JP2006148355A - 広帯域低損失カプラおよび該カプラを用いた試験治具、ならびに、無線信号の試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】従来に比べて、低損失かつ高安定かつ広帯域のカプラを提供する。
【解決手段】電子装置が具備するアンテナから放射される無線信号を検出するためのカプラであって、導電性のケースと、該ケース内に具備されフィルタとして作用するように互いに電磁結合された２以上の共振導体とを備え、該共振導体は、第一の共振導体と、同軸コネクタに電気的に接続された第二の共振導体とを含み、該ケースは該電子装置または該アンテナを該ケース内に挿入するための開口部を有し、該第一の共振導体は、該電子装置または該アンテナが該ケース内に挿入された時に、他のどの該共振導体よりも強く該アンテナに電磁結合する。
【選択図】図４

Description

本発明は、カプラに係り、特に広帯域かつ低損失かつ高安定のカプラに関する。

従来、無線通信機能を備える電子装置は、試験装置との有線接続により、無線機能や無線性能が試験されていた。しかし、近年では、有線接続のための端子を持たない電子装置が多く出回るようになってきている。そのような電子装置は、電子装置が備える被試験アンテナから放射される無線信号を検出することにより試験する他ない。従来、被試験アンテナからの無線信号を検出する手段として、アンテナ型カプラや空洞共振器型カプラがある。

アンテナ型カプラは、被試験アンテナに対向して設けられた試験用アンテナである。この試験用アンテナを被試験アンテナと近傍界（near field）で電磁結合させ、被試験アンテナから放射される無線信号を検出する（例えば、特許文献１を参照。）。試験用アンテナの例としては、ダイポールアンテナや平面アンテナなどがある。この種のカプラは、被試験アンテナに対する電磁結合度が低い（高損失）。また、その電磁結合度は、被試験アンテナとの対向角度の影響を受けやすい（低安定）。さらに、この種のカプラは、外来ノイズを抑えるため、アンテナ型カプラや被試験アンテナを含む試験環境を外部から遮蔽する必要がある。

一方、空洞共振器型カプラは、所定の周波数で共振する空洞共振器に、被試験アンテナを挿入することができる最小限の穴を設けたものである。この空洞共振器に被試験アンテナを挿入し、被試験アンテナから放射される無線信号を空洞共振器で検出する。この種のカプラは、被試験アンテナに対する電磁結合度が高い（低損失）。また、その電磁結合度は、被試験アンテナの対向角度の影響を受けにくい（高安定）。さらに、この種のカプラは、外来ノイズの影響を受けにくく試験環境を遮蔽する必要がない。以上のように、空洞共振器型のカプラは、アンテナ型カプラと比べて優れた点が多く、電子装置の無線機能や無線性能の試験に適している。

特開平１０―２８２１７４号公報（第１〜２頁、図１）

ところで、最近の電子装置が無線通信のために占有する帯域は以前に比べて格段に広くなってきている。例えば、現在主流の通信手段の１つである無線ＬＡＮは、スペクトラム拡散方式を採用しており、従来の単なるＦＭ変調方式などに比べて占有帯域幅が広い。ここで、１つの問題が生じる。空洞共振器型のカプラは、そのような広帯域無線信号を高精度で検出するのに十分な通過帯域を有していないのである。従って、例えば、空洞共振器型のカプラを用いて、そのような広帯域無線信号の変調精度を試験すると測定誤差が大きいなどの問題が生じる。また、従来の無線信号を多チャンネル同時に試験する場合も、試験対象となる周波数帯域は広い。従来、多チャンネル試験のために、チャンネル毎に空洞共振器型カプラを用意しなければならなかった。

そこで、本発明は、電子装置に備えられるアンテナから発せられる無線信号を検出するためのカプラであって、従来に比べて、低損失かつ高安定かつ広帯域のカプラを提供することを目的とする。

本第一の発明は、電子装置が具備するアンテナから放射される無線信号を検出するためのカプラであって、第一端が同軸出力を有し第二端が開放されたフィルタを備え、前記無線信号が前記第一端よりも強く前記第二端に電磁結合できるように、前記アンテナまたは前記電子装置を配置できるようにしたことを特徴とするものである。

