JP2006329714A - レンズ検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 ピント検査及び傷や異物の欠陥が存在するか否かを安価かつ効果的に検出する。
【解決手段】 レンズ検査装置は、レンズ搬送機構で被検レンズWをレンズ搬送トレイ16から搬出し、レンズ姿勢観察カメラ17で姿勢を確認した後に、第1調整ステージ22に受け渡す。第1調整ステージ22はX方向に移動可能になっており、その上方には異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29、並びに照明装置が配設されている。これらチャート27,29を用いて検査を行い、不良と判定された場合には不良レンズ回収トレイ18に回収する。
【選択図】 図1
【解決手段】 レンズ検査装置は、レンズ搬送機構で被検レンズWをレンズ搬送トレイ16から搬出し、レンズ姿勢観察カメラ17で姿勢を確認した後に、第1調整ステージ22に受け渡す。第1調整ステージ22はX方向に移動可能になっており、その上方には異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29、並びに照明装置が配設されている。これらチャート27,29を用いて検査を行い、不良と判定された場合には不良レンズ回収トレイ18に回収する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、レンズの検査を行うレンズ検査装置に関する。
カメラに用いられる撮影レンズやファインダーレンズ等の光学部品では、その表面に傷が付いていたり、その製造工程においてレンズ内部に気泡が入ってしまっていたりすると光学性能が落ちてしまう。また、光学部品に塵埃や汚れ等の異物が付着等していると、その光学性能を著しく低下させることになる。このため、傷や異物の存在を確実に検出し、そのような光学部品を製造段階で除去することが必要である。
ここで、レンズを検査する装置としては、投光機を用いたレンズ検査装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に開示されているようなレンズ検査装置の概要について、図8を参照して説明する。洗浄・ブロー処理が完了した被検レンズ104は、パレット102の上に乗せて搬送される。パレット102に被検レンズ104が乗せられた状態で、図示しない装置本体に固定された投光機103内に備えられているLED(発光ダイオード)101より被検レンズ104を照明し、被検レンズ104を通過した光を撮像装置100で撮影し、撮影した画像を図示しないパーソナルコンピュータで画像処理する。判定の結果、異物の付着が認められないと判断された被検レンズ104は、ピント検査等の別装置に搬送される。
特開2002−90258号公報
しかしながら、図8に示すようなレンズ検査装置では、パレット102の貫通孔に被検レンズ104を供給する際、被検レンズ104が貫通孔の周縁部に少しでも乗り上げたり、置き位置がずれたりした場合に、LED101からの照明光が撮像装置100に正しく入射しなくなるので、異物及び傷の確認が難くなり、被検レンズの検査を精度良く実施することができなかった。
また、ピント調整を行う前に異物及び傷の検査を行うため、画質を左右する上で重要な被検レンズ104の結像位置での評価を正確に行うことが困難であった。
また、ピント調整を行う前に異物及び傷の検査を行うため、画質を左右する上で重要な被検レンズ104の結像位置での評価を正確に行うことが困難であった。
さらに、異物及び傷検査を行った後、別のピント検査装置によりピントを検査するため、装置2台分の費用及び設置スペースが必要であった。さらに、ピント検査装置で検査するためには、被検レンズ104をピント検査装置用の別のパレットに載せ換える作業や、段取り替えが必要であり、工数が増大する原因となっていた。
そして、搬送ライン上を水平方向に移動するパレット102に乗せた状態で測定をするので、被検レンズ104の姿勢が固定されてしまい、被検レンズ104内の全域に対して異物や、傷の検査を行うことができなかった。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、ピント検査及び傷や異物の欠陥が存在するか否かを安価かつ効果的に検出することを主な目的とする。
そして、搬送ライン上を水平方向に移動するパレット102に乗せた状態で測定をするので、被検レンズ104の姿勢が固定されてしまい、被検レンズ104内の全域に対して異物や、傷の検査を行うことができなかった。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、ピント検査及び傷や異物の欠陥が存在するか否かを安価かつ効果的に検出することを主な目的とする。
