JP2006184648A - 発光表示装置、発光表示装置の駆動方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 各有機ＥＬ素子から発する光の輝度むらをなくす。
【解決手段】 各有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍは、電気抵抗値の上昇に伴い、入力される一定単位電気量に対する発光輝度（発光効率）が低下する。これら有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍから成る画素を配列して表示パネル２０を形成する。有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍは、画像データに応じた単位電気量が入力され、発光する。計測回路１４は、各画素のうち、相対的に電気抵抗値が高い有機ＥＬ素子を検出する。発光制御回路１６は、相対的に電気抵抗値が高い有機ＥＬ素子について、入力される単位電気量を相対的に増加する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、例えば有機エレクトロルミネセンス素子（以下有機ＥＬ素子という）のような表示素子を複数配列して構成される発光表示装置に関する。

近年、有機ＥＬ素子を用いた有機ＥＬディスプレイが開発されつつある。有機ＥＬディスプレイは、表示素子として発光素子である有機ＥＬ素子を用いる、いわゆる自発光型の表示装置である。したがって、画像の視認性が高い、バックライトが不要、応答速度が速い等の利点を有する。

有機ＥＬディスプレイの駆動方式としては、パッシブマトリクス方式とアクティブマトリクス方式とが知られている。パッシブマトリクス方式のディスプレイは、複数行分の走査電極線と複数列分のデータ電極線とが互いに直交するように配線され、その各交差部分に有機ＥＬ素子を含む画素が形成されて構成される。

この方式では、走査電極線の１本が通電可能にされるとともに、画像データに応じてデータ電極線に電流が流される。そして、通電可能にされた走査電極線と、電流が流されたデータ電極との交差点に対応する画素は発光させられ、これにより１走査線分の発光が行われる。通電可能にされる走査線は、順次垂直方向に切り替えられ、全ての走査線における発光が行われ、１フレーム分の表示が行われる。

一方、アクティブマトリクス方式のディスプレイでは、電極間に挟持された発光素子１画素毎にトランジスタ（ＴＦＴ）が設けられる。したがって、アクティブマトリクス方式では、画素毎に個別に電流が流され、電流が流された画素が、その電流値に応じて発光させられる。

有機ＥＬディスプレイにおいては、上述したいずれの方式においても、入力された映像データに応じて各画素に電流が流され、それにより映像をディスプレイ上に表示させている。ここで各画素の輝度は、電流値により調整され、例えば同一の輝度を有する画素には同一の電流値が入力される。

しかし、有機ＥＬ素子は、発光時間の経過に伴って劣化し、劣化した有機ＥＬ素子はその発光効率が低下する。したがって、例えば画面の一定位置に同一の画像が出力され続ける場合等、特定の画素の発光時間が他の画素に比べ長い場合、この発光時間の長い特定の画素は、他の画素に比べ、その発光効率が低下することとなる。このような発光効率が低下した特定の画素は、同一の電流値が流された場合でも、発する光の輝度が他の画素に比べ低くなり、これによりディスプレイには輝度むらが生じる。

このような「輝度むら」を解消する方法として、例えば特許文献１に記載の方法が知られている。この方法によれば、ディスプレイが駆動される使用状態において、画素毎に画像の出力値を積算し、その後の非使用状態にて、全画素の出力値の積算値が同一になるように、積算値が低い各画素を発光させている。すなわち、特許文献１においては、使用頻度の少なく劣化が少ない画素を非使用状態で故意に劣化させることにより、全ての画素の劣化状態が同一になるように調整されている。
特開２００３−２２８３２９号公報

しかしながら、特許文献１の方法によれば、各画素を劣化させるために非使用状態において、液晶ディスプレイを発光させなければならず、余計な電力が消費される。また、各画素の劣化状態を確認するために、画素毎に出力値を積算しなければならず、その処理方法が煩雑にならざるを得ない。

