JP2007021447A - Gas using equipment and exhaust gas classifying method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、ガス反応装置から排出される排ガスを精度よく切り分けて処理する技術に関し、特に希少なガスの回収や有害なガスの除害等の処理を少ない台数の機器によって効率的に行うことのできるガス使用設備および排ガスの切り分け方法に関する。 The present invention relates to a technology for accurately separating and processing exhaust gas discharged from a gas reactor, and in particular, it is possible to efficiently perform processing such as recovery of rare gas and removal of harmful gas with a small number of devices. The present invention relates to a gas use facility and a method for separating exhaust gas.
様々なガスが供給され、内部で使用される装置(以下、「ガス反応装置」という。)では、排出されるガスに対し、その性状に応じ、適宜、回収循環、除害排出、または希釈排出等を選択して処理することが好ましい。特に昨今は、地球環境や生活環境の維持や改善の観点から様々な分野において排ガスの多様かつ効率的な処理が求められている。 In devices that are supplied with various gases and are used internally (hereinafter referred to as “gas reactors”), depending on the nature of the exhausted gas, appropriate recovery circulation, detoxification discharge, or dilution discharge It is preferable to select and process these. In particular, in recent years, various and efficient treatment of exhaust gas has been demanded in various fields from the viewpoint of maintaining and improving the global environment and living environment.
例えば半導体製造工程においては、様々なプロセス用材料ガスとして可燃性ガス、有毒性ガス、希ガスなど複数のガスが用いられるところ、可燃性ガスや有毒性ガスは排出安全基準に従って除害や希釈を行う必要があり、また希ガスもその希少性ゆえ効果的に回収して再利用することが求められている。 For example, in semiconductor manufacturing processes, multiple gases such as combustible gases, toxic gases, and rare gases are used as various process material gases. Combustible gases and toxic gases are detoxified and diluted according to emission safety standards. It is necessary to carry out, and since rare gas is scarce, it is required to be effectively recovered and reused.
排ガスの処理において最も一般的なものは、排出されるガスの全量をその処理装置に送り、処理すべき成分を分離除去するか、または除害や希釈を行ったうえで排気するものである。不純物の分離により純度を高められた排ガスは、回収してガス反応装置において再利用をすることができる。 In the treatment of exhaust gas, the most common is to send the entire amount of exhausted gas to the treatment apparatus and separate and remove the components to be treated, or to exhaust after detoxification and dilution. The exhaust gas whose purity has been increased by the separation of impurities can be recovered and reused in the gas reactor.
しかし排ガスを、その成分や濃度によらずに全量を混合し、一括して処理するこの方法では処理装置に過大な負担を招き、多くの処理時間や処理コストを要する原因となりうる。かかる負担は、ガスの分離や除害などを行う各処理装置の設計条件を困難にし、処理装置の大型化を招くとともに、予期せぬガス同士の反応による生成物が新たな汚染や腐食をもたらす虞をも生じる。またガス成分の分離または除害処理を行うに際しては、対象とするガスの種類ごとにその方法や処理環境は異なることが一般的であるため、排ガスは極力混合せずに、各成分の純度が高い状態を保ったまま個別にかつ速やかにガス処理系統に送ることが好ましいといえる。 However, this method of mixing exhaust gas all together regardless of its components and concentration and processing it in a batch can cause an excessive burden on the processing apparatus, and can cause a lot of processing time and processing costs. Such a burden makes the design conditions of each processing apparatus that performs gas separation and detoxification difficult, leading to an increase in the size of the processing apparatus, and products caused by unexpected reaction between gases cause new contamination and corrosion. There is also a fear. In addition, when performing separation or detoxification of gas components, the method and processing environment are generally different for each type of target gas, so the exhaust gas is not mixed as much as possible, and the purity of each component is reduced. It can be said that it is preferable to send the gas processing system individually and promptly while maintaining a high state.
特にガス反応装置が枚葉式処理を行う半導体製造装置の場合、一般に使用するガスが少なくとも4種類以上であり、また、ガスを連続して秒単位で切り換え、さらに各ガスは単独で使用される場合も多いため、前記ガス反応装置から排出されるガスを、そのガス成分、濃度、圧力または流量等のパラメータの高低に応じて的確に切り分けることで、回収循環、除害排出、希釈排出等のための各処理装置の最適設計を提案することも可能になる。 In particular, in the case of a semiconductor manufacturing apparatus in which the gas reaction apparatus performs single wafer processing, generally at least four kinds of gases are used, and the gases are continuously switched in seconds, and each gas is used alone. Since there are many cases, the gas discharged from the gas reactor is accurately separated according to the level of parameters such as gas component, concentration, pressure, flow rate, etc., so that recovery circulation, detoxification discharge, dilution discharge, etc. It is also possible to propose an optimum design for each processing device.
排ガスをそのガス成分や濃度等に応じて処理系と排気系とに切り分ける方法は公知である。例えば減圧下で運転するガス反応装置と、その排出ガスである希ガスを吸引して下流側に排出する真空ポンプとの間、すなわち該真空ポンプ上流の減圧下において、排ガスを切り分けてそれぞれ所定の経路に送る方法および装置が下記特許文献1に記載されている。 A method of separating exhaust gas into a processing system and an exhaust system according to the gas component, concentration, and the like is known. For example, between a gas reaction device operated under reduced pressure and a vacuum pump that sucks a rare gas that is an exhaust gas and discharges it to the downstream side, that is, under a reduced pressure upstream of the vacuum pump, the exhaust gas is divided into predetermined predetermined amounts. A method and apparatus for sending a route is described in Patent Document 1 below.
特許文献1記載の希ガス回収装置におけるガスの切り分け方法について、図12に示す系統図を用いて以下に説明する。同図で110はチャンバー、111は回収されたガスをガス反応装置に取り入れるためのガス供給部、120は第一真空ポンプであり、これらをあわせてガス反応装置180とする。また、131は処理用真空ポンプ、132は第二真空ポンプ、140は処理用バルブ、142は排気用バルブ、150は精製器などから構成されるガス処理部、160は制御装置であり、これらをあわせて排ガス処理装置190とする。151は排ガスを大気等へ排気する排気装置である。また、配管およびこれにより互いに連通される上記機器類からなる排ガスの流路は、分岐する複数のガスラインである処理ライン170、排気ライン171、循環供給ライン172から構成されている。
A gas separation method in the rare gas recovery apparatus described in Patent Document 1 will be described below with reference to a system diagram shown in FIG. In the figure, 110 is a chamber, 111 is a gas supply unit for taking collected gas into the gas reactor, and 120 is a first vacuum pump, which are collectively referred to as a gas reactor 180. In addition, 131 is a processing vacuum pump, 132 is a second vacuum pump, 140 is a processing valve, 142 is an exhaust valve, 150 is a gas processing unit including a purifier, and 160 is a control device. In addition, an exhaust gas treatment device 190 is provided.
図12のチャンバー110、ガス反応装置180、第一真空ポンプ120、第二真空ポンプ132、処理用真空ポンプ131、処理用バルブ140、排気用バルブ142は、それぞれ特許文献1におけるプロセスチャンバ1、スパッタリング装置21、第1真空排気ポンプ11a、第2真空排気ポンプ11b、回収用真空ポンプ36、切換弁34a、切換弁34bに対応する。
The
図12で、ガス反応装置180が大気圧下の減圧下で運転されると、低圧の排ガスの気体分子は平均自由工程が長くなるため配管等への流動性が向上する。このため、ガス反応装置180から排出される排ガスの成分や濃度が経時的に順次切り換わったとしても、これに追随して処理用バルブ140および排気用バルブ142を切り換えていくことで目的のガスを処理系または排気系に切り分けて送ることが可能である。
ところが、かかる減圧下におかれたバルブにて排ガスの切り換えを行う従来方式においては、処理ライン170と排気ライン171のそれぞれに真空ポンプを設けて排ガスを吸引していることから、第一真空ポンプ120を除いても少なくとも2台の真空ポンプを設ける必要がある。一方、クリーンルーム等にてガスの回収を行うに際しては、真空ポンプなどの設備を何台も設置するスペース上の余裕がなく、また真空ポンプに必要な電力などのユーティリティーも限られていることから、従来の回収装置を設置することが困難な場合が多いという問題点があった。 However, in the conventional system in which the exhaust gas is switched by such a valve under reduced pressure, the first vacuum pump is provided with a vacuum pump in each of the processing line 170 and the exhaust line 171 to suck the exhaust gas. Even if 120 is excluded, it is necessary to provide at least two vacuum pumps. On the other hand, when recovering gas in a clean room, etc., there is no room in the space to install a number of equipment such as vacuum pumps, and utilities such as power required for vacuum pumps are limited. There is a problem that it is often difficult to install a conventional recovery device.
