JP2006221781A - Test writing method and information recording device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、記録媒体にエネルギーを注入して未記録部とは異なるマークを形成すること
によって情報を記録するための試し書き方法、及び情報記録装置に関するものである。
The present invention relates to a test writing method and an information recording apparatus for recording information by injecting energy into a recording medium to form a mark different from an unrecorded portion.
光ディスクに精度良く情報を記録するために試し書きが行われている。試し書きとは、
より良い品質の記録マークを形成するため、そのときの環境温度やドライブに搭載されて
いるレーザの特性等に応じて最適記録パラメータを求める動作を指す。ＤＶＤ−ＲＷ、Ｄ
ＶＤ＋ＲＷ、ＢＤ−ＲＥなどの光ディスクは、記録膜にいわゆる共晶系と呼ばれる組成の
材料を用いている。現在製品化されている記録装置では、通常、これらの光ディスクに試
し書きを行う場合、まず光ディスクに予め書かれた記録条件を読み出し、その後レーザパ
ワーの調整を行う。ここでいう記録条件とは、例えば、高レーザパワーである記録パワー
レベル（Ｐｗ）と中間パワーである消去パワーレベル（Ｐｅ）、バイアスパワーレベ
ル（Ｐｂ）で表されるレーザパワー設定値や、マルチパルス波形を構成している始端パル
スと後続する複数個の中間パルス及び後端パルスの各パルス幅などである。
実際の試し書きでは、これらの記録条件を元に、光ディスクに予め書き込まれたＰｗと
Ｐｅの比を固定し、レーザパワーをパラメータとして記録最適条件を求める手法を採用し
ている。この方法をＯｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ（ＯＰＣ）という。Ｂ
Ｄ１倍速あるいはＤＶＤ−ＲＷ２．４倍速など、比較的低速での記録では、このようなＰ
ｗ／Ｐｅ一定でのレーザパワーのみを変化させた試し書きをすることで良好な記録品質を
得ることができた。
Trial writing is performed in order to record information on an optical disk with high accuracy. What is trial writing?
In order to form a recording mark of better quality, it refers to an operation for obtaining optimum recording parameters according to the ambient temperature at that time, the characteristics of the laser mounted in the drive, and the like. DVD-RW, D
Optical disks such as VD + RW and BD-RE use a material having a so-called eutectic composition for the recording film. In a recording apparatus that is currently commercialized, when performing trial writing on these optical discs, the recording conditions written in advance on the optical disc are first read, and then the laser power is adjusted. The recording conditions here include, for example, a laser power setting value represented by a recording power level (Pw) that is a high laser power, an erasing power level (Pe) that is an intermediate power, and a bias power level (Pb), The pulse width of each of a start end pulse and a plurality of subsequent intermediate and rear end pulses constituting the pulse waveform.
In actual test writing, based on these recording conditions, a method is employed in which the ratio of Pw and Pe written in advance on the optical disk is fixed and the optimum recording condition is obtained using the laser power as a parameter. This method is called Optimum Power Control (OPC). B
For recording at a relatively low speed such as D1 times speed or DVD-RW 2.4 times speed, such P
Good recording quality could be obtained by trial writing with only the laser power at a constant w / Pe.
これらの光ディスクにおける高速記録再生技術の研究開発が進んでいる。例えば、Opti
cal Data Storage 2003、 Proceedings of SPIE Vol.5069(2003)、p130（非特許文献１）
には、ＢＤ6倍速に相当する記録速度２１６Ｍｂｐｓでの記録技術が述べられている。記
録速度の高速化に伴い、高速化に適した記録波形、いわゆる２T系ストラタジの研究も進
められてきている。２T系ストラタジとは、隣り合った１対の偶数長マークと奇数長マー
クの記録パルス数を同じにした記録波形をいう。具体的には、図２に示すように、例えば
最短マーク長が２Tマークの場合、２Tマークと３Tマークでは１つの矩形パルスを発生し
、４Tマークと５Tマークでは始端パルスと後端パルスの２つのパルスを発生する。６Tマ
ークと７Tマークは始端パルス、１個の中間パルス、後端パルスの計３個のパルスを発生
する。
この２T系ストラタジの例として、特開平９−１３４５２５号公報（対応USP5、732、06
2、特許文献１）には、始端パルスと後続する複数個の中間パルス及び後端パルスからな
るマルチパルス記録方式において、記録チャンネルクロック周期に対する偶数長と奇数長
のいずれか一方のマーク長を記録する場合に、始端パルスと後端パルスのパルス幅を記録
チャンネルクロック周期と略同一とすることが記載されている。
Research and development of high-speed recording / reproducing technology for these optical discs is progressing. For example, Opti
cal Data Storage 2003, Proceedings of SPIE Vol.5069 (2003), p130 (Non-patent Document 1)
Describes a recording technique at a recording speed of 216 Mbps, which corresponds to
As an example of this 2T system strategy, Japanese Patent Laid-Open No. 9-134525 (corresponding USP 5,732,06)
2. In Patent Document 1), in a multi-pulse recording method consisting of a start pulse, a plurality of subsequent intermediate pulses and a trailing pulse, either the even length or the odd length of the recording channel clock period is recorded. In this case, it is described that the pulse width of the start end pulse and the end end pulse is substantially the same as the recording channel clock period.
また、特開平１１−１７５９７６号公報（対応USP6、256、277、特許文献２）では、マ
ルチパルス中の最短パルス幅を検出窓幅の１/２倍より長くなるように記録波形を組むと
いう手法が提案されている。これにより、記録媒体の冷却時間が十分確保できるようにな
り、あるいはレーザ駆動電流の周波数成分が低減されるので、高転送速度時でもマークを
十分な精度で形成することができることが述べられている。
In Japanese Patent Laid-Open No. 11-175976 (corresponding USP 6,256,277, Patent Document 2), a method of forming a recording waveform so that the shortest pulse width in a multi-pulse is longer than 1/2 the detection window width. Has been proposed. As a result, it is stated that a sufficient cooling time of the recording medium can be secured, or the frequency component of the laser driving current is reduced, so that the mark can be formed with sufficient accuracy even at a high transfer speed. .
更に、特開２００３−３０８３３号公報（特許文献３）では、特開平１１−１７５９７
６号公報と同様に中間パルス列の周期を記録チャンネルクロック周期よりも長くするだけ
でなく、先行するスペースや後続のスペースに依存して始端パルスと後端パルスのエッジ
位置を変化させて記録する手法をとっている。本方法により、高密度・高転送レートで記
録する場合に問題となるトラック方向の熱干渉によるエッジシフトを極力抑制することが
できるため、高精度の記録制御を実現することができることが記載されている。
Furthermore, Japanese Patent Laid-Open No. 2003-30833 (Patent Document 3) discloses Japanese Patent Laid-Open No. 11-17597.
Similar to the publication No. 6, not only the period of the intermediate pulse train is made longer than the recording channel clock period, but also the recording is performed by changing the edge positions of the start pulse and the back pulse depending on the preceding space and the following space. Have taken. It is described that this method can suppress edge shift due to thermal interference in the track direction, which is a problem when recording at high density and high transfer rate, and can achieve highly accurate recording control. Yes.
また、特開２００１−３３１９３６号（対応US2001/053115A1、特許文献４）には、偶
数符号列と奇数符号列で基準クロックをずらし、また、偶数用と奇数用の記録パルス波形
について、始端パルス及び後端パルスのデューティー比を奇数用と偶数用でそれぞれ変え
て生成することが記載されている。
なお、高転送レート記録時における２T系ストラテジの記録マーク形状制御効果は、例え
ば、Optical Data Storage 2000、 Proceedings of SPIE Vol.4090(2000)、p135（非特許
文献２）に詳述されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-331936 (corresponding to US2001 / 053115A1, Patent Document 4) shifts the reference clock between the even code string and the odd code string, and also describes the start pulse and the recording pulse waveform for even and odd codes. It is described that the duty ratio of the trailing edge pulse is generated by changing it for odd numbers and even numbers.
The recording mark shape control effect of the 2T strategy at the time of high transfer rate recording is described in detail in, for example, Optical Data Storage 2000, Proceedings of SPIE Vol. 4090 (2000), p135 (Non-patent Document 2).
上記従来技術の試し書き方式、いわゆるＯＰＣ方式では、Ｐｗ／Ｐｅを一定としたレー
ザパワーの最適化を行い、その中で最良の品質の記録条件を求めていた。しかしながら、
本発明者らの検討の結果、新たに、ＢＤ４倍速、あるいはＤＶＤ±ＲＷ８倍速以上の記録
速度を達成しようとすると、Ｐｗ／Ｐｅ固定のレーザパワーをパラメータにするＯＰＣ方
式では、十分良好なマーク品質を得ることが困難となることがわかった。それは以下の理
由による。ＢＤ1倍速やＤＶＤ±ＲＷ２．４倍速のような低速記録の場合、上記始端パル
スを照射してから次のパルス（中間パルスあるいは後端パルス）を照射するまでの時間が
十分あるために、次のパルス照射時には、記録膜は十分に冷却される。しかしながら、高
速記録では、始端パルスを照射後次のパルスを照射するまでの時間が短くなるため、記録
膜の冷却速度が相対的に不十分となり、始端パルスで形成した前エッジ部分が十分冷えな
いという問題が生じる。前エッジ部分が十分冷却していない状態で次のパルスを照射する
と、前エッジ部分で結晶化が起こり、エッジゆらぎやエッジシフトが発生してしまう。こ
れはマーク品質が低下することに等しく、高速化によって記録性能が劣化するという問題
が発生した。
In the above-described test writing method of the prior art, so-called OPC method, the laser power is optimized with a constant Pw / Pe, and the best quality recording condition is obtained. However,
As a result of the study by the present inventors, when an attempt is made to newly achieve a recording speed of
また、記録高速化に伴い、市販のドライブに搭載されているレーザ特性の個体ばらつき
も無視できなくなる。例えばＢＤ４倍速での記録チャンネルクロック周期Ｔは約３．８ｎ
ｓとなり、１ｎｓ以下でレーザ波形を制御する必要が生じる。しかしながら、現在のレー
ザの立ち上がり、立下り時間は１〜２ｎｓ程度であるので、１ｎｓの波形制御は物理限界
に近く、レーザの立ち上がり、立下りの個体差が記録マーク形状に大きく影響するように
なる。さらに、スポット径のドライブ間ばらつき等で発光波形がドライブ間で異なる場合
等、低速記録では媒体で装置の個体差を吸収できた問題が、高速記録では表面化してしま
うという問題が生じた。
In addition, with the increase in recording speed, individual variations in laser characteristics mounted on commercially available drives cannot be ignored. For example, the recording channel clock period T at
s, and it becomes necessary to control the laser waveform within 1 ns. However, since the current rise and fall times of the laser are about 1 to 2 ns, waveform control of 1 ns is close to the physical limit, and individual differences in the rise and fall of the laser greatly affect the recording mark shape. . Furthermore, when the light emission waveform differs between drives due to variations in spot diameter between drives, the problem that individual differences of the apparatus can be absorbed by the medium in the low-speed recording has come to the surface in the high-speed recording.
そこで、本発明では、以下の構成とする。
（１）記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以
上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを、それぞれ記録して
再生を行い、変調度と記録パワーの関係から変調度が０となる記録パワーＰ０を求め、Ｐ
０にある定数ｐを乗じた値を、各記録パターンの記録パワーとして設定する。
これにより、剰余に従って分類される記録パターン毎に記録パワーを調整できるので、
複数の記録パターンの記録パワーが全て同一に設定されたときよりも記録性能が向上し、
記録マージンを広げることができる。
即ち、２T系ストラテジの場合は、以下のようになる。基準クロック周期の偶数倍に対
応する長さの記録マークで構成された偶数長記録パターンと、奇数倍に対応する長さの記
録マークで構成された奇数長記録パターンとを、各々記録パワーを変えて記録再生を行い
、その再生結果を基に、偶数長の最適記録パワーと奇数長の最適記録パワーを設定する。
言い換えると、一つの記録マークの時間的な長さをｎＴとし（Ｔは基準クロック周期、ｎ
は２以上の自然数）、Ｌ個のパルスからなる記録用レーザビームを用いて試し書き用の記
録波形を形成する場合、記録パターンは、（１）ｎＴ＝２ＬＴなるマーク、すなわち前記
基準クロック周期の偶数倍に対応する長さの記録マークで形成された偶数長記録パターン
と、（２）ｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔなるマーク、すなわち奇数倍に対応する長さの記録マー
クで形成された奇数長記録パターンとし、（１）偶数長記録パターンと（２）奇数長パタ
ーンとを各々記録する。そして、これら記録パターンの再生を行い、記録パワーと再生信
号から求めた変調度の関係を、偶数長、奇数長記録パターン各々で求め、その結果得られ
た変調度が０となるパワーＰ０（記録開始パワー）に、ある定数ｐを乗じた値をもとに各
記録パターンにおける記録パワーを設定する。
Therefore, the present invention has the following configuration.
(1) A recording pattern classified according to a remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more is recorded for each mark length in the recording code string, which is a natural number n times longer than the detection window width. Playback is performed, and a recording power P0 at which the modulation degree becomes 0 is obtained from the relationship between the modulation degree and the recording power, and P
A value obtained by multiplying 0 by a constant p is set as the recording power of each recording pattern.
Thereby, since the recording power can be adjusted for each recording pattern classified according to the remainder,
The recording performance is better than when the recording powers of multiple recording patterns are all set to the same,
The recording margin can be increased.
That is, in the case of 2T strategy, it is as follows. The recording power is changed between an even-length recording pattern composed of recording marks having a length corresponding to an even multiple of the reference clock period and an odd-length recording pattern composed of recording marks having a length corresponding to an odd multiple. Then, the optimum recording power of even length and the optimum recording power of odd length are set based on the reproduction result.
In other words, the time length of one recording mark is nT (T is the reference clock period, n
Is a natural number of 2 or more), when a recording waveform for trial writing is formed using a recording laser beam consisting of L pulses, the recording pattern is (1) a mark of nT = 2LT, that is, the reference clock period An even-length recording pattern formed with a recording mark having a length corresponding to an even multiple, and an odd-length recording formed with a mark of (2) nT = (2L + 1) T, that is, a recording mark having a length corresponding to an odd multiple As a pattern, (1) an even-length recording pattern and (2) an odd-length pattern are recorded. Then, these recording patterns are reproduced, and the relationship between the recording power and the modulation degree obtained from the reproduction signal is obtained for each of the even-length recording pattern and the odd-length recording pattern. The recording power for each recording pattern is set based on a value obtained by multiplying the starting power by a constant p.
続いて、３T系ストラテジの場合は、以下のようになる。ｎＴ＝３ＬＴ系の場合には、
（１）ｎＴ＝３ＬＴなるマークで形成された記録パターンと、（２）ｎＴ＝（３Ｌ−２）
Ｔなるマークで形成された記録パターンと、（３）ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔなるマークで形
成された記録パターンとを用い、これらを各々記録し、記録パワーと再生信号から求めた
変調度の関係を求め、各々の記録パターンで得られたＰ０をもとに記録パワーを設定する
。
Subsequently, in the case of the 3T strategy, it is as follows. In the case of nT = 3LT system,
(1) a recording pattern formed with a mark of nT = 3LT; and (2) nT = (3L-2).
The recording pattern formed by the mark T and the recording pattern formed by the mark (3) nT = (3L-1) T are recorded respectively, and the modulation degree obtained from the recording power and the reproduction signal The recording power is set based on P0 obtained for each recording pattern.
また、４T系ストラテジの場合は、以下のようになる。ｎＴ＝４ＬＴの場合は、（１）
ｎＴ＝４ＬＴのマークで形成された記録パターンと、（２）ｎＴ＝（４Ｌ−２）Ｔなるマ
ークで形成された記録パターンと、（３）ｎＴ＝（４Ｌ−１）Ｔなるマークで形成された
記録パターンと、（４）ｎＴ＝（４Ｌ＋１）Ｔなるマークで形成された記録パターンとを
用い、これらを各々記録し、記録パワーと再生信号から求めた変調度の関係を求め、各々
の記録パターンで得られたＰ０をもとに記録パワーを設定する。
In the case of a 4T strategy, it is as follows. When nT = 4LT, (1)
A recording pattern formed with a mark of nT = 4LT, a recording pattern formed of a mark of (2) nT = (4L-2) T, and (3) formed of a mark of nT = (4L-1) T And a recording pattern formed with a mark of (4) nT = (4L + 1) T, each of which is recorded, and the relationship between the recording power and the modulation factor obtained from the reproduction signal is obtained, and each recording The recording power is set based on P0 obtained from the pattern.
（２）また、前記各記録パターンにて設定した記録パワーにて確認パターンを用いて試
し書きを行い、各記録パターンの記録パワーの再調整を行うとよい。これにより、記録パ
ワーの微調整ができ、最適記録条件を得ることができる。
(2) Further, it is preferable that test writing is performed using the confirmation pattern with the recording power set in each recording pattern, and the recording power of each recording pattern is readjusted. As a result, the recording power can be finely adjusted and the optimum recording condition can be obtained.
（３）変調度が０となる記録パワーＰ０に乗じる定数ｐは、１．５以上３．０以下が良
い。１．５より小さい場合は十分な振幅を得ることが難しく、３．０より大きいとマーク
幅が大きくなり隣接したマークを結晶化してしまう、いわゆるクロスイレーズが生じてし
まうからである。なお、ｐを２．０以上２．８以下とすると、更に好ましい。ｐが２．０
以上にすることにより、記録パワーオフセットなどの記録条件による試し書き時のパワー
変動が原因のジッター増大を低減することができるのでより好ましい。またｐを２．８以
下とすることにより、オーバーパワーでの照射を防ぐことができるので、多数回書き換え
による性能低下を防ぐことができるので、より好ましい。
(3) The constant p multiplied by the recording power P0 at which the degree of modulation is 0 is preferably 1.5 or more and 3.0 or less. If it is smaller than 1.5, it is difficult to obtain a sufficient amplitude, and if it is larger than 3.0, the mark width becomes large, and so-called cross erasure occurs in which adjacent marks are crystallized. It is more preferable that p is 2.0 or more and 2.8 or less. p is 2.0
This is more preferable because it can reduce an increase in jitter caused by power fluctuations during trial writing due to recording conditions such as recording power offset. Further, by setting p to 2.8 or less, it is possible to prevent irradiation with overpower, and therefore, it is possible to prevent deterioration in performance due to rewriting many times.