そこで、本発明は、画素毎の輝度むらを容易に解消することができる表示装置を提供することを目的とするものである。

本発明に係る発光表示装置は、電気抵抗値の上昇に伴い、入力される一定の単位電気量に対する発光輝度が低下する発光素子と、発光素子によって構成される複数の画素を配列して構成される表示パネルと、各画素に、画像データに応じた単位電気量を入力し、各画素を発光させる発光手段とを備え、さらに各画素のうち、電気抵抗値が相対的に高い高抵抗画素、または電気抵抗値が相対的に低い低抵抗画素のうちいずれか一方を少なくとも検出する検出手段を備えることを特徴とする。そして、発光手段は少なくとも、高抵抗画素について単位電気量を相対的に増加させるか、または低抵抗画素について単位電気量を相対的に減少させることを特徴とする。本発明によれば、発光効率（一定の入力単位電気量に対する発光輝度）が相対的に低下した画素を容易に推定し、その発光効率が相対的に低いと推定した画素に入力する単位電気量を、相対的に増加させている。これにより、本発明においては、画素間の発光効率のばらつきに起因して発生する「輝度むら」をなくすことができる。

検出手段は、各画素の電気抵抗値を検出することにより、高抵抗画素、または低抵抗画素を検出する。検出手段は、例えば、各画素に定電流を流し、各画素の電圧値を測定することにより、電気抵抗値を測定する。また、例えば検出手段は、各画素に定電圧を印加し、各画素の電流値を測定することにより、電気抵抗値を測定する。

発光手段は、例えば高抵抗画素に入力される単位電気量を増加させる。また、例えば発光手段は、低抵抗画素に入力される単位電気量を減少させる。さらに、例えば、低抵抗画素に入力される単位電気量を減少させるとともに、高抵抗画素に入力される前記電気量を増加させる。

発光素子について、電気抵抗値に対する発光輝度の測定データが予め測定され、この測定データに基づき単位電気量の相対増加量を決定することが好ましい。各画素について、測定された電気抵抗値が上昇するのに従って大きく設定される補正データを作成する補正データ作成手段をさらに備える場合、発光手段は、補正データを画像データを基に設定された単位電気量に乗じ、設定された単位電気量を相対的に増加させることが好ましい。発光素子について、電気抵抗値に対する発光輝度の測定データが予め測定され、この測定データに基づき単位電気量の相対減少量を決定してもよい。

単位電気量は、所定時間内において各画素に入力される電気量であって、この所定時間は、例えば表示パネルに１フレームの画像が表示される期間以内であり、例えば１フレームの画像が表示される期間である。発光表示装置の駆動方式が、パッシブ型である場合、所定時間は１ライン走査される期間である。なお、本発光表示装置の駆動方式は、パッシブ型でもアクティブ型でも良い。

本発明に係る発光表示装置の駆動方法は、電気抵抗値の上昇に伴い、入力される一定の単位電気量に対する発光輝度が低下する発光素子と、前記発光素子によって構成される複数の画素を配列して構成される表示パネルとを備える発光表示装置を駆動させるための方法であって、各画素のうち、電気抵抗値が相対的に高い高抵抗画素、または電気抵抗値が相対的に低い低抵抗画素のうちいずれか一方を少なくとも検出する検出ステップとを備え、発光ステップは、高抵抗画素または低抵抗画素の少なくともいずれか一方について、それぞれ、単位電気量を相対的に増加または減少させることを特徴とする。

本発明によれば、画素間の発光効率のばらつきを推定し、画素間の「輝度むら」をなくすことができる。

以下、本発明に係る有機ＥＬ発光表示装置について、図に示す実施の形態に基づいて説明する。図１は本実施形態に係る有機ＥＬ発光表示装置１０について模式的に示すブロック図である。

本実施形態に係る有機ＥＬ発光表示装置１０には表示パネル２０が設けられ、表示パネル２０はパッシブマトリクス方式により駆動させられる。表示パネル２０は、データ電極として、ｎ本の陽極線Ａ１〜Ａｎが縦方向に配列され、走査電極としてｍ本の陰極線Ｂ１〜Ｂｍが横方向に配列される。データ電極および走査電極の交差部には、有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍが設けられる。各有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍは、表示パネル２０の各画素を構成する。なお、各有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍは、図１においてはダイオードのシンボルマークで示されるが、有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍの等価回路は後述するように図２に示す通りである。

