JP2006156595A - Wiring board with built-in capacitor - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent deterioration in reliability due to generation of a defect at the interface between the side surface of capacitor and glass ceramics when the capacitor is formed like a block within the glass ceramic multilayer wiring substrate. <P>SOLUTION: At least part of the side surface of capacitor is tilted for the laminating direction of the insulating layer to achieve rigid junction between the side surface and glass ceramics and to reduce an area of the side surface in parallel to the laminating direction where any pressure is not applied. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明はガラスセラミックス焼結体から成る絶縁層の内部にコンデンサ部を内蔵するコンデンサ内蔵配線基板に関する。   The present invention relates to a wiring board with a built-in capacitor in which a capacitor portion is built inside an insulating layer made of a glass ceramic sintered body.

近年、IT(Information Technology)産業の中核をなす半導体分野では、IC,LSI等の半導体素子の性能向上が著しく、その半導体素子が大型コンピュータ,パーソナルコンピュータ,移動体通信端末等に代表される情報処理装置の高速化,小型化,多機能化等を支えている。半導体素子に入出力される高周波信号の伝達速度を上げるために、導体材料としては銀や銅等の低抵抗金属が使用され、これらと同時焼成が可能で高周波帯域で誘電損失の低い低温焼結多層基板(ガラスセラミック多層基板)が開発された。さらに、コンデンサ部をガラスセラミック配線基板の内部に形成したコンデンサ内蔵配線基板も開発され、これを用いたモジュールも、小型化,高機能化,高容量化の一途を辿っている。   In recent years, in the semiconductor field that forms the core of the IT (Information Technology) industry, the performance of semiconductor elements such as ICs and LSIs has been remarkably improved, and the semiconductor elements are information processing represented by large computers, personal computers, mobile communication terminals, and the like. Supports speeding up, downsizing, and multi-functionality of equipment. Low-resistance metals such as silver and copper are used as the conductor material to increase the transmission speed of high-frequency signals input to and output from semiconductor elements. Low-temperature sintering with low dielectric loss in the high-frequency band can be performed simultaneously with these. Multilayer substrates (glass ceramic multilayer substrates) have been developed. Furthermore, a wiring board with a built-in capacitor in which a capacitor portion is formed inside a glass ceramic wiring board has been developed, and modules using the same have become smaller, more functional, and higher in capacity.

このような従来のコンデンサ内蔵配線基板は以下のようにして作製される。   Such a conventional wiring board with a built-in capacitor is manufactured as follows.

まず、貫通導体や配線導体が形成された絶縁体層となるガラスセラミックグリーンシート(以下、グリーンシートともいう)に配線導体用ペーストをスクリーン印刷法等によって塗布することによりコンデンサ部の電極パターンを形成し、その上に誘電体ペーストをスクリーン印刷法により塗布した誘電体グリーンシートを配置して誘電体層を形成し、さらに誘電体層上に配線導体用ペーストをスクリーン印刷法により塗布して電極パターンを形成した後、所定の回路配線が形成された絶縁体層となるグリーンシートを順次積層してグリーンシート積層体を作製し、これを焼成することにより作製される。   First, the electrode pattern of the capacitor part is formed by applying a wiring conductor paste to a glass ceramic green sheet (hereinafter also referred to as a green sheet) that becomes an insulator layer on which a through conductor or a wiring conductor is formed by a screen printing method or the like. A dielectric green sheet coated with a dielectric paste by a screen printing method is disposed thereon to form a dielectric layer, and a wiring conductor paste is further coated on the dielectric layer by a screen printing method to form an electrode pattern. Then, green sheets to be an insulator layer on which predetermined circuit wirings are formed are sequentially laminated to produce a green sheet laminate, which is then fired.

近年、モジュールの高機能化に伴って、内蔵されるコンデンサ部も高容量で安定したものが望まれている。このため、特許文献1では低誘電率の基材に複数の多層コンデンサ部を配置し、高容量で種類の多いコンデンサ部を内蔵させることが提案されている。   In recent years, with the increase in functionality of modules, a built-in capacitor unit is desired to have a high capacity and stability. For this reason, Patent Document 1 proposes that a plurality of multilayer capacitor portions are arranged on a low dielectric constant base material, and a large number of capacitor portions having a high capacity are incorporated.

また、より高容量で安定したコンデンサ部を得るために、特許文献2および特許文献3では、コンデンサ部の電極パターンと絶縁層の間にガラスの相互拡散を防止するバリア層を介在させて、グリーンシート中のガラス成分を誘電体層中に拡散させることにより、コンデンサ部の容量低下やバラツキを小さくすることが提案されている。
特開平8−330187号公報 特開平9−92978号公報 特開2000−208943号公報
Also, in order to obtain a higher-capacity and stable capacitor part, in Patent Document 2 and Patent Document 3, a barrier layer that prevents mutual diffusion of glass is interposed between the electrode pattern of the capacitor part and the insulating layer. It has been proposed that the glass component in the sheet is diffused into the dielectric layer to reduce the capacitance reduction and variation of the capacitor portion.
JP-A-8-330187 JP-A-9-92978 JP 2000-208943 A

ところで、上述した従来のコンデンサ内蔵配線基板においては、絶縁体中に電極パターンと誘電体層を交互にスクリーン印刷法によって印刷してコンデンサ部を形成したり、あるいはバリア層、コンデンサ部電極、誘電体層を交互に印刷してコンデンサ部を形成したりする場合、コンデンサ部はブロック形状の積層体となる。このため、絶縁基体となるガラスセラミックスとコンデンサ部は上下面と側面で接することとなる。   By the way, in the conventional capacitor-embedded wiring board described above, an electrode pattern and a dielectric layer are alternately printed in an insulator by a screen printing method to form a capacitor portion, or a barrier layer, capacitor portion electrode, dielectric When the capacitor portion is formed by alternately printing the layers, the capacitor portion becomes a block-shaped laminate. For this reason, the glass ceramic serving as the insulating base and the capacitor portion are in contact with each other on the upper and lower surfaces.

コンデンサ内蔵配線基板に内蔵されるコンデンサ部のブロック形状の積層体は、通常幅が0.5mm〜5mmの正方形、長方形、及び円形で、高さが10〜200μmの立方体や円柱である。このため、加圧による積層工程では上下面には十分な圧力がかかり、グリーンシートとコンデンサ部が強固に接合している。しかし、コンデンサ部の側面には圧力が加わらないため、両者の間に隙間が発生することがある。   The block-shaped laminated body of the capacitor part built in the wiring board with a built-in capacitor is usually a cube, a cylinder having a square, a rectangle, and a circle with a width of 0.5 mm to 5 mm and a height of 10 to 200 μm. For this reason, in the lamination process by pressurization, sufficient pressure is applied to the upper and lower surfaces, and the green sheet and the capacitor portion are firmly bonded. However, since no pressure is applied to the side surface of the capacitor portion, a gap may be generated between them.

また、コンデンサ部は通常、チタン酸バリウムやチタン酸ストロンチウム、鉛系ペロブスカイト化合物を誘電体の主成分とし、銀や銅の金属をコンデンサ部の電極としており、いずれの材料も絶縁基体となるガラスセラミックよりも収縮率が大きい。従って、コンデンサ部としてブロック形状の積層体を埋め込むと、コンデンサ部がより収縮しようとしてガラスセラミックスとコンデンサ部の接合が弱い場合は両者の境界面に剥離が生じ、接合が強い場合は両者の境界面の近傍にクラックが入る。従来のコンデンサ内蔵配線基板に内蔵されているるブロック形状のコンデンサ部は、通常、幅が0.5mm〜5mmの正方形、長方形、及び円形で、高さが10〜200μmと平たいことから、面方向の収縮率の差が顕著に現れ、コンデンサ部の側面に剥離が発生したり側面の近傍にクラックを生じることがあった。   In addition, the capacitor part is usually composed of barium titanate, strontium titanate, lead-based perovskite compound as the main component of the dielectric, and silver or copper metal as the electrode of the capacitor part. The shrinkage rate is larger than that. Therefore, when a block-shaped laminated body is embedded as a capacitor part, if the bonding between the glass ceramic and the capacitor part is weak because the capacitor part tends to shrink more, separation occurs between the two, and if the bonding is strong, the boundary surface between the two Cracks appear in the vicinity of. The block-shaped capacitor part built in the conventional wiring board with a built-in capacitor is usually a square, a rectangle, and a circle with a width of 0.5 mm to 5 mm, and is flat with a height of 10 to 200 μm. The difference in the shrinkage ratio was remarkable, and the side surface of the capacitor part may be peeled off or a crack may be generated near the side surface.