（４）記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２
以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される複数の記録パターンの中で、パタ
ーンＡを選択し、記録パワーを変えて記録再生し、変調度と記録パワーの関係から変調度
が０となる記録パワーＰ０（Ａ）を求め、Ｐ０（Ａ）にある定数ｐを乗じた値を、記録パ
ターンの記録パワーＰｗ（Ａ）として設定し、Ｐｗ（Ａ）での変調度mod(Ａ)と略同一の
値となるよう、その他の記録パターンの記録パワーを設定する。
これにより、剰余に従って分類される記録パターン毎に記録パワーが設定されることとな
り、記録パターンが異なっても略同一の変調度を得ることができるので、複数の記録パタ
ーンの記録パワーが全て同一に設定されたときよりも記録性能が向上し、記録マージンを
広げることができる。また、複数の記録パターンそれぞれについて、変調度が０となる記
録パワーＰ０（Ａ）を求める必要がないため、試し書きの時間を短くすることができる。
例えば、２Ｔ系ストラテジの場合の一例を示す。基準クロック周期の奇数倍に対応する
長さの記録マークで構成された奇数長記録パターンを用い、記録パワーを変えて記録再生
し、変調度と記録パワーの関係から変調度が０となる記録パワーＰ０（odd）を求め、Ｐ
０（odd）にある定数ｐを乗じた値を、記録パターンの記録パワーＰｗ（odd）として設定
する。Ｐｗ（odd）での変調度mod（odd）と略同一の値となるような偶数長記録パターン
の記録パワーを求め、偶数長記録パターンの記録パワーＰｗ（even）とする。ここでも、
Ｐｗ（odd）とＰｗ（even）の記録パワーを用い、確認パターンによる試し書きを行い、
各記録パターンの記録パワーの再調整を行うとよい。このとき、Ｐｗ（odd）を固定とし
て、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）のみ微調整するだけでも効果がある。このような確認パターンによ
る試し書きにより、記録パワーの微調整ができ、最適記録条件を得ることができる。
さらに、奇数長マークでの最適記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）を求めたあと、偶数長マーク
のみからなる記録パターンでの最適記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ）を求める手法として、Ｐ
ｗ（ｏｄｄ）にある定数ｑを乗じるあるいは定数ｒを加算してＰｗ（ｅｖｅｎ）を求める
こともできる。
(4) The mark length in the recording code string is set to 2 for a mark having a natural number n times the detection window width
Among a plurality of recording patterns classified according to the remainder divided by the integer constant, pattern A is selected, and recording / reproducing is performed by changing the recording power, and the modulation factor becomes 0 from the relationship between the modulation factor and the recording power. The recording power P0 (A) is obtained, and a value obtained by multiplying P0 (A) by a constant p is set as the recording power Pw (A) of the recording pattern, which is abbreviated as the modulation degree mod (A) at Pw (A). The recording powers of other recording patterns are set so that the same value is obtained.
As a result, the recording power is set for each recording pattern classified according to the remainder, and even if the recording patterns are different, substantially the same modulation degree can be obtained, so that the recording powers of the plurality of recording patterns are all the same. The recording performance can be improved and the recording margin can be expanded as compared with the setting. Further, since it is not necessary to obtain the recording power P0 (A) at which the degree of modulation becomes 0 for each of the plurality of recording patterns, the time for trial writing can be shortened.
For example, an example in the case of 2T strategy is shown. Recording power that uses an odd-length recording pattern composed of recording marks with a length corresponding to an odd multiple of the reference clock period, changes the recording power, and records / reproduces, and the recording power at which the modulation factor becomes zero due to the relationship between the modulation factor and the recording power Find P0 (odd) and P
A value obtained by multiplying 0 (odd) by a constant p is set as a recording pattern recording power Pw (odd). The recording power of the even-length recording pattern that is substantially the same value as the modulation degree mod (odd) at Pw (odd) is obtained and is set as the recording power Pw (even) of the even-length recording pattern. even here,
Using the recording power of Pw (odd) and Pw (even), test writing with the confirmation pattern is performed,
It is preferable to readjust the recording power of each recording pattern. At this time, it is effective to just finely adjust only Pw (even) while fixing Pw (odd). By trial writing with such a confirmation pattern, the recording power can be finely adjusted and the optimum recording condition can be obtained.
Further, after obtaining the optimum recording power Pw (odd) for the odd-length mark, a method for obtaining the optimum recording power Pw (even) for the recording pattern consisting only of the even-length mark is P
Pw (even) can also be obtained by multiplying w (odd) by a constant q or adding a constant r.
（５）２Ｔ系ストラテジの場合、偶数長からなる記録パターンあるいは奇数長から成る
記録パターンの試し書きを行って記録パワーを求め、その記録パワーに定数ｑを乗じるあ
るいは定数ｒを加えて他方の記録パターンの記録パワーを求めることを特徴とする。
すなわち、奇数長から成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（odd）と偶数
長から成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（even）との関係を、Ｐｗ（od
d）＝ｑ×Ｐｗ（even）あるいは、Ｐｗ（odd）＝ Ｐｗ（even）+ｒとする。２Ｔ系スト
ラテジでは、隣り合った１対の偶数長マークと奇数長マークを同じ数のパルス列で構成さ
れた記録波形を用いて記録する。例えば最短マーク長が２Tマークの場合、２Tマークと３
Tマークでは１つの矩形パルスを発生し、４Tマークと５Tマークでは始端パルスと後端パ
ルスの２つのパルスを発生する。このとき、記録波形形状と媒体の熱特性及び結晶化特性
などが影響して、偶数長マークと奇数長マークでは記録感度が異なる場合がある。
奇数長から成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（odd）と偶数長から成る
記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（even）との関係を、ある数式で関連付け
ておくことにより、片方の記録パターンのみ試し書きを行えばよいため、試し書きに要す
る時間を短縮することができる。定数ｑ、定数ｒの値はドライブを出荷する際に決めてお
くと良い。あるいは、媒体を初めてロードしたときにｑとｒの値を学習により求め、媒体
ＩＤとｑ、ｒを関連つけておいても良い。
(5) In the case of 2T strategy, the recording power is obtained by performing trial writing of a recording pattern having an even length or a recording pattern having an odd length, and the other recording is performed by multiplying the recording power by a constant q or adding a constant r. The pattern recording power is obtained.
That is, the relationship between the recording power Pw (odd) for recording a recording pattern having an odd length and the recording power Pw (even) for recording a recording pattern having an even length is represented by Pw (od
d) = q × Pw (even) or Pw (odd) = Pw (even) + r. In the 2T strategy, a pair of adjacent even-length marks and odd-length marks are recorded using a recording waveform composed of the same number of pulse trains. For example, if the shortest mark length is 2T mark, 2T mark and 3
One rectangular pulse is generated at the T mark, and two pulses of a start end pulse and a rear end pulse are generated at the 4T mark and the 5T mark. At this time, the recording sensitivity may be different between the even-length mark and the odd-length mark due to the influence of the recording waveform shape, the thermal characteristics and crystallization characteristics of the medium, and the like.
By associating the relationship between the recording power Pw (odd) for recording a recording pattern consisting of an odd length and the recording power Pw (even) for recording a recording pattern consisting of an even length with a certain formula, Since it is only necessary to perform trial writing for only the recording pattern, the time required for trial writing can be shortened. The values of constant q and constant r are preferably determined when the drive is shipped. Alternatively, the values of q and r may be obtained by learning when the medium is loaded for the first time, and the medium ID may be associated with q and r.
（６）奇数長最小マークを含む記録パターン中の最小マーク長のアシンメトリと、偶数
長最小マークを含む記録パターン中の最小マーク長のアシンメトリを算出し、これらが略
同一になるように、奇数長から成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（odd
）と偶数長から成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（even）を夫々設定す
る。たとえば、最小マークが３Ｔマークの場合、３Ｔマークを含む記録パターン中の３Ｔ
マークのアシンメトリＡｓｙｍ（３Ｔ）と、４Ｔマークを含む記録パターン中の４Ｔマー
クのアシンメトリＡｓｙｍ（４Ｔ）とが略同一になる各々のパワーを記録パワーとする。
このとき、奇数長記録パターンでは３ＴマークのアシンメトリＡｓｙｍ（３Ｔ）、偶数長
マークのアシンメトリＡｓｙｍ（４Ｔ）のみ再生すればよい。
(6) The asymmetry of the minimum mark length in the recording pattern including the odd-length minimum mark and the asymmetry of the minimum mark length in the recording pattern including the even-length minimum mark are calculated, and the odd length is set so that they are substantially the same. Recording power Pw (odd for recording a recording pattern consisting of
) And a recording power Pw (even) for recording a recording pattern having an even length. For example, when the minimum mark is a 3T mark, 3T in a recording pattern including the 3T mark
Each power at which the asymmetry Asym (3T) of the mark and the asymmetry Asym (4T) of the 4T mark in the recording pattern including the 4T mark are substantially the same is defined as the recording power.
At this time, it is sufficient to reproduce only the asymmetry Asym (3T) of the 3T mark and the asymmetry Asym (4T) of the even length mark in the odd-length recording pattern.
このようにアシンメトリを考慮した記録パワー設定とすることにより、 同時に記録さ
れた異なるマーク長を比較し求めた数値であるため、万が一試し書き時にデフォーカスな
どによるパワーオフセットや電気的なオフセット等が生じた場合でも、これらのオフセッ
トの影響を抑えることができる。一方、信号振幅、変調度などはこれらのオフセットの影
響を直接受けるために、記録パワー設定のための試し書き時には注意が必要である。
ここではアシンメトリという言葉で統一したが、実際は、βを用いると良い。βは以下の
式で定義され、ＤＶＤ−ＲＷ等の規格書に則る。
By setting the recording power in consideration of asymmetry in this way, it is a numerical value obtained by comparing different mark lengths recorded at the same time, so power offset or electrical offset due to defocus etc. may occur during trial writing. Even in this case, the influence of these offsets can be suppressed. On the other hand, since signal amplitude, modulation degree, and the like are directly affected by these offsets, care must be taken during trial writing for recording power setting.
Although the term asymmetry is unified here, in practice it is better to use β. β is defined by the following formula and conforms to a standard document such as DVD-RW.
β＝(Ａ１+Ａ２)/（Ａ１-Ａ２）
βはＡＣカップリングしたＨＦ信号から算出した値で、Ａ１、Ａ２はそれぞれＡＣカップ
リングしたＨＦ信号のピークレベル（ハイレベルとローレベル）を示している。すなわち
(Ａ１+Ａ２)はピークレベルの差を表し、(Ａ１-Ａ２)はＨＦ信号のpeak-to-peak値を表す
。
また、γを用いて記録パワーを設定しても良い。γは以下の式で定義され、β同様、ＤＶ
Ｄ−ＲＷ等の規格書に則る。
β = (A1 + A2) / (A1-A2)
β is a value calculated from the AC-coupled HF signal, and A1 and A2 indicate peak levels (high level and low level) of the AC-coupled HF signal, respectively. Ie
(A1 + A2) represents the difference in peak level, and (A1-A2) represents the peak-to-peak value of the HF signal.
Further, the recording power may be set using γ. γ is defined by the following formula:
Conforms to standards such as D-RW.
γ＝（ｄｍ/ｄＰｗ）*（Ｐｗ/ｍ）
ここで、ｍはＨＦ信号の変調度を示す。
γ = (dm / dPw) * (Pw / m)
Here, m indicates the degree of modulation of the HF signal.
このような方法は、記録膜が1層あるタイプの光ディスクだけでなく、記録層が複数層
ある種類の光ディスクにも特に有効である。例えば、記録層が２層存在する光ディスクの
場合、各記録層での記録マージンが、記録層が単層のディスクのそれよりも狭くなってし
まうという課題が発生するが、本発明のように、記録パターンに応じて記録パワーを制御
することにより、記録マージンを広げることが可能となる。これらは、特に、ＤＶＤ−Ｒ
Ｗ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＢＤ−ＲＥなど、共晶系記録膜を用いた書換可能タイプの媒体を用い
たときの試し書きで有効である。
これらの試し書きを行うことにより、従来よりも試し書きに多少時間がかかる場合が生
じるが、ＤＶＤ±ＲＷやＢＤ−ＲＥのような、記録に“焼く”という言葉を用いる媒体の
場合、試し書きに要する時間は２〜３秒であり、“焼く”(記録する)作業に要する時間(
例えば１０分)のほうが圧倒的に長いため、試し書き所要時間が５倍に増えたとしても、
ユーザを待たせる時間はほとんど変わらず、光ディスクの使い勝手が悪くなることはなく
、またユーザのデメリットになることはない。
Such a method is particularly effective not only for an optical disc having a single recording film but also for an optical disc having a plurality of recording layers. For example, in the case of an optical disc having two recording layers, there is a problem that the recording margin in each recording layer becomes narrower than that of a single-layer disc. By controlling the recording power according to the recording pattern, the recording margin can be expanded. These are especially DVD-R
It is effective in trial writing when a rewritable type medium using a eutectic recording film such as W, DVD + RW, BD-RE, or the like is used.
By performing these test writings, the test writing may take a little longer than before, but in the case of a medium that uses the word “burn” for recording, such as DVD ± RW or BD-RE, It takes 2 to 3 seconds to complete the "burning" (recording) work (
(For example, 10 minutes) is overwhelmingly longer, so even if the time required for test writing has increased fivefold,
The time to wait for the user is almost the same, the usability of the optical disc is not deteriorated, and there is no disadvantage for the user.
なお、本願は、特に高速記録に有効であり、特に、共晶系といわれる結晶成長型の記録
膜を用いた記録型媒体で、記録速度２０ｍ／ｓ以上の条件で記録するときにより効果を発
するものである。
また、変調度が０とは、マーク形成が全くなされないという物理現象を表している。し
たがって、記録膜が溶融温度に達しない程度に記録パワーが十分低ければ、変調度は０と
なるが、本特許では、変調度が実質０となる最大記録パワーが重要である。ドライブにて
変調度０を求めるには、記録パワーを変えたときの変調度を各々求め、記録パワーと変調
度の関係を所定の算出式に基づいて求めるとよい。即ち、記録パワーと変調度の関係を示
すグラフから、変調度が実質０（グラフでＸ切片が０）となる記録パワーを外挿して求め
るとよい。用いた算出式や測定データ数によって、多少、変調度が０となる記録パワーP0
が変動する場合があるが、この場合でも、P0は、最適パワーを求めるのに十分な誤差範囲
内にある。
The present application is particularly effective for high-speed recording, and is particularly effective when recording on a recording medium using a crystal growth type recording film called a eutectic system at a recording speed of 20 m / s or more. Is.
A modulation degree of 0 represents a physical phenomenon that marks are not formed at all. Therefore, if the recording power is sufficiently low to the extent that the recording film does not reach the melting temperature, the degree of modulation becomes 0. However, in this patent, the maximum recording power at which the degree of modulation is substantially 0 is important. In order to obtain the degree of modulation of 0 by the drive, it is preferable to obtain the degree of modulation when the recording power is changed and obtain the relationship between the recording power and the degree of modulation based on a predetermined calculation formula. That is, it is preferable to extrapolate the recording power at which the modulation degree is substantially 0 (X intercept is 0 in the graph) from the graph showing the relationship between the recording power and the modulation degree. Depending on the calculation formula used and the number of measurement data, the recording power P0 at which the degree of modulation is slightly reduced to 0
However, even in this case, P0 is within an error range sufficient to obtain the optimum power.
本発明によれば、試し書きの精度を高めることができるので、より記録品質の良好な高
速対応光ディスクを提供することができる。
According to the present invention, since the accuracy of trial writing can be increased, a high-speed compatible optical disk with better recording quality can be provided.
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
まず、本実施例で用いる記録方式について述べる。光ディスクにデータを書き込む場合に
マルチパルスによるマークエッジ記録方式を用い、データをマークとスペースの長さ情報
としてディスクに書き込む。また、マークの長さが３Ｔから１４Ｔ、スペースの長さが３
Ｔから１４Ｔの整数値の組み合わせである変調方式を用いた。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
First, the recording method used in this embodiment will be described. When writing data on an optical disc, a multi-pulse mark edge recording method is used, and the data is written on the disc as length information of marks and spaces. The mark length is 3T to 14T, and the space length is 3T.
A modulation scheme that is a combination of integer values from T to 14T was used.
図２に、本発明で用いた記録波形の一例を示す。本実施例では、２Ｔ系ストラテジを用
いた。３Ｔマークは単一パルスから形成され、４Ｔマーク及び５Ｔマークは始端パルスと
後端パルスの２つのパルスから形成される。６Ｔマーク及び７Ｔマークは始端パルスと後
端パルス、及び1つの中間パルスの計３つのパルスから構成され、８Ｔマークと９Ｔマー
クは始端パルスと後端パルス、及び２つの中間パルスの計４つの記録パルスからなる。以
降、マーク長が長くなるに従って中間パルス数が増える。ここで、記録マークをｎＴ（Ｔ
は基準クロック周期、ｎは２以上の自然数）とすると、４Ｔ、６Ｔマークなどの偶数長マ
ークはｎＴ＝２ＬＴで表され、３Ｔ、５Ｔマークなどの奇数長マークはｎＴ＝（２Ｌ＋１
）Ｔで表すことができる。このとき、Ｌは自然数で、記録パルス数を表す。
ディスクには、８倍速記録が可能な書換型ＤＶＤ（赤色光源対応相変化ディスク）を用
い、記録再生測定には波長６６０ｎｍの半導体レーザを搭載したドライブを使用した。線
速度は約２７．９ ｍ／ｓとした。図２でのクロック周期Ｔは約４．８ｎｓである。
FIG. 2 shows an example of a recording waveform used in the present invention. In this example, a 2T strategy was used. The 3T mark is formed from a single pulse, and the 4T mark and the 5T mark are formed from two pulses of a start pulse and a back pulse. The 6T mark and 7T mark are composed of a total of three pulses including a start pulse and a rear end pulse, and one intermediate pulse, and the 8T mark and 9T mark are a total of four records including the start pulse, the rear end pulse, and two intermediate pulses. It consists of pulses. Thereafter, the number of intermediate pulses increases as the mark length increases. Here, the recording mark is set to nT (T
Is a reference clock period and n is a natural number of 2 or more), even-length marks such as 4T and 6T marks are represented by nT = 2LT, and odd-length marks such as 3T and 5T marks are represented by nT = (2L + 1).
