JP2006280853A

JP2006280853A - X-ray diagnostic apparatus and its proof reading method

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Publication number: JP2006280853A
Application number: JP2005108611A
Authority: JP
Inventors: Yasuhiro Sugawara; 靖宏菅原; Takayuki Tomizaki; 隆之富崎
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Medical Systems Corp
Current assignee: Toshiba Corp; Canon Medical Systems Corp
Priority date: 2005-04-05
Filing date: 2005-04-05
Publication date: 2006-10-19

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique for detecting the new defective pixel position of an X-ray plate detector at a user side, updating it, and complementing a pixel value at the defective pixel position. <P>SOLUTION: A defective position detecting part 700 detects the defective pixel position of the X-ray plate detector 300, on the basis of the pixel value when it is dark. A complementing means 600 receives a pixel value in radiation exposure which is offset-corrected, generates the pixel value of the defective pixel position, on the basis of the pixel value in radiation exposure which is adjacently positioned to the defective pixel position, and outputs the pixel value in radiation exposure, which is complemented by the generated pixel value, in place of the abnormal pixel value at the defective pixel position. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、被検体を透過してきたＸ線を検出するＸ線平面検出器を用いたＸ線診断装置及びその校正方法に関し、特に、Ｘ線平面検出器の欠陥画素の位置を検出して、その欠陥位置の画素値を補完する技術に関する。 The present invention relates to an X-ray diagnostic apparatus using an X-ray flat panel detector that detects X-rays transmitted through a subject and a calibration method thereof, and in particular, detects the position of a defective pixel of the X-ray flat panel detector, The present invention relates to a technique for complementing the pixel value at the defect position.

従来、Ｘ線診断装置としては、例えばＸ線診断装置がある。画素を構成するＸ線センサーを二次元平面に配列したＸ線平面検出器を用いた医療用のＸ診断装置としては、特許文献１の技術があった。特許文献１に係る技術を簡単な図にしたのが、図７及び図８である。特許文献１にも記載されているので、要点だけを説明する。 Conventionally, as an X-ray diagnostic apparatus, for example, there is an X-ray diagnostic apparatus. As a medical X diagnostic apparatus using an X-ray flat panel detector in which X-ray sensors constituting pixels are arranged in a two-dimensional plane, there is a technique disclosed in Patent Document 1. FIG. 7 and FIG. 8 show the technique according to Patent Document 1 in a simple diagram. Since it is also described in Patent Document 1, only the main points will be described.

図７は、Ｘ線診断装置の構成図である。Ｘ線管球１０とＸ線平面検出器３００とが被検体を挟んで対向配置されている。ユーザインタフェース６０の表示手段７０及び操作手段８０によって、ユーザが、例えば、曝射モード、校正モード、診断等の各項目について設定する。システム制御手段４０は、それらの設定を受けて、曝射モードに在ったＸ線曝射条件、タイミングをＸ制御手段２０に対して送る。Ｘ線制御手段２０は、Ｘ線管球１０に対してＸ線の曝射、曝射停止、曝射量等を制御する。Ｘ線平面検出器インタフェース（以下、Ｘ線検出器Ｉ／Ｆと称する。）３０は、Ｘ線平面検出器３００が受けたＸ線に応じた画素値（校正時には、Ｘ線を受けないとき、つまり暗時の画素値）受け、それらの画素値に対するオフセット及びゲインの補正、欠陥画素の位置における画素値の補完などを行って、画像処理手段５０へ送る。画像処理手段５０は、診断しやすい画像データにして、表示手段７０に送り表示させる。 FIG. 7 is a configuration diagram of the X-ray diagnostic apparatus. The X-ray tube 10 and the X-ray flat detector 300 are arranged to face each other with the subject interposed therebetween. For example, the user sets the items such as the exposure mode, the calibration mode, and the diagnosis by the display unit 70 and the operation unit 80 of the user interface 60. In response to these settings, the system control means 40 sends the X-ray exposure conditions and timing in the exposure mode to the X control means 20. The X-ray control means 20 controls X-ray exposure, exposure stop, exposure dose, and the like for the X-ray tube 10. The X-ray flat panel detector interface (hereinafter referred to as X-ray detector I / F) 30 has a pixel value corresponding to the X-rays received by the X-ray flat panel detector 300 (when the X-ray is not received during calibration, In other words, the pixel values at the time of darkness) are received, offsets and gains are corrected for these pixel values, and pixel values at the positions of defective pixels are complemented and sent to the image processing means 50. The image processing means 50 sends the image data to the display means 70 for easy diagnosis.

図８に、Ｘ線平面検出器３００の構成を示す。Ｘ線センサー（画素を構成するセンサーであって、画素検出素子，或いは便宜上、画素とも表現されることがある。）３１１は、受けたＸ線の強さに応じて電荷に変換し、その電荷を貯えることによってＸ線を検出する。Ｘセンサー３１１は、例えば、変換素子、電荷を貯える容量性素子、及び容量性素子から電荷を取り出して出力させる半導体ゲート素子等（不図示）で構成される。そして、Ｘ線センサー３１１は、２次元的に行方向と列方向に配列され、全体としてｋ個のセンサー群３１０が構成される。配列されたセンサー群３１０に対して、センサー列セレクト手段３２０が、読出手段（不図示）等からの指示を受けて、センサー群３１０の列毎に画素値を読み出す指示を出し、その出力を行毎に可変アンプ（積分形アンプ）３３１で受けて増幅する。アンプ群３３０からの出力は、マルチプレクサ３４０及びＡＤコンバータ３５０を経由して、画素毎（Ｘ線センサー３１１毎に）に画素値を示すデジタルデータとして出力される。つまり、画素の位置に対応した画素値（デジタルデータ）が出力される。 FIG. 8 shows the configuration of the X-ray flat panel detector 300. An X-ray sensor (a sensor that constitutes a pixel and may also be referred to as a pixel detection element or a pixel for convenience) 311 converts the charge into an electric charge according to the intensity of the received X-ray. X-rays are detected by storing. The X sensor 311 includes, for example, a conversion element, a capacitive element that stores electric charge, and a semiconductor gate element (not shown) that extracts and outputs electric charge from the capacitive element. The X-ray sensors 311 are two-dimensionally arranged in the row direction and the column direction, and a total of k sensor groups 310 are configured. In response to an instruction from a reading means (not shown) or the like, the sensor column selection unit 320 issues an instruction to read out pixel values for each column of the sensor group 310 to the arranged sensor groups 310 and outputs the instruction. Each time it is received and amplified by a variable amplifier (integral amplifier) 331. An output from the amplifier group 330 is output as digital data indicating a pixel value for each pixel (for each X-ray sensor 311) via the multiplexer 340 and the AD converter 350. That is, a pixel value (digital data) corresponding to the pixel position is output.

なお、アンプ群３３０の各可変アンプ３３１のゲイン（利得、増幅度）は、画像を動画として観察したい場合のモード（以下、「透視モード」という。）や、画質の良い診断画像を取得したい場合のモード（以下、「撮影モード」という。）等の撮像モード（「透視モード」、「撮影モード」及びその他のモードを、まとめて、「撮像モード」という。）の違いにより、可変設定される。例えば、透視モードでは、Ｘ線管球１０による曝射量（Ｘ線の線量）を減らし、可変アンプ３３１のゲインを挙げる等の設定がなされる。 Note that the gain (gain, amplification factor) of each variable amplifier 331 in the amplifier group 330 is a mode in which an image is desired to be observed as a moving image (hereinafter referred to as “perspective mode”) or a case in which a diagnostic image with good image quality is to be acquired. Are variably set depending on differences in imaging modes (hereinafter referred to as “transmission mode”, “imaging mode”, and other modes are collectively referred to as “imaging mode”). . For example, in the fluoroscopic mode, settings such as reducing the exposure amount (X-ray dose) from the X-ray tube 10 and increasing the gain of the variable amplifier 331 are made.

このように、Ｘ線センサー３１１や可変アンプ３３１等の素子は、一般的に、曝射停止時（非曝射時：以下、「暗時」ということがある。）の出力であるオフセット値のバラツキ、及びゲインのバラツキが伴うのでこれらを補正する手段、さらには、画素としての、機能が不備なものについて、その画素位置の画素値を補完する手段が、平面検出器ＩＦ３０に用意されている。 In this manner, elements such as the X-ray sensor 311 and the variable amplifier 331 generally have an offset value that is an output when exposure is stopped (when not exposed: hereinafter, sometimes referred to as “dark”). Means for correcting these variations and gain variations, and means for complementing the pixel values at the pixel positions of the defective pixels are provided in the flat detector IF30. .

図９に、平面検出器ＩＦ３０によるオフセット値、ゲイン、欠陥位置についての補正、補完の機能を示す。上記したように、曝射時にＸ線平面検出器３００によってセンシングされ読み出された画素値は、オフセット補正部４１により、予め取得していたオフセット補正値により補正され、さらに同様に、ゲイン補正部４１により、予め取得していたゲイン補正値により補正される。そして、補完手段４３は、補正された各画素値を受けて、欠陥位置情報記憶部４４から、既知の欠陥位置情報を読み出し、その位置の周囲の画素値の平均を取って、その平均値を欠陥位置の画素値として、受けた画素値の欠陥位置における画素値と代えることにより補完して、画像処理手段５０へ送付する。 FIG. 9 shows functions for correcting and complementing the offset value, gain, and defect position by the flat panel detector IF30. As described above, the pixel value sensed and read by the X-ray flat panel detector 300 at the time of exposure is corrected by the offset correction unit 41 using the offset correction value acquired in advance, and similarly, the gain correction unit. 41 is corrected by the gain correction value acquired in advance. Then, the complement means 43 receives each corrected pixel value, reads the known defect position information from the defect position information storage unit 44, takes the average of the pixel values around that position, and calculates the average value. The pixel value at the defect position is complemented by replacing the received pixel value with the pixel value at the defect position, and is sent to the image processing means 50.

なお、オフセット補正値は、暗時の各画素値そのものがその時点のオフセット値を示すので、その暗時のオフセット値をＸ線平面検出器３００から読み出して、それを基に、各画素のオフセットが平均的に一定になるようにするための補正値を計算して、求めたものである。そして、ゲイン補正値は、被検体の代わりに、基準となる検体（以下、「基準模擬検体」という。）に対して、曝射し、そのときの透過Ｘ線をＸ線平面検出器３００でセンシングし、出力した画素値を、前記オフセット補正値で補正した後の各画素値の大きさを一定にするための補正係数値を計算して、各画素値に対するゲイン補正値とする。 Note that the offset correction value is that each pixel value in the dark itself indicates the offset value at that time, so the offset value in the dark is read from the X-ray flat panel detector 300, and the offset of each pixel is based on that. Is obtained by calculating a correction value for making the average constant. The gain correction value is exposed to a reference specimen (hereinafter referred to as “reference simulated specimen”) instead of the subject, and the transmitted X-rays at that time are detected by the X-ray flat panel detector 300. A correction coefficient value for making the size of each pixel value after the sensed and output pixel value is corrected with the offset correction value calculated is used as a gain correction value for each pixel value.

特開平２００３−２４４５４０号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2003-244540

上記、従来技術におけるゲイン補正値の取得や欠陥位置情報の取得は、Ｘ線診断装置の出荷前に行われていた。補完手段４３が行う補完の対象とする欠陥の画素位置は、予め、出荷時に、オフセット補正や、ゲイン補正が効力を発揮できない点と判断された、既知の欠陥画素位置であった。ユーザサイドで、随時、認知された欠陥位置ではなかった。したがって、Ｘ線診断装置が、ユーザに渡ってからは、新たな欠陥位置について、補完されることはなかった。一方で、オフセット補正値の取得は、ユーザサイドで行えるようになっていた。そうすると、ある診断前に、オフセット補正値を取得しようとしたとき、Ｘ線平面検出器３００内の素子に起因してオフセット補正が不可能な画素位置が新たにあると、オフセット補正値では対処できないし、かつ補完手段４３でも補完できないので、そのまま画像として表示されてしまうという問題があった。 The acquisition of the gain correction value and the acquisition of defect position information in the prior art has been performed before shipment of the X-ray diagnostic apparatus. The pixel position of the defect to be complemented by the complementing unit 43 is a known defective pixel position that is determined in advance as a point at which offset correction or gain correction cannot be effective at the time of shipment. It was not a recognized defect position at any time on the user side. Therefore, after the X-ray diagnostic apparatus has passed over to the user, the new defect position has not been supplemented. On the other hand, the offset correction value can be acquired on the user side. Then, when an offset correction value is to be acquired before a certain diagnosis, if there is a new pixel position that cannot be offset correction due to an element in the X-ray flat panel detector 300, the offset correction value cannot be dealt with. However, since the complement means 43 cannot complement the image, it is displayed as an image as it is.

つまり、Ｘ線平面検出器３００の素子によっては、自己の経年変化及び温湿度変化を含む環境変化により、十分に期待される機能を発揮できないものが出て、見かけ上、その画素位置が欠陥点となることがあった。さらには、周囲の電磁的環境条件等により雑音を受けた場合は、見かけ上、その画素位置に欠陥点があるかのように認知される（振舞う）ことがあった。 That is, depending on the elements of the X-ray flat panel detector 300, due to environmental changes including its own secular change and temperature / humidity change, it may not be possible to perform a sufficiently expected function. There was sometimes. Furthermore, when noise is received due to surrounding electromagnetic environmental conditions, the pixel position is apparently recognized (behaves) as if there is a defect point.

特に、質の良い診断画像を得るためには、Ｘ線平面検出器３００内に収容されるセンサー群３１０を含む素子数は、莫大な数であること、しかも、一体的に製造されること等から、数個の画素位置の画素値が異常だからといって、交換することは、不経済であった。一方、異常な画素値が基で、誤診断されることは避けなければならない。 In particular, in order to obtain a high-quality diagnostic image, the number of elements including the sensor group 310 accommodated in the X-ray flat panel detector 300 is a huge number, and is manufactured integrally. Therefore, it is uneconomical to replace the pixel values because the pixel values at several pixel positions are abnormal. On the other hand, it is necessary to avoid misdiagnosis based on abnormal pixel values.

本発明の目的は、ユーザサイドで、診断前に、暗時の画素値、又は基準模擬検体に曝射したときにセンシングされた画素値を基に、欠陥画素位置を認知し、欠陥画素位置における画素値を補完できる技術を提供することである。さらには、認知した欠陥画素位置を情報として、ユーザへ提供することである。 An object of the present invention is to recognize a defective pixel position on the user side based on a pixel value in a dark state or a pixel value sensed when exposed to a reference simulated specimen before diagnosis, in the defective pixel position. It is to provide a technique capable of complementing pixel values. Furthermore, it is to provide the user with the recognized defective pixel position as information.

上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、Ｘ線の曝射を行う曝射手段と、平面状に、画素を成す前記Ｘ線を検出するセンサーが配列されたＸ線平面検出器と、前記Ｘ線平面検出器から所定の画素単位で、前記曝射によるＸ線を受けたときの画素値又は曝射停止時の暗時画素値を選択的に出力させる読出制御手段と、前記暗時画素値に基づいて前記画素値をオフセット補正するオフセット補正部と、前記暗時画素値に基づいて前記Ｘ線平面検出器の欠陥画素位置を検出する欠陥位置検出部と、オフセット補正された前記画素値を受けて、前記欠陥画素位置に隣接する位置の前記画素値に基づいて該欠陥画素位置の画素値を生成し、生成された該画素値で補完された前記画素値を出力する補完手段とを備えた。 In order to achieve the above object, an invention according to claim 1 is an X-ray plane in which an exposure unit that performs X-ray exposure and a sensor that detects the X-rays forming a pixel are arranged in a planar shape. A reading control means for selectively outputting a pixel value when receiving X-rays from the exposure or a dark pixel value when exposure is stopped in a predetermined pixel unit from the X-ray flat panel detector; An offset correction unit that offset-corrects the pixel value based on the dark pixel value, a defect position detection unit that detects a defective pixel position of the X-ray flat panel detector based on the dark pixel value, and offset correction Receiving the generated pixel value, generating a pixel value at the defective pixel position based on the pixel value at a position adjacent to the defective pixel position, and outputting the pixel value complemented with the generated pixel value Complementary means to do.

請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記画素の出力を可変増幅するアンプと、前記曝射手段に対して線量の異なった曝射を行うモード、前記アンプの増幅度を異なった増幅度とするモード、又はそれらの組合せからなるモードのうち、いずれかのモードを選択的に制御するシステム制御手段と、を備え、
前記システム制御手段が、前記曝射手段又は／及び前記アンプに対して前記モードを選択的に設定制御したとき、前記オフセット補正部、前記欠陥位置検出部、及び前記補完手段は、前記システム制御手段の前記設定制御されたモードに対応して動作するとともに、前記設定制御されたモードに対応して前記欠陥位置検出部が暗時画素値を基にした所定範囲を基準として検出する構成とした。 According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, an amplifier that variably amplifies the output of the pixel, a mode that performs exposure with different doses to the exposure means, and amplification of the amplifier System control means for selectively controlling any one of the modes having different degrees of amplification, or a mode comprising a combination thereof, and
When the system control means selectively sets and controls the mode for the exposure means and / or the amplifier, the offset correction unit, the defect position detection unit, and the complementing means are the system control means. The defect position detection unit detects a predetermined range based on a dark pixel value as a reference corresponding to the setting-controlled mode.

請求項４に記載の発明は、請求項又は２に記載の発明において、前記欠陥位置検出部は、前記暗時画素値と既知のオフセット値との差分が所定の範囲を超えたときの画素の位置を前記欠陥画素位置として検出する構成とした。 According to a fourth aspect of the present invention, in the invention according to the second or second aspect, the defect position detection unit may detect a pixel when a difference between the dark pixel value and a known offset value exceeds a predetermined range. The position is detected as the defective pixel position.

請求項５に記載の発明は、請求項１又は２に記載の発明において、前記補完手段は、前記検出された欠陥画素位置及び予め記憶された既知の欠陥画素の位置に対して、前記補完を行う構成とした。 According to a fifth aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, the complementing unit performs the complementing on the detected defective pixel position and the position of a known defective pixel stored in advance. The configuration is to be performed.

請求項８に記載の発明は、Ｘ線平面検出器から所定の画素単位で、Ｘ線曝射停止時の暗時画素値を複数回出力する暗時データ読出制御段階と、前記暗時画素値を基づいて前記複数回分の前記暗時画素値を平均化した暗時平均画素値を計算するとともに、オフセット補正値を求めるオフセット補正値取得段階と、前記暗時平均画素値に基づいて前記Ｘ線平面検出器の欠陥画素位置を検出する欠陥位置検出段階と、前記Ｘ線平面検出器から所定の画素単位で、Ｘ線曝射時画素値を出力する曝射データ読出制御段階と、前記曝射時画素値を前記オフセット補正値で補正するオフセット補正段階と、前記オフセット補正された前記曝射時画素値を受けて、前記欠陥画素位置に隣接する位置の前記曝射時画素値に基づいて前記欠陥画素位置の画素値を生成し、生成された該画素値で補完された前記曝謝時画素値を出力する補完段階とを備えた。 According to an eighth aspect of the present invention, there is provided a dark data reading control step of outputting a dark pixel value at the time of stopping X-ray exposure a plurality of times from the X-ray flat panel detector in a predetermined pixel unit, and the dark pixel value. And calculating the dark average pixel value obtained by averaging the dark pixel values for a plurality of times, and obtaining an offset correction value to obtain an offset correction value, and the X-ray based on the dark average pixel value A defect position detecting step of detecting a defective pixel position of the flat panel detector, an exposure data reading control step of outputting a pixel value at the time of X-ray exposure in a predetermined pixel unit from the X-ray flat panel detector, and the exposure An offset correction step of correcting the time pixel value with the offset correction value, and receiving the offset-corrected pixel value at the time of exposure, and based on the pixel value at the time of exposure at a position adjacent to the defective pixel position Generate the pixel value of the defective pixel position And, and a complementary step of outputting the complemented by the generated the pixel value the 曝謝 upon pixel values.

本発明では、暗時の画素値を基にＸ線平面検出器の欠陥画素位置を検出する手段を備え、オフセット補正された曝射時の画素値を受けて、欠陥画素位置の異常な画素値に代えて、前記欠陥画素位置に隣接する位置の前記曝射時画素値を基に生成した画素値により補完する構成としたことにより、ユーザサイドで、欠陥画素位置を更新できる。したがって、ユーザサイドで経年変化、環境変化を受けて、新たな欠陥画素位置が生じても補完できるので、誤診断の防止にも役立つ。 In the present invention, there is provided means for detecting the defective pixel position of the X-ray flat panel detector based on the pixel value at the dark time, the pixel value at the time of exposure corrected by the offset correction, Instead, the defective pixel position can be updated on the user side by adopting a configuration in which the pixel value generated based on the pixel value at the time of exposure at a position adjacent to the defective pixel position is used. Therefore, even if a new defective pixel position is generated due to a secular change and an environmental change on the user side, it can be supplemented, which helps to prevent a misdiagnosis.

本発明に係るＸ線診断装置をＸ線診断装置として用いたときの実施形態について、図面を参照しながら説明する。図１は、本実施形態の平面検出器ＩＦ１００の機能構成を示す図である。図２は、図１の欠陥位置検出部７００の変形例を説明するための図である。図３は、図１の欠陥位置検出部７００の他の実施形態を示す図である。図４は、画素値を基に欠陥の判定を行う基準を説明するための図である。図５は、実施形態全体の動作フローを説明するための図である。図６は、使用例を説明するための図である。図１から図３における機能ブロックで、図７及び図８の機能ブロックと同一の符号を付してあるものについては、同一機能を有する。したがって、その詳細説明は省略する。また、図１には示していないが、図７の中のＸ線管球１０、及びＸ線制御手段２０，及びユーザインタフェースは、そのまま本発明でも使用できるものとする。図７の画像処理手段５０、システム制御手段４０は、図１の画像処理手段８００、及びシステム制御手段９００に代わるものとする。また、図８のＸ線平面検出器３００の構成は、そのまま本実施形態の構成に含まれる。 An embodiment when an X-ray diagnostic apparatus according to the present invention is used as an X-ray diagnostic apparatus will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating a functional configuration of the flat panel detector IF100 of the present embodiment. FIG. 2 is a diagram for explaining a modification of the defect position detection unit 700 of FIG. FIG. 3 is a diagram illustrating another embodiment of the defect position detection unit 700 of FIG. FIG. 4 is a diagram for explaining a criterion for determining a defect based on a pixel value. FIG. 5 is a diagram for explaining an operation flow of the entire embodiment. FIG. 6 is a diagram for explaining an example of use. The functional blocks in FIGS. 1 to 3 that have the same reference numerals as the functional blocks in FIGS. 7 and 8 have the same functions. Therefore, the detailed description is abbreviate | omitted. Although not shown in FIG. 1, the X-ray tube 10, the X-ray control means 20, and the user interface in FIG. 7 can be used in the present invention as they are. The image processing unit 50 and the system control unit 40 in FIG. 7 are assumed to replace the image processing unit 800 and the system control unit 900 in FIG. Further, the configuration of the X-ray flat panel detector 300 in FIG. 8 is included in the configuration of this embodiment as it is.

なお、以下の説明で、画素位置と言う用語は、位置そのものを表す場合（例えば、「画素位置の画素値」）と、その位置を識別するための位置情報を表す場合とに使用されることがある（例えば、「画素位置を記憶する。」）。 In the following description, the term “pixel position” is used when representing the position itself (for example, “pixel value of the pixel position”) and when representing position information for identifying the position. (For example, “store the pixel position”).

図１において、先ず、全体の動作モードについて概要を説明する。実際に被検体に対して曝射して、観察するモードとしては、上記したように、良質の撮影画質を得る（１）撮影モード、動画として観察するための（２）透視モードがあり、さらに透視モードでも、曝射時のＸ線量によって（２ａ）通常線量透視モードと（２ｂ）低線量透視モードがある。また、観察スピードをあげるために、Ｘ線センサー３１１の元々の画素（基本画素）の複数を束にして１つの大きな画素（単位）として処理することによりスピードある動画を得る（２ｃ）スピードモードがある。ただし、画素を束ねた分の分解能が落ちる。図１の撮像モード１，２は、例えば、これらのモードを代表して表現したものである。 In FIG. 1, first, an overview of the entire operation mode will be described. As described above, there are (1) a photographing mode for obtaining a high quality image quality and (2) a fluoroscopic mode for observing as a moving image. Even in the fluoroscopic mode, there are (2a) normal dose fluoroscopy mode and (2b) low-dose fluoroscopy mode depending on the X-ray dose at the time of exposure. In order to increase the observation speed, a plurality of original pixels (basic pixels) of the X-ray sensor 311 are bundled and processed as one large pixel (unit) to obtain a speedy moving image (2c). is there. However, the resolution of the bundled pixels is reduced. The imaging modes 1 and 2 in FIG. 1 represent these modes, for example.

また、撮像を行って診断する前に、（３）オフセット校正モード１，２、（４）ゲイン校正モード１，２の各校正モードがある。オフセット校正モード１、２は、曝射を行うことなくＸ線平面検出器３００が出力する画素値をを基にオフセット補正値を取得するモードであり、撮像モード１，２に対応したオフセット補正値を取得する。ゲイン校正モード１，２は、基準模擬検体に対して曝射したときに、Ｘ線平面検出器３００が出力する画素値をオフセット補正値で補正された画素値を基にゲイン補正値を求めるモードであり、撮像モード１，２に対応したゲイン補正値を取得する。なお、ゲイン校正モード１，２は、ユーザサイドで行うことも可能であるが、上記したように基準模擬検体が必要であることから、ここでは、特に断りがなければ、原則、出荷前に行われるモードとする。 In addition, before performing imaging and diagnosis, there are (3) offset calibration modes 1 and 2 and (4) gain calibration modes 1 and 2, respectively. The offset calibration modes 1 and 2 are modes for acquiring an offset correction value based on the pixel value output from the X-ray flat panel detector 300 without performing exposure, and the offset correction value corresponding to the imaging modes 1 and 2 To get. The gain calibration modes 1 and 2 are modes for obtaining a gain correction value based on a pixel value obtained by correcting a pixel value output from the X-ray flat panel detector 300 with an offset correction value when the reference simulated specimen is exposed. The gain correction value corresponding to the imaging modes 1 and 2 is acquired. The gain calibration modes 1 and 2 can be performed on the user side. However, as described above, the reference simulation sample is necessary. Therefore, unless otherwise specified, the gain calibration modes 1 and 2 are generally performed before shipment. Mode.

なお、オフセットモード１又は２の時に、合わせて、欠陥画素位置の位置情報が取得される。 In addition, in the offset mode 1 or 2, the position information of the defective pixel position is acquired together.

図１において、システム制御手段９００は、予め撮像モード１、２に応じて、Ｘ線管球１０の曝射条件やＸ線平面検出器３００内のアンプ群３３０のゲイン等の条件を記憶しておき、撮像モード１又は２がユーザインタフェース６０から設定されたときは、その条件で、Ｘ線制御手段２０に対して制御させる。 In FIG. 1, the system control unit 900 stores in advance conditions such as the exposure condition of the X-ray tube 10 and the gain of the amplifier group 330 in the X-ray flat panel detector 300 in accordance with the imaging modes 1 and 2. When the imaging mode 1 or 2 is set from the user interface 60, the X-ray control unit 20 is controlled under the condition.

同様に、システム制御手段９００は、予め、オフセット校正モード１、２に対応して、Ｘ線平面検出器３００に対する条件を、撮像モード１，２におけるＸ線平面検出器３００内のアンプ群のゲイン等の条件を記憶する。但し、オフセット校正モード１、２では、曝射は行わない条件とする。また、システム制御部９００は、予め、ゲイン校正モード１、２に対するＸ線管球１０の曝射条件として曝射モード１，２と同じ条件を記憶し、さらに、ゲイン校正モード１、２に対応してＸ線平面検出器３００に対する条件を、撮像モード１，２におけるＸ線平面器３００内のアンプ群のゲイン等の条件と同一条件を記憶する。そして、各校正モードに応じて、Ｘ線管球１０及びＸ線平面検出器３００等を制御させる。これらは、撮像モードで取得した画素値を補正するための校正であるから、Ｘ線管球１０及びＸ線平面検出器３００の条件を撮像モードと同じ条件（但し、オフセット校正モードでは、曝射は不要。）で行う必要がある。 Similarly, the system control unit 900 previously sets the conditions for the X-ray flat panel detector 300 corresponding to the offset calibration modes 1 and 2 and the gain of the amplifier group in the X-ray flat panel detector 300 in the imaging modes 1 and 2. Etc. are memorized. However, in the offset calibration modes 1 and 2, the exposure is not performed. Further, the system control unit 900 stores in advance the same conditions as the exposure modes 1 and 2 as the exposure conditions of the X-ray tube 10 for the gain calibration modes 1 and 2, and further supports the gain calibration modes 1 and 2. Then, the conditions for the X-ray flat panel detector 300 are stored in the same conditions as the conditions such as the gain of the amplifier group in the X-ray flat panel 300 in the imaging modes 1 and 2. Then, the X-ray tube 10 and the X-ray flat panel detector 300 are controlled according to each calibration mode. Since these are calibrations for correcting the pixel values acquired in the imaging mode, the conditions of the X-ray tube 10 and the X-ray flat panel detector 300 are the same as those in the imaging mode (however, in the offset calibration mode, exposure is performed). Is not necessary.)

メモリ制御部１１０は、システム制御手段９００で設定された各モードに対応して、オフセット補正値記憶手段４２０，ゲイン補正値記憶手段５２０，及び欠陥位置記憶手段６１０等に対して、書き込み、読み出しの制御を行う。読出制御手段２００は、システム制御手段９００で設定された各モードに対応してＸ線平面検出器３００からの画素値を読み出す。 The memory control unit 110 writes and reads data to and from the offset correction value storage unit 420, the gain correction value storage unit 520, the defect position storage unit 610, and the like corresponding to each mode set by the system control unit 900. Take control. The read control unit 200 reads the pixel value from the X-ray flat panel detector 300 corresponding to each mode set by the system control unit 900.

以下、各要部の動作説明に（ステップＳ番号）が付してあるのは、図５の動作フローのステップである。 Hereinafter, (step S number) is added to the description of the operation of each main part in the steps of the operation flow of FIG.

オフセット補正部４００は、例えばオフセット校正モード１で、Ｘ管球１０の暗時に読出制御手段２００がＸ線平面検出器３００から、全ての画素位置（ｎ）の画素値を予定回数（ｍ）だけ、読み出すので、これを受けて、オフセット補正値を求める（ステップＳ１０〜Ｓ１２）。オフセット値計算手段４１０は、各画素位置毎に、予定回数ｍ回分の平均値（以下、画素位置毎の「平均画素値」という。）を計算し、予め決めておいたオフセット基準値と各画素位置における平均画素値との差を、各画素位置におけるオフセット補正値として計算する（ステップＳ１３）。オフセット基準値は、各画素毎の平均画素値を集めて（ｎ個）、その平均値（つまり、全平均値）を基準値にしてもよいし、予め経験的又は理論的に求めた値でもよい。そして、オフセット補正値記憶手段４２０は、その求められたオフセット補正値を撮像モード１，ゲイン校正モード１の各モードで読み出し可能に記憶される（メモリ制御手段１１０によって画素位置毎に書き込まれる）。これらは、オフセット校正モード２の場合も同様である。 In the offset correction unit 400, for example, in the offset calibration mode 1, when the X tube 10 is dark, the reading control unit 200 obtains the pixel values of all the pixel positions (n) from the X-ray flat panel detector 300 by a predetermined number of times (m). In response to this, an offset correction value is obtained (steps S10 to S12). The offset value calculation means 410 calculates an average value (hereinafter, referred to as “average pixel value” for each pixel position) for the predetermined number of times for each pixel position, and determines a predetermined offset reference value and each pixel. The difference from the average pixel value at the position is calculated as an offset correction value at each pixel position (step S13). The offset reference value may be an average pixel value for each pixel (n), and the average value (that is, the total average value) may be used as a reference value, or may be a value obtained empirically or theoretically in advance. Good. The offset correction value storage unit 420 stores the obtained offset correction value so that it can be read out in each of the imaging mode 1 and the gain calibration mode 1 (written by the memory control unit 110 for each pixel position). The same applies to the offset calibration mode 2.

オフセット校正モードが終了し、撮像を開始し撮像モード１もしくは２が設定されたとき、又は出荷前にゲイン校正モード１もしくは２が設定されたときは、メモリ制御手段１１０によって画素位置毎にそのモードに対応したオフセット補正値がオフセット補正値記憶手段４２０から読み出される。そして、オフセット演算手段４３０が、Ｘ線平面検出器３００から出力される各画素値に対して、そのオフセット補正値記憶手段４２０から読み出された、対応する画素位置のオフセット補正値により、加算又は減算等の演算により補正して出力する（ステップＳ１９）。 When the offset calibration mode ends and imaging is started and imaging mode 1 or 2 is set, or when gain calibration mode 1 or 2 is set before shipment, the memory control unit 110 sets the mode for each pixel position. Is read from the offset correction value storage means 420. Then, the offset calculation means 430 adds or adds each pixel value output from the X-ray flat panel detector 300 based on the offset correction value at the corresponding pixel position read from the offset correction value storage means 420. It is corrected by an operation such as subtraction and outputted (step S19).

ゲイン補正部５００は、例えばゲイン校正モード１で、出荷前に、基準模擬検体に対してＸ管球１０による撮像モード１に対応した条件で曝射を行う。その曝射時にＸ線平面検出器３００から読出制御手段２００が、全ての画素位置（ｎ）の画素値を予定回数（ｍ）だけ、読み出すので、これを受けて、ゲイン補正値を求める（ステップＳ１４〜Ｓ１６）。ゲイン補正値計算手段５１０は、各画素位置毎に、予定回数ｍ回分の平均値（以下、画素位置毎の「平均ゲイン画素値」という。）を計算し、予め決めておいたゲイン基準値と各画素位置における平均ゲイン画素値との比からなる係数を、各画素位置におけるゲイン補正値として計算する（ステップＳ１７）。ゲイン基準値は、各画素毎の平均ゲイン画素値を集めて（ｎ個）、その平均値（つまり、全ゲイン平均値）を基準値にしてもよいし、予め経験的又は理論的に求めた値でもよい。そして、ゲイン補正値記憶手段５２０は、その求められたゲイン補正値を撮像モード１で読み出し可能に記憶される（メモリ制御手段１１０によって画素位置毎に書き込まれる）。これらは、ゲイン校正モード２の場合も同様である。 For example, in the gain calibration mode 1, the gain correction unit 500 performs exposure to the reference simulation sample under conditions corresponding to the imaging mode 1 using the X tube 10 before shipping. At the time of exposure, the readout control means 200 reads out the pixel values of all the pixel positions (n) from the X-ray flat panel detector 300 a predetermined number of times (m). S14 to S16). The gain correction value calculation means 510 calculates an average value for m scheduled times for each pixel position (hereinafter referred to as “average gain pixel value” for each pixel position), and determines a predetermined gain reference value and A coefficient comprising a ratio with the average gain pixel value at each pixel position is calculated as a gain correction value at each pixel position (step S17). The gain reference value may be obtained by collecting the average gain pixel values for each pixel (n) and using the average value (that is, the total gain average value) as a reference value, or by empirical or theoretical calculation in advance. It may be a value. The gain correction value storage unit 520 stores the obtained gain correction value so as to be readable in the imaging mode 1 (written by the memory control unit 110 for each pixel position). The same applies to the gain calibration mode 2.

ゲイン校正モードが終了し、撮像を開始し撮像モード１又は２が設定されたとき、メモリ制御手段１１０によって画素位置毎に画素値がオフセット補正部４００でオフセット補正される。そして、そのモードに対応したゲイン補正値がゲイン補正値記憶手段５２０から読み出される。そしてオフセット補正された各画素値に対して、ゲイン演算手段４３０が、そのゲイン補正値記憶手段５２０から読み出された、対応する画素位置のゲイン補正値をかける（補正値は係数であり、倍率に相当するため）ことによって、補正して出力する（ステップＳ１９）。 When the gain calibration mode ends, imaging is started, and imaging mode 1 or 2 is set, the pixel value is offset-corrected by the offset correction unit 400 for each pixel position by the memory control unit 110. Then, the gain correction value corresponding to the mode is read from the gain correction value storage unit 520. Then, the gain calculation means 430 multiplies the gain correction value at the corresponding pixel position read from the gain correction value storage means 520 with respect to each offset-corrected pixel value (the correction value is a coefficient, and the magnification Therefore, it is corrected and output (step S19).

次に、図１における欠陥位置検出部７００の動作について説明する。欠陥位置判定手段７２０は、次の（ａ）及び（ｂ）の二通りの手法により、欠陥位置を判定する（ステップＳ１８）。少なくとも、いずれか一方の手法を採用すれば、本発明を構成する。 Next, the operation of the defect position detection unit 700 in FIG. 1 will be described. The defect position determination means 720 determines the defect position by the following two methods (a) and (b) (step S18). If at least one of the methods is adopted, the present invention is configured.

（ａ）画素値の異常値を検出することにより、欠陥画素位置を判別する。
異常値検出器７２１は、オフセット校正モード１又は２が設定されたときの、暗時のＸ線平面検出器３００からの画素値（つまり、各画素位置におけるオフセット値）がダイナミックレンジ外であれば、その画素位値が欠陥点（以下、「欠陥画素位置」という。）であると判定する。ダイナミックレンジとは、Ｘ線平面検出器３００の出力、例えば、ＡＤコンバータ３５０の線形動作範囲であって、ダイナミックレンジ外とは、そのリニア動作範囲の端、或いは非線形な動作範囲を言う。また、異常値検出器７２１は、オフセット計算手段４１０が各画素位置毎に求めた平均画素値を基に、ダイナミックレンジ外であるかどうか判定することにより、欠陥画素位置を探してもよい。また、オフセット計算手段４１０が求めたオフセット補正値を基に、判定してもよい。Ｘ線平面検出器３００からの画素値が異常であれば、オフセット補正値も異常な補正値になるからである。この異常検出器７２１が検出する欠陥位置は、上記のように画素値がダイナミックレンジ外の値になるもの故、恒久的な欠陥が含まれている可能性がある（以下、異常値検出器７２１が検出する欠陥画素位置を次に説明する差分統計値検出記７２２が検出する欠陥画素位置と区別して「恒久的欠陥画素位置」ということがある。）。
（ｂ）オフセットの差分統計値から欠陥画素位置を判別する。
予め、既知オフセット値記憶手段７１０に、平均的な、期待される既知のオフセット値を記憶しておく。既知オフセット値としては、例えば、出荷前の正常な暗時の画素値の平均値をさらに全画素分を平均して求めたもの（以下、「オリジナルオフセット値」という。）、或いは、前回の診断前に取得した平均画素値の全平均値を既知オフセット値（以下、「過去オフセット値」という。）としてもよい。
差分統計値検出手段７２２は、オフセット値計算手段４１０が求めた平均画素値と、既知オフセット値との差の値（以下、「差分値」という。）を求め、この差分値が所定範囲内にあればその画素位置を正常と判断し、所定範囲外であれば欠陥画素位置と判定する。例えば、画素位置毎の差分値の平均値（以下、「差分平均値ＳＭ」という。）を求め、所定範囲を、差分値に対する画素位置の頻度分布の標準偏差値σとしたとき、次のように決定することもできる。
所定範囲＝（ＳＭ―ｋ１×σ）〜（ＳＭ―ｋ２×σ） ……（式１）
但し、ｋ１，及びｋ２は（ｋ１＝ｋ２であってもよい）、平均差分値に対する頻度
分布を基に決められる整数値。
なお、ｋ１×σの代わりをＫ１、ｋ２×σの代わりにＫ２とし、標準偏差値σに関係
なく、差分値に対する頻度分布から求めてもよい（この場合は、標準偏差値σを計
算しなくても良い）。
これらを図で表したのが図４（ａ）である。図４（ａ）は、横軸が差分値、縦軸が差分平均値に対する画素位置の頻度分布である。なお、前記所定範囲は、固定的である必要はなく、例えば、動作モードにより、オフセット値やダイナミックレンジが変わることがあるので、上記した動作モードに対応して決定しておいても良い。 (A) The defective pixel position is determined by detecting an abnormal value of the pixel value.
If the pixel value from the X-ray flat panel detector 300 in the dark (that is, the offset value at each pixel position) when the offset calibration mode 1 or 2 is set, the abnormal value detector 721 is outside the dynamic range. The pixel position value is determined to be a defect point (hereinafter referred to as “defective pixel position”). The dynamic range is the output of the X-ray flat panel detector 300, for example, the linear operation range of the AD converter 350, and the outside of the dynamic range is the end of the linear operation range or a non-linear operation range. In addition, the abnormal value detector 721 may search for a defective pixel position by determining whether the offset calculation unit 410 is outside the dynamic range based on the average pixel value obtained for each pixel position. Alternatively, the determination may be made based on the offset correction value obtained by the offset calculation means 410. This is because if the pixel value from the X-ray flat panel detector 300 is abnormal, the offset correction value also becomes an abnormal correction value. Since the defect position detected by the abnormality detector 721 has a pixel value outside the dynamic range as described above, there is a possibility that a permanent defect is included (hereinafter referred to as an abnormal value detector 721). ) May be referred to as a “permanent defective pixel position” in distinction from a defective pixel position detected by the differential statistical value detection description 722 described below.
(B) The defective pixel position is determined from the offset difference statistical value.
An average expected expected offset value is stored in the known offset value storage unit 710 in advance. As the known offset value, for example, an average value of normal dark pixel values before shipment is obtained by further averaging all pixels (hereinafter referred to as “original offset value”), or the previous diagnosis. The total average value of the average pixel values acquired previously may be a known offset value (hereinafter referred to as “past offset value”).
The difference statistical value detection unit 722 calculates a difference value between the average pixel value obtained by the offset value calculation unit 410 and the known offset value (hereinafter referred to as “difference value”), and the difference value falls within a predetermined range. If there is, the pixel position is determined to be normal, and if it is outside the predetermined range, it is determined to be a defective pixel position. For example, when an average value of difference values for each pixel position (hereinafter referred to as “difference average value SM”) is obtained and the predetermined range is a standard deviation value σ of the frequency distribution of the pixel positions with respect to the difference value, It can also be determined.
Predetermined range = (SM−k1 × σ) to (SM−k2 × σ) (Expression 1)
However, k1 and k2 (may be k1 = k2) are frequencies for the average difference value
An integer value determined based on the distribution.
Note that K1 is replaced by K1 and k2 × σ is replaced by K2, and may be obtained from the frequency distribution for the difference value regardless of the standard deviation value σ (in this case, the standard deviation value σ is calculated). Not required).
These are illustrated in FIG. 4A. In FIG. 4A, the horizontal axis represents the difference value, and the vertical axis represents the frequency distribution of the pixel position with respect to the difference average value. Note that the predetermined range does not need to be fixed. For example, the offset value and the dynamic range may change depending on the operation mode. Therefore, the predetermined range may be determined according to the operation mode described above.

既知欠陥画素位置記憶手段７３０は、予め、例えば、出荷前における、オフセット補正値を算出するとき、或いはゲイン補正値を算出するときに、補正ができなかったような欠陥のある画素位置を情報として記憶しておく。 The known defective pixel position storage unit 730 uses, as information, a defective pixel position that could not be corrected, for example, when calculating an offset correction value or a gain correction value before shipping. Remember.

加算手段７４０は、欠陥位置判定手段７２０が判別した新欠陥画素位置（つまり、上記（ａ）および（ｂ）で判別、検出された新たな欠陥位置）と既知欠陥画素位置記憶手段７３０の既知欠陥位置とを、同一位置座標上で加算して補完用の欠陥画素位置とし、欠陥位置記憶手段６１０に記憶させる。このとき、異常値検出器７２１で検出された新欠陥画素位置には、既知欠陥画素位置と同じ画素位置のものが含まれることがある。その場合は、２つの欠陥の情報が同一座標で重なっても欠陥位置としては１つである。この意味では、必ずしも、既知欠陥画素位置記憶手段７３０及び加算手段７４０は、必要なものではない（但し、後記するように、新たな欠陥か既知欠陥かの識別に役立つ）。異常値検出器７２１の出力に既知欠陥画素位置と異なる欠陥画素位置があれば、出荷時以降に新たに生じた欠陥であり、恒久的な欠陥である。一方、差分統計値検出器７２２によって、判別された新欠陥画素位置は、定常的な雑音による欠陥位置、或いは、Ｘ線平面検出器３００内の素子の環境影響による一時的、経時的に劣化したものとみなすことができる。 The adding means 740 includes the new defect pixel position determined by the defect position determination means 720 (that is, the new defect position determined and detected in the above (a) and (b)) and the known defect in the known defect pixel position storage means 730. The position is added on the same position coordinates to obtain a defective pixel position for complementation, and is stored in the defect position storage means 610. At this time, the new defective pixel position detected by the abnormal value detector 721 may include the same pixel position as the known defective pixel position. In that case, even if the information of two defects overlaps at the same coordinate, there is only one defect position. In this sense, the known defective pixel position storage unit 730 and the adding unit 740 are not necessarily required (however, as will be described later, it is useful for identifying whether a new defect or a known defect). If there is a defective pixel position different from the known defective pixel position in the output of the abnormal value detector 721, it is a defect newly generated after shipping and a permanent defect. On the other hand, the new defective pixel position determined by the difference statistic detector 722 is deteriorated temporally or temporally due to the defect position due to stationary noise or the environmental influence of the elements in the X-ray flat panel detector 300. It can be regarded as a thing.

欠陥位置検出部７００による欠陥画素位置の検出も、オフセット補正部４００と同様に、撮像モード１又は２のそれぞれに対応して行い、それぞれで検出した欠陥画素位置を欠陥位置記憶手段６１０に更新記憶させる。 Similarly to the offset correction unit 400, the defective pixel position is detected by the defect position detection unit 700 corresponding to each of the imaging modes 1 and 2, and the detected defective pixel position is updated and stored in the defect position storage unit 610. Let

各校正モードを終了後に、撮像モード１又は２が設定されたとき、補完手段６００は、オフセット補正及びゲイン補正された各画素位置の画素値を受けて、欠陥位置記憶手段６１０に記憶されている欠陥画素位置の周辺の画素値、例えば、欠陥画素位置に隣りあう位置の画素値の平均値を求めることにより（欠陥画素位置における画素値の生成）、受けた欠陥画素位置の画素値に代えて、その平均値を新たな画素値として補完して、他の欠陥のない画素位置の画素値とともに、画像処理手段８００へ送る（ステップＳ２０）。 When the imaging mode 1 or 2 is set after finishing each calibration mode, the complement unit 600 receives the pixel value of each pixel position subjected to offset correction and gain correction, and stores the pixel value in the defect position storage unit 610. Instead of the pixel value of the received defective pixel position by obtaining the average value of the pixel values around the defective pixel position, for example, the average value of the pixel values adjacent to the defective pixel position (generation of the pixel value at the defective pixel position) Then, the average value is complemented as a new pixel value and sent to the image processing means 800 together with the pixel value at the pixel position without any other defect (step S20).

また、欠陥位置記憶手段６１０に記憶された欠陥画素位置は、欠陥位置検出部７００によって、オフセット校正モード１又は２に設定のときに更新されるので、撮像モード１又は２においては更新された欠陥位置において補完された画素値が得られる。 In addition, since the defective pixel position stored in the defect position storage unit 610 is updated by the defect position detection unit 700 when the offset calibration mode 1 or 2 is set, the updated defect is detected in the imaging mode 1 or 2. A pixel value complemented at the position is obtained.

また、撮像モードが上記したように、例えば、Ｘ線センサー３１１を４個を１つの画素値として扱う、スピードモードの場合は読出制御手段２００が、Ｘ線平面検出器３００から、例えば４個のＸ線センサー３１１の出力を１つの画素単位として読みこむ構成なので、オフセット補正部４００，ゲイン補正部５００，欠陥位置検出部７００及び補完手段６００は、そのまま、束ねられた画素単位毎に処理すればよい。ただし、Ｘ線センサーを束ねないモードに比べ、処理時間が約１／２になる。したがって、よりリアルタイムで観察したいときに、便利である。 In addition, as described above, for example, in the case of the speed mode in which four X-ray sensors 311 are handled as one pixel value, the readout control unit 200 receives, for example, four X-ray sensors from the X-ray flat panel detector 300 as described above. Since the output of the X-ray sensor 311 is read as one pixel unit, the offset correction unit 400, the gain correction unit 500, the defect position detection unit 700, and the complementing unit 600 can be directly processed for each unit of pixel units. Good. However, the processing time is about ½ compared to the mode in which the X-ray sensor is not bundled. Therefore, it is convenient when you want to observe more in real time.

図１における報知手段７７０は、既知欠陥画素位置記憶手段７３０から出力される、例えば、出荷前の欠陥画素位置（恒久的欠陥位置），及び異常値検出器７２１から出力される新たな恒久的な欠陥画素位置，及び差分統計値検出器７２２から出力される一時的、経時的な欠陥画素位置を、分別して表示手段７０に表示させて、ユーザに知らせることにより、Ｘ線平面検出器３００の環境状況の改善、或いは保守サービスに寄与できる。 The notification unit 770 in FIG. 1 is output from the known defective pixel position storage unit 730, for example, a defective pixel position (permanent defect position) before shipment, and a new permanent output from the abnormal value detector 721. The defective pixel position and the temporal and temporal defective pixel position output from the difference statistic detector 722 are sorted and displayed on the display means 70 to inform the user, whereby the environment of the X-ray flat panel detector 300 is displayed. It can contribute to situation improvement or maintenance service.

図２（１）は、図１の欠陥位置検出部７００の変形例を示す図である。図２（１）で、図１と異なる点は、異常検出器７２１が出力する新欠陥画素位置を既知欠陥画素位置記憶手段７３０が記憶している既知欠陥画素位置に追加記録して（加算して）、加算手段７４０に送り差分統計値検出器７２２が出力する欠陥画素位置と加算させる。結果は、図１の構成と同じである。これは、既知欠陥画素位置記憶手段７３０は、以前からの恒久的欠陥位置を記憶しており、異常検出器７２１の出力、つまり、新たなに恒久的欠陥位置を以前の恒久的欠陥位置に追加して、双方が得られるように追加更新できるようにしたものである。さらに図２（２）は、異常検出器７２１が出力する新欠陥画素位置と既知欠陥画素位置記憶手段７３０が記憶している既知欠陥画素位置とを加算手段７８０で加算して、診断開始前既知欠陥画素位置記憶手段７９０に記憶させている。そして、加算手段７４０に送り差分統計値検出器７２２が出力する欠陥画素位置と加算させて、結果を欠陥位置記憶手段６１０に記憶させ、診断の曝射時に補完させる。 FIG. 2A is a diagram illustrating a modification of the defect position detection unit 700 in FIG. 2 (1) is different from FIG. 1 in that the new defective pixel position output from the abnormality detector 721 is additionally recorded (added) to the known defective pixel position stored in the known defective pixel position storage means 730. And adding to the defective pixel position output from the difference statistical value detector 722 to the adding means 740. The result is the same as the configuration of FIG. This is because the known defective pixel position storage means 730 stores the permanent defect position from before, and adds the output of the abnormality detector 721, that is, a new permanent defect position to the previous permanent defect position. Thus, it is possible to add and update so that both can be obtained. Further, FIG. 2 (2) shows that the new defective pixel position output from the abnormality detector 721 and the known defective pixel position stored in the known defective pixel position storage unit 730 are added by the adding unit 780 and known before the diagnosis is started. It is stored in the defective pixel position storage means 790. Then, it is added to the defective pixel position output from the difference statistical value detector 722, which is sent to the adding means 740, and the result is stored in the defective position storage means 610 and complemented at the time of diagnosis exposure.

図３は、図１の欠陥位置検出部７００を他の形態で構成したものである。図３の欠陥位置検出部１０００は、欠陥位置検出部７００が、主として差分値を基に欠陥位置を検出したのに対して、絶対値で検出するものである。 FIG. 3 shows a configuration of the defect position detection unit 700 of FIG. 1 in another form. The defect position detection unit 1000 in FIG. 3 is detected by an absolute value, whereas the defect position detection unit 700 detects a defect position mainly based on a difference value.

図３で、既知オフセット値分布記憶手段７５０は、予め、例えば、出荷時における、暗時の各画素値の平均画素値の分布から算出された、補正が適正に行える分布範囲を既知オフセット値分布として記憶しておく。例えば、各画素値の平均画素値を集めて平均化した全平均値をＭ、標準偏差値をσ１として、既知オフセット値分布範囲を次のように決めておく。
既知オフセット値分布範囲＝（Ｍ―Ｎ１×σ１）〜（Ｍ＋Ｎ２×σ１） ……（式２）
但し、Ｎ１，及びＮ２は（Ｎ１＝Ｎ２であってもよい）、平均画素値に対する画素
位置の頻度分布を基に決まられる整数値。
なお、Ｎ１×σ１の代わりをＬ１、Ｎ２×σ１の代わりにＬ２とし、標準偏差値σに
関係なく、平均画素値に対する画素位置の頻度分布から求めてもよい。
これらを図で表したのが図４（ｂ）である。図４（ｂ）は、横軸が平均画素値、縦軸が平均画素値に対する画素位置の頻度分布である。図４（ａ）と違い、横軸は平均画素値の絶対値である。なお、上記の既知オフセット値分布範囲は、固定的である必要はなく、しき（１）で示した所定範囲と同様に、上記した動作モードに対応して決定しておいても良い。 In FIG. 3, the known offset value distribution storage unit 750 calculates a distribution range in which correction can be appropriately performed, which is calculated in advance from, for example, the distribution of average pixel values of each pixel value in the dark at the time of shipment. Remember as. For example, a known offset value distribution range is determined as follows, assuming that an average value obtained by collecting and averaging the average pixel values of each pixel value is M and a standard deviation value is σ1.
Known offset value distribution range = (M−N1 × σ1) to (M + N2 × σ1) (Equation 2)
However, N1 and N2 (may be N1 = N2) are pixels with respect to the average pixel value.
An integer value determined based on the frequency distribution of locations.
Note that L1 may be substituted for N1 × σ1 and L2 instead of N2 × σ1, and it may be obtained from the frequency distribution of the pixel position with respect to the average pixel value regardless of the standard deviation value σ.
These are illustrated in FIG. 4B. In FIG. 4B, the horizontal axis represents the average pixel value, and the vertical axis represents the frequency distribution of the pixel position with respect to the average pixel value. Unlike FIG. 4A, the horizontal axis represents the absolute value of the average pixel value. Note that the known offset value distribution range does not have to be fixed, and may be determined corresponding to the operation mode described above, similarly to the predetermined range indicated by the threshold (1).

欠陥位置判定手段７６０は、オフセット値計算手段４１０が求めた暗時の各画素位置の平均画素値と既知オフセット値分布範囲とを比較し、平均画素値が既知オフセット値分布範囲を超えている場合、つまり（Ｍ―Ｎ１×σ１）以下、又は（Ｍ＋Ｎ２×σ１）以上のときに、その画素値の画素位置を欠陥画素位置と判定する。 When the average pixel value exceeds the known offset value distribution range, the defect position determination unit 760 compares the average pixel value at each pixel position in the dark obtained by the offset value calculation unit 410 with the known offset value distribution range. That is, when (M−N1 × σ1) or less, or (M + N2 × σ1) or more, the pixel position of the pixel value is determined as the defective pixel position.

図１における異常値検出器７２１から出力される恒久的な欠陥画素位置、及び差分統計値検出器７２２から出力される一時的、経時的な欠陥画素位置は、当然にも既知オフセット値分布範囲を超えることから、欠陥位置判定手段７６０の出力には、全部の欠陥画素位置が含まれてくる。したがって、欠陥位置判定手段７２０と違って、恒久的な欠陥画素位置と一時的、経時的な欠陥画素位置を分別ができない。
その他、欠陥位置判定手段７６０の使用にあたっては、欠陥位置判定手段７２０と同じである。 The permanent defective pixel position output from the abnormal value detector 721 in FIG. 1 and the temporary and temporal defective pixel position output from the difference statistical value detector 722 naturally have a known offset value distribution range. Therefore, the output of the defect position determination means 760 includes all defective pixel positions. Therefore, unlike the defect position determination means 720, it is impossible to distinguish between a permanent defective pixel position and a temporary and temporal defective pixel position.
In addition, the defect position determination unit 760 is used in the same manner as the defect position determination unit 720.

図６の使用例を基に、図１の構成及び図２（２）の構成を参照して、使用状況毎のオフセット補正値等の情報の変遷、特に欠陥画素位置が更新されていく状態を説明する。
（１）工場出荷段階
工場出荷前の調整で、オフセット校正モード、ゲイン校正モードを実施する。それぞれの補正値をオフセット補正値記憶手段４２０、ゲイン補正値記憶手段５２０に記憶させる。オフセット校正モードでは、実際に各画素位置の画素値を複数回収集して得た平均画素値を、全画素にわたって集めており、この全平均画素値をオフセット補正値としている。このため、この工場出荷前のオフセット校正モードで得られたオフセット補正値を、既知オフセット値（オリジナルオフセット値）として、既知オフセット値記憶手段７１０にも記憶させる。また、ここで得られた平均画素値のうち、欠陥と判定するための「下限値」と「上限値」のいずれかを超えた画素値の画素位置を既知欠陥画素位置（オリジナル欠陥画素位置）とし、これを既知欠陥画素位置記憶手段７３０に記憶させる。この既知欠陥画素位置記憶手段７３０に記憶されている既知欠陥画素位置は意図して欠陥画素位置を変更することがない限り診断中に更新されることはない。
また、オフセット校正モードは、診断中Ｘ線を曝射しない時に随時、システム制御手段９００により自動で実行されることが可能である。以降の段階ではオフセット校正モードがＸ線を曝射しない時に随時、自動で実行されていることを想定する。 Based on the usage example of FIG. 6, referring to the configuration of FIG. 1 and the configuration of FIG. 2 (2), the transition of information such as the offset correction value for each usage situation, particularly the state where the defective pixel position is updated. explain.
(1) Factory shipment stage Perform the offset calibration mode and gain calibration mode by adjustment before factory shipment. The respective correction values are stored in the offset correction value storage means 420 and the gain correction value storage means 520. In the offset calibration mode, average pixel values obtained by actually collecting pixel values at each pixel position a plurality of times are collected over all pixels, and this total average pixel value is used as an offset correction value. For this reason, the offset correction value obtained in the offset calibration mode before factory shipment is also stored in the known offset value storage unit 710 as a known offset value (original offset value). Also, among the average pixel values obtained here, the pixel position of the pixel value exceeding either the “lower limit value” or the “upper limit value” for determining a defect is a known defective pixel position (original defective pixel position). This is stored in the known defective pixel position storage means 730. The known defective pixel position stored in the known defective pixel position storage means 730 is not updated during diagnosis unless the defective pixel position is intentionally changed.
Further, the offset calibration mode can be automatically executed by the system control unit 900 at any time when X-rays are not exposed during diagnosis. In the subsequent stages, it is assumed that the offset calibration mode is automatically executed whenever necessary when X-rays are not emitted.

（２）診断段階については、以下、図６の使用例１、使用例２に沿って説明する。
（２−１）使用例１：図２（２）に示すように診断開始前既知欠陥画素位置記憶手段７９０を用意し、診断開始前に既知オフセット値記憶手段７１０及び診断開始前既知欠陥画素位置記憶手段７９０の情報を更新する場合を例として説明する。 (2) The diagnosis stage will be described below with reference to usage example 1 and usage example 2 in FIG.
(2-1) Use Example 1: As shown in FIG. 2 (2), a known defective pixel position storage unit 790 before starting diagnosis is prepared, and a known offset value storing unit 710 and a known defective pixel position before starting diagnosis are prepared before starting diagnosis. A case where the information in the storage unit 790 is updated will be described as an example.

（イ）診断１段階
診断に入る前に、オリジナルオフセット値、オリジナル欠陥画素位置を記憶した状態でオフセット校正モードを実行して、オフセット補正値１（オフセット補正値記憶手段４２０の内容）、欠陥位置判定手段７２０にて検出された新たな欠陥画素位置１を取得する。このオフセット補正値１を既知オフセット値記憶手段７１０に記憶させ、新たな欠陥画素位置１と既知オフセット値記憶手段７３０に記憶されている欠陥画素位置を重ね合わせたもの（加算手段７８０）を診断開始前既知欠陥画素位置記憶手段７９０に記憶させる。既知オフセット値記憶手段７１０及び診断開始前既知欠陥画素位置記憶手段７９０の内容は診断１が終了するまで更新されることはない。 (A) One stage of diagnosis Before entering the diagnosis, the offset calibration mode is executed in a state where the original offset value and the original defective pixel position are stored, the offset correction value 1 (contents of the offset correction value storage means 420), the defect position A new defective pixel position 1 detected by the determination unit 720 is acquired. This offset correction value 1 is stored in the known offset value storage unit 710, and a diagnosis (addition unit 780) is started by superimposing the new defective pixel position 1 and the defective pixel position stored in the known offset value storage unit 730. The data is stored in the previously known defective pixel position storage unit 790. The contents of the known offset value storage unit 710 and the known defective pixel position storage unit 790 before the diagnosis start are not updated until the diagnosis 1 is completed.

診断が開始されると、Ｘ線曝射しない時は随時、自動的にオフセット校正モードが実行され、オフセット校正モードが実行されるたびに、オフセット補正値（オフセット補正値記憶手段４２０の内容）は更新され、さらに欠陥位置判定手段７２０にて検出された新たな欠陥画素位置と診断開始前既知欠陥画素位置記憶手段７９０に記憶されている欠陥画素位置を重ね合わせたもの（加算手段７４０）を欠陥位置記憶手段６１０に記憶させる。このことにより、診断する時の撮像モードでは、Ｘ線曝射直前に実行されたオフセット校正モードで得られた最新のオフセット補正値と欠陥画素位置を基に画素値が校正（補正、補完）されて出力されることになる。 When diagnosis is started, the offset calibration mode is automatically executed whenever X-ray exposure is not performed, and each time the offset calibration mode is executed, the offset correction value (the contents of the offset correction value storage unit 420) is A new defect pixel position that is updated and detected by the defect position determination means 720 and a defective pixel position stored in the known defect pixel position storage means 790 before the start of diagnosis are superimposed (addition means 740). The data is stored in the position storage unit 610. As a result, in the imaging mode at the time of diagnosis, the pixel value is calibrated (corrected or complemented) based on the latest offset correction value and the defective pixel position obtained in the offset calibration mode executed immediately before the X-ray exposure. Will be output.

（ロ）診断２段階
診断１同様に診断に入る前に、オリジナルオフセット値、オリジナル欠陥画素位置を記憶した状態でオフセット校正モードを実行して、オフセット補正値２（オフセット補正値記憶手段４２０の内容）、欠陥位置判定手段７２０にて検出された新たな欠陥画素位置２を取得する。このオフセット補正値２を既知オフセット値記憶手段７１０に記憶させ、新たな欠陥画素位置２と既知欠陥画素位置記憶手段７３０に記憶されている欠陥画素位置を重ね合わせたもの（加算手段７８０）を診断開始前既知欠陥画素位置記憶手段７９０に記憶させる。既知オフセット値記憶手段７１０及び診断開始前既知欠陥画素位置記憶手段７９０の内容は診断２が終了するまで更新されることはない。
この後、診断が開始されると、Ｘ線曝射しない時は随時、自動的にオフセット校正モードが実行され、オフセット校正モードが実行されるたびに、オフセット補正値（オフセット補正値記憶手段４２０の内容）は更新され、さらに欠陥位置判定手段７２０にて検出された新たな欠陥画素位置と診断開始前既知欠陥画素位置記憶手段７９０に記憶されている欠陥画素位置を重ね合わせたもの（加算手段７４０）を欠陥位置記憶手段６１０に記憶させる。このことにより、診断する時の撮像モードでは、Ｘ線曝射直前に実行されたオフセット校正モードで得られた最新のオフセット補正値と欠陥画素位置を基に画素値が校正（補正、補完）されて出力される。 (B) Diagnosis 2 stage Before entering diagnosis as in diagnosis 1, the offset calibration mode is executed with the original offset value and the original defective pixel position stored, and the offset correction value 2 (the contents of the offset correction value storage means 420) ), A new defective pixel position 2 detected by the defect position determination means 720 is acquired. This offset correction value 2 is stored in the known offset value storage means 710, and a new defective pixel position 2 and a defective pixel position stored in the known defective pixel position storage means 730 are superimposed (addition means 780) is diagnosed. The data is stored in the known defective pixel position storage unit 790 before starting. The contents of the known offset value storage unit 710 and the known defective pixel position storage unit 790 before the start of diagnosis are not updated until the diagnosis 2 is completed.
Thereafter, when the diagnosis is started, the offset calibration mode is automatically executed whenever X-ray exposure is not performed, and each time the offset calibration mode is executed, the offset correction value (of the offset correction value storage unit 420) is executed. (Content) is updated, and a new defective pixel position detected by the defect position determination means 720 and a defective pixel position stored in the known defective pixel position storage means 790 before starting diagnosis are superimposed (adding means 740). ) Is stored in the defect position storage means 610. As a result, in the imaging mode at the time of diagnosis, the pixel value is calibrated (corrected or complemented) based on the latest offset correction value and the defective pixel position obtained in the offset calibration mode executed immediately before the X-ray exposure. Is output.

（２−２）使用例１：図１に示す構成であって、図２（２）のように診断開始前既知欠陥画素位置記憶手段７９０を用意しない場合であって、既知オフセット値記憶手段７１０を更新しない場合を例として説明する。
（イ）診断１段階
診断が開始されると、Ｘ線曝射しない時は随時、自動的にオフセット校正モードが実行され、オフセット校正モードが実行されるたびに、オフセット補正値（オフセット補正値記憶手段４２０の内容）は新しいオフセット補正値１に更新され、さらに欠陥位置判定手段７２０にて検出された新たな欠陥画素位置１と既知欠陥画素位置記憶手段７３０に記憶されている欠陥画素位置を重ね合わせたもの（加算手段７４０）を欠陥位置記憶手段６１０に記憶させる。このことにより、診断する時の撮像モードでは、Ｘ線曝射直前に実行されたオフセット校正モードで得られた最新のオフセット補正値と欠陥画素位置を基に画素値が校正（補正、補完）されて出力される。ここでは、既知オフセット値記憶手段７１０の内容は工場出荷段階の内容と同一のもので、決して更新されることはない。 (2-2) Usage Example 1: The configuration shown in FIG. 1 is a case where the known defective pixel position storage unit 790 before starting diagnosis is not prepared as shown in FIG. As an example, the case of not updating is described.
(B) One stage of diagnosis When diagnosis is started, the offset calibration mode is automatically executed whenever X-ray exposure is not performed, and each time the offset calibration mode is executed, the offset correction value (offset correction value storage) The contents of the means 420 are updated to the new offset correction value 1, and the new defective pixel position 1 detected by the defect position judging means 720 and the defective pixel position stored in the known defective pixel position storage means 730 are overlapped. The sum (adding means 740) is stored in the defect position storage means 610. As a result, in the imaging mode at the time of diagnosis, the pixel value is calibrated (corrected or complemented) based on the latest offset correction value and the defective pixel position obtained in the offset calibration mode executed immediately before the X-ray exposure. Is output. Here, the contents of the known offset value storage means 710 are the same as the contents at the factory shipment stage, and are never updated.

（ロ）診断２段階
診断1同様、診断が開始されると、Ｘ線曝射しない時は随時、自動的にオフセット校正モードが実行され、オフセット校正モードが実行されるたびに、オフセット補正値（オフセット補正値記憶手段４２０の内容）は新しいオフセット補正値２に更新され、さらに欠陥位置判定手段７２０にて検出された新たな欠陥画素位置２と既知欠陥画素位置記憶手段７３０に記憶されている欠陥画素位置を重ね合わせたもの（加算手段７４０）を欠陥位置記憶手段６１０に記憶させる。このことにより、診断する時の撮像モードでは、Ｘ線曝射直前に実行されたオフセット校正モードで得られた最新のオフセット補正値と欠陥画素位置を基に画素値が校正（補正、補完）されて出力される。ここでは、既知オフセット値記憶手段７１０の内容は工場出荷段階の内容と同一のもので、決して更新されることはない。 (B) Diagnosis 2 As in diagnosis 1, when diagnosis is started, the offset calibration mode is automatically executed whenever X-ray exposure is not performed, and the offset correction value ( The contents of the offset correction value storage means 420) are updated to the new offset correction value 2, and the new defective pixel position 2 detected by the defect position determination means 720 and the defect stored in the known defective pixel position storage means 730. The defect position storage means 610 stores the superimposed pixel positions (addition means 740). As a result, in the imaging mode at the time of diagnosis, the pixel value is calibrated (corrected or complemented) based on the latest offset correction value and the defective pixel position obtained in the offset calibration mode executed immediately before the X-ray exposure. Is output. Here, the contents of the known offset value storage means 710 are the same as the contents at the factory shipment stage, and are never updated.