本発明は、真空ポンプの設置台数を削減しながらも排ガスを的確に切り分け、排ガス処理装置の負担を減らすとともに、目的の排ガスを効率よく回収することを可能とするガス使用設備および排ガスの切り分け方法を提供することを目的とする。 The present invention relates to a gas use facility and an exhaust gas separation method capable of accurately separating exhaust gas while reducing the number of installed vacuum pumps, reducing the burden on the exhaust gas treatment device, and efficiently recovering the target exhaust gas. The purpose is to provide.
本発明にかかるガス使用設備は、
大気圧以下の減圧下で運転されるガス反応装置と、前記ガス反応装置から排出される排ガスを処理する排ガス処理装置と、前記ガス反応装置と前記排ガス処理装置とを連通する配管とからなるガス使用設備において、
前記排ガス処理装置が、
前記ガス反応装置から排出される排ガスを吸引して、これを下流側に排出する真空ポンプと、
排ガスに所定の処理を行うガス処理部と、
真空ポンプから排出される排ガスをガス処理部に導出する処理ラインと、
真空ポンプから排出される排ガスを排気する排気ラインと、
真空ポンプの下流側に設けられ、排ガスの流路を前記処理ラインと排気ラインとに切り換える切換弁と
を有することを特徴とする。
The gas use facility according to the present invention is:
A gas comprising a gas reaction device operated under a reduced pressure below atmospheric pressure, an exhaust gas treatment device for treating exhaust gas discharged from the gas reaction device, and a pipe communicating the gas reaction device and the exhaust gas treatment device In the equipment used,
The exhaust gas treatment device is
A vacuum pump for sucking the exhaust gas discharged from the gas reactor and discharging it to the downstream side;
A gas processing unit for performing predetermined processing on the exhaust gas;
A treatment line for leading exhaust gas discharged from the vacuum pump to the gas treatment unit;
An exhaust line for exhausting exhaust gas discharged from the vacuum pump;
A switching valve is provided on the downstream side of the vacuum pump and switches the exhaust gas flow path between the processing line and the exhaust line.
また本発明にかかるガス使用設備は、
前記真空ポンプと前記切換弁との間の空洞部における排ガスの流通が、後述する空間速度が3[min-1]以上となる配管構造を備えることを特徴とする。
In addition, the gas use facility according to the present invention includes:
The circulation of the exhaust gas in the hollow portion between the vacuum pump and the switching valve has a piping structure in which a space velocity described later is 3 [min −1 ] or more.
また、該配管構造が、前記空洞部における排ガスの流通を、後述する線速度1000[cm/min]以上とするものであることが好ましく、さらに、前記空洞部における排ガスの流通を、後述する平均通過空洞数6以上とするものであることがさらに好ましい。 Moreover, it is preferable that the piping structure has a flow rate of exhaust gas in the hollow portion set to a linear velocity of 1000 [cm / min] or higher, which will be described later. More preferably, the number of passing cavities is 6 or more.
また本発明にかかるガス使用設備は、
排ガスのガス成分、濃度、圧力または流量のいずれかに基づく入力信号を取得する信号取得手段と、前記入力信号と予め設定された目標値とを比較演算する演算手段と、前記比較演算の結果に基づく出力信号を発信する発信手段とを備える制御装置と、前記出力信号に応じて排ガスの流路を処理ラインと排気ラインとに切り換える前記切換弁の開閉装置とを備えるとよい。
In addition, the gas use facility according to the present invention includes:
A signal acquisition means for acquiring an input signal based on any one of the gas component, concentration, pressure or flow rate of exhaust gas, an arithmetic means for comparing and calculating the input signal and a preset target value, and a result of the comparison calculation It is preferable to include a control device including a transmission unit that transmits an output signal based on the switching valve and a switching valve opening and closing device that switches a flow path of the exhaust gas between a processing line and an exhaust line in accordance with the output signal.
このとき、入力信号の取得を、ガス反応装置の内部、または排ガスの流路の内部で行ってもよい。また、制御装置においては、出力信号に対し、空間速度に応じた切換補正時間を設けることができる。 At this time, the input signal may be acquired inside the gas reaction apparatus or inside the exhaust gas flow path. In the control device, a switching correction time corresponding to the space velocity can be provided for the output signal.
また本発明にかかる排ガスの切り分け方法は、
大気圧以下の減圧下で運転されるガス反応装置から排出される排ガスを切り分けるものであって、
前記排ガスを真空ポンプで吸引して、これを下流側に排出し、該真空ポンプの下流側に設けた切換弁によって、所定の処理をされる処理ガスと、排気される排気ガスとに切り分けることを特徴とするものである。
Further, the method for separating exhaust gas according to the present invention is as follows.
Separating exhaust gas discharged from a gas reactor operated under reduced pressure below atmospheric pressure,
The exhaust gas is sucked by a vacuum pump, discharged to the downstream side, and separated into a processing gas to be processed and an exhaust gas to be exhausted by a switching valve provided on the downstream side of the vacuum pump. It is characterized by.
このとき、前記真空ポンプと前記切換弁との間の空洞部における排ガスの空間速度が3[min-1]以上であるとよい。また、本発明にかかる排ガスの切り分け方法を実施するにあたっては、前記切換弁によって前記排ガスを処理ガスと排気ガスとに切り分けるタイミングが、前記空間速度に応じた切換補正時間を考慮して決定されることが好ましい。 At this time, the space velocity of the exhaust gas in the cavity between the vacuum pump and the switching valve is preferably 3 [min −1 ] or more. In carrying out the exhaust gas separation method according to the present invention, the timing for separating the exhaust gas into the processing gas and the exhaust gas by the switching valve is determined in consideration of the switching correction time according to the space velocity. It is preferable.
本発明のガス使用設備および排ガスの切り分け方法によれば、ガス反応装置から排出されるガスが経時的にそのガス成分や濃度等の条件を変化させる場合であっても、目的の排ガスを高い純度で切り分けて所定の流路(ガスライン)に送ることができる。したがって希少なガスの回収および再利用によるコストダウンや、可燃性ガスや有毒性ガスの分離または除害などの処理の効率化が図られ、地球環境や生活環境の維持改善に資することとなる。また予期せぬガス同士の反応生成物により、ガス処理部の精製器等の装置を汚染や腐食から未然に防ぐとともに、かかる装置の負担を軽減し、その安定かつ安全な運転も可能にする。 According to the gas use facility and the exhaust gas separation method of the present invention, even if the gas discharged from the gas reactor changes its conditions such as its gas composition and concentration over time, the target exhaust gas has high purity. And can be sent to a predetermined flow path (gas line). Therefore, costs can be reduced by collecting and reusing rare gas, and the efficiency of processing such as separation or detoxification of combustible gas and toxic gas can be achieved, which contributes to the maintenance and improvement of the global environment and living environment. In addition, unexpected reaction products between gases prevent devices such as purifiers in the gas processing section from being contaminated and corroded, reduce the burden on the devices, and enable stable and safe operation.
また本発明では、ガス反応装置から排出される排ガスを吸引して下流側に排出する真空ポンプの、該下流側に設けた切換弁によって排ガスを切り分ける方式を採ることにより、従来は分岐したガスラインごとに設ける必要のあった真空ポンプの台数を削減し、回収装置の簡略化、ならびに該装置の設置および運転コストの低減を図ることができる。 Further, in the present invention, a gas pump that has been conventionally branched by adopting a method of separating exhaust gas by a switching valve provided on the downstream side of a vacuum pump that sucks exhaust gas discharged from the gas reaction apparatus and discharges it to the downstream side. It is possible to reduce the number of vacuum pumps that need to be provided for each, simplify the recovery device, and reduce the installation and operation costs of the device.
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて具体的に説明する。ただし本発明は、例えばガス反応装置を構成する具体的な機器、配管類の系統数、または真空ポンプの配設位置などにつき、本実施の形態に限られるものではない。図1は本発明の実施の形態にかかるガス使用設備1の系統図である。80はガス反応装置であり、チャンバー10、ガス供給部11、第一真空ポンプ20を備える。また、30は第二真空ポンプ、40は処理用バルブ、41はその開閉装置、42は排気用バルブ、43はその開閉装置、44は空洞部、45は分岐部、50はガス処理部、51は排気装置である。これらは配管によって互いに連通され、排ガスの流路が形成されている。また、60は制御装置でありバルブ40および42の切り換えタイミングの制御を行う。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the present embodiment with respect to, for example, specific equipment constituting the gas reaction apparatus, the number of piping systems, or the position of the vacuum pump. FIG. 1 is a system diagram of a gas use facility 1 according to an embodiment of the present invention.