) T. At this time, L is a natural number and represents the number of recording pulses.
A rewritable DVD (phase-change disc corresponding to a red light source) capable of 8 × speed recording was used as the disc, and a drive equipped with a semiconductor laser having a wavelength of 660 nm was used for recording / reproduction measurement. The linear velocity was about 27.9 m / s. The clock period T in FIG. 2 is about 4.8 ns.
本実施例での試し書き方法の動作を説明するフローチャートを図１に示し、これにした
がって本発明を説明する。まず、第１のステップ（Ｓ１０１）として、ディスクに記録し
てある推奨記録パワー、パルス幅等の記録条件を読み出し、レーザパワーとして記録パワ
ー（Ｐｗ）３８ｍＷ、消去パワー（Ｐｅ）８ｍＷ、バイアスパワー（Ｐｂ）０．１ｍＷを
得た。第２のステップ（Ｓ１０２）として、この付近のレーザパワー条件を設定し、第３
のステップ（Ｓ１０３〜Ｓ１０８）としてディスク上に試し書きを行った。レーザパワー
条件は、Ｐｂの値は固定し、ＰｗとＰｅの比（Ｐｗ／Ｐｅ）を固定値として、推奨記録パ
ワーの０．４倍から１．２倍までの記録パワー、すなわち１５．２ｍＷから４５．６ｍＷ
の間を変化させた。消去パワーＰｅはＰｗとともに３．２ｍＷから９．６ｍＷまで変化さ
せた。このとき、偶数長マークのみで構成される記録パターンと奇数長マークのみで構成
される記録パターンの２種類の試し書き用記録パターンを用い、別々に試し書きを行った
。第３のステップ（Ｓ１０３）にて偶数長マークからなる試し書きパターンを用いて記録
・消去パワーを変化させながら試し書きを複数回行い、第３のステップにて得られた記録
パワーと変調度の関係から、第４のステップ（Ｓ１０４）にて、変調度が０となる記録パ
ワーＰ０（ｅｖｅｎ）として１７．５ｍＷを得た。第５のステップとして、Ｐ０（ｅｖｅ
ｎ）に定数ｐとして２．１を乗算し、偶数長マーク記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ）として３
６．８ｍＷを得た。
同様にして、奇数長マークから構成される試し書き用記録パターンを用いて記録を行っ
て、記録パワーと変調度の関係を求め（Ｓ１０６）、変調度が０となる記録パワーＰ０（
ｏｄｄ）を決定（Ｓ１０７）、その後、Ｐ０（ｏｄｄ）に定数ｐ２．１を乗算して奇数長
マーク記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）として３８．９ｍＷを得た。
A flowchart for explaining the operation of the test writing method in this embodiment is shown in FIG. First, as the first step (S101), the recording conditions such as the recommended recording power and pulse width recorded on the disk are read, and the recording power (Pw) is 38 mW, the erasing power (Pe) is 8 mW, the bias power ( Pb) 0.1 mW was obtained. As the second step (S102), the laser power condition in the vicinity is set, and the third step
In step (S103 to S108), trial writing was performed on the disk. The laser power condition is that the value of Pb is fixed and the ratio of Pw to Pe (Pw / Pe) is a fixed value, and the recording power from 0.4 to 1.2 times the recommended recording power, that is, 15.2 mW. 45.6mW
Changed between. The erasing power Pe was changed from 3.2 mW to 9.6 mW together with Pw. At this time, test writing was separately performed using two types of test writing recording patterns, that is, a recording pattern composed only of even-length marks and a recording pattern composed only of odd-length marks. In the third step (S103), trial writing is performed a plurality of times while changing the recording / erasing power using the trial writing pattern consisting of even-length marks, and the recording power and modulation degree obtained in the third step are changed. From the relationship, in the fourth step (S104), 17.5 mW was obtained as the recording power P0 (even) at which the modulation degree becomes zero. As a fifth step, P0 (eve
n) is multiplied by 2.1 as a constant p and 3 as an even-length mark recording power Pw (even).
6.8 mW was obtained.
Similarly, recording is performed using a recording pattern for trial writing composed of odd-length marks to determine the relationship between the recording power and the modulation factor (S106), and the recording power P0 (the modulation factor is zero) (S106).
(odd) is determined (S107), and then P0 (odd) is multiplied by a constant p2.1 to obtain an odd-length mark recording power Pw (odd) of 38.9 mW.
第３のステップから第８のステップから得られた奇数長マーク用記録パワーと偶数長マ
ーク用記録パワーを用いて、第９のステップ（Ｓ１０９）として偶数長マークと奇数長マ
ークの混在した試し書き用記録パターンを用いて記録、第１０のステップ（Ｓ１１０）と
して記録性能の確認を行ったところ、実用上十分なジッター５．１％を得ることができた
。
従来方法との比較として、奇数長マークと偶数長マークが混在した試し書き用記録パタ
ーンを用いて変調度が０となるパワーＰ０を求め、Ｐ０に定数ｐ＝２．１をかけた結果、
記録パワーＰｗ＝３７．８ｍＷを得た。偶数長マークと奇数長マークいずれの記録パワー
も同一の３７．８ｍＷとして記録再生したところ、ジッターは６．５％であり、偶数長マ
ークと奇数長マークの記録パワーを別々に設定したほうが良好な記録性能を得ることがで
きた。
Using the odd-length mark recording power and the even-length mark recording power obtained from the third step to the eighth step, as the ninth step (S109), test writing in which even-number marks and odd-length marks are mixed When the recording performance was checked as the tenth step (S110) using the recording pattern for recording, a practically sufficient jitter of 5.1% could be obtained.
As a comparison with the conventional method, a power P0 with a modulation factor of 0 is obtained using a test writing recording pattern in which odd-numbered marks and even-length marks are mixed, and P0 is multiplied by a constant p = 2.1.
Recording power Pw = 37.8 mW was obtained. When the recording power of both the even length mark and the odd length mark was recorded and reproduced with the same 37.8 mW, the jitter was 6.5%, and it is better to set the recording power of the even length mark and the odd length mark separately. Recording performance was obtained.
本実施例では、第９のステップの段階で良好なジッターを得ることができたため、第１
１のステップ（Ｓ１１１）は行う必要はなかったが、Ｓ１１０にて良好なジッターが得ら
れなかった場合は、Ｐｗ（ｏｄｄ）とＰｗ（ｅｖｅｎ）の微調整を行うと良い。
本実施例で用いた偶数長／奇数長マーク用試し書きパターンは、マークのみが偶数長／奇
数長で構成されており、スペース部分は偶数長と奇数長を混在していてもよい。すなわち
、スペース長に関しては、例えば偶数長用試し書きパターンに偶数長スペースだけ設ける
などの限定を設ける必要はない。
In the present embodiment, good jitter was obtained at the stage of the ninth step.
Step 1 (S111) need not be performed, but if good jitter cannot be obtained in S110, fine adjustment of Pw (odd) and Pw (even) may be performed.
In the test writing pattern for even length / odd length marks used in the present embodiment, only the mark is composed of even length / odd length, and the space portion may include both even length and odd length. That is, regarding the space length, for example, it is not necessary to provide a limitation such as providing only an even-length space in the even-length test writing pattern.
本実施例では、記録開始パワーＰ０に乗する定数ｐを２．１としたが、定数ｐを１．５
より小さくした場合、図１９に示すように、十分な振幅を得ることができないため再生ジ
ッターは急激に悪化し、ｐ＝１．２のとき再生ジッターは１３．０％となってしまった。
また、ｐ＝３．３ではジッター１２．８％と、定数ｐを３．０より大きくした場合もジッ
ターは大幅に悪化した。これは記録マーク幅が広くなり、クロスイレーズの影響が無視で
きなくなってしまったためである。従って、定数ｐは１．５以上３．０以下が良い。さら
に、定数ｐを２．０とした場合、試し書き時を数回行った際のジッターは５．１〜６．０
％と良好な範囲にあったが、定数ｐを２．０より小さくした場合、例えば１．８にしたと
ころ、試し書き時を数回行った際のジッターは５．４〜７．０％と得られたジッターの範
囲が広がったと同時に最大ジッターが増大した（図２０）。定数ｐが２より小さい場合、
ホコリや汚れなど何らかの原因で記録パワーオフセットなどが生じてしまった場合のジッ
ター増大の影響を大きく受けてしまう。従って、定数ｐは２．０以上にすることがより好
ましい。また図２１には５００回多数回記録を行ったときのジッターと定数ｐとの関係を
示した。ｐが２．８より大きくなると、オーバーパワーによる記録膜の破壊が生じ、ジッ
ターは悪化する。ｐを２．８以下とすることにより、オーバーパワーでの照射を防ぐこと
ができるので、多数回書き換えによる性能低下を防ぐことができるので、より好ましい。
In this embodiment, the constant p multiplied by the recording start power P0 is 2.1, but the constant p is 1.5.
When it was made smaller, as shown in FIG. 19, since sufficient amplitude could not be obtained, the reproduction jitter deteriorated rapidly, and the reproduction jitter became 13.0% when p = 1.2.
Further, when p = 3.3, the jitter was 12.8%, and the jitter was greatly deteriorated when the constant p was larger than 3.0. This is because the width of the recording mark is widened and the influence of the cross erase cannot be ignored. Therefore, the constant p is preferably 1.5 or more and 3.0 or less. Further, when the constant p is 2.0, the jitter when the test writing is performed several times is 5.1 to 6.0.
%, But when the constant p was made smaller than 2.0, for example, 1.8, the jitter when the test writing was performed several times was 5.4 to 7.0%. The maximum jitter increased at the same time as the obtained jitter range expanded (FIG. 20). If the constant p is less than 2,
If the recording power offset or the like is caused for some reason such as dust or dirt, it is greatly affected by an increase in jitter. Therefore, the constant p is more preferably 2.0 or more. FIG. 21 shows the relationship between the jitter and the constant p when recording is performed 500 times. When p is larger than 2.8, the recording film is destroyed by overpower, and the jitter is deteriorated. By setting p to 2.8 or less, it is possible to prevent irradiation with overpower, and therefore, it is possible to prevent deterioration in performance due to rewriting many times.
２Ｔ系ストラテジでは、隣り合う１対の偶数長マークと奇数長マークの記録パルス数が
等しい。例えば、図２をみるとわかるように、４Ｔマークと５Ｔマークは各々２つの記録
パルスから構成されており、６Ｔマークと７Ｔマークは３つの記録パルスから成り立って
いる。ここで特徴的なのは、４Ｔマークの始端パルス照射後のＰｂレベルパルス幅（Ｗ１
）と６Ｔマークのそれ（Ｗ１）とはほぼ同じ長さであり、同様に、５Ｔマークの始端パル
ス照射後のＰｂレベルパルス幅（Ｗ２）と７Ｔマークのそれ（Ｗ２）とはほぼ同じ長さと
なることである。始端パルスが形成する記録マークの前エッジ位置は、始端パルスの次に
くる記録パルスの開始位置に影響される。例えば、始端パルスの次にくる記録パルスが始
端パルスから遠くなると、記録膜が溶融した後に再結晶化してしまう領域が少なくなるた
め、前エッジ位置のシュリンクが少なく、溶融領域前端に近い位置に固定される。反対に
、始端パルスの次にくる記録パルスが始端パルスから近くなると、記録膜が溶融した後に
再結晶化してしまう領域が広くなるため、前エッジ位置のシュリンクが激しく、溶融領域
よりも後方に前エッジ位置が固定される。
In the 2T strategy, the number of recording pulses of a pair of adjacent even-length marks and odd-length marks is equal. For example, as can be seen from FIG. 2, the 4T mark and the 5T mark are each composed of two recording pulses, and the 6T mark and the 7T mark are composed of three recording pulses. What is characteristic here is that the Pb level pulse width (W1 after the start pulse irradiation of the 4T mark).
) And that of the 6T mark (W1) are substantially the same length, and similarly, the Pb level pulse width (W2) after irradiation of the start pulse of the 5T mark and that of the 7T mark (W2) are substantially the same length. It is to become. The front edge position of the recording mark formed by the start pulse is affected by the start position of the recording pulse that follows the start pulse. For example, if the recording pulse that follows the start pulse is far from the start pulse, the area that recrystallizes after the recording film has melted decreases, so there is less shrinkage at the front edge position, and the position close to the front end of the melt area is fixed. Is done. On the other hand, when the recording pulse that comes after the start pulse is closer to the start pulse, the area that recrystallizes after the recording film melts becomes wider, so the shrinkage at the front edge position is severe and the front is behind the melt area. The edge position is fixed.
４Ｔマークと６Ｔマーク、５Ｔマークと７Ｔマークはそれぞれ、始端パルスの次にくる
記録パルス（中間パルスあるいは後端パルス）照射による前エッジ位置への影響が各々ほ
ぼ同じであると考えられる。図２のように、８Ｔマークは４Ｔおよび６Ｔマークと類似し
た前エッジ位置となる。このような、類似の熱的特性をもつマークのみで構成した試し書
き用記録パターンを用いることで、複数種類の記録パルス形状から生じるエッジ位置変動
分によるジッタ増大が見えにくくなるため、正確かつ効率的に最適記録パルス幅を求める
ことができる。
The 4T mark, the 6T mark, the 5T mark, and the 7T mark are considered to have substantially the same influence on the front edge position due to the recording pulse (intermediate pulse or rear end pulse) that follows the start end pulse. As shown in FIG. 2, the 8T mark has a front edge position similar to the 4T and 6T marks. By using a recording pattern for test writing composed of only marks with similar thermal characteristics, it is difficult to see the increase in jitter due to edge position fluctuations caused by multiple types of recording pulse shapes. Therefore, the optimum recording pulse width can be obtained.
本実施例では、図２に示したように、単一パルスで形成される３Ｔマークに関しては、
始端パルス位置を含む記録パルス条件を独立に設定した。３Ｔマークは単一パルスから成
るために、他の複数の記録パルスから構成されるマークとは、前エッジ位置が決まるプロ
セスが異なるからである。本実施例では、ステップＳ１０９の試し書きにて、第１０のス
テップ（Ｓ１１０）でΔＴを求めると同時に、３Ｔマークの記録パルス条件も求めた。
また、本実施例では、４Tマークと５Tマークが同じ記録パルス数となるような、ｎＴ＝
２ＬＴとｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔの記録パルスが等しい場合としたが、５Ｔと６Ｔが同じパ
ルス数となるような、ｎＴ＝２ＬＴとｎＴ＝（２Ｌ−１）Ｔの記録パルスが等しい場合も
、本発明の効果は変わらない。
さらに、本実施例では、偶数長マークと奇数長マークの記録パワーを算出するときに、
変調度が０となるパワーＰ０（even）とＰ０（odd）に定数ｐを乗算したが、偶数長マー
ク記録時と奇数長マーク記録時の変調度とパワーとの関係が大幅に異なるとき、乗算値ｐ
を異なる値にしてもよい。すなわち、媒体の特性に応じて、定数ｐを偶数長マーク用と奇
数長マーク用に各々異なる値に設定することも可能である。
In the present embodiment, as shown in FIG. 2, regarding the 3T mark formed by a single pulse,
The recording pulse conditions including the start pulse position were set independently. This is because the 3T mark is composed of a single pulse, and therefore the process for determining the front edge position is different from the mark composed of other plural recording pulses. In this example, in the trial writing in step S109, ΔT was obtained in the tenth step (S110), and at the same time, the recording pulse condition for the 3T mark was obtained.
Further, in this embodiment, nT = 4T mark and 5T mark have the same number of recording pulses.
The case where the recording pulses of 2LT and nT = (2L + 1) T are the same, but the recording pulses of nT = 2LT and nT = (2L−1) T, where 5T and 6T have the same number of pulses, The effect of the present invention is not changed.
Furthermore, in this embodiment, when calculating the recording power of the even-length mark and the odd-length mark,
The power P0 (even) and P0 (odd) at which the modulation degree becomes 0 is multiplied by a constant p. When the relationship between the modulation degree and power at the time of even-length mark recording and odd-length mark recording is significantly different, multiplication is performed. Value p
May have different values. That is, the constant p can be set to a different value for the even-length mark and the odd-length mark according to the characteristics of the medium.
