JP2006138654A

JP2006138654A - Tangible component analyzer and tangible component analysis method

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Publication number: JP2006138654A
Application number: JP2004326289A
Authority: JP
Inventors: Hidekazu Fujise; 秀和藤瀬; Kiyoo Mori; 清雄森
Original assignee: A&T Corp
Current assignee: A&T Corp
Priority date: 2004-11-10
Filing date: 2004-11-10
Publication date: 2006-06-01

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To acquire clear static picture image by rapidly and accurately focusing on a tangible component at an imaging position to perform efficient analysis processing. <P>SOLUTION: This tangible component analyzer is equipped with: a unified plate 122 comprising an imaging base surface for thereon spreading a supplied test liquid in order to image the test liquid; an imaging stage 121 for thereon holding the unified plate 122; an imaging part 131 for imaging the tangible component of the test liquid spread in a static state on the base surface of the unified plate 122; a control part 171 for previously detecting a height correction value for focusing the imaging part 131 on the tangible component of the test liquid to relatively move/control the imaging part 131 or imaging stage 121 in the height direction by using the correction value when imaging the test liquid by the imaging part 131; an XY stage 142; and a Z stage 143. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

この発明は、被検液中の有形成分を分析する有形成分分析装置および有形成分分析方法に関する。 The present invention relates to a component analysis apparatus and a component analysis method for analyzing a component in a test liquid.

従来、被検液中の有形成分の分析、例えば尿沈渣成分の分析は、尿サンプルを遠心分離し、アスピレータまたはピペットを用いて、あるいはデカンテーションによって上澄み液を除去し、残った残渣成分のうち一定量をスライドガラスに塗布し、カバーガラスを載せて標本とし、顕微鏡にセットした後、有形成分を目視で分類する作業からなっている。 Conventionally, analysis of a solid component in a test liquid, for example, analysis of urinary sediment components, is performed by centrifuging a urine sample, removing the supernatant using an aspirator or pipette, or by decantation, and removing residual components. A certain amount is applied to a slide glass, a cover glass is placed on it as a specimen, set on a microscope, and then the formed portion is classified visually.

近年、これらの検査作業を自動化する自動分析装置として、検体の塗布標本を作製せず検体液に染色液を混和した後、懸濁させたままフローセルに流し、物理統計的な方法や光学的な方法などによって分析するフローサイトメトリー法を用いた装置がある（例えば、下記特許文献１〜３参照。）。 In recent years, as an automated analyzer that automates these inspection tasks, a sample solution is not prepared but a staining solution is mixed with the sample solution, and then suspended and flowed through a flow cell to obtain a physical statistical method or optical method. There is an apparatus using a flow cytometry method for analysis by a method or the like (for example, see Patent Documents 1 to 3 below).

さらに、標本像の焦点を自動で合わせることができる自動合焦装置を搭載し、撮像した静止画像中に含まれる成分を識別・集計することで、有形成分の分析を自動で行う有形成分分析装置も知られている（例えば、下記特許文献４〜６参照。）。 In addition, it is equipped with an automatic focusing device that can automatically focus the specimen image, and the components included in the captured still image are identified and counted to automatically analyze the components. An analyzer is also known (for example, refer to Patent Documents 4 to 6 below).

特開平４−３３７４６０号公報JP-A-4-337460 特開平５−２９６９１５号公報JP-A-5-296915 特開平５−３２２８８５号公報JP-A-5-322885 特開平１０−１８５８０３号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-185803 特開２０００−２８５１４号公報JP 2000-28514 A 特開２００１−２５５２６０号公報JP 2001-255260 A

しかしながら、検査作業を人手により行うのは、検査技師の大きな負担になるとともに、標本のばらつきが大きく、判断に個人差が生じるという問題があった。特許文献１〜３に記載の技術によれば、検査作業を自動で行うことができ、検査技師の負担を軽減することはできるが、被検液を常にフローセルに流しながら分析を行うため、有形成分が常に動いた状態となるため、焦点のあった鮮明な静止画像を得ることは困難であった。 However, manually performing the inspection work is a burden on the inspection engineer, and there is a problem that the variation of the specimen is large and the individual difference is caused in the judgment. According to the techniques described in Patent Documents 1 to 3, although the inspection work can be performed automatically and the burden on the inspection engineer can be reduced, the analysis is performed while always flowing the test liquid through the flow cell. Since the formation always moved, it was difficult to obtain a clear still image with focus.

また、前記特許文献４〜６に記載の技術のように、自動合焦装置を備えた構成としても、被検液中にゴミなどが浮遊していた場合、このゴミに焦点が合ってしまい、被検液中に沈降し存在する目的の有形成分に焦点が合わない危険性があった。さらに、複数の撮像位置においてそれぞれ合焦動作させる必要があるため、合焦動作の繰り返しによる合焦動作時間の蓄積が生じて全体の処理速度が低下するという問題があった。 In addition, as in the techniques described in Patent Documents 4 to 6, even when the dust is floating in the test solution, even if the configuration includes the automatic focusing device, the dust is focused. There was a risk that the target formed component that settled and existed in the test solution could not be focused. Furthermore, since it is necessary to perform the focusing operation at each of a plurality of imaging positions, there is a problem that accumulation of the focusing operation time due to repetition of the focusing operation occurs and the overall processing speed is reduced.

さらに、被検液を展開するプレートがディスポーザブルタイプであるため、プレートにかかるコストが高くなるとともに、装置中にプレートを挿入したり、使用済みのプレートを排出するための構成が必要であった。 Furthermore, since the plate for developing the test solution is a disposable type, the cost for the plate is increased, and a configuration for inserting the plate into the apparatus and discharging the used plate is required.

この発明は、上述した従来技術による問題点を解消するため、撮像位置にて迅速かつ正確に有形成分に焦点を合わせて鮮明な静止画像を得ることができ、効率的な分析処理が行える有形成分分析装置および有形成分分析方法を提供することを目的とする。 In order to eliminate the above-mentioned problems caused by the conventional technology, the present invention can obtain a sharp still image by focusing on the formed component quickly and accurately at the imaging position, and can perform efficient analysis processing. An object of the present invention is to provide a formation analysis apparatus and a formation analysis method.

上述した課題を解決し、目的を達成するため、請求項１の発明にかかる有形成分分析装置は、供給された被検液を撮像するために当該被検液を展開させる撮像ベース面を有するプレートと、前記プレートを保持する撮像ステージと、前記プレートの前記撮像ベース面に展開され、静止状態にある前記被検液の有形成分を撮像する撮像手段と、前記被検液の有形成分に対して前記撮像手段の焦点を合わせるための高さ補正値を予め検出する高さ補正値検出手段と、前記撮像手段により前記被検液を撮像する際に、前記高さ補正値を用いて前記撮像手段または前記撮像ステージを高さ方向に相対的に移動制御する撮像高さ制御手段と、を備えたことを特徴とする。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, the formed-component analyzer according to the invention of claim 1 has an imaging base surface on which the test liquid is developed in order to image the supplied test liquid. A plate, an imaging stage that holds the plate, an imaging unit that is developed on the imaging base surface of the plate and captures the formed portion of the test solution in a stationary state, and the formed portion of the test solution A height correction value detecting means for detecting in advance a height correction value for focusing the image pickup means, and using the height correction value when the test solution is imaged by the image pickup means. An imaging height control unit that relatively moves and controls the imaging unit or the imaging stage in a height direction is provided.

この請求項１の発明によれば、予め撮像手段の焦点を合わせるための高さ補正値を検出しておき、分析中は、予め記録しておいた高さ補正値を読み出して高さを制御する。これにより、常に目的の有形成分に迅速に焦点を合わせることができるようになる。この際、撮像手段は、再度の焦点合わせを行う必要がない。 According to the first aspect of the present invention, the height correction value for focusing the image pickup means is detected in advance, and the height correction value recorded in advance is read during analysis to control the height. To do. Thereby, it becomes possible to always focus quickly on the target formed component. At this time, the imaging unit does not need to perform focusing again.

また、請求項２の発明にかかる有形成分分析装置は、請求項１に記載の発明において、前記高さ補正値検出手段は、前記撮像ベース面の複数の撮像位置ごとに前記有形成分に対する前記撮像手段の焦点を合わせるための高さ補正値を予め検出し、前記撮像高さ制御手段は、前記撮像手段により前記被検液を撮像する際に、前記撮像ベース面の複数の撮像位置ごとに前記高さ補正値を用いて前記撮像手段または前記撮像ステージを高さ方向に相対的に移動させることを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, there is provided the component analysis apparatus according to the first aspect, wherein the height correction value detecting means applies the component to the component for each of a plurality of imaging positions on the imaging base surface. A height correction value for focusing the imaging unit is detected in advance, and the imaging height control unit is configured to detect the plurality of imaging positions on the imaging base surface when imaging the test liquid by the imaging unit. Further, the image pickup means or the image pickup stage is relatively moved in the height direction using the height correction value.

この請求項２の発明によれば、撮像位置が複数の場合であっても、各撮像位置ごとの高さ補正値を読み出して高さ補正を行うことができ、常に目的の有形成分に迅速に焦点を合わせることができるようになる。 According to the second aspect of the present invention, even when there are a plurality of imaging positions, the height correction value for each imaging position can be read and the height correction can be performed. You will be able to focus on.

また、請求項３の発明にかかる有形成分分析装置は、請求項１または２に記載の発明において、前記撮像ステージに保持された前記プレート上に前記撮像手段を自在に移動させる撮像位置駆動手段と、前記プレートに対して前記被検液を供給するプローブを有し、当該プローブを前記プレートに対して自在に移動させる供給手段と、前記プレートに対して当該プレートを洗浄するための洗浄液を供給するプローブを有し、当該プローブを前記プレートに対して自在に移動させる洗浄手段と、前記洗浄手段により供給され、前記プレートから排出された廃液を受ける廃液手段と、を備えたことを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, there is provided the component analyzing apparatus according to the first or second aspect, wherein the imaging position driving unit freely moves the imaging unit on the plate held by the imaging stage. A probe for supplying the test liquid to the plate, a supply means for freely moving the probe relative to the plate, and a cleaning liquid for cleaning the plate to the plate A cleaning means for freely moving the probe with respect to the plate; and a waste liquid means for receiving the waste liquid supplied from the cleaning means and discharged from the plate. .

この請求項３の発明によれば、撮像ステージに保持されているプレートに対して、被検液の供給と、プレートの洗浄と、プレートに展開された被検液の撮像とを繰り返し行うことができるため、被検液の分析処理を効率的に行うことができる。 According to the third aspect of the present invention, the supply of the test liquid, the cleaning of the plate, and the imaging of the test liquid developed on the plate can be repeatedly performed on the plate held on the imaging stage. Therefore, the analysis process of the test liquid can be performed efficiently.

