the adhesive strength in the longitudinal direction of the masking tape, the peeling operation of the masking tape may stagnate for a moment at places where the adhesive strength is strong. Mark) is likely to occur. As described above, when the post-process is performed in a state where the residue is adhered to the non-application area, there is a possibility that the electrode characteristic deterioration or the sealing failure may occur.

一方、有機EL表示装置では、基板に塗布された後の有機EL材料等に水分や溶剤等が付着すると有機EL層の特性に悪影響が及ぶため、水等を利用した液体洗浄により残渣を除去することはできない。また、特許文献4では、接着テープの剥離後に基板上残る接着物や粘着物質等の残渣の除去について言及されているが、具体的な除去方法については全く開示されていない。   On the other hand, in the organic EL display device, if moisture or a solvent adheres to the organic EL material or the like after being applied to the substrate, the characteristics of the organic EL layer are adversely affected. Therefore, the residue is removed by liquid cleaning using water or the like. It is not possible. Patent Document 4 mentions the removal of residues such as adhesives and adhesive substances remaining on the substrate after the adhesive tape is peeled off, but does not disclose any specific removal method.

本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、マスキングテープの残渣を確実に除去することを目的としている。   This invention is made | formed in view of the said subject, and aims at removing the residue of a masking tape reliably.

請求項1に記載の発明は、基板からマスキングテープを剥離するテープ剥離装置であって、基板に貼付されているマスキングテープの少なくとも一部を保持して前記マスキングテープを前記基板から剥離する剥離機構と、前記基板上の前記マスキングテープが剥離された剥離領域を撮像する撮像部と、前記撮像部からの出力に基づいて前記剥離領域に付着している前記マスキングテープの残渣を検出する残渣検出部と、前記基板に光を照射して前記基板上に光スポットを形成する光照射部と、前記光スポットの位置を変更する照射位置変更機構と、前記残渣検出部からの出力に基づいて前記光照射部および前記照射位置変更機構を制御することにより、前記基板上の前記残渣に光を照射して分解することにより前記残渣を除去する除去制御部とを備える。   The invention according to claim 1 is a tape peeling apparatus that peels the masking tape from the substrate, and holds the masking tape affixed to the substrate and peels the masking tape from the substrate. An imaging unit that images the peeling area where the masking tape on the substrate is peeled off, and a residue detection unit that detects a residue of the masking tape attached to the peeling area based on an output from the imaging unit A light irradiating unit that irradiates light on the substrate to form a light spot on the substrate, an irradiation position changing mechanism that changes a position of the light spot, and an output from the residue detecting unit. A removal control unit that removes the residue by irradiating and decomposing the residue on the substrate by controlling the irradiation unit and the irradiation position changing mechanism. Equipped with a.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のテープ剥離装置であって、前記光照射部により前記残渣に照射される前記光がレーザ光である。   Invention of Claim 2 is a tape peeling apparatus of Claim 1, Comprising: The said light irradiated to the said residue by the said light irradiation part is a laser beam.

請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載のテープ剥離装置であって、前記剥離機構が、前記マスキングテープの少なくとも一部を保持する剥離ヘッドと、前記基板上において前記マスキングテープが貼付されている方向に沿って前記剥離ヘッドを前記基板に対して相対的に移動することにより前記マスキングテープを剥離する移動機構とを備え、前記マスキングテープの剥離において、前記撮像部が、前記移動機構により前記剥離ヘッドと共に前記基板に対して相対的に移動しつつ前記剥離領域を撮像する。   Invention of Claim 3 is a tape peeling apparatus of Claim 1 or 2, Comprising: The said peeling mechanism hold | maintains at least one part of the said masking tape, The said masking tape on the said board | substrate A moving mechanism that peels off the masking tape by moving the peeling head relative to the substrate along the direction in which the masking tape is attached. The peeling area is imaged while moving relative to the substrate together with the peeling head by a moving mechanism.

請求項4に記載の発明は、請求項3に記載のテープ剥離装置であって、前記剥離ヘッドが、前記マスキングテープに粘着することにより前記マスキングテープの少なくとも一部を保持する剥離テープと、前記剥離テープの粘着面を前記マスキングテープに対向させつつ前記剥離テープを案内して前記マスキングテープに順次粘着させる剥離テープ案内部と、前記剥離テープを前記剥離テープ案内部へと供給する剥離テープ供給部と、前記剥離テープを前記マスキングテープと共に前記基板から引き上げて回収する剥離テープ回収部とを備える。   Invention of Claim 4 is a tape peeling apparatus of Claim 3, Comprising: The said peeling head hold | maintains at least one part of the said masking tape by sticking to the said masking tape, and the said A peeling tape guide unit that guides the peeling tape while causing the adhesive surface of the peeling tape to face the masking tape and sequentially adheres to the masking tape, and a peeling tape supply unit that supplies the peeling tape to the peeling tape guide unit And a peeling tape collecting part for pulling up and collecting the peeling tape together with the masking tape from the substrate.

請求項5に記載の発明は、請求項1ないし4のいずれかに記載のテープ剥離装置であって、一の基板に対して前記剥離機構がマスキングテープを剥離し、前記撮像部が剥離領域を撮像する際に前記一の基板を保持する第1基板保持部と、前記第1基板保持部による前記一の基板の保持と並行して他の基板に対して前記光照射部および前記照射位置変更機構が残渣を除去する際に前記他の基板を保持する第2基板保持部とをさらに備える。   Invention of Claim 5 is a tape peeling apparatus in any one of Claim 1 thru | or 4, Comprising: The said peeling mechanism peels a masking tape with respect to the one board | substrate, and the said imaging part has a peeling area | region. A first substrate holding unit that holds the one substrate when imaging, and the light irradiation unit and the irradiation position change with respect to another substrate in parallel with the holding of the one substrate by the first substrate holding unit The mechanism further includes a second substrate holding unit that holds the other substrate when the residue is removed.

請求項6に記載の発明は、基板に流動性材料を塗布する塗布システムであって、基板上の非塗布領域にマスキングテープを貼付するテープ貼付装置と、マスキングテープが貼付された基板に向けて流動性材料をノズルから連続的に吐出しつつ前記ノズルを前記基板に対して相対的に移動し、前記マスキングテープを含む領域に前記流動性材料を塗布する塗布装置と、流動性材料が塗布された基板からマスキングテープを剥離する請求項1ないし5のいずれかに記載のテープ剥離装置と、前記テープ貼付装置、前記塗布装置および前記テープ剥離装置へと順に基板を搬送する基板搬送機構とを備える。   The invention according to claim 6 is an application system for applying a fluid material to a substrate, and is directed to a tape applying device for applying a masking tape to a non-application area on the substrate, and a substrate to which the masking tape is attached. An applicator for applying the flowable material to a region including the masking tape and moving the nozzle relative to the substrate while continuously discharging the flowable material from the nozzle, and applying the flowable material A tape peeling device according to any one of claims 1 to 5, which peels the masking tape from the substrate, and a substrate transport mechanism for transporting the substrate in order to the tape applying device, the coating device, and the tape peeling device. .

請求項7に記載の発明は、請求項6に記載の塗布システムであって、前記テープ貼付装置が、前記マスキングテープの貼付よりも前に前記基板の前記非塗布領域を撮像するもう1つの撮像部を備え、前記テープ剥離装置が、前記テープ貼付装置の前記もう1つの撮像部にて取得された前記基板の画像を基準画像として記憶する記憶部をさらに備え、前記テープ剥離装置の前記残渣検出部が、前記基準画像と前記撮像部により取得された前記基板の画像とを比較し、両画像の差異を前記マスキングテープの残渣として検出する。   The invention according to claim 7 is the coating system according to claim 6, wherein the tape sticking device picks up the non-coated area of the substrate before sticking the masking tape. The tape peeling device further includes a storage unit that stores an image of the substrate acquired by the another imaging unit of the tape applying device as a reference image, and the residue detection of the tape peeling device The unit compares the reference image with the image of the substrate acquired by the imaging unit, and detects a difference between the images as a residue of the masking tape.

請求項8に記載の発明は、基板に流動性材料を塗布する塗布システムであって、非塗布領域にマスキングテープが貼付された基板に向けて流動性材料をノズルから連続的に吐出しつつ前記ノズルを前記基板に対して相対的に移動し、前記マスキングテープを含む領域に前記流動性材料を塗布する塗布装置と、流動性材料が塗布された基板からマスキングテープを剥離する請求項1ないし5のいずれかに記載のテープ剥離装置と、前記塗布装置および前記テープ剥離装置へと基板を搬送する基板搬送機構とを備え、前記テープ剥離装置が、流動性材料が塗布される前の基板上の非塗布領域にマスキングテープを貼付するテープ貼付機構をさらに備える。   The invention according to claim 8 is an application system for applying a flowable material to a substrate, wherein the flowable material is continuously discharged from a nozzle toward a substrate having a masking tape attached to a non-application region. A nozzle is moved relative to the substrate to apply the flowable material to a region including the masking tape, and the masking tape is peeled from the substrate coated with the flowable material. And a substrate transport mechanism for transporting the substrate to the coating device and the tape peeling device, the tape peeling device on the substrate before the flowable material is applied. A tape attaching mechanism for attaching a masking tape to the non-application area is further provided.

請求項9に記載の発明は、基板からマスキングテープを剥離するテープ剥離方法であって、a)基板に貼付されているマスキングテープの少なくとも一部を保持して前記マスキングテープを前記基板から剥離する工程と、b)前記基板上の前記マスキングテープが剥離された剥離領域を撮像する工程と、c)前記b)工程において取得された画像に基づいて前記剥離領域に付着している前記マスキングテープの残渣を検出する工程と、d)前記基板上に形成された光スポットの位置を前記c)工程における検出結果に基づいて変更し、前記基板上の前記残渣に光を照射して分解することにより前記残渣を除去する工程とを備える。   The invention according to claim 9 is a tape peeling method for peeling a masking tape from a substrate, a) holding at least a part of the masking tape affixed to the substrate and peeling the masking tape from the substrate. And b) imaging a peeling area where the masking tape on the substrate is peeled off; c) the masking tape attached to the peeling area based on the image obtained in the step b) Detecting a residue; and d) changing the position of a light spot formed on the substrate based on the detection result in the step c), and irradiating the residue on the substrate with light to decompose the residue. Removing the residue.

請求項10に記載の発明は、請求項9に記載のテープ剥離方法であって、前記d)工程において、前記残渣に照射される前記光がレーザ光である。   A tenth aspect of the present invention is the tape peeling method according to the ninth aspect, wherein in the step d), the light applied to the residue is a laser beam.

請求項11に記載の発明は、請求項9または10に記載のテープ剥離方法であって、一の基板に対する前記d)工程が、他の基板に対する前記a)工程および前記b)工程と並行して行われる。   Invention of Claim 11 is the tape peeling method of Claim 9 or 10, Comprising: Said d) process with respect to one board | substrate is parallel to said a) process and said b) process with respect to another board | substrate. Done.

本発明では、マスキングテープの残渣を確実に除去することができる。請求項2および10の発明では、周囲への影響を低減しつつ残渣を除去することができる。請求項3および4の発明では、装置の構成を簡素化することができる。請求項5および11の発明では、残渣除去が不要な基板に対する処理時間を短縮することができる。   In this invention, the residue of a masking tape can be removed reliably. In the inventions of claims 2 and 10, the residue can be removed while reducing the influence on the surroundings. In the third and fourth aspects of the invention, the configuration of the apparatus can be simplified. In the fifth and eleventh aspects of the present invention, the processing time for a substrate that does not require residue removal can be shortened.

請求項6ないし8の発明では、塗布領域のみに流動性材料が塗布された基板を容易に得ることができる。請求項7の発明では、残渣を精度良く検出することができる。請求項8の発明では、塗布システムの構造を簡素化することができる。   According to the sixth to eighth aspects of the present invention, it is possible to easily obtain a substrate in which the flowable material is applied only to the application region. In the invention of claim 7, the residue can be detected with high accuracy. In the invention of claim 8, the structure of the coating system can be simplified.

図1は、本発明の第1の実施の形態に係る塗布システム1の構成を示す図である。塗布システム1は、平面表示装置用のガラス基板(以下、単に「基板」という。)に画素形成材料を含む流動性材料を塗布するシステムである。本実施の形態では、塗布システム1において、アクティブマトリックス駆動方式の有機EL(Electro Luminescence)表示装置用の基板に、有機EL材料を含む流動性材料(以下、「有機EL液」という。)が塗布される(以下の実施の形態においても同様)。   FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a coating system 1 according to the first embodiment of the present invention. The application system 1 is a system for applying a fluid material containing a pixel forming material to a glass substrate for a flat display device (hereinafter simply referred to as “substrate”). In the present embodiment, in the coating system 1, a fluid material containing an organic EL material (hereinafter referred to as “organic EL liquid”) is coated on a substrate for an active matrix drive type organic EL (Electro Luminescence) display device. (The same applies to the following embodiments).

