JP2007000729A - 結晶薄膜を製造する方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 有機化合物の混合物からカスケード結晶化プロセスによって少なくとも１つの物理特性（以下特性と略記）を有する結晶薄膜を製造する方法を提供する。
【解決手段】 有機化合物の混合物の組成が異なる複数の膜を製造し、特性と混合物組成の関係を表す近似関数を求め、近似関数の複数の極値を決定し、決定された複数の極値の安定性をテストし、１つの極値とそれに対応する組成を選択し、しかる後に所望の特性を有する結晶薄膜を製造する。
【選択図】 なし

Description

本発明は、様々に応用される分子的秩序のある有機物質を得ることを目的とする分子工学の分野に関する。可能な応用としては、表示装置、光学電子機器および様々な光学素子等が挙げられる。

多くの有機色素の分子の特別な特徴は、超分子液晶中間相を形成する性能である。有機色素の中間相は末梢の官能基を含み、特定構造、状態図、光学的性質および溶解性能を特徴とする［J．−M．Lehn、超分子化学（ニューヨーク、1998年）］。

リオトロピック液晶を形成することができる二色性染料を使用することで、高度の光学異方性を有する異方性膜を得ることができる。そのような膜は、E−タイプ偏光子の特性を示し、それらは、超分子複合体の光吸収の特色と関係があり、光吸収が重要でないスペクトル領域で、遅延剤（移相デバイス）として作用する。これらの異方性膜の相遅延特性は、それらの複屈折、すなわち、基板上への液晶溶液の塗布方向および垂直方向で測定された屈折率の差に関係する。強い（耐光性）色素分子に基づいて液晶系から形成された膜は、高い熱的安定性および耐光性を特徴とする。そのような異方性結晶膜、以下結晶薄膜（TCFs）と言う、は、オプティバ（Optiva）技術によって開発された方法によって得ることができ、P．LazarevおよびM．Paukshto、第7回国際講習会「ディスプレイ,材料および成分」（2000年11月29日〜12月1日、神戸、日本、1159−1160p）および米国公開特許出願2003／0154909に一般に記載されており、その開示内容全体をこの明細書に含めることとする。この方法は、一般にカスケード結晶化法と呼ばれ、様々な技術工程を含む一連の工程によって特徴づけられる。

そのような膜のための基材の選択は、要求された光学電気的特性によって決定される。他の必要条件として、分子中の共役芳香環のπ−共役結合が展開されている系の存在、および分子平面に存在し、芳香族の結合系に入る群（例えば、アミン、フェノール、ケトンなど）の存在がある。分子および／またはそれらの分子の断片は、プレーナー構造を有し、安定したリオトロピック液晶相を形成することができる。さらなる記載が、米国特許5，739，296および6，174，394に見られ、その開示内容全体をこの明細書に含めることとする。

そのような有機化合物は、適切な溶媒に溶かされた時、系の運動単位を構成する超分子複合体へ分子が凝集されるコロイド系（リオトロピック液晶溶液）を形成する。この液晶相は、本質的に系の規則正しい状態の前駆物質であり、該前駆物質から、超分子複合体の次の配向が形成され、溶媒が除去される間に、固体光学的異方性結晶膜（すなわち、TCF）が形成される。前記膜厚みは、通常、1μmを越えない。所望の光学電気的特性を有する膜を得るために、溶液中で結合超分子複合体を形成することができる混合コロイド系を使用することが可能である。溶媒の除去に際して、そのような系は、一般的な三次元の結晶構造を形成する。

様々に応用するためは、異なる光学電気的な特性を有する膜が必要である。カスケード結晶法は多段工程であるため、TCFsの最終特性に影響を及ぼす多数の技術的パラメータに依存する。予め設定された特性を有するTCFsを得るために、これらの技術的パラメータの最適化を必要とする。本発明はこの課題の解決を目的とする。

本発明は、結晶薄膜を製造するために使用される、予め設定された物理的性質を有する、TCFsを得るための液晶系の技術および組成を選択的に最適化するように構成された方法を提供する。結晶薄膜を製造するために、カスケード結晶化プロセスを使用するのが好ましい。

