JP2006234718A - X線検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】X線検査装置における管電圧と管電流の設定を容易にする。
【解決手段】管電圧Vと管電流Iが印加されてX線を発生するX線管1と、被検体6を透過したX線を撮像する撮像手段3と、撮像手段3で得られた撮像画像を表示する画像表示手段15とを有するX線検査装置において、撮像画像3と相関関係のある明るさ情報Lを管電圧Vと管電流Iに対応させて表示する明るさ表示手段15と、明るさ表示手段15により表示された所望の明るさ情報Lを選択することにより、その明るさ情報Lに対応した管電圧Vと管電流Iを指令する指令手段18と、指令手段18により指令された管電圧V0と管電流I0をX線管1に印加する印加手段2とを備える。
【選択図】図1
【解決手段】管電圧Vと管電流Iが印加されてX線を発生するX線管1と、被検体6を透過したX線を撮像する撮像手段3と、撮像手段3で得られた撮像画像を表示する画像表示手段15とを有するX線検査装置において、撮像画像3と相関関係のある明るさ情報Lを管電圧Vと管電流Iに対応させて表示する明るさ表示手段15と、明るさ表示手段15により表示された所望の明るさ情報Lを選択することにより、その明るさ情報Lに対応した管電圧Vと管電流Iを指令する指令手段18と、指令手段18により指令された管電圧V0と管電流I0をX線管1に印加する印加手段2とを備える。
【選択図】図1
Description
本発明は、X線を用いて被検体の内部構造を検査するX線検査装置に関する。
X線検査装置は、X線管から照射されたX線が被検体を透過することによりX線画像を得るものである。X線の物質透過性は、物質の種類、X線を発生するために必要な管電流、管電圧の値等によって決まる。従って、検査の際には、適切なX線画像を得るために、被検体の種類や厚さ等に応じて管電圧と管電流の値を適宜変更する必要がある。この種のX線検査装置として、予め被検体に対し異なる撮像条件で複数回の撮像を行い、撮像された複数枚のX線画像を一覧表示し、その中から最適な撮像条件のものを選択することで、管電圧と管電流を設定するようにした装置が知られている(例えば特許文献1参照)。
しかしながら上記特許文献1記載の装置では、本撮像に先だって異なる撮像条件で複数回の撮像を行う必要があるため、管電圧と管電流の設定に手間がかかり、迅速に検査を開始することが困難であった。
本発明は、管電圧と管電流が印加されてX線を発生するX線管と、被検体を透過したX線を撮像する撮像手段と、撮像手段で得られた撮像画像を表示する画像表示手段とを有するX線検査装置に適用され、撮像画像と相関関係のある明るさ情報を管電圧と管電流に対応させて表示する明るさ表示手段と、明るさ表示手段により表示された所望の明るさ情報を選択することにより、その明るさ情報に対応した管電圧と管電流を指令する指令手段と、指令手段により指令された管電圧と管電流をX線管に印加する印加手段とを備えることを特徴とする。
撮像画像と相関関係のある明るさにて明るさ情報を表示することが好ましい。
被検体の材質および/または形状特性を含む被検体条件を設定する設定手段をさらに備え、設定された被検体条件に対応する明るさ情報を管電圧と管電流に対応させて表示するようにしてもよい。
選択された明るさ情報に対応した管電圧と管電流を、設定手段で設定された被検体条件に応じて補正して指令することもできる。
X線画像表示手段により表示された撮像画像の明るさに一致するように、明るさ情報の表示を調整する調整手段をさらに備えることが好ましい。
撮像画像と相関関係のある明るさにて明るさ情報を表示することが好ましい。
被検体の材質および/または形状特性を含む被検体条件を設定する設定手段をさらに備え、設定された被検体条件に対応する明るさ情報を管電圧と管電流に対応させて表示するようにしてもよい。
選択された明るさ情報に対応した管電圧と管電流を、設定手段で設定された被検体条件に応じて補正して指令することもできる。
X線画像表示手段により表示された撮像画像の明るさに一致するように、明るさ情報の表示を調整する調整手段をさらに備えることが好ましい。
本発明によれば、撮像画像と相関関係のある明るさ情報を管電圧と管電流に対応させて表示し、その表示された所望の明るさ情報を選択することにより管電圧と管電流を設定するようにしたので、管電圧と管電流を容易に設定することができる。