上記の課題を解決する本発明の請求項1に係る発明は、被検レンズを吸着保持するレンズ保持手段と、前記レンズ保持手段に保持した前記被検レンズの姿勢を矯正する姿勢制御手段と、姿勢矯正後の前記被検レンズを通して得られる像を撮像する画像処理手段と、前記画像処理手段と協働することで前記被検レンズのピント位置を検出するピント位置検出手段と、前記画像処理手段と協働することで前記被検レンズの異物や傷を検出する異物及び傷検出手段とを有することを特徴とするレンズ検査装置とした。
このレンズ検査装置では、レンズ保持手段に被検レンズを保持させた状態で、姿勢制御手段を用いて、被検レンズを検査に適した姿勢に矯正する。姿勢矯正後には、ピント位置検出手段を使用し、被検レンズを通して得られる像を画像処理手段で取得する。例えば、像のコントラストを演算し、コントラスト値が最大になる位置をピント結合位置と認識する。また、異物及び傷検出手段を使用し、被検レンズを通して得られる像を画像処理手段で取得する。例えば、像の光強度分布の差が設定した閾値以上になったときには、異物又は傷が存在するものとみなす。
このレンズ検査装置では、レンズ保持手段に被検レンズを保持させた状態で、姿勢制御手段を用いて、被検レンズを検査に適した姿勢に矯正する。姿勢矯正後には、ピント位置検出手段を使用し、被検レンズを通して得られる像を画像処理手段で取得する。例えば、像のコントラストを演算し、コントラスト値が最大になる位置をピント結合位置と認識する。また、異物及び傷検出手段を使用し、被検レンズを通して得られる像を画像処理手段で取得する。例えば、像の光強度分布の差が設定した閾値以上になったときには、異物又は傷が存在するものとみなす。
請求項2に係る発明は、請求項1に記載のレンズ検査装置において、一軸方向に移動自在な検査用搬送ステージを有し、前記検査用搬送ステージの移動自在なスライド部上に、前記被検レンズを保持する調整ステージと、前記画像処理手段とが設けられており、前記調整ステージは、前記画像処理手段と前記被検レンズとの間の光軸方向の距離を調整可能に構成されていることを特徴とする。
このレンズ検査装置では、ピント位置検出手段や、異物及び傷検出手段を用いて検査を行う際に、調整ステージで画像処理手段と被検レンズとの距離を変化させる。ピント位置検査では、調整ステージで被検レンズを光軸に沿って移動させることでコントラスト値が最大になる位置を探し出す。また、異物や傷の検査では、例えば、前ピント位置、後ピント位置及びジャストピント位置でそれぞれ画像処理手段で得られた光強度分布の差を演算し、この差が設定した閾値以上になったときに、異物又は傷とみなす。
このレンズ検査装置では、ピント位置検出手段や、異物及び傷検出手段を用いて検査を行う際に、調整ステージで画像処理手段と被検レンズとの距離を変化させる。ピント位置検査では、調整ステージで被検レンズを光軸に沿って移動させることでコントラスト値が最大になる位置を探し出す。また、異物や傷の検査では、例えば、前ピント位置、後ピント位置及びジャストピント位置でそれぞれ画像処理手段で得られた光強度分布の差を演算し、この差が設定した閾値以上になったときに、異物又は傷とみなす。
請求項3に係る発明は、請求項2に記載のレンズ検査装置において、前記検査用搬送ステージは、前記調整ステージが前記姿勢制御手段に並んで配置される受け渡し位置から、前記ピント位置検出手段及び前記異物及び傷検出手段のそれぞれと前記被検レンズの光軸とが一致するそれぞれの検査位置まで順番に前記調整ステージを移動可能に配置されていることを特徴とする。
このレンズ検査装置では、姿勢矯正後の被検レンズを速やかに受け取り、ピント位置検出手段による検査と、異物及び傷検出手段による検査とを順番に行う。
このレンズ検査装置では、姿勢矯正後の被検レンズを速やかに受け取り、ピント位置検出手段による検査と、異物及び傷検出手段による検査とを順番に行う。
請求項4に係る発明は、請求項2に記載のレンズ検査装置において、前記検査用搬送ステージは、並列に複数敷設されており、前記ピント位置検出手段及び前記異物及び傷検出手段は、前記調整ステージの移動方向と直交する方向に移動可能に構成されていることを特徴とする。
このレンズ検査装置では、並列に配置された検査用搬送ステージの各々でピント位置検出手段による検査と、異物及び傷検出手段による検査とが行われる。例えば、1つ目の検査用搬送ステージ上の被検レンズがピント位置検出手段による検査を行っているときには、2つ目の検査用搬送ステージ上の他の被検レンズに対して異物及び傷検出手段による検査を行うことができる。
このレンズ検査装置では、並列に配置された検査用搬送ステージの各々でピント位置検出手段による検査と、異物及び傷検出手段による検査とが行われる。例えば、1つ目の検査用搬送ステージ上の被検レンズがピント位置検出手段による検査を行っているときには、2つ目の検査用搬送ステージ上の他の被検レンズに対して異物及び傷検出手段による検査を行うことができる。