一実施態様において、本発明の方法は、
（a）いくらかのTCFsを製造するステップであって、有機化合物の初期の混合物は全ての膜で同じであり、該有機化合物の混合物の百分率組成は膜ごとに変えるステップと、
（b）前記膜の各々の1つまたは複数の物理的特性を測定するステップと、
（c）有機化合物の百分率組成に依存して、これらの物理的特性の近似関数の形で、前記物理的特性の表示を選択するステップと、
（d）前記近似関数の複数の極値を決定するステップと、
（e）決定された複数の極値の安定性をテストし、該極値のうちの1つの極値を選択するステップと、
（f）前記物理的特性の選択された極値に対応する組成を有するTCFを製造するステップとを含む。

別の態様では、本発明は、予め設定された物理的性質を有し、標準の市販の液晶混合物から製造されたTCFsを提供する。

発明の別の態様では、コンピューター上で実行された時に、以下の命令を行なうソフトウェア・プログラムを含むコンピューター読取り可能な媒体を提供する；
カスケード結晶化プロセスによって製造された、いくつかの結晶薄膜の少なくとも1つの物理的特性を測定することであって、カスケード結晶化法パラメータは、技術工程に関連していること；
前記技術工程のパラメータに依存して、前記物理的特性の近似関数の形で、前記物理的特性の表示を選択すること；
前記近似関数の複数の極値を決定すること；
決定された複数の極値の安定性をテストすること；および
前記結晶薄膜の製造で使用される前記極値のうちの1つの極値を選択すること。

本発明の目的および利点は、下に提供される発明の詳細な説明および添付の請求項を、図面を参照して読むことで、明らかになる。

本発明は、結晶薄膜を製造するためのカスケード結晶化法を使用して、予め設定された物理的性質を有するTCFsを得るための液晶系の技術および組成を選択的に最適化するように構成された方法を提供する。

前記カスケード結晶化法は、様々な技術工程を含む次の一連の主な工程によって特徴づけられる。
（ｉ）コロイド系（液晶溶液）の形成。
（ｉｉ）同時または連続の外部配向動作での、基板上へのこの系の塗布。
（ｉｉｉ）溶媒の除去およびTCFの形成。このプロセスは、さらに、米国特許No. 6，174，394およびNo. 5，739，296、ならびにPCT特許出願No．PCT/USO2／03800、公表WO02／063660に詳細に記載され、すべての開示は、その開示内容全体をこの明細書に含める。この方法によって作られたTCFsは、光軸のうちの1つに沿って、約3．1Å〜3．7Åの結晶中の原子間隔を示す。それは、例えば、X線回折などの標準的な方法で容易に確定される。前記カスケード結晶化法は、いくつかの相互関係がある技術工程を含み、それぞれは、TCF−最終生成物の特性に、おおよそ著しく影響を及ぼす。最適化手順は、個別の技術工程の最も重要なパラメータに関して行なうことができ、または、技術的プロセス全体の全てのパラメータを含んでいてもよい。最適化パラメータの選択は、TCFsの要求された特性に依存する。

本発明の方法の1実施の態様が、図1で示されるフローチャートに示される。前記方法は、概して、以下のように実行される。ステップ10で、技術的パラメータを確立する。ステップ20で、TCFの物理的特性を測定する。ステップ30で、近似関数のタイプおよび視覚化の単信方式を選択する。ステップ40で、近似関数を算出する。ステップ50で、最適化のための初期値およびTCFの所望の物理的特性を決定する。次に、ステップ60で、n次元空間の近似関数の極値を決定する。ステップ70で、決定した極値の安定性をテストする。決定した極値が安定していない場合、前記方法をステップ40から再び実行する。前記決定した極値が安定している場合、ステップ80で、選択された極値に相当する技術的パラメータでTCFを製造する。最後に、ステップ90で、製造されたTCFの物理的特性が、所望の特性に相当するかどうか決定する。確立されている場合、前記方法を終了する。確立されていない場合、前記方法をステップ30から再び実行する。