図2は、基板9を示す平面図である。図2では、塗布システム1により有機EL液が塗布される領域(以下、「塗布領域」という。)91に平行斜線を付す。本実施の形態では、基板9上に4つの塗布領域91が設けられ、1枚の基板9から4つの有機EL表示装置用の基板が製造される。4つの塗布領域91の周囲の格子状の領域92は、ドライバ回路の組み込みや後工程における絶縁膜による封止等に利用されるため、有機EL液が塗布されるべきではない領域であり、以下、「非塗布領域92」という。なお、図2では、非塗布領域92に貼付されるマスキングテープ81も図示している。   FIG. 2 is a plan view showing the substrate 9. In FIG. 2, a parallel oblique line is given to an area 91 (hereinafter referred to as “application area”) to which the organic EL liquid is applied by the application system 1. In the present embodiment, four application regions 91 are provided on the substrate 9, and four substrates for an organic EL display device are manufactured from one substrate 9. The lattice-shaped region 92 around the four application regions 91 is a region where the organic EL liquid should not be applied because it is used for incorporating a driver circuit or sealing with an insulating film in a later process. "Non-application area 92". In FIG. 2, a masking tape 81 attached to the non-application area 92 is also illustrated.

図1に示すように、塗布システム1は、基板9上の非塗布領域92にマスキングテープを貼付するテープ貼付装置2、マスキングテープが貼付された基板9に向けて流動性材料をノズルから連続的に吐出しつつノズルを基板9に対して相対的に移動してマスキングテープを含む領域に有機EL液を塗布する塗布装置3、有機EL液が塗布された基板9からマスキングテープを剥離するテープ剥離装置4、および、処理途上の基板9を必要に応じて一時的に保持するバッファユニット5を備える。   As shown in FIG. 1, the coating system 1 includes a tape applying device 2 that applies a masking tape to a non-application region 92 on the substrate 9, and a fluid material is continuously applied from the nozzle toward the substrate 9 on which the masking tape is applied. The coating device 3 for applying the organic EL liquid to the region including the masking tape by moving the nozzle relative to the substrate 9 while discharging the ink, and the tape peeling for peeling the masking tape from the substrate 9 coated with the organic EL liquid The apparatus 4 and the buffer unit 5 that temporarily holds the substrate 9 being processed as needed are provided.

テープ剥離装置4は、基板9からのマスキングテープの剥離を行うテープ剥離ユニット41、マスキングテープが剥離された基板9からマスキングテープの残渣を除去する残渣除去ユニット42、および、基板9をテープ剥離ユニット41から残渣除去ユニット42へと搬送する搬送ロボット43を備える。   The tape peeling apparatus 4 includes a tape peeling unit 41 for peeling the masking tape from the substrate 9, a residue removing unit 42 for removing the masking tape residue from the substrate 9 from which the masking tape has been peeled off, and the substrate 9 as a tape peeling unit. A transfer robot 43 for transferring from 41 to the residue removal unit 42 is provided.

塗布システム1は、テープ貼付装置2と塗布装置3との間、および、塗布装置3とテープ剥離装置4との間に固定型の搬送ロボット6をさらに備える。塗布システム1では、2つの搬送ロボット6が、テープ貼付装置2、塗布装置3およびテープ剥離装置4へと順に基板を搬送する基板搬送機構となっている。また、塗布システム1では、搬送ロボット43により、テープ剥離装置4とバッファユニット5との間の基板の搬送が行われるとともに、塗布システム1からの基板9の搬出も行われる。   The coating system 1 further includes a fixed transfer robot 6 between the tape applying device 2 and the coating device 3 and between the coating device 3 and the tape peeling device 4. In the coating system 1, the two transport robots 6 serve as a substrate transport mechanism that transports the substrate in order to the tape applying device 2, the coating device 3, and the tape peeling device 4. In the coating system 1, the transport robot 43 transports the substrate between the tape peeling device 4 and the buffer unit 5, and also unloads the substrate 9 from the coating system 1.

図3ないし図5はそれぞれ、テープ貼付装置2の構成を示す平面図、正面図および左側面図である。図3ないし図5に示すように、テープ貼付装置2は、基板9を保持する基板保持部21、基板9を基板保持部21と共に移動する基板移動機構22、有機EL液が塗布される前の基板9上の非塗布領域92にマスキングテープ81(図2参照)を貼付するテープ貼付ヘッド23、テープ貼付ヘッド23を基板9の移動方向とは垂直な方向に移動するヘッド移動機構24、および、テープ貼付ヘッド23の内部に設けられて基板9を撮像する第1撮像部25(本実施の形態では、2次元CCD(Charge Coupled Device)カメラ)を備える。   3 to 5 are a plan view, a front view, and a left side view showing the configuration of the tape applicator 2, respectively. As shown in FIGS. 3 to 5, the tape applicator 2 includes a substrate holding unit 21 that holds the substrate 9, a substrate moving mechanism 22 that moves the substrate 9 together with the substrate holding unit 21, and before the organic EL liquid is applied. A tape applying head 23 for applying a masking tape 81 (see FIG. 2) to a non-application area 92 on the substrate 9, a head moving mechanism 24 for moving the tape applying head 23 in a direction perpendicular to the moving direction of the substrate 9, and A first imaging unit 25 (in this embodiment, a two-dimensional CCD (Charge Coupled Device) camera) that is provided inside the tape applying head 23 and images the substrate 9 is provided.

テープ貼付装置2では、基板移動機構22により、基板9が基板保持部21と共にレール221に沿って水平方向に移動するとともに垂直方向を向く回転軸を中心として回転する。また、ヘッド移動機構24により、テープ貼付ヘッド23が第1撮像部25と共に基板9の移動範囲の上方においてレール241に沿って水平方向に移動する。   In the tape applicator 2, the substrate moving mechanism 22 causes the substrate 9 to move in the horizontal direction along the rails 221 together with the substrate holding unit 21 and to rotate about a rotation axis that faces the vertical direction. Also, the tape moving head 23 moves in the horizontal direction along the rail 241 above the moving range of the substrate 9 together with the first imaging unit 25 by the head moving mechanism 24.

図6.Aは、テープ貼付ヘッド23の内部構成を拡大して示す左側面図である。図6.Aでは、テープ貼付ヘッド23のハウジング231に収容される構成を説明するため、ハウジング231の内部を描いている。テープ貼付ヘッド23では、ベーステープ82の一方の主面にマスキングテープ81が保持された2層構造のテープ8を利用してマスキングテープ81の貼付が行われる。マスキングテープ81は、ポリエチレンテレフタラート(PET)製のテープ基材、および、テープ基材の一方の主面にアクリル系の粘着剤により形成された粘着層を備える。   FIG. A is an enlarged left side view of the internal structure of the tape applying head 23. FIG. FIG. In A, the inside of the housing 231 is drawn in order to explain the configuration of the tape application head 23 accommodated in the housing 231. In the tape sticking head 23, the masking tape 81 is stuck using the tape 8 having a two-layer structure in which the masking tape 81 is held on one main surface of the base tape 82. The masking tape 81 includes a tape base material made of polyethylene terephthalate (PET), and an adhesive layer formed on one main surface of the tape base material with an acrylic adhesive.

図6.Aに示すように、テープ貼付ヘッド23は、未使用のテープ8が巻き付けられる供給リール232、テープ8からマスキングテープ81を分離して基板9に貼付する貼付部233、マスキングテープ81が分離された後のテープ8(すなわち、ベーステープ82)を巻き取って回収する回収リール234、および、これらの構成を収容するハウジング231を備える。   FIG. As shown in A, the tape sticking head 23 is separated from the supply reel 232 around which the unused tape 8 is wound, the sticking part 233 for separating the masking tape 81 from the tape 8 and sticking it to the substrate 9, and the masking tape 81. A recovery reel 234 for winding and recovering the subsequent tape 8 (that is, the base tape 82), and a housing 231 for housing these components are provided.

テープ貼付装置2により基板9にマスキングテープ81が貼付される際には、まず、図3ないし図5に示すヘッド移動機構24によりテープ貼付ヘッド23が移動されて基板9の移動経路の上方に位置する。このとき、基板9は、図5におけるテープ貼付ヘッド23の右側に位置している。続いて、基板移動機構22により基板9が図5中の左側へと移動し、第1撮像部25の下方を通過しつつ図6.Aに示す貼付開始位置に位置する。基板9が貼付開始位置に位置すると、テープ貼付ヘッド23の貼付部233の切断部235により、テープ8の切断部235と対向する側においてマスキングテープ81のみが切断される。   When the masking tape 81 is applied to the substrate 9 by the tape applying device 2, the tape applying head 23 is first moved by the head moving mechanism 24 shown in FIGS. To do. At this time, the board | substrate 9 is located in the right side of the tape sticking head 23 in FIG. Subsequently, the substrate 9 is moved to the left in FIG. 5 by the substrate moving mechanism 22 and passes below the first imaging unit 25 as shown in FIG. It is located at the sticking start position shown in A. When the substrate 9 is located at the sticking start position, only the masking tape 81 is cut by the cutting part 235 of the sticking part 233 of the tape sticking head 23 on the side facing the cutting part 235 of the tape 8.

切断されたマスキングテープ81は、供給リール232および回収リール234が図6.A中における反時計回りに回転することにより、ベーステープ82と共に貼付部233のテープ分離部材236の先端へと送られ、当該先端において、ベーステープ82が送られてきた方向とはおよそ反対側に導かれることにより、マスキングテープ81がベーステープ82から剥離し、その先端部がハウジング231の下部開口237から基板9に向かって移動する。   The cut masking tape 81 includes a supply reel 232 and a recovery reel 234 shown in FIG. By rotating counterclockwise in A, it is sent together with the base tape 82 to the tip of the tape separating member 236 of the affixing portion 233, and at the tip, approximately in the opposite direction to the direction in which the base tape 82 is sent. By being guided, the masking tape 81 is peeled off from the base tape 82, and the tip portion thereof moves from the lower opening 237 of the housing 231 toward the substrate 9.

これと並行して、エアシリンダ238により貼付ローラ239が下部開口237を介して下方に移動し、マスキングテープ81の先端部を上側(すなわち、マスキングテープ81の粘着面とは反対側)から基板9に向けて押圧して貼付する。これと同時に、基板移動機構22(図5参照)により基板9が図6.Aの左方向へと移動を開始する。そして、供給リール232からテープ8が継続的に送り出されるとともに基板9が移動を継続することにより、図6.Bに示すように、基板9上にマスキングテープ81が貼付される。   In parallel with this, the air cylinder 238 causes the sticking roller 239 to move downward through the lower opening 237, so that the tip of the masking tape 81 is moved upward (that is, opposite to the adhesive surface of the masking tape 81) from the substrate 9. Press toward and stick. At the same time, the substrate 9 is moved from the substrate moving mechanism 22 (see FIG. 5) to the FIG. Start moving to the left of A. Then, the tape 8 is continuously fed out from the supply reel 232 and the substrate 9 continues to move, so that FIG. As shown in B, a masking tape 81 is affixed on the substrate 9.

テープ貼付ヘッド23では、切断部235によりテープ8上のマスキングテープ81のみが再び切断され、マスキングテープ81が後端部まで基板9に貼付されることによりマスキングテープ81の貼付が終了する。なお、テープ貼付ヘッド23では、マスキングテープ81の先端部および後端部の貼付時以外は、貼付ローラ239はハウジング231内へと待避していてもよい。また、マスキングテープ81の貼付開始は、テープ8を供給しつつテープ8の供給速度に等しい速度で左方向へと移動している基板9に対して行われてもよい。   In the tape applying head 23, only the masking tape 81 on the tape 8 is cut again by the cutting portion 235, and the masking tape 81 is applied to the substrate 9 to the rear end portion, whereby the application of the masking tape 81 is completed. In the tape application head 23, the application roller 239 may be retracted into the housing 231 except when the front end portion and rear end portion of the masking tape 81 are applied. The masking tape 81 may be applied to the substrate 9 that is moving leftward at a speed equal to the supply speed of the tape 8 while supplying the tape 8.

テープ貼付装置2では、図2に示すように、基板9の格子状の非塗布領域92のうち、基板移動機構22による基板9の移動方向に平行に伸びる領域(すなわち、図2中の上下方向に伸びる領域)にのみマスキングテープ81が貼付され、基板9の移動方向に垂直に伸びる領域(すなわち、図2中の左右方向に伸びる領域)にはマスキングテープ81の貼付は行われない。後述するように、塗布システム1では、マスキングテープ81の貼付が省略された領域に対しては有機EL液の塗布は行われない。   In the tape applicator 2, as shown in FIG. 2, a region extending parallel to the moving direction of the substrate 9 by the substrate moving mechanism 22 in the lattice-shaped non-application region 92 of the substrate 9 (that is, the vertical direction in FIG. 2). The masking tape 81 is applied only to the region extending in the horizontal direction, and the masking tape 81 is not applied to the region extending perpendicular to the moving direction of the substrate 9 (that is, the region extending in the left-right direction in FIG. 2). As will be described later, in the coating system 1, the organic EL liquid is not applied to the region where the masking tape 81 is omitted.

テープ貼付装置2では、マスキングテープ81の貼付前に行われる基板9の貼付開始位置への移動、および、基板9へのマスキングテープ81の貼付と並行して、第1撮像部25により、テープ貼付ヘッド23の下方を移動する基板9の非塗布領域92が、マスキングテープ81の貼付よりも前に連続的に撮像される。第1撮像部25にて取得された非塗布領域92の画像(すなわち、非塗布領域92のうちマスキングテープ81が貼付される予定の領域の画像)は、テープ剥離装置4へと送られる。   In the tape applicator 2, the first imaging unit 25 applies the tape application in parallel with the movement of the substrate 9 to the application start position and the application of the masking tape 81 to the substrate 9 performed before application of the masking tape 81. The non-application area 92 of the substrate 9 moving below the head 23 is continuously imaged before the masking tape 81 is applied. The image of the non-application area 92 acquired by the first imaging unit 25 (that is, the image of the area to which the masking tape 81 is to be attached in the non-application area 92) is sent to the tape peeling device 4.