排ガスの流路は、少なくとも処理ライン70と排気ライン71とを有する。処理ライン70は、第二真空ポンプ30の出口から処理用バルブ40を経由してガス処理部50に至る排ガスの流路であり、排気ライン71は、第二真空ポンプ30の出口から排気用バルブ42を経由して排気装置51に至る流路である。排ガス処理装置90は、ガス反応装置80から排出される排ガスに所定の切り分けおよび処理を行う装置であり、図1に示す第二真空ポンプ30、処理ライン70、排気ライン71、これらのラインを切り換える処理用バルブ40および排気用バルブ42、ならびにガス処理部50を有する。また、72は循環供給ラインであり、排ガス処理装置90とガス反応装置80を連通する配管からなる。
The exhaust gas flow path has at least a
本実施の形態では、ガス反応装置80の下流に連接した第一真空ポンプ20および第二真空ポンプ30にて、ガス反応装置80から排出された排ガスを吸引し、さらに下流側に排出する。第二真空ポンプ30の下流側に設けられた処理ライン70では、ガス処理部50にて排ガスに対し精製や分離などの所定の処理を施し、さらに例えば目的のガスを回収して、ガス反応装置80のガス供給部11に循環供給ライン72を通じて送り、これを再使用することを可能とする。一方、排気ライン71では、排気すべきガスを排気装置51より排出する。これらのライン70,71上には、排ガスの流路を処理ライン70と排気ライン71とに切り換えるための切換弁として、処理用バルブ40と排気用バルブ42が配設されている。これらのバルブ40,42が、制御装置60による制御に基づき、開閉装置41,43によって所定のタイミングで切り換えられることにより、目的の排ガスを切り分けて所定のガスラインに送ることが可能となる。また、図1において、排ガスの流れを矢印つきの実線で、制御装置60の処理する制御信号の経路を二点鎖線で示す。
In the present embodiment, the
従来のガス使用設備の系統図である図12と比較すると、処理用バルブ140および排気用バルブ142の下流側にてそれぞれ排ガスを吸引および排出していた回収用真空ポンプ131および第二真空ポンプ132をなくした点に本発明の特徴がある。図1および図12では処理ラインと排気ラインはそれぞれ1本ずつのみを例示しているが、これらのラインを、例えばガス成分ごとに複数系統設けたガス使用設備の場合は、削減される真空ポンプの台数も当該系統数と同等の、多数にのぼる。なお、従来は処理用および排気用バルブの下流側にそれぞれ設ける必要のあった複数台の真空ポンプに替えて、本発明では該バルブの上流側に第二真空ポンプ30を一台設置することで、真空ポンプの台数を削減しながらも排ガスの良好な切り分けを可能にしている。
Compared with FIG. 12, which is a system diagram of a conventional gas use facility, the
ガス反応装置80は、大気圧以下の減圧下状態で種々のガスを使用して排ガスを排出する装置であれば具体的には特に限定されるものではない。排ガスの一部を切り分けて回収し、かかる排ガスを再利用することのできる装置であることが好ましく、希ガスを排ガスとする半導体製造装置のプロセスチャンバが特に好適なものとして例示される。この他、燃焼ガスを排ガスとする内燃機関、反応性ガスを排ガスとする化学反応装置、有機溶剤ガスを排ガスとする印刷・塗装または乾燥装置なども挙げられる。ガス反応装置80から排出される排ガスの全圧は0.1気圧(=104[Pa])以下、好ましくは0.01気圧(=103[Pa])以下であることが、排ガスの高い流動性が得られるという観点から好適である。特に、ガス反応装置80が半導体製造装置のプロセスチャンバである場合、その内部圧力は1[Pa]のオーダーとなり、排ガスの平均自由工程やクヌーセン数は大気圧状態に比べて2桁程度大きくなるため流動性は大変優れる。
The
本実施の形態にかかる図1ではガス反応装置80を一台のみ図示しているが、これに限られるものではなく、同一または異なる複数台のガス反応装置80から排ガス処理装置90に対して排ガスを供給する場合も、本発明の目的を達成することができる。また、一台または複数台のガス反応装置80から排ガス処理装置90に排ガスを供給する配管も、図1のように一本である場合に限られず、例えば複数本の並列する配管より、同時にまたは交互に、排ガス処理装置90の入口に相当する第二真空ポンプ30に対して排ガスを供給することもできる。
Although only one
第一真空ポンプ20および第二真空ポンプ30は、ガス反応装置80をそのプロセス用に減圧下雰囲気にするだけでなく、ガス反応装置80より排出された排ガスを吸引し、その下流側に設けられた処理ライン70または排気ライン71に送るための動力も与える。入手性、コスト、排ガスの種類、流量、静圧または全圧などに応じて適宜選択でき、ロータリーポンプ、油拡散ポンプ、ターボ分子ポンプなどのかき出し方式ポンプが好適なものとして例示される。
The
図1では第一真空ポンプ20と第二真空ポンプ30を連続的に配設した二段構成の状態を図示しているが、本発明にかかるガス使用設備1においては、第二真空ポンプ30のみを用いる単段構成とし、第一真空ポンプ20を省略することもできる。また、逆に三段以上の真空ポンプによる多段構成とすることも可能である。例えばガス反応装置80より排出される排ガスの静圧が極めて低く、これを大気圧程度またはそれ以上に加圧してからガス処理部50や排気装置51に導出する必要がある場合、複数台の真空ポンプを直列に配設し、各ポンプにおいて段階的に排ガスを圧縮することが、各真空ポンプの負荷を分散させる観点から好適である。
Although FIG. 1 shows a state of a two-stage configuration in which the
切換弁は、第二真空ポンプ30の下流側に排出された排ガスの流路を、所定のタイミングで複数のガスラインのいずれかに切り換え、排ガスの成分や濃度などの特性に応じてこれを切り分けるための装置である。図1では、切換弁の例として、処理用バルブ40および排気用バルブ42を、それぞれ処理ライン70および排気ライン71上に設けた状態を示している。ただし、切換弁の具体的な構成はこれに限られるものではなく、三方弁をはじめとする多方弁を一つ設けるか、またはこれらを直列的にまたは並列的に組み合わせる方式としてもよい。処理ライン70および/または排気ライン71が2本以上設けられているガス使用設備1の場合、複数本のガスラインを適宜切り換えられるよう、所定の台数の弁を各ガスライン上に配設する。なお、多方弁を用いる場合、その複数の出口を処理ライン70または排気ライン71にそれぞれ連接し、機械的または電磁的な弁の切り換えにより流路を切り換える。用いる切換弁は圧力損失の少ないものを使用することが、排ガスの速やかな流動を得るために好適である。また切換弁のデッドボリュームが極力小さく、ガスの溜りが排ガスの切り分け精度に与える影響の少ないものを使用するとよい。
The switching valve switches the flow path of the exhaust gas discharged to the downstream side of the
本発明にかかるガス使用設備1においては、排ガスの流路のうち、第二真空ポンプの出口に設けられた配管接続部から、その下流側に設けられた流路の分岐部45に至るまでの領域を、空洞部44と定義する。したがって空洞部44においては、処理ライン70と排気ライン71は配管を共有することとなる。
In the gas use facility 1 according to the present invention, the exhaust gas flow path from the pipe connection part provided at the outlet of the second vacuum pump to the flow
一方、空洞部44のさらに下流側に存在する分岐部45から、処理用バルブ40または排気用バルブ42に至る領域は切換弁のデッドボリュームとなるため、太線で示す空洞部44に比してその内容積を極力小さいものとすることが好ましい。具体的には、配管の長さという観点からは、分岐部45から処理用バルブ40または排気用バルブ42までの距離を極力短くすることが好ましい。
On the other hand, the region from the branching
また、処理用バルブ40と排気用バルブ42の機能を併せ持つ三方弁を切換弁として用いる場合は、分岐部45が三方弁の内部に存在することになる。したがって、空洞部44は、具体的には真空ポンプ30の出口に設けられた配管接続部から、三方弁の入口の配管接続部までの領域がこれに該たる。よってこの場合、分岐部45の下流に二つの独立したバルブを備える方式に比べ、デッドボリュームがほぼ無視できるレベルまで少なくなり、排ガスの切り分け精度が向上する。
Further, when a three-way valve having the functions of the
ここで、空間速度(Space Velocity:SV値)とは、単位時間あたりに排ガスが、ある流路空間をその内容積の何倍だけ通過するかを表す指標であり、単位は時間の逆数である。具体的には下式(1)で定義する。 Here, the space velocity (Space Velocity: SV value) is an index indicating how many times the internal volume of the exhaust gas passes through a certain flow path space per unit time, and the unit is the reciprocal of time. . Specifically, it is defined by the following formula (1).
(数1)
空間速度(SV値)[min-1]=単位時間あたりの排ガス流量[cm3/min]/流路空間の内容積[cm3] ・・・(1)
(Equation 1)
Space velocity (SV value) [min −1 ] = exhaust gas flow rate per unit time [cm 3 / min] / inner volume of flow path space [cm 3 ] (1)
本発明において、空洞部44の流路長をL[cm]、空洞部44の内容積を流路長Lで除した平均断面積をA[cm2]とする。またポンプ30から排出される排ガスの流量をV[cm3/min]で表すとき、空洞部44におけるSV値は、
SV値[min-1]=V/AL
となる。
In the present invention, the flow path length of the
SV value [min -1 ] = V / AL
It becomes.