各有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍは、垂直方向（図１においては上下方向）に沿う陽極線Ａ１〜Ａｎと、水平方向に沿う陰極線Ｂ１〜Ｂｍとの各交点位置に対応して、一端が陽極線に、他端が陰極線に接続される。各陽極線Ａ１〜Ａｎは陽極線ドライブ回路１２に接続され、各陰極線Ｂ１〜Ｂｍは陰極線走査回路１３に接続されてそれぞれ駆動される。陽極線ドライブ回路１２内において、各陽極線Ａ１〜Ａｎには、それぞれスイッチＳＷ_A1〜ＳＷ_Anが設けられる。同様に、陰極線走査回路１３内において、各陰極線Ｂ１〜Ｂｍには、それぞれスイッチＳＷ_B1〜ＳＷ_Bmが設けられる。

陽極線ドライブ回路１２および陰極線走査回路１３には、計測回路１４が接続される。計測回路１４は、電位差（電圧値）を測定可能であり、例えば、点Ｐ_B1−点Ｐ_A1、点Ｐ_B1−点Ｐ_A2・・・、または点_B1点−Ｐ_An間の電位差を測定することにより、各有機ＥＬ素子の両極間の電位差（電圧値）Ｖ１１〜Ｖｎ１が測定可能である。同様にして全ての有機ＥＬ素子Ｖ１１〜Ｖｎｍの両端間の電圧値を測定可能である。

各有機ＥＬ素子は、例えば電源が投入される毎に、所定電流Ｉ_cが流され、それぞれの電圧値が測定され、これにより各有機ＥＬ素子の電気抵抗値が測定される。計測回路１４は、測定された各有機ＥＬ素子の電気抵抗値に基づき、後述するように、各有機ＥＬ素子の発光効率を推定する。計測回路１４は、推定された発光効率を基に、映像データを補正するための補正データを算出し、その補正データを計測回路１４内に保存する。なお、発光効率は、製造時にメモリ１７に格納されているテーブル（表２参照）を基に推定される。

電源が投入され、補正データの算出が終了すると、映像データの表示パネル２０への表示が開始される。すなわち、発光表示装置１０には、映像データが入力され、表示パネル２０では、その映像データに応じた映像が表示される。発光表示装置１０に送られてきた映像データは、まず補正回路１５に入力される。補正回路１５では、計測回路１４から入力された補正データに基づいて映像信号が補正される。ここで、補正データは上述したように各有機ＥＬ素子の電気抵抗値を基に算出されたものであり、すなわち、各画素毎の映像データは各有機ＥＬ素子の電気抵抗値に応じて補正される。補正された補正映像データは、発光制御回路１６で、その映像データに応じた駆動制御データに変換される。駆動制御データは、陽極線ドライブ回路１２および陰極線走査回路１３に出力される。陽極線ドライブ回路１２および陰極線走査回路１３では、その駆動制御データに応じて、スイッチＳＷ_A1〜ＳＷ_An、ＳＷ_B1〜ＳＷ_Bmを制御するとともに、各陽極線Ａ１〜Ａｎに入力される単位電気量が決定される。

各陰極線Ｂ１〜Ｂｍは、いずれか１つの陰極線が選択され、その１つの陰極線においてスイッチ（ＳＷ_B1〜ＳＷ_Bmのいずれか１つ）がＯＮされ、通電可能な状態になる。一方、陽極線ドライブ回路１２では、入力データに応じて、スイッチＳＷ_A1〜ＳＷ_AnのＯＮ−ＯＦＦを切り替えるとともに、ＯＮ状態にある陽極線Ａ１〜Ａｎに、電流が流される。

通電可能にされた陰極線Ｂｌ（ｌは任意の陰極線）と、電流が流された陽極線Ａ１〜Ａｎとの交差する位置に配設される有機ＥＬ素子Ｅ１ｌ〜Ｅｎｌは、電流が流される。通電可能にされる陰極線は、順次垂直方向に走査される。すなわち、図１においては、通電される１本の陰極線は、順次上から下方向に移動させられる。陰極線Ｂ１から陰極線Ｂｍまで全ての陰極線が走査されると、１フレーム分の画面表示が終了する。