本発明の方法を、より詳細に記載する。開示される方法は、カスケード結晶化法によって得られたTCFsの測定された物理的特性、およびTCFの製造に使用される初期の液晶系の特性を含むプロセスに相当する技術的パラメータを含むデータベースを作成することを含む。前記パラメータは、技術工程のパラメータの、ある作用間隔内で変化してもよい。データベースを作成するために使用される測定の数は、次の近似のために十分でなければならず、当業者は、一般的に、製造膜の得られる特性の正確さがそうであり、または技術工程で測定されたパラメータの正確さにほぼ等しいことを認識する。

初期の液晶系のすべての特性、個々の技術工程のすべてのパラメータ、およびTCFsのすべての要求された物理的性質（選択された物理的特性）を含めて、データベースは完全になりえる（包括的）。初期の液晶系の特性としては、組成、成分の濃度、添加物のタイプおよび濃度などが挙げられる。TCFsの選択された物理的特性としては、光学（コントラスト、異方性係数、吸収スペクトル等）、電気的（伝導性、伝導性異方性、バンドギャップ幅等)、および磁気が挙げられる。

前記カスケード結晶化法の異なるステップとして、次の技術工程が次のパラメータによって特徴づけられる。
（ｉ）コロイド系（液晶溶液）の形成のステップにおける液晶系の化学組成、成分の濃度、温度、添加物、溶媒等。
（ｉｉ）基板上へこの系を塗布するステップにおける粘性、塗布速度、塗布装置の幾何学的配置等。
（ｉｉｉ）次の外部配向動作のステップにおける、機械的せん断（機械的配向のため）の量と速度、電界強度および方向（電磁気配向のための）等。
（ｉｖ）溶媒除去ステップにおける媒体の乾燥速度、湿度および温度等。

このリストは、検討されて、技術工程のパラメータの完全なリストであるように意図されるのではなく、それは、これらパラメータの最も典型的な例を示した。

前記データベースを部分的なものとして作成することができ、すなわち、TCFsの個別の必要な特性、初期の液晶系（例えば、有機成分の百分率）のいくつかの特性、および／または技術的プロセスの最も重要なパラメータを含んでいる。そのような部分的なデータベースは、偏光膜、ディスプレイ用複屈折膜などの特定用途を意図するTCFsの最適化のために使用することができる。

前記データベースは、また、パラメータx^（μ）、例えば、有機化合物の百分率、技術工程のいくつかのパラメータなどで、選択された物理的特性y^（μ）の依存を反映する近似関数によって表わされるモデルを含む。通常、いくつかの選択された物理的特性に対して、同時に最適化を行なうことができるので、近似関数はベクトルである。

前記近似は、多項式補間または放射基底関数（RBFs）を使用して、様々な方法によって特に行なうことができる。前記RBF近似手順の最も魅力的特性は、線形方法によって近似関数を構成する可能性である。RBF適合点は、予めセットするか（つまり、規則的なグリッド上に配置される）、またはデータ準備の過程（例えば、クラスタリゼーション手順を使用して）で、決定することができる。この状況で、分散は、未知の近似パラメータの二次関数であり、それは数値モデルをより単純にし、計算ルーチンを単純化する。最小二乗法によって分散の最小化の問題を解決することにより、または下降のいくつかの方法を使用することにより、広範囲の最小点が存在することを見つけることができる。

このように、実験データの近似は、入出力パラメータ（要素）

のセットPの範囲内で関係を確立する、関数

を構成することを目的とする。実際上、ある接近関数

によってこの未知の関数f（x）は近似され、それはデータの利用可能体を使用して構成される。関数

について記載するために使用されるデータ（セットP）の量に依存して、補間条件（1）は正確にまたは近似的に満たすことができる。後者の場合、前記手順は、例えば、正確な値からの近似関数の平均二乗偏差を表わす誤差関数を最小限にすることを目的とする。

