JP2007045704A - Method for producing quartz glass crucible - Google Patents
Method for producing quartz glass crucible Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007045704A JP2007045704A JP2006216101A JP2006216101A JP2007045704A JP 2007045704 A JP2007045704 A JP 2007045704A JP 2006216101 A JP2006216101 A JP 2006216101A JP 2006216101 A JP2006216101 A JP 2006216101A JP 2007045704 A JP2007045704 A JP 2007045704A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sio
- plasma
- quartz glass
- granulation
- inner layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B19/00—Other methods of shaping glass
- C03B19/09—Other methods of shaping glass by fusing powdered glass in a shaping mould
- C03B19/095—Other methods of shaping glass by fusing powdered glass in a shaping mould by centrifuging, e.g. arc discharge in rotating mould
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Glass Melting And Manufacturing (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Description
本発明は、単結晶の析出に至る石英ガラス坩堝の製造のための方法に関し、これにより、上へ開いた溶融型中で、SiO2外層が形成され、これが少なくとも一部、SiO2内層と共に設けられ、ここでは、該溶融型のプラズマ帯(プラズマ領域)中においてプラズマが点火され、該プラズマ帯は撒散管経由でSiO2造粒を供給され、これは、該プラズマの作用下に軟化され、該外層へと向かう弾道で吹き付けられ、該内層に融合される。 The present invention relates to a method for the production of a quartz glass crucible leading to the precipitation of a single crystal, whereby an outer SiO 2 layer is formed in a molten mold that opens upward, which is provided at least in part with the inner SiO 2 layer. Here, the plasma is ignited in the melting type plasma zone (plasma region), and the plasma zone is supplied with SiO 2 granulation via a diffusion tube, which is softened under the action of the plasma. , Sprayed with a trajectory toward the outer layer and fused to the inner layer.
石英ガラス坩堝は、受容器への金属溶融体の単結晶の析出により、所謂Czochralski法に従い、チャージされる。この析出プロセスにより、該石英ガラス坩堝は、より長時間に亘り、高度に機械的、化学的、および熱的負荷の下に置かれる。該金属溶融体の侵襲的な攻撃を軽減させ、これに伴う該坩堝壁からの汚染の遊離を最小化させるために、該金属溶融体と接触したままの該坩堝の内層は、均一で気泡の少ないことが最も好ましい。 The quartz glass crucible is charged according to the so-called Czochralski method by the precipitation of a single crystal of the metal melt on the receiver. This deposition process places the quartz glass crucible under higher mechanical, chemical, and thermal loads for a longer period of time. In order to reduce the invasive attack of the metal melt and to minimize the associated release of contamination from the crucible wall, the inner layer of the crucible that remains in contact with the metal melt is a uniform, bubble-free A small amount is most preferable.
内層は通常、アーク撒散法により生成され、これは例えば、特許文献1から分かるとおりである。これによれば、金属製溶融型中でまず、坩堝の石英ガラス外型が製造され、この内壁上に、該坩堝の内層が生成される。ここで、該溶融型中で、アーク(プラズマ)が点火され、該アークの上部により撒散管が接続し、造粒が合成石英ガラス粉末の形で、回転している該外型中に撒き散らされる。該造粒は、該プラズマ中で溶融され、該プラズマから発生される圧の作用下に、該外型の内壁上に吹き付けられ、そこに沈着される。
The inner layer is usually generated by an arc diffusion method, as can be seen from
該外壁上で撒き散らされる造粒の分配はここで、重力と該アークの圧の作用との協調により決まる。該アークの位置もしくは強さの変動により、該造粒沈着の場所が影響を受け得る。 The distribution of the granules scattered on the outer wall is now determined by the coordination of gravity and the action of the arc pressure. Variations in the position or strength of the arc can affect the location of the granulation deposition.
該造粒の分配は、このようにしても尚、精確には再現されず、このため、該内層の壁の少しばらついた強さ、および、充分に溶融し切らない範囲が結果的に、造粒の意図されない堆積のために得られ、このことは、該内層中での望まれない気泡形成に至る。 The distribution of the granulation is still not accurately reproduced in this way, and as a result, the slightly varying strength of the inner layer wall and the extent that it does not melt and run out completely will result. Obtained due to unintended deposition of the grains, which leads to unwanted bubble formation in the inner layer.
その上問題なのは、該アークの圧の作用による該造粒の大きな空間での分配に反作用させるために、該撒散管が、該アークに相対的に密接に接続しなくてはならないことである。これにより、該アークの熱が尚、該撒散管の損傷もしくは変形に至り得、このことは、生産コストを上昇させる。 What is more problematic is that the diffusion tube must be connected relatively closely to the arc in order to counteract the distribution of the granulation in a large space by the action of the arc pressure. . Thereby, the heat of the arc can still lead to damage or deformation of the diffusion tube, which increases production costs.