ここで、各有機ＥＬ素子Ｅ１ｌ〜Ｅｎｌにはそれぞれ、１走査内で、所定の電流が所定時間流され、所定の単位電気量が入力される。ここでは単位電気量とは、所定の時間内（本実施形態では例えば１走査される時間）において、各有機ＥＬ素子に入力される電気量の和を言う。有機ＥＬ素子Ｅ１ｌ〜Ｅｎｌは、その入力された(単位電気量)に応じて光を発する。各有機ＥＬ素子に入力される電流は、パルス信号として入力されるので、単位電気量は、例えばパルス信号の高さ（電流値）を調整することにより設定されることが好ましいが、パルス信号のディーティー比が調整されることにより、設定されても良い。

各有機ＥＬ素子の等価回路を図２に示す。有機ＥＬ素子の等価回路は、ダイオードＤと素子に直列な抵抗ＲＢとの直列回路と、容量Ｃと、抵抗ＲＬとの並列回路で表せる。ここで、抵抗ＲＬは逆方向の電流が流れるときの抵抗値であり、微少量であり無視することができ、各有機ＥＬ素子の抵抗は、抵抗ＲＢに相当する。したがって、有機ＥＬ素子の電気抵抗値ＲＢは、有機ＥＬ素子Ｅ１１間の電位差をＶとし、有機ＥＬ素子に流される電流をＩとすると、ＲＢ＝Ｖ／Ｉとなる。

表１は、各有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍの発光特性を示す。表１は、一定電流Ｉ_cを（2.5mA/cm²）有機ＥＬ素子に流し発光させたときの、発光時間に対する有機ＥＬ素子の電圧値、発光輝度、発光効率の変化傾向を示す。なお、発光効率は初期状態（発光時間３時間）のときの発光輝度を1.00としたときの発光輝度の比率である。表１に示すように、一定電流Ｉ_cに対する発光輝度および発光効率は、発光時間が長くなるのに従って低下する。また、有機ＥＬ素子に一定電流Ｉ_cを流した場合の電圧値は、発光時間が長くなるのに従って上昇する。なお、一定電流Ｉ_cが流されたとき電圧値の上昇は、上述のＲＢ＝Ｖ／Ｉより、有機ＥＬ素子の電気抵抗値ＲＢの上昇を意味する。すなわち、表１は、有機ＥＬ素子が、電気抵抗値の上昇とともに、発光効率が低下する関係を示したものである。

表１に示すように各有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍは発光時間とともに劣化し、この劣化により、発光効率も低下する。一方、表示パネル２０には、画面の一定位置に同一の画像が出力され続ける場合があり、特定の有機ＥＬ素子の発光時間が他の素子に比べ、長くなることがある。発光時間が長い特定の有機ＥＬ素子は、その発光効率が他の素子に比べ低くなり、すなわち他の素子に比べ暗い光を発する。したがって、画面上に「輝度むら」が生じることになる。

一方、有機ＥＬ素子は、その層構造が同一であるならば、表１に示す劣化による電気抵抗値（一定電流が入力されたときの電圧値）の上昇と、発光効率の低下の関係は同一の傾向になる。すなわち、各有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍは、その電気抵抗値ＲＢを測定すれば、それぞれの発光効率が推定可能である。

そこで、本実施形態では、電気抵抗値により性能低下を示す表２のテーブルが製造時にメモリ１７に予め格納される。すなわちメモリ１７には、各有機ＥＬ素子の電気抵抗値（一定電流が入力されたときの電圧値）と発光効率の関係が製造時に格納されている。そして、電源をＯＮする毎に、各有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎｍの電気抵抗値（同一電流Ｉ_cを流したときの電圧値）が測定され、その測定された電気抵抗値から各有機ＥＬ素子の、劣化程度、すなわち、発光効率が表２から推定される。ここで、発光効率が低いと推定された有機ＥＬ素子については、入力される単位電気量が相対的に増加され、これにより、映像データの出力値を、表示パネルに表示される画像の輝度（明るさ）として再現することができる。

図３を用いて映像データの表示処理方法をさらに具体的に示す。なお、図３において映像データ（ａ）、補正映像データ（ｂ）は、高さが各画素の映像データの入力値（輝度値）を示す。また、出力画像（ｃ）は高さが出力画像の明るさ（輝度）を示す。