放射基底ベクトル関数を定める式は、以下のとおりである。

式中、

、W_m∈R^m、X、C_m∈Rⁿ、およびWは、実験データを使用して決定される関数の重要係数である。背景の説明は、さらに、M．Kirby、幾何学的データ分析（ニューヨーク、2001年）に記載され、この明細書に含めることとする。

前記最適化が、TCFsのある選択された物理的特性に関して行なわれる場合、前記近似関数は、スカラーであり、各々

の条件（3）で下記

（式中、μ=1・・・Pである）を得る。これらの条件を一次方程式の系の形で記載すると、以下の式を得る。

（式中、

）

よりコンパクトには、

（式中、Φは以下に定義される補間マトリックスである。

ここで、ベクトルＷ＝（w₁、w₂、・・・w_Nc）^Tおよびf=（f^（1）、f^（2）、・・・、f^（P）)^Tである）と記載される。

RBFsを備えた近似は、RBFタイプおよびこれらの関数の数などのモデルの特性を設定し、RBFsの位置を決定する1セットの適合点（中心）｛C_m｝を特定し、重み｛W_m｝を定義することを必要とする。これらの特性の各々は、モデル化されたデータの複雑さおよびタイプに依存する。ここで、主な課題は、RBFsのタイプおよびそれらのパラメータを決定して、重みを定義し、適合点（中心）を選択することである。

近似は、様々なタイプのRBFsを使用して行なうことができる。これらのうちのいくつかを表1に示す。

RBFタイプの選択は、やや困難な課題を示す。主な問題は、部分または全体関数φ（ξ）を選択し、遊離パラメータを選択することである。これらのパラメータは、非線形の最適化によって決定されるか、または任意に設定することができる。

カスケード結晶化法の最適化のために大部分が適した関数は、以下のタイプであることが実験的に確立された。

この式でRBFsは、ローカル表示を提供し、それらの有効半径は、すべてのRBFsに共通であるか、またはこれらの関数の各々のために別々に決定されるパラメータrによって決定される。

ユークリッド・ノルム（Euclidean norm）の場合には、RBFsが以下の式で表される。

指数の倍数特性を使用して、次の式に進むことができる。

ガウスのRBFは、関数の中心のまわりの制限された「有効距離」によって特徴づけられ、
それは半径rに比例する。感度のこの範囲外で、総計へのそれぞれ個別のRBFの貢献は小さい。ガウスのRBFのこの部分的特徴は、この領域の外側のデータの提供にあまり影響を及ぼさずに、中心のまわりの狭い近辺に限定される各RBFに影響する非常に有用な特性である。

重み係数を決定する問題は、線形代数式の過剰決定体系のための最小二乗法の問題に縮小される。

一般の場合では、この系は、解法を有していないか、または無限数の解法を有する。それは、分散を最小限にする一次方程式のそのような系の通常の解法を見つける通常の実行である。

その解法は、右の不正確で公知のベクトルのための通常の解法を得る手順の規則化によって見つけることができる。

様々な方法は、測定空間で、前述の中心（RBF適合点）を選択するために使用される。そのような点は、規則的なグリッド上に配置されることができ、無作為に分散され、または、クラスタリゼーションアルゴリズムまたは非線形最適化手順を使用して定義されることができる。

近似関数を構成した後に、この関数の極値は、最大化手順による測定空間で決定される。本発明の方法は、スカラー近似関数の各々の極値点を見つけることにより、カスケード結晶化法で使用されるいくつかのパラメータを選択的に決定し最適化し、その後、平衡点は、ナッシュまたはパレートによって決定される。すべての極値（または、少なくとも1つの選択された）は、安定ついて分析される。この目的のために、すべての物理的特性の付加的な測定が、容認される技術的パラメータを有する同じ液晶系から得られた膜に対して行なわれる。データベースに含まれるこれらの測定の結果が、近似関数の選択された最大の位置を変更しない場合、この最大は安定していると考えられる。しかし、選択された最大の位置が変更を示す場合、いくつかの連続する反復を行って、修正された近似関数を算出し、かつ正確な極値を決定することができる。一旦最適化手順が終了すれば、カスケード結晶化法によるTCFsの次の製造は、上述のように決定された技術的パラメータを使用して、適切な液晶系を加工処理することにより実行される。

