JP2006162601A - 表面特性を特定する装置 - Google Patents

Abstract

【課題】フィルターのための経費支出を抑え、それにより全体のコストを低く抑えられる表面特性を特定する装置を作製する。
【解決手段】光線を放射する少なくとも１つの光源(4)を有する少なくとも１つの第１光線放射装置(3)と、少なくとも１つの光線放射装置(3)から放射され、次いで測定面(5)から散乱及び/又は反射される光線の少なくとも一部を受容し、反射及び/又は散乱される光線の特徴を示す少なくとも１つの計測信号を出力する第１光線検出素子(9)を有してなる少なくとも１つの第１光線検出装置と、第１光線検出装置と類似の構成の少なくとも１つの第２光線検出装置と、光路において光線放射装置(3)と第１光線検出素子(9)との間、また光路において光線放射装置(3)と第２光線検出素子(8)との間に等しく設けることができる少なくとも１つのフィルター装置とを有する、表面特性を特定する装置。
【選択図】図１

Description

本発明は、表面特性を特定する装置に関するものである。

物体およびその表面、特に自動車の表面に対する視覚的な印象はそれらの物体の表面特性によってほぼ決定される。人間の目によって表面特性を客観的に分類するには限界があるので、表面特性を定性的および定量的に特定するための補助手段や設備が求められている。

前記のような手段によって、光沢、表面の凹凸（Ｏｒａｎｇｅ Ｐｅｅｌ）、色彩、マクロ組織およびミクロ組織、結像の鮮明さ、光沢のくもり、表面構造および／またはトポグラフィーなどの表面特性が特定される。

従来技術から周知の装置においては、光線放射装置から検査すべき測定面に光線が当たり、この測定面から反射および／または散乱する光線を検出器が受容し、評価する。これらの装置においては、反射光の色や個々のスペクトル成分の調査まで必要であるか、望ましい場合が多い。

前記のような目的のために従来技術においてはフィルターが用いられ、光路において光線放射装置と光線検出器との間に設けられている。さらに従来技術では測定面から反射される光線を異なる角度で測定することも求められている。このような要求がある場合、多数の検出器が用いられる。

上記のような理由から、従来技術においては複数のフィルター装置を、個々の光路の光線放射装置と異なる光線検出器との間に設けている。それぞれの光路に１つあるいは複数のフィルターを設ける方法が知られている。

複数のフィルターを設けると、必要に応じて取り付けるべきフィルターの数が増加する一方となり、前記のような装置のコストが増大する。また一方で、複数のフィルターを備えた装置は精度の点で不利になる。その理由は、等しい波長領域に対して特定されているフィルターであっても、光学的に必ずしも正確に一致する特性を有しているとは限らず、そのため同種のフィルターを用いても測定結果が異なる場合がありうるということである。

以上の理由から、本発明の課題は、フィルターのための経費支出を抑え、それによって全体のコストを低く抑えられるような、表面特性を特定するための装置を作製することである。このような装置では正確さも増大させる必要がある。

上記の課題は本発明では請求項１に記載の装置によって解決される。有利な実施の態様やさらなる構成は下位請求項に記載されているが、全ての下位請求項に記載された全ての対象が、必ずしも全ての課題を同等に解決するものではない。

本発明に係る表面特性を特定する装置は、光線を放射する少なくとも１つの光源を有してなる少なくとも１つの第１の光線放射装置を有する。また、第１の光線検出素子を有してなる少なくとも１つの第１の光線検出装置が設けられ、該第１の光線検出装置は前記少なくとも１つの光線放射装置から放射され、次いで測定面から反射される光線の少なくとも一部を受容し、前記反射および／または散乱される光線の特徴を示す少なくとも１つの計測信号を出力する。さらに第２の光線検出素子を有してなる少なくとも１つの第２の光線検出装置が設けられ、該第２の光線検出装置は前記少なくとも１つの光線放射装置から放射され、次いで測定面から反射される光線の少なくとも一部を受容し、前記反射および／または散乱される光線の特徴を示す少なくとも１つの計測信号を出力する。さらに少なくとも１つのフィルター装置が設けられるが、このフィルター装置は光路において前記光線放射装置と前記第１の光線検出素子との間、また光路において前記光線放射装置と前記第２の光線検出素子との間に等しく設けることができる。