また、請求項４の発明にかかる有形成分分析装置は、請求項３に記載の発明において、前記供給手段および前記洗浄手段のプローブは、単一個もしくは複数個のプローブであり、当該プローブを前記プレートに対して自在に移動させて前記被検液あるいは洗浄液のいずれかを供給することを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the component analysis apparatus according to the third aspect of the present invention, wherein the probe of the supply means and the cleaning means is a single probe or a plurality of probes. Either the test liquid or the cleaning liquid is supplied by being moved freely with respect to the plate.

また、請求項５の発明にかかる有形成分分析装置は、請求項３または４に記載の発明において、前記プレートは、前記撮像ベース面上にカバーが設けられた中空形状をなし、前記撮像ベース面の一端に設けられ、前記被検液あるいは洗浄液が供給される供給口と、前記撮像ベース面の他端に設けられ、前記プレートから前記被検液および洗浄液を排出するための排出口と、を備えたことを特徴とする。 According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the component analysis apparatus according to the third or fourth aspect, wherein the plate has a hollow shape in which a cover is provided on the imaging base surface, and the imaging base is provided. A supply port provided at one end of the surface, to which the test liquid or the cleaning liquid is supplied, and a discharge port provided at the other end of the imaging base surface for discharging the test liquid and the cleaning liquid from the plate; It is provided with.

この請求項５の発明によれば、プレートの中空内部に供給口から供給された被検液が展開される構成であり、被検液をスライドガラス等に塗る作業を不要にできる。また、供給口から洗浄液を供給して排出口から被検液と洗浄液を排出することができ、プレートを繰り返し使用できるようになる。 According to the fifth aspect of the present invention, the test liquid supplied from the supply port is developed in the hollow interior of the plate, and the work of coating the test liquid on a slide glass or the like can be eliminated. Further, the cleaning liquid can be supplied from the supply port and the test liquid and the cleaning liquid can be discharged from the discharge port, so that the plate can be used repeatedly.

また、請求項６の発明にかかる有形成分分析装置は、請求項５に記載の発明において、前記供給手段および前記洗浄手段は、前記排出口に吸引力を発生させることにより、前記供給口に供給された前記被検液あるいは前記洗浄液を前記プレート内部に導くことを特徴とする。 According to a sixth aspect of the present invention, there is provided the component analysis apparatus according to the fifth aspect, wherein the supply means and the cleaning means generate a suction force at the discharge port so that the supply port has a suction force. The supplied test liquid or the cleaning liquid is guided into the plate.

この請求項６の発明によれば、排出口から吸引力を発生させて内部に被検液を取り込むことができ、吸引力を止めて取り込んだ被検液を静止させ、有形成分を沈降させた状態にできる。これにより目的の有形成分に焦点を合わせた撮像が行えるようになる。 According to the invention of claim 6, it is possible to generate a suction force from the discharge port to take in the test liquid, stop the suction force, stop the taken-in test liquid, and let the formed component settle. It can be in the state. As a result, it is possible to perform imaging with a focus on the target formed component.

また、請求項７の発明にかかる有形成分分析装置は、請求項１〜６のいずれか一つに記載の発明において、前記撮像手段によって撮像された前記被検液の画像に基づいて、当該被検液に含まれる有形成分を分析する画像分析手段を備えたことを特徴とする。 In addition, in the invention according to any one of claims 1 to 6, the material component analyzer according to the invention of claim 7 is based on the image of the test liquid imaged by the imaging means. The image analysis means for analyzing the component contained in the test solution is provided.

この請求項７の発明によれば、撮像手段によって撮像された画像は、高さ補正により被検液の有形成分に焦点が合った状態のものであり、画像の分析を精度よく行うことができ、正確な分析結果を出力できるようになる。 According to the seventh aspect of the present invention, the image picked up by the image pickup means is in a state of being focused on the formed portion of the test liquid by the height correction, and the image can be analyzed with high accuracy. And accurate analysis results can be output.

また、請求項８の発明にかかる有形成分分析装置は、請求項１〜７のいずれか一つに記載の発明において、前記被検液が尿であることを特徴とする。 An apparatus for analyzing a formed component according to the invention of claim 8 is characterized in that, in the invention according to any one of claims 1 to 7, the test solution is urine.

この請求項８の発明によれば、尿を被検液とした有形成分の分析処理を正確かつ効率的に行えるようになる。 According to the eighth aspect of the present invention, it is possible to accurately and efficiently perform an analysis process for a formed component using urine as a test liquid.

また、請求項９の発明にかかる有形成分分析方法は、撮像ステージに保持されたプレートの撮像ベース面に前記被検液を供給する被検液供給工程と、前記プレートの撮像ベース面に展開され、静止状態となった被検液を撮像する撮像工程と、前記撮像工程により撮像した前記被検液の画像に基づいて、当該被検液に含まれる有形成分を分析する画像分析工程と、前記撮像工程による前記被検液の撮像後に前記プレートを洗浄する洗浄工程と、を含むことを特徴とする。 According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a method for analyzing a formed component, the test liquid supplying step for supplying the test liquid to the imaging base surface of the plate held on the imaging stage, and the imaging base surface of the plate. An imaging process for imaging the test liquid in a stationary state, and an image analysis process for analyzing the formed component contained in the test liquid based on the image of the test liquid imaged by the imaging process And a washing step of washing the plate after imaging of the test liquid in the imaging step.

この請求項９の発明によれば、撮像ステージに保持されているプレートに対して、被検液の供給と、プレートの洗浄と、プレートに展開された被検液の撮像とを繰り返し行うことができるため、被検液の分析処理を効率的に行うことができる。また、取り込んだ被検液を静止させ、有形成分を沈降させた状態にでき、目的の有形成分に焦点を合わせた撮像が行え、正確な分析が行えるようになる。 According to the ninth aspect of the present invention, the supply of the test liquid, the cleaning of the plate, and the imaging of the test liquid developed on the plate can be repeatedly performed on the plate held on the imaging stage. Therefore, the analysis process of the test liquid can be performed efficiently. Moreover, the taken-in test liquid can be made still and the formed component can be settled, and imaging focused on the desired formed component can be performed, and accurate analysis can be performed.

また、請求項１０の発明にかかる有形成分分析方法は、請求項９に記載の発明において、前記プレートの前記撮像ベース面に展開された前記被検液に対して前記撮像時の焦点を合わせるための高さ補正値を予め検出する高さ補正値検出工程と、前記撮像工程により前記被検液を撮像する際に、前記高さ補正値を用いて前記撮像を行う撮像手段または前記プレートを保持する撮像ステージを高さ方向に相対的に移動制御する撮像高さ制御工程と、を含むことを特徴とする。 Further, in the invention of claim 9, the method for analyzing a formed component according to claim 10 is to focus on the test solution developed on the imaging base surface of the plate at the time of imaging. A height correction value detecting step for detecting in advance a height correction value for imaging, and an imaging means or the plate for performing the imaging using the height correction value when the test liquid is imaged by the imaging step. And an imaging height control step of relatively moving and controlling the imaging stage to be held in the height direction.

この請求項１０の発明によれば、予め撮像手段の焦点を合わせるための高さ補正値を検出しておき、分析中は、検出された高さ補正値を用いて高さを制御する。これにより、常に目的の有形成分に迅速に焦点を合わせることができるようになる。この際、撮像手段は、再度の焦点合わせを行う必要がない。 According to the tenth aspect of the present invention, the height correction value for focusing the image pickup means is detected in advance, and the height is controlled using the detected height correction value during the analysis. Thereby, it becomes possible to always focus quickly on the target formed component. At this time, the imaging unit does not need to perform focusing again.

本発明にかかる有形成分分析装置および有形成分分析方法によれば、固定プレートを用いて高さ補正を行い、高さ補正値を記憶することにより、撮像位置にて迅速に有形成分に焦点を合わせ、鮮明な静止画像を得ることができるとともに処理速度の飛躍的な向上を図ることができるという効果を奏する。また、被検液中に沈降した目的の有形成分以外に焦点が合う危険性が極めて低く、より正確で信頼性のある撮像が可能となる。さらに、自動でプレートを洗浄することができ、繰り返し同一のプレートを使用することができる。 According to the component analysis apparatus and the component analysis method according to the present invention, the height correction is performed using the fixed plate, and the height correction value is stored, so that the component can be quickly formed at the imaging position. It is possible to focus and obtain a clear still image, and at the same time, the processing speed can be dramatically improved. In addition, the risk of focusing other than the desired formed component that has settled in the test solution is extremely low, and more accurate and reliable imaging is possible. Furthermore, the plate can be automatically washed, and the same plate can be used repeatedly.

以下に添付図面を参照して、この発明にかかる有形成分分析装置および有形成分分析方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。 Exemplary embodiments of a component analysis apparatus and a component analysis method according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

（有形成分分析装置の全体構成）
まず、この発明の実施の形態にかかる有形成分分析装置の内容について説明する。図１は、この発明の実施の形態にかかる有形成分分析装置の全体構成を示す斜視図である。有形成分分析装置１００は、サンプル供給部１０１と、プレート固定部１０２と、画像取込部１０３と、撮像位置駆動部１０４と、洗浄部１０５と、廃液部１０６と、データ処理部１０７とを有する。 (Overall configuration of the component analyzer)
First, the contents of the formed component analyzer according to the embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a perspective view showing an overall configuration of a formed component analyzer according to an embodiment of the present invention. The formation analysis apparatus 100 includes a sample supply unit 101, a plate fixing unit 102, an image capturing unit 103, an imaging position driving unit 104, a cleaning unit 105, a waste liquid unit 106, and a data processing unit 107. Have.

サンプル供給部１０１は、サンプルテーブル１１１と、サンプル容器１１２と、プローブアーム１１３と、プローブ１１４と、試薬ボトル１１５とにより構成される。サンプルテーブル１１１は、回転動作が可能で、サンプル容器１１２を複数個セットすることができる。サンプル容器１１２には、被検液が注入される。被検液としては、例えば、尿、血液、髄液等の体液が挙げられる。なお、有形成分を含む可能性のある体液であれば、上記に限定されるものではない。サンプル容器１１２についても、プローブ１１４が挿入でき、被検液を蓄えられるものであれば、形状等が特に限定されるものではない。 The sample supply unit 101 includes a sample table 111, a sample container 112, a probe arm 113, a probe 114, and a reagent bottle 115. The sample table 111 can be rotated, and a plurality of sample containers 112 can be set. A test solution is injected into the sample container 112. Examples of the test fluid include body fluids such as urine, blood, and cerebrospinal fluid. Note that the body fluid is not limited to the above as long as the body fluid may contain a formed component. The shape of the sample container 112 is not particularly limited as long as the probe 114 can be inserted and the test liquid can be stored.