本実施形態においては、映像データ処理が開始される前に、例えば電源がＯＮされたときに、予め推定発光効率が算出され、さらに補正データが算出されている。すなわち、映像データの表示処理が始まる前に、各有機ＥＬ素子には一定電流Ｉ_cが流され、そのときの電圧値が測定されている。例えば各有機ＥＬ素子Ｅ１１、Ｅ１２、・・・、Ｅｎｍの電圧値が、それぞれ8.0V、9.0V、・・・、8.4Vとなると、各有機ＥＬ素子Ｅ１１、Ｅ１２、・・・、Ｅｎｍの推定発光効率は表２から0.89、0.50、・・・、0.70と設定される。

次に、その推定発光効率より、補正データが算出される。ここで、補正データは、発光効率の低い有機ＥＬ素子に入力される単位電気量が相対的に増加されるように設定されなければならない。したがって、補正データは例えば、推定発光効率0.89、0.50、・・・、0.70に反比例する1.00、1.78、・・・、1.27に設定される。

入力された各画素の映像データ（ａ）は、それぞれ補正データ1.00、1.78、・・・、1.27が、乗算され補正映像データ（ｂ）に変換される。これにより、補正映像データ（ｂ）は、推定発光効率が相対的に低い画素（例えば有機ＥＬ素子Ｅ１２）ほど、その入力値が増加させられる。各有機ＥＬ素子には、補正映像データ（ｂ）の入力値に対応した大きさの単位電気量が入力される。これにより、相対的に発光効率が低い有機ＥＬ素子（すなわち、高抵抗画素）は、入力される単位電気量が相対的に増加させられ、表示パネル２０上に表示される出力画像（ｃ）は適正な輝度（明るさ）で光を発する。

なお、本実施形態においては、有機ＥＬ素子Ｅ１１の補正データが1.00と定められ、最も推定発光効率が高い有機ＥＬ素子（基準画素）に入力される単位電気量は補正されない。すなわち、本実施形態では、推定発光効率が相対的に低い画素に入力される単位電気量が、増加させられるように補正データが定められる。

ただし、最も推定発光効率が低い有機ＥＬ素子が基準画素に定められ、その基準画素に入力される単位電気量が補正されないようにしても良い。すなわち、推定発光効率が相対的に高い画素（すなわち、低抵抗画素）に入力される単位電気量が、減少させられるように補正データが定められても良い。また、各画素の推定発光効率の平均値を求め、その平均値の推定発光効率を有する画素が基準画素に定められ、その基準画素に入力される単位電気量が、補正されないようにしても良い。すなわち、推定発光率が相対的に高い画素に入力される単位電気量が、減少させられるとともに、推定発光効率が相対的に低い画素に入力される単位電気量が増加させられるようにしても良い。

また、本実施形態では、補正データが映像データ（ａ）に乗算されることにより、補正映像データ（ｂ）が算出されたが、推定発光効率が低い画素ほど、各ＥＬ素子に入力される単位電気量が相対的に増加させられれば良く、例えば補正データが映像データに加算され、除算され、または減算されても良い。

また、本実施形態では、推定発光効率は、各有機ＥＬ素子に一定電流Ｉ_cが入力され、電圧値が測定されることにより、算出されたが、上述したように実質的には、電気抵抗値ＲＢが測定されればよく、例えば一定電圧が印加され、電流値が測定されることにより、算出されても良い。

なお、本実施形態においては、表２のテーブルに基づいて、測定された電圧値から推定発光効率が求められたが、測定された電圧値がテーブルにない場合、推定発光効率は、近似する電圧値と推定発光効率の関係から近似して求められる。

図４は、上述の補正データを算出するルーチンを示す。この補正データ算出ルーチンは、発光表示装置の電源がＯＮされることにより、開始される。本ルーチンが開始されると、ステップＳ１１０では、陰極線走査回路１３は、陰極線Ｂ１を選択し、スイッチＳＷ_B1により陰極線Ｂ１を導通可能にする。ステップＳ１２０では、スイッチＳＷ_A1〜ＳＷ_Anを全てＯＮ状態にし、選択された陽極線に接続される全ての有機ＥＬ素子Ｅ１１〜Ｅｎ１に、定電流Ｉ_Cが入力される。ステップＳ１３０では、計測回路１４により、例えば点Ｐ_B1−Ｐ_A1、・・・、およびＰ_B1−Ｐ_An間の電位差が測定され、その選択された陰極線上に配設された各有機ＥＬ素子の電圧値が測定される。

