JP2006235324A - 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム - Google Patents
焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006235324A JP2006235324A JP2005050954A JP2005050954A JP2006235324A JP 2006235324 A JP2006235324 A JP 2006235324A JP 2005050954 A JP2005050954 A JP 2005050954A JP 2005050954 A JP2005050954 A JP 2005050954A JP 2006235324 A JP2006235324 A JP 2006235324A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- correction
- pixel
- correction amount
- corrected
- burn
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
Abstract
【課題】焼き付き現象の補正を優先するために、画像を大きく変化させる可能性があり、結果的に著しい画質の低下を招くおそれがあった。
【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する装置として、各画素の劣化量を算出する劣化量算出部と、算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、補正対象とする画素を、その発光輝度を規定する信号の大きさに応じて複数の区分に分類する明るさ判定部と、補正対象とする画素が、高い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する補正量を補正方向に対して増加するように修正する補正量修正部と、決定された補正量又は修正された補正量に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号を補正する輝度劣化補正部とを有するものを提案する。
【選択図】図１
【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する装置として、各画素の劣化量を算出する劣化量算出部と、算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、補正対象とする画素を、その発光輝度を規定する信号の大きさに応じて複数の区分に分類する明るさ判定部と、補正対象とする画素が、高い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する補正量を補正方向に対して増加するように修正する補正量修正部と、決定された補正量又は修正された補正量に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号を補正する輝度劣化補正部とを有するものを提案する。
【選択図】図１
Description
発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置及びこれを搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に応じて劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。以下、その幾つかを列記する。
特開２００３−２２８３２９号公報 この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。
しかし、既存の補正方法は、焼き付き現象の補正を優先するために、画像を大きく変化させる可能性があり、結果的に著しい画質の低下を招くおそれがあった。
発明者らは、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に生じた焼き付き現象の補正処理方法として、以下の技術手法を提案する。
（１）技術手法１
画質の低下が視認され難い高発光領域では、補正量を補正方向に対して増加するように修正したものを使用し、画質の低下が視認され易い低発光領域では決定された補正量をそのまま使用する手法
（２）技術手法２
画質の低下が視認され難い高発光領域では、補正量を補正方向について増加するように修正したものを使用し、画質の低下が視認され易い低発光領域では決定された補正量を補正方向に対して減少させたものを使用する手法
（１）技術手法１
画質の低下が視認され難い高発光領域では、補正量を補正方向に対して増加するように修正したものを使用し、画質の低下が視認され易い低発光領域では決定された補正量をそのまま使用する手法
（２）技術手法２
画質の低下が視認され難い高発光領域では、補正量を補正方向について増加するように修正したものを使用し、画質の低下が視認され易い低発光領域では決定された補正量を補正方向に対して減少させたものを使用する手法
なお、これら技術手法は、自発光装置そのものに適用できるだけでなく、出力装置に出力する画像信号を処理する各種の電子機器に対しても適用できる。また、これらの技術手法は、ハードウェアとして実現できる他、ソフトウェアとしても実現できる。勿論、処理の実行は、一部処理をハードウェアとして実行し、残る処理をソフトウェアとして実行することもできる。
因みに、自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含む。
因みに、自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含む。
劣化量に応じて一次的に生成された補正量を、高発光領域か低発光領域かに応じて適応的に修正することにより、視認される画質を一定に保った状態のまま、焼き付き補正効果を促進することができる。
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
（Ａ）焼き付き現象補正装置の形態例
（Ａ−１）形態例１
（ａ）装置構成
図１に、焼き付き現象補正装置の一つの形態例を示す。以下、焼き付き現象補正装置を「補正装置」という。
この形態例の場合、補正装置１は、同色で発光する画素毎に配置する。なお、発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、補正装置１は、３色全てに共通に配置することも可能できる。
この補正装置１は、劣化量算出部３、劣化量保存メモリ５、補正量決定部７、明るさ判定部９、輝度劣化補正部１１を主要な構成要素とする。
（Ａ−１）形態例１
（ａ）装置構成
図１に、焼き付き現象補正装置の一つの形態例を示す。以下、焼き付き現象補正装置を「補正装置」という。
この形態例の場合、補正装置１は、同色で発光する画素毎に配置する。なお、発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、補正装置１は、３色全てに共通に配置することも可能できる。
この補正装置１は、劣化量算出部３、劣化量保存メモリ５、補正量決定部７、明るさ判定部９、輝度劣化補正部１１を主要な構成要素とする。
劣化量算出部３は、補正処理前の入力信号に基づいて各画素の劣化量を算出する処理デバイスである。この形態例の場合、入力信号は階調データである。
劣化量は、各画素の輝度劣化を推測できる量であれば良く、任意の算出手法を適用できる。勿論、既存の算出手法を適用できる。
例えば、各画素に対応する階調データをフレーム毎に累積加算する手法を適用する。
また例えば、階調データと劣化の進行度合いとの間に比例関係が成立しない場合には、実測結果を反映した換算係数を用いて劣化量を算出する手法も適用できる。発明者らは、この換算係数を、「劣化率」という概念で規定する。劣化率は、ある階調データで自発光素子を継続的に発光させた場合における発光輝度の低下率として規定する。
また例えば、基準画素の劣化量に対する各画素の劣化量の差として与える手法も適用できる。
劣化量は、各画素の輝度劣化を推測できる量であれば良く、任意の算出手法を適用できる。勿論、既存の算出手法を適用できる。
例えば、各画素に対応する階調データをフレーム毎に累積加算する手法を適用する。
また例えば、階調データと劣化の進行度合いとの間に比例関係が成立しない場合には、実測結果を反映した換算係数を用いて劣化量を算出する手法も適用できる。発明者らは、この換算係数を、「劣化率」という概念で規定する。劣化率は、ある階調データで自発光素子を継続的に発光させた場合における発光輝度の低下率として規定する。
また例えば、基準画素の劣化量に対する各画素の劣化量の差として与える手法も適用できる。
図２に、階調データと劣化率との対応関係を示す変換テーブルの一例を示す。この場合、劣化量は、個々の階調データに対応する劣化率Ｒに発光期間Ｔを乗算した値として算出される。
もっとも、各画素に対応する階調データから図２に示す劣化量を直接読み出す手法を適用しても良い。このように読み出された１フレーム単位の劣化量をフレーム毎に累積加算したものを、この形態例の場合、各画素に対応する劣化量として扱う。
劣化量保存メモリ５は、１フレーム毎に更新される累積劣化量を保存するメモリである。
もっとも、各画素に対応する階調データから図２に示す劣化量を直接読み出す手法を適用しても良い。このように読み出された１フレーム単位の劣化量をフレーム毎に累積加算したものを、この形態例の場合、各画素に対応する劣化量として扱う。
劣化量保存メモリ５は、１フレーム毎に更新される累積劣化量を保存するメモリである。
補正量決定部７は、劣化量保存メモリ５から読み出した劣化量データに基づいて、各画素に対応する補正量を決定する処理デバイスである。補正量決定部７は、画素間に存在する劣化量の差を解消する方向で補正量を決定する。
