JP2006127646A - Optical disk drive and defect processing method for optical disk drive - Google Patents

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical disk drive capable of suppressing the transient response of an AGC circuit and reducing reproduction errors, and a defect processing method for the optical disk drive. <P>SOLUTION: At retry time, prescribed improvement processing is executed in periods GS to GE in such a manner that the periods HS to HE (or a period (y)) of defect signals included in an RF signal are included based on the position information of the data having an error in retrying and that the defect processing signal G is generated only in the periods GS to GE prior to the start of the period. As a result, the errors due to the intrinsic defect signal can be reduced as far as possible and when the reproduced RF signal is inputted into the AGC circuit, the transient response of AGC generated due to a low-frequency or DC component before and behind the defect signal can be reduced. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、光ディスクに記録された信号を再生可能な光ディスク装置及びその光ディスクの欠陥信号を処理する欠陥処理方法に関する。   The present invention relates to an optical disc apparatus capable of reproducing a signal recorded on an optical disc and a defect processing method for processing a defect signal of the optical disc.

近年、ブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｋ）にデータを記録再生する光ディスク装置が出現している。ブルーレイディスクによれば、波長４０５ｎｍの青紫色レーザと、開口数（ＮＡ）０．８５の対物レンズに加えて、光透過保護層厚０．１ミリメートルのディスク構造を採用することにより、直径１２ｃｍの書き換え可能な相変化光ディスクの片面に最大２７ＧＢのデータを記録することができる。   In recent years, optical disc apparatuses that record and reproduce data on a Blu-ray Disc have appeared. According to the Blu-ray Disc, in addition to a blue-violet laser having a wavelength of 405 nm and an objective lens having a numerical aperture (NA) of 0.85, a disc structure having a light transmission protective layer thickness of 0.1 mm is adopted. Up to 27 GB of data can be recorded on one side of a rewritable phase change optical disk.

ＤＶＤでは、６８０ｎｍの光に於いては、カバー層が厚い事、レーザ波長が６８０ｎｍが長く、ビーム径が大きい事等で、ディスクについた指紋、傷、ゴミ等に関しては大きなきな弊害にはならない。ところが、ブルーレイディスクでは、ＤＶＤに比べて記録密度が約５倍、ディスクの光透過保護層が約１／７であるためディスク表面の欠陥（ディフェクト）の影響を受けやすい。そこで、ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ Ｃｏｄｅ）のエラー訂正能力を高くするために、１ＥＣＣブロックのサイズを、ブルーレイディスクの記録再生単位であるＲＵＢ（Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ Ｕｎｉｔ Ｂｌｏｃｋ）と同じ大きさである６４ＫＢｙｔｅと大きくしてある。しかし、想定外の大きな指紋や大きな擦り傷などの欠陥がディスク面にあると、データが欠如してしまい、これにより１ＥＣＣ部（１ＲＵＢ）の１／３にも達し、１ＲＵＢのデータが破綻してしまう。   In the case of DVD at 680 nm, the cover layer is thick, the laser wavelength is long, 680 nm, the beam diameter is large, etc., and it does not cause a significant adverse effect on fingerprints, scratches, dust, etc. on the disc. . However, since the recording density of a Blu-ray disc is about 5 times that of a DVD and the light transmission protective layer of the disc is about 1/7, it is easily affected by defects on the surface of the disc. Therefore, in order to increase the error correction capability of ECC (Error Correction Code), the size of one ECC block is increased to 64 KB, which is the same size as the RUB (Recording Unit Block) which is a recording / playback unit of a Blu-ray disc. . However, if there are defects such as unexpected large fingerprints or large scratches on the disk surface, the data will be lost, and this will reach 1/3 of 1 ECC part (1RUB), and 1RUB data will be corrupted. .

また、このようなディスクの欠陥により、欠陥から復帰した後のＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ）のロックイン時間や、ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｇａｉｎ Ｃｏｎｔｒｏｌ）の過渡応答による再生ＲＦ信号のＤＣ変動等によるエラーが加算されることで、ＥＣＣエラーとなる場合がある。   Also, due to such a disk defect, errors due to PLL (Phase Locked Loop) lock-in time after recovering from the defect, DC fluctuation of the reproduction RF signal due to transient response of AGC (Automatic Gain Control), etc. are added. As a result, an ECC error may occur.

このような不具合を発生する原因は、ディスク欠陥によるデータの欠如であり、その対策として、従来よりディスク欠陥に起因する信号の欠落や指紋などの汚れに起因する信号レベルの低下を、ＡＧＣ回路が持つ時定数やＨＰＦ（ハイパスフィルタ）のカットオフ周波数で補償（吸収）する方法を採っていた（例えば特許文献１参照）。
特開２００２−１２３９４５号公報（段落００３５、図４） The cause of such a malfunction is a lack of data due to a disk defect, and as a countermeasure, the AGC circuit has conventionally reduced the signal level due to the lack of a signal due to a disk defect or contamination such as fingerprints. A method of compensating (absorbing) with a time constant or a cutoff frequency of an HPF (high pass filter) has been employed (see, for example, Patent Document 1).
JP 2002-123945 A (paragraph 0035, FIG. 4)

ところで、６８０ｎｍの光ディスクで２値データを扱う再生系では、２値の比較が再生ＲＦ信号のレベルの影響を殆ど受けないという理由からＡＧＣ回路が不要とされており、ディスク欠陥に対しては、比較動作に再生信号にＱＦＢ（Ｑｕａｎｔｉｚｅｄ Ｆｅｅｄｂａｃｋ）（いわゆるオートスライサ）を掛けることによってゼロクロス点の変動を抑圧していた。   By the way, in a reproduction system that handles binary data on a 680 nm optical disk, the AGC circuit is unnecessary because the binary comparison is hardly affected by the level of the reproduction RF signal. In comparison operation, the reproduction signal is subjected to QFB (Quantized Feedback) (so-called auto slicer) to suppress the fluctuation of the zero cross point.

ところが、ここへ来て、ブルーレイディスクのように更なる高密度記録を達成するために、１−７ＰＰ（ｐａｒｉｔｙ ｐｒｅ−ｓｅｒｖｅ／ｐｒｏｈｉｂｉｔ）ＲＭＴＲ（Ｒｅｐｅａｔｅｄ Ｍｉｎｉｍｕｍ Ｔｒａｎｓｉｔｉｏｎ Ｒｕｎｌｅｎｇｔｈ）を採用し、Ａ／Ｄ変換を必要とするものが登場し、再生回路中にＡＧＣ回路が再び必要となってきた。これは、Ａ／Ｄ変換でのＳ／Ｎ低下を最小限に抑えるためにＡ／Ｄ変換のレンジに対して、ＲＦ信号のレベルが小さすぎないようにするためである。このＡＧＣ回路は、通常、プリアンプから出力される再生ＲＦ信号を入力してゲイン制御を行う。   However, in order to achieve higher density recording like a Blu-ray disc, 1-7PP (parity pre-serve / prohibit) RMTR (Repeated Minimum Transition Runlength) is adopted and A / D conversion is performed. What is needed has appeared, and the AGC circuit has become necessary again in the reproduction circuit. This is to prevent the level of the RF signal from being too small with respect to the range of A / D conversion in order to minimize the S / N reduction in A / D conversion. This AGC circuit normally performs a gain control by inputting a reproduction RF signal output from a preamplifier.