撒き散らされた造粒の一部が、該アークの範囲中の高温により蒸発し、溶融開始まで冷たいままの電極において濃縮してしまうことも、起こり得る。この濃縮したものは、該溶融過程の間に該電極から落下し得、蒸発もしくは気泡生成、およびこれゆえ坩堝の損傷に至り得る。 It is possible that some of the sprinkled granulation will evaporate due to the high temperatures in the arc and concentrate at the electrode that remains cold until the start of melting. This concentrate can fall from the electrode during the melting process, leading to evaporation or bubble formation and hence crucible damage.
本発明はこの課題に対処し、この欠点を避け、特に、撒き散らされる造粒の定まった再現性ある分配に関する既知の方法を改良し、こうして、一様で障害の少ない内層を有する石英ガラス坩堝が、コスト面で有利に保たれ、または、該内層の範囲が適切に強化されるかもしくは付与され得るようにする。 The present invention addresses this problem, avoids this drawback, and in particular improves the known method for the deterministic reproducible distribution of sprinkled granulations, and thus a quartz glass crucible with a uniform and less disturbing inner layer. However, it is advantageous in terms of cost or allows the range of the inner layer to be appropriately strengthened or imparted.
この課題は、最初に知られた方法に基づく本発明により解決され、SiO2造粒の弾道が、ガス流の影響下に調整される。 This problem is solved by the present invention based on the first known method, the SiO 2 granulation trajectory being adjusted under the influence of gas flow.
本発明による方法は、上へ開いた溶融型中で、SiO2外層を形成し、これが少なくとも一部、SiO2内層と共に設けられ、ここで、該溶融型のプラズマ帯中でプラズマが点火され、該プラズマ帯に撒散管経由で、SiO2造粒を供給し、これが該プラズマの作用の下に軟化し、該外層に向かう弾道で吹き付けられ、該内層に溶融される、単結晶の析出のための石英ガラス坩堝の製造のための方法であって、該SiO2造粒の弾道が、ガス流の作用の下に調整されることを特徴とする。 The method according to the invention forms a SiO 2 outer layer in a molten mold open upwards, which is at least partly provided with a SiO 2 inner layer, wherein the plasma is ignited in the molten plasma zone, The SiO 2 granulation is supplied to the plasma zone via a diffusion tube, which softens under the action of the plasma, is blown by a trajectory toward the outer layer, and melts into the inner layer. For producing a quartz glass crucible for the purpose, characterized in that the trajectory of the SiO 2 granulation is adjusted under the action of a gas flow.
前記ガス流は、前記撒散管を通して送られてもよい。
また、前記ガス流は、圧縮空気から生産されてもよい。
前記撒散管は、1つの陰極および少なくとも1つの陽極の電極としての鋭さにより張られるプラズマ平面より上5cm〜15cmの範囲中で終わっていてもよい。
前記ガス流の流速は、少なくとも2.0m/sとなってもよい。
前記ガス流の流速は、最大6.5m/sとなってもよい。
20〜24インチの大きさを有する石英ガラス坩堝の製造のためには、前記ガス流の流速が、3.0〜5.0m/sの範囲中の値とされるのが好ましい。
26〜32インチの大きさを有する石英ガラス坩堝の製造のためには、前記ガス流の流速が、2.0〜3m/sの範囲中の値とされるのが好ましい。
前記ガス流が、水蒸気を含有するのが好ましい。
The gas stream may be sent through the diffusion tube.
The gas stream may be produced from compressed air.
The diffusion tube may end in the range of 5 cm to 15 cm above the plasma plane stretched by the sharpness as one cathode and at least one anode electrode.
The flow rate of the gas flow may be at least 2.0 m / s.
The flow rate of the gas flow may be a maximum of 6.5 m / s.
In order to manufacture a quartz glass crucible having a size of 20 to 24 inches, it is preferable that the flow rate of the gas flow is set to a value in the range of 3.0 to 5.0 m / s.
In order to manufacture a quartz glass crucible having a size of 26 to 32 inches, the flow rate of the gas flow is preferably set to a value in the range of 2.0 to 3 m / s.
The gas stream preferably contains water vapor.
既知の方法によれば、SiO2造粒の弾道は、重力により、および、該プラズマの圧の作用により定まる。重力およびプラズマの、該造粒の弾道へのこの影響は、本発明による方法により低減され、ここでは、該造粒が更なる運動衝撃を被り、これは、ガス流の圧により発生される。該ガス流は、与えられる方向に運動衝撃を保つように、該SiO2造粒へ作用し、これは、該造粒の弾道に、顕著に作用する。既知の方法に比較すると、この運動衝撃の強さおよび方向はこうして、該弾道の影響に対する更なるパラメータとなり、このことは、該造粒の与えられる沈着場所のより精確な維持、およびこれにより、撒き散らされるSiO2造粒の再現性ある分配をも、可能にする。 According to known methods, the SiO 2 granulated trajectory is determined by gravity and by the action of the pressure of the plasma. This effect of gravity and plasma on the granulation trajectory is reduced by the method according to the invention, where the granulation is subjected to a further motion shock, which is generated by the pressure of the gas flow. The gas flow acts on the SiO 2 granulation so as to keep a motion shock in the direction given, which acts significantly on the granulation trajectory. Compared to known methods, the strength and direction of this motion impact is thus a further parameter for the impact of the ballistics, which means more precise maintenance of the deposition site where the granulation is given, and thereby A reproducible distribution of the scattered SiO 2 granulation is also possible.