また、本第二の発明は、本第一の発明のカプラにおいて、導電性のケースと、前記ケース内に具備されフィルタとして作用するように互いに電磁結合された２以上の共振導体とを備え、前記共振導体は、第一の共振導体と、同軸コネクタに電気的に接続された第二の共振導体とを含み、前記ケースは、前記電子装置または前記アンテナを前記ケース内に挿入するための開口部を有し、前記第一の共振導体は、前記電子装置または前記アンテナが前記ケース内に挿入された時に、他のどの前記共振導体よりも強く前記アンテナに電磁結合することを特徴とするものである。

さらに、本第三の発明は、電子装置が具備するアンテナから放射される無線信号を試験するための治具であって、本第一の発明または本第二の発明のカプラと、前記無線信号を前記カプラに電磁結合させる時に、前記アンテナまたは前記電子装置と前記カプラとを所定の位置関係にさせる位置決め手段とを備えることを特徴とするものである。

またさらに、本第四の発明は、電子装置が具備するアンテナから発せられる無線信号を試験する方法であって、前記アンテナまたは前記電子装置と、第一端が同軸出力を有し第二端が開放されたバンドパスフィルタとを所定の位置関係にさせ、前記無線信号を前記第一端よりも強く前記第二端に電磁結合させ、前記同軸出力の信号を試験することを特徴とするものである。

本発明のカプラは、無線信号をフィルタに結合させるので、無線信号を従来に比べて広帯域かつ低損失で検出することができる。また、本発明のカプラは、カプラが被試験アンテナ周辺を囲むので、無線信号を安定して検出することができる。さらに、本発明のカプラは、被試験アンテナ周辺を導体で囲むので、外来ノイズの影響を受けにくく、シールドボックスなどがほぼ不要となる。またさらに、本発明のカプラは、フィルタ作用により望まない周波数成分を遮断することができる。

本発明の実施形態を、添付の図面を適宜参照しながら、以下に説明する。本発明の第一の実施形態は、試験治具１０である。以下、図１を参照する。図１は、試験治具１０を示す斜視図である。試験治具１０は、カプラ４００を用いて被測定物１００を試験する装置である。なお、本発明の説明において、試験という用語は、測定、評価、判定または検査などの類義語に置き換えて読むこともできる。

ここで、図２Ａおよび図２Ｂを参照する。図２Ａおよび図２Ｂは、被測定物１００の正面図である。図２Ａにおいて、被測定物１００は、無線信号を放射するためのアンテナ１１０を内蔵している。従って、外部からアンテナ１１０にアクセスできない。その反対に、図２Ｂに示すように、被測定物１００は、無線信号を放射するためのアンテナ１２０を被測定物１００の外部へ露出させるようにして具備することもできる。この場合、外部からアンテナ１２０へのアクセスが容易である。

さて、再び図１を参照する。試験治具１０は、基盤２００と、位置決め装置３００と、カプラ４００とを備える。

位置決め装置３００は、レール３１０と、レール３１０に沿って動くステージ３２０とを具備し、基盤２００上に設置されている。ステージ３２０は、被測定物１００を着脱可能に保持し、矢印Ａ方向に被測定物１００を位置決めすることができる。この位置決め方向は、矢印Ａに鉛直の方向であっても良い。また、位置決め装置３００は、一部がカプラ４００内に進入する時、その一部はテフロン（商標）などの電磁的に無視しうる材料により形成されている必要がある。

カプラ４００は、支持部材５００を介して基盤２００上に設置されている。以下、図３と図４を参照する。図３は、カプラ４００のみを示す斜視図である。また、図４は、図３におけるＪ−Ｊ断面図である。カプラ４００は、ケース４１０と、３つの共振棒４２１および４２２および４２３と、３つの周波数調整ネジ４３１および４３２および４３３と、２つの結合調整ネジ４４１および４４２と、同軸コネクタ４５０とを備える。ケース４１０と共振棒４２１および４２２および４２３は、コムライン型半同軸空洞フィルタとして機能する。