その結果、湿中放置の際にこれらの欠陥に水分が浸入してコンデンサ部の絶縁性が損なわれたり、温度サイクルによる熱ストレスや衝撃によってこれらの欠陥が破壊源となり、基板が割れる等して、コンデンサ内蔵配線基板の信頼性が損なわれる欠点を有していた。   As a result, moisture can penetrate into these defects when left in the humidity and the insulation of the capacitor part is impaired, or these defects can become a source of destruction due to thermal stress and impact due to temperature cycling, and the substrate can crack. In addition, the reliability of the wiring board with a built-in capacitor is impaired.

本発明は、上記欠点に鑑み案出されたもので、その目的は、配線基板内に設けたコンデンサ部の信頼性を向上させることが可能なコンデンサ内蔵配線基板を提供することにある。   The present invention has been devised in view of the above-described drawbacks, and an object thereof is to provide a wiring board with a built-in capacitor capable of improving the reliability of a capacitor portion provided in the wiring board.

本発明のコンデンサ内蔵配線基板は、ガラスおよびセラミックフィラーを含有する複数の絶縁層を積層して絶縁基体を形成するとともに、該絶縁基体の内部に、前記絶縁層よりも高い誘電率を有した誘電体層と該誘電体層を間に挟んで対向する対向電極とを含むコンデンサ部を設けてなるコンデンサ内蔵配線基板であって、前記絶縁層と接する前記コンデンサ部側面の少なくとも一部を前記絶縁層の積層方向に対して傾斜させたことを特徴とするものである。   The wiring board with a built-in capacitor according to the present invention forms an insulating substrate by laminating a plurality of insulating layers containing glass and ceramic filler, and has a dielectric constant higher than that of the insulating layer inside the insulating substrate. A capacitor-embedded wiring board comprising a capacitor portion including a body layer and a counter electrode facing each other with the dielectric layer interposed therebetween, wherein at least a part of a side surface of the capacitor portion in contact with the insulating layer is formed on the insulating layer It is characterized by being inclined with respect to the stacking direction.

また本発明のコンデンサ内蔵配線基板は、前記コンデンサ部側面が上部領域及び下部領域で中央域よりも内側に位置するように傾斜していることを特徴とするものである。   The capacitor built-in wiring board according to the present invention is characterized in that the side surface of the capacitor portion is inclined so as to be located inside the central region in the upper region and the lower region.

さらに本発明のコンデンサ内蔵配線基板は、前記コンデンサ部側面の傾斜角度が前記絶縁層の主面に対し45°以下に設定されていることを特徴とするものである。   Furthermore, the wiring board with a built-in capacitor according to the present invention is characterized in that the inclination angle of the side surface of the capacitor portion is set to 45 ° or less with respect to the main surface of the insulating layer.

本発明のコンデンサ内蔵配線基板によれば、ガラスおよびセラミックフィラーを含有する複数の絶縁層を積層して絶縁基体を形成するとともに、絶縁基体の内部に、絶縁層よりも高い誘電率を有した誘電体層と誘電体層を間に挟んで対向する対向電極とを含むコンデンサ部を設けてなるコンデンサ内蔵配線基板であって、絶縁層と接するコンデンサ部側面の少なくとも一部を絶縁層の積層方向に対して傾斜させたことから、コンデンサ部の側面ではコンデンサ部の厚みが薄くなり、積層工程の際に加圧されない積層方向と平行な側面が小さくなる。すなわち、上下面に印加される圧力がコンデンサ部の傾斜した側面に伝わり、グリーンシートとコンデンサ部が強固に接合し、グリーンシートとコンデンサ部との間に加圧不足による隙間が発生するのを有効に防止することができる。   According to the wiring board with a built-in capacitor of the present invention, a dielectric substrate having a dielectric constant higher than that of the insulating layer is formed inside the insulating substrate by laminating a plurality of insulating layers containing glass and ceramic filler. A capacitor-embedded wiring board having a capacitor portion including a body layer and a counter electrode facing each other with a dielectric layer interposed therebetween, wherein at least a part of a side surface of the capacitor portion in contact with the insulating layer is arranged in the stacking direction of the insulating layer On the other hand, since the capacitor portion is inclined, the thickness of the capacitor portion is reduced on the side surface of the capacitor portion, and the side surface parallel to the stacking direction that is not pressurized during the stacking process is reduced. In other words, it is effective that the pressure applied to the top and bottom surfaces is transmitted to the inclined side surfaces of the capacitor unit, the green sheet and the capacitor unit are firmly joined, and a gap due to insufficient pressure is generated between the green sheet and the capacitor unit. Can be prevented.

またこの場合、積層工程の際に加圧されない積層方向と平行なコンデンサ部の側面の面積を極力小さくすることができるので、隙間が発生した場合においても、その隙間は微小であり、吸水して絶縁劣化を起こしたり基板を破壊する破壊源となったりすることはない。   In this case, since the area of the side surface of the capacitor portion that is parallel to the stacking direction that is not pressurized during the stacking process can be reduced as much as possible, even when a gap occurs, the gap is very small and absorbs water. It does not cause insulation deterioration or become a source of destruction that destroys the substrate.

更にこの場合、コンデンサ部の面積は面方向の中心から端部に向かって漸次減少するようになっていることから、焼成工程の昇温時に発生するコンデンサ部の端部から中心に向かう収縮力は端部に近づくにつれて低下する。よって、ガラスセラミックよりも収縮率が大きいコンデンサ部が大きく収縮し、ガラスセラミックスとコンデンサ部の界面に剥離やクラック等の欠陥が生じることは殆どない。   Furthermore, in this case, since the area of the capacitor portion gradually decreases from the center in the surface direction toward the end portion, the contraction force from the end portion of the capacitor portion to the center that occurs during the temperature rise in the firing process is It decreases as it approaches the edge. Therefore, the capacitor portion having a larger shrinkage rate than that of the glass ceramic is greatly shrunk, and defects such as peeling and cracks are hardly generated at the interface between the glass ceramic and the capacitor portion.

また本発明のコンデンサ内蔵配線基板によれば、コンデンサ部の側面を上部領域及び下部領域で中央域よりも内側に位置するように傾斜させることにより、コンデンサ部は全体として凸レンズのような形状となり、コンデンサ部の容量を決定する中心の誘電体層の面積を広くとることができるので、容量の大きいコンデンサ部を形成することができる。またコンデンサ部の積層構造を上下対称にすることで、コンデンサ部を形成する各層における収縮率の違いによってコンデンサ部が反ったり、誘電体層にクラックが生じたりするのを有効に防止することができ、良好な絶縁性を保つことができる。   Further, according to the wiring board with a built-in capacitor according to the present invention, the capacitor portion is shaped like a convex lens as a whole by inclining the side surface of the capacitor portion so as to be located inside the central region in the upper region and the lower region. Since the area of the central dielectric layer that determines the capacitance of the capacitor portion can be increased, a capacitor portion having a large capacitance can be formed. In addition, by making the laminated structure of the capacitor part vertically symmetric, it is possible to effectively prevent the capacitor part from warping or cracking in the dielectric layer due to the difference in shrinkage in each layer forming the capacitor part. Good insulation can be maintained.

さらに本発明のコンデンサ内蔵配線基板によれば、コンデンサ部側面の傾斜角度を絶縁層の主面に対し45°以下に設定することにより、積層工程の際に加圧されない積層方向と平行なコンデンサ部の側面がより小さくなり、上下面に印加される圧力がコンデンサ部の傾斜した側面に十分に伝わり、更に中央部から端部にむかうにつれてコンデンサ部の体積を緩やかに減少させることができるで、ガラスセラミックスとコンデンサ部の界面に剥離やクラック等の欠陥を生じる危険性をより一層低減することができる。   Furthermore, according to the wiring board with a built-in capacitor according to the present invention, by setting the inclination angle of the side surface of the capacitor portion to 45 ° or less with respect to the main surface of the insulating layer, the capacitor portion parallel to the lamination direction that is not pressurized during the lamination process The side surface of the capacitor portion becomes smaller, the pressure applied to the upper and lower surfaces is sufficiently transmitted to the inclined side surface of the capacitor portion, and further the volume of the capacitor portion can be gradually reduced from the center portion toward the end portion. The risk of causing defects such as peeling and cracks at the interface between the ceramic and the capacitor portion can be further reduced.