このサンプルテーブル１１１を回転させることにより、サンプル容器１１２は、プローブアーム１１３のプローブ１１４の直下の位置まで移動できる。サンプルテーブル１１１を用いない場合は、サンプルラックなどを使用することも可能である。サンプル容器１１２がセットされたサンプルラックが縦、横いずれかの１軸、もしくは縦横を組み合わせた２軸を使って移動し、プローブアーム１１３のプローブ１１４がサンプル容器１１２の真上に位置するような動作とすることも可能である。 By rotating the sample table 111, the sample container 112 can move to a position immediately below the probe 114 of the probe arm 113. If the sample table 111 is not used, a sample rack or the like can be used. The sample rack in which the sample container 112 is set moves using one of the vertical and horizontal axes, or two axes combining the vertical and horizontal directions, and the probe 114 of the probe arm 113 is positioned directly above the sample container 112. It is also possible to operate.

プローブアーム１１３は、回転および昇降動作が可能であり、端部にプローブ１１４を有する。プローブアーム１１３は、目的の被検液が注入されているサンプル容器１１２の真上に移動し、プローブ１１４をこのサンプル容器１１２に下降させて目的の被検液を吸引することができる。この後、プローブアーム１１３のプローブ１１４を一体化プレート１２２の上まで回転移動させることにより、吸引した被検液を一体化プレート１２２に分注することができる。なお、一体化プレート１２２に対する被検液の供給と後述する洗浄液の供給は、単一個のプローブ１１４を用いて行うことができ、構成を簡単にすることができる。 The probe arm 113 can rotate and move up and down, and has a probe 114 at the end. The probe arm 113 can be moved directly above the sample container 112 into which the target test solution is injected, and the probe 114 can be lowered to the sample container 112 to suck the target test solution. Thereafter, the probe 114 of the probe arm 113 is rotationally moved onto the integrated plate 122, whereby the sucked test liquid can be dispensed into the integrated plate 122. Note that the supply of the test liquid to the integrated plate 122 and the supply of the cleaning liquid described later can be performed using a single probe 114, and the configuration can be simplified.

さらに、プローブアーム１１３の回転により、プローブ１１４が軌跡を描く円周上には、試薬ボトル１１５が配置される。この試薬とは、被検液中に含まれる有形成分の識別能力を向上させるためのものである。例えば、尿を被検液とした場合は染色液が使用される。代表的な尿染色液としてステルンハイマー染色、ステルンハイマー・マルビン染色、ズダンIII染色、ベルリン青染色、ルゴール染色、Ｐ−Ｂ染色、ハンセル染色などが挙げられる。なお、試薬ボトル１１５は、プローブ１１４が挿入でき、前記試薬を蓄えられるものであれば、形状等は特に限定されない。 Further, the reagent bottle 115 is arranged on the circumference on which the probe 114 draws a locus by the rotation of the probe arm 113. This reagent is intended to improve the ability to discriminate the components contained in the test liquid. For example, when urine is used as a test solution, a staining solution is used. Representative urine staining solutions include Sternheimer staining, Sternheimer-Marvin staining, Sudan III staining, Berlin blue staining, Lugor staining, P-B staining, Hansel staining, and the like. The shape of the reagent bottle 115 is not particularly limited as long as the probe 114 can be inserted and the reagent can be stored.

次に、プレート固定部１０２の構成について説明する。プレート固定部１０２は、撮像ステージ１２１と、この撮像ステージ１２１上に載置される一体化プレート１２２によって構成される。 Next, the configuration of the plate fixing portion 102 will be described. The plate fixing unit 102 includes an imaging stage 121 and an integrated plate 122 placed on the imaging stage 121.

撮像ステージ１２１は、撮像部１３１と光源１３３の間に設けられ、載置された一体化プレート１２２を水平に保持固定する。この撮像ステージ１２１は、光源１３３から投光された光を妨げることなく撮像部１３１まで透過させる。撮像ステージ１２１は、このような条件を満たすものであれば、形状は特に限定されないが、材質は、形状変化を起こしにくく、透過光の反射を極力抑えることができるものが好ましい。 The imaging stage 121 is provided between the imaging unit 131 and the light source 133, and holds and fixes the mounted integrated plate 122 horizontally. The imaging stage 121 transmits the light projected from the light source 133 to the imaging unit 131 without interfering with the light. The shape of the imaging stage 121 is not particularly limited as long as such a condition is satisfied. However, the material is preferably a material that hardly changes its shape and can suppress reflection of transmitted light as much as possible.

一体化プレート１２２は、透明な材質、ガラスにより形成されたものであり、プローブ１１４によって吸引された被検液が分注される。分注された被検液は、この一体化プレート１２２の内部に展開され、撮像部１３１による撮像が可能となる。一体化プレート１２２の詳細は後述する。 The integrated plate 122 is formed of a transparent material and glass, and the test liquid sucked by the probe 114 is dispensed. The dispensed test solution is developed inside the integrated plate 122 and can be imaged by the imaging unit 131. Details of the integrated plate 122 will be described later.

次に、画像取込部１０３の構成について説明する。画像取込部１０３は、撮像部１３１と、拡大部１３２と、光源１３３と、メモリ１３４とによって構成されている。撮像部１３１は、一体化プレート１２２に展開された被検液中に含まれる有形成分の標本画像を撮像する。撮像部１３１としては、例えば、ＣＣＤカメラ、ＣＭＯＳカメラ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ等が挙げられる。拡大部１３２は、展開された被検液中に含まれる有形成分の標本画像を拡大する。拡大部１３２としては、標本画像を光学的に拡大するものであってもよいし、撮像された画像をデジタル処理して拡大するものでもよい。具体的には、前記カメラなどに取り付け可能な、対物レンズやズームレンズ等が挙げられる。 Next, the configuration of the image capturing unit 103 will be described. The image capturing unit 103 includes an imaging unit 131, an enlargement unit 132, a light source 133, and a memory 134. The imaging unit 131 captures a formed specimen image included in the test solution developed on the integrated plate 122. Examples of the imaging unit 131 include a CCD camera, a CMOS camera, a digital camera, a digital video camera, and the like. The enlargement unit 132 enlarges the formed specimen image included in the developed test solution. The enlargement unit 132 may be one that optically enlarges the specimen image, or one that digitally processes the captured image and enlarges it. Specific examples include an objective lens and a zoom lens that can be attached to the camera.

光源１３３は、撮像に必要な透過光を照射する。光源１３３としては、撮像に必要な透過光を照射することが可能なものであれば、特に限定されるものではないが、代表的な例としてハロゲンランプ、ＬＥＤ照明が挙げられる。メモリ１３４は、撮像部１３１によって撮像され、拡大部１３２によって拡大された画像データを記録、保持する。このメモリ１３４は、後述する制御部１７１に内蔵されたメモリ１７３を用いてもよい。 The light source 133 emits transmitted light necessary for imaging. The light source 133 is not particularly limited as long as it can irradiate transmitted light necessary for imaging. Typical examples include a halogen lamp and LED illumination. The memory 134 records and holds image data captured by the imaging unit 131 and enlarged by the enlargement unit 132. The memory 134 may be a memory 173 built in a control unit 171 described later.

次に、撮像位置駆動部１０４の構成について説明する。撮像位置駆動部１０４は、アーム１４１と、ＸＹステージ１４２と、Ｚステージ１４３とにより構成される。アーム１４１は、先端に画像取込部１０３の撮像部１３１を保持している。また、ＸＹステージ１４２は、アーム１４１を前後（Ｙ軸方向）左右（Ｘ軸方向）に移動させ、このアーム１４１の先端に取り付けられている撮像部１３１による撮像位置をこの前後左右方向に変更、決定することができる。 Next, the configuration of the imaging position driving unit 104 will be described. The imaging position driving unit 104 includes an arm 141, an XY stage 142, and a Z stage 143. The arm 141 holds the imaging unit 131 of the image capturing unit 103 at the tip. Further, the XY stage 142 moves the arm 141 back and forth (Y-axis direction) left and right (X-axis direction), and changes the imaging position by the imaging unit 131 attached to the tip of the arm 141 in the front-and-rear and left-right direction. Can be determined.

ＸＹステージ１４２の下部には、Ｚステージ１４３が設けられている。Ｚステージ１４３は、アーム１４１（撮像部１３１）を高さ方向（Ｚ軸方向）に移動させる。後述する駆動制御部３１１（図４参照）は、撮像部１３１による撮像時の撮像ベース面上に焦点が合うように高さ補正値を求め、各撮像位置のＸＹ座標と共に、Ｚ軸方向の高さ補正値を後述するメモリ１７３に出力する。Ｚステージ１４３は、この高さ補正値に基づいてアーム１４１を高さ方向に移動させる。これらＸＹステージ１４２およびＺステージ１４３は、駆動源としてパルスモーター、サーボモーター、ステッピングモーター、リニアモーター等を用いる。 A Z stage 143 is provided below the XY stage 142. The Z stage 143 moves the arm 141 (imaging unit 131) in the height direction (Z-axis direction). A drive control unit 311 (see FIG. 4), which will be described later, obtains a height correction value so as to be focused on the imaging base surface during imaging by the imaging unit 131, and together with the XY coordinates of each imaging position, the height in the Z-axis direction. The correction value is output to the memory 173 described later. The Z stage 143 moves the arm 141 in the height direction based on the height correction value. These XY stage 142 and Z stage 143 use a pulse motor, a servo motor, a stepping motor, a linear motor, or the like as a drive source.

このような撮像位置駆動部１０４は、撮像部１３１による撮像位置を前後左右自在に移動できる構成であればよい。したがって、撮像部１３１を移動させるのではなく、撮像ステージ１２１を前後左右に移動させる構成とすることもできる。また、Ｚステージ１４３は必ずしも撮像位置駆動部１０４に一体化していなくてもよく、撮像ステージ１２１が高さ方向（Ｚ軸方向）に移動してもよい。 Such an imaging position driving unit 104 may be configured to be able to move the imaging position of the imaging unit 131 freely back and forth and left and right. Therefore, instead of moving the imaging unit 131, the imaging stage 121 can be moved back and forth and right and left. Further, the Z stage 143 is not necessarily integrated with the imaging position driving unit 104, and the imaging stage 121 may move in the height direction (Z-axis direction).