ケース４１０は、主部４１１と蓋部４１２とを組み合わせてなる導電性の空洞直方体である。主部４１１および蓋部４１２のそれぞれは、銅合金に銅メッキを施し、さらに金メッキを施したものである。ケース４１０は、少なくとも表面付近が所望の周波数において良好な導電性を有する空洞体であれば良い。従って、ケース４１０は、上記のように複数の部品により構成されずとも良く、また、地金は他の種類の金属でも良く、また、メッキを施さずとも良い。さらに、ケース４１０の形状は、空洞円柱でも良い。例えば、ケース４００は、引抜管（drawn tube）等を代用することができる。なお、ケース４１０の寸法は、カプラ４００に期待される諸特性（例えば、周波数特性、損失、インピーダンスなど）に応じて決定される。以下、カプラ４００に期待されるこれらの諸特性を「カプラ仕様」と称する。

ケース４１０は、被測定物１００をケース４１０の内部に挿入できるように、開口部４１０ａを有する。これにより、図２Ａに示すアンテナ１１０または図２Ｂに示すアンテナ１２０を、ケース４１０内に配置することができる。開口部４１０ａの周囲は、被測定物１００がケース４１０に接触した時に被測定物１００を損傷させないように、テフロン（商標）製の保護部材４６１および４６２および４６３が取り付けられている。保護部材４６１および４６２および４６３は、被測定物１００を保護し得る限りにおいて、自由に変形することができる。また、保護部材４６１および４６２および４６３は、電磁的に無視しうる他の材料から製造されても良い。なお、保護部材４６１および４６２および４６３の取り付けは、接着剤または樹脂ネジなど電磁的に無視しうる手段が採用される。また、開口部４１０ａは、自由に変形することができるが、できるだけ被測定物１００またはアンテナ１２０を囲むことが望ましい。例えば、開口部４１０ａは、図２Ｂに示すアンテナ１２０のみをケース４１０の内部に挿入できる程度に小さくしても良い。

ケース４１０は、内側の一面４１１ａに、共振棒４２１および４２２および４２３が設けられている。また、ケース４１０は、内側において面４１１ａに対向する面４１１ｃに、周波数調整ネジ４３１および４３２および４３３と、結合調整ネジ４４１および４４２が設けられている。

共振棒４２１および４２２および４２３は、銅合金からなる円柱状の棒である。共振棒４２１および４２２および４２３のぞれぞれは、一端が開放され、他端がケース４００の面４１１ａに取り付けられ、所定の間隔で並んでいる。共振棒４２１および４２２および４２３のそれぞれは、ネジ４７１および４７２および４７３により、ケース４１０に取り付けられている。また、共振棒４２３は、ループ４８０を介して、同軸コネクタ４５０と電気的に接続されている。共振棒４２１および４２２および４２３は、少なくとも表面付近が所望の周波数において良好な導電性を有する棒状の部材であれば良い。従って、共振棒４２１および４２２および４２３の形状は、円柱状に限定されず、カプラ仕様に応じて変形できる。また、これらの共振棒の数は、３本に限定されず、カプラ仕様に応じて増減される。例えば、これらの共振棒は、４本の角柱状の金属棒とすることができる。

周波数調整ネジ４３１および４３２および４３３は、銅合金からなるネジである。周波数調整ネジ４３１は、対応する共振棒４２１との距離を変化させることにより、共振棒４２１とケース４１０との間の容量を調整することができる。周波数調整ネジ４３２は、対応する共振棒４２２との距離を変化させることにより、共振棒４２２とケース４１０との間の容量を調整することができる。周波数調整ネジ４３３は、対応する共振棒４２３との距離を変化させることにより、共振棒４２３とケース４１０との間の容量を調整することができる。これらの容量の変化は、対応する共振棒に係る同調周波数の変化をもたらす。なお、周波数調整ネジ４３１および４３２および４３３は、容量の調整範囲を変えるために、先端に電極板を備えても良い。