また、本実施例では、変調度が実質０となる記録パワーＰ０に定数ｐを乗することによ
りＰｗ（ｅｖｅｎ）を設定したが、変調度が０ではなく、変調度０から飽和変調度に達す
るまでの所定の値を有するＰｗ’を求め、Ｐｗ’に定数ｐ’を乗することによりＰｗを求
める方法でもよい。一例を図２８に示す。図２８では、所定の変調度を３５％とした場合
の試し書き方法を示している。設定変調度は記録パワーの変化に対して変調度の変化が急
峻でかつかすれ書きになりにくい変調度２５％から４０％の範囲が好ましい。記録パワー
に対して変調度の変化が急峻であるということは、記録パワーを精度良く設定できること
を意味している。定数ｐ’は、用いるディスクやドライブにより設定される定数であるが
、１．２≦ｐ’≦２．５になることが多い。本実施例で用いたドライブと媒体では、図２
８のステップＳ１８０４にて求めたＰｗ’（ｅｖｅｎ）は２３．０ｍＷ、Ｐｗ’（ｏｄｄ
）は２４．３ｍＷとなり、ｐ’=１．６としてＰｗ（ｅｖｅｎ）を３６．５ｍＷ、Ｐｗ（
ｏｄｄ）を３８．９ｍＷと算出した。ステップＳ１８１０にて記録性能を確認したところ
、ジッターが５．１％であり、実用上問題ない記録性能を得ることができた。このように
、Ｐ０とＰｗ’から各々算出した記録パワー値は必ずしも同じになることはない。図１の
ステップＳ１１０あるいは図２８のステップＳ１８１０で記録性能の確認を行い、記録性
能が十分でない場合は、図１のステップＳ１１１あるいは図２８のステップＳ１８１１に
て微調整を行うことが望ましい。
In this embodiment, Pw (even) is set by multiplying the recording power P0 at which the modulation degree is substantially 0 by the constant p. However, the modulation degree is not 0, and reaches the saturation modulation degree from the
Pw ′ (even) obtained in step S1804 of FIG. 8 is 23.0 mW, Pw ′ (odd
) Is 24.3 mW, and p '= 1.6, Pw (even) is 36.5 mW, Pw (
odd) was calculated to be 38.9 mW. When the recording performance was confirmed in step S1810, the jitter was 5.1%, and it was possible to obtain a recording performance with no practical problem. Thus, the recording power values calculated from P0 and Pw ′ are not necessarily the same. The recording performance is confirmed in step S110 of FIG. 1 or step S1810 of FIG. 28. If the recording performance is not sufficient, fine adjustment is preferably performed in step S111 of FIG. 1 or step S1811 of FIG.
実施例１では、隣り合った偶数長マークと奇数長マークの記録パルス数が同一である、
いわゆる２Ｔ系ストラテジを用いたが、本実施例では３Ｔ系ストラテジを用いた場合を示
す。３Ｔ系ストラテジとは、ｎＴ＝３ＬＴ、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔ、ｎＴ＝（３Ｌ−１）
Ｔで表されるマークの記録パルス数を同一にした記録系である。このとき、Ｌは自然数で
、記録パルス数を表す。例えば、４Ｔ〜６Ｔマークは２つの記録パルスで構成され、７Ｔ
〜９Ｔマークは３つの記録パルスで構成される。このような３Ｔ系ストラテジを図４に示
す（ただし、実施例２では３Ｔ〜１４Ｔマークから構成される記録波形を用いている）。
In Example 1, the number of recording pulses of adjacent even-length marks and odd-length marks is the same.
A so-called 2T strategy is used, but in this embodiment, a case where a 3T strategy is used is shown. The 3T strategy is nT = 3LT, nT = (3L-2) T, nT = (3L-1)
In this recording system, the number of recording pulses of the mark represented by T is the same. At this time, L is a natural number and represents the number of recording pulses. For example, 4T to 6T marks are composed of two recording pulses, and 7T
The ~ 9T mark is composed of three recording pulses. Such a 3T strategy is shown in FIG. 4 (however, in the second embodiment, a recording waveform composed of 3T to 14T marks is used).
本実施例では、光ディスクは１０倍速記録が可能な書換型ＤＶＤを用い、記録再生測定
には波長６６０ｎｍの半導体レーザを搭載したドライブを用いた。このドライブは記録パ
ワーＰｗレベルを最大３レベル設定することができる特徴をもつ。線速度は３４．９ｍ／
ｓとした。３Ｔ系ストラテジも２Ｔ系ストラテジと同様、ｎＴ＝３ＬＴマークからなる試
し書き用記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔマークからなる試し書き用記録パターン
、及びｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔマークからなる試し書き用記録パターンの３種類のパターン
を具備しており、それぞれのパターンを用いて記録したときの記録パワーと変調度の関係
を、図５のフローチャートに従って求めた。
In this example, a rewritable DVD capable of 10-times speed recording was used as the optical disk, and a drive equipped with a semiconductor laser having a wavelength of 660 nm was used for recording / reproduction measurement. This drive has a feature that the recording power Pw level can be set to a maximum of three levels. Linear velocity is 34.9m /
s. Similarly to the 2T strategy, the 3T strategy is a test writing recording pattern consisting of nT = 3LT marks, a test writing recording pattern consisting of nT = (3L-2) T marks, and nT = (3L-1) T marks. The relationship between the recording power and the modulation degree when recording using each pattern was determined according to the flowchart of FIG.
まず、ステップＳ２０１として、ディスクに記録してある推奨記録パワー、パルス幅等
の記録条件を読み出し、レーザパワーとして記録パワー（Ｐｗ）５６ｍＷ、消去パワー（
Ｐｅ）１１ｍＷ、バイアスパワー（Ｐｂ）０．３ｍＷを得た。ステップＳ２０２として、
この付近のレーザパワー条件を設定し、Ｓ２０３〜Ｓ２１１としてディスク上に試し書き
を行った。レーザパワー条件は、Ｐｂの値は固定し、ＰｗとＰｅの比（Ｐｗ／Ｐｅ）を固
定値として、推奨記録パワーの０．４倍から１．２倍までの記録パワー、すなわち２２．
４ｍＷから６７．２ｍＷの間を変化させた。消去パワーＰｅはＰｗとともに４．４ｍＷか
ら１３．２ｍＷまで変化させた。このとき、偶数長マークのみで構成される記録パターン
と奇数長マークのみで構成される記録パターンの２種類の試し書き用記録パターンを用い
、別々に試し書きを行った。ステップＳ２０３にてｎＴ＝３ＬＴマークからなる試し書き
パターンを用いて記録・消去パワーを変化させながら試し書きを複数回行い、ステップＳ
２０３にて得られた記録パワーと変調度の関係から、ステップＳ２０４にて、ｎＴ＝３Ｌ
Ｔマークからなる試し書き用記録パターンを記録した場合、変調度が０となる記録パワー
Ｐ０（３ＬＴ）として２０．９ｍＷを得た。同様に、ステップＳ２０７にて、ｎＴ＝（３
Ｌ−２）Ｔマーク記録時の変調度が０となる記録パワーＰ０（（３Ｌ−２）Ｔ）として１
９．１ｍＷ、ステップＳ２１０にて、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔマーク記録時の変調度が０と
なる記録パワーＰ０（（３Ｌ−１）Ｔ）として２０．２ｍＷを得た。その後、各々のＰ０
に定数ｐとして２．８を乗算し、記録パワーＰｗ（３ＬＴ）として５８．５ｍＷ、Ｐｗ（
（３Ｌ−２）Ｔ）として５３．５ｍＷ、Ｐｗ（（３Ｌ−１）Ｔ）として５６．６ｍＷを得
た (ステップＳ２０５、Ｓ２０８、Ｓ２１１)。
First, in step S201, the recording conditions such as the recommended recording power and the pulse width recorded on the disk are read, and the recording power (Pw) is 56 mW and the erasing power (laser power).
Pe) 11 mW and bias power (Pb) 0.3 mW were obtained. As step S202,
The laser power conditions in the vicinity were set, and trial writing was performed on the disk as S203 to S211. The laser power condition is that the value of Pb is fixed and the ratio of Pw to Pe (Pw / Pe) is a fixed value. The recording power is 0.4 to 1.2 times the recommended recording power, that is, 22.
It was varied between 4 mW and 67.2 mW. The erasing power Pe was changed from 4.4 mW to 13.2 mW together with Pw. At this time, test writing was separately performed using two types of test writing recording patterns, that is, a recording pattern composed only of even-length marks and a recording pattern composed only of odd-length marks. In step S203, trial writing is performed a plurality of times while changing the recording / erasing power using the trial writing pattern consisting of nT = 3LT marks.
In step S204, nT = 3L from the relationship between the recording power and the modulation degree obtained in 203.
When a test writing recording pattern consisting of T marks was recorded, 20.9 mW was obtained as the recording power P0 (3LT) at which the modulation degree was zero. Similarly, in step S207, nT = (3
L-2) 1 as the recording power P0 ((3L-2) T) at which the modulation factor at the time of T mark recording is 0
9.1 mW In step S210, 20.2 mW was obtained as the recording power P0 ((3L-1) T) at which the modulation factor during nT = (3L-1) T mark recording was zero. Then each P0
Is multiplied by 2.8 as a constant p, and the recording power Pw (3LT) is 58.5 mW, Pw (
53.5 mW was obtained as (3L-2) T) and 56.6 mW was obtained as Pw ((3L-1) T) (steps S205, S208, S211).
以上得られた３種類の記録パワーを用いて、ステップＳ２１２として、３Ｔから１４Ｔ
までのマーク長およびスペース長がランダムに配置された試し書きパターンを記録、ステ
ップＳ２１３として記録性能の確認を行ったところ、実用上問題のないジッター７．５％
が得られた。さらに、ステップＳ２１４にて、Ｐｗ（３ＬＴ）を５８．５ｍＷから５９．
１ｍＷに微調整することにより、ジッターを７．０％に抑えることができた。
Using the three types of recording power obtained above, 3T to 14T as step S212.
A test writing pattern in which the mark length and the space length up to are randomly recorded is recorded, and the recording performance is confirmed in step S213.
was gotten. Further, in step S214, Pw (3LT) is changed from 58.5 mW to 59.59.
By finely adjusting to 1 mW, the jitter could be suppressed to 7.0%.
本実施例では定数ｐを２．８としたが、定数ｐを２．８より大きくした場合、書換可能
回数が低下した。例えば、初回ランダム信号ジッターを比較すると、ｐ＝２．８では７．
５％、ｐ＝３．０では８．１％と両者とも実用上問題はなかった。しかしながら、ｐ＝２
．８とした場合、書換回数１０００回まで再生ジッターは変化せず実用上問題なかったが
、ｐ＝３．０とした場合、８００回でジッター１３％を超えてしまった。従って、ｐ＝２
．８以下がより好ましい。
In this embodiment, the constant p is set to 2.8. However, when the constant p is set larger than 2.8, the number of rewritable times decreases. For example, when comparing initial random signal jitter, p = 2.8 is 7.
At 5% and p = 3.0, there was no problem in practical use. However, p = 2
. In the case of 8, the reproduction jitter did not change up to 1000 times of rewriting and there was no practical problem. However, when p = 3.0, the jitter exceeded 13% at 800 times. Therefore, p = 2
. 8 or less is more preferable.
また、本実施例では、再生特性の評価要素としてジッターを用いたが、評価要素の種類
を変えたとしても、本発明の効果に変わりはない。例えば再生性能評価にＰＲＭＬなどを
用いてもよい。
実際のユーザデータの記録は、これら試し書きの結果、得られた記録パワーを用いて行
われる。
In this embodiment, jitter is used as an evaluation element for reproduction characteristics. However, even if the type of the evaluation element is changed, the effect of the present invention is not changed. For example, PRML or the like may be used for reproduction performance evaluation.
Actual recording of user data is performed using the recording power obtained as a result of the trial writing.
実施例１においては、試し書き用記録パターンを、ｎＴ＝２ＬＴで表される偶数長マー
クと、ｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔで表される奇数長マークとに分けて、各々試し書きを行い、
変調度が０となるそれぞれの記録パワーＰ０に定数ｐを乗算することにより、奇数長マー
クと偶数長マークの最適記録パワーを得た。本実施例では、一方の試し書きパターンのみ
、記録パワーを大きくふって変調度と記録パワーの関係を求め、求めた記録パワーでの変
調度と略同一になるように、もう一方の記録パターンの記録パワーを求めて記録パワーを
設定する方法を示す。
In Example 1, the test writing recording pattern is divided into an even-length mark represented by nT = 2LT and an odd-length mark represented by nT = (2L + 1) T, and each test writing is performed.
By multiplying each recording power P0 at which the degree of modulation becomes 0 by a constant p, optimum recording powers for odd-numbered marks and even-length marks were obtained. In this embodiment, only for one test writing pattern, the recording power is increased to obtain a relationship between the modulation degree and the recording power, and the other recording pattern is substantially the same as the modulation degree at the obtained recording power. A method for obtaining the recording power and setting the recording power will be described.
本発明では、実施例１と同様の記録波形、８倍速記録が可能な書換型ＤＶＤディスク、
波長６６０ｎｍの半導体レーザを搭載したドライブを用いた。線速度は約２７．９ ｍ／
ｓとした。
In the present invention, a recording waveform similar to that of the first embodiment, a rewritable DVD disc capable of 8 × recording,
A drive equipped with a semiconductor laser having a wavelength of 660 nm was used. Linear velocity is about 27.9 m /
s.
本実施例での試し書き方法の動作を説明するフローチャートを図６に示し、これにした
がって本発明を説明する。ステップＳ３０１からステップＳ３０５は実施例１と同様であ
り、ここでの詳細な説明は省く。実施例１と同様、ステップＳ３０４にて、変調度が０と
なる記録パワーＰ０（ｅｖｅｎ）として１７．５ｍＷを得た。ステップＳ３０５にて、Ｐ
０（ｅｖｅｎ）に定数ｐとして２．１を乗算し、偶数長マーク記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）として３６．８ｍＷを得た。また、記録パワー３６．８ｍＷとしたときの変調度ｍｏｄ
（ｅｖｅｎ）を算出、ｍｏｄ（ｅｖｅｎ）＝５９％を得た。
FIG. 6 shows a flowchart for explaining the operation of the test writing method in the present embodiment, and the present invention will be explained according to this flowchart. Steps S301 to S305 are the same as those in the first embodiment, and a detailed description thereof is omitted here. As in Example 1, in step S304, 17.5 mW was obtained as the recording power P0 (even) at which the modulation degree becomes zero. In step S305, P
0 (even) is multiplied by 2.1 as a constant p, and an even-length mark recording power Pw (even
) Was obtained as 36.8 mW. Also, the modulation degree mod when the recording power is 36.8 mW.
(Even) was calculated and mod (even) = 59% was obtained.
次のステップＳ３０６にて、ｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔで表される奇数長マークからなる試
し書きパターンを用い、記録パワーをＰｗ（ｅｖｅｎ）である３６．８ｍＷとして記録し
、そのときの変調度ｍｏｄを算出したところ、５７％であった。奇数長マークからなる試
し書きパターンでの変調度ｍｏｄがｍｏｄ（ｅｖｅｎ）=５９％よりも小さかったことか
ら、ステップＳ３０８からステップＳ３１０に進んだ。３６．８ｍＷより高いパワーで奇
数長マークからなる試し書きパターンを記録した。このとき、記録パワーＰｗはＰｗ（ｅ
ｖｅｎ）の１．２倍まで変化させて記録した。本実施例では、Ｐｗ＝Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＋
Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＊０．０２ｘ、（１≦ｘ≦１０）としてＰｗを変化させた。その結果、
ｘ＝４であるＰｗ＝３９．７ｍＷのとき変調度が５９％となったことから、Ｐｗ（ｏｄｄ
）＝３９．７ｍＷを選択した。ｘ＝５であるＰｗ＝４０．５ｍＷでも変調度は５９％であ
ったが、本実施例では、所望の変調度となる記録パワーで、最もＰｗ（ｅｖｅｎ）に近い
パワーをＰｗ（ｏｄｄ）として選択した。
奇数長マーク用記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）と偶数長マーク用記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）を用いて、ステップＳ３１１として偶数長マークと奇数長マークの混在した試し書き用
記録パターンを用いて記録、ステップＳ３１２として記録性能の確認を行ったところ、実
用上十分なジッター５．４％を得ることができた。
In the next step S306, a test writing pattern consisting of odd-length marks represented by nT = (2L + 1) T is used and recording power is recorded as 36.8 mW which is Pw (even), and the modulation degree mod at that time is recorded. Was calculated to be 57%. Since the modulation degree mod in the test writing pattern composed of odd-numbered marks was smaller than mod (even) = 59%, the process proceeds from step S308 to step S310. A test writing pattern composed of odd-length marks was recorded at a power higher than 36.8 mW. At this time, the recording power Pw is Pw (e
ven) and recorded up to 1.2 times. In this embodiment, Pw = Pw (even) +
Pw was changed as Pw (even) * 0.02x, (1 ≦ x ≦ 10). as a result,
When Pw = 39.7 mW where x = 4, the modulation degree is 59%, so Pw (odd
) = 39.7 mW was selected. Even when Pw = 40.5 mW where x = 5, the modulation degree was 59%. However, in this embodiment, the recording power that achieves the desired modulation degree and the power closest to Pw (even) is Pw (odd). Selected.
Odd-length mark recording power Pw (odd) and even-length mark recording power Pw (even)
In step S311, recording was performed using a test writing recording pattern in which even-length marks and odd-length marks were mixed, and in step S312, the recording performance was confirmed. As a result, a practically sufficient jitter of 5.4% was obtained. I was able to get it.
本実施例では、偶数長マークの試し書きで求めた記録パワーでの変調度を求め、その変
調度になるように奇数長マークの記録パワーを設定したが、反対に、奇数長マークの試し
書きを行って変調度を求め、求めた変調度と略同一になるように偶数長マークの記録パワ
ーを設定しても、本発明の効果は変わらない。また、２Ｔ系ストラテジだけでなく、３Ｔ
系、４Ｔ系ストラテジなど、複数種類の試し書き記録パターンを有する場合でも同様の効
果がある。具体的には、３Ｔ系ストラテジの場合、ｎＴ＝３ＬＴなるマークで形成された
記録パターンを用いて記録開始パワーＰ０（３ＬＴ）を求め、Ｐ０（３ＬＴ）に定数ｐを
乗算して最適記録パワーＰｗ（３ＬＴ）を得る。ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔなるマークで形成
された記録パターンで記録したときの変調度と、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔなるマークで形成
された記録パターンで記録したときの変調度が、ｎＴ＝３ＬＴなるマークで形成された記
録パターンをＰｗ（３ＬＴ）で記録したときの変調度mod(３ＬＴ)と同じになるように、
各々の記録パワーＰｗ（３Ｌ−２）とＰｗ（３Ｌ−１）を設定する。
In this embodiment, the modulation degree at the recording power obtained by the trial writing of the even-length mark is obtained, and the recording power of the odd-length mark is set so as to obtain the modulation degree. If the recording power of the even-length mark is set so as to be substantially the same as the obtained modulation degree, the effect of the present invention does not change. In addition to 2T strategies, 3T
The same effect can be obtained even when there are a plurality of types of test writing recording patterns such as a 4T strategy and a 4T strategy. Specifically, in the case of a 3T strategy, a recording start power P0 (3LT) is obtained using a recording pattern formed with a mark of nT = 3LT, and an optimum recording power Pw is obtained by multiplying P0 (3LT) by a constant p. (3LT) is obtained. The degree of modulation when recording with a recording pattern formed with a mark of nT = (3L-2) T and the degree of modulation when recording with a recording pattern formed with a mark of nT = (3L-1) T are as follows: In order to be the same as the modulation factor mod (3LT) when a recording pattern formed with a mark of nT = 3LT is recorded with Pw (3LT),
Each recording power Pw (3L-2) and Pw (3L-1) is set.