次に、洗浄部１０５の構成について説明する。洗浄部１０５は、一体化プレート１２２に対して洗浄液を供給する。この洗浄部１０５は、チューブ１５１と、電磁弁１５２と、ポンプ１５３と、ボトルチューブ１５４と、洗浄液ボトル１５５とにより構成される。チューブ１５１は、一端がプローブアーム１１３のプローブ１１４に接続されており、他端が電磁弁１５２およびポンプ１５３に接続されている。電磁弁１５２を切り替えることにより、ボトルチューブ１５４側に流路を切り替えることができる。ボトルチューブ１５４の末端には洗浄液ボトル１５５が設置されており、洗浄液ボトル１５５内の洗浄液を吸引することができる。この洗浄液は、一体化プレート１２２に付着した有形成分を、より強力に洗浄できるものが好ましく、被検液の種類および付着した成分の種類に対応して洗浄液の種類が決められる。例えば、アルカリ洗浄液、酸性洗浄液、強アルカリ電解水、強酸性電解水、次亜塩素酸、オゾン水、水素水などが挙げられる。なお、洗浄液ボトル１５５は、ボトルチューブ１５４を挿入でき、上記洗浄液を蓄えられるものであればよい。 Next, the configuration of the cleaning unit 105 will be described. The cleaning unit 105 supplies a cleaning liquid to the integrated plate 122. The cleaning unit 105 includes a tube 151, a solenoid valve 152, a pump 153, a bottle tube 154, and a cleaning liquid bottle 155. One end of the tube 151 is connected to the probe 114 of the probe arm 113, and the other end is connected to the electromagnetic valve 152 and the pump 153. By switching the electromagnetic valve 152, the flow path can be switched to the bottle tube 154 side. A cleaning liquid bottle 155 is installed at the end of the bottle tube 154, and the cleaning liquid in the cleaning liquid bottle 155 can be sucked. The cleaning liquid is preferably capable of more strongly cleaning the formed component adhering to the integrated plate 122, and the type of the cleaning liquid is determined according to the type of the test liquid and the type of the adhered component. For example, alkaline cleaning liquid, acidic cleaning liquid, strong alkaline electrolyzed water, strong acidic electrolyzed water, hypochlorous acid, ozone water, hydrogen water and the like can be mentioned. The cleaning liquid bottle 155 only needs to be able to insert the bottle tube 154 and store the cleaning liquid.

次に、廃液部１０６の構成について説明する。廃液部１０６は、チューブ１６１と、電磁弁１６２と、ポンプ１６３と、ボトルチューブ１６４と、廃液ボトル１６５とにより構成される。廃液部１０６は、一体化プレート１２２から排出される廃液を処理する。 Next, the configuration of the waste liquid unit 106 will be described. The waste liquid unit 106 includes a tube 161, a solenoid valve 162, a pump 163, a bottle tube 164, and a waste liquid bottle 165. The waste liquid part 106 processes the waste liquid discharged from the integrated plate 122.

チューブ１６１は、一端が一体化プレート１２２と接続され、他端が電磁弁１６２およびポンプ１６３に接続されている。一体化プレート１２２内に被検液を分注している際に、ポンプ１６３を動作させたときには、一体化プレート１２２内に被検液を展開することができる。そして、電磁弁１６２を介してチューブ１６４の末端には廃液ボトル１６５が設置されている。電磁弁１６２を切り替えることで、ボトルチューブ１６４側に流路を切り替え、一体化プレート１２２から排出される廃液を廃液ボトル１６５に排出することができる。ここで、廃液とは、一体化プレート１２２の洗浄時に排出される被検液や洗浄液である。なお、廃液ボトル１６５は、ボトルチューブ１６４を挿入でき、前記廃液を受け入れることができるものであればよい。 The tube 161 has one end connected to the integrated plate 122 and the other end connected to the electromagnetic valve 162 and the pump 163. When the test solution is dispensed into the integrated plate 122, the test solution can be developed in the integrated plate 122 when the pump 163 is operated. A waste liquid bottle 165 is installed at the end of the tube 164 via the electromagnetic valve 162. By switching the electromagnetic valve 162, the flow path can be switched to the bottle tube 164 side, and the waste liquid discharged from the integrated plate 122 can be discharged to the waste liquid bottle 165. Here, the waste liquid is a test liquid or a cleaning liquid that is discharged when the integrated plate 122 is cleaned. In addition, the waste liquid bottle 165 should just be what can insert the bottle tube 164 and can receive the said waste liquid.

次に、データ処理部１０７の構成について説明する。データ処理部１０７は、制御部１７１と、ディスプレイ１７５、プリンタ１７６等によって構成される。制御部１７１は、汎用のコンピュータ装置を用いて構成することができる。この制御部１７１は、ＣＰＵ１７２と、メモリ１７３と、ハードディスク（ＨＤＤ）１７４等を備えている。 Next, the configuration of the data processing unit 107 will be described. The data processing unit 107 includes a control unit 171, a display 175, a printer 176, and the like. The control unit 171 can be configured using a general-purpose computer device. The control unit 171 includes a CPU 172, a memory 173, a hard disk (HDD) 174, and the like.

制御部１７１は、ＸＹステージ１４２を制御して画像取込部１０３の撮像部１３１を一体化プレート１２２の上部位置（撮像位置）まで移動させる。そして、メモリ１７３に記録された高さ補正値を読み出してＺステージ１４３を高さ方向に上下させ、撮像高さを決定する。これらの制御は、メモリ１７３等に予め記憶されている制御プログラムを実行して行われる。 The control unit 171 controls the XY stage 142 to move the imaging unit 131 of the image capturing unit 103 to the upper position (imaging position) of the integrated plate 122. Then, the height correction value recorded in the memory 173 is read, and the Z stage 143 is moved up and down in the height direction to determine the imaging height. These controls are performed by executing a control program stored in advance in the memory 173 or the like.

ここで、一体化プレート１２２は、洗浄により繰り返し使用可能なものであり、撮像ベース面の上部にカバーガラスが設けられ、これらが一体化されたものである。撮像部１３１は、被検液の撮像時には、上部のカバーガラスを透過して撮像ベース面上に展開された被検液に含まれる有形成分に焦点を合わせる。この一体化プレート１２２は、ディスポーザブルではなく、撮像ステージ１２１に固定保持して使用され、撮像ベース面の厚みは常時一定である。これにより、後述するように、制御部１７１に予め高さ補正値を記憶しておき、実際の測定時にこの高さ補正値を利用して高さ補正を正確に行うことができるようになる。 Here, the integrated plate 122 can be repeatedly used by washing, and a cover glass is provided on the upper part of the imaging base surface, and these are integrated. When imaging the test solution, the imaging unit 131 focuses on the formed component contained in the test solution that is transmitted through the upper cover glass and developed on the imaging base surface. The integrated plate 122 is not disposable and is used while being fixedly held on the imaging stage 121, and the thickness of the imaging base surface is always constant. As a result, as will be described later, the height correction value is stored in the control unit 171 in advance, and the height correction can be accurately performed using the height correction value during actual measurement.

この制御部１７１には、画像取込部１０３（撮像部１３１）によって撮像された画像を分析し、その画像に含まれる有形成分を、その形態等に基づいて分類・識別を行う画像分析プログラムを内蔵している。さらに、制御部１７１は、予め設定された視野分の全識別結果から、分析結果を算出する機能を有し、分析結果や撮像された画像データをハードディスク１７４に蓄積したり、ディスプレイ１７５に表示出力したり、プリンタ１７６から印刷出力することができる。ディスプレイ１７５としては、例えば、ＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ等を用いることができる。記録、蓄積に関しては、ハードディスク１７４の他にＭＯディスク、ＣＤ−Ｒ等の記憶装置を用いることもできる。なお、上記「予め設定された視野分」とは、撮像する視野（画像）数のことである。また、有形成分を識別する手段としては、ディスプレイ１７５やプリンタ１７６等に出力した画像をオペレーターが目視により判断する構成としてもよい。 The control unit 171 analyzes an image captured by the image capturing unit 103 (imaging unit 131), and classifies and identifies the component included in the image based on the form and the like. Built in. Further, the control unit 171 has a function of calculating an analysis result from all the identification results for a predetermined field of view, and accumulates the analysis result and captured image data in the hard disk 174 or outputs the display result on the display 175. Or can be printed out from the printer 176. As the display 175, for example, a CRT display, a liquid crystal display, or the like can be used. For recording and storage, in addition to the hard disk 174, a storage device such as an MO disk or a CD-R can be used. The “preliminary field of view” is the number of fields (images) to be captured. Further, as means for identifying the formed portion, the operator may visually determine the image output to the display 175, the printer 176, or the like.

（一体化プレートについて）
次に、一体化プレート１２２について説明する。図２−１は、有形成分分析装置の一体化プレートを示す斜視図、図２−２は、一体化プレートを示す縦断面図である。 (About integrated plate)
Next, the integrated plate 122 will be described. FIG. 2-1 is a perspective view showing an integrated plate of the component analyzer, and FIG. 2-2 is a longitudinal sectional view showing the integrated plate.

図２−２に示すように、一体化プレート１２２は、カバーガラス２０１と撮像ベース面２０２とを一体化した中空状に形成され、撮像ベース面２０２の上面に被検液が展開される。この一体化プレート１２２には、分注ポット２０３が設けられている。分注ポット２０３には、プローブアーム１１３のプローブ１１４によって、目的の被検液（被検液および試薬）が分注される。また、分注ポット２０３は、被検液と試薬の反応槽としても使用することができる。この分注ポット２０３内に分注された被検液のサンプル（被検液および試薬）は、外部から力を加えられることがなければ、表面張力の影響で分注ポット２０３内に溜められ、一体化プレート１２２の内部には流れ込まない。そして、ポンプ１６３によって分注ポット２０３内のサンプル（反応した被検液および試薬）が吸引されることにより、一体化プレート１２２内にこのサンプルが展開されるようになっている。この一体化プレート１２２の内部において被検液が展開される部分や廃液口２０４は、開放した形状に形成してもよい。また、分注ポット２０３は一体化プレート１２２に直接設けるものとせずに、別の場所に設けてもよい。 As illustrated in FIG. 2B, the integrated plate 122 is formed in a hollow shape in which the cover glass 201 and the imaging base surface 202 are integrated, and a test solution is developed on the upper surface of the imaging base surface 202. The integrated plate 122 is provided with a dispensing pot 203. A target test solution (test solution and reagent) is dispensed into the dispensing pot 203 by the probe 114 of the probe arm 113. The dispensing pot 203 can also be used as a reaction tank for the test liquid and the reagent. The sample of the test solution dispensed in the dispensing pot 203 (test solution and reagent) is stored in the dispensing pot 203 due to the influence of surface tension unless a force is applied from the outside. It does not flow into the integrated plate 122. The sample (reacted test solution and reagent) in the dispensing pot 203 is sucked by the pump 163 so that the sample is developed in the integrated plate 122. The portion where the test solution is developed and the waste liquid port 204 inside the integrated plate 122 may be formed in an open shape. Moreover, the dispensing pot 203 may not be provided directly on the integrated plate 122 but may be provided at another location.

図２−３は、一体化プレートを示す側断面図である。図示の構成例においては、一体化プレート１２２の撮像ベース面２０２には、被検液２１０が展開される展開面２０２ａが形成されている。なお、撮像ベース面２０２に凸部２０２ｂを形成しないときには、撮像ベース面２０２の上面全体が展開面２０２ａとなる。 FIG. 2-3 is a side sectional view showing the integrated plate. In the illustrated configuration example, a development surface 202 a on which the test liquid 210 is developed is formed on the imaging base surface 202 of the integrated plate 122. When the convex portion 202b is not formed on the imaging base surface 202, the entire upper surface of the imaging base surface 202 becomes the development surface 202a.