結合調整ネジ４４１および４４２は、導電性の金属ネジである。結合調整ネジ４４１は、ケース４１０との距離を変化させることにより、共振棒４２１と共振棒４２２との間の結合度を調整することができる。結合調整ネジ４４２は、ケース４１０との距離を変化させることにより、共振棒４２２と共振棒４２３との間の結合度を調整することができる。結合調整ネジ４４１および４４２は、各共振棒間の結合度を調整または定義できるものであれば如何なる変形も可能である。従って、結合調整ネジ４４１および４４２は、カプラ４００の加工精度が十分に高ければ、固定長の棒であっても良い。また、結合調整ネジ４４１および４４２の形状は、ネジに限定されず、カプラ仕様に応じて変形できる。さらに、結合調整ネジ４４１および４４２の材質は、金属に限定されず、誘電体などの非金属であっても良い。例えば、結合調整ネジ４４１および４４２は、誘電体からなる固定長の角柱状の棒に変えることができる。

同軸コネクタ４５０は、メス型ＳＭＡコネクタである。なお、同軸コネクタ４５０は、同軸出力であれば良いので、同軸ケーブルや他種の同軸コネクタでも良い。例えば、同軸コネクタ４５０は、ＡＰＣ−３．５コネクタに変えることができる。

次に、試験治具１０の動作について、図１と図４を参照しながら説明する。まず、被測定物１００またはアンテナ１２０は、カプラ４００内に挿入され、できるだけ共振棒４２１に近い所定位置に位置決めされる。カプラ４００への挿入後、被測定物１００（実際にはアンテナ１１０またはアンテナ１２０）から放射される電磁波は、共振棒４２１および４２２および４２３に結合する。この時、被測定物１００から放射される電磁波は、共振棒４２１に最も強く結合し、共振棒４２３に最も弱く結合する。共振棒４２１および４２２および４２３は、特定の周波数を有する電磁波に反応して、ケース４１０との間で共振する。これらの共振棒と共振する電磁波は、ループ４８０を介して同軸コネクタ４５０から、電気信号として出力される。以上の作用の結果、被測定物１００から放射される電磁波すなわち無線信号は、同軸コネクタ４５０から出力される。試験者は、この同軸コネクタ４５０の出力信号を試験することにより、被測定物１００から放射される無線信号を試験することができる。

ケース４１０と共振棒４２１および４２２および４２３はコムライン型半同軸空洞フィルタとして機能するので、被測定物１００から放射される無線信号は、コムライン型半同軸空洞フィルタの通過帯域において、カプラ４００により低損失に検出される。これにより、カプラ４００は、被測定物１００から放射される無線信号を、従来に比べて広帯域かつ低損失で検出することができる。なお、コムライン型半同軸空洞フィルタの通過帯域および阻止帯域は、従来の設計手法を用いて柔軟に変更することができる。

また、被測定物１００がカプラ４００に挿入される時、アンテナ１１０またはアンテナ１２０は周囲をカプラ４００で囲まれるので、被測定物１００から放射される無線信号の多くがカプラ４００（特に、共振棒４２１）に結合する。これにより、アンテナ１１０またはアンテナ１２０とカプラ４００との電磁結合度は、それらのアンテナの対向角度の影響を受けにくくなる。その結果、カプラ４００は、被測定物１００から放射される無線信号を安定して検出することができる。

さらに、位置決め装置３００は、アンテナ１１０またはアンテナ１２０とカプラ４００を所定の位置関係になるよう配置する。これにより、試験治具１０は、アンテナ１１０またはアンテナ１２０とカプラ４００との電磁結合の再現性を要する試験の精度が高い。なお、電磁結合の再現性を要する試験は、例えば、送信電力や最小受信感度などの試験である。

さて、前述の通り、カプラ４００の開口部４１０ａは適宜変形することができる。そこで、開口部４１０ａが変形された態様であり、本発明の第二の実施形態である試験治具２０について、以下に説明する。

以下、図５を参照する。図５は、試験治具２０を示す斜視図である。試験治具１０は、カプラ７００を用いて被測定物１００を試験する装置である。なお、図５において、図１と同一の構成要素には、同一の参照符号を付して、詳細な説明を省略する。また、被測定物１００は、図２Ａおよび図２Ｂを用いて説明した通りである。