このように、本発明のコンデンサ内蔵配線基板では、コンデンサ部の側面に基板の割れに至るような破壊源となる欠陥や、吸水して絶縁劣化を引き起こすような大きな欠陥を発生することは殆どなく、信頼性を向上させることができる。   As described above, in the wiring board with a built-in capacitor according to the present invention, there is almost no occurrence of a defect that causes a breakage of the board on the side surface of the capacitor part or a large defect that causes water absorption to cause insulation deterioration. , Reliability can be improved.

以下、本発明について添付図面に基づき詳細に説明する。図1は本発明のコンデンサ内蔵配線基板の実施の形態の一例を示す断面図であり、同図に示すコンデンサ内蔵配線基板1は、ガラスセラミックスからなる絶縁層2a,2b,2cからなる絶縁基体2、第1のコンデンサ部電極3a、第2のコンデンサ部電極3b、第3のコンデンサ部電極3c、第4のコンデンサ部電極3d、第1の誘電体層4a、第2の誘電体層4b、第3の誘電体層4c、第1のバリア層7a及び第2のバリア層7bからなるコンデンサ部8、配線導体5、貫通導体6、から基本的に構成されている。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of an embodiment of a wiring board with a built-in capacitor according to the present invention. A wiring board with a built-in capacitor 1 shown in FIG. 1 is an insulating substrate 2 made of insulating layers 2a, 2b and 2c made of glass ceramics. , First capacitor part electrode 3a, second capacitor part electrode 3b, third capacitor part electrode 3c, fourth capacitor part electrode 3d, first dielectric layer 4a, second dielectric layer 4b, 3 is basically composed of a capacitor portion 8 comprising a dielectric layer 4c, a first barrier layer 7a and a second barrier layer 7b, a wiring conductor 5, and a through conductor 6.

かかるコンデンサ内蔵配線基板1は、ガラスセラミック焼結体から成り、ガラスと絶縁体粉末とから成る。このガラスとしては、例えばSiO−B系,SiO−B−Al系,SiO−B−Al−MO系(但し、MはCa,Sr,Mg,BaまたはZnを示す),SiO−Al−MO−MO系(但し、MおよびMは同じまたは異なっていて、Ca,Sr,Mg,BaまたはZnを示す),SiO−B−Al−MO−MO系(但し、MおよびMは上記と同じである),SiO−B−M O系(但し、MはLi,NaまたはKを示す),SiO−B−Al−M O系(但し、Mは上記と同じである),Pb系ガラス,Bi系ガラス等が挙げられる。 The capacitor built-in wiring board 1 is made of a glass ceramic sintered body, and is made of glass and insulator powder. Examples of the glass include SiO 2 —B 2 O 3 system, SiO 2 —B 2 O 3 —Al 2 O 3 system, SiO 2 —B 2 O 3 —Al 2 O 3 —MO system (where M is Ca , Sr, Mg, Ba or Zn), SiO 2 —Al 2 O 3 —M 1 O—M 2 O system (where M 1 and M 2 are the same or different, and Ca, Sr, Mg, Ba) Or Zn), SiO 2 —B 2 O 3 —Al 2 O 3 —M 1 O—M 2 O (where M 1 and M 2 are the same as above), SiO 2 —B 2 O 3 -M 3 2 O system (where M 3 represents Li, Na or K), SiO 2 -B 2 O 3 -Al 2 O 3 -M 3 2 O system (where M 3 is the same as above) ), Pb glass, Bi glass and the like.

また、絶縁体粉末としては、例えばAl,SiO,ZrOとアルカリ土類金属酸化物との複合酸化物,TiOとアルカリ土類金属酸化物との複合酸化物,AlおよびSiOから選ばれる少なくとも1種を含む複合酸化物(例えばスピネル,ムライト,コージェライト)等が挙げられる。 Examples of the insulator powder include a composite oxide of Al 2 O 3 , SiO 2 , ZrO 2 and an alkaline earth metal oxide, a composite oxide of TiO 2 and an alkaline earth metal oxide, Al 2 O. And composite oxides containing at least one selected from 3 and SiO 2 (for example, spinel, mullite, cordierite) and the like.

ガラス粉末と絶縁体粉末とを混合する場合、その混合割合は質量比で40:60〜99:1であることが好ましい。   When glass powder and insulator powder are mixed, the mixing ratio is preferably 40:60 to 99: 1 by mass ratio.

なお、絶縁層2a,2b,2cの前駆体であるガラスセラミックグリーンシート(グリーンシート)は、ガラス粉末,絶縁体粉末,樹脂バインダ,有機溶剤および可塑剤等を混合してスラリーを作製し、そのスラリーを用いて従来周知のドクターブレード法やカレンダロール法を採用することによって成形される。   The glass ceramic green sheet (green sheet) that is the precursor of the insulating layers 2a, 2b, and 2c is a slurry prepared by mixing glass powder, insulator powder, resin binder, organic solvent, plasticizer, and the like. The slurry is formed by employing a conventionally known doctor blade method or calendar roll method.

また、ガラス粉末および絶縁体粉末に添加混合される樹脂バインダとしては、従来よりセラミックグリーンシートに使用されているものが使用でき、例えばアクリル系(アクリル酸,メタクリル酸またはそれらのエステルの単独重合体または共重合体、具体的にはアクリル酸エステル共重合体,メタクリル酸エステル共重合体,アクリル酸エステル−メタクリル酸エステル共重合体等),ポリビニルブチラ−ル系,ポリビニルアルコール系,アクリル−スチレン系,ポリプロピレンカーボネート系,セルロース系等の単独重合体または共重合体が挙げられる。   Further, as the resin binder added and mixed with the glass powder and the insulator powder, those conventionally used for ceramic green sheets can be used. For example, acrylic (acrylic acid, methacrylic acid or esters thereof homopolymers) Or a copolymer, specifically an acrylic ester copolymer, a methacrylic ester copolymer, an acrylic ester-methacrylic ester copolymer, etc.), polyvinyl butyral, polyvinyl alcohol, acrylic-styrene And homopolymers or copolymers of polypropylene, polypropylene carbonate, cellulose and the like.

グリーンシートを成形するためのスラリーに用いられる有機溶剤としては、ガラス粉末と絶縁体粉末と樹脂バインダとを分散させ、グリーンシートの成形に適した粘度のスラリーが得られるように、例えば炭化水素類,エーテル類,エステル類,ケトン類,アルコール類等の有機溶剤が挙げられる。   Examples of the organic solvent used in the slurry for forming the green sheet include hydrocarbons so that a slurry having a viscosity suitable for forming the green sheet can be obtained by dispersing the glass powder, the insulator powder, and the resin binder. Organic solvents such as ethers, esters, ketones, and alcohols.

このようなグリーンシートに、打ち抜き金型やレーザ等により貫通孔を形成し、この貫通孔にタングステン,モリブデン,金,銀,銅等の金属粉末に収縮調整用のガラス粉末を加え、適当な樹脂バインダ,溶剤を添加混合した貫通導体用ペーストをスクリーン印刷等により充填して貫通導体6を形成する。ガラス粉末としては、例えばSiO−B系,SiO−B−Al系ガラス等が挙げられる。 A through hole is formed in such a green sheet by a punching die or a laser, and a glass powder for shrinkage adjustment is added to a metal powder such as tungsten, molybdenum, gold, silver, copper, etc. in this through hole, and an appropriate resin is added. The through conductor 6 is formed by filling a paste for through conductor mixed with a binder and a solvent by screen printing or the like. As the glass powder, for example, SiO 2 -B 2 O 3 based, SiO 2 -B 2 O 3 -Al 2 O 3 system glass.

その後、得られたグリーンシートの表面に、タングステン,モリブデン,金,銀,銅等の金属粉末に適当な樹脂バインダ,溶剤を添加混合した配線導体用ペーストをスクリーン印刷法等により塗布印刷し、回路配線となる配線導体5と第1のコンデンサ部電極3aを形成する。   After that, on the surface of the obtained green sheet, a wiring conductor paste in which an appropriate resin binder and solvent are added to and mixed with metal powders such as tungsten, molybdenum, gold, silver, and copper is applied and printed by a screen printing method, etc. A wiring conductor 5 to be a wiring and a first capacitor part electrode 3a are formed.