以下、図1〜図8を参照して本発明によるX線検査装置の実施の形態について説明する。
図1は、本実施の形態に係るX線検査装置の全体構成を示すブロック図である。防護ボックス7内には、X線を発生するX線管1と走査装置4とX線を撮像する撮像装置3とが収納され、走査装置4上に被検体6が支持されている。X線管コントローラ2は、インターフェース16を介して出力されるMPU8からの制御信号に従いX線管1に管電圧と管電流を印加し、X線管1で発生するX線を制御する。駆動制御装置5は、インターフェース16を介して出力されるMPU8からの制御信号に従い走査装置4を水平方向および上下方向に駆動し、被検体6の検査位置および拡大倍率を変更する。なお、X線管コントローラ2がX線管1に印加する管電圧と管電流の設定については後述する。
図1は、本実施の形態に係るX線検査装置の全体構成を示すブロック図である。防護ボックス7内には、X線を発生するX線管1と走査装置4とX線を撮像する撮像装置3とが収納され、走査装置4上に被検体6が支持されている。X線管コントローラ2は、インターフェース16を介して出力されるMPU8からの制御信号に従いX線管1に管電圧と管電流を印加し、X線管1で発生するX線を制御する。駆動制御装置5は、インターフェース16を介して出力されるMPU8からの制御信号に従い走査装置4を水平方向および上下方向に駆動し、被検体6の検査位置および拡大倍率を変更する。なお、X線管コントローラ2がX線管1に印加する管電圧と管電流の設定については後述する。
X線管1から発生したX線は被検体6に向けて照射される。被検体6を透過したX線は撮像装置3にて撮像され、撮像画像(X線画像)がデコード回路10にビデオ信号として出力される。デコード回路10はビデオ信号を映像信号と同期信号とに分離し、各信号をそれぞれA/D変換器11とタイミング回路13に出力する。
タイミング回路13は、デコード回路10からの同期信号とMPU8からの制御信号に従いA/D変換器11と画像メモリ12にそれぞれタイミング信号を出力する。このタイミング信号に応じてA/D変換器11が映像信号をA/D変換し、A/D変換されたX線画像を画像メモリ12に記憶する。これを水平方向および垂直方向に1画面にわたり繰り返すことで、ビデオ信号の1画面を画像メモリ12に記憶する。なお、デコード回路10,A/D変換器11,画像メモリ12,タイミング回路13はビデオキャプチャボードとしても用いられる。
表示部コントローラ14は、MPU8からの制御信号に従い、画像メモリ12に記憶されたX線画像および予めメモリ9に記憶された設定画像をディスプレイ15に出力する。MPU8は、インターフェース17を介して入力される入力装置(キーボードやマウス)18からの指令により各部を制御する。
ディスプレイ15の表示部(表示画面)150の一例を図2に示す。表示部150はX線画像領域151と設定画像領域152とを有する。X線画像領域151は、撮像装置3によって撮像された被検体6のX線画像を表示する領域であり、設定画像領域152は、X線管1に印加される管電圧と管電流を設定するための設定画像を表示する領域である。X線画像領域151に表示されるX線画像の一例を図3,4に示し、設定画像領域152に表示される設定画像の一例を図6,7に示す。なお、図3,4は被検体6を半導体とした例である。
X線画像の明るさは、X線管1に印加される管電圧と管電流により決定される。すなわち管電圧を増加させると輝度が増加し、管電流を増加させるとコントラストが強くなる。図5の点Aは図3に対応した管電圧VAと管電流IAを示し、点Bは図4に対応した管電圧VBと管電流IBを示している。図示のように点Aの管電圧VAおよび管電流IAは、点Bの管電圧VBおよび管電流IBより小さい。そのため、図3に示したX線画像は図4に示したものに比べ全体的に暗く、図4ではリード線153が表示されているのに対し、図3ではリード線153が表示されていない。
このようにX線検査装置によって被検体6を検査(例えばリード線153の断線の有無を検査)する場合、管電圧と管電流が最適に設定されていないと対象物の鮮明な画像が得られないため、検査対象に応じて最適な管電圧Vと管電流Iを設定する必要がある。ところが、管電圧(輝度)と管電流(コントラスト)は画像の明るさに関して相互に関連するものであるため、両者を別々に設定したのでは最適なX線画像を得ることが困難である。とくに経験の浅い初心者にとっては、管電圧と管電流の設定にかかる負担が大きい。そこで、本実施の形態では、以下のように設定画像領域152に設定画像を表示し、管電圧と管電流の設定を行う。