該SiO2造粒上で作用するガス流、および、発生された運動衝撃の方向は通常、該プラズマの圧の作用とは反対の方向に向けられ、こうして、既知の方法に比較すると、該造粒の相対的な加速が結果的に、該プラズマ帯の方向となり、これは再び、該プラズマ帯から、該撒散管の開口部を、通常よりも遙か遠くに保つことを可能にする。これにより、該撒散管は、該プラズマの熱による損傷がより少なく、変形および損傷が避けられる。このことは、該撒散管の耐用時間およびこれゆえ生産コストに、有利に働く。 The gas flow acting on the SiO 2 granulation and the direction of the generated kinetic shock are usually directed in the direction opposite to the action of the plasma pressure, and thus compared to known methods The relative acceleration of the grains results in the direction of the plasma zone, which again makes it possible to keep the diffuser tube opening far away from the plasma zone farther than usual. Thereby, the diffusion tube is less damaged by the heat of the plasma, and deformation and damage are avoided. This has an advantageous effect on the service life of the diffusion tube and hence on the production costs.
更に、SiO2造粒は、重力単独の作用に比較すると、更なる運動衝撃により加速されて、該プラズマ帯を通過され、こうして、該造粒の蒸発および濃縮の危険性ならびにこれに伴う蒸発もしくは気泡の発生が、避けられる。 Furthermore, SiO 2 granulation is accelerated by further kinetic impacts and passed through the plasma zone as compared to the action of gravity alone, thus the risk of evaporation and concentration of the granulation and the accompanying evaporation or Generation of bubbles is avoided.
該ガス流がSiO2造粒の弾道への望ましい影響を持つには、大きなガス体積が必要であり、これは各々の場合、該造粒の体積を、遙かに凌駕する。2m/s程度の速いガス流流速も、適切である。 A large gas volume is required for the gas flow to have the desired effect on the ballistics of SiO 2 granulation, which in each case far exceeds the volume of the granulation. A gas flow velocity as fast as 2 m / s is also suitable.
他方、該ガス流は、撒き散らされた造粒上および該プラズマ上で、冷えていく。該ガス流の冷えていく作用は特に、その製造の際、より自由度が大きくこれゆえ急激に冷え切っていく表面を有する大きな体積の石英ガラス坩堝に注意し、ここで、更なるガス冷却なしに、充分高い溶融温度の準備が、既に問題となり得る。該ガス流のうちの最適なものはここで、多くのパラメータに依存し、特に製造されるべき石英ガラス坩堝の大きさにも依存するが、各々の具体的な状態に関して、簡単な一連の実験により確認され得、最後部分の本実施例により、尚より詳細に説明されるとおりである。 On the other hand, the gas stream cools on the sparged granulation and on the plasma. The cooling action of the gas stream is particularly noted in the production of large volume quartz glass crucibles with a more flexible and therefore rapidly cooling surface, where no further gas cooling takes place. In addition, the preparation of a sufficiently high melting temperature can already be a problem. The optimum of the gas flow now depends on many parameters, in particular on the size of the quartz glass crucible to be produced, but for each specific situation a simple series of experiments. And as explained in more detail by the last example.
該SiO2造粒はドープされないか、もしくは、ドープされる。ドープされる造粒のチャージにより、本発明による方法は、ドーパント物質の適切な分配もしくは堆積も可能にする。 The SiO 2 granulation is undoped or doped. Due to the charge of the granulation to be doped, the method according to the invention also allows an appropriate distribution or deposition of the dopant material.
方向付けられたガス流は、該撒散管からのSiO2造粒の排出の際、これらに直接効果を及ぼし得る。該ガス流はここで、別個の管理により、供給され得る。建設的でより簡単な、方法論的により有利な方法が尚ここにあり、該ガス流を、該撒散管を通して管理する。 The directed gas flow can have a direct effect on the discharge of SiO 2 granulation from the spreading tube. The gas stream can now be supplied by separate management. There is still a more constructive, simpler and more methodologically advantageous method in which the gas flow is managed through the diffusion tube.
該ガス流はここで、該撒散管内でその全長上もしくは少なくともその一部分上に供給され、こうしてこれは該SiO2造粒と共に、その開口部から出る。これにより、該SiO2造粒の凝集を避け、この上該撒散管の冷却を効果的にし、こうしてこれが該プラズマにより熱せられても、この加熱はより弱い。該撒散管の移動により起こり得るガス供給管の新たな調整は必要でない。 The gas stream is now fed over the entire length or at least part of it in the diffusion tube, so that it exits the opening together with the SiO 2 granulation. This avoids agglomeration of the SiO 2 granulation and, moreover, effectively cools the dispersion tube, so that even if it is heated by the plasma, this heating is weaker. No new adjustment of the gas supply pipe which may occur due to the movement of the diffusion pipe is necessary.