また、排ガスが単位時間に進行する流路上の長さを線速度(Linear Velocity:LV値)といい、下式(2)で定義する。 Moreover, the length on the flow path where exhaust gas advances per unit time is called linear velocity (Linear Velocity: LV value), and is defined by the following formula (2).
(数2)
線速度(LV値)[cm/min]=単位時間あたりの排ガス流量[cm3/min]/流路空間の平均断面積[cm2] ・・・(2)
(Equation 2)
Linear velocity (LV value) [cm / min] = exhaust gas flow rate per unit time [cm 3 / min] / average cross-sectional area [cm 2 ] of channel space (2)
本発明において、空洞部44におけるLV値は、
LV値[cm/min]=V/A
と定義される。
In the present invention, the LV value in the
LV value [cm / min] = V / A
Is defined.
本発明にかかるガス使用設備1においては、真空ポンプと切換弁との間の空洞部44における排ガスの流通が、SV値にして3[min-1]以上、好ましくは5[min-1]以上、更に好ましくは15[min-1]以上となる配管構造を有することが、排ガスの速やかな切り分けを可能とし、回収効率を高くする観点から好適である。SV値を大きくするためには排ガスの流量Vを大きくするか、または空洞部44の流路長Lを短くすることが好適である。
In the gas use facility 1 according to the present invention, the flow of exhaust gas in the
なお、ここでいう配管構造とは、空洞部44を構成する配管のほか、チャンバー10と第一真空ポンプ20との間の配管、第一真空ポンプ20と第二真空ポンプ30との間の配管、分岐部45からガス処理部50に至る配管、分岐部45から排気装置51に至る配管なども含む、本発明にかかるガス使用設備1を構成する配管の全体を意味する。
In addition, the piping structure referred to here is not only piping constituting the
なお、排ガスの流量Vが一定の場合、排ガス分子の平均自由工程が長く流動性に優れるため、排ガスの圧力(静圧)や密度および平均分子量が低く、流速(動圧)が高いことがより好ましい。排ガスの温度については、これが高いほど排ガス分子の流動性は向上するが、ポンプ30にて一般的に断熱圧縮による発熱を伴いポンプ、コンプレッサー、または配管の負担となるため、必ずしも温度が高いことを要しない。
When the exhaust gas flow rate V is constant, the exhaust gas molecules have a long mean free path and excellent fluidity. Therefore, the exhaust gas pressure (static pressure), density and average molecular weight are low, and the flow velocity (dynamic pressure) is high. preferable. As for the temperature of the exhaust gas, the higher this is, the better the fluidity of the exhaust gas molecules is. However, the
線速度(LV値)については1000[cm/min]以上、好ましくは3000[cm/min]以上であることが、同じく排ガスの回収効率を高くする観点から好適である。 The linear velocity (LV value) is 1000 [cm / min] or more, preferably 3000 [cm / min] or more, from the viewpoint of increasing the exhaust gas recovery efficiency.
本発明のガス使用設備は、真空ポンプと切換弁との間の空洞部における排ガスの流通が、上記のSV値とLV値の好適な範囲を同時に満足する配管構造を備えることが好ましい。 The gas use facility of the present invention preferably has a piping structure in which the exhaust gas flow in the cavity between the vacuum pump and the switching valve satisfies the above-mentioned preferable ranges of the SV value and the LV value at the same time.
SV値およびLV値は、排ガスの流量、真空ポンプの仕様、切換弁の仕様のほか、上記配管構造の寸法や切換弁の設置位置などの特性に応じて、適切な値を選択または調整することができる。 The SV and LV values should be selected or adjusted according to the exhaust gas flow rate, vacuum pump specifications, switching valve specifications, and other characteristics such as the dimensions of the piping structure and the installation position of the switching valve. Can do.
また、ガス反応装置80が大気圧以下の減圧下で運転される場合については、低圧の排ガスは流動性に優れ、特にガス反応装置80から第二真空ポンプ30までの導入は短時間に行われ、また排ガスがガス反応装置80から切換弁に至るまでの所要時間も全体に短縮することができるため、ガス成分や濃度等の排出条件の変化に速やかに追随して切り分けを行うことができる。よって特許文献1記載の従来発明と比較して、切換弁の下流側に流路ごとに設けられた複数台の真空ポンプを削減しても、切換弁の上流側に配設した一台の真空ポンプによって排ガスの切り分けを好適に行うことを可能とする本発明の目的を達成することができる。
Further, when the
ガス処理部50は、排ガスより回収したいガス成分を精製処理し、または濃度や圧力などの特性を調整し、回収すべきガスを、循環供給ライン72を通じてガス反応装置80に移送し、排気すべきガスを排気装置51に移送するための一台または複数台からなる装置である。具体的な精製処理の方法は、排ガスのガス成分、濃度、圧力または流量等のパラメータによって適宜選択できる。例えば、除塵、乾燥、不純ガスの分離除去、触媒反応または加熱/冷却などが挙げられるがこれらに限るものではない。ただし、回収すべき排ガスの成分が高純度で切り分けられ、特段の処理をせずにガス反応装置80で再使用される場合は、ガス処理部50における処理は不要となる。
The
排気装置51は、大気中またはタンク等に排ガスを排気するものである。排出ガスは、排気用バルブ42を通じて第二真空ポンプ30から直接排出されるものと、ガス処理部50にて排ガスから分離して得られる不純ガス成分等からなる排気ガスの両方が存在する。
The
すなわち図1に示す系統図において、ガス反応装置80から第一真空ポンプ20を通じて第二真空ポンプ30に送られた排ガスのガスラインについて、処理ライン70とは、第二真空ポンプ30の出口から、空洞部44、分岐部45、処理用バルブ40を経由してガス処理部50へと至るルートであるのに対し、排気ライン71は、
(1)第二真空ポンプ30の出口から、排気用バルブ42を通じて排気装置51に至るルートと、
(2)第二真空ポンプ30の出口から、処理用バルブ40、ガス処理部50を経由して排気装置51に至るルート
の2ルートが存在する。
That is, in the system diagram shown in FIG. 1, regarding the gas line of the exhaust gas sent from the
(1) A route from the outlet of the
(2) There are two routes from the outlet of the
また排気装置51においては、排出前のガスに種々の処理を施すこともできる。例えば排出ガスが有毒性ガスの場合に環境や人体に対して無害化する除害処理、可燃性ガス等の場合に所定レベル以下の濃度に希釈する希釈処理などが挙げられるが、これらに限るものではない。本発明にかかるガス使用設備1は、処理ライン70、排気ライン71、循環供給ライン72、排ガス処理装置90、排気装置51またはこれ以外に図示しない複数系統のガスラインを備え、排ガスのガス成分等に応じてそれぞれ専用の系統を用いることとしてもよい。
Moreover, in the
制御装置60では、目的の排ガスを切り分けて処理ライン70または排気ライン71に送るため、所定のタイミングで切換弁の切り換えを行うための制御を行う。具体的には、ガス反応装置80の内部または排ガスの流路内部のいずれか1箇所以上の場所において、排ガスのガス成分、濃度、圧力または流量をモニタし、かかるモニタ結果に基づいて、流路の切り換え命令を切換弁の開閉装置41,43に発信することで切換弁の切り換え制御を行うことが、様々なパラメータに基づく排ガスの精度よい切り分けを可能とするため好適である。このうち、特にチャンバー10の内部、空洞部44の内部やガス処理部50の入口部または出口部などの排ガスの流路内部、またはガス処理部50の内部にて排ガスをモニタすることが、目的の排ガスを好適に処理し、回収することができるため好ましい。また、排ガスをモニタする箇所やパラメータを複数とすることにより、様々な運転状況に応じて、例えばガス処理部50の処理能力にあわせて排ガスの送り先を排気装置51に変更するなど、排ガスの切り分け処理の柔軟な実施を可能とする観点から好適である。また、単純に一定時間ごとに流路の切り換えを行うだけでなく、排ガス中における所定のガス成分や濃度等の変化に追随して切換弁の切り換えを行うことが可能であることから、任意のガス成分ごとに回収および再使用、分離精製、除害または希釈排出などの処理をそれぞれ効率化することができる。
In the
より具体的な排ガスの切り分けの制御方法について以下に説明する。制御装置60は、ガス反応装置80、排ガスの流路内部のいずれか1以上の場所に設けられた図示しない検知手段により排ガスの特性をモニタする信号取得手段を備える。排ガスのガス成分をモニタする場合は、検知手段として成分分析計、また濃度の場合は濃度分析計、圧力の場合は圧力計、流量の場合は流量計をそれぞれ用いるのがよい。例えばチャンバー10の出口部分に設けた成分分析計と濃度分析計を用いて排ガスをモニタし、回収を目的とするガス(回収ガス)の濃度情報を入力信号としてまず制御装置60は取得する。制御装置60には予め目標値が記憶されており、入力された濃度情報はノイズを除去された上で該目標値と差分演算により大小を比較される。その結果、排ガスの濃度が所定レベル以上であって、かかる排ガスは処理ライン70に送るべきものと制御装置60が判断した場合、処理用バルブ40を開き、排気用バルブ42を閉じるよう、発信手段より出力信号を弁の開閉装置41,43にむけて発信する。
A more specific method for controlling separation of exhaust gas will be described below. The