図7および図8は、塗布装置3の構成を示す平面図および正面図である。図8に示すように、塗布装置3は、基板9を保持する基板保持部31を備え、基板保持部31は内部にヒータによる加熱機構(図示省略)を備える。塗布装置3は、また、図7および図8に示すように、基板保持部31を基板9の主面に対して平行な所定の方向(すなわち、図7中の上下方向であり、以下、「副走査方向」という。)に水平移動するとともに垂直方向に向く軸を中心として回転する基板移動機構32、基板9上に形成された位置調整用目印(図示省略)を撮像して検出する目印検出部33、基板保持部31上の基板9に向けて3本のノズル37から有機EL液を連続的に吐出する吐出機構である塗布ヘッド34、塗布ヘッド34を基板9の主面に平行であって副走査方向とは垂直な方向(すなわち、図7中の左右方向であり、以下、「主走査方向」という。)に水平移動するヘッド移動機構35、主走査方向に関して基板保持部31の両側に設けられるとともに塗布ヘッド34からの有機EL液を受ける2つの受液部36、塗布ヘッド34の3本のノズル37に同一種類の有機EL液を供給する流動性材料供給部38、および、これらの構成を制御する制御部39を備える。   7 and 8 are a plan view and a front view showing the configuration of the coating apparatus 3. As shown in FIG. 8, the coating apparatus 3 includes a substrate holding unit 31 that holds the substrate 9, and the substrate holding unit 31 includes a heating mechanism (not shown) using a heater. As shown in FIGS. 7 and 8, the coating apparatus 3 is configured so that the substrate holding portion 31 is in a predetermined direction parallel to the main surface of the substrate 9 (that is, the vertical direction in FIG. Marking detection that picks up and detects a substrate moving mechanism 32 that moves horizontally in the sub-scanning direction and rotates around an axis oriented in the vertical direction, and a position adjustment mark (not shown) formed on the substrate 9. The coating head 34, which is a discharge mechanism that continuously discharges the organic EL liquid from the three nozzles 37 toward the substrate 9 on the unit 33 and the substrate holding unit 31, is parallel to the main surface of the substrate 9. The head moving mechanism 35 that moves horizontally in the direction perpendicular to the sub-scanning direction (that is, the left-right direction in FIG. 7 and hereinafter referred to as “main-scanning direction”), both sides of the substrate holder 31 in the main-scanning direction. And coating head 4, two liquid receiving parts 36 that receive the organic EL liquid from the liquid 4, a fluid material supply part 38 that supplies the same kind of organic EL liquid to the three nozzles 37 of the coating head 34, and a control that controls these configurations The unit 39 is provided.

塗布ヘッド34では、3本のノズル37が、図7中の左右方向(すなわち、主走査方向)に関して略直線状に離れて配列されるとともに図7中の上下方向(すなわち、副走査方向)に僅かにずれて配置され、これらのノズル37から吐出された有機EL液が、基板9の塗布領域91(図2参照)に予め形成されている主走査方向に伸びる隔壁の間の溝に塗布される。本実施の形態では、隣接する2本のノズル37の間の副走査方向に関する距離は、隔壁間のピッチ(以下、「隔壁ピッチ」という。)に等しい。塗布ヘッド34では、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)と互いに色が異なる3種類の有機EL材料をそれぞれ含む3種類の有機EL液が3本のノズル37から吐出される。   In the coating head 34, the three nozzles 37 are arranged substantially linearly apart from each other in the left-right direction (that is, the main scanning direction) in FIG. 7 and in the vertical direction (that is, the sub-scanning direction) in FIG. The organic EL liquid that is disposed slightly shifted and is discharged from these nozzles 37 is applied to the grooves between the partition walls that extend in the main scanning direction and are formed in advance in the application region 91 (see FIG. 2) of the substrate 9. The In the present embodiment, the distance in the sub-scanning direction between the two adjacent nozzles 37 is equal to the pitch between the partition walls (hereinafter referred to as “partition wall pitch”). In the coating head 34, three types of organic EL liquids each including three types of organic EL materials having different colors from red (R), green (G), and blue (B) are discharged from the three nozzles 37.

塗布装置3により有機EL液の塗布が行われる際には、まず、テープ貼付装置2により非塗布領域92にマスキングテープ81(図2参照)が貼付された基板9が基板保持部31に載置されて保持され、目印検出部33からの出力に基づいて基板移動機構32が駆動されて基板9が図7中に実線にて示す塗布開始位置に位置する。塗布ヘッド34は予め図7および図8中に実線にて示す位置に位置している。   When the organic EL liquid is applied by the coating device 3, first, the substrate 9 having the masking tape 81 (see FIG. 2) attached to the non-application region 92 by the tape applying device 2 is placed on the substrate holding unit 31. The substrate moving mechanism 32 is driven based on the output from the mark detection unit 33, and the substrate 9 is positioned at the application start position indicated by the solid line in FIG. The coating head 34 is previously positioned at a position indicated by a solid line in FIGS.

続いて、制御部39により流動性材料供給部38が制御されてノズル37から有機EL液の吐出が開始されるとともに、ヘッド移動機構35が駆動されて塗布ヘッド34の移動が開始される。塗布装置3では、ノズル37から有機EL液を基板9に向けて連続的に吐出しつつ、ノズル37を基板9に対して図7中の左側から右側へと(すなわち、主走査方向に)相対的に移動することにより、基板9の隔壁間の3つの隣接する溝に有機EL液が塗布される。   Subsequently, the flowable material supply unit 38 is controlled by the control unit 39 to start discharging the organic EL liquid from the nozzle 37, and the head moving mechanism 35 is driven to start the movement of the coating head 34. In the coating device 3, the organic EL liquid is continuously ejected from the nozzle 37 toward the substrate 9, and the nozzle 37 is relative to the substrate 9 from the left side to the right side in FIG. 7 (that is, in the main scanning direction). The organic EL liquid is applied to three adjacent grooves between the partition walls of the substrate 9 by moving in a moving manner.

塗布ヘッド34が図7および図8中に二点鎖線にて示す位置まで移動すると、基板移動機構32が駆動され、基板9が基板保持部31と共に図7中の上側に隔壁ピッチの3倍の距離だけ移動する。そして、塗布ヘッド34が有機EL液を吐出しつつ図7中において右側から左側へと移動することにより、基板9上に3種類の有機EL液がストライプ状に塗布される。   When the coating head 34 moves to the position indicated by the two-dot chain line in FIGS. 7 and 8, the substrate moving mechanism 32 is driven, and the substrate 9 together with the substrate holding portion 31 is three times the partition pitch on the upper side in FIG. Move a distance. Then, the application head 34 moves from the right side to the left side in FIG. 7 while discharging the organic EL liquid, whereby three types of organic EL liquids are applied in stripes on the substrate 9.

図9は、基板9を示す平面図であり、図10は、図9中のA−Aの位置における基板9の断面図である。塗布装置3では、塗布ヘッド34の主走査方向への移動、および、塗布ヘッド34の1回の主走査毎に行われる基板9の副走査方向へのピッチ移動が繰り返されることにより、図9および図10に示すように、基板9上のマスキングテープ81を含む領域(すなわち、非塗布領域92に貼付されたマスキングテープ81上の領域、および、塗布領域91の隔壁間の溝)に有機EL液93がストライプ状に塗布される。そして、基板9が図7中に二点鎖線にて示す塗布終了位置まで移動すると、ノズル37からの有機EL液の吐出が停止されて基板9に対する有機EL液の塗布が終了する。なお、図9では、図示の都合上、基板9上に塗布された有機EL液93の幅およびピッチを実際よりも大きく描いている。   9 is a plan view showing the substrate 9, and FIG. 10 is a cross-sectional view of the substrate 9 taken along the line AA in FIG. In the coating apparatus 3, the movement of the coating head 34 in the main scanning direction and the pitch movement of the substrate 9 in the sub-scanning direction performed for each main scanning of the coating head 34 are repeated, so that FIG. As shown in FIG. 10, the organic EL liquid is applied to the area including the masking tape 81 on the substrate 9 (that is, the area on the masking tape 81 applied to the non-application area 92 and the groove between the partition walls of the application area 91). 93 is applied in stripes. And when the board | substrate 9 moves to the application completion position shown with a dashed-two dotted line in FIG. 7, discharge of the organic EL liquid from the nozzle 37 will be stopped, and application | coating of the organic EL liquid with respect to the board | substrate 9 will be complete | finished. In FIG. 9, for the convenience of illustration, the width and pitch of the organic EL liquid 93 applied on the substrate 9 are drawn larger than actual.

塗布装置3では、有機EL液93の塗布が行われている間、塗布ヘッド34のノズル37(図7および図8参照)から有機EL液93が連続的に吐出されている。塗布装置3では、非塗布領域92のうち基板9の移動方向に垂直に伸びる領域(すなわち、図9中において左右方向に伸びる領域であり、マスキングテープ81の貼付が省略されている領域)に対して、塗布ヘッド34を受液部36上に待機させた状態で、基板9を当該領域の幅(すなわち、図9中の上下方向の幅)と等しい距離だけ副走査方向に移動することにより、当該領域への有機EL液93の塗布が回避される。   In the coating device 3, the organic EL liquid 93 is continuously discharged from the nozzle 37 (see FIGS. 7 and 8) of the coating head 34 while the organic EL liquid 93 is being applied. In the coating device 3, the non-application area 92 extends in a direction perpendicular to the moving direction of the substrate 9 (that is, an area extending in the left-right direction in FIG. 9 and the masking tape 81 is omitted). By moving the substrate 9 in the sub-scanning direction by a distance equal to the width of the region (that is, the vertical width in FIG. 9) while the application head 34 is kept on the liquid receiving unit 36, Application of the organic EL liquid 93 to the region is avoided.

図11は、テープ剥離装置4のテープ剥離ユニット41の構成を示す平面図である。図11に示すように、テープ剥離ユニット41は、図3ないし図5に示すテープ貼付装置2のテープ貼付ヘッド23に代えてテープ剥離ヘッド413を備える。テープ剥離ユニット41のその他の構成はテープ貼付装置2とほぼ同様である。   FIG. 11 is a plan view showing the configuration of the tape peeling unit 41 of the tape peeling device 4. As shown in FIG. 11, the tape peeling unit 41 includes a tape peeling head 413 instead of the tape sticking head 23 of the tape sticking device 2 shown in FIGS. 3 to 5. Other configurations of the tape peeling unit 41 are substantially the same as those of the tape applying device 2.

テープ剥離ユニット41は、基板9を保持する基板保持部411、基板9を基板保持部411と共に移動する基板移動機構412、マスキングテープ81(図2参照)を保持して剥離するテープ剥離ヘッド413、テープ剥離ヘッド413を基板9の移動方向とは垂直な方向に移動するヘッド移動機構414、テープ剥離ヘッド413の内部に設けられて基板9を撮像する第2撮像部415(本実施の形態では、2次元CCDカメラ)、マスキングテープ81の剥離後の基板9に付着したマスキングテープ81の残渣を検出する残渣検出部416、および、情報を記憶する記憶部417を備える。   The tape peeling unit 41 includes a substrate holding unit 411 that holds the substrate 9, a substrate moving mechanism 412 that moves the substrate 9 together with the substrate holding unit 411, a tape peeling head 413 that holds and peels off the masking tape 81 (see FIG. 2), A head moving mechanism 414 that moves the tape peeling head 413 in a direction perpendicular to the moving direction of the substrate 9, and a second imaging unit 415 that is provided inside the tape peeling head 413 and images the substrate 9 (in this embodiment, A two-dimensional CCD camera), a residue detection unit 416 that detects a residue of the masking tape 81 attached to the substrate 9 after the masking tape 81 is peeled off, and a storage unit 417 that stores information.

テープ剥離ユニット41では、基板移動機構412により、基板9が基板保持部411と共にレール4121に沿って水平方向に移動するとともに垂直方向を向く回転軸を中心として回転する。また、ヘッド移動機構414により、テープ剥離ヘッド413が第2撮像部415と共に基板9の移動範囲の上方においてレール4141に沿って水平方向に移動する。   In the tape peeling unit 41, the substrate moving mechanism 412 moves the substrate 9 together with the substrate holding part 411 along the rail 4121 in the horizontal direction and rotates around the rotation axis facing the vertical direction. In addition, the tape peeling head 413 moves together with the second imaging unit 415 in the horizontal direction along the rail 4141 above the movement range of the substrate 9 by the head moving mechanism 414.