請求項5に係る発明は、請求項3又は請求項4に記載のレンズ検査装置において、前記姿勢制御手段は、前記被検レンズの姿勢を観察するための撮像手段を有し、前記撮像手段は、前記被検レンズを配列するトレイと並んで配置されており、前記撮像手段及び前記トレイの配列方向と、前記検査用搬送ステージの前記ステージ部の移動方向とは直交することを特徴とする。
このレンズ検査装置では、被検レンズをトレイから取り出して姿勢矯正を行った後に、第1の検査用搬送ステージ上の調整ステージに被検レンズを受け渡す。第1の検査用搬送ステージ上の調整ステージが検査位置に移動している間に、他の被検レンズを第2の検査用搬送ステージ上の調整ステージに被検レンズを受け渡す。トレイから調整ステージまでの被検レンズの移動経路と、検査時の移動経路とが直交するので、2つの移動経路が干渉し難い。
このレンズ検査装置では、被検レンズをトレイから取り出して姿勢矯正を行った後に、第1の検査用搬送ステージ上の調整ステージに被検レンズを受け渡す。第1の検査用搬送ステージ上の調整ステージが検査位置に移動している間に、他の被検レンズを第2の検査用搬送ステージ上の調整ステージに被検レンズを受け渡す。トレイから調整ステージまでの被検レンズの移動経路と、検査時の移動経路とが直交するので、2つの移動経路が干渉し難い。
本発明によれば、姿勢制御手段を用いることで、検査を実施する前に被検レンズの姿勢を設計上の測定位置に矯正することが可能になるので、被検レンズの検査を行う際に、被検レンズの位置ずれを防止できる。したがって、ピント位置の検出や、異物や傷の有無の検査などを精度良く行うことが可能になる。
また、ピント位置を検出した後に異物や傷の検査を行うことが可能になるので、画質評価を行う上で一番重要なピント結合位置での異物及び傷の評価ができる。
ピント検査、異物及び傷検査を1台の装置で行うことが可能になるので、2台の装置を別々に設置する場合に比べて設置スペースが約1/2になる。また、従来の異物及び傷を検査する装置と、ピント位置を検査する装置とで共用される構成要素は、1台分に削減できる。さらに、従来のように、異物及び傷を検査する装置からピント位置を検査する装置で検査するために被検レンズを移載したり、段取り替えをしたりする作業が不要になり、作業工数を削減することができる。
なお、被検レンズと画像処理手段との間の光軸方向の距離を調整可能に構成した場合には、被検レンズを軸線方向に分割して評価することが可能になるので、被検レンズ内全ての領域に対して異物及び傷の有無を検査することが可能になる。したがって、被検レンズの光学性能の評価をさらに高精度に実施することが可能になる。
また、ピント位置を検出した後に異物や傷の検査を行うことが可能になるので、画質評価を行う上で一番重要なピント結合位置での異物及び傷の評価ができる。
ピント検査、異物及び傷検査を1台の装置で行うことが可能になるので、2台の装置を別々に設置する場合に比べて設置スペースが約1/2になる。また、従来の異物及び傷を検査する装置と、ピント位置を検査する装置とで共用される構成要素は、1台分に削減できる。さらに、従来のように、異物及び傷を検査する装置からピント位置を検査する装置で検査するために被検レンズを移載したり、段取り替えをしたりする作業が不要になり、作業工数を削減することができる。
なお、被検レンズと画像処理手段との間の光軸方向の距離を調整可能に構成した場合には、被検レンズを軸線方向に分割して評価することが可能になるので、被検レンズ内全ての領域に対して異物及び傷の有無を検査することが可能になる。したがって、被検レンズの光学性能の評価をさらに高精度に実施することが可能になる。
本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお、図1はレンズ検査装置の全体の概略を示す平面図であり、図2は側面図である。図3及び図4は検出用チャートを示し、図5は調整ステージの構成を示す。
図1に示すように、レンズ検査装置1は、装置本体2上にレンズ搬送機構3が設置されている。レンズ搬送機構3は、装置本体2にビス固定されたレンズ搬送Y方向ステージ10を有している。レンズ搬送Y方向ステージ10は、水平方向であるY方向に敷設されたレール部10Aと、レール部10A上を移動自在なスライド部10Bを有し、スライド部10B上にはレンズ搬送X方向ステージ11がビス固定されている。レンズ搬送X方向ステージ11は、Y方向に直交する水平方向であるX方向に延びるレール部11Aと、レール部11A上を移動自在なスライド部11Bとを有し、スライド部11B上にはレンズ搬送Z方向ステージ12がビス固定されている。レンズ搬送Z方向ステージ12は、XY方向に垂直な高さ方向(Z方向)に延びるレール部12Aと、レール部12Aに対して移動自在なスライド部12Bとを有し、このスライド部12Bにレンズ搬送θ方向ステージ13がビス固定されている。レンズ搬送θ方向ステージ13は、Z軸回りのθ方向に回転可能に構成されると共に、その下端部には被検レンズWを吸着保持するレンズ保持手段である保持部14が設けられている。なお、保持部14は、不図示の吸引装置に接続されている。
レンズ搬送機構3の移動範囲内には、レンズ搬送トレイ16と、レンズ姿勢観察カメラ17と、不良レンズ回収トレイ18とがY方向に沿って、この順番に配置されている。
レンズ搬送トレイ16と、不良レンズ回収トレイ18とは、同じ形状を有している。具体的には、被検レンズWの凸形状が収まるように凹形状の窪みが形成されており、横4行縦3列に被検レンズWを乗せることができる。なお、レンズ搬送トレイ16及び不良レンズ回収トレイ18は、不図示のロボットによって搬入、搬出されるようにしても良いし、作業者が手動で被検レンズWをセットするようにしても良い。
レンズ姿勢観察カメラ17は、上向きに撮像面が設定されており、その上端部には環状の光源19が取り付けられている。
レンズ搬送トレイ16と、不良レンズ回収トレイ18とは、同じ形状を有している。具体的には、被検レンズWの凸形状が収まるように凹形状の窪みが形成されており、横4行縦3列に被検レンズWを乗せることができる。なお、レンズ搬送トレイ16及び不良レンズ回収トレイ18は、不図示のロボットによって搬入、搬出されるようにしても良いし、作業者が手動で被検レンズWをセットするようにしても良い。
レンズ姿勢観察カメラ17は、上向きに撮像面が設定されており、その上端部には環状の光源19が取り付けられている。
さらに、装置本体2には、レンズ姿勢観察カメラ17とX方向で並ぶように、第1の検査用搬送ステージ20が配設されている。さらに、第1の検査用搬送ステージ20よりも不良レンズ回収トレイ18側には、第2の検査用搬送ステージ21が第1の検査用搬送ステージ20と平行に配設されている。これら検査用搬送ステージ20,21は、その少なくもと一部がレンズ搬送機構3の移動範囲内に配置されている。なお、検査用搬送ステージ20,21の数は、1つでも良いし、3つ以上でも良い。
第1の検査用搬送ステージ20は、装置本体2にビス固定されるガイド部20AがX方向に平行に延び、ガイド部20A上にはスライド部20BがX方向に移動自在に設けられている。スライド部20B上には、第1調整ステージ22が固定されている。同様に、第2検査用搬送ステージ21は、X方向に平行に延びるガイド部21Aと、ガイド部21A上を移動自在なスライド部21Bとを有し、スライド部21B上には第2調整ステージ23が固定されている。
さらに、第1、第2の検査用搬送ステージ20,21の上方には、レンズ搬送機構3側から、チャート搬送ステージ24と、チャート搬送ステージ25とが、Y方向に平行に配設されている。チャート搬送ステージ24は、装置本体2に固定されたレール部24Aと、レール部24Aに吊り下げられた状態でY方向に移動自在なスライド部24Bとを有し、スライド部24Bには照明装置26と、異物及び傷検出用チャート27とが上から順番に取り付けられている。また、チャート搬送ステージ25は、装置本体2に固定されたレール部25Aと、レール部25Aに吊り下げられた状態でY方向に移動自在なスライド部25Bとを有し、スライド部25Bには照明装置28と、ピント検出用チャート29とが上から順番に取り付けられている。図3に例示するように、異物及び傷検出用チャート27は、無地であり、乳白色になっている。また、図4に示すように、ピント検出用チャート29は、縦方向及び横方向にピッチの異なる模様から構成されている。
次に、第1調整ステージ22の構成の詳細について、図2、図5から図7を参照して説明する。なお、第1調整ステージ22と第2調整ステージ23とは、同じ構成であるので、以下には第1調整ステージ22のみについて説明する。
図2に示すように、第1調整ステージ22は、スライド部20Bの上部にネジ固定されるベース板30を有し、ベース板30の上にはX方向に移動可能な調整X方向ステージ31が図示しないビスにより固定されている。図5に示すように、調整X方向ステージ31上には、調整X方向ステージ31に対して、Y方向に移動自在な調整Y方向ステージ32が、図示しないビスで固定されている。さらに、調整Y方向ステージ32には、Z方向に移動自在な調整Z方向ステージ33が図示しないビスで固定されている。調整Z方向ステージ33においてZ方向に移動自在なスライド部33Aからは、一対のチャック34がY方向に平行に延びている。これらチャック34は、X方向に平行移動可能に支持されている。各チャック34の対向する内側面には、テーパ34Aが上向きに開くように形成されている。テーパ34Aは、ピント位置の検査などを行う際に、被検レンズWの検査対象領域を通る光束を妨げないような角度に設定されている。なお、これらチャック34は、スライド部33Aに内蔵されたエアーアクチュエータに連結されており、チャック34同士をX方向に近接又は離隔させることが可能になっている。
また、ベース板30上には、被検レンズWをレンズ搬送トレイ16から第1調整ステージ22に引き渡す際に一次的に載置する仮受け台35が、図示しないビスで固定されている。図2に示すように、仮受け台35の上部は、凹部36が形成されている。凹部36の形状は、被検レンズWの凸形状が収まるように窪んでいる。凹部36の形状は、被検レンズWを位置決めして載置することができる形状であれば良く、図2に示す形状に限定されない。凹部36の中心部は、空洞部37に連結されており、この空洞部37は図示しない真空ポンプに接続されている。なお、仮受け台35の上面の高さは、両トレイ16,18の上面の高さに略等しく、レンズ姿勢観察カメラ17上部の光源19の上面よりも高い位置になっている。
さらに、ベース板30の上面には、画像処理手段であるCCD(Charge Coupled Devices)38が、調整X方向ステージ31と、調整Y方向ステージ32及び調整Z方向ステージ33の可動範囲内に配置されている。CCD38は、ベース板30に装着される4本の固定ピン39によって交換可能に、かつ位置決めして固定されている。CCD38は、常に同じものを使用しても良いし、被検レンズWに合わせて交換しても良い。CCD38を交換する場合には、固定ピン39で位置調整を行う。
さらに、ベース板30の上面には、画像処理手段であるCCD(Charge Coupled Devices)38が、調整X方向ステージ31と、調整Y方向ステージ32及び調整Z方向ステージ33の可動範囲内に配置されている。CCD38は、ベース板30に装着される4本の固定ピン39によって交換可能に、かつ位置決めして固定されている。CCD38は、常に同じものを使用しても良いし、被検レンズWに合わせて交換しても良い。CCD38を交換する場合には、固定ピン39で位置調整を行う。
そして、図1に示すように、レンズ検査装置1は、制御装置50と、作業者の操作を受け付けるボタンなどからなる操作部51とを備えている。制御装置50は、CPU(Central Processing Unit)や、メモリなどを搭載し、装置全体の制御を司る。なお、制御装置50は、パーソナルコンピュータであっても良い。
なお、後に詳細に説明するように、この実施の形態における姿勢制御手段は、レンズ搬送機構3と、レンズ姿勢観察カメラ17、光源19、制御装置50とを含んで構成されている。また、異物及び傷検出手段は、チャート搬送ステージ24と、照明装置26と、異物及び傷検出用チャート27と、制御装置50とを含んで構成されている。ピント位置検出手段は、チャート搬送ステージ25と、照明装置28と、ピント検出用チャート29と、制御装置50とを含んで構成されている。
次に、この実施の形態の作用について説明する。
被検レンズWが搭載されたレンズ搬送トレイ16を所定位置に載置し、操作部51の検査開始ボタンを押す。レンズ搬送機構3のレンズ搬送Y方向ステージ10と、レンズ搬送X方向ステージ11とが駆動し、保持部14の下面がレンズ搬送トレイ16の横1行縦1列目の位置に一致するように移動する。その後、レンズ搬送Z方向ステージ12が下降し、レンズ搬送θ方向ステージ13の下端の保持部14を被検レンズWに接触させる。そして、保持部14で被検レンズWを吸着保持したら、レンズ搬送機構3を駆動し、被検レンズWをレンズ姿勢観察カメラ17の上方に移動させる。
被検レンズWが搭載されたレンズ搬送トレイ16を所定位置に載置し、操作部51の検査開始ボタンを押す。レンズ搬送機構3のレンズ搬送Y方向ステージ10と、レンズ搬送X方向ステージ11とが駆動し、保持部14の下面がレンズ搬送トレイ16の横1行縦1列目の位置に一致するように移動する。その後、レンズ搬送Z方向ステージ12が下降し、レンズ搬送θ方向ステージ13の下端の保持部14を被検レンズWに接触させる。そして、保持部14で被検レンズWを吸着保持したら、レンズ搬送機構3を駆動し、被検レンズWをレンズ姿勢観察カメラ17の上方に移動させる。
レンズ姿勢観察カメラ17の先端部に取り付けられた光源19を点灯させ、被検レンズWを照らしながらレンズ姿勢観察カメラ17で撮像を行う。制御装置50は、レンズ姿勢観察カメラ17で取得した画像から、被検レンズWが現在どのような姿勢で保持されているかを、画像処理によって演算し、被検レンズWが測定を実施するために適切な姿勢で保持されたか判断する。例えば、制御装置50に予めメモリされている設計上の位置に比べて、実際の被検レンズWの姿勢がθ方向にずれていた場合や、XY方向で位置ずれが生じている場合などのように、適切な状態でなかった場合は、適切な状態の位置、つまりXYθ方向のずれ量がゼロになるようにレンズ搬送X方向ステージ11、レンズ搬送Y方向ステージ10、レンズ搬送Z方向ステージ12及びレンズ搬送θ方向ステージ13の各軸を駆動させて、被検レンズWを検査に適した姿勢に矯正する。なお、この間に、第1の検査用搬送ステージ20は、第1調整ステージ22を、図2に示すように被検レンズWを供給可能な位置(受け渡し位置)に移動させておく。同様に、第2の検査用搬送ステージ21は、第2調整ステージ23を、被検レンズWを供給可能な受け渡し位置に移動させておく。