ステップＳ１４０では、全ての陰極線に、電流が流されたか否かが判定される。すなわち、選択されている陰極線が最も下側の陰極線Ｂｍか否かが判定され、選択された陰極線が陰極線Ｂｍでなければ、ステップＳ１５０に進む。選択された陰極線が最後の陰極線Ｂｍであれば、ステップＳ１６０に進む。ステップＳ１５０では、次の陰極線が選択される。すなわち、例えば選択されている陰極線が陰極線Ｂ１であれば、陰極線Ｂ２が選択される。ステップＳ１５０が終了すれば、ステップＳ１２０に戻り、ステップＳ１２０〜ステップＳ１４０のルーチンが繰り返され、全ての陰極線における有機ＥＬ素子の電圧値が測定されれば、ステップＳ１６０に進む。

ステップＳ１６０では、定電流Ｉ_Cが入力されたときの各有機ＥＬ素子の電圧値から、表２のテーブルより推定発光効率が設定される。ステップＳ１７０では、推定発光効率から補正データが算出される。補正データは、推定発光効率に反比例するデータである。このとき、上述したように、推定発光効率が最も高い有機ＥＬ素子について1.00に定められ、推定発光効率が最も高い有機ＥＬ素子の映像データには、補正が加えられない。

補正データが算出されると、図５に示す画像表示ルーチンが開始される。なお、画像表示ルーチンとは、通常の映像が表示パネルに表示されるルーチンであり、例えばデジタルカメラでは、スルー画像が表示される場合のルーチンである。

ステップＳ２１０では、１フレーム分の映像データが補正回路１５に入力される。ステップＳ２２０では、その映像データに補正が加えられる。具体的には、各画素の映像データにステップＳ１７０で算出された補正データが乗ぜられる。次いでステップＳ２２２では、１ライン目である陰極線Ｂ１が選択される。ステップＳ２３０では、その選択ラインについて、映像補正データに基づき、１ライン分の画像を表示させるため不図示のパルス発生装置よりパルス信号が生成される。ステップＳ２４０では、有機ＥＬ素子は、その選択された１ライン分の画像を表示し、表示が終了するとステップＳ２４２に進む。

ステップＳ２４２では、選択される陰極線が最終ライン（陰極線Ｂｍ）であるか否かが判定される。最終ラインでないと判定されると、１フレーム分の表示は終了していないので、ステップＳ２４４に進む。ステップＳ２４４では、次の陰極線（ライン）が選択され、ステップＳ２３０に戻り、次のラインについてパルス信号が生成され、次のラインについての画像がステップＳ２４０で表示される。一方、ステップＳ２４２において、選択されるラインが最終ライン（陰極線Ｂｍ）と判定されると、１フレーム分の表示が終了され、ステップＳ２５０に進む。ステップＳ２５０では、発光表示装置の電源がＯＦＦされたかどうかが判定され、ＯＦＦにされると判定されると、本ルーチンは終了する。電源がＯＮ状態のままであるならば、ステップＳ２１０に戻り、次のフレームの映像データが入力され、画像を表示パネル２０に表示させ続ける。

図６を用いて本発明の変形例について説明する。本実施形態では、表２に示すようなテーブルがメモリ１７内に格納され、そのテーブルに基づいて、推定発光効率が求められたが、本変形例では、例えば一定電流Ｉ_cを流したときの電圧値（電気抵抗値）と、発光効率との関係について、図６に示すような関数ｆ（ｘ）が算出される。そして、この関数ｆ（ｘ）から推定発光効率が求められる（なお、ｘ＝電圧値）。なお、図６に示すように、推定発光効率は、一定電流Ｉ_cを流したときの電圧値にほぼ比例するので、例えば関数ｆ（ｘ）は、最小２乗法により求められる一次関数である。

有機ＥＬ発光表示装置の模式的なブロック図である。 有機ＥＬ素子の等価回路図である。 映像データの表示処理方法を具体的に示す模式図である。 補正データ算出ルーチンを示すフローチャートである。 画像表示ルーチンを示すフローチャートである。 本実施形態の変形例における推定発光効率の算出方法を説明するためのグラフである。