さて、図５において、試験治具２０は、基盤２００と、位置決め装置６００と、カプラ７００とを備える。

位置決め装置６００は、レール６１０と、レール６１０に沿って動くステージ６２０とを具備し、基盤２００上に設置されている。ステージ６２０は、被測定物１００を着脱可能に保持し、矢印Ｂ方向に被測定物１００を位置決めすることができる。被測定物１００は、矢印Ｂに沿って往復移動しても良いし、カプラ７００を通り抜けるように矢印Ｂに沿って一方向に移動しても良い。また、位置決め装置６００は、一部がカプラ７００内に進入する時、その一部はテフロン（商標）などの電磁的に無視しうる材料により形成されている必要がある。

カプラ７００は、支持部材５００を介して基盤２００上に設置されている。以下、図６と図７を参照する。図６は、カプラ４００のみを示す斜視図である。また、図７は、図６におけるＫ−Ｋ断面図である。なお、図６において、図３と同一の構成要素には、同一の参照符号を付して、詳細な説明を省略する。また、図７において、図４と同一の構成要素には、同一の参照符号を付して、詳細な説明を省略する。

カプラ７００は、ケース７１０と、３つの共振棒４２１および４２２および４２３と、３つの周波数調整ネジ４３１および４３２および４３３と、２つの結合調整ネジ４４１および４４２と、同軸コネクタ４５０とを備える。ケース７１０と共振棒４２１および４２２および４２３は、コムライン型半同軸空洞フィルタとして機能する。

ケース７１０は、ケース４１０において、開口部の形状が変形されたものである。ケース７１０は、主部７１１と蓋部７１２とを組み合わせてなる導電性の空洞直方体である。主部７１１および蓋部７１２のそれぞれは、銅合金に銅メッキを施し、さらに金メッキを施したものである。また、ケース７１０は、少なくとも表面付近が所望の周波数において良好な導電性を有する空洞体であれば良いので、主部７１１および蓋部７１２は、主部４１１および蓋部４１２と同様の変形が可能である。

ケース７１０は、被測定物１００をケース７１０の内部に挿入できるように、開口部７１０ａを有する。これにより、図２Ａに示すアンテナ１１０または図２Ｂに示すアンテナ１２０を、ケース７１０内に配置することができる。開口部７１０ａの周囲は、被測定物１００がケース７１０に接触した時に被測定物１００を損傷させないように、テフロン（商標）製の保護部材７６１および７６２および７６３および７６４が取り付けられている。保護部材７６１〜７６４は、被測定物１００を保護し得る限りにおいて、自由に変形することができる。また、保護部材７６１〜７６４は、電磁的に無視しうる他の材料から製造されても良い。なお、保護部材７６１〜７６４の取り付けは、接着剤または樹脂ネジなど電磁的に無視しうる手段が採用される。また、開口部７１０ａは、図２Ｂに示すアンテナ１２０のみをケース７１０の内部に挿入できる程度に小さくしても良い。

ケース７１０は、内側の一面７１１ａに、共振棒４２１および４２２および４２３が設けられている。また、ケース４１０は、内側において面７１１ａに対向する面７１１ｃに、周波数調整ネジ４３１および４３２および４３３と、結合調整ネジ４４１および４４２が設けられている。

本実施形態において、周波数調整ネジ４３１および４３２および４３３は、対応する共振棒との距離を変化させることにより、対応する共振棒とケース７１０との間の容量を調整することができる。また、結合調整ネジ４４１および４４２は、ケース７１０との距離を変化させることにより、隣接する２つの共振棒間の結合度を調整することができる。これらのネジは、第一の実施形態と同様に変形することができる。