図12.Aは、テープ剥離ヘッド413の内部構成を拡大して示す左側面図である。図12.Aでも、図6.Aと同様に、テープ剥離ヘッド413のハウジング4131の内部を描いている。図12.Aに示すように、テープ剥離ヘッド413は、マスキングテープ81に粘着することによりマスキングテープ81の少なくとも一部を保持する剥離テープ83、剥離テープ83の粘着面をマスキングテープ81に対向させつつ剥離テープ83を案内して基板9上のマスキングテープ81に順次粘着させる剥離テープ案内部である粘着機構4133、未使用の剥離テープ83を粘着機構4133に供給する剥離テープ供給部である供給リール4132、剥離テープ83を剥離テープ83に粘着されたマスキングテープ81と共に基板9から引き上げて回収する剥離テープ回収部である回収リール4134、および、これらの構成を収容するハウジング4131を備える。粘着機構4133は、エアシリンダ4136および押圧ローラ4137を備える。また、剥離テープ83の幅は、マスキングテープ81の幅よりも大きい。   FIG. A is an enlarged left side view of the internal configuration of the tape peeling head 413. FIG. FIG. Even in A, FIG. Similarly to A, the inside of the housing 4131 of the tape peeling head 413 is depicted. FIG. As shown in A, the tape peeling head 413 is adhered to the masking tape 81 to hold at least a part of the masking tape 81, and the adhesive tape has a pressure-sensitive adhesive surface facing the masking tape 81. 83, an adhesive mechanism 4133 which is a peeling tape guide part for sequentially adhering to the masking tape 81 on the substrate 9, and a supply reel 4132 which is a peeling tape supply part for supplying the unused peeling tape 83 to the adhesive mechanism 4133. A recovery reel 4134 that is a peeling tape recovery unit that pulls up and recovers the tape 83 from the substrate 9 together with the masking tape 81 adhered to the release tape 83, and a housing 4131 that accommodates these components. The adhesive mechanism 4133 includes an air cylinder 4136 and a pressing roller 4137. Further, the width of the peeling tape 83 is larger than the width of the masking tape 81.

テープ剥離ユニット41により基板9からマスキングテープ81が剥離される際には、まず、基板移動機構412およびヘッド移動機構414(図11参照)により基板9およびテープ剥離ヘッド413が移動されて剥離開始位置に位置する。すなわち、剥離対象であるマスキングテープ81の先端が、テープ剥離ヘッド413のハウジング4131の下部開口4135の下方に位置する。   When the masking tape 81 is peeled from the substrate 9 by the tape peeling unit 41, first, the substrate 9 and the tape peeling head 413 are moved by the substrate moving mechanism 412 and the head moving mechanism 414 (see FIG. 11), and the peeling start position. Located in. That is, the tip of the masking tape 81 to be peeled is positioned below the lower opening 4135 of the housing 4131 of the tape peeling head 413.

続いて、エアシリンダ4136により押圧ローラ4137が下部開口4135を介して下方に移動し、剥離テープ83を上側(すなわち、剥離テープ83の粘着面とは反対側)からマスキングテープ81の先端部に押圧して粘着する。次に、基板移動機構412により基板9が図12.A中の左方向に移動を開始する。これと同時に、供給リール4132および回収リール4134の図12.A中における時計回りの回転が開始されて供給リール4132に巻き付けられている剥離テープ83が送り出されるとともに、押圧ローラ4137が上方に移動して元の位置に戻ることにより、図12.Bに示すように、剥離テープ83に粘着されたマスキングテープ81の先端部が基板9から剥離する。そして、供給リール4132から剥離テープ83が継続的に送り出されるとともに基板9が移動を継続することにより、基板9上のマスキングテープ81が剥離テープ83に粘着されつつ基板9から剥離し、回収リール4134により巻き取られて回収される。テープ剥離ユニット41では、有機EL液93が塗布された基板9からマスキングテープ81が剥離されることにより、図13(図10に対応する基板9の断面図)に示すように、基板9の塗布領域91上にのみ有機EL液93が残置される。   Subsequently, the pressure roller 4137 is moved downward by the air cylinder 4136 through the lower opening 4135, and the release tape 83 is pressed from the upper side (that is, the side opposite to the adhesive surface of the release tape 83) to the tip of the masking tape 81. And stick. Next, the substrate 9 is moved by the substrate moving mechanism 412 to FIG. Start moving to the left in A. At the same time, the supply reel 4132 and the recovery reel 4134 shown in FIG. When the clockwise rotation in A is started and the peeling tape 83 wound around the supply reel 4132 is sent out, the pressing roller 4137 moves upward and returns to the original position, so that FIG. As shown in B, the tip of the masking tape 81 adhered to the peeling tape 83 peels from the substrate 9. Then, the peeling tape 83 is continuously fed from the supply reel 4132 and the substrate 9 continues to move, whereby the masking tape 81 on the substrate 9 is peeled off from the substrate 9 while being adhered to the peeling tape 83, and the recovery reel 4134. Is wound up and collected. In the tape peeling unit 41, the masking tape 81 is peeled from the substrate 9 on which the organic EL liquid 93 is applied, whereby the substrate 9 is applied as shown in FIG. 13 (cross-sectional view of the substrate 9 corresponding to FIG. 10). The organic EL liquid 93 is left only on the region 91.

このように、図11に示すテープ剥離ユニット41では、テープ剥離ヘッド413によりマスキングテープ81を保持して持ち上げた状態で、基板移動機構412により基板9をマスキングテープ81が貼付されている方向に沿って移動することにより、基板9からのマスキングテープ81の剥離が行われる。換言すれば、テープ剥離ユニット41では、基板9に貼付されているマスキングテープ81を、剥離テープ83を利用して保持して基板9から剥離する剥離機構が設けられ、当該剥離機構は、テープ剥離ヘッド413および基板移動機構412により実現されている。また、基板移動機構412は、基板9上においてマスキングテープ81が貼付されている方向に沿ってテープ剥離ヘッド413を基板9に対して相対的に移動することによりマスキングテープ81を剥離する移動機構と捉えることができる。   11, in the state where the masking tape 81 is held and lifted by the tape peeling head 413, the substrate 9 is moved along the direction in which the masking tape 81 is applied by the substrate moving mechanism 412. The masking tape 81 is peeled off from the substrate 9 by moving. In other words, the tape peeling unit 41 is provided with a peeling mechanism for holding the masking tape 81 attached to the substrate 9 using the peeling tape 83 and peeling the masking tape 81 from the substrate 9. This is realized by the head 413 and the substrate moving mechanism 412. The substrate moving mechanism 412 is a moving mechanism for peeling the masking tape 81 by moving the tape peeling head 413 relative to the substrate 9 along the direction in which the masking tape 81 is applied on the substrate 9. Can be caught.

テープ剥離ユニット41では、有機EL液が付着したマスキングテープ81の上面を剥離テープ83により覆ってマスキングテープ81を基板9から剥離するため、マスキングテープ81上に付着した有機EL液を基板9に落下させることなくマスキングテープ81を回収することができる。なお、剥離テープ83のマスキングテープ81への粘着開始は、剥離テープ83を供給しつつ剥離テープ83の供給速度に等しい速度で移動している基板9に対して行われてもよい。   In the tape peeling unit 41, the upper surface of the masking tape 81 to which the organic EL liquid is adhered is covered with the peeling tape 83 to peel the masking tape 81 from the substrate 9, so that the organic EL liquid adhered on the masking tape 81 falls on the substrate 9. The masking tape 81 can be collected without causing it to occur. Note that the start of adhesion of the release tape 83 to the masking tape 81 may be performed on the substrate 9 that is moving at a speed equal to the supply speed of the release tape 83 while supplying the release tape 83.

テープ剥離ユニット41では、基板9からのマスキングテープ81の剥離と並行して、テープ剥離ヘッド413の下方を通過する基板9上のマスキングテープ81が剥離された領域(すなわち、非塗布領域92のうちマスキングテープ81が貼付されていた領域であり、以下、「剥離領域」という。)が第2撮像部415により連続的に撮像される。換言すれば、第2撮像部415は、テープ剥離ユニット41におけるマスキングテープ81の剥離において、基板移動機構412によりテープ剥離ヘッド413と共に基板9に対して相対的に移動しつつ剥離領域を撮像する。   In the tape peeling unit 41, in parallel with the peeling of the masking tape 81 from the substrate 9, the area where the masking tape 81 on the substrate 9 that passes under the tape peeling head 413 is peeled (that is, out of the non-application area 92). The area where the masking tape 81 has been applied is referred to as a “peeling area” hereinafter) and is continuously imaged by the second imaging unit 415. In other words, the second imaging unit 415 images the peeling area while moving relative to the substrate 9 together with the tape peeling head 413 by the substrate moving mechanism 412 when peeling the masking tape 81 in the tape peeling unit 41.

図14.Aは、第2撮像部415により取得された基板9の剥離領域の画像(すなわち、マスキングテープ81剥離後の非塗布領域92の画像であり、以下、「剥離領域画像」という。)901の一部を示す図である。剥離領域画像901には、非塗布領域92の周囲の塗布領域91に形成された隔壁94、および、隔壁94の間の溝に塗布された有機EL液93が含まれている。図14.Aでは、有機EL液93に斜線を付して示す。剥離領域画像901は第2撮像部415から残渣検出部416(図11参照)へと送られる。   FIG. A is an image of the peeled area of the substrate 9 acquired by the second imaging unit 415 (that is, an image of the non-coated area 92 after the masking tape 81 is peeled off, hereinafter referred to as “peeled area image”) 901. FIG. The peeling area image 901 includes a partition wall 94 formed in the application area 91 around the non-application area 92 and an organic EL liquid 93 applied to a groove between the partition walls 94. FIG. In A, the organic EL liquid 93 is indicated by hatching. The peeling region image 901 is sent from the second imaging unit 415 to the residue detection unit 416 (see FIG. 11).

テープ剥離ユニット41では、既述のテープ貼付装置2の第1撮像部25にて取得されてテープ剥離装置4へと送られた基板9の非塗布領域92の画像が、基準画像として記憶部417に記憶されている。図14.Bは、基準画像900の図14.Aに対応する一部を示す図である。基準画像900でも、剥離領域画像901と同様に、非塗布領域92の周囲の塗布領域91に形成された隔壁94が含まれている。残渣検出部416では、第2撮像部415から出力された剥離領域画像901が基準画像900と比較され、非塗布領域92における両画像の差異が剥離領域に付着しているマスキングテープ81の残渣84として検出される。これにより、非塗布領域92中の微細な傷等が残渣84として誤検出されてしまうことが防止される。第2撮像部415からの出力に基づいて残渣検出部416により検出された残渣84の位置情報は、残渣除去ユニット42へと送られる。   In the tape peeling unit 41, an image of the non-application area 92 of the substrate 9 acquired by the first imaging unit 25 of the tape applying device 2 described above and sent to the tape peeling device 4 is stored as a reference image in the storage unit 417. Is remembered. FIG. B shows the reference image 900 shown in FIG. It is a figure which shows the part corresponding to A. FIG. The reference image 900 also includes the partition wall 94 formed in the application region 91 around the non-application region 92, as in the peeling region image 901. In the residue detection unit 416, the peeling area image 901 output from the second imaging unit 415 is compared with the reference image 900, and the residue 84 of the masking tape 81 in which the difference between both images in the non-application area 92 is attached to the peeling area. Detected as As a result, it is possible to prevent a fine scratch or the like in the non-application area 92 from being erroneously detected as the residue 84. The positional information of the residue 84 detected by the residue detection unit 416 based on the output from the second imaging unit 415 is sent to the residue removal unit 42.

図15は、残渣除去ユニット42の構成を示す正面図である。残渣除去ユニット42は、基板9を保持する基板保持部421、基板9を互いに垂直な2つの水平方向(すなわち、図15中の左右方向および奥行き方向)に移動する基板移動機構422、基板9の非塗布領域92に付着しているマスキングテープ81の残渣にレーザ光を照射することにより残渣を分解して除去する除去ヘッド423、および、これらの構成を制御する除去制御部424を備える。除去ヘッド423は、基板9にレーザ光を照射して基板9上に光スポットを形成する光照射部4231、および、レーザ光の照射により分解されたマスキングテープ81の残渣を周囲のガスと共に吸引する吸引部4232を備える。   FIG. 15 is a front view showing the configuration of the residue removal unit 42. The residue removing unit 42 includes a substrate holding unit 421 that holds the substrate 9, a substrate moving mechanism 422 that moves the substrate 9 in two horizontal directions perpendicular to each other (that is, the left-right direction and the depth direction in FIG. 15), A removal head 423 that decomposes and removes the residue by irradiating the residue of the masking tape 81 adhering to the non-application area 92 with laser light, and a removal control unit 424 that controls these components are provided. The removal head 423 sucks the residue of the light irradiation unit 4231 that irradiates the substrate 9 with the laser beam to form a light spot on the substrate 9 and the masking tape 81 decomposed by the irradiation of the laser beam together with the surrounding gas. A suction unit 4232 is provided.

残渣除去ユニット42によりマスキングテープ81の残渣が除去される際には、まず、テープ剥離ユニット41の残渣検出部416からの出力(すなわち、残渣の位置情報)に基づいて除去制御部424により基板移動機構422が制御されることにより、基板9が移動して基板9上の残渣のうち最初に除去される予定のものが除去ヘッド423の下方に位置する。   When the residue on the masking tape 81 is removed by the residue removal unit 42, first, the substrate is moved by the removal control unit 424 based on the output from the residue detection unit 416 of the tape peeling unit 41 (ie, residue position information). By controlling the mechanism 422, the substrate 9 is moved and the residue on the substrate 9 to be removed first is positioned below the removal head 423.