レンズ姿勢観察カメラ17で被検レンズWの姿勢が矯正されたことを画像処理によって確認したら、被検レンズWをX方向に水平移動させる。この位置には、第1の検査用搬送ステージ20の第1調整ステージ22の仮受け台35が待機しているので、レンズ搬送Z方向ステージ12を僅かに下げて、凹部36に被検レンズWを置く。被検レンズWを置いた後、凹部36による吸着保持を開始する一方で保持部14の吸着を解除し、その後にレンズ搬送Z方向ステージ12を上昇させ、レンズ搬送機構3を第1調整ステージ22の周囲から待避させる。このようにして被検レンズWを第1調整ステージ22に移載することで、被検レンズWの位置ずれが防止される。
第1調整ステージ22は、調整X方向ステージ31、調整Y方向ステージ32を駆動させて、仮受け台35の被検レンズWの上方にチャック34を移動させてから、調整Z方向ステージ33を降下させる。エアーアクチュエータに連結されているチャック34を近接する方向に移動させて、仮受け台35に置かれた被検レンズWの両端を挟む。凹部36による吸着を解除してから、調整Z方向ステージ33を僅かに上昇させる。その結果、図6に示すように、被検レンズWが姿勢が矯正された状態を保ちながら、その外周縁が保持された状態になる。
次に、図7に示すように、調整X方向ステージ31と調整Y方向ステージ32とを移動させて、被検レンズWの軸線(光軸)S1と、CCD38の中心位置とを一致させる。このとき、調整Z方向ステージ33は、設計上のピント位置から上側に外れた位置に移動しておく。この動作は、第1調整ステージ22が搭載されたスライド部20BをX方向に移動させながら行い、被検レンズWが異物及び傷検出用チャート27の下方を越えてピント検出用チャート29の真下の検査位置に到達したら、スライド部20Bを停止させる。照明装置28でピント検出用チャート29を下向きに照明し、被検レンズWを通して結像するピント検出用チャート29の像をCCD38で取得する。ピント検出用チャート29の像の取得は、被検レンズWを下方に移動させながら行い、制御装置50は、CCD38からの出力信号に基づいてチャート像のコントラストを演算し、その結果に基づいてピント位置を検出する。
ピント位置の検出が終了したら、スライド部20BをX方向に戻すように移動させて、第1調整ステージ22を異物及び傷検出用チャート27の真下に相当する検査位置まで移動させる。この間に、調整Z方向ステージ33は、制御装置50からの指令を受けて、ピントを検出した位置まで被検レンズWを移動させる。そして、照明装置26で異物及び傷検出用チャート27を下向きに照明し、被検レンズWを通して結像する異物及び傷検出用チャート27の像をCCD38で取得する。CCD38の出力は、制御装置50に送られ、画像処理によって画像を、例えば、縦横10×20の矩形に分割した後、各矩形毎に平均輝度を求める。お互いに隣接する矩形の輝度レベルの差が予め設定されている一定の閾値を越えた場合には、この部分に異物又は傷があると判定し、その被検レンズWを不良品とする。一方、輝度レベルの差が一定の閾値以内であれば、その被検レンズWを良品とする。
なお、ピント検出をした位置で、異物や傷が見つからなかった場合、ピント位置を基準に前ピン方向に0.15μm及び後ピン方向に0.15μmついて同様の検査を行う。これにより、ピントをずらした状態でCCD38に結像される異物及び傷の検出が可能となる。なお、ピント位置からの移動量を前後0.15μmとしたが、前ピンの移動量については任意に設定でき、かつ測定ポイント数も前ピン側に0.15μm、0.3μm及び後ピン側に0.15μm、0.3μmというように任意の数を設定できる。このようにして、ピント位置と、ピント位置から軸線S1方向にずらした位置とで検査を行うことで、被検レンズW内の全領域に対して異物及び傷の検出を行うことができる。
異物又は傷の有無の検査が終了したら、被検レンズWを仮受け台35に戻しながら、調整ステージ22を受け渡し位置に戻す。被検レンズWをレンズ搬送機構3の保持部14で受け取り、その被検レンズWが制御装置50によって良品と判定されたものであれば、レンズ搬送トレイ16の元の位置に戻す。一方、制御装置50によって不良品と判定された被検レンズWであった場合には、不良レンズ回収トレイ18に搬送され、不良レンズ回収トレイ18の所定位置に置かれる。検査を終了した被検レンズWの位置は、制御装置50側で管理されているので、以降は、未検査の被検レンズWを全て検査するまでの前記の処理を繰り返す。
ここで、この実施の形態では、2つの検査用搬送ステージ20,21を有するので、第1の検査用搬送ステージ20で1個目の被検レンズWについて異物及び傷検出用チャート27を用いた検査を行っている最中に、第2の検査用搬送ステージ21で2個目の被検レンズWについてピント検出用チャート29を用いた検査を行うことが可能である。また、この逆の組み合わせで検査を行うこともできる。この場合に、チャート搬送ステージ24,25は、異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29、並びに対応する照明装置28,29をY方向に移動させて、図1に仮想線で示すように、いずれか一方の調整ステージ22,23上に交互に配置させる。また、各調整ステージ22,23及びレンズ搬送機構3は、互いに干渉しないように構成されているので、被検レンズWの搬送途中や、検査中に他のステージ等が邪魔になることはない。
この実施の形態によれば、ピント位置の検出等を行う前に、レンズ姿勢観察カメラ17で被検レンズWの姿勢を確認するようにしたので、被検レンズWの姿勢を矯正した状態で仮受け台35に被検レンズWをセットすることが可能になる。したがって、被検レンズWの位置ずれが防止されるので、ピント位置の検出や、異物等の検出を精度良く行うことが可能になる。
チャック34にテーパ34Aを設けたので、被検レンズW中の検査対象領域の全てに対してピント位置の検出や、異物等の検出を行うことが可能になる。
異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29を調整ステージ22,23の移動経路中に配置したので、1台の装置でピント位置の検出と、異物等の検出とを順番に行える。したがって、これらの検査の間で被検レンズWの移載等を行わなくて済むので、この間の位置ずれを防止できると共に、検出に要する時間を短縮することができる。さらに、設置面積の減少や、構成要素の共有化による装置コストの削減が図れる。
チャック34にテーパ34Aを設けたので、被検レンズW中の検査対象領域の全てに対してピント位置の検出や、異物等の検出を行うことが可能になる。
異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29を調整ステージ22,23の移動経路中に配置したので、1台の装置でピント位置の検出と、異物等の検出とを順番に行える。したがって、これらの検査の間で被検レンズWの移載等を行わなくて済むので、この間の位置ずれを防止できると共に、検出に要する時間を短縮することができる。さらに、設置面積の減少や、構成要素の共有化による装置コストの削減が図れる。
両トレイ16,18と、仮受け台35の高さが略等しく、これらの高さはレンズ姿勢観察カメラ17を用いた被検レンズWの姿勢検出時の被検レンズWの高さに近くなるように設定してあるので、レンズ搬送機構3の上下方向の移動を最小限に止めることができる。したがって、検査時間を短縮することができる。
2つの検査用搬送ステージ20,21を備えるので、2つの被検レンズWを別々に検査することが可能になり、多数の被検レンズWを検査する場合に、全体としての検査時間を短縮することができる。ここで、両トレイ16,18と、レンズ姿勢観察カメラ17の配設方向と、調整ステージ22,23の移動方向とを直交するように配置したので、複数の被検レンズWをスムーズに、かつ効率良く移動させることができる。また、異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29、対応する照明装置26,28をY方向に移動自在に構成したので、照明装置26,28のばらつきによる検査用搬送ステージ20,21の誤差を防止することができる。さらに、照明装置26,28が小型で済むので装置コストを削減でき、光源用のランプの交換も容易になる。
2つの検査用搬送ステージ20,21を備えるので、2つの被検レンズWを別々に検査することが可能になり、多数の被検レンズWを検査する場合に、全体としての検査時間を短縮することができる。ここで、両トレイ16,18と、レンズ姿勢観察カメラ17の配設方向と、調整ステージ22,23の移動方向とを直交するように配置したので、複数の被検レンズWをスムーズに、かつ効率良く移動させることができる。また、異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29、対応する照明装置26,28をY方向に移動自在に構成したので、照明装置26,28のばらつきによる検査用搬送ステージ20,21の誤差を防止することができる。さらに、照明装置26,28が小型で済むので装置コストを削減でき、光源用のランプの交換も容易になる。
なお、本発明は、前記の実施の形態に限定されずに広く応用することが可能である。
例えば、レンズ搬送トレイ16は、横4行縦3列の配置としたが被検レンズWのサイズに応じて、レンズ搬送トレイ16に乗せる被検レンズWの数を多くする事も可能である。また、平均輝度を求めるために縦横の矩形分割は10×20としたが、抽出したい異物及び傷のサイズにより分割数は任意に設定することができる。
また、調整ステージ22,23は、CCD38を被検レンズWに合わせて変更しても良い。これに対して、CCD38を予めベース板30に固定しても良い。
異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29は、各検査用搬送ステージ20,21のそれぞれに1つずつ備えても良い。また、異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29とのX方向の配置は逆転させても良い。