メモリ9には、予め管電圧Vと管電流Iとこれに対応するX線画像の明るさ(明るさ情報)Lの関係(V,I,L)が設定画像用データとして記憶されている。この記憶されたデータの管電圧Vおよび管電流IをそれぞれX軸方向およびY軸方向にとり、管電圧Vと管電流Iに対応した明るさLをその明るさにてXY画面上に表示(明暗表示)すると、図6,7に示すように管電圧Vと管電流Iに対応する明るさLが、明暗の分布をもってマップ状に表示される。
この場合、図6,7から明らかなように、管電圧Vと管電流Iがそれぞれ同じような割合で増加すると、つまりXY画面上の右上に向かうにつれ、表示が明るくなる。この傾向は被検体6の材質や厚さによらず共通する。そのため、本実施の形態では簡易的な構成として、代表的な被検体6の材質および厚さに対応した情報(V,I,L)のみを予め設定画像用データとしてメモリ9に記憶する。なお、図9は(V,I,L)の関係をXYZ座標軸で3次元的に示したものであり、管電圧V(X)が最大かつ管電流I(Y)が最大のときに明るさLのレベル(Z)が最大となる。
図8は、管電圧Vと管電流Iの設定に係わるMPU8における処理の一例を示すフローチャートである。このフローチャートは例えばX線検査装置のメイン電源のオンによりスタートする。まず、ステップS1で上述した設定画像用データ(V,I,L)をメモリ9から読み込み、ディスプレイ15の設定画像領域152に図6,7に示すような明るさのマップを表示する。
次いで、ステップS2でマップ上の十字カーソルの位置(図6,7の点A,B)に対応した管電圧値V0と管電流値I0(指令値)を読み込む。マップ上の十字カーソルの位置は、入力装置18の操作(例えばマウスのドラッグアンドドロップ)によってずらすことができ、十字カーソルの位置をずらすことで管電圧と管電流の指令値(V0,I0)を変更できる。なお、電源オン直後は、十字カーソルの位置は初期値として原点O(0,0)に設定される。電源オフ時の指令値(V0,I0)を記憶し、電源オン直後に十字カーソルの位置がこの指令値(V0,I0)に設定されるようにしてもよい。
ステップS3では、十字カーソルの位置に対応した管電圧V0と管電流I0に、X線管コントローラ2が印加する管電圧Vと管電流Iの値を制御する。これによりX線管1で発生するX線が変更され、X線画像領域151に表示されるX線画像の輝度およびコントラストが、十字カーソルが指示する明るさに応じて変化する。
本実施の形態に係るX線検査装置による検査は以下のように行う。まず、防護ボックス7内の走査装置4上に被検体6をセットするとともに、駆動制御装置5により走査装置4を駆動し、X線管1に対する被検体6の位置を調整する。このとき、ディスプレイ15の設定画像領域152には明るさのマップが表示される(ステップS1)。電源オン直後は十字カーソルの位置は原点Oにあるため、管電圧と管電流の指令値(V0,I0)はともに0である。したがって、検査員は、設定画像領域152のマップ上でマウス18を操作し、十字カーソルの位置を右上にずらす。
検査員が被検体6のX線画像として暗めの画像を希望する場合には、例えば図6の点Aに十字カーソルの位置をずらす。これによりA点における管電圧値V0Aおよび管電流値I0Aが読み込まれ(ステップS2)、X線管コントローラ2によりX線管1が制御される(ステップS3)。その結果、X線画像領域151には、図3に示すように図6の点Aとほぼ同等の明るさのX線画像が表示される。一方、検査員が明るめの画像を希望する場合には、例えば図7の点Bに十字カーソルの位置をずらす。これによりB点における管電圧値V0Bおよび管電流値V0Bが読み込まれ、X線画像領域151には、図4に示すように図7の点Bとほぼ同等の明るさのX線画像が表示される。
このように本実施の形態によれば、管電圧Vと管電流Iに対応するX線画像の明るさLのマップを表示し、マップ上で十字カーソルの位置をずらすことによりその明るさに対応した管電圧値V0と管電流値I0を指令するようにした。これにより熟練者等でなくても所望の明るさの被検体6の画像を得ることができ、鮮明なX線画像の入手が容易であり、扱いやすい。また、予め異なる撮像条件の下で撮像を行う手間が省け、迅速に検査を開始することができる。