上記の排ガスのモニタリングは以後も継続され、検知手段にて所定の時間間隔ごとにまたは連続的に検知された排ガスの特性は入力信号としてその都度制御装置60に送られ、目標値との比較演算が行われる。この結果、例えば排ガスの濃度が所定レベル以下に下がるか、または不純物濃度が上昇したことが検出された場合、制御装置60は目標値との差分演算の上で、かかる排ガスを、排気ライン71に送るべき排気ガスであると判断する。すると制御装置60の発信手段は、処理用バルブ40を閉じ、排気用バルブ42を開くよう、弁の開閉装置41,43に出力信号を発信し、かかる切り換え動作を実行させる。以上により、制御装置60は切換弁による排ガスの流路の切り換えを行い、目的のガスを処理ライン70と排気ライン71のいずれかに切り分けて送ることが可能となる。
The above exhaust gas monitoring is continued thereafter, and the characteristics of the exhaust gas detected at predetermined time intervals or continuously by the detection means are sent to the
また、排ガスの流路内部のいずれかの場所における排ガスの特性に基づく入力信号が制御装置60に入力された場合も、同様に目標値との比較演算により弁の開閉が決定される。複数のモニタ箇所から送られる入力信号が相反した場合は、制御装置60にて優先順位を決定して、切換弁の開閉を決定することができる。
Also, when an input signal based on the characteristics of the exhaust gas at any location inside the exhaust gas flow path is input to the
切換弁の開閉動作は、開閉装置41,43によって行う。具体的な開閉方式は弁のタイプや仕様に応じて決定される。制御装置60からの出力信号に応じて弁の開閉が行われるものであれば電気による作動であっても、空気その他の機械的な作動であってもよい。なお、弁の開動作時間と閉動作時間が同等であることが、排ガスをより精度よく切り分けられるため望ましく、弁の種類や動作原理は特に限定されない。
The opening / closing operation of the switching valve is performed by the opening /
第二真空ポンプ30と切換弁との間には、ポンプ30の背圧を監視する設備を設けるとよい。ポンプ30の背圧を測定し、バルブの開閉動作の異常を早期検出することが装置の安全の観点から好適である。ポンプ30に背圧モニタがついたものも同様の機能を果たし好適である。また、ポンプ30と切換弁との間には、例えば該ポンプの背圧の異常に対する安全ラインとして、圧力開放を行う安全弁を設けてもよい。かかる背圧監視設備や安全弁をともに制御装置60に連結し、動作異常などを検知した場合に自動的にガスの経路を安全ラインに切り換えるなどの安定稼動を図ることもできる。
A facility for monitoring the back pressure of the
切換弁の開閉タイミングは、ガス反応装置80のガス使用状況と、空洞部44におけるSV値、またはこれとLV値によって適宜制御できるが、弁の切り換えに際しては、真空ポンプ30およびその上段の真空系に影響がない範囲において同時閉止状態を作り、完全に排ガスを切り分けるとよい。切換弁の開閉タイミングを同時切り換え、または同時開状態にする場合は、各ラインに導入したガスが逆流しないように、例えば逆止弁をつけるなどの措置を採ることが好適である。
The opening / closing timing of the switching valve can be appropriately controlled according to the gas usage status of the
また、切換弁においては、ガス反応装置80の内部、排ガスの流路内部、またはガス処理部50の内部におけるガスの特性に応じて、適宜、切換弁の切換補正時間を用いて排ガスを切り分ける制御を行うこともできる。切換補正時間とは、排ガスの成分、濃度、圧力、流量等のパラメータに基づいて決定された排ガス流路の切換タイミングに対し、排ガスが実際に切換弁を通過して切り分けられるまでの時間遅れや、処理装置や排気装置の有限の処理能力を考慮して、より好適なタイミングにて弁の切り換えを行うための調整時間である。これらのパラメータの種類や排ガスのモニタ場所、または空洞部44の形状等の諸条件に応じて、好適な切換補正時間は正または負のいずれかの値をとる。切換弁の操作タイミングに切換補正時間を設けることにより、各種パラメータをモニタするタイミングと、排ガスが切換弁を実際に通過するタイミングとの間のタイムラグを適切に埋め、排ガスの切り分け効率を高めることができる。かかる好適な切換補正時間は、SV値、またはこれとLV値に基づいて決定することができる。
Further, in the switching valve, control for separating the exhaust gas appropriately using the switching correction time of the switching valve according to the gas characteristics inside the
本発明にかかる排ガス処理装置によって得られる効果を検証し、また本発明の排ガス切り分け方法をより具体的に実現する実施の形態として、真空ポンプの出口に切換弁を設置し、排ガスを切り分ける制御を行うための実験ラインを図2に示す。12はダミーチャンバ、30は真空ポンプ、44は空洞部、61は濃度分析計である。排ガスはArベース中にトレーサとなるXeガス70%を添加した2000[sccm]のXe混合ガスと、1500[sccm]の真空ポンプパージ用Arガスを加えた、総流量3500[sccm]を使用した。前者のXe混合ガスをダミーチャンバ12に、Arパージガスを真空ポンプ30に、それぞれ全圧100[Pa]オーダーの減圧下で供給した。なお、真空ポンプパージ用Arガスは、Xe混合ガスの供給に関わらず常時流した。実験はダミーチャンバ12の上流からXe混合ガスを導入し、配管出口における排ガス中のXe濃度の経時変化を測定して行った。なお、Xe濃度の測定には市販のXe濃度分析計61を使用した。
As an embodiment for verifying the effect obtained by the exhaust gas treatment apparatus according to the present invention and more specifically realizing the exhaust gas separation method of the present invention, a control valve is installed at the outlet of the vacuum pump to separate the exhaust gas. An experimental line for performing is shown in FIG. 12 is a dummy chamber, 30 is a vacuum pump, 44 is a cavity, and 61 is a concentration analyzer. The exhaust gas used was a 2000 [sccm] Xe mixed gas in which 70% Xe gas serving as a tracer was added to an Ar base, and a 1500 [sccm] vacuum pump purge Ar gas, and a total flow rate of 3500 [sccm]. . The former Xe mixed gas was supplied to the
空洞部44を構成する配管の長さLおよび平均断面積Aを変化させた2つの系において、チャンバー12の上流より排ガスを2分間供給した時の配管出口でのXeガス流量の経時変化を図3に示す。配管出口でのXeガス流量は、排ガスの全流量とXe濃度分析計61の濃度出力を乗算することで求めた。上段に、単位時間当たりのガス供給量[sccm]をグラフAにて表す。また下段に、配管出口におけるXeガスの流量をグラフBおよびCにて表す。グラフBは20A’20.5m(断面:外形27.2mm,肉厚1.65mm、長さ:20.5m)の配管を用いた場合、グラフCは1/2inch’2.2m(断面:外形12.7mm,肉厚1.0mm、長さ:2.2m)の配管を用いた場合の結果である。
Fig. 2 shows changes with time in the Xe gas flow rate at the pipe outlet when exhaust gas is supplied for 2 minutes from the upstream of the
グラフBでは、Xe混合ガスの供給を開始してから配管出口にXe混合ガスが到達するまでに約170秒、Xe混合ガスの供給を停止してから配管出口からXe混合ガスが抜け出るまでに約440秒を要した。このときのSV値は0.4[min-1]、LV値は780[cm/min]であった。 In graph B, approximately 170 seconds from when the Xe mixed gas starts to be supplied until the Xe mixed gas reaches the piping outlet, and approximately when the Xe mixed gas exits from the piping outlet after the Xe mixed gas stops supplying. It took 440 seconds. At this time, the SV value was 0.4 [min −1 ], and the LV value was 780 [cm / min].
一方、グラフCでは、配管出口にXe混合ガスが到達するまでに約2秒、Xe混合ガスが抜け出るまでの時間は約30秒であった。このときのSV値は16[min-1]、LV値は3900[cm/min]であった。 On the other hand, in graph C, it took about 2 seconds for the Xe mixed gas to reach the piping outlet, and about 30 seconds for the Xe mixed gas to escape. At this time, the SV value was 16 [min −1 ], and the LV value was 3900 [cm / min].
SV値0.4[min-1]の前者の場合、SV値16[min-1]の後者に比べ、Xeガスの単位時間当たりの排出量、すなわち配管出口でのXeガスの濃度のピークが低く、逆に検出時間が長くなっている。したがってXeガスの検出濃度が最も高い250〜500秒前後の領域を切り分けて回収したとしても、なお相当量のArガスが不純ガスとして混合していることになる。 In the former case with an SV value of 0.4 [min −1 ], compared to the latter with an SV value of 16 [min −1 ], the discharge amount of Xe gas per unit time, that is, the concentration peak of Xe gas at the pipe outlet is higher. On the contrary, the detection time is longer. Therefore, even if the region of about 250 to 500 seconds where the detected concentration of Xe gas is the highest is cut and collected, a considerable amount of Ar gas is still mixed as an impure gas.