次に、焼成後の第1の誘電体層4aとなる誘電体ペーストについて説明する。誘電体ペーストに用いられる誘電体粉末としては、コンデンサ内蔵配線基板1に内蔵されるコンデンサ部8の誘電体層4が形成されるように絶縁層2a,2b,2cとの同時焼成が可能で、絶縁層2a,2b,2cとなる絶縁体粉末よりも高い誘電率を有するものがよい。例えば、誘電体粉末としては、チタン酸バリウム,チタン酸ストロンチウム,ジルコン酸バリウム,酸化チタン等の高誘電率のものが良い。好ましくは、絶縁層1と同時焼成が可能で誘電率の値が絶縁基体の100倍以上を示す誘電体材料を使用する。例えば、絶縁層1が比誘電率10程度のSiO−MgO−CaO系結晶化ガラスとアルミナの混合物から成る場合、内層誘電体層2はBaTiO(比誘電率1000),鉛系複合ペロブスカイト(PMN:Pb(Mg,Nb)O,PZN:Pb(Zn,Nb)O,PMW:Pb(Mg,W)O等)(比誘電率3000以上)により形成することができる。 Next, the dielectric paste that becomes the first dielectric layer 4a after firing will be described. The dielectric powder used for the dielectric paste can be fired simultaneously with the insulating layers 2a, 2b, and 2c so that the dielectric layer 4 of the capacitor unit 8 built in the capacitor built-in wiring board 1 is formed. What has a dielectric constant higher than the insulator powder used as the insulating layers 2a, 2b, and 2c is good. For example, a dielectric powder having a high dielectric constant such as barium titanate, strontium titanate, barium zirconate, or titanium oxide is preferable. Preferably, a dielectric material that can be fired simultaneously with the insulating layer 1 and that has a dielectric constant 100 times or more that of the insulating substrate is used. For example, when the insulating layer 1 is made of a mixture of SiO 2 —MgO—CaO-based crystallized glass having a relative dielectric constant of about 10 and alumina, the inner dielectric layer 2 is made of BaTiO 3 (relative dielectric constant 1000), lead-based composite perovskite ( PMN: Pb (Mg, Nb) O 3 , PZN: Pb (Zn, Nb) O 3 , PMW: Pb (Mg, W) O 3, etc.) (relative dielectric constant 3000 or more).

このような誘電体層4aの前駆体である誘電体ペーストは、誘電体粉末と焼結助剤となるガラスや金属酸化物と、樹脂バインダ,有機溶剤,可塑剤等とを混合してペーストとし、このペーストを用いて従来周知のスクリーン印刷法を採用することによって印刷する。   Such a dielectric paste as a precursor of the dielectric layer 4a is obtained by mixing dielectric powder, glass or metal oxide serving as a sintering aid, a resin binder, an organic solvent, a plasticizer, and the like. The paste is used for printing by adopting a conventionally known screen printing method.

また、この誘電体ペーストに用いられる樹脂バインダ,有機溶剤としては、ガラスセラミックス焼結体から成る絶縁層2a,2b,2cとの同時焼成が可能であれば特に制限されるものではなく、例えばグリーンシートに配合される樹脂バインダ,有機溶剤と同様のものが使用可能である。   The resin binder and organic solvent used in the dielectric paste are not particularly limited as long as they can be fired simultaneously with the insulating layers 2a, 2b, and 2c made of a glass ceramic sintered body. The same resin binder and organic solvent blended in the sheet can be used.

ここで、絶縁層2a、2bと接するコンデンサ部8の側面の少なくとも一部を絶縁層2a,2b,2cの積層方向に対して傾斜させておくことが重要である。コンデンサ部8の側面ではコンデンサ部の厚みが薄くなり、コンデンサ部8がブロック体の場合に見られる積層工程の際に加圧されない積層方向と平行な側面が小さくなる。すなわち、上下面に印加される圧力がコンデンサ部8の傾斜した側面に伝わり、絶縁層2b、2cとコンデンサ部8の傾斜した側面とが強固に接合し、絶縁層2b、2cとコンデンサ部8の側面との間に発生する積層加圧不足によって隙間が発生するのを有効に防止することができる。   Here, it is important that at least a part of the side surface of the capacitor portion 8 in contact with the insulating layers 2a and 2b is inclined with respect to the stacking direction of the insulating layers 2a, 2b and 2c. On the side surface of the capacitor portion 8, the thickness of the capacitor portion is reduced, and the side surface parallel to the stacking direction that is not pressurized during the stacking process seen when the capacitor portion 8 is a block body is reduced. That is, the pressure applied to the upper and lower surfaces is transmitted to the inclined side surfaces of the capacitor unit 8, the insulating layers 2 b and 2 c and the inclined side surfaces of the capacitor unit 8 are firmly bonded, and the insulating layers 2 b and 2 c are connected to the capacitor unit 8. It is possible to effectively prevent a gap from being generated due to insufficient lamination pressure generated between the side surfaces.

またこの場合、圧力が加わらないコンデンサ部8の積層方向と平行な側面の面積を極力小さくすることができるので、絶縁層2b、2cとコンデンサ部8との間に隙間が発生した場合においても、この隙間は微小であり、吸水して絶縁劣化を起こしたり基板を破壊する破壊源となったりすることはない。   Further, in this case, since the area of the side surface parallel to the stacking direction of the capacitor part 8 to which no pressure is applied can be minimized, even when a gap is generated between the insulating layers 2b and 2c and the capacitor part 8, The gap is minute and does not absorb water to cause insulation deterioration or a breakdown source that breaks the substrate.

更に、コンデンサ部8は、コンデンサ部8の面方向の中心から端部に向かうにつれてコンデンサ部の体積は減少する形になっているので、焼成工程の昇温時に発生するコンデンサ部8の端部から中心に向かう収縮力は端部に近づくにつれ低下する。コンデンサ部8の収縮率は、通常、絶縁基体となるガラスセラミックよりも大きいために、コンデンサ部8より収縮しようとしてガラスセラミックとコンデンサ部の接合が弱い場合は境界面に剥離が生じ、接合が強い場合は側面の近傍にクラックが入る。コンデンサ内蔵配線基板に内蔵されるコンデンサ部8の形状は、通常、幅が0.5mm〜5mmの正方形、長方形、及び円形で、高さが10〜200μmと平たいために、この傾向はコンデンサ部8の端部で著しい。しかし中央部から端部にむかうにつれてコンデンサ部8の体積を減少させることによって、実質的に面方向の中心から端部に向かってコンデンサ部8からガラスセラミックスへ傾斜的に材料特性が変化するものと同じ効果を示し、同時にコンデンサ部8とガラスセラミックスの界面では材料間の相互拡散が行われるため、急激に材料特性の異なる境界が存在しなくなる。このため、面方向の中心から端部に向かってコンデンサ部8の収縮率からガラスセラミックの収縮率へと段階的に変化するために、熱膨張率が大幅に異なる界面が存在しない。したがって、ガラスセラミックよりも収縮率が大きいコンデンサ部が大きく収縮してガラスセラミックスとコンデンサ部の側面に剥離やクラック等の欠陥を生じるといった不具合が発生することはない。   Furthermore, since the volume of the capacitor part 8 decreases in the capacitor part 8 from the center in the surface direction of the capacitor part 8 toward the end part, from the end part of the capacitor part 8 that is generated when the temperature rises in the firing process. The contraction force toward the center decreases as it approaches the end. Since the shrinkage rate of the capacitor part 8 is usually larger than that of the glass ceramic serving as an insulating base, if the glass ceramic and the capacitor part are weakly joined to shrink than the capacitor part 8, the boundary surface is peeled off and the joint is strong. In this case, a crack is generated near the side surface. The shape of the capacitor part 8 built in the wiring board with built-in capacitor is usually a square, a rectangle and a circle with a width of 0.5 mm to 5 mm, and the height is flat with 10 to 200 μm. Remarkable at the edge of the. However, by reducing the volume of the capacitor portion 8 from the center portion toward the end portion, the material characteristics change from the capacitor portion 8 to the glass ceramic in an inclined manner from the center in the surface direction toward the end portion. The same effect is exhibited, and at the same time, interdiffusion between materials is performed at the interface between the capacitor portion 8 and the glass ceramic, so that a boundary having different material characteristics does not exist rapidly. For this reason, since the shrinkage rate of the capacitor portion 8 gradually changes from the center in the surface direction toward the end portion, the shrinkage rate of the glass ceramic does not exist. Therefore, the capacitor portion having a larger shrinkage rate than the glass ceramic does not shrink so much that defects such as peeling and cracking occur on the side surfaces of the glass ceramic and the capacitor portion.