上で既に言及されたように、該造粒の量および該プラズマ帯までの距離に依存して、大きなガス量が必要であり、これにより、該ガス流はその望ましい影響を該造粒の弾道に持つ。該ガス消費コストを考慮すると、該ガス流は好ましくは圧縮空気から生産される。 As already mentioned above, depending on the amount of granulation and the distance to the plasma zone, a large amount of gas is required, so that the gas flow has its desired effect on the trajectory of the granulation. To have. In view of the gas consumption cost, the gas stream is preferably produced from compressed air.
好ましくは、該撒散管は、陰極および少なくとも1つの陽極の電極としての鋭さにより張られる(画定される)プラズマ平面より上5cm〜15cmの範囲中で終わっている。 Preferably, the diffuser tube ends in the range of 5 cm to 15 cm above the plasma plane stretched (defined) by the sharpness as the cathode and at least one anode electrode.
該陰極と少なくとも1つの該陽極との間において、該アークが点火される。これら電極の鋭さが上記プラズマ平面を張り、この下では該アークが通常どおりに広がり、こうして高温の範囲を画定する。この熱い範囲からの5cmより小さな該撒散管の距離は、該撒散管の変形および損傷に至り得る。15cmの上限の上の距離では、特に大きなガス量が、該プラズマの圧の作用に対して充分有効なガス流の発生にとって必要であり、このことは、その生産コストに不利な影響を及ぼす。 The arc is ignited between the cathode and at least one of the anodes. The sharpness of these electrodes stretches the plasma plane, below which the arc spreads normally, thus defining a high temperature range. The distance of the diffusion tube less than 5 cm from this hot range can lead to deformation and damage of the diffusion tube. At distances above the upper limit of 15 cm, a particularly large amount of gas is necessary for generating a gas flow that is sufficiently effective against the action of the plasma pressure, which adversely affects its production costs.
本発明による方法の特に有利な実施の形態により、該ガス流の流速は少なくとも2m/sとなる。 According to a particularly advantageous embodiment of the method according to the invention, the flow rate of the gas stream is at least 2 m / s.
2m/s以下の流速では、該撒散管内のSiO2造粒の凝集は尚有効に避けられ得るが、該ガス流は充分な衝撃なく、該SiO2造粒の弾道にも僅かな作用しか持たない。 At a flow rate of 2 m / s or less, agglomeration of SiO 2 granulation in the dispersion tube can still be avoided effectively, but the gas flow has no impact and has little effect on the trajectory of the SiO 2 granulation. do not have.
更に、該ガス流の流速が最大6.5m/sとなる場合がある。 Furthermore, the gas flow velocity may be up to 6.5 m / s.
より速い流速を有するガス流により、供給されるSiO2造粒が、該プラズマ帯を非常に速く通過し、充分な溶融がもう望めないという危険性が存在している。この上、特に該撒散管からの排出の際に渦になり得、これは、該造粒の与えられた弾道および定められた衝突点の調節および保持を難しくさせる。 Due to the gas flow having a faster flow rate, there is a risk that the supplied SiO 2 granulation passes very quickly through the plasma zone and sufficient melting can no longer be expected. In addition, it can be vortexed, especially during discharge from the diffuser, which makes it difficult to adjust and maintain the given trajectory and defined impact point of the granulation.
好ましくは、20〜24インチの大きさを有する石英ガラス坩堝の製造には、該ガス流の流速が、3.0〜5.0m/sの範囲中の値とされる。 Preferably, for the production of a quartz glass crucible having a size of 20 to 24 inches, the flow rate of the gas flow is set to a value in the range of 3.0 to 5.0 m / s.
このスピード範囲が石英ガラス坩堝の製造には中程度の大きさの際には、特に、一方での該造粒弾道への明らかな影響を有する充分速いガス流と、他方でのその冷却および乱れの発展へのより小さな傾向を有する充分遅いガス流との間で適した妥協であることが分かる。 When this speed range is moderate for the production of quartz glass crucibles, especially a sufficiently fast gas flow with an obvious influence on the granulation trajectory on the one hand and its cooling and turbulence on the other hand. It can be seen that this is a suitable compromise with a slow enough gas flow with a smaller tendency to develop.
これに対して、26〜32インチの大きさを有する石英ガラス坩堝の製造には、該ガス流のややより遅い流速が、2.0〜3.0m/sの範囲中の値を採るよう保つことが分かった。 In contrast, for the production of a quartz glass crucible having a size of 26 to 32 inches, a slightly slower flow rate of the gas flow is kept to take a value in the range of 2.0 to 3.0 m / s. I understood that.