また、図3で点線にて表される矩形のウィンドウは、Xe混合ガスの供給されている120秒間に、配管出口から排出されるXeガスの量を示すものである。かかるウィンドウと、排ガス中Xe流量のグラフとの重複部分がこの時間におけるXeガスの回収量を意味する。グラフCのSV値=16[min-1]のケースではこの回収量がXeガスの全排出量とほぼ一致し、供給されたXeガスのほぼ全量が回収されていることが分かるが、グラフBのSV値=0.4[min-1]のケースではXeガスがまったく回収がされないことがわかる。ガスの供給と回収のタイミングを一致させることの意義は、複数種類の排ガスが経時的に交互に切り換わって排出されるガス反応装置について、これを個々のガス種別ごとに切り分ける際に特に顕著となる。 In addition, a rectangular window represented by a dotted line in FIG. 3 indicates the amount of Xe gas discharged from the pipe outlet during 120 seconds during which the Xe mixed gas is supplied. The overlapping portion of the window and the graph of the Xe flow rate in the exhaust gas means the recovered amount of Xe gas at this time. In the case of SV value = 16 [min −1 ] in the graph C, it can be seen that this recovered amount substantially coincides with the total discharge amount of the Xe gas, and almost all the supplied Xe gas is recovered. It can be seen that Xe gas is not recovered at all in the case of the SV value of 0.4 [min −1 ]. The significance of matching the timing of gas supply and recovery is particularly noticeable when the gas reactors in which multiple types of exhaust gas are alternately switched over time and discharged are divided into individual gas types. Become.
本発明にかかるガス使用設備および排ガスの切り分け方法につき、実施例を用いてさらに具体的に説明する。上記実施の形態で用いた実験ラインにおいて、空洞部44として1/2inch’9.2m(断面:外形12.7mm,肉厚1.0mm、長さ:9.2m)の配管を用い、その出口でのXeガス流量の経時変化を測定した。ガスの供給は、Xeガス70%を添加した2000[sccm]のXe混合ガスを、120秒間の供給後、26秒間待機し、再び120秒間の供給後、26秒間待機し、最後に120秒間供給することで行った。すなわち、26秒間のインターバルをおいて、120秒間のXeガス供給を3回行った。この間、真空ポンプパージ用ArガスはXe混合ガスの供給に関わらず、常時1500[sccm]の一定量を流した。それぞれのガスは全圧100[Pa]オーダーの減圧下で供給した。供給ガスの流量を図4のグラフDに、空洞部44出口における排ガス中のXe流量を同図のグラフEに示す。一方、比較例として、前出の20A’20.5mの配管を用いた実験ラインにおいて、同一のガス供給を行った場合の結果を図5のグラフFに示す。空洞部44の体積として各配管の内容積を、またSV値はそれぞれ4.2[min-1](実施例1)および0.4[min-1](比較例1)、LV値はそれぞれ3900[cm/min](実施例1)および780[cm/min](比較例1)であった。
The gas use facility and the method for separating exhaust gas according to the present invention will be described more specifically with reference to examples. In the experimental line used in the above embodiment, a 1/2 inch '9.2 m pipe (cross section: outer shape 12.7 mm, wall thickness 1.0 mm, length: 9.2 m) is used as the
実施例1および比較例1にかかるXeガスの測定結果(図4,5)によれば、グラフEで示されるSV値=4.2[min-1]の場合、第1回目から第3回目まで矩形波状に供給されたXeガスは、それぞれに明確なピークをもつ3つの周期的な出力波形としてXe濃度分析計により検出されている。よって供給されたXeガスの大部分が配管出口でも互いに混じり合うことなく排出されていることが分かる。
一方、グラフFで示されるSV値=0.4[min-1]の場合は、グラフEと同一のガス供給をうけたにもかかわらず配管出口では互いに混じり合っており、特に第2回目の供給ガスについては前後の供給ガスからこれを切り分けることができない状態で排出されている。
According to the measurement results of Xe gas according to Example 1 and Comparative Example 1 (FIGS. 4 and 5), when the SV value shown in the graph E = 4.2 [min −1 ], the first to third times The Xe gas supplied in the form of a rectangular wave is detected by the Xe concentration analyzer as three periodic output waveforms each having a distinct peak. Therefore, it can be seen that most of the supplied Xe gas is discharged without being mixed with each other even at the pipe outlet.
On the other hand, in the case of the SV value = 0.4 [min −1 ] shown in the graph F, they are mixed with each other at the pipe outlet even though the same gas supply as that in the graph E is received. The supply gas is discharged in a state where it cannot be separated from the supply gas before and after.
これは両ケースにおいては、特に配管の長さが大きく相違し、SV値が小さい比較例1(グラフF)の場合は、真空ポンプを通過してから濃度分析計に至るまでの時間が長くなるためと考えられる。このため、配管内の排ガス分子のもつ速度ゆらぎが蓄積し、Xeガス全体が空洞部44を通過するための時間が長くなるため、間欠的に供給される第2回目以降のXe混合ガスが、前後して供給されたXeガスと混じり合いやすくなる。排ガスのかかる切り分け可能性の良否、すなわち切り分け効率は、ガス成分、濃度、圧力、流量等のパラメータに応じて排ガスを切り分ける場合に重要な条件となり、本発明にかかるガス使用設備および排ガスの切り分け方法においては、この切り分け効率を空洞部におけるSV値、またはこれとLV値によって制御できる。
In both cases, the lengths of the pipes are particularly different in both cases, and in the case of Comparative Example 1 (graph F) where the SV value is small, the time from passing through the vacuum pump until reaching the concentration analyzer increases. This is probably because of this. For this reason, since the speed fluctuation of the exhaust gas molecules in the pipe accumulates and the time for the entire Xe gas to pass through the
実施例1の実験ラインおよび供給ガスを用いて、120秒間のXe混合ガスの供給開始と同時にその回収を開始し、供給停止と同時に回収を停止した場合のXeガスの損失量[scc]を測定した。なお、空洞部44として真空ポンプ出口に接続する配管としては、(1)20A’20.5m、(2)20A’2.5m(断面:外形27.2mm,肉厚1.65mm、長さ:2.5m)、(3)1/2inch’9.2m、(4)1/2inch’7.2m(断面:外形12.7mm,肉厚1.0mm、長さ:7.2m)、(5)1/2inch’2.2mをそれぞれ使用した。Xeガスの損失量は、市販のガス流量計で測定した配管出口での排ガス流量と、Xe濃度分析計61で測定したXe濃度との積を求め、Xeガスの全供給量からこれを差し引いて求めた。上記の各配管を用いた場合のSV値およびLV値を表1に示す。
Using the experimental line of Example 1 and the supply gas, the Xe gas loss amount [scc] is measured when the Xe mixed gas starts to be recovered for 120 seconds and the recovery starts simultaneously with the supply stop. did. In addition, as piping connected to a vacuum pump exit as the
(表1)
(Table 1)
図6は、上記各配管を使用した場合のSV値に対するXeガスの損失量を表す。2800[scc]のXeガス供給に対し、SV値が0.4[min-1]の(1)の比較例2の場合はそのほぼ全量を損失していることがわかる。これに対し、(2)〜(5)の実施例2の場合は、SV値が大きくなるほどXeガスの損失量を抑えられることが分かる。SV値が3[min-1]以下ではXeガスの損失量が飛躍的に増大し、逆にこの値を超えると損失量が極めて少なく抑えられることが分かる。 FIG. 6 shows the loss amount of Xe gas with respect to the SV value when each of the above pipes is used. It can be seen that almost the entire amount is lost in the comparative example 2 of (1) with an SV value of 0.4 [min −1 ] with respect to the Xe gas supply of 2800 [scc]. On the other hand, in Example 2 of (2)-(5), it turns out that the loss amount of Xe gas is suppressed, so that SV value becomes large. It can be seen that when the SV value is 3 [min −1 ] or less, the loss amount of the Xe gas increases remarkably, and conversely, when this value is exceeded, the loss amount can be suppressed to be extremely small.
また同図より、SV値が5[min-1]を超えるとXeガスの損失量はさらに減少し、15[min-1]を超えるとXeガスの損失量はほぼ無視できるレベルとなる。
LV値についても、これが1000[cm/min]を超えるとXeガスの損失量は大きく抑制される。またLV値が3000 [cm/min]を超えるとXeガスの損失量はさらに減少し、目的のガスが極めて効率よく回収されることとなる。また上記の好適なSV値とLV値とを同時に満足する配管構造を空洞部44として備えることにより、供給されたガスの切り分けが極めて効率よく行われる。
Further, from the figure, when the SV value exceeds 5 [min −1 ], the loss amount of the Xe gas further decreases, and when it exceeds 15 [min −1 ], the loss amount of the Xe gas becomes almost negligible.