本実施例では、偶数長マークの記録パターンから試し書きを開始しているが、これは一
例であり、奇数長マークからなる記録パターンから試し書きを開始し、Ｐｗ（ｏｄｄ）を
求め、その後、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）を求めても、本発明の効果は変わらない。
In this embodiment, test writing is started from a recording pattern of even-length marks, but this is an example, test writing is started from a recording pattern of odd-length marks, Pw (odd) is obtained, and then Even if Pw (even) is obtained, the effect of the present invention is not changed.
また、本実施例では、変調度が実質０となる記録パワーＰ０に定数ｐを乗することによ
りＰｗ（ｅｖｅｎ）を設定したが、変調度が０ではなく、変調度０から飽和変調度に達す
るまでの所定の値を有するＰｗ’を求め、Ｐｗ’に定数ｐ’を乗することによりＰｗを求
める方法でもよい。一例を図２２に示す。図２２では、所定の変調度を４０％とした場合
の試し書き方法を示している。さらに図２３は、ジッターが所定の値となったときの記録
パワーからＰｗを算出する例を示している。ジッターと記録パワーの一般的な関係を図２
９に示す。図２３の場合、記録パワーを変化させて記録したときのジッター値を求め、ジ
ッターが１３％となったときの記録パワーＰｗ”（ｅｖｅｎ）に、定数ｐ”を乗すること
により記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ）を求める。本実施例と同様の装置とディスクを用いた
場合、所定のジッターは１３％から１７％とすることが好ましい。また、リミットイコラ
イザを用いた場合は所定ジッター値を６％から１０％の間に設定するとよい。定数ｐ”も
、用いるディスクやドライブにより設定される定数であるが、１．２≦ｐ”≦２．０にな
ることが多い。
In this embodiment, Pw (even) is set by multiplying the recording power P0 at which the modulation degree is substantially 0 by the constant p. However, the modulation degree is not 0, and reaches the saturation modulation degree from the
9 shows. In the case of FIG. 23, a jitter value when recording is performed while changing the recording power is obtained, and the recording power Pw ((even) when the jitter becomes 13% is multiplied by a constant p ″ to obtain the recording power Pw ( even). When the same apparatus and disk as in this embodiment are used, the predetermined jitter is preferably 13% to 17%. Further, when a limit equalizer is used, the predetermined jitter value may be set between 6% and 10%. The constant p ″ is also a constant set depending on the disk or drive used, but often 1.2 ≦ p ″ ≦ 2.0.
このように、選択した任意の記録パターンの記録パワーを決める方法は、変調度が実質
０になる記録パワーＰ０から算出してもいいし、所定の変調度（例えば図２２では４０％
）から算出してもいいし、ジッターから算出してもよい。もちろん、これらの方法に限定
したものでなく、所定の方法により任意の記録パターンの記録パワーを決めることができ
ればよい。
As described above, the method for determining the recording power of an arbitrary selected recording pattern may be calculated from the recording power P0 at which the modulation degree is substantially 0, or a predetermined modulation degree (for example, 40% in FIG. 22).
) Or may be calculated from jitter. Of course, the present invention is not limited to these methods, and it is sufficient that the recording power of an arbitrary recording pattern can be determined by a predetermined method.
本実施例では、図７、図８を用いて２Ｔ系ストラテジでの試し書きの一例を示す。用い
たドライブ、光ディスクなどは実施例１と同様であり、実施例１と共通した動作（ステッ
プ）の説明は省略する。
In the present embodiment, an example of trial writing in a 2T strategy is shown using FIG. 7 and FIG. The drive, optical disk, and the like used are the same as in the first embodiment, and description of operations (steps) common to the first embodiment is omitted.
実施例３では、ｍｏｄ（ｅｖｅｎ）と略同一の変調度をとるようなＰｗ（ｏｄｄ）を求
め、その後偶数長、奇数長マークが混在した試し書きパターンを用いて記録性能を確認し
た。ここでは、図７に示したような方法、すなわち、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）を求めた後、奇数
長マークからなる試し書きパターンを用いず、奇数長マークと偶数長マークが混在した試
し書きパターンを用いて、直接的に記録性能の良好なＰｗ（ｏｄｄ）を求める手法を用い
た。本実施例では、ステップＳ４０５で得られた偶数長マーク記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）＝３６．８ｍＷを中心に、２９．４ｍＷから４４．１ｍＷまで記録パワーを変化させて
、ステップＳ４０６にて偶数長マークと奇数長マークが混在した記録パターンを記録した
。その結果、ステップＳ４０７として、ジッター最小となるＰｗ（ｏｄｄ）として３９．
０ｍＷを得た。このときの混在パターン記録によるジッターは５．２％であり、実用上問
題ない良好な性能であった。
In Example 3, Pw (odd) that has substantially the same degree of modulation as mod (even) was obtained, and then the recording performance was confirmed using a test writing pattern in which even-length and odd-length marks were mixed. Here, the method as shown in FIG. 7, that is, after obtaining Pw (even), the test writing pattern consisting of odd-length marks and even-length marks is used instead of the test-writing pattern consisting of odd-length marks. Thus, a method for directly obtaining Pw (odd) with good recording performance was used. In the present embodiment, the even-length mark recording power Pw (even) obtained in step S405
) = 36.8 mW, and the recording power was changed from 29.4 mW to 44.1 mW, and a recording pattern in which an even length mark and an odd length mark were mixed was recorded in step S406. As a result, as step S407, 39.
0 mW was obtained. The jitter due to mixed pattern recording at this time was 5.2%, which was a good performance with no practical problem.
ステップＳ４０６にて変化させる記録パワーＰｗは、偶数長記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）の０．８倍以上から１．２倍以下、すなわち、a＊Ｐｗ（ｅｖｅｎ）≦Ｐｗ≦b＊Ｐｗ（
ｅｖｅｎ）であり、０．８≦a≦１．０、１．０≦ｂ≦１．２であることが好ましい。aが
０．８より小さいと記録パワー不足が明らかであるため、本方法による試し書きでは必要
のない試し書きとなり、限られた試し書き領域の無駄使いとなる場合がある。また、ｂが
１．２より大きい場合、図３からもわかるように変調度は最適記録パワーとあまり変わら
ないが、オーバーパワーとなり繰り返し書き換え特性が劣化するなどの現象が生じるため
、好ましくない。
The recording power Pw to be changed in step S406 is the even-length recording power Pw (even
) 0.8 times to 1.2 times, that is, a * Pw (even) ≦ Pw ≦ b * Pw (
even), and preferably 0.8 ≦ a ≦ 1.0 and 1.0 ≦ b ≦ 1.2. When a is smaller than 0.8, it is clear that the recording power is insufficient. Therefore, the trial writing according to this method is not necessary, and the limited trial writing area may be wasted. Further, when b is larger than 1.2, the modulation degree is not so different from the optimum recording power as can be seen from FIG.
図８には、図７で実施した試し書き回数をさらに少なくする方法の一例を示した。図８
のような試し書きでは、図７のa、ｂのいずれかが１．０の場合に相当するため、試し書
きに必要な領域を少なくすることができ、また試し書きに要する時間を短縮できるという
利点がある。
FIG. 8 shows an example of a method for further reducing the number of trial writings performed in FIG. FIG.
7 is equivalent to the case where either a or b in FIG. 7 is 1.0, the area required for the trial writing can be reduced, and the time required for the trial writing can be shortened. There are advantages.
図７、８ではジッターが最小となる記録パワーを選択するとしているが、ジッターが、
例えば１３％以下など所定値以下となる記録パワー範囲の中央値としてもよく、あるいは
ジッター指標でなくＰＲＭＬとしてもよい。本発明は記録性能指標をジッターに限ったも
のではない。
7 and 8, it is assumed that the recording power that minimizes the jitter is selected.
For example, it may be the median value of the recording power range that is not more than a predetermined value such as 13% or less, or may be PRML instead of the jitter index. In the present invention, the recording performance index is not limited to jitter.
さらに、図７、８では、Ｐ０（ｅｖｅｎ）をもとにＰｗ（ｅｖｅｎ）を算出したが、Ｐ
ｗ（ｅｖｅｎ）を算出する方法はこれに限ったものではない。図２４には、変調度を４０
％となる記録パワーＰｗ’を求め、Ｐｗ’に定数ｐ’を乗することによりＰｗを求める一
例を示した。このように、複数の記録パターンのうちの任意の記録パターンにおける記録
パワーを算出する際の方法は唯一ではなく、そのドライブ、媒体、用途に応じて選択する
ことが好ましい。
Further, in FIGS. 7 and 8, Pw (even) is calculated based on P0 (even).
The method for calculating w (even) is not limited to this. In FIG. 24, the degree of modulation is 40.
An example is shown in which the recording power Pw ′ to be% is obtained and Pw is obtained by multiplying Pw ′ by a constant p ′. As described above, the method for calculating the recording power in an arbitrary recording pattern among the plurality of recording patterns is not unique, and it is preferable to select the method according to the drive, medium, and application.
本実施例では、偶数長マークに用いる記録パワーと奇数長マークに用いる記録パワーと
の間にある一定の関係が成り立っている媒体に適する試し書きの一例を、図９を用いて説
明する。用いたドライブ、光ディスクなどは実施例２と同様であり、線速度は３４．９ｍ
／ｓとした。また、ここでは、実施例２で用いた３Ｔ系ストラテジではなく２Ｔ系ストラ
テジを用いた。ステップＳ６０１からステップＳ６０３までは、記録波形が２Ｔ系ストラ
テジを用いていることを除いて実施例２と同様であるため、ここでは省略する。ステップ
Ｓ６０４にて、偶数長マークからなる試し書き用記録パターンを記録した場合、変調度が
０となる記録パワーＰ０（ｅｖｅｎ）として２０．０ｍＷを得た。その後、ステップＳ６
０５にて、Ｐ０（ｅｖｅｎ）に定数ｐとして２．８を乗算し、記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）として５６．０ｍＷを得た。
In this embodiment, an example of test writing suitable for a medium in which a certain relationship is established between the recording power used for even-length marks and the recording power used for odd-length marks will be described with reference to FIG. The drive and optical disk used were the same as in Example 2, and the linear velocity was 34.9 m.
/ S. Here, the 2T strategy is used instead of the 3T strategy used in the second embodiment. Steps S601 to S603 are the same as those in the second embodiment except that the recording waveform uses the 2T strategy, and are omitted here. In step S604, when a recording pattern for trial writing composed of even-length marks was recorded, 20.0 mW was obtained as the recording power P0 (even) at which the modulation degree becomes zero. Then, step S6
At 05, P0 (even) is multiplied by 2.8 as a constant p to obtain a recording power Pw (even
) Was obtained as 56.0 mW.
次に、ステップＳ６０６にて、奇数長マークの記録パワーを設定する。本実施例で用い
たディスクと記録条件の組み合わせでは、Ｐｗ（ｏｄｄ）＝ｑ×Ｐｗ（ｅｖｅｎ）の関係
式が適しており、定数ｑを０．９６としたときが最も良好な記録性能が得られた。本実施
例ではＰｗ（ｏｄｄ）＝ｑ×Ｐｗ（ｅｖｅｎ）の関係式が適していたが、ディスク構造や
用いる記録波形に依存して、Ｐｗ（ｏｄｄ）＝Ｐｗ（ｅｖｅｎ）+ｒの関係式が好ましい
場合もある。どちらの関係式を選択するかは、予め媒体の種類によってドライブ出荷時に
設定しておいてもよい。あるいは、媒体を初めてロードしたときに、適する関係式を選択
しても良い。
Next, in step S606, the recording power of the odd-length mark is set. In the combination of the disk and recording conditions used in this example, the relational expression Pw (odd) = q × Pw (even) is suitable, and the best recording performance is obtained when the constant q is 0.96. It was. In this embodiment, the relational expression Pw (odd) = q × Pw (even) is suitable. However, the relational expression Pw (odd) = Pw (even) + r depends on the disc structure and the recording waveform used. It may be preferable. Which relational expression is selected may be set in advance at the time of drive shipment according to the type of medium. Alternatively, a suitable relational expression may be selected when the medium is loaded for the first time.
ステップＳ６０６にて、関係式Ｐｗ（ｏｄｄ）＝０．９６×Ｐｗ（ｅｖｅｎ）からＰｗ
（ｏｄｄ）を５３．８ｍＷに設定したあと、Ｓ６０７にて奇数長マークと偶数長マークの
混在した試し書きパターンにより偶数長マークの記録パワーをＰｗ（ｅｖｅｎ）とし、奇
数長マークの記録パワーをＰｗ（ｏｄｄ）として記録し、記録性能を評価した（ステップ
Ｓ６０８）。その結果、ジッター７．８％と実用上問題のない記録性能を得ることができ
た。
In step S606, Pw from the relational expression Pw (odd) = 0.96 × Pw (even).
After setting (odd) to 53.8 mW, the recording power of the even-length mark is set to Pw (even) and the recording power of the odd-length mark is set to Pw by the test writing pattern in which the odd-length mark and the even-length mark are mixed in S607. Recording was performed as (odd), and the recording performance was evaluated (step S608). As a result, it was possible to obtain a recording performance with a practical problem of 7.8% jitter.
このように、奇数長マークから成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（ｏ
ｄｄ）と偶数長マークから成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）との関係を、ある数式で関連付けておくことにより、片方の記録パターンのみ試し書き
を行えばよいため、試し書きに要する時間を大幅に短縮することができる。定数ｑ、定数
ｒの値はドライブを出荷する際に決めておくと良い。あるいは、媒体を初めてロードした
ときにｑとｒの値を学習により求め、媒体ＩＤとｑ、ｒを関連つけておいても良い。数種
類の媒体と記録波形の組み合わせで試し書きの動作をしたところ、定数ｑは０．９から１
．１の範囲で、定数ｒは−３．０から３．０の範囲で良好な記録性能が得られた。
In this way, the recording power Pw (o for recording the recording pattern composed of odd-length marks is used.
dd) and recording power Pw (even for recording a recording pattern consisting of even-length marks
) Is associated with a certain mathematical expression, it is only necessary to perform test writing for only one recording pattern, so that the time required for test writing can be greatly shortened. The values of constant q and constant r are preferably determined when the drive is shipped. Alternatively, the values of q and r may be obtained by learning when the medium is loaded for the first time, and the medium ID may be associated with q and r. When trial writing was performed with a combination of several types of media and recording waveforms, the constant q was 0.9 to 1.
. Good recording performance was obtained when the constant r was in the range of -3.0 to 3.0.
本実施例では、Ｐ０（ｅｖｅｎ）をもとにＰｗ（ｅｖｅｎ）を算出したが、Ｐｗ（ｅｖ
ｅｎ）を算出する方法はこれに限ったものではない。ジッター性能を指標としてもよいし
、ＰＲＭＬから算出してもよい。図２５には、βが略５％となる記録パワーＰｗ（ｅｖｅ
ｎ）を求める一例を示した。本方法は記録パワーの変化に対してβの変化が急峻であるよ
うな媒体に用いることが好ましい。図２５にてβの値を５％としたが、媒体やドライブの
特性により最適なβ値を設定することが好ましい。βからＰｗを算出する本方法は、図９
に示したＰ０から算出する方法と比較して、所望の記録パワーを直接求めることができる
ので、精度よく記録パワーを求めることができるという利点がある。このように、複数の
記録パターンのうちの任意の記録パターンにおける記録パワーを算出する際の方法は唯一
ではなく、そのドライブ、媒体、用途に応じて選択することが好ましい。
In this embodiment, Pw (even) is calculated based on P0 (even), but Pw (ev)
The method of calculating en) is not limited to this. Jitter performance may be used as an index, or may be calculated from PRML. In FIG. 25, the recording power Pw (eve at which β is approximately 5% is shown.
An example for determining n) is shown. This method is preferably used for a medium in which the change in β is steep with respect to the change in recording power. Although the value of β is 5% in FIG. 25, it is preferable to set an optimal β value depending on the characteristics of the medium and the drive. This method for calculating Pw from β is shown in FIG.
Compared with the method of calculating from P0 shown in FIG. 5, since the desired recording power can be directly obtained, there is an advantage that the recording power can be obtained with high accuracy. As described above, the method for calculating the recording power in an arbitrary recording pattern among the plurality of recording patterns is not unique, and it is preferable to select the method according to the drive, medium, and application.
本実施例では２Ｔ系ストラテジを用いたが、３Ｔ系ストラテジあるいは４Ｔ系ストラテ
ジでも有効な試し書き方法である。複数の記録パターンを数式で関連付けておき、１つの
記録パターンの試し書きを行い、他の記録パターンの記録パワーは定められた数式から求
める本方法は、試し書きの所要時間及び試し書き領域が少なくなる、という利点がある。
In this embodiment, the 2T strategy is used, but this is a test writing method that is effective even for the 3T strategy or the 4T strategy. This method, which associates a plurality of recording patterns with mathematical expressions, performs trial writing of one recording pattern, and obtains the recording power of other recording patterns from a predetermined mathematical expression, requires less time for trial writing and a trial writing area. There is an advantage of becoming.
実施例１から５では、指標に変調度を用いて最適記録パワーを求めた。本実施例では、
変調度ではなく、βを用いて最適記録パワーを設定する試し書き方法を述べる。
本実施例では、６倍速記録が可能な青色光源対応ディスクを用いた。線速度は約３１．
７ｍ／ｓとし、２Ｔ〜９Ｔマークから構成される記録波形を用いた。本実施例での試し書
き方法の動作を説明するフローチャートを図１０に示す。まず、ステップＳ７０１として
、ディスクに記録してある推奨記録パワー等記録条件を読み出し、記録パワー（Ｐｗ）１
８ｍＷ、消去パワー（Ｐｅ）３．４ｍＷ、バイアスパワー（Ｐｂ）０．１ｍＷを得た。ス
テップＳ７０２としてこの付近のレーザパワー条件を設定し、ステップＳ７０３、ステッ
プＳ７０５としてディスク上に試し書きを行った。レーザパワー条件は、Ｐｂの値は０．
１ｍＷで固定、ＰｅとＰｗの比を固定とし、Ｐｗを１５ｍＷから２１ｍＷの間を０．２ｍ
Ｗ刻みで変化させた。このとき、ステップＳ７０３では、偶数長マークの最短マークであ
る２Ｔマークを含んだ試し書きパターンを用い、ステップＳ７０５では、奇数長マークの
最短マークである３Ｔマークを含んだ試し書きパターンを用いた。具体的には、ステップ
Ｓ７０３で用いたパターンとは、２Ｔマークと８Ｔマーク、及び２Ｔから９Ｔの長さのス
ペースから構成された記録パターンであり、ステップＳ７０５で用いたパターンとは、３
Ｔマークと８Ｔマーク、及び２Ｔから８Ｔの長さのスペースから構成された記録パターン
である。このように、記録パターンの中に共通マーク長（ここでは８Ｔマーク）を配する
ことにより、各々の最小マークである２Ｔと３Ｔマークのβを同じ８Ｔマークをベースに
算出できる利点がある。ステップＳ７０３及びＳ７０５で記録パワーを変えて記録し、２
Ｔマークのβであるβ（２Ｔ）と３Ｔマークのβであるβ（３Ｔ）を各々算出した。図１
１に、記録パワーとβ（２Ｔ）、β（３Ｔ）の関係を示す。このように、βと記録パワー
との関係は、一般的にマークの長さに依存して異なる。
In Examples 1 to 5, the optimum recording power was obtained using the degree of modulation as an index. In this example,
A test writing method for setting the optimum recording power using β instead of the modulation degree will be described.
In this example, a blue light source compatible disc capable of 6 × speed recording was used. The linear velocity is about 31.
The recording waveform was 7 m / s and composed of 2T to 9T marks. FIG. 10 is a flowchart for explaining the operation of the test writing method in this embodiment. First, in step S701, recording conditions such as recommended recording power recorded on the disk are read out, and recording power (Pw) 1 is read.
8 mW, erase power (Pe) of 3.4 mW, and bias power (Pb) of 0.1 mW were obtained. A laser power condition in the vicinity was set as step S702, and test writing was performed on the disk as steps S703 and S705. The laser power condition is that the value of Pb is 0.
Fixed at 1mW, fixed ratio of Pe and Pw, Pw between 15mW and 21mW 0.2m
Changed in steps of W. At this time, in step S703, a test writing pattern including the 2T mark which is the shortest mark of the even length mark is used, and in step S705, a test writing pattern including the 3T mark which is the shortest mark of the odd length mark is used. Specifically, the pattern used in step S703 is a recording pattern composed of a 2T mark, an 8T mark, and a space having a length of 2T to 9T. The pattern used in step S705 is 3
This is a recording pattern composed of a T mark, an 8T mark, and a space having a length of 2T to 8T. As described above, by arranging the common mark length (8T mark in this case) in the recording pattern, there is an advantage that β of the 2T and 3T marks which are the minimum marks can be calculated based on the same 8T mark. In steps S703 and S705, the recording power is changed and recording is performed.
Β (2T) which is β of the T mark and β (3T) which is β of the 3T mark were calculated. FIG.
1 shows the relationship between the recording power and β (2T) and β (3T). Thus, the relationship between β and recording power generally differs depending on the length of the mark.
本実施例では、所望のβを０とし、ステップＳ７０４及びステップＳ７０６にて、β（
２Ｔ）＝０となる記録パワーとしてＰｗ（ｅｖｅｎ）＝１８．２ｍＷ、β（３Ｔ）＝０と
なる記録パワーとしてＰｗ（ｏｄｄ）＝１８．４ｍＷを設定した。次にステップＳ７０７
にて、ｎＴ＝２ＬＴマークとｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔマークが混在した試し書きパターン（
確認パターン）を、ｎＴ＝２ＬＴマークの記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ）を１８．２ｍＷと
し、ｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔマークは記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）を１８．４ｍＷで記録した
。その結果、ジッターは４．９％となり実用上問題のない良好な値となった。
本実施例では、奇数長最小マークと偶数長最小マークを別々に試し書きしたが、図１２
に示したように、２Ｔ、３Ｔを含んだ記録パターン、例えばランダムパターンを用いて、
記録パワーを変化させて記録し、β（２Ｔ）とβ（３Ｔ）を別々に検出し求めることで、
β（２Ｔ）とβ（３Ｔ）が所望の値となる奇数長マーク用記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）と偶
数長マーク用記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ）を求めてもよい。
In the present embodiment, the desired β is set to 0, and β (
Pw (even) = 18.2 mW was set as the recording power for 2T) = 0, and Pw (odd) = 18.4 mW was set as the recording power for β (3T) = 0. Next, Step S707
In the trial writing pattern (nT = 2LT mark and nT = (2L + 1) T mark)
As the confirmation pattern, the recording power Pw (even) of the nT = 2LT mark was 18.2 mW, and the recording power Pw (odd) of the nT = (2L + 1) T mark was recorded at 18.4 mW. As a result, the jitter was 4.9%, which was a good value with no practical problems.
In this embodiment, the odd-length minimum mark and the even-length minimum mark are separately written on a trial basis.
As shown in the above, using a recording pattern including 2T and 3T, for example, a random pattern,
By changing the recording power and recording, β (2T) and β (3T) are separately detected and obtained,
The odd-length mark recording power Pw (odd) and the even-length mark recording power Pw (even) at which β (2T) and β (3T) have desired values may be obtained.
本実施例で示した試し書き方法は、最小マークとその次に大きいマークのアシンメトリ
あるいはβ、あるいはγが略等しくなるように記録パワーをそれぞれ設定することが重要
であり、２Ｔマークが最小か３Ｔマークかといった変調方式（最小マークの大きさ）の違
いは重要ではない。従って、３Ｔマークが最小となる変調方式でも本発明の効果は変わら
ない。ここで、略等しいとは、厳密に一致した数値である必要はなく、例えばアシンメト
リであれば±１％の範囲で同じであればよいということを表している。記録パワーの設定
刻みの範囲で最も近しいアシンメトリあるいはβあるいはγを設定すればよい。
In the trial writing method shown in this embodiment, it is important to set the recording power so that the asymmetry of the smallest mark and the next largest mark or β or γ are substantially equal, and the 2T mark is the smallest or 3T. The difference in the modulation method (the size of the minimum mark) such as the mark is not important. Therefore, the effect of the present invention does not change even with a modulation system in which the 3T mark is minimized. Here, “substantially equal” does not need to be strictly coincident numerical values, and represents that, for example, asymmetry, the numerical values may be the same within a range of ± 1%. What is necessary is just to set the nearest asymmetry or β or γ within the setting range of the recording power.
実施例１から６までは、ドライブがもつレーザドライバが所望の複数レベルの記録パワ
ーＰｗを選択することができる場合における試し書き方法の一例を述べた。ここでは、レ
ーザドライバが所望の設定個数だけしかＰｗレベルを持っていない場合における試し書き
の一例を示す。
本実施例での試し書き方法の動作を説明するフローチャートを図１３に示し、これにし
たがって説明する。光ディスクは実施例１と同じものを用いており、記録再生測定には波
長６６０ｎｍの半導体レーザを搭載したドライブを用いた。このドライブはＰｗレベルを
１値のみ設定できる。図１３のステップＳ９０１からステップＳ９０８までは図１のステ
ップＳ１０１からステップＳ１０８までと同一なので、ここでの説明は省略する。Ｓ９０
８までのステップにより、ステップＳ９０５にて偶数長マーク記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）として３６．８ｍＷ、ステップＳ９０８にて奇数長マーク記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）と
して３８．９ｍＷを得た。
In the first to sixth embodiments, an example of the trial writing method in the case where the laser driver of the drive can select a desired plurality of levels of recording power Pw has been described. Here, an example of test writing in the case where the laser driver has only a desired set number of Pw levels is shown.
A flowchart for explaining the operation of the test writing method in this embodiment is shown in FIG. The same optical disk as in Example 1 was used, and a drive equipped with a semiconductor laser having a wavelength of 660 nm was used for recording / reproducing measurement. This drive can set only one value of Pw level. Steps S901 to S908 in FIG. 13 are the same as steps S101 to S108 in FIG. S90
By the steps up to 8, the even-numbered mark recording power Pw (even
) And 38.9 mW were obtained as odd-length mark recording power Pw (odd) in step S908.
本実施例では、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）とＰｗ（ｏｄｄ）の差を、これらの記録パワーの平均
値で除した値をパラメータｘとし、その値の大小により試し書きの方法を選択することと
した。ステップＳ９０９にて、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）とＰｗ（ｏｄｄ）の差である｜Ｐｗ（ｅ
ｖｅｎ）―Ｐｗ（ｏｄｄ）｜を、（Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＋Ｐｗ（ｏｄｄ））/２で表される
２つの記録パワーの平均値で除した。その結果、本実施例でのパラメータｘは５．５％と
なり、ステップＳ９１０での判定に従って、ステップＳ９１４に進んだ。
In this embodiment, a value obtained by dividing the difference between Pw (even) and Pw (odd) by the average value of these recording powers is set as a parameter x, and a test writing method is selected according to the magnitude of the value. In step S909, | Pw (e, which is the difference between Pw (even) and Pw (odd)
ven) −Pw (odd) | was divided by the average value of the two recording powers represented by (Pw (even) + Pw (odd)) / 2. As a result, the parameter x in the present embodiment is 5.5%, and the process proceeds to step S914 according to the determination in step S910.
ステップＳ９１４にて算出式を用い、記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を求める。ここで用い
る算出式は一例として以下の式が挙げられる。
Ｔｙｐｅ１ Ｐｗ（ｏｐｔ）＝Ｐｗ（ｅｖｅｎ）
Ｔｙｐｅ２ Ｐｗ（ｏｐｔ）＝Ｐｗ（ｏｄｄ）
Ｔｙｐｅ３ Ｐｗ（ｏｐｔ）＝（Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＋Ｐｗ（ｏｄｄ））/２
Ｔｙｐｅ４ Ｐｗ（ｏｐｔ）＝Ｍａｘ（Ｐｗ（ｅｖｅｎ）、Ｐｗ（ｏｄｄ））
Ｔｙｐｅ５ Ｐｗ（ｏｐｔ）＝Ｍｉｎ（Ｐｗ（ｅｖｅｎ）、 Ｐｗ（ｏｄｄ））Ｔｙｐｅ１は偶数長マークを重視する算出式であり、最小マークが２Ｔマークの変調方式
をとっている場合に適している。Ｔｙｐｅ２は奇数長マークを重視する算出式であり、最
小マークが３Ｔマークの変調方式を採用している場合に適する。さらに、Ｔｙｐｅ３は、
Ｐｗ（ｅｖｅｎ）とＰｗ（ｏｄｄ）の平均パワーを最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）としており
、記録時のばらつきが小さくなる利点がある。Ｔｙｐｅ４は最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）を
Ｐｗ（ｅｖｅｎ）かＰｗ（ｏｄｄ）のどちらか大きい記録パワーを選択するという算出式
である。Ｓ/Ｎが低く変調度を稼ぎたい媒体を用いたときなど、Ｓ/Ｎ重視の場合、Ｔｙｐ
ｅ４が適している。反対に、Ｔｙｐｅ５は、最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）をＰｗ（ｅｖｅｎ
）かＰｗ（ｏｄｄ）のどちらか小さい記録パワーを選択するという算出式である。これは
隣接トラックからのクロストークが大きく、マークを幅広く記録することができない媒体
に適用すると良い。言い換えれば、クロストークによるジッター劣化が激しい場合はＴｙ
ｐｅ５の算出式が適しているといえる。これらの算出式は用いるドライブやディスクに合
わせて選択すると良い。また、ここで挙げた算出式は一例であって、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）と
Ｐｗ（ｏｄｄ）から最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）を求める式を用いるのであれば、本発明の
範囲内である。
In step S914, the recording power Pw (opt) is obtained using the calculation formula. The following formula is mentioned as an example of the calculation formula used here.
Type1 Pw (opt) = Pw (even)
Type2 Pw (opt) = Pw (odd)
Type3 Pw (opt) = (Pw (even) + Pw (odd)) / 2
Type4 Pw (opt) = Max (Pw (even), Pw (odd))
The average power of Pw (even) and Pw (odd) is set as the optimum power Pw (opt), and there is an advantage that variations during recording are reduced.
e4 is suitable. On the other hand,
) Or Pw (odd), which is a smaller calculation power. This is preferably applied to a medium in which crosstalk from adjacent tracks is large and marks cannot be recorded widely. In other words, if jitter degradation due to crosstalk is severe, Ty
It can be said that the formula for calculating pe5 is suitable. These calculation formulas should be selected according to the drive and disk to be used. Further, the calculation formulas given here are merely examples, and it is within the scope of the present invention to use formulas for obtaining the optimum power Pw (opt) from Pw (even) and Pw (odd).
本実施例では、Ｔｙｐｅ３を用いた。Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＝３６．８ｍＷ、Ｐｗ（ｏｄｄ
）＝３８．９ｍＷであるので、最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）は、Ｐｗ（ｏｐｔ）＝（３６．
８＋３８．９）/２＝３７．９ｍＷとなる。ステップＳ９１４で算出したＰｗ（ｏｐｔ）
を用いて、ステップＳ９１５にてランダムパターンを用いて試し書きを行ったところ、ジ
ッターは６．５％であり、実用上問題のない記録性能を得ることができた。
In this example,
) = 38.9 mW, the optimum power Pw (opt) is Pw (opt) = (36.
8 + 38.9) /2=37.9 mW. Pw (opt) calculated in step S914
When trial writing was performed using a random pattern in step S915, the jitter was 6.5%, and a recording performance with no practical problem could be obtained.
本実施例ではステップＳ９１０での判定基準として、パラメータｘが１０％より大きい
か否かとしたが、より安全な記録を行うため閾値を例えば５％としてもよい。閾値はその
ドライブと用いる媒体に合わせて決定することが好ましい。閾値を５％とした場合、本実
施例では、図１３のステップＳ９１０にて「Ｙｅｓ」と判定され、ステップＳ９１１に進
む。本実施例で用いたドライブはパルス可変機能を具備していないため、ステップＳ９１
１にて「Ｎｏ」と判定され、ＮＧ、つまりライトエラー（記録不可能）となる。このよう
にライトエラーになることは一見ユーザにとって不利益となるように見える。しかしなが
ら、不適切な記録パワーを照射して記録しようとした結果、以前記録したデータや管理領
域のデータを破壊する可能性もある。このようなデータ破壊を防ぐためにも重要なフロー
であり、ユーザの財産である記録情報を守ることができる。図１３では、ステップＳ９１
１にてＮｏと判定された場合、ＮＧとなる場合を一例として示したが、ステップＳ９１１
にてＮｏと判定された場合、ステップＳ９１４に進み、Ｐｗを見つけるフローでももちろ
んよい。この場合は、ステップＳ９１６にて十分な記録性能が得られるまでＰｗを見つけ
るのではなく、ステップＳ９１７にてリトライ回数ｚを設定しておくことが好ましい。リ
トライ回数はそのドライブや用いる媒体にあわせて決定するとよい。本実施例ではｚ＝１
とした。
In this embodiment, the determination criterion in step S910 is whether or not the parameter x is greater than 10%, but the threshold may be set to 5%, for example, for safer recording. The threshold is preferably determined according to the drive and the medium used. When the threshold is set to 5%, in this embodiment, “Yes” is determined in step S910 in FIG. 13, and the process proceeds to step S911. Since the drive used in this embodiment does not have a pulse varying function, step S91.
1 is determined as “No”, resulting in NG, that is, a write error (recording is impossible). Such a write error seems to be disadvantageous to the user at first glance. However, as a result of trying to record by irradiating inappropriate recording power, there is a possibility that previously recorded data or management area data may be destroyed. This is an important flow in order to prevent such data destruction, and the recorded information that is the property of the user can be protected. In FIG. 13, step S91.
In the case where it is determined No in
If it is determined No in step S914, the flow may proceed to step S914 to find Pw. In this case, it is preferable not to find Pw until sufficient recording performance is obtained in step S916, but to set the retry count z in step S917. The number of retries should be determined according to the drive and the medium to be used. In this embodiment, z = 1
It was.
また、本実施例では、ステップＳ９０９にて、パラメータｘを以下の式から求めた。 In this embodiment, the parameter x is obtained from the following equation in step S909.
ｘ＝｜Ｐｗ（even）―Ｐｗ（odd）｜／（Ｐｗ（even）＋Ｐｗ（odd））/２しかしながら、本発明は上の式に限定されたものではなく、偶数長マークの最適パワーと
奇数長マークの最適パワーの差を何らかの形で示すことができる数式であればよい。
本実施例では、パルス幅可変のドライブではなかったため、ステップＳ９１１にてＮｏと
判定されたが、パルス幅可変のドライブを用いた場合、ステップＳ９１２にてパルス幅を
変えることが可能となる。例えば、本実施例のように、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＜Ｐｗ（ｏｄｄ
）の場合、追記型媒体では奇数長マークのパルス幅を広げる方向がよい。追記型媒体では
一般的に照射エネルギーに比例してマークが大きくなる。したがって、パルス幅を広げる
ことで、記録パワーを低くすることができ、結果として、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）に近いパワー
とすることができる。反対に、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）のパルス幅を狭くしても同様の効果があ
る。また、書換可能型媒体では、奇数長マークのパルス幅を狭くする方向がよい。書換可
能相変化媒体では、再結晶化といわれる溶融領域の結晶化が起こる。パルス幅が広いとこ
の際結晶化が激しくなり、エネルギーを注入しすぎることで振幅が小さくなることがある
。このようなときは、パルス幅を狭くすることで振幅を大きくすることができる。パルス
幅は１ｎｓ程度の単位で変化させることが好ましい。これは大凡レーザの立ち上がり時間
あるいはたち下がり時間に相当する時間となる。あるいはＴｗ/１６などＴｗをｎ分割し
た単位でパルス可変としてもよく、どちらの場合も媒体のロットばらつきやレーザドライ
バーの個体ばらつきを吸収できる。
x = | Pw (even) −Pw (odd) | / (Pw (even) + Pw (odd)) / 2 However, the present invention is not limited to the above formula. Any mathematical formula can be used as long as it can indicate the difference in the optimum power of the long mark in some form.