上記使用例で、既知オフセット値記憶手段７３０に記憶されている欠陥画素位置を更新しないようにしているのは、次の理由による。つまり、ユーザ側でオフセット校正を実行している時に一時的なノイズがオフセット補正データにのってしまう場合がある。このノイズは次のオフセット校正を実行した時には消えていることがあります。そのため、既知オフセット値記憶手段７３０を更新してしまうと、そのノイズがのってしまったオフセット補正データを使って過補正することになってしまいます。このことを避けるために、既知オフセット値記憶手段７３０を更新しないようにしている。工場出荷時は、オフセット校正を実行した後、オフセット補正データに一時的なノイズがのっていないことを確認することができますが、ユーザ側ではオフセット校正を自動で実行しているため、オフセット補正データに一時的なノイズがのっていないことを確認できないためである。 In the above usage example, the defective pixel position stored in the known offset value storage unit 730 is not updated for the following reason. That is, there is a case where temporary noise is included in the offset correction data when the offset calibration is executed on the user side. This noise may disappear when the next offset calibration is performed. Therefore, if the known offset value storage means 730 is updated, it will be overcorrected using the offset correction data with the noise. In order to avoid this, the known offset value storage means 730 is not updated. At the time of shipment from the factory, after executing offset calibration, it can be confirmed that there is no temporary noise in the offset correction data. However, since the offset calibration is automatically performed on the user side, This is because it cannot be confirmed that there is no temporary noise in the correction data.

本実施形態の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of this embodiment. 図１の欠陥位置検出部７００の変形例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the modification of the defect position detection part 700 of FIG. 図１の欠陥位置検出部７００の他の実施形態を示す図である。It is a figure which shows other embodiment of the defect position detection part 700 of FIG. 画素値を基に欠陥画素位置の判定を行う基準を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the reference | standard which determines a defective pixel position based on a pixel value. 実施形態全体の動作フローを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the operation | movement flow of the whole embodiment. 使用状況毎のオフセット補正値等の情報の変遷、特に欠陥画素位置が更新されていくことを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the transition of information, such as an offset correction value for every use condition, especially that a defective pixel position is updated. Ｘ線診断装置の構成図である。従来技術、及び本実施形態の双方を説明するための図である。It is a block diagram of an X-ray diagnostic apparatus. It is a figure for demonstrating both a prior art and this embodiment. Ｘ線平面検出器の校正を説明するための図である。従来技術、及び本実施形態の双方を説明するための図である。It is a figure for demonstrating calibration of a X-ray flat panel detector. It is a figure for demonstrating both a prior art and this embodiment. 従来技術を説明するための図である。It is a figure for demonstrating a prior art.

符号の説明Explanation of symbols

１０Ｘ線管球
２０Ｘ線制御手段
６０ユーザインタフェース
２００読出制御手段
３００Ｘ線平面検出器
４００オフセット補正部
５００ゲイン補正部
６００補完手段
７００欠陥位置検出部
８００画像処理手段
９００システム制御手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 X-ray tube 20 X-ray control means 60 User interface 200 Reading control means 300 X-ray plane detector 400 Offset correction part 500 Gain correction part 600 Complementary means 700 Defect position detection part 800 Image processing means 900 System control means

Claims

Ｘ線の曝射を行う曝射手段と
平面状に、Ｘ線を検出する画素検出素子が配列されたＸ線平面検出器と、
前記Ｘ線平面検出器から所定の画素単位で、前記曝射によるＸ線を受けたときの画素値又は曝射停止時の暗時画素値を選択的に出力させる読出制御手段と、
前記暗時画素値に基づいて前記画素値をオフセット補正するオフセット補正部と、
前記暗時画素値に基づいて前記Ｘ線平面検出器の欠陥画素位置を検出する欠陥位置検出部と、
オフセット補正された前記画素値を受けて、前記欠陥画素位置に隣接する位置の前記画素値に基づいて該欠陥画素位置の画素値を生成し、生成された該画素値で補完された前記画素値を出力する欠陥点補完手段とを備えたことを特徴とするＸ線診断装置。 An X-ray flat panel detector in which pixel detecting elements for detecting X-rays are arranged in a plane, an exposure means for performing X-ray exposure;
Read control means for selectively outputting pixel values when receiving X-rays from the exposure or dark pixel values when exposure is stopped in predetermined pixel units from the X-ray flat panel detector;
An offset correction unit that offset-corrects the pixel value based on the dark pixel value;
A defect position detector for detecting a defective pixel position of the X-ray flat panel detector based on the dark pixel value;
The pixel value that has been offset-corrected, generates a pixel value at the defective pixel position based on the pixel value at a position adjacent to the defective pixel position, and is complemented with the generated pixel value An X-ray diagnostic apparatus comprising defect point complementing means for outputting

前記画素の出力を可変増幅するアンプと、
前記曝射手段に対して線量の異なった曝射を行うモード、前記アンプの増幅度を異なった増幅度とするモード、又はそれらの組合せからなるモードのうち、いずれかのモードを選択的に制御するシステム制御手段と、を備え、
前記システム制御手段が、前記曝射手段又は／及び前記アンプに対して前記モードを選択的に設定制御したとき、前記オフセット補正部、前記欠陥位置検出部、及び前記補完手段は、前記システム制御手段の前記設定制御されたモードに対応して動作するとともに、前記設定制御されたモードに対応して前記欠陥位置検出部が暗時画素値を基にした所定範囲を基準として検出することを特徴とする請求項１に記載のＸ線診断装置。 An amplifier that variably amplifies the output of the pixel;
One mode is selectively controlled among a mode in which the exposure means is exposed at different doses, a mode in which the amplification degree of the amplifier is different, or a combination thereof. System control means for
When the system control means selectively sets and controls the mode for the exposure means and / or the amplifier, the offset correction unit, the defect position detection unit, and the complementing means are the system control means. And the defect position detector detects a predetermined range based on a dark pixel value as a reference in correspondence with the setting-controlled mode. The X-ray diagnostic apparatus according to claim 1.

前記欠陥位置検出部は、前記暗時画素値が所定範囲を超えたときの画素の位置を前記欠陥画素位置として検出することを特徴とする請求項１又は２に記載のＸ線診断装置。 The X-ray diagnosis apparatus according to claim 1, wherein the defect position detection unit detects a position of a pixel when the dark pixel value exceeds a predetermined range as the defective pixel position.

前記欠陥位置検出部は、前記暗時画素値と既知のオフセット値との差分が所定の範囲を超えたときの画素の位置を前記欠陥画素位置として検出することを特徴とする請求項１又は２に記載のＸ線診断装置。 The defect position detection unit detects a pixel position when a difference between the dark pixel value and a known offset value exceeds a predetermined range as the defective pixel position. X-ray diagnostic apparatus according to.

前記補完手段は、前記検出された欠陥画素位置及び予め記憶された既知の欠陥画素の位置に対して、前記補完を行うことを特徴とする請求項１又は２に記載のＸ線診断装置。 The X-ray diagnostic apparatus according to claim 1, wherein the complementing unit performs the complementing on the detected defective pixel position and a previously stored position of a known defective pixel.

前記読出制御手段は、１つの画素の単位で１つの画素値として読み出し、又は複数の画素を纏めて１つの画素値として読み出すことを、選択的に行うことを特徴とする請求項１乃至５のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。 6. The readout control unit according to claim 1, wherein the readout control unit selectively performs readout as one pixel value in units of one pixel, or collectively reads out a plurality of pixels as one pixel value. The X-ray diagnostic apparatus according to any one of claims.

前記オフセット補正部は、同一位置の暗時画素値を複数取得して平均した暗時平均画素値を計算し、前記暗時平均画素値からオフセット補正値を計算するオフセット計算手段を備え、
前記欠陥位置検出部は、前記暗時画素値の代わりに前記暗時平均画素値を用いて、前記欠陥画素位置を検出することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。 The offset correction unit includes a plurality of dark pixel values at the same position, calculates an average pixel value during darkness, and includes an offset calculation unit that calculates an offset correction value from the dark average pixel value,
The said defect position detection part detects the said defective pixel position using the said dark average pixel value instead of the said dark pixel value, The said defective pixel position is characterized by the above-mentioned. X-ray diagnostic equipment.

Ｘ線平面検出器から所定の画素単位で、Ｘ線曝射停止時の暗時画素値を複数回出力する暗時データ読出制御段階と、
前記暗時画素値を基づいて前記複数回分の前記暗時画素値を平均化した暗時平均画素値を計算するとともに、オフセット補正値を求めるオフセット補正値取得段階と、
前記暗時平均画素値に基づいて前記Ｘ線平面検出器の欠陥画素位置を検出する欠陥位置検出段階と、
前記Ｘ線平面検出器から所定の画素単位で、Ｘ線曝射時画素値を出力する曝射データ読出制御段階と、
前記曝射時画素値を前記オフセット補正値で補正するオフセット補正段階と、
前記オフセット補正された前記曝射時画素値を受けて、前記欠陥画素位置に隣接する位置の前記曝射時画素値に基づいて前記欠陥画素位置の画素値を生成し、生成された該画素値で補完された前記曝謝時画素値を出力する補完段階とを備えたことを特徴とするＸ線診断装置の校正方法。 A dark data readout control step of outputting a dark pixel value at the time of stopping X-ray exposure a plurality of times from the X-ray flat panel detector in a predetermined pixel unit;
Calculating an average pixel value during darkness obtained by averaging the dark pixel values for the plurality of times based on the dark pixel value, and obtaining an offset correction value obtaining an offset correction value;
A defect position detecting step of detecting a defective pixel position of the X-ray flat panel detector based on the dark average pixel value;
An exposure data read control step of outputting pixel values during X-ray exposure in predetermined pixel units from the X-ray flat panel detector;
An offset correction step of correcting the exposure pixel value with the offset correction value;
The pixel value at the defective pixel position is generated based on the pixel value at the time of exposure on the basis of the pixel value at the time of exposure, which receives the offset-corrected pixel value at the time of exposure. And a complementing step of outputting the pixel value at the time of exposure compensated in step (a).

前記欠陥位置検出段階は、前記暗時平均画素値が所定範囲を超えたときの画素の位置を検出することを特徴とする請求項８に記載のＸ線診断装置の校正方法。 9. The method of calibrating an X-ray diagnostic apparatus according to claim 8, wherein the defect position detecting step detects a pixel position when the dark average pixel value exceeds a predetermined range.

前記欠陥位置検出段階は、前記暗時平均画素値と既知のオフセット値との差分が所定の範囲を超えたときの画素の位置を前記欠陥画素位置として検出することを特徴とする請求項８に記載のＸ線診断装置の校正方法。 9. The defect position detection step of detecting a position of a pixel when a difference between the dark average pixel value and a known offset value exceeds a predetermined range as the defective pixel position. A calibration method for the described X-ray diagnostic apparatus.