続いて、吸引部4232による吸引が開始されるとともに光照射部4231が除去制御部424により制御されて基板9にレーザ光が照射され、マスキングテープ81の残渣を含む領域に光スポットが形成される。残渣除去ユニット42では、基板9上の残渣にレーザ光が照射されることにより残渣が分解されて除去される。分解された残渣は吸引部4232により周囲のガスと共に吸引されて回収されるため、分解された残渣が基板9や残渣除去ユニット42に再付着することが防止される。   Subsequently, suction by the suction unit 4232 is started and the light irradiation unit 4231 is controlled by the removal control unit 424 so that the substrate 9 is irradiated with laser light, and a light spot is formed in a region including the residue of the masking tape 81. . In the residue removing unit 42, the residue on the substrate 9 is irradiated with laser light to be decomposed and removed. Since the decomposed residue is sucked together with the surrounding gas by the suction unit 4232 and collected, the decomposed residue is prevented from reattaching to the substrate 9 and the residue removing unit 42.

残渣除去ユニット42では、一の照射領域に対するレーザ光の照射が所定の時間だけ行われると、光照射部4231からのレーザ光の出射が停止される。そして、残渣の位置情報に基づいて基板移動機構422が再び駆動されて基板9が移動し、光照射部4231から基板9に向けてレーザ光が出射されて次の残渣を含む領域に光スポットが形成される。換言すれば、基板移動機構422は、基板9上における光スポットの位置を変更する照射位置変更機構として機能する。残渣除去ユニット42では、残渣の位置情報に基づいて基板9の移動およびレーザ光の照射が繰り返されることにより、基板9上に付着したマスキングテープ81の全ての残渣が除去される。   In the residue removal unit 42, when the laser beam is irradiated on one irradiation region for a predetermined time, the emission of the laser beam from the light irradiation unit 4231 is stopped. Then, the substrate moving mechanism 422 is driven again based on the position information of the residue to move the substrate 9, the laser beam is emitted from the light irradiation unit 4231 toward the substrate 9, and a light spot is generated in a region including the next residue. It is formed. In other words, the substrate moving mechanism 422 functions as an irradiation position changing mechanism that changes the position of the light spot on the substrate 9. In the residue removal unit 42, the residue of the masking tape 81 attached on the substrate 9 is removed by repeatedly moving the substrate 9 and irradiating the laser beam based on the residue position information.

次に、塗布システム1の動作について説明する。図16.Aおよび図16.Bは、一の基板9に対する有機EL液の塗布の流れを示す図である。塗布システム1では、まず、基板9が図3ないし図5に示すテープ貼付装置2に搬入されて基板保持部21に保持される(ステップS11)。基板9上には予め、TFT回路、ITO電極、隔壁および正孔輸送層が形成されている。テープ貼付装置2では、第1撮像部25およびテープ貼付ヘッド23に対して基板9が相対的に移動され、マスキングテープ81が貼付される前の非塗布領域92(図2参照)が第1撮像部25により連続的に撮像されるとともに非塗布領域92の第1撮像部25による撮像が終了した領域にマスキングテープ81が順次貼付される(ステップS12)。塗布システム1では、第1撮像部25により取得された画像がテープ剥離装置4のテープ剥離ユニット41へと送られ、テープ剥離ユニット41の記憶部417により基準画像900(図14.B参照)として記憶される(ステップS13)。   Next, the operation of the coating system 1 will be described. FIG. A and FIG. B is a diagram showing a flow of application of the organic EL liquid to one substrate 9. In the coating system 1, first, the substrate 9 is carried into the tape applicator 2 shown in FIGS. 3 to 5 and held by the substrate holder 21 (step S11). On the substrate 9, a TFT circuit, an ITO electrode, a partition wall and a hole transport layer are formed in advance. In the tape applicator 2, the substrate 9 is moved relative to the first imaging unit 25 and the tape applicator head 23, and the non-application area 92 (see FIG. 2) before the masking tape 81 is applied is first imaged. The masking tape 81 is sequentially applied to the area where the image is continuously captured by the unit 25 and the imaging of the non-application area 92 by the first imaging unit 25 is completed (step S12). In the coating system 1, the image acquired by the first imaging unit 25 is sent to the tape peeling unit 41 of the tape peeling device 4, and is used as a reference image 900 (see FIG. 14B) by the storage unit 417 of the tape peeling unit 41. Stored (step S13).

マスキングテープ81の貼付が終了すると、搬送ロボット6(図1参照)により基板9がテープ貼付装置2から搬出され(ステップS14)、図7および図8に示す塗布装置3に搬入されて基板保持部31に保持される(ステップS15)。塗布装置3では、非塗布領域92にマスキングテープ81が貼付された基板9に向けて有機EL液が吐出され、マスキングテープ81を含む基板9上の領域(すなわち、マスキングテープ81上の領域、および、塗布領域91の隔壁間の溝部)に有機EL液がストライプ状に塗布される(ステップS16)。   When the application of the masking tape 81 is completed, the substrate 9 is unloaded from the tape applying device 2 by the transport robot 6 (see FIG. 1) (step S14), and is carried into the coating device 3 shown in FIGS. 31 (step S15). In the coating apparatus 3, the organic EL liquid is discharged toward the substrate 9 on which the masking tape 81 is attached to the non-application region 92, and the region on the substrate 9 including the masking tape 81 (that is, the region on the masking tape 81, and Then, the organic EL liquid is applied in stripes to the grooves between the partition walls in the application region 91 (step S16).

有機EL液の塗布が終了すると、搬送ロボット6により基板9が塗布装置3から搬出され(ステップS17)、図11に示すテープ剥離ユニット41に搬入されて基板保持部411に保持される(ステップS18)。テープ剥離ユニット41に搬入された基板9上では、塗布装置3により塗布された有機EL液の溶媒成分の一部が塗布装置3の基板保持部の加熱機構により蒸発し、有機EL液がある程度乾燥した状態(いわゆる、生乾きの状態)にてマスキングテープ81および塗布領域91上に付着している。   When the application of the organic EL liquid is completed, the substrate 9 is unloaded from the coating apparatus 3 by the transfer robot 6 (step S17), is loaded into the tape peeling unit 41 shown in FIG. 11, and is held by the substrate holding unit 411 (step S18). ). On the substrate 9 carried into the tape peeling unit 41, a part of the solvent component of the organic EL liquid applied by the coating apparatus 3 is evaporated by the heating mechanism of the substrate holding part of the coating apparatus 3, and the organic EL liquid is dried to some extent. It adheres on the masking tape 81 and the coating area 91 in the state (so-called dry state).

テープ剥離ユニット41では、テープ剥離ヘッド413によりマスキングテープ81が剥離テープ83に粘着されて保持された状態で、基板9がテープ剥離ヘッド413および第2撮像部415に対して相対的に移動することにより、有機EL液が塗布されたマスキングテープ81が基板9から剥離されるとともに非塗布領域92のマスキングテープ81が剥離された領域(すなわち、剥離領域)が第2撮像部415により連続的に撮像される(ステップS19)。   In the tape peeling unit 41, the substrate 9 moves relative to the tape peeling head 413 and the second imaging unit 415 in a state where the masking tape 81 is adhered to and held by the peeling tape 83 by the tape peeling head 413. As a result, the masking tape 81 coated with the organic EL liquid is peeled off from the substrate 9 and the area where the masking tape 81 in the non-coated area 92 is peeled off (that is, the peeling area) is continuously imaged by the second imaging unit 415. (Step S19).

続いて、残渣検出部416において、第2撮像部415により取得された剥離領域画像901(図14.A参照)と記憶部417に記憶されている基準画像900とが比較され(ステップS20)、両画像の非塗布領域92において差異(すなわち、マスキングテープ81の残渣)が存在するか否かが検査される(ステップS21)。   Subsequently, the residue detection unit 416 compares the peeling region image 901 (see FIG. 14A) acquired by the second imaging unit 415 with the reference image 900 stored in the storage unit 417 (step S20). It is inspected whether or not there is a difference (that is, a residue of the masking tape 81) in the non-application area 92 of both images (step S21).

残渣検出部416により、剥離領域画像901の非塗布領域92と基準画像900の非塗布領域92との間に差異が存在すると判断された場合(すなわち、基板9上の剥離領域に付着している残渣が検出された場合)、基板9上における残渣の位置情報が残渣除去ユニット42へと送られる(ステップS22)。そして、基板9がテープ剥離ユニット41から搬出され(ステップS23)、図15に示す残渣除去ユニット42に搬入されて基板保持部421に保持される(ステップS24)。残渣除去ユニット42では、光照射部4231から基板9上に照射されるレーザ光の光スポットの位置を、残渣検出部416から出力された残渣の位置情報に基づいて変更し、基板9上の残渣に順次レーザ光を照射して分解することにより残渣が除去される(ステップS25)。残渣の除去が終了すると、基板9が残渣除去ユニット42から塗布システム1外へと搬出されて基板9に対する有機EL液の塗布が終了する(ステップS26)。   When the residue detection unit 416 determines that there is a difference between the non-application area 92 of the separation area image 901 and the non-application area 92 of the reference image 900 (that is, it adheres to the separation area on the substrate 9). When a residue is detected), the position information of the residue on the substrate 9 is sent to the residue removal unit 42 (step S22). And the board | substrate 9 is carried out from the tape peeling unit 41 (step S23), is carried into the residue removal unit 42 shown in FIG. 15, and is hold | maintained at the board | substrate holding | maintenance part 421 (step S24). In the residue removal unit 42, the position of the light spot of the laser light irradiated on the substrate 9 from the light irradiation unit 4231 is changed based on the residue position information output from the residue detection unit 416, and the residue on the substrate 9 is changed. Residues are removed by sequentially irradiating them with laser light to decompose them (step S25). When the removal of the residue is completed, the substrate 9 is carried out of the coating system 1 from the residue removal unit 42, and the application of the organic EL liquid to the substrate 9 is completed (step S26).

一方、ステップS21において剥離領域画像901の非塗布領域92と基準画像900の非塗布領域92との間に差異が存在しないと判断された場合(すなわち、マスキングテープ81の残渣が検出されなかった場合)、基板9がテープ剥離ユニット41から塗布システム1外へと搬出されて基板9に対する有機EL液の塗布が終了する(ステップS211)。   On the other hand, when it is determined in step S21 that there is no difference between the non-application area 92 of the peeling area image 901 and the non-application area 92 of the reference image 900 (that is, the residue of the masking tape 81 is not detected). ), The substrate 9 is unloaded from the tape peeling unit 41 to the outside of the coating system 1, and the application of the organic EL liquid to the substrate 9 is completed (step S211).

図1に示す塗布システム1では、実際には、有機EL液の塗布が複数の基板に対して連続的に行われる。具体的には、塗布装置3における1枚目の基板に対する有機EL液の塗布(ステップS16)と並行して、テープ貼付装置2における2枚目の基板に対する撮像およびマスキングテープの貼付(ステップS12)が行われ、また、テープ剥離ユニット41における1枚目の基板からのマスキングテープの剥離および剥離領域の撮像(ステップS19)と並行して、2枚目の基板に対する有機EL液の塗布(ステップS16)、および、3枚目の基板に対する撮像およびマスキングテープの貼付(ステップS12)が行われる。   In the coating system 1 shown in FIG. 1, the organic EL liquid is actually applied continuously to a plurality of substrates. Specifically, in parallel with the application of the organic EL liquid to the first substrate in the coating device 3 (step S16), the imaging and the masking tape are applied to the second substrate in the tape applying device 2 (step S12). In parallel with the peeling of the masking tape from the first substrate and the imaging of the peeling region (step S19) in the tape peeling unit 41, the organic EL liquid is applied to the second substrate (step S16). ), And imaging and masking tape application (step S12) to the third substrate.

さらに、1枚目の基板上にマスキングテープの残渣が検出された場合、1枚目の基板に対する残渣の除去(ステップS25)と並行して、2枚目の基板からのマスキングテープの剥離および剥離領域の撮像(ステップS19)、3枚目の基板に対する有機EL液の塗布(ステップS16)、および、4枚目の基板に対する撮像およびマスキングテープの貼付(ステップS12)が行われる。このように、塗布システム1のテープ剥離装置4では、テープ剥離ユニット41の基板保持部411が、一の基板からのマスキングテープの剥離および剥離領域の撮像の際に当該一の基板を保持する第1基板保持部となっており、残渣除去ユニット42の基板保持部421が、他の基板に対する残渣の除去の際にテープ剥離ユニット41の基板保持部411による一の基板の保持と並行して当該他の基板を保持する第2基板保持部となっている。   Further, when a residue of the masking tape is detected on the first substrate, the masking tape is peeled off from the second substrate in parallel with the removal of the residue from the first substrate (step S25). Imaging of the area (step S19), application of the organic EL liquid to the third substrate (step S16), and imaging and masking tape application (step S12) to the fourth substrate are performed. As described above, in the tape peeling device 4 of the coating system 1, the substrate holding unit 411 of the tape peeling unit 41 holds the one substrate at the time of peeling the masking tape from the one substrate and imaging the peeling region. The substrate holding unit 421 of the residue removing unit 42 is in parallel with the holding of one substrate by the substrate holding unit 411 of the tape peeling unit 41 when removing residues from other substrates. This is a second substrate holding unit for holding another substrate.