また、本発明においては、コンデンサ部8の側面を、上部領域及び下部領域で中央域よりも内側に位置するように傾斜させておくことが好ましい。この場合、コンデンサ部8は断面構造が全体として凸レンズのような形状となり、コンデンサ部8の容量を決定する中央の誘電体層4bを、コンデンサ部8の測面の先端まで伸ばすことによって、面積を広くとることができる。このため、限られた面積の中に、容量の大きいコンデンサ部8を形成することができる。またコンデンサ部8の積層構造を上下対称にすることによって、コンデンサ部8を構成する第1のコンデンサ部電極3a、第2のコンデンサ部電極3b、第3のコンデンサ部電極3c、第4のコンデンサ部電極4d、及び第1の誘電体層4a、第2の誘電体層4b、第3の誘電体層4c及び第1のバリア層7a、第2の7dの各層における収縮率の違いによってコンデンサ部8が反ってしまい、各誘電体層に残留応力を残したり、激しい場合は各誘電体層にクラックが生じたりすることがなく、各誘電体層の良好な絶縁性を保つことができる。   Further, in the present invention, it is preferable that the side surface of the capacitor portion 8 is inclined so as to be located inside the central region in the upper region and the lower region. In this case, the capacitor section 8 has a cross-sectional structure as a whole as a convex lens, and the central dielectric layer 4b that determines the capacitance of the capacitor section 8 is extended to the front end of the surface of the capacitor section 8 to increase the area. Can be taken widely. For this reason, the capacitor | condenser part 8 with a large capacity | capacitance can be formed in a limited area. Further, by making the laminated structure of the capacitor portion 8 vertically symmetric, the first capacitor portion electrode 3a, the second capacitor portion electrode 3b, the third capacitor portion electrode 3c, and the fourth capacitor portion constituting the capacitor portion 8 are formed. Capacitor portion 8 depends on the contraction rate of each of electrode 4d, first dielectric layer 4a, second dielectric layer 4b, third dielectric layer 4c, first barrier layer 7a, and second 7d. Therefore, the residual stress is not left in each dielectric layer, and if it is severe, cracks are not generated in each dielectric layer, and good insulation of each dielectric layer can be maintained.

また本発明においては、コンデンサ部8の側面の傾斜角度を絶縁層2a、2b、2cの主面に対し45°以下に設定しておくことが好ましい。傾斜角度が45°以下であるため、上下面に印加される圧力はコンデンサ部8の傾斜した側面に十分に伝わり、絶縁層2b、2cとコンデンサ部8の側面と強固に接合し、絶縁層2b、2cコンデンサ部8との間に発生する積層加圧不足による隙間が発生するのを有効に防止することができる。また、圧力が加わらないコンデンサ部8の側面の積層方向と平行な面積が、端部の断面形状が鋭角であるために極力小さくなるので、隙間が発生した場合においても、この隙間は微小であり、基板を破壊する破壊源となったり吸水して絶縁劣化を起こしたりする可能性が一層少なくなる。   In the present invention, the inclination angle of the side surface of the capacitor portion 8 is preferably set to 45 ° or less with respect to the main surfaces of the insulating layers 2a, 2b, and 2c. Since the inclination angle is 45 ° or less, the pressure applied to the upper and lower surfaces is sufficiently transmitted to the inclined side surfaces of the capacitor portion 8, and is firmly bonded to the insulating layers 2 b and 2 c and the side surfaces of the capacitor portion 8. It is possible to effectively prevent the occurrence of a gap due to insufficient lamination pressure generated between the 2c capacitor unit 8. In addition, since the area parallel to the stacking direction of the side surface of the capacitor portion 8 where no pressure is applied becomes as small as possible because the cross-sectional shape of the end portion is an acute angle, this gap is very small even when a gap occurs. The possibility of becoming a source of destruction for destroying the substrate or causing insulation deterioration due to water absorption is further reduced.

更に、コンデンサ部8は面方向の中心から端部にむかうにつれてコンデンサ部8の体積を減少させることによって、面方向ではコンデンサ部8とガラスセラミックへの傾斜材料の効果が一層増し、また材料間の相互拡散もなだらかに行われるので、コンデンサ部8の収縮率からガラスセラミックの収縮率へと緩やかに変化し、ガラスセラミックスとコンデンサ部8の側面に、収縮率の違いによる剥離やクラック等の欠陥が発生する危険性をより低減することができる。   Further, by reducing the volume of the capacitor unit 8 from the center in the plane direction toward the end, the effect of the gradient material on the capacitor unit 8 and the glass ceramic is further increased in the plane direction. Interdiffusion is also performed gently, so that it gradually changes from the shrinkage rate of the capacitor portion 8 to the shrinkage rate of the glass ceramic, and there are defects such as peeling and cracks due to the difference in shrinkage rate on the side surfaces of the glass ceramic and the capacitor portion 8. The risk of occurring can be further reduced.

このように、本発明においては、コンデンサ部8の側面に基板の割れに至るような破壊源となる欠陥や、吸水して絶縁劣化を引き起こすような大きな欠陥が発生することは殆どなく、高い信頼性を確保することができる。   As described above, in the present invention, there is almost no occurrence of a defect that causes a breakage of the substrate on the side surface of the capacitor portion 8 or a large defect that causes water absorption to cause insulation deterioration. Sex can be secured.

ここで、コンデンサ部8の側面を絶縁層2a、2b、2cの積層方向に対して傾斜させる方法としては、例えば図1のような構造の場合、コンデンサ部8の最下部に位置する第1のコンデンサ部電極3aのパターンに対しその上に印刷される第1の誘電体層4aのパターンを全周にわたって小さくしたものを、パターンの中心が一致するように配置して印刷し、50kg/cmの圧力で加圧して側面の段差を少なくする。更にその上に印刷される第2のコンデンサ部電極3bは、第1の誘電体層4aのパターンに対し全周にわたって小さくしたものをパターンの中心が一致するように配置して印刷し、50kg/cmの圧力で加圧して側面の段差を少なくする。同様に第2の誘電体層4b、第3の電極層3c、第3の誘電体層4c、第4の電極層3dも順次この工程を繰り返すことで形成することができる。 Here, as a method of inclining the side surface of the capacitor unit 8 with respect to the stacking direction of the insulating layers 2a, 2b, and 2c, for example, in the case of the structure shown in FIG. The pattern of the first dielectric layer 4a printed thereon is reduced with respect to the pattern of the capacitor part electrode 3a, and the printed pattern is placed so that the centers of the patterns coincide with each other, and printed at 50 kg / cm 2. To reduce the step on the side. Further, the second capacitor portion electrode 3b printed thereon is printed by arranging a smaller one over the entire circumference of the pattern of the first dielectric layer 4a so that the center of the pattern matches, and printing 50 kg / Pressurize with a pressure of cm 2 to reduce the step on the side. Similarly, the second dielectric layer 4b, the third electrode layer 3c, the third dielectric layer 4c, and the fourth electrode layer 3d can be formed by sequentially repeating this process.

また、パターンの寸法を、印刷するペーストの厚みと同じ値にすることによって、45°以下の傾斜を形成することができる。   Further, by setting the pattern dimension to the same value as the thickness of the paste to be printed, an inclination of 45 ° or less can be formed.

次に上記のようにして作製した複数のグリーンシートを50kg/cmの圧力で積層し、一辺が5cmの正方形にカッターで切断し、グリーンシートの積層体を作製する。 Next, a plurality of green sheets produced as described above are laminated at a pressure of 50 kg / cm 2 and cut into a square having a side of 5 cm with a cutter to produce a laminate of green sheets.