なお、上記実施の形態では、代表的な被検体6の材質および厚さを想定し、この材質および厚さに対応する設定画像用データ(V,I,L)のみをメモリ9に記憶するようにしたが、材質および厚さ毎の設定画像用データ(V,I,L)を記憶するようにしてもよい。すなわち、代表的な材質および厚さに対応した設定画像用データに基づき管電圧と管電流を設定するものでも簡易的には十分に機能するが、より精度を高めるために材質と厚さの違いを考慮してもよい。この場合、図8のステップS1の処理の前に入力装置18を介して被検体6の材質および厚さを入力し、ステップS1でこの入力条件に応じた設定画像用データ(V,I,L)をメモリ9から読み込んで設定画像領域152にマップ状に表示し、ステップS2でこのマップ上のカーソルの位置に対応した指令値V0,I0を読み込むようにすればよい。これによりマップ上で選択された明るさと画像表示領域151に表示されるX線画像の明るさとが良好に対応する。
また、材質および厚さ毎に設定画像用データ(V,I,L)を記憶する代わりに、材質および厚さ毎にそれぞれ係数α,βを設定し、これら係数α,βをマップ上の指令値V0,I0に乗じた値(V0・α・β,I0・α・β)を指令値として、管電圧Vおよび管電流Iを制御するようにしてもよい。すなわち、材質および厚さの入力条件が変更された場合に、設定画像領域152のマップ表示はそのままで、XY画面上の目盛りの縮尺のみを変更するようにしてもよい。
画像メモリ12から読み込んだ画像データとマップ上で十字カーソルが示す部位の明るさとを比較し、画像データに合わせてマップの表示(明るさ)を変更するようにしてもよい。これによりマップ上で十字カーソルにより選択した明るさと実際に得られたX線画像の明るさとが一致し、一層扱いやすい。
なお、被検体6の材質および厚さの双方を考慮するのではなく、いずれか一方のみを考慮するのでもよい。また、被検体の材質および/または形状特性を含む他の被検体条件を、設定手段として入力装置18などからの入力によって設定するようにしてもよい。
上記実施の形態では、撮像画像と相関関係のある明るさ(明るさ情報)Lをその明るさにて設定画像領域152にマップ状に表示するようにしたが、検査員が撮像画像との相関関係を画面上で認識できるのであれば、明るさ情報表示手段としての設定画像領域152における表示の態様はこれに限らない。例えば明るさ情報Lを明暗表示するのではなくカラーで表示するようにしてもよく、等高線や等圧線などのように明るさの等しい箇所を線で結んで明るさの分布を表示するようにしてもよい。
また、X線画像(図3,4)と設定画像(図6,7)をディスプレイ15に同時に表示するようにしたが、いずれか一方のみを表示するように表示を切り換えるようにしてもよい。また、X線画像と設定画像を同一のディスプレイ15ではなく、別々のディスプレイに表示するようにしてもよい。マウスの操作により十字カーソルの位置をずらしてマップ上の明るさに対応した管電圧と管電流を指令するようにしたが、他の指令手段を用いてもよい。
以上の実施の形態と請求項との対応において、撮像装置3が撮像手段を、MPU8,画像メモリ12,表示部コントローラ14,ディスプレイ15等が画像表示手段を、MPU8,メモリ9,表示部コントローラ14,ディスプレイ15等が明るさ表示手段を、入力装置18が指令手段を、X線管コントローラ2が印加手段を、MPU8,メモリ9,画像メモリ12,表示部コントローラ14,ディスプレイ15等が調整手段を、それぞれ構成する。なお、以上の説明はあくまで一例であり、発明を解釈する際、上記実施形態の記載事項と特許請求の範囲の記載事項の対応関係になんら限定も拘束もされない。
1 X線管
2 X線管コントローラ
3 撮像装置
8 MPU
9 メモリ
12 画像メモリ
14 表示部コントローラ
15 ディスプレイ
18 入力装置
V 管電圧
I 管電流
L 明るさ情報
2 X線管コントローラ
3 撮像装置
8 MPU
9 メモリ
12 画像メモリ
14 表示部コントローラ
15 ディスプレイ
18 入力装置
V 管電圧
I 管電流
L 明るさ情報
Claims (5)
- 管電圧と管電流が印加されてX線を発生するX線管と、
