JP2007178597A - Reflection unit and method of manufacturing reflection unit - Google Patents

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徳康 桐生
Hiroyuki Kawashima
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a reflection unit in which a reflection surface of a proper size and curvature can be easily formed in accordance with various applications. <P>SOLUTION: A reflection layer 11 which is continuously formed includes a concave reflection mirror 15 which is formed in the middle part; and a beam part 13 which is extended radially from the concave reflection mirror, wherein the concave reflection mirror is movably supported by the beam part. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、垂直共振型面発光型半導体レーザ、或は、ファブリーペローフィルタ等で使用可能な反射ユニット及び該反射ユニット製作方法に関するものである。   The present invention relates to a reflection unit that can be used in a vertical cavity surface emitting semiconductor laser, a Fabry-Perot filter, or the like, and a method of manufacturing the reflection unit.

従来、垂直共振型面発光型半導体レーザ等の波長可変レーザ、或は、波長可変フィルタ等で使用される反射ユニットに於いては、相対向する反射面を有する共振器を有し、前記反射面の一方を変位させることにより波長を可変にするものである。   2. Description of the Related Art Conventionally, a reflection unit used in a wavelength tunable laser such as a vertical cavity surface emitting semiconductor laser or a wavelength tunable filter has a resonator having opposing reflection surfaces. The wavelength is made variable by displacing one of them.

例えば、波長可変レーザに於いては、共振器として機能する反射ユニットの反射面を変位させて波長を可変にするものであるが、平面から成る反射面を変位させる際に反射面に傾きが生じるのが避けられず、該反射面の傾きにより反射方向が変化し、その結果として波長を変える際の共振器全体が不安定になるという問題点を有していた。上記問題点を解決する為、少なくとも変位側の反射面を凹面形状にすることにより、反射面の傾きの影響を軽減し安定した共振器構造にした技術が提案されている(特許文献1)。   For example, in a wavelength tunable laser, the reflection surface of a reflection unit that functions as a resonator is displaced to change the wavelength, but when the reflection surface composed of a plane is displaced, the reflection surface is inclined. Inevitably, the reflection direction changes due to the inclination of the reflection surface, and as a result, there is a problem that the entire resonator becomes unstable when changing the wavelength. In order to solve the above problems, a technique has been proposed in which at least the reflecting surface on the displacement side is formed into a concave shape, thereby reducing the influence of the inclination of the reflecting surface and making a stable resonator structure (Patent Document 1).

上記技術に於いては、エッチング等の半導体製造技術を利用して反射型の誘電性薄膜により反射面を形成するものである。反射面は、支持体間に掛渡された薄膜に引張り応力、前記支持体に圧縮応力が作用する状態で、局部的に誘電性薄膜を蒸着させることで形成される。   In the above technique, a reflective surface is formed by a reflective dielectric thin film using a semiconductor manufacturing technique such as etching. The reflective surface is formed by locally depositing a dielectric thin film in a state where tensile stress is applied to the thin film stretched between the supports and compressive stress is applied to the support.

反射面が蒸着された後、該反射面、前記支持体を拘束している部位をエッチングにより除去することで、前記薄膜の引張り応力、前記支持体の圧縮応力が開放され、前記反射面が湾曲する様に変形し、反射凹面が形成される。   After the reflective surface is deposited, the tensile surface of the thin film and the compressive stress of the support are released by etching away the portion that restrains the reflective surface and the support, and the reflective surface is curved. As a result, the reflective concave surface is formed.

然し乍ら、上記製造方法に於いては、応力の量/方向を制御するのは難しく、最終的に形成される反射面の大きさ、曲率を、種々の用途に合せた所望の値に設定することは極めて難しい。又、残留応力により経時的に変形進行する可能性が有るという問題点を有していた。   However, in the above manufacturing method, it is difficult to control the amount / direction of stress, and the size and curvature of the finally formed reflecting surface should be set to desired values according to various applications. Is extremely difficult. In addition, there is a problem that deformation may progress with time due to residual stress.

特表2002−500446号公報Japanese translation of PCT publication No. 2002-500466

本発明は斯かる実情に鑑み、種々の用途に応じて適正な大きさ、曲率の反射面を形成することが容易な反射ユニットの製造方法、及びその製造方法により製作される反射ユニットを提供するものである。   In view of such circumstances, the present invention provides a method for manufacturing a reflection unit that can easily form a reflection surface having an appropriate size and curvature according to various applications, and a reflection unit manufactured by the method. Is.

本発明は、連続して形成された反射層が、中途部に形成された凹面反射鏡と、該凹面反射鏡より半径方向に延出する梁部とを有し、前記凹面反射鏡は前記梁部により変位可能に支持された反射ユニットに係り、又前記梁部に電極が設けられ、該電極に対して静電位が印加され、該静電位により前記梁部が変位される反射ユニットに係り、又基板上に犠牲層が形成され、該犠牲層にエッチングにより空間が形成され、前記反射層は前記犠牲層上に前記空間を掛渡る橋状に形成された反射ユニットに係り、又前記基板に電極が設けられ、該電極と前記梁部に設けられた電極間に静電位が印加される様構成された反射ユニットに係り、更に又前記基板はガラス基板であり、該ガラス基板、前記反射層、前記犠牲層が一体にユニット化された反射ユニットに係るものである。   According to the present invention, the reflection layer formed continuously includes a concave reflecting mirror formed in the middle portion, and a beam portion extending in a radial direction from the concave reflecting mirror, and the concave reflecting mirror is the beam. The present invention relates to a reflection unit supported to be displaceable by a portion, and an electrode is provided on the beam portion, an electrostatic potential is applied to the electrode, and the beam portion is displaced by the electrostatic potential, A sacrificial layer is formed on the substrate, and a space is formed in the sacrificial layer by etching. The reflective layer is a reflective unit formed in a bridge shape over the space on the sacrificial layer. An electrode is provided, and the reflection unit is configured to apply an electrostatic potential between the electrode and the electrode provided on the beam portion, and the substrate is a glass substrate, and the glass substrate, the reflection layer A reflective unit in which the sacrificial layer is unitized. It relates to the door.

又本発明は、球曲面を有する成形型に反射層を成膜し、成形型の少なくとも前記球曲面を含む部分をエッチングにより除去し、凹面反射鏡を形成する反射ユニットの製作方法に係り、又前記球曲面は所要量のレジストが加熱溶融され、表面張力で形成される反射ユニットの製作方法に係り、又前記球曲面はピンホールを介してエッチングして形成される凹部である反射ユニットの製作方法に係るものである。   The present invention also relates to a method of manufacturing a reflection unit in which a reflective layer is formed on a mold having a spherical curved surface, and at least a portion including the spherical curved surface of the mold is removed by etching, and a concave reflecting mirror is formed. The spherical curved surface relates to a method of manufacturing a reflective unit in which a required amount of resist is heated and melted to form surface tension, and the spherical curved surface is a concave unit formed by etching through a pinhole. It concerns the method.

又本発明は、基板上に犠牲層を成膜する第1ステップと、該犠牲層上に所要量のレジストがパターニングされる第2ステップと、該レジストを加熱溶融して球曲面を形成させる第3ステップと、前記レジスト、前記犠牲層上に反射層を成膜する第4ステップと、前記レジスト、前記犠牲層をエッチングにより除去して前記基板と前記反射層間に空間を形成し、前記基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第5ステップとを具備する反射ユニットの製作方法に係り、又基板上に犠牲層を成膜する第1ステップと、該犠牲層上に所要量のレジストがパターニングされる第2ステップと、該レジストを加熱溶融して球曲面を形成させる第3ステップと、該レジストと共に前記犠牲層をエッチングして前記レジストの球曲面を前記犠牲層に転写する第4ステップと、該犠牲層上に反射層を成膜する第5ステップと、前記犠牲層をエッチングにより除去して前記基板と前記反射層間に空間を形成し、前記基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第6ステップとを具備する反射ユニットの製作方法に係り、又基板上に所要量のレジストがパターニングされる第1ステップと、該レジストを加熱溶融して球曲面を形成させる第2ステップと、該レジスト、前記基板上に犠牲層を成膜し、前記レジストの球曲面を前記犠牲層上面に転写する第3ステップと、該犠牲層に反射層を成膜する第4ステップと、前記犠牲層、前記レジストをエッチングにより除去して前記基板と前記反射層間に空間を形成し、前記基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第5ステップとを具備する反射ユニットの製作方法に係り、又ガラス基板上に犠牲層を形成する第1ステップと、該犠牲層上にピンホールを有するレジスト層を成膜する第2ステップと、前記ピンホールを介して前記犠牲層をエッチングして球曲面を形成する第3ステップと、前記レジスト層を除去する第4ステップと、前記犠牲層上に反射層を成膜する第5ステップと、前記犠牲層をエッチングにより除去して前記ガラス基板と前記反射層間に空間を形成し、前記ガラス基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第6ステップとを具備する反射ユニットの製作方法に係り、又犠牲層が設けられる前に一方の電極を形成するステップと、反射層を形成した後に前記一方の電極に対向する他方の電極を形成するステップとを更に有する反射ユニットの製作方法に係り、更に又反射層を成膜した後、該反射層を球面部、該球面部より半径方向に延出する梁部を残してエッチングにより除去するステップを更に具備する反射ユニットの製作方法に係るものである。   The present invention also includes a first step of forming a sacrificial layer on the substrate, a second step of patterning a required amount of resist on the sacrificial layer, and a step of heating and melting the resist to form a spherical curved surface. Three steps, a fourth step of forming a reflective layer on the resist and the sacrificial layer, and removing the resist and the sacrificial layer by etching to form a space between the substrate and the reflective layer. And a fifth step of forming a concave reflecting mirror having a reflective concave surface, a first step of forming a sacrificial layer on a substrate, and a required amount of resist on the sacrificial layer. A second step in which the resist is patterned, a third step in which the resist is heated and melted to form a spherical curved surface, and the sacrificial layer is etched together with the resist to transfer the spherical curved surface of the resist to the sacrificial layer. A fourth step of forming a reflective layer on the sacrificial layer; removing the sacrificial layer by etching to form a space between the substrate and the reflective layer; and forming a reflective concave surface on the substrate side. A reflecting unit comprising a sixth step of forming a concave reflecting mirror, a first step of patterning a required amount of resist on a substrate, and heating and melting the resist to form a spherical curved surface A second step of forming a sacrificial layer on the resist and the substrate, transferring a spherical surface of the resist onto the upper surface of the sacrificial layer, and forming a reflective layer on the sacrificial layer. And a fifth step of forming a space between the substrate and the reflective layer by removing the sacrificial layer and the resist by etching, and forming a concave reflecting mirror having a reflective concave surface on the substrate side. A first step of forming a sacrificial layer on a glass substrate, a second step of forming a resist layer having a pinhole on the sacrificial layer, and the pinhole through the pinhole. A third step of etching the sacrificial layer to form a spherical surface, a fourth step of removing the resist layer, a fifth step of forming a reflective layer on the sacrificial layer, and removing the sacrificial layer by etching And a sixth step of forming a concave reflecting mirror having a reflective concave surface on the glass substrate side and forming a space between the glass substrate and the reflective layer, and a sacrificial layer is provided. A method of manufacturing a reflection unit, further comprising: forming one electrode before being formed; and forming the other electrode opposite to the one electrode after forming the reflection layer. Further, the invention relates to a method of manufacturing a reflection unit, further comprising the step of removing the reflective layer by etching after forming the reflective layer, leaving a spherical portion and a beam portion extending radially from the spherical portion. It is.

本発明によれば、連続して形成された反射層が、中途部に形成された凹面反射鏡と、該凹面反射鏡より半径方向に延出する梁部とを有し、前記凹面反射鏡は前記梁部により変位可能に支持されたので、前記凹面反射鏡の構成が極めて簡潔となる。   According to the present invention, the continuously formed reflecting layer has a concave reflecting mirror formed in the middle portion and a beam portion extending in a radial direction from the concave reflecting mirror, and the concave reflecting mirror comprises: Since it is supported by the beam portion so as to be displaceable, the configuration of the concave reflecting mirror becomes extremely simple.

又本発明によれば、前記梁部に電極が設けられ、該電極に対して静電位が印加され、該静電位により前記梁部が変位されるので、前記静電位の値を調整することで、凹面反射鏡の位置調整が可能で、共振器の一方に使用された場合の共振周波数の変更が可能となる。   According to the present invention, an electrode is provided on the beam portion, an electrostatic potential is applied to the electrode, and the beam portion is displaced by the electrostatic potential. Therefore, by adjusting the value of the electrostatic potential, The position of the concave reflecting mirror can be adjusted, and the resonance frequency can be changed when used for one of the resonators.

又本発明によれば、基板上に犠牲層が形成され、該犠牲層にエッチングにより空間が形成され、前記反射層は前記犠牲層上に前記空間を掛渡る橋状に形成されたので、凹面反射鏡支持部の構造が簡潔となる。   According to the present invention, a sacrificial layer is formed on the substrate, a space is formed in the sacrificial layer by etching, and the reflective layer is formed on the sacrificial layer in a bridge shape that spans the space. The structure of the reflector support part is simplified.

又本発明によれば、前記基板に電極が設けられ、該電極と前記梁部に設けられた電極間に静電位が印加される様構成されたので、凹面反射鏡の変位は梁部の撓みで与えられ、前記凹面反射鏡の変位量の調整が容易であると共に前記凹面反射鏡自体を変位させるのではないので、該凹面反射鏡が変形せず、該凹面反射鏡の反射性能に影響を与えることがない。   Further, according to the present invention, since the electrode is provided on the substrate and an electrostatic potential is applied between the electrode and the electrode provided on the beam portion, the displacement of the concave reflecting mirror causes the deflection of the beam portion. It is easy to adjust the amount of displacement of the concave reflecting mirror and does not displace the concave reflecting mirror itself, so that the concave reflecting mirror is not deformed and affects the reflecting performance of the concave reflecting mirror. Never give.

又本発明によれば、前記基板はガラス基板であり、該ガラス基板、前記反射層、前記犠牲層が一体にユニット化されたので、取扱い性、汎用性が向上する。   Further, according to the present invention, the substrate is a glass substrate, and the glass substrate, the reflective layer, and the sacrificial layer are integrated into a unit, so that handleability and versatility are improved.

又本発明によれば、球曲面を有する成形型に反射層を成膜し、成形型の少なくとも前記球曲面を含む部分をエッチングにより除去し、凹面反射鏡を形成するので、製作が簡単であり、又前記凹面反射鏡に残留応力を発生させないので、該凹面反射鏡の経時的変形が防止される。   Also, according to the present invention, a reflective layer is formed on a mold having a spherical curved surface, and at least a portion including the spherical curved surface of the mold is removed by etching to form a concave reflecting mirror. In addition, since no residual stress is generated in the concave reflecting mirror, the concave reflecting mirror is prevented from being deformed with time.

又本発明によれば、前記球曲面は所要量のレジストが加熱溶融され、表面張力で形成されるので、微小な球曲面が簡単に形成できる。   According to the present invention, the spherical curved surface is formed by surface tension by melting a predetermined amount of resist, so that a fine spherical curved surface can be easily formed.

又本発明によれば、前記球曲面はピンホールを介してエッチングして形成される凹部であるので、微小な球曲面が簡単に形成できる。   According to the present invention, since the spherical curved surface is a recess formed by etching through a pinhole, a minute spherical curved surface can be easily formed.

又本発明によれば、基板上に犠牲層を成膜する第1ステップと、該犠牲層上に所要量のレジストがパターニングされる第2ステップと、該レジストを加熱溶融して球曲面を形成させる第3ステップと、前記レジスト、前記犠牲層上に反射層を成膜する第4ステップと、前記レジスト、前記犠牲層をエッチングにより除去して前記基板と前記反射層間に空間を形成し、前記基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第5ステップとを具備するので、該凹面反射鏡に残留応力を発生させず、微小な球曲面を簡単に製作することができる。   According to the present invention, a first step of forming a sacrificial layer on the substrate, a second step of patterning a required amount of resist on the sacrificial layer, and heating and melting the resist to form a spherical curved surface A third step of forming a reflective layer on the resist and the sacrificial layer; and removing the resist and the sacrificial layer by etching to form a space between the substrate and the reflective layer; And a fifth step of forming a concave reflecting mirror having a reflecting concave surface on the substrate side, so that a minute spherical curved surface can be easily manufactured without generating residual stress in the concave reflecting mirror.

又本発明によれば、基板上に犠牲層を成膜する第1ステップと、該犠牲層上に所要量のレジストがパターニングされる第2ステップと、該レジストを加熱溶融して球曲面を形成させる第3ステップと、該レジストと共に前記犠牲層をエッチングして前記レジストの球曲面を前記犠牲層に転写する第4ステップと、該犠牲層上に反射層を成膜する第5ステップと、前記犠牲層をエッチングにより除去して前記基板と前記反射層間に空間を形成し、前記基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第6ステップとを具備するので、該凹面反射鏡に残留応力を発生させず、微小な球曲面を簡単に製作することができる。   According to the present invention, a first step of forming a sacrificial layer on the substrate, a second step of patterning a required amount of resist on the sacrificial layer, and heating and melting the resist to form a spherical curved surface A fourth step of etching the sacrificial layer together with the resist to transfer the spherical curved surface of the resist to the sacrificial layer, a fifth step of forming a reflective layer on the sacrificial layer, A sacrificial layer is removed by etching to form a space between the substrate and the reflective layer, and a sixth step of forming a concave reflector having a reflective concave surface on the substrate side is provided. It is possible to easily produce a minute spherical curved surface without generating any.

又本発明によれば、基板上に所要量のレジストがパターニングされる第1ステップと、該レジストを加熱溶融して球曲面を形成させる第2ステップと、該レジスト、前記基板上に犠牲層を成膜し、前記レジストの球曲面を前記犠牲層上面に転写する第3ステップと、該犠牲層に反射層を成膜する第4ステップと、前記犠牲層、前記レジストをエッチングにより除去して前記基板と前記反射層間に空間を形成し、前記基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第5ステップとを具備するので、該凹面反射鏡に残留応力を発生させず、微小な球曲面を簡単に製作することができる。   According to the present invention, a first step in which a required amount of resist is patterned on the substrate, a second step in which the resist is heated and melted to form a spherical curved surface, and a sacrificial layer is formed on the resist and the substrate. Forming a film, and transferring the spherical curved surface of the resist to the upper surface of the sacrificial layer; a fourth step of forming a reflective layer on the sacrificial layer; removing the sacrificial layer and the resist by etching; A fifth step of forming a space between the substrate and the reflecting layer and forming a concave reflecting mirror having a reflecting concave surface on the substrate side, so that no residual stress is generated in the concave reflecting mirror and a minute spherical curved surface Can be easily manufactured.

又本発明によれば、ガラス基板上に犠牲層を形成する第1ステップと、該犠牲層上にピンホールを有するレジスト層を成膜する第2ステップと、前記ピンホールを介して前記犠牲層をエッチングして球曲面を形成する第3ステップと、前記レジスト層を除去する第4ステップと、前記犠牲層上に反射層を成膜する第5ステップと、前記犠牲層をエッチングにより除去して前記ガラス基板と前記反射層間に空間を形成し、前記ガラス基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第6ステップとを具備するので、該凹面反射鏡に残留応力を発生させず、微小な球曲面を簡単に製作することができる。   According to the invention, a first step of forming a sacrificial layer on the glass substrate, a second step of forming a resist layer having a pinhole on the sacrificial layer, and the sacrificial layer through the pinhole Etching to form a spherical curved surface, a fourth step of removing the resist layer, a fifth step of forming a reflective layer on the sacrificial layer, and removing the sacrificial layer by etching. A sixth step of forming a space between the glass substrate and the reflective layer and forming a concave reflecting mirror having a reflecting concave surface on the glass substrate side; A simple spherical curved surface can be produced easily.

又本発明によれば、犠牲層が設けられる前に一方の電極を形成するステップと、反射層を形成した後に前記一方の電極に対向する他方の電極を形成するステップとを更に有するので、凹面反射鏡の位置調整が可能とした反射ユニットを提供できる。   According to the present invention, the method further includes the step of forming one electrode before the sacrificial layer is provided and the step of forming the other electrode opposite to the one electrode after forming the reflective layer. A reflection unit capable of adjusting the position of the reflector can be provided.

又本発明によれば、反射層を成膜した後、該反射層を球面部、該球面部より半径方向に延出する梁部を残してエッチングにより除去するステップを更に具備するので、凹面反射鏡の位置調整が簡単に行え、該凹面反射鏡の形状の維持が容易な反射ユニットを提供できる等の優れた効果を発揮する。   According to the present invention, the method further comprises the step of removing the reflective layer by etching after forming the reflective layer, leaving a spherical portion and a beam portion extending radially from the spherical portion. The mirror position can be easily adjusted, and an excellent effect such as providing a reflection unit that can easily maintain the shape of the concave reflecting mirror is exhibited.

以下、図面を参照しつつ本発明を実施する為の最良の形態を説明する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.

先ず、本発明に係る反射ユニットを具備した半導体レーザの共振器について説明する。   First, the resonator of the semiconductor laser provided with the reflection unit according to the present invention will be described.

図1、図2は、垂直共振型面発光半導体レーザを示し、1はシリコン基板を示し、該シリコン基板1上には、成膜、拡散、エッチング等によりパターン層2が形成されると共に面発光半導体レーザ3が製作されている。尚、図中4は、発光部を示している。   1 and 2 show a vertical cavity surface emitting semiconductor laser, 1 shows a silicon substrate, and a pattern layer 2 is formed on the silicon substrate 1 by film formation, diffusion, etching, etc. and surface emission is performed. A semiconductor laser 3 is manufactured. In the figure, reference numeral 4 denotes a light emitting unit.

前記パターン層2の表面には、酸化シリコン(SiO2 )等の絶縁膜5が形成され、該絶縁膜5を介在して所要の良導電材質、例えば金等の下側電極6a,6bが形成される。該下側電極6a,6bは、前記パターン層2に形成された電源ライン(図示せず)に接続されている。又、前記絶縁膜5の上面にはシリコン等(Si、SiO2 )の犠牲層8が形成され、該犠牲層8はエッチング等所要の手段で前記面発光半導体レーザ3、前記下側電極6a,6bの周囲が除去され、前記面発光半導体レーザ3、前記下側電極6a,6bを収納する空間9が形成されている。以下、前記シリコン基板1、前記パターン層2、該パターン層2上に形成された前記絶縁膜5を含めたものを基板7と称す。   An insulating film 5 such as silicon oxide (SiO2) is formed on the surface of the pattern layer 2, and lower electrodes 6a and 6b of a required good conductive material such as gold are formed with the insulating film 5 interposed. The The lower electrodes 6a and 6b are connected to a power supply line (not shown) formed in the pattern layer 2. Further, a sacrificial layer 8 made of silicon or the like (Si, SiO2) is formed on the upper surface of the insulating film 5, and the sacrificial layer 8 is etched by the required means such as etching by the surface emitting semiconductor laser 3 and the lower electrodes 6a and 6b. The space 9 for housing the surface-emitting semiconductor laser 3 and the lower electrodes 6a and 6b is formed. Hereinafter, the substrate including the silicon substrate 1, the pattern layer 2, and the insulating film 5 formed on the pattern layer 2 is referred to as a substrate 7.

前記犠牲層8の上には前記空間9を跨ぐ橋状に単層、複層の誘電体層である反射層11が形成される。該反射層11は帯状をしており、前記面発光半導体レーザ3に対峙する部分に球曲面、或は略球曲面、或は近似球曲面(以下球曲面と総称する)の凹面12が形成され、前記反射層11の前記犠牲層8のエッヂから前記凹面12迄の部分が梁部13a,13b、前記凹面12が形成された部分が凹面反射鏡15となっている。該凹面反射鏡15は所定周波数のレーザ光線を透過する様になっている。尚、該凹面反射鏡15の周囲にはフランジ部15aを形成することが好ましい。   On the sacrificial layer 8, a reflective layer 11, which is a single-layer or multi-layer dielectric layer, is formed in a bridge shape across the space 9. The reflective layer 11 has a belt-like shape, and a concave surface 12 having a spherical curved surface, a substantially spherical curved surface, or an approximate spherical curved surface (hereinafter collectively referred to as a spherical curved surface) is formed at a portion facing the surface emitting semiconductor laser 3. The portions of the reflective layer 11 from the edge of the sacrificial layer 8 to the concave surface 12 are beam portions 13a and 13b, and the portion where the concave surface 12 is formed is a concave reflecting mirror 15. The concave reflecting mirror 15 transmits a laser beam having a predetermined frequency. In addition, it is preferable to form a flange portion 15 a around the concave reflecting mirror 15.

前記反射層11の材質は、導電性の材質、例えばAl、Ag、Cr、Au等、非導電性の材質、例えばTiO2 、SiO2 等のいずれでもよく、前記反射層11が導電性の材質であれば絶縁膜を介して上側電極16a,16bが形成され、前記反射層11が非導電性の材質であれば直接上側電極16a,16bが形成される。尚、前記反射層11が導電性の材質の場合、該反射層11自体を電極として使用してもよい。   The material of the reflective layer 11 may be any of a conductive material, such as Al, Ag, Cr, Au, and the like, and a non-conductive material, such as TiO2, SiO2, etc., and the reflective layer 11 may be a conductive material. For example, the upper electrodes 16a and 16b are formed through an insulating film. If the reflective layer 11 is a non-conductive material, the upper electrodes 16a and 16b are directly formed. When the reflective layer 11 is made of a conductive material, the reflective layer 11 itself may be used as an electrode.

前記上側電極16a,16bは電源ライン(図示せず)に接続され、前記下側電極6aと前記上側電極16a間、及び前記下側電極6bと前記上側電極16b間にそれぞれ独立して電圧が印加可能となっている。   The upper electrodes 16a and 16b are connected to a power supply line (not shown), and voltages are independently applied between the lower electrode 6a and the upper electrode 16a, and between the lower electrode 6b and the upper electrode 16b. It is possible.

前記発光部4からレーザ光線を射出させると、前記凹面反射鏡15と反射鏡18間で多重反射して共振し、増幅されたレーザ光線が前記凹面反射鏡15透過して射出される。尚、該凹面反射鏡15の位置により共振周波数が変化し、射出されるレーザ光線の波長が変更される。   When a laser beam is emitted from the light emitting unit 4, it is resonated by multiple reflection between the concave reflecting mirror 15 and the reflecting mirror 18, and the amplified laser beam is transmitted through the concave reflecting mirror 15 and emitted. Note that the resonance frequency changes depending on the position of the concave reflecting mirror 15, and the wavelength of the emitted laser beam is changed.

該凹面反射鏡15の位置の変位は、前記下側電極6aと前記上側電極16a、前記下側電極6bと前記上側電極16b間にそれぞれ電圧を印加することにより、以下に述べる様に達成される。   The displacement of the concave reflecting mirror 15 is achieved by applying voltages between the lower electrode 6a and the upper electrode 16a, and between the lower electrode 6b and the upper electrode 16b, as described below. .

前記下側電極6aと前記上側電極16a、前記下側電極6bと前記上側電極16b間にそれぞれ電圧を印加することで、静電エネルギにより前記下側電極6aと前記上側電極16a間、前記下側電極6bと前記上側電極16b間に吸引力が発生する。   By applying a voltage between the lower electrode 6a and the upper electrode 16a, and between the lower electrode 6b and the upper electrode 16b, electrostatic energy causes the lower electrode 6a and the upper electrode 16a to move between the lower electrode 6a and the upper electrode 16a. A suction force is generated between the electrode 6b and the upper electrode 16b.

前記凹面反射鏡15は前記梁部13a,13bを介して片持梁状に支持されているので、前記下側電極6aと前記上側電極16a、前記下側電極6bと前記上側電極16b間に吸引力が発生することで、前記梁部13a,13bが撓み、前記凹面反射鏡15は凹面形状を維持して前記面発光半導体レーザ3に対して近接離反方向に変位する。又、上記した様に、前記凹面反射鏡15の周囲に前記フランジ部15aを形成することで、前記凹面反射鏡15の剛性が増大し、凹面形状の維持性能が向上する。   Since the concave reflecting mirror 15 is supported in a cantilever shape via the beam portions 13a and 13b, the concave reflecting mirror 15 is sucked between the lower electrode 6a and the upper electrode 16a, and between the lower electrode 6b and the upper electrode 16b. When the force is generated, the beam portions 13a and 13b are bent, and the concave reflecting mirror 15 maintains a concave shape and is displaced in the proximity and separation direction with respect to the surface emitting semiconductor laser 3. Further, as described above, by forming the flange portion 15a around the concave reflecting mirror 15, the rigidity of the concave reflecting mirror 15 is increased, and the performance of maintaining the concave shape is improved.

更に、前記下側電極6aと前記上側電極16a間、前記下側電極6bと前記上側電極16b間に印加する電圧に偏差を与えることで、前記下側電極6aと前記上側電極16a間、前記下側電極6bと前記上側電極16b間に発生する吸引力に差が生じ、従って前記梁部13a、前記梁部13bに変位量の差が生じ、前記凹面反射鏡15が傾斜する。即ち、前記下側電極6aと前記上側電極16a間、前記下側電極6bと前記上側電極16b間に印加する電圧を制御することで、前記凹面反射鏡15の傾きを調整することができる。   Further, by giving a deviation to the voltage applied between the lower electrode 6a and the upper electrode 16a, and between the lower electrode 6b and the upper electrode 16b, between the lower electrode 6a and the upper electrode 16a, the lower electrode A difference is generated in the attractive force generated between the side electrode 6b and the upper electrode 16b. Therefore, a difference in displacement occurs between the beam portion 13a and the beam portion 13b, and the concave reflecting mirror 15 is inclined. That is, the inclination of the concave reflecting mirror 15 can be adjusted by controlling the voltage applied between the lower electrode 6a and the upper electrode 16a and between the lower electrode 6b and the upper electrode 16b.

又、共振器の反射鏡を平面鏡でなく、前記凹面反射鏡15とすることで、該凹面反射鏡15が傾斜した場合に、レーザ光線の反射方向に影響が出難く、安定した共振が得られる。   In addition, by using the concave reflecting mirror 15 instead of a plane mirror as the reflecting mirror of the resonator, when the concave reflecting mirror 15 is inclined, the reflection direction of the laser beam is hardly affected and stable resonance can be obtained. .

而して、本発明に係る垂直共振型面発光半導体レーザは、波長可変であると共に前記凹面反射鏡15の傾斜が調整可能であり、安定したレーザ光線の発振を可能としている。   Thus, the vertical cavity surface emitting semiconductor laser according to the present invention is tunable in wavelength and can adjust the inclination of the concave reflecting mirror 15 to enable stable oscillation of the laser beam.

尚、前記凹面反射鏡15の位置調整、傾き調整を必要としない場合、或は微小な調整のみでよい場合は、前記梁部13a,13bを形成する必要はなく、面状の前記反射層11の所要位置に前記凹面反射鏡15が形成され、該凹面反射鏡15に対応した部分に前記空間9が形成されればよい。   If the position adjustment and tilt adjustment of the concave reflecting mirror 15 are not required, or if only fine adjustment is required, the beam portions 13a and 13b do not need to be formed, and the planar reflection layer 11 is not required. The concave reflecting mirror 15 may be formed at the required position, and the space 9 may be formed at a portion corresponding to the concave reflecting mirror 15.

図3は反射ユニットの第2の実施の形態を示しており、凹面反射鏡15を4方から梁部13a,13b,13c,13dにより支持したものであり、又該梁部13a,13b,13c,13dの長さが等しくなる様に、空間9の形状を矩形形状としたものである。尚、該空間9は円状であってもよい。尚、図示していないが、下側電極6(図2参照)は前記梁部13にそれぞれ対応して設けられ、各梁部13にも上側電極16(図2参照)が設けられ、対峙した下側電極6と上側電極16毎に独立して電圧を印加可能となっており、各梁部13毎に変位の調整が可能となっている。   FIG. 3 shows a second embodiment of the reflecting unit, in which a concave reflecting mirror 15 is supported by beams 13a, 13b, 13c, 13d from four directions, and the beams 13a, 13b, 13c. , 13d are formed in a rectangular shape so that the lengths of 13d are equal. The space 9 may be circular. Although not shown, the lower electrode 6 (see FIG. 2) is provided corresponding to each of the beam portions 13, and the upper electrode 16 (see FIG. 2) is also provided on each beam portion 13 to face each other. A voltage can be applied independently for each of the lower electrode 6 and the upper electrode 16, and the displacement can be adjusted for each beam portion 13.

図4は反射ユニットの第3の実施の形態を示しており、前記凹面反射鏡15を3方から梁部13a,13b,13cにより支持したものであり、又該梁部13a,13b,13cの長さが等しくなる様に、空間9の形状を円形状としたものである。尚、該空間9は6角形状とし、前記梁部13a,13b,13cは6角形状の隔辺毎に接続されたものとしてもよい。尚、第3の実施の形態に於いても、第2の実施の形態と同様に下側電極6、梁部13が設けられ、前記梁部13a,13b,13cの変位は独立して調整可能となっている。   FIG. 4 shows a third embodiment of the reflecting unit, in which the concave reflecting mirror 15 is supported by beams 13a, 13b, 13c from three directions, and the beams 13a, 13b, 13c The space 9 has a circular shape so that the lengths are equal. The space 9 may be hexagonal, and the beam portions 13a, 13b, and 13c may be connected to each hexagonal side. In the third embodiment, as in the second embodiment, the lower electrode 6 and the beam portion 13 are provided, and the displacement of the beam portions 13a, 13b, and 13c can be adjusted independently. It has become.

次に、上記反射ユニットの製作方法について説明する。   Next, a manufacturing method of the reflection unit will be described.

図5により反射ユニットの製作方法に於ける第1の実施の形態について説明する。   With reference to FIG. 5, a description will be given of a first embodiment in a method of manufacturing a reflection unit.

基板7上に下側電極6a,6bを形成し、該下側電極6a,6bはパターン層2の電源ラインに接続される。前記下側電極6a,6bの材質は高導電材料である金が用いられる(図5(A))。尚、下側電極6a,6bを接地電極として使用する場合は、一体に連続していてもよい。   Lower electrodes 6 a and 6 b are formed on the substrate 7, and the lower electrodes 6 a and 6 b are connected to the power line of the pattern layer 2. The lower electrodes 6a and 6b are made of gold, which is a highly conductive material (FIG. 5A). When the lower electrodes 6a and 6b are used as ground electrodes, they may be continuously integrated.

前記基板7上にSi等の犠牲層8を、スパッタリング法、CVD(Chemical Vapor Deposition)法等所要の方法で成膜する(図5(B))。尚、材質はSiに限らず乾式エッチング、湿式エッチング等、エッチングにより除去可能な材質、例えばSiO2 であればよく、前記犠牲層8がSiの場合、湿式エッチングではフッ酸・硝酸混合液等が用いられ、乾式エッチングではXeF2 ガス等が用いられ、前記犠牲層8がSiO2 の場合、湿式エッチングではフッ酸等が用いられ、乾式エッチングではCF4 ガス等が用いられる。   A sacrificial layer 8 such as Si is formed on the substrate 7 by a required method such as a sputtering method or a CVD (Chemical Vapor Deposition) method (FIG. 5B). The material is not limited to Si, but may be any material that can be removed by etching, such as dry etching or wet etching, for example, SiO2, and when the sacrificial layer 8 is Si, a hydrofluoric acid / nitric acid mixed solution or the like is used in the wet etching. In dry etching, XeF2 gas or the like is used. When the sacrificial layer 8 is SiO2, hydrofluoric acid or the like is used in wet etching, and CF4 gas or the like is used in dry etching.

前記犠牲層8の上面に感光性樹脂であるレジスト21をフォトリソグラフィー法により円状にパターニングする(図5(C))。尚、前記レジスト21の量は、後述する凹面反射鏡15の大きさ、曲率に対応して決定される。   A resist 21 which is a photosensitive resin is patterned in a circular shape on the upper surface of the sacrificial layer 8 by photolithography (FIG. 5C). The amount of the resist 21 is determined in accordance with the size and curvature of a concave reflecting mirror 15 described later.

次に、加熱(リフロー)して、前記レジスト21を溶かす。該レジスト21が溶け、表面張力により半球体となることで凸球面が形成される。その後、前記レジスト21を冷却すると、前記レジスト21は凸球面を維持したまま固化する(図5(D))。   Next, the resist 21 is melted by heating (reflow). A convex spherical surface is formed by melting the resist 21 and forming a hemisphere by surface tension. Thereafter, when the resist 21 is cooled, the resist 21 is solidified while maintaining the convex spherical surface (FIG. 5D).

前記犠牲層8、前記レジスト21の上に、反射層11を真空蒸着、スパッタリング等所要の方法で、単層、又は複層に形成する(図5(E))。尚、前記反射層11としては、Al、Ag、Cr、Au等金属膜による単層膜があり、或はTiO2 、SiO2 とから成る多層膜がある。前記レジスト21は成形型として機能し、前記反射層11が前記レジスト21を覆うことで凸球面部が形成され、該凸球面部は後述する凹面反射鏡15となる。   On the sacrificial layer 8 and the resist 21, the reflective layer 11 is formed in a single layer or multiple layers by a required method such as vacuum deposition or sputtering (FIG. 5E). The reflective layer 11 may be a single layer film made of a metal film such as Al, Ag, Cr, Au, or a multilayer film made of TiO2 and SiO2. The resist 21 functions as a mold, and a convex spherical portion is formed by covering the resist 21 with the reflective layer 11, and the convex spherical portion becomes a concave reflecting mirror 15 described later.

前記反射層11の一部に上側電極16を成膜する(図5(F))。尚、前記反射層11を金属膜層とした場合は、該反射層11の上面に絶縁膜を形成し、前記上側電極16を形成する。或は、前記反射層11を金属膜層とした場合は、該反射層11自体を上側電極として使用することができ、この場合前記上側電極16の成膜を省略する。   An upper electrode 16 is formed on a part of the reflective layer 11 (FIG. 5F). When the reflective layer 11 is a metal film layer, an insulating film is formed on the upper surface of the reflective layer 11 and the upper electrode 16 is formed. Alternatively, when the reflective layer 11 is a metal film layer, the reflective layer 11 itself can be used as the upper electrode, and in this case, the film formation of the upper electrode 16 is omitted.

フォトリソグラフィー法により梁部13、凹面反射鏡15、フランジ部15a(図2参照)を残置させ、前記反射層11を除去する。又、前記上側電極16は前記凹面反射鏡15、フランジ部15a部分を除去する。即ち、前記上側電極16、前記反射層11の上面に前記レジスト21を塗布し、マスク処理をして前記梁部13、前記凹面反射鏡15、前記フランジ部15aの領域を露光させ、前記梁部13、前記凹面反射鏡15、前記フランジ部15aの領域を残してエッチングにより上側電極層、前記反射層11を除去する。又、上側電極層は更に、凹面反射鏡15、フランジ部15a部分を除去する。   The beam portion 13, the concave reflecting mirror 15, and the flange portion 15a (see FIG. 2) are left behind by photolithography, and the reflective layer 11 is removed. The upper electrode 16 removes the concave reflecting mirror 15 and the flange portion 15a. That is, the resist 21 is applied to the upper surfaces of the upper electrode 16 and the reflective layer 11, mask processing is performed to expose the regions of the beam portion 13, the concave reflecting mirror 15, and the flange portion 15a, and the beam portion. 13. The upper electrode layer and the reflective layer 11 are removed by etching while leaving the regions of the concave reflecting mirror 15 and the flange portion 15a. The upper electrode layer further removes the concave reflecting mirror 15 and the flange portion 15a.

同様に、フォトリソグラフィー法により、前記凹面反射鏡15を中心とする矩形形状を残してマスキングを行う。マスキングされない部分は、図2に示される様に、少なくとも前記フランジ部15aの周囲、及び前記下側電極6a,6bを含む範囲となっている。   Similarly, masking is performed by a photolithography method, leaving a rectangular shape centered on the concave reflecting mirror 15. As shown in FIG. 2, the portion not masked is a range including at least the periphery of the flange portion 15a and the lower electrodes 6a and 6b.

次に、ドライエッチング法等、所要のエッチング方法で前記犠牲層8、前記レジスト21をエッチングする。エッチングすることでマスキングされていない部分が除去され、前記空間9が形成され、該空間9に前記下側電極6a,6bが露出する状態となる(図5(G))。   Next, the sacrificial layer 8 and the resist 21 are etched by a required etching method such as a dry etching method. By etching, the unmasked portion is removed, the space 9 is formed, and the lower electrodes 6a and 6b are exposed in the space 9 (FIG. 5G).

前記空間9が形成されることで、残置された帯状の反射層11が前記空間9を跨ぐ橋状となり、前記凹面反射鏡15は前記梁部13a,13bによって片持状に支持された構造となる。又、前記凹面反射鏡15は前記基板7に向って凹面の反射面を有し、共振器の凹面反射鏡15として機能する(図1参照)。   By forming the space 9, the remaining band-like reflective layer 11 has a bridge shape straddling the space 9, and the concave reflecting mirror 15 is supported in a cantilevered manner by the beam portions 13 a and 13 b. Become. The concave reflecting mirror 15 has a concave reflecting surface facing the substrate 7, and functions as the concave reflecting mirror 15 of the resonator (see FIG. 1).

図6により、反射ユニットの製作方法の第2の実施の形態について説明する。   A second embodiment of the manufacturing method of the reflection unit will be described with reference to FIG.

基板7上に下側電極6a,6bを形成し、その後前記基板7上に犠牲層8を成膜し、該犠牲層8上にレジスト21をフォトリソグラフィー法により形成し、更に、リフローにより前記レジスト21を溶かして半球形状にする(図6(A)、図6(B))迄の工程は、第1の実施の形態と同様である。   Lower electrodes 6a and 6b are formed on the substrate 7, and then a sacrificial layer 8 is formed on the substrate 7, a resist 21 is formed on the sacrificial layer 8 by photolithography, and the resist is reflowed. The steps up to melting 21 to form a hemisphere (FIGS. 6A and 6B) are the same as those in the first embodiment.

前記犠牲層8上に前記レジスト21が半球状に固化した後、ドライエッチングを行う。ドライエッチングでは、表面から等速でエッチングが進行するので、前記レジスト21が除去された状態では、該レジスト21の形状が前記犠牲層8に転写される(図6(C)、図6(D))。   After the resist 21 is solidified into a hemispherical shape on the sacrificial layer 8, dry etching is performed. In dry etching, etching proceeds at a constant speed from the surface, so that the shape of the resist 21 is transferred to the sacrificial layer 8 when the resist 21 is removed (FIGS. 6C and 6D). )).

該犠牲層8を成形型として、該犠牲層8上に反射層11を形成する。該反射層11を形成した後は、第1の実施の形態と同様の工程で前記犠牲層8をエッチングで除去して凹面反射鏡15を形成する。   A reflective layer 11 is formed on the sacrificial layer 8 using the sacrificial layer 8 as a mold. After the reflective layer 11 is formed, the sacrificial layer 8 is removed by etching in the same process as in the first embodiment to form the concave reflecting mirror 15.

即ち、図5(E)〜図5(G)に示される様に、上側電極16a,16bを形成し、フォトリソグラフィー法により梁部13、凹面反射鏡15、フランジ部15aを形成し、更にエッチングにより犠牲層8を除去して空間9を形成し、前記梁部13で支持された凹面反射鏡15を形成する。   That is, as shown in FIGS. 5E to 5G, the upper electrodes 16a and 16b are formed, the beam portion 13, the concave reflecting mirror 15, and the flange portion 15a are formed by photolithography, and etching is further performed. Thus, the sacrificial layer 8 is removed to form the space 9, and the concave reflecting mirror 15 supported by the beam portion 13 is formed.

図7により、反射ユニットの製作方法の第3の実施の形態について説明する。   With reference to FIG. 7, a third embodiment of the manufacturing method of the reflecting unit will be described.

基板7に下側電極6a,6bを形成し(図7(A))、前記基板7の所要位置、例えば前記下側電極6a,6bの中間にフォトリソグラフィー法により円状のレジスト21をパターニングする(図7(B))。該レジスト21をリフロー等により加熱して半球体とする(図7(C))。   Lower electrodes 6a and 6b are formed on the substrate 7 (FIG. 7A), and a circular resist 21 is patterned by a photolithography method at a required position of the substrate 7, for example, between the lower electrodes 6a and 6b. (FIG. 7B). The resist 21 is heated by reflow or the like to form a hemisphere (FIG. 7C).

前記基板7上に犠牲層8を、スパッタリング法、CVD法等所要の方法で成膜する(図7(D))。   A sacrificial layer 8 is formed on the substrate 7 by a required method such as sputtering or CVD (FIG. 7D).

前記基板7上に前記犠牲層8を形成した場合、該犠牲層8の厚みは時間と対応して増加するので、該犠牲層8の厚みは均一となり、前記レジスト21の形状が前記犠牲層8の上面に転写され、該犠牲層8の前記レジスト21部分が凸曲面として突出する。   When the sacrificial layer 8 is formed on the substrate 7, the thickness of the sacrificial layer 8 increases with time, so that the thickness of the sacrificial layer 8 is uniform, and the shape of the resist 21 is the sacrificial layer 8. The resist 21 portion of the sacrificial layer 8 protrudes as a convex curved surface.

前記犠牲層8を成形型として、該犠牲層8上に反射層11を形成する(図7(E))。該反射層11を形成した後は、第1の実施の形態と同様の工程で前記犠牲層8をエッチングで除去して凹面反射鏡15を形成する。   A reflective layer 11 is formed on the sacrificial layer 8 using the sacrificial layer 8 as a mold (FIG. 7E). After the reflective layer 11 is formed, the sacrificial layer 8 is removed by etching in the same process as in the first embodiment to form the concave reflecting mirror 15.

図8により、反射ユニットの製作方法の第4の実施の形態について説明する。   A fourth embodiment of the manufacturing method of the reflection unit will be described with reference to FIG.

ガラス基板22上にフォトリソグラフィー法により下側電極6a,6b、及び該下側電極6a,6bに接続された電源ライン(図示せず)が形成される。   On the glass substrate 22, lower electrodes 6a and 6b and a power supply line (not shown) connected to the lower electrodes 6a and 6b are formed by photolithography.

前記ガラス基板22上に犠牲層8が成膜され、該犠牲層8上にレジスト層23が成膜される。該レジスト層23の所要位置にはピンホール24が形成される。該ピンホール24の位置は、好ましくは前記下側電極6a,6bの中間位置とする(図8(A))。   A sacrificial layer 8 is formed on the glass substrate 22, and a resist layer 23 is formed on the sacrificial layer 8. A pinhole 24 is formed at a required position of the resist layer 23. The position of the pinhole 24 is preferably an intermediate position between the lower electrodes 6a and 6b (FIG. 8A).

前記犠牲層8をエッチングすると、前記ピンホール24からエッチングが進行していき、該ピンホール24を中心とした半球状の凹部25が形成される(図8(B))。   When the sacrificial layer 8 is etched, the etching proceeds from the pinhole 24 to form a hemispherical recess 25 centered on the pinhole 24 (FIG. 8B).

前記レジスト層23をエッチングにより除去する(図8(C))。   The resist layer 23 is removed by etching (FIG. 8C).

前記犠牲層8を成形型として、該犠牲層8上に反射層11を成膜する(図8(D))。   Using the sacrificial layer 8 as a mold, a reflective layer 11 is formed on the sacrificial layer 8 (FIG. 8D).

第1の実施の形態の図5(F)で示される工程と同様にして、前記反射層11の前記下側電極6a,6bと対向する位置に上側電極16a,16bを形成する(図8(E))。   In the same manner as the process shown in FIG. 5F of the first embodiment, upper electrodes 16a and 16b are formed at positions facing the lower electrodes 6a and 6b of the reflective layer 11 (FIG. 8 ( E)).

又、第1の実施の形態の図5(G)で示される工程と同様に、エッチングにより前記犠牲層8を除去して空間9を形成する(図8(F))。前記反射層11は、前記空間9を跨ぐ橋状に残置し、更に中途部、好ましくは中央に形成された凹面反射鏡15、該凹面反射鏡15を支持する梁部13a,13bとなる。   Similarly to the step shown in FIG. 5G of the first embodiment, the sacrificial layer 8 is removed by etching to form a space 9 (FIG. 8F). The reflective layer 11 is left as a bridge straddling the space 9, and further becomes a concave reflecting mirror 15 formed in the middle portion, preferably in the center, and beam portions 13 a and 13 b that support the concave reflecting mirror 15.

前記ガラス基板22、前記犠牲層8、前記反射層11等一体にユニット化することで反射ユニット26が構成され、該反射ユニット26を前記基板7に製作された面発光半導体レーザ3に対峙させることで、垂直共振型面発光半導体レーザの共振器の一方の凹面反射鏡15として機能する(図8(F))。又、前記下側電極6a,6bと、前記上側電極16a,16b間に電圧を印加することで両電極間に吸引力が作用し、前記凹面反射鏡15と前記面発光半導体レーザ3間の距離が変位して射出するレーザ光線の波長を可変とすることができる。   The reflection unit 26 is formed by unitizing the glass substrate 22, the sacrificial layer 8, the reflection layer 11, and the like, and the reflection unit 26 faces the surface emitting semiconductor laser 3 manufactured on the substrate 7. Thus, it functions as one concave reflecting mirror 15 of the resonator of the vertical cavity surface emitting semiconductor laser (FIG. 8F). Further, by applying a voltage between the lower electrodes 6a and 6b and the upper electrodes 16a and 16b, an attractive force acts between both electrodes, and the distance between the concave reflecting mirror 15 and the surface emitting semiconductor laser 3 is increased. The wavelength of the laser beam emitted by displacement can be made variable.

又、前記下側電極6a,6bと、前記上側電極16a,16bをそれぞれに独立して電圧を印加可能とすることで、前記凹面反射鏡15の傾斜の調整が可能となる。   In addition, since the lower electrodes 6a and 6b and the upper electrodes 16a and 16b can be independently applied with voltages, the inclination of the concave reflecting mirror 15 can be adjusted.

尚、前記下側電極6a,6bは前記ガラス基板22に形成せず、前記基板7の上面に形成してもよい。   The lower electrodes 6a and 6b may be formed on the upper surface of the substrate 7 without being formed on the glass substrate 22.

又、上記実施の形態は、垂直共振型面発光半導体レーザの共振器について説明したが、ファブリーペローフィルタ等の共振器に実施可能であることは言う迄もない。   In the above embodiment, the resonator of the vertical cavity surface emitting semiconductor laser has been described. However, it goes without saying that the embodiment can be implemented in a resonator such as a Fabry-Perot filter.

本発明の実施の形態に係る反射ユニットの概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the reflection unit which concerns on embodiment of this invention. 該反射ユニットの概略平面図である。It is a schematic plan view of this reflection unit. 本発明の第2の実施の形態に係る反射ユニットの概略平面図である。It is a schematic plan view of the reflection unit which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施の形態に係る反射ユニットの概略平面図である。It is a schematic plan view of the reflection unit which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態に係る反射ユニットの製作方法の製作工程を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the manufacturing process of the manufacturing method of the reflection unit which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態に係る反射ユニットの製作方法の製作工程を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the manufacturing process of the manufacturing method of the reflection unit which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施の形態に係る反射ユニットの製作方法の製作工程を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the manufacturing process of the manufacturing method of the reflection unit which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施の形態に係る反射ユニットの製作方法の製作工程を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the manufacturing process of the manufacturing method of the reflection unit which concerns on the 4th Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 シリコン基板
2 パターン層
3 面発光半導体レーザ
5 絶縁膜
6 下側電極
7 基板
8 犠牲層
9 空間
11 反射層
12 凹面
13 梁部
15 凹面反射鏡
16 上側電極
21 レジスト
23 レジスト層
24 ピンホール
25 凹部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Silicon substrate 2 Pattern layer 3 Surface emitting semiconductor laser 5 Insulating film 6 Lower electrode 7 Substrate 8 Sacrificial layer 9 Space 11 Reflective layer 12 Concave surface 13 Beam part 15 Concave reflector 16 Upper electrode 21 Resist 23 Resist layer 24 Pinhole 25 Concave

Claims (14)

連続して形成された反射層が、中途部に形成された凹面反射鏡と、該凹面反射鏡より半径方向に延出する梁部とを有し、前記凹面反射鏡は前記梁部により変位可能に支持されたことを特徴とする反射ユニット。   The reflection layer formed continuously has a concave reflecting mirror formed in the middle part and a beam part extending in a radial direction from the concave reflecting mirror, and the concave reflecting mirror can be displaced by the beam part. Reflective unit characterized by being supported by. 前記梁部に電極が設けられ、該電極に対して静電位が印加され、該静電位により前記梁部が変位される請求項1の反射ユニット。   The reflection unit according to claim 1, wherein an electrode is provided on the beam portion, an electrostatic potential is applied to the electrode, and the beam portion is displaced by the electrostatic potential. 基板上に犠牲層が形成され、該犠牲層にエッチングにより空間が形成され、前記反射層は前記犠牲層上に前記空間を掛渡る橋状に形成された請求項1の反射ユニット。   The reflecting unit according to claim 1, wherein a sacrificial layer is formed on the substrate, a space is formed in the sacrificial layer by etching, and the reflecting layer is formed on the sacrificial layer in a bridge shape across the space. 前記基板に電極が設けられ、該電極と前記梁部に設けられた電極間に静電位が印加される様構成された請求項3の反射ユニット。   The reflection unit according to claim 3, wherein an electrode is provided on the substrate, and an electrostatic potential is applied between the electrode and an electrode provided on the beam portion. 前記基板はガラス基板であり、該ガラス基板、前記反射層、前記犠牲層が一体にユニット化された請求項3の反射ユニット。   The reflection unit according to claim 3, wherein the substrate is a glass substrate, and the glass substrate, the reflection layer, and the sacrificial layer are unitized. 球曲面を有する成形型に反射層を成膜し、成形型の少なくとも前記球曲面を含む部分をエッチングにより除去し、凹面反射鏡を形成することを特徴とする反射ユニットの製作方法。   A method of manufacturing a reflection unit, comprising: forming a reflective layer on a mold having a spherical curved surface, removing at least a portion of the mold including the spherical curved surface by etching, and forming a concave reflecting mirror. 前記球曲面は所要量のレジストが加熱溶融され、表面張力で形成される請求項6の反射ユニットの製作方法。   The method of manufacturing a reflection unit according to claim 6, wherein the spherical curved surface is formed with a surface tension by melting a predetermined amount of resist. 前記球曲面はピンホールを介してエッチングして形成される凹部である請求項6の反射ユニットの製作方法。   The method of manufacturing a reflection unit according to claim 6, wherein the spherical curved surface is a recess formed by etching through a pinhole. 基板上に犠牲層を成膜する第1ステップと、該犠牲層上に所要量のレジストがパターニングされる第2ステップと、該レジストを加熱溶融して球曲面を形成させる第3ステップと、前記レジスト、前記犠牲層上に反射層を成膜する第4ステップと、前記レジスト、前記犠牲層をエッチングにより除去して前記基板と前記反射層間に空間を形成し、前記基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第5ステップとを具備することを特徴とする反射ユニットの製作方法。   A first step of forming a sacrificial layer on the substrate; a second step of patterning a required amount of resist on the sacrificial layer; a third step of heating and melting the resist to form a spherical curved surface; A resist and a fourth step of forming a reflective layer on the sacrificial layer; and removing the resist and the sacrificial layer by etching to form a space between the substrate and the reflective layer; and a reflective concave surface on the substrate side. And a fifth step of forming a concave reflecting mirror. 基板上に犠牲層を成膜する第1ステップと、該犠牲層上に所要量のレジストがパターニングされる第2ステップと、該レジストを加熱溶融して球曲面を形成させる第3ステップと、該レジストと共に前記犠牲層をエッチングして前記レジストの球曲面を前記犠牲層に転写する第4ステップと、該犠牲層上に反射層を成膜する第5ステップと、前記犠牲層をエッチングにより除去して前記基板と前記反射層間に空間を形成し、前記基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第6ステップとを具備することを特徴とする反射ユニットの製作方法。   A first step of forming a sacrificial layer on the substrate; a second step of patterning a required amount of resist on the sacrificial layer; a third step of heating and melting the resist to form a spherical curved surface; A fourth step of etching the sacrificial layer together with the resist to transfer the spherical surface of the resist to the sacrificial layer; a fifth step of depositing a reflective layer on the sacrificial layer; and removing the sacrificial layer by etching. And a sixth step of forming a concave reflecting mirror having a reflective concave surface on the substrate side and forming a space between the substrate and the reflective layer. 基板上に所要量のレジストがパターニングされる第1ステップと、該レジストを加熱溶融して球曲面を形成させる第2ステップと、該レジスト、前記基板上に犠牲層を成膜し、前記レジストの球曲面を前記犠牲層上面に転写する第3ステップと、該犠牲層に反射層を成膜する第4ステップと、前記犠牲層、前記レジストをエッチングにより除去して前記基板と前記反射層間に空間を形成し、前記基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第5ステップとを具備することを特徴とする反射ユニットの製作方法。   A first step in which a required amount of resist is patterned on the substrate; a second step in which the resist is heated and melted to form a spherical curved surface; a sacrificial layer is formed on the resist and the substrate; A third step of transferring a spherical curved surface to the upper surface of the sacrificial layer; a fourth step of depositing a reflective layer on the sacrificial layer; and removing the sacrificial layer and the resist by etching to provide a space between the substrate and the reflective layer. And a fifth step of forming a concave reflecting mirror having a reflective concave surface on the substrate side. ガラス基板上に犠牲層を形成する第1ステップと、該犠牲層上にピンホールを有するレジスト層を成膜する第2ステップと、前記ピンホールを介して前記犠牲層をエッチングして球曲面を形成する第3ステップと、前記レジスト層を除去する第4ステップと、前記犠牲層上に反射層を成膜する第5ステップと、前記犠牲層をエッチングにより除去して前記ガラス基板と前記反射層間に空間を形成し、前記ガラス基板側に反射凹面を有する凹面反射鏡を形成する第6ステップとを具備することを特徴とする反射ユニットの製作方法。   A first step of forming a sacrificial layer on the glass substrate, a second step of forming a resist layer having a pinhole on the sacrificial layer, and etching the sacrificial layer through the pinhole to form a spherical curved surface A third step of forming, a fourth step of removing the resist layer, a fifth step of forming a reflective layer on the sacrificial layer, and removing the sacrificial layer by etching to form the glass substrate and the reflective layer And a sixth step of forming a concave reflecting mirror having a reflecting concave surface on the glass substrate side. 犠牲層が設けられる前に一方の電極を形成するステップと、反射層を形成した後に前記一方の電極に対向する他方の電極を形成するステップとを更に有する請求項9〜請求項12のいずれか1つの反射ユニットの製作方法。   The method according to any one of claims 9 to 12, further comprising: forming one electrode before providing the sacrificial layer; and forming the other electrode facing the one electrode after forming the reflective layer. How to make one reflection unit. 反射層を成膜した後、該反射層を球面部、該球面部より半径方向に延出する梁部を残してエッチングにより除去するステップを更に具備する請求項9〜請求項12のいずれか1つの反射ユニットの製作方法。   13. The method according to claim 9, further comprising a step of removing the reflective layer by etching after forming the reflective layer, leaving a spherical portion and a beam portion extending radially from the spherical portion. How to make two reflective units.
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