本発明に係る装置により、１つまたは複数の光線検出装置に対して１つのフィルター装置を使用することができる。

本発明における測定面とは、該当する表面に照射された光線の少なくとも一部を返す (zurueckwerfen/reverberate)、特に反射（reflektieren）および／または散乱させる表面を表す。本発明においては、特に自動車の表面が測定面として理解されるが、自動車の塗装表面のみを意味するわけではない。他にも家具などの表面を測定面とする場合もある。

さらなる好適な実施の態様では少なくとも１つの第１の光線放射装置は少なくとも１つの光源を有するが、光源は熱光源を有する光源群から選択される。ここで熱光源とは限定されるわけではないが特に、白熱電球、ハロゲンランプ、コヒーレント半導体光源、非コヒーレント半導体光源、熱（高温）放電光源、レーザーなどである。放射される光線は可視領域の光が好適であるが、これに限定されるわけではない。赤外線および／または紫外線波長領域の光線を用いることもできる。光源としては発光ダイオード（ＬＥＤ）を用いるのが好適である。

光源は標準化された光線を発するのが好適である。標準化された光線とは限定されるわけではないが、特にＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ５０，Ｄ６５，Ｄ１１あるいはＴＬ８４などの標準光線である。光源はＤ６５標準光線を放射するのが特に好ましい。

標準光線を使用すること、特にＤ６５基準光線を使用することにより、表面に関する値として比較が容易なものが検出されやすくなる。Ｄ６５基準光線は６５００ケルビンの色温度を有する自然昼光の位相を表すものである。Ｄ６５基準光線の正確な理論上の放出スペクトルはキセノンランプによって好適に近似させることができる。

光線放射装置は複数の光源を有するのが好適である。これらの光源は少なくとも部分的に異なる光線特性を有するのが特に好ましい。

特に好適な実施の態様において、少なくとも１つの光線放射装置が異なる光線特性を有する多数の光源を有し、可視波長領域全体が個々の光源により、ほぼカバーされるのが特に好ましい。

フィルター装置とは、該装置を通過あるいは該装置に当たって反射される光線の異なる成分、限定はされないが特に異なるスペクトル成分に対して異なる光学的な特性を有する装置のことである。好適な実施の態様においては、個々の波長領域を透過させ、それ以外の波長領域は透過させないスペクトルフィルターが設けられている。

さらなる好適な実施の態様では少なくとも１つの光線検出素子によって、光線を局所的に分解して検出する。光線検出素子は、ＣＣＤチップなどを有する検出素子であるのが好ましい。さらなる好適な実施の態様では、第２の光線検出素子も局所的な分解による検出を可能にしている。複数の光線検出素子が設けられ、それらが全て光線を局所的に分解して検出するのが好適である。局所的な分解による検出とは、たとえば強度などの検査すべきパラメータに対する平均値だけでなく、このように計測された値を光線が当たる検出器の表面の局所に応じて出力することを表す。

さらなる好適な実施の態様では前記装置は多数の光線検出素子を有し、少なくとも１つのフィルター装置を、複数の光路において、光線放射装置と多数の光線検出素子のうちのそれぞれの間にも設けることができる。

さらなる好適な実施の態様では多数のフィルター装置が設けられている。これらの異なるフィルター装置は好適に、異なるスペクトル波長領域を分析するのに用いられる。すなわち、これらのフィルター装置は異なるスペクトル波長領域に対して透過性を有しているか、あるいは透過性を有さない。

多数のフィルター装置の個々のフィルター装置を、好適に、光路において光線放射装置と少なくとも二つの光線検出素子との間に設けることができる。多数のフィルター装置の個々のフィルター装置を好適に、全ての光路において光線放射装置と全ての光線検出素子の間に設けることができる。