この展開面２０２ａは、撮像ベース面２０２の中央部に形成された凸部２０２ｂの上面である。ポンプ１６３によって分注ポット２０３内の被検液２１０が展開されると、被検液２１０に含まれる目的の有形成分が展開面２０２ａに沈降する。この撮像ベース面２０２は、透光性を有し、被検液中の有形成分が付着しにくい材質によって形成されている。本実施の形態では、撮像ベース面２０２の材料として、洗浄液の種類に応じた耐薬品性の高いガラスを使用している。さらに液展開性の向上を目的とした場合、展開面２０２ａに親水性を長期確保するためのコーティングを施してもよい。この他、一体化プレート１２２は、プラスチック（合成樹脂）によって形成することも可能であるが、この場合には耐薬品性とともに展開面に親水処理が必須となる。 The development surface 202 a is the upper surface of the convex portion 202 b formed at the center of the imaging base surface 202. When the test liquid 210 in the dispensing pot 203 is developed by the pump 163, the target formed component contained in the test liquid 210 is settled on the development surface 202a. The imaging base surface 202 is formed of a material that has translucency and is difficult to adhere to a formed component in the test solution. In this embodiment, glass with high chemical resistance corresponding to the type of cleaning liquid is used as the material of the imaging base surface 202. Furthermore, when aiming at the improvement of the liquid spreadability, a coating for ensuring long-term hydrophilicity may be applied to the spread surface 202a. In addition, the integrated plate 122 can be formed of plastic (synthetic resin), but in this case, hydrophilic treatment is essential for the development surface as well as chemical resistance.

図２−３に示すように、この一体化プレート１２２は、撮像ベース面２０２上に平板状のカバーガラス２０１を設けて接合して構成することができる。そして、展開面２０２ａと、カバーガラス２０１の裏面２０１ｂとの間の隙間（厚み）ｈを一定にすることができ、この部分に被検液２１０が展開される。被検液２１０は、これら展開面２０２ａと、カバーガラス２０１の裏面２０１ｂとの間の隙間ｈ部分に表面張力を有して保持することができる。図２−３の形状によれば、被検液２１０の側部には壁（撮像ベース面２０２の側面）が位置していないため、一体化プレート１２２が汚れにくい利点を有している。 As shown in FIG. 2C, the integrated plate 122 can be configured by providing a flat cover glass 201 on the imaging base surface 202 and bonding it. And the clearance gap (thickness) h between the expansion | deployment surface 202a and the back surface 201b of the cover glass 201 can be made constant, and the test liquid 210 is expand | deployed to this part. The test liquid 210 can be held with a surface tension in the gap h between the developed surface 202a and the back surface 201b of the cover glass 201. According to the shape of FIG. 2-3, since the wall (side surface of the imaging base surface 202) is not located at the side of the test liquid 210, the integrated plate 122 has an advantage that it is difficult to get dirty.

この一体化プレート１２２は、撮像ステージ１２１の上に固定され、移動しないようになっている。 This integrated plate 122 is fixed on the imaging stage 121 so as not to move.

（ハードウェア構成）
次に、この発明の実施の形態にかかる有形成分分析装置のハードウェア構成について説明する。図３は、有形成分分析装置のハードウェア構成を示すブロック図である。 (Hardware configuration)
Next, a hardware configuration of the formed component analyzer according to the embodiment of the present invention will be described. FIG. 3 is a block diagram illustrating a hardware configuration of the formed component analyzer.

制御部１７１には、撮像部１３１によって撮像された画像データが入力される。撮像部１３１によって撮像された画像データはメモリ１３４に蓄積後に入力することもできる。この制御部１７１は、入力された画像データを画像分析する画像分析プログラムや、各ステージ等の駆動制御プログラム等のプログラムを実行するＣＰＵ１７２と、メモリ１７３と、駆動制御プログラムや画像分析プログラム、サンプルの画像データ等を蓄積するハードディスク１７４を備えている（図１参照）。 Image data captured by the imaging unit 131 is input to the control unit 171. The image data picked up by the image pickup unit 131 can be input after being stored in the memory 134. The control unit 171 includes an image analysis program for analyzing input image data, a CPU 172 for executing a program such as a drive control program for each stage, a memory 173, a drive control program, an image analysis program, and a sample A hard disk 174 for storing image data and the like is provided (see FIG. 1).

制御部１７１は、駆動制御プログラムにより、サンプルテーブル１１１と、プローブアーム１１３と、電磁弁１５２，１６２と、ポンプ１５３，１６３と、撮像部１３１と、ＸＹステージ１４２と、Ｚステージ１４３を制御する。この制御部１７１には、ディスプレイ１７５と、プリンタ１７６が接続されており、分析結果や撮像された画像データの表示および印刷が行える。 The control unit 171 controls the sample table 111, the probe arm 113, the electromagnetic valves 152 and 162, the pumps 153 and 163, the imaging unit 131, the XY stage 142, and the Z stage 143 by a drive control program. The control unit 171 is connected to a display 175 and a printer 176, and can display and print analysis results and captured image data.

（制御部の機能的構成）
次に、この発明の実施の形態にかかる有形成分分析装置の制御部の機能的構成について説明する。図４は、有形成分分析装置の機能的構成を示すブロック図である。制御部１７１のＣＰＵ１７２（図３参照）が実行する機能について記載してある。 (Functional configuration of control unit)
Next, the functional configuration of the control unit of the component analyzer according to the embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is a block diagram showing a functional configuration of the material component analyzer. The functions executed by the CPU 172 (see FIG. 3) of the control unit 171 are described.

制御部１７１は、画像分析部３０１と、処理手順制御部３１０と、駆動制御部３１１とにより構成されている。処理手順制御部３１０は、有形成分分析装置１００全体の動作を統括制御するものであり、画像分析部３０１による画像分析処理と、駆動制御部３１１により各機構に対する駆動の手順とタイミングとを制御する。ＣＰＵ１７２は、画像分析プログラムの実行により、画像分析部３０１を機能させ、駆動制御プログラムの実行により駆動制御部３１１を機能させる。 The control unit 171 includes an image analysis unit 301, a processing procedure control unit 310, and a drive control unit 311. The processing procedure control unit 310 performs overall control of the overall operation of the component analyzer 100, and controls the image analysis processing by the image analysis unit 301 and the driving procedure and timing for each mechanism by the drive control unit 311. To do. The CPU 172 causes the image analysis unit 301 to function by executing the image analysis program, and causes the drive control unit 311 to function by executing the drive control program.

撮像部１３１によって撮像された被検液２１０の画像データは、画像分析部３０１の入力部３０２に入力される。画像分析部３０１は、入力部３０２に入力された画像データを画像処理部３０３により画像分析し、画像データと分析結果を出力部３０４から出力する。出力部３０４から出力されるデータは、ハードディスク（ＨＤＤ）１７４に蓄積したり、ディスプレイ１７５に表示出力したり、プリンタ１７６から印刷出力できる。また、他の分析機器等にデータ出力することもできる。この撮像部１３１は、被検液２１０の有形成分に焦点を合わせた状態で撮像し画像データを出力する。この焦点合わせは後述するように、一体化プレート１２２に対して１回行えばよい。 Image data of the test liquid 210 imaged by the imaging unit 131 is input to the input unit 302 of the image analysis unit 301. The image analysis unit 301 performs image analysis on the image data input to the input unit 302 by the image processing unit 303, and outputs the image data and the analysis result from the output unit 304. Data output from the output unit 304 can be stored in the hard disk (HDD) 174, displayed on the display 175, or printed out from the printer 176. Data can also be output to other analytical instruments. The imaging unit 131 captures an image while focusing on the formed portion of the test liquid 210 and outputs image data. This focusing may be performed once for the integrated plate 122, as will be described later.

駆動制御部３１１は、処理手順制御部３１０による手順の指示に基づいて、機構部であるサンプルテーブル１１１と、プローブアーム１１３と、アーム１４１と、ＸＹステージ１４２と、Ｚステージ１４３と、電磁弁１５２，１６２と、ポンプ１５３，１６３とをそれぞれ必要なタイミングで駆動制御する。また、この駆動制御部３１１は、高さ補正値検出部３１１ａと、撮像高さ制御部３１１ｂとを備えている。高さ補正値検出部３１１ａは、被検液２１０の撮像前に撮像部１３１が焦点合わせのときに用いる高さ補正値を検出する。撮像高さ制御部３１１ｂは、被検液２１０の撮像時に高さ補正値を用いてアーム１４１のＸＹステージ１４２と、Ｚステージ１４３を駆動制御し、焦点合わせを行う。撮像ステージ１２１が高さ方向に移動自在な場合には、この撮像ステージ１２１を高さ方向に移動させて焦点を合わせることもできる。 The drive control unit 311 is based on a procedure instruction from the processing procedure control unit 310, the sample table 111, which is a mechanism unit, a probe arm 113, an arm 141, an XY stage 142, a Z stage 143, and a solenoid valve 152. 162 and the pumps 153 and 163 are respectively driven and controlled at necessary timings. The drive control unit 311 includes a height correction value detection unit 311a and an imaging height control unit 311b. The height correction value detection unit 311a detects a height correction value used when the imaging unit 131 performs focusing before imaging the test liquid 210. The imaging height control unit 311b drives and controls the XY stage 142 and the Z stage 143 of the arm 141 using the height correction value when imaging the test liquid 210, and performs focusing. When the imaging stage 121 is movable in the height direction, the imaging stage 121 can be moved in the height direction to focus.

（有形成分分析装置の分析動作）
次に、この発明の実施の形態にかかる有形成分分析装置の分析動作について説明する。 (Analysis operation of the component analyzer)
Next, the analysis operation of the formed component analyzer according to the embodiment of the present invention will be described.

はじめに、被検液の測定開始前における高さ補正値の検出および設定動作について、図１を参照して説明する。有形成分分析装置１００の起動時には、一体化プレート１２２にコントロール検体等を展開させる。このコントロール検体とは、固定化赤血球等、実際に撮像する被検液の有形成分に近い大きさのものを用いる。この他にプレート展開面２０２ａ上に目印（ラインなど）をつけておき、コントロール検体の有形成分の代わりとする方法があるが、この場合は予め有形成分を含まない尿（水でもよい）を展開させておく必要がある。 First, the detection and setting operation of the height correction value before the measurement of the test liquid is started will be described with reference to FIG. When starting up the formed component analyzer 100, a control sample or the like is developed on the integrated plate 122. As this control sample, an immobilized red blood cell or the like having a size close to the formed portion of the test liquid to be actually imaged is used. In addition to this, there is a method in which a mark (a line or the like) is provided on the plate development surface 202a to replace the formed component of the control sample. In this case, urine (which may be water) that does not include the formed component in advance. Need to be deployed.