このスピード範囲は、上に説明した理由から、特に大きな体積の石英ガラス坩堝の製造には、最適であることが分かる。これから、32インチ程度の大きさの開口部の幅を有する石英ガラス坩堝の製造には、該ガス流スピードの最適値がややより低いことが結論づけられる。 It can be seen that this speed range is optimal for the production of large volume quartz glass crucibles for the reasons explained above. From this it can be concluded that the optimum value of the gas flow speed is somewhat lower for the production of a quartz glass crucible having an opening width as large as 32 inches.
該ガス流が水蒸気を含有すれば、本方法の更なる改良が結果的に得られる。 If the gas stream contains water vapor, a further improvement of the process results.
水蒸気が、該坩堝壁の石英ガラスの溶融特性を向上させ得ることが、示された。 It has been shown that water vapor can improve the melting properties of the quartz glass on the crucible wall.
本発明は以降、実施例および図面により、より詳細に説明される。 The invention is explained in more detail below by means of examples and drawings.
図1による溶融設備は、金型1を含み、これは外縁で支持体3上に載っている。支持体3は、中央軸4の周りを回転するものである。金型1中、陰極5および陽極6が突出し、矢印7により指し示されるように、金型1内側の全空間方向へ、本方法では向かっている。
The melting facility according to FIG. 1 includes a
更に、全空間方向へ向かって等しく(矢印7)、本方法の撒散管8が金型1中で突出し、これはSiO2造粒2用リザーバー9と繋がれている。撒散管8の内径は15mmあり、これはプラズマ平面<<P>>より上約10cmで終わり、これは、電極5および6の鋭さにより画定される。
Furthermore, equally in the direction of the whole space (arrow 7), the diffusion tube 8 of the method protrudes in the
撒散管8は、圧縮空気の供給用のブランチ10−矢印11により表される−を備える。
The diffusion tube 8 comprises a
次いで、本発明による石英ガラス坩堝の製造が一般的な形で、次いで、本発明の具体的な実施例により、より詳細に記載される。 The production of the quartz glass crucible according to the invention is then described in general form and then in more detail by means of specific examples of the invention.
第1の方法において、90μm〜315μmの範囲中の好ましい粒の大きさ(粒径)を有する天然の、熱塩素化によりきれいにされた石英からの結晶性造粒が、その中央軸4の周りを回転している金型1中へと注がれる。遠心力の作用下に原型により、金型1の内壁で、回転対称な坩堝を形成する石英造粒層12が形成される。
In the first method, crystalline granulation from natural, thermally chlorinated quartz, having a preferred grain size (particle size) in the range of 90 μm to 315 μm, around its
第2の方法において、石英造粒層12の内壁上で、<<アーク撒散法>>により、透明で気泡の少ない内層14が調製される。ここで、撒散管8経由で、金型1の持続する回転下、天然原料からの高純度のSiO2造粒2が、金型1中上から、撒き散らされる。同時に、陰極5と陽極6との間においてアークが点火され、これは図1において、プラズマ帯13により、灰色を背景とした範囲として特徴付けられる。この撒き散らされたSiO2造粒2は、プラズマ帯13中に到達し、そこで軟化され、該アークから発生される圧により、石英造粒層12の内壁に対して吹き付けられ、この上で、内層14を形成しつつ、溶融し切る。これにより、該内壁の範囲中では、2100℃を超える最高温度が達成され、こうして、溶融前線が外へ向かって、金型1の方向へと前進し、その結果として、内層14が透明石英ガラスに融合し、その石英造粒層が不透明石英ガラスからできた外層に焼結される。該溶融現象は、該溶融前線が金型1に到達する前に、終了される。
In the second method, on the inner wall of the quartz granulated
こうして製造された石英ガラス坩堝の内側表面はこうして、SiO2からできた滑らかなガラス製の気泡の少ない内層から形成され、これは、不透明石英ガラスからできた外層と、硬く結合されている。 Thus produced inner surface of the quartz glass crucible to this, is formed from a small inner smooth, glass bubbles made from SiO 2, which has an outer layer made from an opaque quartz glass, which is hard bond.
この方法の本発明に従った修飾は本質的に、撒散管8経由の圧縮空気11の供給により、石英造粒層12の内壁上のSiO2造粒2の衝突範囲に影響を及ぼし、これにより、内層14の均一性および再現性を向上させることを狙いとする。これは次に、22インチ(22”)坩堝および28インチ(28”)坩堝の製造により、例示的に説明される。
The modification according to the invention of this method essentially affects the impact range of the SiO 2 granulation 2 on the inner wall of the
1.実施例/22”坩堝の製造
SiO2造粒2の撒き散らしの際の最適な圧縮空気量の確認のために、ブランチ10および撒散管8経由で供給された圧縮空気11の量が、1000L/時間〜4000L/時間の間において変動される。このガス量により、結果的に、15mmの撒散管8の内径の考慮下に、理論ガス流速2.4m/s〜6.5m/sが得られる(該撒散管中に供給された造粒は考慮せず)。
1. Example / 22 "Manufacture of crucible In order to confirm the optimum amount of compressed air when the SiO 2 granulation 2 is sprinkled, the amount of
このように保たれた石英ガラス坩堝で各々、内層14中の気泡体積が量られた(図2)。その測定は、2500L/時間の圧縮空気量が、標準的な方法に比較するとより少ない気泡体積を有する同様な厚さ(約2.5mm)の内層に関して、最適な結果に至ることを示した。この少ない気泡体積の原因は、該圧縮空気によるSiO2造粒2の噴射を通して、より大きな表面積が生成されることが考えられ、そのエネルギーはより少なくて済み、これにより、よりきれいにより速く溶融し切る。 Each of the quartz glass crucibles kept in this way measured the volume of bubbles in the inner layer 14 (FIG. 2). The measurements showed that 2500 L / hr of compressed air volume resulted in optimal results for a similar thickness (about 2.5 mm) inner layer with less bubble volume compared to the standard method. The reason for this small bubble volume may be that a larger surface area is generated through the injection of SiO 2 granulation 2 with the compressed air, which requires less energy, which results in a cleaner and faster melting. Cut it.