このようにしてセットを成すフィルターを同時に使用して、全ての光線検出素子のための濾過を行うことができる。これは本発明に係る装置の特に効率的な構成である。

さらなる好適な実施の態様では多数のフィルター装置が共通の支持装置に設けられている。このような方法により、個々のフィルター装置をあらかじめ確実に、それぞれの光路において光線放射装置と個々の光線検出素子との間に設けることが可能となる。ここでいう支持装置とは、個々のフィルター装置を前もって配設したり、特に光路に対して案内したりするために好適な装置のことである。

好適に少なくとも２つのフィルター装置は異なる光学的特性を有する。前記のようにフィルター装置はたがいにそれぞれ異なる光学的特性を備えているが、個々のフィルターが等しいフィルター特性を有するように構成し、支持装置の特定の位置において２つあるいはそれ以上の光路に同種のフィルター装置を設けるようにすることもできる。

さらなる好適な実施の態様ではフィルター装置を１つの光路の測定面と光線検出素子との間に設けることができる。このような方法により、個々の光路で別個に濾過を行うことができる。これに対して１つの光路の光線放射装置と測定面との間に１つのフィルター装置を設ける場合には、フィルター装置はほぼ同じ方法で測定面に当たる光線に影響を及ぼす。

さらなる好適な実施の態様では所定の時点において、複数の光路の光線放射装置と少なくとも２つの光線検出素子との間に、異なる光学的特性を有するフィルター装置が設けられる。すなわち、１つの光路に１つのフィルター装置を案内することが、同時にさらなるフィルター装置を別の光路の光線放射装置とそのつど異なる光線検出素子との間に設けることになるのである。

さらなる好適な実施の態様では支持装置に設けられたフィルター装置が、光路に関して光線放射装置と光線検出素子との間で移動可能である。すなわち個々のフィルター装置が、個々の光路のうちの２つあるいはそれ以上を通過して移動可能であるということである。支持装置に設けられているフィルター装置の数は２から５０個が好ましく、１０から４０個が好適であり、２０から３０個が特に好ましい。さらにこれらのフィルター装置が互いに同種であるのが好適であり、それによって前記のフィルター装置の数は全体として増大する。

さらなる好適な実施の態様では支持装置が少なくとも部分的に変形可能である。フィルター装置そのものもさらなる好適な実施の態様では少なくとも部分的に変形可能であり、それによって異なる位置に設けることができる。

さらなる好適な実施の態様では支持装置が少なくとも部分的に、少なくとも１つのローラに設けられて搬送される。多数のローラが設けられるのが好適であり、これらのローラによって支持装置は、光路の個々の光線検出素子と測定面との間に設けられる。１つの実施の態様ではこのような支持装置は少なくとも部分的に柔軟性を有するベルトであり、このベルトに個々のフィルター装置が設けられている。しかしながら本発明における支持装置は、柔軟性のない部材を２つあるいはそれ以上有していても、それらの部材が対向的に移動すれば、柔軟性があるものとみなされる。個々の柔軟性のない部材に、それぞれフィルター装置が設けられるのが好適である。

さらなる好適な実施の態様では、光路の測定面と少なくとも１つの検出素子との間に、少なくとも１つの光線屈折装置が設けられている。このような光線屈折装置によって、測定面から反射された光線を屈折させ、個々の光線検出素子を互いに好適な位置、たとえば同一平面に設けることができる。

さらなる好適な実施の態様では少なくとも１つの光線屈折装置の空間的な位置が変えられる。こうすることにより、測定面から反射された個々の光線を互いに好適な配置、たとえば同一平面に設けるように調整することができる。

本発明はまた表面特性を特定する装置に関するものであり、該装置は少なくとも１つの光源を有してなり、光線を発する少なくとも１つの第１の光線放射装置と、少なくとも１つの光源を有してなり、光線を発する少なくとも１つの第２の光線放射装置を有する。さらに少なくとも１つの光線検出素子を有してなる少なくとも１つの光線検出装置が設けられ、該光線検出装置は光線放射装置から発せられ、その後測定面から反射される光線の少なくとも一部を受容し、反射および／または散乱される光線の特徴を示す少なくとも１つの計測信号を出力する。さらに本発明により、少なくとも１つのフィルター装置が設けられるが、このフィルター装置は光路において前記第１の光線検出素子と光線検出装置との間、また光路において前記第２の光線放射装置と光線検出素子との間に等しく設けることができる。

光線検出素子は、光線を好適に局地的に分解して検出することができる。さらなる好適な実施の態様では、フィルター装置を光路において個々の光線放射装置と測定面との間に設けることができる。

さらなる好適な実施の態様では、多数のフィルター装置のうちの個々の一つを、光路において個々の光線放射装置と、光線検出素子との間に設けることができる。

これらの実施の態様と、下に述べる実施の態様を、それ以前に説明した実施の態様と比較すると、本発明の課題を解決するための発明上の同一の概念、すなわちフィルター装置を削減して測定を全体的により確実なものにする、という概念に基づくものであるといえる。したがってすでに説明した好適な実施の態様は、以下に述べる２つの基本的な構成に応用することができる。２つの基本的な実施の態様とは、１つの光線放射装置と複数の光線検出素子を有する実施の態様と、複数の光線放射装置と１つの光線検出素子を有する実施の態様との、２つである。前記の理由から、すでに述べた実施の態様をより詳しく説明することは省略する。

多数のフィルター装置を設ける場合、個々のフィルター装置は光路において、少なくとも２つの光線放射装置と光線検出素子との間に設けるのが好適である。これらのフィルター装置は、好適に、１つの光路において、光線放射装置と測定面との間に設けることができる。本実施形態は１つの光線放射装置と複数の光線検出素子が設けられ、単一のフィルター装置が測定面と光線検出素子との間に設けられている前記の実施の形態に対応する例である。

さらなる好適な実施の態様では、所定の時点で、光路において、少なくとも２つの光線放射装置と光線検出素子との間に、異なる光学的な特性を有するフィルター装置を設けることができる。このような構成では、同時に異なる場所において、すなわち異なる角度で、光線の異なるスペクトル成分を分析することができる。

光路において、少なくとも１つの光線放射装置と測定面との間に１つの光線屈折装置を設けるのが好適である。前記の実施の態様の場合と同様に、このような光線屈折装置もミラー、プリズムなどである。複数の光路において、１つの光線放射装置と測定面との間に光線屈折装置を設けるのが好適である。

さらなる好適な実施の態様では、少なくとも１つの光線屈折装置の空間的な位置を変えることができる。すなわち、光線がミラーに入射する角度および光線が屈折する角度を変えることができる。

さらなる好適な実施の態様では、前記の２つの基本的なアイディアが組み合わせられる。すなわち、複数の光線検出素子と、複数の光線放射装置が用いられる。こうすることにより、個々のフィルターを光路において測定面の前方にも測定面の後方にも設けることができる。

前記のさらなる実施の態様において、このようにアイディアを組み合わせて実施することも可能である。

本発明はまた表面特性を特定する方法に関するものである。この方法では光線が検査すべき測定面に所定の立体角度をなして当たるように放射され、測定面に照射され、測定面から反射された光線は少なくとも１つの第１の光線検出素子または第２の光線検出素子によって検出され、少なくとも１つのフィルター装置が、光路を介して光線放射装置と第１の光線検出素子との間にも、光路を介して光線放射装置と第２の光線検出素子との間にも設けられる。

本発明によるさらなる方法では、検査すべき測定面に対して、第１の光線放射装置から第１の所定の立体角度をなして光線が放射され、第２の光線放射装置から第２の所定の立体角度をなして光線が放射される。さらなる方法では、測定面に照射され、測定面から反射された光線が、光線検出素子を有してなる光線検出装置によって検出される。続いて、少なくとも１つのフィルター装置が、光路を介して第１の光線放射装置と光線検出素子との間にも、光路を介して第２の光線放射装置と光線検出素子との間にも設けられる。

さらなる有利点および実施の形態は添付の図面に示されている。図面に示すのは以下の通りである。

図１は本願発明に係る、表面特性を特定するための装置１を示している。該装置は光線放射装置３を有し、光線放射装置は光源４と照明光学系６とを有している。照明光学系は、レンズあるいはレンズ光学系であるのが好ましい。光線は光線放射装置３から、開口２４を介して検査すべき表面５に当たる。検査すべき表面５から返される、特に散乱および／または反射される光線は、複数の所定の角度α１、α２で検出装置８によって検出される。これらの検出装置はまた、好適に光学装置８ａおよび検出素子９を有している。これらの検出素子９は本図に示す実施の形態において、入射する光線を局所的に分解して検出する。この場合、好適に光学系８aによって検出素子９に結像する。

光路Ａ，Ｂの測定面５と個々の検出素子９との間には、それぞれフィルター装置１５を挿入することができる。これらのフィルター装置は本実施の形態では、異なるスペクトル透過領域などの、異なる光学的な特性を有している。個々のフィルター装置１５はベルト１８に設けられ、このベルトはいくつかの方向転換ローラ１３の周囲を走行する。図１に示す実施の形態ではそれぞれ、前方に設けられたローラと、これら前方に設けられたローラに隠された後方に設けられたローラが配設されている。これらのローラの間に個々のフィルター装置１５が案内されている。

さらなる実施の形態では、個々のフィルター装置１５を直接あるいは間接にヒンジ結合することもできる。こうすることにより、個々のフィルター装置はチェーン状に個々の方向転換ローラ１３の周囲を走行する。

図１に示す実施の形態では、フィルター装置は、光路Ａ，Ｂの測定面と個々の検出素子９との間にそれぞれ１つのフィルター装置１５が同時に設けられるように配設される。しかしながら前記のすべての光路の少なくとも特定の位置に、１つのフィルター装置が設けられるようにするか、あるいは、少なくともいくつかの光路において、さらなる所定の位置にほぼ同一の光学的な特性を有するフィルター装置を複数設けることもできる。

本発明に係る方法において、個々のフィルターが設けられたベルトは個々の光路Ａ，Ｂ，Ｃに進入し、次々とそのつど異なるフィルターによって、測定される。これにより、光路Ａ，Ｂ，Ｃに対応する異なる角度のもとで、異なる光学的なフィルター装置を用いて測定を行うことができる。

符号２２は測定空間の内部表面を表し、この内部表面は好適に吸収性を有するように構成されている。

（図示しない）相応の方法で、一つの光線放射装置３の代わりに、多数の光線放射装置を設け、多数の光線検出素子の代わりに光線検出素子９を一つだけ設けることができる。このような場合は、フィルター装置１５あるいはベルトは好適に、個々の光源４と開口部２４あるいは測定面２５との間を走行する。このような実施の形態では、前記のように、光線が異なる角度で入射し、一つの方向あるいは一つの角度で検出される。このような実施の形態においても、光線検出素子としては、光線を局所的に分解して検出できるものが使用される。

図２は本発明に係る表面特性を特定するための装置のさらなる実施の形態を示している。図１に示す実施の形態に対して、本実施の形態では個々のフィルター装置１５はほぼ水平に設けられた支持装置に配設されている。本実施の形態の有利点は、ローラを介して支持装置を案内しなくても済むために、支持装置が湾曲されたり、変形されたりしないことである。測定面２５から反射される個々の光線の成分を、支持装置１８が配設されている平面とほぼ一致する、あるいは該平面に対して平行に設けられている、同一平面に集めるために、屈折鏡２６が用いられる。この屈折鏡は（図示しない）調節装置を有し、それによって表面から反射される光線がそれぞれの検出素子９に結像される。

図１に示す実施の形態の場合と同様に、図２に示す場合においても個々のフィルター装置は光路の測定面とそれぞれの検出素子９との間に設けられる。本実施の形態においても、フィルター装置は、所定の時点あるいは支持装置の所定の位置において、すべての光路Ａ，Ｂ，Ｃに一つのフィルター装置が設けられるように配設されている。また、１つあるいは複数の光路にフィルター装置を設けず、他の光路にはフィルター装置を設けるように配置することも可能である。

図２に示す実施の形態も相応の方法で、多数の光線放射装置と一つの光線検出素子を有する装置に応用することができる。その場合、個々の複数のフィルター装置は複数の光源と測定面２５との間に設けられる。

図３は本発明に係る表面特性を特定するための装置のさらなる実施の形態を示している。本図の場合も屈折鏡２６が設けられ、測定面２５から反射される光線が複数の光線検出素子９に当たるように屈折させる。本実施の形態では、光線検出素子９は１つの平面に設けられているだけでなく、リング形状部に設けられている。この場合、多数のフィルター装置１５は少なくとも部分的にリング形状をなす支持装置に設けられている。このような支持装置は軸ｘを中心として回転するので、ここでも個々のフィルター装置１５を光路Ａ，Ｂ，Ｃに案内することができる。

図３に示す実施の形態においても、前記の場合と同様に、多数の光線放射装置と一つの光線検出素子が設けられるように構成を変えることができる。その場合、複数のフィルター装置は光線放射装置と複数の測定面との間に設けられる。

本発明に係る表面特性を特定するための装置の第１の実施の形態を示す図である。 本発明に係る表面特性を特定するための装置の第２の実施の形態を示す図である。 本発明に係る表面特性を特定するための装置のさらなる実施の形態を示す図である。

符号の説明

１ 表面特性を特定するための装置
３ 光線放射装置
４ 光源
５ 測定面
６ 照明光学系
８ 検出装置
８ａ 光学系
９ 検出素子
１３ 方向転換ローラ
１５ フィルター装置
１８ ベルト
１８ 支持装置
２２ 測定空間の内部表面
２４ 開口
２５ 測定面
２６ 屈折鏡

Claims (23)

1. 光線を放射する少なくとも１つの光源（４）を有してなる少なくとも１つの第１の光線放射装置（３）と、
   前記少なくとも１つの光線放射装置（３）から放射され、次いで測定面（５）から散乱および／または反射される光線の少なくとも一部を受容し、前記反射および／または散乱される光線の特徴を示す少なくとも１つの計測信号を出力する、第１の光線検出素子（９）を有してなる少なくとも１つの第１の光線検出装置と、
   前記少なくとも１つの光線放射装置（３）から放射され、次いで測定面（５）から散乱および／または反射される光線の少なくとも一部を受容し、前記反射および／または散乱される光線の特徴を示す少なくとも１つの計測信号を出力する、第２の光線検出素子（９）を有してなる少なくとも１つの第２の光線検出装置と、
   光路において前記光線放射装置（３）と前記第１の光線検出素子（９）との間、また光路において前記光線放射装置（３）と前記第２の光線検出素子（８）との間に等しく設けることができる少なくとも１つのフィルター装置とを有する表面特性を特定する装置。
2. 少なくとも１つのフィルター装置（１５）が、光路において前記光線放射装置（３）と個々の光線検出素子（９）との間に設けられることを特徴とする請求項１に記載の装置。
3. 多数のフィルター装置（１５）が設けられ、多数のフィルター装置（１５）の個々のフィルター装置（１５）が光路において前記光線放射装置（３）と少なくとも２つの光線検出素子（９）との間に設けられることを特徴とする請求項１または２に記載の装置。
4. 前記フィルター装置（１５）が、光路において前記測定面（５）と任意の１つの光線検出素子（９）との間に設けられることを特徴とする請求項１から３のうちいずれか１項に記載の装置。
5. 所定の時点において、光路において前記光線放射装置（３）と少なくとも２つの光線検出素子（９）との間に異なる光学的特性を有するフィルター装置（１５）が設けられることを特徴とする請求項１から４のうちいずれか１項に記載の装置。
6. 光路において前記測定面（５）と少なくとも１つの光線検出素子（９）との間に光線屈折装置（２６）が設けられることを特徴とする請求項１から５のうちいずれか１項に記載の装置。
7. 少なくとも１つの光線屈折装置（２６）の空間的位置が変えられることを特徴とする請求項１から６のうちいずれか１項に記載の装置。
8. 光線を放射する少なくとも１つの光源を有してなる少なくとも１つの第１の光線放射装置と、
   光線を放射する少なくとも１つの光源を有してなる少なくとも１つの第２の光線放射装置と、
   前記光線放射装置から放射され、次いで測定面から散乱および／または反射される光線の少なくとも一部を受容し、前記反射および／または散乱される光線の特徴を示す少なくとも１つの計測信号を出力する、第１の光線検出素子を有してなる少なくとも１つの第１の光線検出装置と、
   光路において前記第１の光線放射装置と前記光線検出素子との間、また光路において前記第２の光線放射装置と前記光線検出素子との間に等しく設けることができる少なくとも１つのフィルター装置とを有する表面特性を特定する装置。
9. 少なくとも１つのフィルター装置が、光路において個々の光線放射装置（３）と任意の１つの光線検出素子（８，９）との間に設けられることを特徴とする請求項１から８のうちいずれか１項に記載の装置。
10. 多数のフィルター装置が設けられ、前記多数のフィルター装置（１５）の個々のフィルター装置が、光路において少なくとも２つの光線放射装置と少なくとも前記光線検出素子との間に設けられることを特徴とする請求項１から９のうちいずれか１項に記載の装置。
11. 前記フィルター装置が、光路において前記光線放射装置と前記測定面（５）との間に設けられることを特徴とする請求項１から１０のうちいずれか１項に記載の装置。
12. 所定の時点において、光路において少なくとも２つの光線放射装置（３１）と前記光線検出素子（９）との間に異なる光学的特性を有するフィルター装置（１５）が設けられることを特徴とする請求項１から１１のうちいずれか１項に記載の装置。
13. 前記光路において少なくとも１つの光線放射装置と前記測定面との間に少なくとも１つの光線屈折装置が設けられることを特徴とする請求項１から１２のうちいずれか１項に記載の装置。
14. 少なくとも１つの光線屈折装置の空間的位置が変えられることを特徴とする請求項１から１３のうちいずれか１項に記載の装置。
15. 少なくとも１つの光線検出素子（９）が、光線を局所的に分解することによって検出をおこなうことを特徴とする請求項１から１４のうちいずれか１項に記載の装置。
16. 多数の光線検出素子（９）が設けられることを特徴とする請求項１から１５のうちいずれか１項に記載の装置。
17. 前記多数のフィルター装置（１５）が共通の支持装置（１８）に設けられることを特徴とする請求項１から１６のうちいずれか１項に記載の装置。
18. 少なくとも２つのフィルター装置（１５）が異なる光学的特性を有することを特徴とする請求項１から１７のうちいずれか１項に記載の装置。
19. 前記支持装置（１８）に設けられている前記フィルター装置（１５）の数が、２から５０個、好ましくは１０から４０個、特に好ましくは２０から３０個であることを特徴とする請求項１から１８のうちいずれか１項に記載の装置。
20. 前記支持装置（１８）が少なくとも部分的に変形可能であることを特徴とする請求項１から１９のうちいずれか１項に記載の装置。
21. 前記支持装置が少なくとも部分的に少なくとも１つのローラ（１３）に設けられて搬送されることを特徴とする請求項１から２０のうちいずれか１項に記載の装置。
22. 検査すべき測定面（５）に対して所定の立体角をなすように光線を放射する工程と、
    前記測定面（５）に照射され、該測定面によって反射および／または散乱される光線を少なくとも１つの第１の光線検出素子と少なくとも１つの第２の光線検出素子（９）とによって検出する工程と、
    少なくとも１つのフィルター装置（５）を、第１の所定の時点において、光路において前記光線放射装置と前記第１の光線検出素子（９）との間、また第２の所定の時点において、光路において前記光線放射装置と前記第２の光線検出素子との間に等しく設ける工程とを有する表面特性を特定する方法。
23. 前記第１の所定の時点と、前記第２の所定の時点は、互いに異なることを特徴とする請求項２２に記載の方法。

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