次に、ＸＹステージ１４２を駆動して、アーム１４１先端の撮像部１３１を一体化プレート１２２上の撮像位置に移動させる。また、Ｚステージ１４３を高さ方向に制御して、一体化プレート１２２の撮像ベース面２０２（図２−３に示す展開面２０２ａ）上に沈降し、存在する有形成分に、手動で焦点を合わせる。その後、Ｚステージ１４３の高さ（高さ補正値）を、ＸＹステージの位置（ＸＹ座標）と共に、メモリ１７３に記録する。ここで記録される高さ補正値は、その撮像位置における撮像高さとなる。これにより、後に実際に被検液を分析する際には、予め記録された高さ補正値をメモリ１７３から読み出す。したがって、複数の撮像位置があっても、これら複数の撮像位置ごとの合焦動作を行うことなく、ピンポイントで撮像ベース面２０２の高さ位置に移動させることができるため、処理速度の飛躍的な向上を図ることができるようになる。 Next, the XY stage 142 is driven to move the imaging unit 131 at the tip of the arm 141 to the imaging position on the integrated plate 122. Further, the Z stage 143 is controlled in the height direction to settle on the imaging base surface 202 (the development surface 202a shown in FIG. 2-3) of the integrated plate 122, and manually focus on the existing component. Match. Thereafter, the height (height correction value) of the Z stage 143 is recorded in the memory 173 together with the position of the XY stage (XY coordinates). The height correction value recorded here is the imaging height at the imaging position. Thereby, when the test solution is actually analyzed later, the height correction value recorded in advance is read from the memory 173. Therefore, even if there are a plurality of image pickup positions, it is possible to move to the height position of the image pickup base surface 202 pinpointly without performing the focusing operation for each of the plurality of image pickup positions. Can be improved.

なお、展開面２０２ａ（図２−３参照）上における複数の撮像位置において検出したそれぞれの高さ補正値をメモリ１７３に記録しておくことができる。この場合、各撮像位置に移動すると同時に、各撮像位置（Ｘ，Ｙ軸位置）に対応した高さ補正値（Ｚ軸の高さ補正値）を用いて撮像部１３１またはＺステージ１４３の高さを調整すればよい。 The height correction values detected at a plurality of imaging positions on the development surface 202a (see FIG. 2-3) can be recorded in the memory 173. In this case, the height of the image pickup unit 131 or the Z stage 143 is moved using the height correction value (Z-axis height correction value) corresponding to each image pickup position (X, Y axis position) simultaneously with moving to each image pickup position. Can be adjusted.

このように、予め高さ補正値を記憶しておき、後の分析でこの高さ補正値を利用することができるのは、図２−１〜図２−３を用いて説明したように、一体化プレート１２２のカバーガラス２０１と撮像ベース面２０２とを一体化して、カバーガラス２０１と撮像ベース面２０２の厚みが一定であることと、単一の一体化プレート１２２が洗浄により繰り返し使用できるためである。また、撮像高さが予め検出できるため、被検液中に沈降した目的の有形成分以外に焦点が合う危険性が極めて低くでき、撮像ベース面２０２上に沈降して存在する目的の有形成分の画像をより正確に得ることができる。 In this way, the height correction value is stored in advance, and this height correction value can be used in later analysis, as described with reference to FIGS. Since the cover glass 201 and the imaging base surface 202 of the integrated plate 122 are integrated, the thickness of the cover glass 201 and the imaging base surface 202 is constant, and the single integrated plate 122 can be repeatedly used by cleaning. It is. In addition, since the imaging height can be detected in advance, the risk of focusing other than the target formed component that has settled in the test solution can be extremely low, and the target formed object that is settled on the imaging base surface 202 is present. Minute images can be obtained more accurately.

次に、高さ補正値設定後の有形成分自動分析の分析動作について、図１、図４、図５（図５−１〜図５−６）、図６を参照して説明する。図５（図５−１〜図５−６）は、有形成分分析装置の分析動作を示す工程図である。図６は、有形成分分析装置の分析動作を示すフローチャートである。 Next, the analysis operation of the component automatic analysis after setting the height correction value will be described with reference to FIG. 1, FIG. 4, FIG. 5 (FIGS. 5-1 to 5-6), and FIG. FIG. 5 (FIGS. 5-1 to 5-6) is a process diagram showing an analysis operation of the formed component analyzer. FIG. 6 is a flowchart showing the analysis operation of the formed component analyzer.

まず、図５−１に示すように、被検液２１０の入ったサンプル容器１１２をサンプルテーブル１１１にセットする。サンプルテーブル１１１に複数のサンプル容器１１２をセットする場合もある。サンプル容器１１２をセットし（ステップＳ６０１：Ｎｏのループ）、セットが完了すると（ステップＳ６０１：Ｙｅｓ）、次に、被検液の分注のための処理を行う。まず、サンプルテーブル１１１を回転させ、サンプル容器１１２をプローブアーム１１３が回転する円周上の位置に移動させる。そして、プローブアーム１１３を回転させ、プローブ１１４をサンプル容器１１２の上部に移動させる。さらに、プローブアーム１１３を上下させることにより、プローブ１１４をサンプル容器１１２内まで下降させ、被検液２１０を吸引する。その後、プローブ１１４を分注ポット２０３の上部に移動させ、被検液２１０を分注する（ステップＳ６０２）。 First, as shown in FIG. 5A, the sample container 112 containing the test liquid 210 is set on the sample table 111. In some cases, a plurality of sample containers 112 may be set on the sample table 111. When the sample container 112 is set (step S601: No loop) and the setting is completed (step S601: Yes), a process for dispensing the test liquid is performed. First, the sample table 111 is rotated, and the sample container 112 is moved to a position on the circumference around which the probe arm 113 rotates. Then, the probe arm 113 is rotated to move the probe 114 to the upper part of the sample container 112. Further, by moving the probe arm 113 up and down, the probe 114 is lowered into the sample container 112 and the test liquid 210 is sucked. Thereafter, the probe 114 is moved to the upper part of the dispensing pot 203, and the test liquid 210 is dispensed (step S602).

次に、図５−２に示すように、プローブアーム１１３を回転させ、プローブ１１４を試薬ボトル１１５の上部に移動させる。さらに、プローブアーム１１３を上下させることにより、プローブ１１４を試薬ボトル１１５内まで下降させ、試薬を吸引させる。その後、プローブ１１４を一体化プレート１２２の分注ポット２０３の上部に移動させ、試薬を分注し、被検液２１０と試薬を反応させる（ステップＳ６０３）。 Next, as shown in FIG. 5B, the probe arm 113 is rotated to move the probe 114 to the upper part of the reagent bottle 115. Further, by moving the probe arm 113 up and down, the probe 114 is lowered into the reagent bottle 115 and the reagent is aspirated. Thereafter, the probe 114 is moved to the upper part of the dispensing pot 203 of the integrated plate 122, the reagent is dispensed, and the test liquid 210 and the reagent are reacted (step S603).

次に、図５−３に示すように、ポンプ１６３により、分注ポット２０３内の被検液（反応後の被検液および試薬）２１０を吸引し、一体化プレート１２２内に展開させる（ステップＳ６０４）。この際、電磁弁１６２は、ポンプ１６３の吸引力が一体化プレート１２２につながるように流路を切り替えている。 Next, as shown in FIG. 5C, the test liquid (test liquid and reagent after reaction) 210 in the dispensing pot 203 is sucked by the pump 163 and developed in the integrated plate 122 (step S604). At this time, the electromagnetic valve 162 switches the flow path so that the suction force of the pump 163 is connected to the integrated plate 122.

被検液の展開後、ＸＹステージ１４２によって、画像取込部１０３の撮像部１３１を撮像位置に移動させる（ステップＳ６０５）。また、Ｚステージ１４３は、メモリ１７３から撮像位置の高さ補正値を読み出し、高さ補正を設定する（ステップＳ６０６）。 After the test solution is developed, the imaging unit 131 of the image capturing unit 103 is moved to the imaging position by the XY stage 142 (step S605). In addition, the Z stage 143 reads the height correction value of the imaging position from the memory 173 and sets the height correction (step S606).

そして、図５−４に示すように、画像取込部１０３の撮像部１３１により、撮像ベース面２０２上の被検液２１０に含まれる有形成分の標本画像を撮像し、制御部１７１のメモリ１７３に画像を格納する（ステップＳ６０７）。この際、撮像部１３１は、有形成分に焦点を合わせる焦点合わせの制御を不要にすることができる。すなわち、撮像部１３１は、オートフォーカス機構の機能を持たなくても、被検液２１０に含まれる有形成分に焦点を合わせることができるようになる。 Then, as shown in FIG. 5-4, the imaging unit 131 of the image capturing unit 103 captures the formed sample image included in the test liquid 210 on the imaging base surface 202, and the memory of the control unit 171 The image is stored in 173 (step S607). At this time, the imaging unit 131 can eliminate the need for focusing control to focus on the formed component. That is, the imaging unit 131 can focus on the formed component contained in the test liquid 210 without having the function of the autofocus mechanism.

次に、図５−５に示すように、制御部１７１により、撮像された画像データをメモリ１７３から読み出し、画像分析処理（分類、識別処理）を行い、画像中に含まれる有形成分を形態等に基づいて分類、識別する（ステップＳ６０８）。この分類、識別結果および画像データはハードディスク１７４に蓄積される（ステップＳ６０９）。 Next, as shown in FIG. 5-5, the control unit 171 reads the captured image data from the memory 173, performs image analysis processing (classification and identification processing), and forms the formed portion included in the image. Based on the above, classification and identification are performed (step S608). This classification, identification result, and image data are stored in the hard disk 174 (step S609).

一体化プレート１２２の展開面２０２ａ上における設定視野分の撮像が終了するまでの間は（ステップＳ６１０：Ｎｏ）、ステップＳ６０５〜ステップＳ６０９における撮像の処理が繰り返される。 Until the imaging for the set visual field on the development surface 202a of the integrated plate 122 is completed (step S610: No), the imaging processing in steps S605 to S609 is repeated.

一体化プレート１２２の展開面２０２ａ上における設定視野分の撮像が終了すると（ステップＳ６１０：Ｙｅｓ）、図５−６に示すように、制御部１７１は、画像分析処理（分析処理）を行う。分析処理では、全識別結果から、例えば、画像データに雑音除去、二値化、ラベリング等の前処理を施した後、画像中に含まれるそれぞれの成分の特徴（面積、円形度、周囲長、色等）を抽出し、予め記憶された各有形成分別の特徴量と比較し、合致するものを選択、分類する方法で分析結果を算出する（ステップＳ６１１）。この分析結果は、ハードディスク１７４に蓄積される（ステップＳ６１２）。この分析結果と画像データは、ディスプレイ１７５に出力表示される。また、必要に応じてプリンタ１７６から印刷できる。分析終了後、一体化プレート１２２内を洗浄する（ステップＳ６１３）。洗浄動作の詳細は後述する。 When imaging for the set visual field on the development surface 202a of the integrated plate 122 is completed (step S610: Yes), the control unit 171 performs image analysis processing (analysis processing) as illustrated in FIG. In the analysis process, for example, after performing pre-processing such as noise removal, binarization, and labeling on the image data from all the identification results, the characteristics (area, circularity, perimeter, Color etc.) are extracted, compared with the feature quantities of each formed fraction stored in advance, and an analysis result is calculated by a method of selecting and classifying matching ones (step S611). The analysis result is accumulated in the hard disk 174 (step S612). The analysis result and the image data are output and displayed on the display 175. Further, printing can be performed from the printer 176 as necessary. After the analysis is completed, the inside of the integrated plate 122 is washed (step S613). Details of the cleaning operation will be described later.