レンズ搬送トレイ16と、レンズ姿勢観察カメラ17と、調整ステージ22,23の受け渡し位置と、不良レンズ回収トレイ18とをこの順番でX方向に配設しても良い。
例えば、レンズ搬送トレイ16は、横4行縦3列の配置としたが被検レンズWのサイズに応じて、レンズ搬送トレイ16に乗せる被検レンズWの数を多くする事も可能である。また、平均輝度を求めるために縦横の矩形分割は10×20としたが、抽出したい異物及び傷のサイズにより分割数は任意に設定することができる。
また、調整ステージ22,23は、CCD38を被検レンズWに合わせて変更しても良い。これに対して、CCD38を予めベース板30に固定しても良い。
異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29は、各検査用搬送ステージ20,21のそれぞれに1つずつ備えても良い。また、異物及び傷検出用チャート27及びピント検出用チャート29とのX方向の配置は逆転させても良い。
レンズ搬送トレイ16と、レンズ姿勢観察カメラ17と、調整ステージ22,23の受け渡し位置と、不良レンズ回収トレイ18とをこの順番でX方向に配設しても良い。
1 レンズ検査装置
3 レンズ搬送機構(姿勢制御手段)
14 保持部(レンズ保持手段)
17 レンズ姿勢観察カメラ(姿勢制御手段)
19 光源(姿勢制御手段)
20 第1検査用搬送ステージ
20B,21B スライド部
21 第2検査用搬送ステージ
22 第1調整ステージ
23 第2調整ステージ
24 チャート搬送ステージ(異物及び傷検出手段)
25 チャート搬送ステージ(ピント位置検出手段)
26 照明装置(異物及び傷検出手段)
27 異物及び傷検出用チャート(異物及び傷検出手段)
28 照明装置(ピント位置検出手段)
29 ピント検出用チャート(ピント位置検出手段)
38 CCD(画像処理手段)
W 被検レンズ
3 レンズ搬送機構(姿勢制御手段)
14 保持部(レンズ保持手段)
17 レンズ姿勢観察カメラ(姿勢制御手段)
19 光源(姿勢制御手段)
20 第1検査用搬送ステージ
20B,21B スライド部
21 第2検査用搬送ステージ
22 第1調整ステージ
23 第2調整ステージ
24 チャート搬送ステージ(異物及び傷検出手段)
25 チャート搬送ステージ(ピント位置検出手段)
26 照明装置(異物及び傷検出手段)
27 異物及び傷検出用チャート(異物及び傷検出手段)
28 照明装置(ピント位置検出手段)
29 ピント検出用チャート(ピント位置検出手段)
38 CCD(画像処理手段)
W 被検レンズ
Claims (5)
- 被検レンズを吸着保持するレンズ保持手段と、前記レンズ保持手段に保持した前記被検レンズの姿勢を矯正する姿勢制御手段と、姿勢矯正後の前記被検レンズを通して得られる像を撮像する画像処理手段と、前記画像処理手段と協働することで前記被検レンズのピント位置を検出するピント位置検出手段と、前記画像処理手段と協働することで前記被検レンズの異物や傷を検出する異物及び傷検出手段とを有することを特徴とするレンズ検査装置。
- 一軸方向に移動自在な検査用搬送ステージを有し、前記検査用搬送ステージの移動自在なスライド部上に、前記被検レンズを保持する調整ステージと、前記画像処理手段とが設けられており、前記調整ステージは、前記画像処理手段と前記被検レンズとの間の光軸方向の距離を調整可能に構成されていることを特徴とする請求項1に記載のレンズ検査装置。
- 前記検査用搬送ステージは、前記調整ステージが前記姿勢制御手段に並んで配置される受け渡し位置から、前記ピント位置検出手段及び前記異物及び傷検出手段のそれぞれと前記被検レンズの光軸とが一致するそれぞれの検査位置まで順番に前記調整ステージを移動可能に配置されていることを特徴とする請求項2に記載のレンズ検査装置。
- 前記検査用搬送ステージは、並列に複数敷設されており、前記ピント位置検出手段及び前記異物及び傷検出手段は、前記調整ステージの移動方向と直交する方向に移動可能に構成されていることを特徴とする請求項2に記載のレンズ検査装置。
- 前記姿勢制御手段は、前記被検レンズの姿勢を観察するための撮像手段を有し、前記撮像手段は、前記被検レンズを配列するトレイと並んで配置されており、前記撮像手段及び前記トレイの配列方向と、前記検査用搬送ステージの前記ステージ部の移動方向とは直交することを特徴とする請求項3又は請求項4に記載のレンズ検査装置。
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- 2005-05-24 JP JP2005151197A patent/JP2006329714A/ja not_active Withdrawn
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