もっとも、補正量の決定方法には、任意の手法を適用できる。この形態例は、決定された補正量の修正に特徴があり、どのような手法で補正量を決定するかは関係しないためである。
従って、補正量の決定は、例えば最も劣化の進んだ基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正量を決定する手法を適用しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を上げるように補正量が決定される。この場合、補正量は「正値」で与えられる。
もっとも、補正量の決定方法には、任意の手法を適用できる。この形態例は、決定された補正量の修正に特徴があり、どのような手法で補正量を決定するかは関係しないためである。
従って、補正量の決定は、例えば最も劣化の進んだ基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正量を決定する手法を適用しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を上げるように補正量が決定される。この場合、補正量は「正値」で与えられる。
また例えば、最も劣化の遅れた基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正量を決定する手法を適用しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を下げるように補正量が決定される。この場合、補正量は「負値」で与えられる。
決定された補正量は、輝度劣化補正部１１に与えられる。
明るさ判定部９は、画素毎に入力される階調データを監視し、画素毎に明るさを判定する処理デバイスである。明るさ判定部９は、階調データと比較する判定閾値を有し、階調データに応じた明るさ判定データを出力する。
決定された補正量は、輝度劣化補正部１１に与えられる。
明るさ判定部９は、画素毎に入力される階調データを監視し、画素毎に明るさを判定する処理デバイスである。明るさ判定部９は、階調データと比較する判定閾値を有し、階調データに応じた明るさ判定データを出力する。
ここでの明るさ判定データは、明領域か暗領域かを与える場合と、明るさに応じた修正係数を与える場合とがある。
図３は、階調データを明領域と暗領域のいずれかに割り当てる判定閾値と明るさ判定データの例である。なお、図３は、中間階調を判定閾値に用いているが、より高い値を判定閾値に用いることもできる。これらは、人間の視覚特性を考慮して設定する。もっとも、画面によっては、中間階調よりも小さい値を判定閾値に設定しても良い。
図３は、階調データを明領域と暗領域のいずれかに割り当てる判定閾値と明るさ判定データの例である。なお、図３は、中間階調を判定閾値に用いているが、より高い値を判定閾値に用いることもできる。これらは、人間の視覚特性を考慮して設定する。もっとも、画面によっては、中間階調よりも小さい値を判定閾値に設定しても良い。
図４は、階調データを修正係数Ａ０〜Ａ２５５に割り当てるための判定閾値と明るさ判定データの例である。
なお、図４は、１階調刻みで判定閾値を設定しているが、複数階調刻みで判定閾値を設定しても良い。ここで、修正係数には、Ａi+1 ≧Ａi の関係（ｉ＝０〜２４４）が成立するものとする。また、修正係数は、ある判定閾値を境に正値と負値が混在しても良いものとする。すなわち、明領域の修正係数は正値、暗領域の修正係数は負値とする。
なお、図４は、１階調刻みで判定閾値を設定しているが、複数階調刻みで判定閾値を設定しても良い。ここで、修正係数には、Ａi+1 ≧Ａi の関係（ｉ＝０〜２４４）が成立するものとする。また、修正係数は、ある判定閾値を境に正値と負値が混在しても良いものとする。すなわち、明領域の修正係数は正値、暗領域の修正係数は負値とする。
輝度劣化補正部１１は、画素毎に与えられる補正量を明るさ判定結果に応じて修正し、修正後の補正量に基づいて階調データを補正する補正処理を実行する処理デバイスである。すなわち、輝度劣化補正部１１は、適応的に補正量を修正する機能と、修正後の補正量に基づいて輝度劣化を補正する機能との２つを有している。
図５に、輝度劣化補正部１１の構成例を示す。輝度劣化補正部１１は、明るさ判定データメモリ１１Ａ、補正データメモリ１１Ｂ、補正量修正部１１Ｃ、補正実行部１１Ｄで構成する。
このうち、明るさ判定データメモリ１１Ａは、明るさ判定部９から与えられる明るさ判定データを保存するメモリである。補正データメモリ１１Ｂは、補正量決定部７から与えられる補正量を保存するメモリである。
図５に、輝度劣化補正部１１の構成例を示す。輝度劣化補正部１１は、明るさ判定データメモリ１１Ａ、補正データメモリ１１Ｂ、補正量修正部１１Ｃ、補正実行部１１Ｄで構成する。
このうち、明るさ判定データメモリ１１Ａは、明るさ判定部９から与えられる明るさ判定データを保存するメモリである。補正データメモリ１１Ｂは、補正量決定部７から与えられる補正量を保存するメモリである。
補正量修正部１１Ｃは、動き判定データに応じて適応的に補正量を修正する処理デバイスである。補正量の修正方法には幾つかの方法がある。例えば、明るさ判定データとして、明領域と暗領域の２つの情報が与えられる場合の修正方法の例を図６に示す。
このうち、図６（Ａ）に示す修正方法を採用した場合、明領域に対応する補正量は、補正方向に対して大幅に増加するように修正される。これは、階調変化が非常に視認され難いためである。また、暗領域に対応する補正量は、補正量を修正せずに出力される。
この修正方法は、画質の低下が知覚され難い明領域において、補正効果を積極的に加速させることを意味する。
このうち、図６（Ａ）に示す修正方法を採用した場合、明領域に対応する補正量は、補正方向に対して大幅に増加するように修正される。これは、階調変化が非常に視認され難いためである。また、暗領域に対応する補正量は、補正量を修正せずに出力される。
この修正方法は、画質の低下が知覚され難い明領域において、補正効果を積極的に加速させることを意味する。
また例えば、図６（Ｂ）に示す修正方法を採用した場合、明領域に対応する補正量は、補正方向に対して増加するように修正される。これは、階調変化が非常に知覚され難いためである。また、暗領域に対応する補正量は、補正方向に対して補正量を減少させるように修正される。これは、人間の視覚特性は、暗領域の階調変化を知覚し易いためである。
すなわち、動画像領域の補正量は絶対値が大きくなるように修正され、静止画像領域の補正量は絶対値が小さくなるように修正される。
すなわち、動画像領域の補正量は絶対値が大きくなるように修正され、静止画像領域の補正量は絶対値が小さくなるように修正される。
このことは、画質の低下が知覚され難い明領域では、補正効果が積極的に加速されることを意味する。一方で、画質の低下が知覚され易い暗領域では、補正効果が積極的に減速されることを意味する。すなわち、原画像に近い画像が表示されることを意味する。
勿論、暗領域に対する補正効果は低減するが、同一画素が暗領域になる機会に積極的に焼き付き補正効果が促進される。従って、時間の経過と共に、焼き付き現象は知覚され難くなる。
勿論、暗領域に対する補正効果は低減するが、同一画素が暗領域になる機会に積極的に焼き付き補正効果が促進される。従って、時間の経過と共に、焼き付き現象は知覚され難くなる。
この他、図６（Ｃ）に示す修正方法を採用することもできる。この場合、明領域と判定された画素に対応する補正量は補正方向に対して増加するように修正されるが、暗領域と判定された画素に対応する補正量は０（ゼロ）に修正される。すなわち、明領域の補正量は絶対値が大きくなるように修正されるものの、暗領域では補正処理が実行されないように修正が実行される。
このことは、画質の低下が知覚され難い明領域では、補正効果が加速する一方で、画質の低下が知覚され易い暗領域では、原画像がそのまま表示されることを意味する。当然、暗領域の焼き付きはそのまま残ることになるが、同一画素が明領域になる機会に積極的に焼き付き補正効果が促進される。従って、時間の経過と共に、焼き付き現象は知覚され難くなる。
このことは、画質の低下が知覚され難い明領域では、補正効果が加速する一方で、画質の低下が知覚され易い暗領域では、原画像がそのまま表示されることを意味する。当然、暗領域の焼き付きはそのまま残ることになるが、同一画素が明領域になる機会に積極的に焼き付き補正効果が促進される。従って、時間の経過と共に、焼き付き現象は知覚され難くなる。
ところで、補正量を増減する際に使用する修正量は、全画素について固定値としても良いし、補正量に応じて変動させても良い。例えば、修正量を固定する方法には、一律に１０階調を修正量とする方法がある。また例えば、修正量を補正量に応じて変動させる方法には、補正量の数％を与える方法がある。もっとも、修正量を１倍以上の範囲で与えることも使用状況によっては許可する。修正量をどのように設定するかは、人間の視覚特性に大きく依存するため、実験結果に応じて最適な量を選択すれば良い。
また、この形態例の場合は、発光色の違いによらず同じ修正方法を適用するものとするが、修正方法や修正量は、発光色別に与えることも可能である。
また、この形態例の場合は、発光色の違いによらず同じ修正方法を適用するものとするが、修正方法や修正量は、発光色別に与えることも可能である。
次に、明るさ判定データが、明るさに応じて修正係数Ａ０〜Ａ２５５で与えられる場合の修正方法の例を図７に示す。
このうち、図７（Ａ）に示す修正方法を採用した場合、明領域に対応する修正量は、補正量＊Ａｔ（ｔは０〜２５５のいずれかの数値）として算出される。この領域の修正係数Ａｔは大きいため、補正量の絶対値は補正方向に対して大幅に増加される。一方、暗領域に対応する修正量はゼロである。この場合、補正量は無修正のまま出力される。
また、図７（Ｂ）に示す修正方法を採用することもできる。この場合、明領域に対応する修正量は、正値の修正係数Ａｔを用い、補正量＊Ａｔとして算出される。すなわち、補正量は補正方向に大きくなるように修正される。
