JP2006050331A - Carrier leak adjusting device of orthogonal modulator - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、デジタル方式の通信機等に用いられる直交変調器のキャリアリーク調整装置に関するものである。 The present invention relates to a carrier leak adjustment device for a quadrature modulator used in a digital communication device or the like.
移動体通信機器等のデジタル方式の通信機等では、直交変調器が頻繁に用いられるが、高い通信品質を確保する上で、キャリアリークを抑制することが重要な課題である。
そのため、キャリアリークを抑制するための様々な技術が開示されており、たとえば下記特許文献１に示すものがある。
In digital communication devices such as mobile communication devices, quadrature modulators are frequently used. However, in order to ensure high communication quality, it is an important issue to suppress carrier leakage.
For this reason, various techniques for suppressing carrier leakage have been disclosed, for example, as shown in
一般に、キャリアリークは、Ｌ０（搬送波）のフィードスルーもしくは変調回路のトランジスタのミスマッチ、ＤＣバイアスのずれなどから生ずる。
たとえば、直交変調は、９０°の位相差を持つＬ０キャリア（搬送波）を必要とし、この９０°の位相差を持つＬ０キャリアを入力した同相チャンネルの入力信号（以下、Ｉｃｈ）と直交チャンネルの入力信号（以下、Ｑｃｈ）に乗算する処理を変調回路において行う。その乗算処理を行う回路では、理想的にはＬ０キャリアを抑圧するように作用するが、実際には、回路素子等の不均衡に起因して搬送波が漏れるフィードスルーが発生する。
また、ＩｃｈおよびＱｃｈのＤＣバイアスのずれが存在する場合でも、乗算処理において、Ｌ０キャリアを抑圧できないので、同様に搬送波が漏れる。
In general, carrier leakage is caused by L0 (carrier wave) feedthrough, transistor mismatch of the modulation circuit, DC bias shift, or the like.
For example, quadrature modulation requires an L0 carrier (carrier wave) having a phase difference of 90 °, and an input signal of an in-phase channel (hereinafter referred to as Ich) to which the L0 carrier having a phase difference of 90 ° is input and an input of the quadrature channel. Processing for multiplying a signal (hereinafter referred to as Qch) is performed in the modulation circuit. In the circuit that performs the multiplication processing, the L0 carrier is ideally suppressed, but in reality, feedthrough in which the carrier leaks due to an imbalance of circuit elements or the like occurs.
Even when there is a deviation in the DC bias between Ich and Qch, the L0 carrier cannot be suppressed in the multiplication process, and thus the carrier leaks in the same manner.
図１は、従来の一般的な送信機におけるキャリアリーク調整装置付き直交変調器の構成を示すブロック図である。
図１に示す直交変調器の基本的な動作は、次の通りである。
すなわち、Ｉｃｈ，ＱｃｈおよびＬ０の信号を入力し、乗算器２では、ＩｃｈとＬ０を乗算する。乗算器５では、Ｌ０と９０°位相差を持つ信号とＱｃｈを乗算する。乗算器２および乗算器５の乗算結果は、加算器６で合成されてＲＦ出力信号（ＲＦ ＯＵＴ）が生成される。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a quadrature modulator with a carrier leak adjusting device in a conventional general transmitter.
The basic operation of the quadrature modulator shown in FIG. 1 is as follows.
That is, Ich, Qch, and L0 signals are input, and multiplier 2 multiplies Ich and L0. The multiplier 5 multiplies the signal having a phase difference of 90 from L0 by Qch. The multiplication results of the multiplier 2 and the multiplier 5 are combined by the adder 6 to generate an RF output signal (RF OUT).
図１に示す直交変調器のキャリアリークを打ち消すために、検波器（ＰＤ）７によりＲＦ出力信号を検波し、適切な補正信号を加算器１および４によりＩｃｈ，Ｑｃｈに加算する一連のフィードバック処理が形成される。
具体的には、Ｉｃｈ，Ｑｃｈが無信号状態において、以下の処理を行う。
すなわち、補正値に応じた複数のテストパターン（検査信号）が順に加算器１，４から入力され、Ａ／Ｄ変換器（ＡＤＣ）８は、検波器７で測定された電圧値をデジタル値に変換し、制御回路（ＣＴＲＬ）９に入力する。制御回路９は、そのデジタル値を用いて、キャリアリークが最小となる補正値を特定する。
算出された補正値は、Ｄ／Ａ変換器（ＤＡＣ）１０および１１によりアナログレベルの電圧もしくは電流（補正信号）に変換された上で、加算器１および４によりＩｃｈ，Ｑｃｈに加算される。これにより、キャリアリークが打ち消される。
In order to cancel the carrier leak of the quadrature modulator shown in FIG. 1, a series of feedback processing is performed in which an RF output signal is detected by a detector (PD) 7 and an appropriate correction signal is added to Ich and Qch by
Specifically, the following processing is performed when Ich and Qch are in the no-signal state.
That is, a plurality of test patterns (inspection signals) corresponding to the correction values are sequentially input from the
The calculated correction value is converted into an analog level voltage or current (correction signal) by the D / A converters (DACs) 10 and 11, and then added to Ich and Qch by the
制御回路９では、補正値を順にレベルを変化させてキャリアリークが最小となる補正値を探索する。従来の探索方法としては、（１）全探索法と、（２）一次元探索法（One dimensional search) が知られている。
以下、それぞれの探索方法について説明する。
The
Hereinafter, each search method will be described.
（１）全探索法
全検索法では、補正値を少しずつ変化させ、逐次キャリアリークを測定し、最小のキャリアリークが得られる補正値を特定する方法である。
図２は、全検索法の処理を示すフローチャートである。
なお、Ｉｔは、順次変化させるＩｃｈ用補正値（変数）を、Ｑｔは、順次変化させるＱｃｈ用補正値（変数）を、Ｌｍｉｎは、キャリアリークの最小値を、Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）は、Ｉｃｈ用およびＱｃｈ用補正値がそれぞれＩｔおよびＱｔである場合の検波器出力値を、Ｉｃｏｒは、特定されたＩｃｈ用補正値を、Ｑｃｏｒは、特定されたＱｃｈ用補正値を、それぞれ示す。
また、以下の説明では、変数として順次変化させるＩｔおよびＱｔを、特定される前の補正値という意味で、補正値候補と称する。
(1) Full Search Method The full search method is a method in which the correction value is changed little by little, the carrier leak is sequentially measured, and the correction value that provides the minimum carrier leak is specified.
FIG. 2 is a flowchart showing the processing of all search methods.