塗布システム1では、複数の基板に対する連続的な処理において、例えば、1枚目の基板に対する残渣の除去が行われている間に、2枚目の基板からのマスキングテープの剥離が終了して残渣が検出された場合、2枚目の基板がテープ剥離ユニット41から搬出されて一時的にバッファユニット5に収納される。これにより、1枚目の基板に対する残渣の除去の終了を待つことなく、3枚目の基板に対するマスキングテープの剥離を行うことができる。このように、塗布システム1では、バッファユニット5を設けることにより、塗布システム1の各装置間の処理時間の差を調整し、基板の処理順序に柔軟性を持たせることができるため、複数の基板の処理に要する時間を短縮することができる。   In the coating system 1, in a continuous process on a plurality of substrates, for example, while the removal of the residue from the first substrate is being performed, the peeling of the masking tape from the second substrate is completed and the residue is removed. Is detected, the second substrate is unloaded from the tape peeling unit 41 and temporarily stored in the buffer unit 5. Accordingly, the masking tape can be peeled off from the third substrate without waiting for completion of the removal of the residue from the first substrate. As described above, in the coating system 1, by providing the buffer unit 5, it is possible to adjust the difference in processing time between the apparatuses of the coating system 1 and to give flexibility to the processing order of the substrates. The time required for processing the substrate can be shortened.

以上に説明したように、テープ剥離装置4では、テープ剥離ユニット41のテープ剥離ヘッド413および基板移動機構412によりマスキングテープ81が基板9から剥離され、第2撮像部415により取得された剥離領域画像に基づいて残渣検出部416により剥離領域に付着しているマスキングテープ81の残渣が検出される。そして、残渣検出部416による検出結果に基づいて、残渣除去ユニット42の光照射部4231および基板移動機構422が除去制御部424に制御されることにより、基板9上の残渣にレーザ光が順次照射されて残渣が分解される。これにより、マスキングテープ81の残渣を基板上から確実に除去することができる。   As described above, in the tape peeling device 4, the masking tape 81 is peeled from the substrate 9 by the tape peeling head 413 and the substrate moving mechanism 412 of the tape peeling unit 41, and the peeling region image acquired by the second imaging unit 415. Based on the above, the residue detection unit 416 detects the residue of the masking tape 81 attached to the peeling region. Then, based on the detection result by the residue detection unit 416, the light irradiation unit 4231 and the substrate moving mechanism 422 of the residue removal unit 42 are controlled by the removal control unit 424, so that laser beams are sequentially irradiated onto the residues on the substrate 9. The residue is decomposed. Thereby, the residue of the masking tape 81 can be reliably removed from the substrate.

テープ剥離ユニット41では、テープ剥離ヘッド413によりマスキングテープ81を保持した状態で基板9をテープ剥離ヘッド413および第2撮像部415に対して相対的に移動することにより、マスキングテープ81の剥離および剥離領域の撮像が並行して行われる。これにより、テープ剥離装置4の構成を簡素化することができる。なお、テープ剥離ヘッド413によるマスキングテープ81の保持は、少なくともマスキングテープ81の一部が保持されていればよく、必ずしもマスキングテープ81の全体が保持される必要はない。   In the tape peeling unit 41, the masking tape 81 is peeled and peeled by moving the substrate 9 relative to the tape peeling head 413 and the second imaging unit 415 while holding the masking tape 81 by the tape peeling head 413. The area is imaged in parallel. Thereby, the structure of the tape peeling apparatus 4 can be simplified. The masking tape 81 may be held by the tape peeling head 413 as long as at least a part of the masking tape 81 is held, and the entire masking tape 81 is not necessarily held.

残渣除去ユニット42では、指向性が高いレーザ光を利用して基板9上に形成される光スポットを小さくすることにより、残渣の周囲(例えば、塗布領域91に塗布された有機EL液や基板9自体)への光の影響を低減しつつ残渣を除去することができる。   The residue removal unit 42 uses a laser beam with high directivity to reduce the light spot formed on the substrate 9, thereby surrounding the residue (for example, the organic EL liquid applied to the application region 91 or the substrate 9. The residue can be removed while reducing the influence of light on itself.

ところで、テープ剥離装置4において複数の基板に対して処理を行う場合、マスキングテープ81の残渣の除去は、残渣が検出された基板に対してのみ必要となる。テープ剥離装置4では、テープ剥離ユニット41と残渣除去ユニット42とを個別に設け、マスキングテープ81の剥離および剥離領域の撮像と残渣除去とを並行して行い得る構成とすることにより、残渣除去が不要な基板に対する処理時間を短縮することができる。   By the way, when processing with respect to a some board | substrate in the tape peeling apparatus 4, the removal of the residue of the masking tape 81 is required only with respect to the board | substrate with which the residue was detected. In the tape peeling device 4, the tape peeling unit 41 and the residue removing unit 42 are provided separately, and by removing the masking tape 81 and imaging the peeling area and removing the residue in parallel, residue removal can be performed. The processing time for unnecessary substrates can be shortened.

一方、塗布システム1では、まず、テープ貼付装置2により基板9上の非塗布領域92にマスキングテープ81が貼付され、塗布装置3によりマスキングテープ81が貼付された基板9上のマスキングテープ81を含む領域に有機EL液が塗布される。そして、テープ剥離装置4のテープ剥離ユニット41により有機EL液が塗布された基板9からマスキングテープ81が剥離され、残渣除去ユニット42により剥離領域に付着したマスキングテープ81の残渣が除去される。これにより、塗布領域91のみに有機EL液が塗布されており、かつ、非塗布領域92に有機EL液やマスキングテープ81の残渣等の異物が付着していない基板9を容易に得ることができる。   On the other hand, in the coating system 1, first, the masking tape 81 is applied to the non-application area 92 on the substrate 9 by the tape applying device 2, and the masking tape 81 on the substrate 9 to which the masking tape 81 is applied by the applying device 3 is included. An organic EL solution is applied to the region. Then, the masking tape 81 is peeled off from the substrate 9 on which the organic EL liquid has been applied by the tape peeling unit 41 of the tape peeling device 4, and the residue of the masking tape 81 attached to the peeling region is removed by the residue removing unit 42. As a result, the substrate 9 in which the organic EL liquid is applied only to the application area 91 and no foreign matter such as the organic EL liquid or the residue of the masking tape 81 is attached to the non-application area 92 can be easily obtained. .

また、塗布システム1では、一の基板に対して、マスキングテープ81の貼付前に撮像が行われて取得された画像が基準画像として記憶され、マスキングテープ81の剥離後に取得された剥離領域画像を基準画像と比較することによりマスキングテープ81の残渣が検出される。このように、塗布システム1では、複数の基板を処理する際に各基板について基準画像を取得することにより、全基板に共通の基準画像を利用する場合と異なり、基板毎の差異による誤検出を防止して残渣を精度良く検出することができる。また、種類が異なる基板を連続的に処理する場合であっても、これに容易に対応することができる。   In the coating system 1, an image obtained by performing imaging before applying the masking tape 81 on one substrate is stored as a reference image, and a peeling area image obtained after peeling the masking tape 81 is stored. The residue of the masking tape 81 is detected by comparing with the reference image. As described above, in the coating system 1, when a plurality of substrates are processed, a reference image is acquired for each substrate, so that erroneous detection due to a difference for each substrate is performed unlike a case where a reference image common to all the substrates is used. The residue can be detected with high accuracy. Further, even when substrates of different types are continuously processed, this can be easily handled.

次に、本発明の第2の実施の形態に係る塗布システム1aについて説明する。図17は、塗布システム1aの構成を示す図である。図17に示すように、塗布システム1aは、図1に示す塗布システム1と同様に、塗布装置3、残渣除去ユニット42およびバッファユニット5を備える。また、塗布システム1aは、塗布システム1のテープ剥離ユニット41に代えて構造が若干異なるテープ剥離ユニット41aを備える。   Next, the coating system 1a according to the second embodiment of the present invention will be described. FIG. 17 is a diagram showing a configuration of the coating system 1a. As illustrated in FIG. 17, the coating system 1 a includes a coating device 3, a residue removal unit 42, and a buffer unit 5, similarly to the coating system 1 illustrated in FIG. 1. The coating system 1a includes a tape peeling unit 41a having a slightly different structure instead of the tape peeling unit 41 of the coating system 1.

図18は、テープ剥離ユニット41aを示す平面図である。図18に示すように、テープ剥離ユニット41aは、図11に示すテープ剥離ユニット41と同様に、基板保持部411、基板移動機構412、テープ剥離ヘッド413、ヘッド移動機構414、第2撮像部415、残渣検出部416および記憶部417を備える。テープ剥離ユニット41aは、さらに、図3ないし図5に示すテープ貼付装置2と同様に、基板9の非塗布領域92にマスキングテープ81を貼付するテープ貼付ヘッド23、および、マスキングテープ81が貼付される前の非塗布領域92を撮像する第1撮像部25を備える。テープ貼付ヘッド23の構造は図6.Aに示すものと同様であり、基板9に対するマスキングテープ81の塗布時の動作も第1の実施の形態と同様である。   FIG. 18 is a plan view showing the tape peeling unit 41a. As shown in FIG. 18, the tape peeling unit 41 a is similar to the tape peeling unit 41 shown in FIG. 11, and includes a substrate holding unit 411, a substrate moving mechanism 412, a tape peeling head 413, a head moving mechanism 414, and a second imaging unit 415. The residue detection unit 416 and the storage unit 417 are provided. The tape peeling unit 41a is further applied with the tape application head 23 for applying the masking tape 81 to the non-application area 92 of the substrate 9 and the masking tape 81, as in the tape application device 2 shown in FIGS. The first image pickup unit 25 for picking up an image of the non-coating region 92 before printing is provided. The structure of the tape applying head 23 is shown in FIG. The operation at the time of applying the masking tape 81 to the substrate 9 is the same as that of the first embodiment.

塗布システム1aでは、テープ剥離ユニット41aにテープ貼付ヘッド23が設けられているため、すなわち、テープ剥離ユニット41aがテープ貼付・剥離ユニットとなっているため、図1に示すテープ貼付装置2は設けられない。また、図17に示すように、塗布システム1aでは、搬送ロボット6および搬送ロボット43に代えて、塗布装置3、テープ剥離装置4(すなわち、テープ剥離ユニット41aおよび残渣除去ユニット42)、並びに、バッファユニット5へと基板9を搬送する基板搬送機構であるマルチ搬送ロボット6aを備える。   In the coating system 1a, the tape peeling unit 41a is provided with the tape sticking head 23, that is, since the tape peeling unit 41a is a tape sticking / peeling unit, the tape sticking device 2 shown in FIG. 1 is provided. Absent. As shown in FIG. 17, in the coating system 1a, instead of the transport robot 6 and the transport robot 43, the coating device 3, the tape stripping device 4 (that is, the tape stripping unit 41a and the residue removing unit 42), and the buffer A multi-transport robot 6 a which is a substrate transport mechanism for transporting the substrate 9 to the unit 5 is provided.

塗布システム1aによる有機EL液の塗布の流れは、基板9に対するマスキングテープ81の貼付がテープ剥離ユニット41aにおいて行われることを除き、第1の実施の形態とほぼ同様である。以下、図16.Aおよび図16.Bのテープ貼付装置2をテープ剥離ユニット41aに読み替えて参照しつつ塗布システム1aの動作を説明する。   The flow of application of the organic EL liquid by the application system 1a is substantially the same as that of the first embodiment except that the masking tape 81 is applied to the substrate 9 in the tape peeling unit 41a. Hereinafter, FIG. A and FIG. The operation of the coating system 1a will be described while referring to the tape applicator 2 of B as a tape peeling unit 41a.

塗布システム1aでは、まず、基板9を保持したマルチ搬送ロボット6aがテープ剥離ユニット41aの前まで移動し、基板9がテープ剥離ユニット41aに搬入されて基板保持部411に保持される(ステップS11)。   In the coating system 1a, first, the multi-transport robot 6a holding the substrate 9 moves to the front of the tape peeling unit 41a, and the substrate 9 is carried into the tape peeling unit 41a and held by the substrate holding unit 411 (step S11). .

続いて、基板移動機構412により基板9が第1撮像部25およびテープ貼付ヘッド23に対して相対的に移動され、マスキングテープ81が貼付される前の非塗布領域92(図2参照)が第1撮像部25により連続的に撮像されるとともに、テープ貼付ヘッド23から繰り出されたマスキングテープ81が、非塗布領域92の第1撮像部25による撮像が終了した領域に順次貼付される(ステップS12)。第1撮像部25により取得された画像は記憶部417に送られて基準画像900(図14.B参照)として記憶される(ステップS13)。以上のように、塗布システム1aでは、テープ貼付ヘッド23および基板移動機構412が、有機EL液が塗布される前の基板9の非塗布領域92にマスキングテープ81を貼付するテープ貼付機構となる。   Subsequently, the substrate 9 is moved relative to the first imaging unit 25 and the tape applying head 23 by the substrate moving mechanism 412, and the non-application area 92 (see FIG. 2) before the masking tape 81 is applied is first. The masking tape 81 continuously picked up by the image pickup unit 25 and fed out from the tape applying head 23 is sequentially attached to the region of the non-application region 92 where the image pickup by the first image pickup unit 25 is completed (step S12). ). The image acquired by the first imaging unit 25 is sent to the storage unit 417 and stored as the reference image 900 (see FIG. 14B) (step S13). As described above, in the coating system 1a, the tape applying head 23 and the substrate moving mechanism 412 serve as a tape applying mechanism for applying the masking tape 81 to the non-application region 92 of the substrate 9 before the organic EL liquid is applied.