一方、暗領域に対応する修正量は、負値の修正係数Ａｔを用い、補正量＊Ａｔとして算出される。すなわち、補正量は補正方向とは逆向きに修正される。
このうち、図７（Ａ）に示す修正方法を採用した場合、明領域に対応する修正量は、補正量＊Ａｔ（ｔは０〜２５５のいずれかの数値）として算出される。この領域の修正係数Ａｔは大きいため、補正量の絶対値は補正方向に対して大幅に増加される。一方、暗領域に対応する修正量はゼロである。この場合、補正量は無修正のまま出力される。
また、図７（Ｂ）に示す修正方法を採用することもできる。この場合、明領域に対応する修正量は、正値の修正係数Ａｔを用い、補正量＊Ａｔとして算出される。すなわち、補正量は補正方向に大きくなるように修正される。
一方、暗領域に対応する修正量は、負値の修正係数Ａｔを用い、補正量＊Ａｔとして算出される。すなわち、補正量は補正方向とは逆向きに修正される。
補正実行部１１Ｄは、補正量修正部１１Ｃから与えられる修正済みの補正量に基づいて、階調データの補正処理を実行する処理デバイスである。すなわち、補正実行部１１Ｄは、その補正方向に応じた符号を有する補正量を各画素の階調データに加算し、階調データを補正する。すなわち、輝度劣化を促進する場合には、補正量を階調データに加算し、輝度劣化を遅らせる場合には、補正量を階調データから減算する。
補正後の階調データは、補正実行部１１Ｄから後段回路（不図示）に出力され、最終的には各画素に対応する発光素子の発光動作を制御する。
この結果、焼き付き現象の補正動作と画質とが両立される。
補正後の階調データは、補正実行部１１Ｄから後段回路（不図示）に出力され、最終的には各画素に対応する発光素子の発光動作を制御する。
この結果、焼き付き現象の補正動作と画質とが両立される。
（ｂ）補正処理動作
図８に、補正装置１で実行される処理手順例を示す。なお、図８は、図６（Ａ）に示す修正方法を採用する場合について表している。また、補正量修正部１１Ｃにおける修正量は固定値とする。
まず、劣化量算出部３が、各画素について劣化量を算出する（Ｓ１）。この処理は、入力信号である階調データに基づいて実行される。
次に、補正量決定部５が、算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する（Ｓ２）。
次に、補正量修正部１１Ｃが、各画素が暗領域であるか否かを判定する（Ｓ３）。勿論、各画素が明領域であるか否かを判定することもできる。
図８に、補正装置１で実行される処理手順例を示す。なお、図８は、図６（Ａ）に示す修正方法を採用する場合について表している。また、補正量修正部１１Ｃにおける修正量は固定値とする。
まず、劣化量算出部３が、各画素について劣化量を算出する（Ｓ１）。この処理は、入力信号である階調データに基づいて実行される。
次に、補正量決定部５が、算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する（Ｓ２）。
次に、補正量修正部１１Ｃが、各画素が暗領域であるか否かを判定する（Ｓ３）。勿論、各画素が明領域であるか否かを判定することもできる。
暗領域と判定されたとき（肯定結果が得られたとき）、補正量修正部１１Ｃは、補正量を無修正のまま補正実行部１１Ｄに与え、補正実行部１１Ｄが焼き付き現象の補正処理を実行する（Ｓ４，Ｓ５）。
一方、明領域と判定されたとき（否定結果が得られたとき）、補正量修正部１１Ｃは、与えられた補正量を補正方向に増加させるように修正を加え、修正後の補正量を補正実行部１１Ｄに与える（Ｓ６）。この後、補正量実行部１１Ｄが、与えられた補正量に基づいて焼き付き現象の補正処理を実行する（Ｓ５）。
この処理が補正対象範囲内の全画素について繰り返し実行される。補正対象範囲は、表示デバイスの全画素（有効画像領域）であることが望ましいが、特定の画素や領域を指定することも可能である。
一方、明領域と判定されたとき（否定結果が得られたとき）、補正量修正部１１Ｃは、与えられた補正量を補正方向に増加させるように修正を加え、修正後の補正量を補正実行部１１Ｄに与える（Ｓ６）。この後、補正量実行部１１Ｄが、与えられた補正量に基づいて焼き付き現象の補正処理を実行する（Ｓ５）。
この処理が補正対象範囲内の全画素について繰り返し実行される。補正対象範囲は、表示デバイスの全画素（有効画像領域）であることが望ましいが、特定の画素や領域を指定することも可能である。
（ｃ）形態例の効果
この補正装置１を用いれば、一次的に算出される補正量が人間に知覚され難いような小さい値で算出された場合でも、明領域のように画質の低下が知覚され難い領域については補正量を積極的に増加させ、焼き付き現象の補正効果と視覚特性との両立を図ることができる。
勿論、一次的に算出される補正量では暗領域で人間に知覚される可能性がある場合には、明領域については積極的に補正量を増加させる一方で、暗領域については積極的に補正量を減少させて、焼き付き現象の補正効果と視覚特性との両立を図ることもできる。
すなわち、従来技術に比して実用性の高い焼き付き現象の補正方法を実現できる。
この補正装置１を用いれば、一次的に算出される補正量が人間に知覚され難いような小さい値で算出された場合でも、明領域のように画質の低下が知覚され難い領域については補正量を積極的に増加させ、焼き付き現象の補正効果と視覚特性との両立を図ることができる。
勿論、一次的に算出される補正量では暗領域で人間に知覚される可能性がある場合には、明領域については積極的に補正量を増加させる一方で、暗領域については積極的に補正量を減少させて、焼き付き現象の補正効果と視覚特性との両立を図ることもできる。
すなわち、従来技術に比して実用性の高い焼き付き現象の補正方法を実現できる。
（Ａ−２）形態例２
図９に、補正装置の他の形態例を示す。なお、図９には、図１との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置２１の基本的な構成及び処理動作は、形態例１の場合と同様である。
ただし、補正装置２１は、各画素に対応する劣化量を、輝度劣化補正部１１による補正処理後の階調データに基づいて算出する点で補正装置１と異なっている。
この構成の違いにより、補正装置２１は、実際の発光状態を劣化量の算出に直接反映することができる。
また、形態例１の場合、輝度劣化補正部１１における補正効果を、劣化量に反映させる処理機能が焼き付き補正の精度を向上する上で必要になる。しかし、この補正装置２１の場合には、そのような処理機能が必要なく、システム規模の削減とコストダウンを実現できる。
図９に、補正装置の他の形態例を示す。なお、図９には、図１との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置２１の基本的な構成及び処理動作は、形態例１の場合と同様である。
ただし、補正装置２１は、各画素に対応する劣化量を、輝度劣化補正部１１による補正処理後の階調データに基づいて算出する点で補正装置１と異なっている。
この構成の違いにより、補正装置２１は、実際の発光状態を劣化量の算出に直接反映することができる。
また、形態例１の場合、輝度劣化補正部１１における補正効果を、劣化量に反映させる処理機能が焼き付き補正の精度を向上する上で必要になる。しかし、この補正装置２１の場合には、そのような処理機能が必要なく、システム規模の削減とコストダウンを実現できる。
（Ａ−３）形態例３
図１０に、補正装置の他の形態例を示す。図１０にも、図１との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置３１の基本的な構成及び処理動作は、形態例１の場合と同様である。
ただし、補正装置３１は、明るさの判定に使用する階調データと、焼き付き現象の補正対象とする入力信号とが相違する。
図１０に示す入力信号には、自発光素子の駆動条件に関する信号であれば任意の信号を適用できる。例えば各自発光素子（画素）に対応する階調データの累積値、自発光素子の駆動電流値、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値等を適用できる。
これらの信号は、いずれも自発光素子の発光輝度や劣化量を与えるパラメータとして既存の技術においても利用されている。
なお、この形態例の場合も、各画素に対応する劣化量を、輝度劣化補正部１１による補正処理後の階調データに基づいて算出する場合に適用することができる。
図１０に、補正装置の他の形態例を示す。図１０にも、図１との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置３１の基本的な構成及び処理動作は、形態例１の場合と同様である。
ただし、補正装置３１は、明るさの判定に使用する階調データと、焼き付き現象の補正対象とする入力信号とが相違する。
図１０に示す入力信号には、自発光素子の駆動条件に関する信号であれば任意の信号を適用できる。例えば各自発光素子（画素）に対応する階調データの累積値、自発光素子の駆動電流値、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値等を適用できる。
これらの信号は、いずれも自発光素子の発光輝度や劣化量を与えるパラメータとして既存の技術においても利用されている。
なお、この形態例の場合も、各画素に対応する劣化量を、輝度劣化補正部１１による補正処理後の階調データに基づいて算出する場合に適用することができる。
（Ａ−４）形態例４
図１１に、補正装置の他の形態例を示す。図１１にも、図１との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置４１の基本的な構成及び処理動作は、形態例１の場合と同様である。
ただし、補正装置４１は、劣化量の算出に使用する入力信号と、焼き付き現象の補正対象とする入力信号と、明るさの判定に使用する階調データとが相違する場合に適用される。
図１１の場合、劣化量の算出に使用する信号を入力信号１と表記し、焼き付き現象の補正対象とする信号を入力信号２と表記する。入力信号１と入力信号２は、自発光素子の駆動条件に関する信号のうち異なる２つである点を除き、基本的な処理動作は前述した形態例と同様である。