It is noted that It is a sequentially changed Ich correction value (variable), Qt is a sequentially changed Qch correction value (variable), Lmin is a minimum carrier leak value, and Meas (It, Qt) is The detector output values when the correction values for Ich and Qch are respectively It and Qt, Icor indicates the specified correction value for Ich, and Qcor indicates the specified correction value for Qch, respectively.
In the following description, It and Qt that are sequentially changed as variables are referred to as correction value candidates in the sense of correction values before being specified.
図２では、まず、ステップＳＴ１において、Ｉｔ，Ｑｔ，Ｉｃｏｒ，Ｑｃｏｒ，Ｌｍｉｎの各値が初期化される。
図２に示すフローチャートでは、ＩｔおよびＱｔを、ｄ０〜ｄＭおよびｄ０〜ｄＮの間で所定のレベルｄ１毎に順次変化させる。そして、検波器出力値Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）が最小となる毎に、Ｌｍｉｎを入れ替える処理を行う（ステップＳＴ３および４）。
これにより、全探索が終了した時点でのＬｍｉｎに対応するＩｔおよびＱｔを、ＩｃｏｒおよびＱｃｏｒとして特定する。
In FIG. 2, first, in step ST1, the values of It, Qt, Icor, Qcor, and Lmin are initialized.
In the flowchart shown in FIG. 2, It and Qt are sequentially changed between d0 to dM and d0 to dN for each predetermined level d1. Then, every time the detector output value Meas (It, Qt) is minimized, a process of exchanging Lmin is performed (steps ST3 and ST4).
Thereby, It and Qt corresponding to Lmin at the time when the full search is completed are specified as Icor and Qcor.
（２）一次元探索法
一次元検索法では、同様に補正値を少しずつ変化させるが、キャリアリークが検波出力との関係で１つの極小値をとることに着目し、補正値の全探索をすることなく、補正値を特定する方法である。
図３は、一次元検索法の処理を示すフローチャートであり、図４は、補正値ＩｔまたはＱｔと検波出力Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）との関係である。図４に示すように、補正値ＩｔまたはＱｔに対して、検波出力Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）は極小値（Ａ点）を有し、このＡ点で検波出力が最小となるとともに、キャリアリークが最小となる。
(2) One-dimensional search method In the one-dimensional search method, the correction value is similarly changed little by little. However, paying attention to the fact that the carrier leak takes one minimum value in relation to the detection output, a full search of the correction value is performed. This is a method of specifying the correction value without doing so.
FIG. 3 is a flowchart showing the processing of the one-dimensional search method, and FIG. 4 shows the relationship between the correction value It or Qt and the detection output Meas (It, Qt). As shown in FIG. 4, the detection output Meas (It, Qt) has a minimum value (point A) with respect to the correction value It or Qt. At this point A, the detection output is minimized and carrier leakage is reduced. Minimal.
図３のフローチャートでは、ステップＳＴ１０〜ＳＴ１３がＩｃｏｒを特定する処理であり、ステップＳＴ１４〜ＳＴ１８がＱｃｏｒを特定する処理である。
たとえば、Ｉｃｏｒを特定する処理では、Ｑｔ＝０として固定し、Ｉｔを所定のレベルｄ１毎に変化させ、ステップＳＴ１２に示す条件が成立するＩｔのひとつ手前のＩｔ（ステップＳＴ１４）をＩｃｏｒとして特定する。すなわち、ステップＳＴ１２に示す条件は、Ｉｔの変化に対して検波出力が単調減少となっている限り成立せず、この条件が成立する時は、図４に示すＡ点（極小値）を越え、単調増加に転じた場合であるため、ステップＳＴ１２の条件が成立した場合には、キャリアリークが最小となる補正値が一つ手前に存在したと判断する。
Ｑｃｏｒを特定する処理は、Ｉｔ＝Icorとして固定し、Ｑｔを所定のレベルｄ１毎に変化させて、同様な処理でＱｃｏｒを特定する。
In the flowchart of FIG. 3, steps ST10 to ST13 are processes for specifying Icor, and steps ST14 to ST18 are processes for specifying Qcor.
For example, in the process of specifying Icor, Qt = 0 is fixed, It is changed for each predetermined level d1, and It (step ST14) immediately before It that satisfies the condition shown in step ST12 is specified as Icor. . That is, the condition shown in step ST12 is not satisfied as long as the detection output is monotonously decreasing with respect to the change in It. When this condition is satisfied, the point A (minimum value) shown in FIG. Since this is a case of monotonous increase, when the condition of step ST12 is satisfied, it is determined that there is a correction value that minimizes the carrier leak.
In the process of specifying Qcor, it is fixed as It = Icor, Qt is changed for each predetermined level d1, and Qcor is specified by the same process.
ところで、上述したキャリアリーク調整方法（補正値探索方法）が実際には正しく機能しない場合がある。
たとえば、図３に「ノイズ」として示すように、検波出力にノイズが発生すると、単調減少から単調増加へ切り替わる転換点であるＡ点を正しく把握できないので、誤った補正値を特定する場合がある。特に、キャリアリーク調整回路をＩＣ内に実装する場合には、電源変動やデジタル回路またはＡ／Ｄ変換器におけるパルス状のノイズが検波出力に重畳するため、誤った補正値が特定される確率が高くなる。
誤った補正値がＩｃｈおよびＱｃｈに加算されると、キャリアリークを十分に消去することができず、送信機の特性を劣化させることになる。
Incidentally, the carrier leak adjustment method (correction value search method) described above may not actually function correctly.
For example, as shown in FIG. 3 as “noise”, if noise occurs in the detection output, the point A that is a turning point at which the monotonous decrease is changed to the monotonous increase cannot be correctly grasped, and thus an incorrect correction value may be specified. . In particular, when a carrier leak adjustment circuit is mounted in an IC, power fluctuations and pulsed noise in a digital circuit or A / D converter are superimposed on the detection output, so there is a probability that an incorrect correction value is specified. Get higher.
If an incorrect correction value is added to Ich and Qch, the carrier leak cannot be sufficiently eliminated, and the characteristics of the transmitter are deteriorated.
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、検波出力が変動した場合でも十分にキャリアリークを調整することができる直交変調器のキャリアリーク調整装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a carrier leak adjustment device for a quadrature modulator that can sufficiently adjust carrier leak even when the detection output fluctuates.