更なるプラスの効果として、撒散管8のより少ない摩耗が結果的に生じ、これは、プラズマ帯13までの、通常の5cmの代わりに10cmの、比較的より大きな間隔を隔て、更なる圧縮空気冷却により、達成された。
As a further positive effect, less wear of the diffuser tube 8 results, which is further compressed at a relatively larger distance of 10 cm instead of the usual 5 cm to the
その気泡体積測定の結果が、図2のダイヤグラムにより示される。そのx軸上に、内層14の深さが<<μm>>(単位)表記され、そのy軸上に、その相対気泡体積<<relVBl>>が%(単位)表記される。
The result of the bubble volume measurement is shown by the diagram in FIG. On the x axis, the depth of the
該ダイヤグラムは、全ての実験により、該気泡体積が、まず外側(0μm)から内側に向かってまずゆっくり増加することを示し、該実験各々に関するものから、内層の特定の厚さで飛躍的に増加することを示す。圧縮空気のチャージ下の全ての実験により、この増加は、参照用試作品(圧縮空気:=0L/時間)によるよりも深い深さの内層にある。最良の結果は、2500L/時間の圧縮空気量を用いて製造された坩堝を示す。これに対して、4000L/時間の圧縮空気量は更なる向上を全くもたらさず、むしろ軽度の悪化を再びもたらす。 The diagram shows that in all experiments, the bubble volume first increases slowly from the outside (0 μm) to the inside, and for each of the experiments, increases dramatically with a specific thickness of the inner layer. Indicates to do. According to all experiments under charge of compressed air, this increase is in a deeper inner layer than with the reference prototype (compressed air: = 0 L / hour). The best results show a crucible manufactured with a compressed air volume of 2500 L / hour. On the other hand, the amount of compressed air of 4000 L / hour does not bring any further improvement, but rather brings about a slight deterioration again.
2.実施例/28”坩堝の製造
当石英ガラス坩堝が、圧縮空気によるSiO2造粒2の単独気泡と、水蒸気の供給との組み合わせのチャージの下、製造された。該水蒸気は、圧縮空気11に加えて、約1.4kg/時間の量で供給され、沸点における水蒸気圧に対応している。該水蒸気はこれにより、それ自体の蒸気圧に基づいてのみ、内層14の範囲中に到達し、該造粒のジェットスピードの加速のための担体ガスとしては利用されない。
2. Example / 28 "Manufacture of crucible The quartz glass crucible was manufactured under a charge of a combination of a single bubble of SiO 2 granulation 2 with compressed air and a supply of water vapor. In addition, it is supplied in an amount of about 1.4 kg / hr, corresponding to the water vapor pressure at the boiling point, which reaches the range of the
SiO2造粒2の撒き散らしの際の最適圧縮空気量の確認のために、ブランチ10および撒散管8経由で、2000L/時間〜2500L/時間の圧縮空気11が供給され、このように保たれた石英ガラス坩堝で、内層14中の気泡体積が各々測定され、圧縮空気チャージのないある1つの参照試作品と比較され、これは、上の実施例1により記載されるとおりである。
In order to confirm the optimum amount of compressed air when the SiO 2 granulation 2 is dispersed, the
その結果が、図3のダイヤグラム中に示される。その測定結果は、ここで、2500L/時間の圧縮空気量が、2000L/時間の圧縮空気量よりも、明らかにより大きな気泡体積に至ったことを示す。このことは、SiO2造粒の不充分な溶融に引き戻され得、28”石英ガラス坩堝においては、そのより大きな表面が、より強烈な過冷却に至り、これは、そのより多い圧縮空気量により、尚更に強化される。この坩堝の大きさにより、こうして、2000L/時間の圧縮空気量を用いて製造された坩堝の気泡体積に関して、最良の結果を示した。 The result is shown in the diagram of FIG. The measurement results here show that the compressed air volume of 2500 L / hour has resulted in a clearly larger bubble volume than the compressed air volume of 2000 L / hour. This can be pulled back to inadequate melting of the SiO 2 granulation, and in a 28 "quartz glass crucible, its larger surface leads to more intense supercooling, which is due to its higher amount of compressed air. The size of this crucible thus showed the best results with respect to the cell volume of the crucible produced with a volume of compressed air of 2000 L / hour.