図１１に、補正装置の他の形態例を示す。図１１にも、図１との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置４１の基本的な構成及び処理動作は、形態例１の場合と同様である。
ただし、補正装置４１は、劣化量の算出に使用する入力信号と、焼き付き現象の補正対象とする入力信号と、明るさの判定に使用する階調データとが相違する場合に適用される。
図１１の場合、劣化量の算出に使用する信号を入力信号１と表記し、焼き付き現象の補正対象とする信号を入力信号２と表記する。入力信号１と入力信号２は、自発光素子の駆動条件に関する信号のうち異なる２つである点を除き、基本的な処理動作は前述した形態例と同様である。
（Ａ−５）形態例５
（ａ）装置構成
図１２に、補正装置の他の形態例を示す。図１２にも、図１との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置５１は、多くの点で形態例１と共通する。すなわち、劣化量算出部３、劣化量保存メモリ５、補正量決定部７、明るさ判定部９には、形態例１と同じものを使用する。
ただし、補正装置５１では、新規な処理デバイスとして動画静止画判定部５３を使用する。また、この動き判定の結果を焼き付き現象の補正動作に反映させる機能を搭載した輝度劣化補正部５５を使用する。
（ａ）装置構成
図１２に、補正装置の他の形態例を示す。図１２にも、図１との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置５１は、多くの点で形態例１と共通する。すなわち、劣化量算出部３、劣化量保存メモリ５、補正量決定部７、明るさ判定部９には、形態例１と同じものを使用する。
ただし、補正装置５１では、新規な処理デバイスとして動画静止画判定部５３を使用する。また、この動き判定の結果を焼き付き現象の補正動作に反映させる機能を搭載した輝度劣化補正部５５を使用する。
動画静止画判定部５３は、画素毎に入力される階調データを監視し、各画素が動画像領域に属するか、静止画像領域に属するかを判定する処理デバイスである。
図１３に、動画静止画判定部５３の構成例を示す。動画静止画判定部５３は、現フレームメモリ５３Ａ、前フレームメモリ５３Ｂ、比較判定部５３Ｃで構成する。
現フレームメモリ５３Ａは、最新フレームの階調データの保存用であり、前フレームメモリ５３Ｂは、現フレームに対して１フレーム前の階調データの保存用である。
比較判定部５３Ｃは、現フレームに保存されている階調データと前フレームに保存されている階調データを同一画素について比較し、その比較結果に基づいて動画像領域か静止画像領域かを判定する処理デバイスである。
図１３に、動画静止画判定部５３の構成例を示す。動画静止画判定部５３は、現フレームメモリ５３Ａ、前フレームメモリ５３Ｂ、比較判定部５３Ｃで構成する。
現フレームメモリ５３Ａは、最新フレームの階調データの保存用であり、前フレームメモリ５３Ｂは、現フレームに対して１フレーム前の階調データの保存用である。
比較判定部５３Ｃは、現フレームに保存されている階調データと前フレームに保存されている階調データを同一画素について比較し、その比較結果に基づいて動画像領域か静止画像領域かを判定する処理デバイスである。
この例の場合、比較判定部５３Ｃは、フレーム間で階調データが一致する画素を静止画像領域と判定し、フレーム間で階調データが一致しない画素を動画像領域と判定する。
なお、比較判定部５３Ｃは、静止画像領域と判定した画素の判定出力を「０」に設定し、動画像領域と判定した画素の判定出力を「１」に設定する。
図１４に、比較判定部５３Ｃの動作例を示す。図１４（Ａ）は、現フレームの階調データを示し、図１４（Ｂ）は、前フレームの階調データを示す。また図１４（Ｃ）は、現フレームと前フレームの比較結果を反映した動き判定データの出力例を示す。
なお、比較判定部５３Ｃは、静止画像領域と判定した画素の判定出力を「０」に設定し、動画像領域と判定した画素の判定出力を「１」に設定する。
図１４に、比較判定部５３Ｃの動作例を示す。図１４（Ａ）は、現フレームの階調データを示し、図１４（Ｂ）は、前フレームの階調データを示す。また図１４（Ｃ）は、現フレームと前フレームの比較結果を反映した動き判定データの出力例を示す。
例えば、図１４（Ａ）及び（Ｂ）の場合、フレーム領域の左上隅に位置する画素の階調データは、現フレームも前フレームも共に「５５」である。従って、この画素は静止画像領域と判定され、図１４（Ｃ）に示すように、動き判定データは「０」となる。
また例えば、図１４（Ａ）及び（Ｂ）の場合、フレーム領域の左端から１列目、上から２段目の画素の階調データは、現フレームが「１１１」であるのに対し、前フレームは「２２」である。従って、この画素は動画像領域と判定され、図１４（Ｃ）に示すように、動き判定データは「１」となる。他の画素についても同様である。
この判定結果が、比較判定部５３Ｃから輝度劣化補正部１１に与えられる。
また例えば、図１４（Ａ）及び（Ｂ）の場合、フレーム領域の左端から１列目、上から２段目の画素の階調データは、現フレームが「１１１」であるのに対し、前フレームは「２２」である。従って、この画素は動画像領域と判定され、図１４（Ｃ）に示すように、動き判定データは「１」となる。他の画素についても同様である。
この判定結果が、比較判定部５３Ｃから輝度劣化補正部１１に与えられる。
図１５に、輝度劣化補正部５５の構成例を示す。輝度劣化補正部５５は、明るさ判定データメモリ５５Ａ、動き判定データメモリ５５Ｂ、補正データメモリ５５Ｃ、補正量修正部５５Ｄ、補正実行部５５Ｅで構成する。
このうち、明るさ判定データメモリ５５Ａは、明るさ判定部９から与えられる明るさ判定データを保存するメモリである。動き判定データメモリ５５Ｂは、動画静止画判定部５３から与えられる動き判定データ（０又は１）を保存するメモリである。補正データメモリ５５Ｃは、補正量決定部７から与えられる補正量を保存するメモリである。
このうち、明るさ判定データメモリ５５Ａは、明るさ判定部９から与えられる明るさ判定データを保存するメモリである。動き判定データメモリ５５Ｂは、動画静止画判定部５３から与えられる動き判定データ（０又は１）を保存するメモリである。補正データメモリ５５Ｃは、補正量決定部７から与えられる補正量を保存するメモリである。
補正量修正部５５Ｄは、明るさ判定データと動き判定データとに応じて適応的に補正量を修正する処理デバイスである。補正量の修正方法には幾つかの方法がある。
例えば、明るさ判定データとして、明領域と暗領域の２つの情報が与えられる場合の修正方法の例を図１６に示す。
このうち、図１６（Ａ）に示す修正方法を採用した場合、動画像が表示される明領域に対応する補正量は、補正方向に対して大幅に増加するように修正される。これは、階調変化が非常に視認され難いためである。
また、静止画像が表示される暗領域に対応する補正量は、補正量を修正せずに出力する。また、これら領域のいずれとも異なる領域に対応する補正量は、補正方向に対して小幅に増加するように修正する。
例えば、明るさ判定データとして、明領域と暗領域の２つの情報が与えられる場合の修正方法の例を図１６に示す。
このうち、図１６（Ａ）に示す修正方法を採用した場合、動画像が表示される明領域に対応する補正量は、補正方向に対して大幅に増加するように修正される。これは、階調変化が非常に視認され難いためである。
また、静止画像が表示される暗領域に対応する補正量は、補正量を修正せずに出力する。また、これら領域のいずれとも異なる領域に対応する補正量は、補正方向に対して小幅に増加するように修正する。
また例えば、図１６（Ｂ）に示す修正方法を採用した場合、動画像が表示される明領域に対応する補正量は、補正方向に対して増加するように修正される。これは、階調変化が非常に知覚され難いためである。
また、静止画像が表示される暗領域に対応する補正量は、補正方向に対して補正量を減少させるように修正される。これは、階調変化が非常に知覚され易いためである。また、これら領域のいずれとも異なる領域に対応する補正量は、修正されずに出力される。これらの領域は、階調変化と視認され易さが均衡する場合に効果的である。
勿論、この場合も、補正量を増減する際に使用する修正量は、全画素について固定値としても良いし、補正量に応じて変動させても良い。また、修正方法や修正量を、発光色別に与えることも可能である。
また、静止画像が表示される暗領域に対応する補正量は、補正方向に対して補正量を減少させるように修正される。これは、階調変化が非常に知覚され易いためである。また、これら領域のいずれとも異なる領域に対応する補正量は、修正されずに出力される。これらの領域は、階調変化と視認され易さが均衡する場合に効果的である。
勿論、この場合も、補正量を増減する際に使用する修正量は、全画素について固定値としても良いし、補正量に応じて変動させても良い。また、修正方法や修正量を、発光色別に与えることも可能である。
なお、明るさ判定データを修正係数Ａ０〜Ａ２５５で与える場合には、図１７に示す修正方法を適用することもできる。
このうち、図１７（Ａ）に示す修正方法を採用した場合、動画像が表示される明領域に対応する修正量は、補正量＊Ａｔ（ｔは０〜２５５のいずれかの数値）＋固定量Ｋとして算出される。
なお、固定量Ｋは、動画像領域について加算される固定の修正量とする。この領域の修正係数Ａｔは大きいため、補正量の絶対値は補正方向に対して大幅に増加される。
また、動画像が表示される暗領域に対応する修正量も、補正量＊Ａｔ＋固定量Ｋとして算出される。修正量を与える式は、明領域と同じであるが、修正係数Ａｔは負値を採る。
このうち、図１７（Ａ）に示す修正方法を採用した場合、動画像が表示される明領域に対応する修正量は、補正量＊Ａｔ（ｔは０〜２５５のいずれかの数値）＋固定量Ｋとして算出される。
なお、固定量Ｋは、動画像領域について加算される固定の修正量とする。この領域の修正係数Ａｔは大きいため、補正量の絶対値は補正方向に対して大幅に増加される。