このグリーンシートの積層体を、例えば配線導体用ペーストの金属粉末がAg粉末である場合、大気中で800〜1000℃の温度で積層体を焼成することにより、製品としてのコンデンサ内蔵配線基板1が得られる。   For example, when the metal powder of the wiring conductor paste is an Ag powder, the laminated sheet of the green sheet is fired at a temperature of 800 to 1000 ° C. in the atmosphere, whereby the wiring board 1 with a built-in capacitor as a product is obtained. can get.

なお、積層体を焼成する際に、グリーンシートや誘電体グリーンシートが焼結する温度では実質的に焼結収縮しない無機成分、例えばアルミナから成る拘束グリーンシートを積層体の両面に積層して焼成すると、厚み方向の焼成収縮が通常の方法で焼成した場合に比較して大きくなるので、第1の誘電体層4a、第2の誘電体層4b、第3の誘電体層4cの厚みをより薄くすることが可能となり、容量の大きなコンデンサ部8を得ることができる上に、厚み方向のみ収縮するためコンデンサ部8の側面の傾斜角度を絶縁層2a,2b,2cの主面に対しより一層小さくすることができ、コンデンサ部8の側面に発生する欠陥の数を低減して、信頼性の高いコンデンサ内蔵配線基板を得ることができる。   When firing the laminate, a constrained green sheet composed of an inorganic component, such as alumina, that does not substantially sinter and shrink at the temperature at which the green sheet or dielectric green sheet sinters is laminated on both sides of the laminate and fired. Then, since the firing shrinkage in the thickness direction becomes larger than when fired by a normal method, the thicknesses of the first dielectric layer 4a, the second dielectric layer 4b, and the third dielectric layer 4c are further increased. It is possible to reduce the thickness of the capacitor portion 8 and to obtain the capacitor portion 8 having a large capacity. Further, since the capacitor portion 8 contracts only in the thickness direction, the inclination angle of the side surface of the capacitor portion 8 is further increased with respect to the main surfaces of the insulating layers 2a, 2b, 2c. The number of defects generated on the side surface of the capacitor portion 8 can be reduced, and a highly reliable wiring board with a built-in capacitor can be obtained.

さらに、コンデンサ内蔵配線基板1表面に位置する配線導体5には、その表面に電子部品や半導体素子を実装する際の半田濡れ性の向上や配線導体5の腐食防止のために、ニッケル,銅,金等のめっきを施してもよい。   Furthermore, the wiring conductor 5 located on the surface of the wiring board 1 with a built-in capacitor is made of nickel, copper, or the like in order to improve solder wettability and prevent corrosion of the wiring conductor 5 when mounting electronic components or semiconductor elements on the surface. Gold or other plating may be applied.

次に本発明の実施例について説明する。   Next, examples of the present invention will be described.

絶縁層2a〜2cとなるグリーンシートを得るために、ガラスとしてSiO−CaO−MgO系ガラス粉末50質量部と、誘電体粉末としてAl粉末50質量部とを混合し、この無機粉末100質量部に有機バインダとしてアクリル樹脂12質量部・フタル酸系可塑剤6質量部および溶剤としてトルエン30質量部を加え、ボールミル法により混合しスラリーとし、このスラリーを用いてドクターブレード法により厚さ200μmのグリーンシートを成形した。 In order to obtain a green sheet to be the insulating layers 2a to 2c, 50 parts by mass of SiO 2 —CaO—MgO-based glass powder as glass and 50 parts by mass of Al 2 O 3 powder as dielectric powder are mixed, and this inorganic powder Add 100 parts by weight of acrylic resin as organic binder, 12 parts by weight of acrylic resin, 6 parts by weight of phthalic plasticizer and 30 parts by weight of toluene as solvent, mix by ball mill method to make slurry, and use this slurry to thicken by doctor blade method A 200 μm green sheet was formed.

次に、得られたグリーンシートにパンチングマシーンを用いて所定の位置に貫通孔を形成し、この貫通孔にスクリーン印刷法にて貫通導体用ペーストを充填し、貫通導体6を形成した。   Next, a through hole was formed at a predetermined position in the obtained green sheet using a punching machine, and a through conductor paste was filled in the through hole by a screen printing method to form a through conductor 6.

貫通導体用ペーストとしては、銅の粉末(平均粒径3μm)100質量部に対してAl粉末1質量部および上記のガラスと同組成のガラス粉末5質量部を加え、さらにビヒクル成分として所定量のエチルセルロース系樹脂およびテルピネオールを加えて、3本ロールにより適度な粘度になるように混合したものを用いた。 As a paste for through conductors, 1 part by mass of Al 2 O 3 powder and 5 parts by mass of glass powder having the same composition as the above glass are added to 100 parts by mass of copper powder (average particle size 3 μm), and further as a vehicle component A predetermined amount of ethylcellulose-based resin and terpineol were added and mixed with three rolls so as to have an appropriate viscosity.

その後、充填した貫通導体用ペースト中の有機溶剤分の重量が減少するまで、60℃の温風により乾燥した。   Then, it dried with 60 degreeC warm air until the weight of the organic solvent part in the filled paste for penetration conductors decreased.

次に、グリーンシート上に、配線導体用ペーストをスクリーン印刷により塗布し、厚み15μmの配線導体5や第1のコンデンサ部電極3aを形成した。   Next, a wiring conductor paste was applied on the green sheet by screen printing to form a wiring conductor 5 having a thickness of 15 μm and a first capacitor portion electrode 3a.

配線導体用ペーストとしては、銅の粉末(平均粒径3μm)100質量部に対してAl粉末1質量部および上記のガラスと同組成のガラス粉末2質量部を加え、さらにビヒクル成分として所定量のエチルセルロース系樹脂およびテルピネオールを加えて、3本ロールにより適度な粘度になるように混合したものを用いた。 As a paste for wiring conductor, 1 part by mass of Al 2 O 3 powder and 2 parts by mass of glass powder having the same composition as the above glass are added to 100 parts by mass of copper powder (average particle size 3 μm), and further as a vehicle component A predetermined amount of ethylcellulose-based resin and terpineol were added and mixed with three rolls so as to have an appropriate viscosity.

その後、印刷した配線導体用ペースト中の有機溶剤分の重量が減少するまで、60℃の温風により乾燥した。   Then, it dried with 60 degreeC warm air until the weight of the organic solvent content in the printed wiring conductor paste decreased.

続いて、グリーンシート上に形成された第1のコンデンサ部電極3aパターン上に、誘電体ペーストをスクリーン印刷により塗布し、厚み25μmの下部の第1の誘電体層4aを形成した。   Subsequently, a dielectric paste was applied by screen printing on the first capacitor part electrode 3a pattern formed on the green sheet, thereby forming a lower first dielectric layer 4a having a thickness of 25 μm.

誘電体ペーストはガラスとBaTiOとから成り、ガラスとBaTiO粉末との和を100質量部とし、これに対して、アクリル樹脂12質量部と、リン酸エステル系分散剤0.5質量部と、有機溶剤としてα−テルピネオールとを加え、攪拌脱泡機により混合した後に、さらに3本ロールを用いて混練した。 The dielectric paste is made of glass and BaTiO 3 , and the sum of the glass and BaTiO 3 powder is 100 parts by mass. On the other hand, 12 parts by mass of the acrylic resin, 0.5 parts by mass of the phosphate ester dispersant, Then, α-terpineol was added as an organic solvent, mixed with a stirring deaerator, and then kneaded using three rolls.

その後、印刷した誘電体用ペースト中の有機溶剤分の重量が減少するまで、60℃の温風により乾燥した。   Thereafter, drying was performed with hot air at 60 ° C. until the weight of the organic solvent in the printed dielectric paste decreased.

次に、グリーンシート上に形成された第1の誘電体層4aパターン上に、再び配線導体用ペーストをスクリーン印刷により塗布し、厚み15μmの中央部の第2のコンデンサ部電極3bを形成した。   Next, the wiring conductor paste was again applied by screen printing on the first dielectric layer 4a pattern formed on the green sheet, and the second capacitor part electrode 3b having a thickness of 15 μm was formed.

その後、印刷した配線導体用ペースト中の有機溶剤分の重量が減少するまで、60℃の温風により乾燥した。   Then, it dried with 60 degreeC warm air until the weight of the organic solvent content in the printed wiring conductor paste decreased.

更に、上記の方法で、第2の誘電体層4b、第3のコンデンサ部電極3c、第3の誘電体層4c、第4のコンデンサ部電極3dを形成した。第1のコンデンサ部電極3aと第3のコンデンサ部電極3cを、及び第2のコンデンサ部電極4bと第4のコンデンサ部電極4dとをそれぞれ電気的に接続して、最終的にコンデンサ部電極が4層、誘電体層が3層の計7層構造の多層セラミックコンデンサとなるコンデンサ部8を形成した。   Further, the second dielectric layer 4b, the third capacitor part electrode 3c, the third dielectric layer 4c, and the fourth capacitor part electrode 3d were formed by the above method. The first capacitor part electrode 3a and the third capacitor part electrode 3c, and the second capacitor part electrode 4b and the fourth capacitor part electrode 4d are electrically connected to each other. Capacitor portion 8 to be a multilayer ceramic capacitor having a total of 7 layers, 4 layers and 3 dielectric layers, was formed.

ここでサンプルNo.1は、コンデンサ部8のパターンを、最下部のコンデンサ部電極4aから最上部のコンデンサ部電極4dまでをほぼ同一な1辺が1mmの正方形とした。このためコンデンサ部側面の上部領域の傾斜角度と下部領域の傾斜角度が絶縁層2a,2b,2cの主面に対していずれも90°となった。従来の方法であり断面構造を図7に示す。   Here, in sample No. 1, the pattern of the capacitor portion 8 is a square having a side of 1 mm that is substantially the same from the lowermost capacitor portion electrode 4a to the uppermost capacitor portion electrode 4d. For this reason, the inclination angle of the upper region and the inclination angle of the lower region on the side surface of the capacitor portion are all 90 ° with respect to the main surfaces of the insulating layers 2a, 2b, 2c. FIG. 7 shows a cross-sectional structure of a conventional method.

またサンプルNo.2は、コンデンサ部8のパターンを最下部のコンデンサ部電極3aの面積を1mmの正方形とし、最上部のコンデンサ部電極3dまでを順次、全週にわたって15μm小さくし、加圧、積層することで層間の段差を抑えて滑らかにし、コンデンサ部8の側面の上部領域の傾斜角度を絶縁層2a,2b,2cの主面に対して60°とした。断面構造を図1に示す。   In sample No. 2, the pattern of the capacitor portion 8 is a square with the area of the lowermost capacitor portion electrode 3a being 1 mm, and the uppermost capacitor portion electrode 3d is sequentially reduced by 15 μm over the entire week, and is pressed and laminated. Thus, the step between the layers is suppressed and smoothed, and the inclination angle of the upper region of the side surface of the capacitor portion 8 is set to 60 ° with respect to the main surfaces of the insulating layers 2a, 2b, and 2c. A cross-sectional structure is shown in FIG.

またサンプルNo.3は、コンデンサ部8のパターンを、中心の第2の誘電体層4bの面積を1mmの正方形とし、最上部のコンデンサ部電極3dと最下部のコンデンサ部電極3aまでを順次、全週にわたって15μm小さくし、加圧、積層することで層間の段差を抑えて滑らかにし、コンデンサ部8の側面の上部領域と下部領域の傾斜角度を絶縁層2a,2b,2cの主面に対していずれも60°とした。断面構造を図3に示す。   In sample No. 3, the pattern of the capacitor portion 8 is a square with a center area of the second dielectric layer 4b of 1 mm, and the uppermost capacitor portion electrode 3d and the lowermost capacitor portion electrode 3a are sequentially formed. Reduced by 15 μm over the whole week, and smoothed by suppressing the step between the layers by pressing and laminating, and the inclination angle of the upper region and the lower region of the side surface of the capacitor portion 8 with respect to the main surface of the insulating layers 2a, 2b, 2c The angle was 60 °. A cross-sectional structure is shown in FIG.

またサンプルNo.4は、コンデンサ部8のパターンを最下部の電極層3aの面積を1mmの正方形とし、最上部のコンデンサ部電極3dまでを順次、全週にわたって25μm小さくし、加圧、積層することで層間の段差を抑えて滑らかにし、コンデンサ部8の側面の上部領域の傾斜角度を絶縁層2a,2b,2cの主面に対して45°とした。断面構造を図1と図5に示す。   In sample No. 4, the pattern of the capacitor portion 8 is a square having a bottom electrode layer 3a area of 1 mm, and the top capacitor portion electrode 3d is successively reduced by 25 μm over the entire week, and is pressed and laminated. Thus, the step between the layers is suppressed and smoothed, and the inclination angle of the upper region of the side surface of the capacitor portion 8 is set to 45 ° with respect to the main surfaces of the insulating layers 2a, 2b, and 2c. A cross-sectional structure is shown in FIGS.

またサンプルNo5は、コンデンサ部8のパターンを、中心の第2の誘電体層4bの面積を1mmの正方形とし、最上部のコンデンサ部電極3dと最下部のコンデンサ部電極3aまでを順次、全週にわたって15μm小さくし、加圧、積層することで層間の段差を抑えて滑らかにし、コンデンサ部8の側面の上部領域と下部領域の傾斜角度を絶縁層2a,2b,2cの主面に対していずれも45°とした。断面構造を図3と図6に示す。   Sample No. 5 has a pattern of the capacitor portion 8 in which the area of the second dielectric layer 4b in the center is a square of 1 mm, and the uppermost capacitor portion electrode 3d and the lowermost capacitor portion electrode 3a are sequentially arranged all weekly. 15 μm over the surface, pressurizing and laminating to suppress the level difference between the layers and smooth the surface. Was also 45 °. A cross-sectional structure is shown in FIGS.

このようにして得られた複数のグリーンシートを50kg/cmの圧力で積層し、一辺が5cmの正方形にカッターで切断した後、500℃で3時間のバインダの燃焼行程と900℃で1時間のセラミックスの焼結工程とを含む窒素雰囲気中の焼成条件下で焼成し、ガラスおよびフィラーを含有するガラスセラミックス焼結体から成る絶縁基体2の内部に、チタン酸バリウムを主成分としガラスを含む第1の誘電体層4a、第2の誘電体層4b、第3の誘電体層4c、誘電体層4と金属粉末の焼結体から成る第1のコンデンサ部電極3a、第2のコンデンサ部電極3b、第3のコンデンサ部電極3c、第4のコンデンサ部電極3d、が交互に積層されて成るコンデンサ部8が設けられたコンデンサ内蔵配線基板1を得た。 The green sheets thus obtained were laminated at a pressure of 50 kg / cm 2 , cut into a square having a side of 5 cm with a cutter, and then the binder combustion process at 500 ° C. for 3 hours and 900 ° C. for 1 hour. The ceramic base is fired under a firing condition in a nitrogen atmosphere including a ceramic sintering step, and the inside of the insulating substrate 2 made of a glass ceramic sintered body containing glass and filler contains glass containing barium titanate as a main component. First dielectric layer 4a, second dielectric layer 4b, third dielectric layer 4c, first capacitor part electrode 3a made of sintered body of dielectric layer 4 and metal powder, second capacitor part The capacitor built-in wiring board 1 provided with the capacitor portion 8 in which the electrodes 3b, the third capacitor portion electrode 3c, and the fourth capacitor portion electrode 3d were alternately laminated was obtained.

このようにして得られたコンデンサ内蔵配線基板1に対して、コンデンサ部8の側面の欠陥を観察した。各サンプルのコンデンサ部8を切り出して樹脂に埋め込み、コンデンサ部8と絶縁層2a,2b,2cとの界面が露出した切断面を、ラップ研磨板によって回転研磨し、走査型顕微鏡にて1000倍で観察することによって行なった。欠陥なく良好に接合している場合は「○」、隙間やクラック等の欠陥が観察される場合は「×」とした。   A defect on the side surface of the capacitor portion 8 was observed on the wiring board 1 with a built-in capacitor thus obtained. The capacitor part 8 of each sample is cut out and embedded in a resin, and the cut surface where the interface between the capacitor part 8 and the insulating layers 2a, 2b, and 2c is exposed is rotationally polished with a lapping polishing plate, and is 1000 times with a scanning microscope. This was done by observing. In the case of good bonding without defects, “◯” was given, and in the case where defects such as gaps and cracks were observed, “X” was given.