As for the LV value, if it exceeds 1000 [cm / min], the loss of Xe gas is greatly suppressed. When the LV value exceeds 3000 [cm / min], the loss amount of the Xe gas is further reduced, and the target gas is recovered extremely efficiently. In addition, by providing the
実施例2(5)と空洞部44と同一の配管を用い、さらに該配管の出口に排ガスの切り分けを行う切換弁を設置して排ガスの切り分け評価を行った。Xeガスの供給は実施例2と同様とした。切換弁には二連三方弁46を用いた。具体的な実験ラインを図7に示す。本実施例では、ガス反応装置に相当するダミーチャンバ12よりXe混合ガスを導入し、その間は二連三方弁46のうち、処理ライン70側の出口を開放しておく。また、排気ライン71の出口にはXe濃度分析計61を接続しておく。この状態で、Xe混合ガスの供給を停止すると同時に、または停止から所定の切換補正時間が経過した瞬間に、二連三方弁46の出口を処理ライン70から排気ライン71に切り換えた場合の、排気ライン71の出口で検出されるXeガスの量の測定した。
The same piping as that of Example 2 (5) and the
図8は、SV値15.9[min-1] の実験ラインにおいて、切換補正時間を0秒、10秒、26秒とした場合のXeガスの損失量[scc]を表している。ただし、Xe混合ガスは1分間(実線)または2分間(点線)にわたって供給した。この結果、切換補正時間を設けない場合は120[scc]程度のガス損失が生じていたところ、切換補正時間を10秒設けることでXeガスの損失量を1/3乃至1/4まで少なくすることができ、同じく26秒とすることでガス損失量をほぼゼロとすることができた。以上より、所定以上のSV値をとることで良好なガス回収を可能とする実施例2の配管構成において、切換補正時間の概念を導入することで目的のガスをタイムリーに切り分け、さらに効率よくこれを回収することができる。
なお、SV値の高低によらず、切換補正時間を設けることで目的ガスの回収効率を高めることが可能であるが、高いSV値の配管構成である場合ほど、短い切換補正時間で効率よく回収することができる。
FIG. 8 shows the loss amount [scc] of the Xe gas when the switching correction time is set to 0 seconds, 10 seconds, and 26 seconds in the experimental line having the SV value of 15.9 [min −1 ]. However, the Xe mixed gas was supplied for 1 minute (solid line) or 2 minutes (dotted line). As a result, when the switching correction time is not provided, a gas loss of about 120 [scc] has occurred, but by providing the switching correction time for 10 seconds, the Xe gas loss amount is reduced to 1/3 to 1/4. The amount of gas loss could be reduced to almost zero by setting the time to 26 seconds. From the above, in the piping configuration of Example 2 that enables good gas recovery by taking an SV value greater than or equal to the predetermined value, the target gas is timely separated by introducing the concept of switching correction time, and more efficiently. This can be recovered.
It should be noted that the recovery efficiency of the target gas can be increased by providing the switching correction time regardless of the SV value, but the higher the SV value, the more efficient the recovery with a shorter switching correction time. can do.
ここで、本発明のガス使用設備および排ガスの切り分け方法をさらに効率化するためのパラメータとして、平均通過空洞数を、下式(3)で定義する。 Here, the average number of passing cavities is defined by the following equation (3) as a parameter for further improving the efficiency of the gas use facility and the exhaust gas separation method of the present invention.
(数3)
平均通過空洞数[無次元数]=SV値[min-1]×排ガスの平均切換時間[min] ・・・(3)
(Equation 3)
Average number of passing cavities [dimensionless number] = SV value [min −1 ] × average exhaust gas switching time [min] (3)
上式(3)において、排ガスの平均切換時間とは、排ガスの流路を処理ライン70と排気ライン71に交互に切り換える時間間隔の平均をいうものとする。本発明にかかるガス使用設備では、切換弁を操作することにより、ガス反応装置から排出される排ガスを、そのガス成分、濃度、圧力または流量等のパラメータに応じて、処理ラインに送るガスと排気ラインに送るガスとに所定のタイミングで切り分けるものであるところ、かかる流路の切換操作をいかに高い頻度で行うかを、排ガスの平均通過空洞数によって表現する。
In the above equation (3), the average exhaust gas switching time refers to the average of time intervals at which the exhaust gas flow path is alternately switched between the
したがって空洞部の内容積と、単位時間当たりの排ガス流量が一定の場合、SV値は一定であるが、ガス成分等のパラメータが短時間で切り換わり、切換弁の開閉を頻繁に行って排ガスを細かく切り分ける場合、平均通過空洞数は小さくなる。本発明において、SV値は排ガスが単位時間あたりに空洞部内容積の何倍だけ供給されるかを表すパラメータであるのに対し、平均通過空洞数は、成分等が周期的に変動する排ガスが、その1サイクルあたりに空洞部内容積の何倍だけ供給されるかを表すパラメータといえる。 Therefore, when the internal volume of the cavity and the exhaust gas flow rate per unit time are constant, the SV value is constant, but the parameters such as gas components are switched in a short time, and the switching valve is frequently opened and closed to exhaust the exhaust gas. When finely dividing, the average number of passing cavities becomes small. In the present invention, the SV value is a parameter indicating how many times the volume of the cavity is supplied per unit time, whereas the average number of passing cavities is the number of exhaust gases whose components etc. periodically change. It can be said that this parameter represents how many times the volume of the cavity is supplied per cycle.
本発明にかかるガス使用設備においては、平均通過空洞数が6以上、好ましくは10以上、さらに好ましくは30以上であることが、間欠的に供給される排ガスの切り分け精度を高め、回収効率を高くする観点から好適である。平均通過空洞数を大きくするためには、SV値または排ガスの平均切換時間を大きくすることが必要である。なお、排ガスの供給サイクルが長く、ガス成分や濃度等のパラメータの変動間隔が長く、切換弁による流路の切り換え頻度が低い場合、排ガスの平均切換時間が大きくなる。 In the gas use facility according to the present invention, the average number of passing cavities is 6 or more, preferably 10 or more, more preferably 30 or more, which improves the separation accuracy of the intermittently supplied exhaust gas and increases the recovery efficiency. It is suitable from a viewpoint to do. In order to increase the average number of passing cavities, it is necessary to increase the SV value or the average switching time of the exhaust gas. When the exhaust gas supply cycle is long, the fluctuation interval of parameters such as gas components and concentration is long, and the frequency of switching the flow path by the switching valve is low, the average exhaust gas switching time becomes long.
平均通過空洞数は、排ガスの平均切換時間のほか、排ガスの流量、真空ポンプの仕様、切換弁の仕様、あるいは真空ポンプと切換弁とを接続する配管の仕様や切換弁の設置位置などの配管構造の特性に応じて、適切な値を選択または調整することができる。 The average number of passage cavities is the average exhaust gas switching time, as well as the exhaust gas flow rate, vacuum pump specifications, switching valve specifications, piping specifications connecting the vacuum pump and switching valve, and switching valve installation positions, etc. Appropriate values can be selected or adjusted depending on the characteristics of the structure.
実施例1で用いた実験ラインにおいて、空洞部44として1/2inch’12.5cm(断面:外形12.7mm,肉厚1.0mm、長さ:12.5cm)の配管を用いて同様のガス供給実験を行った。ガス供給は実施例1と同様に、Xeガス70%を添加した2000[sccm]のXe混合ガスを、26秒間の待機時間をおいて、120秒間にわたり3回供給することで行った。この間、真空ポンプパージ用ArガスはXe混合ガスの供給に関わらず、常時1500[sccm]の一定量を流し、それぞれのガスの全圧は100[Pa]オーダーとした。配管出口におけるXeガス流量の経時変化を図9のグラフGに示す。本実施例におけるSV値は310[min-1]、LV値は3900[cm/min]であった。また排ガスの平均切換時間に相当する代表時間として、Xeガスの供給間隔である146秒を用いて求めた平均通過空洞数は760であった。
In the experimental line used in Example 1, the same gas was used using a pipe of 1/2 inch'12.5 cm (cross section: outer shape 12.7 mm, wall thickness 1.0 mm, length: 12.5 cm) as the
また実施例4と同一の実験ライン、配管および供給ガスを用い、Xe混合ガスの供給時間を各16秒、待機時間を各6秒として間欠的に3回供給した。配管出口におけるXeガス流量の経時変化を図10のグラフHに示す。本実施例におけるSV値およびLV値は実施例2と同一である。また排ガスの平均切換時間に相当する代表時間としてXeガスの供給間隔である22秒を用いると平均通過空洞数は120であった。 Further, using the same experimental line, piping and supply gas as in Example 4, the Xe mixed gas was supplied three times intermittently with a supply time of 16 seconds each and a standby time of 6 seconds each. A change with time of the Xe gas flow rate at the pipe outlet is shown in graph H of FIG. The SV value and the LV value in this embodiment are the same as those in the second embodiment. Further, when the Xe gas supply interval of 22 seconds was used as a representative time corresponding to the average exhaust gas switching time, the average number of passing cavities was 120.