以上の動作により、一体化プレート１２２に被検液２１０を展開して１回の分析処理を実行することができる。そして、サンプルテーブル１１１にセットされた全てのサンプル（被検液）に対する分析が終了したか判断し（ステップＳ６１４）、残りのサンプルに対する処理を継続するときには（ステップＳ６１４：Ｎｏ）、ステップＳ６０２以降の処理を上記同様に実行する。また、全てのサンプルに対する処理が終了すると（ステップＳ６１４：Ｙｅｓ）、上記一連の分析処理を終了する。 By the above operation, the test liquid 210 can be developed on the integrated plate 122 and one analysis process can be executed. Then, it is determined whether or not the analysis for all the samples (test liquids) set in the sample table 111 has been completed (step S614). When the processing for the remaining samples is continued (step S614: No), the steps after step S602 are performed. The process is executed as described above. When the processing for all the samples is completed (step S614: Yes), the above series of analysis processing ends.

（有形成分分析装置の洗浄動作）
次に、この発明の実施の形態にかかる有形成分分析装置の一体化プレートの自動洗浄手順について説明する。図７（図７−１、図７−２）は、有形成分分析装置の洗浄動作を示す工程図である。図８は、有形成分分析装置の一体化プレートの洗浄手順を示すフローチャートである。 (Cleaning operation of the component analyzer)
Next, an automatic cleaning procedure for the integrated plate of the formed component analyzer according to the embodiment of the present invention will be described. FIG. 7 (FIGS. 7-1 and 7-2) is a process diagram showing the cleaning operation of the formation analyzer. FIG. 8 is a flowchart showing a procedure for cleaning the integrated plate of the component analyzer.

はじめに、一体化プレート１２２に展開されているサンプルの分析結果が出力（図６のステップＳ６１１の処理）されたか否かを判断する（ステップＳ８０１）。そして、分析結果が出力されるのを待ち（ステップＳ８０１：Ｎｏのループ）、分析結果が出力されると（ステップＳ８０１：Ｙｅｓ）、プローブ１１４を一体化プレート１２２の分注ポット２０３の上部に移動させる（ステップＳ８０２）。 First, it is determined whether or not the analysis result of the sample developed on the integrated plate 122 has been output (the process in step S611 in FIG. 6) (step S801). Then, waiting for the analysis result to be output (step S801: No loop), and when the analysis result is output (step S801: Yes), the probe 114 is moved to the upper part of the dispensing pot 203 of the integrated plate 122. (Step S802).

そして、図７−１に示すように、電磁弁１５２を切り替え、洗浄液ボトル１５５側に流路を切り替える（ステップＳ８０３）。そして、ポンプ１５３により、ボトルチューブ１５４を介して洗浄液ボトル１５５内の洗浄液（サンプルと洗浄液）を吸引する（ステップＳ８０４）。この後、再度、電磁弁１５２を切り替え、チューブ１５１側に流路を切り替える（ステップＳ８０５）。そして、吸引した洗浄液を分注ポット２０３内に分注する（ステップＳ８０６）。 Then, as shown in FIG. 7A, the electromagnetic valve 152 is switched, and the flow path is switched to the cleaning liquid bottle 155 side (step S803). Then, the pump 153 sucks the cleaning liquid (sample and cleaning liquid) in the cleaning liquid bottle 155 through the bottle tube 154 (step S804). Thereafter, the solenoid valve 152 is switched again, and the flow path is switched to the tube 151 side (step S805). Then, the sucked cleaning liquid is dispensed into the dispensing pot 203 (step S806).

次に、図７−２に示すように、ポンプ１６３により、分注ポット２０３内の洗浄液および一体化プレート１２２内の被検液２１０を吸引する（ステップＳ８０７）。これにより、一体化プレート１２２内を洗浄する。次に、予め設定された回数の洗浄を行ったか判断する（ステップＳ８０８）。洗浄の回数が予め設定された回数に達していない場合には（ステップＳ８０８：Ｎｏ）、ステップＳ８０２以降の処理を繰り返す。一方、予め設定された回数の洗浄を行った場合には（ステップＳ８０８：Ｙｅｓ）、洗浄の処理を終了する。 Next, as shown in FIG. 7-2, the pump 163 sucks the cleaning liquid in the dispensing pot 203 and the test liquid 210 in the integrated plate 122 (step S807). Thereby, the inside of the integrated plate 122 is washed. Next, it is determined whether the preset number of times of cleaning has been performed (step S808). When the number of times of cleaning has not reached the preset number (step S808: No), the processes after step S802 are repeated. On the other hand, when the preset number of times of cleaning has been performed (step S808: Yes), the cleaning process is terminated.

以上説明したように、有形成分分析装置によれば、単一の一体化プレート内部に被検液を展開して撮像し、分析することを繰り返して行う。そして、一体化プレートに対する高さ補正値を予め記憶しておき、撮像時に高さ補正値を用いて迅速に有形成分に焦点を合わせ、鮮明な静止画像を得ることができるようになる。これにより、分析処理にかかる処理時間を短縮でき処理の効率化を図ることができるようになる。また、撮像時に撮像高さが予め判っているので、被検液中に沈降した目的の有形成分以外に焦点が合う危険性が極めて低く、より正確で信頼性のある撮像および分析が行えるようになる。また、分析結果の出力ごとに一体化プレートを洗浄して繰り返し同一の一体化プレートを用いることができプレートにかかるコストを抑えることもできる。 As described above, according to the formed component analyzer, the test liquid is developed, imaged, and analyzed repeatedly in a single integrated plate. Then, the height correction value for the integrated plate is stored in advance, and the height correction value is used to quickly focus on the formed portion at the time of imaging so that a clear still image can be obtained. As a result, the processing time required for the analysis process can be shortened and the efficiency of the process can be improved. In addition, since the imaging height is known in advance at the time of imaging, there is very little risk of focusing other than the desired formed component that has settled in the test solution, so that more accurate and reliable imaging and analysis can be performed. become. Moreover, the same integrated plate can be used repeatedly by washing the integrated plate for each output of the analysis result, and the cost for the plate can be suppressed.

なお、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された事項の範囲内で種々の変更、変形が可能である。例えば、上記実施の形態では、プローブアーム１１３は、プローブ１１４をサンプル容器１１２の真上の位置から一体化プレート１２２上の分注ポット２０３まで移動させる際、回転および昇降動作により移動を行うが、プローブアーム１１３を分注ポット２０３の真上の分注可能な位置まで直線的に移動をさせる機構をとってもよい。この場合、プローブ１１４が軌跡を描く直線上に試薬ボトル１１５が配置される。 In addition, this invention is not limited to the said embodiment, A various change and deformation | transformation are possible within the range of the matter described in the claim. For example, in the above embodiment, when the probe arm 113 is moved from the position just above the sample container 112 to the dispensing pot 203 on the integrated plate 122, the probe arm 113 moves by rotating and lifting operation. A mechanism may be adopted in which the probe arm 113 is linearly moved to a position at which dispensing can be performed directly above the dispensing pot 203. In this case, the reagent bottle 115 is arranged on a straight line on which the probe 114 draws a locus.

また、上記実施の形態では、有形成分分析装置１００の洗浄動作において、吸入した洗浄液をチューブ１５１およびプローブアーム１１３およびプローブ１１４を介して分注ポット２０３に分注していたが、プローブアーム１１３を介さず、分注ポット２０３の真上に固定された別のプローブからチューブ１５１を介して洗浄液を分注してもよい。したがって、有形成分分析装置１００に用いるプローブ１１４は単一個ではなく、被検液供給と洗浄の動作に関して複数個のプローブを用いてもよい。 Further, in the above embodiment, in the cleaning operation of the component analyzer 100, the sucked cleaning liquid is dispensed into the dispensing pot 203 via the tube 151, the probe arm 113, and the probe 114. Alternatively, the cleaning solution may be dispensed via the tube 151 from another probe fixed directly above the dispensing pot 203. Therefore, the probe 114 used in the formed component analyzer 100 is not a single probe, and a plurality of probes may be used for the operation of supplying the test liquid and washing.

また、撮像ステージ１２１は、長方形や円形の形状を有してもよい。すなわち、大量の検液を処理する場合や処理速度の向上を目的とした場合に、一体化プレート１２２が横に連続した多連続型プレートを撮像ステージ１２１上に配置したり、円形状の撮像ステージ１２１に一体化プレート１２２を複数配置することができる。 Further, the imaging stage 121 may have a rectangular shape or a circular shape. That is, when processing a large amount of test solution or for the purpose of improving the processing speed, a multi-continuous plate in which the integrated plate 122 is laterally continuous is arranged on the imaging stage 121, or a circular imaging stage. A plurality of integrated plates 122 can be arranged on 121.

また、上記実施の形態では、チューブ１６１は、常時、一体化プレート１２２に接続されているが、廃液時にのみ一体化プレート１２２に接続され、撮像時にはチューブ１６１は一体化プレート１２２から離れるような構成としてもよい。 In the above embodiment, the tube 161 is always connected to the integrated plate 122. However, the tube 161 is connected to the integrated plate 122 only during waste liquid, and the tube 161 is separated from the integrated plate 122 during imaging. It is good.

なお、本実施の形態で説明した有形成分の分析にかかる方法は、予め用意されたプログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することにより実現することができる。このプログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。またこのプログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布することが可能な伝送媒体であってもよい。 Note that the method according to the present embodiment for analyzing the formed component can be realized by executing a program prepared in advance on a computer such as a personal computer or a workstation. This program is recorded on a computer-readable recording medium such as a hard disk, a flexible disk, a CD-ROM, an MO, and a DVD, and is executed by being read from the recording medium by the computer. The program may be a transmission medium that can be distributed via a network such as the Internet.

以上のように、本発明にかかる有形成分分析装置および有形成分分析方法は、被検液に含まれる有形成分に焦点を合わせて画像を撮像し分析する分析機器に有用であり、特に、プレートを繰り返し使用できるのでプレートの使い捨てるという無駄を防止しつつ、短時間で迅速に分析結果の出力が必要な分析機器に適している。 As described above, the tangible component analyzing apparatus and the tangible component analyzing method according to the present invention are useful for an analytical instrument that captures and analyzes an image focusing on the tangible component contained in the test liquid, Since the plate can be used repeatedly, it is suitable for an analytical instrument that needs to output the analysis result quickly in a short time while preventing the waste of the disposable plate.