また同様に、コンデンサ内蔵配線基板1に対して、絶縁耐圧を測定した。測定温度25℃の条件で、菊水電子工業株式会社製耐圧試験器(型式:TOS5101)を用いて測定し、コンデンサ部8に対し1V/分の昇圧速度で直流電圧を印加し、短絡した時点の電圧を測定し、N=20の最小値を測定した。絶縁耐圧は100V以上を合格とした。   Similarly, withstand voltage was measured for the capacitor built-in wiring board 1. Measured using a pressure tester (model: TOS5101) manufactured by Kikusui Electronics Co., Ltd. at a measurement temperature of 25 ° C., and a DC voltage was applied to the capacitor unit 8 at a boosting rate of 1 V / min. The voltage was measured and the minimum value of N = 20 was measured. The withstand voltage of 100V or more was considered acceptable.

これらの判定基準で容量低下率と容量ばらつきの2つの項目を満たすものには判定欄に「○」、もしくは「◎」、満たさないものは「×」とした。これらの測定結果を表1に示した。

Figure 2006156595
Those satisfying the two items of capacity reduction rate and capacity variation in these determination criteria are indicated with “◯” or “◎” in the determination column, and those not satisfying with “X”. These measurement results are shown in Table 1.
Figure 2006156595

表1によれば、本発明の請求項1にかかるコンデンサ内蔵配線基板であるNo.2は、コンデンサ部8の側面が傾斜しているために欠陥が観察されず、絶縁耐圧も100Vを超え良好な結果となった。   According to Table 1, No. 1 which is a wiring board with a built-in capacitor according to claim 1 of the present invention. In No. 2, since the side surface of the capacitor portion 8 was inclined, no defects were observed, and the dielectric breakdown voltage exceeded 100V, which was a good result.

また、本発明の請求項2にかかるコンデンサ内蔵配線基板であるNo.3はコンデンサ部8の側面が傾斜しているために欠陥が観察されず、また側面が上部領域及び下部領域で中央域よりも内側に位置するように傾斜しているので信頼性が更に向上して絶縁耐圧も165Vとなりより良好な結果となった。   A capacitor built-in wiring board according to claim 2 of the present invention is No. 2. No. 3 is not observed because the side surface of the capacitor portion 8 is inclined, and the reliability is further improved because the side surface is inclined so as to be located inside the central region in the upper region and the lower region. As a result, the withstand voltage was 165 V, which was a better result.

また、本発明の請求項3にかかるコンデンサ内蔵配線基板であるNo.4はコンデンサ部8の側面が45°に傾斜しているために欠陥が観察されず、絶縁耐圧も200Vを超え更に良好な結果となった。   A capacitor built-in wiring board according to claim 3 of the present invention is No. 1. In No. 4, since the side surface of the capacitor portion 8 was inclined at 45 °, no defects were observed, and the dielectric breakdown voltage exceeded 200V, which was a better result.

また、本発明の請求項3にかかるコンデンサ内蔵配線基板であるNo.5はコンデンサ部8の側面が45°に傾斜しているために欠陥が観察されず、また側面が上部領域及び下部領域で中央域よりも内側に位置するように傾斜しているので信頼性が更に向上して絶縁耐圧も240Vとなり非常に良好な結果となった。   A capacitor built-in wiring board according to claim 3 of the present invention is No. 1. Since the side surface of the capacitor portion 8 is inclined at 45 °, no defects are observed, and the side surface is inclined so that the side surface is located inside the central region in the upper region and the lower region. As a result of further improvement, the withstand voltage was 240 V, which was a very good result.

これに対して、従来の配線基板であるNo.1は、コンデンサ部8の端部に欠陥が観察され、絶縁耐圧も100Vを下回り良好な特性を示さなかった。   In contrast, No. 1 which is a conventional wiring board. In No. 1, defects were observed at the end of the capacitor portion 8, and the dielectric strength voltage was less than 100V and did not show good characteristics.

なお、本発明は上述の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内であれば種々の変更が可能である。例えば、上述の実施の形態では、配線導体5は配線導体用ペーストをグリーンシートに塗布することにより形成したが、配線導体5のパターン形状の銅等から成る金属箔を転写して形成してもよい。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention. For example, in the above-described embodiment, the wiring conductor 5 is formed by applying a wiring conductor paste to a green sheet. However, the wiring conductor 5 may be formed by transferring a metal foil made of copper or the like in the pattern shape of the wiring conductor 5. Good.

また、配線導体ペーストや誘電体ペーストの粉末成分の粒径や形状を調整し、コンデンサ部8と絶縁層2a,2b,2cとの接合をアンカー効果によってより強固なものにしても良い。   Further, the particle size and shape of the powder component of the wiring conductor paste or the dielectric paste may be adjusted, and the bonding between the capacitor portion 8 and the insulating layers 2a, 2b, 2c may be made stronger by the anchor effect.

本発明のコンデンサ内蔵配線基板の実施の形態の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of embodiment of the wiring board with a built-in capacitor | condenser of this invention. 本発明のコンデンサ内蔵配線基板の実施の形態の他の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other example of embodiment of the wiring board with a built-in capacitor of this invention. 本発明のコンデンサ内蔵配線基板の実施の形態の他の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other example of embodiment of the wiring board with a built-in capacitor of this invention. 本発明のコンデンサ内蔵配線基板の実施の形態の他の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other example of embodiment of the wiring board with a built-in capacitor of this invention. 本発明のコンデンサ内蔵配線基板の実施の形態の他の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other example of embodiment of the wiring board with a built-in capacitor of this invention. 本発明のコンデンサ内蔵配線基板の実施の形態の他の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other example of embodiment of the wiring board with a built-in capacitor of this invention. 従来のコンデンサ内蔵配線基板の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the conventional wiring board with a built-in capacitor.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・・・・・・・・コンデンサ内蔵配線基板
2・・・・・・・・・・絶縁基体
2a,2b,2c・・・絶縁層
3a・・・・・・・・・第1のコンデンサ部電極
3b・・・・・・・・・第2のコンデンサ部電極
3c・・・・・・・・・第3のコンデンサ部電極
3d・・・・・・・・・第4のコンデンサ部電極
4a・・・・・・・・・第1の誘電体層
4b・・・・・・・・・第2の誘電体層
4c・・・・・・・・・第3の誘電体層
5・・・・・・・・・・配線導体
6・・・・・・・・・・貫通導体
7a・・・・・・・・・第1のバリア層
7b・・・・・・・・・第2のバリア層
8・・・・・・・・・・コンデンサ部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Circuit board with built-in capacitor 2 ... Insulation base 2a, 2b, 2c ... Insulation layer 3a ... 1st Capacitor part electrode 3b... Second capacitor part electrode 3c... Third capacitor part electrode 3d. 4a ················································· 2 5 ... Wiring conductor 6 ... Through conductor 7a ... 1st barrier layer 7b ...・ Second barrier layer 8: Capacitor section

Claims (3)

ガラスおよびセラミックフィラーを含有する複数の絶縁層を積層して絶縁基体を形成するとともに、該絶縁基体の内部に、前記絶縁層よりも高い誘電率を有した誘電体層と該誘電体層を間に挟んで対向する対向電極とを含むコンデンサ部を設けてなるコンデンサ内蔵配線基板であって、前記絶縁層と接する前記コンデンサ部側面の少なくとも一部を前記絶縁層の積層方向に対して傾斜させたことを特徴とするコンデンサ内蔵配線基板。 A plurality of insulating layers containing glass and ceramic filler are laminated to form an insulating base, and a dielectric layer having a dielectric constant higher than that of the insulating layer is interposed between the dielectric layer and the insulating base. A capacitor-embedded wiring board comprising a capacitor portion including a counter electrode opposed to the capacitor, wherein at least a part of a side surface of the capacitor portion in contact with the insulating layer is inclined with respect to a stacking direction of the insulating layer A wiring board with a built-in capacitor. 前記コンデンサ部側面が上部領域及び下部領域で中央域よりも内側に位置するように傾斜していることを特徴とする請求項1に記載のコンデンサ内蔵配線基板。 The wiring board with a built-in capacitor according to claim 1, wherein the side surface of the capacitor portion is inclined so that the upper region and the lower region are located inside the central region. 前記コンデンサ部側面の傾斜角度が前記絶縁層の主面に対し45°以下に設定されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のコンデンサ内蔵配線基板。 The wiring board with a built-in capacitor according to claim 1, wherein an inclination angle of the side surface of the capacitor unit is set to 45 ° or less with respect to a main surface of the insulating layer.
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