In this embodiment, since the drive is not variable in pulse width, it is determined No in step S911. However, if a variable pulse width drive is used, the pulse width can be changed in step S912. For example, as in this embodiment, Pw (even) <Pw (odd
In the case of the write-once medium, it is preferable to increase the pulse width of the odd-length mark. In the write-once medium, the mark generally increases in proportion to the irradiation energy. Accordingly, by increasing the pulse width, the recording power can be lowered, and as a result, the power can be made close to Pw (even). On the contrary, the same effect can be obtained even if the pulse width of Pw (even) is narrowed. In a rewritable medium, it is preferable that the pulse width of the odd-length mark is narrowed. In a rewritable phase change medium, crystallization of the molten region, called recrystallization, occurs. When the pulse width is wide, crystallization becomes intense at this time, and the amplitude may be reduced by excessively injecting energy. In such a case, the amplitude can be increased by narrowing the pulse width. The pulse width is preferably changed in units of about 1 ns. This is approximately the time corresponding to the rise time or fall time of the laser. Alternatively, the pulse may be variable in units of Tw divided into n, such as Tw / 16, and in either case, it is possible to absorb medium lot variation and laser driver individual variation.
本実施例では、変調度が実質０となる記録パワーＰ０からＰｗを設定したが、変調度が
０ではなく、所定の変調度となる記録パワーＰｗ’を求め、Ｐｗ’に定数ｐ’を乗するこ
とによりＰｗを求める方法でもよい。一例を図２６に示す。図２６では、所定の変調度を
３０％とした場合の試し書き方法を示している。
In this embodiment, the recording powers P0 to Pw at which the modulation degree is substantially 0 are set. However, the recording power Pw ′ at which the modulation degree is not 0 but a predetermined modulation degree is obtained, and Pw ′ is multiplied by a constant p ′. A method of obtaining Pw by doing so may be used. An example is shown in FIG. FIG. 26 shows a test writing method when the predetermined modulation degree is set to 30%.
実施例７では、Ｐｗを１レベルしかもたないドライブで２Ｔ系ストラテジを用いた場合
について述べた。本実施例では、Ｐｗを２レベルもつドライブで３Ｔ系ストラテジを用い
た場合について述べる。Ｐｗレベルが２値に設定できるドライブでは、２Ｔ系ストラテジ
では偶数長マークと奇数長マークのそれぞれに記録パワーを割り振ることができるが、３
Ｔ系ストラテジを用いた場合、３種類の記録パターンそれぞれに記録パワーレベルを割り
振ることができなくなる。このような場合でも、図１３と同様のフローにて記録パワーを
設定することが可能である。たとえば、Ｐｗ（Ａ）とＰｗ（Ｂ）の２値の記録パワーを設
定できるドライブで、３Ｔストラテジを用いる場合の一例を、図１４を用いて説明する。
In the seventh embodiment, the case where a 2T strategy is used in a drive having only one level of Pw has been described. In this embodiment, a case where a 3T strategy is used in a drive having two levels of Pw will be described. In a drive in which the Pw level can be set to binary, the recording power can be allocated to each of the even-length mark and the odd-length mark in the 2T system strategy.
When the T-system strategy is used, it becomes impossible to assign a recording power level to each of the three types of recording patterns. Even in such a case, the recording power can be set in the same flow as in FIG. For example, an example in which a 3T strategy is used in a drive capable of setting binary recording powers of Pw (A) and Pw (B) will be described with reference to FIG.
光ディスクは１０倍速記録が可能な書換型ＤＶＤを用い、ドライブは実施例１と同じも
のを用いた。ステップＳ１１０１からステップＳ１１１１までは、実施例２で説明したフ
ローチャートと同様であるのでここでは省略する。実施例２で用いたドライブは記録パワ
ーＰｗレベルを３値もつことができるため、ステップＳ１１０５、ステップＳ１１０８、
ステップＳ１１１１にて求めた３種類の記録パターンの最適パワーをそれぞれ設定し、実
際の記録に用いることができた。しかしながら、ここでは２値しかＰｗレベル設定できな
いドライブを用いているため、３種類の記録パターン全てに最適パワーレベルを割り振る
ことができない。そこで、ステップＳ１１１２にて、３種類の記録パターンでの最適パワ
ーの平均パワーＰｗ（ｙ）を求め、ステップＳ１１１３にて、３種類の記録パターンの最
適記録パワーＰｗ（３ＬＴ）＝５７．７ｍＷ、Ｐｗ（（３Ｌ−１）Ｔ）＝５４．０ｍＷ、
Ｐｗ（（３Ｌ−２）Ｔ）＝５６．３ｍＷの中で、Ｐｗ（ｙ）と最も離れた値となる記録パ
ターンＡを判定する。本実施例では、Ｐｗ（ｙ）＝５６．０ｍＷであり、各々の記録パタ
ーンの記録パワーとＰｗ（ｙ）との差は、Ｐｗ（３ＬＴ）で１．７ｍＷ、Ｐｗ（（３Ｌ−
１）Ｔ）で２．０ｍＷ、Ｐｗ（（３Ｌ−２）Ｔ）＝０．３ｍＷとなり、最も離れた記録パ
ワーをもつ記録パターンＡはｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔマークからなる記録パターンであるこ
とがわかった（ステップＳ１１１３）。
The rewritable DVD capable of 10-times speed recording was used as the optical disk, and the same drive as in Example 1 was used. Steps S1101 to S1111 are the same as those in the flowchart described in the second embodiment, and are not described here. Since the drive used in the second embodiment can have three levels of recording power Pw level, steps S1105, S1108,
The optimum powers of the three types of recording patterns obtained in step S1111 were set and used for actual recording. However, since a drive that can set the Pw level only to two values is used here, the optimum power level cannot be assigned to all three types of recording patterns. Therefore, in step S1112, the average power Pw (y) of the optimum power for the three types of recording patterns is obtained, and in step S1113, the optimum recording power Pw (3LT) of the three types of recording patterns = 57.7 mW, Pw. ((3L-1) T) = 54.0 mW,
In Pw ((3L-2) T) = 56.3 mW, the recording pattern A that is the most distant from Pw (y) is determined. In this embodiment, Pw (y) = 56.0 mW, and the difference between the recording power of each recording pattern and Pw (y) is 1.7 mW in Pw (3LT), Pw ((3L−
1) T) is 2.0 mW and Pw ((3L-2) T) = 0.3 mW, and the recording pattern A having the most distant recording power is a recording pattern composed of nT = (3L-1) T marks. (Step S1113).
次にステップＳ１１１４にて、記録パターンＡの記録パワーＰｗ（Ａ）をｎＴ＝（３Ｌ
−１）Ｔマークからなる記録パターンの記録パワーＰｗ（（３Ｌ−１）Ｔ）とし５４．０
ｍＷに設定、ステップＳ１１１５にて、ｎＴ＝３ＬＴマークとｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔマー
クからなる記録パターンＢを用いて、パワーを変えて記録した。その結果、ステップＳ１
１１６にてジッター最小となるＰｗ（Ｂ）として５６．７ｍＷを得た。このときのジッタ
ーは６．８ｍＷであった。ステップＳ１１１７にて、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔマークは記録
パワーＰｗ（Ａ）として５４．０ｍＷに、ｎＴ＝３ＬＴマーク及びｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔ
マークは記録パワーＰｗ（Ｂ）として５６．７ｍＷに設定し、ランダムパターンを用いて
記録した。その結果、ジッターは７．２ｍＷであり実用上問題のない記録性能を得ること
ができた。ステップＳ１１１８にて「Ｙｅｓ」と判定され、試し書きを終了した。
本実施例で示したステップＳ１１１６（図１４）では、Ｐｗ（Ｂ）はジッター最小値とな
るＰｗとしたが、簡便のため、２種類の記録パターンの最適パワーの平均値としてもよい
。さらにPRMLに適用されるレベルジッタなどを用いても同様である。あるいは実施例７で
示したようなＴｙｐｅ１からＴｙｐｅ５に示したような算出式を用いてもよいし、アシン
メトリまたはβを用いて、各々のｎＴ＝３ＬＴマークの最小マークとｎＴ＝（３Ｌ−２）
Ｔマークの最小マークのβが略同一になる記録パワーをＰｗ（Ｂ）と設定しても良い（図
１５）。本実施例では最小マークが３Ｔ、最長マークが１４Ｔの変調方式を用いているの
で、具体的には、ｎＴ＝３ＬＴマークの最小マークは３Ｔマーク、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔ
マークの最小マークは４Ｔマークとなる。ステップＳ１１１６でのＰｗ（Ｂ）の選択方法
は、用いる媒体とドライブとの相性で決定するとよい。
In step S1114, the recording power Pw (A) of the recording pattern A is set to nT = (3L
-1) The recording power Pw ((3L-1) T) of the recording pattern consisting of T marks is 54.0.
In step S1115, the recording pattern B including the nT = 3LT mark and the nT = (3L-2) T mark was used to change the recording power. As a result, step S1
At 116, 56.7 mW was obtained as Pw (B) that minimizes jitter. The jitter at this time was 6.8 mW. In step S1117, the nT = (3L-1) T mark is set to 54.0 mW as the recording power Pw (A), and the nT = 3LT mark and nT = (3L-2) T.
The mark was set to 56.7 mW as the recording power Pw (B), and was recorded using a random pattern. As a result, the jitter was 7.2 mW, and it was possible to obtain a recording performance with no practical problem. In step S1118, “Yes” is determined, and the trial writing is finished.
In step S1116 (FIG. 14) shown in the present embodiment, Pw (B) is Pw which is the minimum jitter value, but may be an average value of optimum powers of two types of recording patterns for simplicity. Furthermore, the same applies when using level jitter applied to PRML. Alternatively, a calculation formula as shown in
The recording power at which β of the minimum mark of the T mark is substantially the same may be set as Pw (B) (FIG. 15). In this embodiment, since the modulation method with the minimum mark of 3T and the longest mark of 14T is used, specifically, the minimum mark of the nT = 3LT mark is the 3T mark, and nT = (3L-2) T
The minimum mark is a 4T mark. The method for selecting Pw (B) in step S1116 may be determined by the compatibility between the medium to be used and the drive.
図１４では、変調度が０となる記録パワーＰ０から記録パワーＰｗを求めたが、図２７
には、βが略１０％となるパワーをＰｗに設定した場合の試し書き方法の一例を示した。
図２７のステップＳ１７０３、Ｓ１７０５、Ｓ１７０７で用いる試し書きパターンは、ｎ
Ｔ＝３ＬＴからなるマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔからなる
マークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された
記録パターン３種類をそれぞれ用いた。しかしながら、本発明は、この試し書きパターン
に限定されたものではない。例えば実施例６で示したような、各記録パターンの最短マー
クと各記録パターンに共通したマーク長からなる試し書きパターン、具体的には、ステッ
プＳ１７０３では最短マークである３Ｔマークと共通マークである１１Ｔマーク、及び３
Ｔから１１Ｔの長さのスペースから構成された記録パターンを、ステップＳ１７０５では
最短マークである４Ｔマークと共通マークである１１Ｔマーク、及び３Ｔから１１Ｔの長
さのスペースから構成された記録パターンを、ステップＳ１７０７では最短マークである
５Ｔマークと共通マークである１１Ｔマーク、及び３Ｔから１１Ｔの長さのスペースから
構成された記録パターンを用いてもよい。また、図２７ではβが１０％のときの記録パワ
ーを各記録パターンのＰｗとしたが、βの値は、媒体やドライブにより最適値が異なる場
合がある。βの値は媒体の種類やドライブの特性などに応じて設定することが好ましい。
In FIG. 14, the recording power Pw is obtained from the recording power P0 at which the modulation degree becomes zero.
Shows an example of the test writing method when the power at which β is approximately 10% is set to Pw.
The test writing pattern used in steps S1703, S1705, and S1707 in FIG.
A recording pattern formed with a mark consisting of T = 3LT, a recording pattern formed with a mark consisting of nT = (3L-2) T, and a recording pattern formed with a mark consisting of nT = (3L-1) T Three types were used respectively. However, the present invention is not limited to this test writing pattern. For example, as shown in the sixth embodiment, the test writing pattern including the shortest mark of each recording pattern and the mark length common to each recording pattern, specifically, the 3T mark which is the shortest mark in step S1703 and the common mark. 11T mark and 3
In step S1705, a recording pattern composed of a space having a length of T to 11T, a recording pattern composed of a space having a length of 3T to 11T, and a 4T mark that is the shortest mark and an 11T mark that is a common mark, In step S1707, a recording pattern composed of a 5T mark which is the shortest mark, an 11T mark which is a common mark, and a space having a length of 3T to 11T may be used. In FIG. 27, the recording power when β is 10% is Pw of each recording pattern, but the value of β may be different depending on the medium and the drive. The value of β is preferably set according to the type of medium and the characteristics of the drive.
本実施例は、上記実施例で行った試し書きや実際の記録を行う上での装置を説明する。
ここでは、装置の一例として、実施例１のような２T系ストラテジの装置の例を示す。装
置の全体図を図１６、図１７及び図１８に示す。記録データは、符号化回路で記録符号語
に変換され、同期信号発生回路で発生した同期信号と合成回路で合成され、パルス変換回
路に入力される。引き続き、パルス変換回路でパルスデータに変換され、記録パルス整形
回路でパルス状に整形され、光源を駆動させる。ここまでは、図１６、図１７及び図１８
で共通している。
In the present embodiment, an apparatus for performing trial writing and actual recording performed in the above embodiment will be described.
Here, as an example of the apparatus, an example of an apparatus with a 2T strategy as in the first embodiment is shown. An overall view of the apparatus is shown in FIGS. The recording data is converted into a recording code word by the encoding circuit, synthesized by the synthesizing circuit with the synchronizing signal generated by the synchronizing signal generating circuit, and input to the pulse converting circuit. Subsequently, it is converted into pulse data by the pulse conversion circuit, and is shaped into pulses by the recording pulse shaping circuit to drive the light source. Up to this point, FIG. 16, FIG. 17 and FIG.
In common.
２値の記録パワーレベルをもち、偶数長マークと奇数長マークを分類して記録パターン
を発生させる、偶奇分類試し書きパターン発生回路を具備した装置を図１６に示す。偶奇
分類試し書きパターン発生回路は、偶数長マークから成る試し書き用記録パターンと奇数
長マークから成る試し書き用記録パターンを各々発生しディスクに記録する。記録された
信号は、検出回路にて検出され、再生回路にて記録性能を評価、再生特性記憶手段にて記
録条件と記録性能との関係を記憶する。その後、記録パワー調整回路で次の記録パワーを
決定、記録パルス整形回路に戻る。なお、図１６では、偶奇分類試し書きパターン発生回
路について説明したが、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の整数定
数で除算した剰余にしたがって分類された試し書きパターン発生回路であれば良い。この
ようにして各々の記録パターンでの最適記録パワーが求められ、実際の記録では、奇数長
マーク、偶数長マークにおいて、それぞれの記録パワーが設定される。
FIG. 16 shows an apparatus equipped with an even / odd classification test writing pattern generation circuit having a binary recording power level and generating a recording pattern by classifying even-length marks and odd-length marks. The even / odd classification test writing pattern generation circuit generates a test writing recording pattern composed of even-numbered marks and a test writing recording pattern composed of odd-length marks, and records them on the disc. The recorded signal is detected by the detection circuit, the recording performance is evaluated by the reproduction circuit, and the relationship between the recording condition and the recording performance is stored by the reproduction characteristic storage means. Thereafter, the recording power adjustment circuit determines the next recording power and returns to the recording pulse shaping circuit. In FIG. 16, the even-odd classification test writing pattern generation circuit has been described. However, the test writing classified according to the remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more for a mark having a natural number n times the detection window width. Any pattern generation circuit may be used. In this way, the optimum recording power for each recording pattern is obtained. In actual recording, the respective recording powers are set for the odd-length mark and the even-length mark.
図１７は、２Ｔ系ストラテジを用いる場合の記録パワーレベルの設定値が１値である装
置の構成図（一例）を示している。実施例７、８のような、記録パターンの数よりも記録
パワーの設定レベル値が少ない場合の装置構成の一例である。図１６と同様、２種類の記
録パターンを各々発生しディスクに記録、記録された信号を検出、再生回路にて記録性能
を評価する。２種類の記録パワーの最適値が設定された後、判定回路にて判定式記録回路
に記録された判定式を用いて、２種類の記録パターンの記録パワーについて判定、記録パ
ワーの判定値が所定値以下であった場合、記録パワー算出式記憶回路に記憶している算出
式を用いて記録パワー調整回路にて最適記録パワーを調整する。また、記録パワーの判定
値が所定値より大きかった場合、ライトエラーと判断、記録不可能であることを表示する
機能を有することが特徴である。図１７では、２Ｔ系ストラテジ（２個の記録パターン）
を１値の記録パワー設定レベルを有する装置の一例を示したが、ｎ個の記録パターンをｎ
個未満の記録パワー設定レベルを有する装置も、同様に適用できる。
FIG. 17 shows a configuration diagram (one example) of an apparatus in which the set value of the recording power level is 1 when the 2T strategy is used. This is an example of an apparatus configuration when the set level value of the recording power is smaller than the number of recording patterns as in the seventh and eighth embodiments. As in FIG. 16, two types of recording patterns are generated and recorded on the disc, the recorded signals are detected, and the recording performance is evaluated by the reproducing circuit. After the optimum values of the two types of recording power are set, the judgment circuit uses the judgment formula recorded in the judgment formula recording circuit to judge the recording power of the two types of recording patterns, and the judgment value of the recording power is predetermined. If it is less than the value, the recording power adjustment circuit adjusts the optimum recording power using the calculation formula stored in the recording power calculation formula storage circuit. In addition, when the determination value of the recording power is larger than a predetermined value, it is characterized in that it has a function of determining that it is a write error and displaying that recording is impossible. In FIG. 17, a 2T strategy (two recording patterns)
An example of a device having a recording power setting level of one value is shown.