次に、試験治具２０の動作について、図５と図７を参照しながら説明する。まず、被測定物１００またはアンテナ１２０は、カプラ７００内に挿入され、できるだけ共振棒４２１に近い所定位置に位置決めされる。カプラ７００への挿入後、被測定物１００（実際にはアンテナ１１０またはアンテナ１２０）から放射される電磁波は、共振棒４２１および４２２および４２３に結合する。この時、被測定物１００から放射される電磁波は、共振棒４２１に最も強く結合し、共振棒４２３に最も弱く結合する。共振棒４２１および４２２および４２３は、特定の周波数を有する電磁波に反応して、ケース７１０との間で共振する。これらの共振棒と共振する電磁波は、ループ４８０を介して同軸コネクタ４５０から、電気信号として出力される。以上の作用の結果、被測定物１００から放射される電磁波すなわち無線信号は、同軸コネクタ４５０から出力される。試験者は、この同軸コネクタ４５０の出力信号を試験することにより、被測定物１００から放射される無線信号を試験することができる。

ケース７１０と共振棒４２１および４２２および４２３はコムライン型半同軸空洞フィルタとして機能するので、被測定物１００から放射される無線信号は、コムライン型半同軸空洞フィルタの通過帯域において、カプラ７００により低損失に検出される。これにより、カプラ７００は、被測定物１００から放射される無線信号を、従来に比べて広帯域かつ低損失で検出することができる。なお、コムライン型半同軸空洞フィルタの通過帯域および阻止帯域は、従来の設計手法を用いて柔軟に変更することができる。

また、被測定物１００がカプラ７００に挿入される時、アンテナ１１０またはアンテナ１２０は周囲をカプラ７００で囲まれるので、被測定物１００から放射される無線信号の多くがカプラ７００（特に、共振棒４２１）に結合する。これにより、アンテナ１１０またはアンテナ１２０とカプラ７００との電磁結合度は、それらのアンテナの対向角度の影響を受けにくくなる。その結果、カプラ７００は、被測定物１００から放射される無線信号を安定して検出することができる。

さらに、位置決め装置６００は、アンテナ１１０またはアンテナ１２０とカプラ７００を所定の位置関係になるよう配置する。これにより、試験治具２０は、アンテナ１１０またはアンテナ１２０とカプラ７００との電磁結合の再現性を要する試験の精度が高い。なお、電磁結合の再現性を要する試験は、例えば、送信電力や最小受信感度などの試験である。

さて、上記の２つの実施形態において、主にケースと共振棒とで構成される半同軸空洞フィルタは、上述のコムライン型のみならず、インターディジタル型になるようにレイアウトを変更することができる。また、上記の２つの実施形態において、周波数調整ネジを除去し、共振棒の両端をケースに取り付けるようにしても良い。この場合、空洞フィルタは、同軸空洞フィルタとなる。

さらに、上記の２つの実施形態において、空洞フィルタに代えて他のフィルタを備えるようにしても良い。例えば、導電性ケースの内部に、第一端が同軸出力を有し第二端が開放された他の型のフィルタを備え、被測定物１００またはアンテナ１１０またはアンテナ１２０を配置できるように該ケースを加工し、被測定物１００から放射される無線信号が該第一端よりも強く該第二端に電磁結合できるようにしても良い。この他に、一端を開放した導波管フィルタと導波管同軸変換器を直列接続したものをカプラとし、開放部に被測定物１００を挿入して、無線信号を試験するようにしても良い。ただし、この場合、スリット等を設けることができないので、半同軸型カプラまたは同軸型カプラに比べて、被測定物１００の形状が制限されるなどの不都合がある。

ここで、本発明の実施例について図４を参照しながら以下に説明する。本実施例は、特に、第一の実施形態である試験治具１０のカプラ４００についての具体例を述べる。さて、カプラ４００は、無線ＬＡＮの一規格であるＩＥＥＥ８０２．１１ｂで規定される変調信号を検出するものとする。この場合、カプラ４００で検出すべき帯域は、２．４Ｇ〜２．５ＧＨｚである。この時、ケース４１０の寸法は、横（長手方向）が１０９．７ｍｍ、縦が３３．７ｍｍ、図示しない厚さが２９．８ｍｍである。また、共振棒４２１および４２２および４２３のそれぞれは、直径が９．８ｍｍ、長さが３０．６ｍｍ、特性インピーダンスが７５オームである。また、それらの共振棒は、３０．６ｍｍの間隔で並んでいる。同軸コネクタ４５０の特性インピーダンスは、５０オームである。