しかしながら、このように再生回路にＡＧＣ回路を搭載した場合、ディスク上の未記録部から記録部、記録部から未記録部ヘの変化や、大きな欠陥によるＲＦ信号の低下や欠如に対する、ループの周波数応答が問題となってくる。ＡＧＣ回路において、ＲＦ信号の欠陥を検出した後、その検出信号に基づきＡＧＣホールドをかけることでエラーを低減する方法もあるが、この場合でも特にホールド解除後のループ過渡応答に問題があった。   However, when the AGC circuit is mounted on the reproducing circuit in this way, the frequency of the loop against the change from the unrecorded portion to the recorded portion, the recorded portion to the unrecorded portion on the disk, or the decrease or absence of the RF signal due to a large defect Response becomes a problem. In the AGC circuit, after detecting a defect in the RF signal, there is a method of reducing the error by applying AGC hold based on the detection signal. However, even in this case, there is a problem in the loop transient response especially after the hold release.

また、通常、そのような欠陥の検出は入力ＲＦ信号に対して遅れを伴う。欠陥検出の遅れを伴う場合、欠陥の数が少ない場合は欠陥検出後でもエラーの改善が可能であるが、その遅れの分だけエラーが発生するため、欠陥数が多い場合、現状では、リトライ（再度の再生）を数回行ったり、イコライザの特性を変化させて再生したりする方法しかない。   Also, usually such defect detection is delayed with respect to the input RF signal. When there is a delay in defect detection, if the number of defects is small, the error can be improved even after the defect detection. The only way to do this is to repeat the playback a few times, or change the equalizer characteristics.

以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、ＡＧＣ回路の過渡応答を抑制し、再生エラーを低減することができる光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法を提供することにある。   In view of the circumstances as described above, an object of the present invention is to provide an optical disc apparatus and an optical disc defect processing method capable of suppressing a transient response of an AGC circuit and reducing a reproduction error.

上記目的を達成するため、本発明に係る光ディスク装置は、誤り訂正符号が付加されたデータが変調されて記録された光ディスクからの反射光を用いて、前記データをＲＦ信号として再生するＲＦ信号再生手段と、前記再生されたＲＦ信号を復調する復調手段と、前記ＲＦ信号に含まれ該ＲＦ信号の周波数より低い周波数を有する第１の期間でなる欠陥信号に対応した、前記復調後のデータの誤りを検出可能な検出手段と、前記検出された誤りのあるデータの前記光ディスク上の位置情報を取得して記憶する記憶手段と、前記欠陥信号が含まれるＲＦ信号が記録された位置情報に基づき該データを再度再生する場合に、該位置情報に基づき、前記第１の期間を含むように、かつ、前記第１の期間が開始される前に第２の期間だけ、前記検出された誤りのあるデータを改善するための欠陥処理信号を生成することで、該第２の期間所定の改善処理を実行するように制御する制御手段とを具備する。   In order to achieve the above object, an optical disc apparatus according to the present invention reproduces the data as an RF signal by using reflected light from the optical disc on which the data to which the error correction code is added is modulated and recorded. Means, demodulating means for demodulating the reproduced RF signal, and the demodulated data corresponding to the defect signal included in the RF signal and having a first period having a frequency lower than the frequency of the RF signal. Based on detection means capable of detecting an error, storage means for acquiring and storing position information of the detected erroneous data on the optical disc, and position information on which an RF signal including the defect signal is recorded When the data is reproduced again, the detection is performed based on the position information so as to include the first period and only for a second period before the first period is started. It was to generate a defect processing signals for improving the erroneous data, and control means for controlling to execute the period prescribed improvement processing the second.

本発明では、誤りのあるデータの位置情報に基づき、ＲＦ信号に含まれる欠陥信号の第１の期間を含むように、かつ、第１の期間が開始される前に欠陥処理信号が第２の期間だけ生成され、該第２の期間所定の改善処理が実行される。これにより、本来の第１の期間でなる欠陥信号によるエラーを極力低減することができる。また、例えばＡＧＣ回路に、再生されたＲＦ信号が入力される場合、特に、欠陥信号の前後の低域またはＤＣ成分が原因で発生するＡＧＣの過渡応答を抑制することができる。   In the present invention, based on the position information of erroneous data, the defect processing signal is included in the second period so as to include the first period of the defect signal included in the RF signal and before the first period is started. Only the period is generated, and the predetermined improvement process for the second period is executed. Thereby, the error due to the defect signal in the original first period can be reduced as much as possible. Further, for example, when the reproduced RF signal is input to the AGC circuit, it is possible to suppress a transient response of AGC caused by a low frequency before and after the defect signal or a DC component.

再度再生する場合とは、例えば、誤り訂正符号により誤り検出され、誤り訂正する場合であって、誤り数が訂正可能な許容範囲を超えた場合等である。   The case where reproduction is performed again is, for example, a case where an error is detected by an error correction code and error correction is performed, and the number of errors exceeds a correctable allowable range.

本発明に係る光ディスク装置は、上記検出された誤りのあるデータを訂正する手段をさらに備えていてももちろんかまわない。   Of course, the optical disc apparatus according to the present invention may further include means for correcting the detected erroneous data.

本発明の一の形態によれば、前記反射光量のゲインを自動制御するＡＧＣ回路をさらに具備し、前記制御手段は、前記改善処理として、前記欠陥処理信号を用いて前記ＡＧＣ回路に前記第２の期間だけＡＧＣホールドをかける。これにより、ＡＧＣ回路の過渡応答を抑制するとともに、エラーを低減することができる。   According to an aspect of the present invention, the image processing apparatus further includes an AGC circuit that automatically controls the gain of the reflected light amount, and the control means uses the defect processing signal as the improvement process to the AGC circuit. AGC hold is applied only during the period. Thereby, the transient response of the AGC circuit can be suppressed and errors can be reduced.

本発明の一の形態によれば、前記光ディスクに記録された同期信号からクロックを生成するＰＬＬ回路をさらに具備し、前記制御手段は、前記改善処理として、前記欠陥処理信号を用いて前記第２の期間だけＰＬＬホールドをかければよい。例えばデータが所定のブロック単位で光ディスクに記録再生される場合、同期信号は、そのブロックごとに記録された所定の信号としてもよいし、ブロックに関係なく光ディスクに所定間隔で記録された信号であってもよい。   According to an aspect of the present invention, the digital signal processing apparatus further includes a PLL circuit that generates a clock from the synchronization signal recorded on the optical disc, and the control means uses the defect processing signal as the second processing to improve the second processing. It is only necessary to hold the PLL hold for the period of. For example, when data is recorded / reproduced on / from an optical disk in a predetermined block unit, the synchronization signal may be a predetermined signal recorded for each block, or a signal recorded on the optical disk at a predetermined interval regardless of the block. May be.

本発明の一の形態によれば、前記制御手段は、前記欠陥信号の周波数より高いカットオフ周波数を有するハイパスフィルタと、前記改善処理として、前記欠陥処理信号を生成している間だけ、前記欠陥信号を前記ハイパスフィルタにかけるように制御する手段とを有する。これにより、欠陥信号を減衰させることができ、エラーを低減することができる。   According to an aspect of the present invention, the control unit includes the high-pass filter having a cutoff frequency higher than the frequency of the defect signal, and the defect processing signal is generated only as long as the defect processing signal is generated as the improvement processing. Means for applying a signal to the high pass filter. Thereby, a defect signal can be attenuated and an error can be reduced.