また、動画像が表示される暗領域に対応する修正量も、補正量＊Ａｔ＋固定量Ｋとして算出される。修正量を与える式は、明領域と同じであるが、修正係数Ａｔは負値を採る。
また、静止画像が表示される明領域に対応する修正量は、補正量＊Ａｔとして算出される。固定量Ｋがない分、修正量は小さくなるが、補正量は補正方向に増加される。また、静止画像が表示される暗領域に対応する修正量はゼロである。すなわち、補正量は、無修正のまま出力される。
また、補正量修正部５５Ｄでは、図１７（Ｂ）に示す修正方法を採用することもできる。この場合、動画像が表示される明領域に対応する修正量は、補正量＊Ａｔ＋固定量Ｋとして算出される。
また、静止画像が表示される暗領域に対応する修正量は、補正量＊Ａｔとして算出される。ただし、修正係数Ａｔは負値を採る。従って、補正量は補正方向とは逆向きに修正される。その他の領域に対応する修正量はゼロである。すなわち、補正量は、無修正のまま出力される。
また、補正量修正部５５Ｄでは、図１７（Ｂ）に示す修正方法を採用することもできる。この場合、動画像が表示される明領域に対応する修正量は、補正量＊Ａｔ＋固定量Ｋとして算出される。
また、静止画像が表示される暗領域に対応する修正量は、補正量＊Ａｔとして算出される。ただし、修正係数Ａｔは負値を採る。従って、補正量は補正方向とは逆向きに修正される。その他の領域に対応する修正量はゼロである。すなわち、補正量は、無修正のまま出力される。
補正実行部５５Ｅは、補正量修正部５５Ｄから与えられる修正済みの補正量に基づいて、階調データの補正処理を実行する処理デバイスである。すなわち、補正実行部５５Ｅは、その補正方向に応じた符号を有する補正量を各画素の階調データに加算し、階調データを補正する。補正後の階調データは、最終的には各画素に対応する発光素子の発光を制御するのに使用される。
この結果、自発光装置の画面上には、動画像領域については焼き付き現象の補正効果が促進されるように改変された画像が表示される。なお、静止画像領域については、いずれの修正方法を採用するかで異なる。
この結果、自発光装置の画面上には、動画像領域については焼き付き現象の補正効果が促進されるように改変された画像が表示される。なお、静止画像領域については、いずれの修正方法を採用するかで異なる。
（ｂ）補正処理動作
図１８に、補正装置５１で実行される処理手順例を示す。ここでは、補正量修正部５５Ｄが図１６（Ｂ）に示す修正方法を採用するものとする。
この場合も、劣化量算出部３が、各画素について劣化量を算出する（Ｓ１１）。この処理は、入力信号である階調データに基づいて実行される。
次に、補正量決定部５が、算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する（Ｓ１２）。
次に、補正量修正部５５Ｄが、各画素が明領域であるか否かを判定する（Ｓ１３）。勿論、各画素が暗領域であるか否かを判定することもできる。
図１８に、補正装置５１で実行される処理手順例を示す。ここでは、補正量修正部５５Ｄが図１６（Ｂ）に示す修正方法を採用するものとする。
この場合も、劣化量算出部３が、各画素について劣化量を算出する（Ｓ１１）。この処理は、入力信号である階調データに基づいて実行される。
次に、補正量決定部５が、算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する（Ｓ１２）。
次に、補正量修正部５５Ｄが、各画素が明領域であるか否かを判定する（Ｓ１３）。勿論、各画素が暗領域であるか否かを判定することもできる。
明領域と判定されたとき（Ｓ１３で肯定結果が得られたとき）、補正量修正部５５Ｄは、さらに各画素が静止画像領域であるか否かを判定する（Ｓ１４）。ここで、静止画像領域と判定されたとき（Ｓ１４で肯定結果が得られたとき）、補正量修正部５５Ｄは、補正量を無修正のまま補正実行部５５Ｅに与える（Ｓ１５）。一方、動画像領域と判定されたとき（Ｓ１４で否定結果が得られたとき）、補正量修正部５５Ｄは、補正量を補正方向に増やすように修正して補正実行部５５Ｅに与える（Ｓ１６）。
これに対して、暗領域と判定されたとき（Ｓ１３で否定結果が得られたとき）、補正量修正部５５Ｄは、さらに各画素が静止画像領域であるか否かを判定する（Ｓ１７）。ここで、静止画像領域と判定されたとき（Ｓ１７で肯定結果が得られたとき）、補正量修正部５５Ｄは、補正量を補正方向に減らすように修正して補正実行部５５Ｅに与える（Ｓ１８）。一方、動画像領域と判定されたとき（Ｓ１７で否定結果が得られたとき）、補正量修正部５５Ｄは、無修正のまま補正実行部５５Ｅに与える（Ｓ１９）。
補正実行部５５Ｅは、補正量修正部５５Ｄから与えられる補正量に基づいて焼き付き現象の補正処理を実行する（Ｓ２０）。
これらの処理が補正対象範囲内の全画素について繰り返し実行される。補正対象範囲は、表示デバイスの全画素（有効画像領域）であることが望ましいが、特定の画素や領域を指定することも可能である。
これらの処理が補正対象範囲内の全画素について繰り返し実行される。補正対象範囲は、表示デバイスの全画素（有効画像領域）であることが望ましいが、特定の画素や領域を指定することも可能である。
（ｃ）形態例の効果
この補正装置５１を用いれば、明るさだけでなく、動画像領域か静止画像領域かも考慮して補正量を修正することができる。すなわち、画質の低下が知覚され難い動画像が表示される明領域では、補正量をより積極的に増加させるように修正する一方、他の領域では階調変化の知覚され易さに応じて補正量を修正することができる。
これにより、焼き付き現象の補正効果と視覚特性との両立をより積極的に達成できる焼き付き補正技術を実現できる。すなわち、従来技術に比して実用性の高い焼き付き現象の補正方法を実現できる。
この補正装置５１を用いれば、明るさだけでなく、動画像領域か静止画像領域かも考慮して補正量を修正することができる。すなわち、画質の低下が知覚され難い動画像が表示される明領域では、補正量をより積極的に増加させるように修正する一方、他の領域では階調変化の知覚され易さに応じて補正量を修正することができる。
これにより、焼き付き現象の補正効果と視覚特性との両立をより積極的に達成できる焼き付き補正技術を実現できる。すなわち、従来技術に比して実用性の高い焼き付き現象の補正方法を実現できる。
（Ｄ）自発光装置への搭載例
図１９に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置６１は、筐体６３に焼き付き現象補正装置６５と表示デバイス６７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置６５は、前述した形態例のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置６５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。
図１９に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置６１は、筐体６３に焼き付き現象補正装置６５と表示デバイス６７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置６５は、前述した形態例のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置６５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。
また、表示デバイス６７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図１９の場合、自発光装置６１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置６５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
図１９の場合、自発光装置６１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置６５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
（Ｅ）画像処理装置への搭載例
図２０に、焼き付き補正装置７１を搭載する画像処理装置７３のシステム例を示す。画像処理装置７３は、自発光型の表示装置７５と有線路又は無線路を経由して接続されている。
このシステム例の場合、画像処理装置７３の筐体内で焼き付き補正処理が実行される。すなわち、表示装置７５に出力される画像信号は、出力インターフェースとの間に配置された焼き付き補正回路７１に入力され、前述した焼き付き補正処理が実行される。
図２０に、焼き付き補正装置７１を搭載する画像処理装置７３のシステム例を示す。画像処理装置７３は、自発光型の表示装置７５と有線路又は無線路を経由して接続されている。
このシステム例の場合、画像処理装置７３の筐体内で焼き付き補正処理が実行される。すなわち、表示装置７５に出力される画像信号は、出力インターフェースとの間に配置された焼き付き補正回路７１に入力され、前述した焼き付き補正処理が実行される。
この種の画像処理装置７３には、例えば、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、コンピュータ（サーバーを含む。）、各種の情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、各種画像の再生装置（ホームサーバーを含む。）、画像編集装置、ゲーム機の適用が可能である。
（Ｆ）他の形態例
（ａ）前述の形態例においては、補正対象とする入力信号に補正量を加減算する場合について説明した。しかし、入力信号は、他の手法を用いて補正しても良い。例えば、入力信号に補正量を乗算して入力信号の絶対値を増減する手法を採用しても良い。
（ｂ）前述の形態例においては、各画素が明領域か暗領域かを焼き付き現象補正装置内で判定する場合について説明した。
しかし、明領域か暗領域かの情報は、焼き付き現象補正装置とは別に用意された画像データ復号化装置で復号化された動きベクトルを用いても良い。
図２１に、このシステム例を示す。図２１は、画像データ復号化装置８１で復号化された画像データと動きベクトルとが焼き付き現象補正装置に入力されるシステム例を表している。
（ａ）前述の形態例においては、補正対象とする入力信号に補正量を加減算する場合について説明した。しかし、入力信号は、他の手法を用いて補正しても良い。例えば、入力信号に補正量を乗算して入力信号の絶対値を増減する手法を採用しても良い。
（ｂ）前述の形態例においては、各画素が明領域か暗領域かを焼き付き現象補正装置内で判定する場合について説明した。
しかし、明領域か暗領域かの情報は、焼き付き現象補正装置とは別に用意された画像データ復号化装置で復号化された動きベクトルを用いても良い。
図２１に、このシステム例を示す。図２１は、画像データ復号化装置８１で復号化された画像データと動きベクトルとが焼き付き現象補正装置に入力されるシステム例を表している。
画像データ復号化装置８１は、動きベクトル復号化部８１Ａで復号化された動きベクトルを画像データ復号化処理部８１Ｂに与えることにより、符号化された画像データを復号処理する構成を採用する。このような復号化の仕組みは、各種の動画処理技術で採用されている。
現在、動きベクトルは、基本的に画像データの復号化処理にしか用いられていないが、この動きベクトルを焼き付き現象補正装置８３に与えることにより、形態例で説明した動画静止画判定部を用いずとも同様の効果を実現できる。
もっとも、動きベクトルに基づいて、各画素を動画像領域と静止画像領域に分類する機能は必要となる。
なお、このシステム構成は、自発光装置の筐体内に搭載することも可能であるし、前述した画像処理装置の筐体内に搭載することも可能である。
現在、動きベクトルは、基本的に画像データの復号化処理にしか用いられていないが、この動きベクトルを焼き付き現象補正装置８３に与えることにより、形態例で説明した動画静止画判定部を用いずとも同様の効果を実現できる。
もっとも、動きベクトルに基づいて、各画素を動画像領域と静止画像領域に分類する機能は必要となる。
なお、このシステム構成は、自発光装置の筐体内に搭載することも可能であるし、前述した画像処理装置の筐体内に搭載することも可能である。
（ｃ）前述の形態例では、焼き付き現象補正装置の機能構成を説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとして実現することも、ソフトウェアとして実現することも可能である。
また、焼き付き現象補正装置を構成する各機能の全部をハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部の機能はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現することもできる。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｄ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
また、焼き付き現象補正装置を構成する各機能の全部をハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部の機能はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現することもできる。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｄ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
１、２１、３１、４１、５１、６５、７１、８３ 焼き付き現象補正装置
３ 劣化量算出部
５ 劣化量保存メモリ
７ 補正量決定部
９ 明るさ判定部
１１、５５ 輝度劣化補正部
１１Ａ、５５Ａ 明るさ判定データメモリ
１１Ｂ、５５Ｃ 補正データメモリ
１１Ｃ、５５Ｄ 補正量修正部
１１Ｄ、５５Ｅ 補正実行部
５３ 動画静止画判定部
５５Ｂ 動き判定データメモリ
３ 劣化量算出部
５ 劣化量保存メモリ
７ 補正量決定部
９ 明るさ判定部
１１、５５ 輝度劣化補正部
１１Ａ、５５Ａ 明るさ判定データメモリ
１１Ｂ、５５Ｃ 補正データメモリ
１１Ｃ、５５Ｄ 補正量修正部
１１Ｄ、５５Ｅ 補正実行部
５３ 動画静止画判定部
５５Ｂ 動き判定データメモリ
Claims (16)
- 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
各画素の劣化量を算出する処理と、
算出された前記劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する処理と、
補正対象とする画素を、その発光輝度を規定する信号の大きさに応じて複数の区分に分類する処理と、
補正対象とする画素が、高い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して増加するように修正する処理と、
決定された補正量又は修正された補正量に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 - 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
各画素の劣化量を算出する処理と、
算出された前記劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する処理と、
補正対象とする画素を、その発光輝度を規定する信号の大きさに応じて複数の区分に分類する処理と、
補正対象とする画素が、高い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して増加するように修正し、補正対象とする画素が、低い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して減少するように修正する処理と、
修正された補正量に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 - 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記区分は、明領域と暗領域との２種類であり、補正対象とする画素は、明領域又は暗領域のいずれか一方に分類される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 - 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記補正量に対応する修正量は、区分毎に割り当てられた固定量である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 - 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記補正量に対応する修正量は、区分毎に割り当てられた修正係数を補正量に乗算して求められる
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 - 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記劣化量は、前記補正量による補正処理前の入力信号に基づいて算出する
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 - 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記劣化量は、前記補正量による補正処理後の入力信号に基づいて算出する
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 - 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
自発光素子の駆動条件に関する前記入力信号は、輝度を指定する階調データである
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 - 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
自発光素子の駆動条件に関する前記入力信号は、自発光素子に印加される駆動電流値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 - 請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
自発光素子の駆動条件に関する前記入力信号は、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 - 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
各画素の劣化量を算出する劣化量算出部と、
算出された前記劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、
補正対象とする画素を、その発光輝度を規定する信号の大きさに応じて複数の区分に分類する明るさ判定部と、
補正対象とする画素が、高い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して増加するように修正する補正量修正部と、
決定された補正量又は修正された補正量に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号を補正する輝度劣化補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。 - 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