上記目的を達成するための本発明の第１の観点は、直交変調器の出力を検波する検波手段と、前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、前記キャリアリーク調整手段は、信号レベルが異なる連続した２つの補正信号によって測定された各キャリアリーク量の差分が所定の閾値以下である場合に、キャリアリーク量の測定結果は有効であると判断する直交変調器のキャリアリーク調整装置である。 In order to achieve the above object, a first aspect of the present invention is to provide detection means for detecting an output of a quadrature modulator and a correction signal to the quadrature modulator in order with a change in a predetermined signal level, Carrier leak adjustment means for sequentially measuring the amount of carrier leak with the output result of the detection means, identifying a correction signal that minimizes the amount of carrier leak, and adjusting the carrier leak of the quadrature modulator with the correction signal; The carrier leak adjustment means determines that the measurement result of the carrier leak amount is valid when the difference between the carrier leak amounts measured by two consecutive correction signals having different signal levels is equal to or less than a predetermined threshold value. This is a carrier leak adjustment device for a quadrature modulator.
上記目的を達成するための本発明の第２の観点は、直交変調器の出力を検波する検波手段と、前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、前記キャリアリーク調整手段は、特定された補正信号によりキャリアリーク量を所定回数測定し、測定された所定回数分のキャリアリーク量のばらつきに基づいて前記特定された補正信号が有効であるか否かを判断する直交変調器のキャリアリーク調整装置である。 In order to achieve the above object, a second aspect of the present invention is directed to detecting means for detecting an output of a quadrature modulator, and sequentially giving a correction signal to the quadrature modulator with a predetermined signal level change, Carrier leak adjustment means for sequentially measuring the amount of carrier leak with the output result of the detection means, identifying a correction signal that minimizes the amount of carrier leak, and adjusting the carrier leak of the quadrature modulator with the correction signal; The carrier leak adjustment means measures the carrier leak amount a predetermined number of times using the specified correction signal, and whether or not the specified correction signal is valid based on the measured carrier leak amount variation for the predetermined number of times. This is a carrier leak adjustment device for a quadrature modulator that determines whether or not.
上記目的を達成するための本発明の第３の観点は、直交変調器の出力を検波する検波手段と、前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、前記キャリアリーク調整手段は、特定された補正信号に基づいて測定されたキャリアリーク量と、前記特定された補正信号とのレベル差が所定量以下である複数の補正信号に基づいて測定された複数のキャリアリーク量と、のそれぞれのキャリアリーク量差分に基づいて、前記特定された補正信号が有効であるか否かを判断する直交変調器のキャリアリーク調整装置である。 In order to achieve the above object, a third aspect of the present invention is directed to detecting means for detecting an output of a quadrature modulator and a correction signal to the quadrature modulator in order with a change in a predetermined signal level, Carrier leak adjustment means for sequentially measuring the amount of carrier leak with the output result of the detection means, identifying a correction signal that minimizes the amount of carrier leak, and adjusting the carrier leak of the quadrature modulator with the correction signal; The carrier leak adjustment means is measured based on a plurality of correction signals whose level difference between the carrier leak amount measured based on the specified correction signal and the specified correction signal is equal to or less than a predetermined amount. A quadrature modulator key for determining whether the specified correction signal is valid based on a plurality of carrier leak amounts and a difference between the carrier leak amounts. It is a Riariku adjustment device.
本発明の第１の観点に係る直交変調器のキャリアリーク調整装置の作用は、以下の通りである。
すなわち、キャリアリーク調整手段は、直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、検波手段は、直交変調器の出力としてキャリアリーク量を出力する。
キャリアリーク調整手段は、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に直交変調器に与え、検波手段の出力であるキャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整する。
その際、キャリアリーク調整手段は、信号レベルが異なる連続した２つの補正信号によって測定された各キャリアリーク量の差分が所定の閾値以下である場合に、キャリアリーク量の測定結果は有効であると判断する。すなわち、補正信号の変化に対して測定されたキャリアリーク量の変化が所定の閾値より大きい場合には、測定結果を無効と判断するので、誤った補正信号を特定することがない。
The operation of the carrier leak adjusting apparatus of the quadrature modulator according to the first aspect of the present invention is as follows.
That is, the carrier leak adjustment means sequentially gives correction signals to the quadrature modulator with a predetermined signal level change, and the detection means outputs the amount of carrier leak as the output of the quadrature modulator.
The carrier leak adjustment means sequentially applies the correction signal to the quadrature modulator with a change in a predetermined signal level, specifies the correction signal that minimizes the amount of carrier leak that is the output of the detection means, and uses the correction signal to specify the correction signal. Adjust the carrier leak.
At that time, the carrier leak adjustment means that the measurement result of the carrier leak amount is valid when the difference between the carrier leak amounts measured by two consecutive correction signals having different signal levels is equal to or less than a predetermined threshold value. to decide. That is, when the change in the carrier leak amount measured with respect to the change in the correction signal is larger than the predetermined threshold value, the measurement result is determined to be invalid, so that an incorrect correction signal is not specified.
本発明によれば、検波出力が変動した場合でも十分にキャリアリークを調整することができるので、直交変調器のキャリアリーク特性が安定する。 According to the present invention, since the carrier leak can be sufficiently adjusted even when the detection output fluctuates, the carrier leak characteristic of the quadrature modulator is stabilized.
第１の実施形態
以下、本発明の一実施形態について説明する。
本実施形態に係るキャリアリーク調整装置の構成および全体的な動作は、図１に示した従来のキャリアリーク調整装置と同様であるが、制御回路（ＣＲＴＬ）９で行われる補正値の特定方法を、すでに述べた従来の全探索法／一次元探索法から改良した点に特徴があり、この点について以下説明する。
なお、図１に示した制御回路９は、本発明のキャリアリーク調整手段の一実施形態であり、検波器７は、本発明の検波手段の一実施形態である。
First Embodiment Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described.
The configuration and overall operation of the carrier leak adjusting apparatus according to the present embodiment are the same as those of the conventional carrier leak adjusting apparatus shown in FIG. 1, but a method for specifying a correction value performed by the control circuit (CRTL) 9 is used. The above-described conventional full search method / one-dimensional search method is characterized by an improvement, and this point will be described below.
The
また、以下の説明では、一例として全探索法をベースとして説明するが、所定レベル毎に補正値を変化させる点では一次元探索法も同様であるため、一次元探索法にも適用可能である。
以下の説明では、図２および図３同様に、Ｉｔは、Ｉｃｈ用補正値候補（変数）を、Ｑｔは、Ｑｃｈ用補正値候補（変数）を、Ｌｍｉｎは、キャリアリークの最小値を、Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）は、Ｉｃｈ用およびＱｃｈ用補正値がそれぞれＩｔおよびＱｔである場合の検波出力を、Ｉｃｏｒは、特定されたＩｃｈ用補正値を、Ｑｃｏｒは、特定されたＱｃｈ用補正値を、それぞれ示す。
In the following description, the full search method will be described as an example. However, the one-dimensional search method is the same in that the correction value is changed for each predetermined level, and can be applied to the one-dimensional search method. .
In the following description, as in FIG. 2 and FIG. 3, It is the correction value candidate (variable) for Ich, Qt is the correction value candidate (variable) for Qch, Lmin is the minimum value of carrier leak, Meas (It, Qt) represents the detection output when the correction values for Ich and Qch are respectively It and Qt, Icor represents the specified correction value for Ich, and Qcor represents the specified correction value for Qch. , Respectively.
図４に示したように、ノイズの影響を受けない理想的な状態では、補正値の変化に対するキャリアリーク（検波出力）が示す曲線は予測可能なレベルである。すなわち、ある補正値候補であるＩｔ，Ｑｔと、その近隣の補正値候補のそれぞれに基づくキャリアリークの測定値（検波出力）の差分量の最大値は、シミュレーションや実際の測定結果などにより予め取得可能なデータである。
したがって、ある補正値候補に基づくキャリアリークの測定値と、１ステップ前の補正値候補群に基づくキャリアリークの測定値との差分量が予め規定された差分量よりも大きい場合には、パルス状のノイズの影響を受けたことによって図４に示す理想的な関係が崩れたものと見て、測定結果が信頼できないと判断することができる。
As shown in FIG. 4, in an ideal state that is not affected by noise, a curve indicated by carrier leak (detection output) with respect to a change in correction value is a predictable level. That is, the maximum value of the difference between the carrier leak measurement values (detection output) based on each of the correction value candidates It and Qt and the neighboring correction value candidates is obtained in advance by simulation or actual measurement results. It is possible data.
Therefore, when the difference amount between the measured value of carrier leak based on a certain correction value candidate and the measured value of carrier leak based on the correction value candidate group one step before is larger than a predetermined difference amount, It can be determined that the measurement result is unreliable considering that the ideal relationship shown in FIG.
具体的には、補正値候補Ｉｔを所定のレベルｄ１毎に変化させる際に、隣接する測定値であるＭｅａｓ（Ｉｔ−ｄ１，Ｑｔ）とＭｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）の差分の絶対値Ｄｉｆを、データの信頼性に対する指標とし、このＤｉｆが所定値（後述するＤｉｆ＿ｔｈ）よりも小さい場合に、データとしての信頼性があると判断する。
すなわち、Ｄｉｆを下記数式１に示すように定義する。なお、同様に補正値候補Ｑｔに対してもＤｉｆが定義できることは言うまでもない。
Specifically, when changing the correction value candidate It for each predetermined level d1, the absolute value Dif of the difference between Meas (It−d1, Qt) and Meas (It, Qt), which are adjacent measurement values, As an index for the reliability of data, when this Dif is smaller than a predetermined value (Dif_th described later), it is determined that there is reliability as data.
That is, Dif is defined as shown in
図５は、上述したＤｉｆをデータの信頼性に対する指標とした場合の全探索法に基づく補正値特定処理を示すフローチャートである。図５（ａ）および（ｂ）は、それぞれフローチャートの一例である。
本実施形態に係る改良された全探索法は、図５（ａ）および（ｂ）に示す各フローチャートを、すでに図２で示した従来の全探索法のフローチャート上のステップＳＴ２〜４に入れ替えることにより実現される。
すなわち、ある補正値候補に対する検波出力Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）が最小値であるか否かを評価する（図２のステップＳＴ３）前にＤｉｆによるデータ信頼性評価を行うようにフローチャートを構成する。
FIG. 5 is a flowchart showing the correction value specifying process based on the full search method when the above-described Dif is used as an index for data reliability. FIGS. 5A and 5B are examples of flowcharts.
In the improved full search method according to the present embodiment, the flowcharts shown in FIGS. 5A and 5B are replaced with steps ST2 to ST4 on the flowchart of the conventional full search method already shown in FIG. It is realized by.
That is, the flowchart is configured so that the data reliability evaluation by Dif is performed before evaluating whether or not the detection output Meas (It, Qt) for a certain correction value candidate is the minimum value (step ST3 in FIG. 2).
図５（ａ）では、検波出力を測定（ステップＳＴ２０）した後に、補正値候補がＩｔである場合には、上記数式１に基づいてＤｉｆを算出し（ステップＳＴ２１）、算出したＤｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）以下であるか否かを評価する（ステップＳＴ２２）。
その結果、Ｄｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）以上である場合、すなわち、検波出力の変化量が予想より大きい場合には、データ信頼性がないと判断して、再度検波出力の測定（ステップＳＴ２０）を行う。
一方、Ｄｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）より小さい場合、すなわち、検波出力の変化量が予想した範囲内である場合には、データ信頼性があると判断して、ステップＳＴ２３以降の処理（図２のステップＳＴ３以降と同様の処理）を行う。
In FIG. 5A, after the detection output is measured (step ST20), if the correction value candidate is It, Dif is calculated based on Equation 1 (step ST21), and the calculated Dif is a predetermined value. It is evaluated whether or not it is equal to or less than a threshold value (Dif_th) (step ST22).
As a result, when Dif is equal to or greater than a predetermined threshold (Dif_th), that is, when the change amount of the detection output is larger than expected, it is determined that there is no data reliability, and the detection output is measured again (step ST20). I do.
On the other hand, if Dif is smaller than the predetermined threshold (Dif_th), that is, if the change amount of the detection output is within the expected range, it is determined that there is data reliability, and the processing after step ST23 (FIG. 2). Step ST3 and subsequent steps).
図５（ｂ）では、Ｄｉｆによるデータ信頼性評価を図２のフローチャートのステップＳＴ３の後に行うように構成している。 In FIG. 5B, the data reliability evaluation by Dif is performed after step ST3 of the flowchart of FIG.
ところで、ランダムなパルス状のノイズではなく定常的にノイズが発生している場合には、図５（ａ）のステップＳＴ２２および図５（ｂ）のステップＳＴ３３（Ｄｉｆの条件判断ステップ）において、常に条件を満足しない場合が考えられ、かかる場合には永久ループに陥り、補正値を長時間特定できない事態が想定しうる。したがって、Ｄｉｆの条件判断を所定回数行い、満足しない場合には回避処理を行う必要が生ずる。
回避処理としては、キャリアリークの調整処理を終了（キャリブレーションの異常終了）する処理と、Ｄｉｆの条件判断をクリアできない補正値候補をスキップする処理の２通りの処理が考えられる。
By the way, when noise is steadily generated instead of random pulse noise, in step ST22 of FIG. 5A and step ST33 of FIG. 5B (Dif condition determination step), it is always performed. There may be a case where the condition is not satisfied. In such a case, a situation may occur in which the correction value cannot be specified for a long time due to an endless loop. Accordingly, the Dif condition determination is performed a predetermined number of times, and if it is not satisfied, an avoidance process needs to be performed.
As the avoidance processing, two types of processing are conceivable: processing for ending carrier leak adjustment processing (abnormal end of calibration) and processing for skipping correction value candidates that cannot clear the Dif condition determination.
図６は、図５（ａ）のフローチャートをベースに、上述した回避処理を付加したフローチャートであり、（ａ）は、キャリブレーションの異常終了処理を付加し、（ｂ）Ｄｉｆの条件判断をクリアできない補正値候補をスキップする処理を付加している。
図６（ａ）では、Ｄｉｆの条件判断（ステップＳＴ４３）が所定回数Ｋだけ成立しない（ステップＳＴ４８）時には、キャリブレーション異常終了（ステップＳＴ４９）として、キャリアリークの調整処理を中止する。
図６（ｂ）のケ−スでは、Ｄｉｆの条件判断（ステップＳＴ５３）が所定回数Ｋだけ成立しない（ステップＳＴ５８）時には、その補正値候補は異常であると判断して、その補正値候補をスキップし、次の補正値候補（スキップした補正値候補をＩｔとすると、Ｉｔ＋ｄ１）に対して、検波出力の測定を行う。
FIG. 6 is a flowchart in which the above-described avoidance process is added based on the flowchart of FIG. 5A. FIG. 6A is a flowchart for adding an abnormal end process for calibration and (b) clearing the condition determination of Dif. Processing to skip correction value candidates that cannot be performed is added.
In FIG. 6A, when the Dif condition determination (step ST43) is not established a predetermined number of times K (step ST48), the calibration of the carrier leak is terminated as a calibration abnormal end (step ST49).
In the case of FIG. 6B, when the Dif condition determination (step ST53) is not established a predetermined number of times K (step ST58), it is determined that the correction value candidate is abnormal, and the correction value candidate is selected. The detection output is measured for the next correction value candidate (It + d1 if the skipped correction value candidate is It).
以上説明したように、本実施形態に係るキャリアリーク調整装置によれば、変調回路や周辺回路により検波出力にノイズが重畳した場合であっても、キャリアリークの調整のための補正値を誤って特定することがないので、キャリアリークを適切に除去できる。
特に、本実施形態に係るキャリアリーク調整装置がＩＣ内に実装される場合には、ＩＣ内部で発生する電源やデジタル回路、Ａ／Ｄ変換回路等の影響によるパルス状のノイズが検波出力に発生しやすくなるが、かかる場合にも直交変調器のキャリアリーク特性を安定させることができる。
As described above, according to the carrier leak adjustment device according to the present embodiment, even when noise is superimposed on the detection output by the modulation circuit or the peripheral circuit, the correction value for adjusting the carrier leak is erroneously set. Since it is not specified, carrier leak can be appropriately removed.
In particular, when the carrier leak adjustment apparatus according to this embodiment is mounted in an IC, pulsed noise is generated in the detection output due to the influence of the power supply, digital circuit, A / D conversion circuit, etc. generated in the IC. In this case, the carrier leak characteristic of the quadrature modulator can be stabilized.
第２の実施形態
本実施形態に係るキャリアリーク調整装置は、パルス状のノイズがランダムに発生することに着目し、ある補正値探索アルゴリズムで特定された補正値のデータ信頼性を確認する方法として、その補正値により複数回検波出力（キャリアリーク）を測定し、これらのキャリアリーク量のばらつきを評価することを行う。
なお、補正値探索アルゴリズムとして、前述した全探索法、一次元探索法、その他の探索法を問わず、適用可能である。
Second Embodiment The carrier leak adjustment apparatus according to the present embodiment pays attention to the fact that pulse-like noise occurs randomly, and as a method for confirming the data reliability of a correction value specified by a certain correction value search algorithm. Then, the detection output (carrier leak) is measured a plurality of times based on the correction value, and the variation in these carrier leak amounts is evaluated.
The correction value search algorithm can be applied regardless of the above-described full search method, one-dimensional search method, and other search methods.
図７は、上述したキャリアリークのばらつきを評価するための処理を示すフローチャートである。図７（ａ）および（ｂ）は、それぞれフローチャートの一例である。
図７（ａ）において、まず補正値探索アルゴリズムにより補正値を特定する。たとえば、図２に示した全探索法法や、図３に示した一次元探索法により補正値を特定する（ステップＳＴ６０およびＳＴ６１）。
ステップＳＴ６２〜ＳＴ６４は、所定回数（Ｋ）分、ステップＳＴ６１で設定された補正値に基づいてキャリアリークを測定するためのデータ取得処理である。すなわち、ｋがインクリメントされてＫに達するまでステップＳＴ６３における測定が繰り返される。なお、各回毎のキャリアリークの値は、図示しないメモリに保持しておく。
FIG. 7 is a flowchart showing a process for evaluating the above-described carrier leak variation. FIGS. 7A and 7B are examples of flowcharts.
In FIG. 7A, first, a correction value is specified by a correction value search algorithm. For example, the correction value is specified by the full search method shown in FIG. 2 or the one-dimensional search method shown in FIG. 3 (steps ST60 and ST61).
Steps ST62 to ST64 are data acquisition processing for measuring carrier leak based on the correction value set in step ST61 for a predetermined number of times (K). That is, the measurement in step ST63 is repeated until k is incremented and reaches K. The carrier leak value for each time is held in a memory (not shown).
ステップＳＴ６６では、ステップＳＴ６２〜ＳＴ６４で取得した所定回数分の測定値のばらつき（Ｅｒｒｏｒ）を算出する。
測定値のばらつき（Ｅｒｒｏｒ）を算出する方法としては、様々な方法が考えられるが、たとえば、以下の方法を適用することができる。
In step ST66, the variation (Error) of the measured value for the predetermined number of times acquired in steps ST62 to ST64 is calculated.
Various methods are conceivable as a method for calculating the measurement value variation (Error). For example, the following method can be applied.
（ｉ）測定値の平均値に基づいて算出する方法
複数の測定値の平均値からの偏差に基づいてＥｒｒｏｒを算出する方法であり、たとえば、下記の数式２および数式３により算出する。
(I) Method of calculating based on average value of measured values This is a method of calculating Error based on a deviation from the average value of a plurality of measured values. For example, it is calculated by the following formulas 2 and 3.
（ii）予め設定された値との差分に基づいて算出する方法
複数の測定値の平均値と予め設定された値との差分に基づいてＥｒｒｏｒを算出する方法であり、たとえば、下記の数式４〜６により算出する。なお、Ａは、予め設定された値である。
(Ii) Method of calculating based on difference from preset value This is a method of calculating Error based on the difference between an average value of a plurality of measured values and a preset value. Calculated by ~ 6. A is a preset value.
ステップＳＴ６７では、ステップＳＴ６６で算出された測定値のばらつき（Ｅｒｒｏｒ）の評価が行われる。具体的には、測定値のばらつき（Ｅｒｒｏｒ）が予め設定した閾値（Ｅｒｒｏｒ＿ｔｈ）より小さい場合、すなわち、ばらつきが小さい場合には、ステップＳＴ６０で特定された補正値の信頼性が高いと判断し、この補正値に基づいてキャリアリークの調整を行う。
一方、測定値のばらつき（Ｅｒｒｏｒ）が予め設定した閾値（Ｅｒｒｏｒ＿ｔｈ）以上である場合、すなわち、ばらつきが大きい場合には、ステップＳＴ６０で特定された補正値の信頼性が低いと判断し、この補正値に基づいてキャリアリークの調整は行わずに、かかる場合には、ステップＳＴ６０に戻り再度補正値を計算する。
In step ST67, the measurement value variation (Error) calculated in step ST66 is evaluated. Specifically, when the measurement value variation (Error) is smaller than a preset threshold value (Error_th), that is, when the variation is small, it is determined that the reliability of the correction value specified in step ST60 is high. The carrier leak is adjusted based on the correction value.
On the other hand, when the variation (Error) of the measured value is equal to or greater than a preset threshold value (Error_th), that is, when the variation is large, it is determined that the reliability of the correction value specified in step ST60 is low, and this correction is performed. In such a case, the carrier leak is not adjusted based on the value, and in such a case, the process returns to step ST60 to calculate the correction value again.
なお、上記数式６のようなＥｒｒｏｒの算出方法を適用した場合には、キャリアリークの測定値を算出する毎に判断を行う逐次処理が可能となる。図７（ｂ）は、その場合の処理を示すフローチャートである。
図７（ｂ）に示すフローチャートでは、Ｅｒｒｏｒの判断処理（ステップＳＴ７５）がｋのインクリメントを行うループ内（ステップＳＴ７３〜７６）に組み込まれている。
In addition, when the error calculation method such as Equation 6 described above is applied, it is possible to perform sequential processing in which a determination is made each time a measured value of carrier leak is calculated. FIG. 7B is a flowchart showing the processing in that case.
In the flowchart shown in FIG. 7B, Error determination processing (step ST75) is incorporated in a loop (steps ST73 to ST76) in which k is incremented.
図７に示したフローチャートに対して、さらに補正値の再計算を行う際の最大回数を設定することにより、キャリブレ−ションの異常動作（無限ループ）を回避するように構成することもできる。その回避処理を付加したフローチャートを図８に示す。
図８では、ステップＳＴ８０で変数ｌの初期化を行い、Ｅｒｒｏｒの判断条件（ステップＳＴ８７）を所定回数（Ｌ）満足しない場合には（ステップＳＴ８９ａ）、キャリブレ−ションを終了する（ステップＳＴ８９ｂ）。すなわちキャリアリークの調整を中止する。
With respect to the flowchart shown in FIG. 7, it is also possible to avoid an abnormal calibration operation (infinite loop) by setting the maximum number of times when the correction value is recalculated. A flowchart with the avoidance processing added is shown in FIG.
In FIG. 8, the variable l is initialized in step ST80, and when the error judgment condition (step ST87) is not satisfied a predetermined number of times (L) (step ST89a), the calibration is terminated (step ST89b). That is, the adjustment of the carrier leak is stopped.
以上説明したように、本実施形態に係るキャリアリーク調整装置によれば、キャリアリークの調整のために算出した補正値に対する信頼性を評価する処理を行うので、誤った補正値によりキャリアリークの調整を行うことがなくなり、直交変調器のキャリアリーク特性を安定させることができる。 As described above, according to the carrier leak adjustment device according to the present embodiment, since the process for evaluating the reliability of the correction value calculated for the carrier leak adjustment is performed, the carrier leak adjustment is performed using an incorrect correction value. And the carrier leak characteristic of the quadrature modulator can be stabilized.
第３の実施形態
本実施形態に係るキャリアリーク調整装置は、図４に示したように、キャリアリーク特性が極小値を持つことに着目し、ある補正値探索アルゴリズムで特定された補正値のデータ信頼性を確認する方法として、その補正値による検波出力（キャリアリーク）と、その補正値近辺の値（補正値候補）による検波出力との差分を算出し、この差分を評価することを行う。
なお、補正値探索アルゴリズムとして、前述した全探索法、一次元探索法、その他の探索法を問わず、適用可能である。
Third Embodiment As shown in FIG. 4, the carrier leak adjusting apparatus according to the present embodiment pays attention to the fact that the carrier leak characteristic has a minimum value, and the correction value data specified by a certain correction value search algorithm. As a method of confirming reliability, a difference between a detection output (carrier leak) based on the correction value and a detection output based on a value in the vicinity of the correction value (correction value candidate) is calculated, and this difference is evaluated.
The correction value search algorithm can be applied regardless of the above-described full search method, one-dimensional search method, and other search methods.
図９は、本実施形態に係るキャリアリーク調整装置の処理を示すフローチャートであり、（ａ）は、キャリブレーションの異常終了がない場合を、（ｂ）キャリブレーションの異常終了がある場合を、それぞれ示す。
図９（ａ）において、まず補正値探索アルゴリズムにより補正値を特定する。たとえば、図２に示した全探索法法や、図３に示した一次元探索法により補正値を特定する（ステップＳＴ９０およびＳＴ９１）。
次に、特定した補正値によりキャリアリークの測定を行い（ステップＳＴ９２）、その測定値を保持しておく。なお、ステップＳＴ９０で取得したキャリアリークの測定値を保持している場合には、ステップＳＴ９２で再度キャリアリークの測定を行う必要はない。
FIG. 9 is a flowchart showing the processing of the carrier leak adjustment apparatus according to the present embodiment. (A) shows a case where there is no abnormal end of calibration, and (b) shows a case where there is an abnormal end of calibration. Show.
In FIG. 9A, first, a correction value is specified by a correction value search algorithm. For example, the correction value is specified by the full search method shown in FIG. 2 or the one-dimensional search method shown in FIG. 3 (steps ST90 and ST91).
Next, carrier leak is measured using the specified correction value (step ST92), and the measured value is held. When the carrier leak measurement value acquired in step ST90 is held, it is not necessary to measure the carrier leak again in step ST92.
次に、その補正値近辺の値（補正値候補）によるキャリアリークの測定を行う。
まず、ステップＳＴ９３において、ステップＳＴ９０で特定された補正値の近辺の値（補正値候補）を設定する。たとえば、ステップＳＴ９０で特定された補正値を、ＩｃｏｒおよびＱｃｏｒとすると、補正値候補として、１ビット分（ｄ１）ずれた値である（Ｉｃｏｒ−ｄ１，Ｑｃｏｒ）もしくは（Ｉｃｏｒ，Ｑｃｏｒ−ｄ１）が設定される。
なお、ｄ１は、たとえば図２および図３で示したように、全探索法や一次元探索法を行う際の補正値候補の単位変化量である。
また、ステップＳＴ９３において設定する補正値候補は、上述した１ビット分（ｄ１）ずれた値に拘泥せず、特定された補正値の近辺の値であれば、たとえば２ビット分（ｄ１×２）や３ビット分（ｄ１×３）ずれた値でも構わない。ステップＳＴ９３において設定する補正値候補は１つのみに限定せず、複数設定しても構わない。
Next, the carrier leak is measured by a value in the vicinity of the correction value (correction value candidate).
First, in step ST93, a value in the vicinity of the correction value specified in step ST90 (correction value candidate) is set. For example, if the correction values specified in step ST90 are Icor and Qcor, (Icor-d1, Qcor) or (Icor, Qcor-d1), which is a value shifted by one bit (d1), is a correction value candidate. Is set.
Note that d1 is a unit change amount of a correction value candidate when performing a full search method or a one-dimensional search method as shown in FIGS. 2 and 3, for example.
Further, the correction value candidate set in step ST93 is not limited to the value shifted by 1 bit (d1) described above, and if it is a value near the specified correction value, for example, 2 bits (d1 × 2). Alternatively, a value shifted by 3 bits (d1 × 3) may be used. The number of correction value candidates set in step ST93 is not limited to one, and a plurality of correction value candidates may be set.
次に、ステップＳＴ９３において設定した補正値候補のキャリアリークを測定し（ステップＳＴ９４）、ステップＳＴ９２で測定した値との差分（Ｄｉｆ）を算出する（ステップＳＴ９５）。
すなわち、Ｄｉｆを、以下の数式７に示すように算出する。
Next, the carrier leak of the correction value candidate set in step ST93 is measured (step ST94), and the difference (Dif) from the value measured in step ST92 is calculated (step ST95).
That is, Dif is calculated as shown in Equation 7 below.
次に、算出したＤｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）以下であるか否かを評価する（ステップＳＴ９６）。
その結果、Ｄｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）以上である場合、すなわち、一度特定した補正値によるキャリアリークの測定値と、その近辺の補正値候補によるキャリアリークの測定値との差分が大きい場合には、特定した補正値の信頼性がないと判断して、再度補正値探索アルゴリズムによる補正値の特定を行う（ステップＳＴ９０）。
一方、Ｄｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）より小さい場合、すなわち、一度特定した補正値によるキャリアリークの測定値と、その近辺の補正値候補によるキャリアリークの測定値との差分が小さい場合には、特定した補正値の信頼性があると判断して、ステップＳＴ９０で特定した補正値を確定させ（ステップＳＴ９７）、これに基づくキャリアリークの調整を行う。
Next, it is evaluated whether or not the calculated Dif is equal to or less than a predetermined threshold (Dif_th) (step ST96).
As a result, when Dif is greater than or equal to a predetermined threshold value (Dif_th), that is, when the difference between the measured value of the carrier leak with the correction value once specified and the measured value of the carrier leak with the correction value candidate in the vicinity thereof is large. Determines that the specified correction value is not reliable, and specifies the correction value again by the correction value search algorithm (step ST90).
On the other hand, when Dif is smaller than a predetermined threshold value (Dif_th), that is, when the difference between the measured value of carrier leak by the correction value once specified and the measured value of carrier leak by the correction value candidate in the vicinity thereof is small, It is determined that the specified correction value is reliable, the correction value specified in step ST90 is fixed (step ST97), and carrier leak adjustment based on this is performed.
以上、図９（ａ）に示すフローチャートについて説明した。
なお、図９（ａ）に示したフローチャートに対して、さらに補正値の再計算を行う際の最大回数を設定することにより、キャリブレ−ションの異常動作（無限ループ）を回避するように構成することもできる。その回避処理を付加したフローチャートを図９（ｂ）に示す。
図９（ｂ）では、ステップＳＴ１００で変数ｌの初期化を行い、Ｄｉｆの判断条件（ステップＳＴ１０７）を所定回数（Ｌ）満足しない場合には（ステップＳＴ１０９ａ）、キャリブレ−ションを終了する（ステップＳＴ１０９ｂ）。すなわちキャリアリークの調整を中止する。
The flowchart shown in FIG. 9A has been described above.
It should be noted that the flowchart shown in FIG. 9A is configured to avoid an abnormal calibration operation (infinite loop) by further setting the maximum number of times when correction values are recalculated. You can also A flowchart with the avoidance process added is shown in FIG.
In FIG. 9B, the variable l is initialized in step ST100, and if the Dif determination condition (step ST107) is not satisfied a predetermined number of times (L) (step ST109a), the calibration is terminated (step ST109a). ST109b). That is, the adjustment of the carrier leak is stopped.
以上説明したように、本実施形態に係るキャリアリーク調整装置によれば、第２の実施形態に係るキャリアリーク調整装置と同様に、キャリアリークの調整のために算出した補正値に対する信頼性を評価する処理を行うので、誤った補正値によりキャリアリークの調整を行うことがなくなり、直交変調器のキャリアリーク特性を安定させることができる。 As described above, according to the carrier leak adjustment device according to the present embodiment, the reliability with respect to the correction value calculated for carrier leak adjustment is evaluated in the same manner as the carrier leak adjustment device according to the second embodiment. Therefore, the carrier leak is not adjusted by an incorrect correction value, and the carrier leak characteristic of the quadrature modulator can be stabilized.
１，４，６…加算器、２，５…乗算器、３…位相変換器、７…検波器、８…Ａ／Ｄ変換器、９…制御回路、１０，１１…Ｄ／Ａ変換器
DESCRIPTION OF
Claims (10)
前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、
前記キャリアリーク調整手段は、
信号レベルが異なる連続した２つの補正信号によって測定された各キャリアリーク量の差分が所定の閾値以下である場合に、キャリアリーク量の測定結果は有効であると判断する
直交変調器のキャリアリーク調整装置。 Detection means for detecting the output of the quadrature modulator;
A correction signal is sequentially given to the quadrature modulator with a change in a predetermined signal level, and a carrier leak amount is sequentially measured with an output result of the detection means, and a correction signal that minimizes the carrier leak amount is identified, Carrier leak adjustment means for adjusting the carrier leak of the quadrature modulator with a correction signal,
The carrier leak adjusting means is
The carrier leak adjustment of the quadrature modulator determines that the measurement result of the carrier leak amount is valid when the difference between the carrier leak amounts measured by two consecutive correction signals having different signal levels is equal to or less than a predetermined threshold value. apparatus.
前記連続した２つの補正信号であるＮ番目の補正信号（Ｎ：整数）とＮ＋１番目の補正信号に基づいて、前記キャリアリーク量の測定結果が有効であると判断しない場合には、Ｎ＋１番目の補正信号に基づいたキャリアリーク量を再度測定し、Ｎ番目とＮ＋１番目の補正信号に基づいた差分を再度算出する
請求項１記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。 The carrier leak adjusting means is
If it is not determined that the measurement result of the carrier leak amount is valid based on the Nth correction signal (N: integer) and the N + 1th correction signal, which are the two consecutive correction signals, the N + 1th The carrier leak adjustment device for a quadrature modulator according to claim 1, wherein the carrier leak amount based on the correction signal is measured again, and the difference based on the Nth and N + 1th correction signals is calculated again.
前記Ｎ番目およびＮ＋１番目の補正信号に基づいて、所定回数キャリアリーク量が有効であると判断しない場合には、キャリアリークの調整を行わない
請求項２記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。 The carrier leak adjusting means is
The carrier leak adjustment device for an orthogonal modulator according to claim 2, wherein the carrier leak is not adjusted when it is not determined that the carrier leak amount is valid a predetermined number of times based on the Nth and (N + 1) th correction signals.
Ｎ番目およびＮ＋１番目の補正信号に基づいて、所定回数キャリアリーク量の測定結果が有効であると判断しない場合には、Ｎ＋１番目の補正信号を無効として、Ｎ＋２番目の補正信号からキャリアリーク量を測定し、キャリアリーク量の差分を算出する
請求項２記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。 The carrier leak adjusting means is
When it is not determined that the measurement result of the carrier leak amount is valid a predetermined number of times based on the Nth and N + 1th correction signals, the N + 1th correction signal is invalidated and the carrier leak amount is calculated from the N + 2th correction signal. The carrier leak adjustment device for a quadrature modulator according to claim 2, wherein the carrier leak amount difference is measured and calculated.
前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、
前記キャリアリーク調整手段は、
特定された補正信号によりキャリアリーク量を所定回数測定し、測定された所定回数分のキャリアリーク量のばらつきに基づいて前記特定された補正信号が有効であるか否かを判断する
直交変調器のキャリアリーク調整装置。 Detection means for detecting the output of the quadrature modulator;
A correction signal is sequentially given to the quadrature modulator with a change in a predetermined signal level, and a carrier leak amount is sequentially measured with an output result of the detection means, and a correction signal that minimizes the carrier leak amount is identified, Carrier leak adjustment means for adjusting the carrier leak of the quadrature modulator with a correction signal,
The carrier leak adjusting means is
The carrier leak amount is measured a predetermined number of times using the specified correction signal, and it is determined whether the specified correction signal is valid based on the measured carrier leak amount variation for the predetermined number of times. Carrier leak adjustment device.
前記キャリアリーク量のばらつきが所定値以上である場合には、再度キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定する
請求項５記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。 The carrier leak adjusting means is
The quadrature modulator carrier leak adjustment apparatus according to claim 5, wherein when the variation in the carrier leak amount is equal to or greater than a predetermined value, a correction signal that minimizes the carrier leak amount is identified again.
所定回数補正信号を特定し、特定された各補正信号によるキャリアリーク量のばらつきがすべて所定値以上である場合には、キャリアリークの調整を行わない
請求項６記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。 The carrier leak adjusting means is
The carrier leak adjustment of the quadrature modulator according to claim 6, wherein the correction signal is specified a predetermined number of times, and the carrier leak adjustment is not performed when variations in the amount of carrier leak due to the specified correction signals are all equal to or greater than a predetermined value. apparatus.
前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、
前記キャリアリーク調整手段は、
特定された補正信号に基づいて測定されたキャリアリーク量と、前記特定された補正信号とのレベル差が所定量以下である複数の補正信号に基づいて測定された複数のキャリアリーク量と、のそれぞれのキャリアリーク量差分に基づいて、前記特定された補正信号が有効であるか否かを判断する
直交変調器のキャリアリーク調整装置。 Detection means for detecting the output of the quadrature modulator;
A correction signal is sequentially given to the quadrature modulator with a change in a predetermined signal level, and a carrier leak amount is sequentially measured with an output result of the detection means, and a correction signal that minimizes the carrier leak amount is identified, Carrier leak adjustment means for adjusting the carrier leak of the quadrature modulator with a correction signal,
The carrier leak adjusting means is
A carrier leak amount measured based on the specified correction signal, and a plurality of carrier leak amounts measured based on a plurality of correction signals whose level difference between the specified correction signal is equal to or less than a predetermined amount, A carrier leak adjustment device for a quadrature modulator that determines whether or not the specified correction signal is valid based on a carrier leak amount difference.
前記キャリアリーク量差分が所定値以上である場合には、キャリアリーク量が最小となる補正信号を再度特定する
請求項８記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。 The carrier leak adjusting means is
The quadrature modulator carrier leak adjustment apparatus according to claim 8, wherein when the carrier leak amount difference is equal to or greater than a predetermined value, the correction signal that minimizes the carrier leak amount is specified again.
前記キャリアリーク量差分がすべて所定値以上である場合には、キャリアリークの調整を行わない
請求項８記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。
The carrier leak adjusting means is
The carrier leak adjustment device for a quadrature modulator according to claim 8, wherein carrier leak adjustment is not performed when all the carrier leak amount differences are equal to or greater than a predetermined value.
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