所望の物理的性質を有するTCFsを得るために、TCFsのすべてのバッチのために再生された化合物の適切に選択された組成を有する液晶系を使用することが必要である。

コロイド系の市販バッチは、化合物の標準組成を有する。個々の特別の場合での最適な組成を有する系を得るために、ある比率で市販のコロイド系を混合することが必要である。標準混合物の質量または体積分率は、通常実験的に決定され、または、あるモデルに基づいて計算される。混合プロセスが追加であるという条件だけで、そのような計算は可能であり、それによって、成分間の化学的または他の相互作用はない。前述の適用で使用されるほとんどの液晶系は、混合での付加性を示す。

問題解決に対する当然の制限は以下のとおりである。
・初期の混合物の全ての成分は、標準系に含まれていなければならない。
・任意の成分のフラクションは、区間（0、1）内になければならない。
・すべての成分のフラクションの合計は、均一でなければならない。

本発明の方法によれば、我々は、アルゴリズムを開発しており、所望の組成を有する混合物を得るために、混合される標準添加系のフラクションを決定するための相当するソフトウェア・コードを書く。本発明の方法ステップおよび教示を前提として、ソフトウェアは、その方法を実行する当業者によって書くことができる。

M標準系がn成分を含んでおり、我々がある組成のn−成分混合物を求めている場合、一般的な方程式は、次の形で書くことができる。

（式中（a11、・・・、aml）は、第1の標準混合物などにおける相当する成分（x1、・・・、xn）のフラクションであり、（fl、・・・、fn）は、所望の（最適）混合物における相当する成分のフラクションであり、

は確率行列である。）

標準系の数が多いほど、所望の最終混合物の可能な品質は高い。また、様々な標準系中の成分のフラクションが、全区間（0、1）をカバーすることが必要である。

一次方程式の上記系の解法は、（‖x‖の最適化で）‖Ax−f‖の最小化によって得られる。

（実験）
以下に記載される実施例は、説明の目的のためだけに示され、何ら、本発明の範囲を限定することを意図しない。

実施例１
（TCFコントラストの最適化）
TCFの製造で利用される超分子材料は、水溶性の改質された有機ブルー（B）、バイオレット(V)およびレッド（R）染料を基本としており、それらは、インダンスロンのスルホン化の生成物およびペリレンテトラカルボン酸およびナフタレンテトラカルボン酸のジベンゾイミダゾール誘導体である。個々の染料は、それらの混合物と同様に、LLC材料の準備に使用することができる。ポリエチレンテレフタレート（PET）膜上に、LLC材料の直接の堆積によって、試験用のTCF偏光子のサンプルを製造した。

様々な成分（図2参照）を、容器1、2および3からミキサー容器4に送り、TCFの製造用の組成を準備した。この混合物を、特別のチャンネル経由で塗布装置に供給した。必要とされる偏光子膜の厚さに依存するワイヤーサイズで、マイヤー巻き線型ロッド5によって、前記塗料を塗布した。前記混合物を、ロール・ツー・ロール法を使用して、PET膜6上に堆積した。一定の液状塗料7〜1 5μm厚さは、水性溶媒の蒸発で、厚さ100〜900nmの偏光子を得るために提供される。

TCF偏光子の測定された光および色特性は、平行に設置され、偏光子および分析器（それぞれTparおよびTper）の偏光軸および偏光子の色座標に垂直なサンプルの光伝達である。次のパラメータが算出された。
（ｉ）非偏光光のための単一の偏光子の伝達

（ｉｉ）2つの平行な偏光子の伝達

（ｉｉｉ）2つの交差した偏光子の伝達

（ｉｖ）コントラスト比

最適化のためのTCFsの物理的性質は、コントラスト比（CR）であった。前記最適化パラメータは、改質された有機ブルー染料の成分の百分率含有量であった。この組成は、ジ−、トリ−およびテトラスルホ誘導体、トリスルホクロリド誘導体等（11成分まで）を含んでもよい。したがって、我々は、百分率B−染料組成の11-次元空間で、CR関数を最適化した。

初期のデータベースは、TCFsの物理的パラメータの400を越える測定の結果を含み、前記混合物の百分率組成は、膜ごとに異なる。前記最適化手順は、近似関数およびそのパラメータの選択、超平面を有する関数部分のための初期点および視覚化シンプレックスを基本とする。

与えられた場合では、最も適切な近似関数は、以下のとおりである。

この関数を、上述された実験データベースおよび本明細書に記載されるような方法ステップを行なうOptiva社によって開発されていたプログラムパッケージを使用して構成した。前記近似関数を視覚化し、この関数の極値を、超平面との交差のために決定した。前記部分のグラフ表示は、シンプレックス（3次元空間で表面を表わす）上の表面としてこれに続いた。このシンプレックスの座標は、ジ−、トリ−およびテトラスルホ誘導体の濃度であった。超平面を構成するための初期点を、最適化のために選択された物理的パラメータの最大実験値に相当する点の近傍で選択した。

図3は、10．7％のテトラ−スルホ誘導体、34．6％のトリ−スルホ誘導体および22．5％のジ−スルホ誘導体を含むB染料組成物に相当する点で、超平面を有する関数の結果として生じる部分を示す。

n次元空間の近似関数の極値を決定するための初期条件は、前述の三次元表面において、任意の点7（図3）によって表わされた。前記最適化手順は、初期の近似関数の極値に相当する最大8の点を生じた。提案されたアルゴリズムの次のステップは、前のステップで得られた最大点で、超平面による近似関数の新しい部分への経過にある。この部分（シンプレックス上で表面を表す）を、図4に示す。

このように決定された前記極値が安定する場合（つまり、初期条件に依存して）、最適化（最大化）手順を終了することができ、万一、極値が不安定ならば、付加的な繰り返しを行わなければならない。

この実施例において、コントラスト関数CRの極大値に相当する点8は、以下の座標（百分率B‐染料組成）を有する。テトラスルホ誘導体16．6％、トリスルホ誘導体39．1％、ジスルホ誘導体13．8％、他の成分30．5％。この組成でTCFのコントラスト比は、カスケード結晶化法によって得られ、CR=162であり、このパラメータは、すべての実験で安定して再生された。

本発明の1実施形態による方法工程を示すフローチャートを示す。 通常のカスケード結晶化法を示すブロック概略図を示す。 シンプレックスに投影された近似関数の実施例を挙げる。 シンプレックスに投影された近似関数の実施例を挙げる。

Claims (13)

1. 有機化合物の混合物からカスケード結晶化プロセスによって、所望の物理的特性を少なくとも1つ有する結晶薄膜を製造する方法であって、
   （a）有機化合物の混合物からカスケード結晶化プロセスによっていくらかの結晶薄膜を製造するステップであって、該混合物中の有機化合物は前記全ての膜で同じであり、前記混合物の百分率組成は製造された膜ごとに異なり、
   （b）製造された各々の膜の前記少なくとも1つの物理的特性を測定するステップと、
   （c）前記有機化合物の混合物の百分率組成に依存して、前記物理的特性の近似関数の形で、前記少なくとも1つの物理的特性の表示を選択するステップと、
   （d）前記近似関数の複数の極値を決定するステップと、
   （e）決定された複数の極値の安定性をテストし、該極値のうちの1つの極値および前記混合物の対応する組成を選択するステップと、
   （f）前記所望の物理的特性を有する結晶薄膜を製造するステップとを含み、
   前記選択された極値に対応する組成は、前記物理的特性を有する膜を製造するための有機化合物の混合物に使用される、前記結晶薄膜を製造する方法。
2. 前記膜製造のステップの前に、前記ステップ（a）〜（e）を複数回繰り返す、請求項1に記載の方法。
3. 前記カスケード結晶化プロセスは、リオトロピック液晶の膜への塗布、前記リオトロピック液晶膜に対する外部配向動作、および溶媒の除去の技術工程を含み、
   前記技術工程の各々は、少なくとも1つの特性パラメータを有する、請求項1に記載の方法。
4. 前記技術工程の特性パラメータの少なくとも1つは、製造された膜ごとに異なり、有機化合物の混合物の百分率および技術工程のパラメータに依存して、物理的特性の少なくとも1つの近似関数の形で表示される、請求項3に記載の方法。
5. 前記技術工程の特性パラメータは、リオトロピック液晶の化学組成、その濃度、温度、粘性、前記リオトロピック液晶の塗布速度、外部配向動作の強度と方向、および溶媒の除去速度からなる群から選択される、請求項4に記載の方法。
6. リオトロピック液晶は、前記有機化合物の分子から構成される棒状超分子によって形成される、請求項3に記載の方法。
7. 主な光軸のうちの1つの方向における前記棒状超分子の分子間の間隔は、3．4±0．3Åである、請求項6に記載の方法。
8. 前記有機化合物の少なくとも1つは、共役π結合を有する多環式有機化合物である、請求項1に記載の方法。
9. 前記多環式有機化合物は複素環を含む、請求項8に記載の方法。
10. 前記近似関数は、多項式補間または放射基底関数を含む、請求項1に記載の方法。
11. 少なくとも1つの所望の物理的特性の結晶薄膜を製造する方法であって、
    前記結晶薄膜は、有機化合物の混合物からカスケード結晶化プロセスによって製造され、
    前記カスケード結晶化プロセスは、リオトロピック液晶の膜への塗布、前記リオトロピック液晶膜に対する外部配向動作および溶媒の削除の技術工程を含み、
    技術工程の各々は、少なくとも1つのパラメータを有し、
    前記方法は、
    （a）前記カスケード結晶化プロセスによっていくつかの結晶薄膜を製造するステップであって、前記有機化合物の混合物は製造された全ての膜で同じであり、前記技術工程のパラメータは製造された膜ごとに異なり、
    （b）前記膜の各々の物理的特性を測定するステップと、
    （c）前記技術工程のパラメータに依存して、前記物理的特性の近似関数の形で、前記物理的特性の表示を選択するステップと、
    （d）前記近似関数の複数の極値を決定するステップと、
    （e）決定された複数の極値の安定性をテストし、該極値のうちの1つの極値を選択するステップと、
    （f）前記物理的特性のための選択された極値に対応する技術工程の選択されたパラメータを使用して、所望の物理的特性の結晶薄膜を製造するステップとを含む、前記結晶薄膜を製造する方法。
12. 1つまたは複数の所望の物理的特性を有する結晶薄膜を製造するための特定パラメータを有する有機化合物の混合物を選択する方法であって、
    （a）前記カスケード結晶化プロセスによっていくらかの結晶薄膜を製造するステップであって、前記有機化合物の混合物は製造された全ての膜で同じであり、前記パラメータは製造された膜ごとに異なり、
    （b）前記膜の各々の物理的特性を測定するステップと、
    （c）前記パラメータに依存して、前記物理的特性の近似関数の形で、前記物理的特性の表示を選択するステップと、
    （d）前記近似関数の複数の極値を決定するステップと、
    （e）決定された複数の極値の安定性をテストするステップと、
    （f）該極値の1つの極値を選択するステップを含み、選択された極値は所望の物理的特性の結晶薄膜を製造する特定パラメータに対応する、前記選択する方法。
13. コンピューター上で実行された時に下記命令を行なうソフトウェア・プログラムを含むコンピューター読取り可能な媒体であって、
    前記命令が、
    カスケード結晶化プロセスによって製造されたいくらかの結晶薄膜の少なくとも1つの物理的特性を測定することであって、前記カスケード結晶化プロセスのパラメータが技術工程に関連し、
    前記技術工程のパラメータに依存して、前記物理的特性の近似関数の形で、前記物理的特性の表示を選択すること、
    前記近似関数の複数の極値を決定すること、
    決定された複数の極値の安定性をテストすること、および
    前記結晶薄膜の製造で使用される前記複数の極値のうちの1つの極値を選択することである、前記媒体。

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