被検体を透過したX線を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で得られた撮像画像を表示する画像表示手段とを有するX線検査装置において、
撮像画像と相関関係のある明るさ情報を管電圧と管電流に対応させて表示する明るさ表示手段と、
前記明るさ表示手段により表示された所望の明るさ情報を選択することにより、その明るさ情報に対応した管電圧と管電流を指令する指令手段と、
前記指令手段により指令された管電圧と管電流を前記X線管に印加する印加手段とを備えることを特徴とするX線検査装置。 - 請求項1に記載のX線検査装置において、
前記明るさ表示手段は、撮像画像と相関関係のある明るさにて前記明るさ情報を表示することを特徴とするX線検査装置。 - 請求項1または2に記載のX線検査装置において、
前記被検体の材質および/または形状特性を含む被検体条件を設定する設定手段をさらに備え、
前記明るさ表示手段は、設定された被検体条件に対応する明るさ情報を管電圧と管電流に対応させて表示することを特徴とするX線検査装置。 - 請求項1または2に記載のX線検査装置において、
前記被検体の材質および/または形状特性を含む被検体条件を設定する設定手段をさらに備え、
前記指令手段は、選択された明るさ情報に対応した管電圧と管電流を、前記設定手段で設定された被検体条件に応じて補正して指令することを特徴とするX線検査装置。 - 請求項2に記載のX線検査装置において、
前記X線画像表示手段により表示された撮像画像の明るさに一致するように、明るさ情報の表示を調整する調整手段をさらに備えることを特徴とするX線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005052753A JP2006234718A (ja) | 2005-02-28 | 2005-02-28 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005052753A JP2006234718A (ja) | 2005-02-28 | 2005-02-28 | X線検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006234718A true JP2006234718A (ja) | 2006-09-07 |
Family
ID=37042515
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005052753A Pending JP2006234718A (ja) | 2005-02-28 | 2005-02-28 | X線検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006234718A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008224483A (ja) * | 2007-03-14 | 2008-09-25 | Shimadzu Corp | X線検査装置 |
CN102645441A (zh) * | 2012-04-11 | 2012-08-22 | 中北大学 | 一种x射线成像***中的射线能量控制装置和方法 |
CN111208154A (zh) * | 2020-02-17 | 2020-05-29 | 珠海市润星泰电器有限公司 | 孔洞缺陷检测方法 |
-
2005
- 2005-02-28 JP JP2005052753A patent/JP2006234718A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN102645441A (zh) * | 2012-04-11 | 2012-08-22 | 中北大学 | 一种x射线成像***中的射线能量控制装置和方法 |
CN102645441B (zh) * | 2012-04-11 | 2013-11-13 | 中北大学 | 一种x射线成像***中的射线能量控制装置和方法 |
CN111208154A (zh) * | 2020-02-17 | 2020-05-29 | 珠海市润星泰电器有限公司 | 孔洞缺陷检测方法 |
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