各画素の劣化量を算出する劣化量算出部と、
算出された前記劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、
補正対象とする画素を、その発光輝度を規定する信号の大きさに応じて複数の区分に分類する明るさ判定部と、
補正対象とする画素が、高い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して増加するように修正し、補正対象とする画素が、低い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して減少するように修正する補正量修正部と、
修正された補正量に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号を補正する輝度劣化補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。 - 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する焼き付き現象補正装置であって、
各画素の劣化量を算出する劣化量算出部と、
算出された前記劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、
補正対象とする画素を、その発光輝度を規定する信号の大きさに応じて複数の区分に分類する明るさ判定部と、
補正対象とする画素が、高い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して増加するように修正する補正量修正部と、
決定された補正量又は修正された補正量に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号を補正する輝度劣化補正部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。 - 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する焼き付き現象補正装置であって、
各画素の劣化量を算出する劣化量算出部と、
算出された前記劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、
補正対象とする画素を、その発光輝度を規定する信号の大きさに応じて複数の区分に分類する明るさ判定部と、
補正対象とする画素が、高い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して増加するように修正し、補正対象とする画素が、低い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して減少するように修正する補正量修正部と、
修正された補正量に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号を補正する輝度劣化補正部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。 - 各画素の劣化量を算出する処理と、
算出された前記劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する処理と、
補正対象とする画素を、その発光輝度を規定する信号の大きさに応じて複数の区分に分類する処理と、
補正対象とする画素が、高い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して増加するように修正する処理と、
決定された補正量又は修正された補正量に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号を補正する処理と
をコンピュータに実行させることにより、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正することを特徴とするプログラム。 - 各画素の劣化量を算出する処理と、
算出された前記劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する処理と、
補正対象とする画素を、その発光輝度を規定する信号の大きさに応じて複数の区分に分類する処理と、
補正対象とする画素が、高い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して増加するように修正し、補正対象とする画素が、低い発光輝度を規定する信号が属する区分に対応する場合、当該画素に対応する前記補正量を補正方向に対して減少するように修正する処理と、
修正された補正量に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号を補正する処理と
をコンピュータに実行させることにより、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正することを特徴とするプログラム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005050954A JP2006235324A (ja) | 2005-02-25 | 2005-02-25 | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005050954A JP2006235324A (ja) | 2005-02-25 | 2005-02-25 | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006235324A true JP2006235324A (ja) | 2006-09-07 |
Family
ID=37043024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005050954A Pending JP2006235324A (ja) | 2005-02-25 | 2005-02-25 | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2006235324A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009175443A (ja) * | 2008-01-24 | 2009-08-06 | Fujitsu Ltd | 輝度補正装置、輝度補正処理プログラムおよび輝度補正方法 |
| JP2009543123A (ja) * | 2006-06-28 | 2009-12-03 | イーストマン コダック カンパニー | アクティブ・マトリックス・ディスプレイの補償 |
| JP2010210669A (ja) * | 2009-03-06 | 2010-09-24 | Panasonic Corp | 自発光表示装置及び自発光表示方法 |
Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09191465A (ja) * | 1996-01-10 | 1997-07-22 | Fujitsu General Ltd | カラーｐｄｐの焼付け軽減方法 |
| JP2000132139A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Nec Corp | プラズマディスプレイパネル輝度補正装置および方法 |
| JP2001350442A (ja) * | 1999-10-04 | 2001-12-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 表示パネルの駆動方法、表示パネルの輝度補正装置及び駆動装置 |
| JP2002175041A (ja) * | 2000-09-08 | 2002-06-21 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 自発光装置およびその駆動方法 |
| JP2002258792A (ja) * | 2001-02-28 | 2002-09-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 表示装置 |
| JP2003015590A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-01-17 | Pioneer Electronic Corp | ディスプレイパネルの駆動方法及びディスプレイパネルの駆動装置 |
| JP2003228329A (ja) * | 2002-01-31 | 2003-08-15 | Sanyo Electric Co Ltd | マトリクス駆動型ディスプレイ |
| WO2003075255A1 (fr) * | 2002-03-04 | 2003-09-12 | Sanyo Electric Co.,Ltd. | Affichage electroluminescent organique et son application |
| JP2003280592A (ja) * | 2002-03-25 | 2003-10-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 表示方法および表示装置 |
| JP2004240101A (ja) * | 2003-02-05 | 2004-08-26 | Sony Corp | ディスプレイ装置、ディスプレイ装置の駆動方法 |
| JP2004530950A (ja) * | 2001-06-27 | 2004-10-07 | トムソン ライセンシング ソシエテ アノニム | ディスプレイパネル上の焼き付け作用を補償するための方法および装置 |
| JP2005010227A (ja) * | 2003-06-16 | 2005-01-13 | Sony Corp | 表示装置、ホワイトバランス調整回路及び調整方法 |