A device having a recording power setting level of less than the number can be similarly applied.
図１８は、偶数長と奇数長で試し書き用記録パターンを分けずに、ランダム信号を利用
したときの装置の構成図（一例）を示している。試し書きにて記録されたランダム信号は
、検出回路にて検出され、その後、偶奇分類回路で、偶数長マークと奇数長マークに分類
される。図１８では、偶数長マーク、奇数長マークそれぞれ専用の再生回路、再生特性記
憶手段、記録パワー調整回路を具備していることが特徴である。これらの回路は、１つの
回路の中に容易に実現でき、また、２個以上の複数個に増やすことも容易である。また、
図１８では、偶奇分類回路について説明したが、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対し
て、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類する分類回路でも、同様に適
用できる。再生特性記憶回路では変調度、βなど諸特性の再生特性の記憶が可能である。
FIG. 18 shows a configuration diagram (one example) of the apparatus when a random signal is used without dividing the test writing recording pattern into even and odd lengths. The random signal recorded by the trial writing is detected by the detection circuit, and then classified by the even / odd classification circuit into the even length mark and the odd length mark. FIG. 18 is characterized in that a dedicated reproduction circuit, reproduction characteristic storage means, and recording power adjustment circuit are provided for each of the even-numbered mark and odd-numbered mark. These circuits can be easily realized in one circuit, and can be easily increased to two or more. Also,
Although the even / odd classification circuit has been described with reference to FIG. 18, the present invention can be similarly applied to a classification circuit that classifies according to a remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more with respect to a mark having a natural number n times the detection window width. The reproduction characteristic storage circuit can store reproduction characteristics such as the modulation factor and β.
Claims (26)
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンごとに、記録パワーを変えて記録再生し、変調度と記録パワーの関係
から前記変調度が実質的に０となる記録パワーＰ０をそれぞれ求め、Ｐ０に定数ｐを乗じ
た値を、前記各記録パターンの記録パワーとして設定することを特徴とする試し書き方法
。 A test writing method for setting recording conditions for recording information on an optical information recording medium,
Generating a recording pattern classified according to a remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more for a mark length in the recording code string, which is a natural number n times longer than the detection window width,
For each recording pattern, recording / reproduction is performed by changing the recording power, the recording power P0 at which the modulation factor is substantially 0 is obtained from the relationship between the modulation factor and the recording power, and a value obtained by multiplying P0 by a constant p is A test writing method, wherein the recording power of each recording pattern is set.
した確認パターンを用いて試し書きを行い、前記各記録パターンの記録パワーの微調整を
行うことを特徴とする請求項１記載の試し書き方法。 The test writing is performed using the confirmation pattern in which the recording patterns to be classified are mixed with the recording power set in each recording pattern, and the recording power of each recording pattern is finely adjusted. The test writing method according to Item 1.
。 2. The test writing method according to claim 1, wherein the constant p is 1.5 ≦ p ≦ 3.0.
。 2. The test writing method according to claim 1, wherein the constant p is 2.0 ≦ p ≦ 2.8.
から成る記録パターンであることを特徴とする請求項１記載の試し書き方法。 2. The test writing method according to claim 1, wherein the classified recording patterns are a recording pattern composed of even-length marks and a recording pattern composed of odd-length marks.
るマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔからなるマークで形成され
た記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンであ
ることを特徴とする請求項１記載の試し書き方法。 The recording patterns to be classified are recording patterns formed with marks composed of nT = 3LT (L is the number of pulses, T is a detection window width), and recordings formed with marks composed of nT = (3L−2) T. 2. The test writing method according to claim 1, wherein the recording pattern is a recording pattern formed by a pattern and a mark of nT = (3L-1) T.
るマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ−２）Ｔからなるマークで形成され
た記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンと、
ｎＴ＝（４Ｌ＋１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンであることを特徴とする
請求項１記載の試し書き方法。 The recording patterns to be classified are recording patterns formed with marks composed of nT = 4LT (L is the number of pulses, T is detection window width), and recordings formed with marks composed of nT = (4L−2) T. A recording pattern formed of a pattern and a mark consisting of nT = (4L-1) T;
2. The test writing method according to claim 1, wherein the recording pattern is a recording pattern formed by a mark of nT = (4L + 1) T.
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンのうち任意の記録パターンＡを選択し、所定の方法により設定した記
録パターンＡの記録パワーＰｗ（Ａ）での変調度mod(Ａ)と略同一の値となるよう、その
他の記録パターンの記録パワーを設定することを特徴とする試し書き方法。 A test writing method for setting recording conditions for recording information on an optical information recording medium,
Generating a recording pattern classified according to a remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more for a mark length in the recording code string, which is a natural number n times longer than the detection window width,
An arbitrary recording pattern A is selected from the recording patterns, and the other recording is performed so that the modulation factor mod (A) at the recording power Pw (A) of the recording pattern A set by a predetermined method becomes substantially the same value. A test writing method characterized by setting a recording power of a pattern.
調度と記録パワーの関係から変調度が０となる記録パワーＰ０（Ａ）を求め、Ｐ０（Ａ）
に定数ｐを乗じた値を、記録パターンの記録パワーＰｗ（Ａ）として設定する方法である
ことを特徴とする請求項８記載の試し書き方法。 In the predetermined method, the recording pattern A is recorded and reproduced by changing the recording power, and the recording power P0 (A) at which the modulation degree becomes 0 is obtained from the relationship between the modulation degree and the recording power, and P0 (A)
9. The test writing method according to claim 8, wherein a value obtained by multiplying the value by a constant p is set as a recording power Pw (A) of a recording pattern.
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンのうち任意の記録パターンＡを選択し、所定の方法により前記記録パ
ターンＡの記録パワーＰｗ（Ａ）を設定し、前記記録パターンＡを前記記録パワーＰｗ（
Ａ）で、かつ、その他の記録パターンの記録パワーを、Ｐｗ（Ａ）を含めた一定の範囲で
変化させ試し書きを行って、その他の記録パターンの記録パワーを設定することを特徴と
する試し書き方法。 A test writing method for setting recording conditions for recording information on an optical information recording medium,
Generating a recording pattern classified according to a remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more for a mark length in the recording code string, which is a natural number n times longer than the detection window width,
An arbitrary recording pattern A is selected from the recording patterns, a recording power Pw (A) of the recording pattern A is set by a predetermined method, and the recording pattern A is set to the recording power Pw (
A test in which the recording power of the other recording pattern is changed by changing the recording power of the other recording pattern within a certain range including Pw (A) and setting the recording power of the other recording pattern. Writing method.
であり、１．０≦ｂ≦１．２であることを特徴とする請求項１０記載の試し書き方法。 The certain range is a × Pw (A) ≦ Pw ≦ b × Pw (A), and 0.8 ≦ a ≦ 1.0.
The test writing method according to claim 10, wherein 1.0 ≦ b ≦ 1.2.
調度と記録パワーの関係から変調度が０となる記録パワーＰ０（Ａ）を求め、Ｐ０（Ａ）
に定数ｐを乗じた値を、記録パターンの記録パワーＰｗ（Ａ）として設定する方法である
ことを特徴とする請求項１０記載の試し書き方法。 In the predetermined method, the recording pattern A is recorded and reproduced by changing the recording power, and the recording power P0 (A) at which the modulation degree becomes 0 is obtained from the relationship between the modulation degree and the recording power, and P0 (A)
The test writing method according to claim 10, wherein a value obtained by multiplying the value by a constant p is set as a recording power Pw (A) of a recording pattern.
前記その他の記録パターンの、前記記録パワーＰｗ（Ａ）を適用したときの変調度を算
出し、
前記Ｐｗ（Ａ）における変調度と、前記その他の記録パターンの変調度とを比較し、
前記比較結果に応じて、記録パワーの変化させる範囲を異ならせて試し書きを行うこと
を特徴とする請求項１０記載の試し書き方法。 Calculating the degree of modulation of the recording pattern A at the recording power Pw (A);
Calculating the degree of modulation when the recording power Pw (A) of the other recording pattern is applied;
Comparing the modulation degree in the Pw (A) with the modulation degree of the other recording pattern;
11. The test writing method according to claim 10, wherein the test writing is performed by changing a range in which the recording power is changed in accordance with the comparison result.
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンのうち任意の記録パターンＡを用いて試し書きを行って、記録パワー
を求め、その記録パワーに定数ｑを乗じるあるいは定数ｒを加えて他方の記録パターンの
記録パワーを求めることを特徴とする試し書き方法。 A test writing method for setting recording conditions for recording information on an optical information recording medium,
Generating a recording pattern classified according to a remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more for a mark length in the recording code string, which is a natural number n times longer than the detection window width,
Test writing is performed by using an arbitrary recording pattern A of the recording patterns to obtain recording power, and the recording power of the other recording pattern is obtained by multiplying the recording power by a constant q or adding a constant r. Trial writing method.
、
検出窓幅の自然数ｎ倍長の奇数長最小マークを含む第１の記録パターンと、検出窓幅の
自然数ｎ倍長の偶数長最小マークを含む第２の記録パターンを生成し、
奇数長最小マークのアシンメトリあるいはβあるいはγと、偶数長最小マークのアシン
メトリあるいはβあるいはγを算出し、これらの値が略同一になるように、前記第１の記
録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（odd）と、前記第２の記録パターンを記録
するための記録パワーＰｗ（even）を夫々設定することを特徴とする試し書き方法。 A test writing method for setting recording conditions for recording information on an optical information recording medium,
Generating a first recording pattern including an odd-length minimum mark having a natural number n times longer than the detection window width and a second recording pattern including an even-length minimum mark having a natural number n times longer than the detection window width;
The recording power for recording the first recording pattern so that the asymmetry or β or γ of the odd-length minimum mark and the asymmetry or β or γ of the even-length minimum mark are calculated and the values are substantially the same. A test writing method, wherein Pw (odd) and recording power Pw (even) for recording the second recording pattern are set.
前記アシンメトリあるいはβあるいはγは、前記同じマーク長のマークに基づいて、算出
されることを特徴とする請求項１５記載の試し書き方法。 The first recording pattern and the second recording pattern include marks having the same mark length,
16. The test writing method according to claim 15, wherein the asymmetry or β or γ is calculated based on the mark having the same mark length.
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類されるｍ個（ｍは２以上の自然数）の記録パタ
ーンとして区分し、記録パワー設定可能レベル値がｍ個より小さいレーザドライバを有す
るドライブを用いて記録する記録方法であって、
ｍ個の記録パターンにて各々の最適記録パワーを求めた後、ある判定式に従ってｍ個の
記録パターンの各記録パワーのばらつきの程度を求めるステップと、
そのばらつきの程度が所定の数値以下であった場合は算出式に従って共通最適パワーＰ
ｗ（ｏｐｔ）を設定するステップと、
所定の数値より大きい場合はパルス幅可変のドライブではパルス幅を変え、パルス幅変
化不可のドライブではライトエラーとして情報を記録させないようにするステップを有す
ることを特徴とする試し書き方法。 A test writing method for setting recording conditions for recording information on an optical information recording medium,
M marks (m is a natural number of 2 or more) that are classified according to a remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more for a mark length in the recording code string that is n times the natural number of the detection window width. A recording method for recording using a drive having a laser driver that is classified as a recording pattern and has a recording power setting level value smaller than m,
determining the optimum recording power for each of m recording patterns, and then determining the degree of variation in each recording power of the m recording patterns according to a certain determination formula;
When the degree of variation is less than a predetermined value, the common optimum power P is calculated according to the calculation formula.
setting w (opt);
A test writing method comprising a step of changing a pulse width in a drive having a variable pulse width when the value is larger than a predetermined value and not recording information as a write error in a drive incapable of changing the pulse width.
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンごとに、記録パワーを変えて記録再生し、変調度と記録パワーの関係
から前記変調度がa％（ただし０＜a）となる記録パワーＰｗ’をそれぞれ求め、Ｐｗ’に
定数ｐ’を乗じた値を、前記各記録パターンの記録パワーとして設定することを特徴とす
る試し書き方法。 A test writing method for setting recording conditions for recording information on an optical information recording medium,
Generating a recording pattern classified according to a remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more for a mark length in the recording code string, which is a natural number n times longer than the detection window width,
For each recording pattern, recording / reproduction is performed by changing the recording power, and the recording power Pw ′ at which the modulation factor is a% (where 0 <a) is obtained from the relationship between the modulation factor and the recording power, and a constant p is set to Pw ′. A test writing method characterized in that a value multiplied by 'is set as the recording power of each recording pattern.
した確認パターンを用いて試し書きを行い、前記各記録パターンの記録パワーの微調整を
行うことを特徴とする請求項１８記載の試し書き方法。 The test writing is performed using the confirmation pattern in which the recording patterns to be classified are mixed with the recording power set in each recording pattern, and the recording power of each recording pattern is finely adjusted. Item 18. The test writing method according to item 18.
から成る記録パターンであることを特徴とする請求項１８記載の試し書き方法。 19. The test writing method according to claim 18, wherein the classified recording patterns are a recording pattern composed of even-length marks and a recording pattern composed of odd-length marks.
るマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔからなるマークで形成され
た記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンであ
ることを特徴とする請求項１８記載の試し書き方法。 The recording patterns to be classified are recording patterns formed with marks composed of nT = 3LT (L is the number of pulses, T is a detection window width), and recordings formed with a mark composed of nT = (3L−2) T. 19. The test writing method according to claim 18, wherein the test pattern is a recording pattern formed by a pattern and a mark of nT = (3L-1) T.
るマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ−２）Ｔからなるマークで形成され
た記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンと、
ｎＴ＝（４Ｌ＋１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンであることを特徴とする
請求項１８記載の試し書き方法。 The recording patterns to be classified are recording patterns formed with marks composed of nT = 4LT (L is the number of pulses, T is detection window width), and recordings formed with marks composed of nT = (4L−2) T. A recording pattern formed of a pattern and a mark consisting of nT = (4L-1) T;
19. The test writing method according to claim 18, wherein the recording pattern is a recording pattern formed by a mark of nT = (4L + 1) T.
記録手段と、
記録された前記試し書きパターンを検出する検出回路と、
前記検出回路からの信号に基づいて、記録パワーを調整する記録パワー調整回路を有し
、
前記試し書きパターン記録手段は、記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍
長のマークに対して、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録
パターンを、記録する手段であり、
前記記録パワー調整回路は、前記分類される記録パターン毎に、変調度と記録パワーの
関係から前記変調度が実質的に０となる記録パワーＰ０をそれぞれ求め、Ｐ０に定数ｐを
乗じた値を、前記各記録パターンの記録パワーとして設定するものであることを特徴とす
る情報記録装置。 Test writing pattern recording means for recording a test writing pattern for determining recording power on a recording medium;
A detection circuit for detecting the recorded test writing pattern;
A recording power adjustment circuit for adjusting the recording power based on a signal from the detection circuit;
The test writing pattern recording means records a recording pattern classified according to a remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more for a mark length in a recording code string, which is a natural number n times longer than a detection window width. Is a means of recording,
The recording power adjustment circuit obtains a recording power P0 at which the modulation factor is substantially zero from the relationship between the modulation factor and the recording power for each of the classified recording patterns, and obtains a value obtained by multiplying P0 by a constant p. The information recording apparatus is set as a recording power of each recording pattern.
あることを特徴とする請求項２３記載の情報記録装置。 24. The information recording apparatus according to claim 23, wherein the test writing pattern recording unit records the recording patterns classified in advance.
前記記録する手段は、前記第１の記録パターンと前記第２の記録パターンとが、ランダ
ムに組み合わされた組み合わせ記録パターンを記録する手段であり、
前記検出回路からの信号に基づいて、前記第１の記録パターンと第２の記録パターンを
分類する分類回路を、更に有することを特徴とする請求項２３記載の情報記録装置。 The recording patterns to be classified have a first recording pattern and a second recording pattern,
The means for recording is means for recording a combination recording pattern in which the first recording pattern and the second recording pattern are randomly combined,
24. The information recording apparatus according to claim 23, further comprising a classification circuit that classifies the first recording pattern and the second recording pattern based on a signal from the detection circuit.
記録手段と、
記録された前記試し書きパターンを検出する検出回路と、
記録された前記試し書きパターンを再生する再生回路と、
前記試し書きパターンの再生特性を判定する判定回路と、
前記判定回路にて記録不可能と判定された場合にライトエラーを表示するための回路と
、
前記判定回路にて記録可能と判定された場合、前記検出回路からの信号に基づいて、記
録パワーを調整する記録パワー調整回路を有し、
前記試し書きパターン記録手段は、記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍
長のマークに対して、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録
パターンを、記録する手段であり、
前記記録パワー調整回路は、前記分類される記録パターン毎に記録パワーを設定するも
のであることを特徴とする情報記録装置。
Test writing pattern recording means for recording a test writing pattern for determining recording power on a recording medium;
A detection circuit for detecting the recorded test writing pattern;
A reproduction circuit for reproducing the recorded test writing pattern;
A determination circuit for determining reproduction characteristics of the test writing pattern;
A circuit for displaying a write error when it is determined by the determination circuit that recording is impossible;
When it is determined that recording is possible in the determination circuit, a recording power adjustment circuit that adjusts recording power based on a signal from the detection circuit,
The test writing pattern recording means records a recording pattern classified according to a remainder obtained by dividing n by an integer constant of 2 or more for a mark length in a recording code string, which is a natural number n times longer than a detection window width. Is a means of recording,
The information recording apparatus, wherein the recording power adjustment circuit sets a recording power for each of the classified recording patterns.
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