本発明に係る光ディスクの欠陥処理方法は、誤り訂正符号が付加されたデータが変調されて記録された光ディスクからの反射光を用いて、前記データをＲＦ信号として再生するステップと、前記再生されたＲＦ信号を復調するステップと、前記ＲＦ信号に含まれ該ＲＦ信号の周波数より低い周波数を有する第１の期間でなる欠陥信号に対応した、前記復調後のデータの誤りを検出するステップと、前記検出された誤りのあるデータの前記光ディスク上の位置情報を取得して記憶するステップと、前記欠陥信号が含まれるＲＦ信号が記録された位置情報に基づき該データを再度再生する場合に、該位置情報に基づき、前記第１の期間を含むように、かつ、前記第１の期間が開始される前に第２の期間だけ、前記検出された誤りのあるデータを改善するための欠陥処理信号を生成することで、該第２の期間所定の改善処理を実行するように制御するステップとを具備する。   An optical disc defect processing method according to the present invention includes a step of reproducing the data as an RF signal using reflected light from an optical disc on which data to which an error correction code is added is modulated and recorded, and the reproduced Demodulating an RF signal; detecting an error in the demodulated data corresponding to a defect signal in a first period included in the RF signal and having a frequency lower than the frequency of the RF signal; Acquiring and storing position information of the detected erroneous data on the optical disc, and reproducing the data again based on the position information on which the RF signal including the defect signal is recorded; Based on the information, the detected erroneous data is modified so as to include the first period and for a second period before the first period starts. By generating a defect processing signals for, and a step of controlling to execute the period prescribed improvement processing the second.

本発明では、誤りのあるデータの位置情報に基づき、ＲＦ信号に含まれる欠陥信号の第１の期間を含むように、かつ、第１の期間が開始される前に欠陥処理信号が第２の期間だけ生成され、該第２の期間所定の改善処理が実行されるので、本来の第１の期間でなる欠陥信号によるエラーを極力低減することができる。   In the present invention, based on the position information of erroneous data, the defect processing signal is included in the second period so as to include the first period of the defect signal included in the RF signal and before the first period is started. Since only the period is generated and the predetermined improvement process is executed in the second period, errors due to the defect signal in the original first period can be reduced as much as possible.

以上のように、本発明によれば、ＡＧＣ回路の過渡応答を抑制し、再生エラーを低減することができる。   As described above, according to the present invention, the transient response of the AGC circuit can be suppressed and the reproduction error can be reduced.

以下、本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図１は本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。   FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an optical disc apparatus according to an embodiment of the present invention.

この光ディスク装置１０１は、ＤＶＤ±Ｒ／ＲＷ、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ブルーレイディスクのような光ディスク１０２を回転駆動するスピンドルモータ１０３、ＰＤ（フォト・ディテクタ）１０４、レーザ光源１０５を有する光ピックアップ１０６、この光ピックアップ１０６を光ディスク１０２の半径方向に移動する送りモータ１０７、装置全体及び信号処理やサーボ制御などの個別制御を行うシステムコントローラ１０８、光ピックアップ１０６のＰＤ（フォト・ディテクタ）１０４から出力される各種の信号に基づいてフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号を生成するプリアンプ１０９、そのＲＦ信号に基づきデータを復調したり、ディスク表面のディフェクトによる再生ＲＦ信号のＤＣ変動を抑制したりする信号処理回路１１０、スピンドルモータ１０３及び送りモータ１０７を駆動制御するサーボ制御部１１２、外部コンピュータ１３０を接続するためのインターフェース１１３、Ｄ／Ａ変換器１１４、オーディオ・ビジュアル処理部１１５、オーディオ・ビジュアル信号入出力処理部１１６、外部コンピュータ１３０からの記録データにＥＣＣを付加して変調する変調回路&ＥＣＣ付加部１１１、変調されたデータに基づき、レーザ光源１０５を駆動するレーザ制御部１１７を有している。   The optical disc apparatus 101 includes a spindle motor 103 that rotates and drives an optical disc 102 such as a DVD ± R / RW, a CD-R / RW, and a Blu-ray disc, a PD (photo detector) 104, an optical pickup 106 having a laser light source 105, The optical pickup 106 is output from a feed motor 107 that moves the optical pickup 106 in the radial direction of the optical disk 102, the entire apparatus, a system controller 108 that performs individual control such as signal processing and servo control, and a PD (photo detector) 104 of the optical pickup 106. A preamplifier 109 that generates a focus error signal, a tracking error signal, and an RF signal based on various signals, a signal that demodulates data based on the RF signal, and a signal that suppresses DC fluctuations in the reproduced RF signal due to defects on the disk surface Servo control unit 112 for driving and controlling the logic circuit 110, spindle motor 103 and feed motor 107, interface 113 for connecting an external computer 130, D / A converter 114, audio / visual processing unit 115, audio / visual signal input The output processing unit 116, a modulation circuit & ECC adding unit 111 that modulates recording data from the external computer 130 by adding ECC, and a laser control unit 117 that drives the laser light source 105 based on the modulated data.

図２は、図１に示す信号処理回路１１０の構成を示すブロック図である。信号処理回路１１０は、上記プリアンプ１０９からのＲＦ再生信号をそのまま通過させる信号と、コンデンサＣ１及び抵抗Ｒ１でなるハイパスフィルタを通した信号に分割するサブＨＰＦ１、分割された信号がＩＮ１及びＩＮ２にそれぞれ入力され、入力されたいずれか一方の信号を選択するＲＦスイッチ２、コンデンサＣ２及び抵抗Ｒ２でなり、ＲＦ信号に含まれる、ディスクの回転周期により発生する低域成分を除去するメインＨＰＦ３、メディアによって信号レベルのばらつき等がある場合に、安定的に復調できるようにするために信号レベルを一定レベルに自動的にコントロールするＡＧＣ回路４、符号間干渉を抑え、減衰する高域のレベルを増強するイコライザ５、アナログ信号をデジタル変換するＡ／Ｄ変換器６、光ディスク１０２に所定間隔で記録された同期信号を基にクロックを生成するＰＬＬ回路７を有する。   FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of the signal processing circuit 110 shown in FIG. The signal processing circuit 110 is a sub-HPF1 that divides the RF reproduction signal from the preamplifier 109 as it is and a signal that passes through a high-pass filter composed of a capacitor C1 and a resistor R1, and the divided signals are divided into IN1 and IN2, respectively. It is composed of an RF switch 2, a capacitor C2, and a resistor R2 that select one of the input signals. The main HPF 3 that removes the low frequency component generated by the disk rotation period and included in the RF signal depends on the media. AGC circuit 4 that automatically controls the signal level to a constant level to enable stable demodulation when there is a variation in signal level, etc., suppresses intersymbol interference, and enhances the high-frequency level to be attenuated Equalizer 5, A / D converter 6 for digitally converting analog signals, optical disc 1 Having a PLL circuit 7 for generating a clock based on a synchronization signal recorded at predetermined intervals in 2.

また、信号処理回路１１０は、ＲＦ再生信号からディフェクトを検出するディフェクト検出回路１２、ＰＬＬ回路７からのクロックを用いてＡ／Ｄ変換器６から出力されるデータを復調してそのデータのエラー検出及びその訂正を行うとともに、エラーが検出されたデータの光ディスク１０２上の記録位置の情報を算出して取得する復調回路&ＥＣＣ部８、上記エラーが検出された場合、そのエラーデータの記録位置の情報、つまりアドレス情報を記憶するメモリ９、このメモリ９の記憶処理や読み出しタイミング等を制御するメモリコントローラ１１、メモリ９からアドレス情報を読み出し、また、信号処理回路１１０の全体的な統括制御を行うプロセッサ１０を有している。復調回路&ＥＣＣ部８では、例えばリードソロモン符号によるエラー検出及び訂正が行われる。上記ディフェクト検出回路１２は、後述するように通常再生時に使用され、リトライ時には使用されない。   Further, the signal processing circuit 110 demodulates the data output from the A / D converter 6 using the clock from the defect detection circuit 12 and the PLL circuit 7 for detecting a defect from the RF reproduction signal, and detects an error in the data. And a demodulating circuit & ECC unit 8 that performs correction thereof and calculates and obtains information of a recording position of the data in which the error is detected on the optical disc 102. If the error is detected, information of a recording position of the error data That is, a memory 9 for storing address information, a memory controller 11 for controlling storage processing and read timing of the memory 9, a processor for reading address information from the memory 9, and for overall control of the signal processing circuit 110 10. The demodulation circuit & ECC unit 8 performs error detection and correction using, for example, a Reed-Solomon code. As described later, the defect detection circuit 12 is used during normal reproduction and is not used during retry.

サブＨＰＦ１のカットオフ周波数ｆｃｓは、メインＨＰＦ３のカットオフ周波数ｆｃｍより高く設定されている。サブＨＰＦ１のカットオフ周波数ｆｃｓは、ブルーレイのＲＦ信号である２Ｔ〜８Ｔを十分通過する周波数に設定される。例えばｆｃｓは１ＭＨｚに設定される。ブルーレイの２倍速再生のシステムが採用される場合、ｆｃｓは１〜３ＭＨｚに設定される。一方、メインＨＰＦ３のカットオフ周波数ｆｃｍは、データエラーを起こさない程度の帯域とされ、例えば３３〜６６ＫＨｚに設定される。   The cut-off frequency fcs of the sub HPF 1 is set higher than the cut-off frequency fcm of the main HPF 3. The cut-off frequency fcs of the sub HPF 1 is set to a frequency that sufficiently passes 2T to 8T, which are RF signals of Blu-ray. For example, fcs is set to 1 MHz. When a Blu-ray double speed playback system is employed, fcs is set to 1 to 3 MHz. On the other hand, the cutoff frequency fcm of the main HPF 3 is set to a band that does not cause a data error, and is set to 33 to 66 KHz, for example.

プロセッサ１０は、後述するようにメモリ９からのアドレス情報に基づいて、以下のような、ディフェクト処理のためのディフェクト処理信号２１、２２及び２３を生成し、ＲＦスイッチ２、ＡＧＣ回路４及びＰＬＬ回路７にそれぞれ出力する。具体的には、ディフェクト処理信号２１、２２及び２３は、それぞれ、ＲＦスイッチ２の切り替えるためのスイッチパルス信号２１、ＡＧＣ回路４のゲインをホールドするＡＧＣホールド信号２２、及びＰＬＬ回路７をホールドするＰＬＬホールド信号２３である。ＰＬＬホールドは、例えば図示しないＶＣＯ（電圧制御発振器）に入力される電圧を、ＰＬＬホールド信号２３が出力される直前の状態に保持することにより実現される。   As will be described later, the processor 10 generates defect processing signals 21, 22 and 23 for the defect processing as described below based on the address information from the memory 9, and the RF switch 2, the AGC circuit 4 and the PLL circuit. 7 respectively. Specifically, the defect processing signals 21, 22 and 23 are a switch pulse signal 21 for switching the RF switch 2, an AGC hold signal 22 for holding the gain of the AGC circuit 4, and a PLL for holding the PLL circuit 7, respectively. This is a hold signal 23. The PLL hold is realized, for example, by holding a voltage input to a VCO (voltage controlled oscillator) (not shown) in a state immediately before the PLL hold signal 23 is output.

以上のように構成された光ディスク装置１０１の大まかな再生動作について説明する。   A rough reproduction operation of the optical disc apparatus 101 configured as described above will be described.

プリアンプ１０９で再生されたＲＦ信号の出力は、サブＨＰＦ１に入力される。適正なＲＦ再生信号が得られている場合には、ＲＦスイッチ２は、ＩＮ１を選択してＨＰＦ１の出力を入力している。つまり、そのままのＲＦ信号を入力する。そして、メインＨＰＦ３により、不要な低域成分やＤＣ成分が除去され、ＡＧＣ回路４にＲＦ信号が供給される。ＡＧＣ回路４ではＲＦ信号が一定のゲインに調整され、イコライザ５において、減衰する高域のレベルが増強され、Ａ／Ｄ変換器６においてデジタル化されてデータが取り出される。ＰＬＬ回路７では、Ａ／Ｄ変換器６の出力からクロック信号が生成され、復調回路&ＥＣＣ部８によりデータが復調されてエラー検出及びその訂正が行われる。データの復調等が行われると、データがインターフェース１１３を介して外部コンピュータに供給されたり、Ｄ／Ａ変換器１１４でアナログ信号に変換されてオーディオ・ビジュアル処理部１１５で映像や音声が再生されたりする。   The output of the RF signal reproduced by the preamplifier 109 is input to the sub HPF 1. When an appropriate RF reproduction signal is obtained, the RF switch 2 selects IN1 and inputs the output of HPF1. That is, the RF signal as it is is input. Then, the main HPF 3 removes unnecessary low frequency components and DC components, and an RF signal is supplied to the AGC circuit 4. In the AGC circuit 4, the RF signal is adjusted to a constant gain, the level of the high band that attenuates is increased in the equalizer 5, and digitized in the A / D converter 6 to extract data. In the PLL circuit 7, a clock signal is generated from the output of the A / D converter 6, the data is demodulated by the demodulation circuit & ECC unit 8, and error detection and correction are performed. When data is demodulated, the data is supplied to an external computer via the interface 113, or converted into an analog signal by the D / A converter 114, and the audio / visual processing unit 115 reproduces video and audio. To do.

図３は、従来において、ＡＧＣホールド後のＡＧＣ回路の過渡応答を説明するための波形図である。図３（ａ）に示すように、光ディスク上の大きな傷や指紋等があると、光ディスクからの反射率が大きく低下するような信号が生じる。つまりＲＦ再生信号に大きな落ち込むディフェクト信号が生じる。なお、図３中、斜線で示す部分がＲＦの高周波信号である。図３（ｂ）に示すように、このディフェクト信号がＬＰＦ（ローパスフィルタ）に通されると、周波数の高域が取り除かれる。ディフェクト信号のレベルが図３（ｂ）の閾値レベルＴＨより小さくなったときに、図３（ｃ）に示すディフェクト検出信号Ｄが生成される。ディフェクト検出信号Ｄが生成されると、このディフェクト検出信号Ｄに基づき、図３（ｄ）に示すようにＡまたはＢの電位でＡＧＣホールドがかけられる。しかしながら、閾値ＴＨの設定により、ディフェクト信号の検出信号Ｄが遅延してＯＮ状態となり、さらに図３（ａ）に示すディフェクト信号の終了前に検出信号ＤがＯＦＦ状態となっている。このため、図３（ｄ）のＡＧＣホールドが解除された後に、図３（ｅ）（ＡＧＣ回路の出力を示す。）のＣの期間でＡＧＣ回路に過渡応答が発生してしまう。また、上述したように、ＡＧＣ入力にＤＣ成分が含まれていると、過渡応答が生じる。なお、通常、ＡＧＣ回路の入力前には、ディスクの回転周期で生じる反射率変動による低域成分やＤＣ成分を除去するＨＰＦが設けられているため、ＡＧＣ出力信号は図３（ｅ）で示すような微分形となる。   FIG. 3 is a waveform diagram for explaining the transient response of the AGC circuit after AGC hold in the prior art. As shown in FIG. 3A, if there are large scratches, fingerprints, or the like on the optical disc, a signal is generated that greatly reduces the reflectivity from the optical disc. That is, a defect signal that is greatly reduced in the RF reproduction signal is generated. In FIG. 3, the hatched portion is the RF high frequency signal. As shown in FIG. 3B, when this defect signal is passed through an LPF (low pass filter), the high frequency band is removed. When the level of the defect signal becomes lower than the threshold level TH in FIG. 3B, the defect detection signal D shown in FIG. 3C is generated. When the defect detection signal D is generated, an AGC hold is applied based on the defect detection signal D at the potential of A or B as shown in FIG. However, the detection signal D of the defect signal is delayed and turned on by setting the threshold value TH, and the detection signal D is turned off before the completion of the defect signal shown in FIG. For this reason, after the AGC hold in FIG. 3D is released, a transient response occurs in the AGC circuit during the period C in FIG. 3E (showing the output of the AGC circuit). Further, as described above, when a DC component is included in the AGC input, a transient response occurs. Usually, before the input of the AGC circuit, an HPF that removes a low-frequency component and a DC component due to the reflectance fluctuation that occurs in the rotation period of the disk is provided, so the AGC output signal is shown in FIG. The differential form is as follows.

ディフェクト信号を高精度に検出するために閾値ＴＨのレベルを高く設定することも考えられるが、閾値ＴＨを高く設定してしまうと、図３（ａ）のように大きなディフェクトではなく、ＥＣＣ部でエラー訂正可能な範囲の小さなディフェクトでもディフェクト検出信号として検出してしまうため処理が無駄になる。本実施の形態に係る光ディスク装置１０１は、上記したようなＡＧＣの過渡応答をなくして、極力エラーを低減しようとするものである。   Although it is conceivable to set the threshold value TH high in order to detect the defect signal with high accuracy, if the threshold value TH is set high, it is not a large defect as shown in FIG. Since even a defect having a small error correction range is detected as a defect detection signal, processing is wasted. The optical disc apparatus 101 according to the present embodiment is intended to reduce the error as much as possible by eliminating the above-described AGC transient response.

図４に、実際のディフェクトの波形を示す。各グラフの符号３１がＡＧＣ回路の出力波形、符号３２がディフェクト信号（プリアンプの出力）、符号３３がディフェクト検出信号（図４（ｄ）、（ｅ）では、図３（ｂ）で示したＬＰＦの出力）である。図に示すように、ＡＧＣの出力波形３１は、微分された形となっている。図４（ａ）、（ｂ）及び（ｃ）で示された反射率が低下するディフェクトとは逆に、図４（ｄ）、（ｅ）で示されたディフェクトは反射率が増加するスクラッチ傷である。このようなスクラッチ傷は、比較的幅が狭い。つまり、比較的短時間のディフェクトである。また、図４（ｃ）、（ｄ）及び（ｅ）で示されるディフェクトは、図４（ａ）及び（ｂ）のディフェクトと比べ、深さが浅く、ＲＦ信号の低下が小さいので、サグの発生が大きく見えるが、図４（ａ）〜（ｅ）はすべて大きなエラーにつながるディフェクトである。   FIG. 4 shows an actual defect waveform. In each graph, reference numeral 31 denotes an output waveform of the AGC circuit, reference numeral 32 denotes a defect signal (preamplifier output), and reference numeral 33 denotes a defect detection signal (in FIGS. 4D and 4E, the LPF shown in FIG. 3B). Output). As shown in the figure, the output waveform 31 of the AGC has a differentiated form. 4 (a), (b) and (c), the defect shown in FIGS. 4 (d) and 4 (e) is a scratch that increases the reflectivity. It is. Such scratches are relatively narrow. That is, it is a relatively short time defect. Further, the defects shown in FIGS. 4C, 4D, and 4E are shallower than the defects shown in FIGS. 4A and 4B, and the decrease in the RF signal is small. Although the occurrence appears to be large, FIGS. 4A to 4E are all defects that lead to a large error.

また、図８及び図９に、それぞれＨＰＦの低周波応答の波形を示す。これらは、通常ＡＧＣ回路に入力されるＨＰＦの出力波形であり、図８はステップ波、図９はサイン波で示している。符号３４ａ及び４４ａは２０μｓ幅のパルス入力であり、符号３５ａ及び４５ａはそれらに対するＨＰＦ応答である。符号３４ｂ及び４４ｂは、１μｓ幅のパルス入力であり、符号３５ｂ及び４５ｂはそれらのＨＰＦ応答である。これから判るように、低周波の信号がＨＰＦに通されると、信号の後にＨＰＦの時定数による減衰特性を起こす。これが、ＡＧＣ回路で過渡応答を引き起こす原因となる。   8 and 9 show waveforms of the HPF low frequency response, respectively. These are the output waveforms of the HPF normally input to the AGC circuit. FIG. 8 shows a step wave and FIG. 9 shows a sine wave. Reference numerals 34a and 44a are 20 μs wide pulse inputs, and reference numerals 35a and 45a are HPF responses to them. Reference numerals 34b and 44b are 1 μs wide pulse inputs, and reference numerals 35b and 45b are their HPF responses. As can be seen, when a low-frequency signal is passed through the HPF, an attenuation characteristic due to the time constant of the HPF occurs after the signal. This causes a transient response in the AGC circuit.

図５は、本実施の形態に係るディフェクト処理の信号波形を示す図である。図５（ａ）に示すように、例えばＨＳ時点で始まり、ＨＥ時点で終了する２０μｓ程度のディフェクト信号があった場合、図３（ｃ）で示した場合と同様に閾値を設け、ディフェクト検出回路１２は、図５（ｂ）に示すように２０μｓより短い期間のディフェクト検出信号Ｄを生成してプロセッサ１０に出力する。   FIG. 5 is a diagram showing signal waveforms of the defect processing according to the present embodiment. As shown in FIG. 5A, for example, when there is a defect signal of about 20 μs starting at the HS time and ending at the HE time, a threshold value is provided as in the case shown in FIG. 12 generates a defect detection signal D having a period shorter than 20 μs as shown in FIG.

ディフェクト検出信号Ｄが検出されると、通常再生時においては、プロセッサ１０は、図５（ｃ）に示すように、ディフェクト検出信号Ｄの期間よりｘだけ長いディフェクト処理信号Ｆを生成する。このディフェクト処理信号Ｆ（あるいは、後述するディフェクト処理信号Ｇ）は、上述したように、ディフェクトによる影響を改善するための信号であり、ＲＦスイッチ２、ＡＧＣ回路４及びＰＬＬ回路７にそれぞれ出力する信号である。このｘは、図５（ａ）に示すディフェクト信号の終了時ＨＥを含むように、つまり、ディフェクト処理信号Ｆの終了時ＦＥがＨＥと同じ、あるいはＨＥより後になるように設定される。このｘは、例えば４〜８μｓとすればよい。これにより、ディフェクト処理期間が長くなり、例えば、このディフェクト処理信号Ｆの期間だけＡＧＣホールドを行えば、ＡＧＣホールド解除後のＡＧＣ過渡応答等を抑えることができる。これにより、エラーを低減することができる。ＡＧＣホールドに限らず、ＰＬＬホールドや、後述するようにＲＦスイッチ２によるスイッチング処理も合わせて行うようにしてもよい。なお、ＰＬＬホールドは、２０μｓ以下のディフェクト信号に対しては行わない。   When the defect detection signal D is detected, during normal playback, the processor 10 generates a defect processing signal F longer by x than the period of the defect detection signal D, as shown in FIG. The defect processing signal F (or a defect processing signal G described later) is a signal for improving the influence of the defect as described above, and is a signal output to the RF switch 2, the AGC circuit 4, and the PLL circuit 7, respectively. It is. This x is set so as to include the HE at the end of the defect signal shown in FIG. 5A, that is, the FE at the end of the defect processing signal F is the same as or after HE. This x may be 4 to 8 μs, for example. As a result, the defect processing period becomes longer. For example, if the AGC hold is performed only during the period of the defect processing signal F, the AGC transient response after the AGC hold is released can be suppressed. Thereby, errors can be reduced. Not only the AGC hold, but also a PLL hold or a switching process by the RF switch 2 as described later may be performed. Note that PLL hold is not performed for defect signals of 20 μs or less.

一方、図５（ｃ）で示すディフェクト処理信号Ｆが生成された場合でも、ＥＣＣが破綻した場合、プロセッサ１０は再度の再生（リトライ）を行うように制御する。このとき、復調回路&ＥＣＣ部８では、データが復調されるとともに、図５（ｄ）に示すように、期間ｙの分だけエラー検出がされており、メモリ９には、そのエラーデータのアドレス情報が記憶されている。この期間ｙは、ＨＳ〜ＨＥの期間であるほぼ２０μｓと同じである。ＥＣＣが破綻した場合、プロセッサ１０は、メモリ９からアドレス情報を読み出して、そのアドレス情報に対応するデータが含まれるＲＵＢをリトライする。   On the other hand, even when the defect processing signal F shown in FIG. 5C is generated, when the ECC fails, the processor 10 performs control so that reproduction (retry) is performed again. At this time, the demodulating circuit & ECC unit 8 demodulates the data, and as shown in FIG. 5D, error detection is performed for the period y, and the memory 9 stores the address information of the error data. Is remembered. This period y is substantially the same as the period of HS to HE, which is approximately 20 μs. When the ECC fails, the processor 10 reads the address information from the memory 9 and retries the RUB including the data corresponding to the address information.

一般的に、光ディスクからの反射率の極度の低下または極度の上昇でなるディフェクトは、指紋や傷等で発生し、これらのディフェクトは、１ＲＵＢの一部分であるものがほとんどである。したがってＲＵＢ単位でリトライされればよい。このときにプロセッサ１０は、上記アドレス情報に基づき、図５（ｅ）に示すように、そのエラーデータを再生する期間ｙが含まれるようにディフェクト処理信号Ｇを生成する。この場合、ディフェクト処理信号Ｇの立上がりＧＳがデータエラーの発生時刻ｙＳより前となるように設定され、かつ、データエラーの発生時刻ｙＥより後となるように立下がりＧＥが設定される。すなわち、ディフェクト処理信号Ｇは、期間ｙ、あるいはディフェクト信号のＨＳ〜ＨＥが完全に包含されるように設定される。例えば、ＧＳは、ｙＳより５μｓだけ早くなるように設定され、ＧＥは、ｙＥより５μｓだけ遅くなるように設定される。これにより、ディフェクト検出信号Ｄに基づいてディフェクト処理信号が生成される場合に比べ、エラー改善区間を増やすことができ、ＥＣＣの破綻を抑制することができる。なお、図５では、ＦＥとＧＥとが同じタイミングになっているが、これは異なるタイミングであってもよい。   In general, defects caused by extremely low or extremely high reflectivity from the optical disc are caused by fingerprints or scratches, and these defects are mostly a part of one RUB. Therefore, it suffices to retry in RUB units. At this time, the processor 10 generates the defect processing signal G based on the address information so as to include the period y for reproducing the error data, as shown in FIG. In this case, the rise GS of the defect processing signal G is set to be before the data error occurrence time yS, and the fall GE is set to be after the data error occurrence time yE. That is, the defect processing signal G is set so that the period y or the defect signals HS to HE are completely included. For example, GS is set to be 5 μs earlier than yS, and GE is set to be 5 μs later than yE. Thereby, compared with the case where the defect processing signal is generated based on the defect detection signal D, the error improvement interval can be increased, and the failure of the ECC can be suppressed. In FIG. 5, FE and GE have the same timing, but they may have different timings.

また、ブルーレイディスクのトラックピッチｐは、図６に示すように、０．３２μｍと狭く、数百μｍのディフェクト１５、１６、１７及び１８が有った場合、隣接するトラック同士では、ディスク回転周期においてほぼ同じタイミングで、ほぼ同じ影響を受ける事となる。つまり、ディフェクト１５等に対してトラックピッチｐが十分小さければ、ディフェクトの形に関わらず、トラックごとのディフェクト形状はほぼ相似と言える。従って、ＣＬＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ｌｉｎｅａｒ Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）の連続再生では、ディスク1回転前のディフェクト信号を使用する事が可能となるので、通常再生（アドレスが連続変化する再生）でもエラーの低減をすることができる。つまり、一度ディフェクトの信号を検出し、そのアドレスを記憶していれば、ディスクの回転周期でほぼ同じ、あるいは相似形のディフェクトが検出されることが予測可能となる。このことを利用することにより、大きなディフェクトがあってもリトライを要せず、連続再生が可能となり、無駄なリトライ動作を減らすことができる。この場合、具体的には、トラックごとのディフェクトは相似形であることが多いので、図５（ｅ）に比べて、図７（ｅ）に示すようにエラー改善区間が５±Ｘμｓ（Ｘはディフェクトの予測形状に応じた値である。）となる。   Further, as shown in FIG. 6, the track pitch p of the Blu-ray disc is as narrow as 0.32 μm, and when there are defects 15, 16, 17 and 18 of several hundreds μm, the disc rotation period between adjacent tracks is Will be affected almost at the same timing. That is, if the track pitch p is sufficiently small with respect to the defect 15 or the like, it can be said that the defect shape for each track is almost similar regardless of the shape of the defect. Therefore, in continuous playback of CLV (Constant Linear Velocity), it becomes possible to use a defect signal before one rotation of the disk, and errors can be reduced even in normal playback (playback in which addresses continuously change). That is, once a defect signal is detected and its address is stored, it is possible to predict that a defect having substantially the same or similar shape is detected in the rotation period of the disk. By utilizing this fact, even if there is a large defect, no retry is required, continuous reproduction is possible, and unnecessary retry operations can be reduced. In this case, specifically, the defect for each track often has a similar shape, so that the error improvement interval is 5 ± X μs (where X is equal to that shown in FIG. 7E) as compared to FIG. 5E. It is a value according to the predicted shape of the defect).

次に、ＲＦスイッチ２に関わる部分の動作について説明する。   Next, the operation of the part related to the RF switch 2 will be described.

プリアンプ１０９の出力は、図２に示すサブＨＰＦ１に入力され、上述したように、適正なＲＦ再生信号が得られている場合には、ＲＦスイッチ２は、ＩＮ１を選択してＨＰＦ１の出力を入力している。つまり、そのままのＲＦ信号を入力する。   The output of the preamplifier 109 is input to the sub HPF 1 shown in FIG. 2. As described above, when an appropriate RF reproduction signal is obtained, the RF switch 2 selects IN 1 and inputs the output of the HPF 1 is doing. That is, the RF signal as it is is input.

一方、図５（ａ）に示すようなディフェクト信号が合った場合、例えばそのディフェクト信号をリトライする時に、プロセッサ１０は、メモリ９からのアドレス情報に基づいて、図５（ｅ）に示すように、ディフェクト処理信号Ｇ、例えばスイッチパルスを生成してＲＦスイッチ２に出力する。そうすると、ＲＦスイッチ２は、ＩＮ２にディフェクト信号を入力する。つまり、ディフェクト信号をサブＨＰＦ１のハイパス部を通すようにする。これにより、ディフェクト信号を減衰させることができ、エラーを低減することができる。   On the other hand, when the defect signal as shown in FIG. 5A matches, for example, when retrying the defect signal, the processor 10 based on the address information from the memory 9 as shown in FIG. A defect processing signal G, for example, a switch pulse is generated and output to the RF switch 2. Then, the RF switch 2 inputs a defect signal to IN2. That is, the defect signal is passed through the high pass portion of the sub HPF 1. Thereby, the defect signal can be attenuated, and errors can be reduced.

また、プロセッサ１０は、スイッチパルス信号２１だけでなく、これに加え、ＡＧＣホールド信号２２及びＰＬＬホールド信号２３のうち少なくとも一方を出力するようにしてもよい。   Further, the processor 10 may output not only the switch pulse signal 21 but also at least one of the AGC hold signal 22 and the PLL hold signal 23 in addition to the switch pulse signal 21.

図１０及び図１１は、ＲＦスイッチ２によるＤＣ成分除去の様子を示す波形図である。符号３６はディフェクト低周波信号、符号３７はＲＦスイッチ２のＩＮ１に信号が入力された場合のメインＨＰＦ３の出力、符号３８はサブＨＰＦ１のハイパスそのものの出力（ＩＮ２に入力される信号）をそれぞれ示している。また、符号３９は、符号４１のスイッチパルスがディフェクト信号から遅延してＲＦスイッチ２に入力され、これによりＲＦスイッチ２でＩＮ２が選択された場合の当該ＲＦスイッチ２の出力、符号４０はそのときのメインＨＰＦ３の出力をそれぞれ示している。動作をわかりやすくするため、このようにスイッチパルス４１の入力を、ディフェクト信号３６に対して遅延させた。実際の回路では、図３（ｃ）や図５（ｂ）等で示したように、ディフェクト検出はディフェクト信号に対して遅れるので、より現実に近く、わかりやすい。また、図１１で示すスイッチパルス４１は、図１０のそれに比べ遅くＯＮ状態になるように、かつ、ディフェクト信号３６の終了時より早くＯＦＦ状態になるようにした。   10 and 11 are waveform diagrams showing how the DC component is removed by the RF switch 2. Reference numeral 36 indicates a defect low frequency signal, reference numeral 37 indicates an output of the main HPF 3 when a signal is input to the IN 1 of the RF switch 2, and reference numeral 38 indicates an output of the high pass itself of the sub HPF 1 (signal input to the IN 2). ing. Reference numeral 39 denotes an output of the RF switch 2 when the switch pulse of the reference numeral 41 is delayed from the defect signal and is input to the RF switch 2, and IN2 is selected by the RF switch 2. The outputs of the main HPF 3 are respectively shown. In order to make the operation easy to understand, the input of the switch pulse 41 is delayed with respect to the defect signal 36 in this way. In an actual circuit, as shown in FIG. 3C, FIG. 5B, and the like, the defect detection is delayed with respect to the defect signal, so that it is closer to reality and easy to understand. Further, the switch pulse 41 shown in FIG. 11 is turned on later than that shown in FIG. 10 and turned off earlier than when the defect signal 36 ends.

図１０及び図１１から、ＩＮ２にスイッチングされることにより、メインＨＰＦ３による影響がなくなっていることが判る。このように、ディフェクト信号があったときは、メインＨＰＦ３の入力前、つまり、ＡＧＣ回路４の入力前に、メインＨＰＦ３の時定数より小さい時定数のサブＨＰＦ１に切り替えられることで、ＡＧＣ回路４の過渡応答を抑制し、エラーを低減することができる。   From FIGS. 10 and 11, it can be seen that the effect of the main HPF 3 is eliminated by switching to IN2. As described above, when there is a defect signal, the sub HPF 1 having a time constant smaller than the time constant of the main HPF 3 is switched before the input of the main HPF 3, that is, before the input of the AGC circuit 4. Transient response can be suppressed and errors can be reduced.

図１２は、本実施の形態のディフェクト処理信号Ｇでディフェクト処理したときの効果を示すグラフである。横軸が測定回数、縦軸がＬＤＣ（Ｌｏｎｇ Ｄｉｓｔａｎｃｅ Ｃｏｄｅ）のエラー個数を示している。ＬＤＣは、ブルーレイディスクで採用されている誤り訂正の方式であり、リードソロモン符号のパリティを長くして訂正能力を向上させたものである。図中、符号２５は、ディフェクト処理として、図４（ｂ）に示すタイミングでＲＦスイッチ２のスイッチング動作及びＡＧＣホールド動作を行った場合、符号２６は、本実施の形態を示し、ディフェクト処理として、図４（ｅ）に示すタイミングでＲＦスイッチ２のスイッチング動作及びＡＧＣホールド動作を行った場合を示している。符号２７は、図４（ｂ）に示すタイミングでＡＧＣホールドを行った場合、符号２８はＡＧＣホールド及びスイッチング両方ともない場合を示している。   FIG. 12 is a graph showing the effect when the defect processing is performed with the defect processing signal G of the present embodiment. The horizontal axis indicates the number of measurements, and the vertical axis indicates the number of errors in LDC (Long Distance Code). LDC is an error correction method used in Blu-ray Discs, and improves the correction capability by increasing the parity of Reed-Solomon codes. In the figure, reference numeral 25 denotes the defect process, and when the switching operation and the AGC hold operation of the RF switch 2 are performed at the timing shown in FIG. 4B, reference numeral 26 denotes the present embodiment. The case where the switching operation and the AGC hold operation of the RF switch 2 are performed at the timing shown in FIG. Reference numeral 27 denotes a case where AGC hold is performed at the timing shown in FIG. 4B, and reference numeral 28 denotes a case where neither AGC hold nor switching is performed.

このグラフから判るように、符号２５で示す場合と比較して、ＬＤＣエラーが平均８０個改善されている。事前に本発明者が予測した最大６０個より多くなったのは、測定精度が悪いためと考えられるが、ほぼ一致と言え、改善効果が確認された。本実施の形態では、すべてのディフェクトに効果があるものはなく、図４のように減衰及び増加のなだらかなディフェクトに効果がある。言い換えれば、ＲＦ信号がなければ改善できないことが判る。   As can be seen from this graph, an average of 80 LDC errors are improved compared to the case indicated by reference numeral 25. The reason why the number increased from the maximum of 60 predicted by the present inventor in advance is considered to be due to poor measurement accuracy, but it can be said that the results are almost the same, and the improvement effect was confirmed. In the present embodiment, there is no effect on all the defects, and there is an effect on a gentle defect of attenuation and increase as shown in FIG. In other words, it can be seen that improvement is not possible without an RF signal.

本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a configuration of an optical disc apparatus according to an embodiment of the present invention. 図１に示す信号処理回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the signal processing circuit shown in FIG. 従来において、ＡＧＣホールド後のＡＧＣ回路の過渡応答を説明するための波形図である。FIG. 6 is a waveform diagram for explaining a transient response of an AGC circuit after AGC hold in the related art. 実際のディフェクトの波形を示す。An actual defect waveform is shown. 本実施の形態に係るディフェクト処理の信号波形を示す図である。It is a figure which shows the signal waveform of the defect process which concerns on this Embodiment. ディスク表面のディフェクトとトラックピッチとの関係を示す模式図である。It is a schematic diagram showing the relationship between the defect on the disk surface and the track pitch. 図６に示すディフェクト処理をする場合の信号波形を示す図である。It is a figure which shows the signal waveform in the case of performing the defect process shown in FIG. ＨＰＦの低周波応答の波形（ステップ波入力）を示す図である。It is a figure which shows the waveform (step wave input) of the low frequency response of HPF. ＨＰＦの低周波応答の波形（サイン波入力）を示す図である。It is a figure which shows the waveform (sine wave input) of the low frequency response of HPF. ＲＦスイッチによるＤＣ成分除去の様子を示す波形図である。It is a wave form diagram which shows the mode of DC component removal by RF switch. ＲＦスイッチによるＤＣ成分除去の様子を示す波形図である（スイッチパルスタイミングを変えた場合）。It is a wave form diagram which shows the mode of DC component removal by RF switch (when switch pulse timing is changed). 本実施の形態に係るディフェクト処理信号でディフェクト処理したときの効果を示すグラフである。It is a graph which shows the effect at the time of performing a defect process with the defect process signal which concerns on this Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

１ サブＨＰＦ
２ ＲＦスイッチ
３ メインＨＰＦ
４ ＡＧＣ回路
７ ＰＬＬ回路
８ 復調回路&ＥＣＣ部
９ メモリ
１０ プロセッサ
１０１ 光ディスク装置
１０２ 光ディスク
１１０ 信号処理回路 1 Sub HPF
2 RF switch 3 Main HPF
4 AGC circuit 7 PLL circuit 8 Demodulation circuit & ECC unit 9 Memory 10 Processor 101 Optical disk device 102 Optical disk 110 Signal processing circuit

Claims (5)

誤り訂正符号が付加されたデータが変調されて記録された光ディスクからの反射光を用いて、前記データをＲＦ信号として再生するＲＦ信号再生手段と、
前記再生されたＲＦ信号を復調する復調手段と、
前記ＲＦ信号に含まれ該ＲＦ信号の周波数より低い周波数を有する第１の期間でなる欠陥信号に対応した、前記復調後のデータの誤りを検出可能な検出手段と、
前記検出された誤りのあるデータの前記光ディスク上の位置情報を取得し記憶する記憶手段と、
前記欠陥信号が含まれるＲＦ信号が記録された位置情報に基づき該データを再度再生する場合に、該位置情報に基づき、前記第１の期間を含むように、かつ、前記第１の期間が開始される前に第２の期間だけ、前記検出された誤りのあるデータを改善するための欠陥処理信号を生成することで、該第２の期間所定の改善処理を実行するように制御する制御手段と
を具備することを特徴とする光ディスク装置。 RF signal reproducing means for reproducing the data as an RF signal by using reflected light from the optical disk on which the data with the error correction code added is modulated and recorded;
Demodulation means for demodulating the reproduced RF signal;
Detection means capable of detecting an error in the demodulated data corresponding to the defect signal in the first period having a frequency lower than the frequency of the RF signal included in the RF signal;
Storage means for acquiring and storing position information of the detected erroneous data on the optical disc;
When the data is reproduced again based on the position information where the RF signal including the defect signal is recorded, the first period is started so as to include the first period based on the position information. Control means for generating a defect processing signal for improving the detected erroneous data only for a second period before being executed, thereby controlling to execute a predetermined improvement process for the second period An optical disc apparatus comprising: 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記反射光量のゲインを自動制御するＡＧＣ回路をさらに具備し、
前記制御手段は、前記改善処理として、前記欠陥処理信号を用いて前記ＡＧＣ回路に前記第２の期間だけＡＧＣホールドをかけることを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 1,
An AGC circuit that automatically controls the gain of the reflected light amount;
The optical disc apparatus characterized in that the control means applies an AGC hold to the AGC circuit only for the second period using the defect processing signal as the improvement processing. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記光ディスクに記録された同期信号からクロックを生成するＰＬＬ回路をさらに具備し、
前記制御手段は、前記改善処理として、前記欠陥処理信号を用いて前記第２の期間だけＰＬＬホールドをかけることを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 1,
A PLL circuit for generating a clock from the synchronization signal recorded on the optical disc;
The optical disc apparatus characterized in that the control means applies a PLL hold for the second period using the defect processing signal as the improvement processing. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記制御手段は、
前記欠陥信号の周波数より高いカットオフ周波数を有するハイパスフィルタと、
前記改善処理として、前記欠陥処理信号を生成している間だけ、前記欠陥信号を前記ハイパスフィルタにかけるように制御する手段と
を有することを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 1,
The control means includes
A high-pass filter having a cutoff frequency higher than the frequency of the defect signal;
An optical disc apparatus comprising: means for controlling the defect signal to be applied to the high-pass filter only while the defect processing signal is generated as the improvement process. 誤り訂正符号が付加されたデータが変調されて記録された光ディスクからの反射光を用いて、前記データをＲＦ信号として再生するステップと、
前記再生されたＲＦ信号を復調するステップと、
前記ＲＦ信号に含まれ該ＲＦ信号の周波数より低い周波数を有する第１の期間でなる欠陥信号に対応した、前記復調後のデータの誤りを検出するステップと、
前記検出された誤りのあるデータの前記光ディスク上の位置情報を取得して記憶するステップと、
前記欠陥信号が含まれるＲＦ信号が記録された位置情報に基づき該データを再度再生する場合に、該位置情報に基づき、前記第１の期間を含むように、かつ、前記第１の期間が開始される前に第２の期間だけ、前記検出された誤りのあるデータを改善するための欠陥処理信号を生成することで、該第２の期間所定の改善処理を実行するように制御するステップと
を具備することを特徴とする光ディスクの欠陥処理方法。 Replaying the data as an RF signal using reflected light from an optical disc on which data to which an error correction code is added is modulated and recorded;
Demodulating the regenerated RF signal;
Detecting an error in the demodulated data corresponding to a defect signal included in the RF signal and having a first period having a frequency lower than the frequency of the RF signal;
Obtaining and storing location information on the optical disc of the detected erroneous data;
When the data is reproduced again based on the position information in which the RF signal including the defect signal is recorded, the first period is started based on the position information so as to include the first period. Generating a defect processing signal for improving the detected erroneous data only for a second period before being performed, and controlling to execute a predetermined improvement process for the second period; An optical disc defect processing method comprising the steps of:

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