マスキングテープ81の貼付が終了すると、マルチ搬送ロボット6aにより基板9がテープ剥離ユニット41aから搬出されて塗布装置3に搬入され、マスキングテープ81を含む基板9上の領域に有機EL液がストライプ状に塗布される(ステップS14〜S16)。   When pasting of the masking tape 81 is completed, the substrate 9 is unloaded from the tape peeling unit 41a by the multi-transport robot 6a and loaded into the coating device 3, and the organic EL liquid is striped in the region on the substrate 9 including the masking tape 81. It is applied (steps S14 to S16).

有機EL液の塗布が終了すると、マルチ搬送ロボット6aにより基板9が塗布装置3から搬出されて再びテープ剥離ユニット41aに搬入される(ステップS17,S18)。テープ剥離ユニット41aでは、テープ剥離ヘッド413によりマスキングテープ81が保持された状態で、基板9がテープ剥離ヘッド413および第2撮像部415に対して相対的に移動することにより、マスキングテープ81が基板9から剥離されるとともに非塗布領域92のマスキングテープ81が剥離された領域(すなわち、剥離領域)が第2撮像部415により連続的に撮像される(ステップS19)。   When the application of the organic EL liquid is completed, the substrate 9 is unloaded from the coating apparatus 3 by the multi-transport robot 6a and is loaded again into the tape peeling unit 41a (steps S17 and S18). In the tape peeling unit 41a, the substrate 9 moves relative to the tape peeling head 413 and the second imaging unit 415 while the masking tape 81 is held by the tape peeling head 413, whereby the masking tape 81 is moved to the substrate. The area where the masking tape 81 of the non-application area 92 is peeled off (that is, the peeling area) is continuously imaged by the second imaging unit 415 (step S19).

続いて、残渣検出部416において、第2撮像部415により取得された剥離領域画像901(図14.A参照)と記憶部417に記憶されている基準画像900とが比較され(ステップS20)、両画像の非塗布領域92において差異(すなわち、マスキングテープ81の残渣)が存在するか否かが検査される(ステップS21)。   Subsequently, the residue detection unit 416 compares the peeling region image 901 (see FIG. 14A) acquired by the second imaging unit 415 with the reference image 900 stored in the storage unit 417 (step S20). It is inspected whether or not there is a difference (that is, a residue of the masking tape 81) in the non-application area 92 of both images (step S21).

基板9上の剥離領域に付着している残渣が検出された場合、基板9上における残渣の位置情報が残渣除去ユニット42へと送られる(ステップS22)。そして、基板9がテープ剥離ユニット41から搬出されて残渣除去ユニット42に搬入され、残渣の位置情報に基づいて基板9上の残渣に順次レーザ光を照射して分解することにより残渣が除去される(ステップS23〜S25)。残渣の除去が終了すると、マルチ搬送ロボット6aにより基板9が残渣除去ユニット42から塗布システム1a外へと搬出されて基板9に対する有機EL液の塗布が終了する(ステップS26)。   When the residue adhering to the peeling area on the substrate 9 is detected, the position information of the residue on the substrate 9 is sent to the residue removing unit 42 (step S22). Then, the substrate 9 is unloaded from the tape peeling unit 41 and loaded into the residue removing unit 42, and the residue is removed by sequentially irradiating the residue on the substrate 9 with laser light based on the residue position information and decomposing it. (Steps S23 to S25). When the removal of the residue is completed, the substrate 9 is unloaded from the residue removal unit 42 to the outside of the coating system 1a by the multi-transport robot 6a, and the application of the organic EL liquid to the substrate 9 is completed (Step S26).

一方、ステップS21においてマスキングテープ81の残渣が検出されなかった場合、マルチ搬送ロボット6aにより基板9がテープ剥離ユニット41aから塗布システム1a外へと搬出されて基板9に対する有機EL液の塗布が終了する(ステップS211)。   On the other hand, if no residue of the masking tape 81 is detected in step S21, the substrate 9 is unloaded from the tape peeling unit 41a to the outside of the coating system 1a by the multi-transport robot 6a, and the application of the organic EL liquid to the substrate 9 is completed. (Step S211).

テープ剥離装置4では、第1の実施の形態と同様に、マスキングテープ81の残渣を基板上から確実に除去することができる。また、テープ剥離ユニット41と残渣除去ユニット42とを個別に設けることにより、残渣除去が不要な基板に対する処理時間を短縮することができる。テープ剥離ユニット41aでは、マスキングテープ81の剥離および剥離領域の撮像が並行して行われることにより、テープ剥離装置4の構成を簡素化することができる。残渣除去ユニット42では、指向性が高いレーザ光を利用することにより、残渣の周囲への光の影響を低減しつつ残渣を除去することができる。   In the tape peeling apparatus 4, the residue of the masking tape 81 can be reliably removed from the substrate, as in the first embodiment. Further, by providing the tape peeling unit 41 and the residue removing unit 42 separately, the processing time for the substrate that does not require residue removal can be shortened. In the tape peeling unit 41a, the peeling of the masking tape 81 and the imaging of the peeling area are performed in parallel, whereby the configuration of the tape peeling device 4 can be simplified. The residue removing unit 42 can remove the residue while reducing the influence of the light on the periphery of the residue by using laser light having high directivity.

塗布システム1aでは、第1の実施の形態と同様に、塗布領域91のみに有機EL液が塗布されており、かつ、非塗布領域92に有機EL液やマスキングテープ81の残渣等の異物が付着していない基板9を容易に得ることができる。また、複数の基板を処理する際に基板毎に基準画像を取得することにより、残渣を精度良く検出することができる。   In the coating system 1a, as in the first embodiment, the organic EL liquid is applied only to the coating area 91, and foreign matter such as the organic EL liquid or the residue of the masking tape 81 adheres to the non-coating area 92. It is possible to easily obtain the substrate 9 that has not been formed. In addition, when processing a plurality of substrates, a residue image can be detected with high accuracy by acquiring a reference image for each substrate.

塗布システム1aでは、特に、テープ剥離ユニット41aにより基板9に対するマスキングテープ81の貼付および剥離の双方を行うことにより、塗布システム1aの構造を簡素化することができる。   In the coating system 1a, in particular, the structure of the coating system 1a can be simplified by performing both sticking and peeling of the masking tape 81 on the substrate 9 by the tape peeling unit 41a.

以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、様々な変更が可能である。   As mentioned above, although embodiment of this invention has been described, this invention is not limited to the said embodiment, A various change is possible.

例えば、残渣除去ユニット42の光照射部4231から照射される光は、必ずしもレーザ光には限定されない。例えば、マスキングテープ81の粘着層が光分解性の粘着剤により形成されている場合、ハロゲンランプのような通常の光源からの光をレンズにより集光して残渣に照射することにより、残渣を分解して除去することができる。   For example, the light emitted from the light irradiation unit 4231 of the residue removal unit 42 is not necessarily limited to laser light. For example, when the adhesive layer of the masking tape 81 is formed of a photodegradable adhesive, the residue is decomposed by collecting light from a normal light source such as a halogen lamp with a lens and irradiating the residue. And can be removed.

第1撮像部25はテープ貼付ヘッド23の外部に設けられてもよい。この場合、非塗布領域92の撮像とマスキングテープ81の貼付とを並行して行うことにより装置の構成を簡素化するという観点からは、第1撮像部25が基板9に対してテープ貼付ヘッド23と共に相対的に移動されることが好ましい。第2撮像部415も、また、テープ剥離ヘッド413の外部に設けられてもよい。この場合、マスキングテープ81の剥離と剥離領域の撮像とを並行して行うという観点からは、第2撮像部415が基板9に対してテープ剥離ヘッド413と共に相対的に移動されることが好ましい。   The first imaging unit 25 may be provided outside the tape applying head 23. In this case, from the viewpoint of simplifying the configuration of the apparatus by performing imaging of the non-application area 92 and application of the masking tape 81 in parallel, the first imaging unit 25 applies the tape application head 23 to the substrate 9. It is preferable that the relative movement is performed. The second imaging unit 415 may also be provided outside the tape peeling head 413. In this case, it is preferable that the second imaging unit 415 is moved relative to the substrate 9 together with the tape peeling head 413 from the viewpoint of performing the peeling of the masking tape 81 and the imaging of the peeling area in parallel.

マスキングテープ81の残渣を基板上から確実に除去するという観点のみからは、第1撮像部25による非塗布領域92の撮像が全て終了した後に基板9に対するマスキングテープ81の貼付が行われ、基板9からのマスキングテープ81の剥離が全て終了した後に第2撮像部415による剥離領域の撮像が行われてもよい。この場合、第1撮像部25および第2撮像部415は基板9に対して必ずしも相対的に移動する必要はなく、例えば、基板9および両撮像部の移動が停止された状態にて基板9の全体が一度に撮像されてもよい。   From the standpoint of reliably removing the residue of the masking tape 81 from the substrate, the masking tape 81 is attached to the substrate 9 after the imaging of the non-application area 92 by the first imaging unit 25 is completed. After the peeling of the masking tape 81 from all ends, the second imaging unit 415 may image the peeling area. In this case, the first imaging unit 25 and the second imaging unit 415 do not necessarily need to move relative to the substrate 9. For example, the movement of the substrate 9 and both imaging units is stopped in a state where the substrate 9 and the imaging unit are stopped. The whole may be imaged at once.

また、除去ヘッド423がテープ剥離ユニットに設けられ、基板保持部411に保持された基板9に対して、マスキングテープ81の剥離が行われた後に残渣除去が行われてもよい。これにより、塗布システムを小型化することができる。   Further, the removal head 423 may be provided in the tape peeling unit, and the residue removal may be performed after the masking tape 81 is peeled from the substrate 9 held by the substrate holding unit 411. Thereby, a coating system can be reduced in size.

上記実施の形態に係る塗布システム、および、テープ剥離装置では、処理される複数の基板が同一種類であって、かつ、基板毎の差異がほとんどない場合、全基板に共通の基準画像がテープ剥離ユニットの記憶部417に予め記憶されていてもよい。この場合、基準画像としては、例えば、1枚目に処理される予定の基板の非塗布領域92を撮像したものが用いられる。   In the coating system and the tape peeling device according to the above-described embodiment, when the plurality of substrates to be processed are the same type and there is almost no difference between the substrates, the reference image common to all the substrates is the tape peeling. It may be stored in advance in the storage unit 417 of the unit. In this case, as the reference image, for example, an image obtained by imaging the non-application area 92 of the substrate to be processed for the first sheet is used.

塗布装置3では、塗布ヘッド34に設けられるノズルの本数は3本には限定されず、また、必ずしも3種類の有機EL液が同時に塗布される必要もない。例えば、3本以上のノズルから同一種類の有機EL液が同時に吐出されて基板9に塗布されてもよい。この場合、隣接する2本のノズルの間の副走査方向に関する距離は、隔壁ピッチの3倍と等しくされる。また、塗布装置3では、正孔輸送材料を含む流動性材料が基板9に塗布されてもよい。ここで、「正孔輸送材料」とは、有機EL表示装置の正孔輸送層を形成する材料であり、「正孔輸送層」とは、有機EL材料により形成された有機EL層へと正孔を輸送する狭義の正孔輸送層のみを意味するのではなく、正孔の注入を行う正孔注入層も含む。   In the coating apparatus 3, the number of nozzles provided in the coating head 34 is not limited to three, and it is not always necessary to apply three types of organic EL liquids simultaneously. For example, the same type of organic EL liquid may be simultaneously discharged from three or more nozzles and applied to the substrate 9. In this case, the distance between the two adjacent nozzles in the sub-scanning direction is made equal to three times the partition wall pitch. In the coating apparatus 3, a fluid material containing a hole transport material may be applied to the substrate 9. Here, the “hole transport material” is a material that forms a hole transport layer of an organic EL display device, and the “hole transport layer” is a positive electrode that is formed into an organic EL layer formed of an organic EL material. It means not only a narrowly defined hole transport layer that transports holes, but also includes a hole injection layer that injects holes.

上記塗布装置は、必ずしも有機EL表示装置用の有機EL材料または正孔輸送材料を画素形成材料として含む流動性材料の塗布のみに利用されるわけではなく、例えば、液晶表示装置やプラズマ表示装置等の平面表示装置用の基板に対し、着色材料や蛍光材料等の他の種類の画素形成材料を含む流動性材料を塗布する場合やその他の流動性材料を塗布する場合に利用されてもよい。   The coating device is not necessarily used only for coating a fluid material containing an organic EL material or a hole transport material for an organic EL display device as a pixel forming material. For example, a liquid crystal display device, a plasma display device, etc. It may be used when a fluid material containing other types of pixel forming materials such as a coloring material and a fluorescent material is applied to the substrate for the flat display device or when another fluid material is applied.