符号の説明

１０ 有機ＥＬ発光表示装置
１２ 陽極線ドライブ回路
１３ 陰極線走査回路
１４ 計測回路（検出手段）
１５ 補正回路

Claims (14)

1. 電気抵抗値の上昇に伴い、入力される一定の単位電気量に対する発光輝度が低下する発光素子と、
   前記発光素子によって構成される複数の画素を配列して構成される表示パネルと、
   前記各画素に、画像データに応じた単位電気量を入力し、前記各画素を発光させる発光手段とを備える発光表示装置において、
   前記各画素のうち、電気抵抗値が相対的に高い高抵抗画素、または電気抵抗値が相対的に低い低抵抗画素のうちいずれか一方を少なくとも検出する検出手段を備え、
   前記発光手段は、前記高抵抗画素または前記低抵抗画素の少なくともいずれか一方について、それぞれ、単位電気量を相対的に増加または減少させることを特徴とする発光表示装置。
2. 前記検出手段は、各画素の電気抵抗値を検出することにより、前記高抵抗画素、または前記低抵抗画素を検出することを特徴とする請求項１に記載の発光表示装置。
3. 前記検出手段は、各画素に定電流を流し、各画素の電圧値を測定することにより、前記電気抵抗値を測定することを特徴とする請求項２に記載の発光表示装置。
4. 前記検出手段は、各画素に定電圧を印加し、各画素の電流値を測定することにより、前記電気抵抗値を測定することを特徴とする請求項２に記載の発光表示装置。
5. 前記発光手段は、前記高抵抗画素に入力される前記単位電気量を増加させることを特徴とする請求項１に記載の発光表示装置。
6. 前記発光手段は、前記低抵抗画素に入力される前記単位電気量を減少させることを特徴とする請求項１に記載の発光表示装置。
7. 前記発光手段は、前記低抵抗画素に入力される前記単位電気量を減少させるとともに、前記高抵抗画素に入力される前記単位電気量を増加させることを特徴とする請求項１に記載の発光表示装置。
8. 前記発光素子について、前記電気抵抗値に対する前記発光輝度の測定データが予め測定され、この測定データに基づき前記単位電気量の相対増加量を決定することを特徴とする請求項１に記載の発光表示装置。
9. 前記発光素子について、前記電気抵抗値に対する前記発光輝度の測定データが予め測定され、この測定データに基づき前記単位電気量の相対減少量を決定することを特徴とする請求項１に記載の発光表示装置。
10. 各画素について、測定された電気抵抗値が上昇するのに従って大きく設定される補正データを作成する補正データ作成手段をさらに備え、
    前記発光手段は、前記補正データを前記画像データを基に設定された単位電気量に乗じ、前記設定された単位電気量を相対的に増加させることを特徴とする請求項１に記載の発光表示装置。
11. 前記単位電気量は、所定時間内において前記各画素に入力される電気量であることを特徴とする請求項１に記載の発光表示装置。
12. 前記所定時間は、前記表示パネルに１フレームの画像が表示される期間以内であることを特徴とする請求項１１に記載の発光表示装置。
13. 電気抵抗値の上昇に伴い、入力される一定の単位電気量に対する発光輝度が低下する発光素子と、前記発光素子によって構成される複数の画素を配列して構成される表示パネルとを備える発光表示装置の駆動方法であって、
    前記各画素に、画像データに応じた単位電気量を入力し、前記各画素を発光させる発光ステップと、
    前記各画素のうち、電気抵抗値が相対的に高い高抵抗画素、または電気抵抗値が相対的に低い低抵抗画素のうちいずれか一方を少なくとも検出する検出ステップとを備え、
    前記発光ステップは、前記高抵抗画素または前記低抵抗画素の少なくともいずれか一方について、それぞれ、単位電気量を相対的に増加または減少させることを特徴とする発光表示装置の駆動方法。
14. 電気抵抗値の上昇に伴い、入力される一定の単位電気量に対する発光輝度が低下する発光素子と、
    前記発光素子によって構成される複数の画素を配列して構成される表示パネルと、
    前記各画素に、画像データに応じた単位電気量を入力し、前記各画素を発光させる発光手段とを備える発光表示装置において、
    前記各画素の電気抵抗値を検出する検出手段を備えることを特徴とする発光表示装置。
    
    

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