-
2005
- 2005-02-25 JP JP2005050954A patent/JP2006235324A/ja active Pending
Patent Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09191465A (ja) * | 1996-01-10 | 1997-07-22 | Fujitsu General Ltd | カラーｐｄｐの焼付け軽減方法 |
| JP2000132139A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Nec Corp | プラズマディスプレイパネル輝度補正装置および方法 |
| JP2001350442A (ja) * | 1999-10-04 | 2001-12-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 表示パネルの駆動方法、表示パネルの輝度補正装置及び駆動装置 |
| JP2002175041A (ja) * | 2000-09-08 | 2002-06-21 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 自発光装置およびその駆動方法 |
| JP2002258792A (ja) * | 2001-02-28 | 2002-09-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 表示装置 |
| JP2004530950A (ja) * | 2001-06-27 | 2004-10-07 | トムソン ライセンシング ソシエテ アノニム | ディスプレイパネル上の焼き付け作用を補償するための方法および装置 |
| JP2003015590A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-01-17 | Pioneer Electronic Corp | ディスプレイパネルの駆動方法及びディスプレイパネルの駆動装置 |
| JP2003228329A (ja) * | 2002-01-31 | 2003-08-15 | Sanyo Electric Co Ltd | マトリクス駆動型ディスプレイ |
| WO2003075255A1 (fr) * | 2002-03-04 | 2003-09-12 | Sanyo Electric Co.,Ltd. | Affichage electroluminescent organique et son application |
| JP2003280592A (ja) * | 2002-03-25 | 2003-10-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 表示方法および表示装置 |
| JP2004240101A (ja) * | 2003-02-05 | 2004-08-26 | Sony Corp | ディスプレイ装置、ディスプレイ装置の駆動方法 |
| JP2005010227A (ja) * | 2003-06-16 | 2005-01-13 | Sony Corp | 表示装置、ホワイトバランス調整回路及び調整方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009543123A (ja) * | 2006-06-28 | 2009-12-03 | イーストマン コダック カンパニー | アクティブ・マトリックス・ディスプレイの補償 |
| JP2009175443A (ja) * | 2008-01-24 | 2009-08-06 | Fujitsu Ltd | 輝度補正装置、輝度補正処理プログラムおよび輝度補正方法 |
| JP2010210669A (ja) * | 2009-03-06 | 2010-09-24 | Panasonic Corp | 自発光表示装置及び自発光表示方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US11120769B2 (en) | Brightness compensation method and related product | |
| KR100457484B1 (ko) | 표시 장치 및 그 구동 방법 | |
| TWI427586B (zh) | A display device, a brightness adjustment device, a backlight device, a brightness adjustment method, and a brightness adjustment program | |
| CN109584796B (zh) | 显示面板的显示驱动方法、显示驱动装置及显示装置 | |
| JP5321033B2 (ja) | 表示装置及び表示装置の駆動方法 | |
| US7916218B2 (en) | Image display apparatus and method | |
| JP2006189658A (ja) | 画像表示装置及びその画像表示方法 | |
| TW201013632A (en) | Display apparatus, method of driving display apparatus, drive-use integrated circuit, driving method employed by drive-use integrated circuit, and signal processing method | |
| US20070297689A1 (en) | Integrated histogram auto adaptive contrast control (ACC) | |
| JP2006284972A (ja) | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム | |
| KR102510573B1 (ko) | 투명 표시 장치 및 그 구동 방법 | |
| US11189222B1 (en) | Device and method for mura compensation | |
| JP2006284970A (ja) | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム | |
| JP2006235325A (ja) | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム | |
| JP4742615B2 (ja) | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム | |
| JP2006284971A (ja) | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム | |
| US9640105B2 (en) | Signal processing method, display device, and electronic apparatus | |
| JP2006235324A (ja) | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム | |
| JP2011227117A (ja) | 画像処理装置、表示システム、電子機器及び画像処理方法 | |
| CN110867161A (zh) | 一种显示补偿方法、显示补偿装置、显示面板及存储介质 | |
| JP2010048958A (ja) | 画像処理装置、その処理方法および画像表示システム | |
| US20140232935A1 (en) | Image display device, image display method, and program | |
| US11386869B2 (en) | Display device and driving method thereof according to capturing conditions of an image | |
| JP5990740B2 (ja) | 表示装置、映像種別判定装置、表示装置の駆動方法、及び映像種別の判定方法 | |
| JP2005275182A (ja) | 焼き付き補正装置、表示装置、画像処理装置、プログラム及び記録媒体 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070626 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20081219 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20081225 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20091009 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20091009 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20091104 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100824 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101018 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110118 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110712 |