図9と図10を比較すると、いずれの実施例においても、矩形波状のXeガス供給に追随して、周期的に3つの明確なピークをもつXeガスの出力流量が得られていることから、間欠的に3回供給されたガスが互いに混じり合うことなく、または混じり合う比率を抑えて、排ガスの回収が極めて効率的に行われたことが分かる。ただし実施例4では、実施例5と比較して平均通過空洞数が約6倍と高いことから、これらのSV値は同等であるものの、実施例4ではXeガスの回収率がさらに高められている。これは、実施例4ではXe混合ガスの供給サイクル時間が長く、平均切換時間が大きいため、実施例5に比べ、供給されたXeガスが配管出口に至るまでの時間遅れの影響がより小さくなるからである。以上より、平均通過空洞数が大きくなるような配管構成やガス供給を行うことにより、本発明のガス使用設備および排ガスの切り分け方法では、排ガスの切り分けおよび回収の効率を高めることができるものといえる。 Comparing FIG. 9 and FIG. 10, in any of the examples, the output flow rate of the Xe gas having three distinct peaks periodically is obtained following the supply of the rectangular wave Xe gas. It can be seen that the exhaust gas was recovered very efficiently without the gases supplied intermittently three times being mixed with each other or with the mixing ratio being suppressed. However, in Example 4, since the average number of passing cavities is about 6 times higher than in Example 5, these SV values are equivalent, but in Example 4, the recovery rate of Xe gas is further increased. Yes. This is because, in Example 4, the supply cycle time of the Xe mixed gas is long and the average switching time is long, so that the influence of the time delay until the supplied Xe gas reaches the pipe outlet is smaller than in Example 5. Because. From the above, it can be said that the efficiency of the exhaust gas separation and recovery can be improved in the gas use facility and the exhaust gas separation method of the present invention by performing the piping configuration and the gas supply so as to increase the average number of passage cavities. .
図11は、実施例2の結果について、縦軸にXeガスの損失量[scc]を、横軸に平均通過空洞数をとったものである。同図より、平均通過空洞数が大きくなるほどXeガスの損失量を抑えられることがわかる。特に、切換補正時間を設けることなく、Xeガスの供給と回収のタイミングを一致させた場合であっても、平均通過空洞数が6を超えると供給ガス量の65%以上を回収し、同じく10を超えると70%以上を回収することができる。さらに、平均通過空洞数が30を超えると供給ガス量の90%以上を回収することが可能であり特に好適である。また平均通過空洞数のかかる好適条件と、SV値やLV値の好適条件とが同時に満足される配管構造を備えることで、本発明にかかるガス使用設備および排ガスの切り分け方法による排ガスの処理効果をさらに高めることができる。 FIG. 11 shows the results of Example 2 with the Xe gas loss amount [scc] on the vertical axis and the average number of passing cavities on the horizontal axis. It can be seen from the figure that the amount of loss of Xe gas can be suppressed as the average number of passing cavities increases. In particular, even when the Xe gas supply and recovery timings are matched without providing a switching correction time, when the average number of passing cavities exceeds 6, 65% or more of the supply gas amount is recovered, If it exceeds, 70% or more can be recovered. Furthermore, when the average number of passing cavities exceeds 30, it is particularly preferable that 90% or more of the supply gas amount can be recovered. In addition, by providing a piping structure that satisfies the preferable conditions for the average number of passing cavities and the preferable conditions for the SV value and the LV value at the same time, the exhaust gas treatment effect by the gas use facility and the exhaust gas separation method according to the present invention is achieved. It can be further increased.
本発明にかかるガス使用設備および排ガスの切り分け方法によれば、ガス反応装置、排ガスの種類、または運転環境などの条件によらず、少ない台数の真空ポンプによって排ガス流路の切り換えを可能とするため、半導体製造装置のプロセスチャンバ、内燃機関、化学反応装置、印刷・塗装または乾燥装置などに限らず様々な分野において省コスト、省スペースかつ効率的な排ガス処理システムを構築することができる。 According to the gas use facility and the exhaust gas separation method according to the present invention, the exhaust gas flow path can be switched by a small number of vacuum pumps regardless of conditions such as the gas reactor, the type of exhaust gas, or the operating environment. Further, it is possible to construct a cost-saving, space-saving and efficient exhaust gas treatment system in various fields, not limited to a process chamber of a semiconductor manufacturing apparatus, an internal combustion engine, a chemical reaction device, a printing / painting or drying device.
特に、半導体製造装置では、ガスの供給や排気のほか、様々な工程を実現する製造ラインを一切止めることなく連続稼動させることが求められる。また半導体製造装置では、不安定で反応性に富み、人体にも有害な特殊ガスを、150種類を超えて使用する場合があるほか、プロセスガスとしてクリプトン(Kr)やキセノン(Xe)など、大気中に1ppmまたはそれ以下のオーダーでしか存在しない希少な希ガス類を大量に使用することが特徴である。またプロセスや装置ごとに使用されるガスの種類や量、ガス供給のサイクル時間や回数は異なることから、排出されるガスを効率的に除害または回収するためには、流路をタイムリーに切り換えてガスの送り先を換える必要がある。以上より、本発明のガス使用設備を用いて、半導体製造装置からの排ガスを確実に切り分けて除害または回収することは、安全やコストの観点から極めて有効といえる。 In particular, a semiconductor manufacturing apparatus is required to operate continuously without stopping a production line that realizes various processes in addition to gas supply and exhaust. In semiconductor manufacturing equipment, there are cases where more than 150 types of special gases that are unstable, reactive, and harmful to the human body are used, and atmospheric gases such as krypton (Kr) and xenon (Xe) are used as process gases. It is characterized by the use of a large amount of rare noble gases present only in the order of 1 ppm or less. In addition, since the type and amount of gas used for each process and equipment, and the cycle time and number of gas supply are different, the flow path must be timely in order to efficiently remove or recover the exhausted gas. It is necessary to switch and change the gas destination. From the above, it can be said that it is extremely effective from the viewpoint of safety and cost to reliably cut and remove or recover the exhaust gas from the semiconductor manufacturing apparatus using the gas using facility of the present invention.
1 ガス使用設備
10、110 チャンバー
11、111 ガス供給部
12 ダミーチャンバ
20、120 第一真空ポンプ
30、132 第二真空ポンプ
131 処理用真空ポンプ
40、140 処理用バルブ
42、142 排気用バルブ
41、43 開閉装置
44 空洞部
45 分岐部
46 二連三方弁
50、150 ガス処理部
51、151 排気装置
60、160 制御装置
61 濃度分析計
70、170 処理ライン
71、171 排気ライン
72、172 循環供給ライン
80、180 ガス反応装置
90、190 排ガス処理装置
1
Claims (10)
前記排ガス処理装置が、
前記ガス反応装置から排出される排ガスを吸引して、これを下流側に排出する真空ポンプと、
排ガスに所定の処理を行うガス処理部と、
真空ポンプから排出される排ガスをガス処理部に導出する処理ラインと、
真空ポンプから排出される排ガスを排気する排気ラインと、
真空ポンプの下流側に設けられ、排ガスの流路を前記処理ラインと排気ラインとに切り換える切換弁と
を有することを特徴とするガス使用設備。 A gas comprising a gas reaction device operated under a reduced pressure below atmospheric pressure, an exhaust gas treatment device for treating exhaust gas discharged from the gas reaction device, and a pipe communicating the gas reaction device and the exhaust gas treatment device In the equipment used,
The exhaust gas treatment device is
A vacuum pump that sucks the exhaust gas discharged from the gas reactor and discharges it to the downstream side;
A gas processing unit for performing predetermined processing on the exhaust gas;
A treatment line for leading exhaust gas discharged from the vacuum pump to the gas treatment unit;
An exhaust line for exhausting exhaust gas discharged from the vacuum pump;
A gas use facility comprising a switching valve provided on a downstream side of a vacuum pump and switching a flow path of exhaust gas between the processing line and the exhaust line.
前記排ガスを真空ポンプで吸引して、これを下流側に排出し、該真空ポンプの下流側に設けた切換弁によって、所定の処理をされる処理ガスと、排気される排気ガスとに切り分けることを特徴とする排ガスの切り分け方法。 An exhaust gas separation method for separating exhaust gas discharged from a gas reactor operated under reduced pressure below atmospheric pressure,
The exhaust gas is sucked with a vacuum pump, discharged to the downstream side, and separated into a processing gas to be subjected to a predetermined treatment and an exhaust gas to be exhausted by a switching valve provided on the downstream side of the vacuum pump. An exhaust gas separation method characterized by the above.
The exhaust gas separation method according to claim 9, wherein the timing for separating the exhaust gas into the processing gas and the exhaust gas by the switching valve is determined in consideration of a switching correction time according to the space velocity.
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