この発明の実施の形態にかかる有形成分分析装置の全体構成を示す斜視図である。1 is a perspective view showing an overall configuration of a formed component analyzer according to an embodiment of the present invention. 有形成分分析装置の一体化プレートを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the integrated plate of a formation part analyzer. 一体化プレートを示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows an integrated plate. 一体化プレートを示す側断面図である。It is a sectional side view which shows an integrated plate. 有形成分分析装置のハードウェア構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the hardware constitutions of formation component analyzer. 有形成分分析装置の機能的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the functional structure of a formation component analyzer. 有形成分分析装置の分析動作を示す工程図である（その１）。It is process drawing which shows the analysis operation | movement of a formed-parts analyzer (the 1). 有形成分分析装置の分析動作を示す工程図である（その２）。It is process drawing which shows the analysis operation | movement of a formed-parts analyzer (the 2). 有形成分分析装置の分析動作を示す工程図である（その３）。It is process drawing which shows the analysis operation | movement of a formed-parts analyzer (the 3). 有形成分分析装置の分析動作を示す工程図である（その４）。It is process drawing which shows the analysis operation | movement of a formed-parts analyzer (the 4). 有形成分分析装置の分析動作を示す工程図である（その５）。It is process drawing which shows the analysis operation | movement of a formed-parts analyzer (the 5). 有形成分分析装置の分析動作を示す工程図である（その６）。It is process drawing which shows the analysis operation | movement of a formed-parts analyzer (the 6). 有形成分分析装置の分析動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the analysis operation | movement of a formation part analyzer. 有形成分分析装置の洗浄動作を示す工程図である（その１）。It is process drawing which shows the washing | cleaning operation | movement of a formation analyzer (the 1). 有形成分分析装置の洗浄動作を示す工程図である（その２）。It is process drawing which shows the washing | cleaning operation | movement of a formed-part analysis apparatus (the 2). 有形成分分析装置の一体化プレートの洗浄手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the washing | cleaning procedure of the integrated plate of a formation part analyzer.

符号の説明Explanation of symbols

１００有形成分分析装置
１０１サンプル供給部
１０２プレート固定部
１０３画像取込部
１０４撮像位置駆動部
１０５洗浄部
１０６廃液部
１０７データ処理部
１１１サンプルテーブル
１１２サンプル容器
１１３プローブアーム
１１４プローブ
１１５試薬ボトル
１２１撮像ステージ
１２２一体化プレート
１３１撮像部
１３２拡大部
１３３光源
１４１アーム
１４２ＸＹステージ
１４３Ｚステージ
１５１，１６１チューブ
１５２，１６２電磁弁
１５３，１６３ポンプ
１５４，１６４ボトルチューブ
１５５洗浄液ボトル
１６５廃液ボトル
１７１制御部
１７２ＣＰＵ
１７３メモリ
１７４ハードディスク（ＨＤＤ）
１７５ディスプレイ
１７６プリンタ
２０１カバーガラス
２０２撮像ベース面
２０２ａ展開面
２０３分注ポット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Formation analysis apparatus 101 Sample supply part 102 Plate fixing part 103 Image taking-in part 104 Imaging position drive part 105 Washing part 106 Waste liquid part 107 Data processing part 111 Sample table 112 Sample container 113 Probe arm 114 Probe 115 Reagent bottle 121 Imaging Stage 122 Integrated plate 131 Imaging unit 132 Enlargement unit 133 Light source 141 Arm 142 XY stage 143 Z stage 151, 161 Tube 152, 162 Solenoid valve 153, 163 Pump 154, 164 Bottle tube 155 Cleaning liquid bottle 165 Waste liquid bottle 171 Control unit 172 CPU
173 Memory 174 Hard disk (HDD)
175 Display 176 Printer 201 Cover glass 202 Imaging base surface 202a Development surface 203 Dispensing pot

Claims

供給された被検液を撮像するために当該被検液を展開させる撮像ベース面を有するプレートと、
前記プレートを保持する撮像ステージと、
前記プレートの前記撮像ベース面に展開され、静止状態にある前記被検液の有形成分を撮像する撮像手段と、
前記被検液の有形成分に対して前記撮像手段の焦点を合わせるための高さ補正値を予め検出する高さ補正値検出手段と、
前記撮像手段により前記被検液を撮像する際に、前記高さ補正値を用いて前記撮像手段または前記撮像ステージを高さ方向に相対的に移動制御する撮像高さ制御手段と、
を備えたことを特徴とする有形成分分析装置。 A plate having an imaging base surface for developing the test liquid in order to image the supplied test liquid;
An imaging stage for holding the plate;
An imaging means that is developed on the imaging base surface of the plate and images the formed portion of the test liquid in a stationary state;
A height correction value detecting means for detecting in advance a height correction value for focusing the imaging means on the formed portion of the test liquid;
An imaging height control means for controlling the relative movement of the imaging means or the imaging stage in the height direction using the height correction value when imaging the test liquid by the imaging means;
A formed component analyzer characterized by comprising:

前記高さ補正値検出手段は、前記撮像ベース面の複数の撮像位置ごとに前記有形成分に対する前記撮像手段の焦点を合わせるための高さ補正値を予め検出し、
前記撮像高さ制御手段は、前記撮像手段により前記被検液を撮像する際に、前記撮像ベース面の複数の撮像位置ごとに前記高さ補正値を用いて前記撮像手段または前記撮像ステージを高さ方向に相対的に移動させることを特徴とする請求項１に記載の有形成分分析装置。 The height correction value detection means detects in advance a height correction value for focusing the imaging means on the formed portion for each of a plurality of imaging positions on the imaging base surface,
The imaging height control means raises the imaging means or the imaging stage by using the height correction value for each of a plurality of imaging positions on the imaging base surface when imaging the test liquid by the imaging means. 2. The formed component analyzer according to claim 1, wherein the analyzer is moved relatively in the vertical direction.

前記撮像ステージに保持された前記プレート上に前記撮像手段を自在に移動させる撮像位置駆動手段と、
前記プレートに対して前記被検液を供給するプローブを有し、当該プローブを前記プレートに対して自在に移動させる供給手段と、
前記プレートに対して当該プレートを洗浄するための洗浄液を供給するプローブを有し、当該プローブを前記プレートに対して自在に移動させる洗浄手段と、
前記洗浄手段により供給され、前記プレートから排出された廃液を受ける廃液手段と、
を備えたことを特徴とする請求項１または２に記載の有形成分分析装置。 Imaging position driving means for freely moving the imaging means on the plate held by the imaging stage;
A probe for supplying the test liquid to the plate, and a supply means for freely moving the probe relative to the plate;
A cleaning unit for supplying a cleaning solution for cleaning the plate to the plate, and a probe that freely moves the probe with respect to the plate;
Waste liquid means supplied by the cleaning means and receiving waste liquid discharged from the plate;
The material analysis apparatus according to claim 1 or 2, further comprising:

前記供給手段および前記洗浄手段のプローブは、単一個もしくは複数個のプローブであり、当該プローブを前記プレートに対して自在に移動させて前記被検液あるいは洗浄液のいずれかを供給することを特徴とする請求項３に記載の有形成分分析装置。 The probe of the supply means and the cleaning means is a single probe or a plurality of probes, and the probe is freely moved with respect to the plate to supply either the test liquid or the cleaning liquid. The formed component analyzer according to claim 3.

前記プレートは、前記撮像ベース面上にカバーが設けられた中空形状をなし、
前記撮像ベース面の一端に設けられ、前記被検液あるいは洗浄液が供給される供給口と、
前記撮像ベース面の他端に設けられ、前記プレートから前記被検液および洗浄液を排出するための排出口と、
を備えたことを特徴とする請求項３または４に記載の有形成分分析装置。 The plate has a hollow shape provided with a cover on the imaging base surface,
A supply port provided at one end of the imaging base surface, to which the test liquid or the cleaning liquid is supplied;
Provided at the other end of the imaging base surface, and a discharge port for discharging the test liquid and the cleaning liquid from the plate;
The formed component analyzer according to claim 3 or 4, characterized by comprising:

前記供給手段および前記洗浄手段は、前記排出口に吸引力を発生させることにより、前記供給口に供給された前記被検液あるいは前記洗浄液を前記プレート内部に導くことを特徴とする請求項５に記載の有形成分分析装置。 The said supply means and the said washing | cleaning means lead the said test liquid or the said washing | cleaning liquid supplied to the said supply port to the inside of the said plate by producing | generating a suction | attraction force to the said discharge port. Described component analyzer.

前記撮像手段によって撮像された前記被検液の画像に基づいて、当該被検液に含まれる有形成分を分析する画像分析手段を備えたことを特徴とする請求項１〜６のいずれか一つに記載の有形成分分析装置。 7. The image analysis device according to claim 1, further comprising: an image analysis unit that analyzes a formed component contained in the test solution based on an image of the test solution imaged by the imaging unit. The formed component analyzer described in 1.

前記被検液が尿であることを特徴とする請求項１〜７のいずれか一つに記載の有形成分分析装置。 The formed component analyzer according to claim 1, wherein the test solution is urine.

撮像ステージに保持されたプレートの撮像ベース面に前記被検液を供給する被検液供給工程と、
前記プレートの撮像ベース面に展開され、静止状態となった被検液を撮像する撮像工程と、
前記撮像工程により撮像した前記被検液の画像に基づいて、当該被検液に含まれる有形成分を分析する画像分析工程と、
前記撮像工程による前記被検液の撮像後に前記プレートを洗浄する洗浄工程と、
を含むことを特徴とする有形成分分析方法。 A test liquid supply step for supplying the test liquid to the imaging base surface of the plate held by the imaging stage;
An imaging step of imaging the test solution that is developed on the imaging base surface of the plate and is in a stationary state;
Based on the image of the test liquid imaged by the imaging process, an image analysis process for analyzing the formed component contained in the test liquid;
A washing step of washing the plate after imaging of the test liquid by the imaging step;
A method for analyzing a formed component, comprising:

前記プレートの前記撮像ベース面に展開された前記被検液に対して前記撮像時の焦点を合わせるための高さ補正値を予め検出する高さ補正値検出工程と、
前記撮像工程により前記被検液を撮像する際に、前記高さ補正値を用いて前記撮像を行う撮像手段または前記プレートを保持する撮像ステージを高さ方向に相対的に移動制御する撮像高さ制御工程と、
を含むことを特徴とする請求項９に記載の有形成分分析方法。

A height correction value detection step of detecting in advance a height correction value for focusing on the test solution developed on the imaging base surface of the plate during the imaging;
When imaging the test solution in the imaging step, an imaging height that relatively moves and controls an imaging unit that performs the imaging using the height correction value or an imaging stage that holds the plate Control process;
The method for analyzing a formed component according to claim 9, comprising: