JP2006522474A - 分離層を備える半導体デバイス - Google Patents

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Abstract

本発明は、半導体本体(1)内に配置された半導体デバイスであって、それぞれ第1導電型である少なくとも1つのソース領域(4)および少なくとも1つのドレイン領域(5)と、ソース領域(4)とドレイン領域(5)との間に配置された第2の導電型の少なくとも1つの本体領域(8)と、分離層(9)によって半導体本体(1)に対して分離されている少なくとも1つのゲート電極(10)とを備えるデバイスに関する。前記分離層(9)は、それぞれナノ粒子の分離したコアおよび分極可能な陰イオンまたは分極可能な陽イオンのシースからなる分極可能な粒子を含む。分離層(9)は、高い誘電率εを示す。

Description

本発明は、半導体本体中に配置された半導体デバイスであって、それぞれ第1の導電型である少なくとも1つのソース領域および少なくとも1つのドレイン領域と、ソース領域とドレイン領域との間に配置された第2の導電型の少なくとも1つの本体領域と、分離層によって半導体本体に対して分離されている少なくとも1つのゲート電極とを備える半導体デバイスに関する。
トランジスタ機能をもつデバイスは、多くの実施形態において知られている。これらの実施形態の1つは、電界効果トランジスタ(FET)と呼ばれている種類のトランジスタである。電界効果トランジスタの場合、制御電極(ゲート電極)に電圧を加えることによってソース領域およびドレイン領域に接触する電気的チャネル内の荷電担体密度を変化させる。この制御電極は、ブロックpn接合(ジャンクションFET)により、あるいは分離層(一般的にはSiOまたは金属酸化物)により(MOSFET)チャネルから分離することができる。MOSFETの場合、導電チャネルは、負のゲート電圧を増大させていくときゲート電極下に生じる誘導によって生成される。
電子デバイスの開発は、特に小型化の傾向によって特徴付けられる。電界効果トランジスタの小型化に関しては、分離層(ゲート酸化物)の層厚もそれに比例して縮小されている。しかし、層厚さがあまり薄いと、リーク電流が急激に増大し、そのためデバイスの機能に悪い影響を及ぼす。しかし、現在、通常、分離層に使用される材料の分極率は、十分に大きくはないので厚い分離層を使用することができない。
したがって、本発明の目的は、分極率が大きな材料を含む分離層を持つ改良された半導体デバイスを提供することにある。
この目的は、半導体本体内に配置された電子デバイスであって、それぞれ第1の導電型である少なくとも1つのソース領域および少なくとも1つのドレイン領域と、ソース領域とドレイン領域との間に配置された第2の導電型の少なくとも1つの本体領域と、分離層によって半導体本体に対して分離されている少なくとも1つのゲート電極とを備え、前記分離層は、それぞれナノ粒子コアを有しコアの表面が分極可能なイオンで改変された分極可能な粒子を含むデバイスによって達成される。
分極可能なイオンでナノ粒子表面を改変すると、全体的に前記ナノ粒子の分極率が大きくなる。この分極可能な粒子の分離層は、より高い誘電率を示す。分離層のこのより高い誘電率によって、半導体デバイス、特に電界効果トランジスタは、半導体デバイスの小型化の場合に、全体的に分離層の層厚が少しも縮小できないか、または半導体デバイスの全体の小型化に比べてわずかしか縮小できないが、本体領域との境界に誘起される電荷密度を低減させずに作製することができる。これらの半導体デバイスは、低いゲート電圧で動作させることできる。
請求項2に記載の有利に選択されるイオンは、容易に変形可能な拡散電子シースを有する、大きく、大部分が多価の陰イオンである。
請求項3に記載の有利に選択されるイオンは、容易に変形可能な拡散電子シースを有する陽イオンである。
請求項4および5に記載の有利に選択された材料は、部分的に高い誘電率ε>20を持つ分離材料である。
本発明の上記その他の特徴は、以下に説明する実施形態を参照すると明らかであり、また明らかになるであろう。
図1は、MOSFETの構造を概略図で示す。たとえば、シリコン、GaAs、SiC、GaN、またはInPの半導体本体1は、第1面2(スライスの表面側)と第2面3(スライスの裏面側)を備える。第1面2内には、高濃度にドープされたn層ソース領域4と、それから離れて高濃度にドープされたn層ドレイン領域5が配置されている。したがって、本実施形態のMOSFETでは、第1導電型がn型であり、第2導電型がp型であり、nチャンネルMOSFETが得られる。基本的にnおよびpドープは逆にすることが可能であり、その場合はpチャネルMOSFETが得られる。p導電性領域のためのドープ原子として、たとえばホウ素が使用され、n導電性領域のためのドープ原子として、たとえばリン、ヒ素、またはアンチモンが使用される。ソース領域4は、ソースメタライゼーション6(ソース電極)を介して導電的に接触され、ドレイン領域5は、ドレインメタライゼーション7(ドレイン電極)を介して導電的に接触される。ソース領域4とドレイン領域5との間には、p導電性本体領域8が配置されている。本体領域8の一部分が第1面2に達する領域に、分離層9によって半導体本体1と分離されたゲート電極10(制御電極)が配置されている。ゲート接続G、ソース接続S、およびドレイン接続Dにそれぞれ接続された、ゲート電極10、ソース電極6およびドレイン電極7が、第1面2と離れて配置され、パッシベーション層たとえばフィールド酸化膜(図1に図示せず)によって外部と分離されている。ゲート電極10、ソース電極6およびドレイン電極7は、たとえば、以下の材料を含むことができる。すなわちAl、Au−Sb、Ni−Ge、Au−Ni−Ge、Ni−Ag−Ge、Ni−Pd−Ge、Ni−Pt−Ge、Ni−In−Ge、Ti、Al−Ti、Al−Ti−Al、Ni、Ti−Au、またはPd−Auである。個々の場合に、材料の選択は、取分け、使用される半導体材料およびそのドープ型に依存する。
電圧を印加しないか、負の電圧をゲート電極10に印加する場合、この構成では、どちらの極性に対しても2つのpn接合の1つが常に逆バイアスされるので、ソース領域4からドレイン領域5への電流の流れがブロックされる。正の電圧をゲート電極10に印加する場合、誘導により、負電荷の担体が分離層9との境界の本体領域8内に蓄積されるようになり、薄いn導電性チャネルが形成される。この層は、また導電型がpからnに変わるので反転層とも呼ばれる。その結果、ソース領域4とドレイン領域5の間の電流の流れが可能になる。
分離層は、それぞれがナノ粒子コアを含み、コアの表面が分極可能なイオンで改変された分極可能な粒子を含む。前記ナノ粒子コアは、好ましくは分離した金属酸化物を含む。前記ナノ粒子コアは、たとえばHfO、ZrO、Ta、およびBaTiOからなる群から選択された材料を含む。特に、このナノ粒子コアは、高い誘電率εを有するのでZrO、HfOを含むことが好ましい。
ナノ粒子コアの粒径は、好ましくは250nm以下である。特に、粒径が、100nm以下であることが好ましい。分離層9は、ほぼ等しい粒径のナノ粒子コアを含むことができる。あるいは、分離層9は、全く異なる粒径のナノ粒子コアを含むこともできる。後者の場合、分離層9内で高い充填密度が達成され、分離特性の良い分離層9が得られる。
分極可能イオンは、陰イオンまたは陽イオンでよい。
分極可能な陰イオンは、容易に変形可能な拡散電子シースを有する、大きく、大部分が多価の陰イオンである。特に、高い電荷密度を有する陰イオンが適している。この分極可能な陰イオンは、好ましくは、NO 、SO 2−、ClO 、I、SCN、S 2−、BrO 、ClO 、P 2−、Si 2−、SiO 、およびBO からなる群から選択される。特に、この分極可能な陰イオンは、たとえばP 2−、Si 2−、SiO 、BO など多価の酸化物クラスターであることが好ましい。
分極可能な陽イオンは、たとえば、(C)Cまたは(CHである。特に、芳香族置換基を有する陽イオンが適している。この陽イオンは、ナノ粒子の表面にあるイオンを介してナノ粒子と配位結合する。
図2は、ナノ粒子コアの表面に分極可能なチオ硫酸陰イオンを有するZrOのナノ粒子コアからなる分極可能な粒子を概略図で示す。
ナノ粒子コアを含みその表面に陰イオンを含む分極可能な粒子を有する分離層9は、Li、Na、K、またはHなどの小さく、硬い陽イオンをさらに含むことができる。これらの小さな陽イオンは、陰イオンの拡散電子シースの非常に強い変形をもたらす。
分極可能な粒子を作製するために、まずナノ粒子の金属酸化物を含むコアが作製される。量子ドットと呼ばれるナノ粒子複合半導体の作製に使用される合成方法を用いて、前記ナノ粒子コアを作製することができる。次いで、ヘキサデシルアミン(HAD)、トリオクチルホスフィンオキサイド(TOPO)トリオクチルホスフィン(TOP)などの配位溶媒中で、たとえば有機金属前駆体の熱分解によって高温で、ナノ粒子の金属酸化物を含むコアを作製することができる。ナノ粒子コアの粒径は配位溶媒によって制御される。
あるいは、ナノ粒子コアは、ゾルゲル法やミクロエマルジョン法など他の方法で作製することもできる。適切な合成方法の選択は、ナノ粒子コアの材料によって決まる。
続いて、安定化リガンドを、たとえば分極可能な陰イオンで置き換える。この目的のために、ナノ粒子コアを、それを溶解しない溶媒中に導入する。次いで、析出したナノ粒子コアを、それを溶解する溶媒中、たとえば水、アルコールまたは水とアルコールとの混合液中に導入する。しかし、前記溶媒は、高濃度に分極可能な陰イオンをも含む。ナノ粒子コアと分極可能な陰イオンとの間の高い親和力によって、安定化リガンドが、分極可能な陰イオンで置き換えられる。分極可能な粒子を含む懸濁液が、得られる。
あるいは、分極可能な陰イオンの存在下で金属酸化物を含むナノ粒子コアを直接合成することによって、分極可能な粒子を作製することもできる。たとえば、Ba などの適切な金属の付加またはpH値の設定、あるいはその両方により、分極可能な粒子を溶液から析出させることができる。
表面に陽イオンを有する分極可能な粒子を作製するために、(CCClや(CHCClなど適切な前駆体が、酸、たとえばBFなどのルイス酸を使用することによって対応する陽イオンに変換される。次いで、これらの陽イオンが、ナノ粒子の表面において配位結合する。金属酸化物を含むコアの場合、たとえば、コアの表面に在る酸素原子を介して配位結合が起こる。
分離層9を作製するためには、分極可能な粒子を有する懸濁液を、遠心処理または電気泳動被着によって、本体領域8の適切な領域に塗布する。続いて、たとえばMNO、MCOまたはMHCO(但しM=Li、Na、またはKである)を含む希釈した酸また塩の溶液を加えることにより、分離層9内に、小さな硬い陽イオンを導入することができる。乾燥後、緻密な分離層9が得られる。
本発明に従って半導体デバイスを作製するために、まず、ホウ素ドープしたシリコンの半導体本体1内へのリンのイオン注入によって、n導電性ソース領域4およびn導電性ドレイン領域5を形成する。続いて、リソグラフィ法によって、0.5重量%のCuをドープしたAlのソース電極6およびドレイン電極7を設ける。分離層9を、電気泳動被着および乾燥によって2つの電極4,5の間に設ける。分離層9は、ほぼ100nmの粒径を有しかつ表面にBO の陰イオンを有するZrOを含むナノ粒子コアの分極可能な粒子を含む。次に、分離層9上にA1のゲート電極10を設ける。
慣用の半導体デバイスと比べて、この分離層9は、より厚い層厚を有するように実施することができ、したがって、本発明による半導体デバイスはより低いリーク電流を示す。慣用の半導体デバイスに使用されている層厚と同じ層厚を使用した場合、本発明による半導体デバイスは、より低いゲート電圧で動作することができる。
MOS電界効果トランジスタの構造の断面図である。 ナノ粒子コアとその表面における分極可能な陰イオンを有する、本発明による分極可能な粒子を示す概略図である。

Claims (5)

  1. 半導体本体内に配置された半導体デバイスであって、
    それぞれ第1導電型である少なくとも1つのソース領域および少なくとも1つのドレイン領域と、
    ソース領域とドレイン領域との間に配置された第2の導電型の少なくとも1つの本体領域と、
    分離層によって半導体本体に対して分離されている少なくとも1つのゲート電極とを備え、
    前記分離層が、それぞれナノ粒子コアを有しコアの表面が分離可能なイオンで改変された分極可能な粒子を含んでいるデバイス。
  2. 前記分極可能なイオンが、NO 、SO 2−、ClO 、I、SCN、S 2−、BrO 、ClO 、P 2−、Si 2−、SiO 、およびBO からなる群から選択されることを特徴とする、請求項1に記載の半導体デバイス。
  3. 前記分極可能なイオンが、(Cおよび(CHからなる群から選択されることを特徴とする、請求項1に記載の半導体デバイス。
  4. 前記ナノ粒子コアが、金属酸化物を含むことを特徴とする、請求項1に記載の半導体デバイス。
  5. 前記ナノ粒子コアが、HfO、ZrO、Ta、およびBaTiOからなる群から選択された材料を含むことを特徴とする、請求項4に記載の半導体デバイス。
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