JP2006258633A - 分析装置 - Google Patents
分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006258633A JP2006258633A JP2005076958A JP2005076958A JP2006258633A JP 2006258633 A JP2006258633 A JP 2006258633A JP 2005076958 A JP2005076958 A JP 2005076958A JP 2005076958 A JP2005076958 A JP 2005076958A JP 2006258633 A JP2006258633 A JP 2006258633A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- background
- wavelength
- samples
- candidate
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
【解決手段】 ICP発光分光分析装置において、複数の試料を測定する場合に、各試料毎にバックグラウンド位置の候補となる波長位置を選出する候補位置選出手段と、これらの候補位置の中から適当なものをバックグラウンド位置として決定するバックグラウンド位置決定手段を設ける。前記候補位置選出手段は、まず、測定波長位置の左側で最も発光強度の低い波長位置を検出し、その発光強度値IBGを基に評価基準値を算出する。次に、測定波長位置の左側で該評価基準値以下の発光強度を示す波長位置を全て選出してバックグラウンド候補位置とする。前記バックグラウンド位置決定手段は、これらの候補位置の中から全試料に共通して存在するものを選出し、バックグラウンド位置として決定する。
【選択図】 図2
Description
a)複数の試料を測定する際に、各試料において信号強度が所定の条件を満たす波長位置をバックグラウンド候補位置として設定する候補位置選出手段と、
b)前記各試料におけるバックグラウンド候補位置の内、全ての試料に共通して存在するものをバックグラウンド位置として決定することを特徴とするバックグラウンド位置決定手段とを有することを特徴とする。
図1に本発明の一実施例であるICP発光分光分析装置の概略構成を示す。本実施例のICP発光分光分析装置は、発光部10、オートサンプラ20、分光部30、検出部40、データ処理部50、及び制御部60から成る。
20…オートサンプラ
30…分光部
31…集光レンズ
32…入口スリット
33…第1凹面鏡
34…平面回折格子
35…第2凹面鏡
36…出口スリット
40…検出部
41…光電子増倍管
50…データ処理部
60…制御部
70…汎用コンピュータ
71…入力部
72…表示部
Claims (3)
- 測定波長位置近傍の波長位置をバックグラウンド位置として設定し、該バックグラウンド位置における信号強度に基づいてバックグラウンド補正を行う機能を有する分析装置において、
a)複数の試料を測定する際に、各試料において信号強度が所定の条件を満たす波長位置をバックグラウンド候補位置として設定する候補位置選出手段と、
b)前記各試料におけるバックグラウンド候補位置の内、全ての試料に共通して存在するものをバックグラウンド位置として決定することを特徴とするバックグラウンド位置決定手段と、
を有することを特徴とする分析装置。 - 上記バックグラウンド位置決定手段が、全ての試料に共通して存在するバックグラウンド候補位置が複数ある場合に、測定波長位置に最も近いものをバックグラウンド位置として決定することを特徴とする請求項1に記載の分析装置。
- 更に、既に設定されたバックグラウンド位置が、新たに測定する試料に対して適用可能か否かを判定する機能を備えた請求項1又は2に記載の分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005076958A JP4506524B2 (ja) | 2005-03-17 | 2005-03-17 | 発光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005076958A JP4506524B2 (ja) | 2005-03-17 | 2005-03-17 | 発光分光分析装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006258633A true JP2006258633A (ja) | 2006-09-28 |
JP2006258633A5 JP2006258633A5 (ja) | 2007-07-26 |
JP4506524B2 JP4506524B2 (ja) | 2010-07-21 |
Family
ID=37098061
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005076958A Active JP4506524B2 (ja) | 2005-03-17 | 2005-03-17 | 発光分光分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4506524B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015194402A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-05 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | Icp発光分光分析装置 |
WO2017154505A1 (ja) * | 2016-03-08 | 2017-09-14 | 株式会社リガク | 多元素同時型蛍光x線分析装置および多元素同時蛍光x線分析方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3217420A1 (en) * | 2016-03-09 | 2017-09-13 | Carl Zeiss Microscopy Ltd. | Method, analysis system and computer program product for semi-automated x-ray elemental analysis using a particle microscope |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61270645A (ja) * | 1985-05-24 | 1986-11-29 | Hitachi Ltd | 誘導結合プラズマ発光分析装置 |
JP2000249654A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Japan Science & Technology Corp | フーリエ変換ラマン分光測定装置及びその応用 |
-
2005
- 2005-03-17 JP JP2005076958A patent/JP4506524B2/ja active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61270645A (ja) * | 1985-05-24 | 1986-11-29 | Hitachi Ltd | 誘導結合プラズマ発光分析装置 |
JP2000249654A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Japan Science & Technology Corp | フーリエ変換ラマン分光測定装置及びその応用 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015194402A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-05 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | Icp発光分光分析装置 |
WO2017154505A1 (ja) * | 2016-03-08 | 2017-09-14 | 株式会社リガク | 多元素同時型蛍光x線分析装置および多元素同時蛍光x線分析方法 |
JP2017161276A (ja) * | 2016-03-08 | 2017-09-14 | 株式会社リガク | 多元素同時型蛍光x線分析装置および多元素同時蛍光x線分析方法 |
US10883945B2 (en) | 2016-03-08 | 2021-01-05 | Rigaku Corporation | Simultaneous multi-elements analysis type X-ray fluorescence spectrometer, and simultaneous multi-elements X-ray fluorescence analyzing method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4506524B2 (ja) | 2010-07-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2011232106A (ja) | Icp発光分光分析装置 | |
JP4324701B2 (ja) | 発光分光分析装置 | |
JPS6337224A (ja) | 分光蛍光光度計 | |
JP4506554B2 (ja) | 発光分光分析方法及び発光分光分析装置 | |
JP4506524B2 (ja) | 発光分光分析装置 | |
JP4493804B2 (ja) | 誘導結合高周波プラズマ分光分析装置。 | |
CN108469431B (zh) | 发射光谱分析装置 | |
JP6507757B2 (ja) | 異物解析装置 | |
JP4754888B2 (ja) | 発光分光分析方法及び発光分光分析装置 | |
JP6931681B2 (ja) | 分析装置 | |
JP2006153460A (ja) | 蛍光検出方法、検出装置及び蛍光検出プログラム | |
JP2007024679A (ja) | 分析装置および分析処理方法 | |
JPH01214723A (ja) | 分光蛍光光度計 | |
JP4626572B2 (ja) | 発光分光分析装置 | |
JP4600228B2 (ja) | Icp発光分光分析方法及びicp発光分光分析装置 | |
CN112394079A (zh) | 电子束微区分析仪 | |
JP2713120B2 (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
JP2006266949A (ja) | 発光分光分析方法および発光分光分析装置 | |
JPH11211657A (ja) | 原子吸光光度計 | |
US20220163391A1 (en) | Diagnostic testing method for a spectrometer | |
JP4496888B2 (ja) | レーザ発光分光分析による機側分析方法 | |
JP2001235371A (ja) | 蛍光物体色測定方法および装置 | |
JP3218495U (ja) | Icp発光分析装置 | |
JP2004037192A (ja) | フォトダイオードアレイ分光分析装置 | |
JPS63151838A (ja) | 発光分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070612 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070612 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090609 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090623 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090821 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20090821 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091124 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100406 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100419 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130514 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4506524 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130514 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130514 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140514 Year of fee payment: 4 |