次に、図８Ａおよび図８Ｂを参照する。図８Ａは、カプラ４００の周波数特性を示すグラフである。図８Ｂは、従来の空洞共振器型カプラの周波数特性を示すグラフである。両図ともに、縦軸は振幅、横軸は周波数を示している。両図ともに、縦軸の範囲は［−５０ｄＢ：０ｄＢ］、横軸の範囲は［２．３０ＧＨｚ：２．６０ＧＨｚ］である。さて、図８Ａにおいて、マーカ１（−３．７４３０ｄＢ＠２．４０ＧＨｚ）、マーカ２（−３．５９２０ｄＢ＠２．４５ＧＨｚ）、マーカ３（−３．１１６０ｄＢ＠２．５０ＧＨｚ）が示されている。一方、図８Ｂにおいて、マーカ１（−２６．５０４＠２．４ＧＨｚ）、マーカ２（−１７．０７８ｄＢ＠２．４５ＧＨｚ）、マーカ３（−２３．２７２＠２．５ＧＨｚ）が示されている。以上のデータを比較すると、カプラ４００は、所望の帯域（２．４Ｇ〜２．５ＧＨｚ）において、全体的に損失が小さく、また、損失の変動幅も小さいことが分かる。

本発明の第一の実施形態である試験治具１０を示す斜視図である。 被測定物１００の正面図である。 被測定物１００の正面図である。 カプラ４００を示す斜視図である。 図３におけるＪ−Ｊ断面図である。 本発明の第一の実施形態である試験治具２０を示す斜視図である。 カプラ７００を示す斜視図である。 図６におけるＫ−Ｋ断面図である。 カプラの周波数特性の例を示す図である。 カプラの周波数特性の例を示す図である。

符号の説明

１０，２０ 試験治具
１００ 被測定物
１１０，１２０ アンテナ
２００ 基盤
３００，６００ 位置決め装置
３１０，６１０ レール
３２０，６２０ ステージ
４００，７００ カプラ
４１０，７１０ ケース
４１０ａ，７１０ａ 開口部
４２１，４２２，４２３ 共振棒
４３１，４３２，４３３ 周波数調整ネジ
４４１，４４２ 結合調整ネジ
４５０ 同軸コネクタ
４６１，４６２，４６３ 保護部材
４８０ ループ
５００ 支持部材
７６１，７６２，７６３，７６４ 保護部材

Claims (4)

1. 電子装置が具備するアンテナから放射される無線信号を検出するためのカプラであって、
   第一端が同軸出力を有し第二端が開放されたフィルタを備え、
   前記無線信号が前記第一端よりも強く前記第二端に電磁結合できるように、前記アンテナまたは前記電子装置を配置できるようにしたことを特徴とするカプラ。
2. 導電性のケースと、前記ケース内に具備されフィルタとして作用するように互いに電磁結合された２以上の共振導体とを備え、
   前記共振導体は、第一の共振導体と、同軸コネクタに電気的に接続された第二の共振導体とを含み、
   前記ケースは、前記電子装置または前記アンテナを前記ケース内に挿入するための開口部を有し、
   前記第一の共振導体は、前記電子装置または前記アンテナが前記ケース内に挿入された時に、他のどの前記共振導体よりも強く前記アンテナに電磁結合する、
   ことを特徴とする請求項１に記載のカプラ。
3. 電子装置が具備するアンテナから放射される無線信号を試験するための治具であって、
   請求項１または請求項２に記載のカプラと、
   前記無線信号を前記カプラに電磁結合させる時に、前記アンテナまたは前記電子装置と前記カプラとを所定の位置関係にさせる位置決め手段と、
   を備えることを特徴とする試験治具。
4. 電子装置が具備するアンテナから発せられる無線信号を試験する方法であって、
   前記アンテナまたは前記電子装置と、第一端が同軸出力を有し第二端が開放されたバンドパスフィルタとを所定の位置関係にさせ、
   前記無線信号を前記第一端よりも強く前記第二端に電磁結合させ、
   前記同軸出力の信号を試験することを特徴とする方法。
   

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