第1の実施の形態に係る塗布システムの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the coating system which concerns on 1st Embodiment. 基板の平面図である。It is a top view of a board | substrate. テープ貼付装置の平面図である。It is a top view of a tape sticking apparatus. テープ貼付装置の正面図である。It is a front view of a tape sticking apparatus. テープ貼付装置の左側面図である。It is a left view of a tape sticking apparatus. テープ貼付ヘッドを拡大して示す左側面図である。It is a left view which expands and shows a tape sticking head. テープ貼付ヘッドの一部を拡大して示す左側面図である。It is a left view which expands and shows a part of tape sticking head. 塗布装置の平面図である。It is a top view of a coating device. 塗布装置の正面図である。It is a front view of a coating device. 基板の平面図である。It is a top view of a board | substrate. 基板の断面図である。It is sectional drawing of a board | substrate. テープ剥離ユニットの平面図である。It is a top view of a tape peeling unit. テープ剥離ヘッドを拡大して示す左側面図である。It is a left view which expands and shows a tape peeling head. テープ剥離ヘッドの一部を拡大して示す左側面図である。It is a left view which expands and shows a part of tape peeling head. 基板の断面図である。It is sectional drawing of a board | substrate. 剥離領域画像の一部を示す図である。It is a figure which shows a part of peeling area | region image. 基準画像の一部を示す図である。It is a figure which shows a part of reference | standard image. 残渣除去ユニットの正面図である。It is a front view of a residue removal unit. 有機EL液の塗布の流れを示す図である。It is a figure which shows the flow of application | coating of organic electroluminescent liquid. 有機EL液の塗布の流れを示す図である。It is a figure which shows the flow of application | coating of organic electroluminescent liquid. 第2の実施の形態に係る塗布システムの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the coating system which concerns on 2nd Embodiment. テープ剥離ユニットの平面図である。It is a top view of a tape peeling unit.

符号の説明Explanation of symbols

1,1a 塗布システム
2 テープ貼付装置
3 塗布装置
4 テープ剥離装置
6 搬送ロボット
6a マルチ搬送ロボット
9 基板
23 テープ貼付ヘッド
25 第1撮像部
37 ノズル
81 マスキングテープ
83 剥離テープ
84 残渣
92 非塗布領域
93 有機EL液
411 基板保持部
412 基板移動機構
413 テープ剥離ヘッド
415 第2撮像部
416 残渣検出部
417 記憶部
421 基板保持部
422 基板移動機構
424 除去制御部
900 基準画像
901 剥離領域画像
4132 供給リール
4133 粘着機構
4134 回収リール
4231 光照射部
S11〜S26,S211 ステップ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,1a Coating system 2 Tape sticking device 3 Coating device 4 Tape peeling device 6 Transport robot 6a Multi transport robot 9 Substrate 23 Tape sticking head 25 First imaging part 37 Nozzle 81 Masking tape 83 Stripping tape 84 Residue 92 Non-coating region 93 Organic EL liquid 411 Substrate holding unit 412 Substrate moving mechanism 413 Tape peeling head 415 Second imaging unit 416 Residue detecting unit 417 Storage unit 421 Substrate holding unit 422 Substrate moving mechanism 424 Removal control unit 900 Reference image 901 Peeling region image 4132 Supply reel 4133 Adhesive Mechanism 4134 Collection reel 4231 Light irradiation unit S11 to S26, S211 Step

Claims (11)

基板からマスキングテープを剥離するテープ剥離装置であって、
基板に貼付されているマスキングテープの少なくとも一部を保持して前記マスキングテープを前記基板から剥離する剥離機構と、
前記基板上の前記マスキングテープが剥離された剥離領域を撮像する撮像部と、
前記撮像部からの出力に基づいて前記剥離領域に付着している前記マスキングテープの残渣を検出する残渣検出部と、
前記基板に光を照射して前記基板上に光スポットを形成する光照射部と、
前記光スポットの位置を変更する照射位置変更機構と、
前記残渣検出部からの出力に基づいて前記光照射部および前記照射位置変更機構を制御することにより、前記基板上の前記残渣に光を照射して分解することにより前記残渣を除去する除去制御部と、
を備えることを特徴とするテープ剥離装置。
A tape peeling device for peeling a masking tape from a substrate,
A peeling mechanism for holding at least a part of the masking tape attached to the substrate and peeling the masking tape from the substrate;
An imaging unit for imaging a peeling area where the masking tape on the substrate is peeled off;
A residue detecting unit for detecting a residue of the masking tape attached to the peeling region based on an output from the imaging unit;
A light irradiation unit for irradiating the substrate with light to form a light spot on the substrate;
An irradiation position changing mechanism for changing the position of the light spot;
A removal control unit that removes the residue by irradiating and decomposing the residue on the substrate by controlling the light irradiation unit and the irradiation position changing mechanism based on an output from the residue detection unit When,
A tape peeling device comprising:
請求項1に記載のテープ剥離装置であって、
前記光照射部により前記残渣に照射される前記光がレーザ光であることを特徴とするテープ剥離装置。
It is a tape peeling apparatus of Claim 1, Comprising:
The tape peeling device, wherein the light irradiated to the residue by the light irradiation unit is a laser beam.
請求項1または2に記載のテープ剥離装置であって、
前記剥離機構が、
前記マスキングテープの少なくとも一部を保持する剥離ヘッドと、
前記基板上において前記マスキングテープが貼付されている方向に沿って前記剥離ヘッドを前記基板に対して相対的に移動することにより前記マスキングテープを剥離する移動機構と、
を備え、
前記マスキングテープの剥離において、前記撮像部が、前記移動機構により前記剥離ヘッドと共に前記基板に対して相対的に移動しつつ前記剥離領域を撮像することを特徴とするテープ剥離装置。
It is a tape peeling apparatus of Claim 1 or 2,
The peeling mechanism is
A peeling head for holding at least a part of the masking tape;
A moving mechanism for peeling the masking tape by moving the peeling head relative to the substrate along the direction in which the masking tape is affixed on the substrate;
With
In peeling the masking tape, the image pickup unit picks up an image of the peeling region while moving relative to the substrate together with the peeling head by the moving mechanism.
請求項3に記載のテープ剥離装置であって、
前記剥離ヘッドが、
前記マスキングテープに粘着することにより前記マスキングテープの少なくとも一部を保持する剥離テープと、
前記剥離テープの粘着面を前記マスキングテープに対向させつつ前記剥離テープを案内して前記マスキングテープに順次粘着させる剥離テープ案内部と、
前記剥離テープを前記剥離テープ案内部へと供給する剥離テープ供給部と、
前記剥離テープを前記マスキングテープと共に前記基板から引き上げて回収する剥離テープ回収部と、
を備えることを特徴とするテープ剥離装置。
It is a tape peeling apparatus of Claim 3, Comprising:
The peeling head is
A release tape that holds at least a portion of the masking tape by adhering to the masking tape;
A peeling tape guide part that guides the peeling tape while sequentially adhering the masking tape with the adhesive surface of the peeling tape facing the masking tape;
A release tape supply section for supplying the release tape to the release tape guide section;
A peeling tape collecting unit that pulls up and collects the peeling tape from the substrate together with the masking tape,
A tape peeling device comprising:
請求項1ないし4のいずれかに記載のテープ剥離装置であって、
一の基板に対して前記剥離機構がマスキングテープを剥離し、前記撮像部が剥離領域を撮像する際に前記一の基板を保持する第1基板保持部と、
前記第1基板保持部による前記一の基板の保持と並行して他の基板に対して前記光照射部および前記照射位置変更機構が残渣を除去する際に前記他の基板を保持する第2基板保持部と、
をさらに備えることを特徴とするテープ剥離装置。
It is a tape peeling apparatus in any one of Claim 1 thru | or 4, Comprising:
A first substrate holding unit that holds the one substrate when the peeling mechanism peels the masking tape from the one substrate and the imaging unit images the peeling region;
In parallel with the holding of the one substrate by the first substrate holding unit, the second substrate holds the other substrate when the light irradiation unit and the irradiation position changing mechanism remove residues from the other substrate. A holding part;
A tape peeling device, further comprising:
基板に流動性材料を塗布する塗布システムであって、
基板上の非塗布領域にマスキングテープを貼付するテープ貼付装置と、
マスキングテープが貼付された基板に向けて流動性材料をノズルから連続的に吐出しつつ前記ノズルを前記基板に対して相対的に移動し、前記マスキングテープを含む領域に前記流動性材料を塗布する塗布装置と、
流動性材料が塗布された基板からマスキングテープを剥離する請求項1ないし5のいずれかに記載のテープ剥離装置と、
前記テープ貼付装置、前記塗布装置および前記テープ剥離装置へと順に基板を搬送する基板搬送機構と、
を備えることを特徴とする塗布システム。
An application system for applying a flowable material to a substrate,
A tape applying device for applying a masking tape to a non-application area on the substrate;
The nozzle is moved relative to the substrate while the fluid material is continuously discharged from the nozzle toward the substrate on which the masking tape is applied, and the fluid material is applied to the region including the masking tape. A coating device;
The tape peeling device according to any one of claims 1 to 5, wherein the masking tape is peeled off from the substrate coated with the flowable material;
A substrate transport mechanism for transporting the substrate in turn to the tape applying device, the coating device and the tape peeling device;
An application system comprising:
請求項6に記載の塗布システムであって、
前記テープ貼付装置が、前記マスキングテープの貼付よりも前に前記基板の前記非塗布領域を撮像するもう1つの撮像部を備え、
前記テープ剥離装置が、前記テープ貼付装置の前記もう1つの撮像部にて取得された前記基板の画像を基準画像として記憶する記憶部をさらに備え、
前記テープ剥離装置の前記残渣検出部が、前記基準画像と前記撮像部により取得された前記基板の画像とを比較し、両画像の差異を前記マスキングテープの残渣として検出することを特徴とする塗布システム。
The coating system according to claim 6,
The tape applicator includes another imaging unit that images the non-application area of the substrate before the masking tape is applied,
The tape peeling device further includes a storage unit that stores an image of the substrate acquired by the another imaging unit of the tape applying device as a reference image,
The residue detecting unit of the tape peeling apparatus compares the reference image with the image of the substrate acquired by the imaging unit, and detects a difference between the two images as a residue of the masking tape. system.
基板に流動性材料を塗布する塗布システムであって、
非塗布領域にマスキングテープが貼付された基板に向けて流動性材料をノズルから連続的に吐出しつつ前記ノズルを前記基板に対して相対的に移動し、前記マスキングテープを含む領域に前記流動性材料を塗布する塗布装置と、
流動性材料が塗布された基板からマスキングテープを剥離する請求項1ないし5のいずれかに記載のテープ剥離装置と、
前記塗布装置および前記テープ剥離装置へと基板を搬送する基板搬送機構と、
を備え、
前記テープ剥離装置が、流動性材料が塗布される前の基板上の非塗布領域にマスキングテープを貼付するテープ貼付機構をさらに備えることを特徴とする塗布システム。
An application system for applying a flowable material to a substrate,
The nozzle is moved relative to the substrate while the fluid material is continuously discharged from the nozzle toward the substrate on which the masking tape is applied to the non-application region, and the fluidity is applied to the region including the masking tape. An applicator for applying the material;
The tape peeling device according to any one of claims 1 to 5, wherein the masking tape is peeled off from the substrate coated with the flowable material;
A substrate transport mechanism for transporting the substrate to the coating device and the tape peeling device;
With
The coating system, wherein the tape peeling device further includes a tape applying mechanism for applying a masking tape to a non-application region on the substrate before the fluid material is applied.
基板からマスキングテープを剥離するテープ剥離方法であって、
a)基板に貼付されているマスキングテープの少なくとも一部を保持して前記マスキングテープを前記基板から剥離する工程と、
b)前記基板上の前記マスキングテープが剥離された剥離領域を撮像する工程と、
c)前記b)工程において取得された画像に基づいて前記剥離領域に付着している前記マスキングテープの残渣を検出する工程と、
d)前記基板上に形成された光スポットの位置を前記c)工程における検出結果に基づいて変更し、前記基板上の前記残渣に光を照射して分解することにより前記残渣を除去する工程と、
を備えることを特徴とするテープ剥離方法。
A tape peeling method for peeling a masking tape from a substrate,
a) holding at least part of the masking tape affixed to the substrate and peeling the masking tape from the substrate;
b) imaging a peeled area where the masking tape on the substrate is peeled off;
c) detecting a residue of the masking tape adhering to the release region based on the image acquired in the step b);
d) changing the position of the light spot formed on the substrate based on the detection result in the step c), removing the residue by irradiating the residue on the substrate with light and decomposing it; ,
A tape peeling method comprising:
請求項9に記載のテープ剥離方法であって、
前記d)工程において、前記残渣に照射される前記光がレーザ光であることを特徴とするテープ剥離方法。
It is a tape peeling method of Claim 9, Comprising:
In the step d), the light emitted to the residue is laser light.
請求項9または10に記載のテープ剥離方法であって、
一の基板に対する前記d)工程が、他の基板に対する前記a)工程および前記b)工程と並行して行われることを特徴とするテープ剥離方法。
The tape peeling method according to claim 9 or 10,
The tape peeling method, wherein the step d) for one substrate is performed in parallel with the steps a) and b) for another substrate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN110970317A (en) * 2018-10-01 2020-04-07 英飞凌科技股份有限公司 On-wafer adhesive residue detection
CN112109333A (en) * 2020-08-14 2020-12-22 东莞理工学院 Plane gauze mask ear tape unit with gauze mask finished product detects structure

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