更なるプラスの効果としてここに、撒散管8のより少ない摩耗も結果的に得られ、これは、プラズマ帯13まで、通常の5cmの代わりに10cmの、比較的より大きな間隔を隔て、更なる圧縮空気冷却により、達成された。
As a further positive effect, here also less wear of the diffuser tube 8 results, which is further increased to the
このようにして調製された内層の気泡成長は、所謂<<真空ベークテスト>>(VBTテスト)により、確認評価された。この際、結晶析出プロセスにおける圧および温度条件が、類似される。該試作品がここで、4時間の長さ、1600℃の温度に、10mbarの圧の下に保たれた。その結果が、その内層が圧縮空気のチャージなく溶融された参照用試作品と比較された。 The bubble growth of the inner layer thus prepared was confirmed and evaluated by a so-called << vacuum bake test >> (VBT test). At this time, the pressure and temperature conditions in the crystal precipitation process are similar. The prototype was now kept for 4 hours at a temperature of 1600 ° C. under a pressure of 10 mbar. The results were compared with a reference prototype whose inner layer was melted without charge of compressed air.
これにより、水蒸気の添加なく製造された坩堝における気泡成長が、ややより強いことが分かった。同様に、圧縮空気も水蒸気もなく製造された参照用坩堝も、ややより強い気泡成長を示した。 Thereby, it turned out that the bubble growth in the crucible manufactured without the addition of water vapor is somewhat stronger. Similarly, a reference crucible produced without compressed air or water vapor showed somewhat stronger bubble growth.
1つずつ示す。
1 金型
3 支持体
4 中央軸
5 陰極
6 陽極
7 矢印
8 撒散管
9 リザーバー
10 ブランチ
11 圧縮空気
12 石英粒層
13 プラズマ帯(プラズマ領域)
14 内層
P プラズマ平面
DESCRIPTION OF
14 Inner layer P Plasma plane
Claims (9)
9. A method according to any one of the preceding claims, characterized in that the gas stream contains water vapor.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005037833 | 2005-08-08 | ||
DE102005037833.1 | 2005-08-08 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007045704A true JP2007045704A (en) | 2007-02-22 |
JP5080764B2 JP5080764B2 (en) | 2012-11-21 |
Family
ID=37848848
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006216101A Active JP5080764B2 (en) | 2005-08-08 | 2006-08-08 | Manufacturing method of quartz glass crucible |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5080764B2 (en) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009161362A (en) * | 2007-12-28 | 2009-07-23 | Japan Siper Quarts Corp | Electrode structure for quartz glass crucible production apparatus |
WO2009146992A1 (en) * | 2008-06-05 | 2009-12-10 | Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg | Method and apparatus for producing a crucible of quartz glass |
JP2010013339A (en) * | 2008-06-30 | 2010-01-21 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | Manufacturing process of quartz glass crucible |
JP2012218980A (en) * | 2011-04-11 | 2012-11-12 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Quartz glass crucible and method for manufacturing the same, and method for producing silicon single crystal |
JP2013519624A (en) * | 2010-02-16 | 2013-05-30 | ヘレーウス クヴァルツグラース ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディートゲゼルシャフト | Manufacturing method of quartz glass crucible |
CN103154330A (en) * | 2011-05-25 | 2013-06-12 | 圣戈班研发(上海)有限公司 | Silica crucible and method for fabricating the same |
US10364176B1 (en) | 2016-10-03 | 2019-07-30 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Glass precursor gel and methods to treat with microwave energy |
US10427970B1 (en) | 2016-10-03 | 2019-10-01 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Glass coatings and methods to deposit same |
US10479717B1 (en) | 2016-10-03 | 2019-11-19 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Glass foam |
WO2020145378A1 (en) * | 2019-01-11 | 2020-07-16 | 株式会社Sumco | Device and method for producing silica glass crucible |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001233629A (en) * | 1999-04-06 | 2001-08-28 | Nanwa Kuorutsu:Kk | Method of producing quartz glass crucible |
-
2006
- 2006-08-08 JP JP2006216101A patent/JP5080764B2/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001233629A (en) * | 1999-04-06 | 2001-08-28 | Nanwa Kuorutsu:Kk | Method of producing quartz glass crucible |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009161362A (en) * | 2007-12-28 | 2009-07-23 | Japan Siper Quarts Corp | Electrode structure for quartz glass crucible production apparatus |
WO2009146992A1 (en) * | 2008-06-05 | 2009-12-10 | Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg | Method and apparatus for producing a crucible of quartz glass |
KR20110031909A (en) * | 2008-06-05 | 2011-03-29 | 헤래우스 크바르츠글라스 게엠베하 & 컴파니 케이지 | Method and apparatus for producing a crucible of quartz glass |
JP2011521882A (en) * | 2008-06-05 | 2011-07-28 | ヘレウス・クアルツグラース・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング・ウント・コンパニー・コマンディット・ゲゼルシャフト | Method and apparatus for producing quartz glass crucible |
KR101595403B1 (en) | 2008-06-05 | 2016-02-18 | 헤래우스 크바르츠글라스 게엠베하 & 컴파니 케이지 | Method and apparatus for producing a crucible of quartz glass |
KR101485144B1 (en) | 2008-06-30 | 2015-01-27 | 신에쯔 세끼에이 가부시키가이샤 | Method of Producing a quartz glass crucible |
JP2010013339A (en) * | 2008-06-30 | 2010-01-21 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | Manufacturing process of quartz glass crucible |
JP2013519624A (en) * | 2010-02-16 | 2013-05-30 | ヘレーウス クヴァルツグラース ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディートゲゼルシャフト | Manufacturing method of quartz glass crucible |
JP2012218980A (en) * | 2011-04-11 | 2012-11-12 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Quartz glass crucible and method for manufacturing the same, and method for producing silicon single crystal |
JP2013544745A (en) * | 2011-05-25 | 2013-12-19 | サンゴバン・リサーチ・(シャンハイ)・カンパニー・リミテッド | Silica crucible and method for producing the same |
KR101539385B1 (en) | 2011-05-25 | 2015-07-24 | 세인트-고바인 리서치 (상하이) 코포레이션 리미티드 | Silica crucible and method for fabricating the same |
CN103154330A (en) * | 2011-05-25 | 2013-06-12 | 圣戈班研发(上海)有限公司 | Silica crucible and method for fabricating the same |
US10364176B1 (en) | 2016-10-03 | 2019-07-30 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Glass precursor gel and methods to treat with microwave energy |
US10427970B1 (en) | 2016-10-03 | 2019-10-01 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Glass coatings and methods to deposit same |
US10479717B1 (en) | 2016-10-03 | 2019-11-19 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Glass foam |
WO2020145378A1 (en) * | 2019-01-11 | 2020-07-16 | 株式会社Sumco | Device and method for producing silica glass crucible |
JP2020111483A (en) * | 2019-01-11 | 2020-07-27 | 株式会社Sumco | Manufacturing apparatus and manufacturing method of silica glass crucible |
JP7157932B2 (en) | 2019-01-11 | 2022-10-21 | 株式会社Sumco | Silica glass crucible manufacturing apparatus and manufacturing method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5080764B2 (en) | 2012-11-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5080764B2 (en) | Manufacturing method of quartz glass crucible | |
US6886364B2 (en) | Method for producing quartz glass crucible | |
JP5245129B2 (en) | Method for producing quartz glass crucible | |
JP2009102206A (en) | Quartz glass crucible, method for producing the same, and its application | |
JP4530483B2 (en) | CZ method single crystal pulling equipment | |
JP4416952B2 (en) | Method and apparatus for minimizing white spot defects in quartz glass crucibles | |
US20190203377A1 (en) | Synthetic lined crucible assembly for czochralski crystal growth | |
JP4454059B2 (en) | Large diameter quartz glass crucible for pulling silicon single crystal | |
JP3496388B2 (en) | Supply method and supply pipe for granular silicon raw material | |
JP4651119B2 (en) | Large diameter quartz glass crucible for pulling silicon single crystal | |
US8172942B2 (en) | Arc discharge apparatus, apparatus and method for manufacturing vitreous silica glass crucible, and method for pulling up silicon single crystal | |
US9856576B2 (en) | Pulling a semiconductor single crystal according to the Czochralski method | |
JPH06100394A (en) | Method for feeding raw material for producing single crystal and apparatus therefor | |
JP4966151B2 (en) | Method and apparatus for manufacturing silicon monoxide vapor deposition material | |
JP4138959B2 (en) | Large diameter quartz glass crucible for pulling silicon single crystal and method for producing the same | |
JP3154916B2 (en) | Quartz glass crucible | |
US9328009B2 (en) | Vitreous silica crucible for pulling silicon single crystal, and method for manufacturing the same | |
JP4820799B2 (en) | Container rotating granulator and granulation system | |
JP2005060152A (en) | Manufacturing method for quartz crucible, quartz crucible, and manufacturing method for silicon single crystal using the same | |
JP5226754B2 (en) | Manufacturing method of large diameter quartz glass crucible for pulling silicon single crystal | |
JPWO2020137647A1 (en) | Quartz glass crucible | |
JPS63210206A (en) | Apparatus for producing metal powder | |
US20100095880A1 (en) | Arc melting high-purity carbon electrode and application thereof | |
JP2789804B2 (en) | Quartz crucible for pulling silicon single crystal and its manufacturing method | |
JP2009033013A (en) | Method of producing crystalline silicon particles |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081201 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100225 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120327 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120626 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120629 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120723 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120828 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120831 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150907 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5080764 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |